JP2003059889A - 低温エアロゾル洗浄方法及び装置 - Google Patents

低温エアロゾル洗浄方法及び装置

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JP2003059889A
JP2003059889A JP2001244311A JP2001244311A JP2003059889A JP 2003059889 A JP2003059889 A JP 2003059889A JP 2001244311 A JP2001244311 A JP 2001244311A JP 2001244311 A JP2001244311 A JP 2001244311A JP 2003059889 A JP2003059889 A JP 2003059889A
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chamber
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Yuzuru Sonoda
譲 園田
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Sumitomo Heavy Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 アルゴンガスの消費量を少なくして、効率良
い洗浄を可能とする。 【解決手段】 低温に冷却した洗浄ガスをノズル20か
ら吹き出してエアロゾル24とし、被洗浄物10に衝突
させて洗浄する際に、1つの冷却系(38)で冷却した
洗浄ガスを、複数の洗浄室42A、42Bに交互に供給
して、各洗浄室で交互に洗浄する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、低温エアロゾル洗
浄方法及び装置に係り、特に、半導体製造工程でのウェハ
洗浄に用いるのに好適な、低温に冷却した洗浄ガスをノ
ズルから吹き出してエアロゾルとし、被洗浄物に衝突さ
せて洗浄する低温エアロゾル洗浄方法及び装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体素子の微細化による高集積
化が加速しており、全体工程数に占める洗浄工程が約3
割と言われるように、半導体製造工程でのウェハ洗浄は
製造歩留りを維持するための重要な装置となっている。
【0003】洗浄装置としては、純水を使用するウェッ
ト洗浄が主流であり、ウェットバス型のバッチ洗浄装置
を中心に発展してきたが、近年は、半導体製造工程の様々
な要求に対応する形で、ジェットスピン洗浄、超音波洗
浄等の各種の枚葉洗浄装置等が多用されるようになって
いる。
【0004】しかしながら、ウェット洗浄においては、
純水の使用量、薬品(無機、有機)の使用量と、その排
水処理の問題、微細パターンの薬品によるオーバーエッ
チングによる形状変形、新材料に対応する洗浄溶剤の開
発と管理の問題、微細パターンへの水による洗浄の限界
等、様々な問題がある。
【0005】これに対し、ウェット洗浄に代わる洗浄方
式として、レーザ光、UV光、各種プラズマを利用した
反応系生成物の洗浄除去装置や、炭酸ガスを冷却して得
たドライアイスの微粒子、又は、アルゴンガスを冷却し
て得たアルゴン固体の微粒子を含むエアロゾル(アルゴ
ンエアロゾルと称する)を使用するドライ洗浄方式の洗
浄装置が開発されており、半導体デバイス工程において
様々な使い分けが始まっている。
【0006】例えば特開平6−252114や特開平6
−295895に記載された、アルゴンエアロゾルを使
用する洗浄方法は、ドライ洗浄では難しいとされていた
パーティクル形状の汚染物の除去に非常に有効であるこ
とが実証されている。
【0007】このアルゴンエアロゾルを用いたウェハ洗
浄装置の一例の全体構成の管路図を図1に、同じく2洗
浄室型の平面図を図2に示す。ここで、図1は、両方の
洗浄室に共通の構成を英文字A、Bを省略して示し、図
2における各洗浄室の構成には、英文字A、Bを付けて
示す。
【0008】この例において、マスフローコントローラ
30、32によりその流量を制御されたアルゴンガスと
窒素ガスは、フィルタ34を通過した後、例えばヘリウ
ム(He)クライオ冷凍機(以下、単にHe冷凍機と称
する)36を用いた熱交換器38(図2では38A、3
8B)内で冷却されてから、エアロゾル生成ノズル(以
下、単にエアロゾルノズルと称する)20(20A、2
0B)に開けられた多数の微細なノズル孔22(22
A、22B)より、エアロゾル24(24A、24B)
となって、排気用真空ポンプ(以下、単に排気ポンプと
称する)40(40A、40B)で真空引きされてい
る、ウェハ洗浄用の洗浄室42(42A、42B)内に
噴出する。図において、41(41A、41B)は、排
気オンオフ弁である。
【0009】ウェハ10は、図2によく示される如く、
ウェハスキャン機構44A、44BによりX軸方向及び
Y軸方向にスキャンされるプロセスハンド(XYスキャ
ンステージとも称する)46A、46B上に載ってお
り、ウェハ全面が洗浄可能となっている。
【0010】洗浄力を向上させるために、図1に示す如
く、加速ノズル56を設置することが考えられており、
マスフローコントローラ52及びフィルタ54を介して
該加速ノズル56に供給され、そのノズル孔から吹き出
す窒素ガスが、加速ガス58として、前記エアロゾルノ
ズル20から噴出されたエアロゾル24を加速する。
【0011】又、パーティクルのウェハ面への再付着防
止の目的で、図1に示す如く、洗浄室42の一端(図の
左端)から、マスフローコントローラ62及びフィルタ
64を介して流入される窒素ガスをパージガス66とし
て、洗浄室42内に供給することも考えられている。
【0012】図2に示す如く、カセット交換用に2つ設
けられた、装置外部からカセット(図示省略)に収容さ
れたウェハ10を搬入するための、真空状態に排気され
るカセット室(ロードロック室とも称する)70内のウ
ェハ10は、該ウェハ10をハンドリングするロボット
室(搬送室とも称する)80内に配設された真空内搬送
ロボット(真空ロボットと称する)(図示省略)のロボ
ットアームの先端に取り付けられたロボットハンドによ
り、カセット室ゲートバルブ74、及び、洗浄室ゲート
バルブ76を通過して、洗浄室42A、42B内の前記
プロセスハンド46A、46B上に移送される。
【0013】ウェハスキャン機構44A、44Bによ
り、それぞれ駆動されるプロセスハンド46A、46B
に載って運ばれるウェハ10は、エアロゾルノズル20
A又は20Bの下で、Y軸方向及びX軸方向にスキャン
される。
【0014】このようにして表面全面が洗浄されたウェ
ハ10は、搬入された経路を逆に辿って、カセット室7
0に戻される。
【0015】このようなアルゴンエアロゾル洗浄装置に
おいては、図2に示す如く、洗浄室42が2つ設けられ
た2洗浄室型モデル、あるいは、1洗浄室型モデルのい
ずれにおいても、各洗浄室42毎にアルゴンエアロゾル
24を生成するために、アルゴンガスを液化点近傍の温
度(90K−100K程度)まで冷却するHe冷凍機3
6を用いた熱交換器38設置し、又、洗浄に使用したアル
ゴンガス等(パージガス66や加速ガス58を含む)を
排気する大容量の排気ポンプ40が設置されている。
【0016】各洗浄室42で被洗浄物であるウェハ10
がアルゴンエアロゾル24に晒され洗浄している時間
は、被洗浄物にもよるが30秒から120秒であるが、
洗浄終了後のウェハを洗浄室から取り出し、次の洗浄ウ
ェハを搬入するまでのウェハ入替時間は20秒〜40秒
を要している。
【0017】その間、洗浄用のアルゴンガスの供給を止
めることができれば問題ないが、アルゴンガスを冷却す
る熱交換器38は、He冷凍機36を含む冷却熱プロセ
スであるため、停止及び立上げ等の切替運転には対応で
きない。即ち、熱交換器38は、図3に例示する如く、H
e冷凍機36によって熱交換器38内部に設置した銅板
37を冷却し、更に、該銅板37に挟まれたアルゴンガス
配送用のステンレス配管39を経由して、該配管39内
を流れるアルゴンガスを冷却するようにされており、冷
却プロセスは、銅板37及びステンレス配管39の熱容
量に依存しているため、冷凍機36の立上げから、定常
状態に達してアルゴンエアロゾルが生成できるまでに、
一定の時間が必要である。又、定常状態に達して、アル
ゴンエアロゾルが生成できるまでに一定の時間が必要で
ある。更に、定常状態に立上った後の停止や、再立上げ等
の瞬時の熱的応答は期待できない。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】従って従来は、洗浄中
以外の、被洗浄物であるウェハ入替中の時間にも、定量
流量のアルゴンガスを供給し、熱交換器38(He冷凍
機36)及び大容量の洗浄室排気ポンプ40を稼動させ
ており、その間のアルゴンガス消費量及び電気消費量等
のランニングコストが割高になるだけでなく、大きくて
高価な大容量の排気ポンプが洗浄室毎に必要になるとい
う問題点を有していた。
【0019】従って、アルゴン洗浄装置が適用される工
程が狭い範囲に限定される結果となっており、アルゴン
ガスの消費量を如何に少なくできるか、又、如何に効率
の良いシステムにできるかが、重要な課題となってい
た。
【0020】本発明は、前記従来の課題を解決するべく
なされたもので、洗浄ガスの消費量を少なく抑えて、効
率良く洗浄が可能な低温エアロゾル洗浄を実現すること
を課題とする。
【0021】
【課題を解決するための手段】本発明は、低温に冷却し
た洗浄ガスをノズルから吹き出してエアロゾルとし、被
洗浄物に衝突させて洗浄する低温エアロゾル洗浄方法に
おいて、1つの冷却系統で冷却した洗浄ガスを、複数の
洗浄室に交互に供給して、各洗浄室で交互に洗浄するよ
うにして、前記課題を解決したものである。
【0022】又、前記各洗浄室を、その動作状態に同期さ
せて、容量が異なるようにされた排気ポンプで交互に排
気するようにして、大容量の排気ポンプを常時運転する
場合に比べて電気消費量を低減したものである。
【0023】又、被洗浄物入替中又は待機中の洗浄室に
も、少量の洗浄ガスを供給するようにして、洗浄室を迅
速に洗浄可能な状態に立ち上げることができるようにし
たものである。
【0024】本発明は、又、低温に冷却した洗浄ガスをノ
ズルから吹き出してエアロゾルとし、被洗浄物に衝突さ
せて洗浄するための低温エアロゾル洗浄装置において、
1つの冷却系統で冷却した洗浄ガスを、複数の洗浄室に
交互に供給するための分配手段を設けることにより、前
記課題を解決したものである。
【0025】更に、前記洗浄室を排気するための、容量が
異なるようにされた複数の排気ポンプと、各洗浄室の動
作状態に同期させて、前記複数の排気ポンプのいずれか
を各洗浄室に接続するための排気切替手段とを更に設け
ることにより、排気ポンプの電気消費量を低減したもの
である。
【0026】又、前記分配手段により、被洗浄物入替中
又は待機中の洗浄室にも、少量の洗浄ガスを供給するよ
うにして、洗浄室を迅速に立ち上げることができるよう
にしたものである。
【0027】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して、2洗浄室型
のウェハ洗浄装置に適用した本発明の実施形態を詳細に
説明する。
【0028】本実施形態は、図4に示す如く、1系統の熱
交換器38で、2つの洗浄室42Aと42Bを受け持つ
ようにした点が、図2に示した従来例と異なる。
【0029】そのため、熱交換器38で冷却された冷却
ガスは、熱交換器38と2つの洗浄室42A、42Bと
の間に設けられた冷却ガス切替用バルブ90を介して分
配連結されている。この冷却ガス切替用バルブ90を切
替えることで、洗浄プロセス中の洗浄室(図4では42
A)には冷却ガスを供給し、ウェハ搬送入替中の洗浄室
(同じく42B)には、冷却ガスを供給しない。なお、
切替後の洗浄プロセスの再立上がりを早めるために、図
5に示す如く、ウェハ搬送入替中の洗浄室へも少量の冷
却ガスを供給することも可能である。
【0030】洗浄室42A、42Bで消費される洗浄ガ
ス及びその他のガス(パージガスや加速ガス)を排気す
るための排気ポンプが必要であるが、本実施形態では、
大容量の排気ポンプ92と小容量の排気ポンプ93を設
け、図4に示すような排気配管系と4つの排気配管切替
バルブ94A、94B、95A、95Bを設置し、熱交
換器38の冷却ガス切替用バルブ90の切替えと同期さ
せて、排気配管切替用バルブ94A、94B、95A、
95Bを切替え、洗浄プロセス中の洗浄室(図では42
A)は、大容量の排気ポンプ92で排気し、搬送準備中
の洗浄室(図では42B)は、小容量の排気ポンプ93
で排気するようにしている。
【0031】なお、熱交換器38からの冷却ガスの供給
方法は、洗浄装置の立上げから終了プロセスまでの各工
程で、2つの洗浄室への冷却ガスの供給量及び供給分配
率を変えることも考えられる。例えば、プロセスの立上
げ時には2つの洗浄室内部は常温の状態にあり、エアロ
ゾルによる洗浄ができる定常状態に至るまでには、2つ
の洗浄室を冷却エアロゾルを吹き出して冷却する必要が
ある。このような場合には、冷却ガスの総量を通常運転
時よりも増やし、洗浄室を素早く定常状態にもっていく
ようにした方がよい。又、図5に示した如く、2つの洗
浄室への冷却ガスの供給分配率を同量にし、同時に立ち
上がるようにしてもよい。
【0032】本実施形態においては、各洗浄室をその動
作状態に同期させて、容量の異なる排気ポンプで交互に
排気するようにしたので、大容量の排気ポンプを2台常
時稼動させる場合に比べて、電気消費量を低減すること
ができる。又、大きくて高価な大容量の排気ポンプは1
台ですみ、設置スペースをとらず、設備費も安価であ
る。なお、図6に示す変形例のように、排気ポンプを3
台設け、そのうち2台の排気ポンプ93A、93Bで両
方の洗浄室を常時排気し、残りの1台の中容量の排気ポ
ンプ96を併用して、洗浄プロセス中の洗浄室を排気す
ることも可能である。
【0033】前記実施形態においては、アルゴンエアロ
ゾルにより洗浄が行われていたが、本発明の適用対象は
これに限定されず、アルゴン以外の低温エアロゾルによ
る洗浄にも同様に適用できる。又、加速ガスやパージガ
スの種類も窒素ガスに限定されず、省略することも可能
である。洗浄室の数も2に限定されず、3以上であって
もよい。
【0034】又、前記実施形態においては、本発明が、半
導体用ウェハの洗浄に適用されていたが、洗浄対象もこ
れに限定されず、半導体用マスク、フラットパネル用基
板、磁気ディスク基板、フライイングヘッド用基板等の他
の被洗浄物の洗浄にも同様に適用できることは明らかで
ある。
【0035】
【発明の効果】本発明によれば、洗浄プロセス中の洗浄
室にのみ、必要な洗浄ガスを供給し、待機中の洗浄室へ
の洗浄ガスの供給は減らすようにしたので、洗浄ガスの
消費量や冷却系統の電気消費量を低減できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来のアルゴンエアロゾル洗浄装置の基本的な
構成を示す管路図
【図2】同じく2洗浄室型のアルゴンエアロゾル洗浄装
置の配置を示す平面図
【図3】同じく熱交換器の構成を示す概略図
【図4】本発明の実施形態の構成を示す平面図
【図5】前記実施形態における各洗浄室への冷却ガスの
供給量の変化状態の例を示すタイムチャート
【図6】排気ポンプの構成の変形例を示す管路図
【符号の説明】
10…ウェハ(被洗浄物) 20、20A、20B…エアロゾル生成ノズル 22、22A、22B…エアロゾル 38、38A、38B…熱交換器 42、42A、42B…洗浄室 90…冷却ガス切替用バルブ 92…大容量排気ポンプ 93、93A、93B…小容量排気ポンプ 94A、94B、95A、95B…排気配管切替用バル
ブ 96…中容量排気ポンプ

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】低温に冷却した洗浄ガスをノズルから吹き
    出してエアロゾルとし、被洗浄物に衝突させて洗浄する
    低温エアロゾル洗浄方法において、 1つの冷却系統で冷却した洗浄ガスを、複数の洗浄室に
    交互に供給して、各洗浄室で交互に洗浄することを特徴
    とする低温エアロゾル洗浄方法。
  2. 【請求項2】前記各洗浄室を、その動作状態に同期させ
    て、容量が異なるようにされた排気ポンプで交互に排気
    することを特徴とする請求項1に記載の低温エアロゾル
    洗浄方法。
  3. 【請求項3】被洗浄物入替中又は待機中の洗浄室にも、
    少量の洗浄ガスを供給することを特徴とする請求項1又
    は2に記載の低温エアロゾル洗浄方法。
  4. 【請求項4】低温に冷却した洗浄ガスをノズルから吹き
    出してエアロゾルとし、被洗浄物に衝突させて洗浄する
    ための低温エアロゾル洗浄装置において、 1つの冷却系統で冷却した洗浄ガスを、複数の洗浄室に
    交互に供給するための分配手段を設けたことを特徴とす
    る低温エアロゾル洗浄装置。
  5. 【請求項5】前記洗浄室を排気するための、容量が異な
    るようにされた複数の排気ポンプと、 各洗浄室の動作状態に同期させて、前記複数の排気ポン
    プのいずれかを各洗浄室に接続するための排気切替手段
    と、を更に設けたことを特徴とする請求項4に記載の低
    温エアロゾル洗浄装置。
  6. 【請求項6】前記分配手段により、被洗浄物入替中又は
    待機中の洗浄室にも、少量の洗浄ガスを供給することを
    特徴とする請求項4又は5に記載の低温エアロゾル洗浄
    装置。
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