JP2002527731A - ファイバ型光センサ - Google Patents

ファイバ型光センサ

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JP2002527731A JP2000576239A JP2000576239A JP2002527731A JP 2002527731 A JP2002527731 A JP 2002527731A JP 2000576239 A JP2000576239 A JP 2000576239A JP 2000576239 A JP2000576239 A JP 2000576239A JP 2002527731 A JP2002527731 A JP 2002527731A
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loop
interferometer
signal
sensor
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ジョン, フィリップ デイキン,
ステュワート, ジョン ラッセル,
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University of Southampton
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University of Southampton
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Abstract

(57)【要約】 単一の広帯域Er添加ファイバ光源(10)および単一のInGaAs検出器(150)を40km長さのセンサループ(90)と共に用いるサニャック干渉計あるいはループ型干渉計が、開示されている。波長分割多重化器(50)が、光源(10)からの広帯域光をスペクトル的に二つのサブ帯域に分割し、その際異なる光路が、スペクトル的に異なる分割されたサブ帯域に位置する光に対して光源(10)および検出器(150)間に画成される。二つの光路が、異なる周波数において二つの信号を変調する別個の位相変調器(70、130)を備えており、また、センサループ(90)に対して異なる位置に位置する別個の遅延ループを備えている。二つの別個のサニャックループが、単一のセンサループ(90)、光源(10)および検出器(150)を備えていることが有効である。標準の位相ロックされたループ技術が、二つのループを通過した信号から情報を抽出し、センサループ(90)に加えられる機械的あるいは熱的な乱れの位置を決定するために使うことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の分野】
本発明は、ファイバセンサに関し、特に、例えば、機械的あるいは温度的な乱
れを検出するサイクル干渉計あるいはサニャック型リング干渉計に関する。
【0002】
【発明の背景】
サニャック干渉計あるいはサイクル干渉計は、既存の干渉計の一つとして知ら
れている。初期において、干渉計は、複数の反射鏡を配置してループの回りに光
を反射していた。続いて、レーザダイオードおよび光ファイバの出現が、長い光
路長を備えたサニャック干渉計の開発を可能にした。光源が、ループの形に形成
された光ファイバによる導波路に投射できるようになった。
【0003】 近年では、ループの中心ではない位置において生じる機械的なあるいは熱的な
乱れを見出そうとする多くの提案が提唱されている。このような構成は、J.P
.Dakin、D.A.Pearce、A.P.Strong、および、C.A
.WadeによってProceeding SPIE、vol 838(198
7)に“A novel distributed optical fibr
e sensing system enabling location o
f disturbances in a Sagnac loop inte
rferometer”に示されている。この技術は、サニャック干渉計におけ
る光の逆方向伝播に基づいている。位相摂動、Φ、がセンサループ中心からzの
距離において生じたとき、一方の方向へ移動する光を他方の方向へ移動する光の
前に位相変調する。これは、ループの出力において結合されるとき干渉する2本
の復帰してくる逆方向伝播波連間の正味の位相変調ΔΦを生じる。Dakinな
どによる上述した参考文献においては、ΔΦは、
【0004】
【数2】
【0005】 によって与えられる。ここで、Vgは、導かれる光の群速度である。
【0006】 初期の構成においては、dΦ/dtの値は、サニャック干渉計内を一方向に伝
わる光の一部分が光源から直接導かれた光と干渉していることが分かった。光源
の周波数揺動による位相雑音を減らすために、後者は、バランスされた光路を備
えたファイバマッハ・ツェンダー配置を形成するファイバループを経由して適当
に遅延された。
【0007】 さらに、最近、ツインサニャック干渉計構成を用いる種々の体系が、精密にバ
ランスされた光路を必要としないものとして提案されている。これらの体系は、
実験室での状態ではあるが、800mまでのセンサループ長にわたっての乱れの
発見を可能にした。例えば、ツイン光源(波長多重化した)装置が、“Dual
wavelength Sagnac−Michelson distrib
uted optical fibre sensor” Proceedin
gs SPIE pp2838−2834(1996)および“A distr
ibuted dual wavelength Sagnac sensor
impact sensor”Microwave and optical
technology letters、vol17、 No.3、pp170−173(1998)誌に、S.J.Spammer、A
.A.Chtcherbakov、および、P.L.Swartによって開示さ
れている。指向性のある3dBカプラとツイン検出器を備えたその他の実質的に
損失性を持つ配列が、例えば、S.J.Spammer、P.L.Swart、
A.Boosen“Interferometric distributed
fibre optical sensor”Applied Optics
、vol35、No22、pp4522−4523、(1996)、E.Ron
nekleive、K.Blotekjaer、K.Krankes、“Dis
tributed fibre sensor for location o
f disturbances”Proceedings 9th OFS、PD
7(1993)、X.Fang“A variable loop Sagna
c interferometer for distributed imp
act sensing”Optics letters vol21、No6
(1996)、および、米国特許第5、046、848号に示されている。
【0008】 3dBカプラを備えたデュアルサニャックシステムの最小の理論的な損失は、
それぞれのサニャック干渉計において24dBである。
【0009】 本発明によれば、乱れを検出するサニャック干渉計が提供され、干渉計は、波
長λsの範囲の光信号を発生させる光源と、光源によって発生された光信号を受
ける受光器と、光源と受光器との両方に光学的に接続される光ファイバループセ
ンサと、前記光源に光学的に接続され、前記光源から受けた光信号を第1および
第2の分割信号チャンネルにスペクトル的に分割する第1の光学的な分割手段で
あって、第1の分割信号チャンネルが、λ1に中心を備えた波長範囲を備え、第
2の分割信号チャンネルが、λ2に中心を備えた波長範囲を備え、その際、λ1
λ2の両方がのλsサブセットであり、その際、λ1に中心を備えた波長範囲に含
まれる電磁エネルギが、λ2に中心を備えた波長範囲に含まれる電磁エネルギと
ほとんど重なり合わないようにした第1の光学的な分割手段と、光学的な検出器
と光学的に接続された第1の光学的な結合手段とから構成されており、第1の分
割信号チャンネルが、センサループを介して光学的な分割手段と光学的な結合手
段との間に第1の光路に沿って形成され、第2の分割信号チャンネルが、センサ
ループを介して光学的な分割手段と光学的な結合手段との間に第1の光路とは異
なる第2の光路に沿って形成され、第1の光路が、第1の周波数において第1の
分割信号チャンネルにおける光の位相角度を変調するように配置された第1の光
学的な位相角度変調手段を備え、第1の光路が、センサループ周囲の中心でない
第1の位置に中心を備える全体的な光路長を備え、第2の光路が、第1の周波数
とは異なる第2の周波数において第2の分割信号チャンネルにおける光の位相角
度を変調するように配置された第2の光学的な位相角度変調手段を備え、第2の
光路が、センサループ周囲の第1の位置とは異なる中心でない第2の位置に中心
を備える全体的な光路長を備え、第1の光学的な結合手段が、第1および第2の
分割信号チャンネルにおける位相変調された光を複合信号に結合するように配置
されており、受光器が、この複合光信号を受け、第1および第2の光路を伝わっ
てきた光から生じる信号変化をこの複合光信号から抽出し、センサループ周囲の
乱れの距離が、この信号変化に対応して決定できるように配置されている。
【0010】 本発明は、2本の別個の光路を備えるが、単一の光源と単一の検出器を備える
サニャックループ干渉計体系を提供するものである。得られた体系は、最小の理
論的な損失が非常に低く、従って、複数の光源および/あるいは検出器を用いる
従来の構成に比べて低コストで製造ができる。
【0011】 好ましくは、第1の分割信号チャンネルは、第1の光学的な位相角度変調手段
、センサループ、第1の遅延ループを画成するファイバの第1の長さを順に通過
することによって光学的な分割手段と光学的な結合手段との間に第1の光路を画
成し、その際、第1の光路の中心が、センサループの中心からずれることになる
【0012】 この場合、第2の分割信号チャンネルは、第2の遅延ループを画成するファイ
バの第2の長さ、前記センサループ、および、前記第2の光学的な位相角度変調
手段を順に通過することによって前記光学的な分割手段と前記光学的な結合手段
の間に前記第2の光路を画成するようにし、その際、前記第2の光路の中心が、
前記第1の光路の中心からずれた方向とは反対の方向に前記センサループの中心
からずれるようにする。
【0013】 光学的な分割手段は、例えば、波長分割多重化器(WDM)でもよい。光源は
、レーザダイオード発生による広帯域、低コヒーレンス長光により励起される単
一の超発光ファイバ光源でもよい。検出器は、単一のP型真性n型(PIN)半
導体フォトダイオードでもよく、第1および第2の光学的な位相角度変調手段は
、例えば、ピエゾ電気(PZT)装置でもよい。
【0014】 第1の光学的な位相角度変調手段における第1の周波数と第2の光学的な位相
角度変調手段における第2の周波数は、それぞれ第1および第2の光路を介して
光源と検出器との間に画成された第1および第2の干渉計ループのそれぞれにお
ける固有周波数であることが好ましい。
【0015】 受光器は、例えば、フォトダイオード光学検出器、低雑音プリアンプ、適した
信号処理ソフトウェアあるいはハードウエアを備えてもよい。これにより、光信
号振幅の変化に対応するそれらの振幅変調された成分を、複合されかつ検出され
る信号から抽出できる。光信号振幅の変化は、換言すれば、位相バイアス手段に
よって与えられる位相変調と同様に乱れから生じる。
【0016】 この乱れが生じたセンサループ上の距離zは、第1の周波数において変調され
た位相である光から生じた基本波成分および第2高調波成分と、第2の周波数に
おいて変調された位相である光から生じた基本波成分および第2高調波成分との
比を計算することによって決定されることが好ましい。
【0017】 その場合、この比は、xをバイアス変調深さとし、a1およびa2を定数とし、
Lを前記センサループの長さとし、L1を前記第1の遅延ループの長さとし、L2 を前記第2の遅延ループの長さとし、および、J1およびJ2を1次および2次の
ベッセル関数としたとき、以下の式によって与えられる。
【0018】
【数3】
【0019】 本発明の更なる態様において、光ファイバ乱れ検出システムのための新規な構
成が、サニャックループをベースにして提供され、その際単一の広帯域光源から
の光は、異なる波長を備えた2本の別個のスペクトル成分に分割され、この光の
この成分は、波長依存分割部材(例えば、光ファイバベースの波長分割多重化器
成分)を用いて導かれ、従って、光は、2本の別個のサニャックループを通過し
、それぞれの光路は、この光の前記成分の波長領域に従って決定され、その際、
それぞれの波長領域における光は、2個の位相バイアス部材のそれぞれによって
異なる周波数において位相変調され、それぞれは、異なる変調周波数においてお
よび2本の選択された波長依存路のそれぞれの一つに対して独特のファイバ路に
おける点において作動し、その際、それぞれの波長成分は、ファイバあるいはフ
ァイバケーブルの共通の検出部分を通過する前後に、異なる光学的な遅延路を通
過し、この共通の検出部分は、乱れの検出の必要な部分であり、2本の独立した
光路からの出力光のすべてが単一の光学的検出器に結合される部分であり、2本
のループからの別個の出力は、次いで、位相変調器の位相バイアス周波数におい
て変調成分の検出により復号化される。
【0020】 本発明は、また、初期の光学的な検出の後に、2本の別個の光路が単一の光源
と単一の検出器間に配置され、それらの別個の光路を通過する信号が分離される
サニャックループに発展するものであり、これは、異なる電子的な基準信号によ
ってそれぞれ駆動される別個の電子的なロックイン増幅器を用いて光学的な検出
器の出力における周波数依存の電子的な検出によって行なわれ、これらの基準信
号のそれぞれは、2本の別個の光路におけるそれぞれを通過する光信号に加えら
れる位相変調成分および第2の高調波成分に対応する。
【0021】
【好適実施例の詳細な説明】
図1は、本発明により具体化されたファイバ型光センサの構成の概略を示す。
センサは、広帯域で低いコヒーレンス長の光源10からの光の供給を受ける。好
ましい実施例においては、980nmにおいて80mWで作動するNortel
LC91−20のようなレーザダイオードポンプが、好ましくはEr添加ケイ
素ベースのファイバである超発光ファイバ光源を励起するために用いられる。超
発光LEDあるいはマルチ波長レーザ(あるいはレーザの集合体)が、代わりに
用いられてもよい。マルチ波長レーザの場合には、光源に必要な低コヒーレンス
長が、コヒーレンス長を適当に短くするために高速度の変調器を必要とする。
【0022】 光源10は、公称値損失3dBを備える第1の光学的カプラ20を介してポラ
ライザ30に接続されている。このポラライザ30は、例えば、Sifam S
P15装置であることができる。当該技術に通常の知識を備える者には周知のよ
うに、このポラライザは、センサ内で光学的な相反性を維持していることが好ま
しい。
【0023】 ポラライザ30の出力は、第2の3dB光学的カプラ40における二つの入力
の第1に接続されている。この第2の光学的カプラ40は、そのポートの一方が
使われていない双方向4ポート装置であり、従って、説明を簡単にするために、
この第2の光学的カプラ40は、二つの入力と単一の出力を備えていると考える
ことにする。第2の光学的カプラ40の出力は、双円錐融合ファイバテーパWD
Mのような第1の波長分割多重器(WDM)50あるいは内部誘電体フィルタに
基づいたWDMに接続される。この装置は、スペクトル的に光源10によって発
生された広帯域光を二つのより狭い帯域のチャンネルに分割する。例えば、上述
したような装置を使って、センサの後方ASEは、1555nmの中心波長を備
えた光を供給するとともに40nmのFWHM帯域を持つ1mWの光源10を提
供する。第1のWDM50は、この出力を1570nmおよび1540nmの中
心波長をそれぞれ備えた上方出力帯域および下方出力帯域にスペクトル的に分割
する。
【0024】 第1のWDM50は、第2のWDM80における二つの入力に間接的に接続さ
れる二つの出力を備えている。第1のWDM50における第1の出力は、およそ
4kmのファイバ型光ケーブルから形成される第1の遅延コイル60を介して第
2のWDM80における第1の入力に接続されている。遅延コイルの長さを延ば
すと、以下に説明するようなより良好な判別が可能になるが、雑音が増えるとい
う犠牲も生じる。第1の遅延コイル60の長さは、±0.2km以内の精度であ
る。第1のWDM50における第2の出力は、第1の位相変調器あるいはファイ
バストレッチャ70を介して第2のWDMにおける第2の入力に接続される。例
えば、第1の位相変調器は、ピエゾ電気(PZT)ファイバストレッチング装置
であるが、当業者には認知される集積された光学変調器のようなポッケルスエレ
クトロオプティックス効果を用いるその他の装置でもよい。
【0025】 図示の実施例における波長の高帯域(光源により発生された広帯域の波長から
スペクトル的に分割された)は、第1のWDM50における第1の出力、第1の
遅延コイル60を介して第2のWDM80における第1の入力に入る光路に沿っ
て通過する。これに対して、波長の低帯域(光源10により発生された広帯域の
波長から再びスペクトル的に分割された)は、第1のWDM50における第2の
出力、第1の位相変調器70を介して第2のWDM80における第2の入力に入
る光路に沿って通過する。異なる光路に沿って通過した波長の二つの別個の帯域
は、第2のWDM80において再び結合される。
【0026】 第2のWDM80の出力は、ファイバ型光センサループ90の第1の端部に接
続される。説明を容易にするために、更に、以下に設定される理論的な分析のた
めに、センサループ90の第1の端部は、距離z=0であるように設定されてい
る。図1に示される構成により、上述した部材を用いて、センサループ90は、
長さおよそ40kmにすることができる。この場合、40.1km±0.5km
の公称値を備えるセンサループ90が使われる。
【0027】 距離z=Lであるように定められているセンサループの第2の端部は、光(第
2のWDMにおいて予め再結合されている)を前述したのと同じ高波長帯域およ
び低波長帯域に再分割する第3のWDM110におけるポートに接続される。第
2のWDMから放射された光は、再び分割される前に複合信号としてセンサルー
プ90を通過する。リオデポラライザ100(1550nmの波長において2.
93mmのビート長を備えたHi−Biファイバの3mおよび6mの長さである
ような周知の構成の)が、第2および第3のWDM80、110間の中間、すな
わち、センサループ90の距離z=L/2であるような位置に配置される。リオ
デポラライザは、当該技術に通常の知識を備えた者には周知であるように、伝わ
る光の偏光状態を変化させることによって偏光の消滅を最小にする。
【0028】 第3のWDM110は、第4のWDM120における二つの入力に間接的に接
続されている二つの出力を備えている。第3のWDM110における第1の出力
は、およそ4kmのファイバ型光ケーブルから作られた第2の遅延コイル130
(第1の遅延コイル60と同じように)を介して第4のWDM120における第
1の入力に接続されている。第2の遅延コイル130の長さは、同様に±0.2
kmの精度を有している。第3のWDM110における第2の出力は、好ましく
はピエゾ電気(PZT)装置によって構成されている第2の位相変調器140を
介して第4のWDM120における第2の入力に接続されている。
【0029】 重要なことに、第1および第2のWDM50、80間の二つの光路とは対称的
に、図示の実施例において、波長の低帯域は、第3のWDM110における第1
の出力から、第2の遅延コイル130を介して第4のWDM120における第1
の入力に光路に沿って伝わる。同様にして、波長の高帯域は、第3のWDM11
0における第2の出力から、第2の位相変調器140を介して第4のWDM12
0における第2の入力に光路に沿って伝わる。異なる光路に沿って伝わった波長
における二つの別個の帯域は、第4のWDM80において再び結合される。
【0030】 第4のWDM120の出力は、第2の3dB光学カプラ40における二つの出
力の第2に接続される。光(第4のWDM120によって二つの広帯域としても
う1回結合される)は、ポラライザ30から戻ってきて第1の3dB光学カプラ
20を介して検出器150に入る。
【0031】 検出器150は、0.72A/Wの応答性を備えたNortal DPR2S
B−43T2のようなシンプルなInGaAsP型真性n型(PIN)フォトダ
イオードであることが好ましい。これは、Theoptics TD40、10
0MOhmのような150kHzのトランスインピーダンス増幅器に好都合にフ
ォローされる。
【0032】 単一の広帯域光源を高低帯域にスペクトル的に分割することにより、単一のセ
ンサループ90のみにもかかわらず、二つの基本的な別個のサニャック干渉計ル
ープが形成されることは明らかであろう。図1に示されている構成において、第
1のサニャック干渉計ループは、時計回り光路ABCEFHIに沿って画成され
る。第2のサニャック干渉計ループは、時計回り光路ABDEGHIに沿って画
成される。しかしながら、この構成において、これらの二つの異なるサニャック
干渉計ループそれぞれにおける有効中心は、z=L/2にあるセンサループ90
の幾何学的な中心から反対の方向にずれている。以下に説明されるように、二つ
のサニャック干渉計ループの中心点における相対的なずれは、センサループ90
での共通する摂動あるいは乱れに対する異なる応答を示し、言い換えれば、この
乱れおよびその変化速度における両方の位置zの値が同時に変化することを可能
にしている。
【0033】 第1の位相変調器70は、ループ(異なる中心位置を備えているにもかかわら
ず、名目上同一の長さを有している)の固有周波数の有限組から選択された第1
の周波数において正弦波位相バイアスを用いて波長の低帯域を変調する。これに
対して、第2の位相変調器は、ループの固有周波数の有限組から選択され、第1
の周波数とは異なる第2の周波数において正弦波位相バイアスを用いて波長の高
帯域を変調する。バイアス周波数は、それらの周波数が、例え、異なるものであ
っても、予測される乱れ信号の周波数を超えるように、すなわち、センサループ
90の出力における基本帯域にあるように選ばれることが好ましい。例えば、第
1および第2の位相変調器70、130は、62.497kHzおよび48.5
61kHzの周波数において位相変調できる。
【0034】 上述したバイアス変調は、二つのサニャック干渉計ループから検出された信号
における周波数成分を互いに電子的に差別化できるようにする必要がある。バイ
アス変調は、また、サニャック干渉計の正弦波応答の大きな傾斜領域において作
動することによって光学的な位相変化に対する干渉計感度を改善し、また、異な
る周波数、振幅変調されたキャリヤをそれぞれに対して与えることによって両方
のサニャック干渉計ループが共通の検出器150を使うことを可能にする。乱れ
が生じないとき、バイアス変調の偶数の高調波のみが、検出器150が実際に2
次高調波にのみ応答するように帯域制限されていても、検出器150によって検
出された信号を観察することができる。しかしながら、異なる乱れがセンサルー
プ90に働くとき、ロックイン技術を用いて復調できる基本的な周波数および奇
数の高調波が出現する。サニャック干渉計ループのそれぞれに対する奇数および
偶数の高調波に対応する信号は、ロックイン増幅器(図示せず)を用いて検出器1
50において信号から容易に取り出せ、従って、以下に説明される出力は、振幅
依存の結果を与えるように分割される。特に、駆動周波数の奇数および偶数の高
調波は、この実施例では800Hzの出力フィルタ(基本帯域)を備えた二つの
異なるロックイン増幅器(図示せず)によって分離されることができる。バイアス
変調深さは、復調される偶数高調波の振幅を最大にするために、ほぼ1.55ラ
ジアンに設定されるのが適切である。検出器150の応答は、信号がこれらのロ
ックイン増幅器に入る前に、3次以上の高調波の振幅を小さくする。
【0035】 上述したように、正味の位相変調ΔΦは、
【0036】
【数4】
【0037】 によって与えられる。言い換えれば、二つのサニャック干渉計ループのそれぞれ
から期待される応答は、乱れの変化の速度と、第1および第2の遅延コイル60
、130の位置の違いによりそれぞれ異なるセンサループに対する位置とに対応
する。好ましい実施例においては、単一の検出器150が使われていることは明
らかであろう。可能な光路のすべてについて両方の方向に通過する光の振幅を考
慮して、Jacobian expansionを適用して、すべてのクロスト
ークを考慮しつつ、それぞれの干渉計に対するロックイン(ホモダイン)復調か
ら得られる期待される信号をモデル化することが可能である。光路ABCEFH
Iによって定められるサニャック干渉計ループを「サニャック1」とし、光路A
BDEGHIによって定められるサニャック干渉計ループを「サニャック2」と
すると、以下のように示すことができる(0クロストークにおいて)。 1) 1次高調波サニャック1、
【0038】
【数5】
【0039】 2) 2次高調波サニャック1、
【0040】
【数6】
【0041】 3) 1次高調波サニャック2、
【0042】
【数7】
【0043】 4) 2次高調波サニャック2、
【0044】
【数8】
【0045】 ここで、Φ(t)は、センサループ90に与えられる位相乱れ、xは、バイアス
変調深さ、a1およびa2は、バイアス周波数および光路長に依存する定数、Lは
センサループ90の長さ、L1およびL2は、第1および第2の遅延コイル60、
130の長さ、および、Jnは、n次ベッセル関数である。
【0046】 乱れの位置Φ(t)は、信号を同時に解くことによって求められる。すなわち
、得られた信号それぞれを割り算することによって、比が、乱れの変化の速度に
は無関係であって、その位置にのみ関係することを示す。
【0047】 この位置依存比は、
【0048】
【数9】
【0049】 で示すことができ、その際乱れの位置zが容易に計算される。
【0050】 音および振動によるバックグラウンド雑音を除去するために、光源10、ポラ
ライザ30、第1および第2の遅延コイル60,130、第1および第2の位相
変調器70、140、および、四つのWDM50、80、110および120を
防振ハウジング(音響的に絶縁された、図1において破線160で示されている
)に収容し、センサループ90のみをこのハウジングの外に配置するようにする
ことが好ましい。
【0051】 図2は、0.1ラジアン振幅、283Hz位相の乱れが距離zをほとんど0と
するである図1におけるセンサループ90のファイバ部分に与えられたとき、検
出器150において観察される復調された信号(フリンジ)を示している。図2
のフリンジは、大部分のセンサループ90を防振ハウジング内に配置された非常
に低雑音の構成を用いて得られるものである。センサループ90の短いテスト部
分のみが防振ハウジング160外において接近可能に残されている。この構成は
、本発明の原理を説明するためのものであり、実際の使用においては、センサル
ープ90のほとんどすべてが、防振ハウジング160の外部に配置されることに
なろう。テスト信号として0.1ラジアン振幅、283Hz位相の乱れを適用す
るために、簡単な位相変調器が、薄いアルミニウムシートに取り付けられたラウ
ドスピーカコーンを用いて、振動を与える前にこのシートに簡単にで固定される
センサループ90からの所定長を与えるように組み立てられた。
【0052】 観察されたフリンジは、283Hzの乱れ周波数付近におけるおよそ20Hz
の帯域についてデジタル的にフィルタリングされた。得られた波形は、上述した
ように割り算をされて位置依存の結果を生じる。
【0053】 図3は、図1の構成に対する上述の式によって予測された応答(破線)と共に
フィルタリングされたフリンジの商を示している。
【0054】 0.1ラジアン振幅、283Hz位相の乱れは、さらに異なってはいるが知ら
れているセンサループ回りの位置および計算された比に対して適用された。これ
らの結果から計算されたループにおける位置が、乱れが実際に与えられた既知の
位置に対してプロットされて図4に示されている。
【0055】 現在好ましいWDMは、誘電体フィルタに基づいたものであり、「トップハッ
ト」応答を備え、非常に小さなレベルの光学的なクロストークを有するものであ
る。しかしながら、初期のWDMは、二つのサニャック干渉計ループ間に有限で
はあるが少量のクロストーク(典型的には、約8.5%)を発生する正弦波応答
を有していた。これは、WDM50、80、110、120における非理想的な
特性のためであり、光路ABCEGHIおよびABDEFHI(図1)は、かろう
じて許される。第1の光路は、バイアス位相変調なしに、光源10と検出器15
0間を光が通過することを許容する。これは、言い換えれば、乱れがセンサルー
プ90に与えられるとき、検出器150に基本帯域乱れ信号が生じることである
。この基本帯域乱れ信号は、ロックイン増幅器およびポストフィルタリングによ
って除去される。他方、第2の光路は、検出器150において小さなエラー信号
を生じる二つの位相変調器70、140の両者における周波数における光の位相
バイアスを可能にする。非0光学的クロストークパワー比Cが存在すると、二つ
のサニャック干渉計ループサニャック1およびサニャック2の1次および2次高
調波は、以下により与えられる。 1) 1次高調波サニャック1、
【0056】
【数10】
【0057】 2) 2次高調波サニャック1、
【0058】
【数11】
【0059】 3) 1次高調波サニャック2、
【0060】
【数12】
【0061】 4) 2次高調波サニャック2、
【0062】
【数13】
【0063】 ここで、Φ(t)、x、a1、a2、L、L1、L2、および、Jnは、既に定めた
通りであり、a1cおよびa2cは、その他の定数である。それにもかかわらず、位
置依存比は、これらの式から計算することができる。8.5%クロストークと予
測された比は、やはり、図3に示されている。
【0064】 本発明の好ましい実施例が説明されたが、当業者であれば、多くの変化・修正
を行なうことは自明のことであろう。図1の構成が、双方向であることは容易に
理解できよう。特に、WDMの端子は、説明を容易にするために「入力」および
「出力」と名称を付けられている。実際には、端子が現実的な「入力」あるいは「
出力」であるかどうかは、光がループを通過する通路に完全に対応するものであ
る。実際のところ、光学カプラおよびWDMは、時には4端子装置であるが、使
われない端子は、明瞭化のために図1においては省略されている。
【0065】 その上、センサループ90に与えられる位相乱れの位置zの測定を行なうこと
を可能にするために、遅延コイル60、130が、二つのサニャック干渉計ルー
プの有効中心が別の位置となるように配置されていることのみが必要であること
は明らかであろう。このようにして、第1の位相変調器70は、第1の遅延コイ
ル60に直列に配置できるので、高波長帯域は、第1の周波数において位相変調
されるとともに第1の遅延コイルループ60を通過することにもなる。低波長帯
域は、第1のWDM50における第2の出力と第2のWDM80における第2の
入力間にあるファイバの短い長さを単純に通過する。その場合、第2の位相変調
器140は、第2の遅延コイル130に直列に配置されているので、低波長帯域
は、第2の周波数において位相変調されるとともに第2の遅延ループ130を通
過することにもなる。高波長帯域(既に変調され、遅延されている)は、第3の
WDM110における第2の出力と第4のWDM120における第2の出力間に
あるファイバの短い長さを単純に通過する。
【0066】 その低い光学的損失のために、図1におけるシステムのS−N比は、従来のシ
ステムにおけるそれに比較して非常に低い。乱れの位置(例えば、ファイバ型光
センサループ90の一部分付近の重いサッカーボール)は、数十キロメートルに
ついて約100メートルの精度で図1の構成によって測定できるであろう。1−
2℃の迅速な転移温度も測定できる。この構成は、特に、位相が時間と共に迅速
に変化するような乱れの検出に適している。
【0067】 この構成は、プロパティ周辺モニタ、火災検知、走路、道路および線路上の車
両の位置選定などに多くのアプリケーションを持つ。この構成は、また、遠隔通
信接続路での物理的な干渉の検出に有用である。図1の破線160内に示されて
いる装置の遠隔通信接続路からなるセンサループ90の両端への接続は、干渉の
位置選定とともに検出されるべき接続路との干渉を可能にしている。
【図面の簡単な説明】
本発明は、多数のやり方で実行にすることができるが、その一つが、以下に添
付の図面を参照しつつ、実施例として説明される。
【図1】 本発明を具体化した、光源、センサループおよび検出器を備えたファイバ型光
センサの概略を示す。
【図2】 復調につながる図1に示す検出器によって測定された信号を示す。
【図3】 0光学的クロストークおよび8.5%光学的クロストークをそれぞれ備えた位
置依存比の理論的な予測と共に図2における信号から得られた測定された位置依
存比を示す。
【図4】 図1のセンサループに加えられた乱れの実際の位置および測定された位置を示
す。
【符号の説明】
10…光源、20…光学的カプラ、30…ポラライザ、40…第2の光学的カ
プラ、50…第1の波長分割多重器、60…第1の遅延コイル、70…第1の位
相変調器、80…第2の波長分割多重器、90…センサループ、100…リオデ
ラポラライザ、110…第3の波長分割多重器、120…第4の波長分割多重器
、130…第2の遅延コイル、140…第2の位相変調器、150…検出器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G02B 6/00 G02B 6/00 B 5F073 H01L 31/0232 H01S 5/00 5F088 H01S 5/00 G01M 11/00 R // G01M 11/00 H01L 31/02 C (81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY, DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I T,LU,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ ,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW,ML, MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,GM,K E,LS,MW,SD,SL,SZ,TZ,UG,ZW ),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU, TJ,TM),AE,AL,AM,AT,AU,AZ, BA,BB,BG,BR,BY,CA,CH,CN,C U,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,GB,GD ,GE,GH,GM,HR,HU,ID,IL,IN, IS,JP,KE,KG,KP,KR,KZ,LC,L K,LR,LS,LT,LU,LV,MD,MG,MK ,MN,MW,MX,NO,NZ,PL,PT,RO, RU,SD,SE,SG,SI,SK,SL,TJ,T M,TR,TT,UA,UG,US,UZ,VN,YU ,ZA,ZW (71)出願人 Highfield, Southamp ton, Hampshire SO17 1BJ, United Kingdom (72)発明者 ラッセル, ステュワート, ジョン イギリス, ブリストル ビーエス16 6 ディーエス, ダウンエンド, オークデ ール ロード 45 Fターム(参考) 2F056 VF02 VF12 VF15 VF16 VF17 2F065 AA02 AA06 AA65 BB11 DD05 EE03 FF00 FF24 FF51 GG06 JJ01 JJ18 LL02 LL32 NN06 NN08 UU05 UU07 2F103 BA27 BA44 CA08 CA10 EB02 EB12 EB24 EC09 EC10 EC14 2G086 CC07 2H038 AA03 AA07 AA32 5F073 AB28 BA09 HA10 5F088 AA03 BB10 JA14

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 乱れを検知するサニャック干渉計において、 波長λsの範囲の光信号を発生させる光源と、 前記光源によって発生された光信号を受ける受光器と、 前記光源と前記受光器との両方に光学的に接続されるファイバ型光センサルー
    プと、 前記光源に光学的に接続され、前記光源から受けた光を第1および第2の分割
    信号チャンネルにスペクトル的に分割する第1の光学的な分割手段であって、前
    記第1の分割信号チャンネルが、λ1に中心を備えた波長範囲を備え、前記第2
    の分割信号チャンネルが、λ2に中心を備えた波長範囲を備え、その際λ1とλ2
    の両方がのλsサブセットであり、および、その際λ1に中心を備えた波長範囲に
    含まれる電磁エネルギが、λ2に中心を備えた波長範囲に含まれる電磁エネルギ
    とほとんど重なり合ないようにした第1の光学的な分割手段と、 検出器に光学的に接続された第1の光学的な結合手段とを備え、 前記第1の分割信号チャンネルが、センサループを介して光学的な分割手段と
    光学的な結合手段との間に第1の光路に沿って形成され、第2の分割信号チャン
    ネルが、前記センサループを介して前記光学的な分割手段と前記光学的な結合手
    段との間に前記第1の光路とは異なる第2の光路に沿って形成され、 前記第1の光路が、第1の周波数において前記第1の分割信号チャンネルにお
    ける光の位相角度を変調するように配置された第1の光学的な位相角度変調手段
    を備え、前記第1の光路が、前記センサループ周囲の中心でない第1の位置に中
    心を備える全体的な光路長を備え、 前記第2の光路が、前記第1の周波数とは異なる第2の周波数において前記第
    2の分割信号チャンネルにおける光学的な位相角度を変調するように配置された
    第2の光学的な位相角度変調手段を備え、前記第2の光路が、前記センサループ
    周囲の前記第1の位置とは異なる中心でない第2の位置に中心を備える全体的な
    光路長を備え、 前記第1の光学的な結合手段が、前記第1および第2の分割信号チャンネルに
    おける位相変調された光を複合信号に結合するように配置されており、前記受光
    器が、前記複合光信号を受け、前記第1および第2の光路を伝わってきた光から
    生じる信号変化を前記複合光信号から抽出し、前記センサループ周囲の乱れの距
    離が、前記信号変化に対応して決定できるようにした、サニャック干渉計。
  2. 【請求項2】 前記第1の分割信号チャンネルが、前記第1の光学的な位相
    角度変調手段、前記センサループ、第1の遅延ループを画成するファイバの第1
    の長さを順に通過することによって前記光学的な分割手段と前記光学的な結合手
    段の間に前記第1の光路を形成するようにし、その際、前記第1の光路の中心が
    、前記センサループの中心からずれているようにした、請求項1に記載の干渉計
  3. 【請求項3】 前記第2の分割信号チャンネルが、第2の遅延ループを画成
    するファイバの第2の長さ、前記センサループ、前記第2の光学的な位相角度変
    調手段を順に通過することによって前記光学的な分割手段と前記光学的な結合手
    段の間に前記第2の光路を画成するようにし、その際、前記第2の光路の中心が
    、前記第1の光路の中心からずれた方向とは反対の方向に前記センサループの中
    心からずれているようにした、請求項2に記載の干渉計。
  4. 【請求項4】 前記第1の光学的な位相角度変調手段と前記センサループと
    の間、および、前記第1の遅延ループと前記センサループとの間に配置された第
    2の光学的な結合手段であって、前記第1の光学的な位相角度変調手段の出力か
    ら第1の変調された信号を受けるとともに前記第1の遅延ループから第1の遅延
    された信号を受け、前記センサループに対して多重化されたセンサ問い合わせ信
    号を出力するように構成された前記第2の光学的な結合手段とを更に備える、請
    求項3に記載の干渉計。
  5. 【請求項5】 前記センサループと前記第2の光学的な位相角度変調手段と
    の間に配置された第2の光学的な分割手段であって、前記センサループからの前
    記多重化されたセンサ問い合わせ信号を受けるとともに前記センサ信号を前記第
    1および第2の分割信号チャンネルにそれぞれ分割する第2の光学的な分割手段
    とを更に備える、請求項4に記載の干渉計。
  6. 【請求項6】 前記光学的な分割手段あるいはそのそれぞれ、前記光学的な
    結合手段あるいはそのそれぞれが、波長分割多重化装置(WDM)である、請求
    項1〜5のいずれか一項に記載の干渉計。
  7. 【請求項7】 前記光源が、レーザダイオードにより励起される単一の超発
    光ファイバ光源である、請求項1〜6のいずれか一項に記載の干渉計。
  8. 【請求項8】 前記検出器が、単一のP型真性n型(PIN)半導体フォト
    ダイオードである、請求項1〜7のいずれか一項に記載の干渉計。
  9. 【請求項9】 前記第1および第2の光学的な位相角度変調手段が、それぞ
    れ、圧電(PZT)ファイバ長変調装置である、請求項1〜8のいずれか一項に
    記載の干渉計。
  10. 【請求項10】 前記第1の光学的な位相角度変調手段における前記第1の
    周波数と前記第2の光学的な位相角度変調手段における前記第2の周波数が、そ
    れぞれ前記第1および第2の光路を介して前記光源と前記検出器との間に形成さ
    れた第1および第2の干渉計ループのそれぞれにおける固有周波数である、請求
    項1〜9のいずれか一項に記載の干渉計。
  11. 【請求項11】 前記受光器によって前記複合信号から抽出された信号変化
    が、前記第1および第2の分割信号チャンネルにおける光が前記第1および第2
    の光学的な位相角度変調手段によって変調される前記第1および第2の周波数に
    おいて変調された基本波成分および第2の高調波成分の検出によって得られるよ
    うにした、請求項1〜10のいずれか一項に記載の干渉計。
  12. 【請求項12】 請求項3に従属するとき、乱れが生じたセンサループでの
    距離zが、前記第2の周波数において位相変調された光から生じる基本波および
    第2高調波成分に対して前記第1の周波数において位相変調された光から生じる
    基本波および第2高調波成分の比を計算する、請求項11に記載の干渉計。
  13. 【請求項13】 xをバイアス変調深さとし、a1およびa2を定数とし、L
    を前記センサループの長さとし、L1を前記第1の遅延ループの長さとし、L2
    前記第2の遅延ループの長さとし、および、J1およびJ2を1次および2次のベ
    ッセル関数としたとき、前記比が、 【数1】 によって与えられる、請求項12に記載の干渉計。
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