JP2002318198A - 撮像システム - Google Patents
撮像システムInfo
- Publication number
- JP2002318198A JP2002318198A JP2001123058A JP2001123058A JP2002318198A JP 2002318198 A JP2002318198 A JP 2002318198A JP 2001123058 A JP2001123058 A JP 2001123058A JP 2001123058 A JP2001123058 A JP 2001123058A JP 2002318198 A JP2002318198 A JP 2002318198A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- grains
- light
- shielding plate
- grain
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- Pending
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Adjustment And Processing Of Grains (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 簡単な構造で評価対象の穀粒の胴割粒を撮像
する。 【解決手段】 照明装置からの光は、斜めに形成された
遮蔽板によって各列別の穀粒を斜めから照明し、一つの
列の光源は一つの列の穀粒に対応し、そのため他の列を
照明することはない。遮蔽板によって方向を規制された
光は、穀粒の内部を斜めに透過し、行列の各要素毎に対
応して配置される撮像装置により透過画像が撮影され
る。斜めからの透過光により、穀粒に胴割れがある場合
にその亀裂により生じる乱反射が生じている部分の撮像
がしやすくなり、また、他の列からの光に影響を受ける
ことがなくなる。遮光板の角度を調整することにより、
穀粒に対して斜めに当てる光の角度を調整することがで
き、胴割れ粒の撮像を最適の状態にすることができる。
する。 【解決手段】 照明装置からの光は、斜めに形成された
遮蔽板によって各列別の穀粒を斜めから照明し、一つの
列の光源は一つの列の穀粒に対応し、そのため他の列を
照明することはない。遮蔽板によって方向を規制された
光は、穀粒の内部を斜めに透過し、行列の各要素毎に対
応して配置される撮像装置により透過画像が撮影され
る。斜めからの透過光により、穀粒に胴割れがある場合
にその亀裂により生じる乱反射が生じている部分の撮像
がしやすくなり、また、他の列からの光に影響を受ける
ことがなくなる。遮光板の角度を調整することにより、
穀粒に対して斜めに当てる光の角度を調整することがで
き、胴割れ粒の撮像を最適の状態にすることができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、穀粒の品質をその外
観像を解析することにより客観的に評価するために用い
る撮像システムに関するものである。
観像を解析することにより客観的に評価するために用い
る撮像システムに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、穀粒例えば米の品質等級を決定す
るためには、検査官が一定の基準に基づいて目視により
判定していた。しかし、従来のように検査官の目視によ
る場合は、検査官に多大な負担となっており、機械化が
望まれていた。
るためには、検査官が一定の基準に基づいて目視により
判定していた。しかし、従来のように検査官の目視によ
る場合は、検査官に多大な負担となっており、機械化が
望まれていた。
【０００３】本発明は上記要望に鑑みてなされたもので
あり、穀粒の胴割を自動的に検出する装置を提供するこ
とを目的とする。
あり、穀粒の胴割を自動的に検出する装置を提供するこ
とを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本願出願人は、機械化の
検討をするなかで、米粒の内部に亀裂を有する胴割粒に
ついては、米粒内部を通る透過光により評価する必要が
あることを発見した。胴割が米粒のほぼ中央で長さ方向
を横断するような面で亀裂を生じるものが大部分である
ため、図２に示すように透過させるべき光を斜めに当
て、これを斜めから撮像することが有効であると考えら
れる。すると、米粒２０１が胴割粒である場合は、図２
に示すように亀裂２０２部分で透過光が乱反射し、不良
部分のない整粒の場合に比較して場合に比較して暗くな
る。従って、以下のように構成した。
検討をするなかで、米粒の内部に亀裂を有する胴割粒に
ついては、米粒内部を通る透過光により評価する必要が
あることを発見した。胴割が米粒のほぼ中央で長さ方向
を横断するような面で亀裂を生じるものが大部分である
ため、図２に示すように透過させるべき光を斜めに当
て、これを斜めから撮像することが有効であると考えら
れる。すると、米粒２０１が胴割粒である場合は、図２
に示すように亀裂２０２部分で透過光が乱反射し、不良
部分のない整粒の場合に比較して場合に比較して暗くな
る。従って、以下のように構成した。
【０００５】上記課題を解決するため請求項１に係る撮
像システムは、穀粒をその外観に基づき評価するための
ものであって、所定の行数と列数に配列された穀粒を上
面から照明する照明装置と、前記照明装置から照らされ
て前記穀粒を透過した光を撮像する撮像装置とを備える
撮像システムにおいて、前記穀粒の各列又は各行間に遮
蔽板を配置し照明装置からの光を当該穀粒に当てるとと
もに、当該各遮蔽板を斜めに形成したものである。
像システムは、穀粒をその外観に基づき評価するための
ものであって、所定の行数と列数に配列された穀粒を上
面から照明する照明装置と、前記照明装置から照らされ
て前記穀粒を透過した光を撮像する撮像装置とを備える
撮像システムにおいて、前記穀粒の各列又は各行間に遮
蔽板を配置し照明装置からの光を当該穀粒に当てるとと
もに、当該各遮蔽板を斜めに形成したものである。
【０００６】また、請求項２に係る撮像システムは、請
求項１において、各遮蔽板の斜めの角度が変化可能にし
たものである。
求項１において、各遮蔽板の斜めの角度が変化可能にし
たものである。
【０００７】
【作用】請求項１に係る撮像システムにおいて次のよう
に作用する。照明装置からの光は、斜めに形成された遮
蔽板によって各列別の穀粒を斜めから照明し、一つの列
の光源は一つの列の穀粒に対応し、そのため他の列を照
明することはない。遮蔽板によって方向を規制された光
は、穀粒の内部を斜めに透過し、行列の各要素毎に対応
して配置される撮像装置により透過画像が撮影される。
斜めからの透過光により、穀粒に胴割れがある場合にそ
の亀裂により生じる乱反射が生じている部分の撮像がし
やすくなり、また、他の列からの光に影響を受けること
がなくなる。
に作用する。照明装置からの光は、斜めに形成された遮
蔽板によって各列別の穀粒を斜めから照明し、一つの列
の光源は一つの列の穀粒に対応し、そのため他の列を照
明することはない。遮蔽板によって方向を規制された光
は、穀粒の内部を斜めに透過し、行列の各要素毎に対応
して配置される撮像装置により透過画像が撮影される。
斜めからの透過光により、穀粒に胴割れがある場合にそ
の亀裂により生じる乱反射が生じている部分の撮像がし
やすくなり、また、他の列からの光に影響を受けること
がなくなる。
【０００８】また、請求項２に係る撮像システムは、請
求項１について説明した作用の他に、次のように作用す
る。遮光板の角度を調整することにより、穀粒に対して
斜めに当てる光の角度を調整することができ、胴割れ粒
の撮像を最適の状態にすることができる。
求項１について説明した作用の他に、次のように作用す
る。遮光板の角度を調整することにより、穀粒に対して
斜めに当てる光の角度を調整することができ、胴割れ粒
の撮像を最適の状態にすることができる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図を参照し
て説明する。図１は一実施例を説明する構成図である。
図１において、１０１は品質を評価されるため所定の行
列に配列された穀粒としての米粒、１０２は前記米粒を
所定の行列に所定数（ｍ行×ｎ列個）配列させ、米粒１
０１が配置された部分の穴以外は光を通さないトレイで
ある。１０３は光源であり、トレイ１０２上に配列され
た米粒１０１の１行ｎ個分（又は１列分）を照らすこと
ができるものをｍ行数分（又はｎ列数分）備えて全体を
照らすものであり、配列された前記米粒１０１の例えば
上方に位置させる。１０４は撮像装置であり、トレイ１
０２上に配列された米粒１０１の１行ｎ個分（又は１列
分）を各１個に対応して撮像できるものをｍ行数分（又
はｎ列数分）備えて撮像するものであり、配列された前
記米粒１０１の例えば下方に位置させる。１０５は遮蔽
板であり、前記穀粒１０１の各行（又は各列）間に配置
され、トレイ１０２に対し斜めに形成されている。１０
６は遮蔽板１０５を支持する回転軸であり、前記斜めに
形成する遮蔽板１０５の角度を調整できるようにする。
１０７は回転軸１０６を形成する基台である。光源１０
３は米粒１０１に対して斜めに光を透過させこれを撮像
装置１０４で撮像するものであるから、光源１０３は前
記遮蔽板１０５により分離され、１行分の光源１０３と
米粒１０１と撮像装置１０４とを結ぶ線は、トレイ１０
２に対して遮蔽板１０５に合わせて斜めになるように設
置される。１０８は撮像装置１０４による撮像画像を記
録する記録手段、１０９は解析手段であり、前記記録手
段１０８からの記録画像を解析し、解析結果に基づき当
該穀粒１０１に対して品質表示をし、若しくは当該穀粒
１０１を予め定められた区分に区分けし、評価する。１
１０は解析結果又は解析画像をモニタするためのモニタ
装置である。
て説明する。図１は一実施例を説明する構成図である。
図１において、１０１は品質を評価されるため所定の行
列に配列された穀粒としての米粒、１０２は前記米粒を
所定の行列に所定数（ｍ行×ｎ列個）配列させ、米粒１
０１が配置された部分の穴以外は光を通さないトレイで
ある。１０３は光源であり、トレイ１０２上に配列され
た米粒１０１の１行ｎ個分（又は１列分）を照らすこと
ができるものをｍ行数分（又はｎ列数分）備えて全体を
照らすものであり、配列された前記米粒１０１の例えば
上方に位置させる。１０４は撮像装置であり、トレイ１
０２上に配列された米粒１０１の１行ｎ個分（又は１列
分）を各１個に対応して撮像できるものをｍ行数分（又
はｎ列数分）備えて撮像するものであり、配列された前
記米粒１０１の例えば下方に位置させる。１０５は遮蔽
板であり、前記穀粒１０１の各行（又は各列）間に配置
され、トレイ１０２に対し斜めに形成されている。１０
６は遮蔽板１０５を支持する回転軸であり、前記斜めに
形成する遮蔽板１０５の角度を調整できるようにする。
１０７は回転軸１０６を形成する基台である。光源１０
３は米粒１０１に対して斜めに光を透過させこれを撮像
装置１０４で撮像するものであるから、光源１０３は前
記遮蔽板１０５により分離され、１行分の光源１０３と
米粒１０１と撮像装置１０４とを結ぶ線は、トレイ１０
２に対して遮蔽板１０５に合わせて斜めになるように設
置される。１０８は撮像装置１０４による撮像画像を記
録する記録手段、１０９は解析手段であり、前記記録手
段１０８からの記録画像を解析し、解析結果に基づき当
該穀粒１０１に対して品質表示をし、若しくは当該穀粒
１０１を予め定められた区分に区分けし、評価する。１
１０は解析結果又は解析画像をモニタするためのモニタ
装置である。
【００１０】米粒１０１の透過画像を撮像装置１０４に
より撮像するため、光源１０３を作動させる。各々の遮
蔽板１０５は光源１０３の各々からの光を米粒１０１の
各行に導き、他の行の米粒１０１に対して遮蔽する。遮
蔽板１０５により導かれた斜光は、米粒１０１を透過す
る。撮像装置１０４は米粒１０１の透過光による画像を
撮像する。評価に先立ち、遮蔽板１０５の傾きの角度を
回転軸１０６を中心に回転させることにより、米粒１０
１に当たる斜光の角度を変化させることができる。角度
の調整で胴割粒の撮像を最適の状態で撮像することがで
き、これをモニタ装置１１０で確認することができる。
このように、調整した撮像システムにより、評価対象の
米粒１０１の透過光による画像を撮像する。これらの透
過画像は、記録手段１０５で記録される。解析手段１０
９は各米粒１０１の画像データを所定の基準データを用
いて各米粒１０１毎に解析して、評価する。胴割粒があ
る場合は、最適の状態にした斜光で自動的に評価するこ
とができる。
より撮像するため、光源１０３を作動させる。各々の遮
蔽板１０５は光源１０３の各々からの光を米粒１０１の
各行に導き、他の行の米粒１０１に対して遮蔽する。遮
蔽板１０５により導かれた斜光は、米粒１０１を透過す
る。撮像装置１０４は米粒１０１の透過光による画像を
撮像する。評価に先立ち、遮蔽板１０５の傾きの角度を
回転軸１０６を中心に回転させることにより、米粒１０
１に当たる斜光の角度を変化させることができる。角度
の調整で胴割粒の撮像を最適の状態で撮像することがで
き、これをモニタ装置１１０で確認することができる。
このように、調整した撮像システムにより、評価対象の
米粒１０１の透過光による画像を撮像する。これらの透
過画像は、記録手段１０５で記録される。解析手段１０
９は各米粒１０１の画像データを所定の基準データを用
いて各米粒１０１毎に解析して、評価する。胴割粒があ
る場合は、最適の状態にした斜光で自動的に評価するこ
とができる。
【００１１】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、斜
めからの透過光により、穀粒に胴割れがある場合にその
亀裂により生じる乱反射が生じている部分の撮像がしや
すくなり、また、他の列からの光に影響を受けることが
なくなり、簡単な構造で最適の状態にした斜光で胴割粒
を自動的に評価することができる。
めからの透過光により、穀粒に胴割れがある場合にその
亀裂により生じる乱反射が生じている部分の撮像がしや
すくなり、また、他の列からの光に影響を受けることが
なくなり、簡単な構造で最適の状態にした斜光で胴割粒
を自動的に評価することができる。
【図１】 本発明の一実施例を説明する構成図である。
【図２】 胴割粒による光の散乱を説明する図である。
１０１…米粒（穀粒）、１０２…トレイ、１０３…光
源、１０４…撮像装置、１０５…遮蔽板、１０６…回転
軸、１０７…基台、１０８…記録手段、１０９…解析手
段、１１０…モニタ装置。
源、１０４…撮像装置、１０５…遮蔽板、１０６…回転
軸、１０７…基台、１０８…記録手段、１０９…解析手
段、１１０…モニタ装置。
Claims (2)
- 【請求項１】 穀粒をその外観に基づき評価するための
撮像システムにおいて、所定の行数と列数に配列された
穀粒を上面から照明する照明装置と、前記照明装置から
照らされて前記穀粒を透過した光を撮像する撮像装置と
を備える撮像システムにおいて、前記穀粒の各列又は各
行間に遮蔽板を配置し照明装置からの光を当該穀粒に当
てるとともに、当該各遮蔽板を斜めに形成したことを特
徴とする撮像システム。 - 【請求項２】 各遮蔽板の斜めの角度が変化可能である
ことを特徴とする請求項１記載の撮像システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001123058A JP2002318198A (ja) | 2001-04-20 | 2001-04-20 | 撮像システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001123058A JP2002318198A (ja) | 2001-04-20 | 2001-04-20 | 撮像システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002318198A true JP2002318198A (ja) | 2002-10-31 |
Family
ID=18972670
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001123058A Pending JP2002318198A (ja) | 2001-04-20 | 2001-04-20 | 撮像システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002318198A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4630945B1 (ja) * | 2010-02-19 | 2011-02-09 | 株式会社ヒューテック | 欠陥検査装置 |
| JP2013036948A (ja) * | 2011-08-11 | 2013-02-21 | Futec Inc | 欠陥検査装置 |
| US9629308B2 (en) | 2011-03-11 | 2017-04-25 | Intelligent Agricultural Solutions, Llc | Harvesting machine capable of automatic adjustment |
| US9631964B2 (en) | 2011-03-11 | 2017-04-25 | Intelligent Agricultural Solutions, Llc | Acoustic material flow sensor |
| US9723784B2 (en) | 2014-09-12 | 2017-08-08 | Appareo Systems, Llc | Crop quality sensor based on specular reflectance |
| US10085379B2 (en) | 2014-09-12 | 2018-10-02 | Appareo Systems, Llc | Grain quality sensor |
| US10318138B2 (en) | 2011-03-11 | 2019-06-11 | Intelligent Agricultural Solutions Llc | Harvesting machine capable of automatic adjustment |
| US10321624B2 (en) | 2011-03-11 | 2019-06-18 | Intelligent Agriculture Solutions LLC | Air seeder manifold system |
-
2001
- 2001-04-20 JP JP2001123058A patent/JP2002318198A/ja active Pending
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4630945B1 (ja) * | 2010-02-19 | 2011-02-09 | 株式会社ヒューテック | 欠陥検査装置 |
| JP2011169782A (ja) * | 2010-02-19 | 2011-09-01 | Futec Inc | 欠陥検査装置 |
| US9629308B2 (en) | 2011-03-11 | 2017-04-25 | Intelligent Agricultural Solutions, Llc | Harvesting machine capable of automatic adjustment |
| US9631964B2 (en) | 2011-03-11 | 2017-04-25 | Intelligent Agricultural Solutions, Llc | Acoustic material flow sensor |
| US10318138B2 (en) | 2011-03-11 | 2019-06-11 | Intelligent Agricultural Solutions Llc | Harvesting machine capable of automatic adjustment |
| US10321624B2 (en) | 2011-03-11 | 2019-06-18 | Intelligent Agriculture Solutions LLC | Air seeder manifold system |
| JP2013036948A (ja) * | 2011-08-11 | 2013-02-21 | Futec Inc | 欠陥検査装置 |
| US9723784B2 (en) | 2014-09-12 | 2017-08-08 | Appareo Systems, Llc | Crop quality sensor based on specular reflectance |
| US9756785B2 (en) | 2014-09-12 | 2017-09-12 | Appareo Systems, Llc | Grain quality sensor |
| US9775290B2 (en) | 2014-09-12 | 2017-10-03 | Intelligent Agricultural Solutions, Llc | Look-ahead crop mass predictive sensor |
| US10085379B2 (en) | 2014-09-12 | 2018-10-02 | Appareo Systems, Llc | Grain quality sensor |
| US10188035B2 (en) | 2014-09-12 | 2019-01-29 | Intelligent Agricultural Solutions Llc | Load-based yield sensor |
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