JP2003051586A - X-ray photoelectric converter - Google Patents

X-ray photoelectric converter

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JP2003051586A
JP2003051586A JP2001235832A JP2001235832A JP2003051586A JP 2003051586 A JP2003051586 A JP 2003051586A JP 2001235832 A JP2001235832 A JP 2001235832A JP 2001235832 A JP2001235832 A JP 2001235832A JP 2003051586 A JP2003051586 A JP 2003051586A
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JP
Japan
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carbon atoms
less carbon
photoelectric converter
ray
layer
Prior art date
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Pending
Application number
JP2001235832A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuhiko Shima
和彦 島
Yoichiro Shimura
陽一郎 志村
Hideo Tsuruta
秀生 鶴田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shindengen Electric Manufacturing Co Ltd
Yamanashi Electronics Co Ltd
Original Assignee
Shindengen Electric Manufacturing Co Ltd
Yamanashi Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shindengen Electric Manufacturing Co Ltd, Yamanashi Electronics Co Ltd filed Critical Shindengen Electric Manufacturing Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain an X-ray photoelectric converter that is high in S/N and excellent in durability. SOLUTION: This X-ray photoelectric converter 10 has an electric charge collecting electrode 2, an undercoat layer 3 arranged on the electrode 2, and an X-ray photoconductive layer 4 arranged on the layer 3. This converter 10 also has an upper electrode 5 arranged on the layer 4. Since the undercoat layer 3 contains a silicon compound produced by hydrolyzing a silane coupling agent as the main component and, consequently, is durable against physical shocks, the durability of this X-ray photoelectric converter is improved as a whole. In addition, the converter 10 having the undercoat layer 3 also has a high S/N.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、X線光導電層と電
極の間に下引層を設けた電界印加型X線光電変換器の技
術分野に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to the technical field of an electric field application type X-ray photoelectric converter having an undercoat layer provided between an X-ray photoconductive layer and an electrode.

【0002】[0002]

【従来の技術】X線を電気信号に変換し、取出した電荷
をデジタル化し処理する技術は、産業用や医療用など幅
広く活用されはじめている。本発明者らは、X線を電気
信号に変換し取出すためのX線光電変換器として、平行
する電極間にX線光導電層を設けたX線光電変換器を研
究していたが、X線光電変換器に電界を与えたときの電
流値(ノイズ)が大きく、電界を与えたX線光電変換器
にX線を照射した時の電流値(シグナル)とノイズの比
(S/N比)が小さくなってしまった。また、環境温度
変化によってクラックや変色を起こしたり、高電界を与
えると放電破壊を起こしたり、剥離強度が弱いなど、外
的エネルギーに対して弱いものであった。
2. Description of the Related Art Techniques for converting X-rays into electric signals and digitizing and processing the extracted charges have begun to be widely used for industrial and medical purposes. The present inventors have studied an X-ray photoelectric converter provided with an X-ray photoconductive layer between parallel electrodes as an X-ray photoelectric converter for converting and extracting X-rays into an electric signal. The current value (noise) when an electric field is applied to the line photoelectric converter is large, and the ratio of the current value (signal) and noise (S / N ratio) when the X-ray photoelectric converter to which an electric field is applied is irradiated with X-rays. ) Has become smaller. Further, they are weak against external energy, such as cracking or discoloration due to environmental temperature change, discharge breakdown when a high electric field is applied, and weak peeling strength.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、電界印加型
X線光電変換器について、S/N比を向上させること、
外的エネルギーに高い耐久性を示すことを目的とする。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention is to improve the S / N ratio of an electric field application type X-ray photoelectric converter.
The purpose is to show high durability against external energy.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本発明者らは、X線光導
電層の下部、即ち電荷収集電極とX線光導電層の間に加
水分解して生成される熱硬化性のケイ素化合物を含む下
引層を設けることにより、上記課題を解決できることを
見出した。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The present inventors have found that a thermosetting silicon compound formed by hydrolysis is formed under the X-ray photoconductive layer, that is, between the charge collecting electrode and the X-ray photoconductive layer. It has been found that the above problems can be solved by providing an undercoat layer containing the above.

【0005】かかる知見に基づいてなされた請求項1記
載の発明は、電荷収集電極と、前記電荷収集電極上に配
置されたX線光導電層と、前記X線光導電層上に配置さ
れた上部電極とを有し、前記電荷収集電極と前記上部電
極との間に電圧を印加した状態でX線を照射すると、前
記光導電層内に潜像が形成されるX線光電変換器であっ
て、前記電荷収集電極と前記X線光導電層との間には下
引き層が配置され、前記下引き層は、シランカップリン
グ剤が加水分解し、脱水縮合して生成されたケイ素化合
物を主成分とすることを特徴とするX線光電変換器であ
る。請求項2記載の発明は、請求項1記載のX線光電変
換器であって、前記シランカップリング剤は、エポキシ
シラン化合物と、アルコキシアルキルシラン化合物と、
アミノシラン化合物とを含有することを特徴とするX線
光電変換器である。請求項3記載の発明は、請求項2記
載のX線光電変換器であって、前記エポキシシラン化合
物は、下記一般式(1)、(2)で示されるシラン化合
物のうちいずれか一方又は両方のシラン化合物を含有す
ることを特徴とするX線光電変換器である。
The invention according to claim 1 made on the basis of the above knowledge, the charge collecting electrode, the X-ray photoconductive layer arranged on the charge collecting electrode, and the X-ray photoconductive layer are arranged. An X-ray photoelectric converter having an upper electrode, and a latent image is formed in the photoconductive layer when an X-ray is irradiated while a voltage is applied between the charge collecting electrode and the upper electrode. An undercoat layer is disposed between the charge collecting electrode and the X-ray photoconductive layer, and the undercoat layer contains a silicon compound produced by hydrolysis and dehydration condensation of a silane coupling agent. It is an X-ray photoelectric converter characterized by having a main component. The invention according to claim 2 is the X-ray photoelectric converter according to claim 1, wherein the silane coupling agent is an epoxysilane compound and an alkoxyalkylsilane compound.
It is an X-ray photoelectric converter characterized by containing an aminosilane compound. The invention according to claim 3 is the X-ray photoelectric converter according to claim 2, wherein the epoxysilane compound is one or both of the silane compounds represented by the following general formulas (1) and (2). An X-ray photoelectric converter characterized by containing the silane compound of.

【0006】[0006]

【化6】 [Chemical 6]

【0007】(上記一般式(1)中、R1は炭素数6以
下のアルキレン基である。R2、R3はそれぞれ炭素数4
以下のアルキル基である。R4は炭素数4以下のアルキ
ル基又は炭素数4以下のアルコキシ基のうちいずれか一
方の置換基である。)
(In the general formula (1), R 1 is an alkylene group having 6 or less carbon atoms. R 2 and R 3 are each 4 carbon atoms.
It is the following alkyl groups. R 4 is a substituent of either an alkyl group having 4 or less carbon atoms or an alkoxy group having 4 or less carbon atoms. )

【0008】[0008]

【化7】 [Chemical 7]

【0009】(上記一般式(2)中、R5は炭素数6以
下のアルキレン基である。R6、R7はそれぞれ炭素数4
以下のアルキル基である。R8は炭素数4以下のアルキ
ル基又は炭素数4以下のアルコキシ基のうち、いずれか
一方の置換基である。) 請求項4記載の発明は、請求項2記載のX線光電変換器
であって、前記アルコキシアルキルシラン化合物は、下
記一般式(3)に示されるシラン化合物を含有すること
を特徴とするX線光電変換器である。
(In the general formula (2), R 5 is an alkylene group having 6 or less carbon atoms. R 6 and R 7 are each 4 carbon atoms.
It is the following alkyl groups. R 8 is a substituent of either an alkyl group having 4 or less carbon atoms or an alkoxy group having 4 or less carbon atoms. The invention according to claim 4 is the X-ray photoelectric converter according to claim 2, wherein the alkoxyalkylsilane compound contains a silane compound represented by the following general formula (3). It is a line photoelectric converter.

【0010】[0010]

【化8】 [Chemical 8]

【0011】(上記一般式(3)中、R9〜R12はそれ
ぞれ炭素数8以下のアルキル基、又は炭素数8以下のア
ルコキシ基のいずれか一方の置換基である。) 請求項5記載の発明は、請求項2記載のX線光電変換器
であって、前記アミノシラン化合物は下記一般式
(4)、(5)で示されるシラン化合物のうちいずれか
一方又は両方のシラン化合物を含有することを特徴とす
るX線光電変換器である。
(In the general formula (3), each of R 9 to R 12 is a substituent of either an alkyl group having 8 or less carbon atoms or an alkoxy group having 8 or less carbon atoms.) Is an X-ray photoelectric converter according to claim 2, wherein the aminosilane compound contains one or both of the silane compounds represented by the following general formulas (4) and (5). It is an X-ray photoelectric converter characterized in that.

【0012】[0012]

【化9】 [Chemical 9]

【0013】(上記一般式(4)中、R13は炭素数6以
下のアルキレン基である。R14、R15はそれぞれ炭素数
4以下のアルキル基である。R16は炭素数4以下のアル
キル基または炭素数4以下のアルコキシ基のいずれか一
方の置換基である。)
(In the general formula (4), R 13 is an alkylene group having 6 or less carbon atoms, R 14 and R 15 are each an alkyl group having 4 or less carbon atoms, and R 16 is 4 or less carbon atoms. It is a substituent of either an alkyl group or an alkoxy group having 4 or less carbon atoms.)

【0014】[0014]

【化10】 [Chemical 10]

【0015】(上記一般式(5)中、R17は炭素数6以
下のアルキレン基である。R18は炭素数2以上炭素数4
以下のアルキレン基である。R19、R20はそれぞれ炭素
数4以下のアルキル基である。R21は炭素数4以下のア
ルキル基又は炭素数4以下のアルコキシ基のいずれか一
方の置換基である。) 尚、上記一般式(1)〜(4)中のR1〜R21を構成す
る各置換基は、それぞれ直鎖構造又は分岐構造を有す
る。また、上記一般式(1)〜(4)中のR2、R3、R
6、R7、R9〜R12、R14、R15、R19、R20はそれぞ
れ独立した置換基である。
(In the above general formula (5), R 17 is an alkylene group having 6 or less carbon atoms. R 18 is 2 or more carbon atoms and 4 carbon atoms.
The following are alkylene groups. R 19 and R 20 are each an alkyl group having 4 or less carbon atoms. R 21 is a substituent of either an alkyl group having 4 or less carbon atoms or an alkoxy group having 4 or less carbon atoms. ) Each of the substituents constituting R 1 to R 21 in the general formulas (1) to (4) has a linear structure or a branched structure. In addition, R 2 , R 3 and R in the above general formulas (1) to (4)
6 , R 7 , R 9 to R 12 , R 14 , R 15 , R 19 , and R 20 are each independently a substituent.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】本発明の電界印加型X線光電変換
器の実施形態を以下に示すが、これに限定されるもので
はない。本発明の電界印加型X線光電変換器10は、図
1に示すように、ガラス基板1上に電荷収集電極2を設
け、その上にシランカップリング剤を加水分解して生成
される熱硬化性のケイ素化合物を含む下引層3を設け、
下引層3上にX線光導電層4を設け、X線光導電層4上
に上部電極5を設けてなる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the electric field application type X-ray photoelectric converter of the present invention are shown below, but the present invention is not limited thereto. As shown in FIG. 1, the electric field application type X-ray photoelectric converter 10 of the present invention is provided with a charge collecting electrode 2 on a glass substrate 1, and a thermosetting generated by hydrolyzing a silane coupling agent thereon. An undercoat layer 3 containing a conductive silicon compound,
The X-ray photoconductive layer 4 is provided on the undercoat layer 3, and the upper electrode 5 is provided on the X-ray photoconductive layer 4.

【0017】また、他の例として、図2に示すX線光電
変換器20のように、下引層3の上に電荷輸送層6を設
けてもよく、図3に示すX線光電変換器30のように、
X線光導電層4の上に電荷輸送層6を設けることもでき
る。更に、図4に示すX線光電変換器40のように、上
部電極5の上に保護層7を設けてもよい。更にまた、図
5に示すX線光電変換器50のように、X線光導電層4
の上に上引層8を設けてもよい。
As another example, as in the X-ray photoelectric converter 20 shown in FIG. 2, the charge transport layer 6 may be provided on the undercoat layer 3, and the X-ray photoelectric converter shown in FIG. Like 30
The charge transport layer 6 may be provided on the X-ray photoconductive layer 4. Further, like the X-ray photoelectric converter 40 shown in FIG. 4, the protective layer 7 may be provided on the upper electrode 5. Furthermore, like the X-ray photoelectric converter 50 shown in FIG.
An overcoat layer 8 may be provided on the above.

【0018】なお、特に図示はしないが、上記電荷輸送
層、保護層、上引層を同時に設けることもできる。本発
明の下引層は、シランカップリング剤を加水分解して生
成される熱硬化性のケイ素化合物を含むものである。
Although not shown in the drawing, the charge transport layer, the protective layer and the overcoat layer may be provided at the same time. The undercoat layer of the present invention contains a thermosetting silicon compound produced by hydrolyzing a silane coupling agent.

【0019】シランカップリング剤とは、アルコキシ基
やハロゲン基などの加水分解性の置換基と、ビニル基や
エポキシ基、アミノ基などの有機質と反応しやすい置換
基を有するものである。
The silane coupling agent has a hydrolyzable substituent such as an alkoxy group or a halogen group and a substituent such as a vinyl group, an epoxy group or an amino group, which easily reacts with an organic substance.

【0020】シランカップリング剤を加水分解すると、
脱水縮合反応しSi−O−Si結合のシロキサン構造を
とり、電気的に高抵抗であり、且つ無機、有機問わず異
種材料においても接着強度が高いという性質を兼ね揃え
た熱硬化性のケイ素化合物を形成する。尚、脱水縮合反
応によって形成されるシロキサン構造は、直鎖状構造、
分岐状構造、網状構造を有する場合がある。
When the silane coupling agent is hydrolyzed,
A thermosetting silicon compound that has a siloxane structure of Si-O-Si bond through dehydration condensation reaction, has high electrical resistance, and has high adhesive strength even in different materials regardless of inorganic or organic. To form. The siloxane structure formed by the dehydration condensation reaction has a linear structure,
It may have a branched structure or a network structure.

【0021】上記シランカップリング剤は、下記A群か
ら選ばれた少なくとも1種のエポキシシラン化合物と、
下記B群から選ばれた少なくとも1種のアルコキシアル
キルシラン化合物と、及び下記C群から選ばれた少なく
とも1種のアミノシラン化合物とを有する場合、本発明
の課題に対して好ましい。
The silane coupling agent is at least one epoxysilane compound selected from the following group A:
It is preferable for the object of the present invention to have at least one alkoxyalkylsilane compound selected from the following group B and at least one aminosilane compound selected from the following group C.

【0022】A群:下記一般式(1)又は下記一般式
(2)に示されるエポキシシラン化合物。
Group A: An epoxysilane compound represented by the following general formula (1) or general formula (2).

【0023】[0023]

【化11】 [Chemical 11]

【0024】(上記一般式(1)中、R1は炭素数6以
下のアルキレン基である。R2、R3はそれぞれ炭素数4
以下のアルキル基である。R4は炭素数4以下のアルキ
ル基又は炭素数4以下のアルコキシ基のうちいずれか一
方の置換基である。)
(In the general formula (1), R 1 is an alkylene group having 6 or less carbon atoms. R 2 and R 3 are each 4 carbon atoms.
It is the following alkyl groups. R 4 is a substituent of either an alkyl group having 4 or less carbon atoms or an alkoxy group having 4 or less carbon atoms. )

【0025】[0025]

【化12】 [Chemical 12]

【0026】(上記一般式(2)中、R5は炭素数6以
下のアルキレン基である。R6、R7はそれぞれ炭素数4
以下のアルキル基である。R8は炭素数4以下のアルキ
ル基又は炭素数4以下のアルコキシ基のうち、いずれか
一方の置換基である。) B群:下記一般式(3)に示されるアルコキシアルキル
シラン化合物。
(In the general formula (2), R 5 is an alkylene group having 6 or less carbon atoms. R 6 and R 7 are each 4 carbon atoms.
It is the following alkyl groups. R 8 is a substituent of either an alkyl group having 4 or less carbon atoms or an alkoxy group having 4 or less carbon atoms. ) Group B: an alkoxyalkylsilane compound represented by the following general formula (3).

【0027】[0027]

【化13】 [Chemical 13]

【0028】(上記一般式(3)中、R9〜R12はそれ
ぞれ炭素数8以下のアルキル基、又は炭素数8以下のア
ルコキシ基のいずれか一方の置換基である。) C群:下記一般式(4)又は下記一般式(5)に示され
るアミノシラン化合物。
(In the general formula (3), each of R 9 to R 12 is a substituent of either an alkyl group having 8 or less carbon atoms or an alkoxy group having 8 or less carbon atoms.) Group C: An aminosilane compound represented by the general formula (4) or the following general formula (5).

【0029】[0029]

【化14】 [Chemical 14]

【0030】(上記一般式(4)中、R13は炭素数6以
下のアルキレン基である。R14、R15はそれぞれ炭素数
4以下のアルキル基である。R16は炭素数4以下のアル
キル基または炭素数4以下のアルコキシ基のいずれか一
方の置換基である。)
(In the general formula (4), R 13 is an alkylene group having 6 or less carbon atoms, R 14 and R 15 are each an alkyl group having 4 or less carbon atoms, and R 16 is 4 or less carbon atoms. It is a substituent of either an alkyl group or an alkoxy group having 4 or less carbon atoms.)

【0031】[0031]

【化15】 [Chemical 15]

【0032】(上記一般式(5)中、R17は炭素数6以
下のアルキレン基である。R18は炭素数2以上炭素数4
以下のアルキレン基である。R19、R20はそれぞれ炭素
数4以下のアルキル基である。R21は炭素数4以下のア
ルキル基又は炭素数4以下のアルコキシ基のいずれか一
方の置換基である。) A群を構成するエポキシシラン化合物の具体例として
は、β−グリシドキシエチルプロピルトリプロポキシシ
ラン、β−グリシドキシエチルプロピルトリブトキシシ
ラン、γ−グリシドキシエチルプロピルトリメトキシシ
ラン、γ−グリシドキシエチルプロピルトリエトキシシ
ラン、γ−グリシドキシエチルプロピルトリプロキシシ
ラン、γ−グリシドキシエチルプロピルトリブトキシシ
ラン等がある。
(In the general formula (5), R 17 is an alkylene group having 6 or less carbon atoms. R 18 is 2 or more carbon atoms and 4 carbon atoms.
The following are alkylene groups. R 19 and R 20 are each an alkyl group having 4 or less carbon atoms. R 21 is a substituent of either an alkyl group having 4 or less carbon atoms or an alkoxy group having 4 or less carbon atoms. ) Specific examples of the epoxysilane compound constituting the group A include β-glycidoxyethylpropyltripropoxysilane, β-glycidoxyethylpropyltributoxysilane, γ-glycidoxyethylpropyltrimethoxysilane, γ- There are glycidoxyethylpropyltriethoxysilane, γ-glycidoxyethylpropyltriproxysilane, γ-glycidoxyethylpropyltributoxysilane and the like.

【0033】B群を構成するアルコキシアルキルシラン
化合物の具体例としては、モノメチルトリメトキシシラ
ン、ジメチルジメトキシシラン、モノメチルトリエトキ
シシラン、ジメチルジエトキシシラン、モノエチルトリ
メトキシシラン、ジエチルジメトキシシラン、モノエチ
ルトリエトキシシラン、ジエチルジエトキシシラン、テ
トラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトラプ
ロポキシシラン、テトラブトキシシラン等がある。
Specific examples of the alkoxyalkylsilane compound constituting the group B include monomethyltrimethoxysilane, dimethyldimethoxysilane, monomethyltriethoxysilane, dimethyldiethoxysilane, monoethyltrimethoxysilane, diethyldimethoxysilane and monoethyltriethylsilane. Examples include ethoxysilane, diethyldiethoxysilane, tetramethoxysilane, tetraethoxysilane, tetrapropoxysilane, and tetrabutoxysilane.

【0034】C群を構成するアミノシラン化合物の具体
例としては、アミノメチルトリメトキシシラン、アミノ
メチルトリエトキシシラン、アミノメチルトリプロポキ
シシラン、アミノプロピルトリメトキシシラン、アミノ
プロピルトリエトキシシラン、アミノプロピルトリブト
キシシラン、N−β−アミノエチル−γ−アミノプロピ
ルトリメトキシシラン等がある。
Specific examples of the aminosilane compound constituting the group C include aminomethyltrimethoxysilane, aminomethyltriethoxysilane, aminomethyltripropoxysilane, aminopropyltrimethoxysilane, aminopropyltriethoxysilane and aminopropyltributoxy. Examples include silane and N-β-aminoethyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane.

【0035】シランカップリング剤の種類によっては触
媒の存在下でしか加水分解されないものもあるが、上記
A群、B群、C群のシラン化合物を有するシランカップ
リング剤は加水分解のための触媒がなくてもよく、シラ
ンカップリング剤の混合物に純水を添加し攪拌するのみ
で加水分解反応を進行させることができる。その場合、
加水分解時間が非常に短く好ましい。また、加水分解に
は、塩酸、硫酸、酢酸等の酸やこれらの塩類を触媒とし
て用いてもよい。
Although some silane coupling agents are hydrolyzed only in the presence of a catalyst, the silane coupling agents having the silane compounds of groups A, B and C are catalysts for hydrolysis. It is not necessary to add, and the hydrolysis reaction can be advanced only by adding pure water to the mixture of silane coupling agents and stirring. In that case,
The hydrolysis time is very short and preferred. For the hydrolysis, acids such as hydrochloric acid, sulfuric acid, acetic acid and salts thereof may be used as a catalyst.

【0036】加水分解に要する組成割合は、上記A群、
B群及びC群から選ばれるシランカップリング剤をそれ
ぞれ2容量部以上10容量部以下用い、さらに水を1容
量部以上6容量部以下使用するのが好ましい。これらA
群からC群までのシランカップリング剤のそれぞれ1種
以上を選んで混合した後、水を加えて加水分解を行う。
水を加えたときに激しく撹拌すると加水分解反応の進行
を促進することができる。
The composition ratio required for hydrolysis is as follows:
It is preferable to use 2 parts by volume or more and 10 parts by volume or less of the silane coupling agent selected from the groups B and C, respectively, and further use 1 part by volume or more and 6 parts by volume or less of water. These A
After selecting and mixing one or more kinds of silane coupling agents from groups C to C, water is added to carry out hydrolysis.
Vigorous stirring when water is added can accelerate the progress of the hydrolysis reaction.

【0037】加水分解終了後、所望により直ちに有機溶
媒を加えて加水分解の濃度を調節することもできる。添
加する有機溶媒としては親水性のものが好ましく、メタ
ノ−ル、エタノ−ル、プロパノ−ル、ジオキサン、メチ
ルセロソルブ、エチルセロソルブ等が使用可能である。
これらの有機溶媒の添加量は、50容量部以上300容
量部以下が好ましい。
If desired, an organic solvent may be added immediately after the completion of hydrolysis to adjust the concentration of hydrolysis. As the organic solvent to be added, hydrophilic ones are preferable, and methanol, ethanol, propanol, dioxane, methyl cellosolve, ethyl cellosolve and the like can be used.
The addition amount of these organic solvents is preferably 50 parts by volume or more and 300 parts by volume or less.

【0038】加水分解後或いは有機溶媒添加後の溶液
(下引き層形成用塗液)を電荷収集電極上に塗布し加熱
硬化させ、熱硬化性のケイ素化合物を含有する下引層を
形成させる。加熱温度は50℃以上150℃以下が好ま
しく、加熱時間は0.5時間以上100時間以下が好ま
しい。
A solution (coating solution for forming an undercoat layer) after hydrolysis or addition of an organic solvent is applied onto the charge collecting electrode and cured by heating to form an undercoat layer containing a thermosetting silicon compound. The heating temperature is preferably 50 ° C. or higher and 150 ° C. or lower, and the heating time is preferably 0.5 hour or longer and 100 hours or shorter.

【0039】本発明の下引き層は、浸漬塗布法、スピン
ナ法、スプレー法、ラングミュアブロジェット法等で形
成することができる。下引き層の膜厚は特に限定されな
いが0.1μm以上100μm以下が好ましい。本発明
の電荷収集電極としては、金、アルミニウム、ITO
(インジウム・錫酸化物)などを用いることができる。
この電極はX線照射領域を覆うように一様に形成しても
よく、また、マトリクス状やストライプ状に形成しても
よい。
The undercoat layer of the present invention can be formed by a dip coating method, a spinner method, a spray method, a Langmuir-Blodgett method, or the like. The thickness of the undercoat layer is not particularly limited, but is preferably 0.1 μm or more and 100 μm or less. Examples of the charge collection electrode of the present invention include gold, aluminum and ITO.
(Indium / tin oxide) or the like can be used.
This electrode may be formed uniformly so as to cover the X-ray irradiation region, or may be formed in a matrix shape or a stripe shape.

【0040】また、ガラス基板と電荷収集電極の間にト
ランジスタを設けたTFT(薄膜トランジスタ)として
もよい。本発明のX線光導電層としては、X線を電気変
換する材料を用いる。この材料としては、セレン、セレ
ンテルル化合物、セレンヒ素化合物、硫化カドミウム、
酸化亜鉛、アモルファスシリコン等の無機材料を用いる
ことができ、セレン若しくはセレン化合物が好ましい。
Further, a TFT (thin film transistor) in which a transistor is provided between the glass substrate and the charge collecting electrode may be used. As the X-ray photoconductive layer of the present invention, a material that electrically converts X-rays is used. This material includes selenium, selenium tellurium compounds, selenium arsenic compounds, cadmium sulfide,
An inorganic material such as zinc oxide or amorphous silicon can be used, and selenium or a selenium compound is preferable.

【0041】X線光導電層は、用いる材料によって異な
るが、真空蒸着、スパッタリング、CVDなどによって
形成できる。形成されたX線光導電層の膜厚も、用いる
材料によって異なるが、50μm以上2000μm以下
程度に形成する。本発明の上部電極としては、金、アル
ミニウム、ITOなどを用いることができる。
The X-ray photoconductive layer can be formed by vacuum vapor deposition, sputtering, CVD or the like, depending on the material used. The film thickness of the formed X-ray photoconductive layer also varies depending on the material used, but is formed to be about 50 μm or more and 2000 μm or less. As the upper electrode of the present invention, gold, aluminum, ITO or the like can be used.

【0042】本発明に用いることができる電荷輸送層
は、ノイズの更なる低減効果がある。この材料として
は、三硫化二アンチモン、テルル化亜鉛カドミウムなど
の無機材料を用いることができる。また、電荷移動性を
示す有機材料を用いることもできる。
The charge transport layer that can be used in the present invention has the effect of further reducing noise. As this material, an inorganic material such as antimony disulfide or cadmium zinc telluride can be used. Alternatively, an organic material having a charge transfer property can be used.

【0043】本発明に用いることができる保護層及び上
引層としては、本発明のシランカップリング剤を加水分
解して生成される熱硬化性のケイ素化合物を用いること
ができる。
As the protective layer and the overcoat layer which can be used in the present invention, a thermosetting silicon compound produced by hydrolyzing the silane coupling agent of the present invention can be used.

【0044】[0044]

【実施例】以下、実施例によって本発明をさらに具体的
に説明するが、本発明はその要旨を超えない限り、以下
の実施例に限定されるものではない。
The present invention will be described in more detail with reference to the following examples, but the present invention is not limited to the following examples as long as the gist thereof is not exceeded.

【0045】<実施例1>シランカップリング剤とし
て、β−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルト
リメトキシシラン2.4容量部と、モノメチルトリメト
キシシラン4.8容量部、γ−アミノプロピルトリエト
キシシラン2.4容量部を用意し、これらの混合物に水
1.2容量部を加えて室温で激しく攪拌し、加水分解反
応を進行させ下引層形成用塗液とした。
Example 1 As silane coupling agents, 2.4 parts by volume of β- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, 4.8 parts by volume of monomethyltrimethoxysilane, and γ-aminopropyltrisilane. 2.4 parts by volume of ethoxysilane was prepared, 1.2 parts by volume of water was added to these mixtures, and the mixture was vigorously stirred at room temperature to allow the hydrolysis reaction to proceed to obtain a coating liquid for forming an undercoat layer.

【0046】ガラス基板上にITOをマトリックス形成
して電荷収集電極とし、該電荷収集基板上に上記下引層
形成用塗液を塗り、これを100℃で5時間加熱し、膜
厚1μmの透明な下引層を形成した。その上に膜厚50
0μmのセレン層(X線光導電層)と、次いで膜厚0.
1μmの金薄膜(上部電極)を形成し、X線光電変換器
を作製した。
ITO was formed into a matrix on a glass substrate to form a charge collecting electrode, the above coating liquid for forming an undercoat layer was applied onto the charge collecting substrate, and this was heated at 100 ° C. for 5 hours to give a transparent film having a thickness of 1 μm. An undercoat layer was formed. A film thickness of 50
0 μm selenium layer (X-ray photoconductive layer), and then a film thickness of 0.
A 1 μm gold thin film (upper electrode) was formed to prepare an X-ray photoelectric converter.

【0047】<実施例2>実施例1で用いたシランカッ
プリング剤の変わりに、γ−グリシドキシプロピルトリ
メトキシシラン5.2容量部、ジメトキシジメチルシラ
ン6.4容量部、N−β(アミノエチル)γ−アミノプ
ロピルトリメトキシシラン2.4容量部を用い、水の添
加量を2.2容量部とした以外は全て実施例1と同様に
してX線光電変換器を作製した。
Example 2 Instead of the silane coupling agent used in Example 1, 5.2 parts by volume of γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 6.4 parts by volume of dimethoxydimethylsilane and N-β ( An X-ray photoelectric converter was produced in the same manner as in Example 1 except that 2.4 parts by volume of aminoamino) γ-aminopropyltrimethoxysilane was used and the amount of water added was 2.2 parts by volume.

【0048】<実施例3>実施例1で用いたシランカッ
プリング剤の変わりに、β−(3,4−エポキシシクロ
ヘキシル)エチルトリメトキシシラン4.2容量部、ジ
メチルジメトキシシラン3.8容量部、γ−アミノプロ
ピルトリエトキシシラン4.4容量部を用い、水の添加
量を2.2容量部とした以外は全て実施例1と同様にし
てX線光電変換器を作製した。
Example 3 Instead of the silane coupling agent used in Example 1, 4.2 parts by volume of β- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane and 3.8 parts by volume of dimethyldimethoxysilane were used. An X-ray photoelectric converter was manufactured in the same manner as in Example 1 except that 4.4 parts by volume of γ-aminopropyltriethoxysilane was used and the amount of water added was changed to 2.2 parts by volume.

【0049】<実施例4>実施例1で用いたシランカッ
プリング剤の変わりに、γ−グリシドキシプロピルトリ
メトキシシラン5.8容量部、テトラメトキシシラン
1.2容量部、N−β−アミノエチル−γ−アミノプロ
ピルメチルジメトキシシラン4.6容量部を用い、水の
添加量を3.8容量部とした以外は全て実施例1と同様
にしてX線光電変換器を作製した。
Example 4 Instead of the silane coupling agent used in Example 1, 5.8 parts by volume of γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 1.2 parts by volume of tetramethoxysilane, N-β- An X-ray photoelectric converter was produced in the same manner as in Example 1 except that 4.6 parts by volume of aminoethyl-γ-aminopropylmethyldimethoxysilane was used and the amount of water added was 3.8 parts by volume.

【0050】<実施例5>実施例1で用いたシランカッ
プリング剤の変わりに、β−(3,4−エポキシシクロ
ヘキシル)エチルトリメトキシシラン2.6容量部、メ
トキシトリメチルシラン4.8容量部、アミノメチルト
リメトキシシラン2.8容量部を用い、水の添加量を
4.2容量部とした以外は全て実施例1と同様にしてX
線光電変換器を作製した。
Example 5 Instead of the silane coupling agent used in Example 1, 2.6 parts by volume of β- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane and 4.8 parts by volume of methoxytrimethylsilane were used. , Aminomethyltrimethoxysilane was used in the same manner as in Example 1 except that 2.8 parts by volume of water was used and the amount of water added was 4.2 parts by volume.
A line photoelectric converter was produced.

【0051】<実施例6>β−(3,4−エポキシシク
ロヘキシル)エチルトリメトキシシラン2.4容量部、
メチルトリメトキシシラン4.8容量部、γ−アミノプ
ロピルトリエトキシシラン2.4容量部を用意し、これ
らの混合物に水1.2容量部を加えて室温で激しく攪拌
し、加水分解反応を進行させ上引層形成用塗液とした。
Example 6 2.4 parts by volume of β- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane,
Prepare 4.8 parts by volume of methyltrimethoxysilane and 2.4 parts by volume of γ-aminopropyltriethoxysilane, add 1.2 parts by volume of water to the mixture, and stir vigorously at room temperature to proceed with the hydrolysis reaction. This was used as the coating liquid for forming the overcoat layer.

【0052】実施例1において、セレン層蒸着形成後に
上記上引層形成用塗液を塗り、40℃で24時間加熱し
てセレン層上に上引層を形成し、更に、該上引き層上に
実施例1と同じ条件で上部電極を形成し、X線光電変換
器を作製した。このX線光電変換器は図5に示したX線
光電変換器50と同じ構造を有する。
In Example 1, after forming the selenium layer by vapor deposition, the above coating liquid for forming the overcoat layer was applied and heated at 40 ° C. for 24 hours to form an overcoat layer on the selenium layer. Then, an upper electrode was formed under the same conditions as in Example 1 to fabricate an X-ray photoelectric converter. This X-ray photoelectric converter has the same structure as the X-ray photoelectric converter 50 shown in FIG.

【0053】<実施例7>実施例1において、下引層形
成後に電荷輸送層としてSb23を膜厚5μm蒸着形成
した。それ以外は全て実施例1と同じ条件で電荷輸送層
上にセレン層を形成し、該セレン層上に上部電極を形成
してX線光電変換器を作製した。このX線光電変換器は
図2に示したX線光電変換器20と同じ構造を有する。
Example 7 In Example 1, after forming the undercoat layer, Sb 2 S 3 was formed as a charge transport layer by vapor deposition to a thickness of 5 μm. Otherwise, the selenium layer was formed on the charge transport layer under the same conditions as in Example 1, and the upper electrode was formed on the selenium layer to manufacture an X-ray photoelectric converter. This X-ray photoelectric converter has the same structure as the X-ray photoelectric converter 20 shown in FIG.

【0054】<比較例1>ガラス基板上にITOをマト
リックス形成した電荷収集電極に膜厚500μmのセレ
ン層と次いで膜厚0.1μmの金薄膜を形成し、下引層
を有しないX線光電変換器を作製した。
Comparative Example 1 An X-ray photoelectric film having no subbing layer was prepared by forming a 500 μm-thick selenium layer and then a 0.1 μm-thick gold thin film on a charge collection electrode having ITO matrix-formed on a glass substrate. A converter was made.

【0055】<比較例2>ポリカーボネート100容量
部をクロロホルム100容量部でよく攪拌しながら溶解
させ、下引層形成用塗液とした。次に、ガラス基板上に
ITOをマトリックス形成した電荷収集電極の上に上記
下引層形成用塗液を塗り、これを100℃で5時間加熱
し、膜厚1μmの透明な下引層を形成した。それ以外は
全て実施例1と同様にしてX線光電変換器を作製した。
<Comparative Example 2> 100 parts by volume of polycarbonate was dissolved in 100 parts by volume of chloroform with good stirring to obtain a coating liquid for forming an undercoat layer. Next, the above-mentioned coating liquid for forming an undercoat layer was applied onto a charge collecting electrode having a matrix of ITO formed on a glass substrate, and this was heated at 100 ° C. for 5 hours to form a transparent undercoat layer having a film thickness of 1 μm. did. An X-ray photoelectric converter was produced in the same manner as in Example 1 except for the above.

【0056】<比較例3>ポリメチルメタクリレート
(PMMA)100容量部をテトラヒドロフラン100
容量部でよく攪拌しながら溶解させた。これにβ−
(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキ
シシラン30容量部を加えてよく混合し、溶液を調整し
下引層形成用塗液とした。次に、ガラス基板上にITO
をマトリックス形成した電荷収集電極に、上記下引層形
成用塗液を塗り、これを100℃で5時間加熱し、膜厚
1μmの透明な下引層を形成した。なお、この反応では
加水分解による縮重合反応は起きていない。それ以外は
全て実施例1と同様にしてX線光電変換器を作製した。
Comparative Example 3 100 parts by volume of polymethylmethacrylate (PMMA) was added to 100 parts of tetrahydrofuran.
It was dissolved while stirring well in the volume part. Β-
30 parts by volume of (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane was added and mixed well to prepare a solution, which was used as a coating liquid for forming an undercoat layer. Next, ITO on the glass substrate
The coating liquid for forming an undercoat layer was applied to the charge collecting electrode having a matrix formed thereon and heated at 100 ° C. for 5 hours to form a transparent undercoat layer having a film thickness of 1 μm. In this reaction, the polycondensation reaction due to hydrolysis did not occur. An X-ray photoelectric converter was produced in the same manner as in Example 1 except for the above.

【0057】<比較例4>ガラス基板上にITOをマト
リックス形成した電荷収集電極上に下引層としてCeO
2を真空蒸着により形成した。それ以外は全て実施例1
と同様にしてX線光電変換器を作製した。
<Comparative Example 4> CeO was used as an undercoat layer on a charge collecting electrode in which ITO was matrix-formed on a glass substrate.
2 was formed by vacuum evaporation. Other than that, Example 1
An X-ray photoelectric converter was produced in the same manner as in.

【0058】<評価>実施例及び比較例で作製されたX
線光電変換器に対する評価項目を以下に示す。 ヒートショック試験 X線光電変換器を恒温槽に入れ、恒温槽内の温度を図6
の温度プロファイルに示すように変化させ、この温度変
化を5サイクル繰り返してヒートショック試験とした。
室温復帰後にクラック、剥離、反り、変色等外観上の変
化を観察した。外観上の変化が見られなかったものを
○、外観上の変化が見られたものを×とした。尚、図6
の縦軸は温度(℃)を、横軸は時間(時間)をそれぞれ
示しており、横軸の1目盛りは1時間を示す。
<Evaluation> X produced in Examples and Comparative Examples
The evaluation items for the line photoelectric converter are shown below. Heat shock test Put the X-ray photoelectric converter in the constant temperature bath and check the temperature in the constant temperature bath as shown in Fig. 6.
The temperature was changed as shown in the temperature profile of 1. and this temperature change was repeated for 5 cycles to make a heat shock test.
After returning to room temperature, changes in appearance such as cracks, peeling, warpage, and discoloration were observed. The case where no change in appearance was observed was evaluated as ◯, and the case where change in appearance was observed was evaluated as x. Incidentally, FIG.
The vertical axis represents temperature (° C.), the horizontal axis represents time (hour), and one scale on the horizontal axis represents 1 hour.

【0059】寿命試験 X線光電変換器10を図7に示すように回路接続しX線
照射方向61からX線を照射したまま、上部電極5に対
し、1V/μm/hで印加電圧を上げ、放電破壊した電
界値を測定し、寿命試験とした。この時のX線照射条件
としては、X線管電圧120kVで線量は18R/mi
nである。なお、図7では図1に示すX線光電変換器を
用いているが、他の例においても同様の回路接続を行
い、寿命試験に用いた。
Life test The X-ray photoelectric converter 10 is connected in a circuit as shown in FIG. 7 and the applied voltage is increased at 1 V / μm / h to the upper electrode 5 while the X-ray is irradiated from the X-ray irradiation direction 61. The value of the electric field at which discharge breakdown occurred was measured and used as a life test. The X-ray irradiation conditions at this time are as follows: an X-ray tube voltage of 120 kV and a dose of 18 R / mi.
n. Although the X-ray photoelectric converter shown in FIG. 1 is used in FIG. 7, the same circuit connection was made in other examples and used for the life test.

【0060】剥離試験 実施例1のX線光電変換器10に図8に示すようにニチ
バン(株)社製の24mm幅透明粘着テープ71を貼り
付け、電荷収集電極の面方向に対して45°の角度で透
明粘着テープ71を一気に引き剥がすことにより電荷集
電極2より上の層(形成層)が剥離するかどうかを観察
し、剥離試験とした。形成層の剥離がなかったものを
○、形成層が剥離したものを×とした。
Peeling Test As shown in FIG. 8, a 24 mm width transparent adhesive tape 71 manufactured by Nichiban Co., Ltd. was attached to the X-ray photoelectric converter 10 of Example 1, and the angle was 45 ° with respect to the surface direction of the charge collecting electrode. It was observed whether or not the layer (formation layer) above the charge collecting electrode 2 was peeled off by peeling off the transparent adhesive tape 71 at once at the angle, and the peeling test was conducted. The case where the forming layer was not peeled off was marked with ◯, and the case where the forming layer was peeled off was marked with x.

【0061】なお、図8では実施例1のX線光電変換器
を用いているが、実施例2〜7、比較例1〜4のX線光
電変換器においても同様の方法で剥離試験を行う。ま
た、実施例1〜7及び比較例1〜4では電荷収集電極を
マトリックス状に形成したが、剥離試験用にガラス基板
1上に一様に形成した電荷収集電極2を用いた。
Although the X-ray photoelectric converter of Example 1 is used in FIG. 8, the peeling test is performed by the same method in the X-ray photoelectric converters of Examples 2-7 and Comparative Examples 1-4. . Further, in Examples 1 to 7 and Comparative Examples 1 to 4, the charge collecting electrodes were formed in a matrix, but the charge collecting electrodes 2 formed uniformly on the glass substrate 1 were used for the peeling test.

【0062】S/N比 X線光電変換器を図7に示すように回路接続し、電界を
10V/μmとした場合に、暗所10分放置したときの
電流値をノイズ電流値Nとし、18R/minのX線を
照射をさせたときの電流値をシグナル電流値Sとした。
得られたシグナル電流値Sとノイズ電流値Nの比(S/
N比)を算出した。上記〜の試験の評価結果を表1
に示す。
When the S / N ratio X-ray photoelectric converter is connected as shown in FIG. 7 and the electric field is set to 10 V / μm, the current value when left for 10 minutes in the dark is defined as the noise current value N, The current value when the X-ray was irradiated at 18 R / min was defined as the signal current value S.
The ratio of the obtained signal current value S and noise current value N (S /
N ratio) was calculated. Table 1 shows the evaluation results of the above tests.
Shown in.

【0063】[0063]

【表1】 [Table 1]

【0064】表1によると、シランカップリング剤を加
水分解して生成される熱硬化性のケイ素化合物を含む下
引層が設けられているX線光電変換器は、ヒートショッ
ク試験による環境温度の変化によって形成層が変化する
ことなく耐環境性が強いことがわかる。また、寿命試験
において20V/μmの電界を与えても放電破壊せず、
連続使用にも耐え得ることがわかった。更に、剥離試験
による形成層端部のテープによる剥離にも耐え、接着性
が高いことがわかる。更にまた、S/N比は4500以
上であり優れた特性を示すことがわかった。
According to Table 1, the X-ray photoelectric converter provided with the subbing layer containing the thermosetting silicon compound produced by hydrolyzing the silane coupling agent was tested at ambient temperature by heat shock test. It can be seen that the environmental resistance is strong without changing the forming layer due to the change. Moreover, in the life test, even if an electric field of 20 V / μm is applied, the discharge is not destroyed,
It was found that it can withstand continuous use. Further, it can be seen that the adhesiveness is high, even withstanding peeling by the tape at the end of the forming layer in the peeling test. Furthermore, it was found that the S / N ratio was 4500 or more, which showed excellent characteristics.

【0065】なお、シランカップリング剤の加水分解物
からなる上引層を設けた実施例6及びX線光導電層の下
に電荷輸送層を設けた実施例7は、実施例1乃至5より
も更にS/N比が向上している。
Incidentally, Example 6 in which an overcoat layer made of a hydrolyzate of a silane coupling agent was provided and Example 7 in which a charge transport layer was provided below the X-ray photoconductive layer were obtained from Examples 1 to 5. The S / N ratio is further improved.

【0066】一方、下引層を全く設けていない比較例1
は、ヒートショック試験においてクラックや割れなど外
観異常が見られ、寿命試験においても12V/μmで放
電破壊を起こし、剥離試験でも形成層が剥がれてしま
い、外的エネルギーに弱いものであることがわかった。
また、S/N比も非常に小さく、ノイズ電流が大きく実
用に耐えないことがわかった。
On the other hand, Comparative Example 1 in which no undercoat layer is provided
Shows that abnormalities such as cracks and cracks are seen in the heat shock test, discharge breakdown occurs at 12 V / μm in the life test, and the forming layer is peeled off in the peeling test, which is weak to external energy. It was
It was also found that the S / N ratio was very small, the noise current was large, and it could not be put to practical use.

【0067】また、シランカップリング剤を用いてはい
るものの加水分解による縮重合反応を起こさせてはいな
い下引層を用いた比較例3についても、比較例1と同等
の結果であり、耐久性及び電気特性が劣っていることが
わかった。
Further, Comparative Example 3 using an undercoating layer containing a silane coupling agent but not causing a polycondensation reaction due to hydrolysis has the same result as that of Comparative Example 1. It was found that the electrical properties and the electrical properties were inferior.

【0068】更に、ポリカーボネートからなる下引層を
設けた比較例2及びCeO2からなる下引層を設けた比
較例4は、剥離試験では実施例と同等の強い接着強度を
示したが、ヒートショック試験及び寿命試験では比較例
1及び3と同等程度の結果しか得られず、使用環境の変
化や高電界の印加に弱いことがわかった。
Further, Comparative Example 2 provided with an undercoat layer made of polycarbonate and Comparative Example 4 provided with an undercoat layer made of CeO 2 showed strong adhesive strength equivalent to that of the example in the peel test, In the shock test and the life test, only results comparable to those of Comparative Examples 1 and 3 were obtained, and it was found that the results were weak against changes in the operating environment and application of a high electric field.

【0069】[0069]

【発明の効果】以上の結果より、シランカップリング剤
を加水分解して生成される熱硬化性のケイ素化合物を含
む下引層が設けられている本発明のX線光電変換器は、
温度、電界、剥離などの外的エネルギーに対する耐久性
が高く、S/N比の高い優れたX線光電変換器である。
From the above results, the X-ray photoelectric converter of the present invention provided with an undercoat layer containing a thermosetting silicon compound produced by hydrolyzing a silane coupling agent is
It is an excellent X-ray photoelectric converter that has high durability against external energy such as temperature, electric field, and peeling, and has a high S / N ratio.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明のX線光電変換器の一例を示す構成図FIG. 1 is a configuration diagram showing an example of an X-ray photoelectric converter of the present invention.

【図2】 本発明のX線光電変換器の他例を示す構成図FIG. 2 is a configuration diagram showing another example of the X-ray photoelectric converter of the present invention.

【図3】 本発明のX線光電変換器の他例を示す構成図FIG. 3 is a configuration diagram showing another example of the X-ray photoelectric converter of the present invention.

【図4】 本発明のX線光電変換器の他例を示す構成図FIG. 4 is a configuration diagram showing another example of the X-ray photoelectric converter of the present invention.

【図5】 本発明のX線光電変換器の他例を示す構成図FIG. 5 is a configuration diagram showing another example of the X-ray photoelectric converter of the present invention.

【図6】 ヒートショック試験の環境温度推移を示す温
度プロファイル
FIG. 6 is a temperature profile showing the transition of the environmental temperature in the heat shock test.

【図7】 寿命試験及びS/N比を測定する為の回路接
続図
FIG. 7: Circuit connection diagram for life test and S / N ratio measurement

【図8】 剥離試験の概略図FIG. 8 is a schematic diagram of a peel test.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1……ガラス基板 2……電荷収集電極 3……下引層 4……X線光導電層 5……上部電極 6……電荷輸送層 7……保護層 8……上引層 1 ... Glass substrate 2 ... Charge collection electrode 3 ... Undercoat layer 4 ... X-ray photoconductive layer 5 ... Upper electrode 6 ... Charge transport layer 7 ... Protective layer 8: Upper layer

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 志村 陽一郎 山梨県甲府市宮原町1014番地 山梨電子工 業株式会社内 (72)発明者 鶴田 秀生 山梨県甲府市宮原町1014番地 山梨電子工 業株式会社内 Fターム(参考) 2G088 EE01 EE30 FF02 GG21 JJ05 JJ09 JJ32 JJ35 JJ37 LL11 LL21 4M118 AA10 AB01 BA05 CA15 CB05 CB06 FB09 FB25 5F088 AB09 BA03 BB07 CB06 CB07 FA04 GA02 LA08    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Yoichiro Shimura             1014 Miyahara-cho, Kofu City, Yamanashi Prefecture Yamanashi Electronics             Business (72) Inventor Hideo Tsuruta             1014 Miyahara-cho, Kofu City, Yamanashi Prefecture Yamanashi Electronics             Business F term (reference) 2G088 EE01 EE30 FF02 GG21 JJ05                       JJ09 JJ32 JJ35 JJ37 LL11                       LL21                 4M118 AA10 AB01 BA05 CA15 CB05                       CB06 FB09 FB25                 5F088 AB09 BA03 BB07 CB06 CB07                       FA04 GA02 LA08

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】電荷収集電極と、前記電荷収集電極上に配
置されたX線光導電層と、前記X線光導電層上に配置さ
れた上部電極とを有し、 前記電荷収集電極と前記上部電極との間に電圧を印加し
た状態でX線を照射すると、前記光導電層内に潜像が形
成されるX線光電変換器であって、 前記電荷収集電極と前記X線光導電層との間には下引き
層が配置され、 前記下引き層は、シランカップリング剤が加水分解し、
脱水縮合して生成されたケイ素化合物を主成分とするこ
とを特徴とするX線光電変換器。
1. A charge collection electrode, an X-ray photoconductive layer arranged on the charge collection electrode, and an upper electrode arranged on the X-ray photoconductive layer. An X-ray photoelectric converter in which a latent image is formed in the photoconductive layer when irradiated with X-rays while a voltage is applied between the charge collection electrode and the X-ray photoconductive layer. And an undercoat layer is disposed between the undercoat layer and the undercoat layer, the silane coupling agent is hydrolyzed,
An X-ray photoelectric converter comprising a silicon compound produced by dehydration condensation as a main component.
【請求項2】前記シランカップリング剤は、エポキシシ
ラン化合物と、アルコキシアルキルシラン化合物と、ア
ミノシラン化合物とを含有することを特徴とする請求項
1記載のX線光電変換器。
2. The X-ray photoelectric converter according to claim 1, wherein the silane coupling agent contains an epoxysilane compound, an alkoxyalkylsilane compound, and an aminosilane compound.
【請求項3】前記エポキシシラン化合物は、下記一般式
(1)、(2)で示されるシラン化合物のうちいずれか
一方又は両方のシラン化合物を含有することを特徴とす
る請求項2記載のX線光電変換器。 【化1】 (上記一般式(1)中、R1は炭素数6以下のアルキレ
ン基である。R2、R3はそれぞれ炭素数4以下のアルキ
ル基である。R4は炭素数4以下のアルキル基又は炭素
数4以下のアルコキシ基のうちいずれか一方の置換基で
ある。) 【化2】 (上記一般式(2)中、R5は炭素数6以下のアルキレ
ン基である。R6、R7はそれぞれ炭素数4以下のアルキ
ル基である。R8は炭素数4以下のアルキル基又は炭素
数4以下のアルコキシ基のうち、いずれか一方の置換基
である。)
3. The X according to claim 2, wherein the epoxysilane compound contains one or both of the silane compounds represented by the following general formulas (1) and (2). Line photoelectric converter. [Chemical 1] (In the general formula (1), R 1 is an alkylene group having 6 or less carbon atoms. R 2 and R 3 are each an alkyl group having 4 or less carbon atoms. R 4 is an alkyl group having 4 or less carbon atoms or It is a substituent of either one of alkoxy groups having 4 or less carbon atoms.) (In the general formula (2), R 5 is an alkylene group having 6 or less carbon atoms. R 6 and R 7 are each an alkyl group having 4 or less carbon atoms. R 8 is an alkyl group having 4 or less carbon atoms or (Any one of the alkoxy groups having 4 or less carbon atoms.)
【請求項4】前記アルコキシアルキルシラン化合物は、
下記一般式(3)に示されるシラン化合物を含有するこ
とを特徴とする請求項2記載のX線光電変換器。 【化3】 (上記一般式(3)中、R9〜R12はそれぞれ炭素数8
以下のアルキル基、又は炭素数8以下のアルコキシ基の
いずれか一方の置換基である。)
4. The alkoxyalkylsilane compound is
The X-ray photoelectric converter according to claim 2, further comprising a silane compound represented by the following general formula (3). [Chemical 3] (In the general formula (3), R 9 to R 12 each have 8 carbon atoms.
It is a substituent of any one of the following alkyl groups and alkoxy groups having 8 or less carbon atoms. )
【請求項5】前記アミノシラン化合物は下記一般式
(4)、(5)で示されるシラン化合物のうちいずれか
一方又は両方のシラン化合物を含有することを特徴とす
る請求項2記載のX線光電変換器。 【化4】 (上記一般式(4)中、R13は炭素数6以下のアルキレ
ン基である。R14、R15はそれぞれ炭素数4以下のアル
キル基である。R16は炭素数4以下のアルキル基または
炭素数4以下のアルコキシ基のいずれか一方の置換基で
ある。) 【化5】 (上記一般式(5)中、R17は炭素数6以下のアルキレ
ン基である。R18は炭素数2以上炭素数4以下のアルキ
レン基である。R19、R20はそれぞれ炭素数4以下のア
ルキル基である。R21は炭素数4以下のアルキル基又は
炭素数4以下のアルコキシ基のいずれか一方の置換基で
ある。)
5. The X-ray photoelectric according to claim 2, wherein the aminosilane compound contains one or both of the silane compounds represented by the following general formulas (4) and (5). converter. [Chemical 4] (In the general formula (4), R 13 is an alkylene group having 6 or less carbon atoms. R 14 and R 15 are each an alkyl group having 4 or less carbon atoms. R 16 is an alkyl group having 4 or less carbon atoms or It is a substituent of either one of alkoxy groups having 4 or less carbon atoms.) (In the general formula (5), R 17 is an alkylene group having 6 or less carbon atoms. R 18 is an alkylene group having 2 to 4 carbon atoms. R 19 and R 20 are each 4 or less carbon atoms. R 21 is a substituent of either an alkyl group having 4 or less carbon atoms or an alkoxy group having 4 or less carbon atoms.)
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