JP2002305340A - 掃引レーザ用波長校正装置及び方法 - Google Patents
掃引レーザ用波長校正装置及び方法Info
- Publication number
- JP2002305340A JP2002305340A JP2002012040A JP2002012040A JP2002305340A JP 2002305340 A JP2002305340 A JP 2002305340A JP 2002012040 A JP2002012040 A JP 2002012040A JP 2002012040 A JP2002012040 A JP 2002012040A JP 2002305340 A JP2002305340 A JP 2002305340A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wavelength
- swept
- signal
- output
- laser
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 25
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 title abstract description 6
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims abstract description 37
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 claims abstract description 15
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 38
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 33
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 23
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims 2
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 abstract description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 9
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 5
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 4
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 4
- LELOWRISYMNNSU-UHFFFAOYSA-N hydrogen cyanide Chemical compound N#C LELOWRISYMNNSU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 4
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000002534 ethynyl group Chemical group [H]C#C* 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000013213 extrapolation Methods 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
- 230000005428 wave function Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/0014—Monitoring arrangements not otherwise provided for
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 掃引レーザ12からの光出力の波長を正確且つ
迅速に校正する。 【解決手段】 掃引レーザ12からの光出力は、結合器14
及び16を介して、光電気信号変換器17及びガス吸収セル
28に供給される。光電気信号変換器17は、電気信号の各
点に対応する波長が正確に既知になるように、所定光波
長レンジにわたって掃引レーザの光波長と循環的である
電気信号を発生する。ガス吸収セル28は、掃引光出力か
ら既知のスペクトル吸収線を発生し、検出器30で検出す
る。このスペクトル吸収線を電気信号の校正基準とす
る。
迅速に校正する。 【解決手段】 掃引レーザ12からの光出力は、結合器14
及び16を介して、光電気信号変換器17及びガス吸収セル
28に供給される。光電気信号変換器17は、電気信号の各
点に対応する波長が正確に既知になるように、所定光波
長レンジにわたって掃引レーザの光波長と循環的である
電気信号を発生する。ガス吸収セル28は、掃引光出力か
ら既知のスペクトル吸収線を発生し、検出器30で検出す
る。このスペクトル吸収線を電気信号の校正基準とす
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般に、掃引レー
ザ（swept laser）に関し、特に、ピコメータの確度で
掃引レーザの波長を実時間で校正する装置及び方法に関
する。
ザ（swept laser）に関し、特に、ピコメータの確度で
掃引レーザの波長を実時間で校正する装置及び方法に関
する。
【０００２】
【従来の技術】光通信ネットワークは、コンポーネント
（構成要素）が商業的に利用できるようになるにしたが
って、実質的に益々複雑になってきている。これらコン
ポーネントの多くは、分布帰還型（distributed feedba
ck: DFB）レーザ及びエルビウム・ドープト・ファイバ
増幅器（erbium-doped fiber amplifier: EDFA）の如き
能動要素である。他のコンポーネントは、マルチプレク
サ／ディマルチプレクサ及びファイバ・ブラッグ・グレ
ーティング（fiber Bragg grating: FBG：ファイバのコ
ア部の屈折率を周期的に変化させたもの）の如き受動要
素である。しばしば、これら受動コンポーネントで最も
関心のある特性は、スペクトル伝送及び／又は反射であ
る。
（構成要素）が商業的に利用できるようになるにしたが
って、実質的に益々複雑になってきている。これらコン
ポーネントの多くは、分布帰還型（distributed feedba
ck: DFB）レーザ及びエルビウム・ドープト・ファイバ
増幅器（erbium-doped fiber amplifier: EDFA）の如き
能動要素である。他のコンポーネントは、マルチプレク
サ／ディマルチプレクサ及びファイバ・ブラッグ・グレ
ーティング（fiber Bragg grating: FBG：ファイバのコ
ア部の屈折率を周期的に変化させたもの）の如き受動要
素である。しばしば、これら受動コンポーネントで最も
関心のある特性は、スペクトル伝送及び／又は反射であ
る。
【０００３】受動光学コンポーネントのスペクトル特性
を測定するために、この業界は、２つの異なる技術を制
定した。これら技術の一方は、ブロードバンド（スペク
トル的に明るい）ソース（光源）を用いて、そのコンポ
ーネントの入力端を照明し、伝送されたか又は反射され
た光のスペクトル内容を光スペクトラム・アナライザ
（ＯＳＡ）を用いて測定する。他の技術は、同調可能な
レーザ（掃引レーザ）を受動コンポーネントへの入力と
して用い、この受動コンポーネントの出力端にパワー・
メータの如きブロードバンド検出器を用いる。波長メー
タによる測定によりレーザの波長変化を検出すると、パ
ワー・メータは、輝度の差を記録して、このコンポーネ
ントの波長依存伝送又は反射を測定する。
を測定するために、この業界は、２つの異なる技術を制
定した。これら技術の一方は、ブロードバンド（スペク
トル的に明るい）ソース（光源）を用いて、そのコンポ
ーネントの入力端を照明し、伝送されたか又は反射され
た光のスペクトル内容を光スペクトラム・アナライザ
（ＯＳＡ）を用いて測定する。他の技術は、同調可能な
レーザ（掃引レーザ）を受動コンポーネントへの入力と
して用い、この受動コンポーネントの出力端にパワー・
メータの如きブロードバンド検出器を用いる。波長メー
タによる測定によりレーザの波長変化を検出すると、パ
ワー・メータは、輝度の差を記録して、このコンポーネ
ントの波長依存伝送又は反射を測定する。
【０００４】これら２つの技術では、同調可能なレーザ
は、最良のスペクトル分解能及びダイナミック・レンジ
を提供する。この理由により、同調レーザによる方法
は、問題が残るが、最もうまくいく方法であると広く信
じられている。最も重要な問題の１つは、波長校正を迅
速に且つ精度良く行えるかということである。この試験
の最も一般的な構成は、同調可能なレーザと、マイケル
ソン干渉計による標準波長メータとを有する。この試験
手順では、レーザの波長を増加させて、停止させる。パ
ワー・メータが光パワーを読み取り、波長メータがその
光の波長を測定し、このプロセスを繰り返す。
は、最良のスペクトル分解能及びダイナミック・レンジ
を提供する。この理由により、同調レーザによる方法
は、問題が残るが、最もうまくいく方法であると広く信
じられている。最も重要な問題の１つは、波長校正を迅
速に且つ精度良く行えるかということである。この試験
の最も一般的な構成は、同調可能なレーザと、マイケル
ソン干渉計による標準波長メータとを有する。この試験
手順では、レーザの波長を増加させて、停止させる。パ
ワー・メータが光パワーを読み取り、波長メータがその
光の波長を測定し、このプロセスを繰り返す。
【０００５】この手順の本質的な課題は、波長メータに
よる波長測定に必要な時間である。典型的なマイケルソ
ン干渉計は、正確な波長を測定するために、数千もの縞
（光干渉による縞）を必要とする。取込みのために、多
くのフリンジを走査するには、５０ミリ秒以上の時間が
かかる。また、波長メータは、これら縞の高速フーリエ
変換（ＦＦＴ）を行い、波長を計算しなければならな
い。この処理には、例えば、更に５０ミリ秒もかかる。
この場合、同調レーザの波長を測定するのに、約０．１
秒がかかる。
よる波長測定に必要な時間である。典型的なマイケルソ
ン干渉計は、正確な波長を測定するために、数千もの縞
（光干渉による縞）を必要とする。取込みのために、多
くのフリンジを走査するには、５０ミリ秒以上の時間が
かかる。また、波長メータは、これら縞の高速フーリエ
変換（ＦＦＴ）を行い、波長を計算しなければならな
い。この処理には、例えば、更に５０ミリ秒もかかる。
この場合、同調レーザの波長を測定するのに、約０．１
秒がかかる。
【０００６】受動コンポーネントのスペクトル特性を２
ナノメートル（２，０００ピコメートル）のレンジにわ
たって試験し、波長に２ピコメートル・ステップで指標
が付けられている場合、レーザは１０００倍でステップ
し、波長校正を行うために各ステップに０．１秒が必要
となる。総合試験時間は、約１００秒、即ち、１．６７
分である。１ピコメートルの分解能による走査は、時間
を２倍にする。また、この走査が２０ナノメートルのレ
ンジにまで延びると、その時間は、更に１０倍も長くな
る。１００ナノメートル・レンジの走査は、２．７８時
間も必要とする。数百又は数千ものかかる受動コンポー
ネントを試験する結果、テスト・ステーションが生産効
率を制限するボトルネックとなってしまう。使用期間中
の最初にレーザを校正した後に、再校正の前のしばらく
の間、波長メータを用いることなく、レーザを掃引す
る。この結果、確度は、各掃引の前に校正するほどでは
ない。しかし、これは、校正に必要な時間と、結果の所
望確度との妥協である。
ナノメートル（２，０００ピコメートル）のレンジにわ
たって試験し、波長に２ピコメートル・ステップで指標
が付けられている場合、レーザは１０００倍でステップ
し、波長校正を行うために各ステップに０．１秒が必要
となる。総合試験時間は、約１００秒、即ち、１．６７
分である。１ピコメートルの分解能による走査は、時間
を２倍にする。また、この走査が２０ナノメートルのレ
ンジにまで延びると、その時間は、更に１０倍も長くな
る。１００ナノメートル・レンジの走査は、２．７８時
間も必要とする。数百又は数千ものかかる受動コンポー
ネントを試験する結果、テスト・ステーションが生産効
率を制限するボトルネックとなってしまう。使用期間中
の最初にレーザを校正した後に、再校正の前のしばらく
の間、波長メータを用いることなく、レーザを掃引す
る。この結果、確度は、各掃引の前に校正するほどでは
ない。しかし、これは、校正に必要な時間と、結果の所
望確度との妥協である。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】よって、良好な確度を
維持しながら、掃引レーザの波長を迅速に測定できる方
法が必要とされている。
維持しながら、掃引レーザの波長を迅速に測定できる方
法が必要とされている。
【０００８】したがって、本発明は、掃引レーザの波長
をほぼ実時間で校正できる装置及び方法を提供するもの
である。
をほぼ実時間で校正できる装置及び方法を提供するもの
である。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は、掃引レーザ
（swept laser）用の波長校正装置であって；電気信号
の各点に対応する波長が正確に既知になるように、所定
光波長レンジにわたって掃引レーザの光波長と循環的で
ある電気信号を掃引レーザの掃引光出力から発生する発
生手段（１７）と；掃引光出力から、既知のスペクトル
吸収線を用いて電気信号用の校正基準を与える基準手段
（２８、３０）とを具えている。また、本発明は、掃引
レーザ用の波長校正方法であって；電気信号の各点に対
応する波長が正確に既知になるように、所定光波長レン
ジにわたって掃引レーザの光波長と循環的な電気信号を
掃引レーザの掃引光信号から発生する発生ステップ（１
７）と；既知のスペクトル吸収線を用いて電気信号用の
校正基準を掃引光信号から与える基準ステップ（２８、
３０）とを具えている。
（swept laser）用の波長校正装置であって；電気信号
の各点に対応する波長が正確に既知になるように、所定
光波長レンジにわたって掃引レーザの光波長と循環的で
ある電気信号を掃引レーザの掃引光出力から発生する発
生手段（１７）と；掃引光出力から、既知のスペクトル
吸収線を用いて電気信号用の校正基準を与える基準手段
（２８、３０）とを具えている。また、本発明は、掃引
レーザ用の波長校正方法であって；電気信号の各点に対
応する波長が正確に既知になるように、所定光波長レン
ジにわたって掃引レーザの光波長と循環的な電気信号を
掃引レーザの掃引光信号から発生する発生ステップ（１
７）と；既知のスペクトル吸収線を用いて電気信号用の
校正基準を掃引光信号から与える基準ステップ（２８、
３０）とを具えている。
【００１０】本発明は、掃引レーザに対して波長をほぼ
実時間で校正する装置及び方法であって、掃引光出力の
波長と循環的な電気信号、即ち、この波長の変動と同方
向に敏感に変動する電気信号をこの掃引光出力から発生
し（１７）、所定レンジの波長内で既知の吸収線（エネ
ルギーが媒体を透過する際に吸収される波長又は周波数
の微少な範囲）を用いて電気信号を校正する（２８、３
０）。掃引レーザを校正する１つの方法（図２）は、掃
引光出力を偏光器（１８）に入力する。この偏光器は、
ファイバ（２０）の高複屈折部分の一端に結合してお
り、この複屈折部分の固定モードに対して４５度の方向
を向いている。この高複屈折ファイバの他端は、偏光ビ
ーム・スプリッタ（２２）に結合している。この偏光ビ
ーム・スプリッタは、直交偏光モードを分離する。この
ビーム・スプリッタからの出力を検出（２４、２６）
し、その電気的出力を合成して、循環的電気信号を形成
する。この循環的電気信号を発生する他の方法（図３）
は、１対の不揃いの長さの経路（２１、２３）を有する
不平衡干渉計に掃引光出力を入力する。これら２つの経
路からの出力は、結合器を介して、光受信器（２７）に
入力され、循環的電気信号を得る。いずれの方法でも、
循環的電気信号の任意の点は、その点における掃引光出
力の波長に正確に対応する。基準手段では、平衡経路に
おいて、波長の所定レンジ内の既知のスペクトル吸収線
を有するガスを含むガス吸収セル（２８）は、掃引光出
力を受ける。スペクトル線が検出器（３０）により検出
されて、既知の波長で循環的電気信号に対する校正基準
を発生する。既知の複数スペクトル線の間の位相差と、
所望点に対する既知の第１スペクトル線の間の位相差と
に基づいて、既知の複数の校正基準の間を補間して、循
環的電気信号における他の点を校正する。なお、本明細
書では、「循環的」とは、同方向に密接に変化すること
を意味する。よって、光波長と循環的な電気信号とは、
光波長の変化と同方向に密接に変化する電気信号を意味
する。また、掃引レーザとは、同調可能なレーザであ
り、その光出力の波長（又は周波数）を掃引できるレー
ザである。よって、掃引光出力とは、その波長が掃引さ
れている（波長が順次変化する）光出力である。
実時間で校正する装置及び方法であって、掃引光出力の
波長と循環的な電気信号、即ち、この波長の変動と同方
向に敏感に変動する電気信号をこの掃引光出力から発生
し（１７）、所定レンジの波長内で既知の吸収線（エネ
ルギーが媒体を透過する際に吸収される波長又は周波数
の微少な範囲）を用いて電気信号を校正する（２８、３
０）。掃引レーザを校正する１つの方法（図２）は、掃
引光出力を偏光器（１８）に入力する。この偏光器は、
ファイバ（２０）の高複屈折部分の一端に結合してお
り、この複屈折部分の固定モードに対して４５度の方向
を向いている。この高複屈折ファイバの他端は、偏光ビ
ーム・スプリッタ（２２）に結合している。この偏光ビ
ーム・スプリッタは、直交偏光モードを分離する。この
ビーム・スプリッタからの出力を検出（２４、２６）
し、その電気的出力を合成して、循環的電気信号を形成
する。この循環的電気信号を発生する他の方法（図３）
は、１対の不揃いの長さの経路（２１、２３）を有する
不平衡干渉計に掃引光出力を入力する。これら２つの経
路からの出力は、結合器を介して、光受信器（２７）に
入力され、循環的電気信号を得る。いずれの方法でも、
循環的電気信号の任意の点は、その点における掃引光出
力の波長に正確に対応する。基準手段では、平衡経路に
おいて、波長の所定レンジ内の既知のスペクトル吸収線
を有するガスを含むガス吸収セル（２８）は、掃引光出
力を受ける。スペクトル線が検出器（３０）により検出
されて、既知の波長で循環的電気信号に対する校正基準
を発生する。既知の複数スペクトル線の間の位相差と、
所望点に対する既知の第１スペクトル線の間の位相差と
に基づいて、既知の複数の校正基準の間を補間して、循
環的電気信号における他の点を校正する。なお、本明細
書では、「循環的」とは、同方向に密接に変化すること
を意味する。よって、光波長と循環的な電気信号とは、
光波長の変化と同方向に密接に変化する電気信号を意味
する。また、掃引レーザとは、同調可能なレーザであ
り、その光出力の波長（又は周波数）を掃引できるレー
ザである。よって、掃引光出力とは、その波長が掃引さ
れている（波長が順次変化する）光出力である。
【００１１】本発明の目的、利点及び新規な特徴は、添
付図を参照した以下の詳細説明から更に明らかになろ
う。
付図を参照した以下の詳細説明から更に明らかになろ
う。
【００１２】
【発明の実施の形態】図１は、本発明による掃引レーザ
用波長校正装置のブロック図である。掃引レーザ（同調
可能なレーザ）１２は、掃引光出力を第１結合器（カッ
プラ）１４に供給する。この第１結合器１４は、掃引光
出力を正面パネル・コネクタ及び第２結合器１６に供給
する。第２結合器１６は、掃引光出力を光電気信号変換
器（発生手段）１７に供給する。この光電気信号変換器
１７にて、掃引光出力は、ほぼ正弦波の循環的な電気信
号に変換される。光電気信号変換器１７の一例を図２に
示す。結合器１６からの掃引光出力は、偏光器１８を介
して高複屈折（highly birefringent: HiBi）ファイバ
２０の一部に入力する。このファイバ２０は、偏光状態
を維持するように設計されている。偏光器１８は、Ｈｉ
Ｂｉファイバ２０の固有モードに対して、即ち、偏光軸
に対して４５度になるように向けられている。ＨｉＢｉ
ファイバ２０の他端には、偏光ビーム・スプリッタ２２
が設けられ、この偏光ビーム・スプリッタ２２は、Ｈｉ
Ｂｉファイバの偏光軸に対して４５度の方向になってい
る。ＨｉＢｉファイバ２０は、入力偏光器１８及び出力
偏光ビーム・スプリッタ２２と結合している。この出力
偏光ビーム・スプリッタ２２に結合した２個の検出器２
４及び２６は、スプリッタ２２からの出力を受けて、電
気信号を発生する。この電気信号は、ＨｉＢｉファイバ
の長さに応じて、光信号の波長と循環的に変化し、即
ち、この波長の変化と同方向に密接に変化し、その周期
は約８０ピコメートルである。
用波長校正装置のブロック図である。掃引レーザ（同調
可能なレーザ）１２は、掃引光出力を第１結合器（カッ
プラ）１４に供給する。この第１結合器１４は、掃引光
出力を正面パネル・コネクタ及び第２結合器１６に供給
する。第２結合器１６は、掃引光出力を光電気信号変換
器（発生手段）１７に供給する。この光電気信号変換器
１７にて、掃引光出力は、ほぼ正弦波の循環的な電気信
号に変換される。光電気信号変換器１７の一例を図２に
示す。結合器１６からの掃引光出力は、偏光器１８を介
して高複屈折（highly birefringent: HiBi）ファイバ
２０の一部に入力する。このファイバ２０は、偏光状態
を維持するように設計されている。偏光器１８は、Ｈｉ
Ｂｉファイバ２０の固有モードに対して、即ち、偏光軸
に対して４５度になるように向けられている。ＨｉＢｉ
ファイバ２０の他端には、偏光ビーム・スプリッタ２２
が設けられ、この偏光ビーム・スプリッタ２２は、Ｈｉ
Ｂｉファイバの偏光軸に対して４５度の方向になってい
る。ＨｉＢｉファイバ２０は、入力偏光器１８及び出力
偏光ビーム・スプリッタ２２と結合している。この出力
偏光ビーム・スプリッタ２２に結合した２個の検出器２
４及び２６は、スプリッタ２２からの出力を受けて、電
気信号を発生する。この電気信号は、ＨｉＢｉファイバ
の長さに応じて、光信号の波長と循環的に変化し、即
ち、この波長の変化と同方向に密接に変化し、その周期
は約８０ピコメートルである。
【００１３】より簡単で、より安定し、ノイズの少ない
光電気信号変換器１７を実現する他の方法は、図３に示
すように、結合器１６からの掃引光信号を干渉計１９に
入力することである。干渉計１９は、不揃いの長さの、
即ち不平衡の１対の経路２１及び２３を有し、自由スペ
クトル・レンジ（free spectral range: ＦＳＲ）は、
例えば、約８０ピコ・メートルである。干渉計１９から
の光信号出力は、光受信器２７に入力する。光受信器２
７の出力は、電気信号であり、経路２１、２３の長さの
差に応じて、８０ピコメートルのオーダの周期で、波長
が循環的に変化する。
光電気信号変換器１７を実現する他の方法は、図３に示
すように、結合器１６からの掃引光信号を干渉計１９に
入力することである。干渉計１９は、不揃いの長さの、
即ち不平衡の１対の経路２１及び２３を有し、自由スペ
クトル・レンジ（free spectral range: ＦＳＲ）は、
例えば、約８０ピコ・メートルである。干渉計１９から
の光信号出力は、光受信器２７に入力する。光受信器２
７の出力は、電気信号であり、経路２１、２３の長さの
差に応じて、８０ピコメートルのオーダの周期で、波長
が循環的に変化する。
【００１４】再び図１を参照する。ガス吸収セル２８も
第２結合器１６からの掃引光出力を受けて、他の検出器
３０への出力を発生する。この検出器３０は、光電気信
号変換器１７が発生した循環電気信号用の校正基準を与
える。これらにより、同調可能なレーザ（掃引レーザ）
１２の出力の波長を正確且つほぼ実時間で、ピコメート
ルの精度での校正が可能になる。なお、ガス吸収セル２
８及び検出器３０が基準手段を校正する。
第２結合器１６からの掃引光出力を受けて、他の検出器
３０への出力を発生する。この検出器３０は、光電気信
号変換器１７が発生した循環電気信号用の校正基準を与
える。これらにより、同調可能なレーザ（掃引レーザ）
１２の出力の波長を正確且つほぼ実時間で、ピコメート
ルの精度での校正が可能になる。なお、ガス吸収セル２
８及び検出器３０が基準手段を校正する。
【００１５】この校正のアプローチは、次の２つであ
る。 （１）エンコーダが波長に拘束されるのと同様に、掃引
光信号の波数（波長の逆数）と循環的な電気信号を掃引
光信号から発生する。 （２）ガス吸収セル２８からの既知のスペクトル吸収線
を用いて、循環的電気信号を校正する。
る。 （１）エンコーダが波長に拘束されるのと同様に、掃引
光信号の波数（波長の逆数）と循環的な電気信号を掃引
光信号から発生する。 （２）ガス吸収セル２８からの既知のスペクトル吸収線
を用いて、循環的電気信号を校正する。
【００１６】図２に示すように、波長の変化に応じて、
偏光コンポーネント１８、２２及びＨｉＢｉファイバ２
０がどのように循環的電気信号を発生するかを理解する
ために、光学システムを表すジョーンズ・マトリクス
（Jones matrix）を考察する。偏光器１８を通過した後
に、ＨｉＢｉファイバ２０に入力する光に対するジョー
ンズ・マトリクスは、次のようになる。 ｜Ｅ｜ ｜ ｜ ｜０｜ ＨｉＢｉファイバ２０のジョーンズ・マトリクスは、次
のようになる。
偏光コンポーネント１８、２２及びＨｉＢｉファイバ２
０がどのように循環的電気信号を発生するかを理解する
ために、光学システムを表すジョーンズ・マトリクス
（Jones matrix）を考察する。偏光器１８を通過した後
に、ＨｉＢｉファイバ２０に入力する光に対するジョー
ンズ・マトリクスは、次のようになる。 ｜Ｅ｜ ｜ ｜ ｜０｜ ＨｉＢｉファイバ２０のジョーンズ・マトリクスは、次
のようになる。
【数１】 なお、λは、光の波長であり、φ'(λ)は、ＨｉＢｉフ
ァイバ２０における速い軸（fast axis）と遅い軸（slo
w axis）との間の総合位相遅延の半分であり、θは、偏
光の入力状態とＨｉＢｉファイバの速い軸との間の角度
である。また、SQRTは、二乗の平方根を意味し、＊は、
乗算を意味する。
ァイバ２０における速い軸（fast axis）と遅い軸（slo
w axis）との間の総合位相遅延の半分であり、θは、偏
光の入力状態とＨｉＢｉファイバの速い軸との間の角度
である。また、SQRTは、二乗の平方根を意味し、＊は、
乗算を意味する。
【００１７】偏光ビーム・スプリッタ２２のジョーンズ
・マトリクスは、一方の出力に対して ｜１０｜ ｜ ｜ ｜００｜ となり、他方の出力に対して ｜００｜ ｜ ｜ ｜０１｜ となる。上述の式を組み合わせると、偏光ビーム・スプ
リッタ２２の第１脚部（leg）における電界Ｅout(λ)
は、次式のようになる。
・マトリクスは、一方の出力に対して ｜１０｜ ｜ ｜ ｜００｜ となり、他方の出力に対して ｜００｜ ｜ ｜ ｜０１｜ となる。上述の式を組み合わせると、偏光ビーム・スプ
リッタ２２の第１脚部（leg）における電界Ｅout(λ)
は、次式のようになる。
【数２】 この式を拡張し、その複素共役と乗算し、θ＝４５度に
設定し、その結果を簡略化すると、次のようになる。 Pout1= E2cos(φ'(λ))2 同様に、偏光ビーム・スプリッタ２２からの第２出力
は、次式のようになる。
設定し、その結果を簡略化すると、次のようになる。 Pout1= E2cos(φ'(λ))2 同様に、偏光ビーム・スプリッタ２２からの第２出力
は、次式のようになる。
【数３】 また、 Pout2= E2sin(φ'(λ))2 となる。
【００１８】これら２つの出力式の和は、１に等しく、
ここでの仮定が、損失のない理想的な光学コンポーネン
トであることを示している。検出器２４、２６は、二乗
検波器であるので、その電流は、光パワーに比例する。
複合信号Sigは、検出器の電流を引いたものを、それら
の和で除算して求まる。すなわち、 Sig = (Pout1 - Pout2) / (Pout1 + Pout2) = (E2cos(φ'(λ))2 - E2sin(φ'(λ))2 )/ (E2cos(φ'(λ))2 + E2sin(φ'(λ) )2) = 2cos(φ'(λ))2 -1 この出力信号は、正規化されて、＋１及び−１の間で正
弦波的に変化する値を有するので、これは、望ましい状
態を表す。ＨｉＢｉファイバ２０の速い軸及び遅い軸の
間の位相遅延φ（λ）は、次のようになる。 φ(λ) = 2πLΔn/λ なお、Ｌは、ファイバの物理的な長さであり、Δｎは、
速い軸のインデックス（屈折率）と遅い軸のインデック
スとの間の差であり、λは、真空中の光の波長で ある。φ'(λ)=0.5φ(λ)であり、波数ｋをk=2π/ λのように定義して、式Sigを置換すると次のようにな
る。 Sig = 2cos(LkΔn/2)2 - 1 波数の関数として描くと、複合出力信号は、周期K=2π/
LΔnの正弦波となる。
ここでの仮定が、損失のない理想的な光学コンポーネン
トであることを示している。検出器２４、２６は、二乗
検波器であるので、その電流は、光パワーに比例する。
複合信号Sigは、検出器の電流を引いたものを、それら
の和で除算して求まる。すなわち、 Sig = (Pout1 - Pout2) / (Pout1 + Pout2) = (E2cos(φ'(λ))2 - E2sin(φ'(λ))2 )/ (E2cos(φ'(λ))2 + E2sin(φ'(λ) )2) = 2cos(φ'(λ))2 -1 この出力信号は、正規化されて、＋１及び−１の間で正
弦波的に変化する値を有するので、これは、望ましい状
態を表す。ＨｉＢｉファイバ２０の速い軸及び遅い軸の
間の位相遅延φ（λ）は、次のようになる。 φ(λ) = 2πLΔn/λ なお、Ｌは、ファイバの物理的な長さであり、Δｎは、
速い軸のインデックス（屈折率）と遅い軸のインデック
スとの間の差であり、λは、真空中の光の波長で ある。φ'(λ)=0.5φ(λ)であり、波数ｋをk=2π/ λのように定義して、式Sigを置換すると次のようにな
る。 Sig = 2cos(LkΔn/2)2 - 1 波数の関数として描くと、複合出力信号は、周期K=2π/
LΔnの正弦波となる。
【００１９】図４は、長さが５０メートルで、ファイバ
の速い軸と遅い軸とのインデックスの差が０．０００３
８８であるＨｉＢｉファイバ２０の一片における複合信
号３２を示す。この校正に対する自由スペクトル・レン
ジ（FSR）は、大雑把に３．２３９ｃｍ-1であり、１,５
５０ナノメートルの波長にて約０．１２４ナノメートル
である。１００ナノメートルにわたってレーザを走査す
る際、約８００サイクルとなる。図３に示す干渉計１９
を用いて、比較可能な信号を光受信器２７から発生す
る。
の速い軸と遅い軸とのインデックスの差が０．０００３
８８であるＨｉＢｉファイバ２０の一片における複合信
号３２を示す。この校正に対する自由スペクトル・レン
ジ（FSR）は、大雑把に３．２３９ｃｍ-1であり、１,５
５０ナノメートルの波長にて約０．１２４ナノメートル
である。１００ナノメートルにわたってレーザを走査す
る際、約８００サイクルとなる。図３に示す干渉計１９
を用いて、比較可能な信号を光受信器２７から発生す
る。
【００２０】同様に、図３の干渉計１９において、２個
の経路２１、２３の間の位相差φは、約φ=2πΔLn/λ
となる。なお、ΔＬは、これら２個の経路の長さの差で
ある。干渉計１９からの出力Sigは、 Sig=A0 2cos2(πΔLn/λ) であり、A0 2は、干渉計への信号入力である。したがっ
て、波数の関数（1/λ）としての干渉計１９の出力は、
簡単な二乗正弦波の関数である。
の経路２１、２３の間の位相差φは、約φ=2πΔLn/λ
となる。なお、ΔＬは、これら２個の経路の長さの差で
ある。干渉計１９からの出力Sigは、 Sig=A0 2cos2(πΔLn/λ) であり、A0 2は、干渉計への信号入力である。したがっ
て、波数の関数（1/λ）としての干渉計１９の出力は、
簡単な二乗正弦波の関数である。
【００２１】ファイバ２０の正確な長さと、複数の固有
モードの間のインデックスの差とを知ることにより、又
は、干渉計１９の２つの経路２１、２３の長さの差を知
ることにより、波形の単一の点のみを校正する必要があ
り、その後、サイクルを計数することにより、他の任意
の波長を校正できる。しかし、ファイバ２０の長さ、又
は、経路２１、２３の長さは、環境条件、主に温度によ
り変化し、Δｎは、環境条件と波長とにより変化する。
これら変化は、他の条件では大きく変化しないかもしれ
ないが、ナノメートル確度で校正する際に、これらの影
響を無視できない。
モードの間のインデックスの差とを知ることにより、又
は、干渉計１９の２つの経路２１、２３の長さの差を知
ることにより、波形の単一の点のみを校正する必要があ
り、その後、サイクルを計数することにより、他の任意
の波長を校正できる。しかし、ファイバ２０の長さ、又
は、経路２１、２３の長さは、環境条件、主に温度によ
り変化し、Δｎは、環境条件と波長とにより変化する。
これら変化は、他の条件では大きく変化しないかもしれ
ないが、ナノメートル確度で校正する際に、これらの影
響を無視できない。
【００２２】これは、第２結合器１６の第２脚部が入っ
てきた場合である。この第２脚部は、例えば、アセチレ
ン又はシアン化水素を含んだガス吸収セル２８を有す
る。これらガスは、１５５０ナノメートルの光波長付近
で多くの吸収線を有し、電気通信に用いるソースの校正
に理想的である。図５は、図４の循環波形３２の校正
に、吸収スペクトル３４をどのように用いるかを示す。
この例の場合、点で示すサンプル３６の波長を求める。
てきた場合である。この第２脚部は、例えば、アセチレ
ン又はシアン化水素を含んだガス吸収セル２８を有す
る。これらガスは、１５５０ナノメートルの光波長付近
で多くの吸収線を有し、電気通信に用いるソースの校正
に理想的である。図５は、図４の循環波形３２の校正
に、吸収スペクトル３４をどのように用いるかを示す。
この例の場合、点で示すサンプル３６の波長を求める。
【００２３】掃引レーザ１２が走査を行う（波長を順次
変化させる）場合、レーザの位置を相関させるいくつか
の種類の指針がある。この指針は、掃引レーザ１２にて
回折格子を回転させるのに用いるステップ・モータから
のステップでもよい。図５の水平軸は、掃引レーザ１２
における内側からの信号を表す。この信号が変化する
と、できるだけ線形が望ましいにもかかわらず、レーザ
の波長が未知の方法で変化する。波長の変化の結果、光
電気信号変換器１７からの循環波形３２がほぼ正弦波的
に変化すると共に、ガス吸収セル２８における吸収に応
じて光パワーも変化する。吸収線３４は、既知の波長に
あるが、これらは、水平軸に沿った座標により循環波形
３２と関連するので、これらを用いて循環波形３２の校
正ができる。なお、図５において、複数の吸収線を太い
縦線で示す。
変化させる）場合、レーザの位置を相関させるいくつか
の種類の指針がある。この指針は、掃引レーザ１２にて
回折格子を回転させるのに用いるステップ・モータから
のステップでもよい。図５の水平軸は、掃引レーザ１２
における内側からの信号を表す。この信号が変化する
と、できるだけ線形が望ましいにもかかわらず、レーザ
の波長が未知の方法で変化する。波長の変化の結果、光
電気信号変換器１７からの循環波形３２がほぼ正弦波的
に変化すると共に、ガス吸収セル２８における吸収に応
じて光パワーも変化する。吸収線３４は、既知の波長に
あるが、これらは、水平軸に沿った座標により循環波形
３２と関連するので、これらを用いて循環波形３２の校
正ができる。なお、図５において、複数の吸収線を太い
縦線で示す。
【００２４】k1known及びk2knownが吸収スペクトル３４
の位置から求まる２つの既知の波数を表すと仮定する。
また、Δφ1が循環波形３２により求まる２つの既知の
波数の間の位相と仮定する。図５の例の場合、最も左側
の吸収線３４の波長が１５３１．５８８ナノメートルで
あり、右側の次の吸収線の波長が１５３０．９７６ナノ
メートルであり、これらは、アセチレンのＰ（１１）及
びＰ（１０）ラインに対応する。循環波形３２を試験す
ることにより、２個の校正波長の間隔は、１１．１９サ
イクルであることが判る。Δφ2を、吸収線スペクトル
３４からの既知の第１波数と、所望の未知の波数との間
の位相差に定義すると、サンプル３６の場所における波
数kunknownが次のように求まる。 kunknown = k1known + Δφ2((k2known - k1known)/Δ
φ1) 図５の位相差から読み取って、k1known =41023.991c
m-1、k2known =41040.391cm -1、Δφ1=11.19＊2π及び
Δφ2=5.14＊2πの場合、サンプル３６の未知の波数
は、41031.524cm-1となり、これは、１５３１．３０７
ナノメートルである。このアルゴリズムを用いると、循
環波形３２の総ての点（サンプル）の波数及び波長を計
算することができる。これは、同調可能なレーザ１２の
掃引における総てのステップでの波長を計算できること
を意味する。
の位置から求まる２つの既知の波数を表すと仮定する。
また、Δφ1が循環波形３２により求まる２つの既知の
波数の間の位相と仮定する。図５の例の場合、最も左側
の吸収線３４の波長が１５３１．５８８ナノメートルで
あり、右側の次の吸収線の波長が１５３０．９７６ナノ
メートルであり、これらは、アセチレンのＰ（１１）及
びＰ（１０）ラインに対応する。循環波形３２を試験す
ることにより、２個の校正波長の間隔は、１１．１９サ
イクルであることが判る。Δφ2を、吸収線スペクトル
３４からの既知の第１波数と、所望の未知の波数との間
の位相差に定義すると、サンプル３６の場所における波
数kunknownが次のように求まる。 kunknown = k1known + Δφ2((k2known - k1known)/Δ
φ1) 図５の位相差から読み取って、k1known =41023.991c
m-1、k2known =41040.391cm -1、Δφ1=11.19＊2π及び
Δφ2=5.14＊2πの場合、サンプル３６の未知の波数
は、41031.524cm-1となり、これは、１５３１．３０７
ナノメートルである。このアルゴリズムを用いると、循
環波形３２の総ての点（サンプル）の波数及び波長を計
算することができる。これは、同調可能なレーザ１２の
掃引における総てのステップでの波長を計算できること
を意味する。
【００２５】校正エラーを見積もるために、複数の既知
の波数の間の差を高確度で、典型的には、１ピコメート
ルのエラー未満で求める。これは、未知の波数の校正に
よるエラーは、校正に用いる吸収線３４と、位相を測定
する際の不確実さとの間の隔たりに応じて決まることを
意味する。位相を高確度で測定する技術が存在し、アセ
チレン及びシアン化水素のセルにおける吸収線３４の間
の間隔は、０．５ナノメートルのオーダである。よっ
て、既存のアルゴリズムは、絶対的な校正エラーの可能
性を１ピコメートルのオーダに維持できる。このアルゴ
リズムは、吸収線３４の間を補間した場合が最も正確で
あるが、外挿の場合も、外挿された波数に対して、又
は、掃引を行うのに必要な期間中、電気信号の循環特性
が大きく変化しなければ、合理的な精度（確度）であ
る。
の波数の間の差を高確度で、典型的には、１ピコメート
ルのエラー未満で求める。これは、未知の波数の校正に
よるエラーは、校正に用いる吸収線３４と、位相を測定
する際の不確実さとの間の隔たりに応じて決まることを
意味する。位相を高確度で測定する技術が存在し、アセ
チレン及びシアン化水素のセルにおける吸収線３４の間
の間隔は、０．５ナノメートルのオーダである。よっ
て、既存のアルゴリズムは、絶対的な校正エラーの可能
性を１ピコメートルのオーダに維持できる。このアルゴ
リズムは、吸収線３４の間を補間した場合が最も正確で
あるが、外挿の場合も、外挿された波数に対して、又
は、掃引を行うのに必要な期間中、電気信号の循環特性
が大きく変化しなければ、合理的な精度（確度）であ
る。
【００２６】適切な精度は、検出器２４、２６、３０及
び受信器２７の回路における信号対ノイズ比（ＳＮＲ）
を適切に維持しながら、掃引レーザ１２をできるだけ速
く掃引することにより決まる。掃引レーザ１２及びこれ
ら検出器２４、２６、３０の間の光損失は、１０ｄＢ以
下のオーダで比較的小さくなければならない。これは、
レーザ出力が１ｄＢｍならば、検出器において−１０ｄ
Ｂｍでなければならないことを意味する。ピコメートル
毎にサンプリングする間、０．１秒内で１０ナノメート
ルを走査するには、大雑把に、０．１秒内の１０,００
０個のサンプル、即ち、１秒当たり１０万個のサンプル
を集める必要がある。よって、受信器回路の帯域幅は、
１００ｋＨｚのオーダでなければならない。良好に設計
された受信器／検出器のフロント・エンドは、ノイズ等
化パワーが−８０ｄＢｍで、数百ＫＨｚの帯域幅であ
り、ＳＮＲは、約７０ｄＢでなければならない。これ
は、レーザ１２を高速に同調できると仮定して、１秒で
最も広いスペクトルを走査できるとすれば、総ての精密
な位相測定に対して適切以上となる。
び受信器２７の回路における信号対ノイズ比（ＳＮＲ）
を適切に維持しながら、掃引レーザ１２をできるだけ速
く掃引することにより決まる。掃引レーザ１２及びこれ
ら検出器２４、２６、３０の間の光損失は、１０ｄＢ以
下のオーダで比較的小さくなければならない。これは、
レーザ出力が１ｄＢｍならば、検出器において−１０ｄ
Ｂｍでなければならないことを意味する。ピコメートル
毎にサンプリングする間、０．１秒内で１０ナノメート
ルを走査するには、大雑把に、０．１秒内の１０,００
０個のサンプル、即ち、１秒当たり１０万個のサンプル
を集める必要がある。よって、受信器回路の帯域幅は、
１００ｋＨｚのオーダでなければならない。良好に設計
された受信器／検出器のフロント・エンドは、ノイズ等
化パワーが−８０ｄＢｍで、数百ＫＨｚの帯域幅であ
り、ＳＮＲは、約７０ｄＢでなければならない。これ
は、レーザ１２を高速に同調できると仮定して、１秒で
最も広いスペクトルを走査できるとすれば、総ての精密
な位相測定に対して適切以上となる。
【００２７】波形を取り込んで、これらを校正する。し
かし、これは、１回の処理であり、上述の如く、比較的
簡単であり、直接的なアルゴリズムである。合理的な能
力のあるデジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ）による校正
には、たぶん数秒で充分である。よって、１ピコメート
ルの分解能及びピコメートルの確度による３０ナノメー
トルの走査の全時間は、４又は５秒未満に完了できる。
これは、マイケルソン干渉計により同調可能なレーザを
校正するのに要する時間に対して、大幅な改善である。
かし、これは、１回の処理であり、上述の如く、比較的
簡単であり、直接的なアルゴリズムである。合理的な能
力のあるデジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ）による校正
には、たぶん数秒で充分である。よって、１ピコメート
ルの分解能及びピコメートルの確度による３０ナノメー
トルの走査の全時間は、４又は５秒未満に完了できる。
これは、マイケルソン干渉計により同調可能なレーザを
校正するのに要する時間に対して、大幅な改善である。
【００２８】
【発明の効果】よって、本発明による掃引レーザ用波長
校正は、掃引レーザの波長により循環的に変化する電気
波形を形成し、既知のスペクトル線により循環電気波形
を校正するので、既知の吸収スペクトル線の間を内挿す
るか、又は外挿して、その循環波形の点をその波長とし
て正確に求めることができる。
校正は、掃引レーザの波長により循環的に変化する電気
波形を形成し、既知のスペクトル線により循環電気波形
を校正するので、既知の吸収スペクトル線の間を内挿す
るか、又は外挿して、その循環波形の点をその波長とし
て正確に求めることができる。
【図１】本発明による掃引レーザ用波長校正装置のブロ
ック図である。
ック図である。
【図２】本発明により、掃引レーザ波長を有する電気信
号循環を発生する偏光維持ファイバのループを示すブロ
ック図である。
号循環を発生する偏光維持ファイバのループを示すブロ
ック図である。
【図３】本発明により、掃引レーザ波長を有する電気信
号循環を発生する干渉計のブロック図である。
号循環を発生する干渉計のブロック図である。
【図４】本発明による循環電気信号発生器からの正弦波
出力を示す図である。
出力を示す図である。
【図５】本発明により、既知の吸収スペクトル線と重ね
合わさった正弦波出力を示す図である。
合わさった正弦波出力を示す図である。
１２ 掃引レーザ（同調可能なレーザ） １４ 第１結合器 １６ 第２結合器 １７ 光電気信号変換器 １８ 偏光器 ２０ ファイバ ２１ 経路 ２３ 経路 ２４ 検出器 ２６ 検出器 ２７ 光受信器 ２８ ガス吸収セル ３０ 検出器 ３２ 複合信号（循環波形） ３４ 吸収スペクトル（吸収線） ３６ サンプル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 5F072 HH05 KK15 KK30
Claims (8)
- 【請求項１】 掃引レーザ用の波長校正装置であって、 電気信号の各点に対応する波長が正確に既知になるよう
に、所定光波長レンジにわたって上記掃引レーザの光波
長と循環的である上記電気信号を上記掃引レーザの掃引
光出力から発生する発生手段と、 上記掃引光出力から、既知のスペクトル吸収線を用いて
上記電気信号用の校正基準を与える基準手段とを具えた
掃引レーザ用波長校正装置。 - 【請求項２】 上記発生手段は、 上記掃引レーザからの上記掃引光出力を入力とし、不揃
いの長さの２つの光経路を有する不平衡干渉計と、 該不平衡干渉計からの光出力を上記循環的な電気信号に
変換する手段とを具えることを特徴とする請求項１の掃
引レーザ用波長校正装置。 - 【請求項３】 上記発生手段は、 上記掃引レーザからの上記掃引光出力を入力とする偏光
器と、 該偏光器が上記ファイバの固有モードに対して４５度の
向きになるように、上記偏光器の出力の一端に結合され
たファイバの高複屈折部分と、 上記ファイバの固有モードに対して４５度の方向にある
上記ファイバの高複屈折部分の他端に結合された偏光ビ
ーム・スプリッタと、 夫々が上記偏光ビーム・スプリッタの各出力端に結合
し、その合成が上記電気信号である複数の出力電気信号
を夫々発生する１対の検出器とを具えた請求項１の掃引
レーザ用波長校正装置。 - 【請求項４】 上記基準手段は、 所定光波長レンジ内で既知のスペクトル吸収線を有する
ガスを含み、入力端が上記掃引レーザからの上記掃引光
出力を受けるガス吸収セルと、 上記ガス吸収セルからの上記既知のスペクトル吸収線を
上記校正基準に変換する検出器とを具えた請求項１、２
又は３の掃引レーザ用波長校正装置。 - 【請求項５】 掃引レーザ用の波長校正方法であって、 電気信号の各点に対応する波長が正確に既知になるよう
に、所定光波長レンジにわたって上記掃引レーザの光波
長と循環的な上記電気信号を上記掃引レーザの掃引光信
号から発生する発生ステップと、 既知のスペクトル吸収線を用いて上記電気信号用の校正
基準を上記掃引光信号から与える基準ステップとを具え
た掃引レーザ用波長校正方法。 - 【請求項６】 上記発生ステップは、 上記掃引光信号を不平衡干渉計内の長さが不揃いの２つ
の平行な光経路により伝送し、 上記不平衡干渉計からの出力を上記循環的な電気信号に
変換することを特徴とする請求項５の掃引レーザ用波長
校正方法。 - 【請求項７】 上記発生ステップは、 上記掃引光信号を偏光器に入力し、 該偏光器がファイバの固有モードに対して４５度の向き
になるように、上記偏光器の出力の一端に上記ファイバ
の高複屈折部分を結合し、 上記ファイバの固有モードに対して４５度の方向にあり
１対の出力端を有する偏光ビーム・スプリッタを上記フ
ァイバの高複屈折部分の他端に結合し、 上記偏光ビーム・スプリッタの上記１対の出力端から、
上記１対の出力の合成として上記電気信号を取り出すこ
とを特徴とする請求項５の掃引レーザ用波長校正方法。 - 【請求項８】 上記基準手ステップは、 所定光波長レンジ内の既知のスペクトル吸収線を有する
材料を含むガス吸収セルに上記掃引光信号を入力し、 上記ガス吸収セルから上記既知のスペクトル吸収線を上
記校正基準として検出することを特徴とする請求項５、
６又は７の掃引レーザ用波長校正方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US09/774,433 US6570894B2 (en) | 2001-01-30 | 2001-01-30 | Real-time wavelength calibration for swept lasers |
| US09/774,433 | 2001-01-30 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2007288494A Division JP4722110B2 (ja) | 2001-01-30 | 2007-11-06 | 掃引レーザ用波長校正装置及び方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002305340A true JP2002305340A (ja) | 2002-10-18 |
| JP4477282B2 JP4477282B2 (ja) | 2010-06-09 |
Family
ID=25101211
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002012040A Expired - Lifetime JP4477282B2 (ja) | 2001-01-30 | 2002-01-21 | 掃引レーザ用波長校正装置及び方法 |
| JP2007288494A Expired - Lifetime JP4722110B2 (ja) | 2001-01-30 | 2007-11-06 | 掃引レーザ用波長校正装置及び方法 |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2007288494A Expired - Lifetime JP4722110B2 (ja) | 2001-01-30 | 2007-11-06 | 掃引レーザ用波長校正装置及び方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6570894B2 (ja) |
| JP (2) | JP4477282B2 (ja) |
| CN (1) | CN1262825C (ja) |
| DE (1) | DE10202759B4 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011513711A (ja) * | 2008-02-21 | 2011-04-28 | ルナ イノベーションズ インコーポレイテッド | 波長可変レーザの高精度波長測定と制御 |
Families Citing this family (67)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7420969B2 (en) * | 2000-11-29 | 2008-09-02 | Rmi Corporation | Network switch with a parallel shared memory |
| US6985234B2 (en) * | 2001-01-30 | 2006-01-10 | Thorlabs, Inc. | Swept wavelength meter |
| US6570894B2 (en) * | 2001-01-30 | 2003-05-27 | Tektronix, Inc. | Real-time wavelength calibration for swept lasers |
| DE60100085T2 (de) | 2001-04-12 | 2003-05-28 | Agilent Technologies Inc | Vorrichtung zur Kalibrierung von Wellenlängenmesseinrichtungen |
| US6717967B2 (en) * | 2002-03-18 | 2004-04-06 | Dicos Technologies Inc. | Absolutely calibrated periodic filters and sources |
| US20030215173A1 (en) * | 2002-05-14 | 2003-11-20 | Farhad Hakimi | Multiphase optical pulse generator |
| US20040208651A1 (en) * | 2002-05-23 | 2004-10-21 | Farhad Hakimi | Optical signal receiver |
| US20030219256A1 (en) * | 2002-05-23 | 2003-11-27 | Farhad Hakimi | Optical signal transmission system and transmitter |
| US20040208627A1 (en) * | 2002-08-02 | 2004-10-21 | Farhad Hakimi | Optical signal transmission method |
| EP1554538A1 (en) * | 2002-10-11 | 2005-07-20 | Agilent Technologies Inc | Interferometer monitoring |
| US8347373B2 (en) | 2007-05-08 | 2013-01-01 | Fortinet, Inc. | Content filtering of remote file-system access protocols |
| US9867530B2 (en) | 2006-08-14 | 2018-01-16 | Volcano Corporation | Telescopic side port catheter device with imaging system and method for accessing side branch occlusions |
| WO2009009801A1 (en) * | 2007-07-12 | 2009-01-15 | Volcano Corporation | Apparatus and methods for uniform frequency sample clocking |
| EP2178442B1 (en) | 2007-07-12 | 2017-09-06 | Volcano Corporation | Catheter for in vivo imaging |
| US8395781B2 (en) | 2007-07-12 | 2013-03-12 | Volcano Corporation | Automatic calibration systems and methods of use |
| US9596993B2 (en) | 2007-07-12 | 2017-03-21 | Volcano Corporation | Automatic calibration systems and methods of use |
| US10219780B2 (en) | 2007-07-12 | 2019-03-05 | Volcano Corporation | OCT-IVUS catheter for concurrent luminal imaging |
| US11141063B2 (en) | 2010-12-23 | 2021-10-12 | Philips Image Guided Therapy Corporation | Integrated system architectures and methods of use |
| US11040140B2 (en) | 2010-12-31 | 2021-06-22 | Philips Image Guided Therapy Corporation | Deep vein thrombosis therapeutic methods |
| US9360630B2 (en) | 2011-08-31 | 2016-06-07 | Volcano Corporation | Optical-electrical rotary joint and methods of use |
| EP2662661A1 (de) | 2012-05-07 | 2013-11-13 | Leica Geosystems AG | Messgerät mit einem Interferometer und einem ein dichtes Linienspektrum definierenden Absorptionsmedium |
| US9367965B2 (en) | 2012-10-05 | 2016-06-14 | Volcano Corporation | Systems and methods for generating images of tissue |
| US10070827B2 (en) | 2012-10-05 | 2018-09-11 | Volcano Corporation | Automatic image playback |
| US9324141B2 (en) | 2012-10-05 | 2016-04-26 | Volcano Corporation | Removal of A-scan streaking artifact |
| US9307926B2 (en) | 2012-10-05 | 2016-04-12 | Volcano Corporation | Automatic stent detection |
| US9286673B2 (en) | 2012-10-05 | 2016-03-15 | Volcano Corporation | Systems for correcting distortions in a medical image and methods of use thereof |
| US9858668B2 (en) | 2012-10-05 | 2018-01-02 | Volcano Corporation | Guidewire artifact removal in images |
| WO2014055880A2 (en) | 2012-10-05 | 2014-04-10 | David Welford | Systems and methods for amplifying light |
| US9292918B2 (en) | 2012-10-05 | 2016-03-22 | Volcano Corporation | Methods and systems for transforming luminal images |
| US10568586B2 (en) | 2012-10-05 | 2020-02-25 | Volcano Corporation | Systems for indicating parameters in an imaging data set and methods of use |
| US11272845B2 (en) | 2012-10-05 | 2022-03-15 | Philips Image Guided Therapy Corporation | System and method for instant and automatic border detection |
| US9840734B2 (en) | 2012-10-22 | 2017-12-12 | Raindance Technologies, Inc. | Methods for analyzing DNA |
| EP2931132B1 (en) | 2012-12-13 | 2023-07-05 | Philips Image Guided Therapy Corporation | System for targeted cannulation |
| US11406498B2 (en) | 2012-12-20 | 2022-08-09 | Philips Image Guided Therapy Corporation | Implant delivery system and implants |
| CA2895770A1 (en) | 2012-12-20 | 2014-07-24 | Jeremy Stigall | Locating intravascular images |
| EP2934310A4 (en) | 2012-12-20 | 2016-10-12 | Nathaniel J Kemp | RECONFIGURABLE OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY SYSTEM BETWEEN DIFFERENT IMAGING MODES |
| US10939826B2 (en) | 2012-12-20 | 2021-03-09 | Philips Image Guided Therapy Corporation | Aspirating and removing biological material |
| CA2895502A1 (en) | 2012-12-20 | 2014-06-26 | Jeremy Stigall | Smooth transition catheters |
| US10942022B2 (en) | 2012-12-20 | 2021-03-09 | Philips Image Guided Therapy Corporation | Manual calibration of imaging system |
| JP2016501625A (ja) | 2012-12-21 | 2016-01-21 | ジェローム マイ， | 可変線密度での超音波撮像 |
| US9486143B2 (en) | 2012-12-21 | 2016-11-08 | Volcano Corporation | Intravascular forward imaging device |
| US9612105B2 (en) | 2012-12-21 | 2017-04-04 | Volcano Corporation | Polarization sensitive optical coherence tomography system |
| WO2014100530A1 (en) | 2012-12-21 | 2014-06-26 | Whiseant Chester | System and method for catheter steering and operation |
| US10993694B2 (en) | 2012-12-21 | 2021-05-04 | Philips Image Guided Therapy Corporation | Rotational ultrasound imaging catheter with extended catheter body telescope |
| WO2014099763A1 (en) | 2012-12-21 | 2014-06-26 | Jason Spencer | System and method for graphical processing of medical data |
| CA2896006A1 (en) | 2012-12-21 | 2014-06-26 | David Welford | Systems and methods for narrowing a wavelength emission of light |
| CA2895940A1 (en) | 2012-12-21 | 2014-06-26 | Andrew Hancock | System and method for multipath processing of image signals |
| WO2014100162A1 (en) | 2012-12-21 | 2014-06-26 | Kemp Nathaniel J | Power-efficient optical buffering using optical switch |
| US10058284B2 (en) | 2012-12-21 | 2018-08-28 | Volcano Corporation | Simultaneous imaging, monitoring, and therapy |
| EP2965263B1 (en) | 2013-03-07 | 2022-07-20 | Bernhard Sturm | Multimodal segmentation in intravascular images |
| US10226597B2 (en) | 2013-03-07 | 2019-03-12 | Volcano Corporation | Guidewire with centering mechanism |
| US20140276923A1 (en) | 2013-03-12 | 2014-09-18 | Volcano Corporation | Vibrating catheter and methods of use |
| EP2967391A4 (en) | 2013-03-12 | 2016-11-02 | Donna Collins | SYSTEMS AND METHODS FOR DIAGNOSING CORONARY MICROVASCULAR DISEASE |
| WO2014159819A1 (en) | 2013-03-13 | 2014-10-02 | Jinhyoung Park | System and methods for producing an image from a rotational intravascular ultrasound device |
| US11026591B2 (en) | 2013-03-13 | 2021-06-08 | Philips Image Guided Therapy Corporation | Intravascular pressure sensor calibration |
| US9301687B2 (en) | 2013-03-13 | 2016-04-05 | Volcano Corporation | System and method for OCT depth calibration |
| US10292677B2 (en) | 2013-03-14 | 2019-05-21 | Volcano Corporation | Endoluminal filter having enhanced echogenic properties |
| CN105208947B (zh) | 2013-03-14 | 2018-10-12 | 火山公司 | 具有回声特性的过滤器 |
| US10219887B2 (en) | 2013-03-14 | 2019-03-05 | Volcano Corporation | Filters with echogenic characteristics |
| CN103768718A (zh) * | 2014-02-11 | 2014-05-07 | 罗世琴 | 用于治疗肿瘤的远红外磁疗贴 |
| CN103768719A (zh) * | 2014-02-11 | 2014-05-07 | 罗世琴 | 用于治疗心血管疾病的远红外磁疗贴 |
| CN103768722A (zh) * | 2014-02-18 | 2014-05-07 | 罗世琴 | 用于治疗脉管炎的远红外磁疗贴及制作方法 |
| WO2017066602A1 (en) * | 2015-10-16 | 2017-04-20 | Thorlabs, Inc. | Linear motor or voice coil for fast tuning of a laser cavity |
| DE102016200741B4 (de) | 2016-01-20 | 2023-06-29 | Ford Global Technologies, Llc | Montageeinheit mit Antriebswelle und Antriebswellenhalter sowie Kraftfahrzeug mit Montageeinheit |
| WO2018163152A1 (en) * | 2017-03-08 | 2018-09-13 | Oryx Vision Ltd. | A device and a method for generating optical chirp signals for use in a coherent detection system |
| CN108562237B (zh) * | 2018-01-04 | 2020-02-18 | 大连理工大学 | 一种采用hcn气室在光频域反射传感系统中进行光谱校准的装置和方法 |
| CN113588101B (zh) * | 2020-04-30 | 2023-05-02 | 北京科益虹源光电技术有限公司 | 一种准分子激光器绝对波长校准方法 |
Family Cites Families (26)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH027587A (ja) * | 1988-06-27 | 1990-01-11 | Yokogawa Electric Corp | 可変周波数光源 |
| JPH076845B2 (ja) * | 1988-11-08 | 1995-01-30 | 日本電信電話株式会社 | 光周波数エンコーダ |
| JPH0740181Y2 (ja) * | 1989-03-30 | 1995-09-13 | 横河電機株式会社 | レーザ周波数特性測定装置並びに核装置を利用した可変周波数光源 |
| JPH0319933A (ja) * | 1989-06-14 | 1991-01-29 | Toyota Autom Loom Works Ltd | 織機の電子ドビー装置における柄崩れ防止方法 |
| JPH0359428A (ja) * | 1989-07-28 | 1991-03-14 | Fujitsu Ltd | 半導体レーザの周波数変調特性測定方法及び装置 |
| DE4107549C2 (de) * | 1991-03-08 | 1995-01-12 | Deutsche Forsch Luft Raumfahrt | Verfahren zum Betrieb und zur Wellenzahlkalibrierung eines Interferometers nach Michelson |
| US5303165A (en) | 1992-02-12 | 1994-04-12 | The Perkin-Elmer Corporation | Standardizing and calibrating a spectrometric instrument |
| JPH0653590A (ja) * | 1992-07-31 | 1994-02-25 | Hitachi Ltd | 光ｆｓｋ周波数変位量安定化方式 |
| DE69416396T2 (de) | 1994-04-11 | 1999-06-10 | Hewlett Packard Gmbh | Rauschpegelmessungsverfahren in Gegenwart von einem Signal |
| EP0702437B1 (en) | 1994-08-16 | 1998-05-27 | Hewlett-Packard GmbH | Method and apparatus for analyzing the characteristics of an optical circuit |
| US5825530A (en) | 1994-12-02 | 1998-10-20 | Hewlett-Packard Company | Arrangement and method for operating and testing an optical device |
| AU6119396A (en) | 1995-07-27 | 1997-02-26 | Jds Fitel Inc. | Method and device for wavelength locking |
| US5780843A (en) | 1996-07-16 | 1998-07-14 | Universite Laval | Absolute optical frequency calibrator for a variable frequency optical source |
| US5892582A (en) | 1996-10-18 | 1999-04-06 | Micron Optics, Inc. | Fabry Perot/fiber Bragg grating multi-wavelength reference |
| US5724373A (en) | 1996-11-15 | 1998-03-03 | Hewlett-Packard Company | Microphotonic acousto-optic tunable laser |
| US5896193A (en) | 1997-02-14 | 1999-04-20 | Jds Fitel Inc. | Apparatus for testing an optical component |
| US5850292A (en) | 1997-11-13 | 1998-12-15 | Hewlett-Packard Company | Wavelength monitor for optical signals |
| US6091744A (en) | 1998-01-14 | 2000-07-18 | Hewlett-Packard Company | Wavelength selectable source for wavelength division multiplexed applications |
| US5982791A (en) | 1998-01-14 | 1999-11-09 | Hewlett-Packard Company | Wavelength tracking in adjustable optical systems |
| DE69800853T2 (de) | 1998-02-14 | 2001-11-08 | Agilent Technologies Inc | Ferngesteuerte Messung von wellenlängenabhängigen Informationen über optische Komponenten |
| EP1149443A4 (en) * | 1998-09-11 | 2006-03-22 | New Focus Inc | TUNABLE LASER |
| AU1905400A (en) | 1998-10-16 | 2000-05-08 | New Focus, Inc. | Interferometer for optical wavelength monitoring |
| US6449047B1 (en) * | 1998-11-13 | 2002-09-10 | Micron Optics, Inc. | Calibrated swept-wavelength laser and interrogator system for testing wavelength-division multiplexing system |
| US6347100B1 (en) * | 1999-01-04 | 2002-02-12 | Sdl, Inc. | Short wavelength fiber laser |
| US6985234B2 (en) * | 2001-01-30 | 2006-01-10 | Thorlabs, Inc. | Swept wavelength meter |
| US6570894B2 (en) * | 2001-01-30 | 2003-05-27 | Tektronix, Inc. | Real-time wavelength calibration for swept lasers |
-
2001
- 2001-01-30 US US09/774,433 patent/US6570894B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-01-21 JP JP2002012040A patent/JP4477282B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2002-01-24 DE DE10202759A patent/DE10202759B4/de not_active Expired - Lifetime
- 2002-01-30 CN CNB021032076A patent/CN1262825C/zh not_active Expired - Lifetime
-
2007
- 2007-11-06 JP JP2007288494A patent/JP4722110B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011513711A (ja) * | 2008-02-21 | 2011-04-28 | ルナ イノベーションズ インコーポレイテッド | 波長可変レーザの高精度波長測定と制御 |
| US9766131B2 (en) | 2008-02-21 | 2017-09-19 | Intuitive Surgical Operations, Inc. | High accuracy, high precision, low drift, and concurrent wavelength measurement of a sweeping tunable laser |
| US10502632B2 (en) | 2008-02-21 | 2019-12-10 | Intuitive Surgical Operations, Inc. | High precision wavelength measurement and control of a tunable laser |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4722110B2 (ja) | 2011-07-13 |
| JP2008070385A (ja) | 2008-03-27 |
| JP4477282B2 (ja) | 2010-06-09 |
| DE10202759A1 (de) | 2003-02-27 |
| CN1262825C (zh) | 2006-07-05 |
| US6570894B2 (en) | 2003-05-27 |
| US20020131045A1 (en) | 2002-09-19 |
| CN1369694A (zh) | 2002-09-18 |
| DE10202759B4 (de) | 2005-07-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4722110B2 (ja) | 掃引レーザ用波長校正装置及び方法 | |
| JP4667728B2 (ja) | 掃引波長計及び波長校正方法 | |
| US20050088661A1 (en) | Apparatus and method for the complete characterization of optical devices including loss, birefringence and dispersion effects | |
| Huang et al. | Demodulation of fiber Bragg grating sensor using cross-correlation algorithm | |
| CN106017333B (zh) | 基于相位调制的双激光单频干涉纳米位移测量装置及方法 | |
| CN111693255B (zh) | 一种激光光源频率漂移的测量装置及方法 | |
| CN108120378A (zh) | 基于飞秒光频梳的正弦相位调制干涉绝对测距装置与方法 | |
| Moore | Advances in swept-wavelength interferometry for precision measurements | |
| RU102256U1 (ru) | Устройство для измерения параметров физических полей | |
| US5654793A (en) | Method and apparatus for high resolution measurement of very low levels of polarization mode dispersion (PMD) in single mode optical fibers and for calibration of PMD measuring instruments | |
| WO1996036859A1 (en) | Measurement of polarization mode dispersion | |
| CN113804301A (zh) | 一种基于光频域移频干涉的分布式偏振串音快速测量装置 | |
| CN110319940B (zh) | 高密度等离子体密度测量的激光光纤干涉仪诊断系统 | |
| Yoshioka et al. | A method for measuring the frequency response of photodetector modules using twice-modulated light | |
| Liu et al. | An integrated design of ultra-high-speed FBG interrogation system-based on FDML laser | |
| RU92180U1 (ru) | Устройство для измерения параметров физических полей | |
| Chen et al. | Modified frequency-shifted interferometer: encoding wavelength into phase | |
| CN112880716A (zh) | 一种基于ofdr技术的多通道光纤传感系统 | |
| RU2797693C1 (ru) | Способ измерения параметров неоднородностей показателя преломления вдоль оптического волокна и оптический рефлектометр частотной области | |
| CN114323242B (zh) | 基于偏振分解光纤干涉仪的全频段激光频率噪声的测量装置与方法 | |
| Slavicek et al. | Using oscilloscope to measure optical fiber length | |
| Singh et al. | A fiber-optic attenuator calibration system using high frequency substitution method | |
| CN117811649A (zh) | 一种光频域反射计中扫频干涉信号非线性补偿系统及方法 | |
| Cyr et al. | Innovative implementation of the phase-shift method for field measurement of chromatic dispersion | |
| CN116222404A (zh) | 测量mzi两臂差的传感系统和mzi两臂差的测量方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20040616 |
|
| A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20040625 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20040625 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041213 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20051121 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060411 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20060711 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20060721 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070710 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071108 |
|
| A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20071228 |
|
| A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20080201 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20081022 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20081027 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20090818 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20090825 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091118 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100115 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100311 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4477282 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130319 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130319 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140319 Year of fee payment: 4 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |