JP2003113475A - 放電プラズマ処理装置 - Google Patents

放電プラズマ処理装置

Info

Publication number
JP2003113475A
JP2003113475A JP2001308778A JP2001308778A JP2003113475A JP 2003113475 A JP2003113475 A JP 2003113475A JP 2001308778 A JP2001308778 A JP 2001308778A JP 2001308778 A JP2001308778 A JP 2001308778A JP 2003113475 A JP2003113475 A JP 2003113475A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
discharge plasma
polygonal columnar
electric field
discharge
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001308778A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Uehara
剛 上原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sekisui Chemical Co Ltd
Original Assignee
Sekisui Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sekisui Chemical Co Ltd filed Critical Sekisui Chemical Co Ltd
Priority to JP2001308778A priority Critical patent/JP2003113475A/ja
Publication of JP2003113475A publication Critical patent/JP2003113475A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Plasma Technology (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 高速処理に対応可能でかつ、電極表面を容易
に、短時間でクリーニングできる放電プラズマ処理装置
の提供。 【解決手段】 少なくとも一方の対向面を固体誘電体で
被覆した、一対の多角形の柱状電極間に処理ガスを導入
して電界を印加することにより発生するグロー放電プラ
ズマで基材を処理する放電プラズマ処理装置であって、
前記多角形の柱状電極が、多角形の柱状の表面毎に保護
フィルムが貼り付けられ、多角形の柱状の平面同士が対
向するように回転する回転機構を有し、かつ回転後に表
面に貼り付けられた保護フィルムを貼り替える機構を設
けたことを特徴とする放電プラズマ処理装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、放電プラズマ処理
装置に関し、特に、表面保護フィルムを設けた多角形の
柱状回転電極により電極クリーニングを容易にした放電
プラズマ処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、低圧条件下でグロー放電プラ
ズマを発生させて被処理体の表面改質、又は被処理体上
に薄膜形成を行う方法が実用化されている。しかし、こ
れらの低圧条件下における処理装置は、真空チャンバ
ー、真空排気装置等が必要であり、表面処理装置は高価
なものとなり、大面積基板等を処理する際にはほとんど
用いられていなかった。このため、特開平6−2149
号公報、特開平7−85997号公報、特開平10−1
54598号公報等に記載されているような大気圧近傍
の圧力下で放電プラズマを発生させる常圧プラズマ処理
装置が提案されてきている。
【0003】このような処理方法においては、固体誘電
体等で被覆した平行平板型等の電極間に被処理体を設置
し、電極間に処理ガスを導入し、電極間に電圧を印加
し、発生したプラズマで被処理体を処理する装置や平行
平板型電極の先端に長尺プラズマガス吹き出し口ノズル
を設けたリモート型装置で被処理体の特定部分にプラズ
マを吹き付けて処理を行うことのできる装置等が開発さ
れてきているが、いずれも、平行平板型電極間の放電空
間で処理ガスがプラズマ化されるため、電極表面に処理
ガスの反応生成物が付着し易く、稼働後数時間毎に装置
を休止させて電極表面をクリーニングする必要があっ
た。
【0004】また、電極表面のクリーニングは、クリー
ニング用ガスを流し、プラズマを発生させてクリーニン
グする方法や付着物をスクレーパー等で掻き落とす方法
があるが、前者は毒性のある三フッ化窒素がよく用いら
れており、安全性およびクリーニングに時間を要すると
いう問題があり、後者はスクレーパーなどにより電極表
面を傷つけたり、完全に付着物を取り除くには相当な時
間を要するという問題があった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記問題に
鑑み、高速処理に対応可能でかつ、電極表面を容易に、
短時間でクリーニングできる放電プラズマ処理装置を提
供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明者は、上記課題を
解決すべく鋭意研究した結果、電極を回転可能な多角形
の柱状電極とし、かつ多角形の柱状の平面表面毎に、貼
り替え可能な保護フィルムを貼り付け、一定の処理終了
毎に多角形の柱状電極を回転させ保護フィルムを貼りか
えることにより、電極表面を用意に短時間でクリーニン
グできることを見出し、本発明を完成させた。
【0007】すなわち、本発明の第1の発明は、少なく
とも一方の対向面を固体誘電体で被覆した、一対の多角
形の柱状電極間に処理ガスを導入して電界を印加するこ
とにより発生するグロー放電プラズマで基材を処理する
放電プラズマ処理装置であって、前記多角形の柱状電極
が、多角形の柱状の表面毎に保護フィルムが貼り付けら
れ、多角形の柱状の平面同士が対向するように回転する
回転機構を有し、かつ回転後に表面に貼り付けられた保
護フィルムを貼り替える機構を設けたことを特徴とする
放電プラズマ処理装置である。
【0008】また、本発明の第2の発明は、多角形の柱
状電極が、正多角形の柱状電極であることを特徴とする
第1の発明に記載の放電プラズマ処理装置である。
【0009】また、本発明の第3の発明は、保護フィル
ムが、ポリテトラフルオロエチレンフィルムであること
を特徴とする第1又は2の発明に記載の放電プラズマ処
理装置である。
【0010】また、本発明の第4の発明は、電界が、パ
ルス立ち上がり及び/又は立ち下がり時間が10μs以
下、電界強度が10〜1000kV/cmのパルス電界
であることを特徴とする第1〜3のいずれかの発明に記
載の放電プラズマ処理装置である。
【0011】
【発明の実施の形態】本発明は、少なくとも一方の対向
面を固体誘電体で被覆した、それぞれが回転可能にされ
た多角形の柱状電極がその平面同士が対向するように設
置された電極間に、処理ガスを導入して、電界を印加す
ることにより発生するグロー放電プラズマで基材を処理
する放電プラズマ処理装置であって、電極を構成する多
角形の柱状電極の表面毎に、保護フィルムが貼り付けら
れ、電極表面が反応物の付着により汚染された時点で、
電極を回転させ、新たな放電対向面で処理を行うと同時
に、放電済み表面の保護フィルムを貼り換えて、放電面
をクリーニングすることのできる放電プラズマ処理装置
である。以下に詳細に本発明を説明する。
【0012】本発明の装置の一例を図で説明する。図1
は、本発明のプラズマ放電装置の例を説明するための模
式的装置図である。図1において、それぞれ回転可能な
六角柱の電圧印加電極2と接地電極3は、その平面部分
同士が対向して設置され、その間に放電空間4を形成し
ている。電極の表面は、各面毎に保護フィルム5が貼り
付けられている。処理ガスは、矢印方向に電圧印加電極
2と接地電極3で形成される放電空間4に導入され、プ
ラズマ化され、プラズマ吹き出し口から基材10に向か
って吹き出される。6角形の電極のs−1面同士でプラ
ズマを発生させた後、電極を回転させ、次にs−2面同
士を対向させてプラズマ発生処理を行う。電極の回転時
には、一方又は両方の電極が図の水平方向に移動し、回
転した後に、再度水平方向に移動することによって、電
極間距離を保つようになされている。これを繰り返し、
s−1面が放電面の反対側にきた時点で、保護フィルム
を貼り替え、新たな放電面にする。このようにすること
により、放電操作を長時間に渡って停止することなく、
かつ簡単に、放電面のクリーニングを行うことができ
る。
【0013】本発明の電極は、常にその表面がクリーニ
ングされた状態を保ち安定した放電状態を確保できる。
したがって、本発明の装置による放電プラズマ処理を行
うと、被処理基材上に形成される薄膜等にも品質上問題
なく、電極表面のクリーニングのために装置の稼動を休
止する時間を大幅に少なくすることができ、生産性向上
を果たすことができる。
【0014】本発明において、多角形の柱状電極として
は、3角柱以上であれば、特に制限がないが、放電平行
面の長さ、保護フィルムの貼り換え準備等の点から、4
〜6角柱が好ましい。電極を回転させる際に、どの面が
放電面となっても対向する面同士が同じ面積になるよう
にするため、正多角形の柱状とすることが好ましい。ま
た、保護フィルムは、プラズマ放電の発生に安定で、か
つ影響を及ぼさない材質のフィルムであれば、特に制限
はないが、ポリエステルフィルム、ポリテトラフルオロ
エチレンフィルムなどを用いることができる。フィルム
の裏面は、粘着剤が付与されているものが取り外し、貼
り付けが容易で好ましい。保護フィルムの厚さは、0.
03〜2mmが好ましく、より好ましくは0.05〜
0.5mmである。なお、フィルムの貼り換えの間隔、
時期等は、特に制限されるものでなく、汚れが目立って
きた時点で貼り換えればよい。
【0015】上記多角形の柱状電極の材質としては、
銅、アルミニウム等の金属単体、ステンレス、真鍮等の
合金、金属間化合物等からなるものが挙げられる。
【0016】本発明の装置においては、多角形の柱状電
極は、対向面の一方又は双方が固体誘電体で被覆されて
おり、固体誘電体と電極が密着し、かつ、接する電極の
対向面を完全に覆うようにする。固体誘電体によって覆
われずに電極同士が直接対向する部位があると、そこか
らアーク放電が生じやすい。
【0017】上記固体誘電体の形状は、シート状でもフ
ィルム状でもよく、厚みが0.01〜4mmであること
が好ましい。厚すぎると放電プラズマを発生するのに高
電圧を要することがあり、薄すぎると電圧印加時に絶縁
破壊が起こり、アーク放電が発生することがある。
【0018】固体誘電体の材質としては、例えば、ポリ
テトラフルオロエチレン、ポリエチレンテレフタレート
等のプラスチック、ガラス、二酸化珪素、酸化アルミニ
ウム、二酸化ジルコニウム、二酸化チタン等の金属酸化
物、チタン酸バリウム等の複酸化物等が挙げられる。
【0019】特に、25℃環境下における比誘電率が1
0以上のものである固体誘電体を用いれば、低電圧で高
密度の放電プラズマを発生させることができ、処理効率
が向上する。比誘電率の上限は特に限定されるものでは
ないが、現実の材料では18,500程度のものが入手
可能であり、本発明に使用出来る。特に好ましくは比誘
電率が10〜100の固体誘電体である。上記比誘電率
が10以上である固体誘電体の具体例としては、二酸化
ジルコニウム、二酸化チタン等の金属酸化物、チタン酸
バリウム等の複酸化物を挙げることが出来る。
【0020】上記電極間の距離は、固体誘電体の厚さ、
印加電圧の大きさ、プラズマを利用する目的等を考慮し
て適宜決定されるが、0.1〜50mmであることが好
ましく、より好ましくは0.1〜5mmである。0.1
mm未満では、電極間の間隔を置いて設置するのに充分
でないことがあり、一方、50mmを超えると、均一な
放電プラズマを発生させにくい。
【0021】本発明では、上記電極間に、高周波、パル
ス波、マイクロ波等の電界が印加され、プラズマを発生
させるが、パルス電界を印加することが好ましく、特
に、電界の立ち上がり及び/又は立ち下がり時間が、1
0μs以下である電界が好ましい。10μsを超えると
放電状態がアークに移行しやすく不安定なものとなり、
パルス電界による高密度プラズマ状態を保持しにくくな
る。また、立ち上がり時間及び立ち下がり時間が短いほ
どプラズマ発生の際のガスの電離が効率よく行われる
が、40ns未満の立ち上がり時間のパルス電界を実現
することは、実際には困難である。より好ましくは50
ns〜5μsである。なお、ここでいう立ち上がり時間
とは、電圧(絶対値)が連続して増加する時間、立ち下
がり時間とは、電圧(絶対値)が連続して減少する時間
を指すものとする。
【0022】上記パルス電界の電界強度は、10〜10
00kV/cmとなるようにするのが好ましく、より好
ましくは20〜1000kV/cmである。電界強度が
10kV/cm未満であると処理に時間がかかりすぎ、
1000kV/cmを超えるとアーク放電が発生しやす
くなる。
【0023】上記パルス電界の周波数は、0.5kHz
以上であることが好ましい。0.5kHz未満であると
プラズマ密度が低いため処理に時間がかかりすぎる。上
限は特に限定されないが、常用されている13.56M
Hz、試験的に使用されている500MHzといった高
周波帯でも構わない。負荷との整合のとり易さや取り扱
い性を考慮すると、500kHz以下が好ましい。この
ようなパルス電界を印加することにより、処理速度を大
きく向上させることができる。
【0024】また、上記パルス電界におけるひとつのパ
ルス継続時間は、200μs以下であることが好まし
い。200μsを超えるとアーク放電に移行しやすくな
る。ここで、ひとつのパルス継続時間とは、ON、OF
Fの繰り返しからなるパルス電界における、ひとつのパ
ルスの連続するON時間を言う。
【0025】本発明の放電プラズマ処理装置は、どのよ
うな圧力下でも用いることができるが、常圧放電プラズ
マ処理に用いるとその効果を十分に発揮でき、特に、大
気圧近傍下の圧力下で用いるとその効果が十分に発揮さ
れる。
【0026】上記大気圧近傍の圧力下とは、1.333
×104〜10.664×104Paの圧力下を指す。中
でも、圧力調整が容易で、装置が簡便になる9.331
×104〜10.397×104Paの範囲が好ましい。
【0027】大気圧近傍の圧力下では、ヘリウム、ケト
ン等の特定のガス以外は安定してプラズマ放電状態が保
持されずに瞬時にアーク放電状態に移行することが知ら
れているが、パルス状の電界を印加することにより、ア
ーク放電に移行する前に放電を止め、再び放電を開始す
るというサイクルが実現されると考えられる。
【0028】本発明で処理できる被処理基材としては、
ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレン、ポリカ
ーボネート、ポリエチレンテレフタレート、ポリテトラ
フルオロエチレン、ポリイミド、液晶ポリマー、エポキ
シ樹脂、アクリル樹脂等のプラスチック、ガラス、セラ
ミック、金属等が挙げられる。基材の形状としては、板
状、フィルム状等のものが挙げられるが、特にこれらに
限定されない。本発明の表面処理方法によれば、様々な
形状を有する基材の処理に容易に対応することができ
る。
【0029】本発明で用いる処理ガスとしては、電界、
好ましくはパルス電界を印加することによってプラズマ
を発生するガスであれば、特に限定されず、処理目的に
より種々のガスを使用できる。
【0030】上記処理用ガスとして、CF4、C26
CClF3、SF6等のフッ素含有化合物ガスを用いるこ
とによって、撥水性表面を得ることができる。
【0031】また、処理用ガスとして、O2、O3、水、
空気等の酸素元素含有化合物、N2、NH3等の窒素元素
含有化合物、SO2、SO3等の硫黄元素含有化合物を用
いて、基材表面にカルボニル基、水酸基、アミノ基等の
親水性官能基を形成させて表面エネルギーを高くし、親
水性表面を得ることができる。また、アクリル酸、メタ
クリル酸等の親水基を有する重合性モノマーを用いて親
水性重合膜を堆積することもできる。
【0032】さらに、Si、Ti、Sn等の金属の金属
−水素化合物、金属−ハロゲン化合物、金属アルコラー
ト等の処理用ガスを用いて、SiO2、TiO2、SnO
2等の金属酸化物薄膜を形成させ、基材表面に電気的、
光学的機能を与えることができ、ハロゲン系ガスを用い
てエッチング処理、ダイシング処理を行ったり、酸素系
ガスを用いてレジスト処理や有機物汚染の除去を行った
り、アルゴン、窒素等の不活性ガスによるプラズマで表
面クリーニングや表面改質を行うこともできる。
【0033】経済性及び安全性の観点から、上記処理ガ
スを以下に挙げるような希釈ガスによって希釈された雰
囲気中で処理を行うこともできる。希釈ガスとしては、
ヘリウム、ネオン、アルゴン、キセノン等の希ガス、窒
素気体等が挙げられる。これらは単独でも2種以上を混
合して用いてもよい。希釈ガスの混合割合は、用途によ
って異なるが、例えば、親水生重合膜、金属酸化物薄膜
を形成する場合は、処理用ガスの割合が0.01〜10
体積%であることが好ましい。
【0034】なお、本発明の装置によれば、プラズマ発
生空間中に存在する気体の種類を問わずグロー放電プラ
ズマを発生させることが可能である。公知の低圧条件下
におけるプラズマ処理はもちろん、特定のガス雰囲気下
の大気圧プラズマ処理においても、外気から遮断された
密閉容器内で処理を行うことが必須であったが、本発明
のグロー放電プラズマ処理装置を用いた方法によれば、
開放系、あるいは、気体の自由な流失を防ぐ程度の低気
密系での処理が可能となる。
【0035】本発明のパルス電界を用いた大気圧放電処
理装置によると、全くガス種に依存せず、電極間におい
て直接大気圧下で放電を生じせしめることが可能であ
り、より単純化された電極構造、放電手順による大気圧
プラズマ装置、及び処理手法でかつ高速処理を実現する
ことができる。また、パルス周波数、電圧、電極間隔等
のパラメータにより処理に関するパラメータも調整でき
る。
【0036】
【実施例】本発明を実施例に基づいてさらに詳細に説明
するが、本発明はこれら実施例のみに限定されるもので
はない。
【0037】実施例1 正方形の電極を用いた装置により放電プラズマ処理を行
った。正方形の柱状回転電極として、1辺50mm×長
さ100mmのSUS製角柱電極に、それぞれ固体誘電
体としてアルミナを1mmの厚さに溶射したものを用い
た。各電極の1辺には、それぞれ、ニトフロン粘着テー
プNo.903(日東電工社製)130μmを保護フィ
ルムとして貼り付けた。正方形の柱状電極の対向平面の
間隔が2mmになるように設置した。基材として、ガラ
ス基材を用い、処理ガスとして、テトラエトキシシラン
0.16体積%、酸素16体積%をアルゴンガスにより
希釈した混合ガスを放電空間4に導入し、パルス立ち上
がり速度5μs、電極間に電圧20kVPP、周波数10
kHzのパルス電界を印加し、10分間処理を行い、基
材上にSiO2膜の生成を確認した。その後電極を回転
させて、保護フィルムを貼り換えた。プラズマ停止から
電極の回転、保護フィルムの貼り換えまでに要した時間
は、約1分であった。
【0038】比較例1 保護フィルムを貼り付けなかった以外は、実施例1と同
様にして基材を処理した。基材表面にSiO2膜が形成
されたが、プラズマ停止から電極の回転、スクレーパー
による電極表面の付着物除去に要した時間は約15分で
あった。
【0039】
【発明の効果】本発明の放電プラズマ処理装置は、電極
への反応性生物の付着物を短時間にクリーニングできる
装置であるので、高速処理及び大面積処理に対応可能で
かつ半導体製造工程で用いられる種々の方法を始めとし
て、あらゆるプラズマ処理方法において、インライン化
及び高速化を実現するのに有効に用いることができる。
これにより、処理時間の短縮化、コスト低下が可能にな
り、従来では不可能あるいは困難であった様々な用途へ
の展開が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の放電プラズマ処理装置の例を説明する
模式的図である。
【符号の説明】
1 電源(高電圧パルス電源) 2、3 多角形の柱状電極 4 放電空間 5 保護フィルム 10 基材 s−1、s−2 プラズマ放電表面

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも一方の対向面を固体誘電体で
    被覆した、一対の多角形の柱状電極間に処理ガスを導入
    して電界を印加することにより発生するグロー放電プラ
    ズマで基材を処理する放電プラズマ処理装置であって、
    前記多角形の柱状電極が、多角形の柱状表面毎に保護フ
    ィルムが貼り付けられ、多角形の柱状の平面同士が対向
    するように回転する回転機構を有し、かつ回転後に表面
    に貼り付けられた保護フィルムを貼り替える機構を設け
    たことを特徴とする放電プラズマ処理装置。
  2. 【請求項2】 多角形の柱状電極が、正多角形の柱状電
    極であることを特徴とする請求項1に記載の放電プラズ
    マ処理装置。
  3. 【請求項3】 保護フィルムが、ポリテトラフルオロエ
    チレンフィルムであることを特徴とする請求項1又は2
    に記載の放電プラズマ処理装置。
  4. 【請求項4】 電界が、パルス立ち上がり及び/又は立
    ち下がり時間が10μs以下、電界強度が10〜100
    0kV/cmのパルス電界であることを特徴とする請求
    項1〜3のいずれか1項に記載の放電プラズマ処理装
    置。
JP2001308778A 2001-10-04 2001-10-04 放電プラズマ処理装置 Pending JP2003113475A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001308778A JP2003113475A (ja) 2001-10-04 2001-10-04 放電プラズマ処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001308778A JP2003113475A (ja) 2001-10-04 2001-10-04 放電プラズマ処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003113475A true JP2003113475A (ja) 2003-04-18

Family

ID=19128032

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001308778A Pending JP2003113475A (ja) 2001-10-04 2001-10-04 放電プラズマ処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003113475A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005076154A (ja) * 2003-09-01 2005-03-24 Sekisui Chem Co Ltd 常圧プラズマ処理装置
JP2006299361A (ja) * 2005-04-22 2006-11-02 Dainippon Printing Co Ltd 成膜装置及び成膜方法
JP2006316299A (ja) * 2005-05-11 2006-11-24 Dainippon Printing Co Ltd 成膜装置及び成膜方法
CN107124812A (zh) * 2017-06-26 2017-09-01 苏州大学 大气压辉光等离子体发生装置及纺织材料处理装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005076154A (ja) * 2003-09-01 2005-03-24 Sekisui Chem Co Ltd 常圧プラズマ処理装置
JP4495427B2 (ja) * 2003-09-01 2010-07-07 積水化学工業株式会社 常圧プラズマ処理装置
JP2006299361A (ja) * 2005-04-22 2006-11-02 Dainippon Printing Co Ltd 成膜装置及び成膜方法
JP2006316299A (ja) * 2005-05-11 2006-11-24 Dainippon Printing Co Ltd 成膜装置及び成膜方法
CN107124812A (zh) * 2017-06-26 2017-09-01 苏州大学 大气压辉光等离子体发生装置及纺织材料处理装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5021877B2 (ja) 放電プラズマ処理装置
JP3823037B2 (ja) 放電プラズマ処理装置
JP2003019433A (ja) 放電プラズマ処理装置及びそれを用いた処理方法
JP2003217898A (ja) 放電プラズマ処理装置
JP2003166065A (ja) 放電プラズマ処理装置
JP2003218099A (ja) 放電プラズマ処理方法及びその装置
JP2003318000A (ja) 放電プラズマ処理装置
JP2002058995A (ja) プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法
JP2002151494A (ja) 常圧プラズマ処理方法及びその装置
JP2003113475A (ja) 放電プラズマ処理装置
JP2004207145A (ja) 放電プラズマ処理装置
JP2005191275A (ja) ドライエッチング処理装置および処理方法
JP2003129246A (ja) 放電プラズマ処理装置
JP2003059909A (ja) 放電プラズマ処理装置及びそれを用いた処理方法
JP2002320845A (ja) 常圧プラズマ処理装置
JP2002155370A (ja) 常圧プラズマ処理方法及びその装置
JP2003142298A (ja) グロー放電プラズマ処理装置
JP3722733B2 (ja) 放電プラズマ処理装置
JP2003163207A (ja) 残フォトレジストの除去処理方法
JP3793451B2 (ja) 放電プラズマ処理装置
JP2003166062A (ja) 放電プラズマ処理装置
JP2003113474A (ja) 放電プラズマ処理装置
JP2002176050A (ja) 酸化珪素膜の形成方法及びその装置
JP2003093870A (ja) 放電プラズマ処理装置及びそれを用いた放電プラズマ処理方法
JP2002151476A (ja) レジスト除去方法及びその装置