JP2002296302A - 測定装置におけるグリッド及び/またはマーカー設定方法 - Google Patents

測定装置におけるグリッド及び/またはマーカー設定方法

Info

Publication number
JP2002296302A
JP2002296302A JP2001103478A JP2001103478A JP2002296302A JP 2002296302 A JP2002296302 A JP 2002296302A JP 2001103478 A JP2001103478 A JP 2001103478A JP 2001103478 A JP2001103478 A JP 2001103478A JP 2002296302 A JP2002296302 A JP 2002296302A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
grid
marker
setting
display
markers
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2001103478A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiromi Saito
裕己 齋藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ando Electric Co Ltd
Original Assignee
Ando Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ando Electric Co Ltd filed Critical Ando Electric Co Ltd
Priority to JP2001103478A priority Critical patent/JP2002296302A/ja
Priority to CA002379484A priority patent/CA2379484A1/en
Priority to US10/113,607 priority patent/US6784655B2/en
Priority to EP20020007516 priority patent/EP1248115A1/en
Publication of JP2002296302A publication Critical patent/JP2002296302A/ja
Priority to US10/891,999 priority patent/US7026805B2/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/16Spectrum analysis; Fourier analysis
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/20Cathode-ray oscilloscopes
    • G01R13/22Circuits therefor
    • G01R13/30Circuits for inserting reference markers, e.g. for timing, for calibrating, for frequency marking
    • G01R13/305Circuits for inserting reference markers, e.g. for timing, for calibrating, for frequency marking for time marking

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】従来の測定装置における、ディスプレイ上に設
定されるグリッドの設定間隔及びマーカーの移動間隔が
特定の間隔に固定されていたのを、任意に変更できるよ
うにして、ディスプレイ上に表示された測定結果の判定
及び解析を容易に実行できるようにする。 【解決手段】測定装置におけるディスプレイ上のグリッ
ド及び/またはマーカーの設定方法において、グリッド
及び/またはマーカーの設定モードに切換えるステップ
と、基準となるグリッド及び/またはマーカーを設定す
るステップと、前記基準となるグリッド及び/またはマ
ーカーに対して、各々任意の間隔を有する複数のグリッ
ド及び/またはマーカーを設定するステップと、を含む
ことを特徴とするグリッド及び/またはマーカーの設定
方法。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電気信号の時間特
性や周波数特性、光学部品の波長依存特性等を測定する
オシロスコープやスペクトルアナライザ等の測定装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、電気信号の時間特性や周波数特
性、光学部品の波長依存特性等を測定するオシロスコー
プやスペクトルアナライザ等の測定装置のような、測定
結果をディスプレイ上に波形表示を行わせる測定装置を
用いた測定においては、ある点での測定結果を正確に知
るために、グリッドやマーカーを用いていた。
【0003】測定装置におけるグリッドは、測定装置の
測定結果である波形等がディスプレイ上に表示されたも
のを読みやすくするために、縦軸及び/または横軸を所
定の間隔毎に区切られる線である。
【0004】また、マーカーは、ディスプレイ上に表示
された測定結果である波形の任意の位置を指示して、そ
の位置における縦軸及び/または横軸の値を表示するた
めのものである。
【0005】従来は、前記グリッドやマーカーをディス
プレイ上に、測定装置の測定結果である波形等と共に表
示して測定をおこなっていたが、従来のマーカーの設定
は、ロータリーノブや、カーソルキーによって、移動が
可能であり、1ステップで移動する間隔を狭くしたり、
広くしたりはできるが、移動する間隔をステップ毎に任
意に変更することはできなかった。また、従来のグリッ
ドの間隔の設定も、スケール等により特定の間隔に決定
されており、グリッドの間隔を任意に設定することはで
きなかった。
【0006】従来のグリッド及びマーカーの設定では、
図1に示すような、ある決まった場所にピーク信号が現
れる信号源や、ある決まった場所に吸収や透過のあるD
UT(Device Under Test)の良否を連続で判定する
場合には適応できなかった。
【0007】それは、図1に示すように、マーカーの移
動間隔とピークの間隔とが一致していない場合には、ピ
ーク値の読取りの度毎に、ロータリーノブやカーソルキ
ーを操作してマーカーをピーク値に一致するように移動
させて、実際に測定された信号位置と本来信号が現れる
信号位置とを比較する必要があった。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的(課題)
は、従来の測定装置における、ディスプレイ上に設定さ
れるグリッドの設定間隔及びマーカーの移動間隔が特定
の間隔に固定されていたのを、任意に変更できるように
して、ディスプレイ上に表示された測定結果の判定及び
解析を容易に実行できるようにすることである。
【0009】
【発明課題を解決するための手段】前記課題を解決する
ために、測定装置におけるディスプレイ上のグリッド及
び/またはマーカーの設定方法において、グリッド及び
/またはマーカーの設定モードに切換えるステップと、
基準となるグリッド及び/またはマーカーを設定するス
テップと、前記基準となるグリッド及び/またはマーカ
ーに対して、各々任意の間隔を有する複数のグリッド及
び/またはマーカーを設定するステップと、を含むこと
によって、グリッド及び/またはマーカーの各々の間隔
を任意に変更できるようにして、ディスプレイ上に表示
された測定結果の判定及び解析を容易に実行できる。
(請求項1) なお、明細書中における、「グリッド及び/またはマー
カー」は、グリッド又はマーカーが単独の場合と、グリ
ッドとマーカーの両方の場合とが含まれる意味として使
用されている。
【0010】また、前記基準となるグリッド及び/また
はマーカーに対して、各々任意の間隔を有する複数のグ
リッド及び/またはマーカーを設定するステップにおい
て、ロータリーノブまたはカーソルキーによって、個々
のグリッド及び/またはマーカー位置が指定されること
によって、ディスプレイ上でオペレータが容易にグリッ
ド及び/またはマーカーの各々の間隔を任意に変更でき
るようにして、ディスプレイ上に表示された測定結果の
判定及び解析を容易に実行できる。(請求項2)
【0011】また、測定装置におけるディスプレイ上の
グリッド及び/またはマーカーの設定方法において、グ
リッド及び/またはマーカーの設定モードに切換えるス
テップと、ディスプレイ上におけるグリッド及び/また
はマーカーの設定範囲を入力するステップと、前記グリ
ッド及び/またはマーカーの設定範囲における分割数を
入力するステップとを含むことによって、設定された範
囲内において、等間隔にグリッド及び/またはマーカー
が容易に設定できる。(請求項3) また、前記設定範囲をディスプレイの全面に設定して、
ディスプレイの全面に亘って等間隔にグリッド及び/ま
たはマーカーが容易に設定できる。(請求項4)
【0012】また、前記ディスプレイ上におけるグリッ
ド及び/またはマーカーの設定範囲を入力するステップ
において、ロータリーノブまたはカーソルキーによっ
て、オペレータが前記設定範囲を指定することができ
る。(請求項5) また、前記ディスプレイ上におけるグリッド及び/また
はマーカーの設定範囲を入力するステップ及び、前記グ
リッド及び/またはマーカーの設定範囲における分割数
を入力するステップにおいて、テンキーから数値で設定
することもできる。(請求項6) また、前記測定装置が、波長または周波数に応じた信号
強度を示すスペクトルアナライザの場合には、ディスプ
レイ上に表示された測定結果の判定及び解析を容易に実
行できる。(請求項7)
【0013】
【発明の実施の形態】本発明のグリッド及びマーカーの
ディスプレイ上における表示例を図面を用いて説明す
る。図1は、ある決まった複数の場所にピーク信号が現
れる信号源や、ある決まった複数の場所に吸収や透過の
あるDUT(Device Under Test)の良否を連続で判
定する場合にディスプレイ上のスペクトル表示例を示す
図である。
【0014】図1において、横軸は、被測定スペクトル
の信号の波長(周波数)を示し、縦軸は、各スペクトル
の信号レベルを示している。図1では、最初のスペクト
ルのピークにマーカーM1は表示されている。そして、
マーカーが表示されている最初のピーク値の波長(周波
数)及び信号レベルをディスプレイの表示目盛から直接
読み取ることができる。なお、図1では示されていない
が、マーカーの表示された位置における波長(周波数)
と信号レベルをディスプレイ上に表示することも可能で
ある。
【0015】また、図1における2番目以降のピークの
波長(周波数)及び信号レベルを読み取るためには、図
1の場合には、等間隔でピークが表示されている場合で
あるので、マーカーを所定間隔ずつ移動させることによ
って、移動した位置のピークに対応した波長(周波数)
及び信号レベルを読み取ることができる。
【0016】図2は、測定結果のディスプレイ上におけ
るスペクトル表示に、グリッド及びマーカーを表示した
表示例である。また、図2においては、複数のグリッド
G1〜Gnは、被測定信号の吸収または透過に対応した
スペクトルのピーク値が現れるはずの位置に表示されて
いる。なお、図2では、各グリッドG1〜Gnの間隔及
びマーカーの移動間隔は一定のように記載されている
が、グリッドの間隔及びマーカーの移動間隔は、各々異
なっても良いことは言うまでもない。
【0017】図2では、実際に測定した被測定信号のス
ペクトルのピーク値は、S4,S6及びS8において、
表示されたグリッドG4,G6及びG8とずれが生じて
いることが、ディスプレイから短時間で容易に判定でき
る。また、各ピーク値に対応した波長(周波数)及び信
号レベルの読取りは、図1の場合と同様で、マーカーM
1から所定間隔ずつ移動させることによって、移動した
位置のピークに対応した波長(周波数)及び信号レベル
を読み取ることができる。(所定間隔で移動した位置と
ピーク値にずれが存在する場合には、ロータリーノブや
カーソルを操作してマーカーをピーク値に一致するよう
に移動させることができる。)
【0018】なお、前記説明では、所定間隔で移動した
位置とピーク値にずれが存在する場合には、ロータリー
ノブやカーソルキーを操作してマーカーをピーク値に一
致するように移動させているが、代わりに、装置に信号
のピーク値を自動的に探索する機能を持たせて、順次ピ
ーク値の位置にマーカーを移動させるようにしても良
い。
【0019】グリッドの間隔及びマーカーの移動間隔を
設定した際には、その設定値を記憶手段に記憶しておく
ことによって、一度設定された設定値を、後の設定に利
用することができる。また、複数の測定対象に対応し
て、予め、グリッドの間隔及びマーカーの移動間隔を複
数種類記憶しておけば、設定情報を読み出すことによっ
て、ユーザーが測定毎に設定する手間を省くことが可能
になる。
【0020】図3は、測定結果のディスプレイ上におけ
るスペクトル表示に、複数グリッド及び各グリッド間隔
と等しい移動間隔のマーカーを複数個表示した表示例で
ある。この図3における、複数個のマーカーM1〜Mn
は、被測定信号に応じて、本来ピーク信号が現れるべき
位置に表示されている。
【0021】図3では、実際に測定した被測定信号のス
ペクトルのピーク値は、S4,S6及びS8において、
配置されたマーカーM4,M6及びM8とずれているこ
とが、ディスプレイから短時間で容易に判定できる。ま
た、この場合に、本来信号が現れるべき位置である各マ
ーカーと、実際の測定信号のピーク値の位置との差(波
長または周波数)をディスプレイ上に表示することもで
きる。なお、図3では、測定信号のピーク値を示してい
るが、ディップ(極小値)を示しても良い。
【0022】上記図1〜図3に関しての説明を総合する
と、本発明のグリッド間隔及びマーカーの移動間隔の設
定は以下のようになされる。 第1の設定方法(任意の間隔に設定する方法) ・任意設定モードにする。(ステップa1) ・ディスプレイ上に設定用のグリッド(マーカー)を1
本(1個)表示し、ロータリーノブ,カーソルキーまた
はテンキーで、次の任意のグリッド(マーカー)位置に
移動する。(ステップa2) ・エンターキーを押すことによって、グリッド(マーカ
ー)の位置を入力する。(ステップa3) ・全ての設定したいグリッド(マーカー)に対して、前
記ステップa2及びa3を繰り返す。(ステップa4) ・上記ステップで設定した設定条件を記憶手段に記憶す
る。(ステップa5) ・グリッド及びマーカーの設定モードを解除する。(ス
テップa6)
【0023】具体例としては、 先ず、条件設定モードにして、グリッド:G1〜Gn
として、1500,1520,1530,1550nmに設定し、マーカーM
1〜Mn:1498,1500,1502,1518,1520,1522,1528,1530,
1532,1548,1550,1552nm(グリッド位置及び、その±2n
m)に設定する。 上記設定条件を記憶手段に記憶して、条件設定モード
を抜ける。なお、条件の設定は複数種類記憶させること
ができる。 実際の被測定波形の評価を行う際には、画面上に、グ
リッドG1〜Gnは上記設定波長に表示される。また、
マーカーM1〜Mnは、カーソルキーやロータリーノブ
の1ステップ毎に、1498,1500,1502・・・・・と移動し
て表示される。なお、マーカーM1〜Mnは、上記の如
く1ステップ毎に、1個ずつ移動して表示する代わり
に、全てのマーカーを同時に表示することも可能であ
る。
【0024】第2の設定方法(ディスプレイ上の指定範
囲だけを等間隔に設定する方法) ・等間隔設定モードにする。(ステップb1) ・ディスプレイの左右方向の範囲を設定する。(ステッ
プb2) ・ディスプレイの上下方向の範囲を設定する。(ステッ
プb3) ・指定範囲におけるグリッドの左右及び上下の分割数
(間隔)を設定する。(ステップb4) ・エンターキーを押すことによって、グリッドの位置を
入力する。(ステップb5) ・上記ステップで設定した設定条件を記憶手段に記憶す
る。(ステップb6) ・等間隔設定モードを解除する。(ステップb7) なお、ステップb2及びb3における設定は、テンキー
等から直接数値を指定して入力するか、ディスプレイ上
で、ロータリーノブやカーソルキーを用いて入力しても
良い。
【0025】第3の設定方法(ディスプレイ上の全範囲
を等間隔に設定する方法) ・等間隔設定モードにする。(ステップc1) ・ディスプレイの左右方向の範囲(余白)を0に設定す
る。(ステップc2) ・ディスプレイの上下方向の範囲(余白)を0に設定す
る。(ステップc3) ・指定範囲におけるグリッドの左右及び上下の分割数
(間隔)を設定する。(ステップc4) ・エンターキーを押すことによって、グリッドの位置を
入力する。(ステップc5) ・上記ステップで設定した設定条件を記憶手段に記憶す
る。(ステップc6) ・等間隔設定モードを解除する。(ステップc7) なお、ステップ2及びc3の初期値が0であれば、ステ
ップc2及びc3を経ずに、直接ステップc4を実行す
ることも可能である。
【0026】本発明の方法では、マーカーの移動位置
を、測定対象に対応した、予め測定したい位置(波長ま
たは周波数)に設定しておくことによって、マーカーの
移動に掛かる時間を大幅に減少させることができる。従
来は、測定ポイントが多い程、マーカーの移動に時間が
掛かかっていたが、本発明の方法では、予めマーカーの
移動する位置が設定されているので、測定ポイント数に
関係なく、任意の位置に短時間でマーカーを飛ばすこと
ができる。
【0027】また、本発明の方法では、グリッドの本数
及びその間隔を任意に設定できるので、測定対象が変更
された場合にも容易に対応できる。また、スペクトルア
ナライザ、光スペクトルアナライザ等の測定範囲を指定
可能な測定装置についても、その測定範囲に対応して、
特定の範囲のみのグリッド間隔を拡大したり、縮小した
りして、最適のグリッドを容易に設定できる。
【0028】また、グリッド(またはマーカー)と実際
の測定信号のピーク(ディップ)ととのずれを一覧表示
することができるので、測定対象の特性の良否の判定や
解析を容易に行うことができる。また、グリッド間隔を
固定して、全体的にシフトすることにより、測定対象の
特性が等間隔にずれているのか、部分的にずれているの
かの判定及び解析を行うこともできる。
【0029】また、特定のグリッド(マーカー)の位置
に左右に(特定の波長または周波数の前後に所定量ずれ
た波長または周波数)に複数個のマーカーを設定して、
ピーク値がグリッド位置と一致するときの、所定量ずれ
た位置に設定されたマーカーの位置の信号レベルを測定
することも可能である。したがって、隣接グリッドとの
クロストローク解析等、グリッド単位で解析を容易に行
うこともできる。
【0030】また、光通信におけるWDM伝送では、波
長間隔がITU−Tという規格で規定されており、波長
多重信号や光デバイスの特性もITU−Tの各チャネル
に沿って繰り返すような特性であるので、本発明の方法
は、特に光スペクトラムアナライザや光波長計、光学部
品テスタなどに適している。その場合、予め、グリッド
の間隔をITU−Tの標準規格に合うように設定するこ
とにより、ITU−Tの規格を準用した波長多重信号の
波長特性の解析が簡単にできる。
【0031】
【発明の効果】請求項1に記載の発明では、前記課題を
解決するために、測定装置におけるディスプレイ上のグ
リッド及び/またはマーカーの設定方法において、グリ
ッド及び/またはマーカーの設定モードに切換えるステ
ップと、基準となるグリッド及び/またはマーカーを設
定するステップと、前記基準となるグリッド及び/また
はマーカーに対して、各々任意の間隔を有する複数のグ
リッド及び/またはマーカーを設定するステップと、を
含むことによって、グリッド及び/またはマーカーの各
々の間隔を任意に変更できるようにして、ディスプレイ
上に表示された測定結果の判定及び解析を容易に実行で
きる。
【0032】また、請求項2に記載の発明では、前記基
準となるグリッド及び/またはマーカーに対して、各々
任意の間隔を有する複数のグリッド及び/またはマーカ
ーを設定するステップにおいて、ロータリーノブまたは
カーソルキーによって、個々のグリッド及び/またはマ
ーカー位置が指定されることによって、ディスプレイ上
でオペレータが容易にグリッド及び/またはマーカーの
各々の間隔を任意に変更できるようにして、ディスプレ
イ上に表示された測定結果の判定及び解析を容易に実行
できる。
【0033】また、請求項3に記載の発明では、測定装
置におけるディスプレイ上のグリッド及び/またはマー
カーの設定方法において、グリッド及び/またはマーカ
ーの設定モードに切換えるステップと、ディスプレイ上
におけるグリッド及び/またはマーカーの設定範囲を入
力するステップと、前記グリッド及び/またはマーカー
の設定範囲における分割数を入力するステップとを含む
ことによって、設定された範囲内において、等間隔にグ
リッド及び/またはマーカーが容易に設定できる。ま
た、請求項4に記載の発明では、前記設定範囲をディス
プレイの全面に設定して、ディスプレイの全面に亘って
等間隔にグリッド及び/またはマーカーが容易に設定で
きる。
【0034】また、請求項5に記載の発明では、前記デ
ィスプレイ上におけるグリッド及び/またはマーカーの
設定範囲を入力するステップにおいて、ロータリーノブ
またはカーソルキーによって、オペレータが前記設定範
囲を指定することができる。また、請求項6に記載の発
明では、前記ディスプレイ上におけるグリッド及び/ま
たはマーカーの設定範囲を入力するステップ及び、前記
グリッド及び/またはマーカーの設定範囲における分割
数を入力するステップにおいて、テンキーから数値で設
定することもできる。また、請求項7に記載の発明で
は、前記測定装置が、波長または周波数に応じた信号強
度を示すスペクトルアナライザの場合には、ディスプレ
イ上に表示された測定結果の判定及び解析を容易に実行
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】測定結果のディスプレイ上におけるスペクトル
表示に、グリッド及びマーカーを表示した第1の表示例
である。
【図2】測定結果のディスプレイ上におけるスペクトル
表示に、グリッド及びマーカーを表示した第2の表示例
である。
【図3】測定結果のディスプレイ上におけるスペクトル
表示に、グリッド及びマーカーを表示した第3の表示例
である。
【符号の説明】
S1〜Sn 測定信号(ピーク) G1〜Gn グリッド M1〜Mn マーカー

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測定装置におけるディスプレイ上のグリ
    ッド及び/またはマーカーの設定方法において、 グリッド及び/またはマーカーの設定モードに切換える
    ステップと、 基準となるグリッド及び/またはマーカーを設定するス
    テップと、 前記基準となるグリッド及び/またはマーカーに対し
    て、各々任意の間隔を有する複数のグリッド及び/また
    はマーカーを設定するステップと、 を含むことを特徴とするグリッド及び/またはマーカー
    の設定方法。
  2. 【請求項2】 前記基準となるグリッド及び/またはマ
    ーカーに対して、各々任意の間隔を有する複数のグリッ
    ド及び/またはマーカーを設定するステップにおいて、
    ロータリーノブまたはカーソルキーによって、個々のグ
    リッド及び/またはマーカー位置が指定されることを特
    徴とする請求項1に記載のグリッド及び/またはマーカ
    ーの設定方法。
  3. 【請求項3】 測定装置におけるディスプレイ上のグリ
    ッド及び/またはマーカーの設定方法において、 グリッド及び/またはマーカーの設定モードに切換える
    ステップと、 ディスプレイ上におけるグリッド及び/またはマーカー
    の設定範囲を入力するステップと、 前記グリッド及び/またはマーカーの設定範囲における
    分割数を入力するステップと、 を含むことを特徴とするグリッド及び/またはマーカー
    の設定方法。
  4. 【請求項4】 前記設定範囲が、ディスプレイ上の全面
    に設定されることを特徴とする請求項3に記載のグリッ
    ド及び/またはマーカーの設定方法。
  5. 【請求項5】 前記ディスプレイ上におけるグリッド及
    び/またはマーカーの設定範囲を入力するステップにお
    いて、ロータリーノブまたはカーソルキーによって、前
    記設定範囲が指定されることを特徴とする請求項3また
    は4に記載のグリッド及び/またはマーカーの設定方
    法。
  6. 【請求項6】 前記ディスプレイ上におけるグリッド及
    び/またはマーカーの設定範囲を入力するステップ及
    び、前記グリッド及び/またはマーカーの設定範囲にお
    ける分割数を入力するステップにおいて、テンキーから
    数値で設定されることを特徴とする請求項3〜5のいず
    れか1項に記載のグリッド及び/またはマーカーの設定
    方法。
  7. 【請求項7】 前記測定装置が、波長または周波数に応
    じた信号強度を示すスペクトルアナライザであることを
    特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載のグリッ
    ド及び/またはマーカーの設定方法。
JP2001103478A 2001-04-02 2001-04-02 測定装置におけるグリッド及び/またはマーカー設定方法 Withdrawn JP2002296302A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001103478A JP2002296302A (ja) 2001-04-02 2001-04-02 測定装置におけるグリッド及び/またはマーカー設定方法
CA002379484A CA2379484A1 (en) 2001-04-02 2002-03-28 Method of setting grids and/or markers in measuring apparatus
US10/113,607 US6784655B2 (en) 2001-04-02 2002-04-01 Method of setting gribs and/or markers in measuring apparatus
EP20020007516 EP1248115A1 (en) 2001-04-02 2002-04-02 Method of setting grids and/or markers in measuring apparatus
US10/891,999 US7026805B2 (en) 2001-04-02 2004-07-15 Method of setting grids and/or markers in measuring apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001103478A JP2002296302A (ja) 2001-04-02 2001-04-02 測定装置におけるグリッド及び/またはマーカー設定方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002296302A true JP2002296302A (ja) 2002-10-09

Family

ID=18956534

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001103478A Withdrawn JP2002296302A (ja) 2001-04-02 2001-04-02 測定装置におけるグリッド及び/またはマーカー設定方法

Country Status (4)

Country Link
US (2) US6784655B2 (ja)
EP (1) EP1248115A1 (ja)
JP (1) JP2002296302A (ja)
CA (1) CA2379484A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1414171A4 (en) * 2001-08-01 2008-10-22 Anritsu Corp METHOD FOR SIGNAL ANALYSIS AND SIGNAL ANALYZER WITH FUNCTION FOR DISPLAYING SLOT INFORMATION

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61174674U (ja) * 1985-04-22 1986-10-30
US4870348A (en) * 1988-06-09 1989-09-26 Tektronix, Inc. Markers for readout and delta-parameter measurements on a quasi-3-dimensional display of a spectrum
US5119076A (en) 1989-12-26 1992-06-02 Tektronix, Inc. Measuring spectral features using a cursor and a marker
US5004975A (en) * 1990-06-28 1991-04-02 Tektronix, Inc. Adjustable electronic graticules for measuring waveform distortions
US5419562A (en) * 1993-08-10 1995-05-30 Cromarty; John I. Method and apparatus for analyzing movements of an individual
US5939877A (en) * 1997-05-27 1999-08-17 Hewlett-Packard Company Graphical system and method for automatically scaling waveforms in a signal measurement system
US6054984A (en) * 1997-05-27 2000-04-25 Hewlett-Packard Company System and method for graphically manipulating display elements in a signal measurement system
US6389365B1 (en) * 1999-08-25 2002-05-14 Agilent Technologies, Inc. Method for operating a spectrum analyzer to display a marker of a signal of interest
US6366689B1 (en) * 1999-10-14 2002-04-02 Asti, Inc. 3D profile analysis for surface contour inspection
US6515509B1 (en) * 2000-07-13 2003-02-04 Xilinx, Inc. Programmable logic device structures in standard cell devices

Also Published As

Publication number Publication date
US6784655B2 (en) 2004-08-31
US20020140415A1 (en) 2002-10-03
US7026805B2 (en) 2006-04-11
EP1248115A1 (en) 2002-10-09
CA2379484A1 (en) 2002-10-02
US20040257062A1 (en) 2004-12-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7920990B2 (en) Apparatus and methods of defining spectral regions of interest for signal analysis
CN101571559B (zh) 用于显示频域数据的信号分析器和方法
US4801873A (en) Waveform measuring apparatus with marker zone displaying function
US20050165570A1 (en) Determination apparatus and method of calibrating the apparatus
CN110399646A (zh) 一种用于系外行星探测的dfdi仪器模型建立方法
JP2533813B2 (ja) スペクトラム・アナライザ
JP2002296302A (ja) 測定装置におけるグリッド及び/またはマーカー設定方法
US7554338B2 (en) Display for measuring phase noise characteristics
JPH0829255A (ja) 波形解析装置
US6330026B1 (en) Color testing system for testing color output of a display device
US20030102856A1 (en) Displaying signal measurements within multiple ranges of a parameter
JPH04294271A (ja) クロマトグラフ/質量分析装置
US6646428B2 (en) Sweep synchronization testing
US20150057977A1 (en) Optical measuring apparatus and optical measuring method
US6687628B2 (en) Enhanced signal analysis in an amplitude versus frequency format
JP3127017B2 (ja) 周波数分析装置
Bertocco et al. A measurement system for the evaluation of environmental electromagnetic field
JP3370272B2 (ja) 機器の過渡状態表示装置
Beuster et al. Attaining low uncertainties in measurements with RF signal generators and analyzers
JP3388556B2 (ja) 定常音波の評価方法及びその装置
SU1404864A1 (ru) Способ контрол спектра случайной вибрации и устройство дл его осуществлени
JP3028388B2 (ja) 電子回路の周波数特性測定装置
RU2123190C1 (ru) Способ определения метрологических характеристик однотипных средств измерений в группе
KR100355774B1 (ko) 무선 이동 통신용 기지국의 성능 측정 방법
SU572946A1 (ru) Устройство дл измерени отношени видеосигнала к помехе

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20041001

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20041001

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050621

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20050621

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20071128

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071205

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20080115