JP2002328628A - Display driving device, display device and inspecting method of display device - Google Patents

Display driving device, display device and inspecting method of display device

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JP2002328628A
JP2002328628A JP2001135432A JP2001135432A JP2002328628A JP 2002328628 A JP2002328628 A JP 2002328628A JP 2001135432 A JP2001135432 A JP 2001135432A JP 2001135432 A JP2001135432 A JP 2001135432A JP 2002328628 A JP2002328628 A JP 2002328628A
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electrode
display
liquid crystal
resistor
power supply
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JP2001135432A
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Hideaki Yabuuchi
英明 薮内
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Sharp Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a display driving device, a display device and an inspection method of the display device in which defects in electrical connections of the display driving device and electrodes formed on a transparent substrate can be easily inspected. SOLUTION: A liquid crystal driving semiconductor chip 15 is provided with resistors 16a and 16b which are not connected to a display driving circuit and resistor electrodes 20a, 20b, 22a and 22b which are respectively connected to both ends of the resistors 16a and 16b. During a mounting connection, the both ends of the resistors 16a and 16b are connected to power supply wiring 12a and 12b having different potentials through electrodes 9a, 9b, 10a and 10b on a transparent substrate 3.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示パネル、
EL(エレクトロルミネッセンス)表示パネル、エレク
トロクロミック表示パネル等の表示パネルと、表示用駆
動装置との電気的接続不良を容易に検出できる表示用駆
動装置、表示装置および表示装置の検査方法に関するも
のである。
The present invention relates to a liquid crystal display panel,
The present invention relates to a display driving device, a display device, and a method of inspecting a display device that can easily detect a poor electrical connection between a display panel such as an EL (electroluminescence) display panel and an electrochromic display panel, and a display driving device. .

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、液晶表示装置の製造工程にお
いて、液晶表示パネルを構成する一方の透明ガラス基板
に形成された電極上に液晶駆動用半導体チップ(表示用
駆動装置)を実装した後で、液晶駆動用半導体チップが
電極上に正常に接続されているか否かを調べる検査が行
われている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a manufacturing process of a liquid crystal display device, after a semiconductor chip for driving a liquid crystal (display driving device) is mounted on an electrode formed on one transparent glass substrate constituting a liquid crystal display panel. Inspection has been conducted to check whether or not the liquid crystal driving semiconductor chip is properly connected to the electrodes.

【0003】従来の液晶駆動用半導体チップの実装方法
においては、液晶駆動用半導体チップを透明ガラス面に
異方導電膜(以下、ACF(Anistropic Conductive Fi
lm)と示す)を介して実装する方法として熱圧着装置が
用いられている。
In a conventional method for mounting a semiconductor chip for driving a liquid crystal, a semiconductor chip for driving a liquid crystal is mounted on a transparent glass surface by using an anisotropic conductive film (hereinafter referred to as ACF (Anistropic Conductive Fibre)).
lm)), a thermocompression bonding apparatus is used as a mounting method.

【0004】この熱圧着装置は、図12に示すように、
軸133と接続された熱圧着ヘッド132およびパネル
受台130は、共に平行度調整部(図示せず)の駆動制
御に基づいて、熱圧着ヘッド132の液晶駆動用半導体
チップ115と当接する面(以下、加圧面と示す)13
2aがパネル受台130の液晶表示装置131との当接
面に対して、常に平行関係を保つように調整されてい
る。
[0004] This thermocompression bonding apparatus, as shown in FIG.
The thermocompression head 132 and the panel support 130 connected to the shaft 133 are both in contact with the liquid crystal driving semiconductor chip 115 of the thermocompression head 132 based on the drive control of the parallelism adjustment unit (not shown) ( Hereinafter, it is referred to as a pressing surface.
2a is adjusted so as to always maintain a parallel relationship with the contact surface of the panel support 130 with the liquid crystal display device 131.

【0005】しかし、実装する全ての液晶駆動用半導体
チップ115が完全な平行をもって実装されることはな
く、ある傾きθをもって実装されるため、透明ガラス基
板の電極上に液晶駆動用半導体チップ115を実装した
後で、液晶駆動用半導体チップ115が正常に接続され
たか否かを調べる検査が行われている。
However, not all of the liquid crystal driving semiconductor chips 115 to be mounted are mounted in a completely parallel manner, and are mounted with a certain inclination θ, so that the liquid crystal driving semiconductor chips 115 are mounted on the electrodes of the transparent glass substrate. After mounting, an inspection is performed to check whether or not the liquid crystal driving semiconductor chip 115 is connected normally.

【0006】このような透明ガラス基板上の電極と液晶
駆動用半導体チップとの電気的接続状態を容易に確認す
ることができる液晶表示装置が、特開平6−82802
号公報に開示されている。
Japanese Patent Laid-Open No. 6-82802 discloses a liquid crystal display device capable of easily confirming the electrical connection between an electrode on a transparent glass substrate and a semiconductor chip for driving a liquid crystal.
No. 6,086,045.

【0007】上記公報の液晶表示装置は、透明ガラス基
板の電極と液晶駆動用半導体チップとの電気的接続状態
を検査するために、図13に示すように、液晶駆動用半
導体チップ104が透明ガラス基板103上に実装され
ると、互いに接続される複数の接続抵抗測定用パターン
101・102を透明ガラス基板103上にそれぞれ設
けている。
In the liquid crystal display device disclosed in the above publication, as shown in FIG. 13, the liquid crystal driving semiconductor chip 104 is made of a transparent glass to inspect the electrical connection between the electrodes of the transparent glass substrate and the liquid crystal driving semiconductor chip. When mounted on the substrate 103, a plurality of connection resistance measurement patterns 101 and 102 connected to each other are provided on the transparent glass substrate 103.

【0008】液晶駆動用半導体チップ104の実装直後
に、上記接続抵抗測定用パターン101・102の接続
抵抗を測定し、その測定結果としての接続抵抗の大小に
より、液晶駆動用半導体チップ104の電極109と、
透明ガラス基板103の電極107b・108aとの電
気的接続状態を判断することができる。
Immediately after mounting the liquid crystal driving semiconductor chip 104, the connection resistance of the connection resistance measuring patterns 101 and 102 is measured, and based on the magnitude of the connection resistance as a result of the measurement, the electrodes 109 of the liquid crystal driving semiconductor chip 104 are measured. When,
The state of electrical connection between the transparent glass substrate 103 and the electrodes 107b and 108a can be determined.

【0009】例えば、測定結果が所定の接続抵抗値より
も高い場合には、液晶駆動用半導体チップ104と透明
ガラス基板103上の電極107b・108aとの接続
が正常でないと判断され、接続不良と判断された液晶駆
動用半導体チップ104が取り除かれて、新たな液晶駆
動用半導体チップが再実装される。
For example, when the measurement result is higher than a predetermined connection resistance value, it is determined that the connection between the liquid crystal driving semiconductor chip 104 and the electrodes 107b and 108a on the transparent glass substrate 103 is not normal, and a connection failure is determined. The determined liquid crystal driving semiconductor chip 104 is removed, and a new liquid crystal driving semiconductor chip is mounted again.

【0010】このようにして、液晶駆動用半導体チップ
104と電極107b・108aとの電気的接続状態を
1個ずつ確認することで、全ての液晶駆動用半導体チッ
プ104が正常に接続された接続信頼性の高い液晶表示
装置を提供できる。
In this manner, by confirming the electrical connection state between the liquid crystal driving semiconductor chip 104 and the electrodes 107b and 108a one by one, the connection reliability in which all the liquid crystal driving semiconductor chips 104 are normally connected is confirmed. A liquid crystal display device with high performance can be provided.

【0011】また、上記以外に液晶駆動用半導体チップ
と透明ガラス基板に設けられた電極との電気的接続状態
を確認する方法としては、表示画面が映る状態になるま
で液晶表示装置を組み立てておいて、表示画面の表示状
態から、液晶駆動用半導体チップと透明ガラス基板に設
けられた電極との電気的接続状態に問題がないかどうか
を確認する方法もある。
In addition to the above, as another method for confirming the electrical connection state between the liquid crystal driving semiconductor chip and the electrode provided on the transparent glass substrate, a liquid crystal display device is assembled until a display screen is displayed. There is also a method of confirming from the display state of the display screen whether there is any problem in the electrical connection state between the liquid crystal driving semiconductor chip and the electrode provided on the transparent glass substrate.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ような従来の液晶表示装置では、以下に示すような問題
を有している。
However, the above-mentioned conventional liquid crystal display device has the following problems.

【0013】すなわち、液晶駆動用半導体チップを実装
後、液晶駆動用半導体チップの電極と透明ガラス基板の
電極との電気的接続状態を検査する方法では、透明ガラ
ス上に、液晶駆動用半導体チップの電極と透明ガラス基
板の電極との接続抵抗を測定するための検査用パットを
設ける必要がある。
That is, in the method of inspecting the electrical connection between the electrodes of the liquid crystal driving semiconductor chip and the electrodes of the transparent glass substrate after mounting the liquid crystal driving semiconductor chip, the liquid crystal driving semiconductor chip is placed on the transparent glass. It is necessary to provide an inspection pad for measuring the connection resistance between the electrode and the electrode of the transparent glass substrate.

【0014】これにより、透明ガラス基板上にパターン
を形成するための余分なスペースが必要となるため、透
明ガラス基板の面積が大きくなってしまう。つまり、液
晶表示装置の表示部側の表面積のうち、表示部以外の額
縁部分の占める割合が大きくなってしまう。このため、
液晶表示装置を使った商品に対してデザイン上の制約を
与えてしまうという問題がある。
[0014] This requires an extra space for forming a pattern on the transparent glass substrate, which increases the area of the transparent glass substrate. That is, the proportion of the frame portion other than the display portion in the surface area on the display portion side of the liquid crystal display device increases. For this reason,
There is a problem that the design using the liquid crystal display device is restricted.

【0015】また、電気的接続を検査をするためには、
検査用の治具が必要となることに加えて、電気的接続状
態が不完全な液晶駆動用半導体チップの割合が少ない場
合であっても、全ての液晶駆動用半導体チップについて
検査する必要があるため、検査に要する時間が非常に大
きくなってしまう。このため、液晶表示装置の生産効率
が低下し、コストアップの要因となる。
In order to inspect the electrical connection,
In addition to the necessity of an inspection jig, it is necessary to inspect all the liquid crystal driving semiconductor chips even when the proportion of the liquid crystal driving semiconductor chips with incomplete electrical connection is small. Therefore, the time required for the inspection becomes very long. For this reason, the production efficiency of the liquid crystal display device is reduced, which causes a cost increase.

【0016】一方、表示画面の表示状態により、液晶駆
動用半導体チップと透明ガラス基板に設けられた電極と
の接続状態を判断する方法では、以下のような問題を有
している。
On the other hand, the method for determining the connection state between the liquid crystal driving semiconductor chip and the electrode provided on the transparent glass substrate based on the display state of the display screen has the following problems.

【0017】すなわち、接続状態検査において、流れる
電流が小さい場合には、電圧低下が少ないため、表示画
面から接続抵抗が高くなっていることを判定することが
困難になる。
That is, in the connection state inspection, when the flowing current is small, since the voltage drop is small, it is difficult to determine from the display screen that the connection resistance is high.

【0018】よって、そのまま液晶表示装置が出荷され
て長期間使用された場合には、徐々に接続抵抗が大きく
なり、最終的には接続が不完全となって表示画面に異常
がでてしまい、製品信頼性の面で問題が発生する可能性
が高い。
Therefore, when the liquid crystal display device is shipped as it is and used for a long period of time, the connection resistance gradually increases, and finally the connection is incomplete and the display screen becomes abnormal. There is a high possibility that problems will occur in terms of product reliability.

【0019】また、表示用駆動装置の制御用電極が、電
源電極よりも外周側に配置されている場合には、図12
に示すように、液晶駆動用半導体チップ115を透明ガ
ラス基板面にACFを介して、熱圧着装置で実装すると
き、熱圧着ヘッド132の加圧面132aの液晶表示装
置131の表面に対する平行度が微小なレベルで失われ
る。さらに、表示用駆動装置の辺Bに、他辺Dよりも圧
力が加わらない状態の場合には、液晶駆動用半導体チッ
プ115のバンプ134にかかる圧力は、151a>1
52a>151b>151c>151d>152b>1
51eとなる。
When the control electrode of the display driving device is arranged on the outer periphery side of the power supply electrode, the control electrode shown in FIG.
As shown in the figure, when the liquid crystal driving semiconductor chip 115 is mounted on the transparent glass substrate surface via an ACF by a thermocompression bonding device, the degree of parallelism of the pressing surface 132a of the thermocompression bonding head 132 to the surface of the liquid crystal display device 131 is very small. Lost at different levels. Further, when the pressure is not applied to the side B of the display driving device more than the other side D, the pressure applied to the bump 134 of the liquid crystal driving semiconductor chip 115 is 151a> 1.
52a>151b>151c>151d>152b> 1
51e.

【0020】最も圧力の小さいバンプ151eが液晶駆
動用半導体チップ115の制御用端子である場合には、
電源端子と比べて入出力インピーダンスが大きく、バン
プ151eと透明基板上の電極との接続抵抗が生じたと
しても、元々流れる電流が少ないため、その箇所の電圧
降下は少ない。よって、接続後の初期に電気的に問題な
く正常に動作する場合があり、その後液晶表示装置とし
て長時間使用した場合に、その箇所の接続抵抗が徐々に
大きくなり、表示に不具合が生じるという問題がある。
When the bump 151e having the lowest pressure is the control terminal of the semiconductor chip 115 for driving the liquid crystal,
The input / output impedance is larger than that of the power supply terminal, and even if a connection resistance between the bump 151e and the electrode on the transparent substrate is generated, the current that originally flows is small, so that the voltage drop at that location is small. Therefore, the device may operate normally without any electrical problems in the initial stage after connection, and when used for a long time as a liquid crystal display device, the connection resistance at that location gradually increases, causing a problem in display. There is.

【0021】この様な問題は、EL表示装置、エレクト
ロクロミック表示装置等の他の表示装置の場合にも発生
する。
Such a problem also occurs in other display devices such as an EL display device and an electrochromic display device.

【0022】本発明は、上記の問題点に鑑みてなされた
ものであり、その目的は、表示装置にデザイン上の制約
を与えたり、コストアップすることなく、表示用駆動装
置と透明ガラス基板に形成された電極との電気的接続状
態の良否を容易に検出できる表示用駆動装置、表示装置
および表示装置の検査方法を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide a display driving device and a transparent glass substrate without restricting the design of the display device or increasing the cost. It is an object of the present invention to provide a display driving device, a display device, and a method for inspecting a display device, which can easily detect the quality of the electrical connection with the formed electrodes.

【0023】[0023]

【課題を解決するための手段】本発明の表示用駆動装置
は、上記の課題を解決するために、実装接続用の第1の
電極を備え、表示装置の基板上に実装接続されると、上
記第1の電極は、上記基板上に形成された第2の電極を
介して電源配線に接続され、電源を供給される表示用駆
動装置において、表示用駆動回路とは未接続の抵抗と、
該抵抗の両端にそれぞれ接続された抵抗電極とを備えて
おり、実装接続時には、上記抵抗電極に対応する位置に
設けられた第2の電極を介して、上記抵抗の両端がそれ
ぞれ異なる電位を有する電源配線に接続されることを特
徴としている。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a display driving device including a first electrode for mounting connection, wherein the first electrode is mounted and connected on a substrate of the display device. The first electrode is connected to a power supply wiring via a second electrode formed on the substrate, and in a display driving device to which power is supplied, a resistance not connected to the display driving circuit;
A resistor electrode connected to both ends of the resistor, and at the time of mounting connection, both ends of the resistor have different potentials via a second electrode provided at a position corresponding to the resistor electrode. It is characterized by being connected to a power supply wiring.

【0024】上記の構成によれば、表示用駆動装置に備
えられた抵抗が接続された電源配線に流れる電流を測定
することで、表示用駆動装置に形成された第1の電極と
基板に形成された第2の電極とが接続不良であるか否か
を容易に判定できる。これにより、接続不良であった場
合には、接続不良の表示用駆動装置を取り除いて、再度
表示用駆動装置を実装することにより、接続信頼性の高
い表示用駆動装置を得ることができる。
According to the above configuration, by measuring the current flowing through the power supply wiring to which the resistor provided in the display driving device is connected, the first electrode formed on the display driving device and the substrate are formed. It can be easily determined whether or not the connection with the second electrode made is defective. Thus, when the connection is defective, the display drive having the poor connection is removed, and the display drive is mounted again, whereby a display drive with high connection reliability can be obtained.

【0025】すなわち、表示用駆動装置に形成された第
1の電極と表示装置の基板に形成された第2の電極とが
接続不良である場合には、接続不良部分の抵抗によって
全体の抵抗値が大きくなる。また、表示用駆動装置に設
けた抵抗値は、所定の値で設けられている既知の値であ
るため、第1の電極と第2の電極との接続が正常な場合
に電源配線を流れる電流を規定値とできる。よって、接
続不良が有る場合には、電源配線に流れる電流値が、接
続不良が無い場合の電流値よりも小さくなるため、電流
値を規定値と比較するだけで接続不良であるか否かが判
定できる。
That is, when the first electrode formed on the display driving device and the second electrode formed on the substrate of the display device have a poor connection, the overall resistance value is determined by the resistance of the poor connection portion. Becomes larger. Further, since the resistance value provided in the display driving device is a known value provided as a predetermined value, the current flowing through the power supply wiring when the connection between the first electrode and the second electrode is normal. Can be the specified value. Therefore, when there is a connection failure, the current value flowing through the power supply wiring is smaller than the current value when there is no connection failure, and it is only necessary to compare the current value with the specified value to determine whether the connection is defective. Can be determined.

【0026】表示用駆動装置内の表示用駆動回路では、
電源電圧が変動することによって、電源に対する入力イ
ンピーダンスが変化する。例えば、表示パネルのデータ
信号配線であるソース信号配線を駆動するソースドライ
バの場合、ソースドライバの特性上、入力電源電圧が下
がったとしても、入力される映像信号に対し、同じ電圧
レベルになるまで出力の負荷に電流を流そうとするた
め、負荷に流れる電流値は入力電圧が多少変動しても、
ほとんど変化しない。上記のように、本発明の表示用駆
動装置に備えられた表示用駆動回路では、通常の抵抗の
みで構成されていないため、入力電源電圧が変動して
も、内部のトランジスタ特性が変化したり、負荷に一定
の電流を流そうとしたりして、電源に対する入力インピ
ーダンスが一定にならない場合がある。そこで、接続抵
抗による影響がそのまま電流値に現れる抵抗に流れる電
流の和を測定することで、確実に接触不良による抵抗値
を検出できる。
In the display driving circuit in the display driving device,
When the power supply voltage fluctuates, the input impedance to the power supply changes. For example, in the case of a source driver that drives a source signal line which is a data signal line of a display panel, even if the input power supply voltage is reduced due to the characteristics of the source driver, the same voltage level is maintained with respect to the input video signal. Since the current is going to flow to the output load, the value of the current flowing to the load is
Hardly change. As described above, since the display driving circuit provided in the display driving device of the present invention does not include only a normal resistor, even if the input power supply voltage changes, the internal transistor characteristics may change. In some cases, the input impedance to the power supply may not be constant due to an attempt to supply a constant current to the load. Therefore, by measuring the sum of the currents flowing through the resistors, which are directly affected by the connection resistance in the current value, it is possible to reliably detect the resistance value due to poor contact.

【0027】また、接続抵抗検査を行うのに、接続不良
検査用の配線パターンを基板上に形成する必要がないの
で、基板の額縁部分の面積が拡大されることはない。よ
って、例えば、液晶テレビ等の商品に本発明に係る表示
装置を適用した場合でも、その商品にデザイン上の制約
を与えることを回避できる。
Further, since it is not necessary to form a connection failure inspection wiring pattern on the substrate to perform the connection resistance inspection, the area of the frame portion of the substrate does not increase. Therefore, for example, even when the display device according to the present invention is applied to a product such as a liquid crystal television, it is possible to avoid giving a design constraint to the product.

【0028】さらに、上記の構成によれば、表示用駆動
装置の内部に抵抗が設けられており、基板上に形成され
ている電源配線に流れる電流値の変化から、表示用駆動
装置の接続不良を判定しているため、電流検査工程にお
いて、同時に接続不良の検査を行うことができる。よっ
て、従来の接続不良だけを調べる検査工程を省略でき、
製造効率を向上させることができるとともに、製品のコ
ストダウンが可能になる。
Further, according to the above configuration, the resistor is provided inside the display driving device, and a change in the value of the current flowing through the power supply wiring formed on the substrate causes the connection failure of the display driving device. Is determined, the connection failure can be inspected at the same time in the current inspection step. Therefore, it is possible to omit the conventional inspection process for examining only the connection failure,
The manufacturing efficiency can be improved, and the cost of the product can be reduced.

【0029】なお、上記電源配線は、グランド(0V)
に接続された電源配線を含んでいる。
The power supply wiring is connected to ground (0 V).
Power supply wiring connected to the power supply.

【0030】本発明の表示用駆動装置は、上記の課題を
解決するために、実装接続用の第1の電極を備え、表示
装置の基板上に実装接続されると、上記第1の電極は、
上記基板上に形成された第2の電極を介して電源配線に
接続され、電源を供給される表示用駆動装置において、
表示用駆動回路と一端のみが電気的に接続されている抵
抗と、該抵抗の他端に接続された抵抗電極を備えてお
り、実装接続時には、上記抵抗の他端が接続された抵抗
電極は、上記第2の電極を介して、上記抵抗の一端が接
続されている表示用駆動回路の電源配線とは異なる電位
を有する電源配線に接続されることを特徴としている。
In order to solve the above-mentioned problems, the display driving device of the present invention includes a first electrode for mounting connection, and when mounted on a substrate of the display device, the first electrode is connected to the first electrode. ,
In a display driving device which is connected to power supply wiring via a second electrode formed on the substrate and is supplied with power,
The display drive circuit includes a resistor having only one end electrically connected to the display drive circuit, and a resistor electrode connected to the other end of the resistor. And a power supply line having a potential different from a power supply line of a display drive circuit to which one end of the resistor is connected via the second electrode.

【0031】上記の構成によれば、表示用駆動装置に備
えられた抵抗が接続された電源配線に流れる電流を測定
することで、表示用駆動装置に形成された第1の電極と
基板に形成された第2の電極とが接続不良であるか否か
を容易に判定できる。これにより、接続不良であった場
合には、接続不良の表示用駆動装置を取り除いて、再度
表示用駆動装置を実装することにより、接続信頼性の高
い表示用駆動装置を得ることができる。
According to the above arrangement, by measuring the current flowing through the power supply wiring connected to the resistor provided in the display driving device, the first electrode formed on the display driving device and the substrate are measured. It can be easily determined whether or not the connection with the second electrode made is defective. Thus, when the connection is defective, the display drive having the poor connection is removed, and the display drive is mounted again, whereby a display drive with high connection reliability can be obtained.

【0032】すなわち、表示用駆動装置に形成された第
1の電極と表示装置の基板に形成された第2の電極とが
接続不良である場合には、接続不良部分の抵抗によって
全体の抵抗値が大きくなる。また、表示用駆動装置に設
けた抵抗値は、所定の値で設けられている既知の値であ
るため、第1の電極と第2の電極との接続が正常な場合
に電源配線を流れる電流を規定値とできる。よって、接
続不良が有る場合には、電源配線に流れる電流値が、接
続不良が無い場合の電流値よりも小さくなるため、電流
値を規定値と比較するだけで接続不良であるか否かが判
定できる。
That is, when the first electrode formed on the display driving device and the second electrode formed on the substrate of the display device have a poor connection, the overall resistance value is determined by the resistance of the poor connection portion. Becomes larger. Further, since the resistance value provided in the display driving device is a known value provided as a predetermined value, the current flowing through the power supply wiring when the connection between the first electrode and the second electrode is normal. Can be the specified value. Therefore, when there is a connection failure, the current value flowing through the power supply wiring is smaller than the current value when there is no connection failure, and it is only necessary to compare the current value with the specified value to determine whether the connection is defective. Can be determined.

【0033】また、本発明は、表示用駆動装置におい
て、上記抵抗の一端が表示用駆動回路の電源配線に接続
されており、他端が接続された抵抗電極が電気的に開放
状態であるため、表示用駆動装置の幅が狭い場合の接続
不良検査に有効である。例えば、抵抗の他端が接続され
た一方の抵抗電極側の接続不良検査だけでよい場合や、
表示用駆動装置に形成された抵抗の一端の抵抗電極を形
成できない場合、さらには基板に形成される配線パター
ンを表示用駆動装置の両端まで形成できない場合であっ
ても、表示用駆動装置の第1の電極と基板上の第2の電
極との接続不良を検出できる。
Further, according to the present invention, in the display driving device, one end of the resistor is connected to the power supply wiring of the display driving circuit, and the other end of the resistance electrode is electrically open. This is effective for a connection failure inspection when the width of the display driving device is small. For example, when only the connection failure inspection on one of the resistance electrodes to which the other end of the resistance is connected is sufficient,
Even if the resistance electrode at one end of the resistor formed on the display driving device cannot be formed, and furthermore, even if the wiring pattern formed on the substrate cannot be formed up to both ends of the display driving device, the first driving device of the display driving device can be formed. A connection failure between the first electrode and the second electrode on the substrate can be detected.

【0034】なお、上記電源配線は、グランド(0V)
に接続された電源配線を含んでいる。
The power supply wiring is grounded (0 V).
Power supply wiring connected to the power supply.

【0035】また、上記抵抗電極は、第1の電極が配置
されているラインよりも外周側に配置されていることが
より好ましい。
Further, it is more preferable that the resistance electrode is arranged on the outer peripheral side of the line on which the first electrode is arranged.

【0036】これにより、熱圧着ヘッド等の実装装置を
用いて表示用駆動装置を表示装置に実装する場合に、熱
圧着ヘッド等の微小な傾きにより表示用駆動装置の各電
極に均一な正規の圧力が加わらなかった場合に、長期使
用することで生じる表示用駆動装置の第1の電極と表示
装置の基板上の第2の電極との接続不良をより確実に検
出することができ、コスト的にも有利で信頼性の高い表
示用駆動装置を得ることができる。
Accordingly, when the display driving device is mounted on the display device by using a mounting device such as a thermocompression bonding head, a uniform regular electrode is uniformly applied to each electrode of the display driving device due to the slight inclination of the thermocompression head or the like. When no pressure is applied, a poor connection between the first electrode of the display driving device and the second electrode on the substrate of the display device caused by long-term use can be more reliably detected, and the cost can be reduced. Therefore, it is possible to obtain a display driving device which is advantageous and highly reliable.

【0037】すなわち、上記表示用駆動装置は、基板の
表面に対して微小な傾きをもって斜めに実装接続される
と、表示用駆動装置に形成された各電極の中で上記抵抗
電極が最初と最後のタイミングで圧力が付与されるよう
に、抵抗電極が形成されている。これにより、表示用駆
動装置が微小に傾いて基板上に実装接続された場合に
は、最外周側に設けられた抵抗電極は最も圧力が高い位
置および低い位置に設けられているため、圧力の低い側
の抵抗電極は最も接続不良になりやすい。つまり、抵抗
電極が接続不良であれば、表示用駆動装置が斜めに実装
されていることを認識できる。
That is, when the display drive device is mounted and connected obliquely with a slight inclination to the surface of the substrate, the resistive electrodes are first and last among the electrodes formed on the display drive device. The resistance electrode is formed so that the pressure is applied at the timing of (1). Accordingly, when the display driving device is mounted and connected on the substrate with a slight inclination, the resistance electrodes provided on the outermost peripheral side are provided at the highest and lowest pressure positions. The lower resistance electrode is most likely to cause connection failure. That is, if the resistance electrode is poorly connected, it can be recognized that the display driving device is mounted obliquely.

【0038】一方、抵抗電極が、他の電極の形成されて
いるライン上に形成されている、つまり、傾いて実装接
続されたときに抵抗電極と他の電極とに同じタイミング
で圧力が付与される場合には、抵抗電極と他の電極とが
同時に接続不良になるため、斜めに実装接続されてお
り、表示装置を継続使用している際に徐々に接続不良に
なってしまうという予備的な接続不良の発見はできな
い。
On the other hand, the resistive electrode is formed on the line on which the other electrode is formed, that is, when the resistive electrode and the other electrode are inclined and mounted and connected, pressure is applied to the resistive electrode and the other electrode at the same timing. In this case, the connection between the resistance electrode and the other electrode becomes defective at the same time, so that the connection is obliquely mounted and connected, and the connection gradually becomes poor during continuous use of the display device. Connection failure cannot be found.

【0039】そこで、本発明の表示用駆動装置によれ
ば、表示装置の製品化後の継続使用中に接続不良箇所が
生じる予備的な接続不良箇所の発見ができるため、さら
に確実に接続不良によるクレームの発生を削減できる。
Therefore, according to the display driving device of the present invention, it is possible to find a preliminary connection failure point where a connection failure point occurs during continuous use of the display device after commercialization. Claims can be reduced.

【0040】本発明の表示装置は、上記の課題を解決す
るために、実装接続用の第1の電極を備えた表示用駆動
装置と、異なる電位を有する複数の電源配線に接続さ
れ、上記表示用駆動装置の実装接続時に上記第1の電極
と接続される第2の電極が形成された基板とを備えた表
示装置において、上記表示用駆動装置は、表示用駆動回
路と未接続の抵抗と、該抵抗の両端にそれぞれ接続され
た抵抗電極とを備えており、実装接続時には、上記抵抗
電極に対応する位置に設けられた第2の電極を介して、
上記抵抗の両端がそれぞれ異なる電位を有する上記電源
配線に接続されることを特徴としている。
In order to solve the above-described problems, the display device of the present invention is connected to a display driving device having a first electrode for mounting connection and a plurality of power supply wires having different potentials. A display device comprising a substrate on which a second electrode connected to the first electrode is formed when the display drive device is mounted and connected, wherein the display drive device includes a display drive circuit, an unconnected resistor, A resistor electrode connected to both ends of the resistor, and at the time of mounting connection, via a second electrode provided at a position corresponding to the resistor electrode,
The invention is characterized in that both ends of the resistor are connected to the power supply wiring having different potentials.

【0041】上記の構成によれば、表示用駆動装置に備
えられた抵抗が接続された電源配線に流れる電流を測定
することで、表示用駆動装置に形成された第1の電極と
基板に形成された第2の電極とが接続不良であるか否か
を容易に判定できる。これにより、接続不良であった場
合には、接続不良の表示用駆動装置を取り除いて、再度
表示用駆動装置を実装することにより、接続信頼性の高
い表示装置を得ることができる。
According to the above arrangement, by measuring the current flowing through the power supply wiring connected to the resistor provided in the display driving device, the first electrode formed on the display driving device and the substrate are formed. It can be easily determined whether or not the connection with the second electrode made is defective. Thus, when the connection is defective, the display driving device having the defective connection is removed, and the display driving device is mounted again, whereby a display device with high connection reliability can be obtained.

【0042】すなわち、表示用駆動装置に形成された第
1の電極と表示装置の基板に形成された第2の電極とが
接続不良である場合には、接続不良部分の抵抗によって
全体の抵抗値が大きくなる。また、表示用駆動装置に設
けた抵抗値は、所定の値で設けられている既知の値であ
るため、第1の電極と第2の電極との接続が正常な場合
に電源配線を流れる電流を規定値とできる。よって、接
続不良が有る場合には、電源配線に流れる電流値が、接
続不良が無い場合の電流値よりも小さくなるため、電流
値を規定値と比較するだけで接続不良であるか否かが判
定できる。
That is, when the first electrode formed on the display driving device and the second electrode formed on the substrate of the display device have a poor connection, the overall resistance value is determined by the resistance of the poor connection portion. Becomes larger. Further, since the resistance value provided in the display driving device is a known value provided as a predetermined value, the current flowing through the power supply wiring when the connection between the first electrode and the second electrode is normal. Can be the specified value. Therefore, when there is a connection failure, the current value flowing through the power supply wiring is smaller than the current value when there is no connection failure, and it is only necessary to compare the current value with the specified value to determine whether the connection is defective. Can be determined.

【0043】表示用駆動装置内の表示用駆動回路では、
電源電圧が変動することにより、入力インピーダンスが
変化する。例えば、ソースドライバの特性上、入力電源
電圧が下がったとしても、入力される映像信号に対し、
同じ電圧レベルになるまで出力の負荷に電流を流そうと
するため、負荷に流れる電流値は入力電圧が多少変動し
ても、ほとんど変化しない。しかし、本発明の表示用駆
動装置に備えられた表示用駆動回路では、通常の抵抗の
みで構成されていないため、入力電圧が変動しても、内
部のトランジスタ特性が変化したり、一定の電流を流そ
うとしたりして、入力インピーダンスが一定にならない
場合がある。そこで、接続抵抗による影響がそのまま電
流値に現れる抵抗に流れる電流の和を測定することで、
確実に接触不良による抵抗値を検出できる。
In the display driving circuit in the display driving device,
When the power supply voltage fluctuates, the input impedance changes. For example, due to the characteristics of the source driver, even if the input power supply voltage drops,
Since the current flows to the output load until the voltage level becomes the same, the current value flowing through the load hardly changes even if the input voltage slightly changes. However, since the display drive circuit provided in the display drive device of the present invention does not include only a normal resistor, even if the input voltage fluctuates, the internal transistor characteristics may change or the constant current may not change. , The input impedance may not be constant. Therefore, by measuring the sum of the current flowing through the resistor, the effect of the connection resistance appears directly on the current value,
It is possible to reliably detect a resistance value due to poor contact.

【0044】また、接続不良検査を行うのに、接続不良
検査用の配線パターンを基板上に形成する必要がないの
で、基板の額縁部分の面積が拡大されることはない。よ
って、例えば、液晶テレビ等の商品に本発明に係る表示
装置を適用した場合でも、その商品にデザイン上の制約
を与えることを回避できる。
Further, since it is not necessary to form a wiring pattern for the connection failure inspection on the substrate to perform the connection failure inspection, the area of the frame portion of the substrate does not increase. Therefore, for example, even when the display device according to the present invention is applied to a product such as a liquid crystal television, it is possible to avoid giving a design constraint to the product.

【0045】さらに、上記の構成によれば、表示用駆動
装置の内部に抵抗が設けられており、基板上に形成され
ている第2の電極間を接続する電源配線に流れる電流値
の変化から、表示用駆動装置の接続不良を判定している
ため、電流検査工程において、同時に接続不良の検査を
行うことができる。よって、従来の接続不良だけを調べ
る検査工程を省略でき、製造効率を向上させることがで
きるとともに、製品のコストダウンが可能になる。
Further, according to the above configuration, the resistor is provided inside the display driving device, and the resistance value is determined based on the change in the value of the current flowing through the power supply wiring connecting the second electrodes formed on the substrate. Since the connection failure of the display driving device is determined, the connection failure can be inspected simultaneously in the current inspection step. Therefore, the conventional inspection process for examining only the connection failure can be omitted, the manufacturing efficiency can be improved, and the cost of the product can be reduced.

【0046】なお、上記電源配線は、グランド(0V)
に接続された電源配線を含んでいる。
The power supply line is connected to ground (0 V).
Power supply wiring connected to the power supply.

【0047】本発明の表示装置は、上記の課題を解決す
るために、実装接続用の第1の電極を備えた表示用駆動
装置と、上記表示用駆動装置を実装接続する基板上に、
異なる電位を有する複数の電源配線に接続され、上記表
示用駆動装置の実装接続時に上記第1の電極と接続され
る第2の電極とを備えた表示装置において、上記表示用
駆動装置は、表示用駆動回路と一端のみが電気的に接続
されている抵抗と、該抵抗の他端に接続された抵抗電極
を備えており、実装接続時には、上記抵抗の他端が接続
された抵抗電極は、上記第2の電極を介して、上記抵抗
の一端が接続されている表示用駆動回路の電源配線とは
異なる電位を有する電源配線に接続されることを特徴と
している。
In order to solve the above-mentioned problems, a display device of the present invention includes a display driving device having a first electrode for mounting connection, and a substrate on which the display driving device is mounted and connected.
A display device comprising: a plurality of power supply lines having different potentials; and a second electrode connected to the first electrode when the display drive device is mounted and connected. And a resistor having only one end electrically connected to the driving circuit, and a resistor electrode connected to the other end of the resistor, and at the time of mounting connection, the resistor electrode connected to the other end of the resistor, One end of the resistor is connected to a power supply line having a different potential from the power supply line of the display drive circuit to which one end of the resistor is connected via the second electrode.

【0048】上記の構成によれば、表示用駆動装置に備
えられた抵抗が接続された電源配線に流れる電流を測定
することで、表示用駆動装置に形成された第1の電極と
基板に形成された第2の電極とが接続不良であるか否か
を容易に判定できる。これにより、接続不良であった場
合には、接続不良の表示用駆動装置を取り除いて、再度
表示用駆動装置を実装することにより、接続信頼性の高
い表示装置を得ることができる。
According to the above configuration, by measuring the current flowing through the power supply wiring connected to the resistor provided in the display driving device, the first electrode formed on the display driving device and the substrate are formed. It can be easily determined whether or not the connection with the second electrode made is defective. Thus, when the connection is defective, the display driving device having the defective connection is removed, and the display driving device is mounted again, whereby a display device with high connection reliability can be obtained.

【0049】すなわち、表示用駆動装置に形成された第
1の電極と表示装置の基板に形成された第2の電極とが
接続不良である場合には、接続不良部分の抵抗によって
全体の抵抗値が大きくなる。また、表示用駆動装置に設
けた抵抗値は、所定の値で設けられている既知の値であ
るため、第1の電極と第2の電極との接続が正常な場合
に電源配線を流れる電流を規定値とできる。よって、接
続不良が有る場合には、電源配線に流れる電流値が、接
続不良が無い場合の電流値よりも小さくなるため、電流
値を規定値と比較するだけで接続不良であるか否かが判
定できる。
That is, when the first electrode formed on the display driving device and the second electrode formed on the substrate of the display device have a poor connection, the overall resistance value is determined by the resistance of the poor connection portion. Becomes larger. Further, since the resistance value provided in the display driving device is a known value provided as a predetermined value, the current flowing through the power supply wiring when the connection between the first electrode and the second electrode is normal. Can be the specified value. Therefore, when there is a connection failure, the current value flowing through the power supply wiring is smaller than the current value when there is no connection failure, and it is only necessary to compare the current value with the specified value to determine whether the connection is defective. Can be determined.

【0050】また、本発明は、表示用駆動装置におい
て、上記抵抗の一端が接続された抵抗電極が表示用駆動
回路の電源配線に接続されており、他端が接続された抵
抗電極が電気的に開放状態であるため、表示用駆動装置
の幅が狭い場合の接続不良検査に有効である。例えば、
抵抗の他端が接続された一方の抵抗電極側の接続不良検
査だけでよい場合や、表示用駆動装置に形成された抵抗
の一端の抵抗電極を形成できない場合、さらには基板に
形成される配線パターンを表示用駆動装置の両端まで形
成できない場合であっても、表示用駆動装置の第1の電
極と基板上の第2の電極との接続不良を検出できる。
Further, according to the present invention, in the display driving device, the resistance electrode to which one end of the resistor is connected is connected to the power supply wiring of the display driving circuit, and the resistance electrode to which the other end is connected is electrically connected. This is effective for a connection failure inspection when the width of the display driving device is narrow. For example,
When only the connection failure test on one of the resistance electrodes to which the other end of the resistance is connected is sufficient, or when the resistance electrode at one end of the resistance formed on the display driving device cannot be formed, furthermore, the wiring formed on the substrate Even when the pattern cannot be formed up to both ends of the display driving device, a connection failure between the first electrode of the display driving device and the second electrode on the substrate can be detected.

【0051】なお、上記電源配線は、グランド(0V)
に接続された電源配線を含んでいる。
The power supply wiring is connected to ground (0 V).
Power supply wiring connected to the power supply.

【0052】また、上記抵抗電極は、第1の電極が配置
されているラインよりも上記表示用駆動装置の外周側に
配置されていることがより好ましい。
Further, it is more preferable that the resistance electrode is arranged on the outer peripheral side of the display driving device with respect to the line on which the first electrode is arranged.

【0053】これにより、熱圧着ヘッド等の実装装置を
用いて表示用駆動装置を表示装置に実装する場合に、熱
圧着ヘッド等の微小な傾きにより表示用駆動装置の各電
極に均一な正規の圧力が加わらなかった場合に、長期使
用することで生じる表示用駆動装置の第1の電極と基板
上の第2の電極との接続不良をより確実に検出すること
ができ、コスト的にも有利で信頼性の高い表示装置を得
ることができる。
Accordingly, when the display driving device is mounted on the display device using a mounting device such as a thermocompression bonding head, a uniform and regular electrode is uniformly applied to each electrode of the display driving device due to a slight inclination of the thermocompression bonding head or the like. When no pressure is applied, a poor connection between the first electrode of the display driving device and the second electrode on the substrate caused by long-term use can be more reliably detected, and the cost is also advantageous. And a highly reliable display device can be obtained.

【0054】すなわち、上記表示装置の表示用駆動装置
は、基板の表面に対して微小な傾きをもって斜めに実装
接続されると、表示用駆動装置に形成された各電極の中
で上記抵抗電極が最初と最後のタイミングで圧力が付与
されるように、抵抗電極が形成されている。これによ
り、表示用駆動装置が微小に傾いて基板上に実装接続さ
れた場合には、最外周側に設けられた抵抗電極は最も圧
力が高い位置と低い位置に形成されているため、圧力の
低い側の抵抗電極は最も接続不良になりやすい。つま
り、抵抗電極が接続不良であれば、表示用駆動装置が斜
めに実装されていることを認識できる。
That is, when the display driving device of the display device is mounted and connected obliquely with a slight inclination to the surface of the substrate, the resistance electrode among the electrodes formed on the display driving device becomes The resistance electrode is formed such that pressure is applied at the first and last timings. Accordingly, when the display driving device is mounted and connected on the substrate with a slight inclination, the resistance electrodes provided on the outermost peripheral side are formed at the highest pressure position and the lowest pressure position. The lower resistance electrode is most likely to cause connection failure. That is, if the resistance electrode is poorly connected, it can be recognized that the display driving device is mounted obliquely.

【0055】一方、抵抗電極が、他の電極の形成されて
いるライン上に形成されている、つまり、傾いて実装接
続されたときに抵抗電極と他の電極とに同じタイミング
で圧力が付与される場合には、抵抗電極と他の電極とが
同時に接続不良になるため、斜めに実装接続されてお
り、表示装置を継続使用している際に徐々に接続不良に
なってしまうという予備的な接続不良の発見はできな
い。
On the other hand, the resistive electrode is formed on the line on which the other electrode is formed. That is, when the resistive electrode and the other electrode are inclinedly mounted and connected, pressure is applied to the resistive electrode and the other electrode at the same timing. In this case, the connection between the resistance electrode and the other electrode becomes defective at the same time, so that the connection is obliquely mounted and connected, and the connection gradually becomes poor during continuous use of the display device. Connection failure cannot be found.

【0056】そこで、本発明の表示装置によれば、表示
装置の製品化後の継続使用中に接続不良箇所が生じる予
備的な接続不良箇所の発見ができるため、さらに確実に
接続不良によるクレームの発生を削減できる。
Therefore, according to the display device of the present invention, it is possible to find a preliminary connection failure portion in which a connection failure portion occurs during continuous use after commercialization of the display device. Occurrence can be reduced.

【0057】本発明の表示装置の検査方法は、上記表示
装置に上記表示用駆動装置に上記電源配線から電力を供
給した際に、上記電源配線に流れる電流を測定して、測
定結果から第1の電極と第2の電極との接続不良を検出
することを特徴としている。
According to the method for inspecting a display device of the present invention, when power is supplied to the display device from the power supply wiring to the display driving device, a current flowing through the power supply wiring is measured, and the first result is determined from the measurement result. It is characterized in that a connection failure between the first electrode and the second electrode is detected.

【0058】上記の検査方法によれば、上記基板上に形
成された電源配線に流れる電流を測定するだけで、表示
用駆動装置に形成された第1の電極と上記基板に形成さ
れた第2の電極との接続不良を容易に検出できる。
According to the above-described inspection method, the first electrode formed on the display driving device and the second electrode formed on the substrate are simply measured by measuring the current flowing through the power supply wiring formed on the substrate. Connection failure with the electrode can be easily detected.

【0059】従来の表示装置の検査方法では、基板上に
接続不良検査用の検査パットを設ける必要があり、基板
の面積が拡大して製品化時にデザイン上の制約が加わっ
たり、検査に特定の治具が必要であり、わざわざ接続不
良だけを調べる検査工程を設けて、全数検査を行わなく
てはならない等の問題があった。
In the conventional inspection method of a display device, it is necessary to provide an inspection pad for a connection failure inspection on a substrate, and the area of the substrate is enlarged, which imposes restrictions on design at the time of commercialization, or a specific inspection. A jig is required, and there is a problem that an inspection process for examining only a connection failure must be performed and a 100% inspection must be performed.

【0060】本発明の表示装置の検査方法では、基板に
形成された電源配線に流れる電流を測定するだけで容易
に接続不良を判定できるため、接続不良の検査を電流検
査と同時に行うことが可能になる。よって、検査工程の
一つを省略でき、製造効率を向上させて、製品のコスト
ダウンを実現できる。
According to the display device inspection method of the present invention, the connection failure can be easily determined only by measuring the current flowing through the power supply wiring formed on the substrate. Therefore, the connection failure inspection can be performed simultaneously with the current inspection. become. Therefore, one of the inspection steps can be omitted, the manufacturing efficiency can be improved, and the cost of the product can be reduced.

【0061】さらに、上記抵抗の他端が接続された一方
の抵抗電極が、表示用駆動回路の電源配線と接続されて
いる表示装置では、表示用駆動装置の幅が狭く、接続不
良の検査を行うことが困難な場合であっても、接続不良
検査を実施することができる。
Further, in a display device in which one resistance electrode to which the other end of the resistor is connected is connected to the power supply wiring of the display drive circuit, the width of the display drive device is small, and the connection failure is inspected. Even if it is difficult to perform the inspection, it is possible to perform a connection failure inspection.

【0062】[0062]

【発明の実施の形態】〔実施形態1〕本発明の表示用駆
動装置、表示装置および表示装置の検査方法に関する実
施の一形態について、液晶表示装置を例に挙げて、図1
〜図4に基づいて説明すれば以下のとおりである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS [Embodiment 1] One embodiment of a display driving device, a display device, and a method for inspecting a display device of the present invention will be described with reference to FIG.
The following is a description based on FIG.

【0063】最初に、本実施形態の液晶表示装置に備え
られた液晶表示パネルと該液晶表示パネル上に実装され
る液晶表示装置を駆動する表示用駆動装置として、液晶
駆動用半導体チップ(表示用駆動装置)の構成につい
て、図1および図2を用いて説明する。
First, as a liquid crystal display panel provided in the liquid crystal display device of the present embodiment and a display driving device for driving the liquid crystal display device mounted on the liquid crystal display panel, a liquid crystal driving semiconductor chip (display device) is used. The configuration of the driving device will be described with reference to FIGS.

【0064】本実施形態に係る液晶表示装置に備えられ
た液晶表示パネル1は、図2に示すように、一対の透明
基板(基板)2・3を備えている。また、一方の透明基
板3上の表示部分以外の端部には、電極(第2の電極)
5・6・7a・7b・8a・8b・9a・9b・10a
・10b、および信号配線11、配線12が形成されて
いる。
The liquid crystal display panel 1 provided in the liquid crystal display device according to the present embodiment has a pair of transparent substrates (substrates) 2.3 as shown in FIG. An electrode (a second electrode) is provided on one end of the transparent substrate 3 other than the display portion.
5, 6, 7a, 7b, 8a, 8b, 9a, 9b, 10a
10b, signal wiring 11 and wiring 12 are formed.

【0065】電極5は、図1に示す液晶駆動用半導体チ
ップ15の制御端子接続用電極であり、制御用配線12
cと接続されている。
The electrode 5 is a control terminal connection electrode of the liquid crystal driving semiconductor chip 15 shown in FIG.
c.

【0066】電極6は、図1に示す液晶駆動用半導体チ
ップ15の出力端子接続用電極(パッド)であり、図示
しない液晶表示素子につながる信号配線11と接続され
ている。
The electrode 6 is an electrode (pad) for connecting an output terminal of the liquid crystal driving semiconductor chip 15 shown in FIG. 1, and is connected to a signal wiring 11 connected to a liquid crystal display element (not shown).

【0067】電極7a・7bは、一方の電源の電源端子
接続用電極(パッド)であり、抵抗端子接続用電極であ
る電極9a・9bとともに、電源配線12bによって電
気的に接続されている。
The electrodes 7a and 7b are power supply terminal connection electrodes (pads) of one power supply, and are electrically connected to the electrodes 9a and 9b, which are resistance terminal connection electrodes, by a power supply wiring 12b.

【0068】電極8a・8bは、上記一方の電源(電極
7a・7b)とは異なる電位を有する他方の電源の電源
端子接続電極(パッド)であり、抵抗端子接続用の電極
パッド)である電極10a・10bとともに、電源配線
12aによって電気的に接続されている。
The electrodes 8a and 8b are power supply terminal connection electrodes (pads) of the other power supply having a potential different from that of the one power supply (electrodes 7a and 7b), and are electrodes serving as resistance terminal connection electrodes. Along with 10a and 10b, they are electrically connected by a power supply wiring 12a.

【0069】次に、上記液晶表示パネル1の一方の透明
基板3上に実装される液晶駆動用半導体チップ15につ
いて、以下に説明する。
Next, the liquid crystal driving semiconductor chip 15 mounted on one transparent substrate 3 of the liquid crystal display panel 1 will be described below.

【0070】液晶駆動用半導体チップ15には、図1に
示すように、電極(第1の電極)17・18、抵抗電極
20a・20b・22a・22b、電源電極(第1の電
極)19a・19bおよび電源電極(第1の電極)21
a・21bも形成されている。また、抵抗電極20a・
22aの間には抵抗16a、抵抗電極20b・22bの
間には抵抗16bが設けられている。
As shown in FIG. 1, the liquid crystal driving semiconductor chip 15 has electrodes (first electrodes) 17 and 18, resistance electrodes 20a, 20b, 22a and 22b, and power supply electrodes (first electrodes) 19a and 19a. 19b and power supply electrode (first electrode) 21
a.21b are also formed. The resistance electrodes 20a
The resistor 16a is provided between the resistor electrodes 22b and 22b, and the resistor 16b is provided between the resistor electrodes 20b and 22b.

【0071】なお、各電極17・18と電源電極19a
・19bおよび電源電極21a・21bとは、図示しな
い表示用駆動回路に接続されている。
The electrodes 17 and 18 and the power supply electrode 19a
The 19b and the power supply electrodes 21a and 21b are connected to a display drive circuit (not shown).

【0072】電極17は、液晶駆動用半導体制御電極
(バンプ)であり、液晶駆動用半導体チップ15が透明
基板3上に実装されたときには、対応する位置に設けら
れた電極5と電気的に接続される。
The electrodes 17 are liquid crystal drive semiconductor control electrodes (bumps). When the liquid crystal drive semiconductor chip 15 is mounted on the transparent substrate 3, the electrodes 17 are electrically connected to the electrodes 5 provided at corresponding positions. Is done.

【0073】電極18は、液晶表示装置駆動用電極(バ
ンプ)であり、液晶駆動用半導体チップ15の実装時に
は、電極6と電気的に接続される。
The electrode 18 is an electrode (bump) for driving the liquid crystal display device, and is electrically connected to the electrode 6 when the semiconductor chip 15 for driving liquid crystal is mounted.

【0074】電源電極19a・19bおよび電源電極2
1a・21bは、液晶駆動用半導体チップ15の実装時
には、それぞれ電極7a・7bおよび電極8a・8bと
接続される。
Power supply electrodes 19a and 19b and power supply electrode 2
1a and 21b are connected to the electrodes 7a and 7b and the electrodes 8a and 8b when the liquid crystal driving semiconductor chip 15 is mounted.

【0075】抵抗電極20a・20bおよび抵抗電極2
2a・22bは、抵抗16a・16bが設けられた抵抗
電極(バンプ)であり、液晶駆動用半導体チップ15の
実装時には、それぞれ電極9a・9bおよび電極10a
・10bと電気的に接続される。
Resistive electrodes 20a and 20b and resistive electrode 2
Reference numerals 2a and 22b denote resistive electrodes (bumps) provided with the resistors 16a and 16b. When the liquid crystal driving semiconductor chip 15 is mounted, the electrodes 9a and 9b and the electrodes 10a
-It is electrically connected to 10b.

【0076】なお、液晶表示素子駆動用電極である電極
18およびこれに対応する透明基板3上の電極6は、図
2では3個の電極が示されているが、これは説明の便宜
上、図を簡略化したためである。電極6・18は、通常
100〜300個、数十μmのピッチ幅で存在している
ため、抵抗16a・16bと接続された抵抗電極20a
・20bおよび抵抗電極22a・22bが設けられて
も、液晶駆動用半導体チップ15の形状が大きくなった
り、コストアップの要因となることはない。
The electrode 18 serving as a liquid crystal display element driving electrode and the electrode 6 corresponding to the electrode 18 on the transparent substrate 3 are shown in FIG. 2 as three electrodes. Is simplified. Since the electrodes 6 and 18 are usually 100 to 300 and have a pitch width of several tens of μm, the resistance electrodes 20a connected to the resistors 16a and 16b
Even if the 20b and the resistance electrodes 22a and 22b are provided, the shape of the semiconductor chip 15 for driving the liquid crystal does not become large and does not cause a cost increase.

【0077】また、液晶駆動用半導体制御電極である電
極17およびこれに対応する電極5についても上記と同
様である。
The same applies to the electrode 17 which is a semiconductor control electrode for driving a liquid crystal and the electrode 5 corresponding thereto.

【0078】図2で示す上記透明基板3に、図1で示す
液晶駆動用半導体チップ15を実装すると、図3に示す
ように、対応する位置の電極同士が接続された状態にな
る。
When the liquid crystal driving semiconductor chip 15 shown in FIG. 1 is mounted on the transparent substrate 3 shown in FIG. 2, the electrodes at the corresponding positions are connected as shown in FIG.

【0079】ここで、本実施形態の液晶表示装置を示す
図3における切断線A−A’の矢視断面図によれば、図
4に示すように、液晶駆動用半導体チップ15に設けら
れた各電極は、異方性導電接着剤30によって、透明基
板3に設けられた対応する各電極と電気的に接続された
状態になる。
Here, according to the sectional view taken along the line AA ′ in FIG. 3 showing the liquid crystal display device of the present embodiment, as shown in FIG. 4, the liquid crystal display device is provided on the liquid crystal driving semiconductor chip 15. Each electrode is electrically connected to the corresponding electrode provided on the transparent substrate 3 by the anisotropic conductive adhesive 30.

【0080】液晶駆動用半導体チップ15の出力電極で
ある電極18は、異方性導電接着剤30により透明基板
3上の電極6に電気的に接続されている。また、電極6
は、信号配線11により液晶表示パネル1の液晶表示素
子(図示せず)に接続されている。
The electrode 18, which is the output electrode of the semiconductor chip 15 for driving a liquid crystal, is electrically connected to the electrode 6 on the transparent substrate 3 by an anisotropic conductive adhesive 30. The electrode 6
Are connected to a liquid crystal display element (not shown) of the liquid crystal display panel 1 by a signal wiring 11.

【0081】なお、液晶32は、シール材31によって
透明基板3と対抗する透明基板2との間に封入されてい
る。また、このシール材31は、上部の透明基板2と下
部の透明基板3との縁周囲に設けられ、両透明基板2・
3を一定の間隙を保ちながら貼り合わせている。
The liquid crystal 32 is sealed between the transparent substrate 3 and the opposing transparent substrate 2 by a sealing material 31. The sealing material 31 is provided around the edges of the upper transparent substrate 2 and the lower transparent substrate 3.
3 are bonded together while maintaining a constant gap.

【0082】本実施形態の液晶表示装置では、以上のよ
うな構成により、液晶駆動用半導体チップ15と透明基
板3上に形成された各電極との接続状態の検査を正確に
行うことができる。
In the liquid crystal display device of this embodiment, the connection state between the liquid crystal driving semiconductor chip 15 and each electrode formed on the transparent substrate 3 can be accurately inspected by the above configuration.

【0083】すなわち、上記抵抗16aおよび16bが
接続された両端の電極である抵抗電極20a・22aお
よび抵抗電極20b・22bと、上記透明基板3の信号
配線11、配線12との接続状態が正常である場合に
は、電源と接続された電源配線12aに印加される電源
電圧(電源電極21a・21bの電位)Va(V)、電
源配線12bに印加される電圧(電源電極19a・19
bの電位)をグランド(0V)、抵抗16a・16bの
抵抗値をそれぞれRa・Rbとした場合、電源配線12
aに流れる電流Iaは、以下の式(1)によって表され
る。
That is, the connection state between the resistance electrodes 20a and 22a and the resistance electrodes 20b and 22b at both ends to which the resistors 16a and 16b are connected, and the signal wiring 11 and the wiring 12 of the transparent substrate 3 are normal. In some cases, a power supply voltage Va (V) applied to the power supply wiring 12a connected to the power supply (potential of the power supply electrodes 21a and 21b) and a voltage applied to the power supply wiring 12b (power supply electrodes 19a and 19)
b) (potential b) is ground (0 V), and the resistances of the resistors 16a and 16b are Ra and Rb, respectively.
The current Ia flowing through a is represented by the following equation (1).

【0084】 Ia=Va×(Ra+Rb)/(Ra×Rb)+Ic・・・・・(1) なお、上記Icは、液晶駆動用半導体チップ15内の回
路(抵抗16a・16bを除く)に流れる電流値であ
る。
Ia = Va × (Ra + Rb) / (Ra × Rb) + Ic (1) The above Ic flows through the circuits (excluding the resistors 16a and 16b) in the liquid crystal driving semiconductor chip 15. It is a current value.

【0085】一方、例えば、液晶駆動用半導体チップ1
5の抵抗16aの一端の抵抗電極22aと、これに対応
する透明基板3の電極10aとの接続が不完全であり、
接続抵抗値がRxであった場合を想定する。この場合、
上記電流Icは、抵抗値Rxの影響でIc’となってい
る(Ic>Ic’)。
On the other hand, for example, the liquid crystal driving semiconductor chip 1
5, the connection between the resistance electrode 22a at one end of the resistor 16a and the corresponding electrode 10a of the transparent substrate 3 is incomplete,
It is assumed that the connection resistance value is Rx. in this case,
The current Ic is Ic ′ due to the influence of the resistance value Rx (Ic> Ic ′).

【0086】この場合、電源配線12aに流れる電流I
a’は、以下の式(2)によって表される。
In this case, the current I flowing through the power supply line 12a is
a ′ is represented by the following equation (2).

【0087】 Ia’={Va×(Ra+Rx+Rb)/((Ra+Rx)×Rb)}+Ic ’・・・・(2) 上記の式(1)および(2)より、Ia−Ia’=Va
×Rx/{Ra(Ra+Rx)}+(Ic−Ic’)>
0となる。
Ia ′ = {Va × (Ra + Rx + Rb) / ((Ra + Rx) × Rb)} + Ic ′ (2) From the above equations (1) and (2), Ia−Ia ′ = Va
× Rx / {Ra (Ra + Rx)} + (Ic−Ic ′)>
It becomes 0.

【0088】よって、Ia>Ia’であることから、I
a’は、液晶駆動用半導体チップ15の抵抗16aの一
端の抵抗電極22aと、これに対応する透明基板3の電
極10aとが、正常に接続されている場合に電源配線1
2aに流れる電流Iaよりも少なくなっている。これに
より、液晶駆動用半導体チップ15と透明基板3との接
続が不完全であることを判断でき、接続不良の液晶駆動
用半導体チップ15を取り除いて、再度実装することに
より、接続信頼性の高い液晶表示装置を得ることができ
る。
Therefore, since Ia> Ia ′, Ia
a ′ is the power supply wiring 1 when the resistance electrode 22 a at one end of the resistor 16 a of the liquid crystal driving semiconductor chip 15 and the corresponding electrode 10 a of the transparent substrate 3 are normally connected.
It is smaller than the current Ia flowing through 2a. This makes it possible to determine that the connection between the liquid crystal driving semiconductor chip 15 and the transparent substrate 3 is incomplete, and removes the defectively connected liquid crystal driving semiconductor chip 15 and re-mounts it, thereby achieving high connection reliability. A liquid crystal display device can be obtained.

【0089】上記の構成では、検査パット等のパターン
を透明基板3上に形成する必要がないので、透明基板3
の額縁部分の面積を広げることなく、液晶駆動用半導体
チップ15の接続不良を判定できる。よって、例えば、
液晶テレビ等の液晶表示装置を用いた商品にデザイン上
の制約を与えることはない。
In the above configuration, it is not necessary to form a pattern such as an inspection pad on the transparent substrate 3.
The connection failure of the liquid crystal driving semiconductor chip 15 can be determined without increasing the area of the frame portion. So, for example,
There is no design restriction on products using a liquid crystal display device such as a liquid crystal television.

【0090】また、本実施形態の液晶表示装置は、液晶
駆動用半導体チップ15の内部に抵抗を設けており、透
明基板3上に形成されている各電極間をつなぐ配線12
に流れる電流値の変化から、液晶駆動用半導体チップ1
5の接続不良を判定している。このため、従来より行わ
れている接続不良だけを検査する工程が不要で、電流検
査工程において、同時に接続不良の検査も行うことがで
きる。よって、液晶表示装置の製造後の検査工程の中
で、接続不良を判定する工程を省略できることから、製
造効率を向上させることができ、製品のコストダウンが
可能になる。
In the liquid crystal display device of the present embodiment, a resistor is provided inside the liquid crystal driving semiconductor chip 15, and the wiring 12 connecting the electrodes formed on the transparent substrate 3 is formed.
Of the liquid crystal driving semiconductor chip 1
5 is determined to be defective. For this reason, the step of inspecting only the connection failure, which has been conventionally performed, is unnecessary, and the connection failure can be inspected at the same time in the current inspection step. Therefore, in the inspection process after the production of the liquid crystal display device, the step of determining the connection failure can be omitted, so that the production efficiency can be improved and the cost of the product can be reduced.

【0091】なお、上記電流検査工程は、液晶表示装置
内の接続不良を判定するための検査工程の一つであり、
液晶表示装置が表示状態において、装置内を流れる電流
の変化を判定することによって、液晶表示装置の不具合
を調べる検査である。
The above-described current inspection step is one of inspection steps for determining a connection failure in the liquid crystal display device.
This is an inspection for checking a defect of the liquid crystal display device by determining a change in a current flowing in the liquid crystal display device in a display state.

【0092】従来の電流検査工程では、半導体チップ内
回路でリーク等の理由により電流が増加した場合に、液
晶表示部では正常に動作することがあるため、液晶表示
装置内へ入力される電源ラインに電流計を接続し、その
データをコンピュータ解析してコンピュータ画面上やブ
ザー等で検査員に知らせていた。
In the conventional current inspection process, when a current increases in a circuit in a semiconductor chip due to a leak or the like, the liquid crystal display may operate normally. Was connected to an ammeter, the data was analyzed by computer, and the inspector was notified on a computer screen or by a buzzer.

【0093】本実施形態の液晶表示装置における電流検
査工程では、半導体チップ内部のリーク電流による電流
の最大値管理および抵抗不良検出のための電流値の最小
値管理により、従来の電流検査工程を用いて同時に両検
査の実施が可能になる。
In the current inspection step in the liquid crystal display device of this embodiment, the conventional current inspection step is performed by managing the maximum value of the current due to the leak current inside the semiconductor chip and the minimum value of the current value for detecting the resistance failure. Thus, both inspections can be performed at the same time.

【0094】ただし、両方の不良が同時に発生している
場合に規定値の電流値が測定された場合には、不良を発
見できないことになるが、両方の不良が同時に発生する
確率は非常に低い。例えば、半導体チップ内部のリーク
による不良の発生確率を1/X、液晶駆動用半導体チッ
プの接続不良の発生確率を1/Yとすると、両方の不良
の発生確率は、1/(X×Y)となり、確率的には非常
に小さくなる。よって、この両方の不良が同時に発生し
た場合については無視でき、接続抵抗不良を検出できな
かったことによる製品の不良発生率をより小さくでき
る。
However, if a current value of a specified value is measured when both failures occur simultaneously, the failure cannot be found, but the probability that both failures occur simultaneously is very low. . For example, assuming that the probability of occurrence of a defect due to leakage inside the semiconductor chip is 1 / X and the probability of connection failure of the semiconductor chip for driving a liquid crystal is 1 / Y, the probability of occurrence of both defects is 1 / (X × Y). And the probability becomes very small. Therefore, the case where both of these failures occur simultaneously can be ignored, and the failure occurrence rate of the product due to the failure to detect the connection resistance failure can be further reduced.

【0095】また、本実施形態の液晶表示装置では、電
源配線12aに印加される電圧(電源電極21a・21
b)をVa(V)、電源配線12bに印加される電圧
(電源電極19a・19b)をグランド(0V)とした
例について説明したが、これに限定されるものではな
い。電源配線12aと電源配線12bとに与えられる電
圧が異なるように、つまり、電源電極19a・19bと
電源電極21a・21bとが異なる電位を有するように
構成されていれば、本実施形態と同様の効果を得ること
ができる。
In the liquid crystal display of this embodiment, the voltage applied to the power supply wiring 12a (the power supply electrodes 21a
b) is set to Va (V), and the voltage (power supply electrodes 19a and 19b) applied to the power supply wiring 12b is set to the ground (0V). However, the present invention is not limited to this. If the voltages applied to the power supply wiring 12a and the power supply wiring 12b are different, that is, if the power supply electrodes 19a and 19b and the power supply electrodes 21a and 21b are configured to have different potentials, the same as in the present embodiment. The effect can be obtained.

【0096】〔実施形態2〕本発明の液晶表示装置およ
び液晶表示装置の検査方法に関する他の実施形態につい
て、図5に基づいて説明すれば、以下のとおりである。
[Embodiment 2] Another embodiment of the liquid crystal display device and the inspection method of the liquid crystal display device of the present invention will be described below with reference to FIG.

【0097】なお、説明の便宜上、上記実施形態1にて
説明した図面と同じ機能を有する部材については、同じ
符号を付記し、その説明を省略する。
[0097] For convenience of explanation, members having the same functions as those in the drawings described in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.

【0098】本実施形態の液晶表示装置は、図5に示す
ように、液晶駆動用半導体チップ25の両端部に設けら
れた抵抗16a・16bの一端は、グランドに接続され
た電源電極19a・19bとが、液晶駆動用半導体チッ
プ25に形成された配線35を介して接続されている点
で、実施形態1で説明した液晶表示装置と異なってい
る。抵抗電極20a・20bは、液晶駆動用半導体チッ
プ25から省略した構成であってもよい。また、透明基
板3上に形成された電極、配線については、実施形態1
で説明したものと同様であるが、電極9a・9bは、抵
抗電極20a・20bと同様に省略した構成であっても
よい。
In the liquid crystal display device of this embodiment, as shown in FIG. 5, one ends of resistors 16a and 16b provided at both ends of a semiconductor chip 25 for driving a liquid crystal are connected to power supply electrodes 19a and 19b connected to the ground. Are connected via a wiring 35 formed on the liquid crystal driving semiconductor chip 25, which is different from the liquid crystal display device described in the first embodiment. The resistance electrodes 20a and 20b may be omitted from the liquid crystal driving semiconductor chip 25. The electrodes and wirings formed on the transparent substrate 3 are described in the first embodiment.
However, the electrodes 9a and 9b may be omitted in the same manner as the resistance electrodes 20a and 20b.

【0099】また、本実施形態の液晶表示装置は、抵抗
16a・16bの他方の一端とそれぞれ接続された抵抗
電極22a・22bは、電気的に開放状態になってお
り、一方の抵抗の一端は、液晶駆動用半導体チップ25
のグランドに接続された電源電極19a・19bに接続
されている。
In the liquid crystal display device of this embodiment, the resistance electrodes 22a and 22b respectively connected to the other ends of the resistors 16a and 16b are electrically open, and one end of one of the resistors is connected to the other end. , Liquid crystal driving semiconductor chip 25
Are connected to the power supply electrodes 19a and 19b connected to the ground.

【0100】さらに、上記液晶駆動用半導体チップ25
は、実施形態1と同様に、透明基板3上に実装される。
Further, the liquid crystal driving semiconductor chip 25
Are mounted on the transparent substrate 3 as in the first embodiment.

【0101】上記の構成により、例えば、液晶駆動用半
導体チップ15の抵抗16aの一端の抵抗電極22a
と、これに対応する透明基板3上に形成された電極10
aとの接続が不完全である場合には、実施形態1と同様
に、液晶駆動用半導体チップ25を流れる電流は、正常
に接続された場合の電流よりも小さくなる。よって、液
晶駆動用半導体チップ25と透明基板3上に形成された
電極との接続が不完全であることを判定することができ
る。
With the above configuration, for example, the resistance electrode 22a at one end of the resistance 16a of the liquid crystal driving semiconductor chip 15
And the corresponding electrode 10 formed on the transparent substrate 3
When the connection with a is incomplete, as in the first embodiment, the current flowing through the liquid crystal driving semiconductor chip 25 is smaller than the current when the connection is normally made. Therefore, it can be determined that the connection between the liquid crystal driving semiconductor chip 25 and the electrode formed on the transparent substrate 3 is incomplete.

【0102】本実施形態で用いた液晶駆動用半導体チッ
プ25は、特に、以下に示すような場合に適用されるこ
とがより好ましい。
The liquid crystal driving semiconductor chip 25 used in this embodiment is more preferably applied to the following cases.

【0103】例えば、液晶駆動用半導体チップ25の幅
が狭く、抵抗16a・16bが接続された一方の電極側
の検査だけでよい場合や、液晶駆動用半導体チップ25
に内蔵された抵抗16a・16bの一端の電極を形成で
きない場合、さらに透明基板3上に形成する配線パター
ンを液晶駆動用半導体チップ25の両端まで形成できな
い場合などである。上記のような場合であっても、液晶
駆動用半導体チップ25によれば、液晶駆動用半導体チ
ップ25と透明基板3上に形成された各電極との接続不
良を判定することができる。
For example, when the width of the liquid crystal driving semiconductor chip 25 is narrow and only the inspection of one electrode side to which the resistors 16a and 16b are connected is sufficient,
In this case, the electrodes at one end of the resistors 16a and 16b incorporated in the semiconductor substrate 25 cannot be formed, and the wiring pattern formed on the transparent substrate 3 cannot be formed up to both ends of the semiconductor chip 25 for driving liquid crystal. Even in the case described above, according to the liquid crystal driving semiconductor chip 25, it is possible to determine a poor connection between the liquid crystal driving semiconductor chip 25 and each electrode formed on the transparent substrate 3.

【0104】なお、実施形態1・2の液晶表示装置で
は、液晶駆動用半導体チップに2個の抵抗が設けられて
いる例について説明したが、これに限定されるものでは
なく、1個あるいは3個以上であっても、実施形態1・
2で得られた効果を同様に得ることができる。
In the liquid crystal display devices according to the first and second embodiments, an example is described in which two resistors are provided on the liquid crystal driving semiconductor chip. However, the present invention is not limited to this. Embodiment 1
2 can be obtained similarly.

【0105】また、実施形態1・2の液晶表示装置は、
単純マトリクス型、アクティブマトリクス型等の表示方
式を問わず、液晶表示装置に広く適用可能である。
Further, the liquid crystal display devices of Embodiments 1 and 2
It can be widely applied to liquid crystal display devices regardless of a display method such as a simple matrix type or an active matrix type.

【0106】また、本発明の液晶表示装置は、液晶駆動
用半導体チップ内に1つ以上の抵抗が内蔵され、前記抵
抗の両端子は電気的に開放状態であり、前記液晶駆動用
半導体チップが液晶表示素子の基板に接続されたとき、
前記抵抗の両端子が、前記基板上の配線により、液晶駆
動用の電位差のある電源(グランドを含む)にそれぞれ
接続されていてもよい。
Further, in the liquid crystal display device of the present invention, one or more resistors are built in the semiconductor chip for driving liquid crystal, and both terminals of the resistors are electrically open. When connected to the substrate of the liquid crystal display element,
Both terminals of the resistor may be connected to a power supply (including a ground) having a potential difference for driving the liquid crystal by wiring on the substrate.

【0107】また、本発明の液晶表示装置は、液晶駆動
用半導体チップ内に1つ以上の抵抗が内蔵され、前記抵
抗のいずれか一方の端子は電気的に開放状態であり、前
記抵抗の他方の端子は、前記液晶駆動用半導体チップ内
で、前記液晶駆動用半導体チップの電源端子(グランド
を含む)に接続されており、前記液晶駆動用半導体チッ
プが液晶表示素子の基板に接続されたとき、前記抵抗の
一方の端子は、前記基板の配線により、前記抵抗の他方
の端子が接続された前記液晶駆動用半導体チップの電源
(グランドを含む)とは異なる電位を持つ液晶駆動用半
導体チップの電源(グランドを含む)に接続されていて
もよい。
Further, in the liquid crystal display device of the present invention, one or more resistors are built in the semiconductor chip for driving the liquid crystal, and one terminal of the resistors is electrically open, and the other of the resistors is the other terminal. Are connected to power terminals (including grounds) of the liquid crystal driving semiconductor chip in the liquid crystal driving semiconductor chip, and when the liquid crystal driving semiconductor chip is connected to the substrate of the liquid crystal display element. The one terminal of the resistor is connected to the liquid crystal driving semiconductor chip having a potential different from the power supply (including ground) of the liquid crystal driving semiconductor chip to which the other terminal of the resistor is connected by the wiring of the substrate. It may be connected to a power supply (including ground).

【0108】〔実施形態3〕本発明の表示用駆動装置に
関するさらに他の実施形態について、図6〜図11
(a)・(b)に基づいて説明すれば、以下のとおりで
ある。
[Embodiment 3] FIGS. 6 to 11 show still another embodiment relating to the display driving device of the present invention.
The following is a description based on (a) and (b).

【0109】なお、説明の便宜上、上記実施形態1・2
にて説明した図面と同じ機能を有する部材については、
同じ符号を付記し、その説明を省略する。
[0109] For convenience of explanation, the first and second embodiments are described.
For members having the same functions as the drawings described in
The same reference numerals are added, and the description is omitted.

【0110】本実施形態の液晶駆動用半導体チップ(表
示用駆動装置)15’は、図7に示すように、電極17
d・17eが、電源電極19a・21aおよび電源電極
19b・21bが位置しているラインよりも外側に設け
られており、抵抗電極20a・20bおよび抵抗電極2
2a・22bが、他の電源電極19a〜19bおよび電
源電極21a〜21b、かつ電源電極19a〜21aお
よび電源電極19b〜21bが配置されているラインよ
りも、液晶駆動用半導体チップ15’の外周側に設けら
れている点で、実施形態1・2で説明した液晶駆動用半
導体チップ15と異なっているが、その他の構成につい
ては同じである。
The liquid crystal driving semiconductor chip (display driving device) 15 ′ according to the present embodiment has electrodes 17, as shown in FIG.
d · 17e are provided outside the line where the power supply electrodes 19a / 21a and the power supply electrodes 19b / 21b are located, and the resistance electrodes 20a / 20b and the resistance electrode 2
2a and 22b are on the outer peripheral side of the liquid crystal driving semiconductor chip 15 'with respect to the other power supply electrodes 19a to 19b and the power supply electrodes 21a to 21b, and the line on which the power supply electrodes 19a to 21a and the power supply electrodes 19b to 21b are arranged. Is different from the liquid crystal driving semiconductor chip 15 described in the first and second embodiments in the point that it is provided, but the other configuration is the same.

【0111】すなわち、抵抗電極20a・20bおよび
抵抗電極22a・22bは、液晶駆動用半導体チップ1
5’上に形成された他の電極よりも、液晶駆動用半導体
チップ15’の各角側に設けられている。
In other words, the resistance electrodes 20a and 20b and the resistance electrodes 22a and 22b are
It is provided on each corner side of the liquid crystal driving semiconductor chip 15 'with respect to the other electrodes formed on 5'.

【0112】一方、上記液晶駆動用半導体チップ15’
が実装接続される透明基板3’は、図6に示すように、
図7の液晶駆動用半導体チップ15’の電極位置に対応
するように、最外端に設けられた電極5が、電極7a・
8aおよび7b・8bが位置しているラインよりも外側
に設けられており、電極9a・9bおよび10a・10
bが他の電極7a〜7bおよび8a〜8b、かつ最外端
に設けられた電極5が配置されているライン上よりも、
透明基板3’の外周側に設けられている点で実施形態1
・2で説明した液晶駆動用半導体チップ15と異なって
いるが、その他の構成については同じである。
On the other hand, the liquid crystal driving semiconductor chip 15 '
Is mounted and connected, as shown in FIG.
The electrode 5 provided at the outermost end corresponds to the electrode position of the liquid crystal driving semiconductor chip 15 'in FIG.
The electrodes 9a and 9b and the electrodes 9a and 10b are provided outside the lines where the electrodes 8a and 7b and 8b are located.
b is higher than the line on which the other electrodes 7a to 7b and 8a to 8b and the electrode 5 provided at the outermost end are arranged.
Embodiment 1 in that it is provided on the outer peripheral side of a transparent substrate 3 ′
2 is different from the liquid crystal driving semiconductor chip 15 described in 2, but the other configuration is the same.

【0113】また、図7に示す液晶駆動用半導体チップ
15’が、図6の透明基板3’に実装されたとき、液晶
駆動用半導体チップ15’内の抵抗値Raの抵抗16a
・16bと接続されたバンプ状の抵抗電極20a・20
bは、電源配線12bを介して電極9a・9bと接続さ
れる。
When the liquid crystal driving semiconductor chip 15 'shown in FIG. 7 is mounted on the transparent substrate 3' of FIG. 6, the resistance 16a of the resistance Ra in the liquid crystal driving semiconductor chip 15 '
.Bump-shaped resistance electrodes 20a and 20 connected to 16b
b is connected to the electrodes 9a and 9b via the power supply wiring 12b.

【0114】さらに、電極8a・8bについても同様
に、電源配線12aを介して接続されており、図7に示
す液晶駆動用半導体チップ15’が、透明基板3’に実
装されたとき、液晶駆動用半導体チップ15’内の抵抗
値Raの抵抗16a・16bと接続されたバンプ状の抵
抗電極22a・22bは、電源配線12aを介して電極
10a・10bと接続されている。
Further, the electrodes 8a and 8b are similarly connected via the power supply wiring 12a. When the liquid crystal driving semiconductor chip 15 'shown in FIG. 7 is mounted on the transparent substrate 3', the liquid crystal driving The bump-shaped resistance electrodes 22a and 22b connected to the resistances 16a and 16b having the resistance value Ra in the semiconductor chip 15 'for use are connected to the electrodes 10a and 10b via the power supply wiring 12a.

【0115】そして、図6の電極5は、液晶駆動用半導
体チップ15’が透明基板3’に実装された際に、対応
して接続される図7の液晶表示装置の透明基板3’の制
御用端子電極バンプである電極17(17a〜17e)
と制御用配線12cを介して接続されている。
The electrode 5 of FIG. 6 is connected to the liquid crystal display device of FIG. 7 when the semiconductor chip 15 ′ for driving the liquid crystal is mounted on the transparent substrate 3 ′. 17 (17a to 17e) which are terminal electrode bumps for use
Are connected via the control wiring 12c.

【0116】一方、図6の電極6は、液晶駆動用半導体
チップ15’が透明基板3’に実装された際に対応して
接続される半導体電極の液晶駆動用電極バンプである電
極18と対応しており、液晶表示素子(図示せず)に接
続された信号配線11と接続されている。
On the other hand, the electrode 6 shown in FIG. 6 corresponds to the electrode 18 which is a liquid crystal driving electrode bump of the semiconductor electrode connected when the liquid crystal driving semiconductor chip 15 'is mounted on the transparent substrate 3'. And is connected to a signal wiring 11 connected to a liquid crystal display element (not shown).

【0117】図6の透明基板3’に図7の液晶駆動用半
導体チップ15’が実装されると、図8に示すように、
対応する位置に形成されたそれぞれの電極に接続され
て、液晶表示装置1’となる。
When the liquid crystal driving semiconductor chip 15 ′ of FIG. 7 is mounted on the transparent substrate 3 ′ of FIG. 6, as shown in FIG.
The liquid crystal display device 1 'is connected to the respective electrodes formed at the corresponding positions.

【0118】さらに、図8に示した液晶表示装置1’の
G−G’線矢視断面図について、図9に示すように、液
晶駆動用半導体チップ15’は、液晶表示装置1’の透
明基板3’と異方性導電接着剤30で各電極同士が電気
的に接続されている。例えば、液晶駆動用半導体チップ
15’の出力電極である電極18は、異方性導電接着剤
30を介して、透明基板3’上の電極6に電気的に接続
されている。
Further, in the sectional view taken along the line GG ′ of the liquid crystal display device 1 ′ shown in FIG. 8, as shown in FIG. 9, the liquid crystal driving semiconductor chip 15 ′ is formed of a transparent liquid crystal display device 1 ′. The electrodes are electrically connected to each other by the substrate 3 ′ and the anisotropic conductive adhesive 30. For example, the electrode 18, which is the output electrode of the liquid crystal driving semiconductor chip 15 ', is electrically connected to the electrode 6 on the transparent substrate 3' via an anisotropic conductive adhesive 30.

【0119】また、電極6は、信号配線11を介して液
晶表示装置1’の液晶表示素子に接続されている。
The electrode 6 is connected to the liquid crystal display element of the liquid crystal display 1 'via the signal wiring 11.

【0120】さらに、シール材31が上部の透明基板2
と下部の透明基板3’との縁周囲に設けられており、両
透明基板2・3’を貼り合わせるとともに、両透明基板
2・3’間に液晶32を封入している。
Further, the sealing material 31 is provided on the upper transparent substrate 2.
Are provided around the edge of the lower transparent substrate 3 ′. The transparent substrates 2, 3 ′ are bonded together, and a liquid crystal 32 is sealed between the transparent substrates 2, 3 ′.

【0121】上記で述べたように、図7の液晶駆動用半
導体チップ15’が、透明基板3’に実装されたときに
液晶駆動用半導体チップ15’内の抵抗16a・16b
に接続された抵抗電極20a・20b・22a・22b
は、その他の液晶駆動用半導体チップ15上に形成され
た電極よりも液晶駆動用半導体チップ15’の外周側に
配置されている。
As described above, when the liquid crystal driving semiconductor chip 15 'of FIG. 7 is mounted on the transparent substrate 3', the resistors 16a and 16b in the liquid crystal driving semiconductor chip 15 '
Electrodes 20a, 20b, 22a, 22b connected to
Are arranged on the outer peripheral side of the liquid crystal driving semiconductor chip 15 ′ with respect to the electrodes formed on the other liquid crystal driving semiconductor chips 15.

【0122】これにより、液晶駆動用半導体チップ1
5’が熱圧着ヘッド40により透明基板3’に実装され
る際に、抵抗電極22a・22bが位置する辺Bに他辺
よりも圧力が加わらなかった場合、すなわち、液晶駆動
用半導体チップ15’の面と熱圧着ヘッド40の加圧面
40aとが角度θをもって、液晶駆動用半導体チップ1
5’をパネル受台41に固定された透明基板3’への実
装が行われた場合には、図10(a)に示すように、2
0a>19a>17d>21a>22a、図10(b)
に示すように、20b>19b>17e>21b>22
bの順に各電極にかかる圧力が弱くなり、電極10a・
抵抗電極22a間、電極10b・抵抗電極22b間の接
続抵抗がより増大する。
Thus, the liquid crystal driving semiconductor chip 1
When 5 ′ is mounted on the transparent substrate 3 ′ by the thermocompression bonding head 40, when pressure is not applied more to the side B where the resistance electrodes 22a and 22b are located than the other side, that is, the liquid crystal driving semiconductor chip 15 ′ And the pressing surface 40a of the thermocompression bonding head 40 have an angle θ, and the liquid crystal driving semiconductor chip 1
When 5 ′ is mounted on the transparent substrate 3 ′ fixed to the panel support 41, as shown in FIG.
0a>19a>17d>21a> 22a, FIG. 10 (b)
20b>19b>17e>21b> 22
The pressure applied to each electrode decreases in the order of b, and the electrodes 10a
The connection resistance between the resistance electrodes 22a and between the electrode 10b and the resistance electrode 22b further increases.

【0123】ここで、電極10a・抵抗電極22a間の
接続抵抗をRx1、電極10b・抵抗電極22b間の接
続抵抗をRx2とし、電源配線12aに流れる電流をI
a’、電源配線12aに印加される電源電圧をVa、電
源配線12bに印加される電圧をグランド(0V)、液
晶駆動用半導体チップ15’内の表示用駆動回路(抵抗
Ra・Rbを除く)に流れる電流をIc’とする。
Here, the connection resistance between the electrode 10a and the resistance electrode 22a is Rx1, the connection resistance between the electrode 10b and the resistance electrode 22b is Rx2, and the current flowing through the power supply wiring 12a is Ix.
a ', the power supply voltage applied to the power supply wiring 12a is Va, the voltage applied to the power supply wiring 12b is ground (0 V), the display drive circuit in the liquid crystal drive semiconductor chip 15' (excluding the resistors Ra and Rb). Is assumed to be Ic ′.

【0124】液晶駆動用半導体チップ15’と透明基板
3’とが接続不良である場合の電源配線12aに流れる
電流Ia’は、以下のような式で表される。
The current Ia 'flowing through the power supply wiring 12a when the connection between the liquid crystal driving semiconductor chip 15' and the transparent substrate 3 'is defective is represented by the following equation.

【0125】Ia’=Va/(Ra+Rx1)+Va/
(Rb+Rx2)+Ic’ 一方、電極10aと抵抗電極22aとが正常に接続され
ている際には、電流Iaは、以下のような式で表され
る。
Ia '= Va / (Ra + Rx1) + Va /
(Rb + Rx2) + Ic ′ On the other hand, when the electrode 10a is normally connected to the resistance electrode 22a, the current Ia is represented by the following equation.

【0126】Ia=Va/Ra+Va/Rb+Ic これにより、Ia−Ia’>0であることがわかる。Ia = Va / Ra + Va / Rb + Ic Thus, it is understood that Ia-Ia '> 0.

【0127】すなわち、液晶駆動用半導体チップ15’
が透明基板3’に対して角度θをもって実装された場合
には、圧力が低い電極側は接続不良になりやすい。
That is, the liquid crystal driving semiconductor chip 15 ′
Is mounted at an angle θ with respect to the transparent substrate 3 ′, the electrode side where the pressure is low tends to have poor connection.

【0128】本実施形態の液晶駆動用半導体チップ1
5’では、最外周部に抵抗16a・16bに接続された
抵抗電極20a・20b・22a・22bが配置されて
いるため、どちらかに傾いて液晶駆動用半導体チップ1
5’が実装された場合には、圧力の低い側の電極同士に
接触不良が起きやすくなる。この接触不良箇所がある
と、その部分に抵抗が生じるため、抵抗が大きくなり抵
抗16aまたは抵抗16bに流れる電流が小さくなる。
Semiconductor chip 1 for driving liquid crystal of the present embodiment
In 5 ', since the resistive electrodes 20a, 20b, 22a, and 22b connected to the resistors 16a and 16b are arranged on the outermost peripheral portion, the liquid crystal driving semiconductor chip 1 is tilted to one side.
When 5 ′ is mounted, poor contact is likely to occur between the electrodes on the low pressure side. If there is a poor contact portion, a resistance is generated at that portion, so that the resistance increases and the current flowing through the resistor 16a or 16b decreases.

【0129】以上のことから、電流Ia’は、正常な接
続が行われている場合の電流Iaよりも小さくなる。さ
らに、実施形態1・2で説明した抵抗電極22a・22
bが、電極18、電源電極21a・21bと同じライン
上に配置されている場合、あるいは抵抗電極20a・2
0bが、電極17、電源電極19a・19bと同じライ
ン上に配置されている場合の接続不良時の電流Ia’よ
りも本実施形態における電流Ia’の方が小さくなり、
液晶駆動用半導体チップ15’と透明基板3’上に形成
された各電極との接続が不完全であることをより確実に
検出できる。
As described above, the current Ia 'is smaller than the current Ia when a normal connection is made. Furthermore, the resistance electrodes 22a and 22 described in the first and second embodiments are used.
b is disposed on the same line as the electrode 18 and the power supply electrodes 21a and 21b, or
The current Ia ′ in the present embodiment is smaller than the current Ia ′ at the time of poor connection when 0b is disposed on the same line as the electrode 17 and the power supply electrodes 19a and 19b,
Incomplete connection between the liquid crystal driving semiconductor chip 15 'and each electrode formed on the transparent substrate 3' can be more reliably detected.

【0130】同様に、液晶駆動用半導体チップ15’が
熱圧着ヘッド40により、透明基板3’に実装される抵
抗電極20b・22bが位置する辺A側に加わる圧力が
低かった場合、すなわち、液晶駆動用半導体チップ1
5’の面と熱圧着ヘッド40の加圧面40aとが角度θ
をもって、液晶駆動用半導体チップ15’をパネル受台
41に固定された透明基板3’への実装が行われる場合
には、図11(a)に示すように、20a>17d>1
9a>17a>17b>17c>19b>17e>20
b、図11(b)に示すように、22a>17d>21
a>18a>18b>18c>21b>17a>22b
の順に各電極に加えられる圧力は弱くなる。
Similarly, when the pressure applied to the side A of the semiconductor chip 15 ′ for driving the liquid crystal by the thermocompression bonding head 40 on the side A where the resistance electrodes 20 b and 22 b mounted on the transparent substrate 3 ′ is low, Driving semiconductor chip 1
5 ′ and the pressing surface 40a of the thermocompression bonding head 40 have an angle θ.
When the semiconductor chip 15 ′ for driving the liquid crystal is mounted on the transparent substrate 3 ′ fixed to the panel support 41, as shown in FIG. 11A, 20 a> 17 d> 1
9a>17a>17b>17c>19b>17e> 20
b, as shown in FIG. 11B, 22a>17d> 21
a>18a>18b>18c>21b>17a> 22b
In this order, the pressure applied to each electrode decreases.

【0131】よって、電極10b・抵抗電極22b間、
電極9b・抵抗電極20b間の接続抵抗をRy1・Ry
2とすると、電源配線12aに流れる電流Ia’は以下
のような式で表される。
Therefore, between the electrode 10b and the resistance electrode 22b,
The connection resistance between the electrode 9b and the resistance electrode 20b is Ry1 · Ry
Assuming that the current is 2, the current Ia ′ flowing through the power supply wiring 12a is expressed by the following equation.

【0132】Ia’=Va/Ra+Va/(Rb+Ry
1+Ry2)+Ic’ これにより、電極10aと抵抗電極22aとが正常に接
続されている場合の電流Ia(=Va/Ra+Va/R
b+Ic)よりも、電流量が小さくなる。さらに、抵抗
電極20a・22aが電極17dの位置するE−E’線
(辺Cと平行のライン)上に配置されており、かつ抵抗
電極20b・22bが、電極17eの位置するF−F’
線(辺Aと平行のライン)上に配置されている場合より
も電流値が小さくなることから、電流Ia’を測定する
ことにより、液晶駆動用半導体チップ15’と透明基板
3’との接続不良をより確実に検出することができる。
Ia '= Va / Ra + Va / (Rb + Ry
1 + Ry2) + Ic '. Thus, the current Ia (= Va / Ra + Va / R) when the electrode 10a and the resistance electrode 22a are normally connected.
The current amount is smaller than (b + Ic). Further, the resistance electrodes 20a and 22a are arranged on an EE 'line (a line parallel to the side C) where the electrode 17d is located, and the resistance electrodes 20b and 22b are located on the FF' where the electrode 17e is located.
Since the current value is smaller than the case where they are arranged on a line (a line parallel to the side A), by measuring the current Ia ', the connection between the liquid crystal driving semiconductor chip 15' and the transparent substrate 3 'is made. Defects can be more reliably detected.

【0133】また、実装接続時には正常であっても、液
晶駆動用半導体チップ15’が斜めに実装接続されてい
る場合には、製品化後の長期間の使用中に徐々に接続不
良になってしまう問題がある。しかし、本実施形態の液
晶駆動用半導体チップ15’によれば、抵抗電極20a
・20b・22a・22bが、液晶駆動用半導体チップ
15’の最も外周側、つまり、最も接続不良になりやす
い位置に設けられているため、接続不良を敢えて生じや
すくすることで液晶駆動用半導体チップ15’が斜めに
実装されていることを検出でき、将来的に発生する予備
的な接続不良まで発見できる。
In addition, even if the connection is normal during mounting and connection, if the liquid crystal driving semiconductor chip 15 ′ is mounted and connected diagonally, the connection gradually becomes defective during long-term use after commercialization. There is a problem. However, according to the liquid crystal driving semiconductor chip 15 'of the present embodiment, the resistance electrode 20a
Since 20b, 22a, and 22b are provided at the outermost peripheral side of the liquid crystal driving semiconductor chip 15 ', that is, at the position where connection failure is most likely to occur, the liquid crystal driving semiconductor chip is intentionally liable to cause connection failure. 15 'can be detected to be mounted diagonally, and even a preliminary connection failure that will occur in the future can be found.

【0134】以上により、より確実に接続不良の発生を
抑え、接続信頼性の高い液晶駆動用半導体チップ15’
を得ることができる。
As described above, the occurrence of connection failure is more reliably suppressed, and the liquid crystal driving semiconductor chip 15 'having high connection reliability is obtained.
Can be obtained.

【0135】以上のように、実施形態1・2および3で
は、異方性導電膜を介して表示用駆動装置をガラス基板
に実装する場合について説明したが、本発明はこれに限
定されるものではなく、例えば、導電性接着剤を用いて
表示用駆動装置をガラス基板に実装する場合等にも適用
することが可能である。また、基板としては、ガラス基
板、石英基板以外にも、異方性導電膜や接着剤に、例え
ば、光の照射により硬化する樹脂等のように低い温度で
硬化する接着剤を用いれば、プラスチック基板に適用す
ることも可能である。
As described above, in the first, second, and third embodiments, the case where the display driving device is mounted on the glass substrate via the anisotropic conductive film has been described. However, the present invention is not limited to this. Instead, for example, the present invention can be applied to a case where a display driving device is mounted on a glass substrate using a conductive adhesive. Further, as the substrate, in addition to the glass substrate and the quartz substrate, if an anisotropic conductive film or an adhesive is used, for example, if an adhesive that cures at a low temperature such as a resin that cures by light irradiation is used, a plastic may be used. It is also possible to apply to a substrate.

【0136】また、実施形態1・2および3では、表示
装置として液晶表示装置を用いて説明したが、本発明は
これに限定されるものではなく、例えば、EL表示装
置、エレクトロクロミック表示装置等でCOG方式の実
装が行われる場合に適用することも可能である。
In the first, second and third embodiments, a liquid crystal display device has been described as a display device. However, the present invention is not limited to this. For example, an EL display device, an electrochromic display device, etc. It is also possible to apply the present invention when the COG method is implemented.

【0137】[0137]

【発明の効果】本発明の表示用駆動装置は、以上のよう
に、表示用駆動回路とは未接続の抵抗と、該抵抗の両端
にそれぞれ接続された抵抗電極とを備えており、実装接
続時には、上記抵抗電極に対応する位置に設けられた第
2の電極を介して、上記抵抗の両端がそれぞれ異なる電
位を有する電源配線に接続される構成である。
As described above, the display driving device according to the present invention includes the resistor not connected to the display driving circuit and the resistance electrodes respectively connected to both ends of the resistor. In some cases, both ends of the resistor are connected to power supply wires having different potentials via a second electrode provided at a position corresponding to the resistor electrode.

【0138】それゆえ、表示用駆動装置に備えられた抵
抗が接続された電源配線に流れる電流を測定すること
で、表示用駆動装置に形成された第1の電極と基板に形
成された第2の電極とが接続不良であるか否かを容易に
判定できるという効果を奏する。これにより、接続不良
であった場合には、接続不良の表示用駆動装置を取り除
いて、再度表示用駆動装置を実装することにより、接続
信頼性の高い表示用駆動装置を得ることができる。
Therefore, by measuring the current flowing through the power supply wiring connected to the resistor provided in the display driving device, the first electrode formed on the display driving device and the second electrode formed on the substrate are measured. This is advantageous in that it can be easily determined whether or not the connection with the electrode is defective. Thus, when the connection is defective, the display drive having the poor connection is removed, and the display drive is mounted again, whereby a display drive with high connection reliability can be obtained.

【0139】すなわち、表示用駆動装置に形成された第
1の電極と表示装置の基板に形成された第2の電極とが
接続不良である場合には、接続不良部分の抵抗によって
全体の抵抗値が大きくなる。また、表示用駆動装置に設
けた抵抗値は、所定の値で設けられている既知の値であ
るため、第1の電極と第2の電極との接続が正常な場合
に電源配線を流れる電流を規定値とできる。よって、接
続不良が有る場合には、電源配線に流れる電流値が、接
続不良が無い場合の電流値よりも小さくなるため、電流
値を規定値と比較するだけで接続不良であるか否かが判
定できる。
That is, when the first electrode formed on the display driving device and the second electrode formed on the substrate of the display device have a poor connection, the overall resistance value is determined by the resistance of the poor connection portion. Becomes larger. Further, since the resistance value provided in the display driving device is a known value provided as a predetermined value, the current flowing through the power supply wiring when the connection between the first electrode and the second electrode is normal. Can be the specified value. Therefore, when there is a connection failure, the current value flowing through the power supply wiring is smaller than the current value when there is no connection failure, and it is only necessary to compare the current value with the specified value to determine whether the connection is defective. Can be determined.

【0140】また、接続抵抗検査を行うのに、接続不良
検査用の配線パターンを基板上に形成する必要がないの
で、基板の額縁部分の面積が拡大されることはない。よ
って、例えば、液晶テレビ等の商品に本発明に係る表示
装置を適用した場合でも、その商品にデザイン上の制約
を与えることを回避できる。
Further, since it is not necessary to form a wiring pattern for a connection failure test on the substrate to perform the connection resistance test, the area of the frame portion of the substrate does not increase. Therefore, for example, even when the display device according to the present invention is applied to a product such as a liquid crystal television, it is possible to avoid giving a design constraint to the product.

【0141】さらに、上記の構成によれば、表示用駆動
装置の内部に抵抗が設けられており、基板上に形成され
ている電源配線に流れる電流値の変化から、表示用駆動
装置の接続不良を判定しているため、電流検査工程にお
いて、同時に接続不良の検査を行うことができる。よっ
て、従来の接続不良だけを調べる検査工程を省略でき、
製造効率を向上させることができるとともに、製品のコ
ストダウンが可能になる。
Further, according to the above configuration, the resistance is provided inside the display driving device, and the connection of the display driving device is determined by the change in the value of the current flowing through the power supply wiring formed on the substrate. Is determined, the connection failure can be inspected at the same time in the current inspection step. Therefore, it is possible to omit the conventional inspection process for examining only the connection failure,
The manufacturing efficiency can be improved, and the cost of the product can be reduced.

【0142】本発明の表示用駆動装置は、以上のよう
に、表示用駆動回路と一端のみが電気的に接続されてい
る抵抗と、該抵抗の他端に接続された抵抗電極を備えて
おり、実装接続時には、上記抵抗の他端が接続された抵
抗電極は、上記第2の電極を介して、上記抵抗の一端が
接続されている表示用駆動回路の電源配線とは異なる電
位を有する電源配線に接続される構成である。
As described above, the display driving device of the present invention is provided with the resistor having only one end electrically connected to the display driving circuit and the resistance electrode connected to the other end of the resistor. At the time of mounting connection, the resistance electrode to which the other end of the resistor is connected is connected to the power supply having a potential different from the power supply wiring of the display drive circuit to which the one end of the resistor is connected via the second electrode. This is a configuration that is connected to wiring.

【0143】それゆえ、表示用駆動装置に備えられた抵
抗が接続された電源配線に流れる電流を測定すること
で、表示用駆動装置に形成された第1の電極と基板に形
成された第2の電極とが接続不良であるか否かを容易に
判定できるという効果を奏する。これにより、接続不良
であった場合には、接続不良の表示用駆動装置を取り除
いて、再度表示用駆動装置を実装することにより、接続
信頼性の高い表示用駆動装置を得ることができる。
Therefore, by measuring the current flowing through the power supply wiring connected to the resistor provided in the display driving device, the first electrode formed on the display driving device and the second electrode formed on the substrate are measured. This is advantageous in that it can be easily determined whether or not the connection with the electrode is defective. Thus, when the connection is defective, the display drive having the poor connection is removed, and the display drive is mounted again, whereby a display drive with high connection reliability can be obtained.

【0144】また、本発明は、表示用駆動装置におい
て、上記抵抗の一端が接続された抵抗電極が表示用駆動
回路の電源配線に接続されており、他端が接続された抵
抗電極が電気的に開放状態であるため、表示用駆動装置
の幅が狭い場合の接続不良検査に有効である。例えば、
抵抗の他端が接続された一方の抵抗電極側の接続不良検
査だけでよい場合や、表示用駆動装置に形成された抵抗
の一端の抵抗電極を形成できない場合、さらには基板に
形成される配線パターンを表示用駆動装置の両端まで形
成できない場合であっても、表示用駆動装置の第1の電
極と基板上の第2の電極との接続不良を検出できる。
Further, according to the present invention, in the display driving device, the resistance electrode to which one end of the resistor is connected is connected to the power supply wiring of the display driving circuit, and the resistance electrode to which the other end is connected is electrically connected. This is effective for a connection failure inspection when the width of the display driving device is narrow. For example,
When only the connection failure test on one of the resistance electrodes to which the other end of the resistance is connected is sufficient, or when the resistance electrode at one end of the resistance formed on the display driving device cannot be formed, furthermore, the wiring formed on the substrate Even when the pattern cannot be formed up to both ends of the display driving device, a connection failure between the first electrode of the display driving device and the second electrode on the substrate can be detected.

【0145】また、上記抵抗電極は、第1の電極が配置
されているラインよりも外周側に配置されていることが
より好ましい。
Further, it is more preferable that the resistance electrode is arranged on the outer peripheral side of the line on which the first electrode is arranged.

【0146】それゆえ、熱圧着ヘッド等の実装装置を用
いて表示用駆動装置を表示装置に実装する場合に、熱圧
着ヘッド等の微小な傾きにより表示用駆動装置の各電極
に均一な正規の圧力が加わらなかった場合に、長期使用
することで生じる表示用駆動装置の第1の電極と表示装
置の基板上の第2の電極との接続不良も検出することが
でき、コスト的にも有利で信頼性の高い表示用駆動装置
を得ることができるという効果を奏する。
Therefore, when the display driving device is mounted on the display device using a mounting device such as a thermocompression bonding head, a uniform regular electrode is uniformly applied to each electrode of the display driving device due to the small inclination of the thermocompression head or the like. If no pressure is applied, a poor connection between the first electrode of the display driving device and the second electrode on the substrate of the display device caused by long-term use can also be detected, which is advantageous in cost. Therefore, it is possible to obtain a highly reliable display driving device.

【0147】本発明の表示装置は、以上のように、表示
用駆動装置は、表示用駆動回路と未接続の抵抗と、該抵
抗の両端にそれぞれ接続された抵抗電極とを備えてお
り、実装接続時には、上記抵抗電極に対応する位置に設
けられた第2の電極を介して、上記抵抗の両端がそれぞ
れ異なる電位を有する上記電源配線に接続される構成で
ある。
As described above, in the display device of the present invention, the display drive device is provided with the resistor not connected to the display drive circuit and the resistance electrodes respectively connected to both ends of the resistor. At the time of connection, both ends of the resistor are connected to the power supply line having different potentials via a second electrode provided at a position corresponding to the resistor electrode.

【0148】それゆえ、表示用駆動装置に備えられた抵
抗が接続された電源配線に流れる電流を測定すること
で、表示用駆動装置に形成された第1の電極と基板に形
成された第2の電極とが接続不良であるか否かを容易に
判定できるという効果を奏する。これにより、接続不良
であった場合には、接続不良の表示用駆動装置を取り除
いて、再度表示用駆動装置を実装することにより、接続
信頼性の高い表示装置を得ることができる。
Therefore, by measuring the current flowing through the power supply wiring connected to the resistor provided in the display driving device, the first electrode formed on the display driving device and the second electrode formed on the substrate are measured. This is advantageous in that it can be easily determined whether or not the connection with the electrode is defective. Thus, when the connection is defective, the display driving device having the defective connection is removed, and the display driving device is mounted again, whereby a display device with high connection reliability can be obtained.

【0149】また、接続不良検査を行うのに、接続不良
検査用の配線パターンを基板上に形成する必要がないの
で、基板の額縁部分の面積が拡大されることはない。よ
って、例えば、液晶テレビ等の商品に本発明に係る表示
装置を適用した場合でも、その商品にデザイン上の制約
を与えることを回避できる。
Further, since it is not necessary to form a wiring pattern for the connection failure inspection on the substrate to perform the connection failure inspection, the area of the frame portion of the substrate does not increase. Therefore, for example, even when the display device according to the present invention is applied to a product such as a liquid crystal television, it is possible to avoid giving a design constraint to the product.

【0150】さらに、上記の構成によれば、表示用駆動
装置の内部に抵抗が設けられており、基板上に形成され
ている第2の電極間を接続する電源配線に流れる電流値
の変化から、表示用駆動装置の接続不良を判定している
ため、電流検査工程において、同時に接続不良の検査を
行うことができる。よって、従来の接続不良だけを調べ
る検査工程を省略でき、製造効率を向上させることがで
きるとともに、製品のコストダウンが可能になる。
Further, according to the above configuration, the resistance is provided inside the display driving device, and the resistance is provided from the change in the value of the current flowing through the power supply wiring connecting the second electrodes formed on the substrate. Since the connection failure of the display driving device is determined, the connection failure can be inspected simultaneously in the current inspection step. Therefore, the conventional inspection process for examining only the connection failure can be omitted, the manufacturing efficiency can be improved, and the cost of the product can be reduced.

【0151】本発明の表示装置は、以上のように、上記
表示用駆動装置は、表示用駆動回路と一端のみが電気的
に接続されている抵抗と、該抵抗の他端に接続された抵
抗電極を備えており、実装接続時には、上記抵抗の他端
が接続された抵抗電極は、上記第2の電極を介して、上
記抵抗の一端が接続されている表示用駆動回路の電源配
線とは異なる電位を有する電源配線に接続される構成で
ある。
As described above, in the display device of the present invention, the display driving device includes a resistor having only one end electrically connected to the display driving circuit, and a resistor connected to the other end of the resistor. In the mounting connection, the resistance electrode to which the other end of the resistor is connected is connected to the power supply wiring of the display drive circuit to which one end of the resistor is connected via the second electrode. This is a configuration in which power supply lines having different potentials are connected.

【0152】それゆえ、表示用駆動装置に備えられた抵
抗が接続された電源配線に流れる電流を測定すること
で、表示用駆動装置に形成された第1の電極と基板に形
成された第2の電極とが接続不良であるか否かを容易に
判定できるという効果を奏する。これにより、接続不良
であった場合には、接続不良の表示用駆動装置を取り除
いて、再度表示用駆動装置を実装することにより、接続
信頼性の高い表示装置を得ることができる。
Therefore, by measuring the current flowing through the power supply wiring connected to the resistor provided in the display driving device, the first electrode formed on the display driving device and the second electrode formed on the substrate are measured. This is advantageous in that it can be easily determined whether or not the connection with the electrode is defective. Thus, when the connection is defective, the display driving device having the defective connection is removed, and the display driving device is mounted again, whereby a display device with high connection reliability can be obtained.

【0153】また、本発明の表示用駆動装置は、上記抵
抗の一端が接続された抵抗電極が表示用駆動回路の電源
配線に接続されており、他端が接続された抵抗電極が電
気的に開放状態であるため、表示用駆動装置の幅が狭い
場合の接続不良検査に有効である。例えば、抵抗の他端
が接続された一方の抵抗電極側の接続不良検査だけでよ
い場合や、表示用駆動装置に形成された抵抗の一端の抵
抗電極を形成できない場合、さらには基板に形成される
配線パターンを表示用駆動装置の両端まで形成できない
場合であっても、表示用駆動装置の第1の電極と基板上
の第2の電極との接続不良を検出できる。
Further, in the display driving device of the present invention, the resistance electrode to which one end of the resistor is connected is connected to the power supply wiring of the display driving circuit, and the resistance electrode to which the other end is connected is electrically connected. Since it is in the open state, it is effective for a connection failure inspection when the width of the display driving device is small. For example, when only a connection failure test on one resistor electrode side to which the other end of the resistor is connected is required, or when a resistor electrode at one end of the resistor formed on the display driving device cannot be formed, furthermore, the resistor is formed on the substrate. Even if a wiring pattern cannot be formed up to both ends of the display driving device, a connection failure between the first electrode of the display driving device and the second electrode on the substrate can be detected.

【0154】また、また、上記抵抗電極は、第1の電極
が配置されているラインよりも上記表示用駆動装置の外
周側に配置されていることがより好ましい。
In addition, it is more preferable that the resistance electrode is arranged on the outer peripheral side of the display driving device with respect to the line on which the first electrode is arranged.

【0155】それゆえ、熱圧着ヘッド等の実装装置を用
いて表示用駆動装置を表示装置に実装する場合に、熱圧
着ヘッド等の微小な傾きにより表示用駆動装置の各電極
に均一な正規の圧力が加わらなかった場合に、長期使用
することで生じる表示用駆動装置の第1の電極と基板上
の第2の電極との接続不良も検出することができ、コス
ト的にも有利で信頼性の高い表示装置を得ることができ
るという効果を奏する。
Therefore, when the display driving device is mounted on the display device by using a mounting device such as a thermocompression bonding head, a small regular inclination of the thermocompression head or the like causes uniform uniform and regular electrodes on the electrodes of the display driving device. When no pressure is applied, a poor connection between the first electrode of the display driving device and the second electrode on the substrate caused by long-term use can be detected, which is advantageous in terms of cost and reliability. The effect that a display device with high display quality can be obtained is obtained.

【0156】本発明の表示装置の検査方法は、上記表示
装置に上記表示用駆動装置に上記電源配線から電力を供
給した際に、上記電源配線に流れる電流を測定して、測
定結果から第1の電極と第2の電極との接続不良を検出
する方法である。
The method for inspecting a display device according to the present invention is characterized in that, when power is supplied to the display drive device from the power supply wiring to the display device, a current flowing through the power supply wiring is measured, and the first result is determined from the measurement result. This is a method for detecting a connection failure between the first electrode and the second electrode.

【0157】それゆえ、上記基板上に形成された電源配
線に流れる電流を測定するだけで、表示用駆動装置に形
成された第1の電極と上記基板に形成された第2の電極
との接続不良を容易に検出できるという効果を奏する。
Therefore, the connection between the first electrode formed on the display driving device and the second electrode formed on the substrate is performed only by measuring the current flowing through the power supply wiring formed on the substrate. There is an effect that defects can be easily detected.

【0158】また、基板に形成された電源配線に流れる
電流を測定するだけで容易に接続不良を判定できるた
め、接続不良の検査を電流検査と同時に行うことが可能
になる。よって、検査工程の一つを省略でき、製造効率
を向上させて、製品のコストダウンを実現できる。さら
に、上記抵抗の他端が接続された一方の抵抗電極が、表
示用駆動回路の電源配線と接続されている表示装置で
は、表示用駆動装置の幅が狭く、接続不良の検査を行う
ことが困難な場合であっても、接続不良検査を実施する
ことができる。
Further, the connection failure can be easily determined only by measuring the current flowing through the power supply wiring formed on the substrate, so that the connection failure can be inspected simultaneously with the current inspection. Therefore, one of the inspection steps can be omitted, the manufacturing efficiency can be improved, and the cost of the product can be reduced. Further, in a display device in which one resistance electrode to which the other end of the resistor is connected is connected to the power supply wiring of the display driving circuit, the width of the display driving device is narrow, and the connection failure can be inspected. Even in a difficult case, a connection failure inspection can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態に関する液晶表示装置に備
えられた液晶表示パネルの透明基板の平面図である。
FIG. 1 is a plan view of a transparent substrate of a liquid crystal display panel provided in a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の液晶表示装置の透明基板に接続する液晶
駆動用半導体チップの透視図である。
FIG. 2 is a perspective view of a liquid crystal driving semiconductor chip connected to a transparent substrate of the liquid crystal display device of FIG. 1;

【図3】図1の透明基板上に、図2の液晶駆動用半導体
チップを実装した状態を示す平面図である。
3 is a plan view showing a state where the semiconductor chip for driving a liquid crystal of FIG. 2 is mounted on the transparent substrate of FIG. 1;

【図4】図3のA−A’線の矢視断面図である。FIG. 4 is a sectional view taken along line A-A ′ of FIG. 3;

【図5】本発明の他の実施形態に関する液晶駆動用半導
体チップの透視図である。
FIG. 5 is a perspective view of a liquid crystal driving semiconductor chip according to another embodiment of the present invention.

【図6】本発明のさらに他の実施形態に関する液晶表示
装置に備えられた液晶表示パネルの透明基板の平面図で
ある。
FIG. 6 is a plan view of a transparent substrate of a liquid crystal display panel provided in a liquid crystal display device according to still another embodiment of the present invention.

【図7】図6の液晶表示装置の透明基板に接続する液晶
駆動用半導体チップの透視図である。
FIG. 7 is a perspective view of a liquid crystal driving semiconductor chip connected to a transparent substrate of the liquid crystal display device of FIG. 6;

【図8】図6の透明基板上に、図7の液晶駆動用半導体
チップを実装した状態を示す平面図である。
8 is a plan view showing a state where the liquid crystal driving semiconductor chip of FIG. 7 is mounted on the transparent substrate of FIG. 6;

【図9】図8のG−G’線の矢視断面図である。9 is a sectional view taken along the line G-G 'of FIG.

【図10】(a)・(b)は、熱圧着装置を用いて、図
7の液晶駆動用半導体チップを図6の液晶表示装置の透
明基板に実装する工程を示す側面図である。
FIGS. 10A and 10B are side views showing a process of mounting the liquid crystal driving semiconductor chip of FIG. 7 on a transparent substrate of the liquid crystal display device of FIG. 6 using a thermocompression bonding apparatus.

【図11】(a)・(b)は、熱圧着装置を用いて、図
7の液晶駆動用半導体チップを図6の液晶表示装置の透
明基板に実装する工程を示す側面図である。
FIGS. 11A and 11B are side views showing a process of mounting the liquid crystal driving semiconductor chip of FIG. 7 on a transparent substrate of the liquid crystal display device of FIG. 6 using a thermocompression bonding device.

【図12】熱圧着装置を用いて、従来の液晶駆動用半導
体チップを液晶表示装置の透明基板に実装する工程を示
す側面図である。
FIG. 12 is a side view showing a step of mounting a conventional liquid crystal driving semiconductor chip on a transparent substrate of a liquid crystal display device using a thermocompression bonding apparatus.

【図13】従来の液晶表示装置の透明基板の平面図であ
る。
FIG. 13 is a plan view of a transparent substrate of a conventional liquid crystal display device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・1’ 液晶表示パネル 2 透明基板(基板) 3・3’ 透明基板(基板) 5 電極(第2の電極) 6 電極(第2の電極) 7a・7b 電極(第2の電極) 8a・8b 電極(第2の電極) 9a・9b 電極(第2の電極) 10a・10b 電極(第2の電極) 11 信号配線 12 配線 15・15’ 液晶駆動用半導体チップ(表示用駆動
装置) 16a 抵抗値Raの抵抗 16b 抵抗値Rbの抵抗 17 電極(第1の電極) 18 電極(第1の電極) 19a・19b 電源電極(第1の電極) 20a・20b 抵抗電極 20a(NC)・20b(NC)抵抗電極(非接続) 21a・21b 電源電極(第1の電極) 22a・22b 抵抗電極 30 異方性導電接着材 31 シール材 32 液晶 35 配線 40 熱圧着ヘッド 40a 加圧面 41 パネル受台
1 ・ 1 ′ Liquid crystal display panel 2 Transparent substrate (substrate) 3 ・ 3 ′ Transparent substrate (substrate) 5 Electrode (second electrode) 6 Electrode (second electrode) 7a ・ 7b Electrode (second electrode) 8a ・8b electrode (second electrode) 9a / 9b electrode (second electrode) 10a / 10b electrode (second electrode) 11 signal wiring 12 wiring 15/15 'liquid crystal driving semiconductor chip (display driving device) 16a resistance Resistance of value Ra 16b Resistance of resistance Rb 17 Electrode (first electrode) 18 Electrode (first electrode) 19a / 19b Power supply electrode (first electrode) 20a / 20b Resistance electrode 20a (NC) / 20b (NC ) Resistive electrode (not connected) 21a / 21b Power supply electrode (first electrode) 22a / 22b Resistive electrode 30 Anisotropic conductive adhesive 31 Sealant 32 Liquid crystal 35 Wiring 40 Thermocompression head 40a Pressurizing surface 41 Panel support

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G09F 9/35 G09F 9/35 Fターム(参考) 2G014 AA01 AB21 AC09 2H088 FA11 HA01 HA02 HA06 MA20 2H092 GA40 GA45 GA49 GA60 NA30 PA01 PA06 5C094 AA41 AA43 BA01 BA43 CA19 EA03 EA04 EA07 5G435 AA17 AA19 BB12 CC09 KK05 KK09 KK10 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) G09F 9/35 G09F 9/35 F-term (Reference) 2G014 AA01 AB21 AC09 2H088 FA11 HA01 HA02 HA06 MA20 2H092 GA40 GA45 GA49 GA60 NA30 PA01 PA06 5C094 AA41 AA43 BA01 BA43 CA19 EA03 EA04 EA07 5G435 AA17 AA19 BB12 CC09 KK05 KK09 KK10

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】実装接続用の第1の電極を備え、 表示装置の基板上に実装接続されると、上記第1の電極
は、上記基板上に形成された第2の電極を介して電源配
線に接続され、電源を供給される表示用駆動装置におい
て、 表示用駆動回路とは未接続の抵抗と、該抵抗の両端にそ
れぞれ接続された抵抗電極とを備えており、 実装接続時には、上記抵抗電極に対応する位置に設けら
れた第2の電極を介して、上記抵抗の両端がそれぞれ異
なる電位を有する電源配線に接続されることを特徴とす
る表示用駆動装置。
A first electrode for mounting connection; when the first electrode is mounted and connected on a substrate of a display device, the first electrode is connected to a power source via a second electrode formed on the substrate; In a display drive device connected to wiring and supplied with power, the display drive circuit includes a resistor not connected to the display drive circuit, and resistance electrodes respectively connected to both ends of the resistor. A display driving device, wherein both ends of the resistor are connected to power supply wires having different potentials via a second electrode provided at a position corresponding to the resistor electrode.
【請求項2】実装接続用の第1の電極を備え、 表示装置の基板上に実装接続されると、上記第1の電極
は、上記基板上に形成された第2の電極を介して電源配
線に接続され、電源を供給される表示用駆動装置におい
て、 表示用駆動回路と一端のみが電気的に接続されている抵
抗と、該抵抗の他端に接続された抵抗電極を備えてお
り、 実装接続時には、上記抵抗の他端が接続された抵抗電極
は、上記第2の電極を介して、上記抵抗の一端が接続さ
れている表示用駆動回路の電源配線とは異なる電位を有
する電源配線に接続されることを特徴とする表示用駆動
装置。
2. A display device comprising: a first electrode for mounting connection; when mounted on a substrate of a display device, the first electrode is connected to a power supply via a second electrode formed on the substrate. A display driving device connected to a wiring and supplied with power, comprising: a resistor having only one end electrically connected to the display driving circuit; and a resistance electrode connected to the other end of the resistor. At the time of mounting connection, the resistance electrode to which the other end of the resistor is connected is connected via the second electrode to a power supply line having a potential different from that of the display drive circuit to which one end of the resistor is connected. A display driving device, which is connected to a display device.
【請求項3】上記抵抗電極は、第1の電極が配置されて
いるラインよりも外周側に配置されていることを特徴と
する請求項1または2に記載の表示用駆動装置。
3. The display driving device according to claim 1, wherein the resistance electrode is arranged on an outer peripheral side of a line on which the first electrode is arranged.
【請求項4】実装接続用の第1の電極を備えた表示用駆
動装置と、 異なる電位を有する複数の電源配線に接続され、上記表
示用駆動装置の実装接続時に上記第1の電極と接続され
る第2の電極が形成された基板とを備えた表示装置にお
いて、 上記表示用駆動装置は、表示用駆動回路と未接続の抵抗
と、該抵抗の両端にそれぞれ接続された抵抗電極とを備
えており、 実装接続時には、上記抵抗電極に対応する位置に設けら
れた第2の電極を介して、上記抵抗の両端がそれぞれ異
なる電位を有する上記電源配線に接続されることを特徴
とする表示装置。
4. A display driving device having a first electrode for mounting connection, connected to a plurality of power supply wires having different potentials, and connected to the first electrode when mounting the display driving device. A display device including a substrate on which a second electrode is formed, wherein the display driving device includes a resistor that is not connected to the display driving circuit and resistance electrodes respectively connected to both ends of the resistor. A display, wherein at the time of mounting connection, both ends of the resistor are connected to the power supply wiring having different potentials via a second electrode provided at a position corresponding to the resistor electrode. apparatus.
【請求項5】実装接続用の第1の電極を備えた表示用駆
動装置と、 上記表示用駆動装置を実装接続する基板上に、異なる電
位を有する複数の電源配線に接続され、上記表示用駆動
装置の実装接続時に上記第1の電極と接続される第2の
電極とを備えた表示装置において、 上記表示用駆動装置は、表示用駆動回路と一端のみが電
気的に接続されている抵抗と、該抵抗の他端に接続され
た抵抗電極とを備えており、 実装接続時には、上記抵抗の他端が接続された抵抗電極
は、上記第2の電極を介して、上記抵抗の一端が接続さ
れている表示用駆動回路の電源配線とは異なる電位を有
する電源配線に接続されることを特徴とする表示装置。
5. A display driving device provided with a first electrode for mounting connection, and a plurality of power supply wirings having different potentials are connected on a substrate on which the display driving device is mounted and connected. A display device comprising: a second electrode connected to the first electrode when the drive device is mounted and connected; wherein the display drive device includes a resistor having only one end electrically connected to the display drive circuit. And a resistor electrode connected to the other end of the resistor. When mounted and connected, the resistor electrode connected to the other end of the resistor has one end connected to the resistor via the second electrode. A display device which is connected to a power supply wiring having a potential different from a power supply wiring of a connected display driver circuit.
【請求項6】上記抵抗電極は、第1の電極が配置されて
いるラインよりも上記表示用駆動装置の外周側に配置さ
れていることを特徴とする請求項4または5に記載の表
示装置。
6. The display device according to claim 4, wherein the resistance electrode is disposed on the outer peripheral side of the display driving device with respect to a line on which the first electrode is disposed. .
【請求項7】上記請求項4〜6の何れか1項に記載の表
示装置に上記表示用駆動装置に上記電源配線から電力を
供給した際に、上記電源配線に流れる電流を測定して、
測定結果から第1の電極と第2の電極との接続不良を検
出することを特徴とする表示装置の検査方法。
7. A method according to claim 4, further comprising: measuring a current flowing through said power supply wiring when power is supplied to said display drive device from said power supply wiring to said display device.
A method for inspecting a display device, comprising detecting a connection failure between a first electrode and a second electrode from a measurement result.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009134011A2 (en) * 2008-04-28 2009-11-05 (주)실리콘웍스 Semiconductor chip and liquid crystal panel in lcd module, the lcd module, a method for connecting them and a method for confirming the connection
KR20170076189A (en) * 2015-12-24 2017-07-04 엘지디스플레이 주식회사 Display device
JP2021018386A (en) * 2019-07-23 2021-02-15 株式会社ジャパンディスプレイ Display device repair system

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009134011A2 (en) * 2008-04-28 2009-11-05 (주)실리콘웍스 Semiconductor chip and liquid crystal panel in lcd module, the lcd module, a method for connecting them and a method for confirming the connection
WO2009134011A3 (en) * 2008-04-28 2010-01-14 (주)실리콘웍스 Semiconductor chip and liquid crystal panel in lcd module, the lcd module, a method for connecting them and a method for confirming the connection
KR100952386B1 (en) * 2008-04-28 2010-04-14 주식회사 실리콘웍스 Method for connecting liquid crystal display module
KR20170076189A (en) * 2015-12-24 2017-07-04 엘지디스플레이 주식회사 Display device
KR102493578B1 (en) * 2015-12-24 2023-01-30 엘지디스플레이 주식회사 Display device
JP2021018386A (en) * 2019-07-23 2021-02-15 株式会社ジャパンディスプレイ Display device repair system
JP7292138B2 (en) 2019-07-23 2023-06-16 株式会社ジャパンディスプレイ Display device repair system

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