JP2003032194A5

JP2003032194A5 -

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Publication number: JP2003032194A5
Application number: JP2002148471A
Authority: JP
Filing date: 2002-05-23
Publication date: 2005-08-04
Anticipated expiration: 2022-05-23

Claims

通信システム内で性能を監視するための方法であって、
（Ａ）通信システムの光信号に対応する光自己相関関数の１つまたは複数のサンプルを生成するステップと、
（Ｂ）１つまたは複数のサンプルに基づいて光信号における減損を特徴付けるステップとを含む方法。
ステップ（Ａ）が、１つまたは複数のサンプルに基づいて１つまたは複数のスペクトル成分を生成するステップを含み、そしてステップ（Ｂ）が、１つまたは複数のスペクトル成分に基づいて減損を特徴付けるステップを含む請求項１に記載の方法。
減損が、（ｉ）波長分散、（ｉｉ）パルス拡がり、および（ｉｉｉ）データ変調器とパルスカーバーの間の位置合せずれの１つであり、
減損がパルス拡がりである時、１つまたは複数のスペクトル成分が、低周波数成分と高周波数成分を含み、
減損がデータ変調器とパルスカーバーの間の位置合せずれである時、
光信号が、クロック周波数で変調されたデータ信号に基づき、データ変調器とパルスカーバーを使用して生成され、
１つまたは複数のスペクトル成分が、クロック周波数の約２分の１で位置付けられる成分を含む請求項２に記載の方法。
ステップ（Ａ）が、１つまたは複数のサンプルに対応する１つまたは複数の振幅変化を測定するステップを含み、ステップ（Ｂ）が、１つまたは複数の振幅変化に基づいて減損を特徴付けるステップを含む請求項１に記載の方法。
減損が、（ｉ）光信号のピークパワー変動、（ｉｉ）パワー変動、（ｉｉｉ）光信号におけるパルス間タイミングジッター、および（ｉｖ）擬似ランダム特性からの偏移の１つであり、
減損が光信号のピークパワー変動である時、１つまたは複数のサンプルが、０ビット遅延自己相関点を含み、
減損がパワー変動である時、１つまたは複数のサンプルが、１／２ビット遅延自己相関点を含み、
減損が光信号におけるパルス間タイミングジッターである時、１つまたは複数のサンプルが、１／２および１ビット遅延自己相関点を含み、
減損が擬似ランダム特性からの偏移である時、光信号が擬似ランダムデータ信号に基づき、
１つまたは複数のサンプルが、０および１ビット遅延自己相関点を含む請求項４に記載の方法。
ステップ（Ａ）が、１つまたは複数のサンプルに対応する１つまたは複数の平均振幅を測定するステップを含み、ステップ（Ｂ）が、１つまたは複数の平均振幅に基づいて減損を特徴付けるステップを含む請求項１に記載の方法。
減損が、（ｉ）コントラストの減少、（ｉｉ）パワー拡がり、および（ｉｉｉ）データ変調の損失の１つであり、
減損がコントラストの減少またはパワー拡がりである時、１つまたは複数のサンプルが、０および１／２ビット遅延自己相関点を含み、
減損がデータ変調の損失である時、
ステップ（Ａ）が、光信号に対応する平均光パワーを測定するステップをさらに含み、
１つまたは複数のサンプルが、０ビット遅延自己相関点を含み、
データ変調の損失が、０ビット遅延自己相関点に対応する平均振幅と平均光パワーの２乗との比に基づいて特徴付けられる請求項６に記載の方法。
ステップ（Ａ）が、
（Ａ１）光信号に対応する平均光パワーを測定するステップと、
（Ａ２）１つまたは複数のサンプルに基づいて１つまたは複数のスペクトル成分を生成するステップと、
（Ａ３）１つまたは複数のサンプルに対応する１つまたは複数の振幅変化を測定するステップと、
（Ａ４）１つまたは複数のサンプルに対応する１つまたは複数の平均振幅を測定するステップとを含み、
ステップ（Ｂ）が、１つまたは複数のスペクトル成分、振幅変化、平均振幅、および平均光パワー測定値に基づいて、光信号における２つ以上の減損を特徴付けるステップを含む請求項１に記載の方法。
通信システム内で性能を監視するための装置であって、
（ａ）通信システムから光信号を受信し、光信号に対応する自己相関関数の１つまたは複数のサンプルを生成するように構成された光自己相関器（ＯＡＣ）と、
（ｂ）１つまたは複数のサンプルに基づいて光信号における減損を特徴付けるように構成された信号処理モジュール（ＳＰＭ）とを具備する装置。
光信号に対応する平均光パワーを測定し、平均光パワー測定値をＳＰＭに提供するように構成されたパワー検出器（ＰＤ）をさらに具備し、ＳＰＭが、１つまたは複数のサンプルに基づいて１つまたは複数のスペクトル成分を生成するように構成された離散フーリエ変換（ＤＦＴ）要素と、
１つまたは複数のサンプルに対応する１つまたは複数の振幅変化を測定するように構成された統計要素と、
１つまたは複数のサンプルに対応する１つまたは複数の平均振幅を測定するように構成された低域通過フィルター（ＬＰＦ）要素とを具備し、ＳＰＭが、１つまたは複数のスペクトル成分、振幅変化、平均振幅、および光パワー測定値に基づいて、光信号における２つ以上の減損を特徴付けるように構成される請求項９に記載の装置。