JP2003072292A - 印刷用版面の彫刻方法及び該彫刻方法で彫刻した印刷版 - Google Patents
印刷用版面の彫刻方法及び該彫刻方法で彫刻した印刷版Info
- Publication number
- JP2003072292A JP2003072292A JP2001267062A JP2001267062A JP2003072292A JP 2003072292 A JP2003072292 A JP 2003072292A JP 2001267062 A JP2001267062 A JP 2001267062A JP 2001267062 A JP2001267062 A JP 2001267062A JP 2003072292 A JP2003072292 A JP 2003072292A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- engraving
- height
- printing plate
- base material
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Manufacture Or Reproduction Of Printing Formes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 印刷版のうねりの程度に応じて、各彫刻位置
の彫刻深度を補正して、正確な深さの微細模様を作成す
る。 【解決手段】 印刷基材表面の所定位置Ｃ(Xn,Yn)を所
定の深さZnで彫刻するための工具指令位置データD(Xn,Y
n,Zn)における深さZnを基材表面の高さに応じて補正す
るため、基材表面に測定箇所Pを複数箇所設け、前記所
定彫刻位置Ｃ(Xn,Yn)から最短距離にあるＰの高さデー
タZp’を前記彫刻位置Ｃの高さデータとして採用し、こ
れと予め設定した基準位置の高さデータＺ0との差ΔＣ
をZnに加算して、補正した工具指令位置データD(Xn,Yn,
Zn＋ΔC)により基材表面を彫刻する。
の彫刻深度を補正して、正確な深さの微細模様を作成す
る。 【解決手段】 印刷基材表面の所定位置Ｃ(Xn,Yn)を所
定の深さZnで彫刻するための工具指令位置データD(Xn,Y
n,Zn)における深さZnを基材表面の高さに応じて補正す
るため、基材表面に測定箇所Pを複数箇所設け、前記所
定彫刻位置Ｃ(Xn,Yn)から最短距離にあるＰの高さデー
タZp’を前記彫刻位置Ｃの高さデータとして採用し、こ
れと予め設定した基準位置の高さデータＺ0との差ΔＣ
をZnに加算して、補正した工具指令位置データD(Xn,Yn,
Zn＋ΔC)により基材表面を彫刻する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】模様を基材表面に彫刻する方
法、特に印刷用版面の作製方法において彫刻基材のそり
やうねりによる彫刻深度のばらつきを排除する印刷用版
面の彫刻方法及び該彫刻方法で彫刻した印刷版に関す
る。
法、特に印刷用版面の作製方法において彫刻基材のそり
やうねりによる彫刻深度のばらつきを排除する印刷用版
面の彫刻方法及び該彫刻方法で彫刻した印刷版に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】模様を基材表面に彫刻する方法、特に凹
版版面の作製方法において、ＮＣ多軸工作機のような彫
刻手段を用いて彫刻する際、対象となる基材はあらかじ
め高さのばらつきを１００μｍ以内に収まるよう平面性
を高めた平らな金属板材を使用することが普通である。
しかし、工作機の盤上への固定状態や材料自身の内部応
力などにより「うねり」が生じるのは避けがたく、１０
μｍから５０μｍ程度の高さのばらつきはどうしても存
在する。
版版面の作製方法において、ＮＣ多軸工作機のような彫
刻手段を用いて彫刻する際、対象となる基材はあらかじ
め高さのばらつきを１００μｍ以内に収まるよう平面性
を高めた平らな金属板材を使用することが普通である。
しかし、工作機の盤上への固定状態や材料自身の内部応
力などにより「うねり」が生じるのは避けがたく、１０
μｍから５０μｍ程度の高さのばらつきはどうしても存
在する。
【０００３】この１０μｍから５０μｍ程度の高さのば
らつきは、最大彫刻深度１００μｍ最小彫刻深度数μｍ
という精密凹版彫刻にとっては、版面の位置により彫刻
深さのばらつきの原因となり、極端な場合ある位置では
彫刻できた微細曲線模様が他の場所では彫刻深度を得ら
れず、図形が彫刻できないという事態を生じることがあ
る。
らつきは、最大彫刻深度１００μｍ最小彫刻深度数μｍ
という精密凹版彫刻にとっては、版面の位置により彫刻
深さのばらつきの原因となり、極端な場合ある位置では
彫刻できた微細曲線模様が他の場所では彫刻深度を得ら
れず、図形が彫刻できないという事態を生じることがあ
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】彫刻に用いる基材は
鋼、銅、黄銅、アルミ合金などの金属材料を使用するこ
とが多い。そのような基材のうねりを模式的に表現した
断面図を図１に示す。図１の一部分を拡大表示したもの
が図２であり、図2のＡ地点において所望の彫刻深度を
得るために工具を基材の内部に向かってすなわちｚ軸方
向下方へ２０μｍ移動しながら切削加工することを想定
する。この時Ａ地点においては、所望深さ２０μｍの彫
刻深度を得たとする。今度はＢ地点において同様の下方
２０μｍ移動命令を行うと、Ｂ地点においては２０μｍ
の彫刻深度は得られない。
鋼、銅、黄銅、アルミ合金などの金属材料を使用するこ
とが多い。そのような基材のうねりを模式的に表現した
断面図を図１に示す。図１の一部分を拡大表示したもの
が図２であり、図2のＡ地点において所望の彫刻深度を
得るために工具を基材の内部に向かってすなわちｚ軸方
向下方へ２０μｍ移動しながら切削加工することを想定
する。この時Ａ地点においては、所望深さ２０μｍの彫
刻深度を得たとする。今度はＢ地点において同様の下方
２０μｍ移動命令を行うと、Ｂ地点においては２０μｍ
の彫刻深度は得られない。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、印刷版基材表
面の所定位置に所定の深さの模様を彫刻する方法であっ
て、基材表面から底面までの高さを測定する測定箇所を
基材表面の複数箇所に設け、所定の彫刻位置から最短距
離にある高さデータと予め設定した基準位置における高
さデータとの差を所定の彫刻位置の深さに加算して補正
し、基材表面の所定の彫刻位置を前記補正した深さで彫
刻することを特徴とする印刷用版面の彫刻方法である。
面の所定位置に所定の深さの模様を彫刻する方法であっ
て、基材表面から底面までの高さを測定する測定箇所を
基材表面の複数箇所に設け、所定の彫刻位置から最短距
離にある高さデータと予め設定した基準位置における高
さデータとの差を所定の彫刻位置の深さに加算して補正
し、基材表面の所定の彫刻位置を前記補正した深さで彫
刻することを特徴とする印刷用版面の彫刻方法である。
【０００６】本発明は、彫刻機に彫刻命令データＤ(Xn,
Yn,Zn)を与え、印刷基材表面の所定位置Ｃ(Xn,Yn)を所
定の基材表面からの深さZnで順次彫刻することにより基
材表面に模様を彫刻する方法であって、基材表面に基材
表面から底面までの高さを測定する測定箇所Pを複数箇
所設け、前記Ｃ(Xn,Yn)から最短距離にある高さ測定箇
所Ｐの高さデータZp’を前記彫刻位置Ｃの高さデータと
して採用し、前記高さデータZp’と予め設定した基準位
置Ｃ0(X0,Y0,)における高さデータＺ0との差でΔＣ（Δ
Ｃ＝Zp’−Ｚ0）を所定位置の深さZnに加算して補正
し、印刷版基材表面の所定位置Ｃ(Xn,Yn,)を前記補正し
た深さZp’=(Zn＋ΔC)で基材表面を彫刻することを特徴
とする彫刻方法である。
Yn,Zn)を与え、印刷基材表面の所定位置Ｃ(Xn,Yn)を所
定の基材表面からの深さZnで順次彫刻することにより基
材表面に模様を彫刻する方法であって、基材表面に基材
表面から底面までの高さを測定する測定箇所Pを複数箇
所設け、前記Ｃ(Xn,Yn)から最短距離にある高さ測定箇
所Ｐの高さデータZp’を前記彫刻位置Ｃの高さデータと
して採用し、前記高さデータZp’と予め設定した基準位
置Ｃ0(X0,Y0,)における高さデータＺ0との差でΔＣ（Δ
Ｃ＝Zp’−Ｚ0）を所定位置の深さZnに加算して補正
し、印刷版基材表面の所定位置Ｃ(Xn,Yn,)を前記補正し
た深さZp’=(Zn＋ΔC)で基材表面を彫刻することを特徴
とする彫刻方法である。
【０００７】本発明は、前記複数の測定箇所における各
測定箇所が彫刻しようとする領域を包含するよう定め
て、各測定箇所における基材高さを測定する印刷用版面
の彫刻方法である。
測定箇所が彫刻しようとする領域を包含するよう定め
て、各測定箇所における基材高さを測定する印刷用版面
の彫刻方法である。
【０００８】本発明は、前記複数の測定箇所における基
材高さの測定は、各測定箇所を中心として測定機を直径
0．1ｍｍ乃至1．0ｍｍの略円形に移動しながら略円形の
周囲に沿って複数箇所の基材高さを測定し、それらの平
均値を各測定箇所の基材高さとする印刷用版面の彫刻方
法である。
材高さの測定は、各測定箇所を中心として測定機を直径
0．1ｍｍ乃至1．0ｍｍの略円形に移動しながら略円形の
周囲に沿って複数箇所の基材高さを測定し、それらの平
均値を各測定箇所の基材高さとする印刷用版面の彫刻方
法である。
【０００９】本発明は、前記基材高さの測定を行う場
合、測定機を彫刻機の工具取付け軸と同一軸上に取り付
ける印刷用版面の彫刻方法である。
合、測定機を彫刻機の工具取付け軸と同一軸上に取り付
ける印刷用版面の彫刻方法である。
【００１０】本発明は、前記基材高さの測定を行う場
合、非接触型変位計を用いて測定する印刷用版面の彫刻
方法である。
合、非接触型変位計を用いて測定する印刷用版面の彫刻
方法である。
【００１１】本発明は、前記印刷用版面は凹版または凸
版である印刷用版面の彫刻方法である。
版である印刷用版面の彫刻方法である。
【００１２】本発明は、前記印刷用版面の彫刻方法によ
り作成された印刷版である。
り作成された印刷版である。
【００１３】
【発明の実施の形態】本発明は、以上述べたような所望
の深度が得られないという現象を改善するため、あらか
じめ彫刻基材のうねりに起因する高さのばらつきを測定
しておき、その凹凸状況を彫刻データに反映させて機械
彫刻を行う彫刻方法である。図３に本発明を実施するた
めのシステムを図示する。４軸NCフライス盤やマシニン
グセンタである彫刻機１上に彫刻基材２を固定し、彫刻
機１の工具取付け軸３にレーザフォーカス変位計４を取
付け、レーザフォーカス変位計４と変位計のコントロー
ラ５と3次元計測用コンピュータ６を接続する。
の深度が得られないという現象を改善するため、あらか
じめ彫刻基材のうねりに起因する高さのばらつきを測定
しておき、その凹凸状況を彫刻データに反映させて機械
彫刻を行う彫刻方法である。図３に本発明を実施するた
めのシステムを図示する。４軸NCフライス盤やマシニン
グセンタである彫刻機１上に彫刻基材２を固定し、彫刻
機１の工具取付け軸３にレーザフォーカス変位計４を取
付け、レーザフォーカス変位計４と変位計のコントロー
ラ５と3次元計測用コンピュータ６を接続する。
【００１４】3次元計測用コンピュータ６にはレーザフ
ォーカス変位計４を制御するためのＮＣデータを作成す
る機能a、測定時にレーザ変位計から出力されたデータ
を自動的に保存する機能b、出力された生データから必
要なデータを取り出す機能c、平面状態を解析し色分け3
次元表示等可視化する機能d、得られた平面測定データ
を用いて彫刻データを補正する機能eが内臓されてい
る。
ォーカス変位計４を制御するためのＮＣデータを作成す
る機能a、測定時にレーザ変位計から出力されたデータ
を自動的に保存する機能b、出力された生データから必
要なデータを取り出す機能c、平面状態を解析し色分け3
次元表示等可視化する機能d、得られた平面測定データ
を用いて彫刻データを補正する機能eが内臓されてい
る。
【００１５】図４に測定ポイントを図示する。彫刻基材
上に格子状に測定ポイントp1,p2,…,pmを設定しその位
置を3次元計測用コンピュータ６に記憶させる。p1,p2,
…,pmの位置データと機能aにより、レーザ変位計制御命
令を作成する。この時、レーザフォーカス変位計はレー
ザ光を照射してその反射光を読取って距離を測定する原
理であるが各測定点においてそこにわずかでも、傷、ご
みがあった場合はレーザ光が乱反射し正確な測定ができ
なくなる現象が起こることがある。
上に格子状に測定ポイントp1,p2,…,pmを設定しその位
置を3次元計測用コンピュータ６に記憶させる。p1,p2,
…,pmの位置データと機能aにより、レーザ変位計制御命
令を作成する。この時、レーザフォーカス変位計はレー
ザ光を照射してその反射光を読取って距離を測定する原
理であるが各測定点においてそこにわずかでも、傷、ご
みがあった場合はレーザ光が乱反射し正確な測定ができ
なくなる現象が起こることがある。
【００１６】そこで測定点を中心に直径0.1ｍｍ程度の
円を描くように変位計を制御してその円形の円周上複数
個の測定点を設置しこれら測定値の平均値をこの円形の
中心の測定値とすることにより、測定誤差を最小にする
ことができる。このレーザ変位計制御命令を実行するこ
とにより基材の平面度を測定する。機能ｂにより3次元
計測用コンピュータ６には高さデータが記録されるの
で、その後機能ｃを用いてデータのサンプリング、統計
処理を行い、機能ｄにより基材の平面状態を表示させ
る。その状態を図５に示す。
円を描くように変位計を制御してその円形の円周上複数
個の測定点を設置しこれら測定値の平均値をこの円形の
中心の測定値とすることにより、測定誤差を最小にする
ことができる。このレーザ変位計制御命令を実行するこ
とにより基材の平面度を測定する。機能ｂにより3次元
計測用コンピュータ６には高さデータが記録されるの
で、その後機能ｃを用いてデータのサンプリング、統計
処理を行い、機能ｄにより基材の平面状態を表示させ
る。その状態を図５に示す。
【００１７】彫刻データの補正は図６に示すように、彫
刻するための工具指令位置Ｃ（Ｘｎ，Ｙｎ，Ｚｎ）にお
ける高さＺｎを基材のうねりによるばらつきを補正した
値に置き換えることであるが、工具指令位置は測定ポイ
ントと一致するとは限らないため、工具指令位置に近接
する測定ポイントより求める。Ｚｐ’を求める最も簡単
な方法は、工具指令位置Ｃに最も近接した測定点の測定
値を任意の工具指令位置Ｃにおける平面上の高さＺｐ’
として用いることである。
刻するための工具指令位置Ｃ（Ｘｎ，Ｙｎ，Ｚｎ）にお
ける高さＺｎを基材のうねりによるばらつきを補正した
値に置き換えることであるが、工具指令位置は測定ポイ
ントと一致するとは限らないため、工具指令位置に近接
する測定ポイントより求める。Ｚｐ’を求める最も簡単
な方法は、工具指令位置Ｃに最も近接した測定点の測定
値を任意の工具指令位置Ｃにおける平面上の高さＺｐ’
として用いることである。
【００１８】そのためには図７に示すように任意の工具
指令位置Ｃ(Xn,Yn,)が測定ポイントである４つの格子点
P0、P1、P2、P3の内側に位置する時、Ｃ(Xn,Yn,)と４つ
の格子点間距離 L0,L1,L2,L3を L0=√（（Xn―Ｘｐ0）2＋（Ｙn―Ｙｐ0）2） L1=√（（Xn―Ｘｐ1）2＋（Ｙn―Ｙｐ1）2） L2=√（（Xn―Ｘｐ2）2＋（Ｙn―Ｙｐ2）2） L3=√（（Xn―Ｘｐ3）2＋（Ｙn―Ｙｐ3）2） により計算し、その距離のうち最小となる値を求める。
その最小値をあたえる格子点のＺ値をＣにおける高さＺ
ｐ’とする。
指令位置Ｃ(Xn,Yn,)が測定ポイントである４つの格子点
P0、P1、P2、P3の内側に位置する時、Ｃ(Xn,Yn,)と４つ
の格子点間距離 L0,L1,L2,L3を L0=√（（Xn―Ｘｐ0）2＋（Ｙn―Ｙｐ0）2） L1=√（（Xn―Ｘｐ1）2＋（Ｙn―Ｙｐ1）2） L2=√（（Xn―Ｘｐ2）2＋（Ｙn―Ｙｐ2）2） L3=√（（Xn―Ｘｐ3）2＋（Ｙn―Ｙｐ3）2） により計算し、その距離のうち最小となる値を求める。
その最小値をあたえる格子点のＺ値をＣにおける高さＺ
ｐ’とする。
【００１９】その他に工具指令位置に近接した複数のポ
イント群p1,p2,…,pmからスプライン関数、ベジェ関数
などの数学関数を用いた補間を行うことによりＺｐ’を
求めることも可能である。
イント群p1,p2,…,pmからスプライン関数、ベジェ関数
などの数学関数を用いた補間を行うことによりＺｐ’を
求めることも可能である。
【００２０】次に基材の任意の１地点に基準点を定め、
その位置の高さをＺ0とする。Ｃにおける高さＺｐ’と
Ｚ0 との差をΔC とすると、 （式１）Δｃ＝Ｚｐ’−Ｚ0 このΔｃを工具指令位置ＣにおけるZ方向の工具指令位
置Ｚnに加算することにより、補正を行う。補正後の工
具指令位置は、（Ｘn，Ｙn，Ｚn＋ΔC）となる。
その位置の高さをＺ0とする。Ｃにおける高さＺｐ’と
Ｚ0 との差をΔC とすると、 （式１）Δｃ＝Ｚｐ’−Ｚ0 このΔｃを工具指令位置ＣにおけるZ方向の工具指令位
置Ｚnに加算することにより、補正を行う。補正後の工
具指令位置は、（Ｘn，Ｙn，Ｚn＋ΔC）となる。
【００２１】以上のように正確に彫刻される印刷版は、
凹版印刷版、凸版印刷版として用いることが可能であ
る。
凹版印刷版、凸版印刷版として用いることが可能であ
る。
【００２２】
【発明の効果】彫刻機の彫刻工具を取付ける軸と同一軸
に測定手段を取付け、この測定手段を基材上に設けた格
子状の多数の測定ポイントに位置決めして測定するた
め、基材が彫刻時の状態のまますなわち彫刻機から基材
を脱着することがないため、位置ずれがない、また脱着
に伴う基材のゆがみがないなどの理由から高精度な平面
度の測定ができる。このような状態で高精度に測定した
平面度のデータで彫刻データを補正することにより、う
ねりなどの基材の高さのばらつきの影響を排除した所望
の彫刻深度の凹版版面を彫刻することができる。
に測定手段を取付け、この測定手段を基材上に設けた格
子状の多数の測定ポイントに位置決めして測定するた
め、基材が彫刻時の状態のまますなわち彫刻機から基材
を脱着することがないため、位置ずれがない、また脱着
に伴う基材のゆがみがないなどの理由から高精度な平面
度の測定ができる。このような状態で高精度に測定した
平面度のデータで彫刻データを補正することにより、う
ねりなどの基材の高さのばらつきの影響を排除した所望
の彫刻深度の凹版版面を彫刻することができる。
【００２３】
【図１】版面のうねりを示す図である。
【図２】うねりのある版面において、２点の位置におい
て彫刻工具を所望のｚ値まで移動させた図である。
て彫刻工具を所望のｚ値まで移動させた図である。
【図３】彫刻システムの概要を示す図である。
【図４】測定ポイントを示す図である。
【図５】うねりのある版面の平面状態を濃度値で示した
図である。
図である。
【図６】彫刻データの補正法を示した図である。
【図７】工具指令位置とその近傍４点における測定ポイ
ントを示した図である。
ントを示した図である。
【図８】高さデータの補正を説明するための基材の断面
図である。
図である。
【００２４】
１ 彫刻機
２ 基材
３ 工具取付け軸
４ レーザフォーカス変位計
５ 変位計のコントローラ
６ ３次元計測用コンピュータ
ａ ＮＣデータを作成する機能
ｂ レーザ変位計から出力されたデータを自動的に保存
する機能 ｃ 平面状態を解析し色分け3次元表示等可視化する機
能 ｄ 得られた平面測定データを用いて彫刻データを補正
する機能
する機能 ｃ 平面状態を解析し色分け3次元表示等可視化する機
能 ｄ 得られた平面測定データを用いて彫刻データを補正
する機能
Claims (8)
- 【請求項１】 印刷版基材表面の所定位置に所定の深さ
の模様を彫刻する方法であって、基材表面から底面まで
の高さを測定する測定箇所を基材表面の複数箇所に設
け、所定の彫刻位置から最短距離にある高さデータと予
め設定した基準位置における高さデータとの差を所定の
彫刻位置の深さに加算して補正し、基材表面の所定の彫
刻位置を前記補正した深さで彫刻することを特徴とする
印刷用版面の彫刻方法。 - 【請求項２】 彫刻機に彫刻命令データＤ(Xn,Yn,Zn)を
与え、印刷基材表面の所定位置Ｃ(Xn,Yn)を所定の基材
表面からの深さZnで順次彫刻することにより基材表面に
模様を彫刻する方法であって、基材表面に基材表面から
底面までの高さを測定する測定箇所Pを複数箇所設け、
前記Ｃ(Xn,Yn)から最短距離にある高さ測定箇所Ｐの高
さデータZp’の高さデータとして採用し、前記高さデー
タZp’と予め設定した基準位置Ｃ0(X0,Y0,)における高
さデータＺ0との差ΔＣ（ΔＣ＝Zp’−Ｚ0）を所定位置
の深さZnに加算して補正し、印刷版基材表面の所定位置
Ｃ(Xn,Yn,)を前記補正した深さZp’=(Zn＋ΔC)で基材表
面を彫刻することを特徴とする彫刻方法。 - 【請求項３】 前記複数の測定箇所における各測定箇所
が彫刻しようとする領域を包含するよう定めて、各測定
箇所における基材高さを測定することを特徴とする請求
項１又は２に記載の印刷用版面の彫刻方法。 - 【請求項４】 前記複数の測定箇所における基材高さの
測定は、各測定箇所を中心として測定機を直径0．1ｍｍ
乃至1．0ｍｍの略円形に移動しながら略円形の周囲に沿
って複数箇所の基材高さを測定し、それらの平均値を各
測定箇所の基材高さとすることを特徴とする請求項３に
記載の印刷用版面の彫刻方法。 - 【請求項５】 前記基材高さの測定を行う場合、測定機
を彫刻機の工具取付け軸と同一軸上に取り付けることを
特徴とする請求項１乃至請求項４いずれか１つに記載の
彫刻方法。 - 【請求項６】 前記基材高さの測定を行う場合、非接触
型変位計を用いて測定することを特徴とする請求項１乃
至請求項４いずれか１つに記載の彫刻方法。 - 【請求項７】 前記印刷用版面は凹版または凸版である
ことを特徴とする請求項１乃至請求項６いずれか１つに
記載の印刷用版面の彫刻方法。 - 【請求項８】 前記請求項１乃至請求項６いずれか１つ
に記載の印刷用版面の彫刻方法により作成された印刷
版。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001267062A JP2003072292A (ja) | 2001-09-04 | 2001-09-04 | 印刷用版面の彫刻方法及び該彫刻方法で彫刻した印刷版 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001267062A JP2003072292A (ja) | 2001-09-04 | 2001-09-04 | 印刷用版面の彫刻方法及び該彫刻方法で彫刻した印刷版 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003072292A true JP2003072292A (ja) | 2003-03-12 |
Family
ID=19093249
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001267062A Pending JP2003072292A (ja) | 2001-09-04 | 2001-09-04 | 印刷用版面の彫刻方法及び該彫刻方法で彫刻した印刷版 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003072292A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007535417A (ja) * | 2003-07-03 | 2007-12-06 | エーステライヒシェ バンクノーテン− ウント ズィヒャーハイツドルック ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | インタグリオ凹版印刷のための版板を製造するための方法及びインタグリオ凹版印刷のための版板 |
| WO2014157292A1 (ja) * | 2013-03-29 | 2014-10-02 | 富士フイルム株式会社 | 製版方法、製版装置、印刷装置及び印刷版 |
| JP2015058663A (ja) * | 2013-09-20 | 2015-03-30 | 大日本印刷株式会社 | ハイトデータ処理装置、ハイトデータ処理方法、プログラム、記憶媒体、エンボス版製造方法、シート製造方法 |
| US9487043B2 (en) | 2013-03-29 | 2016-11-08 | Fujifilm Corporation | Platemaking method, platemaking device, printing press, and printing plate |
-
2001
- 2001-09-04 JP JP2001267062A patent/JP2003072292A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007535417A (ja) * | 2003-07-03 | 2007-12-06 | エーステライヒシェ バンクノーテン− ウント ズィヒャーハイツドルック ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | インタグリオ凹版印刷のための版板を製造するための方法及びインタグリオ凹版印刷のための版板 |
| WO2014157292A1 (ja) * | 2013-03-29 | 2014-10-02 | 富士フイルム株式会社 | 製版方法、製版装置、印刷装置及び印刷版 |
| JP2014198389A (ja) * | 2013-03-29 | 2014-10-23 | 富士フイルム株式会社 | 製版方法、製版装置、印刷装置及び印刷版 |
| US9421750B2 (en) | 2013-03-29 | 2016-08-23 | Fujifilm Corporation | Platemaking method, platemaking device, and printing press |
| US9487043B2 (en) | 2013-03-29 | 2016-11-08 | Fujifilm Corporation | Platemaking method, platemaking device, printing press, and printing plate |
| JP2015058663A (ja) * | 2013-09-20 | 2015-03-30 | 大日本印刷株式会社 | ハイトデータ処理装置、ハイトデータ処理方法、プログラム、記憶媒体、エンボス版製造方法、シート製造方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US10328411B2 (en) | Apparatuses and methods for accurate structure marking and marking-assisted structure locating | |
| KR102081572B1 (ko) | 재료를 제거하는 것에 의해 공구를 가공하기 위한 방법 및 디바이스 | |
| US7372558B2 (en) | Method and system for visualizing surface errors | |
| JP6113507B2 (ja) | 座標位置測定装置による測定エラーの修正 | |
| KR0146689B1 (ko) | 고정형 게이지 및 그 제조방법 | |
| US7650201B2 (en) | Determination method and processing method of machined surface of plate-like material, and apparatus for use in said methods | |
| JP2004144091A5 (ja) | ||
| JP2003500675A (ja) | 計測機器による移動制御 | |
| CN106705880B (zh) | 一种大口径反射镜面形轮廓在位检测方法及装置 | |
| EP2000870A2 (en) | Method for determining machining plane of planar material, machining method and device for determining machining plane and flat surface machining device | |
| CN113798511B (zh) | 一种基于slm增材制造技术的双激光搭接标定方法 | |
| JP2003072292A (ja) | 印刷用版面の彫刻方法及び該彫刻方法で彫刻した印刷版 | |
| CN110497088B (zh) | 基于曲面映射的柔性共形天线激光加工误差控制方法 | |
| EP3682984A1 (en) | Method of manufacture of airfoil castings using autonomous adaptive machining | |
| JP6735735B2 (ja) | ワークピースを検査するための座標測定方法および同装置であって、理想的な形態から実質的に逸脱していないことが判っている基準形状を使用して測定補正値を生成するステップを含む、ワークピースを検査するための座標測定方法および同装置 | |
| KR20150053884A (ko) | 레이저 클래딩 시스템을 이용한 작업 대상물의 작업경로 생성 방법 | |
| JPS6319280B2 (ja) | ||
| JP7023624B2 (ja) | 微細加工装置、制御装置、原盤の製造方法、及び原盤用基材の微細加工方法 | |
| JP7404591B2 (ja) | 構造物の製造方法、構造物製造用の識別子、構造物の製造システム及び機械加工プログラム | |
| JP2022058930A (ja) | 微細加工装置、微細加工ユニット、制御装置、原盤の製造方法、及び原盤用基材の微細加工方法 | |
| CN115630496A (zh) | 镭雕设备中构建用户坐标系的方法及仿真方法 | |
| Xiaoqi et al. | Development of robotic system for 3D profile grinding and polishing | |
| Wang et al. | Sand casting dimensional control | |
| JPH01121185A (ja) | レーザによる自動芯出し方法 | |
| JP2000347714A (ja) | 機械加工装置及び機械加工方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071220 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101004 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20101007 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101118 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110325 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110722 |