JP2003080125A - 超微粒子発生装置 - Google Patents
超微粒子発生装置Info
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Abstract
発生量を制御することができる超微粒子発生装置を提供
すること。 【解決手段】 液体を気体により破砕微粒化して液体の
微粒子を発生させる微粒子発生ノズル12と、微粒子発
生ノズルにより発生させた微粒子を分別する分別容器1
0と、分別容器において微粒子から分別された超微粒子
を吐出させる吐出部28とを備える超微粒子発生装置2
において、吐出部から吐出させる超微粒子の粒子径を設
定する粒子径設定手段44aと、吐出部から吐出する超
微粒子の粒子径を検出する粒子径検出手段S1と、粒子
径検出手段により検出された超微粒子の粒子径が粒子径
設定手段により設定された超微粒子の粒子径となるよう
に、微粒子発生ノズルに供給される気体の圧力を制御す
る第1の気体圧制御手段42とを備える。
Description
類、樹脂、溶剤及び溶融金属等の液体の超微粒子を発生
させる超微粒子発生装置に関するものである。
として、超微量の液体を多量の気体により破砕微細化す
る方法、加熱蒸発を利用した微粒子を得る方法、超音波
振動により微粒子を得る方法等が知られている。ここで
超微量の液体を多量の気体により破砕微細化する方法を
利用した超微粒子発生装置には、液体を気体により破砕
微細化する二流体ノズルを用いたものが存在する。この
二流体ノズルにおいては、水、薬液等の液体をノズルの
先端部の液体噴出口から噴出させると共に、空気等の気
体を液体噴出口の周囲の設けられた気体噴出口より噴出
させることにより二流体を混合噴射させ、液体を気体に
より破砕微細化して液体の微粒子を得ている。
気体により破砕微細化し、液体の微粒子を得る方法にお
いては、平均粒子径5μm以下の均一な粒子径の微粒子
を得ることは困難であり、微粒子の平均粒子径と最大粒
子径、最小粒子径の差が大きくなる。即ち、図9は、従
来の二流体ノズルを用いて、水の微粒子を発生させた場
合(二流体ノズルに供給される気体の圧力:0.5MP
a、二流体ノズルに供給される液体の量:10ml/m
in)の、粒子径と、その存在割合を示す図である。こ
の図に示すように発生した微粒子の粒子径は、一定の範
囲に分布している。また、発生する超微粒子の粒子径を
所望の粒子径にすること及び超微粒子の発生量を所望の
量にすることは困難であった。
超微粒子の粒子径及び発生量を制御することができる超
微粒子発生装置を提供することである。
発生装置は、液体を気体により破砕微粒化して液体の微
粒子を発生させる微粒子発生ノズルと、前記微粒子発生
ノズルにより発生させた微粒子を分別する分別容器と、
前記分別容器において微粒子から分別された超微粒子を
吐出させる吐出部とを備える超微粒子発生装置におい
て、前記吐出部から吐出させる超微粒子の粒子径を設定
する粒子径設定手段と、前記吐出部から吐出する超微粒
子の粒子径を検出する粒子径検出手段と、前記粒子径検
出手段により検出された超微粒子の粒子径が前記粒子径
設定手段により設定された超微粒子の粒子径となるよう
に、前記微粒子発生ノズルに供給される気体の圧力を制
御する第1の気体圧制御手段とを備えることを特徴とす
る。
れば、第1の気体圧制御手段により、粒子径検出手段に
より検出された超微粒子の粒子径が粒子径設定手段によ
り設定された超微粒子の粒子径となるように、微粒子発
生ノズルに供給される気体の圧力を制御する。従って、
所望の均一な粒子径を有する超微粒子を吐出部から吐出
させることができる。
は、前記吐出部から吐出させる超微粒子の粒子量を設定
する粒子量設定手段と、前記吐出部から吐出する超微粒
子の粒子量を検出する粒子量検出手段と、前記粒子量検
出手段により検出された超微粒子の粒子量が前記粒子量
設定手段により設定された粒子量となるように、前記微
粒子発生ノズルに供給される液体の量を制御する液体量
制御手段とを更に備えることを特徴とする。
れば、液体量制御手段により、粒子量検出手段により検
出された超微粒子の粒子量が粒子量設定手段により設定
された粒子量となるように、微粒子発生ノズルに供給さ
れる液体の量を制御する。従って、所望の量の超微粒子
を吐出部から吐出させることができる。
は、前記分別容器内の微粒子を上昇させるための二次気
体を前記分別容器内に供給する二次気体供給手段と、前
記粒子径検出手段により検出された超微粒子の粒子径が
前記粒子径設定手段により設定された超微粒子の粒子径
となるように、前記二次気体供給手段により供給される
二次気体の圧力を制御する第2の気体圧制御手段とを更
に備えることを特徴とする。
れば、第2の気体圧制御手段により、粒子径検出手段に
より検出された超微粒子の粒子径が粒子径設定手段によ
り設定された超微粒子の粒子径となるように二次気体の
圧力を制御する。従って、均一な所定の粒子径を有する
超微粒子を吐出部から吐出させることができる。
は、前記分別容器が、前記微粒子発生ノズルにより発生
させた微粒子を、この分別容器の下部まで導く整流部材
と、前記整流部材により分別容器の下部まで導かれた微
粒子の浮上を抑制し、微粒子の選別を行う微粒子選別プ
レートとを備えることを特徴とする。
おいては、前記分別容器内に、微粒子が通過する複数の
微粒子通過孔が設けられた前記微粒子選別プレートが複
数枚配置され、下側に位置する前記微粒子選別プレート
に設けられた前記微粒子通過孔の大きさは、上側に位置
する前記微粒子選別プレートに設けられた前記微粒子通
過孔の大きさに比較して大きいことを特徴とする。
発生装置によれば、微粒子発生ノズルにより発生された
微粒子は、整流部材により分別容器の下部まで導かれ
る。分別容器の下部まで導かれた微粒子は、微粒子選別
プレートにより浮上を抑制されつつ、微粒子選別プレー
トに設けられた複数の微粒子通過孔を通って、徐々に分
別容器内を浮上する。この間に粒子径の大きい微粒子
は、分別容器の底部に落下し、吐出部から均一な粒子径
を有する超微粒子が吐出される。
は、前記吐出部から吐出される超微粒子に対して電荷を
供給する電荷供給手段と、前記電荷供給手段により超微
粒子に供給される電荷の量を制御する電荷量制御手段を
更に備えることを特徴とする。
れば、電荷量制御手段により、吐出部から吐出される超
微粒子に供給される電荷の量を制御し、所望の値の電荷
を供給して超微粒子を帯電させることができる。従っ
て、噴霧、塗布しようとする対象物への付着効率を向上
させることができる。
の実施の形態にかかる超微粒子発生装置について説明す
る。
微粒子発生装置の構成図である。この超微粒子発生装置
2は、下端部が閉じ上端部に蓋部10aを有する円筒形
状の微粒子分別容器10を備えている。この微粒子分別
容器10の蓋部10aには、液体を気体により破砕微細
化する二流体ノズル(微粒子発生ノズル)12が設けら
れている。ここで二流体ノズル12は、ノズルの先端部
に設けられた液体噴出口から噴出された液体の外周部に
対して気体噴出口から気体を噴出させ、液体を気体によ
り破砕微細化することにより液体の微粒子を噴出させる
ものである。
12により発生された微粒子を微粒子分別容器10の下
部まで整流して導く整流コーン(整流部材)14が設けら
れている。ここで整流コーン14の上部の開口部には、
二流体ノズル12の先端部が配置されている。また、微
粒子分別容器10内には、二次気体用コンプレッサ16
から延びる二次気体供給管18が配置されており、二次
気体用コンプレッサ16からの二次気体は、整流コーン
14の下部の開口部付近に供給される。また、微粒子分
別容器10内には、整流コーン14により微粒子分別容
器10の下部まで導かれた微粒子の浮上を抑制し、微粒
子の選別を行う3枚の微粒子選別プレート20,22,
24が設けられている。
0は、中央部に整流コーン14が貫通する開口部20a
が設けられた円板形状を有するプレート状部材であり、
多数の微粒子通過孔20bが設けられている。また、図
3に示すように、微粒子選別プレート22は、中央部に
整流コーン14が貫通する開口部22aが設けられた円
板形状を有するプレート状部材であり、多数の微粒子通
過孔22bが設けられている。なお、微粒子通過孔22
bは、微粒子選別プレート20の微粒子通過孔20bの
大きさよりも大きく形成されている。更に図4に示すよ
うに、微粒子選別プレート24は、中央部に整流コーン
14が貫通する開口部24aが設けられた円板形状を有
するプレート状部材であり、多数の微粒子通過孔24b
が設けられている。なお、微粒子通過孔24bは、微粒
子選別プレート22の微粒子通過孔22bの大きさより
も大きく形成されている。
容器26に連通する液体排出口10bが設けられてい
る。微粒子分別容器10の底部にたまった液体は、液体
排出口10bから排出され液体貯留容器26内に貯留さ
れる。
は、微粒子分別容器10内において微粒子から分別され
た超微粒子を吐出する吐出部28が設けられている。こ
こで、吐出部28は、微粒子分別容器10の蓋部10a
に取付けられた噴霧口取付部28a、噴霧口取付部28
aに接続された噴霧誘導管28b及び噴霧誘導管28b
の先端部に設けられた噴霧口28cにより構成されてい
る。噴霧口28cには、吐出部28から吐出される超微
粒子に電荷を供給する電源装置40が接続されいる。こ
の電源装置40により所望の直流高電圧を吐出部28の
噴霧口28cに給電し、吐出部28から吐出される超微
粒子に電荷を供給して帯電させる。このようにして超微
粒子を帯電させることにより、噴霧、塗布しようとする
対象物への超微粒子の付着効率を向上させることができ
る。
2との間には、液体を二流体ノズル12へ供給するため
の液体供給管30が設けられている。この液体供給管3
0には、二流体ノズル12への液体供給量を調整するた
めの電磁弁32が設けられている。なお、二流体ノズル
12へは、液体貯留容器26以外からも分岐供給管30
aを介して液体を供給することができる。また、ノズル
供給用コンプレッサ34と二流体ノズル12との間に
は、ノズル用気体を二流体ノズル12へ供給するための
気体供給管36が設けられている。
微粒子分別容器10内に供給される二次気体の圧力、ノ
ズル供給用コンプレッサ34により二流体ノズル12に
供給されるノズル用気体の圧力及び電磁弁32を介して
二流体ノズル12に供給される液体の量は、制御装置4
2によって制御される。また、制御装置42により、電
源装置40によって吐出部28の噴霧口28cに供給さ
れる電荷量が制御される。即ち、制御装置42は、二流
体ノズル12に供給されるノズル用気体の圧力を制御す
るための第1の気体圧制御手段、微粒子分別容器10内
に供給される二次気体の圧力を制御するための第2の気
体圧制御手段、二流体ノズル12に供給される液体の量
を制御する液体量制御手段及び吐出部28の噴霧口28
cに供給される電荷量を制御する電荷量制御手段として
機能する。
霧口28cから吐出される超微粒子の粒子径の分布を検
出する粒子径検出部S1及び超微粒子の粒子量を検出す
る粒子量検出部S2が接続され、粒子径検出部S1及び
粒子量検出部S2から検出値が入力される。また、制御
装置42には、吐出部28の噴霧口28cから吐出させ
る超微粒子の粒子径を設定する粒子径設定部44a、超
微粒子の粒子量を設定する粒子量設定部44b及び超微
粒子の帯電量(供給電荷量)を設定する帯電量設定部44
cが接続されている。
粒子の発生について説明する。なお、以下の説明におい
ては、二流体ノズル12に水を供給すると共に、ノズル
用気体及び二次気体として空気を供給する場合を例とし
て説明する。
8の噴霧口28cから吐出させる超微粒子の粒子径の設
定を行い、粒子量設定部44bにより吐出部28の噴霧
口28cから吐出させる超微粒子の粒子量を設定する。
また、帯電量設定部44cにより、吐出部28の噴霧口
28cから吐出させる超微粒子に対するの帯電量を設定
する。
粒子量の設定及び超微粒子の帯電量の設定が終了した
後、超微粒子を発生させる。即ち、この超微粒子発生装
置2においては、ノズル供給用コンプレッサ34から気
体供給管36を介して二流体ノズル12に空気(ノズル
用気体)が供給されると、この空気が二流体ノズル12
の先端部の気体噴出口から噴出され、この噴出力により
液体貯留容器26内の水が吸上げられ、液体供給管30
を介して二流体ノズル12に供給される。
から噴出される水が気体噴出口から噴出される空気によ
り破砕微細化されて、水の微粒子が噴出される。この二
流体ノズル12から噴出された水の微粒子は、整流コー
ン14内を通って微粒子分別容器10の下部まで導かれ
る。一方、二次気体用コンプレッサ16からの空気(二
次気体)が二次気体供給管18を介して整流コーン14
の下部の開口部付近に供給される。
粒子は、二流体ノズル12から噴出された空気(ノズル
用気体)及び二次気体による上昇流により、微粒子選別
プレート20,22,24により浮上を抑制されつつ、
微粒子選別プレート20,22,24に設けられた微粒
子通過孔20b,22b,24bを通って、徐々に微粒
子分別容器10内を浮上する。即ち、まず微粒子選別プ
レート24を通過した微粒子は、微粒子選別プレート2
2により浮上が抑制され、微粒子選別プレート24と微
粒子選別プレート22の間に所定の粒子径を有する微粒
子が滞留する。ここで粒子径の大きい微粒子は、重力に
より微粒子分別容器10の底部に落下する。
微粒子は、微粒子選別プレート20により浮上が抑制さ
れ、微粒子選別プレート22と微粒子選別プレート20
の間に所定の粒子径を有する微粒子が滞留する。ここで
粒子径の大きい微粒子は、重力により微粒子分別容器1
0の底部に落下する。なお、微粒子選別プレート22と
微粒子選別プレート20の間に滞留する微粒子の粒子径
は、微粒子選別プレート24と微粒子選別プレート22
の間に滞留する微粒子の粒子径よりも小さくなってい
る。
0内を浮上するにしたがい、粒子径の大きい微粒子は、
微粒子分別容器10の底部に落下し、均一な粒子径の超
微粒子のみが微粒子分別容器10の吐出部28から吐出
される。ここで吐出部28の噴霧口28cから吐出され
る超微粒子は、帯電量設定部44cにより設定した帯電
量に対応する電荷を有している。即ち、制御装置42
は、帯電量設定部44cにより設定した値に基づいて、
電源装置40に対して制御信号を出力し、電源装置40
により吐出部28の噴霧口28cに供給される電荷量の
制御を行う。なお、微粒子分別容器10の底部にたまっ
た水は、液体排出口10bから排出され液体貯留容器2
6に貯留され再利用される。
超微粒子の粒子径の分布は、粒子径検出部S1により検
出され、超微粒子の粒子量は、粒子量検出部S2により
検出される。粒子径検出部S1及び粒子量検出部S2に
より検出された検出値は、制御装置42に入力される。
制御装置42においては、吐出部28の噴霧口28cか
ら吐出される超微粒子の粒子径が粒子径設定部44aに
より設定された値になるように、また超微粒子の粒子量
が粒子量設定部44bにより設定された値になるよう
に、二次気体用コンプレッサ16、電磁弁32及びノズ
ル供給用コンプレッサ34に対して制御信号を出力し、
二流体ノズル12に供給される空気(ノズル用気体)の
圧力及び二流体ノズル12に供給される水の量を制御す
ると共に、微粒子分別容器10内に供給される二次気体
の圧力を制御する。
出部S1により検出された超微粒子の粒子径が粒子径設
定部44aにより設定された大きさよりも大きい場合に
は、ノズル供給用コンプレッサ34を制御して、二流体
ノズル12に供給される空気(ノズル用気体)の圧力を
高くする。また、二次気体用コンプレッサ16を制御し
て微粒子分別容器10内に供給される空気(二次気体)
の圧力を高くする。これにより吐出部28から吐出され
る超微粒子の粒子径を小さくする。
超微粒子の粒子径が粒子径設定部44aにより設定され
た大きさよりも小さい場合には、ノズル供給用コンプレ
ッサ34を制御して、二流体ノズル12に供給される空
気(ノズル用気体)の圧力を低くする。また、二次気体
用コンプレッサ16を制御して微粒子分別容器10内に
供給される空気(二次気体)の圧力を低くする。これに
より吐出部28から吐出される超微粒子の粒子径を大き
くする。
(ノズル用気体)の圧力、微粒子分別容器10内に供給
される空気(二次気体)の圧力の何れか一方を制御する
ことにより、吐出部28から吐出される超微粒子の粒子
径を制御することができるが、二流体ノズル12に供給
される空気(ノズル用気体)の圧力と微粒子分別容器1
0内に供給される空気(二次気体)の圧力の両方を制御
することにより、より精度よく超微粒子の粒子径を制御
することができる。
微粒子量が粒子量設定部44bにより設定された量より
も少ない場合には、電磁弁32に対して制御信号を出力
して、二流体ノズル12に供給される水の量を増加させ
る。これにより吐出部28から吐出される超微粒子の粒
子量が多くなる。一方、粒子量検出部S2により検出さ
れた微粒子量が粒子量設定部44bにより設定された量
よりも多い場合には、電磁弁32に対して制御信号を出
力して、二流体ノズル12に供給される水の量を減少さ
せる。これにより吐出部28から吐出される超微粒子の
粒子量が少なくなる。
径検出部S1により検出された超微粒子の粒子径が粒子
径設定部44aにより設定された粒子径となり、粒子量
検出部S2により検出された粒子量が粒子量設定部44
bにより設定された粒子量となるまで上述の制御が繰り
返される。
2によれば、省エネルギで、即ち、二流体ノズル12に
空気を供給すると共に微粒子分別容器10内に空気(二
次気体)を供給するだけで、微粒子を微粒子径(質量)
で分別し、5μm以下の設定された均一な粒子径を有す
る水の超微粒子を発生させることができる。また、二流
体ノズル12に供給される水の量を制御することによ
り、設定された量の超微粒子を吐出部28から吐出させ
ることができる。
均一な粒子径を有する超微粒子を発生させることができ
るため、今日まで高度な技術が必要とされていた殺菌、
殺虫、消臭、超薄膜コーティング、造粒、燃焼等超微粒
子を必要とする分野において安価に利用することができ
る。
置においては、二流体ノズルに水を供給して水の超微粒
子を発生させているが、二流体ノズルに薬液、油類、溶
剤、樹脂、溶融金属等を供給して、薬液、油類、溶剤、
樹脂、溶融金属等の均一な粒子径を有する超微粒子を発
生させるようにしてもよい。ここで溶融金属の超微粒子
を発生させた場合には、均一な粒子径を有する金属の超
微粒子を容易に製造することができる。
子の選別を行う3枚の微粒子選別プレート20,22,
24が設けられ、各微粒子選別プレートには所定の大き
さの微粒子通過孔が設けられているが、微粒子選別プレ
ートの枚数及び各微粒子選別プレートに設けられている
微粒子通過孔の大きさを適宜変更することにより、微粒
子の選別制度を調整することができる。
生させた超微粒子の粒子径及び粒子径毎の存在割合の測
定結果を示す。図5は、粒子径設定部44aにより超微
粒子の粒子径を4μmに設定し、粒子量設定部44bに
より所定の粒子量を設定した状態で超微粒子を発生させ
て、超微粒子の粒子径毎の超微粒子の粒子量(存在割合)
を測定した結果を示す図である。この図に示すように設
定した粒子径、粒子量の超微粒子を発生させることがで
きることが確認できた。
超微粒子の粒子径を2μmに設定し、粒子量設定部44
bにより所定の粒子量(図5に示す場合よりも少ない量)
を設定した状態で超微粒子を発生させて、超微粒子の粒
子径毎の超微粒子の粒子量(存在割合)を測定した結果を
示す図である。この図に示すように設定した粒子径、粒
子量の超微粒子を発生させることができることが確認で
きた。
において発生させた超微粒子の粒子径及び粒子径毎の存
在割合を、図5及び図6に関する測定を行った測定装置
よりも更に高感度な測定装置を用いて測定した結果を示
すものである。この図7及び図8において、△で示すグ
ラフは、二次気体を供給しない状態で水の超微粒子を発
生させた場合の測定結果であり、○で示すグラフは、二
次気体を所定の圧力で供給した状態で水の超微粒子を発
生させた場合の測定結果であり、●で示すグラフは、二
次気体を所定の圧力(○で示す場合よりも少し高い圧
力)で供給した状態で水の超微粒子を発生させた場合の
測定結果である。この図7及び図8から明らかなよう
に、二次気体の圧力を調整することにより発生する超微
粒子の均一さを制御することができる。また、発生した
略全ての超微粒子の粒子径(●で示すグラフ)は、2μ
m〜3μmの間の値を有しており、略均一な粒子径の超
微粒子を発生させることができることが確認できた。
径の超微粒子を設定した量で発生させることができる。
また、吐出部から吐出される超微粒子に供給される電荷
の量を制御し、所望の値の電荷を供給して超微粒子を帯
電させることができる。従って、噴霧、塗布しようとす
る対象物への付着効率を向上させることができる。
置の概略構成図である。
ートを示す図である。
ートを示す図である。
ートを示す図である。
置により発生させた超微粒子の粒子径及び粒子径毎の存
在割合の測定結果を示す図である。
置により発生させた超微粒子の粒子径及び粒子径毎の存
在割合の測定結果を示す図である。
置により発生させた超微粒子の粒子径及び粒子径毎の存
在割合を高感度測定装置で測定した結果を示す図であ
る。
置により発生させた超微粒子の粒子径及び粒子径毎の存
在割合を高感度測定装置で測定した結果を示す図であ
る。
径及び粒子径毎の存在割合の測定結果を示す図である。
二流体ノズル、14…整流コーン、16…二次気体用コ
ンプレッサ、20,22,24…微粒子選別プレート、
26…液体貯留容器、28…吐出部、32…電磁弁、3
4…ノズル供給用コンプレッサ、40…電源装置、42
…制御装置、44a…粒子径設定部、44b…粒子量設
定部、44c…電荷量設定部、S1…粒子径検出部、S
2…粒子量検出部。
Claims (6)
- 【請求項1】 液体を気体により破砕微粒化して液体の
微粒子を発生させる微粒子発生ノズルと、前記微粒子発
生ノズルにより発生させた微粒子を分別する分別容器
と、前記分別容器において微粒子から分別された超微粒
子を吐出させる吐出部とを備える超微粒子発生装置にお
いて、 前記吐出部から吐出させる超微粒子の粒子径を設定する
粒子径設定手段と、 前記吐出部から吐出する超微粒子の粒子径を検出する粒
子径検出手段と、 前記粒子径検出手段により検出された超微粒子の粒子径
が前記粒子径設定手段により設定された超微粒子の粒子
径となるように、前記微粒子発生ノズルに供給される気
体の圧力を制御する第1の気体圧制御手段とを備えるこ
とを特徴とする超微粒子発生装置。 - 【請求項2】 前記吐出部から吐出させる超微粒子の粒
子量を設定する粒子量設定手段と、 前記吐出部から吐出する超微粒子の粒子量を検出する粒
子量検出手段と、 前記粒子量検出手段により検出された超微粒子の粒子量
が前記粒子量設定手段により設定された粒子量となるよ
うに、前記微粒子発生ノズルに供給される液体の量を制
御する液体量制御手段と、 を更に備えることを特徴とする請求項1記載の超微粒子
発生装置。 - 【請求項3】 前記分別容器内の微粒子を上昇させるた
めの二次気体を前記分別容器内に供給する二次気体供給
手段と、 前記粒子径検出手段により検出された超微粒子の粒子径
が前記粒子径設定手段により設定された超微粒子の粒子
径となるように、前記二次気体供給手段により供給され
る二次気体の圧力を制御する第2の気体圧制御手段と、 を更に備えることを特徴とする請求項1又は請求項2に
記載の超微粒子発生装置。 - 【請求項4】 前記分別容器は、前記微粒子発生ノズル
により発生させた微粒子を、この分別容器の下部まで導
く整流部材と、 前記整流部材により分別容器の下部まで導かれた微粒子
の浮上を抑制し、微粒子の選別を行う微粒子選別プレー
トとを備えることを特徴とする請求項1〜請求項3の何
れか一項に記載の超微粒子発生装置。 - 【請求項5】 前記分別容器内には、微粒子が通過する
複数の微粒子通過孔が設けられた前記微粒子選別プレー
トが複数枚配置され、 下側に位置する前記微粒子選別プレートに設けられた前
記微粒子通過孔の大きさは、上側に位置する前記微粒子
選別プレートに設けられた前記微粒子通過孔の大きさに
比較して大きいことを特徴とする請求項4記載の超微粒
子発生装置。 - 【請求項6】 前記吐出部から吐出される超微粒子に対
して電荷を供給する電荷供給手段と、 前記電荷供給手段により超微粒子に供給される電荷の量
を制御する電荷量制御手段と、 を更に備えることを特徴とする請求項1〜請求項5の何
れか一項に記載の超微粒子発生装置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2001-201656 | 2001-07-03 | ||
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JP2001259168A JP4477798B2 (ja) | 2001-07-03 | 2001-08-29 | 超微粒子発生装置 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003080125A true JP2003080125A (ja) | 2003-03-18 |
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---|---|---|---|---|
JP2003062449A (ja) * | 2001-08-29 | 2003-03-04 | Tomohiko Hashiba | 超微粒子製造装置 |
WO2005040038A1 (ja) * | 2003-10-23 | 2005-05-06 | Zempachi Ogumi | 微粒子の製造方法及びそのための装置 |
JP2010137128A (ja) * | 2008-12-09 | 2010-06-24 | Tokyo Reito Kucho Jigyo Kyodo Kumiai | 噴霧装置 |
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JP2014529010A (ja) * | 2011-08-11 | 2014-10-30 | エイティーアイ・プロパティーズ・インコーポレーテッド | 噴霧化された金属および合金から製品を形成するためのプロセス、システム、および装置 |
US9453681B2 (en) | 2007-03-30 | 2016-09-27 | Ati Properties Llc | Melting furnace including wire-discharge ion plasma electron emitter |
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CN102416472A (zh) * | 2011-12-08 | 2012-04-18 | 沈阳工业大学 | 一种金属液中加静电的喷射成形雾化装置及其雾化方法 |
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JP4477798B2 (ja) | 2010-06-09 |
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