JP2002510808A - フーリエスペクトル解析を用いる走査型スポット顕微鏡及びフーリエスペクトル解析の方法 - Google Patents
フーリエスペクトル解析を用いる走査型スポット顕微鏡及びフーリエスペクトル解析の方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 フーリエスペクトル解析の方法を利用して効率的な測定を可能とする走査型スポット顕微鏡を提供する。
【解決手段】 フーリエスペクトル解析を行う走査型スポット顕微鏡は、標本７の連続する位置を入射光スポットを走査する連続走査手段４を有する。干渉計８が顕微鏡の光路を横切るように配置され、該干渉計８は偏光装置間に位置する複屈折装置を含むと共に、一定の光路差を導く。連続した標本７の各位置からの入射光スポットがあるので、光信号を受光して記録する手段１１が設けられている。一定の光路差は、各走査実行中は一定に保たれるが、各走査同士の間では変化し、その結果標本の位置に関連する光信号と、一定の光路差の値は記録可能になる。
Description
【０００１】
本発明は、フーリエスペクトル解析を用いる走査型スポット顕微鏡とフーリエ
スペクトル解析の方法に関する。
スペクトル解析の方法に関する。
【０００２】
標本の１点または厳密に言えば微小な部分（１立方マイクロメートル以下、例
えば０．０１立方マイクロメートル位）を１回に照らす光学的顕微鏡は、多くの
異なった光学的結像方式で開発されており、例えば共焦点のエピ蛍光式（epiflu
orescence)の結像方式（Ｗｈｉｔｅ出願の米国特許第５０３２７２０号）や多光
子（multiphoton)式の結像方式（Ｄｅｎｋ、Ｓｔｒｉｃｋｌｅｒ、Ｗｅｂｂ出願
の米国特許第５０３４６１３号）がある。これらの方式のいくつかは、Ｐｌｅｎ
ｕｍ Ｐｒｅｓｓ社発行（１９９５年）、Ｊａｍｅｓ Ｂ．Ｐａｗｌｅｙ監修の
「Ｈａｎｄｂｏｏｋ ｏｆ Ｂｉｏｌｏｇｉｃａｌ Ｃｏｎｆｏｃａｌ Ｍｉｃ
ｒｏｓｃｏｐｙ」第２編にも紹介されている。
えば０．０１立方マイクロメートル位）を１回に照らす光学的顕微鏡は、多くの
異なった光学的結像方式で開発されており、例えば共焦点のエピ蛍光式（epiflu
orescence)の結像方式（Ｗｈｉｔｅ出願の米国特許第５０３２７２０号）や多光
子（multiphoton)式の結像方式（Ｄｅｎｋ、Ｓｔｒｉｃｋｌｅｒ、Ｗｅｂｂ出願
の米国特許第５０３４６１３号）がある。これらの方式のいくつかは、Ｐｌｅｎ
ｕｍ Ｐｒｅｓｓ社発行（１９９５年）、Ｊａｍｅｓ Ｂ．Ｐａｗｌｅｙ監修の
「Ｈａｎｄｂｏｏｋ ｏｆ Ｂｉｏｌｏｇｉｃａｌ Ｃｏｎｆｏｃａｌ Ｍｉｃ
ｒｏｓｃｏｐｙ」第２編にも紹介されている。
【０００３】 いわゆる、走査型スポット顕微鏡において、像は照らしたスポットで標本上を
走査し、または固定スポットに対して標本を走査することにより形成され、放射
または反射光のいくつかの部分について所定時間計測を行い、各ポイントにおけ
る像の光度を決定する。逆の方式では、標本の広い部分を照らし、これが測光区
域または走査される部分となる。後者の構成は、特に単一または複数の光波長の
微小濃度計に応用可能である。「Ｈａｎｄｂｏｏｋ ｏｆ Ｂｉｏｌｏｇｉｃａ
ｌ Ｃｏｎｆｏｃａｌ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ」に記載されているように、これ
らの装置には汎用性が見られ、特に測定光の光度が低いことがある共焦点または
多光子エピ蛍光方式の顕微鏡を使用する生物学の分野に応用することができる。
その場合、検出器を通過する前に特定波長の光を分離するために使用するフィル
タまたはモノクロメータで光が減衰することが深刻な問題である。
走査し、または固定スポットに対して標本を走査することにより形成され、放射
または反射光のいくつかの部分について所定時間計測を行い、各ポイントにおけ
る像の光度を決定する。逆の方式では、標本の広い部分を照らし、これが測光区
域または走査される部分となる。後者の構成は、特に単一または複数の光波長の
微小濃度計に応用可能である。「Ｈａｎｄｂｏｏｋ ｏｆ Ｂｉｏｌｏｇｉｃａ
ｌ Ｃｏｎｆｏｃａｌ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ」に記載されているように、これ
らの装置には汎用性が見られ、特に測定光の光度が低いことがある共焦点または
多光子エピ蛍光方式の顕微鏡を使用する生物学の分野に応用することができる。
その場合、検出器を通過する前に特定波長の光を分離するために使用するフィル
タまたはモノクロメータで光が減衰することが深刻な問題である。
【０００４】 天文学の分野における分光技術について、光のスペクトル構成を分析する方法
がＬ．Ｍｅｒｔｚによって記述されている（１９５８年刊、「Ｌｅ Ｊｏｕｒｎ
ａｌ ｄｅ ｐｈｙｓｉｑｕｅ ｅｔ ｌｅ Ｒａｄｉｕｍ」の第１．１９巻、
第２３３〜２３６頁、「Ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｅ ＳｔｅｌｌａｉｒｅＭｕｌ
ｔｉｃａｎａｌ」の項参照）。Ｍｅｒｔｚは彼の開発した装置の２つの利点につ
いて述べている。第１に、フーリエ干渉計である限り、モノクロメータより優れ
ている。これは、モノクロメータでは光が出口のスリットの顎部分で減衰してし
まうが、干渉計では光の全光子が検出できる可能性があるという公知の事実があ
るからである。第２に、複屈折素子を使った彼の装置は、マイケルソン干渉計と
比較して頑丈で構造が簡単であると述べている。
がＬ．Ｍｅｒｔｚによって記述されている（１９５８年刊、「Ｌｅ Ｊｏｕｒｎ
ａｌ ｄｅ ｐｈｙｓｉｑｕｅ ｅｔ ｌｅ Ｒａｄｉｕｍ」の第１．１９巻、
第２３３〜２３６頁、「Ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｅ ＳｔｅｌｌａｉｒｅＭｕｌ
ｔｉｃａｎａｌ」の項参照）。Ｍｅｒｔｚは彼の開発した装置の２つの利点につ
いて述べている。第１に、フーリエ干渉計である限り、モノクロメータより優れ
ている。これは、モノクロメータでは光が出口のスリットの顎部分で減衰してし
まうが、干渉計では光の全光子が検出できる可能性があるという公知の事実があ
るからである。第２に、複屈折素子を使った彼の装置は、マイケルソン干渉計と
比較して頑丈で構造が簡単であると述べている。
【０００５】 まず第１に、Ｍｅｒｔｚの装置の問題点は、偏光された入射光を必要とするの
で、少なくとも入射光の半分の光度が犠牲になってしまうことである。しかしな
がら、Ｍｅｒｔｚは「全偏光光の利用」と呼ばれそうな理論を紹介している。入
射した星の光は、偏光ビームスプリッタの役目をするウォラストンプリズムを通
過し、最小の減衰で入射光は互いに直角に偏光された２個のビームに分割される
。２個のビームは偏光干渉計を通過し、これにより２個の相補的な干渉像が得ら
れ、その両者は連続的な解析に使用される。この特徴点は、２個のウォラストン
プリズムをそれぞれ偏光ビームスプリッタと、コンバイナとして使用したＷ．Ｍ
．Ｓｉｎｔｏｎによって更に改良された（Ｗ．Ｍ．Ｓｉｎｔｏｎ著、１９６３年
刊、「Ｊｏｕｒｎａｌ ｏｆ Ｑｕａｎｔｉｔａｔｉｖｅ Ｓｐｅｃｔｏｒｓｃ
ｏｐｙ ａｎｄ Ｒａｄｉａｔｉｏｎ Ｔｒａｎｓｆｅｒ」の第１．３巻、第５
５１〜５５８頁、「Ｒｅｃｅｎｔ Ｉｎｆｒａｒｅｄ Ｓｐｅｃｔｒａ ｏｆ
Ｍａｒｓ ａｎｄ Ｖｅｎｕｓ」の項参照）。
で、少なくとも入射光の半分の光度が犠牲になってしまうことである。しかしな
がら、Ｍｅｒｔｚは「全偏光光の利用」と呼ばれそうな理論を紹介している。入
射した星の光は、偏光ビームスプリッタの役目をするウォラストンプリズムを通
過し、最小の減衰で入射光は互いに直角に偏光された２個のビームに分割される
。２個のビームは偏光干渉計を通過し、これにより２個の相補的な干渉像が得ら
れ、その両者は連続的な解析に使用される。この特徴点は、２個のウォラストン
プリズムをそれぞれ偏光ビームスプリッタと、コンバイナとして使用したＷ．Ｍ
．Ｓｉｎｔｏｎによって更に改良された（Ｗ．Ｍ．Ｓｉｎｔｏｎ著、１９６３年
刊、「Ｊｏｕｒｎａｌ ｏｆ Ｑｕａｎｔｉｔａｔｉｖｅ Ｓｐｅｃｔｏｒｓｃ
ｏｐｙ ａｎｄ Ｒａｄｉａｔｉｏｎ Ｔｒａｎｓｆｅｒ」の第１．３巻、第５
５１〜５５８頁、「Ｒｅｃｅｎｔ Ｉｎｆｒａｒｅｄ Ｓｐｅｃｔｒａ ｏｆ
Ｍａｒｓ ａｎｄ Ｖｅｎｕｓ」の項参照）。
【０００６】 ＭｅｒｔｚとＳｉｎｔｏｎの方法は、両者とも２個のビーム（２個とも光学素
子による複屈折の結果として形成されたものである）の光路差が異なるように設
定した偏光干渉計によって計測された一連の光度の測定に基づくものである。こ
の一連の測定結果を干渉像と呼び、これらについて入射光の光学的スペクトルを
得るために公知の逆フーリエ変換が行われる。
子による複屈折の結果として形成されたものである）の光路差が異なるように設
定した偏光干渉計によって計測された一連の光度の測定に基づくものである。こ
の一連の測定結果を干渉像と呼び、これらについて入射光の光学的スペクトルを
得るために公知の逆フーリエ変換が行われる。
【０００７】 フーリエスペクトル解析を複屈折装置を利用した顕微鏡に応用することを記載
した先行技術がある。Ｍｉｎａｍｉ（Ｓ．Ｍｉｎａｍｉ著、１９８７年刊、「Ｍ
ｉｋｒｏｃｈｉｍｉｋａ Ａｃｔａ 〔Ｗｉｅｎ〕」の第３巻、第３０９〜３２
４頁、「Ｆｏｕｒｉｅｒ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ Ｓｐｅｃｔｒｏｓｃｏｐｙ ｕ
ｓｉｎｇ Ｉｍａｇｅ Ｓｅｎｓｏｒｓ」の項参照）は、顕微鏡標本の限定され
た部分からの光がスリット状の孔を通過し、それから複屈折素子を通過してカメ
ラ内で直ちに完全な干渉像を形成する装置について記述している。
した先行技術がある。Ｍｉｎａｍｉ（Ｓ．Ｍｉｎａｍｉ著、１９８７年刊、「Ｍ
ｉｋｒｏｃｈｉｍｉｋａ Ａｃｔａ 〔Ｗｉｅｎ〕」の第３巻、第３０９〜３２
４頁、「Ｆｏｕｒｉｅｒ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ Ｓｐｅｃｔｒｏｓｃｏｐｙ ｕ
ｓｉｎｇ Ｉｍａｇｅ Ｓｅｎｓｏｒｓ」の項参照）は、顕微鏡標本の限定され
た部分からの光がスリット状の孔を通過し、それから複屈折素子を通過してカメ
ラ内で直ちに完全な干渉像を形成する装置について記述している。
【０００８】 ＢｕｉｃａｎとＭａｒｔｉｎ（米国特許第４９０５１６９号）は、フローサイ
トメータに使用される偏光干渉計を開示している。ＭｅｒｔｚとＳｉｎｔｏｎの
ように彼らの干渉計には、信号の光子を最大に利用するために２個の偏光ビーム
スプリッタが含まれているが、さらに変調可能な複屈折装置が採用されている。
この最後の特徴点により、０．０１から０．１ミリ秒で完全な干渉走査（即ち、
光路差の範囲をこえた走査）が可能になり、その結果完全なスペクトルを、フロ
ーチャンバ内のレーザビームが１個のセルを通過する短時間に得ることが可能に
なる。
トメータに使用される偏光干渉計を開示している。ＭｅｒｔｚとＳｉｎｔｏｎの
ように彼らの干渉計には、信号の光子を最大に利用するために２個の偏光ビーム
スプリッタが含まれているが、さらに変調可能な複屈折装置が採用されている。
この最後の特徴点により、０．０１から０．１ミリ秒で完全な干渉走査（即ち、
光路差の範囲をこえた走査）が可能になり、その結果完全なスペクトルを、フロ
ーチャンバ内のレーザビームが１個のセルを通過する短時間に得ることが可能に
なる。
【０００９】 これらの先行技術は役立つものであるが、これらの先行技術には干渉およびフ
ーリエスペクトル解析の技術をスポット顕微鏡の走査に応用することは示唆され
ていない。ＭｅｒｔｚとＳｉｎｔｏｎは、自分たちの研究をスペクトル天文学に
限定しており、走査型スポット顕微鏡の課題については触れていない。Ｍｉｎａ
ｍｉは、いずれの種類の走査方法についても言及していないし、彼の装置は、微
弱で急激に変化する信号に対する応答性が良いことから走査型のスポット顕微鏡
用の検出器として好適な光電子増倍管を使用するのには不向きである。後者の特
許（米国特許第５１１７４６６号）において、ＢｕｉｃａｎとＹｏｓｈｉｄａは
、同種の干渉計をレーザ走査型のエピ蛍光顕微鏡、好適には共焦点顕微鏡にフロ
ーサイトメータを含むシステムの一部として採用することを述べている。Ｂｕｉ
ｃａｎとＹｏｓｈｉｄａが述べているスポット顕微鏡における走査方法では、画
素継続時間（すなわち最終的な像の１画素に対応する標本の範囲部分を走査する
に要する時間）の間に完全な干渉像を形成するために急速に発振する水晶素子が
必要になる。 本出願の方法においては、その方法はこれらと異なっており、各干渉像は光路
差を異なる設定とした同じ点を繰り返し走査することによって集められる。この
ゆっくりとした手順によることにより、低コストに加え、いくつかの利点を有す
る他の装置の利用が可能になる。
ーリエスペクトル解析の技術をスポット顕微鏡の走査に応用することは示唆され
ていない。ＭｅｒｔｚとＳｉｎｔｏｎは、自分たちの研究をスペクトル天文学に
限定しており、走査型スポット顕微鏡の課題については触れていない。Ｍｉｎａ
ｍｉは、いずれの種類の走査方法についても言及していないし、彼の装置は、微
弱で急激に変化する信号に対する応答性が良いことから走査型のスポット顕微鏡
用の検出器として好適な光電子増倍管を使用するのには不向きである。後者の特
許（米国特許第５１１７４６６号）において、ＢｕｉｃａｎとＹｏｓｈｉｄａは
、同種の干渉計をレーザ走査型のエピ蛍光顕微鏡、好適には共焦点顕微鏡にフロ
ーサイトメータを含むシステムの一部として採用することを述べている。Ｂｕｉ
ｃａｎとＹｏｓｈｉｄａが述べているスポット顕微鏡における走査方法では、画
素継続時間（すなわち最終的な像の１画素に対応する標本の範囲部分を走査する
に要する時間）の間に完全な干渉像を形成するために急速に発振する水晶素子が
必要になる。 本出願の方法においては、その方法はこれらと異なっており、各干渉像は光路
差を異なる設定とした同じ点を繰り返し走査することによって集められる。この
ゆっくりとした手順によることにより、低コストに加え、いくつかの利点を有す
る他の装置の利用が可能になる。
【００１０】
本発明によれば、フーリエスペクトル解析用の走査型スポット顕微鏡は、（ｉ
）入射光のスポット位置から連続する標本上の位置を走査することを含む走査動
作を繰り返し行うための走査手段と、（ii）顕微鏡の光軸を横切るように配置さ
れ、光路内の偏光装置間に配置された複屈折装置を含み、一定の光路差を導く干
渉計と、（iii） 各標本位置からの入射光スポットについて光信号を受光して記
録する記録手段とを備え、使用中は一定の光路差が各走査動作の間は維持される
が、走査動作同士の間には変化し、標本の位置に関連する光信号及び一定の光路
差の値が記録される。その結果各標本位置に関連するスペクトル解析を行うこと
ができる。 干渉計は、標本へ向かう光路内または標本から検出器へ向かう光路内に配置し
てもよい。干渉計自体は結像装置でなくてもよいが、走査型スポット顕微鏡は、
標本をリニアまたはラスタ−走査することにより、また一定時間にスポットから
得られる放射、透過、反射または蛍光放射された光または他の光の信号の変化に
ついて測光記録を行うことにより像を形成することができる。
）入射光のスポット位置から連続する標本上の位置を走査することを含む走査動
作を繰り返し行うための走査手段と、（ii）顕微鏡の光軸を横切るように配置さ
れ、光路内の偏光装置間に配置された複屈折装置を含み、一定の光路差を導く干
渉計と、（iii） 各標本位置からの入射光スポットについて光信号を受光して記
録する記録手段とを備え、使用中は一定の光路差が各走査動作の間は維持される
が、走査動作同士の間には変化し、標本の位置に関連する光信号及び一定の光路
差の値が記録される。その結果各標本位置に関連するスペクトル解析を行うこと
ができる。 干渉計は、標本へ向かう光路内または標本から検出器へ向かう光路内に配置し
てもよい。干渉計自体は結像装置でなくてもよいが、走査型スポット顕微鏡は、
標本をリニアまたはラスタ−走査することにより、また一定時間にスポットから
得られる放射、透過、反射または蛍光放射された光または他の光の信号の変化に
ついて測光記録を行うことにより像を形成することができる。
【００１１】 本発明が提供するフーリエスペクトル解析の方法では、入射光スポットが、標
本上の連続した位置を走査することを含む繰り返し走査を行い、偏光装置間に配
置された複屈折装置が一定の光路差を標本に入射する光または標本から受けた光
の光路に生じさせ、使用中は一定の光路差を各走査動作の間維持し、走査動作同
士の間には変化させ、標本位置および一定の光路差の値に関連する光信号を記録
する。その結果、各標本位置に関連するスペクトル解析を行うことが可能になる
。 フーリエスペクトル解析を行う好適な方法は、光路差が特定の値に関連する像
を記録しておき、次いで干渉計中の光路差を既知の増分ずつ変化させて新しい像
を記録する。これにより一連の像、すなわち一連のリニア走査が記録される。像
データの連続した逆フーリエ変換をオフラインで行ってもよいが、これを行うこ
とにより、２次元像の各画素またはリニア走査ラインに沿った各画素に特有なス
ペクトル情報が得られる。
本上の連続した位置を走査することを含む繰り返し走査を行い、偏光装置間に配
置された複屈折装置が一定の光路差を標本に入射する光または標本から受けた光
の光路に生じさせ、使用中は一定の光路差を各走査動作の間維持し、走査動作同
士の間には変化させ、標本位置および一定の光路差の値に関連する光信号を記録
する。その結果、各標本位置に関連するスペクトル解析を行うことが可能になる
。 フーリエスペクトル解析を行う好適な方法は、光路差が特定の値に関連する像
を記録しておき、次いで干渉計中の光路差を既知の増分ずつ変化させて新しい像
を記録する。これにより一連の像、すなわち一連のリニア走査が記録される。像
データの連続した逆フーリエ変換をオフラインで行ってもよいが、これを行うこ
とにより、２次元像の各画素またはリニア走査ラインに沿った各画素に特有なス
ペクトル情報が得られる。
【００１２】 低光度用に好適な干渉計では、入射光の光路内に偏光ビームスプリッタ（好適
には誘電式のキューブ型偏光ビームスプリッタがよい）が配置される。このビー
ムスプリッタは、光の入力ビームを互いに直角に偏光する２個のビームに分割し
、両ビームとも干渉計に入射される。その結果、どんな方向に偏光された入射光
も最小のロスで干渉計へ伝送される。複屈折装置を通過した後、両ビームはビー
ムチャンバである第２の偏光ビームスプリッタを通過する。好適な干渉計の場合
には、干渉計を通過する２個のビームが、１個の頂点がビームの開く点に対応し
、反対の頂点がビームが再び閉じる点に対応する矩形を形成する。２個の外へ向
かう光路が形成され、それらは２個の検出器、好適には光電子増倍管へ向かう。
この構成により、トータルの光学的効率を１００％に近づけることができる。
には誘電式のキューブ型偏光ビームスプリッタがよい）が配置される。このビー
ムスプリッタは、光の入力ビームを互いに直角に偏光する２個のビームに分割し
、両ビームとも干渉計に入射される。その結果、どんな方向に偏光された入射光
も最小のロスで干渉計へ伝送される。複屈折装置を通過した後、両ビームはビー
ムチャンバである第２の偏光ビームスプリッタを通過する。好適な干渉計の場合
には、干渉計を通過する２個のビームが、１個の頂点がビームの開く点に対応し
、反対の頂点がビームが再び閉じる点に対応する矩形を形成する。２個の外へ向
かう光路が形成され、それらは２個の検出器、好適には光電子増倍管へ向かう。
この構成により、トータルの光学的効率を１００％に近づけることができる。
【００１３】 更に、干渉計の好適な構成としては、固定された光路設定光学素子に対して平
行移動可能な楔形の複屈折素子から成る改良されたＳｏｌｅｉｌ式補償部を含む
ようにしてもよい。改良されたＳｏｌｅｉｌ式補償部において、楔形複屈折素子
の光学的減速方向は、平行移動方向に対し、通常の直角方向に代えて４５度の方
向である。これにより、矩形のビームの反対および平行な辺を構成する異なる偏
光のビーム間の光路差は、矩形を含む面内で平行移動可能な楔形複屈折素子の全
ての位置において等しくすることができる。全ての入射光が同じ光路差に限定さ
れ、かつ２個の光電子増倍管で測定された一連の測定結果に基づき構成された２
個の相補的な干渉像を形成できるので、効果的な干渉計を実現できる。
行移動可能な楔形の複屈折素子から成る改良されたＳｏｌｅｉｌ式補償部を含む
ようにしてもよい。改良されたＳｏｌｅｉｌ式補償部において、楔形複屈折素子
の光学的減速方向は、平行移動方向に対し、通常の直角方向に代えて４５度の方
向である。これにより、矩形のビームの反対および平行な辺を構成する異なる偏
光のビーム間の光路差は、矩形を含む面内で平行移動可能な楔形複屈折素子の全
ての位置において等しくすることができる。全ての入射光が同じ光路差に限定さ
れ、かつ２個の光電子増倍管で測定された一連の測定結果に基づき構成された２
個の相補的な干渉像を形成できるので、効果的な干渉計を実現できる。
【００１４】 Ｓｏｌｅｉｌ式補償部を含む干渉計は、電気や環境の変化に対して反応しない
固有の複屈折機能や光学的素子の特性に依存するので最も好適であり、干渉計内
の光路差の安定性が高くなる。しかしながら、他の光学的構成も可能であり、そ
れらも同様に安定した光学的素子を用いることで同じ効果がある。例えば、偏光
ビームスプリッタは、ウォラストンプリズムや、Ｒｏｃｈｏｎプリズムや、広い
使用波長範囲を持つＳａｖａｒｔプレートを用いてもよい。しかし、最近の誘電
式キューブ型偏光ビームスプリッタの改良は、大きな口径の装置を経済的に製造
することを可能にした。光路を変化させる他の手段としては、Ｓｏｌｅｉｌ式補
償部に代えてＢｅｒｅｋ式、Ｂａｂｉｎｅｔ式または他の補償部でもよい。好適
には干渉計は、受動的な偏光素子ではなく駆動式の平行移動または回転可能な方
式を採用して調整でき、その結果干渉計は像を形成する間の１秒以上光路差を一
定に保つことができる。電気光学効果、光弾性を有する液晶または他の光路を変
化させる部材を利用した干渉計の他の構成も有るが、それらは好適ではなく、光
路差を同じように安定させることはできない。
固有の複屈折機能や光学的素子の特性に依存するので最も好適であり、干渉計内
の光路差の安定性が高くなる。しかしながら、他の光学的構成も可能であり、そ
れらも同様に安定した光学的素子を用いることで同じ効果がある。例えば、偏光
ビームスプリッタは、ウォラストンプリズムや、Ｒｏｃｈｏｎプリズムや、広い
使用波長範囲を持つＳａｖａｒｔプレートを用いてもよい。しかし、最近の誘電
式キューブ型偏光ビームスプリッタの改良は、大きな口径の装置を経済的に製造
することを可能にした。光路を変化させる他の手段としては、Ｓｏｌｅｉｌ式補
償部に代えてＢｅｒｅｋ式、Ｂａｂｉｎｅｔ式または他の補償部でもよい。好適
には干渉計は、受動的な偏光素子ではなく駆動式の平行移動または回転可能な方
式を採用して調整でき、その結果干渉計は像を形成する間の１秒以上光路差を一
定に保つことができる。電気光学効果、光弾性を有する液晶または他の光路を変
化させる部材を利用した干渉計の他の構成も有るが、それらは好適ではなく、光
路差を同じように安定させることはできない。
【００１５】 このフーリエスペクトル解析の方法は、現在最も一般的な走査型スポット顕微
鏡の像の捕捉手段と記憶手段に改変を加えることなく利用できる。従って、干渉
計は現存の走査型スポット顕微鏡へ取り付けるアタッチメントまたはアクセサリ
であってもよい。アタッチメントは、光ファイバ等を利用すればより効果的であ
る。 更に、１個または複数個のマーカを１個または複数個の移動光学素子（例えば
、Ｓｏｌｅｉｌ補償部の可動部）に設け、干渉計の目盛として使うことも可能に
なる。１個または複数個のマーカの位置は、干渉計によって取り入れられた光路
差の量を示すことに利用できる。マーカの位置は、光学的、機械的、電気的他の
手段で検出してもよい。 好適な干渉計では、Ｓｏｌｅｉｌ補償部または同等の装置の複屈折素子として
水晶または方解石が使われる。金紅石も使用してもよいが、２マイクロメートル
を越える波長の透過は光学的顕微鏡の走査では要求されないので水晶または方解
石が安価で本発明が主に採用される分野では十分である。
鏡の像の捕捉手段と記憶手段に改変を加えることなく利用できる。従って、干渉
計は現存の走査型スポット顕微鏡へ取り付けるアタッチメントまたはアクセサリ
であってもよい。アタッチメントは、光ファイバ等を利用すればより効果的であ
る。 更に、１個または複数個のマーカを１個または複数個の移動光学素子（例えば
、Ｓｏｌｅｉｌ補償部の可動部）に設け、干渉計の目盛として使うことも可能に
なる。１個または複数個のマーカの位置は、干渉計によって取り入れられた光路
差の量を示すことに利用できる。マーカの位置は、光学的、機械的、電気的他の
手段で検出してもよい。 好適な干渉計では、Ｓｏｌｅｉｌ補償部または同等の装置の複屈折素子として
水晶または方解石が使われる。金紅石も使用してもよいが、２マイクロメートル
を越える波長の透過は光学的顕微鏡の走査では要求されないので水晶または方解
石が安価で本発明が主に採用される分野では十分である。
【００１６】
更に本発明の特徴と効果を添付図面を参照の上、後述する実施例の記載により
明らかにするが、当該図面において、図１、２、３、４、５は、干渉計を含む走
査型スポット顕微鏡の各実施例の概要を示す。図１、２、３、４の顕微鏡では１
対の検出器が設けられているが、説明を簡単にするために、１個の検出器を図示
する。 図６は、比較的高光度の光（例えば染色した顕微鏡標本をスペクトル吸収を測
定する場合の光）に好適な干渉計を示す。 図７は、偏光ビームスプリッタが解析装置の代わりに使われている図６と類似
の干渉計を示す。 図８は、更に好適な低光度用の偏光干渉計を示す。
明らかにするが、当該図面において、図１、２、３、４、５は、干渉計を含む走
査型スポット顕微鏡の各実施例の概要を示す。図１、２、３、４の顕微鏡では１
対の検出器が設けられているが、説明を簡単にするために、１個の検出器を図示
する。 図６は、比較的高光度の光（例えば染色した顕微鏡標本をスペクトル吸収を測
定する場合の光）に好適な干渉計を示す。 図７は、偏光ビームスプリッタが解析装置の代わりに使われている図６と類似
の干渉計を示す。 図８は、更に好適な低光度用の偏光干渉計を示す。
【００１７】 図１に共焦点顕微鏡として頻繁に使われているエピ蛍光またはエピ反射式顕微
鏡を示す。レーザ装置１からの光は、色彩反射板２で反射され、反射器３を経由
して１個の発振反射板４で示す走査システムへ送られる。走査システムから現在
移動しているビームが、接眼レンズ５と対物レンズ６から成る顕微鏡を通過する
。標本７を横切るようにラスタ式走査をする小さなスポットからの光は、光路に
沿って反射板２へ戻り、再度走査システムを通過して固定ビームまたは非走査ビ
ームになる。反射板２は、固定信号ビームの一部を、一定の光路差を生じさせる
干渉計８を通過させ、さらに反射板９、１０を経由して検出器１１へ送る。ビー
ムの特性として固定、かつ比較的平行なので、図示の位置にある干渉計を通過さ
せるのに好適である。検出器１１に受信された信号は、記録され、そしてラスタ
走査された各標本上の位置に関連してフーリエスペクトル解析が行われる。
鏡を示す。レーザ装置１からの光は、色彩反射板２で反射され、反射器３を経由
して１個の発振反射板４で示す走査システムへ送られる。走査システムから現在
移動しているビームが、接眼レンズ５と対物レンズ６から成る顕微鏡を通過する
。標本７を横切るようにラスタ式走査をする小さなスポットからの光は、光路に
沿って反射板２へ戻り、再度走査システムを通過して固定ビームまたは非走査ビ
ームになる。反射板２は、固定信号ビームの一部を、一定の光路差を生じさせる
干渉計８を通過させ、さらに反射板９、１０を経由して検出器１１へ送る。ビー
ムの特性として固定、かつ比較的平行なので、図示の位置にある干渉計を通過さ
せるのに好適である。検出器１１に受信された信号は、記録され、そしてラスタ
走査された各標本上の位置に関連してフーリエスペクトル解析が行われる。
【００１８】 図２には多光子蛍光顕微鏡の一般的な構成を示す。干渉計８は、走査システム
を再度通過することなく検出器１１へ向かう非走査信号の光路内に配置されてい
る。 図３、４、５にはビームスポットおよび光学素子が固定された走査型スポット
顕微鏡を示し、標本７が走査運動を行うことにより像を形成する。図３はエピ反
射またはエピ蛍光式顕微鏡を示し、図４は透過型顕微鏡を示す。両者において、
干渉計８は、標本から検出器１１へ向かう光路内に配置されている。図５には、
逆に干渉計８がビームが標本へ到達する前に通過する照射光路内の位置に配置さ
れた透過型顕微鏡が示されている。 図４、５に示す透過型顕微鏡は、透過像における吸収スペクトルの測定に最も
向いているが、他への利用、たとえばば暗い像のスペクトル解析等にも利用でき
る。
を再度通過することなく検出器１１へ向かう非走査信号の光路内に配置されてい
る。 図３、４、５にはビームスポットおよび光学素子が固定された走査型スポット
顕微鏡を示し、標本７が走査運動を行うことにより像を形成する。図３はエピ反
射またはエピ蛍光式顕微鏡を示し、図４は透過型顕微鏡を示す。両者において、
干渉計８は、標本から検出器１１へ向かう光路内に配置されている。図５には、
逆に干渉計８がビームが標本へ到達する前に通過する照射光路内の位置に配置さ
れた透過型顕微鏡が示されている。 図４、５に示す透過型顕微鏡は、透過像における吸収スペクトルの測定に最も
向いているが、他への利用、たとえばば暗い像のスペクトル解析等にも利用でき
る。
【００１９】 図６、７、８は図１〜５の走査型スポット顕微鏡に好適な干渉計を示す。 図６の干渉計において、Ｓｏｌｅｉｌ補償部２１である複屈折装置は、２個の
偏光フィルタ２０、２４の間に配置されているので、光路内で一定の光路差を生
じさせることができる。光はまず、偏光フィルタ２０を通過し、移動楔形素子２
２ｂと隣接して配置されている水晶または方解石から成る複屈折材料による固定
楔形素子２２ａを有するＳｏｌｅｉｌ補償部２１を通過する。２個の楔形素子内
の光学的低速方向は平行なので、種々の厚さの１枚の複屈折減速板を利用できる
という効果がある。固定され、均等な厚さであるが、減速方向が２個の楔形素子
と直角な方向の同様な材料で形成されたバイアスプレート２３が、移動楔形素子
２２ｂの特定位置で減速がゼロになるよう使われている。アナライザフィルタ２
４は、Ｓｏｌｅｉｌ補償部２１から現れる異なる偏光の光成分の間で干渉させる
。
偏光フィルタ２０、２４の間に配置されているので、光路内で一定の光路差を生
じさせることができる。光はまず、偏光フィルタ２０を通過し、移動楔形素子２
２ｂと隣接して配置されている水晶または方解石から成る複屈折材料による固定
楔形素子２２ａを有するＳｏｌｅｉｌ補償部２１を通過する。２個の楔形素子内
の光学的低速方向は平行なので、種々の厚さの１枚の複屈折減速板を利用できる
という効果がある。固定され、均等な厚さであるが、減速方向が２個の楔形素子
と直角な方向の同様な材料で形成されたバイアスプレート２３が、移動楔形素子
２２ｂの特定位置で減速がゼロになるよう使われている。アナライザフィルタ２
４は、Ｓｏｌｅｉｌ補償部２１から現れる異なる偏光の光成分の間で干渉させる
。
【００２０】 この構成の干渉計では、光路差を増大させるために移動楔形素子２２ｂは長軸
方向へ増大するよう移動される。Ｓｏｌｅｉｌ補償部２１は、該移動方向に対し
て直角な楔形素子２２ａ、２２ｂの光学的低速方向に配されると共に、偏光装置
の偏光方向およびアナライザフィルタ２０、２４に対して４５度に配されている
。偏光フィルタにより吸収されるので、いずれの波長光に対するこの干渉計の平
均透過率は、２５％未満である。 図７に示す干渉計は、図６と類似するが、偏光ビームスプリッタ２５がアナラ
イザフィルタ２４に代わって使用されている。従って、２個の出力ビームがある
ので、移動楔形素子２２ｂが移動すると２個の干渉像が得られ、一方は、他方に
対して相補的である（即ち、一方は他方の明るさに比例して暗くなる）。平均透
過率は現在５０％に近づけることが可能である。
方向へ増大するよう移動される。Ｓｏｌｅｉｌ補償部２１は、該移動方向に対し
て直角な楔形素子２２ａ、２２ｂの光学的低速方向に配されると共に、偏光装置
の偏光方向およびアナライザフィルタ２０、２４に対して４５度に配されている
。偏光フィルタにより吸収されるので、いずれの波長光に対するこの干渉計の平
均透過率は、２５％未満である。 図７に示す干渉計は、図６と類似するが、偏光ビームスプリッタ２５がアナラ
イザフィルタ２４に代わって使用されている。従って、２個の出力ビームがある
ので、移動楔形素子２２ｂが移動すると２個の干渉像が得られ、一方は、他方に
対して相補的である（即ち、一方は他方の明るさに比例して暗くなる）。平均透
過率は現在５０％に近づけることが可能である。
【００２１】 図８に示す更に好適な干渉計では、入力ビームはキューブ型偏光ビームスプリ
ッタ２６で分割される。ビームのほとんどのエネルギは、２個のビームに分割さ
れ、（主として反射により）最小限の損失が起きる。両ビームは、反射板２７に
より平行になるよう反射され、Ｓｏｌｅｉｌ補償部２８を通過する。一方のビー
ムはそれからキューブ型偏光ビームスプリッタ２９を通過し、他方のビームは反
射板３０を経由してキューブ型偏光ビームスプリッタ２９を通過する。２個の出
力ビームは、図示しない検出器を通過する。Ｓｏｌｅｉｌ補償部２８は、移動楔
形素子２９ｂを薄側縁に直角な方向へ移動することにより調整される。Ｓｏｌｅ
ｉｌ補償部は、移動楔形素子２９ｂの低速方向へ配置され、その固定楔形素子２
９ａとバイアスプレート３０は前記移動の方向に対して４５度の角度に配置され
ている。この構成により、２本のビームに対して楔形素子の厚さを同一にでき、
また複屈折材料の低速方向は、ビームスプリッタの偏光方向に対して最適な４５
度になる。
ッタ２６で分割される。ビームのほとんどのエネルギは、２個のビームに分割さ
れ、（主として反射により）最小限の損失が起きる。両ビームは、反射板２７に
より平行になるよう反射され、Ｓｏｌｅｉｌ補償部２８を通過する。一方のビー
ムはそれからキューブ型偏光ビームスプリッタ２９を通過し、他方のビームは反
射板３０を経由してキューブ型偏光ビームスプリッタ２９を通過する。２個の出
力ビームは、図示しない検出器を通過する。Ｓｏｌｅｉｌ補償部２８は、移動楔
形素子２９ｂを薄側縁に直角な方向へ移動することにより調整される。Ｓｏｌｅ
ｉｌ補償部は、移動楔形素子２９ｂの低速方向へ配置され、その固定楔形素子２
９ａとバイアスプレート３０は前記移動の方向に対して４５度の角度に配置され
ている。この構成により、２本のビームに対して楔形素子の厚さを同一にでき、
また複屈折材料の低速方向は、ビームスプリッタの偏光方向に対して最適な４５
度になる。
【００２２】 光路差を移動楔形素子２９ｂでゼロに設定すると、キューブ型偏光ビームスプ
リッタ２６、２９が光路に対して「交叉型」偏光装置として働くので、光路Ａ、
Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｇは、白色光が入射されたときＧにおいて光度が最小または「ゼロ
に近い暗黒」状態になる。これは光路Ａ、Ｂ、Ｆ、Ｄ、Ｇでも同様である。Ｓｏ
ｌｅｉｌ補償部が他の設定状態のとき、特定の波長の光が同じようにＧで光度が
合わされる２個の光路に沿って通過する。光路Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅと光路Ａ、Ｂ
、Ｆ、Ｄ、Ｅでもキューブ型ビームスプリッタが「平行」偏光装置として作用す
ることを除き、同様の状態なので、その結果、Ｇにおいて光度が最低のときＥに
おいて光度は最高になる。一定時間の間にＳｏｌｅｉｌ補償部が連続的に調整さ
れ、干渉計の２個の出力は、記録された光度から成る２個の相補的な干渉像を形
成するのに使われる。
リッタ２６、２９が光路に対して「交叉型」偏光装置として働くので、光路Ａ、
Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｇは、白色光が入射されたときＧにおいて光度が最小または「ゼロ
に近い暗黒」状態になる。これは光路Ａ、Ｂ、Ｆ、Ｄ、Ｇでも同様である。Ｓｏ
ｌｅｉｌ補償部が他の設定状態のとき、特定の波長の光が同じようにＧで光度が
合わされる２個の光路に沿って通過する。光路Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅと光路Ａ、Ｂ
、Ｆ、Ｄ、Ｅでもキューブ型ビームスプリッタが「平行」偏光装置として作用す
ることを除き、同様の状態なので、その結果、Ｇにおいて光度が最低のときＥに
おいて光度は最高になる。一定時間の間にＳｏｌｅｉｌ補償部が連続的に調整さ
れ、干渉計の２個の出力は、記録された光度から成る２個の相補的な干渉像を形
成するのに使われる。
【図１】 干渉計を含む走査型スポット顕微鏡の第１の実施形態を示す説明図である。
【図２】 干渉計を含む走査型スポット顕微鏡の第２の実施形態を示す説明図である。
【図３】 干渉計を含む走査型スポット顕微鏡の第３の実施形態を示す説明図である。
【図４】 干渉計を含む走査型スポット顕微鏡の第４の実施形態を示す説明図である。
【図５】 干渉計を含む走査型スポット顕微鏡の第５の実施形態を示す説明図である。
【図６】 干渉計の実施形態を示す説明図である。
【図７】 干渉計の他の実施形態を示す説明図である。
【図８】 低光度の干渉計の構成を示す説明図である。
１ レーザ装置 ２ 色彩反射板 ３ 反射器 ４ 発振反射板 ５ 接眼レンズ ６ 対物レンズ ７ 標本 ８ 干渉計 ９、１０ 反射板 １１ 検出器 ２０ アナライザフィルタ ２１ Ｓｏｌｅｉｌ補償部 ２２ａ 固定楔形素子 ２２ｂ 移動楔形素子 ２３ バイアスプレート ２４ アナライザフィルタ ２５ 偏光ビームスプリッタ ２６ キューブ型偏光ビームスプリッタ ２７ 反射板 ２８ Ｓｏｌｅｉｌ補償部 ２９ キューブ型偏光ビームスプリッタ ２９ａ 固定楔形素子 ２９ｂ 移動楔形素子 ３０ バイアスプレート ３０ 反射板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ウィリアム ブラッドショー エイモス 英国 シービー１ ４ユーティー ケンブ リッジ カベンディシュ アヴェニュー54 番地 Ｆターム(参考） 2G043 EA01 FA02 GA01 GA02 GA07 GB01 GB03 GB19 HA01 HA02 HA07 HA09 JA01 KA09 LA01 2G059 EE07 EE10 EE12 FF03 GG01 JJ11 JJ13 JJ15 JJ19 JJ22 KK01 2H052 AA07 AA09 AC04 AC05 AC15 AF04
Claims (8)
- 【請求項１】 （ｉ）入射光のスポット位置から連続する標本上の位置を走
査することを含む走査動作を繰り返し行うための走査手段と、（ii）顕微鏡の光
軸を横切るように配置され、光路内の偏光装置間に配置された複屈折装置を含み
、一定の光路差を生じる干渉計と、（iii） 各標本位置からの入射光スポットに
ついて光信号を受光して記録する記録手段とを備え、使用中は一定の光路差が各
走査動作の間は維持されるが、走査動作同士の間には変化し、標本の位置に関連
する光信号及び一定の光路差の値が記録されることを特徴とするフーリエスペク
トル解析を用いた走査型スポット顕微鏡。 - 【請求項２】 前記複屈折装置は、固定楔形素子と、バイアスプレートと、
固定光軸素子に対して移動可能であり、光学的低速方向が該移動方向に対して４
５度に設定されている移動楔形素子とから成るＳｏｌｅｉｌ補償部を備えること
を特徴とする請求項１記載の走査型スポット顕微鏡。 - 【請求項３】 前記複屈折装置は、キューブ型偏光ビームスプリッタ同士の
間に配設されていることを特徴とする請求項１または２記載の走査型スポット顕
微鏡。 - 【請求項４】 マーカが可動光学素子に設けられ、稼働中に該マーカの位置
で一定の光路差の値を示すことを特徴とする請求項１、２または３記載の走査型
スポット顕微鏡。 - 【請求項５】 実質的に明細書および添付図面に記載された走査型スポット
顕微鏡。 - 【請求項６】 請求項１〜５のいずれか１に記載された走査型スポット顕微
鏡の干渉計。 - 【請求項７】 入射光スポットが、標本上の連続した位置を走査することを
含む繰り返し走査を行い、偏光装置間に配置された複屈折装置が一定の光路差を
標本に入射する光または標本から受けた光の光路内へ生じさせ、使用中は一定の
光路差を各走査動作の間は維持し、走査動作同士の間には変化させ、標本の位置
に関連する光信号及び一定の光路差の値を記録することを特徴とするフーリエス
ペクトル解析の方法。 - 【請求項８】 実質的に明細書および添付図面に記載されたフーリエスペク
トル解析の方法。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GBGB9807257.2A GB9807257D0 (en) | 1998-04-03 | 1998-04-03 | Apparatus and methods for fourier spectral analysis in a scanning spot microscope |
| GB9807257.2 | 1998-04-03 | ||
| PCT/GB1999/001022 WO1999052005A1 (en) | 1998-04-03 | 1999-04-01 | Apparatus and methods for fourier spectral analysis in a scanning spot microscope |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002510808A true JP2002510808A (ja) | 2002-04-09 |
Family
ID=10829861
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000542687A Pending JP2002510808A (ja) | 1998-04-03 | 1999-04-01 | フーリエスペクトル解析を用いる走査型スポット顕微鏡及びフーリエスペクトル解析の方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6853455B1 (ja) |
| EP (1) | EP1070272A1 (ja) |
| JP (1) | JP2002510808A (ja) |
| GB (1) | GB9807257D0 (ja) |
| WO (1) | WO1999052005A1 (ja) |
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| JP2004354937A (ja) * | 2003-05-30 | 2004-12-16 | Olympus Corp | レーザ顕微鏡 |
| JP2006170996A (ja) * | 2004-12-14 | 2006-06-29 | Asml Netherlands Bv | 検査装置、サンプル、及び検査方法 |
| JP2007279747A (ja) * | 2006-04-11 | 2007-10-25 | Leica Microsystems Cms Gmbh | 偏光干渉顕微鏡 |
| JP2021534377A (ja) * | 2018-08-23 | 2021-12-09 | ポリテクニコ ディ ミラノPolitecnico Di Milano | フーリエ変換ハイパースペクトル撮像システム |
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| EP1436579A4 (en) * | 2001-10-16 | 2007-10-24 | Hinds Instruments Inc | ACCURACY CALIBRATION FOR DOUBLE INTERFERENCE MEASURING SYSTEMS |
| GB0215248D0 (en) * | 2002-07-02 | 2002-08-14 | Qinetiq Ltd | Imaging apparatus |
| US7505135B2 (en) * | 2002-07-15 | 2009-03-17 | Ariel Ltd. | Method and apparatus for imaging through scattering or obstructing media |
| FR2865369A1 (fr) * | 2004-01-22 | 2005-07-29 | Centre Nat Rech Scient | Dispositif et procede pour compenser la birefringence corneenne dans un examen optique de parties de l'oeil situees au-dela de la cornee, et systeme d'examen de l'oeil incluant un tel dispositif |
| EP1743138A2 (en) | 2004-04-19 | 2007-01-17 | Arist Instruments, Inc. | Beam profile complex reflectance system and method for thin film and critical dimension measurements |
| FR2872910B1 (fr) * | 2004-07-07 | 2006-10-13 | Nanoraptor Sa | Composant optique pour l'observation d'un echantillon nanometrique, systeme comprenant un tel composant, procede d'analyse mettant en oeuvre ce composant, et leurs applications |
| JP4418362B2 (ja) * | 2004-12-28 | 2010-02-17 | オリンパス株式会社 | 画像処理装置 |
| WO2018089839A1 (en) | 2016-11-10 | 2018-05-17 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Rapid high-resolution imaging methods for large samples |
| DE102018203839A1 (de) * | 2018-03-14 | 2019-09-19 | Robert Bosch Gmbh | Fourier-Transform-Spektrometer, Verfahren zum Herstellen eines Fourier-Transform-Spektrometers und Verfahren zur Darstellung eines elektromagnetischen Spektrums |
| TWI802878B (zh) * | 2021-05-07 | 2023-05-21 | 國立臺北科技大學 | 使用液晶型薩爾瓦稜鏡的差分干涉對比顯微鏡 |
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| US5117466A (en) | 1991-04-30 | 1992-05-26 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Integrated fluorescence analysis system |
| GB9302799D0 (en) | 1993-02-12 | 1993-03-31 | Medical Res Council | Detecting means for a scanning optical microscope |
| US5457536A (en) | 1994-04-04 | 1995-10-10 | California Institute Of Technology | Polarization modulation laser scanning microscopy |
| JPH0996764A (ja) | 1995-09-29 | 1997-04-08 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型光学顕微鏡 |
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1998
- 1998-04-03 GB GBGB9807257.2A patent/GB9807257D0/en not_active Ceased
-
1999
- 1999-04-01 EP EP99914656A patent/EP1070272A1/en not_active Withdrawn
- 1999-04-01 US US09/647,616 patent/US6853455B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-04-01 WO PCT/GB1999/001022 patent/WO1999052005A1/en not_active Application Discontinuation
- 1999-04-01 JP JP2000542687A patent/JP2002510808A/ja active Pending
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|---|---|
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| WO1999052005A1 (en) | 1999-10-14 |
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