JP2002355517A - Equipment for removing impurities in the air - Google Patents

Equipment for removing impurities in the air

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JP2002355517A JP2002099310A JP2002099310A JP2002355517A JP 2002355517 A JP2002355517 A JP 2002355517A JP 2002099310 A JP2002099310 A JP 2002099310A JP 2002099310 A JP2002099310 A JP 2002099310A JP 2002355517 A JP2002355517 A JP 2002355517A
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Hitoshi Inaba
仁 稲葉
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克己 佐藤
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an equipment for removing impurities in the air which can remove gaseous impurities at a high efficiency while keeping the humidity of the air to be treated constant. SOLUTION: The air to be treated is cooled to a prescribed dew point and dehumidified by using a cooling means 4 to get water-saturated air before the gaseous impurities are removed by an impurity removing means 5. As a result, water does not move between gas and liquid when the gas in brought into contact with the liquid since water is saturated in the air. Thus, the gaseous impurities can be removed without changing the moisture content of the air to be treated. The movement of water between the gas and the liquid can be avoided more effectively by controlling the temperature of a liquid material to be brought into contact with the air to be almost equal to the dew point of the air to be treated by using a temperature adjusting means.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、空気中に含まれる不純
物の除去装置に関し、特に気液接触によるガス成分や微
小粒子などのガス状不純物(なお、本明細書において
「ガス状不純物」と云う場合には、空気中に含まれるガ
ス成分や微小粒子などの不純物を総称するものとする)
の除去装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for removing impurities contained in air, and more particularly to a gaseous impurity such as a gas component or fine particles caused by gas-liquid contact (hereinafter referred to as "gaseous impurity" in the present specification). In this case, impurities such as gas components and fine particles contained in the air are collectively referred to.)
To a removing device.

【0002】[0002]

【従来の技術】空気中には、塵埃の他に微量ではあるが
ガス状の不純物が含まれている。かかるガス状不純物は
人体に有害であるばかりでなく、半導体などの製造雰囲
気に混入した場合に、デバイスの電気特性劣化の原因と
なるおそれがある。また、半導体、液晶製造工程で使用
される各種薬液の蒸気がクリーンルーム内に漏洩した場
合にも、循環空気中に含まれるガス状薬液の濃度が高く
なり、薬品の品質を劣化させるおそれがある。さらに、
半導体などのデバイス製造工程に限らず、各種の機械製
造工場、食品関係の工場、動物飼育場などにおいても、
薬液処理工程において排出される排気ガスなどは周辺環
境に少なからぬ影響を与え、ひいては、環境汚染の原因
となるおそれがある。かかる背景より、空気中に含まれ
るガス状不純物を効率よく除去するための技術の確立が
待望されている。
2. Description of the Prior Art In addition to dust, air contains trace amounts of gaseous impurities. Such gaseous impurities are not only harmful to the human body, but also may cause deterioration of the electrical characteristics of the device when mixed in a manufacturing atmosphere such as a semiconductor. Also, when vapors of various chemicals used in the semiconductor and liquid crystal manufacturing processes leak into the clean room, the concentration of the gaseous chemical contained in the circulating air increases, and the quality of the chemicals may be degraded. further,
Not only in the manufacturing process of devices such as semiconductors, but also in various machinery manufacturing factories, food-related factories, animal breeding facilities, etc.
Exhaust gas and the like discharged in the chemical liquid treatment process have a considerable effect on the surrounding environment, and may cause environmental pollution. From such a background, establishment of a technology for efficiently removing gaseous impurities contained in air is expected.

【0003】このような空気中のガス成分や微小粒子な
どのガス状不純物を除去する方法の中で、従来より無機
系不純物に対しては、吸収法による不純物の除去処理が
行われている。かかる吸収法としては、ガスの吸収液と
して水または特殊な吸収液を用いる湿式法と、ガス吸着
剤を充填含浸させた吸着フィルタなどによりガス除去を
行う乾式法が知られている。湿式法は、性能の劣化や経
時変化が少ない代わりに、不純物ガスの除去効率を上げ
るためには多量の吸収液が必要である。また、乾式法の
吸着フィルタによれば、大がかりな設備を設置せずに、
不純物ガスを除去することが可能であるが、吸着能力が
経時的に劣化するため、定期的に交換や再生処理などの
メンテナンスが必要である。
In such a method for removing gaseous impurities such as gas components and fine particles in the air, an inorganic impurity is conventionally subjected to an impurity removal treatment by an absorption method. As such an absorption method, a wet method using water or a special absorption liquid as a gas absorption liquid, and a dry method in which gas is removed by an adsorption filter filled with a gas adsorbent and impregnated are used. The wet method requires a large amount of absorbing liquid in order to increase the efficiency of removing impurity gas, instead of the performance deterioration and the change with time. In addition, according to the adsorption filter of the dry method, without installing large-scale equipment,
Although the impurity gas can be removed, the adsorption capacity deteriorates with time, so that maintenance such as replacement and regeneration processing is required periodically.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】従来の湿式法では、吸
収液と空気とが接触する際に、空気中の水分濃度が飽和
状態に達しておらず、しかも吸収液の温度が空気の露点
温度よりも高い場合には、吸収液中の水分が蒸発し空気
中の水分濃度を上昇させ、しかも、このような作用は、
不純物除去性能を高めるために気体と液体との接触効率
を高めれば高めるほど強くなる傾向にあるため問題とな
っていた。特に、半導体製造工程で用いるクリーンルー
ム用の取り入れ外気中の不純物を処理する場合などに
は、クリーンルーム内では循環空気の露点温度を制御す
る必要があるため、外気を循環空気として取り入れる際
に循環空気の露点温度まで冷却除湿せねばならず、従来
の湿式法では、吸収液と空気との接触で空気中に蒸発し
た水分についても余分に除湿せねばならないため、効率
が悪かった。
In the conventional wet method, when the absorbing liquid comes into contact with the air, the water concentration in the air does not reach a saturated state, and the temperature of the absorbing liquid is the dew point temperature of the air. If it is higher than that, the water in the absorbing solution evaporates and raises the water concentration in the air.
If the contact efficiency between the gas and the liquid is increased in order to enhance the impurity removing performance, the higher the contact efficiency, the higher the efficiency. In particular, when processing impurities in the outside air taken in for the clean room used in the semiconductor manufacturing process, it is necessary to control the dew point temperature of the circulating air in the clean room. It has to be cooled and dehumidified to the dew point temperature, and in the conventional wet method, the moisture evaporated in the air due to the contact between the absorbing liquid and the air has to be dehumidified excessively, which is inefficient.

【0005】また従来の乾式法では、上記のように処理
時間の経過とともに吸着剤の性能が低下するので、必要
な吸着能力を維持するために、定期的な吸着剤の交換や
再生を行う必要があり、また除去装置の吸着効率を高め
ようとすると、吸着フィルタに対する吸着剤の充填率を
高くせねばならず、その結果、処理空気が吸着フィルタ
を通過する際の圧力損失が大きくなり、多くの送風動力
を必要とするという問題があった。
In the conventional dry method, as described above, the performance of the adsorbent deteriorates with the elapse of the treatment time. Therefore, it is necessary to periodically exchange or regenerate the adsorbent in order to maintain the required adsorption capacity. In addition, in order to increase the adsorption efficiency of the removal device, the filling rate of the adsorbent into the adsorption filter must be increased, and as a result, the pressure loss when the treated air passes through the adsorption filter increases, However, there is a problem that the air blowing power is required.

【0006】本発明は、このような従来の空気不純物の
除去装置の有する問題点に鑑みてなされたものであり、
したがって、その目的とするところは、不純物を除去す
る際に対象空気中の水分濃度を上昇させることなく、ま
た多くの送風動力を必要とせずに、高い除去効率で対象
空気中に含まれるガス成分や微粒子などのガス状不純物
を除去することが可能であり、しかもメンテナンスが容
易な新規かつ改良された対象空気中に含まれる不純物の
除去装置を提供することである。
[0006] The present invention has been made in view of the problems of such a conventional air impurity removing apparatus,
Therefore, the purpose is to remove the gas components contained in the target air with high removal efficiency without increasing the water concentration in the target air when removing impurities and without requiring a large amount of blowing power. An object of the present invention is to provide a new and improved apparatus for removing impurities contained in target air, which is capable of removing gaseous impurities such as particles and fine particles and is easy to maintain.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明によれば、不純物(例えばガス成分や微小粒子
などのガス状不純物)を含む対象空気流(例えば外気)
を上流より下流に流通させることが可能なチャンバと、
上記チャンバ内に設置されており、多孔質体を備え、そ
の多孔質体に上記対象空気流に含まれる上記不純物を取
り込み可能な液状物質(例えば純水)を連続的に流通し
入れ替えることが可能であり、上記液状物質を上記対象
空気流に直交して接触させた後回収することができる不
純物除去手段と、上記チャンバの底部付近に設置されて
おり、上記不純物を取り込んだ液状物質を回収し外部に
排水するための排水手段と、から成ることを特徴とす
る、空気中不純物の除去装置が提供される。
According to the present invention, there is provided a target air stream (for example, outside air) containing impurities (for example, gaseous impurities such as gas components and fine particles).
A chamber that can be flowed downstream from upstream,
A liquid substance (for example, pure water) which is provided in the chamber and has a porous body, and which can take in the impurities contained in the target air flow, can be continuously passed through the porous body and exchanged. And an impurity removing means capable of recovering the liquid substance after contacting the liquid substance at right angles to the target air flow, and being disposed near the bottom of the chamber, recovering the liquid substance incorporating the impurities. And a drainage means for draining water to the outside.

【0008】また本発明によれば、不純物(例えばガス
成分や微小粒子などのガス状不純物)を含む対象空気流
(例えば外気)を上流より下流に流通させることが可能
なチャンバと、上記チャンバ内に設置されており、空気
流通方向に対して略平行にかつ略垂直方向に並列配列さ
れた複数の平行平板を備え、その平行平板の表面に上記
対象空気流に含まれる上記不純物を取り込み可能な液状
物質(例えば純水)を連続的に流通し入れ替えることが
可能であり、上記液状物質を上記対象空気流に直交して
接触させた後回収することができる不純物除去手段と、
上記チャンバの底部付近に設置されており、上記不純物
を取り込んだ液状物質を回収し外部に排水するための排
水手段と、から成ることを特徴とする、空気中不純物の
除去装置が提供される。
Further, according to the present invention, there is provided a chamber capable of flowing a target air flow (for example, outside air) containing impurities (for example, gaseous impurities such as gas components and fine particles) from upstream to downstream, and And a plurality of parallel flat plates arranged in parallel in a direction substantially parallel to and substantially perpendicular to the air flow direction, and the surface of the parallel flat plate can capture the impurities contained in the target airflow. An impurity removing means capable of continuously flowing and exchanging a liquid substance (for example, pure water), and recovering the liquid substance after contacting the liquid substance at right angles to the target air flow;
An apparatus for removing impurities in the air is provided, which is provided near the bottom of the chamber and comprises a drainage means for collecting the liquid substance containing the impurities and draining the liquid substance to the outside.

【0009】さらに本発明によれば、上記不純物除去手
段の上流に設置されており上記対象空気流を冷却する冷
却手段を設けた構成とすることができる。
Further, according to the present invention, it is possible to provide a structure provided with a cooling means provided upstream of the impurity removing means for cooling the target air flow.

【0010】さらに本発明によれば、上記不純物除去手
段内の上記液状物質の温度を上記液状物質が接触する上
記対象空気流の露点温度にほぼ等しい温度に調節するこ
とが可能な温調手段を設けた構成とすることができる。
Further, according to the present invention, there is provided a temperature control means capable of adjusting the temperature of the liquid substance in the impurity removing means to a temperature substantially equal to the dew point temperature of the target air flow with which the liquid substance comes into contact. The configuration provided may be employed.

【0011】[0011]

【作用】本発明に基づいて構成された空気中不純物の除
去装置によれば、不純物除去手段によりガス状不純物を
処理する前に、冷却手段により対象空気を、例えばクリ
ーンルーム内循環空気の露点温度にまで冷却除湿し、水
分飽和空気とすることができる。その結果、不純物除去
手段において気体と液体とが接触する際には、入口空気
中の水分量が飽和に達しているので、気体と液体との間
で水分の移動が行われず、したがって、処理空気の水分
量を変化させずにガス状不純物の除去を行うことができ
る。
According to the apparatus for removing impurities in air constituted according to the present invention, before the gaseous impurities are treated by the impurity removing means, the target air is cooled by the cooling means to, for example, the dew point temperature of the circulating air in the clean room. It can be cooled and dehumidified to obtain moisture-saturated air. As a result, when the gas and the liquid come into contact with each other in the impurity removing means, the amount of water in the inlet air has reached saturation, so that the movement of the water between the gas and the liquid is not performed. Gaseous impurities can be removed without changing the water content of the gas.

【0012】また処理空気に接触させる液状物質の温度
を、温調手段により、例えば処理空気の露点温度とほぼ
等しくなるように調節することにより、処理空気と液状
物質との間での水分の移動をより効果的に回避すること
ができる。
In addition, the temperature of the liquid substance brought into contact with the processing air is adjusted by temperature control means, for example, so as to be substantially equal to the dew point temperature of the processing air, so that the movement of moisture between the processing air and the liquid substance is achieved. Can be avoided more effectively.

【0013】[0013]

【実施例】以下に添付図面を参照しながら、本発明に基
づいて構成された空気中不純物の除去装置をクリーンル
ーム用外気処理空調機に適用した実施例について詳細に
説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment in which an apparatus for removing impurities in air configured according to the present invention is applied to an outside air processing air conditioner for a clean room will be described in detail below with reference to the accompanying drawings.

【0014】図1のクリーンルーム用外気処理空調機1
においては、上流から外気を取り入れて下流から処理空
気をクリーンルームに供給する処理チャンバ2内に、H
EPAフィルタなどの乾式の高性能エアフィルタなどか
ら構成されるプレフィルタ3と、本発明に基づいて設置
された冷却コイル4と、ガス状不純物を除去するための
不純物処理装置すなわちガス除去部5と、空気流を発生
させるための送風ユニット6と、温度調整を行うための
電気ヒータなどの温調ユニット7と、最終的に塵埃を除
去するためのHEPAやULPAフィルタなどから構成
される後処理ユニット8とが、上流側から下流側に向か
って順次配置されている。
An outside air processing air conditioner 1 for a clean room shown in FIG.
In the processing chamber 2 which takes in outside air from the upstream and supplies processing air to the clean room from the downstream,
A pre-filter 3 composed of a dry high-performance air filter such as an EPA filter, a cooling coil 4 installed according to the present invention, and an impurity treatment device for removing gaseous impurities, that is, a gas removing unit 5; And a post-processing unit including a blower unit 6 for generating an air flow, a temperature control unit 7 such as an electric heater for performing temperature control, and a HEPA or ULPA filter for finally removing dust. 8 are sequentially arranged from the upstream side to the downstream side.

【0015】送風機ユニット6によりチャンバ2内に導
入されたガス成分や微小粒子などのガス状不純物を含む
空気は、まずプレフィルタ3において、HEPAフィル
タなどの乾式の高性能エアフィルタにより、例えば0.
3μm以上の固形不純物などが除去される。
The air containing gaseous impurities such as gas components and fine particles introduced into the chamber 2 by the blower unit 6 is first filtered in the pre-filter 3 by a dry high-performance air filter such as a HEPA filter.
Solid impurities of 3 μm or more are removed.

【0016】次いで、高性能エアフィルタにより塵埃を
除去された空気は、本発明に基づいて後述するように気
液接触により不純物を除去するガス除去部5より上流側
に設置された冷却コイル4にて、クリーンルーム内の設
定露点温度まで冷却除湿が行われる。この結果、冷却コ
イル4の下流側の空気流は、空気温度が低下し水分飽和
状態に達している。
Next, the air from which dust has been removed by the high-performance air filter is supplied to a cooling coil 4 installed upstream of a gas removing section 5 for removing impurities by gas-liquid contact as described later in accordance with the present invention. Then, cooling and dehumidification is performed to the set dew point temperature in the clean room. As a result, the air flow on the downstream side of the cooling coil 4 has a reduced air temperature and has reached a moisture saturated state.

【0017】次いで、空気温度が低下し水分飽和状態に
ある空気流は、ガス除去部5において、その空気流に含
まれるガス状不純物を取り込み可能な液状物質、例えば
ガス成分を溶解可能な純水と接触させられ、空気中の不
純物が除去される。この際、本発明の好適な実施例によ
れば、図示しない温調手段により、不純物吸収液の温度
もクリーンルーム内の設定露点温度、例えば10℃前後
にまで冷却されている。このように、ガス除去部に供給
する純水などの不純物吸収液の温度を、冷却コイル4に
より冷却された空気流の露点温度とほぼ同温に調整し
て、ガス除去部5において気液接触を行うことにより、
吸収液の蒸発や空気中の水分の凝縮を生じさせずに、す
なわち空気流の湿度を一定に保持したまま、ガス状不純
物の除去のみを行うことが可能である。この際、気液接
触部において相接触する気体も液体も夏期や中間期等で
は外気温度よりも低温となっているため、ガス状不純物
の溶解度が向上する。その結果、不純物吸収液の吸収効
率が良くなるとともに、吸収の飽和点が高くなるため、
ガス除去部5に供給する吸収液の供給量も少なくするこ
とができる。また、冬季等の外気温度が低い場合は、気
液接触部において適度な加湿を行うことが可能である。
なお、上述の気液接触部すなわちガス除去部5として
は、後述のように例えば図2〜図5に示す構造を採用す
ることが可能であり、要求性能に応じて適宜選択するこ
とが可能である。
Next, the air stream whose air temperature is lowered and which is in a water-saturated state is supplied to a gas removing unit 5 where a liquid substance capable of taking in gaseous impurities contained in the air stream, for example, pure water capable of dissolving gas components. And impurities in the air are removed. At this time, according to a preferred embodiment of the present invention, the temperature of the impurity absorbing liquid is also cooled to a set dew point temperature in the clean room, for example, around 10 ° C. by a temperature control means (not shown). As described above, the temperature of the impurity absorbing liquid such as pure water supplied to the gas removing unit is adjusted to substantially the same temperature as the dew point temperature of the airflow cooled by the cooling coil 4, and the gas-liquid contact is performed in the gas removing unit 5. By doing
It is possible to remove only gaseous impurities without causing evaporation of the absorbing liquid or condensation of moisture in the air, that is, while keeping the humidity of the air flow constant. At this time, since the gas and the liquid that come into contact with each other at the gas-liquid contact portion are lower than the outside air temperature in the summer, the middle period, or the like, the solubility of the gaseous impurities is improved. As a result, the absorption efficiency of the impurity absorbing liquid is improved, and the saturation point of absorption is increased.
The supply amount of the absorbing liquid supplied to the gas removing unit 5 can also be reduced. When the outside air temperature is low in winter or the like, appropriate humidification can be performed in the gas-liquid contact portion.
As the gas-liquid contact part, that is, the gas removing part 5, the structure shown in, for example, FIGS. 2 to 5 can be adopted as described later, and can be appropriately selected according to required performance. is there.

【0018】以上のようにして、不純物が除去された対
象空気は、送風ユニット4により形成された空気流にの
ってさらに下流に送られ、そこで必要に応じて電気ヒー
タなどの温調手段7によって室内設定温度(乾球温度)
にまで加温され、さらに高性能フィルタで除塵された
後、クリーンルーム内に供給することが可能である。
As described above, the target air from which impurities have been removed is sent further downstream along the air flow formed by the blower unit 4, where it is subjected to temperature control means 7 such as an electric heater if necessary. Depending on the indoor set temperature (dry bulb temperature)
, And after being removed by a high-performance filter, it can be supplied into a clean room.

【0019】次に図2〜図5を参照しながら、本発明に
基づいて構成された空気中不純物の除去装置1に設置す
ることが可能な気液接触によるガス除去部5の好適な実
施例について説明する。
Next, referring to FIGS. 2 to 5, a preferred embodiment of a gas-liquid contacting gas removing section 5 which can be installed in the apparatus 1 for removing impurities in the air constituted according to the present invention. Will be described.

【0020】図2に示す気液接触部9は、エアーシャワ
ー方式のものであり、チャンバ10内の天井部付近には
純水などの不純物吸収液をミスト状に散水するためのノ
ズル装置11が設置されるとともに、チャンバ10の底
部付近には液滴を回収し外部に排水するための排水手段
12が設置されている。また、ノズル装置11により散
水される液滴は図示しない温調手段により所望の温度、
例えば処理対象空気の露点温度に調節することが可能で
ある。さらに、この方式では、不純物吸収液のミストが
下流側に飛散するおそれがあるので、気液接触部9の下
流側に飛散ミストを回収除去するためのエリミネータ1
3等を設置することが好ましい。
The gas-liquid contact part 9 shown in FIG. 2 is of an air shower type, and a nozzle device 11 for spraying an impurity absorbing liquid such as pure water in the form of a mist is provided near a ceiling in a chamber 10. At the same time, a drainage means 12 for collecting droplets and draining them to the outside is provided near the bottom of the chamber 10. Further, the droplets sprinkled by the nozzle device 11 are heated to a desired temperature by a temperature control unit (not shown).
For example, it is possible to adjust the dew point temperature of the air to be treated. Further, in this method, since the mist of the impurity absorbing liquid may scatter to the downstream side, the eliminator 1 for collecting and removing the mist at the downstream side of the gas-liquid contact portion 9 may be used.
It is preferable to install 3 or the like.

【0021】図1に示す冷却コイル4により設定露点温
度にまで冷却され水分飽和状態にある空気流は、図2に
示す気液接触部9において純水などの液状物質と接触
し、その空気流中のガス状不純物は純水中に取り込まれ
(溶解し)液滴とともに下方に落下し、排水手段12に
より外部に除去される。その際、本発明によれば、ミス
トの温度も設定露点温度に調整されているので、気液間
で水分の移動が発生しないため、空気流の湿度を一定に
保持したたま、空気流中のガス状不純物を効果的に除去
することができる。
The air flow which is cooled to the set dew point temperature by the cooling coil 4 shown in FIG. 1 and is in a water-saturated state comes into contact with a liquid substance such as pure water in the gas-liquid contact portion 9 shown in FIG. The gaseous impurities therein are taken in (dissolved) in the pure water, fall down together with the droplets, and are removed to the outside by the drainage means 12. At that time, according to the present invention, since the temperature of the mist is also adjusted to the set dew point temperature, the movement of moisture between gas and liquid does not occur. Gaseous impurities can be effectively removed.

【0022】図3に示す気液接触部14は、多孔質ブロ
ックを用いたタイプのものであり、チャンバ15内の空
気流通路には多孔質ブロック16が設置されており、そ
の上部の給水手段17から散水される純水などの不純物
吸収液は多孔質ブロック16の表面及び内部をゆっくり
と伝って流れ、チャンバ15の底部に設置された排水手
段18により回収されて外部に排出される。また本実施
例の場合にも、給水手段17から散水される吸収液を図
示しない温調手段により所望の温度、例えば処理対象空
気流の設定露点温度に調節することが可能である。さら
に本実施例の場合には図示しない温調手段により多孔質
ブロック16自体の温度も所望の温度、例えば上記設定
露点温度に調整することが可能である。
The gas-liquid contact portion 14 shown in FIG. 3 is of a type using a porous block. A porous block 16 is provided in an air flow passage in a chamber 15 and a water supply means on the upper portion thereof. The impurity absorbing liquid such as pure water sprinkled from 17 flows slowly along the surface and inside of the porous block 16, is collected by the drainage means 18 installed at the bottom of the chamber 15, and is discharged to the outside. Also in the case of the present embodiment, the absorption liquid sprinkled from the water supply means 17 can be adjusted to a desired temperature, for example, a set dew point temperature of the air flow to be treated, by a temperature control means (not shown). Further, in the case of the present embodiment, the temperature of the porous block 16 itself can be adjusted to a desired temperature, for example, the set dew point temperature by a temperature control means (not shown).

【0023】この実施例の場合にも図1に示す冷却コイ
ル4により設定露点温度にまで冷却されて水分飽和状態
にある空気流は、多孔質ブロック16の表面および内部
において、そのブロック内を下方に向かってゆっくりと
流れていく不純物吸収液と接触し、その際に空気流中の
ガス状不純物は吸収液に取り込まれ下方に流れ、排水手
段18により回収され外部に除去される。なお不純物吸
収液の供給量は、流れていく吸収液中のガス状不純物が
飽和しない程度に設定される。
Also in this embodiment, the air flow which is cooled to the set dew point temperature by the cooling coil 4 shown in FIG. The gaseous impurities in the air stream are taken in by the absorbing liquid and flow downward, and are collected by the drainage means 18 and removed to the outside. The supply amount of the impurity absorbing liquid is set so that the gaseous impurities in the flowing absorbing liquid are not saturated.

【0024】このタイプの気液接触部14においては、
純水などの吸収液が多孔質ブロック16の表面および内
部をゆっくりと流れるため、気液接触面積が大きくな
り、高い不純物吸収効率または除去効率を得ることがで
きる。また多孔質ブロック16の表面および内部の純水
は常に入れ替わっているため、純水中への不純物ガスの
吸収または溶解が飽和に達することがないので、常に安
定したガス除去効率を得ることができる。
In this type of gas-liquid contact section 14,
Since the absorbing liquid such as pure water slowly flows on the surface and inside of the porous block 16, the gas-liquid contact area increases, and high impurity absorption efficiency or removal efficiency can be obtained. Further, since the pure water on the surface and inside of the porous block 16 is constantly replaced, the absorption or dissolution of the impurity gas in the pure water does not reach saturation, so that a stable gas removal efficiency can be always obtained. .

【0025】図4に示す気液接触部19は、平行平板を
用いたタイプのものであり、チャンバ20内の空気流通
路には、図5に示すような複数枚の平板21が空気の流
れと平行に設置されており、その上部に配置された給水
手段22から散水される純水などの不純物吸収液が平行
平板21の表面を伝ってゆっくりと流れ、チャンバ20
の底部に設置された排水手段23により回収されて外部
に排出される。また本実施例の場合にも、給水手段22
から散水される吸収液を図示しない温調手段により所望
の温度、例えば処理空気流の設定露点温度に調節するこ
とが可能である。さらに図示しない温調手段により平行
平板21自体の温度も所望の温度、例えば上記設定露点
温度に調整することが可能である。
The gas-liquid contact portion 19 shown in FIG. 4 is of a type using a parallel plate, and a plurality of flat plates 21 as shown in FIG. And an impurity absorbing liquid such as pure water sprinkled from a water supply means 22 disposed on the upper surface thereof flows slowly along the surface of the parallel flat plate 21 to form a chamber 20.
Is collected by the drainage means 23 installed at the bottom of the container and discharged to the outside. Also in the case of the present embodiment, the water supply means 22
It is possible to adjust the absorption liquid sprinkled from a desired temperature, for example, the set dew point temperature of the processing air flow, by a temperature control means (not shown). Further, the temperature of the parallel flat plate 21 itself can be adjusted to a desired temperature, for example, the above-mentioned set dew point temperature by a temperature adjusting means (not shown).

【0026】この実施例の場合には、図1に示す冷却コ
イル4により設定露点温度にまで冷却されて水分飽和状
態にある空気流は、平行平板の表面を下方に向かってゆ
っくりと流れていく不純物吸収液と接触し、その際に空
気流中のガス状不純物は吸収液に取り込まれ(溶解し)
下方に流れ、排水手段23により回収され外部に除去さ
れる。この場合にも不純物吸収液の供給量は、流れてい
く吸収液中のガス状不純物が飽和しない程度に設定され
る。その結果、本実施例の場合にも常に安定した高いガ
ス除去効率を得ることができる。
In the case of this embodiment, the air flow which is cooled to the set dew point temperature by the cooling coil 4 shown in FIG. 1 and is in a water-saturated state slowly flows down the surface of the parallel plate. It comes into contact with the impurity absorbing liquid, at which time the gaseous impurities in the air stream are taken up (dissolved) in the absorbing liquid
It flows downward and is collected by the drainage means 23 and removed to the outside. Also in this case, the supply amount of the impurity absorbing liquid is set so that the gaseous impurities in the flowing absorbing liquid are not saturated. As a result, a stable and high gas removal efficiency can always be obtained even in the case of the present embodiment.

【0027】次に、図6および図7を参照しながら本発
明に基づいて構成された空気中不純物の除去装置の他の
実施例について説明する。なおこれらの実施例におい
て、図1に説明した装置の構成要素と同じ機能を有する
構成要素については同じ参照番号を付することにより詳
細な説明は省略する。
Next, another embodiment of the apparatus for removing impurities in the air according to the present invention will be described with reference to FIGS. 6 and 7. FIG. In these embodiments, components having the same functions as the components of the apparatus described in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.

【0028】図6の実施例は、図1の外調機に不純物ガ
スのイオン化によるガス除去装置をさらに組み込んでい
る。すなわち、この実施例では、チャンバ2内に導入さ
れた空気流は、プレフィルタ3により固形粒子が除去さ
れた後、冷却コイル4で設定露点温度まで冷却され、水
分飽和状態になる。冷却コイル4の下流側には、イオン
化部30および空気流に対して平行に並列された平行平
板型電極群31が設置されており、イオン化部30にお
いて不純物ガス成分が一次イオン化または二次イオン化
された後、平行平板型電極群31においてイオン化され
た不純物が静電気力により吸着され除去される。平行平
板型電極群表面には、常時不純物吸収液が上部から下部
に流れており、不純物吸収の飽和を防止している。さら
に、この不純物吸収液の温度は、空気流の設定露点温度
と同じに調節されている。この平行平板型電極群31に
より除去しきれなかった不純物ガス成分が、下流側に設
置されているガス除去部5において上述した方法により
気液接触法により除去されるので、本実施例によれば、
非常に高いガス状不純物の除去効率を得ることが可能で
ある。また、必要とされる除去効率によっては、下流側
のガス除去部を省略することができる。
In the embodiment shown in FIG. 6, a gas removing device for ionizing impurity gas is further incorporated in the external controller shown in FIG. That is, in this embodiment, the air flow introduced into the chamber 2 is cooled to the set dew point temperature by the cooling coil 4 after the solid particles are removed by the pre-filter 3, so that the air flow is saturated. Downstream of the cooling coil 4, an ionization unit 30 and a parallel plate type electrode group 31 arranged in parallel with the air flow are provided, and the impurity gas component is primary-ionized or secondary-ionized in the ionization unit 30. Thereafter, impurities ionized in the parallel plate electrode group 31 are adsorbed and removed by electrostatic force. On the surface of the parallel plate type electrode group, the impurity absorbing liquid always flows from the upper part to the lower part, thereby preventing the saturation of the impurity absorption. Further, the temperature of the impurity absorbing liquid is adjusted to be equal to the set dew point temperature of the air flow. The impurity gas components that could not be completely removed by the parallel plate type electrode group 31 are removed by the gas-liquid contact method in the gas removing section 5 provided on the downstream side by the above-described method. ,
It is possible to obtain very high removal efficiency of gaseous impurities. Also, depending on the required removal efficiency, the gas removal unit on the downstream side can be omitted.

【0029】なお、本実施例において使用することので
きるイオン化方法としては、ガス状不純物をイオン化す
ることができるコロナ放電法、紫外線照射法、軟X線照
射法などを採用することが可能であり、用途に応じて最
適な方法を選択することができる。また使用する平行平
板型電極群31は乾式で用いる方法と、平行平板型電極
群31の上部に配置された給水手段32から平行平板型
電極の表面に純水などの液状物質を流すことにより、表
面の清浄化と不純物の回収を行い平板電極での吸着効果
を継続して維持できるようにする湿式方法があり、用途
に応じて最適な方法を選択することが可能である。特
に、イオン化時にオゾンの発生がない軟X線照射法によ
る不純物除去がより有効である。
As an ionization method that can be used in this embodiment, a corona discharge method, an ultraviolet irradiation method, a soft X-ray irradiation method, or the like that can ionize gaseous impurities can be employed. The most suitable method can be selected according to the application. Further, the parallel plate type electrode group 31 to be used is a method of using a dry method, and by flowing a liquid substance such as pure water from the water supply means 32 disposed above the parallel plate type electrode group 31 to the surface of the parallel plate type electrode, There is a wet method that cleans the surface and collects impurities so that the adsorption effect on the plate electrode can be maintained continuously, and it is possible to select an optimal method according to the application. In particular, it is more effective to remove impurities by a soft X-ray irradiation method that does not generate ozone during ionization.

【0030】図7の実施例は、図1の外調機1に微小帯
電液滴とガス状不純物との接触によるガス除去装置をさ
らに組み込んでいる。すなわち、この実施例では、チャ
ンバ2に導入された空気流は、プレフィルタ3により固
形粒子が除去された後、冷却コイル4によって設定露点
温度にまで冷却され、水分飽和状態となる。冷却コイル
4の下流側には、給水ユニット33から送られた純水な
どの液状物質を噴霧するためのスプレーノズル34およ
び空気流に対して平行に並列された平行平板型電極群3
1が設置されており、スプレーノズル34から噴霧され
た微小帯電液滴と接触し、空気流中の不純物ガス成分は
液滴に吸収(溶解)され、その後図6に示すものとほぼ
同様の構成を有する平行平板型電極群31において静電
気力により吸着され除去される。この平行平板型電極群
31により除去しきれなかった不純物ガス成分について
は、下流側に設置されているガス除去部5において上述
した方法により気液接触法により除去されるので、本実
施例によっても、非常に高いガス状不純物の除去効率を
得ることが可能であり、したがって高純度の清浄空気を
得ることができる。なお、必要とされる除去効率によっ
ては、下流側のガス除去部を省略することもできる。
The embodiment of FIG. 7 further incorporates a gas removing device in contact with the minutely charged droplets and gaseous impurities in the external controller 1 of FIG. That is, in this embodiment, the air flow introduced into the chamber 2 is cooled to the set dew point temperature by the cooling coil 4 after the solid particles are removed by the pre-filter 3, and the air flow is saturated. On the downstream side of the cooling coil 4, a spray nozzle 34 for spraying a liquid substance such as pure water sent from a water supply unit 33 and a parallel plate type electrode group 3 arranged in parallel with the air flow.
1 is provided, and comes into contact with the minutely charged droplet sprayed from the spray nozzle 34, the impurity gas component in the air stream is absorbed (dissolved) in the droplet, and then has substantially the same configuration as that shown in FIG. Is attracted and removed by electrostatic force in the parallel plate type electrode group 31 having The impurity gas component that cannot be completely removed by the parallel plate type electrode group 31 is removed by the gas-liquid contact method in the gas removing unit 5 provided on the downstream side by the above-described method. It is possible to obtain very high removal efficiency of gaseous impurities, and thus to obtain high-purity clean air. In addition, depending on the required removal efficiency, the downstream gas removal unit may be omitted.

【0031】なお、本実施例においては、処理が進展す
るにつれ、平行平板電極表面に多くの微小帯電液滴が付
着し、表面全体が濡れ、さらに付着量が多くなると重力
で下方へ平行平板電極表面上を流れ落ち、吸着した不純
物も同時に排出することができるため、図6の実施例の
ように給水手段32により外部から表面洗浄用液体を供
給せずとも、高い吸着効果を継続して維持することがで
きる。
In this embodiment, as the treatment progresses, a large number of minutely charged droplets adhere to the surface of the parallel plate electrode, and the entire surface becomes wet. Since the impurities that flow down on the surface and the adsorbed impurities can be discharged at the same time, a high adsorption effect is continuously maintained without supplying a surface cleaning liquid from the outside by the water supply means 32 as in the embodiment of FIG. be able to.

【0032】[0032]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
不純物除去手段によりガス状不純物を処理する前に、冷
却手段により対象空気を例えばクリーンルーム内循環空
気の露点温度にまで冷却除湿し水分飽和空気とすること
ができる。その結果、不純物除去手段で気体と液体とが
接触する際には、入口空気中の水分量が飽和に達してい
るので、気体と液体との間で水分の移動が行われず、し
たがって、処理空気の水分量を変化させずにガス状不純
物の除去を行うことができる。これは、外気中の水分濃
度が高い夏期の場合や除湿運転が必要な場合に特に有効
な手段となる。
As described above, according to the present invention,
Before the gaseous impurities are processed by the impurity removing means, the target air can be cooled and dehumidified by the cooling means to, for example, the dew point temperature of the circulating air in the clean room, thereby obtaining moisture saturated air. As a result, when the gas and the liquid come into contact with the impurity removing means, the amount of water in the inlet air has reached saturation, so that the movement of water between the gas and the liquid is not performed, and therefore, the processing air Gaseous impurities can be removed without changing the water content of the gas. This is a particularly effective means in summer when the moisture concentration in the outside air is high or when dehumidifying operation is required.

【0033】また処理空気に接触させる液状物質の温度
を、温調手段により、例えば処理空気の露点温度とほぼ
等しくなるように調節することにより、処理空気と液状
物質との間での水分の移動をより効果的に回避すること
ができる。
The temperature of the liquid substance brought into contact with the processing air is adjusted by temperature control means, for example, so as to be substantially equal to the dew point temperature of the processing air, so that the movement of moisture between the processing air and the liquid substance is controlled. Can be avoided more effectively.

【0034】さらにまたガス状不純物のイオン化による
除去装置、あるいは帯電性ミストとガス状不純物の接触
により除去装置を、前処理装置として設置することによ
り、より高い除去効率を継続的に得ることが可能にな
る。
Further, by installing a removing device by ionization of gaseous impurities or a removing device by contacting a chargeable mist with gaseous impurities as a pretreatment device, higher removal efficiency can be continuously obtained. become.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に基づいて構成された空気中不純物の除
去装置をクリーンルーム用の外調機に適用した実施例の
概略的な側面図である。
FIG. 1 is a schematic side view of an embodiment in which an apparatus for removing impurities in air configured according to the present invention is applied to an external air conditioner for a clean room.

【図2】図1の外調機に適用可能なノズル式ガス除去部
の概略的な側面図である。
FIG. 2 is a schematic side view of a nozzle-type gas removing unit applicable to the external controller of FIG.

【図3】図1の外調機に適用可能な多孔質ブロック式ガ
ス除去部の概略的な側面図である。
FIG. 3 is a schematic side view of a porous block type gas removing unit applicable to the external conditioner of FIG. 1;

【図4】図1の外調機に適用可能な平行平板型ガス除去
部の概略的な側面図である。
FIG. 4 is a schematic side view of a parallel plate type gas removing unit applicable to the external controller of FIG. 1;

【図5】図4のガス除去部に用いられる平行平板の配置
を示す説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing an arrangement of parallel flat plates used in the gas removing unit of FIG.

【図6】本発明に基づいてイオン化によるガス除去装置
を付加した別の実施例の概略的な側面図である。
FIG. 6 is a schematic side view of another embodiment to which a gas removing device by ionization is added according to the present invention.

【図7】本発明に基づいてスプレー式ガス除去装置を付
加したさらに別の実施例の概略的な側面図である。
FIG. 7 is a schematic side view of still another embodiment to which a spray-type gas removing device is added according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 外調機 2 チャンバ 3 プレフィルタ 4 冷却コイル 5 ガス除去部 6 送風機 7 電気ヒータ 8 高性能フィルタ REFERENCE SIGNS LIST 1 external air conditioner 2 chamber 3 pre-filter 4 cooling coil 5 gas removing unit 6 blower 7 electric heater 8 high-performance filter

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐藤 克己 神奈川県川崎市多摩区西生田3−20−9 Fターム(参考) 3L053 BD02 4D020 BA23 BB03 BB07 CB08 CB27 CB28 CB33 CC07 CC09 CC10 CC16 CD01 CD02 DB02 DB06 4D032 AA03 AB02 AB07 AC01 BA06 BB09 CA01  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on the front page (72) Inventor Katsumi Sato 3-20-9 Nishiikuta, Tama-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa F-term (reference) 3L053 BD02 4D020 BA23 BB03 BB07 CB08 CB27 CB28 CB33 CC07 CC09 CC10 CC16 CD01 CD02 DB02 DB06 4D032 AA03 AB02 AB07 AC01 BA06 BB09 CA01

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 不純物を含む対象空気流を上流より下流
に流通させることが可能なチャンバと、 上記チャンバ内に設置されており、多孔質体を備え、そ
の多孔質体に上記対象空気流に含まれる上記不純物を取
り込み可能な液状物質を連続的に流通し入れ替えること
が可能であり、上記液状物質を上記対象空気流に直交し
て接触させた後回収することができる不純物除去手段
と、 上記チャンバの底部付近に設置されており、上記不純物
を取り込んだ液状物質を回収し外部に排水するための排
水手段と、 から成ることを特徴とする、空気中不純物の除去装置。
1. A chamber capable of flowing a target air flow containing impurities downstream of an upstream, and a chamber provided in the chamber, comprising a porous body, wherein the porous body is provided with the target air flow. An impurity removing means capable of continuously flowing and exchanging a liquid substance capable of taking in the contained impurities, and capable of collecting the liquid substance after contacting the liquid substance at right angles to the target air flow, A drainage means installed near the bottom of the chamber for recovering the liquid substance containing the impurities and discharging the liquid substance to the outside;
【請求項2】 不純物を含む対象空気流を上流より下流
に流通させることが可能なチャンバと、 上記チャンバ内に設置されており、空気流通方向に対し
て略平行にかつ略垂直方向に並列配列された複数の平行
平板を備え、その平行平板の表面に上記対象空気流に含
まれる上記不純物を取り込み可能な液状物質を連続的に
流通し入れ替えることが可能であり、上記液状物質を上
記対象空気流に直交して接触させた後回収することがで
きる不純物除去手段と、 上記チャンバの底部付近に設置されており、上記不純物
を取り込んだ液状物質を回収し外部に排水するための排
水手段と、 から成ることを特徴とする、空気中不純物の除去装置。
2. A chamber capable of flowing a target air flow containing impurities downstream from an upstream, and a chamber installed in the chamber and arranged in parallel in a direction substantially parallel to and substantially perpendicular to the direction of air flow. It is possible to continuously flow and exchange a liquid substance capable of taking in the impurities contained in the target air flow on the surface of the parallel flat plate, and to exchange the liquid substance with the target air. An impurity removing means which can be recovered after being brought into contact with the flow orthogonally, and a drainage means which is installed near the bottom of the chamber and recovers and drains the liquid substance incorporating the impurities to the outside, An apparatus for removing impurities in the air, comprising:
【請求項3】 さらに、上記不純物除去手段の上流に設
置されており上記対象空気流を冷却する冷却手段を設け
たことを特徴とする、請求項1または2に記載の空気中
不純物の除去装置。
3. The apparatus for removing impurities in air according to claim 1, further comprising a cooling means provided upstream of said impurity removing means for cooling said target air flow. .
【請求項4】 さらに、上記不純物除去手段内の上記液
状物質の温度を上記液状物質が接触する上記対象空気流
の露点温度にほぼ等しい温度に調節することが可能な温
調手段を設けたことを特徴とする、請求項1、2または
3のいずれかに記載の空気中不純物の除去装置。
4. A temperature control means capable of adjusting a temperature of the liquid substance in the impurity removing means to a temperature substantially equal to a dew point temperature of the target air flow with which the liquid substance comes into contact. The apparatus for removing impurities in the air according to any one of claims 1, 2 and 3, wherein:
【請求項5】 上記対象空気流は外気であることを特徴
とする、請求項1、2、3または4のいずれかに記載の
空気中不純物の除去装置。
5. The apparatus for removing impurities in air according to claim 1, wherein the target airflow is outside air.
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