JP2002343673A - 積層セラミックコンデンサ - Google Patents

積層セラミックコンデンサ

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JP2002343673A
JP2002343673A JP2001144279A JP2001144279A JP2002343673A JP 2002343673 A JP2002343673 A JP 2002343673A JP 2001144279 A JP2001144279 A JP 2001144279A JP 2001144279 A JP2001144279 A JP 2001144279A JP 2002343673 A JP2002343673 A JP 2002343673A
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ceramic capacitor
foil
multilayer ceramic
capacitor
nickel
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JP2001144279A
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Masaki Haga
正記 芳賀
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Ishihara Chemical Co Ltd
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Ishihara Chemical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 クラック、デラミネーションを円滑に防止し
て積層セラミックコンデンサの信頼性を高める。 【解決手段】 セラミック層と内部電極とが交互に積層
された積層セラミックコンデンサにおいて、上記内部電
極が金属の圧延箔からなり、当該圧延箔が上下の各セラ
ミック層間に密着介装される積層セラミックコンデンサ
である。上記金属の圧延箔は、例えば、多段式圧延機を
用いて製造された膜厚0.1〜10μm程度のニッケル
圧延箔である。膜厚を厳格に管理された金属の圧延箔を
セラミック層間に密着介装するだけなので、導電ペース
ト方式の積層コンデンサとは異なり、内部応力に起因し
てクラックやデラミネーションが発生することを良好に
防止でき、コンデンサの信頼性を高く保持できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は積層セラミックコン
デンサに関し、クラックやデラミネーションを有効に防
止して、信頼性を向上できるうえ、生産性の高いものを
提供する。
【0002】
【発明の背景】上記積層セラミックコンデンサ(MLC
C)は、モノリシック構造であるため、液体が使用され
る電解コンデンサに比べて、液漏れ、発火などの恐れが
なく、極性がないために実装性が高く、しかも、積層数
を増やすことで小型化、大容量化が図れるなどの優れた
特徴を備えている。
【0003】一般的に、上記積層セラミックコンデンサ
は、導電粉末を有機溶剤と有機バインダと共に混練して
導電ペーストを調製し、チタン酸バリウム(BaTi
3)などの誘電体からなるグリーンシート(即ち、セラ
ミック層)の上に導電ペーストを内部電極として印刷
し、乾燥するとともに、この導電ペーストが印刷された
グリーンシートを、内部電極が交互に重なる状態で積層
して熱圧着し、チップ形状に切断した後、脱バインダー
処理と還元雰囲気における焼成処理を行って製造してい
る。ちなみに、上記導電粉末は、最近では、コストダウ
ンの見地からパラジウム、銀などの貴金属に替えて、ニ
ッケルなどの卑金属を使用している。
【0004】しかしながら、この導電ペースト方式のコ
ンデンサでは、焼成の際に内部電極とセラミック層の収
縮率や収縮挙動の違いに起因して内部応力が発生し、ク
ラックやデラミネーション(内部電極が導出した積層体
の両端部を初めとする層間剥離)が生じ易い。また、焼
成に伴う収縮率はセラミック層に比べて導電膜の方が大
きいことから、焼成の進行に伴って内部電極が島状に途
切れて、コンデンサとして機能しなくなる恐れがある。
そのうえ、コンデンサの小型化の要請により、セラミッ
ク層や内部電極の薄層化が進むほど、これらの弊害は一
層増大する。
【0005】
【従来の技術】上記弊害を解消するものとして、特開2
000−178601号公報には、ニッケルペーストの
少なくともその表面に、チタン及び/又はケイ素を0.
02〜1重量%含有させることが開示されている。特開
2000−212609号公報には、ニッケル粉末中に
100〜2000ppmのマグネシウムを含有させるこ
とが開示されている。また、特開平2000−2160
42号公報には、焼成に際して昇温部の少なくとも70
0〜1100℃の領域を500℃/時間以上の速度で昇
温することが開示されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、導電
ペースト中に特定成分を微量添加したり、焼成時の特定
温度領域の昇温速度を制御するものであるが、クラック
やデラミネーションなどの弊害は、根本的には内部電極
を導電ペーストから製造することに由来するものであ
る。
【0007】本発明は、内部電極を新規な方式で作成す
ることにより、クラック、デラミネーションを円滑に防
止して積層セラミックコンデンサの信頼性を高めるとと
もに、コンデンサの生産性を向上することを技術的課題
とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】特開平10−12555
6号公報には、無電解ニッケルメッキ皮膜を内部電極に
適用してその厚みを薄くし、積層セラミックコンデンサ
の高積層化を図ることが開示されている。また、積層セ
ラミックコンデンサとは異なる電解コンデンサの技術分
野ではあるが、特開平7−60460号公報には、アル
ミニウム−ジルコニウム合金の急冷凝固箔をアルミニウ
ムの両面に圧延クラッドして電解コンデンサの素子に用
いることが開示されている。
【0009】本発明者らは、これらの公知技術に着目し
て、導電ペースト方式とは異なる別種方式により内部電
極を作成した積層セラミックコンデンサを鋭意研究した
結果、ニッケルを初めとする金属の圧延箔が内部電極に
有効且つ円滑に適用できることを見い出して、本発明を
完成した。
【0010】即ち、本発明1は、セラミック層と内部電
極とが交互に積層された積層セラミックコンデンサにお
いて、上記内部電極が金属の圧延箔からなり、当該圧延
箔が上下の各セラミック層間に密着介装されることを特
徴とする積層セラミックコンデンサである。
【0011】本発明2は、上記本発明1において、圧延
箔の厚みが0.1〜10μmであることを特徴とする積
層セラミックコンデンサである。
【0012】本発明3は、上記本発明2において、圧延
箔が多段式圧延機で製造した箔であることを特徴とする
積層セラミックコンデンサである。
【0013】本発明4は、上記本発明1〜3のいずれか
において、金属が、ニッケル、銅、パラジウム、銀、金
及び白金の少なくとも一種であることを特徴とする積層
セラミックコンデンサである。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明は、ニッケルなどの金属圧
延箔と誘電体のグリーンシートを交互に多数積層したセ
ラミックコンデンサである。上記金属の圧延箔は各種の
圧延機を用いた公知の方式で製造され、特に限定はされ
ないが、コンデンサの内部電極用の金属箔であることか
ら、その膜厚は単位μmオーダーの周辺を基本とし、製
造時の圧延ロールの面圧、粗度などに影響されるが、こ
の程度の膜厚の市販品を入手するのは困難ではない。例
えば、各種の圧延機のうちでも、ワークロールを多段の
バックアップロールで押える多段式圧延機で1パス又は
複数パスで製造するのが好ましく、具体的には、20段
又はそれ以上の多段式センヂミア圧延機などを用いるの
が好ましい。また、大径の駆動ロールの周辺に小径のワ
ークロールを遊星状に配置したセンヂミアプラネタリ型
の圧延機も強圧下がかけられるため、本発明の圧延箔の
製造に適用可能である。従って、本発明では、冷間、熱
間圧延を問わず、さらに、可逆式の圧延機で往復圧延す
れば、生産性向上に資する。
【0015】ちなみに、一般の圧延材と同様に、ニッケ
ル材を圧延すると加工硬化を起こし易いため、硬さの低
減や内部応力の除去などに鑑みて、焼きなましを上記多
段式圧延機などを用いた圧延と組み合わせるのも有効で
ある。また、金属に不純物が混入すると結晶格子に歪み
が生じて硬度が増し、もろくなるため、薄膜状の圧延に
は、金属の純度を向上させることも有効である。
【0016】積層セラミックコンデンサの小型化の要請
から、金属の圧延箔の厚みは0.1〜10μmであり、
好ましくは0.5〜5.0μmである。圧延箔に用いる金
属は、ニッケル、銅の卑金属、パラジウム、銀、金及び
白金の貴金属が挙げられ、これらの1成分系の金属箔に
限らず、銀−パラジウムなどの2成分系又は多成分系の
合金箔を含み、耐酸化性を向上する見地からタングステ
ンなどを少量配合しても良い。本発明においては、コス
トダウンなどの見地から、ニッケル箔が好ましい。
【0017】セラミック層を構成する誘電体グリーンシ
ートは公知の方法で任意に製造される。一般には、セラ
ミック原料粉末を溶剤に溶解した有機バインダに均一分
散してセラミックスラリーを調製し、このスラリーをポ
リエステル樹脂などのベースフィルム上に薄く均一に塗
布して乾燥し、薄膜状のセラミックグリーンシートを得
るのである。誘電体セラミックとしては、チタン酸バリ
ウム、チタン酸ストロンチウムなどが挙げられる。有機
バインダとしては、エチルセルロース、アクリル樹脂、
ポリエステル樹脂、ポリビニルブチラールなどが挙げら
れる。溶剤はエタノール、アセトン、トルエン、テレピ
ネオールなどである。
【0018】本発明の積層セラミックコンデンサは、一
般的に、上記グリーンシートと前記金属圧延箔を所定の
積層数で交互に積層し、圧着し、チップ形状に切断し、
乾燥した後、脱バインダー処理をし、還元雰囲気で焼成
処理を行って製造される。例えば、積層セラミックコン
デンサにおける内部電極の厚みは1.5〜3.0μm、セ
ラミック層の厚みは2.5〜7.0μm、この内部電極と
セラミック層を交互の1セットとして積層数は50〜6
25に夫々設定することができる。この場合の積層セラ
ミックコンデンサの厚みは0.2〜2.5mm程度であ
る。
【0019】
【発明の効果】(1)導電ペースト(例えば、ニッケル微粉
末ペースト)方式の積層セラミックコンデンサに比べ
て、本発明は金属圧延箔を内部電極としてセラミック層
(グリーンシート)に密着介装することを特徴とするた
め、層厚管理が容易であるうえ、導電粉末からペースト
を調製し、導電ペーストをセラミック層に印刷する手間
が要らず、生産性が高い。
【0020】(2)従来のニッケル粉などの導電ペースト
から製造する積層セラミックコンデンサでは、焼成に際
して内部電極とセラミック層との収縮率や収縮挙動に差
異があるため、内部に応力が発生し、また、粉末が塊状
に凝固した嵩高い部位が生じ易くて、デラミネーション
やクラックが発生し、場合によっては、内部電極の途切
れが生じる恐れもある。これに対して、本発明は膜厚を
厳格に管理された金属の圧延箔をセラミック層間に密着
挟持するだけなので、内部応力が発生することはなく、
クラックやデラミネーションを良好に防止でき、また、
一体の金属箔なので電極途切れもないため、コンデンサ
の信頼性を高く保持できる。
【0021】
【実施例】以下、金属圧延箔を用いた積層セラミックコ
ンデンサの製造実施例を述べるとともに、従来の導電ペ
ースト方式のコンデンサとの比較においてクラック、或
はデラミネーションの品質不良発生試験例を説明する。
尚、本発明は下記の実施例、試験例に拘束されるもので
はなく、本発明の技術的思想の範囲内で任意の変形をな
し得ることは勿論である。
【0022】《積層セラミックコンデンサの製造実施
例》下記に示す実施例並びに比較例において、実施例1
はニッケル圧延箔を内部電極に用いた例、実施例2はパ
ラジウム圧延箔を用いた例、比較例1は従来のニッケル
微粉末ペーストを用いた例、比較例2はパラジウム微粉
末ペーストを用いた例である。 (1)実施例1 電解精錬法、或は溶媒抽出法などにより、銅、コバル
ト、鉄などの不純物をppmオーダーにまで除去した高
品位のニッケル板を20段圧延機(センヂミアZ−HIGH M
ILL;日本センヂミア社製)にかけて、ワークロールにお
いて面圧130kg/mm2程度を負荷した圧延を行
い、焼きなまし処理を行った後、さらに、同20段圧延
機により面圧160kg/mm2程度を負荷した圧延を
行い、場合によっては、さらに、焼きなましのあとで、
30段圧延機により面圧200kg/mm2程度を負荷
した圧延を行って、1.5μmのニッケル箔を得た。一
方、チタン酸バリウムの誘電体セラミックス原料粉末
を、エタノール等の溶剤に溶解したアクリル樹脂等の有
機バインダにボールミルで均一分散してセラミックスラ
リーを調製し、このセラミックスラリーをポリエチレン
テレフタレートのベースフィルム上に薄く均一に塗布し
て乾燥させ、膜厚2.5μmのセラミックグリーンシー
トを得た。次いで、積層機を用いて、上記セラミックグ
リーンシートとニッケル圧延箔を積層数200の条件で
交互に重ねて圧着し、チップ状に切断し、乾燥して、脱
バインダー処理を行った後、水素/窒素混合ガス雰囲気
中で1200℃の条件で焼成して、長さ1.6mm×幅0.8mm
×高さ0.8mmの積層セラミックコンデンサを作成した。
【0023】(2)実施例2 ニッケル板に替えて、不純物を除去した高品位のパラジ
ウム板を前記実施例1と同様の手法で多段式圧延機を用
いて加工して、1.5μmのパラジウム圧延箔を得た。
その後、実施例1と同様の手順でパラジウム圧延箔を用
いた積層セラミックコンデンサを作成した。
【0024】(3)比較例1 下記の組成の混合物を加熱し、撹拌した後、3本ロール
ミルで混練して、均一分散状の導電ペーストを調製し
た。 ニッケル超微粉末 120重量部 エチルセルロース 4.7重量部 テレピネオール 74.3重量部 ポリステアリルエーテル 1重量部 尚、上記エチルセルロースは有機バインダ、テレピネオ
ールは溶剤、ポリステアリルエーテルは湿潤剤である。
上記導電ペーストを前記実施例1で述べたグリーンシー
ト上に、内部電極パターンの厚みが焼成後に1.5μm
になるように、印刷した。次いで、この電極パターン印
刷済みのグリーンシートを200層積み重ねて、ニッケ
ル微粉末ペースト方式の積層セラミックコンデンサを作
成した。
【0025】(4)比較例2 上記ニッケル超微粉末をパラジウム超微粉末に代替し
て、上記比較例1と同様の手順で、パラジウム微粉末ペ
ースト方式の積層セラミックコンデンサを作成した。
【0026】《クラック及びデラミネーションの発生試
験例》上記実施例1〜2並びに比較例1〜2で得られた
各コンデンサ100個について、SEM(S−2460
N;日立製作所社製)を用いて微視観察し、クラック及
びデラミネーションの少なくともいずれかが発生した個
数を計測して、不良発生個数を全個数100で除して発
生率(%)を算出し、積層セラミックコンデンサの信頼性
を夫々評価した。
【0027】下表はその試験結果を示す。 クラック・デラミネーションの発生率 実施例1 0% 実施例2 0% 比較例1 5% 比較例2 7% 上表を見ると、ニッケルペースト方式、或はパラジウム
ペースト方式の積層セラミックコンデンサである比較例
1〜2では、クラック及び/又はデラミネーションの発
生率が5〜7%であり、信頼性並びに生産性の点で問題
水準の不良率を示したのに対して、ニッケル又はパラジ
ウムの圧延箔を使用した実施例1〜2では、発生率が0
%であり、クラック及びデラミネーションを有効に防止
できた。これにより、金属の圧延箔を内部電極に用いた
積層セラミックコンデンサは、従来の導電ペースト方式
の積層セラミックコンデンサに比べて、クラック並びに
デラミネーションを確実に排除して高い信頼性が得られ
る点で、明らかな優位性のあることが確認できた。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 セラミック層と内部電極とが交互に積層
    された積層セラミックコンデンサにおいて、 上記内部電極が金属の圧延箔からなり、当該圧延箔が上
    下の各セラミック層間に密着介装されることを特徴とす
    る積層セラミックコンデンサ。
  2. 【請求項2】 圧延箔の厚みが0.1〜10μmである
    ことを特徴とする請求項1に記載の積層セラミックコン
    デンサ。
  3. 【請求項3】 圧延箔が多段式圧延機で製造した箔であ
    ることを特徴とする請求項2に記載の積層セラミックコ
    ンデンサ。
  4. 【請求項4】 金属が、ニッケル、銅、パラジウム、
    銀、金及び白金の少なくとも一種であることを特徴とす
    る請求項1〜3のいずれか1項に記載の積層セラミック
    コンデンサ。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006054320A (ja) * 2004-08-11 2006-02-23 Nikko Metal Manufacturing Co Ltd プリント配線基板用金属材料

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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