JP2002361472A - はんだ接合装置及びはんだ接合方法 - Google Patents

はんだ接合装置及びはんだ接合方法

Info

Publication number
JP2002361472A
JP2002361472A JP2001172960A JP2001172960A JP2002361472A JP 2002361472 A JP2002361472 A JP 2002361472A JP 2001172960 A JP2001172960 A JP 2001172960A JP 2001172960 A JP2001172960 A JP 2001172960A JP 2002361472 A JP2002361472 A JP 2002361472A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
formic acid
magazine
heater
solder
heating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001172960A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3350529B1 (ja
Inventor
Hiroyuki Matsui
弘之 松井
Koki Otake
幸喜 大竹
Hirohisa Matsuki
浩久 松木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2001172960A priority Critical patent/JP3350529B1/ja
Priority to TW090123755A priority patent/TW570856B/zh
Priority to US09/970,802 priority patent/US6732911B2/en
Priority to KR1020010066074A priority patent/KR100540868B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of JP3350529B1 publication Critical patent/JP3350529B1/ja
Publication of JP2002361472A publication Critical patent/JP2002361472A/ja
Priority to KR10-2005-0074332A priority patent/KR100529489B1/ko
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】半導体装置、電子部品の配線やパッドにはんだ
層を接合するために用いられるはんだ接合装置に関し、
はんだ接合のスループットを従来よりも向上し、はんだ
接合後の基板上での残渣の発生を防止すること。 【解決手段】はんだ層Aを有する基体Wを間隔をおいて
複数収納するマガジン2と、マガジン2を格納し且つマ
ガジン2に基体Wを搬入する搬入口3aとマガジン2か
ら基体Wを搬出する搬出口3bを有する加熱室3と、加
熱室3を外気から遮蔽するために搬入口3aと搬出口3
bのそれぞれに設置された第1の大気遮蔽機構8と第2
の大気遮蔽機構9と、加熱室3内でマガジン2を閉じ込
め可能に配置されたヒーター4と、加熱領域へ蟻酸を供
給する蟻酸供給機構6と、蟻酸を加熱室3の外に排出す
る排気機構16とを含む。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、はんだ接合装置及
びはんだ接合方法に関し、より詳しくは、半導体装置、
電子部品の配線やパッドにはんだ層を接合するために用
いられるはんだ接合装置と、はんだ接合方法に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の電極パッド、金属配線など
の金属パターンにはんだ(半田)を接合する方法とし
て、メッキ法、印刷法、ボール載置法等によりはんだを
金属パターン上に形成した後に、半田を加熱溶融して電
極パッドに接合・成形するといった方法が採用されてい
る。
【0003】半田の溶融の際には、通常フラックスを使
用して半田表面やその下の電極パッド上の酸化膜を除去
し、清浄化させつつ半田を溶融、接合させている。フラ
ックスを使用した半田接合工程は、例えば次のような方
法によって行われる。まず、半田被着面である金属パタ
ーン表面に塗布されたフラックスは、加熱によりその表
面を活性化しながら金属パターン表面を被覆して酸化を
防止し、その活性状態を維持する。これと同時に、半田
が溶融し、金属パターンの表面に広がる。その半田溶融
によってフラックスの一部は分解する。
【0004】その後に、半田は冷却されて凝固し、金属
パターン表面に接合される。これと同時に、金属パター
ン上に残ったフラックスと分解生成物も固化する。この
ようなフラックスを用いた半田接合の後に、固化したフ
ラックスを洗浄により除去する。しかし、その洗浄の際
には、フロンやトリクレンを含まない有機溶剤では分解
生成物を簡単に除去できないので、洗浄に使用される有
機溶剤を大量に使用する必要がある。
【0005】しかし、有機溶剤は環境に悪影響を与える
ことから、洗浄が要らない半田接合方法の開発が望まれ
ている。また、電子部品モジュールの実装工程において
も、フラックス又はフラックス含有ペーストを半田接合
部分に塗布した上で実装するといった工程を採用するの
が一般的である。その場合、実装時の熱でフラックスが
分解して有害ガスが発生するので、作業の安全性を確保
する必要がある。また、フラックスの残渣としてハロゲ
ン成分がモジュール内に残ると、モジュールの配線の腐
食、配線のマイグレーションが助長されるので、徹底的
な洗浄が要求され、これが製造コスト高を招く原因とな
る。
【0006】これらの課題を解決するために次のような
方法又は装置が知られている。まず、還元作用のあるカ
ルボン酸を用いた半田付け方法が、例えば特開平6−1
90584号公報、特開平6−267632号公報、特
開平7−164141号公報、特開平11−23393
4号公報などに記載されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の半田接
合装置によれば以下に述べるような課題が存在する。ま
ず、第一の課題は、公知の半田接合装置では半田接合の
スループットを向上させることである。半田は、半導体
基板、セラミック基板、回路基板等の配線又はパッドの
上に形成された後に、半田接合装置内に搬送され、そこ
で加熱溶融されて配線又はパッドに接合される。そのよ
うな半田接合装置は、一枚づつ基板を出し入れする、い
わゆる枚葉処理構造となっているので、半田接合の能率
が上がらない。したがって、基板の処理能力を高くする
ために複数の半田接合領域を隣接した装置が特開平11
−233934号公報の図2、図3に記載されている
が、これでは実質的に複数の半田接合装置を用いている
に等しく、コストが嵩むだけでなく、広い面積が必要と
なる。
【0008】第2の課題は、半田接合後、基板上での残
渣の発生を防止することである。上記した特開平7−1
64141号公報には、半田接合の際にカルボン酸とジ
ケトン類の混合物を半田溶融領域に導入することが記載
されているが、液適で半田溶融領域に供給されるその混
合物は基板上に残渣を発生させ易い。本発明の目的は、
はんだ接合のスループットを従来よりも向上させ、又
は、はんだ接合後の基板上での残渣の発生を防止するた
めのはんだ接合装置とはんだ接合方法を提供することに
ある。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記した課題は、はんだ
層を有する基体を間隔をおいて複数収納するマガジン
と、前記マガジンを格納し且つ前記マガジンに前記基体
を搬入する搬入口と前記マガジンから前記基体を搬出す
る搬出口を有する加熱室と、前記加熱室を外気から遮蔽
するために前記搬入口と前記搬出口のそれぞれに設置さ
れた第1の大気遮蔽機構と第2の大気遮蔽機構と、前記
加熱室内で前記マガジンを閉じ込め可能に配置されたヒ
ーターと、前記加熱領域へ蟻酸を供給する蟻酸供給機構
と、前記蟻酸を前記加熱室の外に排出する排気機構とを
有するはんだ接合装置によって解決される。
【0010】また、上記した課題は、はんだ層が付着し
た金属パターンを有する基体を間隔をおいてマガジン内
に複数入れる工程と、蟻酸が供給された状態の前記マガ
ジンを加熱領域でヒータにより覆う工程と、前記ヒータ
により前記はんだ層を加熱して前記はんだ層を金属パタ
ーンに接合する工程と、前記ヒータ内に冷却ガスを導入
することにより前記ヒータ内の前記蟻酸を外部に排出す
るとともに前記はんだ層、前記金属パターン及び前記基
体を冷却する工程と、前記ヒータを前記マガジン周囲か
ら取り去る工程と、前記マガジンから前記基体を搬出す
る工程とを有することを特徴とするはんだ接合方法によ
って解決される。
【0011】次に、本発明の作用について説明する。本
発明によれば、はんだ層が付着した金属パターンを有す
る基体を間隔をおいて複数枚入れたマガジンと、そのマ
ガジンを閉じ込め可能に配置したヒータとを有している
ので、複数の基体上のはんだを同時に接合されることに
なり、スループットが従来より向上する。
【0012】また、はんだ層をヒータにより加熱して溶
融した後に、ヒータをマガジンの周囲から取り去ること
により、はんだ層の温度を下げることが容易になり、加
熱から冷却までの時間を短縮することができる。さら
に、ヒータに冷却ガス導入機構を取り付ける構造を採用
しているので、はんだ層の加熱終了直後に冷却ガスによ
りさらに急速に冷却することができ、しかもはんだ冷却
時間が短くなる。
【0013】蟻酸をはんだ層に供給する場合には、蟻酸
とガスの2流体を混合して蟻酸の過剰な供給を抑制した
り、超音波で蟻酸をミスト化することにより蟻酸の過剰
な供給が抑制される。また、マガジンを加熱室内にのみ
収めることにより、空気中の汚染物質がマガジンに付着
することを抑制して加熱中の基体の汚染が防止される。
【0014】さらに、ヒータ内への蟻酸の導入から排出
まで、ヒータとマガジンは加熱室内に閉じ込められた状
態となっているので、加熱室からの蟻酸の外部への漏れ
は防止される。
【0015】
【発明の実施の形態】そこで、以下に本発明の実施形態
を図面に基づいて説明する。図1は、本発明の実施形態
に係るはんだ(半田)接合装置を示す平面図、図2は、
図1のI−I線断面図である。図1,図2において、マ
ガジン載置台1の上には、マガジン移動機構10によっ
て移動されるステンレス製の処理マガジン2が載置さ
れ、さらに処理マガジン2の移動領域には処理マガジン
(搬送機構)2を覆うステンレス製の加熱溶融室3が取
り付けられている。
【0016】加熱溶融室3の中央には、処理マガジン2
よりも高く持ち上げられる下部開放の鐘形のヒータ4が
配置されている。このヒータ4は、伝導熱式ヒータ、赤
外線ランプヒータ、コイルヒータのうちの1つ又はいず
れかの組み合わせで構成されており、加熱溶融室3の中
央上部に取り付けられた駆動機構5の支持シャフト5a
によって上下動される。また、ヒータ4の上部の1箇所
又は複数箇所には、加熱溶融室3の外部の窒素供給源
(不図示)から引き込まれた不活性ガスパージノズル4
aが接続されている。
【0017】加熱溶融室3の中央において、処理マガジ
ン2の両側方には、加熱溶融室3の外部の蟻酸供給機構
7に接続された蟻酸噴霧ノズル6が配置されている。蟻
酸噴霧ノズル6は、例えば図3に示すように、加熱溶融
室3の中央に向けて形成された複数の蟻酸噴霧孔6aを
その側部に有している。加熱溶融室3のうち処理マガジ
ン2の移動方向の一方には搬入口3aが設けられ、ま
た、他方には搬出口3bが設けられていて、搬入口3a
と搬出口3bはそれぞれシャッター8,9により開閉さ
れる構造を有している。これらのシャッター8,9は、
加熱溶融膣3内に導入される蟻酸が外部に漏洩すること
を防止するものである。蟻酸の大気への漏洩は、人間に
刺激臭を与えるだけでなく、蟻酸と大気との接触による
爆発を生じさせる。
【0018】搬入口3aの外側のマガジン載置台1の上
には、未接合状態の半田が付着されたウェハWを収納す
るためのローダ11が置かれている。また、搬出口3b
の外側のマガジン載置台1の上には、処理マガジン2か
ら基板Wを受け取るためのアンローダ12が置かれてい
る。ローダ11の載置領域の下方には、マガジン載置台
1の一端の外側から迫り上がってローダ11内のウェハ
Wを搬入口3aを通して処理マガジン2内に押し出すた
めの第1のプッシャー13が取り付けられている。ま
た、搬出口3bの近傍の加熱溶融室3の下方には、マガ
ジン載置台1の開口1aを通して迫り上がって処理マガ
ジン2内のウェハWを搬出口3bを通してアンローダ1
2内に押し出すための第2のプッシャー14が取り付け
られている。その開口1aの上側又は下側には、第2の
プッシャー14がマガジン搭載台1の下で待機している
状態で開口1aを閉じるためのシャッター15が取り付
けられている。
【0019】第1及び第2のプッシャー13,14は、
それぞれ、マガジン載置台1の下に取り付けられた駆動
部13a,14aによって上下動される肘部13b,1
4bと、肘部13b,14bから加熱溶融室3の搬入口
3a又は搬出口3bへ向けて水平方向に進退するアーム
13c,14cと、アーム13c,14cの先端に垂直
に取り付けられ且つ処理マガジン2よりも幅の狭いプレ
ート13d,14dとを有している。
【0020】マガジン載置台1のうちヒータ2が載置さ
れる領域の下方には、加熱溶融室3内或いはヒータ2内
のガスを加熱溶融室3の外部に放出するための排気装置
16が取り付けられ、排気装置16の排気口(不図示)
には排気管16aを介して蟻酸回収機構17が接続され
ている。排気装置14として、処理マガジン2を覆った
ヒータ4の内部空間を減圧する場合には例えばドライポ
ンプが用いられ、その内部空間を常圧とする場合には例
えばシロッコファンが用いられる。
【0021】加熱溶融室3の天井部には、加熱溶融室3
内に外気を導入するためのシロッコファン18が取り付
けられている。上記した処理マガジン2は、例えば図4
に示すように、立方形状に組まれた枠体2aと、枠体2
aの両側で上下方向に間隔を置いて格子状に取り付けら
れた複数の横棒2bとを有している。その横棒2bは、
枠2aの内側に突出させた支持面2cを有していて、横
棒2bの各段の左右の支持面2cによってウェハ、半導
体基板、支持板等の基体を支えるように配置されてい
る。上下に配置された横棒2bの支持面2c同士の間
隔、即ちスロット間隔は、半田バンプ接合の観点から5
mm又はそれ以上に確保されている。横棒2bの間は蟻酸
導入スペースとしても機能する。
【0022】また、ローダ11、アンローダ12は、処
理マガジン2の支持面2cと同じ位置にウェハ、基板な
どを載置する複数段の載置面を有している。そのような
ローダ11、アンローダ12は、図4に示すような処理
マガジンと同じ構造を採用してもよい。処理マガジン
2、ローダ11、アンローダ12は、横棒2bが無い前
面を搬入口3aに対向させるとともに横棒2bが無い後
面を搬出口3bに対向させ、そのような状態でマガジン
載置台1上に置かれる。また、処理マガジン2、ローダ
11、アンローダ12のそれぞれの、各段の上には、例
えば図5(a) に示すような略円形状の半導体ウェハWが
載置され、半導体ウェハWに形成された複数の半導体デ
バイスC上には図5(b) に示すように複数の半田層Aが
形成されている。
【0023】半導体デバイスCは、例えば図6(a) に示
すように、トランジスタ、キャパシタ、多層配線その他
の半導体要素を有する半導体ウェハWの上に形成された
絶縁膜21aと、絶縁膜21aの上に形成された電極パ
ッド21bとを有している。その電極パッド21bは、
半導体要素に電気的に接続され、また、その上に形成さ
れる絶縁性カバー膜21cの開口21dを通して露出さ
れている。電極パッド21bの露出部分にはチタンとニ
ッケルからなる下地金属層21eが形成され、その下地
金属層21eの上に半田層Aが無電解メッキ法又は電解
メッキ法、印刷法等によって形成されている。
【0024】電極パッド21bと半田層Aは、図6(b)
に示すように、それぞれ離れた位置に形成されて引出配
線(再配置配線)21fを介して互いに電気的に接続さ
れることがある。引出配線21fは、絶縁性カバー膜2
1c上に形成され、その一端部が絶縁性カバー膜の開口
21dを通して電極パッド21bに接続されるととも
に、その他端部が引出配線21fを覆う上側の絶縁性カ
バー膜21gの開口21hを通して下地金属層21e及
び半田層Aに接続されている。
【0025】上記した蟻酸回収機構17は、例えば図7
(a) に示すように、排気装置16の排気管16aを浴槽
17a内の下部に接続するとともに、浴槽17aの上部
に排気管17bを接続した構造を有している。浴槽17
a内で排気管17bの下端に接触しない程度の量で入れ
られる溶液17cとしてはアルコール、水等がある。ま
た、排気装置16の排気管16aと浴槽17aの接続口
には多孔質材料からなるプレート17d又は図7(b) に
示すように多数の孔17eが形成されたプレート17d
がはめ込まれている。このプレート17dは、排気装置
16の排気管16aから導入された蟻酸含有排気ガスを
多数の気泡にする。従って、蟻酸含有排気ガスは、溶液
17c内でバブリングされて蟻酸成分が溶液に溶け、低
い蟻酸の含有量で排気管17bから排出される。即ち、
蟻酸含有排気ガスは溶液17cとの接触面積が増えるの
で、蟻酸の回収効率が高くなり、且つ安全に蟻酸が回収
される。
【0026】なお、処理マガジン2の移動、ヒータ4の
昇降、蟻酸供給機構7の駆動、排気装置16の駆動、プ
ッシャー13,14の駆動、シャッター15,8,9の
開閉、シロッコファン18の駆動、ヒータ2の温度制
御、不活性ガスパージノズル4aからの窒素ガスの導入
及び停止等は、それぞれ制御回路(不図示)により行わ
れる。
【0027】次に、図1、図2に示した半田加熱溶融装
置を使用することにより、図6(a)に示した半田層(半
田バンプ)Aと電極パッド21bを接合する方法、又は
図6(b) に示した半田層Aと引出配線17fを接続する
方法を図8〜図10を参照して説明する。まず、図8
(a) に示すように、加熱溶融室3の搬入口3aのシャッ
ター8を開き、搬出口3bのシャッター9を閉じる。ま
た、第1、第2のプッシャー13,14の肘部13b,
14b、アーム13c,14c、プレート13d,14
dをマガジン載置台1の上面よりも下側に降ろす。さら
に、加熱溶融室3内でヒータ4を支持シャフト5aによ
りその上部に持ち上げるとともに例えば半田層Aの融点
又はそれ以上の温度に加熱する。
【0028】上下に間隔をおいて複数の半導体ウェハW
を収納したローダ11を搬入口3aの外側のマガジン載
置台1上に置くとともに、処理マガジン2を搬入口3a
に着ける。続いて、図8(b) に示すように、第1のプッ
シャー13の駆動部13aにより肘部13bを上昇させ
た後に、アーム13cをローダ11に向けて伸ばし、そ
の先端のプレート13dでローダ11内の複数のウェハ
Wを上下の間隔を保ったままで処理マガジン2の各段の
横棒2bの上に移す。
【0029】次に、図8(c) に示すように、処理マガジ
ン2を加熱溶融室3の中央に向けて移動させ、これと同
時に搬入口3aのシャッター8を閉じる。そして、処理
マガジン2がヒータ4の直下に位置した時点で処理マガ
ジン2の移動を停止する。この後に、ローダ11はマガ
ジン載置台1上から取り去られる。そして、処理マガジ
ン2の側方に位置する蟻酸供給ノズル6から処理マガジ
ン2に向けて蟻酸含有ガスGを噴霧する。これにより、
処理マガジン2内においてウェハWの上とウェハWの相
互の間の間隙にはガス状の蟻酸が漂った状態になってい
る。ガス状の蟻酸は、気化される前の液状の状態で76
vol.%以下の蟻酸濃度に設定された溶液をガス状にした
ものであって、これにより爆発が起こらずに安全が確保
される。
【0030】次に、図9(a) に示すように、駆動機構5
から支持シャフト5aを下降することにより処理マガジ
ン2をヒータ4で覆う。ヒータ4の加熱により、各ウェ
ハWの上の複数の半田層Aは加熱されて溶融し、その下
の電極パッド21b又は引出配線21fに接合される。
ここで、処理マガジン2内に供給された蟻酸含有ガス
は、ヒータ4による囲いによってさらなる外方への漏洩
が防止される。
【0031】この場合、ヒータ4の加熱温度を制御して
もよい。例えば、第1段階として、半田層Aの表面の酸
化膜を蟻酸の還元作用により除去するために、半田層A
の融点よりも50〜90℃程度低い温度になるように制
御する。蟻酸は、半田層Aの融点よりも約50℃程度低
い温度から有効に作用し始め、その温度により半田層A
表面の酸化膜は除去される。半田層Aが共晶錫鉛からな
る場合には蟻酸による還元作用が有効になる温度は15
0℃以上である。また、半田層Aが高融点半田材料、例
えば錫銀からなる場合には蟻酸による還元作用が有効に
なる温度は約180℃以上である。
【0032】ヒータ4の温度制御の第2段階として、半
田層Aの融点又はそれ以上の温度に設定する。これによ
り、半田層Aの温度が上昇し、その上昇過程において半
田層Aの内部に発生する又は存在するガスは徐々に抜
け、しかも半田層Aは徐々に溶融して電極パッド21b
又は引出配線21fに接合する。これにより、半田層A
の飛散や形成不良が生じなくなる。半田層Aの形状は溶
融によって図6(a),(b)の破線に示すような形状にな
る。
【0033】そのような半田層Aの加熱工程において、
処理マガジン2は狭いヒータ4内に閉じ込められるの
で、処理マガジン2内での温度制御は容易である。次
に、図9(b) に示すように、不活性ガスパージノズル4
aから窒素ガスをヒータ4の内部に導入するとともに、
排気機構16を駆動してヒータ4内の蟻酸含有ガスを窒
素ガスとともに窒素回収機構17に排出する。これによ
り、半田層Aは冷却されて固化するとともに、半導体層
A及び電極パッド21c又は引出配線21fの表面の蟻
酸は気化が促進されて除去される。この段階で、ヒータ
4の温度を半田層Aの融点以下に下げてもよい。なお、
不活性ガスパージノズル4aからは、窒素の代わりにア
ルゴン、ネオンなどの不活性ガスを導入してもよい。
【0034】次に、図9(c) に示すように、加熱溶融室
3の天井部のシロッコファン18を駆動しながら、ヒー
タ4を支持シャフト5aの上昇によって持ち上げる。こ
れによって、処理マガジン2が加熱溶融室2内で露出す
るとともに、処理マガジン2の内部に残ったガスを排気
機構16を駆動させて蟻酸回収機構17に排気する。こ
れにより、加熱溶融室3内に僅かに拡散した蟻酸も排気
され、しかも処理マガジン2内の半導体ウェハWがさら
に冷却され室温に近づく。
【0035】この後に、シロッコファン18と排気装置
16を停止させる。その後に、図10(a) に示すよう
に、処理マガジン2を移動して搬出口3bに着ける。次
に、図10(b) に示すように、第2のプッシャー14の
肘部14bを持ち上げるとともに、搬出口3bのシャッ
ター9を開く。
【0036】そして、図10(c) に示すように、第2の
プッシャー14のアーム14cを搬出口3bに向けて伸
ばし、その先端のプレート14dにより処理マガジン2
内の複数のウェハWを押し出してアンローダ12に移し
替える。なお、搬出口3bのシャッター9を閉じて処理
マガジン2を搬入口3aに付ける前に、新たなウェハW
を搭載したローダ11が加熱溶融室3の搬入口3のシャ
ッター8の外側に載置される。
【0037】以上により、加熱溶融室3における半導体
ウェハWの搬入から搬出までの1サイクルの処理が終了
し、このような一連の処理は繰り返して行われる。以上
のような一連の動作によれば、1回の半田加熱溶融処理
によって複数枚のウェハ上の半田の同時接合が可能にな
るので、従来の枚葉処理に比べてスループットが向上す
る。しかも、半田層Aを加熱溶融した後に半田層Aを窒
素(不活性)ガスの流れに強制的に置くようにしている
ので、半田層Aの素早い降温、冷却が可能になるばかり
でなく、処理マガジン2内の蟻酸を短時間で回収すると
ともに、半田層Aの表面に存在する反応生成ガスを窒素
ガスの流れによって除去、回収することが可能になる。
この結果、半田層Aを冷却する際に反応生成ガスが凝固
して半田層A表面に残渣として付着することが避けられ
る。そのような残渣は、半田層Aの再酸化の原因にな
る。
【0038】また、上記した半田加熱溶融装置によれ
ば、半田を加熱するヒータ4は、その上げ下げの動作に
より、加熱時に処理マガジン2をヒータ4内に閉じ込め
るような機構になっているので、半田層Aを素早く昇温
し、半田層Aを加熱から素早く開放することが可能にな
る。しかも、処理マガジン2を側方から囲むようにヒー
ター4内に閉じ込める機構となっているので、処理マガ
ジン2の中央にも熱が良く伝わり、ヒータ内の熱の分布
がほぼ均等になり、半導体ウェハW上面での位置の違い
による加熱のムラがなくなる。
【0039】さらに、上記した1サイクル毎にヒータ4
内、加熱溶融室3内の蟻酸を回収しているので、加熱溶
融室3内から複数の半導体ウェハWをアンローダ12に
移し替える間や、次のサイクルで複数の半導体ウェハW
をローダ11から加熱溶融室3内に移し替える間に、加
熱溶融室3から蟻酸が外に漏れ出すことがなく、環境の
汚染が防止される。
【0040】ところで、排気機構16としてドライポン
プを用いる場合には、ヒータ4により処理マガジン2を
覆った状態でヒータ2の内部をドライポンプにより減圧
することになる。また、上記した説明では蟻酸供給ノズ
ル6をヒータ2の側方に位置させたが、ヒータ2の内側
に入るように配置して蟻酸が加熱溶融室3無内で広がる
量を予め減らすようにしてもよい。
【0041】なお、上記した半田層Aの加熱溶融は、半
田層Aをパッド又は配線に接合するために行っている
が、半田を介して半導体チップのパッドと回路基板の配
線を接合する場合にも上記した半田加熱溶融装置を用い
てもよい。図5(a) に示した半導体ウェハWが分割され
て半導体デバイスCをチップ状に形成した後に、上記し
た半田接合装置を用いて半田層Aを加熱、溶融する場合
には図11に示した治具19を用いてもよい。
【0042】この治具19は、円形の半導体ウェハWと
ほぼ同じ形状を有し、その上面にはチップ状の半導体デ
バイスDを載せる凹部19aが形成されている。半導体
デバイスD上の半田層Aの昇降温を迅速に行うために
は、治具19を薄く、強靱且つ高熱伝導性の材料から形
成することが好ましい。そのような材料として、例えば
石英のような無機材料、窒化アルミニウムのような金属
材料がある。治具19の温度の昇降を良好にするために
は、石英製の治具19の凹部19aの下の厚さを0.5
mm以下にし、また、窒化アルミニウム製の治具19の凹
部19aの下の厚さを1.0mm以下にすることが好まし
い。
【0043】ところで、上記した処理マガジン2は、図
4に示す構造に限定されるものではなく、例えば図12
に示すように、立方形状の枠体2d内に複数段の網棚2
eを取り付けた構造を採用してもよい。その網棚2e間
の上下のピッチは、網棚2eの上にウェハを載せた状態
でウェハ間に5mm又はそれ以上の間隙を確保できる大き
さとなっている。その網棚2eの間は蟻酸導入スペース
としても機能する。
【0044】このような構造の処理マガジン2によれ
ば、その中に置かれる加熱対象物の大きさの制約が少な
くなって汎用性が広がる。しかも、網棚2eの目を通し
て加熱対象物に熱が伝わるので、加熱対象物への加熱の
均一性を損なうことはない。そのような構造は、ローダ
11とアンローダ12に採用してもよい。また、上記し
た蟻酸供給機構7は、図3に示したように噴霧孔6aを
有するノズル6を備えているが、これに限定されるもの
ではない。
【0045】例えば、図13(a) に示すように噴霧孔の
近傍で蟻酸と不活性ガスを混合させてミストかするよう
な構造の噴霧器を加熱溶融室3内に配置してもよい。図
13(a) に示す噴霧器22は、噴霧孔22bに繋がるガ
ス混合スペース22cを有する本体22aと、ガス混合
スペース22cに接続される蟻酸導入管22dと不活性
ガス導入管22eを有している。その噴霧器22の噴霧
孔22bには、スロットル形の噴射弁22fが取り付け
られていて、不活性ガス導入管22eから導入された不
活性ガスの圧力によりガス混合スペース22cの圧力が
高くなることにより、図13(b) に示すように噴射弁2
2fが押し出されて噴霧孔22bが開き、そして、蟻酸
導入管22dから導入された蟻酸を霧状にして噴霧孔2
2bから処理マガジン2に放出するようになっている。
【0046】また、ガス混合スペース22cへの不活性
ガスの導入が停止され場合には、噴射弁22fが後退し
て噴霧孔22bを閉じ、噴霧孔22bからの蟻酸の放出
が停止される。この場合、噴射弁22fによる噴霧孔2
2bが閉塞されているので、噴霧孔22bからの液垂れ
が防止される。なお、噴射弁22fは、ガスの圧力でな
く外力の操作によって進退させてもよい。
【0047】蟻酸供給機構として、図14に示すような
超音波振動子を有する噴霧器23を採用してもよい。図
14に示す噴霧器23は、噴霧孔23bに繋がるガス混
合スペース23cを有する本体23aと、ガス混合スペ
ース23cに接続される蟻酸導入管23dと不活性ガス
導入管23eを有している。そのガス混合スペース23
cには超音波振動子23fが取り付けられていて、超音
波振動子23f上で蟻酸と不活性ガスを混合して蟻酸を
超音波によりミスト化し、そのミストを噴霧孔23bか
ら処理マガジン2に向けて放出させる。超音波振動子2
3fはミスト供給時に駆動され、その他の時間には駆動
させないことにより蟻酸含有ガスの供給、停止を制御す
る。
【0048】なお、加熱溶融室3の搬入口39、搬出口
3bの各シャッター8,9の代わりに窒素(不活性ガ
ス)のエアーカーテンを放出するノズル25を設置する
か、シャッター8,9とエアーカーテンを併存させても
よい。これにより、加熱溶融室3外への蟻酸の漏れを確
実に防止できる。また、処理マガジン2内にウェハ等を
収容している状態で、ノズル25又は不活性ガスパージ
ノズル4aから不活性ガスを導入して加熱溶融室3内を
不活性ガス雰囲気にしてもよい。 (付記1)はんだ層を有する基体を間隔をおいて複数収
納するマガジンと、前記マガジンを格納し、かつ前記マ
ガジンに前記基体を搬入する搬入口と前記マガジンから
前記基体を搬出する搬出口を有する加熱室と、前記加熱
室を外気から遮蔽するために前記搬入口と前記搬出口の
それぞれに設置された第1の大気遮蔽機構と第2の大気
遮蔽機構と、前記加熱室内で前記マガジンを閉じ込め可
能に配置されたヒーターと、前記加熱領域へ蟻酸を供給
する蟻酸供給機構と、前記蟻酸を前記加熱室の外に排出
する排気機構とを有するはんだ接合装置。 (付記2)外部から冷却ガスを前記ヒータ内に導入する
冷却ガス導入機構をさらに有することを特徴とする付記
1に記載のはんだ接合装置。 (付記3)前記冷却ガスは、不活性ガスであることを特
徴とする付記2に記載のはんだ接合装置。 (付記4)前記第1及び第2の大気遮蔽機構は、シャッ
ターとエアーカーテンの少なくとも一方であることを特
徴とする付記1乃至付記3のいずれかに記載のはんだ接
合装置。 (付記5)前記エアーカーテンは、不活性ガスシャワー
であることを特徴とする付記4に記載のはんだ接合装
置。 (付記6)前記蟻酸供給機構は、蟻酸と不活性ガスの混
合ミストの導入部を有していることを特徴とする付記1
乃至付記5のいずれかに記載のはんだ接合装置。 (付記7)前記蟻酸供給機構は、蟻酸をミスト化するた
めの超音波振動素子を有することを特徴とする付記1乃
至付記5のいずれかに記載のはんだ接合装置。 (付記8)前記蟻酸供給機構は、蟻酸濃度76 vol%以
下の溶液の蟻酸導入部を有することを特徴とする付記
1、付記6又は付記7に記載のはんだ接合装置。 (付記9)前記排気機構は、前記ヒータにより前記マガ
ジンを閉じ込めた状態で、前記ヒータ内を減圧する機能
を有することを特徴とする付記1乃至付記8のいずれか
に記載のはんだ接合装置。 (付記10)前記排気機構の排気部分に接続された蟻酸
分解機構又は蟻酸回収機構をさらに有することを特徴と
する付記1乃至付記19のいずれかに記載のはんだ接合
装置。 (付記11)前記蟻酸回収機構は、前記排気機構から出
た排気ガスを通すための溶液を入れる浴槽を有すること
を加熱部を有することを特徴とする付記10に記載のは
んだ接合装置。 (付記12)前記排気ガスを通す複数の孔を有する通気
部が前記浴槽に設けられていることを特徴とする付記1
1に記載のはんだ接合装置。 (付記13)前記溶液は、水又はアルコールであること
を特徴とする付記12に記載のはんだ接合装置。 (付記14)前記蟻酸分解機構は、前記排気機構から出
た排気ガスを400℃以上に加熱する加熱部を有するこ
とを特徴とする付記10に記載のはんだ接合装置。 (付記15)前記マガジンは、ウェハ状の前記基体を支
持する支持面と、内部に前記蟻酸を通過させる蟻酸導入
スペースとを有していることを特徴とする付記1乃至付
記14のいずれかに記載の記載のはんだ接合装置。 (付記16)前記マガジンは、ウェハ状の前記基体を支
持するメッシュ状支持面と、内部に前記蟻酸を導入する
蟻酸導入スペースとを有していることを特徴とする付記
1乃至付記14のいずれかに記載のはんだ接合装置。 (付記17)前記基体はチップ状の半導体装置であって
支持具に保持され、該支持具は前記マガジン内で間隔を
おいて複数枚支持されることを特徴とする付記1、付記
15又は付記16に記載のはんだ接合装置。 (付記18)前記支持具は前記半導体装置を位置決めす
る凹部を有し、無機材料又は金属材料から構成されてい
ることを特徴とする付記17に記載のはんだ接合装置。 (付記19)前記マガジンを前記加熱室内で移動させる
搬送機構を有することを特徴とする付記1乃至付記18
のいずれかに記載のはんだ接合装置。 (付記20)前記基体は、電子部品、回路基板、半導体
ウェハ、半導体チップのいずれかであることを特徴とす
る付記1乃至付記19のいずれかに記載のはんだ接合装
置。 (付記21)前記加熱室内に不活性ガスを導入する不活
性ガス導入機構を有することを特徴とする付記1乃至付
記20のいずれかに記載のはんだ接合装置。 (付記22)はんだ層が付着した金属パターンを有する
基体を間隔をおいてマガジン内に複数入れる工程と、蟻
酸が供給された状態の前記マガジンを加熱領域でヒータ
により覆う工程と、前記ヒータにより前記はんだ層を加
熱して前記はんだ層を金属パターンに接合する工程と、
前記ヒータ内に冷却ガスを導入することにより前記はん
だ層、前記金属パターン及び前記基体を冷却するととも
に前記ヒータ内の前記蟻酸を外部に排出する工程と、前
記ヒータを前記マガジン周囲から取り去る工程と、前記
マガジンから前記基体を搬出する工程とを有することを
特徴とするはんだ接合方法。 (付記23)前記ヒータ内から排出された前記蟻酸を蟻
酸回収機構によって回収する工程をさらに有することを
特徴とする付記21に記載のはんだ接合方法。 (付記24)前記ヒータ内から排出された前記蟻酸を蟻
酸分解機構によって分解する工程をさらに有することを
特徴とする付記21に記載のはんだ接合方法。 (付記25)前記マガジンを覆った状態で前記ヒータ内
を減圧する工程をさらに有することを特徴とする付記2
1に記載のはんだ接合方法。
【0049】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、はん
だ層が付着した金属パターンを有する複数の基体を間隔
をおいて収納するマガジンと、そのマガジンを閉じ込め
可能に配置されるヒータとを有しているので、複数の基
体上のはんだをそれぞれ同時に接合することができ、ス
ループットを従来よりも向上することができる。
【0050】また、はんだ層をヒータにより加熱して溶
融した後に、ヒータをマガジンの周囲から取り去ること
により、はんだ層の温度を下げることが容易になり、加
熱から冷却までの時間を短縮することができる。さら
に、ヒータに冷却ガス導入機構を取り付ける構造を採用
しているので、はんだ層の加熱終了直後に冷却ガスによ
りさらに急速に冷却することができ、はんだ冷却時間を
短くできる。
【0051】蟻酸をはんだ層に供給する場合には、蟻酸
とガスの2流体を混合して蟻酸の過剰な供給を抑制した
り、超音波で蟻酸をミスト化するようにしたので、蟻酸
の過剰な供給を抑制できる。また、マガジンを加熱室内
にのみ収めることにより、空気中の汚染物質がマガジン
に付着することを抑制して加熱中の基体の汚染を防止で
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明の実施形態に係るはんだ接合装
置を示す上面図である。
【図2】図2は、図1のI−I線断面図である。
【図3】図3は、本発明の実施形態に係るはんだ接合装
置に使用される蟻酸供給ノズルの一部を示す斜視図であ
る。
【図4】図4は、本発明の実施形態に係るはんだ接合装
置に使用される処理マガジンを示す斜視図である。
【図5】図5(a),(b) は、本発明の実施形態に係る半田
接合装置により接合される半田が形成された半導体ウェ
ハを示す斜視図と側面図である。
【図6】図6(a),(b) は、図5(b) に示した半導体デバ
イスの一部を示す断面図である。
【図7】図7(a) は、本発明の実施形態に係るはんだ接
合装置に使用される蟻酸回収機構を示す断面図、図7
(b) は、その蟻酸回収機構に組み込まれるプレートを示
す断面図である。
【図8】図8(a) 〜(c) は、本発明の実施形態に係るは
んだ接合装置の動作説明図(その1)である。
【図9】図9(a) 〜(c) は、本発明の実施形態に係るは
んだ接合装置の動作説明図(その2)である。
【図10】図10(a) 〜(c) は、本発明の実施形態に係
るはんだ接合装置の動作説明図(その3)である。
【図11】図11(a),(b) は、本発明の実施形態に係る
半田接合装置により接合される半田が形成されたチップ
状の半導体デバイスを複数個取り付ける治具を示す斜視
図と側面図である。
【図12】図12は、本発明の実施形態に係るはんだ接
合装置に使用される別の処理マガジンを示す斜視図であ
る。
【図13】図13(a),(b) は、本発明の実施形態に係る
はんだ接合装置に使用される別の蟻酸供給機構を示す断
面図である。
【図14】図14は、本発明の実施形態に係るはんだ接
合装置に使用されるさらに別の蟻酸供給機構を示す断面
図である。
【符号の説明】
1…マガジン載置台、2…処理マガジン、3…加熱溶融
室、4…ヒータ、4a…不活性ガスパージノズル、5…
駆動機構、5a…支持シャフト、6…蟻酸噴霧ノズル、
7…蟻酸供給機構、8,9…シャッター、10…マガジ
ン移動機構、11…ローダ、12…アンローダ、13,
14…プッシャー、15…シャッター、16…排気装
置、17…蟻酸回収機構、18…シロッコファン、19
…治具、22,23…噴霧器。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05K 3/34 H05K 3/34 507L // B23K 101:40 B23K 101:40 (72)発明者 松木 浩久 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番 1号 富士通株式会社内 Fターム(参考) 5E319 AA03 AC01 BB05 CC33 CC34 CC36 CC58 CD29 CD35 GG03 GG15

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】はんだ層を有する基体を間隔をおいて複数
    収納するマガジンと、 前記マガジンを格納し、かつ前記マガジンに前記基体を
    搬入する搬入口と前記マガジンから前記基体を搬出する
    搬出口を有する加熱室と、 前記加熱室を外気から遮蔽するために前記搬入口と前記
    搬出口のそれぞれに設置された第1の大気遮蔽機構と第
    2の大気遮蔽機構と、 前記加熱室内で前記マガジンを閉じ込め可能に配置され
    たヒーターと、 前記加熱領域へ蟻酸を供給する蟻酸供給機構と、 前記蟻酸を前記加熱室の外に排出する排気機構とを有す
    るはんだ接合装置。
  2. 【請求項2】外部から冷却ガスを前記ヒータ内に導入す
    る冷却ガス導入機構をさらに有することを特徴とする請
    求項1に記載のはんだ接合装置。
  3. 【請求項3】前記第1及び第2の大気遮蔽機構は、シャ
    ッターとエアーカーテンの少なくとも一方であることを
    特徴とする請求項1又は請求項2に記載のはんだ接合装
    置。
  4. 【請求項4】前記蟻酸供給機構は、蟻酸と不活性ガスの
    混合ミストの導入部を有していることを特徴とする請求
    項1乃至請求項3のいずれかに記載のはんだ接合装置。
  5. 【請求項5】前記蟻酸供給機構は、蟻酸をミスト化する
    ための超音波振動素子を有することを特徴とする請求項
    1乃至請求項4のいずれかに記載のはんだ接合装置。
  6. 【請求項6】前記排気機構は、前記ヒータにより前記マ
    ガジンを閉じ込めた状態で、前記ヒータ内を減圧する機
    能を有することを特徴とする請求項1乃至請求項5のい
    ずれかに記載のはんだ接合装置。
  7. 【請求項7】前記排気機構の排気部分に接続された蟻酸
    分解機構又は蟻酸回収機構をさらに有することを特徴と
    する請求項1乃至請求項6のいずれかに記載のはんだ接
    合装置。
  8. 【請求項8】前記マガジンは、ウェハ状の前記基体を支
    持する支持面と、内部に前記蟻酸を通過させる蟻酸導入
    スペースとを有していることを特徴とする請求項1乃至
    請求項7のいずれかに記載の記載のはんだ接合装置。
  9. 【請求項9】前記マガジンは、ウェハ状の前記基体を支
    持するメッシュ状支持面と、内部に前記蟻酸を導入する
    蟻酸導入スペースとを有していることを特徴とする請求
    項1乃至請求項7のいずれかに記載のはんだ接合装置。
  10. 【請求項10】はんだ層が付着した金属パターンを有す
    る基体を間隔をおいてマガジン内に複数入れる工程と、 蟻酸が供給された状態の前記マガジンを加熱領域でヒー
    タにより覆う工程と、 前記ヒータにより前記はんだ層を加熱して前記はんだ層
    を金属パターンに接合する工程と、 前記ヒータ内に冷却ガスを導入することにより前記はん
    だ層、前記金属パターン及び前記基体を冷却するととも
    に前記ヒータ内の前記蟻酸を外部に排出する工程と、 前記ヒータを前記マガジン周囲から取り去る工程と、 前記マガジンから前記基体を搬出する工程とを有するこ
    とを特徴とするはんだ接合方法。
JP2001172960A 2001-01-18 2001-06-07 はんだ接合装置及びはんだ接合方法 Expired - Lifetime JP3350529B1 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001172960A JP3350529B1 (ja) 2001-06-07 2001-06-07 はんだ接合装置及びはんだ接合方法
TW090123755A TW570856B (en) 2001-01-18 2001-09-26 Solder jointing system, solder jointing method, semiconductor device manufacturing method, and semiconductor device manufacturing system
US09/970,802 US6732911B2 (en) 2001-01-18 2001-10-05 Solder jointing system, solder jointing method, semiconductor device manufacturing method, and semiconductor device manufacturing system
KR1020010066074A KR100540868B1 (ko) 2001-01-18 2001-10-25 땜납 접합 장치 및 땜납 접합 방법
KR10-2005-0074332A KR100529489B1 (ko) 2001-01-18 2005-08-12 반도체 장치의 제조 방법 및 반도체 장치의 제조 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001172960A JP3350529B1 (ja) 2001-06-07 2001-06-07 はんだ接合装置及びはんだ接合方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP3350529B1 JP3350529B1 (ja) 2002-11-25
JP2002361472A true JP2002361472A (ja) 2002-12-18

Family

ID=19014504

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001172960A Expired - Lifetime JP3350529B1 (ja) 2001-01-18 2001-06-07 はんだ接合装置及びはんだ接合方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3350529B1 (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008059588A (ja) * 2006-08-28 2008-03-13 Hanmi Semiconductor Co Ltd 半導体パッケージ固定アセンブリ
JP2012028589A (ja) * 2010-07-23 2012-02-09 Ayumi Kogyo Kk 加熱溶融処理方法および加熱溶融処理装置
WO2013031740A1 (ja) * 2011-08-29 2013-03-07 有限会社ヨコタテクニカ 搬送装置
WO2013031739A1 (ja) * 2011-08-29 2013-03-07 有限会社ヨコタテクニカ 搬送装置
JP2014506012A (ja) * 2011-02-02 2014-03-06 パック テック−パッケージング テクノロジーズ ゲーエムベーハー ガスフラックス媒体を用いるレーザ半田付けにより2つの基板の端子面を電気的に接触させるための方法および装置
WO2015045566A1 (ja) 2013-09-30 2015-04-02 オリジン電気株式会社 ギ酸分解用装置及びギ酸の分解方法
JP2015100841A (ja) * 2013-11-28 2015-06-04 オリジン電気株式会社 半田付け方法及び半田付け装置
CN114307587A (zh) * 2022-03-15 2022-04-12 北京中科同志科技股份有限公司 甲酸工艺尾气处理装置和甲酸工艺焊接系统
TWI784839B (zh) * 2021-12-15 2022-11-21 廣化科技股份有限公司 甲酸焊接製程方法

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008059588A (ja) * 2006-08-28 2008-03-13 Hanmi Semiconductor Co Ltd 半導体パッケージ固定アセンブリ
JP2012028589A (ja) * 2010-07-23 2012-02-09 Ayumi Kogyo Kk 加熱溶融処理方法および加熱溶融処理装置
JP2014506012A (ja) * 2011-02-02 2014-03-06 パック テック−パッケージング テクノロジーズ ゲーエムベーハー ガスフラックス媒体を用いるレーザ半田付けにより2つの基板の端子面を電気的に接触させるための方法および装置
US9649711B2 (en) 2011-02-02 2017-05-16 Pac Tech-Packaging Technologies Gmbh Method and device for electrically contacting terminal faces of two substrates by laser soldering using a gaseous flux medium
WO2013031740A1 (ja) * 2011-08-29 2013-03-07 有限会社ヨコタテクニカ 搬送装置
WO2013031739A1 (ja) * 2011-08-29 2013-03-07 有限会社ヨコタテクニカ 搬送装置
US9114936B2 (en) 2011-08-29 2015-08-25 Yokota Technica Limited Company Conveyor apparatus
US9193529B2 (en) 2011-08-29 2015-11-24 Yokota Technica Limited Company Conveyor
WO2015045566A1 (ja) 2013-09-30 2015-04-02 オリジン電気株式会社 ギ酸分解用装置及びギ酸の分解方法
JP2015100841A (ja) * 2013-11-28 2015-06-04 オリジン電気株式会社 半田付け方法及び半田付け装置
TWI784839B (zh) * 2021-12-15 2022-11-21 廣化科技股份有限公司 甲酸焊接製程方法
CN114307587A (zh) * 2022-03-15 2022-04-12 北京中科同志科技股份有限公司 甲酸工艺尾气处理装置和甲酸工艺焊接系统

Also Published As

Publication number Publication date
JP3350529B1 (ja) 2002-11-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW570856B (en) Solder jointing system, solder jointing method, semiconductor device manufacturing method, and semiconductor device manufacturing system
JP3404021B2 (ja) はんだ接合装置
US6344407B1 (en) Method of manufacturing solder bumps and solder joints using formic acid
JP3312377B2 (ja) ろう材による接合方法及び装置
JP4956963B2 (ja) リフロー装置、リフロー方法、および半導体装置の製造方法
US20070170227A1 (en) Soldering method
JP2003103361A (ja) 表面改質装置および表面改質方法
JP3350529B1 (ja) はんだ接合装置及びはんだ接合方法
KR100669061B1 (ko) 리플로 납땜 방법
KR100919931B1 (ko) 레이저 솔더링 장치 및 방법과 이를 이용한 전력용 반도체모듈의 제조방법
JPH09186200A (ja) フリップチップ実装方法
JP3442615B2 (ja) 基板加熱方法
US8274161B2 (en) Flux-free chip to substrate joint serial linear thermal processor arrangement
US20050255685A1 (en) Void free solder arrangement for screen printing semiconductor wafers
US7064063B2 (en) Photo-thermal induced diffusion
US20110198388A1 (en) Flux-free chip to wafer joint serial thermal processor arrangement
JPH10189632A (ja) 回路上のソルダ・バンプを清浄するためのプラズマ活性化nf3の使用
US7159758B1 (en) Circuit board processing techniques using solder fusing
KR20010053616A (ko) 전자 부품을 기판에 납땜하는 리플로 솔더링 방법 및 장치
JPH10233484A (ja) 半導体装置の組立方法および装置
KR100292295B1 (ko) 레이저를 이용한 웨이퍼 레벨의 무플럭스 솔더 접합 장치 및 방법
JP2001267729A (ja) 電子部品の実装方法及び電子部品用実装装置
JP4623777B2 (ja) 回路基板の洗浄方法
JPH0856071A (ja) はんだバンプ形成方法
JPH09246705A (ja) 電子部品、その実装方法、及び電子デバイス

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20020903

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3350529

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080913

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080913

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090913

Year of fee payment: 7

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090913

Year of fee payment: 7

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090913

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100913

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100913

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110913

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110913

Year of fee payment: 9

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110913

Year of fee payment: 9

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120913

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120913

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130913

Year of fee payment: 11

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

EXPY Cancellation because of completion of term