JP2003015042A - 微分干渉顕微鏡 - Google Patents

微分干渉顕微鏡

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JP2003015042A JP2001194889A JP2001194889A JP2003015042A JP 2003015042 A JP2003015042 A JP 2003015042A JP 2001194889 A JP2001194889 A JP 2001194889A JP 2001194889 A JP2001194889 A JP 2001194889A JP 2003015042 A JP2003015042 A JP 2003015042A
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Kumiko Matsutame
久美子 松爲
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    • G02OPTICS
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    • G02B21/14Condensers affording illumination for phase-contrast observation

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  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
  • Polarising Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 視野の均一性を確保できる微分干渉顕微鏡を
提供すること。 【解決手段】 光源1からの照明光はコレクタレンズ2
によって集光された後、ビームスプリッタBS1で反射
されてコンデンサレンズの役割を兼ねた対物レンズ3へ
向かい、対物レンズ3を介して標本4を照明する。標本
4上で反射された照明光は対物レンズ3によって集光さ
れ、ビームスプリッタBS1を透過した成分が結像して
拡大像5を形成する。コレクタレンズ2とビームスプリ
ッタBS1の間の光路中には偏光子P1が、ビームスプ
リッタBS1と対物レンズ3の間の光路中には、対物レ
ンズ3の後側焦点面近傍に、光軸Iに垂直な平面γ対し
て傾き角度ηとなるように傾けて配置したノマルスキィ
プリズムからなる複屈折光学部材BP1が、またビーム
スプリッタBS1と拡大像5の間の光路中には検光子A
1がそれぞれ配置されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、微分干渉顕微鏡、
特に複屈折光学部材を用いた微分干渉顕微鏡に関する。
【0002】
【従来技術】従来の微分干渉顕微鏡における光学系の構
成の一例として、反射型微分干渉顕微鏡がある。
【0003】この、反射型微分干渉顕微鏡では、光源か
らの照明光はコレクタレンズによって集光された後、ビ
ームスプリッタで反射されてコンデンサレンズの役割を
兼ねた対物レンズへ向かい、対物レンズを介して標本を
照明する。標本上で反射された照明光は対物レンズによ
って集光され、ビームスプリッタを透過した成分が結像
して拡大像を形成する。コレクタレンズとビームスプリ
ッタの間の光路中には偏光子が、ビームスプリッタと対
物レンズの間の光路中には対物レンズの後側焦点面近傍
に複屈折光学部材が複屈折光学部材の表面で発生する反
射光の影響を除くために僅か(数度以内)に傾けて、ま
たビームスプリッタと拡大像の間の光路中には検光子が
それぞれ配置されている。
【0004】上記従来例において複屈折光学部材として
一般に用いられるウォラストンプリズムやノマルスキィ
プリズムは、複屈折性をもつ光学材料、たとえば水晶や
方解石の様な結晶等からなる楔型プリズムを、それぞれ
の光学軸の方向が互いに直交するように2枚張り合わせ
たものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述のような微分干渉
顕微鏡においては、ウォラストンプリズムやノマルスキ
ィプリズムに用いられる結晶特有の収差のため、像に図
6に示すような観察視野内の明るさや色づきのむらが生
じ、視野内の均一性が失われるという問題点があった。
このむらは一般に視野周辺部のシア方向およびシア方向
と垂直な方向に現れる。そこで、この問題を解決しよう
としたのが特公昭61−3409号や、特開平2−15
1825に記載の装置であった。
【0006】しかし、特公昭61−3409号に記載の
装置は、結晶特有の収差により生じる位相差を相殺する
ために、結晶からなる補償板を新たに追加する必要があ
った。また、特開平2−151825に記載の装置にお
いては、同じく位相差を相殺するために、正結晶と負結
晶という光学的に逆の性質をもつ結晶を組み合わせて用
いる必要があった。一般に、結晶材料は高価であり、特
に負結晶材料は正結晶材料に比べて高価でかつ加工難易
度の高い材料が多い。
【0007】本発明は、上記問題に鑑みてなされたもの
であり、結像面上でのむらを除去し、高コントラストで
良好な微分干渉像の得られる微分干渉顕微鏡を提供する
ことを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では、所定の振動方向を持つ偏光光を、複屈
折光学部材へ入射させて、偏光方向が互いに直交する2
つの直線偏光成分に分離し、分離された該2つの直線偏
光成分を対物レンズを介して被検物へ照射し、該被検物
を反射した前記2つの直線偏光成分を前記対物レンズを
経由させて、前記複屈折光学部材へ導いて1つの光に合
成し、合成された光束の両直線偏光成分を偏光干渉さ
せ、干渉した光束により前記被検物の前記対物レンズに
よる像を形成する微分干渉顕微鏡において、前記複屈折
光学部材は楔面と基準面を有し、光軸と楔面法線を含む
面内において、前記光軸と垂直な平面に対して16度以
上40度以下の範囲で楔角方向に傾けて配置されている
ことを特徴とする微分干渉顕微鏡を提供する。
【0009】また、本発明の微分干渉顕微鏡では、前記
複屈折光学部材は、ノマルスキィプリズムであることが
好ましい。
【0010】さらに、本発明では、所定の振動方向を持
つ偏光光を、第1の複屈折光学部材へ入射させて、偏光
方向が互いに直交する2つの直線偏光成分に分離し、分
離された該2つの直線偏光成分を照明光学系を経由させ
て被検物へ照射し、該被検物を反射あるいは透過した前
記2つの直線偏光成分を対物レンズを経由させて、第2
の複屈折光学部材へ導いて1つの光に合成し、合成され
た光束の両直線偏光成分を偏光干渉させ、干渉した光束
により前記被検物の前記対物レンズによる像を形成する
微分干渉顕微鏡において、前記第1および第2の複屈折
光学部材は楔面と基準面を有し、光軸と楔面法線を含む
面内において、前記第1および第2の複屈折光学部材の
少なくとも一方は、前記光軸と垂直な平面に対して16
度以上40度以下の範囲で楔角方向に傾けて配置されて
いることを特徴とする微分干渉顕微鏡を提供する。
【0011】また、本発明の微分干渉顕微鏡では、前記
第1の複屈折光学部材と前記第2の複屈折光学部材の少
なくとも一方は、ノマルスキィプリズムであることが好
ましい。
【0012】さらに、より好ましい傾き角度の範囲は、
25度以上35度以下である。
【0013】
【発明の実施形態】本発明の実施形態を図面を参照しつ
つ説明する。
【0014】図1は、本発明の第1の実施形態である反
射型微分干渉顕微鏡の光学系の概略図であり、図2は、
複屈折光学部材BP1の拡大説明図である。
【0015】図1に示す反射型微分干渉顕微鏡におい
て、光源1からの照明光はコレクタレンズ2によって集
光された後、ビームスプリッタBS1で反射されてコン
デンサレンズの役割を兼ねた対物レンズ3へ向かい、対
物レンズ3を介して標本4を照明する。標本4上で反射
された照明光は対物レンズ3によって集光され、ビーム
スプリッタBS1を透過した成分が結像して拡大像5を
形成する。コレクタレンズ2とビームスプリッタBS1
の間の光路中には偏光子P1が配置されている。ビーム
スプリッタBS1と対物レンズ3の間の光路中には、対
物レンズ3の後側焦点面近傍に複屈折光学部材BP1が
配置されている。複屈折光学部材BP1はノマルスキィ
プリズムからなり、光軸Iに垂直な平面γ対して傾き角
度ηとなるようにプリズムの楔角方向(図2のθ方向)
に傾けて配置されている。またビームスプリッタBS1
と拡大像5の間の光路中には検光子A1が配置されてい
る。
【0016】上記配置において、コレクタレンズ2を介
して集光された光源1からの照明光は偏光子P1によっ
て直線偏光となり、次にビームスプリッタBS1により
反射された後、複屈折光学部材BP1の複屈折作用によ
り常光線と異常光線とに分離される。これら2光線は振
動方向が光軸に垂直でかつ互いに直交する直線偏光であ
る。分離した2光線は複屈折光学部材BP1を通過後わ
ずかな分離角をもって進行し、対物レンズ3の集光作用
によって互いにわずかに離れた平行光線に変換され試料
4に到達する。このとき、平行光線のわずかな分離量の
ことをシア量といい、また試料面上において平行光線が
分離する方向のことをシア方向という。試料4上のわず
かに離れた位置で反射した2光線は、対物レンズ3の集
光作用により複屈折光学部材BP1上に集光し、複屈折
光学部材BP1の複屈折作用により1つの光線となり同
一光路上を進行し、複屈折光学部材BP1を透過する。
そして検光子A1により互いに直交する直線偏光中の同
一方向振動成分だけが取り出されて干渉し、試料4上の
わずかに異なる位置で反射する際に2光線間に付与され
た位相差に応じた干渉縞が拡大像5として観察される。
【0017】複屈折光学部材BP1の拡大図を、図2
(a)に示す。図2(a)において、複屈折光学部材の
BP1の基準面をα、楔面をβとし、光軸Iに対して垂
直な平面をγとすると、複屈折光学部材BP1は、該複
屈折光学部材BP1の基準面αが光軸Iと垂直な平面γ
に対してなす角度ηが、16度以上40度以下の範囲と
なるように、傾けて配置されている。ここに基準面α
は、光軸Iおよび光軸Iと垂直な平面γの交点Rを通
り、複屈折光学部材の上面と平行な平面である。光軸上
の光線Lは、複屈折光学部材BP1を通過することによ
り光線LoとLeに分離し、複屈折光学部材BP1の外
部の光線分離面Qで2光線LoとLeは交わる。ここで
楔角方向は基準面αに対する楔面βの傾き方向(θ方
向)とする。
【0018】以下、第1の実施形態における複屈折光学
部材BP1の傾き角ηと、シア方向のむらについて説明
する。
【0019】図2(a)において、交点Rを通る基準面
αの法線をNとし、複屈折光学部材BP1を構成する2
枚の水晶製楔型プリズムの法線Nに沿った厚さをそれぞ
れd1、d2とする。また、楔面βの、基準面αに対す
る傾き角度をθとする。具体的には、d1=d2=0.
5mm、θ=15分とし、2枚目の楔型プリズムにおけ
る光学軸の基準面αに対する角度はゼロ、すなわち光学
軸は基準面αに平行とする(図2の矢印)。このとき、
複屈折光学部材BP1の傾き角度ηをゼロから順次大き
くしていったときに、シア方向のむらがどのように変化
するかを計算したのが、図3のグラフである。
【0020】図3において、横軸は複屈折光学部材BP
1の傾き角度η、縦軸は顕微鏡像のシア方向最外視野に
おける視野中心に対するむら量を、位相差(リターデー
ション量(nm))で表したものである。ただし、複屈
折光学部材BP1は水晶からなるものとし、光源の波長
は546nmとした。また、顕微鏡像の最外視野位置に
おける主光線L1、L2は、光線分離面Qにおける光軸
Iと成す角度δ1、δ2(図2(b))がそれぞれ−
3.6度、+3.6度であると仮定して計算をおこなっ
た。図3より、傾き角度ηが増加するに従って、むら量
が減っていき、η=33度付近でむら量が略ゼロとなっ
ているのがわかる。さらに傾き角度ηが増加していくと
今度はむら量がマイナス方向に増加していく。以上の説
明より、複屈折光学部材BP1の傾き角度ηを増加して
いくと、シア方向のむら量はある傾き角度ηの範囲内で
大幅に減少することが、数値計算上明らかになった。
【0021】この現象を模式的に説明すると、次のよう
になる。今、図2(b)において、光軸上の光線をLと
すると、シア方向最外視野の主光線はL1およびL2と
なる。また基準面αと紙面の交線をX軸とし、交点Rで
X=0、そこから右方向にX>0とする。さらに、図2
(a)、(b)の傾き角度ηの状態をη>0とする。こ
のとき、傾き角度η=0において主光線L1およびL2
が基準面αと交わる点のX座標をそれぞれR1、R2、
η>0において主光線L1およびL2が基準面αと交わ
る点のX座標をそれぞれR1’、R2’とすると、|R
1’|>|R1|=|R2|>|R2’|が成り立つ
(ここで記号||は絶対値をあらわす)。
【0022】X軸座標を横軸にとり、光線L、L1およ
びL2に発生するむら量すなわち位相差を縦軸Yにとっ
たグラフを、図4に示す。図中黒丸はP点、すなわち光
軸上の光線Lにおけるむら量を表している。また、黒三
角は傾き角度η=0における光線L1およびL2のむら
量をあらわす。このとき光線L1とL2におけるむら量
は同じである。次に複屈折光学部材BP1を傾け、η>
0の状態にすると、黒三角はそれぞれ矢印の方向に従っ
て白丸の方向へと移動する。すなわち、光線L1、L2
のむら量は傾き角度η=0の場合に比べて小さくなる。
その結果、傾き角度ηを0から次第に大きくしていく
と、視野内のむらは小さくなり、ある傾き角度ηの時に
むら量は略ゼロとなる。
【0023】実際には、むら量がゼロとなるηの値は複
屈折光学部材BP1の構成によって異なるが、様々な構
成の複屈折光学部材に関して計算を行った結果、望まし
い傾き角度ηの範囲はおおよそ16度から40度の範囲
に入ることがわかった。図3は、複屈折光学部材の厚さ
(d1およびd2)を0.5mm、0.75mm、1.
0mmと変化させた場合のむら量(位相差:nm)と複
屈折光学部材の傾き角度η(deg)との関係を示して
いる。複屈折光学部材は水晶などの結晶部材からなり、
複屈折光学部材の厚さとむら量は比例関係にあるため、
厚さが薄いほどむら量が解消されて良いが、製品の製造
上、製作可能な厚さを極端に薄くすることもできない。
また反対に、極端に薄くすると図6に示すむらが悪化し
てしまう。このような事情から複屈折光学部材の厚さ
は、約0.5mmから約1mm程度のものが実用的であ
る。
【0024】顕微鏡の観察像としてクリアな像が望める
むら量は約±10nm範囲であると考えられる。図3に
おいて、複屈折光学部材の厚さが0.5mm(実用的な
厚さとしての下限値)の場合、むら量が約±10nm範
囲に相当する傾き角度は約16度から40度である。ま
た、複屈折光学部材の厚さが1mmの場合、むら量が約
±10nm範囲に相当する傾き角度は約25度から35
度である。したがって、実用的に使われる厚さの複屈折
光学部材を傾けようとする場合には、傾き角度は約16
度から40度の範囲において可変にするのが良く、より
好ましくは約25度から35度の範囲とするのが良い。
【0025】なお、複屈折光学部材BP1の傾き角度η
を増加していくと、一般に光線分離面Qは基準面αから
遠ざかる。よって、複屈折光学部材BP1の傾き角度η
に応じて複屈折光学部材BP1の光軸方向位置をずらし
て、光線分離面Qと対物レンズ3の後側焦点面とを一致
させて用いる必要がある。
【0026】次に、本発明の第2の実施形態について図
面を参照しつつ説明する。
【0027】図5は、本発明に係る第2の実施形態の光
学系の概略図である。第2の実施形態は透過照明型の微
分干渉顕微鏡である。
【0028】図5は、試料24の下方に、光源21、偏
光子P2、第1の複屈折光学部材BP21、試料を照明
するためのコンデンサレンズ26を配置し、さらに対物
レンズ23と拡大像25の間に第2の複屈折光学部材B
P22と検光子A2を配置して透過照明型の微分干渉顕
微鏡が構成されている。ここで、第1の複屈折光学部材
BP21はコンデンサレンズ26の前側焦点面近傍に配
置され、第2の複屈折光学部材BP22は対物レンズ2
3の後側焦点面近傍に配置されている。
【0029】上記配置において、光源21からの照明光
は偏光子P2によって直線偏光となり、第1の複屈折光
学部材BP21の複屈折作用により常光線と異常光線と
に分離され、第1の複屈折光学部材BP21を通過後わ
ずかな分離角をもって進行し、コンデンサレンズ26の
集光作用によって互いにわずかに離れた平行光線に変換
され試料24に照射する。試料24上のわずかに離れた
位置を透過した2光線は、対物レンズ23の集光作用に
より第2の複屈折光学部材BP22上に集光し、第2の
複屈折光学部材BP22の複屈折作用により1つの光線
となり同一光路上を進行するようになる。そして検光子
A2により互いに直交する直線偏光中の同一方向振動成
分だけが取り出されて干渉し、試料24上のわずかに異
なる位置を透過する際に2光線間に付与された位相差に
応じた干渉縞が拡大像25として観察される。
【0030】上記構成において、第1および第2の複屈
折光学部材BP21、BP22の基準面をそれぞれα
1、α2、楔面をそれぞれβ1、β2とし、光軸Iに対
して垂直な平面をγとすると、第1および第2の複屈折
光学部材BP21、BP22は、該第1および第2の複
屈折光学部材BP21、BP22の基準面α1、α2が
光軸Iと垂直な平面γに対してそれぞれ傾き角度η1、
η2が、16度以上40度以下の範囲となるように、第
1および第2の複屈折光学部材BP21、BP22の少
なくともどちらか一方が傾けて配置されている。ここに
基準面α1、α2は、光軸Iおよび光軸Iと垂直な平面
γの交点Rを通り、第1および第2の複屈折光学部材B
P21、BP22のそれぞれの上面と平行な平面であ
る。
【0031】なお、第2の実施形態は試料を照明光が透
過するいわゆる透過照明型の微分干渉顕微鏡としたが、
第2の実施形態の照明光学系と結像光学系を斜めに向い
合わせて配置し、照明光学系からの光を試料面で反射さ
せて結像光学系に結像させる反射照明型の微分干渉顕微
鏡としても良い。
【0032】さらに、第2の実施形態における第1およ
び第2の複屈折光学部材BP21、BP22の構成、作
用および効果は第1の実施形態と同様であるので詳細な
説明を省略する。
【0033】なおまた、本説明においては、複屈折光学
部材BP1、BP21、BP22として、水晶製の楔型
プリズム2枚を接合したノマルスキィプリズムを用いた
が、実際には複屈折光学部材BP1、BP21、BP2
2の構成はこれに限定されるものではなく、他の結晶材
料を用いてプリズムを構成したり、2枚の接合ではなく
1枚の楔型プリズムのみから構成したり、あるいは2枚
以上の楔型プリズムの一部をガラス等の等方性物質で構
成したりしてもよい。
【0034】なお、この実施の形態は例に過ぎず、この
構成や形状に限定されるものではない。本発明の範囲内
において適宜修正、変更が可能である。
【0035】
【発明の効果】上述のように、本発明によれば複屈折光
学部材には安価で製造しやすい正結晶のみを用いてシア
方向について結晶収差を補償し、結像面上でのむらを除
去し、特に写真撮影に最適な、高コントラストで良好な
微分干渉像を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態の反射照明型微分干渉
顕微鏡の光学系の構成図である。
【図2】本発明の実施形態に用いる複屈折光学部材の拡
大図である。
【図3】本発明の効果を計算したグラフである。
【図4】本発明の原理説明図である。
【図5】本発明の第2の実施形態の透過照明型微分干渉
顕微鏡の光学系の構成図である。
【図6】顕微鏡視野内のむらをあらわす説明図である。
【符号の説明】
1、21、 光源 2、22、 コレクタレンズ 3、23、 対物レンズ 4、24、 試料 5、25、 拡大像 26 コンデンサレンズ P1、P2、 偏光子 A1、A2、 検光子 BS1、 ビームスプリッタ BP1 複屈折光学部材 BP21 第1の複屈折光学部材 BP22 第2の複屈折光学部材
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G02B 21/14 G02B 21/14 27/28 27/28 Z

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】所定の振動方向を持つ偏光光を、複屈折光
    学部材へ入射させて、偏光方向が互いに直交する2つの
    直線偏光成分に分離し、分離された該2つの直線偏光成
    分を対物レンズを介して被検物へ照射し、該被検物を反
    射した前記2つの直線偏光成分を前記対物レンズを経由
    させて、前記複屈折光学部材へ導いて1つの光に合成
    し、合成された光束の両直線偏光成分を偏光干渉させ、
    干渉した光束により前記被検物の前記対物レンズによる
    像を形成する微分干渉顕微鏡において、 前記複屈折光学部材は楔面と基準面を有し、光軸と楔面
    法線を含む面内において、前記光軸と垂直な平面に対し
    て16度以上40度以下の範囲で楔角方向に傾けて配置
    されていることを特徴とする微分干渉顕微鏡。
  2. 【請求項2】前記複屈折光学部材は、ノマルスキィプリ
    ズムであることを特徴とする請求項1に記載の微分干渉
    顕微鏡。
  3. 【請求項3】所定の振動方向を持つ偏光光を、第1の複
    屈折光学部材へ入射させて、偏光方向が互いに直交する
    2つの直線偏光成分に分離し、分離された該2つの直線
    偏光成分を照明光学系を経由させて被検物へ照射し、該
    被検物を反射あるいは透過した前記2つの直線偏光成分
    を対物レンズを経由させて、第2の複屈折光学部材へ導
    いて1つの光に合成し、合成された光束の両直線偏光成
    分を偏光干渉させ、干渉した光束により前記被検物の前
    記対物レンズによる像を形成する微分干渉顕微鏡におい
    て、 前記第1および第2の複屈折光学部材は楔面と基準面を
    有し、光軸と楔面法線を含む面内において、前記第1お
    よび第2の複屈折光学部材の少なくとも一方は、前記光
    軸と垂直な平面に対して16度以上40度以下の範囲で
    楔角方向に傾けて配置されていることを特徴とする微分
    干渉顕微鏡。
  4. 【請求項4】前記第1の複屈折光学部材と前記第2の複
    屈折光学部材の少なくとも一方は、ノマルスキィプリズ
    ムであることを特徴とする請求項3に記載の微分干渉顕
    微鏡。
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