JP2003027212A - Apparatus and method for pattern film deposition - Google Patents

Apparatus and method for pattern film deposition

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JP2003027212A
JP2003027212A JP2001221007A JP2001221007A JP2003027212A JP 2003027212 A JP2003027212 A JP 2003027212A JP 2001221007 A JP2001221007 A JP 2001221007A JP 2001221007 A JP2001221007 A JP 2001221007A JP 2003027212 A JP2003027212 A JP 2003027212A
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mask
pattern
auxiliary
film forming
main mask
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JP2001221007A
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Japanese (ja)
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Masanobu Tanaka
正信 田中
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an apparatus and a method for pattern film deposition in which the accuracy of the relative position between patterns can be improved. SOLUTION: The pattern film deposition apparatus 100 deposits a film on one side of a substrate 1 by the vacuum vapor deposition by a plurality of times to a predetermined pattern shape, and comprises a main mask 21 and an auxiliary mask 22. A large number of rows of holes H transferred in a plurality of times are arrayed in the main mask 21, and the rows are periodically (one row for every three row) transferred. The auxiliary mask 22 overlaps an area other than the holes H correspondingly to the pattern to be transferred out of the main mask, and shields the area, and has a strip-like plate shape for shielding the holes H of the main mask 21 by two rows.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、蒸着法や印刷法な
どに対応したパターン成膜装置、および、これを用いた
パターン成膜方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pattern film forming apparatus compatible with a vapor deposition method or a printing method, and a pattern film forming method using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、更に進められているディスプレイ
の極薄化・大画面化に適した表示方式として注目されて
いる有機EL(ElectroLuminessence;電界発光)表示装
置は、透明基板上に透明電極層(陽極)、有機EL層お
よび金属電極層(陰極)を積層した有機EL素子が縦横
に並列して画素を構成したものであり、画素に対応して
両極に電圧が印加された有機EL層が発光し、その際に
基板を透過した光によって表示が行なわれる。
2. Description of the Related Art In recent years, an organic EL (ElectroLuminescence) display device, which has been attracting attention as a display system suitable for ultra-thin and large-screen displays, is a transparent electrode layer on a transparent substrate. An organic EL element in which a (anode), an organic EL layer and a metal electrode layer (cathode) are laminated is arranged vertically and horizontally to form a pixel, and an organic EL layer to which a voltage is applied to both electrodes corresponding to the pixel is formed. A display is performed by emitting light and transmitting light through the substrate at that time.

【0003】この有機EL層に用いられる有機発光材料
は耐水性が低く、ウエットプロセスを避けてパターン成
膜されるのが一般的である。また、フルカラー表示の場
合には、各有機EL層は、赤(R;Red),緑(G;Gree
n)および青(B;Blue )の3原色に塗り分けられるこ
とになるが、この工程は従来、図8のように行われてい
た。すなわち、有機EL層3は全て同一の短冊形状であ
り、3原色を単位として周期的に各色の層が設けられる
ことから、この形状で1色分のパターンが形成されたメ
タルマスク320を用い、このマスク320を移動させ
ながら成膜する。例えば、図8(A)に示すように、既
に陽極層2と素子間を電気的に絶縁するための絶縁層5
が形成されている基板1を所定位置に設置し、赤に発光
する有機EL層3Rの形成位置にマスク320のパター
ンを合わせ、赤色の発光材料を蒸着する。次に、マスク
を移動させ、図8(B)に示すように、パターンの位置
を緑に発光する有機EL層3Gの形成位置に合わせ、緑
色の発光材料を蒸着する。また、図8(C)に示したよ
うに、青色についても同様に成膜を行う。
The organic light-emitting material used for this organic EL layer has low water resistance and is generally formed by patterning while avoiding a wet process. In the case of full-color display, each organic EL layer has a red (R; Red) and a green (G; Gree).
Although n) and blue (B; Blue) are to be painted separately, this step has conventionally been performed as shown in FIG. That is, since all the organic EL layers 3 have the same strip shape, and layers of each color are provided cyclically in units of three primary colors, a metal mask 320 in which a pattern for one color is formed in this shape is used. A film is formed while moving the mask 320. For example, as shown in FIG. 8A, the insulating layer 5 for electrically insulating the anode layer 2 from the element has already been formed.
The substrate 1 on which is formed is placed at a predetermined position, the pattern of the mask 320 is aligned with the formation position of the organic EL layer 3R that emits red light, and a red light emitting material is deposited. Next, the mask is moved, and as shown in FIG. 8B, the pattern position is aligned with the formation position of the organic EL layer 3G that emits green light, and a green light emitting material is deposited. Further, as shown in FIG. 8C, film formation is similarly performed for blue.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな方法は同一形状のパターンを形成する場合にしか採
ることができず、異なる形状を塗り分けることができな
い。近年のディスプレイでは、各色の色温度を調整する
ために画素の形状や面積を色に応じて変化させることが
あり(例えば、松下電器産業製のプラズマディスプレイ
TH-50PH3/S)、そのような有機EL表示装置を作製する
場合には、画素形状に応じて異なったパターンを有する
マスク320を用いて各色の有機EL層を成膜すること
になる。その際には、各マスク320の相互のパターン
精度が問題となっていた。
However, such a method can be adopted only when forming a pattern having the same shape, and different shapes cannot be painted separately. In recent displays, the shape and area of pixels may be changed according to the color in order to adjust the color temperature of each color (for example, a plasma display manufactured by Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
TH-50PH3 / S), when manufacturing such an organic EL display device, an organic EL layer of each color is formed using a mask 320 having a different pattern depending on the pixel shape. In that case, mutual pattern accuracy of each mask 320 became a problem.

【0005】そもそも、メタルマスクはそれ自体のパタ
ーン精度が低く、パターンのサイズが大きくなるほどた
わみ等により精度が低下することが知られている。この
ようなマスク320を複数組み合わせて用いるとなる
と、各有機EL層303の形状の精度もさることなが
ら、異なる形状の有機EL層303相互の間隔の精度が
更に低下してしまう。なお、こうしたマスクの加工精度
の問題は、パターン成膜技術においては程度の差はあっ
ても常に考慮すべき課題であった。
It is known that the metal mask has a low pattern accuracy in the first place, and the accuracy decreases as the pattern size increases due to bending or the like. When a plurality of such masks 320 are used in combination, the accuracy of the shape of each organic EL layer 303 as well as the accuracy of the interval between the organic EL layers 303 of different shapes is further reduced. It should be noted that such a problem of mask processing accuracy has always been a problem to be considered in the pattern film forming technique, although there is a difference in degree.

【0006】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
ので、その目的は、パターン間の相対位置の精度を向上
させることが可能な成膜装置および成膜方法を提供する
ことにある。
The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide a film forming apparatus and a film forming method capable of improving the accuracy of the relative position between patterns.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明の成膜装置は、複
数回に分けて転写される各パターンの形状をした孔が形
成された主マスクと、主マスクのうち転写対象のパター
ンに対応する孔以外の領域に重ね合わせられる補助マス
クと、所定のパターン形状の膜を成膜するための成膜材
料を供給する材料供給源とを備えたものである。
Means for Solving the Problems A film forming apparatus of the present invention corresponds to a main mask in which a hole having a shape of each pattern to be transferred in plural times is formed, and a pattern to be transferred in the main mask. It is provided with an auxiliary mask which is superposed on a region other than the holes to be formed, and a material supply source which supplies a film forming material for forming a film having a predetermined pattern shape.

【0008】本発明の成膜方法は、主マスクおよび前記
補助マスクを介して材料供給源に対向する位置に成膜対
象となる基板を設置し、主マスクを孔が基板のパターン
形成位置に対応する位置に設置し、主マスクのうち転写
対象のパターンに対応する孔以外の領域内に補助マスク
を設置し、基板の上に材料供給源より材料を供給して成
膜を行うものである。
In the film forming method of the present invention, the substrate to be film-formed is placed at a position facing the material supply source through the main mask and the auxiliary mask, and the holes of the main mask correspond to the pattern forming positions of the substrate. The auxiliary mask is installed in a region other than the hole corresponding to the pattern to be transferred in the main mask, and the material is supplied from the material supply source onto the substrate to form a film.

【0009】本発明の成膜装置および成膜方法では、成
膜の度に、補助マスクが主マスクのうち転写対象のパタ
ーンに対応する孔以外の領域に設置され、各成膜工程毎
に所定のパターンのみが選択され転写される。
In the film forming apparatus and the film forming method of the present invention, the auxiliary mask is placed in a region other than the hole corresponding to the pattern to be transferred in the main mask every time the film is formed, and the auxiliary mask is set in each film forming process. Only the pattern is selected and transferred.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0011】〔第1の実施の形態〕図1は、本発明の第
1の実施の形態に係るパターン成膜装置100の構成を
表している。このパターン成膜装置100は、真空蒸着
により基板1の一面に複数回に分けて所定のパターン形
状に膜を成膜するものであり、主マスク21,補助マス
ク22,マスク固定部23、および、各マスク21、2
2を移動させる主マスク移動部31,補助マスク移動部
32、更に蒸着源40が真空チャンバ50内に設けられ
ている。そのうち、マスク固定部23と、主マスク移動
部31および補助マスク移動部32と、蒸着源40は、
真空チャンバ50の外部に設けられている制御部24、
制御部33、制御部41にそれぞれ接続されている。ま
た、真空チャンバ50自体には、真空ポンプ60が配管
を通じて接続されている。
[First Embodiment] FIG. 1 shows a configuration of a pattern film forming apparatus 100 according to a first embodiment of the present invention. This pattern film forming apparatus 100 forms a film in a predetermined pattern shape on a surface of the substrate 1 by vacuum vapor deposition a plurality of times, and includes a main mask 21, an auxiliary mask 22, a mask fixing portion 23, and Each mask 21, 2
A main mask moving unit 31 for moving 2 and an auxiliary mask moving unit 32, and a vapor deposition source 40 are provided in a vacuum chamber 50. Among them, the mask fixing part 23, the main mask moving part 31, the auxiliary mask moving part 32, and the vapor deposition source 40 are
A control unit 24 provided outside the vacuum chamber 50,
It is connected to the control unit 33 and the control unit 41, respectively. A vacuum pump 60 is connected to the vacuum chamber 50 itself through a pipe.

【0012】本実施の形態では、主マスク21および補
助マスク22の2種類のマスクが用いられる。図2はマ
スク21,22を中心としたより詳細な部分構成を示す
図であり、図3は、その平面図である。主マスク21
は、複数回に分けて転写される各パターンの形状をした
孔Hが形成されたものであり、ここでは単一の短冊形状
をした孔Hが多数配列して構成され、例えばこの列が周
期的に(3列毎に)転写されるようになっている。補助
マスク22は、主マスクのうち転写対象のパターンに対
応する孔H以外の領域に重ね合わせられ、これを遮蔽す
るためのマスクであり、例えば主マスク21の孔Hを2
列分だけ遮蔽する短冊型の板状をしている。
In this embodiment, two types of masks, a main mask 21 and an auxiliary mask 22, are used. 2 is a diagram showing a more detailed partial structure centering on the masks 21 and 22, and FIG. 3 is a plan view thereof. Main mask 21
Is formed with holes H having the shape of each pattern transferred in plural times. Here, a large number of holes H each having a single strip shape are arranged. Transfer (every three columns). The auxiliary mask 22 is a mask that is overlapped with a region of the main mask other than the hole H corresponding to the pattern to be transferred and shields the region.
It is shaped like a strip that shields only the rows.

【0013】なお、主マスク21の孔Hは、互いに重な
ることがなく、必要な相対距離がとれれば、どのような
パターン形状であってもよい。一方、対する補助マスク
22は、遮蔽すべき領域に応じて適宜な形状や数とする
ことができ、本実施の形態のように各パターンが同じ周
期構造を有する場合には、主マスク21と同程度の面積
のもので貫通させたい位置のみに周期的に開口を設けた
マスクであってもよい。しかしながら、補助マスク22
は、転写対象のパターンに対応する孔H以外の孔Hを遮
蔽しさえすればよいので、ここに例示したように遮蔽す
べき領域をいくつかに分割して補助マスク22の形状を
単純化させるほうが都合がよい。更に、より複雑なパタ
ーンを重ね合わせる場合には、各孔Hをパターンに対応
させて遮蔽するか否かを制御するような補助マスク22
と補助マスク移動部32を設けることも考えられる。
The holes H of the main mask 21 may have any pattern shape as long as they do not overlap with each other and a required relative distance is obtained. On the other hand, the corresponding auxiliary mask 22 can have an appropriate shape and number according to the area to be shielded. When each pattern has the same periodic structure as in the present embodiment, it is the same as the main mask 21. A mask having a certain area and having openings periodically provided only at positions to be penetrated may be used. However, the auxiliary mask 22
Needs only to shield the holes H other than the holes H corresponding to the pattern to be transferred, so that the area to be shielded is divided into some areas to simplify the shape of the auxiliary mask 22 as illustrated here. It is more convenient. Furthermore, when superposing more complicated patterns, the auxiliary mask 22 for controlling whether or not to shield each hole H corresponding to the pattern.
It is also conceivable to provide the auxiliary mask moving unit 32.

【0014】これら主マスク21,補助マスク22は、
成膜される基板1と共にマスク固定部23によって真空
チャンバ50内の所定位置に固定されるようになってお
り、その際に、基板1と主マスク21の位置合わせ、主
マスク21もしくは基板1と補助マスク22の位置合わ
せは、それぞれ主マスク移動部31,補助マスク移動部
32が主マスク21, 補助マスク22を移動させること
により個別に行われる。なお、主マスク移動部31は、
例えば、基板1にリソグラフィ等により予め印されたマ
ークと主マスクに開けられた孔状のマークを重ね合わせ
ることで基板1と主マスク21の位置合わせを行なう。
一方、補助マスク移動部32は、主マスクに形成された
孔Hが周期的に配列しているので、ここでは、複数の補
助マスク22を図2に示したような受台32aに載せ、
一度に主マスクの孔Hの一列分に相当する距離だけ移動
させ、受台32aに設けたマークと基板1もしくは主マ
スク21のマークとを重ね合わせ合わせて位置合わせを
行なうものとする。なお、受台32aには、例えば、各
補助マスク22を定位置に保持するための溝32bが放
電加工等により予め設けられ、補助マスク22はロボッ
ト等により対応する溝32bに配置される。
The main mask 21 and the auxiliary mask 22 are
The mask 1 and the substrate 1 to be formed are fixed at a predetermined position in the vacuum chamber 50 by the mask fixing portion 23. At that time, the substrate 1 and the main mask 21 are aligned, and the main mask 21 or the substrate 1 The alignment of the auxiliary mask 22 is individually performed by the main mask moving unit 31 and the auxiliary mask moving unit 32 moving the main mask 21 and the auxiliary mask 22, respectively. The main mask moving unit 31 is
For example, the substrate 1 and the main mask 21 are aligned by superimposing a mark preliminarily formed on the substrate 1 by lithography or the like and a hole-shaped mark formed in the main mask.
On the other hand, in the auxiliary mask moving unit 32, the holes H formed in the main mask are arranged periodically, so here, a plurality of auxiliary masks 22 are placed on the pedestal 32a as shown in FIG.
It is assumed that the holes are moved by a distance corresponding to one row of the holes H of the main mask at one time, and the marks provided on the pedestal 32a and the marks of the substrate 1 or the main mask 21 are overlapped with each other to perform the alignment. In addition, for example, a groove 32b for holding each auxiliary mask 22 at a fixed position is provided in advance on the pedestal 32a by electric discharge machining or the like, and the auxiliary mask 22 is arranged in the corresponding groove 32b by a robot or the like.

【0015】また、マスク固定部23は、ここでは電磁
石23A,23Bからなる。電磁石23Aは主マスク2
1を固定するものであり、電磁石23Bは、主マスク2
1に補助マスク22を固着させるものであり、固定時の
たわみを防止するために主マスク21を一次固定すると
きにも用いられる。なお、電磁石23A,23Bと主マ
スク21,補助マスク22との間には基板1が挟まれ、
上述のように位置合わせされた後に所定の位置関係を保
ったまま固定される。このマスク固定部23の電磁石2
3A,23Bは、制御部24によりオン/オフ制御され
る。
The mask fixing portion 23 is composed of electromagnets 23A and 23B here. The electromagnet 23A is the main mask 2
1 is fixed, and the electromagnet 23B is the main mask 2
The auxiliary mask 22 is fixed to the first mask 1 and is also used when the main mask 21 is primarily fixed in order to prevent bending during fixing. The substrate 1 is sandwiched between the electromagnets 23A and 23B and the main mask 21 and the auxiliary mask 22,
After being aligned as described above, they are fixed while maintaining a predetermined positional relationship. The electromagnet 2 of the mask fixing portion 23
The control unit 24 controls ON / OFF of 3A and 23B.

【0016】このように、主マスク21,補助マスクは
電磁石に吸着されるために、鉄(Fe),ニッケル(N
i)等の磁性材料を含んで構成され、受台32aはアル
ミニウム(Al)等の磁化しない材料で構成される。
As described above, since the main mask 21 and the auxiliary mask are attracted to the electromagnet, iron (Fe), nickel (N)
i) and other magnetic materials, and the pedestal 32a is made of non-magnetizable material such as aluminum (Al).

【0017】更に、蒸着源40は、所定のパターン形状
の膜を成膜するための成膜材料を供給するものであり、
ここでは、制御部41により個別に制御される3つの蒸
着源40R,40G,40Bが、基板1に対して3種の
蒸着材料をそれぞれ供給するようになっている。この蒸
着源40も必要に応じて設定することができる。なお、
本実施の形態では、この蒸着源40が本発明の「材料供
給源」に対応し、先に説明したマスク固定部23が「固
定手段」に対応する。
Further, the vapor deposition source 40 supplies a film forming material for forming a film having a predetermined pattern shape,
Here, three vapor deposition sources 40R, 40G, and 40B that are individually controlled by the control unit 41 respectively supply three types of vapor deposition materials to the substrate 1. The vapor deposition source 40 can also be set as required. In addition,
In the present embodiment, the vapor deposition source 40 corresponds to the “material supply source” of the present invention, and the mask fixing portion 23 described above corresponds to the “fixing means”.

【0018】このパターン成膜装置100は、真空チャ
ンバ50内に基板1が設置されると、主マスク移動部3
1により基板1と主マスク21との位置合わせが行なわ
れ、両者が電磁石23A,23Bにより共に所定位置に
固定される。次いで、一旦、電磁石23Bはオフにさ
れ、補助マスク移動部32により補助マスク22と基板
1ないしは主マスク21との位置合わせが行なわれる
と、再び電磁石23Bがオンにされて基板1と主マスク
21、補助マスク22が互いに所定位置に重ね合わせら
れて固定される。このとき、基板1の面上では、主マス
ク21は補助マスク22により遮蔽されていない領域の
孔H、つまり3列毎に1列の孔Hだけが貫通している。
そののち、このパターンに対応する蒸着材料を供給する
蒸着源40を用い、基板1に対して蒸着を行なうと、上
記の貫通した孔Hによって形成されるパターン形状を転
写するように成膜が行なわれる。
In this pattern film forming apparatus 100, when the substrate 1 is installed in the vacuum chamber 50, the main mask moving unit 3
The substrate 1 and the main mask 21 are aligned by 1 and both are fixed in place by the electromagnets 23A and 23B. Then, once the electromagnet 23B is turned off, and the auxiliary mask moving unit 32 aligns the auxiliary mask 22 with the substrate 1 or the main mask 21, the electromagnet 23B is turned on again and the substrate 1 and the main mask 21 are turned on. The auxiliary masks 22 are fixed by being superposed on each other at predetermined positions. At this time, on the surface of the substrate 1, only the holes H in the region where the main mask 21 is not shielded by the auxiliary mask 22, that is, the holes H in one row every three rows are penetrated.
After that, when vapor deposition is performed on the substrate 1 using the vapor deposition source 40 which supplies the vapor deposition material corresponding to this pattern, film formation is performed so as to transfer the pattern shape formed by the above-mentioned through hole H. Be done.

【0019】成膜終了後、電磁石23Bは一旦オフにさ
れ、受台32aの溝32bに補助マスク22を受け取る
と、補助マスク移動部32は受台32aを所定の距離、
ここでは孔Hの1列分移動させ、再び補助マスク22と
基板1ないしは主マスク21との位置合わせが行なわれ
る。これにより、補助マスク22は、先の成膜時に貫通
していた孔Hに隣接する孔Hの列、すなわち転写された
パターンから1列分ずれたパターンに対応する孔Hの列
を残し、これ以外の領域を遮蔽する。この状態で、この
パターンに対応する蒸着材料を供給する蒸着源40を用
い、基板1に対して蒸着を行なうと、この貫通した孔H
によって形成されるパターン形状を転写するように成膜
が行なわれる。これを所定の回数だけ繰り返すと、所望
の形状の各パターンが所望の位置にそれぞれ形成され
る。
After the film formation, the electromagnet 23B is turned off once, and when the auxiliary mask 22 is received in the groove 32b of the receiving table 32a, the auxiliary mask moving section 32 moves the receiving table 32a at a predetermined distance.
Here, the holes H are moved by one row, and the auxiliary mask 22 and the substrate 1 or the main mask 21 are aligned again. As a result, the auxiliary mask 22 leaves a row of holes H adjacent to the holes H penetrating during the previous film formation, that is, a row of holes H corresponding to a pattern shifted by one row from the transferred pattern. Shield other areas. In this state, when vapor deposition is performed on the substrate 1 using the vapor deposition source 40 which supplies the vapor deposition material corresponding to this pattern, the holes H penetrating the substrate 1 are formed.
Film formation is performed so as to transfer the pattern shape formed by. By repeating this a predetermined number of times, each pattern having a desired shape is formed at a desired position.

【0020】このように、パターン成膜装置100で
は、各パターン形状の孔Hが形成されている主マスク2
1が1つ用いられ、これに補助マスク22が組み合わせ
られることによって複数のパターンが転写される。ま
た、ここでは、主マスク21の孔H同士の相対位置に対
応した配置で各パターン全てが転写されるために、主マ
スク21は成膜の度に移動する必要がなく、補助マスク
22のみを遮蔽する領域に応じて移動させればよい。よ
って、主マスク21と基板1との位置合わせは最初の一
度で済むし、補助マスク22の位置合わせも、主マスク
21のそれに求められるほど高い精度でなくともよい。
As described above, in the pattern film forming apparatus 100, the main mask 2 having the holes H of each pattern shape is formed.
1 is used, and a plurality of patterns are transferred by combining it with the auxiliary mask 22. Further, here, since all the patterns are transferred in an arrangement corresponding to the relative positions of the holes H of the main mask 21, the main mask 21 does not need to be moved each time the film is formed, and only the auxiliary mask 22 is used. It may be moved according to the area to be shielded. Therefore, the main mask 21 and the substrate 1 need only be aligned at the first time, and the auxiliary mask 22 need not be aligned with the high precision required for the main mask 21.

【0021】次に、パターン成膜装置100による成膜
の具体例として、有機ELディスプレイを構成する有機
EL素子10の有機EL層3の成膜について説明する。
Next, as a specific example of film formation by the pattern film forming apparatus 100, film formation of the organic EL layer 3 of the organic EL element 10 constituting the organic EL display will be described.

【0022】図4は、有機ELディスプレイの構成を表
す平面図であり、図5はそのI−I線における断面図で
ある。有機ELディスプレイでは、多数の有機EL素子
10が縦横に並列して画素を構成する。各有機EL素子
10は、基板1の上に陽極層2と陰極層4に有機EL層
3が挟まれた構造をしており、両極に電圧が印加された
とき有機EL層3が発光して画素単位の表示が行なわれ
る。なお、陽極層2と陰極層4は、それぞれ隣接する素
子10間の共通電極としてストライプ状に並列し、縦横
に交差してマトリクスを形成しており、交差する陽極層
2と陰極層4とに挟まれる短冊形状の有機EL層3が互
いに絶縁層5によって隔てられて個々の素子10が構成
されている。
FIG. 4 is a plan view showing the structure of the organic EL display, and FIG. 5 is a sectional view taken along the line I--I. In the organic EL display, a large number of organic EL elements 10 are arranged vertically and horizontally to form a pixel. Each organic EL element 10 has a structure in which an organic EL layer 3 is sandwiched between an anode layer 2 and a cathode layer 4 on a substrate 1, and the organic EL layer 3 emits light when a voltage is applied to both electrodes. Display is performed in pixel units. The anode layer 2 and the cathode layer 4 are arranged in parallel in stripes as a common electrode between the adjacent elements 10, and are vertically and horizontally crossed to form a matrix. The intersecting anode layer 2 and cathode layer 4 are formed. The strip-shaped organic EL layers 3 that are sandwiched are separated from each other by an insulating layer 5 to form individual devices 10.

【0023】また、有機EL素子10は、絶縁層5によ
って赤(R),緑(G),青(B)の3原色それぞれの
色に発光する有機EL素子10R,10G,10Bに分
別され、例えば、基板1の上で陰極層4の長手方向に
赤,緑,青,赤,・・・の順に周期的に並んでいる。こ
のような有機EL素子10の発光色の違いは、有機EL
層3の材料によるものであり、有機EL層3も、各素子
10R,10G,10Bに対応して有機EL層3R,3
G,3Bに分けられる。
Further, the organic EL element 10 is separated by the insulating layer 5 into organic EL elements 10R, 10G and 10B which emit light of each of the three primary colors of red (R), green (G) and blue (B), For example, on the substrate 1, red, green, blue, red, ... Are periodically arranged in the longitudinal direction of the cathode layer 4. The difference in the emission color of the organic EL element 10 is that the organic EL element
This is due to the material of the layer 3, and the organic EL layer 3 also corresponds to the respective elements 10R, 10G, 10B.
It is divided into G and 3B.

【0024】有機EL層3は、例えば、陽極層2の側か
ら正孔輸送層,発光層および電子輸送層が積層したもの
である。
The organic EL layer 3 is, for example, a layer in which a hole transport layer, a light emitting layer and an electron transport layer are laminated from the anode layer 2 side.

【0025】正孔輸送層の材料としては、例えば、α−
ナフチルフェニルジアミン,ポルフィリン,金属テトラ
フェニルポルフィリン,金属ナフタロシアニン等が挙げ
られる。また、発光層は、発光効率が高い材料、例え
ば、低分子蛍光色素、蛍光性の高分子、金属錯体等の有
機材料から構成されている。赤色光を発光する有機EL
層12Rの発光層としては、例えば、アジン色素、クマ
リン誘導体、キサンテン色素、メロシアニン色素、アク
リジン色素、フタロシアニン色素等が用いられる。緑色
光を発光する有機EL層12Gの発光層としては、例え
ば、トリス(8−キノリノラト)アルミニウム、キナク
リドン誘導体、キサンテン色素、クマリン誘導体、など
が用いられる。更に、青色光を発光する有機EL層12
Bの発光層では、例えば、8−キノリノール及びその誘
導体の金属錯体や前記金属錯体にペリレンやクマリン誘
導体をドープしたもの、特開平6−9953号公報に示
されるジスチリルアリーレン誘導体及びジスチリルアリ
ーレン誘導体に蛍光色素をドープしたものなどが用いら
れる。電子輸送層の材料としては、例えば、キノリン,
ペリレン,ビススチリル,ピラジン,またはこれらの誘
導体が挙げられる。なお、これらの総厚は、例えば15
0nm程度とされる。
The material of the hole transport layer is, for example, α-
Examples thereof include naphthylphenyldiamine, porphyrin, metal tetraphenylporphyrin, metal naphthalocyanine and the like. Further, the light emitting layer is composed of a material having high luminous efficiency, for example, an organic material such as a low molecular weight fluorescent dye, a fluorescent polymer, a metal complex or the like. Organic EL that emits red light
As the light emitting layer of the layer 12R, for example, an azine dye, a coumarin derivative, a xanthene dye, a merocyanine dye, an acridine dye, a phthalocyanine dye, or the like is used. As the light emitting layer of the organic EL layer 12G that emits green light, for example, tris (8-quinolinolato) aluminum, a quinacridone derivative, a xanthene dye, a coumarin derivative, or the like is used. Furthermore, the organic EL layer 12 that emits blue light
In the light emitting layer of B, for example, a metal complex of 8-quinolinol and its derivative, a metal complex obtained by doping the metal complex with a perylene or coumarin derivative, a distyrylarylene derivative and a distyrylarylene derivative disclosed in JP-A-6-9953. What is doped with a fluorescent dye is used. Examples of the material for the electron transport layer include quinoline,
Examples include perylene, bisstyryl, pyrazine, or derivatives thereof. The total thickness of these is, for example, 15
It is set to about 0 nm.

【0026】この有機EL素子10は上述したディスプ
レイとして製造されるが、その手順は例えば以下のよう
なものである。まず、薄膜ガラス等からなる基板1の上
に、SiO2 等からなる絶縁層5を、次いでITO(In
dium-Tin Oxide) 等からなる陽極層2をスパッタリング
およびエッチングを用いて形成する。更に、陽極層2の
直上に、短冊形状の有機EL層3を真空蒸着により形成
する。この工程は、以下に詳述する。次いで、Al−L
i等からなる陰極層4を陽極層2,有機EL層3と交差
するように真空蒸着で形成する。
The organic EL element 10 is manufactured as the display described above, and the procedure thereof is, for example, as follows. First, an insulating layer 5 made of SiO 2 or the like is formed on a substrate 1 made of thin film glass, and then ITO (In
The anode layer 2 made of dium-tin oxide, etc. is formed by sputtering and etching. Further, the strip-shaped organic EL layer 3 is formed on the anode layer 2 by vacuum vapor deposition. This step will be described in detail below. Then Al-L
A cathode layer 4 made of i or the like is formed by vacuum vapor deposition so as to intersect the anode layer 2 and the organic EL layer 3.

【0027】本実施の形態では、このうちの有機EL層
3の形成を、先のパターン成膜装置100を用いて行な
う。以下に述べるように、この工程は有機EL層3R,
3G,3Bの各層を順に成膜することにより行なわれる
が、その成膜の順序は特に問わない。また、正孔輸送
層,発光層および電子輸送層は、それぞれ同様の手順で
成膜されるので、ここでは、これらの成膜位置に準じ、
代表的に有機EL層3R,3G,3Bと呼称して説明す
る。
In the present embodiment, the formation of the organic EL layer 3 among them is carried out by using the above pattern film forming apparatus 100. As will be described below, this step includes the organic EL layer 3R,
It is performed by sequentially forming the layers of 3G and 3B, but the order of the film formation is not particularly limited. The hole transport layer, the light emitting layer, and the electron transport layer are formed by the same procedure, so here, according to these film forming positions,
The organic EL layers 3R, 3G and 3B will be representatively described.

【0028】まず、マスク固定部23の定位置に、既に
絶縁層5,陽極層2まで形成されている基板1を設置す
る。次いで、制御部33により主マスク移動部31を制
御して主マスク21を移動させ、基板1のマークと主マ
スクに開けられた孔状のマークを重ね合わせることで、
基板1に対し主マスク21の位置合わせを行なう。な
お、主マスク21に形成されている孔Hは、有機EL層
3R,3G,3Bのパターン全てがその配置のまま転写
されるように個々のパターンの相対位置にある。そこ
で、有機EL層3R,3G,3Bそれぞれに対応する孔
Hを、以後、孔HR,孔HG,孔HBと呼び分ける。こ
れらの孔HR,HGおよびHBは、有機EL層3R,3
G,3Bの形状に対応した形状(ここでは全て同一形
状)となっている。
First, the substrate 1 on which the insulating layer 5 and the anode layer 2 have already been formed is placed at a fixed position of the mask fixing portion 23. Then, the control unit 33 controls the main mask moving unit 31 to move the main mask 21 so that the mark on the substrate 1 and the hole-shaped mark formed on the main mask are overlapped.
The main mask 21 is aligned with the substrate 1. The holes H formed in the main mask 21 are at the relative positions of the individual patterns so that all the patterns of the organic EL layers 3R, 3G, and 3B are transferred as they are. Therefore, the holes H corresponding to the organic EL layers 3R, 3G, and 3B are hereinafter referred to as the holes HR, the holes HG, and the holes HB. These holes HR, HG and HB are formed in the organic EL layers 3R and 3B.
It has a shape corresponding to the shapes of G and 3B (here, all have the same shape).

【0029】その後、主マスク21は制御部24により
制御された電磁石22A,22Bにより基板1の一面側
に吸着、固定される。
After that, the main mask 21 is attracted and fixed to one surface of the substrate 1 by the electromagnets 22A and 22B controlled by the controller 24.

【0030】次に、一旦、制御部24により電磁石23
Bをオフにして、制御部33により補助マスク移動部3
2を制御して補助マスク22を移動させ、主マスク21
に対し補助マスクの位置合わせを行なう。ここでは、複
数の補助マスク22をロボット等により受台32aの溝
32bに配置し、この受台32aを移動させることによ
り、受台32aに設けたマークと主マスク21のマーク
とを重ね合わせ合わせる。このとき、基板1の面上で
は、主マスク21の有機EL層3R,3G,3Bに対応
して周期的に形成された3列の孔HR,HG,HBのう
ち、孔HG,HBの2列が個々の補助マスク22によっ
て遮蔽され、孔HRだけが周期的に貫通している。言い
換えると、主マスク21に補助マスク22が重ねられる
ことで、見かけ上、有機EL層3Rの成膜用に用いられ
てきたメタルマスクと同様のパターンが現れることにな
る。
Next, the control unit 24 once controls the electromagnet 23.
B is turned off, and the auxiliary mask moving unit 3 is controlled by the control unit 33.
2 to move the auxiliary mask 22 to move the main mask 21
The auxiliary mask is aligned with. Here, a plurality of auxiliary masks 22 are arranged in the groove 32b of the receiving table 32a by a robot or the like, and the receiving table 32a is moved so that the mark provided on the receiving table 32a and the mark of the main mask 21 are overlapped. . At this time, on the surface of the substrate 1, of the three rows of holes HR, HG, HB periodically formed corresponding to the organic EL layers 3R, 3G, 3B of the main mask 21, two of the holes HG, HB are formed. The rows are shielded by the individual auxiliary masks 22 and only the holes HR penetrate periodically. In other words, by superimposing the auxiliary mask 22 on the main mask 21, an apparent pattern similar to that of the metal mask used for forming the organic EL layer 3R appears.

【0031】その後、再び電磁石23Bをオンにして、
基板1と主マスク21、補助マスク22を重ね合わせて
固定する。
Then, the electromagnet 23B is turned on again,
The substrate 1, the main mask 21, and the auxiliary mask 22 are superposed and fixed.

【0032】次に、真空チャンバ50の内部を外気から
遮断し、真空ポンプ60を駆動させて真空状態とし、更
に、制御部41が蒸着源40を制御し動作させ、蒸着を
行なう。ここでは、蒸着源40は、有機EL層3R,3
G,3Bに応じた材料を供給する3つの蒸着源40R,
40G,40Bに分かれており、制御部41によって個
別に制御されるようになっている。いま、図6(A)に
示したように、蒸着源40Rにより基板1に対して蒸着
を行なうと、貫通した孔HRによってパターン形状を転
写するように基板1に成膜が行なわれ、所定の位置に、
所定形状の赤色発光材料からなる有機EL層3Rが形成
される。
Next, the inside of the vacuum chamber 50 is shut off from the outside air, the vacuum pump 60 is driven to bring it into a vacuum state, and the control unit 41 controls and operates the vapor deposition source 40 to perform vapor deposition. Here, the vapor deposition source 40 is the organic EL layers 3R, 3
Three vapor deposition sources 40R, which supply materials corresponding to G and 3B,
It is divided into 40G and 40B and is individually controlled by the control unit 41. Now, as shown in FIG. 6A, when vapor deposition is performed on the substrate 1 by the vapor deposition source 40R, film formation is performed on the substrate 1 so that the pattern shape is transferred by the through holes HR, and a predetermined pattern is formed. position,
The organic EL layer 3R made of a red light emitting material having a predetermined shape is formed.

【0033】成膜終了後、制御部24が電磁石23Bを
一旦オフにし、制御部33によって受台32aの溝32
bに補助マスク22を受け取ると、補助マスク移動部3
2は受台32aを所定の距離、ここでは孔Hの1列分移
動させ、再び補助マスク22と主マスク21との位置合
わせを行なう。これにより、補助マスク22は、先の成
膜時に貫通していた孔HRに隣接する孔HGからなるパ
ターンの列を残し、孔HR,HBの領域を遮蔽する。こ
の状態で、図6(B)に示したように、このパターンに
対応する蒸着材料を供給する蒸着源40Gを用い、基板
1に対して蒸着を行なうと、所定の位置に、所定形状の
緑色発光材料からなる有機EL層3Gが形成される。
After the film formation is completed, the control unit 24 once turns off the electromagnet 23B, and the control unit 33 controls the groove 32 of the pedestal 32a.
When the auxiliary mask 22 is received in b, the auxiliary mask moving unit 3
2, the pedestal 32a is moved by a predetermined distance, here one row of the holes H, and the auxiliary mask 22 and the main mask 21 are aligned again. As a result, the auxiliary mask 22 leaves a row of patterns of the holes HG adjacent to the holes HR that have been penetrated during the previous film formation and shields the regions of the holes HR and HB. In this state, as shown in FIG. 6B, when vapor deposition is performed on the substrate 1 by using the vapor deposition source 40G that supplies the vapor deposition material corresponding to this pattern, the green color of the predetermined shape is obtained at the predetermined position. An organic EL layer 3G made of a light emitting material is formed.

【0034】この有機EL層3Gの形成と同様にして、
再度補助マスク22の位置合わせを行い、蒸着源40B
を用いて蒸着を行うと(図6(C))、所定の位置に、
所定形状の青色発光材料からなる有機EL層3Bが形成
される。
Similar to the formation of the organic EL layer 3G,
The auxiliary mask 22 is aligned again, and the evaporation source 40B
When vapor deposition is performed using (Fig. 6 (C)),
The organic EL layer 3B made of a blue light emitting material having a predetermined shape is formed.

【0035】以上のようにして有機EL層3R,3G,
3Bがそれぞれ形成される。更に、陰極層4を形成する
と、図4に示したパターン通りの有機EL素子10R,
10G,10Bが製造される。
As described above, the organic EL layers 3R, 3G,
3B is formed respectively. Further, when the cathode layer 4 is formed, the organic EL element 10R having the pattern shown in FIG.
10G and 10B are manufactured.

【0036】このように、本実施の形態においては、1
つの主マスク21に全てのパターン形状の孔HR,H
G,HBが形成されているので、パターンごとにマスク
を作製し、これらを取り替えながら成膜する場合に比べ
て、各パターン間の相対的な位置精度が向上し、相対位
置のばらつきもまた軽減することができる。また、ここ
では、孔HR,HG,HB同士の相対位置に対応した配
置で各パターン全てが転写されるために、主マスク21
は成膜の度に移動する必要がなく、補助マスク22のみ
を遮蔽する領域に応じて移動させればよい。よって、主
マスク21と基板1との位置合わせは最初の一度で済
み、補助マスク22の位置合わせも、主マスク21のそ
れに求められるほど高い精度でなくともよいので、高い
位置精度を保ちながら簡易に位置合わせを行うことがで
きる。更に、主たるマスクが1つの主マスク21で済む
ので、個々のマスクを作製する場合よりも低コスト化を
図ることができる。
As described above, in the present embodiment, 1
The holes HR, H of all pattern shapes are formed in one main mask 21.
Since G and HB are formed, the relative positional accuracy between the patterns is improved and variations in the relative positions are also reduced, as compared with the case where a mask is formed for each pattern and film formation is performed while exchanging these masks. can do. Further, here, since all the patterns are transferred in an arrangement corresponding to the relative positions of the holes HR, HG, HB, the main mask 21
Does not need to be moved each time a film is formed, and may be moved according to the area that shields only the auxiliary mask 22. Therefore, the main mask 21 and the substrate 1 need only be aligned at the first time, and the alignment of the auxiliary mask 22 does not have to be as accurate as that required for the main mask 21. Can be aligned to. Furthermore, since only one main mask 21 is required as the main mask, the cost can be reduced as compared with the case where individual masks are manufactured.

【0037】〔第2の実施の形態〕図7は、本発明の第
2の実施の形態に係るパターン成膜装置200の概略構
成を表している。このパターン成膜装置200は、印刷
スクリーンとして用いられる主マスク71,補助マスク
72、および、電磁石73Bを備えた補助マスク固定部
73、フレーム固定台81、フレーム82、スキージ8
3によって主に構成されている。また、主マスク71,
補助マスク72は、スクリーン印刷に用いられることを
除けば第1の実施の形態の主マスク21,補助マスク2
2と同様な構成となっており、主マスク71には同様の
孔Hが形成されているものとする。なお、本実施の形態
では、補助マスク固定部73が本発明の「移動手段」お
よび「固定手段」に対応し、スキージ83が本発明の
「材料供給源」に対応する。
[Second Embodiment] FIG. 7 shows a schematic configuration of a pattern film forming apparatus 200 according to a second embodiment of the present invention. This pattern film forming apparatus 200 includes a main mask 71 used as a printing screen, an auxiliary mask 72, and an auxiliary mask fixing portion 73 having an electromagnet 73B, a frame fixing base 81, a frame 82, and a squeegee 8.
It is mainly composed of 3. In addition, the main mask 71,
The auxiliary mask 72 is the main mask 21 and the auxiliary mask 2 of the first embodiment except that it is used for screen printing.
It has the same configuration as that of No. 2 and the same hole H is formed in the main mask 71. In addition, in the present embodiment, the auxiliary mask fixing portion 73 corresponds to the “moving means” and the “fixing means” of the present invention, and the squeegee 83 corresponds to the “material supply source” of the present invention.

【0038】この主マスク71は、その周囲をフレーム
82によって押さえられてフレーム固定台81に固定さ
れ、一方の補助マスク72は、成膜される基板1を介し
て補助マスク固定部73の上に配置されるが、これは、
例えば以下のように行うことができる。すなわち、補助
マスク固定部73と基板1を180°回転させた状態
で、第1の実施の形態と同様の受台(ここでは図示せ
ず)によって基板1と補助マスク72の位置合わせを行
ない、補助マスク72を基板1と共に電磁石73Bによ
り固定する。そののち、これら補助マスク固定部73,
基板1および補助マスク72を180°回転させると、
図に示したように補助マスク移動部72の上に基板1と
補助マスク72が互いに所定の位置に配置される。な
お、補助マスク固定部73を更に動かし、次に主マスク
71と基板1ないしは補助マスク72との位置合わせが
行なわれる。なお、補助マスク72を主マスク71に対
してどのような位置関係に位置合わせを行なうかについ
ては、第1の実施の形態と同様であるから、ここでは説
明を省略する。但し、ここでは、主マスク71と基板
1,補助マスク72は所定の距離だけ離れて配置され、
後述するように、主マスクのうちスキージ83によって
圧力がかかる箇所のみが基板1,補助マスク72に接す
るようになっている。
The periphery of the main mask 71 is pressed by the frame 82 and fixed to the frame fixing base 81, and one auxiliary mask 72 is placed on the auxiliary mask fixing portion 73 via the substrate 1 on which the film is formed. Placed, but this is
For example, it can be performed as follows. That is, while the auxiliary mask fixing portion 73 and the substrate 1 are rotated by 180 °, the substrate 1 and the auxiliary mask 72 are aligned with each other by a pedestal (not shown here) similar to that of the first embodiment. The auxiliary mask 72 is fixed together with the substrate 1 by the electromagnet 73B. After that, these auxiliary mask fixing portions 73,
When the substrate 1 and the auxiliary mask 72 are rotated 180 °,
As shown in the figure, the substrate 1 and the auxiliary mask 72 are arranged at predetermined positions on the auxiliary mask moving unit 72. The auxiliary mask fixing portion 73 is further moved, and then the main mask 71 is aligned with the substrate 1 or the auxiliary mask 72. The positional relationship of the auxiliary mask 72 with respect to the main mask 71 is the same as in the first embodiment, and therefore the description thereof is omitted here. However, here, the main mask 71 and the substrate 1 and the auxiliary mask 72 are arranged apart from each other by a predetermined distance,
As will be described later, only the portion of the main mask where pressure is applied by the squeegee 83 is in contact with the substrate 1 and the auxiliary mask 72.

【0039】この状態で、例えば、主マスク71の一端
から他端まで(図に矢印で示した方向に)印刷ペースト
を主マスク71に押し付けながらスキージ83を移動さ
せると、基板1には、主マスク71の孔Hのうち補助マ
スク72が置かれていない領域の孔Hを通じてパターン
の印刷が行なわれる。
In this state, for example, if the squeegee 83 is moved from one end of the main mask 71 to the other end (in the direction indicated by the arrow in the figure) while pressing the printing paste against the main mask 71, The pattern is printed through the holes H of the mask 71 in the region where the auxiliary mask 72 is not placed.

【0040】このように、本実施の形態のパターン成膜
装置200も主マスク71,補助マスク72を備えた構
成であり、第1の実施の形態と同様の作用・効果を発揮
することができる。
As described above, the pattern film forming apparatus 200 of the present embodiment also has the structure including the main mask 71 and the auxiliary mask 72, and can exhibit the same operation and effect as those of the first embodiment. .

【0041】以上、上記実施の形態により具体的に説明
したが、本発明はその限りではなく、種々の変形が可能
である。例えば、上記実施の形態では、主マスク21
(および主マスク71)と基板1については一度の位置
合わせしかしないようにしたが、必要に応じて、主マス
クも移動するようにしてもよい。そのような場合にも、
1つの主マスクに複数のパターンを設けることで低コス
ト化を図ることが可能である。
Although the embodiment has been specifically described above, the present invention is not limited to this, and various modifications can be made. For example, in the above embodiment, the main mask 21 is used.
Although (and the main mask 71) and the substrate 1 are aligned only once, the main mask may be moved if necessary. In such cases,
It is possible to reduce the cost by providing a plurality of patterns on one main mask.

【0042】また、上記実施の形態では、成膜材料が異
なることで分けられたパターンの成膜について説明した
が、これに限らず、その他の成膜条件が異なるために回
数を分けて成膜する場合にも本発明を適用することがで
きる。
Further, in the above-mentioned embodiment, the film formation of the patterns divided by the different film forming materials has been described, but the present invention is not limited to this, and the film forming is performed by dividing the number of times because other film forming conditions are different. The present invention can also be applied to such cases.

【0043】また、上記実施の形態では、有機EL素子
10の有機EL層3を成膜するものとしたが、本発明は
成膜の対象を限定するものではない。更に、上記実施の
形態においては真空蒸着法とスクリーン印刷法を用いる
場合のパターン成膜装置および成膜方法について説明し
たが、本発明は、マスクを用いて行なうパターン成膜全
般に広く適用が可能である。
Further, in the above embodiment, the organic EL layer 3 of the organic EL element 10 is formed into a film, but the present invention does not limit the object of film formation. Further, in the above embodiment, the pattern film forming apparatus and the film forming method when the vacuum vapor deposition method and the screen printing method are used have been described, but the present invention can be widely applied to general pattern film formation using a mask. Is.

【0044】[0044]

【発明の効果】以上説明したように請求項1ないし請求
項7に記載のパターン成膜装置、および、請求項8ない
し請求項12に記載のパターン成膜方法によれば、複数
回に分けて転写される各パターンの形状をした孔が形成
された主マスクと、主マスクのうち転写対象のパターン
に対応する孔以外の領域内に設置される補助マスクとを
備えるようにしたので、成膜の度に、補助マスクが主マ
スクのうち転写対象のパターンに対応する孔以外の領域
に設置され、各成膜工程毎に所定のパターンのみが選択
され転写される。よって、主たるマスクが1つの主マス
クで済むので、個々のマスクを作製する場合よりも低コ
スト化を図ることができる。
As described above, according to the pattern film forming apparatus described in any one of claims 1 to 7 and the pattern film forming method described in any one of claims 8 to 12, it is divided into a plurality of times. Since the main mask in which the holes having the shape of each pattern to be transferred are formed and the auxiliary mask which is provided in the area of the main mask other than the holes corresponding to the pattern to be transferred are provided, the film formation is performed. Each time, the auxiliary mask is placed in a region of the main mask other than the hole corresponding to the pattern to be transferred, and only a predetermined pattern is selected and transferred in each film forming process. Therefore, one main mask is sufficient as the main mask, so that the cost can be reduced as compared with the case where individual masks are manufactured.

【0045】特に、請求項3に記載のパターン成膜装
置、および、請求項10に記載のパターン成膜方法によ
れば、主マスクは固定したまま補助マスクのみを成膜の
度に移動させるようにしたので、主マスクと基板との位
置合わせは最初の一度で済ますことができる共に、パタ
ーンごとに作製されたマスクを成膜の度に取り替える場
合に比べ、各パターン間の相対的な位置精度を向上さ
せ、相対位置のばらつきを軽減することができる。ま
た、補助マスクの位置合わせも、主マスクのそれに求め
られるほど高い精度でなくともよいので、高い位置精度
を保ちながらマスクの位置合わせを簡易に行うことがで
きる。従って、たとえマスク自体の加工精度が従来のま
まであっても成膜されるパターン間の相対位置の精度を
向上させることが可能となる。
Particularly, according to the pattern film forming apparatus of the third aspect and the pattern film forming method of the tenth aspect, the main mask is fixed and only the auxiliary mask is moved each time the film is formed. Since the alignment of the main mask and the substrate can be done only once at the beginning, the relative positional accuracy between each pattern is greater than when the mask made for each pattern is replaced every time the film is formed. Can be improved and variation in relative position can be reduced. In addition, the alignment of the auxiliary mask does not have to be as accurate as that required for the main mask, so that the alignment of the mask can be easily performed while maintaining high positional accuracy. Therefore, even if the processing accuracy of the mask itself remains the same, the accuracy of the relative position between the formed patterns can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態に係るパターン成膜
装置の構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of a pattern film forming apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1に示したパターン成膜装置の主要部分の構
成図である。
2 is a configuration diagram of a main part of the pattern film forming apparatus shown in FIG.

【図3】図2に示した主要部分の平面図である。FIG. 3 is a plan view of a main portion shown in FIG.

【図4】図1に示したパターン成膜装置により有機EL
層が成膜される有機ELディスプレイの構成図である。
FIG. 4 shows an organic EL device using the pattern film forming apparatus shown in FIG.
It is a block diagram of the organic EL display by which a layer is formed into a film.

【図5】図4に示した有機ELディスプレイの部分断面
図である。
5 is a partial cross-sectional view of the organic EL display shown in FIG.

【図6】図1に示したパターン成膜装置を用いた有機E
L層のパターン成膜方法を説明するための工程毎の断面
図である。
6 is an organic E using the pattern film forming apparatus shown in FIG.
FIG. 6 is a cross-sectional view for each step for explaining the pattern formation method for the L layer.

【図7】本発明の第2の実施の形態に係るパターン成膜
装置の構成図である。
FIG. 7 is a configuration diagram of a pattern film forming apparatus according to a second embodiment of the present invention.

【図8】従来の有機ELディスプレイの有機EL層の成
膜方法を説明するための工程毎の断面図である。
FIG. 8 is a cross-sectional view of each step for explaining a film forming method of an organic EL layer of a conventional organic EL display.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…基板、2…陽極層、3R,3G,3B…有機EL
層、4…陰極層、5…絶縁層、10R,10G,10B
…有機EL素子、21,71…主マスク、HR,HG,
HB…孔、22,72…補助マスク、23…マスク固定
部、23A,23B…電磁石、24…制御部、31…主
マスク移動部、32…補助マスク移動部、32a…受
台、32b…溝、33…制御部、40R,40G,40
B…蒸着源、41…制御部、50…真空チャンバ、60
…真空ポンプ、100,200…パターン成膜装置
1 ... Substrate, 2 ... Anode layer, 3R, 3G, 3B ... Organic EL
Layer, 4 ... Cathode layer, 5 ... Insulating layer, 10R, 10G, 10B
... Organic EL elements 21, 71 ... Main mask, HR, HG,
HB ... Hole, 22, 72 ... Auxiliary mask, 23 ... Mask fixing part, 23A, 23B ... Electromagnet, 24 ... Control part, 31 ... Main mask moving part, 32 ... Auxiliary mask moving part, 32a ... Cradle, 32b ... Groove , 33 ... Control unit, 40R, 40G, 40
B ... Evaporation source, 41 ... Control part, 50 ... Vacuum chamber, 60
... Vacuum pump, 100,200 ... Pattern deposition apparatus

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数回に分けて転写される各パターンの
形状をした孔が形成された主マスクと、 前記主マスクのうち転写対象のパターンに対応する孔以
外の領域内に設置される補助マスクと、 所定のパターン形状の膜を成膜するための成膜材料を供
給する材料供給源とを備えたことを特徴とするパターン
成膜装置。
1. A main mask having holes formed in the shape of each pattern to be transferred in a plurality of times, and an auxiliary device provided in an area other than the holes corresponding to the pattern to be transferred in the main mask. A pattern film forming apparatus comprising a mask and a material supply source for supplying a film forming material for forming a film having a predetermined pattern shape.
【請求項2】 前記主マスクおよび前記補助マスクを個
別に移動させる移動手段を備えたことを特徴とする請求
項1記載のパターン成膜装置。
2. The pattern film forming apparatus according to claim 1, further comprising moving means for individually moving the main mask and the auxiliary mask.
【請求項3】 前記移動手段は、前記主マスクと前記補
助マスクのうち補助マスクのみを成膜の度に移動させる
ことを特徴とする請求項2記載のパターン成膜装置。
3. The pattern film forming apparatus according to claim 2, wherein the moving means moves only the auxiliary mask of the main mask and the auxiliary mask each time a film is formed.
【請求項4】 前記移動手段は、複数の補助マスクを互
いに所定の距離を保ったまま移動させるための受台を含
んで構成されることを特徴とする請求項2記載のパター
ン成膜装置。
4. The pattern film forming apparatus according to claim 2, wherein the moving means includes a pedestal for moving the plurality of auxiliary masks while keeping a predetermined distance from each other.
【請求項5】 前記主マスクおよび前記補助マスクをそ
れぞれ個別に所定の位置に固定する固定手段を備えたこ
とを特徴とする請求項1記載のパターン成膜装置。
5. The pattern film forming apparatus according to claim 1, further comprising fixing means for individually fixing the main mask and the auxiliary mask at predetermined positions.
【請求項6】 蒸着により成膜を行うことを特徴とする
請求項1記載のパターン成膜装置。
6. The pattern film forming apparatus according to claim 1, wherein the film is formed by vapor deposition.
【請求項7】 印刷により成膜を行うことを特徴とする
請求項1記載のパターン成膜装置。
7. The pattern film forming apparatus according to claim 1, wherein the film is formed by printing.
【請求項8】 複数回に分けて転写される各パターンの
形状をした孔が形成された主マスクと、補助マスクと、
材料供給源とを備えたパターン成膜装置を用い、所定の
パターン形状の膜を成膜する方法であって、 前記主マスクおよび前記補助マスクを介して前記材料供
給源に対向する位置に成膜対象となる基板を設置し、前
記主マスクを孔が前記基板のパターン形成位置に対応す
る位置に設置し、前記主マスクのうち転写対象のパター
ンに対応する孔以外の領域内に補助マスクを設置し、前
記基板の上に前記材料供給源より材料を供給して成膜を
行うことを特徴とするパターン成膜方法。
8. A main mask having holes each having a shape of each pattern transferred in plural times, and an auxiliary mask,
A method for forming a film having a predetermined pattern shape by using a pattern film forming apparatus equipped with a material supply source, wherein the film is formed at a position facing the material supply source through the main mask and the auxiliary mask. A target substrate is set, the main mask is set at a position where the holes correspond to the pattern formation position of the substrate, and an auxiliary mask is set in an area of the main mask other than the holes corresponding to the pattern to be transferred. Then, the film is formed by supplying a material from the material supply source onto the substrate to form a film.
【請求項9】 前記主マスクに形成された孔同士の相対
位置に対応した配置で各パターンを転写することを特徴
とする請求項8記載のパターン成膜装置。
9. The pattern film forming apparatus according to claim 8, wherein each pattern is transferred in an arrangement corresponding to the relative position of the holes formed in the main mask.
【請求項10】 前記主マスクは固定したまま前記補助
マスクのみを成膜の度に移動させることを特徴とする請
求項8記載のパターン成膜方法。
10. The pattern film forming method according to claim 8, wherein only the auxiliary mask is moved for each film formation while the main mask is fixed.
【請求項11】 蒸着により成膜を行うことを特徴とす
る請求項8記載のパターン成膜方法。
11. The pattern film forming method according to claim 8, wherein the film formation is performed by vapor deposition.
【請求項12】 印刷により成膜を行うことを特徴とす
る請求項8記載のパターン成膜方法。
12. The pattern film forming method according to claim 8, wherein the film formation is performed by printing.
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