JP2003014803A - 長期安定化試験システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 長期間にわたってユーザーやセンサーから操
作入力を行ったり、システム機器の故障等あるいは停電
したと仮定して、この長期間の操作入力量を短期間に圧
縮して、被試験装置に不具合が出るかどうかを試験する
長期安定化試験システムを提供する。 【解決手段】 被試験装置２に接続され被試験装置２に
試験信号を伝送する試験信号生成装置１と、少なくとも
被試験装置２に接続され、被試験装置２の動作状況の把
握指標として制御プロセッサ２１の負荷率を取り込み表
示するモニタ装置３とを備え、試験信号生成装置１は、
試験者が試験内容を操作入力する設定入力部１１と、操
作入力された試験内容に応じて、被試験装置２の操作入
力部から制御プロセッサ２１へ与えるべき操作信号の代
わりに模擬的な前記試験信号を生成する試験信号生成部
１２とを有し、モニタ装置３が取得した前記負荷率に基
づいて、試験信号生成装置１から被試験装置２に前記試
験信号を伝送する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、被試験対象電子機
器である被試験装置への動作試験を行う長期安定化試験
システムに関し、被試験装置とは、すなわち負荷率値を
モニタ可能な制御プロセッサを制御部に搭載するもので
ある。さらに詳しくは、被試験装置になされる長期間に
わたる種々の入力(ユーザーの操作入力、センサー入
力、システム機器の電源ＯＮ／ＯＦＦ)について短期間
に試験し、被試験装置の不具合を検出する長期安定化試
験システムに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、各種電子機器の性能を検査するた
めの各種試験装置が提案されている。

【０００３】特開平１１−２１５５２１号公報には、誤
り率評価方法および信号発生装置が開示されている。こ
れには、ＡＭテレビ映像多重信号と直交振幅変調（ＱＡ
Ｍ）信号とを多重化して光伝送する場合における伝送信
号の誤り率の評価方法、および当該評価方法に使用する
試験信号の発生装置について説明されている。

【０００４】また一方で、特開２０００−１６５２９１
号公報には、ＣＤＭＡ試験信号発生装置が開示されてい
る。これには、ＣＤＭＡ通信方式使用の移動端末に組み
込まれて使用されるもので、テスト通信信号を発生する
積和演算部について説明されている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た各種試験装置においては、被試験装置にマイコンを搭
載していながら、その機能を充分に活かしきれていなか
った。そのため、ユーザーやセンサー等から長期間にわ
たって被試験装置へ操作入力を行ったと仮定して、この
被試験装置がどのように動作するのかを監視することが
できなかった。また、システム稼働が長期にわたると
き、当然発生し得ると考えられるシステム機器の故障、
メンテナンス、システムの組替え（機器の追加や削除）
及び停電等の非定常状態がシステム内に発生した場合に
おける被試験装置の不具合を見つけることができなかっ
た。つまり、長期間に相当する被試験装置の作業量を短
期圧縮して、被試験装置に起こりうる不具合を見つけ出
す長期安定化試験を行うことができなかった。

【０００６】本発明は、上記事由に鑑みて為されたもの
であり、その目的は、長期間にわたってユーザーやセン
サーから操作入力を行ったり、システム機器の故障等あ
るいは停電したと仮定して、この長期間にわたる操作入
力量を短期間に圧縮して、被試験装置に不具合が出るか
どうかを試験する長期安定化試験システムを提供するこ
とである。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項１記載の長期安定化試験システムは、被試験
対象機器である被試験装置に接続され、この被試験装置
に試験信号を伝送する試験信号生成装置と、少なくとも
被試験装置に接続され、この被試験装置の動作状況の把
握指標として該被試験装置の制御部の負荷率を取り込
み、この負荷率を表示するモニタ装置とを備え、前記試
験信号生成装置は、試験者が設定したい試験内容を操作
入力する設定入力部と、この設定入力部に操作入力され
た試験内容に応じて、被試験装置の操作入力部から制御
部へ与えるべき操作信号の代わりに模擬的な前記試験信
号を生成する試験信号生成部とを有し、前記モニタ装置
が取得した前記負荷率に基づいて、前記試験信号生成装
置から被試験装置に前記試験信号を伝送するようにした
ことを特徴とするものである。

【０００８】請求項２記載の長期安定化試験システム
は、請求項１記載の長期安定化試験システムにおいて、
前記試験信号生成装置は、前記モニタ装置が取得してい
る前記負荷率を受信し、前記試験信号生成部は、受信し
た負荷率が前記設定入力部に操作入力された設定負荷率
に近づくように、試験信号を内容変更して生成すること
を特徴とするものである。

【０００９】請求項３記載の長期安定化試験システム
は、請求項１または請求項２記載の長期安定化試験シス
テムにおいて、前記設定入力部は、前記試験内容とし
て、被試験装置への電力供給が行われる装置作動時間と
被試験装置への電力供給が行われない装置停止時間を設
定するようにしたことを特徴とするものである。

【００１０】請求項４記載の長期安定化試験システム
は、請求項３記載の長期安定化試験システムにおいて、
前記被試験装置は複数の操作対象機器からなり、前記試
験信号生成装置は前記電力供給の時間制御を行う操作対
象機器の組み合わせを無作為に変更することを特徴とす
るものである。

【００１１】請求項５記載の長期安定化試験システム
は、請求項１または請求項２記載の長期安定化試験シス
テムにおいて、被試験装置に、自機内に備えられている
マイクロコンピュータを初期状態にセットするリセット
機能が設けられている場合において、前記設定入力部
は、前記試験内容として、被試験装置の通常運転時間を
設定し、前記試験信号生成装置は、該設定された通常運
転時間が経過すると被試験装置のリセット機能を動作さ
せるリセット制御を行うことを特徴とするものである。

【００１２】請求項６記載の長期安定化試験システム
は、請求項５記載の長期安定化試験システムにおいて、
前記被試験装置は複数の操作対象機器からなり、前記試
験信号生成装置は前記リセット制御を行う操作対象機器
の組み合わせを無作為に変更することを特徴とするもの
である。

【００１３】請求項７記載の長期安定化試験システム
は、請求項１から請求項６のうちいずれかに記載の長期
安定化試験システムにおいて、前記試験内容は、所定の
試験値を入力値とし、この所定試験値を含む所定の試験
区間において、この試験区間内の各試験値ごとの発生頻
度にばらつきを与える所定の関数の値で決められるよう
にしたことを特徴とするものである。

【００１４】請求項８記載の長期安定化試験システム
は、請求項７記載の長期安定化試験システムにおいて、
前記関数は、各試験値ごとの発生頻度にガウス分布関数
の値でばらつきを与えるようにしたことを特徴とするも
のである。

【００１５】請求項９記載の長期安定化試験システム
は、請求項７記載の長期安定化試験システムにおいて、
前記関数は、各試験値ごとの発生頻度に上限と下限を有
する周期関数の値でばらつきを与えるようにしたことを
特徴とするものである。

【００１６】請求項１０記載の長期安定化試験システム
は、請求項１から請求項９のうちいずれかに記載の長期
安定化試験システムにおいて、前記モニタ装置は、所定
の接続線から分岐接続した接続線を介して接続され、前
記所定の接続線に伝送している信号を監視し、前記モニ
タ装置は、信号送信期間と信号受信期間と伝送休止期間
との和で表現される全体信号期間和に対する、信号送信
期間と信号受信期間との和で表現される活動信号期間和
の時間比率を基にして負荷率を算出することを特徴とす
るものである。

【００１７】請求項１１記載の長期安定化試験システム
は、請求項１から請求項１０のうちいずれかに記載の長
期安定化試験システムにおいて、被試験装置に、前記制
御部がデータの書き込みを行う記憶部が設けられている
場合において、前記記憶部の残量を監視し、この残量が
予め定めたしきい値を下回ると、間もなく前記制御部が
動作不可能な状態になると判断して報知を行うようにし
たことを特徴とするものである。

【００１８】請求項１２記載の長期安定化試験システム
は、請求項１から請求項１１のうちいずれかに記載の長
期安定化試験システムにおいて、被試験装置に、前記制
御部がデータの書き込みを行う記憶部が設けられている
場合において、現時点から所定の過去時点までの過去期
間における前記記憶部の残量の減少割合を監視し、この
減少割合を基にして、この先どの時点で前記残量が予め
定めたしきい値を下回るかを予測して報知を行うように
したことを特徴とするものである。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
図を参照して説明する。図１は、本発明の第１実施形態
に係る長期安定化試験システムの全体ブロック図であ
る。

【００２０】本発明の第１実施形態について説明する。
この長期安定化試験システムは、被試験対象機器である
被試験装置２に伝送線Ｌ１ａ、Ｌ１ｂ、Ｌ１ｃを介して
接続され、被試験装置２に試験信号を伝送する試験信号
生成装置１と、試験信号生成装置１および被試験装置２
に接続され、被試験装置２の動作状況の把握指標として
被試験装置２内にある制御部の負荷率を取り込み、この
負荷率を表示するモニタ装置３とを備えている。

【００２１】また、この長期安定化試験システムは、試
験信号生成装置１が生成した試験信号を被試験装置２に
印加することによって、被試験装置２の長期安定化試験
を行うものである。ここで述べた長期安定化試験とは、
長期間にわたってユーザーが操作入力を行ったと仮定し
て、この長期間にわたる操作入力量に相当する負荷を短
期間に与えて、被試験装置２に起こりうる不具合を試験
するものである。なお、ユーザーによる操作入力に限定
するものではなく、センサー等からの入力信号であって
もよい。また、システム機器の故障、メンテナンス、シ
ステムの組替え（機器の追加や削除）及び停電時におこ
るシステム機器の電源ＯＮ／ＯＦＦであってもよい。つ
まり、長期間にわたる種々の入力について試験するので
ある。

【００２２】試験信号生成装置１は、設定入力部１１
と、試験信号生成部１２とを備えている。設定入力部１
１は、試験者が設定したい試験内容を操作入力するため
の操作キーボード（不図示）やマウス（不図示）等のマ
ンマシンインターフェース部であり、試験者がこの操作
キーボードを使って設定したい試験内容を操作入力し、
その設定状況を目視確認するためのＣＲＴ、液晶等のデ
ィスプレイも用意されている。試験信号生成部１２は、
コンピュータのハードウェアと、それを動作させるプロ
グラムソフトウェアと、操作継続時間幅、発生時間間
隔、連続発生波個数及び電源ＯＮ／ＯＦＦ間隔が設定可
能なパルス信号を発生させる信号生成回路（不図示）と
を備えている。このような試験信号生成部１２は、設定
入力部１１に操作入力された試験内容に応じて、被試験
対象機器である被試験装置２に与えるべき試験信号をパ
ルス信号の様々な組み合わせによって生成して、試験信
号生成装置１の外部Ｉ／Ｏ１３へ送出する。

【００２３】被試験装置２は、制御部としてそれぞれ制
御プロセッサ２１を備えた被試験機２ａ、２ｂ、２ｃ
と、パソコンからなり各被試験機との間でデータの書き
込みや読み込みを行う外部機器２０とを備えている。被
試験機の制御プロセッサ２１は、マイコン主体のハード
ウェアと、それを動作させるプログラムソフトウェア
と、外部Ｉ／Ｏ１３に接続するためのインターフェース
（不図示）と、試験信号生成装置１からの試験信号であ
るパルス信号群を受信し符号化復調する信号符号化回路
（不図示）とを備えている。そして、被試験機２ａ、２
ｂ、２ｃは、図１に示すように、伝送線Ｌ６、Ｌ７を介
して互いに連携するとともに、被試験機２ａは伝送線Ｌ
１ａを介して外部Ｉ／Ｏ１３と接続され、被試験機２ｂ
は伝送線Ｌ１ｂを介して外部Ｉ／Ｏ１３と接続され、被
試験機２ｃは伝送線Ｌ１ｃを介して外部Ｉ／Ｏ１３と接
続されている。また、外部機器２０は伝送線Ｌ８を介し
て試験信号生成装置１に接続されるとともに、伝送線Ｌ
１０を介して被試験機２ａに接続されている。そして、
被試験機２ａ、２ｂ、２ｃ及び外部機器２０は、試験信
号生成装置１から試験信号を受信し、この試験信号に従
って動作するものである。なお、本実施形態では、被試
験装置２として、複数の被試験機同士が連携している電
子機器連携システムについて説明するが、本発明はこれ
に限ったものではなく、少なくとも１つの被試験機があ
ればよい。

【００２４】また、被試験機２ａ、２ｂ、２ｃは、例え
ばＬＥＤ群の点滅パターン制御を行う点灯ドライバ回路
を後段に備えていたり、外部通報センターへ通報を行う
信号を生成する電力線搬送信号ドライバ回路を後段に備
えていたり、電話回線と接続を行うＤＳＵ内蔵ＴＡ装置
を後段に備えていたりする。このような被試験機を有す
る被試験装置２としては、特に操作ボタンやスイッチが
多数あり、動作の評価に膨大な時間がかかるような大型
の電子機器が主対象となる。例えば、防災防犯システム
や、介護目的のコールセンター等の情報管理システムは
好適な例である。ここで、被試験装置２として、防災受
信機システムを図１と対応させて説明することにする。
まず、図１の被試験機２ａは防災受信機に、被試験機２
ｂは分散処理盤に、被試験機２ｃは煙感知器に、外部機
器２０は管理用パソコンに相当する。防災受信機は、専
用の通信線（図１ではＬ６）を介して分散処理盤に接続
されており、分散処理盤に集められた煙感知器のセンサ
ー情報を集約する。そして、その情報を基に火災状態で
あるか否かを判断し、異常を示す情報が発せられている
煙感知器の場所を特定する。分散処理盤は、煙感知器か
らのセンサー情報を収集して防災受信機に前記センサー
情報を送信する。煙感知器は、センサーからなり、専用
の通信線（図１ではＬ７）を介して分散処理盤から状態
を確認する信号を受信した場合に、煙の濃度等のセンサ
ー情報を分散処理盤に送信する。管理用パソコンは、防
災受信機が集約した煙感知器のセンサー情報を受信し
て、建物の各階のレイアウト図上に表示する。また、防
災受信機が行う操作の一部を代行操作制御することがで
きる機能を有するものである。このような複数の被試験
機同士が連携している電子機器連携システムについても
動作試験を行うことができる。

【００２５】モニタ装置３は、表示Ｉ／Ｏ３１と、表示
部３２と、モニタ制御部３３と、負荷率演算部３４とを
備えている。表示Ｉ／Ｏ３１は、各制御プロセッサ２１
ａ、２１ｂ、２１ｃと伝送線Ｌ２を介して接続され、各
被試験機の動作状況の把握指標として制御プロセッサ２
１の既存の出力ポートから負荷率値を取り込み、この負
荷率値をモニタ装置３で読み取り可能な信号形式に変換
するものである。表示部３２は、液晶やＣＲＴ等のディ
スプレイからなり負荷率値を表示するためのものであ
る。モニタ制御部３３は、モニタ装置３の主制御部であ
り、表示Ｉ／Ｏ３１から受け取った変換データに基づい
て負荷率値を表示部３２のディスプレイに表示させるも
のである。このとき、表示部３２には、電子機器連携シ
ステムとしてシステム全体の負荷率を表示してもよい
し、各制御プロセッサ２１ａ、２１ｂ、２１ｃの負荷率
値をそれぞれ表示してもよい。負荷率演算部３４は、被
試験機２ａから外部機器２０を接続するための接続線で
ある伝送線Ｌ１０から分岐接続した伝送線Ｌ３を介して
接続され、被試験機２ａの制御プロセッサ２１ａと外部
機器２０との間で送受信される信号を取り込み、この信
号を基にして負荷率を算出するものである。また、モニ
タ制御部３３は、試験信号生成装置１の試験信号生成部
１２と伝送線Ｌ４を介して接続されている。

【００２６】ところで、この長期安定化試験システムの
試験信号生成装置１については、設定入力部１１と、試
験信号生成部１２とを備え、設定入力部１１で試験者が
設定入力した試験内容に従って、試験信号生成部１２が
試験信号を生成し外部出力するのであるが、さらに試験
内容の好適例として操作継続時間Ｔ１、操作繰り返し時
間間隔値Ｔ２、操作部品ナンバーＰｎ及び電源ＯＮ／Ｏ
ＦＦ間隔（装置作動時間値、装置停止時間値）を設定す
ることにする。図２は、本発明の第１実施形態に係る長
期安定化試験システムの設定入力部に試験内容を操作入
力するときのフローチャートである。図３は、図２の試
験で発生する試験信号を説明する生成波形図である。図
４は、図２と図３で説明する試験信号に使用する所定の
関数としてガウス分布関数を例にとった説明図である。
図５は、各試験内容を設定する際に図４で説明した考え
方に基づいて行う処理を説明するフローチャートであ
る。

【００２７】この長期安定化試験システムは、設定入力
部１１で試験者が設定したい試験内容を操作入力すると
きに、操作入力部（不図示）の操作スイッチやボタンの
操作継続時間Ｔ１（押下継続時間やオン継続時間）、操
作入力部の操作スイッチやボタンの操作繰り返し時間間
隔値Ｔ２（操作から次の操作までの時間間隔値）、及び
操作入力部の試験対象たる操作スイッチやボタンをあら
わす操作部品ナンバーＰｎを選択可能となっている。

【００２８】詳しくは、図２に示すように、試験信号生
成部１２の動作が進んでいく。試験信号生成部１２は、
試験回数ｎを設定入力部１１から入力されると（ステッ
プＳ１００）、操作入力部の操作スイッチやボタンの操
作継続時間Ｔ１を設定するモードに移行する（ステップ
Ｓ１１０）。同設定のための入力を検知すると、試験信
号生成部１２は操作継続時間Ｔ１を所定の関数の値で決
めるモードに移行する（ステップＳ１２０）。このと
き、操作継続時間長についての時間軸において所定の時
間値（ｃ１）を入力値とし、前記関数によって、この所
定の時間値（ｃ１）を含む所定の試験時間区間（△Ｔｔ
ｅｓｔ）内にある時間値ごとの発生回数にばらつきを与
えるようにするのである。もし、ステップＳ１１０で同
設定のための入力を検知しなければ、試験信号生成部１
２は、操作継続時間Ｔ１を予め定められた所定の規格値
として設定する（ステップＳ１３０）。

【００２９】また、試験信号生成部１２は、ステップＳ
１２０またはステップＳ１３０を経た後、操作入力部の
操作スイッチやボタンの操作繰り返し時間間隔値Ｔ２を
設定するモードに移行する（ステップＳ１４０）。同設
定のための入力を検知すると、試験信号生成部１２は、
操作繰り返し時間間隔値Ｔ２を所定の関数の値で決める
モードに移行する（ステップＳ１５０）。このとき、操
作繰り返し時間間隔長についての時間軸において所定の
時間間隔値（ｃ２）を入力値とし、前記関数によって、
この所定の時間間隔値（ｃ２）を含む所定の試験時間区
間（△Ｔｔｅｓｔ）内にある時間間隔値ごとの発生回数
にばらつきを与えるようにする。もし、ステップＳ１４
０で同設定のための入力を検知しなければ、試験信号生
成部１２は、操作繰り返し時間間隔値Ｔ２を予め定めら
れた所定の規格値として設定する（ステップＳ１６
０）。そして、試験信号生成部１２は、ステップＳ１５
０またはステップＳ１６０を経た後、決められた操作継
続時間Ｔ１および操作繰り返し時間間隔値Ｔ２に従っ
て、試験信号を生成し被試験装置２へ出力する（ステッ
プＳ１７０）。

【００３０】さらに、試験信号生成部１２は、ステップ
Ｓ１７０を経た後、操作入力部の試験対象たる操作スイ
ッチやボタンをあらわす操作部品ナンバーＰｎを選択す
るモードに移行する（ステップＳ１８０）。同設定のた
めの入力を検知すると、試験信号生成部１２は、操作部
品ナンバーＰｎを所定の関数の値で決めるモードに移行
する（ステップＳ１９０）。このとき、操作部品ナンバ
ーＰｎについてのナンバー順序軸において所定のナンバ
ー値（ｃ３）を入力値とし、前記関数によって、この所
定のナンバー値（ｃ３）を含む所定の操作部品ナンバー
区間（△Ｔｔｅｓｔ）内にあるナンバー値ごとの選択回
数にばらつきを与えるようにする。もし、ステップＳ１
８０で同設定のための入力を検知しなければ、試験信号
生成部１２は、一連の設定受付を終了する。その後、試
験回数がステップＳ１００で設定した回数に達するまで
試験が繰り返されるのである。なお、ステップＳ１７０
は、ステップＳ１９０の後、操作部品ナンバーＰｎを決
定してから、ステップＳ１９０の段階で一括して出力す
るようにしてもかまわない。ここで、操作部品ナンバー
区間とは、操作入力部２１の各操作部品に割り振られた
ナンバー値のナンバー順序軸における範囲を決めるもの
である。すなわち、試験対象となる操作部品の最小ナン
バー値と最大ナンバー値を決め、その区間内のナンバー
値をもつ操作部品のみを試験対象とするのである。

【００３１】ここで、図３に示すように、操作継続時間
Ｔ１をあらわすには、設定入力部１１において操作継続
時間Ｔ１を数値でキー入力すれば、この入力値に応じた
パルス幅が発生する。操作繰り返し時間間隔値Ｔ２をあ
らわすときも同様に、操作繰り返し時間間隔値Ｔ２を数
値でキー入力すれば、この入力値に従ったパルス信号が
発生する。また、操作部品ナンバーＰｎをあらわすとき
には、ナンバー値を数値でキー入力すれば、試験対象た
る操作入力部２１の操作スイッチやボタンをあらわす操
作部品ナンバーＰｎを選択設定することができる。な
お、ナンバー値は、予め操作入力部２１のすべての操作
スイッチやボタンに割り振られているものであり、これ
を試験内容として入力すると、その数値に対応づけられ
た操作部品が操作されることになる。

【００３２】次に、図４と図５を用いて、上記ステップ
Ｓ１２０、Ｓ１５０、Ｓ１９０での試験信号生成部１２
の動作を関数の事例としてガウス分布関数を取りあげて
詳細に説明することにする。ガウス分布関数を採用した
理由は、自然現象での典型的な統計現象を精度よく反映
している点と、人間が操作ボタンや操作スイッチを操作
する際の諸諸のばらつきもガウス分布関数に極めて似て
いると考えられる点からである。

【００３３】試験信号生成部１２は、式（１）であらわ
される頻度関数ｙを予め有している。

【００３４】 ｙ＝Ｎｒａｎｄ（Ｃ１、σ、ＭＡＸ、ｍｉｎ） ＝Ｇａｕｓｓ（Ｃ１、σ、ＭＡＸ、ｍｉｎ）・・・（１） ここで、ｙは、図４の縦軸に示したように発生頻度をあ
らわす値であり、Ｃ１、σ、ＭＡＸ、ｍｉｎによってそ
の関数の形状が決定される。Ｃ１は、操作継続時間長に
ついての時間軸において所定の時間値（ｃ１）をあらわ
す入力値である。σは、ガウス分布関数の広がり程度を
与える標準偏差値であり、これも入力値である。ＭＡ
Ｘ、ｍｉｎは、それぞれ試験対象としたい範囲を与える
上限、下限の入力値であり、試験時間区間（△Ｔｔｅｓ
ｔ）が決定される。Ｎｒａｎｄとは、正規乱数を発生さ
せ、その正規乱数とＣ１、σ、ＭＡＸ、ｍｉｎの入力値
とに従って、ｍｉｎからＭＡＸの範囲でＣ１を最頻値と
して発生する乱数であり、値ごとの発生頻度はガウス分
布に従う。正規乱数の発生には、中心極限定理を用い
て、擬似的にガウス分布に従うような乱数を発生させて
いる。

【００３５】ここで、図５において、例えばＣ１＝１０
０（ｍｓｅｃ）、σ＝３０、ＭＡＸ＝２００（ｍｓｅ
ｃ）、ｍｉｎ＝５０（ｍｓｅｃ）と設定する（ステップ
Ｓ２００）。すると、試験信号生成部１２は正規乱数を
発生させ（ステップＳ２１０）、σ＝３０、平均値（最
頻値）Ｃ１に従うようにこの値を変換する（ステップＳ
２２０）。試験信号生成部１２は、ガウス分布関数の形
状に従うように、操作継続時間長についての試験値を次
々と発生させていく。

【００３６】このように自動的に乱数発生させた試験値
は、所定の試験時間区間（△Ｔｔｅｓｔ）の範囲内でな
ければ試験に採用されず（ステップＳ２３０、Ｓ２４
０）、残った値群が実際の試験に用いられるのである
（ステップＳ２５０）。要するに、関数Ｎｒａｎｄは、
操作継続時間Ｔ１に関して、ガウス分布関数の値でばら
つきを与えるのである。

【００３７】同様に、関数Ｎｒａｎｄは、操作繰り返し
時間間隔値Ｔ２に関して、ガウス分布関数の値でばらつ
きを与えるものである。例えば、操作繰り返し時間間隔
値Ｔ２としては、予備実験の結果、３００（ｍｓｅｃ）
に極めて近い値が頻繁に発生しているのが確認されてお
り、この値を所定の時間値ｃ２として入力設定する試験
はその結果が十分に期待できる。また同様に、関数Ｎｒ
ａｎｄは、操作部品ナンバーＰｎに関して、１つのナン
バー値ごとの選択回数に、ガウス分布関数の値でばらつ
きを与えるものである。

【００３８】なお、関数はガウス関数に限ったものでは
なく、サイン関数やコサイン関数や三角波関数や鋸歯状
波形等に代表される上限と下限を有する周期関数であっ
てもよい。

【００３９】こうすることによって、操作継続時間Ｔ
１、操作繰り返し時間間隔値Ｔ２および操作部品ナンバ
ーＰｎについて、それぞれ、人間の実際の操作に近いシ
ミュレーションを行うことができる。

【００４０】また、この長期安定化試験システムは、被
試験装置２の少なくとも１つの機器（各被試験機や外部
機器２０）への電力供給が行われる装置作動時間値Ｔ３
と被試験装置への電力供給が行われない装置停止時間値
Ｔ４からなる電源ＯＮ／ＯＦＦ間隔、及び電源のＯＮ／
ＯＦＦ制御を行う操作対象機器を選択可能となってい
る。図６は、長期安定化試験システムを使った試験の電
源制御の流れをあらわすフローチャートである。図７
は、図６の試験で発生する試験信号を説明する生成波形
図である。

【００４１】詳しくは、図６に示すように、試験信号生
成部１２の動作が進んでいく。試験信号生成部１２は、
試験回数ｎを設定入力部１１から入力されると（ステッ
プＳ３００）、被試験装置２の少なくとも１つの機器、
例えば被試験機２ａへ電力供給を行い被試験機２ａを動
作させる装置作動時間値Ｔ３を設定するモードに移行す
る（ステップＳ３１０）。同設定のための入力を検知す
ると、試験信号生成部１２は装置作動時間値Ｔ３を所定
の関数の値で決めるモードに移行する（ステップＳ３２
０）。このとき、装置作動時間長についての時間軸にお
いて所定の時間値（ｃ４）を入力値とし、前記関数によ
って、この所定の時間値（ｃ４）を含む所定の試験時間
区間（△Ｔｔｅｓｔ）内にある時間値ごとの発生回数に
ばらつきを与えるようにするのである。もし、ステップ
Ｓ３１０で同設定のための入力を検知しなければ、試験
信号生成部１２は、装置作動時間値Ｔ３を予め定められ
た所定の規格値として設定する（ステップＳ３３０）。
そして、被試験機２ａの電源をＯＮさせる試験信号を被
試験機２ａへ出力するとともに設定した装置作動時間値
Ｔ３をカウントし始めるのである（ステップ３４０）。

【００４２】また、試験信号生成部１２は、ステップＳ
３２０またはステップＳ３３０、そしてステップ３４０
を経た後、被試験機２ａへの電力供給を停止し被試験機
２ａを停止させる装置停止時間値Ｔ４を設定するモード
に移行する（ステップＳ３５０）。同設定のための入力
を検知すると、試験信号生成部１２は、装置停止時間値
Ｔ４を所定の関数の値で決めるモードに移行する（ステ
ップＳ３６０）。このとき、装置停止時間長についての
時間軸において所定の時間値（ｃ５）を入力値とし、前
記関数によって、この所定の時間値（ｃ５）を含む所定
の試験時間区間（△Ｔｔｅｓｔ）内にある時間値ごとの
発生回数にばらつきを与えるようにする。もし、ステッ
プＳ３５０で同設定のための入力を検知しなければ、試
験信号生成部１２は、装置停止時間値Ｔ４を予め定めら
れた所定の規格値として設定する（ステップＳ３７
０）。そして、試験信号生成部１２は、カウントしてい
た装置作動時間値Ｔ３が経過すると、ステップＳ３６０
またはステップＳ３７０において設定された装置停止時
間値Ｔ４に従って、被試験機２ａの電源をＯＦＦさせる
試験信号を生成し被試験機２ａへ出力するとともに設定
した装置停止時間値Ｔ４をカウントし始める（ステップ
Ｓ３８０）。その後、試験回数がステップＳ３００で設
定した回数に達するまで繰り返されるのである。

【００４３】さらに、この長期安定化試験システムは、
被試験機２ａだけでなく、被試験機２ｂ、被試験機２ｃ
及び外部機器２０に対しても電源のＯＮ／ＯＦＦ制御を
行うことができる。なお、通常は、複数の操作対象機器
への電源制御を並行して行うようにしているが、電源制
御を行う操作対象機器が１つのみであって他の機器は常
時電源ＯＮにしても構わない。

【００４４】設定入力部１１において、電源制御を行う
操作対象機器を予め設定しておいてもよいし、ランダム
に電源制御を行う操作対象機器の組み合わせを変更させ
るようにしてもよい。これらの設定に基づいて試験信号
生成部１２は、所定の操作対象機器に電源制御を行う試
験信号を出力するのである。さらに、被試験機２ａの電
源制御に用いた装置作動時間値Ｔ３及び装置停止時間値
Ｔ４を、他の操作対象機器へ連動させて同様の間隔で電
源制御を行ってもよいし、各操作対象機器ごとに異なる
装置作動時間値Ｔ３及び装置停止時間値Ｔ４を設定して
もよい。また、本実施形態では、被試験装置２として各
被試験機２ａ、２ｂ、２ｃや外部機器２０を例にあげて
いるが、これに限ったものではなく、所定の機器間に設
けられた中継器（例えばＨＵＢ）も被試験装置と考え電
源制御を行う操作対象機器としてもよい。なお、外部機
器２０は複数あってもよい。従って、比較的電源のＯＮ
／ＯＦＦが頻繁におこりうる機器に対して重点的に試験
を行うこともできる。また、ランダムに電源制御を行う
操作対象機器の組み合わせを変更することによって、予
測し難い突発的な現象に対しても試験を行うことができ
る。

【００４５】ここで、図７に示すように、装置作動時間
値Ｔ３をあらわすには、設定入力部１１において装置作
動時間値Ｔ３を数値でキー入力すれば、この入力値に応
じたパルス幅が発生する。装置停止時間値Ｔ４をあらわ
すときも同様に、装置停止時間値Ｔ４を数値でキー入力
すれば、この入力値に従ったパルス間隔が発生する。な
お、好適例として装置作動時間値Ｔ３は５分、装置停止
時間値Ｔ４は１０秒としている。

【００４６】また、上記ステップＳ３２０、Ｓ３５０の
関数としては、上述したガウス分布関数や、サイン関
数、コサイン関数、三角波関数、及び鋸歯状波形等に代
表される上限と下限を有する周期関数を用いることがで
きる。

【００４７】従って、被試験装置の少なくとも１つの機
器（各被試験機や外部機器２０）の電力供給を強制的に
ＯＮ／ＯＦＦすることによって、長期間中に起こるであ
ろう停電、増設時の電源ＯＦＦ、人による誤操作、及び
電源線の異常等を模擬的に試験することができる。ま
た、電源ＯＮ時には、他の機器との通信路を再形成する
ためにイニシャル時間と呼ばれる期間があり、この際に
は制御プロセッサの負荷率値が増加するので、被試験装
置２にかかる負荷が大きくなり、短期間に試験すること
ができるようになる。このようにして、被試験装置２に
不具合が出るかどうかを試験することが可能となる。

【００４８】また、この長期安定化試験システムは、被
試験装置２の少なくとも１つの機器に対してリセット制
御を行うことができる。ここで、リセット制御とは、各
被試験機や外部機器が備えているマイコンに直接制御信
号、例えばパルス信号やリセット命令コマンドを試験信
号生成装置１から送信し、これを受けた操作対象機器の
マイコンが自身の備えているリセット端子をリセットす
ることである。例えば、マイコンの電圧の大きさを制御
し、マイコンの電圧値が所定の閾値を下回ることにより
リセットを行う。

【００４９】ここで、試験信号としてパルス信号を用い
た場合について説明する。図７に示した電源制御の試験
信号を説明する生成波形と同じように、設定入力部１１
において装置作動時間値Ｔ３に代え通常運転時間値Ｔ５
として５分を数値でキー入力すれば、この入力値に応じ
たパルス幅が発生する。なお、通常運転時間値Ｔ５と
は、操作対象機器のマイコンに対してリセットがかけら
れる時間間隔を指している。そして、通常運転時間値Ｔ
５が経過すると、トリガとなる信号を操作対象機器に送
信してリセット制御を行うのである。また、このときか
ら再びパルスを発生させ通常運転時間値Ｔ５として５分
をカウントし始める。

【００５０】また、リセット制御を行う対象としては、
上述したような被試験機（防災受信機、分散処理盤、煙
感知器）や外部機器や中継器等があり、パソコンから構
成されている機器である場合には、再起動処理がリセッ
トにあたる。ここで、電源ＯＮ／ＯＦＦ制御（所謂、コ
ールドスタート）とリセット制御（所謂、ホットスター
ト）の関係について説明する。電源ＯＮ／ＯＦＦ制御
は、操作対象機器のハードウェア及びソフトウェアのす
べてを初期化するのに対して、リセット制御はソフトウ
ェア（アプリケーションプログラム等）のみを初期化す
るので、イニシャル時間の関係ではリセット制御の方が
電源ＯＮ／ＯＦＦ制御に比べて時間も短く、負荷率も多
少小さいものとなる。しかし、実際の操作入力において
は、電源ＯＮ／ＯＦＦではなくリセット操作が行われる
ことも考えられる。また、わざわざ電源をＯＮ／ＯＦＦ
させなくても操作対象機器内のマイコンさえリセットし
てやれば、電源制御とほぼ同様の試験を行えるという利
点がある。さらに、パソコン等のように電源制御を行う
と不良をきたす可能性があるような機器に対して有効で
ある。また、操作対象機器にマイコンが複数備えられて
いる場合においては、試験信号生成装置１の試験信号生
成部１２と操作対象機器内の各マイコンとを１対１で接
続することによって、操作対象機器内の特定のマイコン
のみをリセット制御することも可能であり、操作対象機
器内の少なくとも１つのマイコンのみをリセットして、
システムに対する動作影響を試験することも可能とな
る。

【００５１】なお、上述したように、設定入力部１１に
おいて、リセット制御を行う操作対象機器を予め設定し
ておいてもよいし、ランダムに電源制御を行う操作対象
機器の組み合わせを変更させるようにしてもよい。ま
た、通常運転時間値Ｔ５の設定時に所定の関数を用い
て、人間の実際の操作に近いシミュレーションを行うこ
ともできる。

【００５２】次に、この長期安定化試験システムの動作
について説明する。試験信号生成装置１の設定入力部１
１において、試験者が設定したい試験内容を操作入力す
ると、試験信号生成部１２は、前記試験内容に応じて被
試験対象機器である被試験装置２に与えるべき試験信号
をパルス信号の様々な組み合わせによって生成して、外
部Ｉ／Ｏ１３へ送出する。外部Ｉ／Ｏ１３は、伝送線Ｌ
１ａ、Ｌ１ｂ、Ｌ１ｃを介して、それぞれの被試験機２
ａ、２ｂ、２ｃに試験信号を伝送し、この試験信号を受
けた各制御プロセッサ２１ａ、２１ｂ、２１ｃは、それ
に応じて動作を開始するのである。

【００５３】このとき、必要に応じて、試験信号生成装
置１から伝送線Ｌ４を介してモニタ装置３に、各被試験
機の負荷率を監視するように命令信号を送出すると、こ
れを受けたモニタ装置３は、モニタ制御部３３から伝送
線Ｌ２を介して各制御プロセッサ２１ａ、２１ｂ、２１
ｃに負荷率監視信号を送出し、現在の負荷率値を各制御
プロセッサ２１ａ、２１ｂ、２１ｃに返信させる。そし
て、モニタ装置３の表示部３２において、現在のシステ
ム全体の負荷率値を表示するのである。なお、試験信号
生成装置１から命令信号を送出しなくても、モニタ装置
３に所定の間隔時間ごとに、負荷率監視信号を送出させ
るように設定しておくことによって、システム全体の負
荷率値を監視するようにしてもよい。このようにして、
各制御プロセッサの負荷率値をモニタ装置３において取
り込み監視し、現状のシステム全体の負荷率値を定量化
して表示することができる。

【００５４】従って、オペレータや試験者は、定量化さ
れた負荷率値に基づいて、更に、試験信号生成装置１か
ら被試験装置２に伝送する試験内容を設定負荷率値とし
て定量化して設定する。この設定負荷率値を可変に設定
することにより、長期間にわたってユーザーが操作入力
を行ったと仮定して、この長期間にわたる操作入力量を
短期間に圧縮して試験することができる。このとき、例
えば、設定負荷率値をパーセント表示するとして、設定
負荷率値を大きく設定すればするほど、その分被試験装
置２にかかる負荷が大きくなり、短期間に試験すること
ができるようになる。しかし、実際は負荷率を最大にす
ると、システム全体がダウンしてしまう恐れがあり、試
験するシステムの種別に応じて、試験者が設定負荷率値
をシステムダウンしない程度に最大に設定することが望
ましい。このようにして、被試験装置２に不具合が出る
かどうかを試験するのである。

【００５５】また、この長期安定化試験システムは、上
記のようにしてモニタ装置３が取得したシステム全体の
負荷率値を、伝送線Ｌ４を介して試験信号生成部１２に
伝送することができる。このようにすると、試験信号生
成部１２は、受信した負荷率値に基づいて、この受信し
た負荷率値を設定入力部１１において設定された設定負
荷率値に近づけるように、自動的に試験信号を内容変更
して生成することができる。例えば、測定中のシステム
全体の負荷率値が、試験信号生成部１２で生成される試
験信号に含まれる単位時間当たりのパルス数に比例して
いるとすると、受信した負荷率値が設定負荷率値よりも
大きくなった場合には、試験信号生成部１２は、試験信
号に含まれる単位時間当たりのパルス数を減らすよう
に、試験信号を生成するのである。従って、設定した負
荷率値に対して自動的にシステム全体の負荷率値が近づ
いていくようになっているので、試験者がモニタ装置３
に表示されるシステム全体の負荷率を確認して試験内容
を変更しなくても、精度のよい試験を行うことができ
る。

【００５６】さらに、この長期安定化試験システムは、
モニタ装置３が被試験機２ａ、２ｂ、２ｃの制御プロセ
ッサ２１ａ、２１ｂ、２１ｃから直接負荷率を取り込む
ことができない種別の被試験装置２においても、間接的
にシステム全体の負荷率を推定算出することができる。
図８は、本発明の第１実施形態に係る長期安定化試験シ
ステムのモニタ装置の動作をあらわすタイムチャートで
ある。

【００５７】この長期安定化試験システムは、図１に示
すように、伝送線Ｌ３を介してモニタ装置３を所定の接
続線である伝送線Ｌ１０に接続するものである。モニタ
装置３は、被試験機２ａと外部機器２０との間で送受信
されるデータ信号を監視し、このデータ信号を負荷率演
算部３４において取り込むことによって、その信号を基
に負荷率値を推定算出する。ここでは、図８に示すよう
に、まずｔ０からｔ５までを単位時間とし、この単位時
間当たりに信号が送受信されている時間がどの程度ある
のかを算出して負荷率値を導き出している。なお、信号
送信期間（Ｔｓｅｎｄ）には、電源ＯＮ時における被試
験機２ａと外部機器２０との間での通信路を形成するま
でのイニシャル期間も含まれている。

【００５８】本発明の第２実施形態について説明する。
この長期安定化試験システムは、被試験機に制御プロセ
ッサ２１がデータの書き込みを行うための記憶部２２が
備えられており、各記憶部２２ａ、２２ｂ、２２ｃを伝
送線Ｌ５ａ、Ｌ５ｂ、Ｌ５ｃを介して各制御プロセッサ
２１ａ、２１ｂ、２１ｃに接続した点と、モニタ装置３
に報知音発生部３５を備えた点において、第１実施形態
と異なっている。図９は、本発明の第２実施形態に係る
長期安定化試験システムのブロック図である。図１０
は、本発明の第２実施形態に係る長期安定化試験システ
ムのモニタ制御部の動作を示すフローチャートである。
図１１は、図１０に基づいてモニタ制御部が判断する実
例をグラフ化した説明図である。

【００５９】この長期安定化試験システムは、必要に応
じて、試験信号生成装置１から伝送線Ｌ４を介してモニ
タ装置３に、制御プロセッサ２１の記憶部２２のメモリ
残量を監視するように命令信号を送出すると、これを受
けたモニタ装置３は、モニタ制御部３３から伝送線Ｌ２
を介して各制御プロセッサ２１ａ、２１ｂ、２１ｃに残
量監視信号を送出し、現在のそれぞれの記憶部２２ａ、
２２ｂ、２２ｃにおけるメモリ残量を各制御プロセッサ
２１ａ、２１ｂ、２１ｃに返信させる。モニタ装置３の
モニタ制御部３３は、受信したメモリ残量が予め定めて
おいたしきい値を下回っているかどうかを判断し、下回
っていれば間もなく制御プロセッサ２１が動作不可能な
状態になると判断して報知を行う。このとき、モニタ制
御部３３は、報知音発生部３５に警報音を発生させても
よいし、伝送線Ｌ４を介して試験信号生成装置１のディ
スプレイに表示させるようにしてもよい。なお、第１実
施形態と同様に、試験信号生成装置１から命令信号を送
出しなくても、モニタ装置３に所定の間隔ごとに、残量
監視信号を送出させるように設定しておくこともでき
る。従って、複数の被試験機が連携する電子機器連携シ
ステムにおいて、不具合として、いずれか１つの被試験
機の制御プロセッサが暴走することにより引き起こされ
るシステム全体の停止を事前に予測することができる。

【００６０】また、この長期安定化試験システムは、モ
ニタ装置３のモニタ制御部３３に搭載する動作ソフトウ
ェアを変更することによって、モニタ制御部３３は、現
時点から所定の過去時点までの過去期間における記憶部
２２の残量の減少速度を監視し、この減少速度を基にし
て、この先どの時点で残量が予め定めたしきい値を下回
るかを予測して報知を行うことができる。

【００６１】このモニタ制御部３３の動作について、図
１０、図１１を参照して説明する。まず、モニタ制御部
３３は、残量監視信号を送出しメモリ残量を受信する
（ステップＳ１００）。そして、このときから受信した
メモリ残量をモニタ制御部３３が有している大容量記憶
メモリ（不図示）に記憶させていく（ステップＳ１１
０）。続いて、モニタ制御部３３は、まず記憶部２２の
うち記憶部２２ａだけについて（ステップＳ１２０）、
現時点Ｔｎｏｗから所定の過去時点Ｔｐａｓｓまでの過
去期間において、減少したメモリ残量を前記大容量記憶
メモリ（不図示）から読み取る（ステップＳ１３０）。
さらに、モニタ制御部３３は、ステップＳ１３０で読み
取った記憶部２２ａについてのデータを基に、図１１に
示すような減少特性グラフを求め、減少傾向の変化の割
合（変化率）を算出する（ステップＳ１４０）。このと
き、少なくとも現時点Ｔｎｏｗと所定の過去時点Ｔｐａ
ｓｓの２点がわかればよいのだが、プロットする点を多
くしていくことによって、変化率が詳細にわかるように
なる。例えば、被試験機２ａの記憶部２２ａについて、
図１１のＬｉｎｅ１に示すように、現時点Ｔｎｏｗと所
定の過去時点Ｔｐａｓｓの２点をとって、変化率を算出
するようにしてもよいし、Ｌｉｎｅ２のように、４点を
プロットすることによって、曲線近似して変化率をより
詳細に算出するようにしてもよい。なお、プロットした
点を近似する方法には、最小二乗法による演算で直線近
似する方法や低ｎ次曲線近似により曲線近似する方法や
破線連結により各種スプライン補間をかける演算でスプ
ライン近似する方法が考えられる。

【００６２】このようにプロットした点から減少特性グ
ラフを求めて変化率を算出し、メモリ残量が予め定めた
所定のしきい値を下回る時点Ｔｌａｓｔを予測して（ス
テップＳ１５０）、その時点を時刻としてモニタ装置３
に報知させるのである（ステップＳ１６０）。このと
き、表示部３２においてその旨を表示させてもよいし、
伝送線Ｌ４を介して試験信号生成装置１のディスプレイ
に表示させるようにしてもよい。なお、ステップＳ１３
０からステップＳ１６０までは、記憶部２２ａについて
の動作を説明したが、被試験機が複数ある場合において
は、同様の課程を残りの制御プロセッサ２１の記憶部２
２についても行う（ステップＳ１７０）。そして、すべ
ての記憶部２２について終了したら（ステップＳ１８
０）、ステップＳ１００の直前に動作を戻し繰り返し行
う。従って、あとどれくらいの時間が経過したときに、
システム停止という不具合が起こるのかを予測すること
ができ、オペレータや試験者は、システムが停止する前
の処置を取ることができる。

【００６３】なお、本実施形態では、モニタ装置３のモ
ニタ制御部３３において、受信した記憶部２２のメモリ
残量が予め定めておいたしきい値を下回っているかどう
かの判断やこの先どの時点で残量が予め定めたしきい値
を下回るかの予測を行っていたが、本発明はこれに限っ
たものではなく、モニタ制御部３３では、残量監視信号
を送出し、各制御プロセッサ２１ａ、２１ｂ、２１ｃか
らメモリ残量を受信するという監視行為だけを行い、こ
のメモリ残量を信号線Ｌ４を介して試験信号生成部１２
に送出し、試験信号生成部１２においてこの判断や予測
を行うようにしてもよい。こうすることによって、判断
や予測した結果に基づいて、即座に設定入力部１１に設
定入力していた試験内容を調整することができ、オペレ
ータや試験者は、システムが停止する前に素早く対処す
ることができる。

【００６４】さらに、この長期安定化試験システムは、
第１実施形態で述べたモニタ装置３が被試験機の制御プ
ロセッサ２１から直接負荷率を取り込むことができない
種類の被試験装置２において、制御プロセッサ２１と記
憶部２２を接続している所定の伝送線Ｌ５に、伝送線
（不図示）を介してモニタ装置３を接続することによ
り、間接的にシステム全体の負荷率を推定算出すること
ができる。モニタ装置３は、例えば、制御プロセッサ２
１ａと記憶部２２ａとの間で伝送線Ｌ５ａを介して送受
信される制御信号を監視し、この制御信号を伝送線Ｌ３
とは別の伝送線（不図示）を介して負荷率演算部３４に
取り込むことによって、その信号を基に図２に示す方法
で負荷率値を推定算出する。ここで、送受信される制御
信号とは、制御プロセッサ２１から記憶部２２に書き込
みを行わせるための制御信号と、制御プロセッサ２１に
記憶部２２から読み込みを行わせるための制御信号とを
指している。

【００６５】

【発明の効果】以上、説明したように、請求項１記載の
長期安定化試験システムは、被試験対象機器である被試
験装置に接続され、この被試験装置に試験信号を伝送す
る試験信号生成装置と、少なくとも被試験装置に接続さ
れ、この被試験装置の動作状況の把握指標として該被試
験装置の制御部の負荷率を取り込み、この負荷率を表示
するモニタ装置とを備え、前記試験信号生成装置は、試
験者が設定したい試験内容を操作入力する設定入力部
と、この設定入力部に操作入力された試験内容に応じ
て、被試験装置の操作入力部から制御部へ与えるべき操
作信号の代わりに模擬的な前記試験信号を生成する試験
信号生成部とを有し、前記モニタ装置が取得した前記負
荷率に基づいて、前記試験信号生成装置から被試験装置
に前記試験信号を伝送するようにしたので、オペレータ
や試験者は、試験内容として設定負荷率値を定量化して
可変に設定することができ、長期間にわたってユーザー
が操作入力を行ったと仮定して、この長期間にわたる操
作入力量を短期間に圧縮して試験することができる。

【００６６】請求項２記載の長期安定化試験システム
は、請求項１記載の長期安定化試験システムにおいて、
前記試験信号生成装置は、前記モニタ装置が取得してい
る前記負荷率を受信し、前記試験信号生成部は、受信し
た負荷率が前記設定入力部に操作入力された設定負荷率
に近づくように、試験信号を内容変更して生成するの
で、試験者がモニタ装置に表示されるシステム全体の負
荷率を確認して試験内容を変更しなくても、精度のよい
試験を行うことができる。

【００６７】請求項３記載の長期安定化試験システム
は、請求項１または請求項２記載の長期安定化試験シス
テムにおいて、前記設定入力部は、前記試験内容とし
て、被試験装置への電力供給が行われる装置作動時間と
被試験装置への電力供給が行われない装置停止時間を設
定するようにしたので、長期間中に起こるであろう停電
等を模擬的に試験することができる。

【００６８】請求項４記載の長期安定化試験システム
は、請求項３記載の長期安定化試験システムにおいて、
前記被試験装置は複数の操作対象機器からなり、前記試
験信号生成装置は前記電力供給の時間制御を行う操作対
象機器の組み合わせを無作為に変更するので、予測し難
い突発的な現象に対しても試験を行うことができる。

【００６９】請求項５記載の長期安定化試験システム
は、請求項１または請求項２記載の長期安定化試験シス
テムにおいて、被試験装置に、自機内に備えられている
マイクロコンピュータを初期状態にセットするリセット
機能が設けられている場合において、前記設定入力部
は、前記試験内容として、被試験装置の通常運転時間を
設定し、前記試験信号生成装置は、該設定された通常運
転時間が経過すると被試験装置のリセット機能を動作さ
せるリセット制御を行うので、わざわざ電源をＯＮ／Ｏ
ＦＦさせなくても、電源制御とほぼ同様の試験を行うこ
とができる。

【００７０】請求項６記載の長期安定化試験システム
は、請求項５記載の長期安定化試験システムにおいて、
前記被試験装置は複数の操作対象機器からなり、前記試
験信号生成装置は前記リセット制御を行う操作対象機器
の組み合わせを無作為に変更するので、予測し難い突発
的な現象に対しても試験を行うことができる。

【００７１】請求項７記載の長期安定化試験システム
は、請求項１から請求項６のうちいずれかに記載の長期
安定化試験システムにおいて、前記試験内容は、所定の
試験値を入力値とし、この所定試験値を含む所定の試験
区間において、この試験区間内の各試験値ごとの発生頻
度にばらつきを与える所定の関数の値で決められるよう
にしたものであり、所定の試験値に関してばらつきを与
えることができるので、人間の実際の操作に近いシミュ
レーションを行うことができる。

【００７２】請求項８記載の長期安定化試験システム
は、請求項７記載の長期安定化試験システムにおいて、
前記関数は、各試験値ごとの発生頻度にガウス分布関数
の値でばらつきを与えるようにしたものであり、所定の
試験値に関してガウス分布関数を用いてばらつきを与え
ることができるので、人間の実際の操作に近いシミュレ
ーションを行うことができる。

【００７３】請求項９記載の長期安定化試験システム
は、請求項７記載の長期安定化試験システムにおいて、
前記関数は、各試験値ごとの発生頻度に上限と下限を有
する周期関数の値でばらつきを与えるようにしたもので
あり、所定の試験値に関してガウス分布関数を用いてば
らつきを与えることができるので、人間の実際の操作に
近いシミュレーションを行うことができる。

【００７４】請求項１０記載の長期安定化試験システム
は、請求項１または請求項９記載の長期安定化試験シス
テムにおいて、前記モニタ装置は、所定の接続線から分
岐接続した接続線を介して接続され、前記所定の接続線
に伝送している信号を監視し、前記モニタ装置は、信号
送信期間と信号受信期間と伝送休止期間との和で表現さ
れる全体信号期間和に対する、信号送信期間と信号受信
期間との和で表現される活動信号期間和の時間比率を基
にして負荷率を算出するので、モニタ装置が被試験装置
の制御部から直接負荷率を取り込むことができない種類
の被試験装置においても、間接的にシステム全体の負荷
率を推定算出することができる。

【００７５】請求項１１記載の長期安定化試験システム
は、請求項１から請求項１０のうちいずれかに記載の長
期安定化試験システムにおいて、被試験装置に、前記制
御部がデータの書き込みを行う記憶部が設けられている
場合において、前記記憶部の残量を監視し、この残量が
予め定めたしきい値を下回ると、間もなく前記制御部が
動作不可能な状態になると判断して報知を行うようにし
たので、複数の被試験機が連携する被試験装置におい
て、不具合として、いずれか１つの被試験機の制御部が
暴走することによって引き起こされるシステム全体の停
止を事前に予測することができる。

【００７６】請求項１２記載の長期安定化試験システム
は、請求項１から請求項１１のうちいずれかに記載の長
期安定化試験システムにおいて、被試験装置に、前記制
御部がデータの書き込みを行う記憶部が設けられている
場合において、現時点から所定の過去時点までの過去期
間における前記記憶部の残量の減少割合を監視し、この
減少割合を基にして、この先どの時点で前記残量が予め
定めたしきい値を下回るかを予測して報知を行うように
したので、あとどれくらいの時間が経過したときに、シ
ステム停止という不具合が起こるのかを予測することが
でき、オペレータや試験者は、システムが停止する前の
処置を取ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１実施形態に係る長期安定化試験シ
ステムの構成を示す全体ブロック図である。

【図２】本発明の第１実施形態に係る長期安定化試験シ
ステムの設定入力部に試験内容を操作入力するときのフ
ローチャートである。

【図３】本発明の第１実施形態に係る長期安定化試験シ
ステムの試験信号生成部で生成される試験信号を説明す
る説明図である。

【図４】本発明の第１実施形態に係る長期安定化試験シ
ステムの試験信号に使用する所定の関数としてガウス関
数を用いた説明図である。

【図５】本発明の第１実施形態に係る長期安定化試験シ
ステムの各試験内容を設定するときのフローチャートで
ある。

【図６】本発明の第１実施形態に係る長期安定化試験シ
ステムを使った試験の電源制御の流れをあらわすフロー
チャートである。

【図７】本発明の第１実施形態に係る長期安定化試験シ
ステムの試験信号生成部で生成される電源制御の試験信
号を説明する説明図である。

【図８】本発明の第１実施形態に係る長期安定化試験シ
ステムのモニタ装置の動作をあらわすタイムチャートで
ある。

【図９】本発明の第２実施形態に係る長期安定化試験シ
ステムの構成を示す全体ブロック図である。

【図１０】本発明の第２実施形態に係る長期安定化試験
システムのモニタ制御部の動作を示すフローチャートで
ある。

【図１１】本発明の第２実施形態に係る長期安定化試験
システムのモニタ制御部が判断する実例をグラフ化した
説明図である。

【符号の説明】

１ 試験信号生成装置 ２ 被試験装置 ３ モニタ装置 １１ 設定入力部 １２ 試験信号生成部 ２１ 制御プロセッサ ２２ 記憶部 ３２ 表示部 ３３ モニタ制御部 ３４ 負荷率演算部 ３５ 報知音発生部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 浪越 保正 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 押部 直克 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 築山 史郎 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 桑名 大志 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 Ｆターム(参考） 2G036 AA24 CA08 CA12

Claims (12)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被試験対象機器である被試験装置に接続
   され、この被試験装置に試験信号を伝送する試験信号生
   成装置と、少なくとも被試験装置に接続され、この被試
   験装置の動作状況の把握指標として該被試験装置の制御
   部の負荷率を取り込み、この負荷率を表示するモニタ装
   置とを備え、 前記試験信号生成装置は、試験者が設定したい試験内容
   を操作入力する設定入力部と、この設定入力部に操作入
   力された試験内容に応じて、被試験装置の操作入力部か
   ら制御部へ与えるべき操作信号の代わりに模擬的な前記
   試験信号を生成する試験信号生成部とを有し、 前記モニタ装置が取得した前記負荷率に基づいて、前記
   試験信号生成装置から被試験装置に前記試験信号を伝送
   するようにしたことを特徴とする長期安定化試験システ
   ム。
2. 【請求項２】 前記試験信号生成装置は、前記モニタ装
   置が取得している前記負荷率を受信し、 前記試験信号生成部は、受信した負荷率が前記設定入力
   部に操作入力された設定負荷率に近づくように、試験信
   号を内容変更して生成することを特徴とする請求項１記
   載の長期安定化試験システム。
3. 【請求項３】 前記設定入力部は、前記試験内容とし
   て、被試験装置への電力供給が行われる装置作動時間と
   被試験装置への電力供給が行われない装置停止時間を設
   定するようにしたことを特徴とする請求項１または請求
   項２記載の長期安定化試験システム。
4. 【請求項４】 前記被試験装置は複数の操作対象機器か
   らなり、 前記試験信号生成装置は前記電力供給の時間制御を行う
   操作対象機器の組み合わせを無作為に変更することを特
   徴とする請求項３記載の長期安定化試験システム。
5. 【請求項５】 被試験装置に、自機内に備えられている
   マイクロコンピュータを初期状態にセットするリセット
   機能が設けられている場合において、 前記設定入力部は、前記試験内容として、被試験装置の
   通常運転時間を設定し、 前記試験信号生成装置は、該設定された通常運転時間が
   経過すると、被試験装置のリセット機能を動作させるリ
   セット制御を行うことを特徴とする請求項１または請求
   項２記載の長期安定化試験システム。
6. 【請求項６】 前記被試験装置は複数の操作対象機器か
   らなり、 前記試験信号生成装置は前記リセット制御を行う操作対
   象機器の組み合わせを無作為に変更することを特徴とす
   る請求項５記載の長期安定化試験システム。
7. 【請求項７】 前記試験内容は、所定の試験値を入力値
   とし、この所定試験値を含む所定の試験区間において、
   この試験区間内の各試験値ごとの発生頻度にばらつきを
   与える所定の関数の値で決められるようにしたことを特
   徴とする請求項１から請求項６のうちいずれかに記載の
   長期安定化試験システム。
8. 【請求項８】 前記関数は、各試験値ごとの発生頻度に
   ガウス分布関数の値でばらつきを与えるようにしたこと
   を特徴とする請求項７記載の長期安定化試験システム。
9. 【請求項９】 前記関数は、各試験値ごとの発生頻度に
   上限と下限を有する周期関数の値でばらつきを与えるよ
   うにしたことを特徴とする請求項７記載の長期安定化試
   験システム。
10. 【請求項１０】 前記モニタ装置は、所定の接続線から
    分岐接続した接続線を介して接続され、前記所定の接続
    線に伝送している信号を監視し、 前記モニタ装置は、信号送信期間と信号受信期間と伝送
    休止期間との和で表現される全体信号期間和に対する、
    信号送信期間と信号受信期間との和で表現される活動信
    号期間和の時間比率を基にして負荷率を算出することを
    特徴とする請求項１から請求項９のうちいずれかに記載
    の長期安定化試験システム。
11. 【請求項１１】 被試験装置に、前記制御部がデータの
    書き込みを行う記憶部が設けられている場合において、 前記記憶部の残量を監視し、この残量が予め定めたしき
    い値を下回ると、間もなく前記制御部が動作不可能な状
    態になると判断して報知を行うようにしたことを特徴と
    する請求項１から請求項１０のうちいずれかに記載の長
    期安定化試験システム。
12. 【請求項１２】 被試験装置に、前記制御部がデータの
    書き込みを行う記憶部が設けられている場合において、 現時点から所定の過去時点までの過去期間における前記
    記憶部の残量の減少割合を監視し、この減少割合を基に
    して、この先どの時点で前記残量が予め定めたしきい値
    を下回るかを予測して報知を行うようにしたことを特徴
    とする請求項１から請求項１１のうちいずれかに記載の
    長期安定化試験システム。