JP2002289251A - 電極体監視装置、及び、電極体監視方法 - Google Patents
電極体監視装置、及び、電極体監視方法Info
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- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 電池の捲回不良を確実に検出できる監視装置
及び監視方法を提供する。 【解決手段】 シート状電極を渦巻き状に捲回してなる
電極体を保持するホルダと、前記電極体の端面に対して
傾斜した方向から前記端面を撮像する撮像部と、前記撮
像部が撮像した画像から前記電極体の良否を判定する判
定部とを具備する電極体監視装置。
及び監視方法を提供する。 【解決手段】 シート状電極を渦巻き状に捲回してなる
電極体を保持するホルダと、前記電極体の端面に対して
傾斜した方向から前記端面を撮像する撮像部と、前記撮
像部が撮像した画像から前記電極体の良否を判定する判
定部とを具備する電極体監視装置。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は電池の製造工程の管
理方法に係り、更に詳細には渦巻き状電極の捲回状態の
良否を監視する電極体監視装置及び監視方法に関する。
理方法に係り、更に詳細には渦巻き状電極の捲回状態の
良否を監視する電極体監視装置及び監視方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、二次電池、特に大容量型の二
次電池ではセパレータを介して２枚のシート状電極を軸
方向（上下方向）に所定量ずらせて重ねたものをロール
状に捲回し、上下両端面に円板状の集電体を溶接してい
る。このとき、円板状の集電体にシート状電極の端面、
即ち捲き回したエッジを溶接するには、両端面がそれぞ
れ同一平面上に揃って配置されている必要がある。しか
し、実際にはシート状電極をロール状に捲回するときに
捲回不良が発生する場合がある。
次電池ではセパレータを介して２枚のシート状電極を軸
方向（上下方向）に所定量ずらせて重ねたものをロール
状に捲回し、上下両端面に円板状の集電体を溶接してい
る。このとき、円板状の集電体にシート状電極の端面、
即ち捲き回したエッジを溶接するには、両端面がそれぞ
れ同一平面上に揃って配置されている必要がある。しか
し、実際にはシート状電極をロール状に捲回するときに
捲回不良が発生する場合がある。
【０００３】この捲回不良には２種類ある。図１８は２
種類の捲回不良を示した図である。一つは図１８（ａ）
に示したように、正極シートと負極シートの２枚のシー
ト状電極の軸方向のずらし量ΔＨの長さが所定値より大
きくなりすぎたり、小さくなりすぎたりしてロール状電
極体の全長（軸方向の寸法）が所定の寸法から外れてし
まう「全長不良」と呼ばれる現象であり、もう一つは図
１８（ｂ）に示したように、シート状電極をマンドレル
の回りに捲きつけてロール状に捲回する際に、シート状
電極がマンドレルに対して斜めに捲きついてシート状電
極の端縁（エッジ）がマンドレルの軸方向に飛び出して
しまう「タケノコ不良」と呼ばれる現象である。
種類の捲回不良を示した図である。一つは図１８（ａ）
に示したように、正極シートと負極シートの２枚のシー
ト状電極の軸方向のずらし量ΔＨの長さが所定値より大
きくなりすぎたり、小さくなりすぎたりしてロール状電
極体の全長（軸方向の寸法）が所定の寸法から外れてし
まう「全長不良」と呼ばれる現象であり、もう一つは図
１８（ｂ）に示したように、シート状電極をマンドレル
の回りに捲きつけてロール状に捲回する際に、シート状
電極がマンドレルに対して斜めに捲きついてシート状電
極の端縁（エッジ）がマンドレルの軸方向に飛び出して
しまう「タケノコ不良」と呼ばれる現象である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記不良のうち、全長
不良の有無を監視する方法としては、ロール状に捲回し
た電極体に対して電気的に接触するセンサーや光学的セ
ンサーを用いて電極体の全長（軸方向の寸法）を測定す
る方法が知られている。しかし、上記タケノコ不良につ
いては上記のようなセンサーでは的確に検出することが
できず、有効な監視方法が見出されていないという問題
がある。本発明は上記問題を解決するためになされた発
明である。即ち本発明は、電池の捲回不良を確実に検出
できる監視装置及び監視方法を提供することを目的とす
る。
不良の有無を監視する方法としては、ロール状に捲回し
た電極体に対して電気的に接触するセンサーや光学的セ
ンサーを用いて電極体の全長（軸方向の寸法）を測定す
る方法が知られている。しかし、上記タケノコ不良につ
いては上記のようなセンサーでは的確に検出することが
できず、有効な監視方法が見出されていないという問題
がある。本発明は上記問題を解決するためになされた発
明である。即ち本発明は、電池の捲回不良を確実に検出
できる監視装置及び監視方法を提供することを目的とす
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の電極体監視装置
は、シート状電極を渦巻き状に捲回してなる電極体を保
持するホルダと、前記電極体の端面に対して傾斜した方
向から前記端面を撮像する撮像部と、 前記撮像部が撮
像した画像から前記電極体の良否を判定する判定部とを
具備する。
は、シート状電極を渦巻き状に捲回してなる電極体を保
持するホルダと、前記電極体の端面に対して傾斜した方
向から前記端面を撮像する撮像部と、 前記撮像部が撮
像した画像から前記電極体の良否を判定する判定部とを
具備する。
【０００６】上記電極体監視装置において、前記撮像部
が、前記電極体端面の中心を通り捲回軸方向に伸びた縦
型ウィンド状に撮像する撮像部であり、前記判定部が、
前記縦型ウィンド状に撮像された前記電極体のエッジ幅
から回転軸方向の巻きずれ不良の有無を判定する判定部
である装置を挙げることができる。
が、前記電極体端面の中心を通り捲回軸方向に伸びた縦
型ウィンド状に撮像する撮像部であり、前記判定部が、
前記縦型ウィンド状に撮像された前記電極体のエッジ幅
から回転軸方向の巻きずれ不良の有無を判定する判定部
である装置を挙げることができる。
【０００７】上記電極体監視装置において、前記判定部
が、前記電極体の表裏の各端面中心位置から全長不良
（陽極板と陰極板とのずれ量不良）をも判定する判定部
であってもよい。
が、前記電極体の表裏の各端面中心位置から全長不良
（陽極板と陰極板とのずれ量不良）をも判定する判定部
であってもよい。
【０００８】上記電極体監視装置において、前記撮像部
が、前記電極体端面の中心を通り捲回軸の直交方向に伸
びる横型ウィンド状に撮像する撮像部であり、前記判定
部が、前記横型ウィンド状に撮像された前記電極体のエ
ッジ幅から回転軸方向の巻きずれ不良の有無を判定する
判定部である装置を挙げることができる。
が、前記電極体端面の中心を通り捲回軸の直交方向に伸
びる横型ウィンド状に撮像する撮像部であり、前記判定
部が、前記横型ウィンド状に撮像された前記電極体のエ
ッジ幅から回転軸方向の巻きずれ不良の有無を判定する
判定部である装置を挙げることができる。
【０００９】上記電極体監視装置において、前記撮像部
が、前記電極体端面全体を撮像する撮像部であり、前記
判定部が、前記撮像した電極体端面全体を画像処理した
画像パターンとマスターパターンとを比較した結果から
回転軸方向の巻きずれ不良の有無を判定する判定部であ
る装置を挙げることができる。
が、前記電極体端面全体を撮像する撮像部であり、前記
判定部が、前記撮像した電極体端面全体を画像処理した
画像パターンとマスターパターンとを比較した結果から
回転軸方向の巻きずれ不良の有無を判定する判定部であ
る装置を挙げることができる。
【００１０】本発明の電極体監視方法は、シート状電極
を渦巻き状に捲回してなる電極体の端面を斜めから撮像
する工程と、前記撮像した前記電極体端面の映像を画像
処理して電極エッジ相互の間隔を検出する工程と、前記
検出した電極エッジ相互の間隔の良否を判定する工程と
を具備する。
を渦巻き状に捲回してなる電極体の端面を斜めから撮像
する工程と、前記撮像した前記電極体端面の映像を画像
処理して電極エッジ相互の間隔を検出する工程と、前記
検出した電極エッジ相互の間隔の良否を判定する工程と
を具備する。
【００１１】上記電極体監視方法において、前記撮像す
る工程が、前記電極体端面を縦型ウィンド状に撮像する
工程であり、前記判定する工程が、前記電極体の電極エ
ッジ相互の間隔をマスターデータと比較して、回転軸方
向の巻きずれ不良の有無を判定する工程である方法を挙
げることかできる。
る工程が、前記電極体端面を縦型ウィンド状に撮像する
工程であり、前記判定する工程が、前記電極体の電極エ
ッジ相互の間隔をマスターデータと比較して、回転軸方
向の巻きずれ不良の有無を判定する工程である方法を挙
げることかできる。
【００１２】上記電極体監視方法において、前記判定す
る工程が、前記電極体の正極中心位置と負極中心位置と
から、全長不良（陽極板と陰極板とのずれ量不良）の有
無を判定する工程である方法を挙げることができる。
る工程が、前記電極体の正極中心位置と負極中心位置と
から、全長不良（陽極板と陰極板とのずれ量不良）の有
無を判定する工程である方法を挙げることができる。
【００１３】上記電極体監視方法において、前記撮像す
る工程が、前記電極体端面の中心を通り捲回軸の直交方
向に伸びる横型ウィンド状に撮像する工程であり、前記
判定する工程が、前記横型ウィンド状に撮像された前記
電極体のエッジ幅から回転軸方向の巻きずれ不良の有無
を判定する工程である方法を挙げることができる。
る工程が、前記電極体端面の中心を通り捲回軸の直交方
向に伸びる横型ウィンド状に撮像する工程であり、前記
判定する工程が、前記横型ウィンド状に撮像された前記
電極体のエッジ幅から回転軸方向の巻きずれ不良の有無
を判定する工程である方法を挙げることができる。
【００１４】上記電極体監視方法において、前記撮像す
る工程が、前記電極体端面を縦型ウィンド状に撮像する
工程であり、前記判定する工程が、前記電極体の端面の
画像パターンをマスターデータパターンと比較した結果
から回転軸方向の巻きずれ不良の有無を判定する工程で
ある方法を挙げることができる。
る工程が、前記電極体端面を縦型ウィンド状に撮像する
工程であり、前記判定する工程が、前記電極体の端面の
画像パターンをマスターデータパターンと比較した結果
から回転軸方向の巻きずれ不良の有無を判定する工程で
ある方法を挙げることができる。
【００１５】本発明では、ロール状に捲き回した電極体
の端面を斜め方向から撮像し、この撮像データを画像処
理してシート状電極の間隔を検出することによりタケノ
コ不良を的確に検出することができる。更に、全長不良
については、シート状電極の上下両端面について中心位
置を検出し、上下両端面の中心位置どうしの間隔を検出
して全長不良の有無を監視する。その結果、本発明によ
れば、非接触でしかもタケノコ不良と全長不良の二つの
捲回不良を一つの監視装置で監視することができる。
の端面を斜め方向から撮像し、この撮像データを画像処
理してシート状電極の間隔を検出することによりタケノ
コ不良を的確に検出することができる。更に、全長不良
については、シート状電極の上下両端面について中心位
置を検出し、上下両端面の中心位置どうしの間隔を検出
して全長不良の有無を監視する。その結果、本発明によ
れば、非接触でしかもタケノコ不良と全長不良の二つの
捲回不良を一つの監視装置で監視することができる。
【００１６】
【発明の実施の形態】（第１の実施形態）以下、本発明
の実施形態について説明する。図１は本実施形態に係る
電極体監視装置１０の概略構成図であり、図２は本実施
形態に係る電極体監視装置１０で監視される電極体の監
視状態を模式的に示した斜視図である。図１に示すよう
に、この電極体監視装置１０では、シート状電極をロー
ル状に捲回した電極体２０を保持する保持部材３０と、
この保持部材で保持された電極体２０の上下両端面２
１，２２をそれぞれ斜めの方向から撮像する正極側カメ
ラ４０及び負極側カメラ６０と、これらの正極側カメラ
４０及びで撮像した画像を画像処理するための正極側画
像処理装置５０及び負極側画像処理装置７０と、これら
正極側画像処理装置５０及び負極側画像処理装置７０で
画像処理したデータから各種演算を行ったり指令を発し
たりする演算コントローラ８０から構成されている。
の実施形態について説明する。図１は本実施形態に係る
電極体監視装置１０の概略構成図であり、図２は本実施
形態に係る電極体監視装置１０で監視される電極体の監
視状態を模式的に示した斜視図である。図１に示すよう
に、この電極体監視装置１０では、シート状電極をロー
ル状に捲回した電極体２０を保持する保持部材３０と、
この保持部材で保持された電極体２０の上下両端面２
１，２２をそれぞれ斜めの方向から撮像する正極側カメ
ラ４０及び負極側カメラ６０と、これらの正極側カメラ
４０及びで撮像した画像を画像処理するための正極側画
像処理装置５０及び負極側画像処理装置７０と、これら
正極側画像処理装置５０及び負極側画像処理装置７０で
画像処理したデータから各種演算を行ったり指令を発し
たりする演算コントローラ８０から構成されている。
【００１７】図１及び図２に示したように、本実施形態
に係る電極体監視装置１０では、保持部材３０で保持さ
れた電極体２０の捲回時の回転軸（図中点線で示したＡ
Ｂ）に対して斜め方向からカメラ４０，６０で撮像す
る。図中Ｆ１は正極側カメラ４０のレンズの光軸であ
り、Ｆ２は負極側カメラ６０のレンズの光軸であり、と
もに電極体２０の上端面２１の略中心、下端面２２の略
中心に焦点が合わせられている。これらのカメラ４０，
６０の光軸Ｆ１，Ｆ２がそれぞれ回転軸ＡＢを法線とす
る平面とが成す角度α１，α２は、後述するように、各
端面の電極端縁（エッジ）間の間隔ｄを検出できる角度
であって、できるだけ小さい角度に調整する。例えば、
角度α１，α２の値は５〜４５度の間の角度であること
が望ましい。この範囲より小さい角度では、各端面の電
極端縁（エッジ）間の間隔ｄを検出できなくなり、反対
に、この範囲より大きい角度では、全長不良を検出でき
なくなるからである。
に係る電極体監視装置１０では、保持部材３０で保持さ
れた電極体２０の捲回時の回転軸（図中点線で示したＡ
Ｂ）に対して斜め方向からカメラ４０，６０で撮像す
る。図中Ｆ１は正極側カメラ４０のレンズの光軸であ
り、Ｆ２は負極側カメラ６０のレンズの光軸であり、と
もに電極体２０の上端面２１の略中心、下端面２２の略
中心に焦点が合わせられている。これらのカメラ４０，
６０の光軸Ｆ１，Ｆ２がそれぞれ回転軸ＡＢを法線とす
る平面とが成す角度α１，α２は、後述するように、各
端面の電極端縁（エッジ）間の間隔ｄを検出できる角度
であって、できるだけ小さい角度に調整する。例えば、
角度α１，α２の値は５〜４５度の間の角度であること
が望ましい。この範囲より小さい角度では、各端面の電
極端縁（エッジ）間の間隔ｄを検出できなくなり、反対
に、この範囲より大きい角度では、全長不良を検出でき
なくなるからである。
【００１８】次にこの電極体監視装置１０を用いて電極
体２０の監視を行なう方法について説明する。図３は本
実施形態に係る電極体監視方法の全体を示したフローチ
ャートであり、図４は本実施形態に係る電極体監視方法
のうち、電極体２０の良否を判定するプロセスのフロー
を示したフローチャートであり、図５〜図９はカメラ４
０，６０が撮像した映像を示した図である。図３に示し
たように、本実施形態に係る方法では、まず、電極材料
組成物（合剤）を塗布した正極シートと負極シートの２
枚の電極シートの間にセパレータを挟んで重ねたものを
マンドレル上に捲回してロール状に捲回した電極体２０
を、保持部材３０，３０に保持させてセットする（ステ
ップ１）。
体２０の監視を行なう方法について説明する。図３は本
実施形態に係る電極体監視方法の全体を示したフローチ
ャートであり、図４は本実施形態に係る電極体監視方法
のうち、電極体２０の良否を判定するプロセスのフロー
を示したフローチャートであり、図５〜図９はカメラ４
０，６０が撮像した映像を示した図である。図３に示し
たように、本実施形態に係る方法では、まず、電極材料
組成物（合剤）を塗布した正極シートと負極シートの２
枚の電極シートの間にセパレータを挟んで重ねたものを
マンドレル上に捲回してロール状に捲回した電極体２０
を、保持部材３０，３０に保持させてセットする（ステ
ップ１）。
【００１９】電極体２０を保持すると、電極体２０の上
端面２１、下端面２２をそれぞれ正極側カメラ４０、負
極側カメラ６０が撮像する（ステップ２）。このときの
カメラ４０，６０の光軸Ｆ１，Ｆ２の方向から上端面２
１，２２を見た状態を模式的に示したのが図５である。
図５に示したのは全長不良もタケノコ不良も起きていな
い良品の電極体２０を撮像した状態である。図５に示し
たように、カメラ４０，６０の焦点は略画面中央に固定
されており、正常な電極体２０がセットされた場合には
上下両端面２１，２２の各中心がほぼ焦点の位置にくる
ように調節されている。
端面２１、下端面２２をそれぞれ正極側カメラ４０、負
極側カメラ６０が撮像する（ステップ２）。このときの
カメラ４０，６０の光軸Ｆ１，Ｆ２の方向から上端面２
１，２２を見た状態を模式的に示したのが図５である。
図５に示したのは全長不良もタケノコ不良も起きていな
い良品の電極体２０を撮像した状態である。図５に示し
たように、カメラ４０，６０の焦点は略画面中央に固定
されており、正常な電極体２０がセットされた場合には
上下両端面２１，２２の各中心がほぼ焦点の位置にくる
ように調節されている。
【００２０】図５の上端面２１を横切る長方形の枠Ｗ１
は画像処理する窓のような領域を示したウィンドであ
り、このウィンドＷ１内の撮像データについて画像処理
が行なわれる(ステップ３)。この画像処理工程では、ウ
ィンドＷ１内の撮像データを、カメラ４０，６０の撮像
素子（ＣＣＤ）が捕らえた画素ごとの信号（画素信号）
に変換し、上下各端面２１，２２に現れたシート状電極
の端縁（エッジ）が映った部分を例えば「１」で表わ
し、それ以外の部分を例えば「０」で表わす。このよう
な画像処理をすることにより、ウィンドＷ１，Ｗ２内の
画像データは白黒二色の単純な映像信号の集合に置き換
えられる。このとき、セパレータの端部や背景部分、そ
の他ノイズ等の不要な情報もカットされる。
は画像処理する窓のような領域を示したウィンドであ
り、このウィンドＷ１内の撮像データについて画像処理
が行なわれる(ステップ３)。この画像処理工程では、ウ
ィンドＷ１内の撮像データを、カメラ４０，６０の撮像
素子（ＣＣＤ）が捕らえた画素ごとの信号（画素信号）
に変換し、上下各端面２１，２２に現れたシート状電極
の端縁（エッジ）が映った部分を例えば「１」で表わ
し、それ以外の部分を例えば「０」で表わす。このよう
な画像処理をすることにより、ウィンドＷ１，Ｗ２内の
画像データは白黒二色の単純な映像信号の集合に置き換
えられる。このとき、セパレータの端部や背景部分、そ
の他ノイズ等の不要な情報もカットされる。
【００２１】ウィンドＷ１，Ｗ２の捕らえたデータを拡
大したのが図６である。このウィンドＷ１，Ｗ２内では
シート状電極の端縁（エッジ）に相当する部分が信号
「１」即ち黒色で示されており、端縁（エッジ）以外の
部分が信号「０」即ち白色で示されている。このような
ウィンドＷ１，Ｗ２上の画像に処理したら、この処理後
の画像データに基づいて、電極体２０の良否について判
定を行なう（ステップ４）。このステップ４の判定処理
についての詳細なプロセスについては、図４の判定フロ
ーチャートに従って行なう。
大したのが図６である。このウィンドＷ１，Ｗ２内では
シート状電極の端縁（エッジ）に相当する部分が信号
「１」即ち黒色で示されており、端縁（エッジ）以外の
部分が信号「０」即ち白色で示されている。このような
ウィンドＷ１，Ｗ２上の画像に処理したら、この処理後
の画像データに基づいて、電極体２０の良否について判
定を行なう（ステップ４）。このステップ４の判定処理
についての詳細なプロセスについては、図４の判定フロ
ーチャートに従って行なう。
【００２２】画像処理した画像データから電極体２０の
良否判定を行なうには、図４に示したように、最初に全
長不良の良否判定を行なう（ステップ１ａ）。この全長
不良の良否を判定するには、例えば最初に下端面２２の
中心Ｃ２を捕捉し、この中心Ｃ２とカメラ６０の焦点ｆ
２（図示省略）との距離を算出する。焦点ｆ２とウィン
ドＷ２の上端ｗ２１との距離を予め算出しておけば、中
心Ｃ２と上端ｗ２１との間の距離ｈ２が得られる。同様
に上端面２１についても、中心Ｃ１を捕捉し、この中心
Ｃ１とカメラ４０の焦点ｆ１（図示省略）との距離を算
出する。焦点ｆ１とウィンドＷ１の下端ｗ１２との距離
を予め算出しておけば、中心Ｃ１と上端ｗ１２との間の
距離ｈ１が得られる。一方、ウィンドＷ１の下端部ｗ１
２とウィンドＷ２の上端部ｗ２１との距離ｈ０は一定で
あるため予めこのｈ０の距離を算出しておけば、上記測
定したｈ１及びｈ２にｈ０の値を加算した結果が電極体
２０の上下端面の中心Ｃ１，Ｃ２間の距離、即ち全長の
値が得られる。この全長の値に基づいて、この値が許容
範囲内か範囲外かを判断する（ステップ４ａ）。一方、
許容範囲内であれば全長不良品として判定し（ステップ
９ａ）、許容範囲内であれば良品として判定し、次のタ
ケノコ不良の判定（ステップ５ａ）に移行する。
良否判定を行なうには、図４に示したように、最初に全
長不良の良否判定を行なう（ステップ１ａ）。この全長
不良の良否を判定するには、例えば最初に下端面２２の
中心Ｃ２を捕捉し、この中心Ｃ２とカメラ６０の焦点ｆ
２（図示省略）との距離を算出する。焦点ｆ２とウィン
ドＷ２の上端ｗ２１との距離を予め算出しておけば、中
心Ｃ２と上端ｗ２１との間の距離ｈ２が得られる。同様
に上端面２１についても、中心Ｃ１を捕捉し、この中心
Ｃ１とカメラ４０の焦点ｆ１（図示省略）との距離を算
出する。焦点ｆ１とウィンドＷ１の下端ｗ１２との距離
を予め算出しておけば、中心Ｃ１と上端ｗ１２との間の
距離ｈ１が得られる。一方、ウィンドＷ１の下端部ｗ１
２とウィンドＷ２の上端部ｗ２１との距離ｈ０は一定で
あるため予めこのｈ０の距離を算出しておけば、上記測
定したｈ１及びｈ２にｈ０の値を加算した結果が電極体
２０の上下端面の中心Ｃ１，Ｃ２間の距離、即ち全長の
値が得られる。この全長の値に基づいて、この値が許容
範囲内か範囲外かを判断する（ステップ４ａ）。一方、
許容範囲内であれば全長不良品として判定し（ステップ
９ａ）、許容範囲内であれば良品として判定し、次のタ
ケノコ不良の判定（ステップ５ａ）に移行する。
【００２３】次にタケノコ不良の判定について説明す
る。タケノコ不良の有無を判定するには、図６に示した
処理後の画像データから、隣接する端縁（エッジ）間の
距離ｄを算出する（ステップ６ａ）。図６（ａ）に示し
たように、全ての隣接する端縁（エッジ）間の距離ｄ
１，ｄ２，…ｄｎ…について算出したら、得られたエッ
ジ間距離データｄｎからタケノコ不良の有無を判定する
（ステップ７ａ）。判定のしかたとしては、例えば全て
のエッジ間距離データｄｍ（ｍ＝１，２，３…ｎ…）の
値からそのバラツキを割り出し、このバラツキの範囲が
許容範囲内か範囲外かで判定する方法や、同一端面内で
内側のエッジ間距離ｄｘと外側のエッジ間距離ｄｙ（ｘ
＜ｙ）とを比較して、その差が許容範囲内であるか範囲
外であるかにより判定する方法など、様々な方法が考え
られる。このステップ７ａでの判定の結果、エッジ間距
離ｄのバラツキが許容範囲外であると判断される場合に
は、タケノコ不良の起きた不良品と判定される（ステッ
プ９ａ）。一方、エッジ間距離ｄのバラツキが許容範囲
内であると判断される場合には、タケノコ不良のない良
品と判定される（ステップ８ａ）。
る。タケノコ不良の有無を判定するには、図６に示した
処理後の画像データから、隣接する端縁（エッジ）間の
距離ｄを算出する（ステップ６ａ）。図６（ａ）に示し
たように、全ての隣接する端縁（エッジ）間の距離ｄ
１，ｄ２，…ｄｎ…について算出したら、得られたエッ
ジ間距離データｄｎからタケノコ不良の有無を判定する
（ステップ７ａ）。判定のしかたとしては、例えば全て
のエッジ間距離データｄｍ（ｍ＝１，２，３…ｎ…）の
値からそのバラツキを割り出し、このバラツキの範囲が
許容範囲内か範囲外かで判定する方法や、同一端面内で
内側のエッジ間距離ｄｘと外側のエッジ間距離ｄｙ（ｘ
＜ｙ）とを比較して、その差が許容範囲内であるか範囲
外であるかにより判定する方法など、様々な方法が考え
られる。このステップ７ａでの判定の結果、エッジ間距
離ｄのバラツキが許容範囲外であると判断される場合に
は、タケノコ不良の起きた不良品と判定される（ステッ
プ９ａ）。一方、エッジ間距離ｄのバラツキが許容範囲
内であると判断される場合には、タケノコ不良のない良
品と判定される（ステップ８ａ）。
【００２４】次にタケノコ不良が生じた場合にどのよう
な撮像が得られるかについて説明する。図７はタケノコ
不良が発生した電極体２０ｘの斜視図である。この電極
体２０ｘでは、図１８（ｂ）に示したのと同様に、捲回
軸方向の巻きずれ不良、即ちタケノコ不良が起きた電極
体であり、図７に示したように上端面２１ｘはすり鉢状
に中心Ｃ１ｘ付近が図中下側に沈下した状態になってい
る。一方、下端面２２ｘは円錐状に中心Ｃ２ｘが盛り上
った状態になっている。このようにタケノコ不良が起き
た電極体２０ｘを本実施形態に係る電極体監視装置１０
にセットしてカメラ４０，６０で撮像すると、図８
（ａ），（ｂ）のような画像が得られる。この画像につ
いて上記と同様にして、ウインドＷ１，Ｗ２内の画像を
処理して拡大したのが図９である。
な撮像が得られるかについて説明する。図７はタケノコ
不良が発生した電極体２０ｘの斜視図である。この電極
体２０ｘでは、図１８（ｂ）に示したのと同様に、捲回
軸方向の巻きずれ不良、即ちタケノコ不良が起きた電極
体であり、図７に示したように上端面２１ｘはすり鉢状
に中心Ｃ１ｘ付近が図中下側に沈下した状態になってい
る。一方、下端面２２ｘは円錐状に中心Ｃ２ｘが盛り上
った状態になっている。このようにタケノコ不良が起き
た電極体２０ｘを本実施形態に係る電極体監視装置１０
にセットしてカメラ４０，６０で撮像すると、図８
（ａ），（ｂ）のような画像が得られる。この画像につ
いて上記と同様にして、ウインドＷ１，Ｗ２内の画像を
処理して拡大したのが図９である。
【００２５】図８及び図９から明らかなように、ウイン
ドＷ１，Ｗ２に現れる画像データでは、シート状電極の
端縁（エッジ）間の距離ｄが不均一であるため、全ての
エッジ間距離データｄｍ（ｍ＝１，２，３…ｎ…）の値
からそのバラツキを割り出し、このバラツキを調べれば
容易にタケノコ不良を検出することができる。
ドＷ１，Ｗ２に現れる画像データでは、シート状電極の
端縁（エッジ）間の距離ｄが不均一であるため、全ての
エッジ間距離データｄｍ（ｍ＝１，２，３…ｎ…）の値
からそのバラツキを割り出し、このバラツキを調べれば
容易にタケノコ不良を検出することができる。
【００２６】以上説明したように、本実施形態に係る電
極体監視装置１０によれば、電極体２０の上下端面２
１，２２に対してそれぞれ斜め方向から撮像し、この撮
像データを画像処理して中心間距離Ｃ１−Ｃ２や端縁
（エッジ）間距離ｄを算出し、これらの結果から捲回不
良を監視するので、全長不良の他、タケノコ不良をも的
確に検出することができる。更に、本実施形態に係る監
視装置１０では非接触で監視するので、監視装置が汚れ
たり破損したり、或いは磨耗することがないので、保守
管理を頻繁に行なうことが不要である。
極体監視装置１０によれば、電極体２０の上下端面２
１，２２に対してそれぞれ斜め方向から撮像し、この撮
像データを画像処理して中心間距離Ｃ１−Ｃ２や端縁
（エッジ）間距離ｄを算出し、これらの結果から捲回不
良を監視するので、全長不良の他、タケノコ不良をも的
確に検出することができる。更に、本実施形態に係る監
視装置１０では非接触で監視するので、監視装置が汚れ
たり破損したり、或いは磨耗することがないので、保守
管理を頻繁に行なうことが不要である。
【００２７】なお、本発明は上記実施形態の記載範囲に
限定されない。例えば、本実施形態では、図４の判定プ
ロセスで全長不良の判定を行なった後にタケノコ不良の
判定を行なっているが、これを逆にしてタケノコ不良の
判定を行なった後に全長不良の判定を行なってもよい。
限定されない。例えば、本実施形態では、図４の判定プ
ロセスで全長不良の判定を行なった後にタケノコ不良の
判定を行なっているが、これを逆にしてタケノコ不良の
判定を行なった後に全長不良の判定を行なってもよい。
【００２８】（第２の実施形態）以下、本発明の第２の
実施形態について説明する。図１０は本実施形態に係る
電極体監視装置の判定プロセスのフローチャートであ
る。図１０のフローチャートに示したように、本実施形
態ではステップ７ｂにおいて、端縁（エッジ）間の間隔
ｄの値を、一つの端面２１（又は２２）の中で中心Ｃ１
の手前側と奥側とで比較することによりタケノコ不良の
有無を判定するようにした。即ち、良品の電極体２０で
は図６に示すように、中心Ｃ１の手前側と奥側とで端縁
（エッジ）間の間隔ｄの値が略一定になるのに対し、タ
ケノコ不良の起きた不良品２０ｘでは、図９に示したよ
うに、中心Ｃ１の手前側でエッジ間隔ｄが小さく、中心
Ｃ１の奧側でエッジ間隔ｄが小さくなる事実を利用した
ものである。
実施形態について説明する。図１０は本実施形態に係る
電極体監視装置の判定プロセスのフローチャートであ
る。図１０のフローチャートに示したように、本実施形
態ではステップ７ｂにおいて、端縁（エッジ）間の間隔
ｄの値を、一つの端面２１（又は２２）の中で中心Ｃ１
の手前側と奥側とで比較することによりタケノコ不良の
有無を判定するようにした。即ち、良品の電極体２０で
は図６に示すように、中心Ｃ１の手前側と奥側とで端縁
（エッジ）間の間隔ｄの値が略一定になるのに対し、タ
ケノコ不良の起きた不良品２０ｘでは、図９に示したよ
うに、中心Ｃ１の手前側でエッジ間隔ｄが小さく、中心
Ｃ１の奧側でエッジ間隔ｄが小さくなる事実を利用した
ものである。
【００２９】（第３の実施形態）以下、本発明の第３の
実施形態について説明する。図１１は本実施形態に係る
電極体監視装置の判定プロセスのフローチャートであ
る。図１１のフローチャートに示したように、本実施形
態ではステップ７ｃにおいて、端縁（エッジ）間の間隔
ｄの分布状態が、一つの端面２１（又は２２）の中で中
心Ｃ１の手前側と奥側とで対称形に分布しているか否か
を判断することによりタケノコ不良の有無を判定するよ
うにした。即ち、良品の電極体２０では図６に示すよう
に、中心Ｃ１の手前側と奥側とで端縁（エッジ）間の間
隔ｄの分布が対称的になるのに対し、タケノコ不良の起
きた不良品２０ｘでは、図９に示したように、中心Ｃ１
の手前側でエッジ間隔ｄの分布が非対称になる事実を利
用したものである。
実施形態について説明する。図１１は本実施形態に係る
電極体監視装置の判定プロセスのフローチャートであ
る。図１１のフローチャートに示したように、本実施形
態ではステップ７ｃにおいて、端縁（エッジ）間の間隔
ｄの分布状態が、一つの端面２１（又は２２）の中で中
心Ｃ１の手前側と奥側とで対称形に分布しているか否か
を判断することによりタケノコ不良の有無を判定するよ
うにした。即ち、良品の電極体２０では図６に示すよう
に、中心Ｃ１の手前側と奥側とで端縁（エッジ）間の間
隔ｄの分布が対称的になるのに対し、タケノコ不良の起
きた不良品２０ｘでは、図９に示したように、中心Ｃ１
の手前側でエッジ間隔ｄの分布が非対称になる事実を利
用したものである。
【００３０】（第４の実施形態）以下、本発明の第４の
実施形態について説明する。図１２は本実施形態に係る
電極体監視装置の判定プロセスのフローチャートであ
り、図１３は本実施形態に係る電極体監視装置で電極体
の上端面を撮像した画像を示した図である。図１２に示
したように、本実施形態では、カメラ４０，６０で撮像
した画像の中で横長のウインドＷ１を介して画像処理す
る構成とした。このような横長のウインドＷ１で捕らえ
た部分を画像処理する場合には、図１２のフローチャー
トに示したように、カメラ４０，６０で撮像した画像か
ら最も横幅の広い部分の中点付近に中心Ｃ１，Ｃ２があ
ると想定し、この最大幅の部分にウインドＷを設定す
る。ウインドＷを設定した位置を中心Ｃ１，Ｃ２が存在
する位置と想定して中心どうしの距離即ちＣ１とＣ２と
の距離を算出してこれを全長とみなし（ステップ３
ｄ）、全長不良の有無を判定する（ステップ４ｄ）。
実施形態について説明する。図１２は本実施形態に係る
電極体監視装置の判定プロセスのフローチャートであ
り、図１３は本実施形態に係る電極体監視装置で電極体
の上端面を撮像した画像を示した図である。図１２に示
したように、本実施形態では、カメラ４０，６０で撮像
した画像の中で横長のウインドＷ１を介して画像処理す
る構成とした。このような横長のウインドＷ１で捕らえ
た部分を画像処理する場合には、図１２のフローチャー
トに示したように、カメラ４０，６０で撮像した画像か
ら最も横幅の広い部分の中点付近に中心Ｃ１，Ｃ２があ
ると想定し、この最大幅の部分にウインドＷを設定す
る。ウインドＷを設定した位置を中心Ｃ１，Ｃ２が存在
する位置と想定して中心どうしの距離即ちＣ１とＣ２と
の距離を算出してこれを全長とみなし（ステップ３
ｄ）、全長不良の有無を判定する（ステップ４ｄ）。
【００３１】一方、タケノコ不良については、横長のウ
インドＷ１（Ｗ２）からエッジの描くパターンを認識
し、このエッジパターンが縦縞になっているか否かで判
定する。即ち、図１３（ａ）に示したように、良品の電
極体２０では横長のウインドＷ１で認識されるエッジパ
ターンは略縦縞模様になるのに対し、タケノコ不良の起
きた不良品の電極体２０ｘでは、図１３（ｂ）に示した
ように、横長のウインドＷ内のエッジパターンは縦縞に
はならず、むしろ横縞になる事実を利用したものであ
る。なお、この横長ウインドＷ１（Ｗ２）についても、
上記第１の実施形態と同様に、エッジ間隔ｄの値で判定
してもよい。
インドＷ１（Ｗ２）からエッジの描くパターンを認識
し、このエッジパターンが縦縞になっているか否かで判
定する。即ち、図１３（ａ）に示したように、良品の電
極体２０では横長のウインドＷ１で認識されるエッジパ
ターンは略縦縞模様になるのに対し、タケノコ不良の起
きた不良品の電極体２０ｘでは、図１３（ｂ）に示した
ように、横長のウインドＷ内のエッジパターンは縦縞に
はならず、むしろ横縞になる事実を利用したものであ
る。なお、この横長ウインドＷ１（Ｗ２）についても、
上記第１の実施形態と同様に、エッジ間隔ｄの値で判定
してもよい。
【００３２】（第５の実施形態）以下、本発明の第５の
実施形態について説明する。図１４は本実施形態に係る
電極体監視装置の判定プロセスのフローチャートであ
り、図１５は本実施形態に係る電極体監視装置で電極体
の上端面を撮像した画像を示した図である。図１５に示
したように、本実施形態では、カメラ４０，６０で撮像
した画像の中で縦長のウインドＹ（上端面はウインドＹ
１，下端面はウインドＹ２）と横長のウインドＸ（上端
面はウインドＸ１，下端面はウインドＸ２）を介して画
像処理する構成とした。このような縦長のウインドＹと
横長のウインドＸとで捕らえた部分を画像処理する場合
には、図１５のフローチャートに示したように、縦長の
ウインドＹ１，Ｙ２で電極体上端面の中心Ｃ１と下端面
の中心Ｃ２とを捕捉し（ステップ２ｅ）、このＣ１，Ｃ
２間の距離から電極体の全長を算出し（ステップ３
ｅ）、全長不良の有無を判定する（ステップ４ｅ）。
実施形態について説明する。図１４は本実施形態に係る
電極体監視装置の判定プロセスのフローチャートであ
り、図１５は本実施形態に係る電極体監視装置で電極体
の上端面を撮像した画像を示した図である。図１５に示
したように、本実施形態では、カメラ４０，６０で撮像
した画像の中で縦長のウインドＹ（上端面はウインドＹ
１，下端面はウインドＹ２）と横長のウインドＸ（上端
面はウインドＸ１，下端面はウインドＸ２）を介して画
像処理する構成とした。このような縦長のウインドＹと
横長のウインドＸとで捕らえた部分を画像処理する場合
には、図１５のフローチャートに示したように、縦長の
ウインドＹ１，Ｙ２で電極体上端面の中心Ｃ１と下端面
の中心Ｃ２とを捕捉し（ステップ２ｅ）、このＣ１，Ｃ
２間の距離から電極体の全長を算出し（ステップ３
ｅ）、全長不良の有無を判定する（ステップ４ｅ）。
【００３３】一方、タケノコ不良については、横長のウ
インドＸ１（Ｘ２）からエッジ間距離ｄを算出し（ステ
ップ６ｅ）、このエッジ間距離ｄのバラツキからタケノ
コ不良の有無を判定する。即ち、各端面の中心位置Ｃ
１，Ｃ２を捕捉するには縦長ウインドＹの方が捕捉しや
すい事実を利用する。一方、エッジ間距離ｄを画像から
算出するには横長ウインドＸの方が正確に算出できる事
実を利用する。これは横長ウインドＸで見る場合にエッ
ジ間距離ｄが大きく見える事実と、カメラ４０，６０か
らの距離が電極体端面の中心と周縁側とで差がでにくい
という事実を利用したものである。
インドＸ１（Ｘ２）からエッジ間距離ｄを算出し（ステ
ップ６ｅ）、このエッジ間距離ｄのバラツキからタケノ
コ不良の有無を判定する。即ち、各端面の中心位置Ｃ
１，Ｃ２を捕捉するには縦長ウインドＹの方が捕捉しや
すい事実を利用する。一方、エッジ間距離ｄを画像から
算出するには横長ウインドＸの方が正確に算出できる事
実を利用する。これは横長ウインドＸで見る場合にエッ
ジ間距離ｄが大きく見える事実と、カメラ４０，６０か
らの距離が電極体端面の中心と周縁側とで差がでにくい
という事実を利用したものである。
【００３４】（第６の実施形態）以下、本発明の第６の
実施形態について説明する。図１６は本実施形態に係る
電極体監視装置の判定プロセスのフローチャートであ
り、図１７は本実施形態に係る電極体監視装置で電極体
の上端面を撮像した画像を示した図である。図１７に示
したように、本実施形態では、カメラ４０，６０で撮像
した画像全体について画像処理する構成とした。その一
方で良品の電極体端面の典型的なパターンをマスターパ
ターンとして予め記憶しておき、撮像画像から得られた
画像パターンとマスターパターンとを差し引きしてその
差分を算出し、この差分結果からタケノコ不良の有無を
判定する構成とした。
実施形態について説明する。図１６は本実施形態に係る
電極体監視装置の判定プロセスのフローチャートであ
り、図１７は本実施形態に係る電極体監視装置で電極体
の上端面を撮像した画像を示した図である。図１７に示
したように、本実施形態では、カメラ４０，６０で撮像
した画像全体について画像処理する構成とした。その一
方で良品の電極体端面の典型的なパターンをマスターパ
ターンとして予め記憶しておき、撮像画像から得られた
画像パターンとマスターパターンとを差し引きしてその
差分を算出し、この差分結果からタケノコ不良の有無を
判定する構成とした。
【００３５】このような撮像画面全体に画像処理して比
較する場合には、図１６のフローチャートに示したよう
に、撮像画像全体を画像処理した画像パターンから横長
の楕円形の電極体上端面２１を捕捉し（ステップ２
ｆ）、この楕円体の幅の最大位置を中心Ｃ１の高さとす
る。同様に下端面２２についても同様の方法で中心Ｃ２
の高さを割り出す。こうして得たＣ１，Ｃ２間の高さデ
ータから電極体２０の全長を算出し（ステップ３ｆ）、
全長の値が許容範囲内か否かで全長不良の有無を判定す
る（ステップ４ｆ）。一方、タケノコ不良については、
画像処理した画像データとマスターパターンとを比較
し、その差分を算出し、この算出結果からタケノコ不良
の有無を判定する（ステップ６ｆ）。本実施形態では、
撮像画像全体を画像処理して良否判定を行なうので、よ
り正確な判定をすることができる。
較する場合には、図１６のフローチャートに示したよう
に、撮像画像全体を画像処理した画像パターンから横長
の楕円形の電極体上端面２１を捕捉し（ステップ２
ｆ）、この楕円体の幅の最大位置を中心Ｃ１の高さとす
る。同様に下端面２２についても同様の方法で中心Ｃ２
の高さを割り出す。こうして得たＣ１，Ｃ２間の高さデ
ータから電極体２０の全長を算出し（ステップ３ｆ）、
全長の値が許容範囲内か否かで全長不良の有無を判定す
る（ステップ４ｆ）。一方、タケノコ不良については、
画像処理した画像データとマスターパターンとを比較
し、その差分を算出し、この算出結果からタケノコ不良
の有無を判定する（ステップ６ｆ）。本実施形態では、
撮像画像全体を画像処理して良否判定を行なうので、よ
り正確な判定をすることができる。
【００３６】
【発明の効果】本発明によれば、ロール状に捲き回した
電極体の端面を斜め方向から撮像し、この撮像データを
画像処理してシート状電極の間隔を検出することにより
タケノコ不良を的確に検出することができる。更に、全
長不良については、シート状電極の上下両端面について
中心位置を検出し、上下両端面の中心位置どうしの間隔
を検出して全長不良の有無を監視する。その結果、本発
明によれば、非接触でしかもタケノコ不良と全長不良の
二つの捲回不良を一つの監視装置で監視することができ
る。
電極体の端面を斜め方向から撮像し、この撮像データを
画像処理してシート状電極の間隔を検出することにより
タケノコ不良を的確に検出することができる。更に、全
長不良については、シート状電極の上下両端面について
中心位置を検出し、上下両端面の中心位置どうしの間隔
を検出して全長不良の有無を監視する。その結果、本発
明によれば、非接触でしかもタケノコ不良と全長不良の
二つの捲回不良を一つの監視装置で監視することができ
る。
【図１】 第１の実施形態に係る電極体監視装置の概略
構成図である。
構成図である。
【図２】 第１の実施形態に係る電極体監視装置で監視
される電極体の監視状態を示した図である。
される電極体の監視状態を示した図である。
【図３】 第１の実施形態に係る電極体監視方法の全体
を示したフローチャートである。
を示したフローチャートである。
【図４】 第１の実施形態に係る電極体監視方法のう
ち、電極体の良否を判定するプロセスのフローを示した
フローチャートであ
ち、電極体の良否を判定するプロセスのフローを示した
フローチャートであ
【図５】 第１の実施形態に係る電極体監視装置のカメ
ラで撮像した映像を示した図である。
ラで撮像した映像を示した図である。
【図６】 第１の実施形態に係る電極体監視装置のカメ
ラで撮像した映像を示した図である。
ラで撮像した映像を示した図である。
【図７】 第１の実施形態に係る電極体監視装置のカメ
ラで撮像した映像を示した図である。
ラで撮像した映像を示した図である。
【図８】 第１の実施形態に係る電極体監視装置のカメ
ラで撮像した映像を示した図である。
ラで撮像した映像を示した図である。
【図９】 第１の実施形態に係る電極体監視装置のカメ
ラで撮像した映像を示した図である。
ラで撮像した映像を示した図である。
【図１０】 第２の実施形態に係る電極体監視装置の判
定プロセスのフローチャートである。
定プロセスのフローチャートである。
【図１１】 第３の実施形態に係る電極体監視装置の判
定プロセスのフローチャートである。
定プロセスのフローチャートである。
【図１２】 第４の実施形態に係る電極体監視装置の判
定プロセスのフローチャートである。
定プロセスのフローチャートである。
【図１３】 第４の実施形態に係る電極体監視装置で電
極体の上端面を撮像した画像である。
極体の上端面を撮像した画像である。
【図１４】 第５の実施形態に係る電極体監視装置の判
定プロセスのフローチャートである。
定プロセスのフローチャートである。
【図１５】 第５の実施形態に係る電極体監視装置で電
極体の上端面を撮像した画像である。
極体の上端面を撮像した画像である。
【図１６】 第６の実施形態に係る電極体監視装置の判
定プロセスのフローチャートである。
定プロセスのフローチャートである。
【図１７】 第６の実施形態に係る電極体監視装置で電
極体の上端面を撮像した画像である。
極体の上端面を撮像した画像である。
【図１８】 電極体の捲回不良の例を示した図である。
１０…電極体監視装置、２０…電極体、３０…ホルダ、
４０…正極側カメラ、５０…正極側画像処理装置（判定
部）、６０…負極側カメラ、７０…負極側画像処理装置
（判定部）、８０…演算コントローラ（判定部）。
４０…正極側カメラ、５０…正極側画像処理装置（判定
部）、６０…負極側カメラ、７０…負極側画像処理装置
（判定部）、８０…演算コントローラ（判定部）。
Claims (10)
- 【請求項１】 シート状電極を渦巻き状に捲回してなる
電極体を保持するホルダと、 前記電極体の端面に対して傾斜した方向から前記端面を
撮像する撮像部と、前記撮像部が撮像した画像から前記
電極体の良否を判定する判定部とを具備する電極体監視
装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の電極体監視装置であっ
て、前記撮像部が、前記電極体端面の中心を通り捲回軸
方向に伸びた縦型ウィンド状に撮像する撮像部であり、
前記判定部が、前記縦型ウィンド状に撮像された前記電
極体のエッジ幅から回転軸方向の巻きずれ不良の有無を
判定する判定部であることを特徴とする電極体監視装
置。 - 【請求項３】 請求項２記載の電極体監視装置であっ
て、前記判定部が、前記電極体の表裏の各端面中心位置
から全長不良（陽極板と陰極板とのずれ量不良）をも判
定する判定部であることを特徴とする電極体監視装置。 - 【請求項４】 請求項１記載の電極体監視装置であっ
て、前記撮像部が、前記電極体端面の中心を通り捲回軸
の直交方向に伸びる横型ウィンド状に撮像する撮像部で
あり、前記判定部が、前記横型ウィンド状に撮像された
前記電極体のエッジ幅から回転軸方向の巻きずれ不良の
有無を判定する判定部であることを特徴とする電極体監
視装置。 - 【請求項５】 請求項１記載の電極体監視装置であっ
て、前記撮像部が、前記電極体端面全体を撮像する撮像
部であり、前記判定部が、前記撮像した電極体端面全体
を画像処理した画像パターンとマスターパターンとを比
較した結果から回転軸方向の巻きずれ不良の有無を判定
する判定部であることを特徴とする電極体監視装置。 - 【請求項６】 シート状電極を渦巻き状に捲回してなる
電極体の端面を斜めから撮像する工程と、 前記撮像した前記電極体端面の映像を画像処理して電極
エッジ相互の間隔を検出する工程と、前記検出した電極
エッジ相互の間隔の良否を判定する工程とを具備する電
極体監視方法。 - 【請求項７】 請求項６記載の電極体監視方法であっ
て、前記撮像する工程が、前記電極体端面を縦型ウィン
ド状に撮像する工程であり、前記判定する工程が、前記
電極体の電極エッジ相互の間隔をマスターデータと比較
して、回転軸方向の巻きずれ不良の有無を判定する工程
であることを特徴とする電極体監視方法。 - 【請求項８】 請求項６又は７記載の電極体監視方法で
あって、前記判定する工程が、前記電極体の正極中心位
置と負極中心位置とから、全長不良（陽極板と陰極板と
のずれ量不良）の有無を判定する工程であることを特徴
とする電極体監視方法。 - 【請求項９】 請求項６記載の電極体監視方法であっ
て、前記撮像する工程が、前記電極体端面の中心を通り
捲回軸の直交方向に伸びる横型ウィンド状に撮像する工
程であり、前記判定する工程が、前記横型ウィンド状に
撮像された前記電極体のエッジ幅から回転軸方向の巻き
ずれ不良の有無を判定する工程であることを特徴とする
電極体監視方法。 - 【請求項１０】 請求項６記載の電極体監視方法であっ
て、前記撮像する工程が、前記電極体端面を縦型ウィン
ド状に撮像する工程であり、前記判定する工程が、前記
電極体の端面の画像パターンをマスターデータパターン
と比較した結果から回転軸方向の巻きずれ不良の有無を
判定する工程であることを特徴とする電極体監視方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001089919A JP2002289251A (ja) | 2001-03-27 | 2001-03-27 | 電極体監視装置、及び、電極体監視方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001089919A JP2002289251A (ja) | 2001-03-27 | 2001-03-27 | 電極体監視装置、及び、電極体監視方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002289251A true JP2002289251A (ja) | 2002-10-04 |
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ID=18944775
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001089919A Withdrawn JP2002289251A (ja) | 2001-03-27 | 2001-03-27 | 電極体監視装置、及び、電極体監視方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002289251A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010055753A (ja) * | 2008-08-26 | 2010-03-11 | Sanyo Electric Co Ltd | 巻回状電極体を備えた電池の製造方法 |
| JP2018113198A (ja) * | 2017-01-13 | 2018-07-19 | Ckd株式会社 | 検査装置及び巻回装置 |
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| WO2023054582A1 (ja) * | 2021-10-01 | 2023-04-06 | 株式会社村田製作所 | 二次電池およびその製造方法 |
-
2001
- 2001-03-27 JP JP2001089919A patent/JP2002289251A/ja not_active Withdrawn
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010055753A (ja) * | 2008-08-26 | 2010-03-11 | Sanyo Electric Co Ltd | 巻回状電極体を備えた電池の製造方法 |
| JP2018113198A (ja) * | 2017-01-13 | 2018-07-19 | Ckd株式会社 | 検査装置及び巻回装置 |
| CN108414523A (zh) * | 2017-01-13 | 2018-08-17 | Ckd株式会社 | 检查装置和卷绕装置 |
| CN108414524A (zh) * | 2017-01-13 | 2018-08-17 | Ckd株式会社 | 检查装置和卷绕装置 |
| CN108414523B (zh) * | 2017-01-13 | 2021-10-29 | Ckd株式会社 | 检查装置和卷绕装置 |
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| CN108695559A (zh) * | 2017-03-29 | 2018-10-23 | Ckd株式会社 | 检查装置和卷绕装置 |
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| CN108695559B (zh) * | 2017-03-29 | 2021-06-18 | Ckd株式会社 | 检查装置和卷绕装置 |
| JP2021141028A (ja) * | 2020-03-09 | 2021-09-16 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 情報処理方法、学習済みモデルの生成方法、装置、及びプログラム |
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| WO2023054582A1 (ja) * | 2021-10-01 | 2023-04-06 | 株式会社村田製作所 | 二次電池およびその製造方法 |
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