JP2003016639A - 磁気テープ磁性層の厚み測定方法および装置 - Google Patents

磁気テープ磁性層の厚み測定方法および装置

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JP2003016639A
JP2003016639A JP2001197672A JP2001197672A JP2003016639A JP 2003016639 A JP2003016639 A JP 2003016639A JP 2001197672 A JP2001197672 A JP 2001197672A JP 2001197672 A JP2001197672 A JP 2001197672A JP 2003016639 A JP2003016639 A JP 2003016639A
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Masao Ogawa
雅央 小川
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 磁性層の厚みを容易に、短時間で、広範囲に
亘り連続的に測定する。 【解決手段】 磁気テープ36に対して記録ヘッド42
および再生ヘッド44により信号の記録、再生を行う。
磁性層の厚みが異なるサンプルの磁気テープを複数用意
し、あらかじめ磁性層の厚みを従来法により測定すると
ともに、磁気テープ磁性層の厚み測定装置2により記録
再生を行った場合の信号処理部10における再生信号レ
ベルを測定して、磁気テープの厚みと信号レベルとの関
係を求める。その結果により信号処理部10の増幅度を
設定して、信号処理部10の出力信号の大きさが、磁性
層の厚みを表すようにする。その上で、たとえば磁性層
と非磁性層が同時塗布された磁気テープを装着し、記録
再生を行うと、信号処理部10から磁性層の厚みを表す
信号が連続的に出力され、表示機12により磁性層の厚
みを表すグラフが連続的に表示される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気テープに形成
された磁性層の厚みを測定する方法および装置に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】磁気テープは音声や映像の記録、さらに
はコンピューターで利用される種々のデーターの記録に
広く用いられている。磁気テープの性能は磁気テープに
形成される磁性層の厚みにより大きく左右され、磁性層
の厚みが適切でない場合には、たとえば充分なSN比を
確保できず、記録再生した音声や映像に劣化が生じた
り、あるいは再生データーの信頼性が低下する結果とな
る。
【0003】従来、磁気テープに形成された磁性層の厚
みはマイクロメーターにより測定していた。すなわち、
まず磁気テープの全体の厚みをマイクロメーターによっ
て測定し、次に、適当な溶剤を用いて磁性層を溶解して
除去し、その上で再度磁気テープの厚みをマイクロメー
ターにより測定する。そして、先に測定した全体の厚み
から磁性層除去後の厚みを減算して、磁性層の厚みを得
る。
【0004】しかし、このような方法では、長さがたと
えば6000mにも及ぶ磁気テープのごく限られた箇所
をサンプリングして測定することになり、磁気テープ全
体の厚みを詳しく把握することは困難であり、広範囲の
厚みの均一性を確認するといったことは不可能であっ
た。また、磁性層を溶剤により除去しなければならず、
さらに厚みの測定はマイクロメーターを用いた機械的な
ものであるため、測定に非常に時間がかかっていた。
【0005】しかも、近年の磁気テープでは記録情報の
大容量化、高耐久性化が進められており、その結果、磁
性層などの薄膜化とともに多層化が図られ、このような
磁気テープでは、上記従来の方法で磁性層の厚さを測定
することは困難である。図10はこの種の多層構造を有
する磁気テープの一例を拡大して示す部分構成図であ
る。この磁気テープ102はバック層104、ベース層
110、非磁性層112、ならびに磁性層108をこの
順に積層した4層構造となっている。ベース層110は
ポリエチレンテレフタレート(PET)、あるいはポリ
エチレンナフタレート(PEN)から成り、その裏面側
に巻き取り特性の向上を目的としてバック層104が形
成されている。一方、ベース層110の表面側には、磁
性層108だけでなく、磁性層108とベース層110
との間に、磁気テープの耐久性向上を目的として潤滑剤
を含有する非磁性層112が形成されている。
【0006】そして、磁性層108と非磁性層112と
は、技術的およびコスト的な面から同時塗布により形成
されており、1つのスリットから磁性層108の材料と
非磁性層112の材料とを同時に吐出させる方式で各層
が同時に塗布される。そのため、磁性層108と非磁性
層112との境界部は必ずしも明瞭でない箇所があり、
磁性層108のみを上述のように溶剤により溶解するこ
とが難しく、従来の方法で磁性層108の厚みを測定す
ることは困難である。
【0007】磁性層の厚みを測定する方法として、磁気
特性を利用する方法も知られている。この方法では、ま
ず磁性層の磁化量とその厚みとの関係をあらかじめ測定
しておく。その上で、測定対象の磁気テープ片(例えば
8cm×6.25mm)の磁化量を振動試料型磁力計
(VSM)により測定し、測定結果から、上記磁化量と
厚みとの関係にもとづき、磁性層の厚みを求める。しか
し、この方法では1回の測定に10分程度を要するた
め、サンプル数が多くなると測定時間はきわめて長くな
る。さらに、サンプリングにより磁気テープのとびとび
の箇所で測定を行わざるを得ないので、磁気テープ全体
の厚みを詳しく把握することは困難である。さらに、磁
気テープを切断し、断面の顕微鏡写真をとって各層の厚
みを求める方法もあるが、作業に時間がかかり、また全
体の厚み情報を詳細に得ることはできない。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明はこのような問
題を解決するためになされたもので、その目的は、磁性
層の厚みを容易に、かつ短時間のうちに、しかも広範囲
に亘り連続的に測定することが可能な磁気テープ磁性層
の厚み測定方法および装置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため、磁気テープを前記磁気テープの長手方向に走
行させ、前記磁気テープの表面に接触させた記録ヘッド
に駆動信号を供給して前記磁気テープの磁性層を磁化
し、前記磁気テープの表面に接触させた再生ヘッドによ
り前記磁気テープの前記磁性層が形成する磁界の強さを
検出して磁界の強さを表す電気信号を生成し、前記磁界
の強さを表す電気信号の大きさにもとづき前記磁気テー
プの前記磁性層の厚みに対応した大きさの電気信号を生
成し、同電気信号の大きさにしたがって前記磁性層の厚
みを表示することを特徴とする。
【0010】また、本発明は、磁気テープを前記磁気テ
ープの長手方向に走行させる磁気テープ搬送手段と、前
記磁気テープ搬送手段により走行する前記磁気テープの
表面に接して配置され、与えられた駆動信号にもとづき
前記磁気テープの磁性層を磁化する記録ヘッドと、前記
走行する磁気テープの表面に接して配置され前記磁気テ
ープの前記磁性層が形成する磁界を検出して前記磁界の
強さを表す電気信号を出力する再生ヘッドと、前記再生
ヘッドの出力信号の大きさにもとづき前記磁気テープの
前記磁性層の厚みに対応した大きさの電気信号を出力す
る厚み信号生成手段と、前記厚み信号生成手段の出力信
号の大きさにもとづき前記磁性層の厚みを表示する厚み
表示手段とを備えたことを特徴とする。
【0011】本発明では、磁気テープを走行させつつ記
録ヘッドにより磁気テープの磁性層を磁化し、その結果
を再生ヘッドにより検出する。そして、再生ヘッドの出
力信号の大きさから磁性層の厚みを表す信号を生成し、
その信号により磁性層の厚みを表示する。したがって、
従来のように磁性層を溶剤で剥がしたり、あるいは磁気
テープを切断して顕微鏡写真を撮影する必要がなく、さ
らに、VSMによる磁化量の測定も不要であり、単に、
磁気テープを走行させて記録再生を行うのみの簡単な作
業で短時間のうちに、磁気テープ全体の磁性層の厚み情
報を連続的に測定することができる。
【0012】
【発明の実施の形態】次に本発明の実施の形態例につい
て図面を参照して説明する。図1は本発明による磁気テ
ープ磁性層の厚み測定装置の一例を示す構成図である。
以下では、この図1などを参照して本発明の磁気テープ
磁性層の厚み測定装置の一例について説明し、同時に本
発明の磁気テープ磁性層の厚み測定方法の実施の形態例
について説明する。
【0013】図1に示したように、本実施の形態例の磁
気テープ磁性層の厚み測定装置2は、ビデオテープやデ
ーターストレージテープなどの磁気テープに形成された
磁性層の厚みを測定すべく、テープ搬送手段4、ヘッド
部6、信号発生器8、信号処理部10、表示機12など
を含んで構成されている。テープ搬送手段4は、パネル
14上に配置されたテープ送り出し側および巻き取り側
のリール16、18、ガイドローラー20、駆動ローラ
ー22、テンション調整機構24を含んでいる。リール
16、18の間にヘッド部6が配置され、リール16と
ヘッド部6の間、およびヘッド部6とリール18の間
に、それぞれ3つのガイドローラー20、駆動ローラー
22、テンション調整機構24が設けられている。
【0014】図2はガイドローラー20を詳しく示す斜
視図である。図2に示したように、ガイドローラー20
は、パネル14に垂直に立設された支軸26の先端側
に、不図示のボールベアリングを介して回転可能に取り
付けられ、その両端部には鍔28が形成されている。支
軸26は台座30上に立設され、台座30はパネル14
に対してネジ穴32を介してネジ止めされる。各ガイド
ローラー20のパネル面からの高さLは、ヘッド部6
(図1)の各ヘッドのパネル面からの高さに一致し、ま
た2つの鍔28の間隔Wは測定対象の磁気テープの幅に
ほぼ等しい長さとなっている。磁気テープは2つの鍔2
8の間に、磁気テープの表面をローラー面に接した状態
で配置され、磁気テープの側部の位置が鍔28により規
制されることから、磁気テープはガイドローラー20に
より幅方向の位置が安定した状態でガイドされ走行す
る。
【0015】図1に示した各駆動ローラー22は、パネ
ル14上に回転可能に立設された回転軸の先端部に取着
され、回転軸はパネル14の裏面側で不図示の駆動装置
に連結され、回転駆動される構成となっている。また、
各駆動ローラー22に対して、駆動ローラー22側に付
勢された抑えローラー34が配置され、磁気テープ36
は、抑えローラー34と駆動ローラー22とに挟まれ、
抑えローラー34により駆動ローラー22に押圧された
状態で駆動ローラー22により矢印Aの方向に一定の速
度で走行駆動される。
【0016】各テンション調整機構24は、矢印Bの方
向に付勢されたローラー部38を含み、走行中の磁気テ
ープ36は、このローラー部38により矢印Bの方向に
力が加えられ、その結果、テープテンションの過渡的変
化が吸収される。また、ローラー部38には、そのB方
向の位置に応じた大きさの電気信号を出力するサーボ用
検出器(図示せず)が取り付けられている。
【0017】リール16、18はパネル14に立設され
た回転軸に支持され、回転軸にはパネル14の裏面側で
不図示のモーターが連結されている。このモーターの回
転速度は、テンション調整機構24のローラー部38に
取り付けられた上記サーボ用検出器からの信号によりサ
ーボ制御され、リール16、18における磁気テープ3
6の巻き径が変化しても磁気テープ36には常に一定の
テンションがかかるように制御され、テープ走行の安定
化が図られている。
【0018】ヘッド部6は、記録ヘッド42、再生ヘッ
ド44、ならびに消去ヘッド46を含み、各ヘッドは2
つの駆動ローラー22の間に配置され、磁気テープ36
はその表面が各ヘッドの先端部に接した状態で走行す
る。記録ヘッド42には記録アンプ48が接続され、記
録アンプ48は、信号発生器8が発生する、交流バイア
ス信号を正弦波信号により変調した信号を増幅し駆動信
号として記録ヘッド42に供給する。記録ヘッド42は
この駆動信号により磁界を生成して駆動信号の大きさに
応じた強さで磁気テープ36の磁性層を磁化する。
【0019】再生ヘッド44は、磁気テープ36の磁性
層が生成する磁界を検出して電気信号を生成する。再生
ヘッド44に接続された信号処理部10は、本発明に係
わる厚み信号生成手段として機能し、再生ヘッド44の
出力信号を増幅、検波して磁気テープ36の磁性層の厚
みに対応した大きさの電気信号を出力する。信号処理部
10の出力信号は表示機12に供給され、表示機12
は、信号処理部10が磁気テープ36の走行とともに出
力する信号により、磁気テープ36に形成された磁性層
の厚みを、グラフ形式で連続的に表示する。表示機12
は本実施の形態例では一種のペンレコーダにより構成さ
れ、記録紙を一定速度で走行させつつ磁性層の厚みを記
録紙にプロットして表示する。消去ヘッド46は、消去
アンプ47からの信号により駆動して、磁気テープに記
録されている信号を消去するたのものである。
【0020】次に、このように構成された磁気テープ磁
性層の厚み測定装置2による磁性層の厚み測定について
説明する。本実施の形態例の磁気テープ磁性層の厚み測
定装置2により磁性層の厚みを測定するにあたっては、
まず、磁性層の厚みを容易に測定できる、たとえば非磁
性層を含まないタイプの磁気テープであって、磁性層の
厚みが異なるものをサンプルとして複数用意する。ただ
し、各磁気テープは、その種類は基本的に同一であり、
したがって、磁性材料の種類や、磁性層の大まかな厚
み、磁気テープの幅などは同じとする。
【0021】そして、これら磁性層の厚みが異なる複数
の磁気テープを順次、本実施の形態例の磁気テープ磁性
層の厚み測定装置2に装着し、磁気テープを走行させつ
つ、信号発生器8が発生した駆動信号を記録ヘッド42
に供給して磁気テープに信号を記録するとともに、再生
ヘッド44が再生した信号を信号処理部10により一定
の増幅度で増幅し、検波して再生信号を取得する。この
再生信号のレベルを、各磁気テープごとに記録する。
【0022】一方、各磁気テープにおける磁性層の厚み
を従来の方法で測定すべく、たとえば磁性層を溶剤によ
り除去する前と、後との磁気テープの厚みをマイクロメ
ーターにより測定し、差をとって磁性層の厚みを求め
る。これら磁気テープごとの再生信号レベルと磁性層の
厚みの測定値との関係から、信号処理部10の出力信号
の大きさが、磁性層の厚みを表す信号となるように、信
号処理部10において、たとえば再生ヘッド44からの
信号を増幅する際の増幅度を設定する。
【0023】その後、たとえば、従来は測定が難しかっ
た磁性層と非磁性層との同時塗布が行われた磁気テープ
を、磁性層の厚みを測定すべき磁気テープとして磁気テ
ープ磁性層の厚み測定装置2に装着する。ここで、測定
対象の磁気テープは、磁性層の厚みと再生信号レベルと
の関係を求めるために用いた上記複数の磁気テープと同
一種類のものとする。
【0024】磁気テープ磁性層の厚み測定装置2に装着
し磁気テープは磁気テープ磁性層の厚み測定装置2によ
り走行駆動され、走行する磁気テープに対して、信号発
生器8が発生した駆動信号により記録ヘッド42が駆動
されて信号が記録される。そして、再生ヘッド44は磁
気テープに記録された信号を再生し、信号処理部10
は、その信号を増幅、検波して、磁気テープに形成され
た磁性層の厚みを表す信号を出力する。表示機12は、
この信号処理部10が出力する信号の大きさにもとづ
き、磁性層の厚みをグラフ形式で連続的に表示する。
【0025】したがって、本実施の形態例では、測定対
象の磁気テープに対して従来のように磁性層を溶剤で剥
がしたり、あるいは磁気テープを切断して顕微鏡写真を
撮影するといった作業を行う必要がなく、さらに、VS
Mによる磁化量の測定も不要であり、単に、磁気テープ
を走行させて記録再生を行うのみの簡単な作業で短時間
のうちに、磁気テープ全体の磁性層の厚みを連続的に測
定することができる。これにより、磁気テープの製造に
おいて磁性層の厚み管理を容易に行えるようになり、安
定した品質の磁気テープを供給することが可能となる。
【0026】なお、本実施の形態例では、サンプル用の
磁気テープに対する従来の方法による厚み測定は一度だ
け行っておけばよいため、サンプル用磁気テープの厚み
測定にある程度の時間がかかったとしても、特に問題と
はならない。上記再生ヘッド44は1つのみならず複数
を設けて、磁気テープの幅方向における異なる箇所で磁
性層の厚みを測定する構成とすることも可能である。こ
の場合には、図3の正面図に示したように、たとえば2
つの再生磁気ヘッド54、56を磁気テープ36の幅方
向Cに並設する。記録ヘッドとしては、再生ヘッドと同
様、2つの記録ヘッドを再生ヘッド54、56に対応し
て設けてもよく、また磁気テープ36の幅方向のたとえ
ば全体に記録を行える1つの記録ヘッドを設けてもよ
い。そして、信号処理部10は、各再生ヘッド54、5
6の再生信号から各再生ヘッド54、56の位置におけ
る磁性層の厚みを表す信号を生成し、表示機12はこれ
らの信号より各位置の磁性層の厚みを表示する構成とす
る。このような構成では、磁気テープの幅方向における
異なる箇所で磁性層の厚みを測定することができるの
で、磁性層の厚みに関する情報が増え、磁気テープの磁
性層の厚み管理をいっそう確実に行うことができる。
【0027】また、信号発生器8が、本来の記録信号と
ともに継続時間の短いマーク信号を周期的に発生する構
成とすることも有効である。この場合には、周期的にマ
ーク信号を含む駆動信号が記録ヘッド42に供給され、
磁性層は、マーク信号により、マーク信号以外の期間と
は異なる強度で磁化される。したがって、再生信号には
これらのマーク信号に対応した信号が含まれ、その結
果、表示機12が表示するグラフは、周期的に値が変化
してマーキングされることになる。図4はこのようなマ
ーキングMを含む、表示機12による表示結果の一例を
示すグラフである。
【0028】そして、このマーキングMの間隔は、マー
ク信号の周期、テープ走行速度、ならびに表示機12に
おける記録紙の走行速度によって決まり、したがってマ
ーキングの位置から磁気テープ上の位置を特定できる。
よって、記録紙上に、特に磁性層の厚さの変動が大きい
箇所が存在したような場合、その変動が磁気テープのど
の位置で発生しているかを、マーキングから容易に特定
することができる。
【0029】また、本実施の形態例では、信号処理部1
0で、その増幅度を設定して磁性層の厚みを表す信号を
出力するとしたが、表示機12にたとえば増幅回路を設
けて信号処理部10の出力信号を増幅する構成とし、そ
の増幅度をサンプルテープの測定結果にもとづいて設定
するようにすることも可能である。この場合には、表示
機12が、本発明の厚み信号生成手段として機能するこ
とになる。
【0030】磁気テープのテープ幅は、磁気テープの用
途に応じて種々のものが用いられている。本実施の形態
例においては、これらテープ幅の異なる各種の磁気テー
プに対して磁性層の厚み測定を行うには、磁気テープの
幅に応じてガイドローラー20を単に交換するのみでよ
い。すなわち、ガイドローラー20として、図2に示し
た2つの鍔28の間隔が、測定する磁気テープの幅に適
合するものを用いればよく、ガイドローラー20の交換
は、ネジ止めされている台座30をパネル14から外
し、新しいガイドローラー20を代わりにパネル14に
取り付ければよい。なお、実際に使用されている磁気テ
ープの幅は、25.4mm、19.1mm、12.7m
m、6.35mm、3.81mmなどであり、鍔28の
間隔をこれらの値にもとづいて設定したガイドローラー
を用いることで、各テープ幅の磁気テープに対応でき
る。
【0031】磁気テープ磁性層の厚み測定装置2により
磁性層の厚みを測定する磁気テープは、製造途中の中間
製品であったり、あるいは磁気テープの製品、すなわち
完成品であってもよい。また、アナログ的に信号を記録
する磁気テープのみならず、デジタル的に信号を記録す
る磁気テープも、本実施の形態例により、その磁性層の
厚みを測定することができる。
【0032】さらに、本実施の形態例では、ベース層の
上に単に磁性と非磁性層の2層が形成された磁気テープ
だけでなく、さらに多層の磁気テープに対して磁性層の
厚みを測定することができる。また逆に、従来からのベ
ース層の上に直接、磁性層が形成された磁気テープに対
しても本実施の形態例により磁性層の厚みを測定するこ
とができる。
【0033】
【実施例】記録ヘッド42や再生ヘッド44は、100
Hz〜10kHzの正弦波信号を記録できるような材料
によって形成され、またそのようなギャップを有するも
のを用いることが好ましい。そして、種類の異なる磁気
テープに対して測定を行う場合には、記録ヘッド42お
よび再生ヘッド44は、最も保持力の大きい磁気テープ
に対しても記録再生が行えるようなものとしておく。表
示機12としては、具体的にはB&K社のレベルレコー
ダType2307を用いることができるが、かならず
しもこの機種に限定されるものではない。磁性層の厚み
の測定にあたっては、上述のように、あらかじめ厚みの
異なる複数の磁気テープのサンプルを用意して、その磁
性層の厚み、および出力信号レベルを測定するが、磁性
層の厚みの種類は少なくとも3種類とすることが望まし
い。記録ヘッド42に供給する駆動信号、および磁気テ
ープ36の走行速度は、磁気テープの組成および磁性層
の厚みに応じて適切に設定する。駆動信号の大きさにつ
いては、再生信号の歪み率が3%を越えないように設定
する。周波数および走行速度は、次式にもとづいて選択
することができる。
【0034】[数1] f = v/λ ただし、fは駆動信号の周波数、vは磁気テープの走行
速度、λは磁気テープにおける記録波長である。なお、
磁気テープの走行中に磁気テープがヘッドから離れた場
合に起こるスペーシングロスの影響を小さくするために
は、記録波長が長くなるように周波数および走行速度を
設定することが望ましい。図5は、実際に磁性層の厚み
が異なる5つの磁気テープサンプルにより、信号処理部
の出力信号レベルを測定し、また従来法により磁性層の
厚みを測定して、出力信号レベルと磁性層の厚みとの関
係をプロットしたグラフである。図中、横軸は、磁性層
の厚みが2.4μm弱のサンプルの場合の再生信号レベ
ルを基準にした再生信号レベルの相対値を表し、縦軸は
磁性層の厚みを表している。このグラフから分かるよう
に、再生信号レベルと磁性層の厚みとはリニアな関係に
あり、詳しくは、再生信号レベルをX、厚みをYとした
場合、Yは次式により表すことができる。
【0035】[数2] Y = 1.881 + 1.027X この式と実測値との相関係数R2はR2=0.993と
計算でき、[数1]は磁性層の厚みをきわめて良好に表
していると言える。信号処理部10の増幅度は、この関
係にもとづいて信号処理部10の出力信号レベルが磁性
層の厚みを表すように設定する。その後、上記サンプル
と基本的に同一種類の被測定対象の磁気テープを厚み測
定装置2に装着して磁性層の厚みを測定することになる
が、その際には、周波数、走行速度、記録信号の大きさ
などの条件は、無論、サンプル磁気テープの測定を行っ
た場合と同じ条件に設定する。
【0036】次に、磁気テープ磁性層の厚み測定装置2
による磁性層厚み測定の具体例について説明する。 (1)ビデオテープレコーダ用磁気テープ 業務用デジタルビデオレコーダであるソニー株式会社製
β−camSXに使用する磁気テープは、磁性層と非磁
性層の同時塗布が行われている。そのため、従来、製造
時に磁性層の厚み管理に時間がかかっていたが、本発明
により磁性層の厚み測定を行うことで、管理がきわめて
容易となる。
【0037】このβ−camSXに使用する磁気テープ
の磁性層の厚みを上記実施の形態例の磁気テープ磁性層
の厚み測定装置2で測定する場合、まず、上述のように
非磁性層を含まず、そして磁性層の厚みが異なるたとえ
ば5種類の磁気テープを用意し、各磁気テープごとに上
述のような測定を行って、磁性層の厚みと再生信号レベ
ルとの関係を求め、信号処理部10の出力信号の大きさ
が磁性層の厚みに対応する大きさとなるように信号処理
部10の増幅度を設定する。
【0038】磁気テープ磁性層の厚み測定装置2では、
テープスピードとしては、テープ走行の安定性のため、
5cm/s〜30cm/s、好ましくは12cm/sに
設定する。また、記録信号の周波数(交流バイアスを変
調する信号の周波数)は、信号処理部10を構成する増
幅回路の能力から、100Hz〜10kHz、好ましく
は1kHzとする。
【0039】図6は、このような条件で再生信号レベル
を測定し、磁性層の厚みとの関係をプロットしたグラフ
である。図中、横軸は、磁性層の厚みが1.4μm強の
サンプルの場合の再生信号レベルを基準にした再生信号
レベルの相対値を表し、縦軸は磁性層の厚みを表してい
る。このグラフから分かるように、再生信号レベルと磁
性層の厚みとはリニアな関係にあり、これにもとづいて
信号処理部10の増幅度を、信号処理部10の出力信号
レベルが磁性層の厚みを表すものとなるように設定す
る。その後、磁性層とともに非磁性層が形成された実際
のβ−camSX用の磁気テープを磁気テープ磁性層の
厚み測定装置2に装着し、磁性層の厚み測定を行う。図
7の(A)および(B)はβ−camSX用の異なる2
本の磁気テープの磁性層の厚みをそれぞれ実測した結果
を示すグラフである。このグラフはレベルレコーダから
成る表示機12が記録紙にプロットしたものであり、横
軸は時間(磁気テープの長手方向の位置に対応)を表
し、縦軸は磁性層の厚みを表している。なお、記録紙の
走行速度は3mm/sとした。このようなグラフから、
単に磁性層の厚みが分かるのみならず、磁気テープ長手
方向の広い範囲における磁性層の厚みのむらも容易に把
握することができる。
【0040】(2)データーストレージ用磁気テープ コンピューターのデーター記録に用いる磁気テープは、
その高密度化の要求から磁性層の薄膜化が進められてい
る。そのため磁性層の厚みは0.5μm以下と薄く、磁
性層の厚み測定はいっそう困難であり、製造時の磁性層
の厚み管理が難しかった。しかし、本発明により磁性層
の厚みの測定および管理がきわめて容易となる。
【0041】この場合にも、まず、上述のように非磁性
層を含まず、そして磁性層の厚みが異なる5種類のデー
ターストレージ用の磁気テープを用意し、各磁気テープ
ごとに上述のような測定を行って、磁性層の厚みと再生
信号レベルとの関係を求め、信号処理部10の増幅度を
設定する。磁気テープ磁性層の厚み測定装置2では、テ
ープスピードとしては、テープ走行の安定性のため、5
cm/s〜30cm/s、好ましくは12cm/sに設
定する。また、記録信号の周波数は、300Hz〜8k
Hz、好ましくは1kHzとする。
【0042】図8は、このような条件で再生信号レベル
を測定し、磁性層の厚みとの関係をプロットしたグラフ
である。図中、横軸は再生信号レベルの相対値を表し
(磁性層の厚みが約0.27μmであるサンプルの再生
信号レベルを基準)、縦軸は磁性層の厚みを表してい
る。このグラフから分かるように、再生信号レベルと磁
性層の厚みとはリニアな関係にあり、これにもとづいて
信号処理部10の増幅度を、信号処理部10の出力信号
レベルが磁性層の厚みを表すものとなるように設定す
る。
【0043】その後、磁性層とともに非磁性層が形成さ
れた実際のデーターストレージ用磁気テープを磁気テー
プ磁性層の厚み測定装置2に装着し、磁性層の厚み測定
を行う。図9の(A)および(B)はデーターストレー
ジ用の異なる2本の磁気テープの磁性層の厚みをそれぞ
れ実測した結果を示すグラフである。このグラフは上述
の場合と同様、レベルレコーダから成る表示機12が記
録紙にプロットしたものであり、横軸は時間(磁気テー
プの長手方向の位置に対応)を表し、縦軸は磁性層の厚
みを表している。記録紙の走行速度は3mm/sとし
た。このグラフから、磁性層の厚みが分かり、そして磁
気テープ長手方向の広い範囲における磁性層の厚みのむ
らを容易に把握することができる。
【0044】
【発明の効果】以上説明したように本発明では、磁気テ
ープを走行させつつ記録ヘッドにより磁気テープの磁性
層を磁化し、その結果を再生ヘッドにより検出する。そ
して、再生ヘッドの出力信号の大きさから磁性層の厚み
を表す信号を生成し、その信号により磁性層の厚みを表
示する。したがって、従来のように磁性層を溶剤で剥が
したり、あるいは磁気テープを切断して顕微鏡写真を撮
影する必要がなく、さらに、VSMによる磁化量の測定
も不要であり、単に、磁気テープを走行させて記録再生
を行うのみの簡単な作業で短時間のうちに、磁気テープ
全体の磁性層の厚み情報を連続的に測定することができ
る。これにより、磁気テープの製造において磁性層の厚
み管理を容易に行えるようになり、安定した品質の磁気
テープを供給することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による磁気テープ磁性層の厚み測定装置
の一例を示す構成図である。
【図2】ガイドローラーを詳しく示す斜視図である。
【図3】他の実施の形態例を構成する再生ヘッド周辺を
示す正面図である。
【図4】マーキングが行われた表示機による表示結果の
一例を示すグラフである。
【図5】実測にもとづく再生信号レベルと磁性層の厚み
との関係を例示するグラフである。
【図6】β−camSX用磁気テープで測定した再生信
号レベルと磁性層の厚みとの関係をプロットしたグラフ
である。
【図7】(A)および(B)はβ−camSX用の異な
る2本の磁気テープの磁性層の厚みをそれぞれ実測した
結果を示すグラフである。
【図8】データーストレージ用磁気テープで測定した再
生信号レベルと磁性層の厚みとの関係をプロットしたグ
ラフである。
【図9】(A)および(B)はデーターストレージ用の
異なる2本の磁気テープの磁性層の厚みをそれぞれ実測
した結果を示すグラフである。
【図10】多層構造を有する磁気テープの一例を拡大し
て示す構成図である。
【符号の説明】
2……測定装置、4……テープ搬送手段、6……ヘッド
部、8……信号発生器、10……信号処理部、12……
表示機、14……パネル、16、18……リール、20
……ガイドローラー、22……駆動ローラー、24……
テンション調整機構、26……支軸、28……鍔、34
……抑えローラー、36……磁気テープ、38……ロー
ラー部、42……記録ヘッド、44……再生ヘッド、4
6……消去ヘッド、48……記録アンプ、54、56…
…再生ヘッド。

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 磁気テープを前記磁気テープの長手方向
    に走行させ、 前記磁気テープの表面に接触させた記録ヘッドに駆動信
    号を供給して前記磁気テープの磁性層を磁化し、 前記磁気テープの表面に接触させた再生ヘッドにより前
    記磁気テープの前記磁性層が形成する磁界の強さを検出
    して磁界の強さを表す電気信号を生成し、 前記磁界の強さを表す電気信号の大きさにもとづき前記
    磁気テープの前記磁性層の厚みに対応した大きさの電気
    信号を生成し、 同電気信号の大きさにしたがって前記磁性層の厚みを表
    示することを特徴とする磁気テープ磁性層の厚み測定方
    法。
  2. 【請求項2】 前記磁性層の厚みは、前記磁気テープ上
    の磁気テープ長手方向の位置による変化をグラフ形式で
    表示することを特徴とする請求項1記載の磁気テープ磁
    性層の厚み測定方法。
  3. 【請求項3】 前記磁性層の厚みの変化は連続的に表示
    することを特徴とする請求項2記載の磁気テープ磁性層
    の厚み測定方法。
  4. 【請求項4】 交流バイアス信号を正弦波信号により変
    調した信号を前記記録ヘッドに供給することを特徴とす
    る請求項1記載の磁気テープ磁性層の厚み測定方法。
  5. 【請求項5】 周期的にマーク信号を含む駆動信号を前
    記記録ヘッドに供給して、前記マーク信号により、前記
    マーク信号以外の期間とは異なる強度で前記磁性層を磁
    化することを特徴とする請求項1記載の磁気テープ磁性
    層の厚み測定方法。
  6. 【請求項6】 前記再生ヘッドは、前記磁気テープの幅
    方向に複数を配列することを特徴とする請求項1記載の
    磁気テープ磁性層の厚み測定方法。
  7. 【請求項7】 前記記録ヘッドにより、前記磁気テープ
    のほぼ全幅の範囲において前記磁性層を磁化することを
    特徴とする請求項6記載の磁気テープ磁性層の厚み測定
    方法。
  8. 【請求項8】 前記磁気テープは多層構造を有し、ベー
    ス層と、前記磁性層との間に非磁性層が形成されている
    ことを特徴とする請求項1記載の磁気テープ磁性層の厚
    み測定方法。
  9. 【請求項9】 磁気テープを前記磁気テープの長手方向
    に走行させる磁気テープ搬送手段と、 前記磁気テープ搬送手段により走行する前記磁気テープ
    の表面に接して配置され、与えられた駆動信号にもとづ
    き前記磁気テープの磁性層を磁化する記録ヘッドと、 前記走行する磁気テープの表面に接して配置され前記磁
    気テープの前記磁性層が形成する磁界を検出して前記磁
    界の強さを表す電気信号を出力する再生ヘッドと、 前記再生ヘッドの出力信号の大きさにもとづき前記磁気
    テープの前記磁性層の厚みに対応した大きさの電気信号
    を出力する厚み信号生成手段と、 前記厚み信号生成手段の出力信号の大きさにもとづき前
    記磁性層の厚みを表示する厚み表示手段とを備えたこと
    を特徴とする磁気テープ磁性層の厚み測定装置。
  10. 【請求項10】 前記厚み表示手段は、前記磁気テープ
    上の磁気テープ長手方向の位置による前記磁性層の厚み
    の変化をグラフ形式で表示することを特徴とする請求項
    9記載の磁気テープ磁性層の厚み測定装置。
  11. 【請求項11】 前記厚み表示手段は、前記磁性層の厚
    みの変化を連続的に表示することを特徴とする請求項1
    0記載の磁気テープ磁性層の厚み測定装置。
  12. 【請求項12】 交流バイアス信号を正弦波信号により
    変調した前記駆動信号を前記記録ヘッドに供給する信号
    発生手段を備えたことを特徴とする請求項9記載の磁気
    テープ磁性層の厚み測定装置。
  13. 【請求項13】 周期的にマーク信号を含む前記駆動信
    号を前記記録ヘッドに供給して、前記マーク信号によ
    り、前記マーク信号以外の期間とは異なる強度で前記磁
    性層を磁化させる信号発生手段を備えたことを特徴とす
    る請求項9記載の磁気テープ磁性層の厚み測定装置。
  14. 【請求項14】 前記磁気テープの幅方向に配列された
    複数の前記再生ヘッドを含むことを特徴とする請求項9
    記載の磁気テープ磁性層の厚み測定装置。
  15. 【請求項15】 前記記録ヘッドは、前記磁気テープの
    ほぼ全幅の範囲において前記磁性層を磁化することを特
    徴とする請求項9記載の磁気テープ磁性層の厚み測定装
    置。
  16. 【請求項16】 前記磁気テープの走行方向に直交する
    とともに前記磁気テープの表面に平行に延在する軸を中
    心に回転可能に支持された、前記磁気テープをガイドす
    るガイドローラーを含み、前記ガイドローラーは両端部
    に鍔を有し、前記2つの鍔の間隔は前記磁気テープの幅
    にほぼ等しく、前記磁気テープは2つの鍔の間に、表面
    をガイドローラーのローラー面に接して配置されること
    を特徴とする請求項9記載の磁気テープ磁性層の厚み測
    定装置。
  17. 【請求項17】 前記ガイドローラーは、前記磁気テー
    プの幅に応じて、前記2つの鍔の間隔が異なるガイドロ
    ーラーに交換可能であることを特徴とする請求項16記
    載の磁気テープ磁性層の厚み測定装置。
  18. 【請求項18】 前記磁気テープは多層構造を有し、ベ
    ース層と、前記磁性層との間に非磁性層が形成されてい
    ることを特徴とする請求項9記載の磁気テープ磁性層の
    厚み測定装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2006059472A (ja) * 2004-08-20 2006-03-02 Sony Corp リニアテープドライブ装置
WO2006027921A1 (ja) * 2004-09-03 2006-03-16 Kazuma Toyama ディスク型情報記録メディア及び磁気カードの情報判読を不能とした廃棄方法及び器具装置
JP2006228385A (ja) * 2005-02-21 2006-08-31 Hitachi Maxell Ltd 磁気記録媒体の評価方法および装置

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