JP2002294439A - Sputtering target and manufacturing method - Google Patents

Sputtering target and manufacturing method

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JP2002294439A
JP2002294439A JP2002012549A JP2002012549A JP2002294439A JP 2002294439 A JP2002294439 A JP 2002294439A JP 2002012549 A JP2002012549 A JP 2002012549A JP 2002012549 A JP2002012549 A JP 2002012549A JP 2002294439 A JP2002294439 A JP 2002294439A
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JP
Japan
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powder
sputtering target
sintering
sintered body
silicon dioxide
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Japanese (ja)
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Osamu Mochizuki
修 望月
Satoshi Kurosawa
聡 黒澤
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Tosoh Corp
Original Assignee
Tosoh Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sputtering target useful for forming a protective film of a phase-change recording medium, which does not crack or break when manufacturing the sintered compact, has a high manufacturing yield, and does not cause cracks even when being sputtered in high power, and to provide a manufacturing method therefor. SOLUTION: The sputtering target of a sintered compact consisting of Zn, S, Si, and O, is characterized in that the distribution of density in the sintered body is a predetermined value or less, in other words, an absolute value of difference of relative density between arbitrary two points in the sintered compact is 3% or less. The method for manufacturing the sintered compact includes pressure sintering with a step-by-step increasing sintering pressure.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は光ビームを用いて情
報を記録、再生及び消去することができる相変化記録媒
体の保護膜を形成するために用いられる硫化亜鉛と二酸
化ケイ素を主成分とする焼結体からなるスパッタリング
ターゲット及びその製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention mainly comprises zinc sulfide and silicon dioxide which are used for forming a protective film of a phase change recording medium on which information can be recorded, reproduced and erased by using a light beam. The present invention relates to a sputtering target made of a sintered body and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、光ビームを用いて情報を記録、
再生及び消去することができる光ディスクの保護膜とし
ては硫化亜鉛(ZnS)と二酸化ケイ素(SiO2)の
混合膜が多く用いられており、また、その形成方法とし
ては硫化亜鉛と二酸化ケイ素からなる焼結体をスパッタ
リングターゲットに用いたスパッタリング法が多く用い
られている。
2. Description of the Related Art Generally, information is recorded using a light beam,
A mixed film of zinc sulfide (ZnS) and silicon dioxide (SiO 2 ) is often used as a protective film for an optical disc that can be reproduced and erased. A sputtering method using a compact as a sputtering target is often used.

【0003】このような光ディスクに代表される相変化
記録媒体の保護膜形成用に使用されるスパッタリングタ
ーゲットに用いられる硫化亜鉛と二酸化ケイ素からなる
焼結体の製造は、ホットプレス法、CIP(低温静水圧
プレス)法とHIP(高温静水圧プレス)法を併用する
方法等で行われており、中でも工業的に製造プロセスの
簡便なホットプレス法が主に採用されている。
The production of a sintered body composed of zinc sulfide and silicon dioxide used for a sputtering target used for forming a protective film of a phase change recording medium represented by such an optical disk is performed by a hot press method, a CIP (low temperature) method. It is performed by a method using a combination of a hydrostatic pressing (HIP) method and a HIP (high-temperature isostatic pressing) method, and among others, a hot pressing method that is simple in industrial production is mainly employed.

【0004】しかし、硫化亜鉛と二酸化ケイ素からなる
ようなセラミックスの焼結体では、スパッタリングター
ゲット製造工程中に割れやクラックが容易に発生しやす
く、それらが歩留りを低下させる主な要因として知られ
ている。また、高出力でスパッタリングしようとすると
割れやクラックが発生しやすいことも知られている。こ
れらスパッタリングターゲット製造中やスパッタリング
中に発生する割れやクラックの防止が急務となってい
た。
[0004] However, in the case of a ceramic sintered body composed of zinc sulfide and silicon dioxide, cracks and cracks are easily generated during the process of manufacturing a sputtering target, and these are known as the main factors that lower the yield. I have. It is also known that cracking and cracking are apt to occur when trying to sputter with high output. There has been an urgent need to prevent cracks and cracks occurring during the production and sputtering of these sputtering targets.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】近年、相変化記録媒体
の製造効率を向上させるために高出力スパッタリングに
より、高速成膜を行い、相変化記録媒体の生産効率を向
上させようとしている。また、相変化記録媒体にはさら
なる高密度化、大容量化が求められており、そのための
信頼性、膜質均一性等の要求特性はますます厳しくなっ
てきている。しかしながら、従来の相変化記録媒体の保
護膜形成用のスパッタリングターゲットを用いて高出力
スパッタリングを行うとスパッタリングターゲットに割
れが発生し、継続してスパッタリングができなくなる。
また、密度が均一でなく、密度分布を有する焼結体によ
り構成されたスパッタリングターゲットを用いて高速成
膜を行った場合、成膜した保護膜の膜厚に生じるばらつ
きが増大し、膜質の均一性が十分でなく、保護膜特性が
相変化記録媒体の面内位置によって不均一となるなどの
不具合が生じていた。
In recent years, in order to improve the production efficiency of the phase change recording medium, it has been attempted to improve the production efficiency of the phase change recording medium by performing high-speed film formation by high-output sputtering. Further, phase change recording media are required to have higher densities and higher capacities, and required characteristics such as reliability and film quality uniformity are becoming increasingly severe. However, when high-output sputtering is performed using a conventional sputtering target for forming a protective film of a phase-change recording medium, the sputtering target is cracked and cannot be continuously sputtered.
In addition, when high-speed film formation is performed using a sputtering target formed of a sintered body having a non-uniform density and a density distribution, the variation in the thickness of the formed protective film increases, and the uniformity of the film quality increases. The properties of the protective film are not sufficient, and the characteristics of the protective film become non-uniform depending on the in-plane position of the phase change recording medium.

【0006】本発明はこのような課題に対処するために
なされたものであり、焼結体製造中やスパッタリング中
のターゲットの割れを防止するとともに、保護膜の膜質
の均一性を高めることを可能にするスパッタリングター
ゲットを提供することを目的としている。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to address such problems, and can prevent cracking of a target during production of a sintered body or sputtering, and can improve the uniformity of film quality of a protective film. It is an object of the present invention to provide a sputtering target.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明者らは上記問題に
鑑みて、鋭意検討を行った結果、相対密度が93%以上
の焼結体において、焼結体の各部位における焼結体密度
の最大値と最小値の差が3%以内になるように均質なス
パッタリングターゲットを作製することにより、焼結時
の焼結体の割れや高出力のスパッタリング時の割れが発
生することがなく、高速でかつ安定なスパッタリングが
可能となるという知見を得た。
Means for Solving the Problems In view of the above problems, the present inventors have conducted intensive studies. As a result, in a sintered body having a relative density of 93% or more, the sintered body By producing a homogeneous sputtering target so that the difference between the maximum value and the minimum value is within 3%, cracking of the sintered body during sintering and cracking during high-power sputtering do not occur. It has been found that high-speed and stable sputtering can be performed.

【0008】本発明は上述の研究結果に基づいてなされ
たものである。
[0008] The present invention has been made based on the above research results.

【0009】本発明のスパッタリングターゲットは、焼
結体内で所定値以上の密度分布が生じていない均質な焼
結体を用いてなることを特徴とするスパッタリングター
ゲットであり、焼結体の各部位における相対密度の最大
値と最小値の差が3%以内であることを特徴としてい
る。すなわち、本発明のスパッタリングターゲットは、
硫化亜鉛及び二酸化ケイ素を主成分とする焼結体からな
るスパッタリングターゲットにおいて、前記焼結体の任
意の2点における相対密度の差の絶対値が3%以内であ
ることを特徴とするスパッタリングターゲットである。
なお、本発明のスパッタリングターゲットにおいては、
スパッタリングターゲットを構成する焼結体全体の相対
密度が93%以上であることが好ましい。
[0009] The sputtering target of the present invention is a sputtering target characterized by using a homogeneous sintered body having a density distribution not exceeding a predetermined value in the sintered body. The difference between the maximum value and the minimum value of the relative density is within 3%. That is, the sputtering target of the present invention,
A sputtering target comprising a sintered body containing zinc sulfide and silicon dioxide as main components, wherein an absolute value of a difference between relative densities at arbitrary two points of the sintered body is within 3%. is there.
In the sputtering target of the present invention,
It is preferable that the relative density of the entire sintered body constituting the sputtering target is 93% or more.

【0010】上記のような密度分布の小さい焼結体を得
るためには、例えば、焼結の際に段階的に加圧を行うこ
とが有用である。また、焼結助剤として、少量の酸化亜
鉛粉末を添加することも有用である。
In order to obtain a sintered body having a small density distribution as described above, for example, it is useful to apply pressure stepwise during sintering. It is also useful to add a small amount of zinc oxide powder as a sintering aid.

【0011】すなわち、本発明のスパッタリングターゲ
ットは、焼結体が、硫化亜鉛粉末と二酸化ケイ素粉末と
の混合粉末を、焼結圧力を段階的に増加させて加圧焼結
して得られたものであることを特徴とするスパッタリン
グターゲットであり、また、前記混合粉末が酸化亜鉛粉
末をさらに含むことを特徴とするスパッタリングターゲ
ットである。
That is, the sputtering target of the present invention is a sputtering target obtained by subjecting a mixed powder of zinc sulfide powder and silicon dioxide powder to pressure sintering by gradually increasing the sintering pressure. And the mixed powder further includes a zinc oxide powder.

【0012】また、本発明のスパッタリングターゲット
の製造方法は、硫化亜鉛粉末及び二酸化ケイ素粉末を均
一に混合した後、あるいは、硫化亜鉛粉末、二酸化ケイ
素粉末及び酸化亜鉛粉末を均一に混合した後、焼結圧力
を段階的に増加させて加圧焼結することを特徴とするス
パッタリングターゲットの製造方法である。
Further, the method for producing a sputtering target of the present invention comprises the steps of uniformly mixing zinc sulfide powder and silicon dioxide powder, or uniformly mixing zinc sulfide powder, silicon dioxide powder and zinc oxide powder, This is a method for manufacturing a sputtering target, characterized in that the sintering pressure is increased stepwise and pressure sintering is performed.

【0013】より具体的には、本発明のスパッタリング
ターゲットの製造方法は、硫化亜鉛粉末と二酸化ケイ素
粉末との混合粉末を加圧焼結して焼結体を得る工程を有
するスパッタリングターゲットの製造方法において、前
記加圧焼結では、800℃以上900℃以下の所定温度
に到達してから1段目の加圧を開始し、1020℃以上
1200℃以下の焼結保持温度(焼結温度)に到達して
から2段目の加圧を開始することを特徴とするスパッタ
リングターゲットの製造方法であり、また、前記混合粉
末が酸化亜鉛粉末をさらに含むことを特徴とするスパッ
タリングターゲットの製造方法である。
More specifically, the method for manufacturing a sputtering target of the present invention comprises a step of obtaining a sintered body by sintering a mixed powder of zinc sulfide powder and silicon dioxide powder under pressure. In the pressure sintering, the first stage pressing is started after reaching a predetermined temperature of 800 ° C. or more and 900 ° C. or less, and the sintering temperature (sintering temperature) of 1020 ° C. or more and 1200 ° C. or less is reached. A method for producing a sputtering target, wherein the second stage of pressurization is started after the arrival, and a method for producing a sputtering target, wherein the mixed powder further contains zinc oxide powder. .

【0014】以下に本発明をさらに詳細に説明する。Hereinafter, the present invention will be described in more detail.

【0015】硫化亜鉛及び二酸化ケイ素を主成分とする
焼結体からなるスパッタリングターゲットにおいては、
焼結体内の密度のばらつきを所定値以下とすることによ
り、焼結時に発生する焼結体の割れや、高出力のスパッ
タリング時に発生する割れを防止することができ、高速
でかつ安定なスパッタリングが可能となるだけでなく、
得られる保護膜の膜質の均一性を高めることも可能とな
る。
In a sputtering target composed of a sintered body containing zinc sulfide and silicon dioxide as main components,
By making the variation in density within the sintered body equal to or less than a predetermined value, cracking of the sintered body that occurs during sintering and cracking that occurs during high-power sputtering can be prevented, and high-speed and stable sputtering can be performed. Not only is it possible,
It is also possible to improve the uniformity of the quality of the obtained protective film.

【0016】すなわち、本発明のスパッタリングターゲ
ットを構成する焼結体は、任意の2点における相対密度
の差の絶対値が3%以内であるものである。なお、焼結
体内の密度のばらつきが小さい焼結体を用いたスパタリ
ングターゲットほど、割れが発生することがなく、高速
でかつ安定なスパッタリングが可能であることから、焼
結体の任意の2点における相対密度の差の絶対値は2%
以内であることが好ましく、1.5%以内であることが
さらに好ましい。
That is, in the sintered body constituting the sputtering target of the present invention, the absolute value of the difference between the relative densities at any two points is within 3%. In addition, a sputtering target using a sintered body having a small variation in density within the sintered body can be sputtered at a high speed and stably without causing cracks. The absolute value of the relative density difference at a point is 2%
Is preferably within 1.5%, and more preferably within 1.5%.

【0017】また、本発明のスパッタリングターゲット
を構成する焼結体の焼結体全体の相対密度は93%以上
であることが好ましく、96%以上であることがさらに
好ましい。これは焼結体全体の密度が大きい焼結体を用
いたスパタリングターゲットほど、割れが発生すること
がなく、高速でかつ安定なスパッタリングが可能である
ことによる。
The relative density of the entire sintered body constituting the sputtering target of the present invention is preferably at least 93%, more preferably at least 96%. This is because, as compared with a sputtering target using a sintered body having a large density of the entire sintered body, cracking does not occur and high-speed and stable sputtering can be performed.

【0018】なお、本発明における硫化亜鉛及び二酸化
ケイ素を主成分とする焼結体とは、硫化亜鉛と二酸化ケ
イ素の含有量の合計が90%以上の焼結体を意味する。
The sintered body containing zinc sulfide and silicon dioxide as main components in the present invention means a sintered body having a total content of zinc sulfide and silicon dioxide of 90% or more.

【0019】また、スパッタリングターゲットを構成す
る焼結体の相対密度は、例えば、アルキメデス法により
測定されたかさ密度から算出することができる。このと
き、焼結体の理論密度は、硫化亜鉛及び二酸化ケイ素以
外の微量成分が存在する場合にも、焼結体が硫化亜鉛及
び二酸化ケイ素のみからなるものと仮定して算出しても
良い。具体的には、硫化亜鉛及び二酸化ケイ素の理論密
度として各々4.09g/cm3、2.20g/cm3
値を用い、例えば、化学分析等により得られた亜鉛と珪
素の含有量から計算される硫化亜鉛及び二酸化ケイ素の
含有量を重みとした加重平均として、焼結体の理論密度
を算出する。例えば、硫化亜鉛と二酸化ケイ素がモル比
で80:20の焼結体の場合、その理論密度は3.67
g/cm 3となる。
Further, a sputtering target is constituted.
The relative density of the sintered body can be determined, for example, by the Archimedes method.
It can be calculated from the measured bulk density. This and
The theoretical density of the sintered body is less than zinc sulfide and silicon dioxide.
Sintered bodies can be made of zinc sulfide and
And silicon dioxide only
good. Specifically, the theoretical density of zinc sulfide and silicon dioxide
4.09 g / cm for eachThree, 2.20 g / cmThreeof
Values, for example, zinc and silica obtained by chemical analysis, etc.
Of zinc sulfide and silicon dioxide calculated from the silicon content
As the weighted average weighted by the content, the theoretical density of the sintered body
Is calculated. For example, the molar ratio of zinc sulfide to silicon dioxide is
In the case of a 80:20 sintered body, the theoretical density is 3.67.
g / cm ThreeBecomes

【0020】焼結体の任意の点における相対密度は、そ
の点を中心とした所定の大きさ、例えば30mm角の焼
結体片を切り出して、上記の方法により相対密度を算出
する。
The relative density at an arbitrary point of the sintered body is calculated by cutting out a sintered body piece having a predetermined size centered on the point, for example, a 30 mm square, and calculating the relative density by the above method.

【0021】密度分布の小さい焼結体を作製するために
は焼結助剤を添加することにより焼結性を向上させるこ
とが有用である。また、焼結体に応力が残留しないよう
な焼結条件を採用することも重要である。
In order to produce a sintered body having a small density distribution, it is useful to add a sintering aid to improve the sinterability. It is also important to adopt sintering conditions that do not leave stress in the sintered body.

【0022】焼結助剤を添加する場合は、硫化亜鉛粉
末、二酸化ケイ素粉末及び焼結助剤の酸化亜鉛粉末を均
一に混合した後、得られた混合粉末を焼結して焼結体を
作製する。なお、混合粉末中の酸化亜鉛粉末の添加量は
0.6〜5wt%であることが好ましい。すなわち、酸
化亜鉛添加の十分な効果を得るためには添加量を0.6
wt%以上とすることが好ましく、また、亜鉛とケイ素
との複酸化物の生成による薄膜への悪影響を防止するた
め添加量を5wt%以下とすることが好ましい。特に、
スパッタリングして得られる相変化記録媒体の保護膜の
特性への影響及び添加による効果の大きさを考慮する
と、さらに好ましくは1〜3wt%である。
When a sintering aid is added, zinc sulfide powder, silicon dioxide powder and zinc oxide powder as a sintering aid are uniformly mixed, and the obtained mixed powder is sintered to obtain a sintered body. Make it. In addition, it is preferable that the addition amount of the zinc oxide powder in the mixed powder is 0.6 to 5 wt%. That is, in order to obtain a sufficient effect of zinc oxide addition, the addition amount is set to 0.6.
wt% or more, and the addition amount is preferably 5 wt% or less in order to prevent an adverse effect on the thin film due to generation of a double oxide of zinc and silicon. In particular,
Considering the effect on the properties of the protective film of the phase change recording medium obtained by sputtering and the effect of the addition, the content is more preferably 1 to 3 wt%.

【0023】焼結体に残留応力の発生が少なくなる焼結
条件としては、焼結の際に段階的に加圧を行うことが有
用である。すなわち、焼結が進行し始める焼結温度にな
ってから1段目の加圧を開始し緻密化を促進させる。次
に焼結保持温度になってから2段目の加圧を開始し、焼
結をさらに進行させることが有用である。本発明では1
段目の加圧時に総加圧量の約7割を、2段目で残りの3
割の加圧を実施している。
As a sintering condition for reducing the occurrence of residual stress in the sintered body, it is useful to apply pressure stepwise during sintering. That is, after the temperature reaches a sintering temperature at which sintering starts to advance, the first stage of pressurization is started to promote densification. Next, it is useful to start the second-stage pressurization after the temperature reaches the sintering holding temperature to further advance the sintering. In the present invention, 1
Approximately 70% of the total pressurized amount at the time of pressurization in the second stage
Some pressurization is implemented.

【0024】添加する焼結助剤として酸化亜鉛を用いる
場合は、酸化亜鉛は硫化亜鉛及び二酸化ケイ素の構成元
素である亜鉛と酸素のみから構成されるものであるの
で、他の焼結助剤等の添加に比べて、形成される薄膜の
相変化記録媒体の保護膜としての特性に対する添加の影
響を非常に少なくすることができる。
When zinc oxide is used as a sintering aid to be added, since zinc oxide is composed of only zinc and oxygen, which are constituent elements of zinc sulfide and silicon dioxide, other sintering aids such as The effect of the addition on the properties of the formed thin film as a protective film of the phase-change recording medium can be greatly reduced as compared with the addition of.

【0025】混合粉末中の硫化亜鉛粉末と二酸化ケイ素
粉末の比率はモル比で90:10〜70:30とするの
が好ましいが、これは、その組成において、得られる膜
の屈折率や熱伝導率等の特性が、相変化記録媒体の保護
膜として最も好ましい特性の膜が得られるからである。
The molar ratio of the zinc sulfide powder to the silicon dioxide powder in the mixed powder is preferably from 90:10 to 70:30. This is because a film having the most preferable characteristics such as the rate can be obtained as the protective film of the phase change recording medium.

【0026】焼結温度(焼結保持温度)は、硫化亜鉛の
閃亜鉛鉱型構造からウルツ鉱型構造への転移温度、すな
わち、1020℃以上1200℃以下とすることが好ま
しい。1020℃未満ではウルツ鉱型構造の高温型硫化
亜鉛が得られず、焼結密度向上の効果を得るためには非
常に高い圧力や長時間の焼成が必要となり、また、12
00℃を超えると硫化亜鉛の昇華により焼結体の組成が
変化してしまう場合がある。なお、焼結温度を1100
℃以上1200℃以下とすることによりさらに高密度の
焼結体を容易に得ることが可能となる。
The sintering temperature (sintering holding temperature) is preferably set to a transition temperature of zinc sulfide from a zinc blende structure to a wurtzite structure, that is, from 1020 ° C. to 1200 ° C. If the temperature is lower than 1020 ° C., high-temperature zinc sulfide having a wurtzite structure cannot be obtained, and in order to obtain the effect of improving the sintering density, a very high pressure and a long firing time are required.
If the temperature exceeds 00 ° C., the composition of the sintered body may change due to sublimation of zinc sulfide. The sintering temperature was set to 1100
By setting the temperature to be higher than or equal to 1200 ° C., a sintered body having a higher density can be easily obtained.

【0027】加圧開始温度は800℃以上とすることが
好ましい。これは原料粉末中に微量に含まれる残留ガス
成分を除去することが目的であり、低温から加圧を開始
し、焼結を進行させると原料粉中のガス成分が残留する
可能性があるためである。さらに2段目の加圧開始は焼
結保持温度に到達してから行うことが好ましい。1段目
の加圧終了後にすぐに2段目の加圧を開始すると、この
段階では原料粉の流動性が良くないため、均一に焼結が
進行し難いので、焼結体中に密度分布が生じてしまう可
能性があるためである。通常、ホットプレス法では外周
部から熱伝導により焼結が進行するため、焼結時に原料
粉の流動性が悪いと中央部において焼結が進行し難くな
る。その場合、得られた焼結体には面内方向に密度分布
が発生することが知られている。
It is preferable that the pressing start temperature is 800 ° C. or higher. The purpose of this is to remove the residual gas components contained in the raw material powder in a trace amount. If the pressurization is started from a low temperature and sintering is advanced, the gas components in the raw material powder may remain. It is. Further, it is preferable to start the second stage pressing after reaching the sintering holding temperature. If the second-stage pressurization is started immediately after the first-stage pressurization, the sintering does not proceed uniformly at this stage because the fluidity of the raw material powder is not good. This is because there is a possibility that this will occur. Normally, in the hot pressing method, sintering proceeds from the outer peripheral portion due to heat conduction. Therefore, if the flowability of the raw material powder is low during sintering, sintering hardly proceeds in the central portion. In that case, it is known that a density distribution occurs in the in-plane direction in the obtained sintered body.

【0028】本発明の焼結体のより詳細な製造方法とし
ては、焼結助剤を添加する場合、硫化亜鉛、二酸化ケイ
素及び酸化亜鉛の原料粉末を所定の組成となるように配
合し、例えば、ボールミルにて均一に混合した後、得ら
れた混合粉末を、例えば、ホットプレス黒鉛型に充填
し、アルゴン雰囲気あるいは真空中で、温度:1020
〜1200℃、時間:1〜10hr、1段目加圧開始温
度:800〜900℃、圧力:100〜210kg/c
2、2段目加圧開始温度:1020〜1200、圧
力:150〜300kg/cm2、昇温速度:200〜
300℃/hr、降温速度:100〜300℃/hr、
昇圧速度・降圧速度:1〜5ton/minの範囲内の
ホットプレス条件で焼結する。ここで、降温速度が30
0℃/hrより大きいと冷却過程で焼結体に残留応力が
発生し、焼結体に割れやクラック等の欠陥が生じるた
め、降温速度は200℃/hr以下とするのが好まし
い。昇圧速度が5ton/minより大きいと応力が残
留するため、3ton/min以下にするのが好まし
い。
As a more detailed manufacturing method of the sintered body of the present invention, when a sintering aid is added, raw material powders of zinc sulfide, silicon dioxide and zinc oxide are blended so as to have a predetermined composition. After mixing uniformly in a ball mill, the obtained mixed powder is filled into, for example, a hot-pressed graphite mold and heated in an argon atmosphere or vacuum to a temperature of 1020.
~ 1200 ° C, time: 1 ~ 10hr, first stage pressing start temperature: 800 ~ 900 ° C, pressure: 100 ~ 210kg / c
m 2 , second-stage pressurization start temperature: 1,200 to 1,200, pressure: 150 to 300 kg / cm 2 , heating rate: 200 to
300 ° C./hr, cooling rate: 100 to 300 ° C./hr,
Sintering rate: The sintering is performed under hot pressing conditions in the range of 1 to 5 ton / min. Here, the cooling rate is 30
If the temperature is higher than 0 ° C./hr, residual stress is generated in the sintered body during the cooling process, and defects such as cracks and cracks are generated in the sintered body. Therefore, the cooling rate is preferably 200 ° C./hr or less. If the pressure rise rate is higher than 5 ton / min, the stress remains, so it is preferable to set the pressure to 3 ton / min or less.

【0029】本発明の焼結体を作製するための原料粉末
として用いられる硫化亜鉛粉末、二酸化ケイ素粉末及び
酸化亜鉛粉末としては特には限定されず、市販の粉末を
使用することができるが、より均一で高密度の焼結体を
得るために、硫化亜鉛粉末及び二酸化ケイ素粉末につい
ては平均粒径が10μm以下の粉末を用いることが好ま
しく、酸化亜鉛粉末については平均粒径が5μm以下の
粉末を用いることが好ましい。
The zinc sulfide powder, silicon dioxide powder and zinc oxide powder used as the raw material powder for producing the sintered body of the present invention are not particularly limited, and commercially available powders can be used. In order to obtain a uniform and high-density sintered body, it is preferable to use a powder having an average particle diameter of 10 μm or less for zinc sulfide powder and silicon dioxide powder, and a powder having an average particle diameter of 5 μm or less for zinc oxide powder. Preferably, it is used.

【0030】また、使用する二酸化ケイ素粉末としては
球状の粒子からなる粉末を使用することもできるが、特
定の形状を持たない比較的大きな粒子を破砕して得られ
る角の多い不規則な形状を有し、平均粒径が10μm以
下の粒子からなる粉末を用いることにより、焼結体から
の二酸化ケイ素粒子の脱落を効果的に防止することがで
き、スパッタリング中のパーティクルの発生をより効果
的に防止することができる。
As the silicon dioxide powder to be used, a powder composed of spherical particles can be used. However, an irregular shape having many corners obtained by crushing relatively large particles having no specific shape can be used. By using a powder having particles having an average particle diameter of 10 μm or less, it is possible to effectively prevent the silicon dioxide particles from falling off from the sintered body, and to more effectively generate particles during sputtering. Can be prevented.

【0031】上記のようにして得られた焼結体は、乾式
または湿式の機械加工により所定の形状に加工され、必
要に応じて、スパッタリング中の熱を効果的に放冷する
ためのCu製あるいはMo製のバッキングプレートにボ
ンディングされて、本発明のスパッタリングターゲット
が作製される。
The sintered body obtained as described above is processed into a predetermined shape by dry or wet machining and, if necessary, is made of Cu for effectively cooling the heat during sputtering. Alternatively, the sputtering target of the present invention is manufactured by bonding to a backing plate made of Mo.

【0032】スパッタリングターゲットの形状として
は、使用するスパッタリング装置によって適宜選択する
ことができ、例えば、直径3〜9インチ程度の円形のも
のが一般的である。また、(4〜6インチ)×(5〜2
0インチ)程度の方形もみられる。また、スパッタリン
グターゲットの厚さとしては、通常3〜20mm程度で
ある。
The shape of the sputtering target can be appropriately selected depending on the sputtering apparatus to be used. For example, a circular target having a diameter of about 3 to 9 inches is generally used. Also, (4-6 inches) × (5-2
A square of about 0 inch) is also observed. The thickness of the sputtering target is usually about 3 to 20 mm.

【0033】[0033]

【実施例】以下、本発明を実施例に基づいて詳細に説明
するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.

【0034】(実施例1〜5)原料粉末として5μmの
平均粒径を有するZnS粉末、5μmの平均粒径を有す
るSiO2粉末及び0.5μmの平均粒径を有するZn
O粉末を使用した。
Examples 1 to 5 ZnS powder having an average particle size of 5 μm, SiO 2 powder having an average particle size of 5 μm, and Zn having an average particle size of 0.5 μm were used as raw material powders.
O powder was used.

【0035】ZnS粉末とSiO2粉末をモル比で8
0:20となるように配合し、これにZnO粉末を全量
に対して1.0wt%(実施例1〜4)添加し、これを
ジルコニアボールとともに樹脂製のポットに投入して、
ボールミルにて16時間混合した。実施例5では焼結助
剤は添加しなかった。得られた混合粉末をホットプレス
黒鉛型に充填し、真空中で、温度1150℃(実施例
1,3)又は1180℃(実施例2,4,5)、圧力2
00kg/cm2の条件にてホットプレス焼結を行い、
焼結体を作製した。なお、1段目加圧開始温度は850
℃(実施例1,2)又は900℃(実施例3,4,5)
で2段目加圧開始温度は1150℃(実施例1,3)又
は1180℃(実施例2,4,5)とした。また、昇温
速度、降温速度は200℃/hr、昇圧速度、降圧速度
は3ton/min、保持時間は6時間とした。
The ZnS powder and the SiO 2 powder are mixed in a molar ratio of 8
0:20 was added, and ZnO powder was added thereto in an amount of 1.0 wt% (Examples 1 to 4) based on the total amount, and this was put into a resin pot together with zirconia balls.
The mixture was mixed in a ball mill for 16 hours. In Example 5, no sintering aid was added. The obtained mixed powder is filled in a hot-pressed graphite mold, and the temperature is 1150 ° C. (Examples 1 and 3) or 1180 ° C. (Examples 2, 4, and 5) and the pressure is 2 in vacuo.
Performs a hot press sintering at 00kg / cm 2 of the conditions,
A sintered body was produced. The first-stage pressurization start temperature is 850.
° C (Examples 1, 2) or 900 ° C (Examples 3, 4, 5)
And the second-stage pressurization start temperature was 1150 ° C. (Examples 1, 3) or 1180 ° C. (Examples 2, 4, 5). Further, the temperature raising rate and the temperature decreasing rate were 200 ° C./hr, the pressure increasing rate and the pressure decreasing rate were 3 ton / min, and the holding time was 6 hours.

【0036】得られた各々の焼結体を機械加工により、
円板状(200mmφ、厚さ5mm)に加工した後、C
u製のバッキングプレートにボンディングしてスパッタ
リングターゲットを得た。
Each of the obtained sintered bodies is processed by machining.
After processing into a disk shape (200mmφ, thickness 5mm), C
A sputtering target was obtained by bonding to a u backing plate.

【0037】(比較例1、2)実施例と同様の原料粉を
用いたが、比較例1、2では焼結助剤のZnO粉末は添
加しなかった。ZnS粉末とSiO2粉末をモル比で8
0:20となるように配合し、これをジルコニアボール
とともに樹脂製のポットに投入して、ボールミルにて1
6時間混合した。得られた混合粉末をホットプレス黒鉛
型に充填し、真空中で、温度1150℃、圧力200k
g/cm2の条件にてホットプレス焼結を行い、焼結体
を作製した。なお、比較例1では段階的に加圧を行わ
ず、焼結温度が900℃に到達した時点で圧力200k
g/cm2を加圧した。比較例2では、1段目加圧開始
温度は900℃、2段目加圧開始温度は950℃とし
た。ここで、昇温速度、降温速度は200℃/hr、昇
圧速度、降圧速度は3ton/min、保持時間は6時
間とした。
(Comparative Examples 1 and 2) The same raw material powder as in the Example was used, but in Comparative Examples 1 and 2, ZnO powder as a sintering aid was not added. ZnS powder and SiO 2 powder in molar ratio of 8
0:20, and this was put into a resin pot together with zirconia balls.
Mix for 6 hours. The obtained mixed powder is filled in a hot-pressed graphite mold, and the temperature is 1150 ° C. and the pressure is 200 k in vacuum.
Hot press sintering was performed under the conditions of g / cm 2 to produce a sintered body. In Comparative Example 1, the pressure was not increased in a stepwise manner, and when the sintering temperature reached 900 ° C., the pressure was 200 kPa.
g / cm 2 . In Comparative Example 2, the first-stage pressurization start temperature was 900 ° C., and the second-stage pressurization start temperature was 950 ° C. Here, the temperature raising rate and the temperature decreasing rate were 200 ° C./hr, the pressure increasing rate and the pressure decreasing rate were 3 ton / min, and the holding time was 6 hours.

【0038】上記実施例1〜5及び比較例1、2につい
て、ZnO添加の有無及び焼結条件を表1に示す。焼結
体は同条件で密度測定用とスパッタリングターゲット作
製用の2種類を準備した。
Table 1 shows the presence or absence of ZnO and the sintering conditions for Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 and 2. Two types of sintered bodies were prepared under the same conditions, one for density measurement and one for sputtering target production.

【0039】[0039]

【表1】 焼結体の面内密度分布に関しては、はじめに加工した円
板状(200mmφ、厚さ5mm)の焼結体の密度をア
ルキメデス法により測定した。その後、図1に示すよう
に上下、左右、中央の5つの位置から各々30mm角の
サンプルを切り出し、各サンプルの焼結体密度を同様に
測定した。
[Table 1] Regarding the in-plane density distribution of the sintered body, the density of a disk-shaped (200 mmφ, 5 mm thick) sintered body processed first was measured by the Archimedes method. Thereafter, as shown in FIG. 1, samples of 30 mm square were cut out from each of the five positions of up, down, left, right, and center, and the sintered body density of each sample was measured in the same manner.

【0040】焼結体の相対密度はアルキメデス法により
測定されたかさ密度から算出した。なお、焼結体の理論
密度は、焼結体が硫化亜鉛及び二酸化ケイ素のみからな
るものと仮定して算出した。具体的には、硫化亜鉛、二
酸化ケイ素の理論密度として各々4.09g/cm3
2.20g/cm3の値を用い、組成比(モル比)8
0:20から得られる重量比を重みとした加重平均とし
て得られた値3.67g/cm3を焼結体の理論密度の
値として用いた。
The relative density of the sintered body was calculated from the bulk density measured by the Archimedes method. Note that the theoretical density of the sintered body was calculated on the assumption that the sintered body was composed of only zinc sulfide and silicon dioxide. Specifically, the theoretical densities of zinc sulfide and silicon dioxide are 4.09 g / cm 3 ,
Using a value of 2.20 g / cm 3 , a composition ratio (molar ratio) of 8
A value of 3.67 g / cm 3 obtained as a weighted average using the weight ratio obtained from 0:20 as a weight was used as the value of the theoretical density of the sintered body.

【0041】焼結体作製時における割れやクラックの発
生の有無の観察を行うとともに、得られたスパッタリン
グターゲットの成膜評価を実施した。
In addition to observing the occurrence of cracks and cracks during the production of the sintered body, the obtained sputtering target was evaluated for film formation.

【0042】成膜評価についてはRFマグネトロンスパ
ッタリング装置により、アルゴン圧力0.4Pa、投入
パワー300Wにて、1分間のプレスパッタリングを実
施した後、アルゴン圧力0.4Pa、投入パワー300
Wの条件でターゲット寿命までスパッタリングを行い、
スパッタリングターゲットに割れやクラックが生じたか
否かを調べた。
For film formation evaluation, pre-sputtering was performed for 1 minute at an argon pressure of 0.4 Pa and an input power of 300 W using an RF magnetron sputtering apparatus, and then an argon pressure of 0.4 Pa and an input power of 300 were applied.
Sputtering under the condition of W until the target life,
It was examined whether cracks or cracks occurred in the sputtering target.

【0043】表1に上記の実施例及び比較例について、
焼結体全体の密度、焼結体中の各位置における密度、焼
結体作製時の割れ発生の有無、成膜評価における割れ発
生の有無の測定結果を示す。
Table 1 shows the above Examples and Comparative Examples.
The measurement results of the density of the entire sintered body, the density at each position in the sintered body, the presence or absence of cracking during the production of the sintered body, and the presence or absence of cracking in the film formation evaluation are shown.

【0044】表1から明らかなように、2段目の加圧開
始温度を焼結保持温度とした本発明のスパッタリングタ
ーゲット(実施例1〜5)では、焼結時、スパッタ時と
もに割れは全く発生しなかった。また、焼結体の密度分
布は1.5%以内に抑えられていた。これに対して、Z
nOを添加せず段階的な加圧焼結を行わなかった焼結体
(比較例1)では、焼結時に割れが発生し、面内密度分
布も3%を越えていた。段階的な加圧焼結を行なった
が、2段目加圧開始温度が950℃の焼結体(比較例
2)では、焼結時には割れは発生しなかったが、面内密
度分布は3.0%を越えており、スパッタリング中にク
ラックが発生した。
As is evident from Table 1, in the sputtering target of the present invention (Examples 1 to 5) in which the second-stage pressurization start temperature was the sintering holding temperature, no crack was generated both during sintering and during sputtering. Did not occur. Further, the density distribution of the sintered body was suppressed to within 1.5%. In contrast, Z
In the sintered body in which stepwise pressure sintering was not performed without adding nO (Comparative Example 1), cracks occurred during sintering, and the in-plane density distribution also exceeded 3%. Although stepwise pressure sintering was performed, in the sintered body (Comparative Example 2) in which the second-stage pressure start temperature was 950 ° C., no crack occurred during sintering, but the in-plane density distribution was 3%. 0.0%, and cracks occurred during sputtering.

【0045】[0045]

【発明の効果】上述のように本発明のスパッタリングタ
ーゲットは、焼結体密度分布が極めて少ないため、その
製造時に割れやクラックが発生せず、製造歩留りを大幅
に向上させることができ、加えて、これを用いて高出力
スパッタリングを行っても割れやクラックが発生するこ
となく、高速かつ安定に成膜することができる。
As described above, the sputtering target of the present invention has a very small density distribution of the sintered body, so that no cracks or cracks occur during its production, and the production yield can be greatly improved. Even when high-power sputtering is performed using this, a film can be formed at high speed and stably without generating cracks or cracks.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】焼結体面内密度分布の測定の際のサンプリング
位置を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing sampling positions when measuring the in-plane density distribution of a sintered body.

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 硫化亜鉛及び二酸化ケイ素を主成分とす
る焼結体からなるスパッタリングターゲットにおいて、
前記焼結体の任意の2点における相対密度の差の絶対値
が3%以内であることを特徴とするスパッタリングター
ゲット。
1. A sputtering target comprising a sintered body containing zinc sulfide and silicon dioxide as main components,
The absolute value of the difference between the relative densities at any two points of the sintered body is within 3%.
【請求項2】 焼結体の相対密度が93%以上であるこ
とを特徴とする請求項1記載のスパッタリングターゲッ
ト。
2. The sputtering target according to claim 1, wherein the relative density of the sintered body is 93% or more.
【請求項3】 焼結体が、硫化亜鉛粉末と二酸化ケイ素
粉末との混合粉末を、焼結圧力を段階的に増加させて加
圧焼結して得られたものであることを特徴とする請求項
1又は請求項2に記載のスパッタリングターゲット。
3. A sintered body obtained by subjecting a mixed powder of zinc sulfide powder and silicon dioxide powder to pressure sintering while gradually increasing the sintering pressure. The sputtering target according to claim 1 or 2.
【請求項4】 硫化亜鉛粉末と二酸化ケイ素粉末との混
合粉末が酸化亜鉛粉末をさらに含むことを特徴とする請
求項3に記載のスパッタリングターゲット。
4. The sputtering target according to claim 3, wherein the mixed powder of the zinc sulfide powder and the silicon dioxide powder further includes a zinc oxide powder.
【請求項5】 混合粉末中の酸化亜鉛粉末の割合が0.
6wt%以上5wt%以下であることを特徴とする請求
項4に記載のスパッタリングターゲット。
5. The method according to claim 1, wherein the ratio of the zinc oxide powder in the mixed powder is 0.1%.
The sputtering target according to claim 4, wherein the content is 6 wt% or more and 5 wt% or less.
【請求項6】 硫化亜鉛粉末及び二酸化ケイ素粉末を混
合した後、焼結圧力を段階的に増加させて加圧焼結する
ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のスパッ
タリングターゲットの製造方法。
6. The sputtering target according to claim 1, wherein after the zinc sulfide powder and the silicon dioxide powder are mixed, the sintering pressure is increased stepwise and pressure sintering is performed. Production method.
【請求項7】 硫化亜鉛粉末、二酸化ケイ素粉末及び酸
化亜鉛粉末を混合した後、焼結圧力を段階的に増加させ
て加圧焼結することを特徴とする請求項1又は請求項2
に記載のスパッタリングターゲットの製造方法。
7. The method according to claim 1, wherein after the zinc sulfide powder, the silicon dioxide powder and the zinc oxide powder are mixed, the sintering pressure is increased stepwise and pressure sintering is performed.
3. The method for producing a sputtering target according to item 1.
【請求項8】 硫化亜鉛粉末と二酸化ケイ素粉末との混
合粉末を加圧焼結して焼結体を得る工程を有するスパッ
タリングターゲットの製造方法において、前記加圧焼結
では、800℃以上900℃以下の所定温度に到達して
から1段目の加圧を開始し、1020℃以上1200℃
以下の焼結保持温度に到達してから2段目の加圧を開始
することを特徴とするスパッタリングターゲットの製造
方法。
8. A method for producing a sputtering target, comprising a step of pressure-sintering a mixed powder of zinc sulfide powder and silicon dioxide powder to obtain a sintered body, wherein the pressure-sintering is performed at 800 ° C. to 900 ° C. The first-stage pressurization is started after reaching the following predetermined temperature, and 1020 ° C. or more and 1200 ° C.
A method for manufacturing a sputtering target, wherein the second stage pressurization is started after reaching the following sintering holding temperature.
【請求項9】 硫化亜鉛粉末と二酸化ケイ素粉末との混
合粉末が酸化亜鉛粉末をさらに含むことを特徴とする請
求項8に記載のスパッタリングターゲットの製造方法。
9. The method according to claim 8, wherein the mixed powder of the zinc sulfide powder and the silicon dioxide powder further includes a zinc oxide powder.
【請求項10】 混合粉末中の酸化亜鉛粉末の割合が
0.6wt%以上5wt%以下であることを特徴とする
請求項9に記載のスパッタリングターゲットの製造方
法。
10. The method for producing a sputtering target according to claim 9, wherein a ratio of the zinc oxide powder in the mixed powder is 0.6 wt% or more and 5 wt% or less.
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