JP2002277499A - 電磁妨害波測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 動的に周波数が変化する電磁波ノイズを正確
に測定可能にし、さらに測定室内においても電磁波ノイ
ズを正確に測定可能にするなど、測定対象物の状態によ
らず正確な電磁波ノイズの測定を可能にする。 【解決手段】 中央制御装置８は、センサ位置移動装置
４により磁界センサ３を所定の測定箇所に移動して測定
させ、それぞれの測定点での特定周波数のデジタル波形
データをデータ記憶装置６に記憶させる。さらに中央制
御装置８は、すべての測定点を測定したら表示装置９で
特定周波数の磁界強度分布を表示させる。このため、任
意のデジタル回路１に対して動的に周波数が変化する磁
界の強度分布をより正確に測定することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、電磁波源逆解析，
波動解析などを用い、電磁波ノイズ対策に適用できる電
磁妨害波測定装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、電子機器の高機能化，高クロック
化にともない電磁波障害が問題となってきている。電磁
波障害の対策にはまず現象の的確な把握が重要で、例え
ば特開平１１−８３９１８号公報に記載されているよう
に電磁界センサを直線ステージで移動して測定する方法
が提案されている。

【０００３】また、測定対象からの放射電磁波強度を測
定するために通常は電波暗室と呼ばれる特別な設備で測
定される。これは外来ノイズを遮断し、暗室内の反射を
防ぐため電波吸収体で覆われたもので測定精度が良く再
現性があるが、設備が非常に高価であるという問題があ
る。

【０００４】そこで、特開平１０−２１３６１４号公報
に記載されているように放射電磁波強度が電磁波放射源
から測定点までの距離に反比例することに着目して、電
波暗室を使わないで測定対象物の近傍と遠方にアンテナ
を置いて測定対象物からだけの放射電界強度を測定する
方法が提案されている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかし、特開平１１−
８３９１８号公報に記載されている方法は、電磁界セン
サを機械的に移動するため、一般に測定に時間がかかる
という問題がある。またこれらの測定手法は時間平均的
な大まかな近傍磁界の強度分布を調べるのには有効であ
るが、デジタル回路の電流波形は非周期波形であるた
め、より詳細な近傍磁界の強度分布は不明である。

【０００６】また、特開平１０−２１３６１４号公報に
記載されている方法では測定室内で反射がある場合、反
射波と測定対象物からの直接波が干渉して定在波が立
ち、放射電磁波強度が電磁波放射源から測定点までの距
離に反比例せず、正確に測定できないという問題があ
る。

【０００７】そこで、本発明の目的は、前記従来の課題
を解決し、動的に周波数が変化する電磁波ノイズを正確
に測定可能にし、さらに測定室内においても電磁波ノイ
ズを正確に測定可能にするなど、測定対象物の状態によ
らず正確な電磁波ノイズの測定ができる電磁妨害波測定
装置を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、請求項１に記載の発明は、トリガ測定プローブ，磁
界センサ，センサ位置移動装置，デジタイザ，デジタル
・フィルター装置，データ記憶装置，中央制御装置，表
示装置を備えた電磁妨害波測定装置であって、前記トリ
ガ測定プローブにより測定対象である製品の特定回路部
分からの信号をトリガとして同期しながら電磁波ノイズ
を測定し、前記デジタル・フィルター装置によるバンド
パス・フィルター処理を行い、前記データ記憶装置に記
憶し、すべての測定点の処理が終わってから、ある特定
周波数での磁界強度を前記表示装置に順次表示すること
を特徴とし、この構成によって、任意のデジタル回路で
動的に周波数が変化する磁界の強度分布を伝播方向も含
めてより詳細に測定することができる。

【０００９】請求項２に記載の発明は、請求項１記載の
電磁妨害波測定装置において、周波数解析装置と入力装
置とを付加し、測定したデータを前記周波数解析装置に
より周波数解析を行い、前記入力装置によって解析周波
数の選択を行い、その解析周波数でデジタル・フィルタ
ー装置によるバンドパス・フィルター処理を行うことを
特徴とし、この構成によって、フィルタ処理を行う前に
周波数スペクトルの分布が分かる。

【００１０】請求項３に記載の発明は、請求項１または
２記載の電磁妨害波測定装置において、前記バンドパス
・フィルター処理が終わったデータについて、ある時間
ステップ毎の磁界分布のベクトルの大きさの合算値を求
め、ある閾値を超えた時間ステップの磁界分布を表示す
ることを特徴とし、この構成によって、順次表示されて
いた磁界強度分布の中で遠方電界との関連が強い磁界強
度分布のベクトル値が高いものだけを表示することがで
きる。

【００１１】請求項４に記載の発明は、請求項１〜３い
ずれか１項記載の電磁妨害波測定装置において、回転ス
テージを付加し、１面での磁界測定が完了した後、回転
ステージで測定対象物を９０度回動して測定を行い、４
面の測定が終わった後、４面での特定周波数の磁界強度
分布を順次表示することを特徴とし、この構成によっ
て、測定対象の周囲を周回するように伝播する磁界強度
分布を測定することができる。

【００１２】請求項５に記載の発明は、請求項１〜４い
ずれか１項記載の電磁妨害波測定装置において、前記バ
ンドパス・フィルター処理を行った４面磁界データから
仮想のある面電流を再構成し、その面電流から遠方の電
界を計算し、その遠方電界推定値がある閾値を超えた磁
界強度分布を順次表示することを特徴とし、この構成に
よって、低インピーダンスの測定対象の磁界強度分布の
中で遠方電界との関連が強いものだけを表示することが
できる。

【００１３】請求項６に記載の発明は、請求項５記載の
電磁妨害波測定装置において、前記遠方電界推定値があ
る閾値を超えた磁界強度分布をパターンマッチングで分
類を行い、その分類で表示することを特徴とし、この構
成によって、低インピーダンスの測定対象の磁界強度分
布の中で遠方電界との関連が強いものを分類し表示する
ことができる。

【００１４】請求項７に記載の発明は、請求項１〜６い
ずれか１項記載の電磁妨害波測定装置において、電界ア
ンテナを付加し、磁界測定と同様に電界測定を行い、磁
界強度分布の表示時に電界強度分布も表示することを特
徴とし、この構成によって、低インピーダンスの測定対
象の磁界強度分布と電界強度分布の中で遠方電界との関
連が強いものだけを表示することができる。

【００１５】請求項８に記載の発明は、請求項７記載の
電磁妨害波測定装置において、４面での磁界と電界デー
タから仮想のある面電流と仮想のある面磁流を再構成
し、その面電流と面磁流から遠方の電界を計算し、その
遠方電界推定値がある閾値を超えた磁界強度分布と電界
強度分布を順次表示することを特徴とし、この構成によ
って、測定対象の特性インピーダンスに関係なく、磁界
強度分布と電界強度分布の中で遠方電界との関連が強い
ものだけを表示することができる。

【００１６】請求項９に記載の発明は、請求項８記載の
電磁妨害波測定装置において、前記遠方の電界に、ある
時定数の積分回路で準尖頭値検波を行い、準尖頭値検波
での値がある閾値を超えた磁界強度分布と電界強度分布
を順次表示することを特徴とし、この構成によって、測
定対象の特性インピーダンスに関係なく、磁界強度分布
と電界強度分布の中で計算された遠方電界が規制値の値
を超えるものだけを表示することができる。

【００１７】請求項１０に記載の発明は、請求項９記載
の電磁妨害波測定装置において、前記準尖頭値検波での
値が、ある閾値を超えた磁界強度分布と電界強度分布を
パターンマッチングで分類を行いその分類で表示するこ
とを特徴とし、特性インピーダンスに関係なく、測定対
象についての遠方電界推定値が規制値を超える電界強度
分布と磁界強度分布類似度が高い分類ごとに測定するこ
とができる。

【００１８】請求項１１に記載の発明は、請求項１〜１
０いずれか１項記載の電磁妨害波測定装置において、前
記トリガ測定用プローブと前記デジタイザの間にノイズ
フィルターを設けたことを特徴とし、この構成によっ
て、電磁波ノイズの放射が多いトリガ測定用プローブと
デジタイザとの間のケーブルからの放射を逓減すること
ができる。

【００１９】請求項１２に記載の発明は、請求項１〜１
１いずれか１項記載の電磁妨害波測定装置において、そ
れぞれの測定点で複数回データを取り込み、それぞれの
データをベクトル列として、単位ベクトルに変換してか
らそれぞれの類似度をベクトル内積で計算し、ベクトル
内積での評価値がある閾値以下のデータは前記データ記
憶装置から消去することを特徴とし、この構成によっ
て、トリガ設定不良，外来ノイズに影響されされずに測
定することができる。

【００２０】請求項１３に記載の発明は、請求項１〜１
２いずれか１項記載の電磁妨害波測定装置において、磁
界あるいは電界の測定時、測定範囲を可能な範囲で上下
方向に大きくとることを特徴とし、この構成によって、
測定対象物の側面の測定で、測定対象の上面・下面から
の影響をも測定することができる。

【００２１】請求項１４に記載の発明は、請求項１〜１
３いずれか１項記載の電磁妨害波測定装置において、測
定した磁界データについてベクトル演算の回転を行い、
その値がある閾値以上の場合、再度測定範囲を変えて測
定することを特徴とし、この構成によって、測定対象物
の側面の測定で、測定対象の上面・下面からの影響をも
測定する場合に、どの程度上面・下面からの影響をも測
定することができたかを定量的に把握することができ
る。

【００２２】請求項１５に記載の発明は、測定対象、測
定対象から等距離に置いた５つの測定用アンテナ、デジ
タイザ，デジタル・フィルター装置，記憶装置，表示装
置および中央制御装置からなる電磁妨害波測定装置であ
って、前記５つの測定用アンテナで検出する電磁波の検
出時刻から測定対象からの直接波だけを推定することを
特徴とし、この構成によって、電波暗室に比べ安価な設
備で測定対象の直接波だけを測定することができる。

【００２３】請求項１６に記載の発明は、請求項１５記
載の電磁妨害波測定装置において、前記５つの測定用ア
ンテナでアンテナ間の距離をｄ［ｍ］、自由空間場での
電磁波の伝播速度をｖ［ｍ／ｓ］とすると、検出する電
磁波の検出時刻のずれが前記デジタイザのサンプリング
時間よりも大きく、ｄ／ｖ［ｓ］以下の場合に外来ノイ
ズとして推定することを特徴とし、この構成によって、
直接波，外来ノイズ混在の中で外来ノイズを測定するこ
とができる。

【００２４】請求項１７に記載の発明は、請求項１５ま
たは１６記載の電磁妨害波測定装置において、ＲＯＭエ
ミュレータ型ＩＣＥ（in circuit emulator）とＲＯＭ
エミュレータ型ＩＣＥ制御装置とを付加し、同じシーケ
ンス処理を繰り返し、直接波を抽出することを特徴と
し、この構成によって、直接波の測定のＳ／Ｎ比を上げ
ることができる。

【００２５】請求項１８に記載の発明は、請求項１５〜
１７いずれか１項記載の電磁妨害波測定装置において、
アンテナ昇降機と回転ステージとを付加し、測定対象物
と測定用アンテナの距離をＥＭＩ（electro magnetic i
nterference）規定に準拠し、アンテナ昇降機で測定用
アンテナをＥＭＩ規定通りの上下動させることを特徴と
し、この構成によって、測定対象物からのＥＭＩ規定に
あった直接波を測定することができる。

【００２６】

【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施形態に
ついて図面を参照しながら説明する。

【００２７】図１は本発明の第１実施形態の構成を示す
ブロック図であり、１は測定対象物であるデジタル回
路、２はトリガ測定プローブ、３は磁界センサ、４はセ
ンサ位置移動装置、５はデジタイザ、６はデータ記憶装
置、７はデジタル・フィルター装置、８は中央制御装
置、９は表示装置である。

【００２８】図１において、中央制御装置８は磁界セン
サ３をセンサ位置移動装置４で所定の位置に移動させ
る。トリガ測定プローブ２はデジタル回路１の特定部分
に接続しており、デジタル回路１の特定信号をトリガと
してデジタイザ５に送れるようになっている。中央制御
装置８によりデジタイザ５はトリガ信号をトリガとして
磁界信号をアナログ／デジタル変換し、データ記憶装置
６にデータを送る。次にデジタル・フィルター装置７で
データ記憶装置６のデータのフィルタ処理を行う。これ
はソフトウエア・バンドパス・フィルターとなってい
て、予め決められた周波数成分だけ通過させる。データ
記憶装置６はデジタル・フィルター装置７から送られた
特定周波数のデジタル波形データを記憶する。

【００２９】中央制御装置８は、センサ位置移動装置４
により磁界センサ３を所定の測定箇所に移動させて測定
させ、それぞれの測定点での特定周波数のデジタル波形
データをデータ記憶装置６に記憶させる。さらに中央制
御装置８は、すべての測定点を測定したら表示装置９で
特定周波数の磁界強度分布を表示させる。従来例である
と、取り込んだデータの時間領域すべてに時間窓を適応
し、高速フーリエ変換のような周波数解析を行うため、
時間で動的に変化する現象を正確に捉えることができな
い。これに対して解析部にソフトウエア・バンドパス・
フィルターを適応することで、任意のデジタル回路１に
対して動的に周波数が変化する磁界の強度分布をより正
確に測定することができる。

【００３０】図２は本発明の第２実施形態の構成を示す
ブロック図であり、１は測定対象物であるデジタル回
路、２はトリガ測定プローブ、３は磁界センサ、４はセ
ンサ位置移動装置、５はデジタイザ、６はデータ記憶装
置、７はデジタル・フィルター装置、８は中央制御装
置、９は表示装置、１０は周波数解析装置、１１は入力
装置である。

【００３１】図２において、中央制御装置８は磁界セン
サ３をセンサ位置移動装置４で所定の位置に移動させ
る。トリガ測定プローブ２はデジタル回路１の特定部分
に接続しており、デジタル回路１の特定信号をトリガと
してデジタイザ５に送れるようになっている。中央制御
装置８によりデジタイザ５はトリガ信号をトリガとして
磁界信号をアナログ／デジタル変換し、データ記憶装置
６にデータを送る。

【００３２】中央制御装置８はセンサ位置移動装置４に
より磁界センサ３を所定の測定箇所に移動させて測定さ
せ、それぞれの測定点でのデータをデータ記憶装置６に
記憶させる。中央制御装置８は、すべての測定点を測定
したら、周波数解析装置１０で周波数解析を行う。これ
は高速フーリエ変換を行い、それぞれの測定点での周波
数スペクトルの合算値を計算する。中央制御装置８によ
り表示装置９で周波数スペクトルを表示して、入力装置
１１で解析周波数の選択を行う。これにより、ある解析
周波数でソフトウエア・バンドパス・フィルターを適用
する前に電磁波ノイズの周波数スペクトラムを表示、そ
の分布に応じて解析周波数を選択できる。

【００３３】次に中央制御装置８により、デジタル・フ
ィルター装置７でデータ記憶装置６に記憶されたデジタ
ル波形データのフィルタ処理を行う。これはソフトウエ
ア・バンドパス・フィルターとなっていて、入力装置１
１で選択された解析周波数成分だけ通過させる。データ
記憶装置６にデジタル・フィルター装置７から送られた
特定周波数のデジタル波形データを記憶する。中央制御
装置８はすべての測定点を測定したら、順次、表示装置
９に特定周波数の磁界強度分布を表示させる。

【００３４】図３は本発明の第３実施形態の構成を示す
ブロック図であり、１は測定対象物であるデジタル回
路、２はトリガ測定プローブ、３は磁界センサ、４はセ
ンサ位置移動装置、５はデジタイザ、６はデータ記憶装
置、７はデジタル・フィルター装置、８は中央制御装
置、９は表示装置である。

【００３５】図３において、中央制御装置８は磁界セン
サ３をセンサ位置移動装置４で所定の位置に移動させ
る。トリガ測定プローブ２はデジタル回路１の特定部分
に接続しており、デジタル回路１の特定信号をトリガと
してデジタイザ５に送れるようになっている。中央制御
装置８によりデジタイザ５はトリガ信号をトリガとして
磁界信号をアナログ／デジタル変換し、データ記憶装置
６にデータを送る。次にデジタル・フィルター装置７で
データ記憶装置６のデータのフィルタ処理を行う。これ
はソフトウエア・バンドパス・フィルターとなってい
て、予め決められた周波数成分だけ通過させる。データ
記憶装置６はデジタル・フィルター装置７から送られた
特定周波数のデジタル波形データを記憶する。

【００３６】中央制御装置８は、センサ位置移動装置４
により磁界センサ３を所定の測定箇所に移動させて測定
させ、それぞれの測定点での特定周波数のデジタル波形
データをデータ記憶装置６に記憶させる。それぞれの測
定点でのフィルタ処理が終わったら、中央制御装置８に
より、ある時間ステップ毎の磁界分布つまり２次元ベク
トル分布の大きさの合算値を求め、ある閾値を超えた時
間ステップの磁界分布を表示装置９で順次、表示させ
る。これにより順次表示されていた磁界強度分布の中で
遠方電界との関連が強い磁界強度分布のベクトル値が高
いものだけを表示することができる。

【００３７】図４は本発明の第４実施形態の構成を示す
ブロック図であり、１は測定対象物であるデジタル回
路、２はトリガ測定プローブ、３は磁界センサ、４はセ
ンサ位置移動装置、５はデジタイザ、６はデータ記憶装
置、７はデジタル・フィルター装置、８は中央制御装
置、９は表示装置、１２は回転ステージである。

【００３８】図４において、中央制御装置８は磁界セン
サ３をセンサ位置移動装置４で所定の位置に移動させ
る。トリガ測定プローブ２はデジタル回路１の特定部分
に接続しており、デジタル回路１の特定信号をトリガと
してデジタイザ５に送れるようになっている。中央制御
装置８によりデジタイザ５はトリガ信号をトリガとして
磁界信号をアナログ／デジタル変換し、データ記憶装置
６にデータを送る。次にデジタル・フィルター装置７で
データ記憶装置６のデータのフィルタ処理を行う。これ
はソフトウエア・バンドパス・フィルターとなってい
て、予め決められた周波数成分だけ通過させる。データ
記憶装置６はデジタル・フィルター装置７から送られた
特定周波数のデジタル波形データを記憶する。

【００３９】中央制御装置８は、センサ位置移動装置４
により磁界センサ３を所定の測定箇所に移動させて測定
させ、それぞれの測定点での特定周波数のデジタル波形
データをデータ記憶装置６に記憶させる。中央制御装置
８は、すべての測定点を測定したら、回転ステージ１２
で測定対象物であるデジタル回路１を９０度回動して、
前記の処理を繰り返し、４面の測定が終わったら、順
次、表示装置９で４面での特定周波数の磁界強度分布を
表示させる。このことにより、測定対象物を周回する磁
界強度分布を測定することができる。

【００４０】図５は本発明の第５実施形態の構成を示す
ブロック図であり、１は測定対象物であるデジタル回
路、２はトリガ測定プローブ、３は磁界センサ、４はセ
ンサ位置移動装置、５はデジタイザ、６はデータ記憶装
置、７はデジタル・フィルター装置、８は中央制御装
置、９は表示装置、１２は回転ステージである。

【００４１】図５において、中央制御装置８は磁界セン
サ３をセンサ位置移動装置４で所定の位置に移動させ
る。トリガ測定プローブ２はデジタル回路１の特定部分
に接続しており、デジタル回路１の特定信号をトリガと
してデジタイザ５に送れるようになっている。中央制御
装置８によりデジタイザ５はトリガ信号をトリガとして
磁界信号をアナログ／デジタル変換し、データ記憶装置
６にデータを送る。次にデジタル・フィルター装置７で
データ記憶装置６のデータのフィルタ処理を行う、これ
はソフトウエア・バンドパス・フィルターとなってい
て、予め決められた周波数成分だけ通過させる。データ
記憶装置６はデジタル・フィルター装置７から送られた
特定周波数のデジタル波形データを記憶する。

【００４２】中央制御装置８は、センサ位置移動装置４
により磁界センサ３を所定の測定箇所に移動させて測定
させ、それぞれの測定点での特定周波数のデジタル波形
データをデータ記憶装置６に記憶させる。格子状の位置
での磁界を測定解析し終わったら、中央制御装置８は回
転ステージ１２を９０度回動させ、次の格子状の位置で
の磁界を測定解析する。４面の磁界データを測定解析し
たら、中央制御装置８は磁界データから仮想のある面電
流を再構成し、その面電流から遠方の電界強度を計算す
る。

【００４３】一般には、遠方電界の計算には面電流，面
磁流のデータが必要であるが、測定対象の特性インピー
ダンスが低ければ、放射電界強度は微弱で無視できる。
通常、面電流から発生する電界は、面電流から電界計算
地点までの距離をｒとすれば、ｒの逆数の項と、ｒの二
乗の逆数の項と、ｒの三乗の逆数の項の和となるが、遠
方電界を計算するためｒの逆数の項だけで計算を行い、
ある閾値を超える磁界強度分布を順次、表示装置９で表
示する。これにより低インピーダンスの測定対象の磁界
強度分布の中で遠方電界との関連が強いものだけを表示
することができる。

【００４４】図６は本発明の第６実施形態の構成を示す
ブロック図であり、１は測定対象物であるデジタル回
路、２はトリガ測定プローブ、３は磁界センサ、４はセ
ンサ位置移動装置、５はデジタイザ、６はデータ記憶装
置、７はデジタル・フィルター装置、８は中央制御装
置、９は表示装置、１２は回転ステージである。

【００４５】図６において、中央制御装置８は磁界セン
サ３をセンサ位置移動装置４で所定の位置に移動させ
る。トリガ測定プローブ２はデジタル回路１の特定回路
部分に接続しており、デジタル回路１の特定信号をトリ
ガとしてデジタイザ５に送れるようになっている。中央
制御装置８によりデジタイザ５はトリガ信号をトリガと
して磁界信号をアナログ／デジタル変換し、データ記憶
装置６にデータを送る。次にデジタル・フィルター装置
７でデータ記憶装置６のデータのフィルタ処理を行う。
これはソフトウエア・バンドパス・フィルターとなって
いて、予め決められた周波数成分だけ通過させる。デー
タ記憶装置６はデジタル・フィルター装置７から送られ
た特定周波数のデジタル波形データを記憶する。

【００４６】中央制御装置８は、センサ位置移動装置４
により磁界センサ３を所定の測定箇所に移動させて測定
させ、それぞれの測定点での特定周波数のデジタル波形
データをデータ記憶装置６に記憶させる。格子状の位置
での磁界を測定解析し終わったら、中央制御装置８は回
転ステージ１２を９０度回動させ、次の格子状の位置で
の磁界を測定解析する。４面の磁界データを測定解析し
たら、中央制御装置８は磁界データから仮想のある面電
流を再構成し、その面電流から遠方の電界強度を計算す
る。

【００４７】一般には、遠方電界の計算には面電流，面
磁流のデータが必要であるが、測定対象の特性インピー
ダンスが低ければ、放射電界強度は微弱で無視できる。
通常、面電流から発生する電界は面電流から電界計算地
点までの距離をｒとすれば、ｒの逆数の項と、ｒの二乗
の逆数の項と、ｒの三乗の逆数の項の和となるが、遠方
電界を計算するためｒの逆数の項だけで計算を行い、あ
る閾値を超える磁界強度分布を、またデータ記憶装置６
に記憶する。そして中央制御装置８によってデータ記憶
装置６に記憶されたある閾値を超える磁界強度分布のパ
ターンマッチングを行う。これは、例えばぞれぞれの２
次元ベクトル図を１次ベクトル列に変換し、それぞれを
単位ベクトル列に変換してから内積をとる。パターンの
類似度が高いほど内積は１になる。パターンマッチング
で類似度が高いある閾値を超える磁界強度分布を、順
次、表示装置９で表示する。これにより低インピーダン
スの測定対象の磁界強度分布の中で、遠方電界との関連
が強いものを分類して表示することができる。

【００４８】図７は本発明の第７実施形態の構成を示す
ブロック図であり、１は測定対象物であるデジタル回
路、２はトリガ測定プローブ、３は磁界センサ、４はセ
ンサ位置移動装置、５はデジタイザ、６はデータ記憶装
置、７はデジタル・フィルター装置、８は中央制御装
置、９は表示装置、１２は回転ステージ、１３は電界セ
ンサである。

【００４９】図７において、中央制御装置８は磁界セン
サ３をセンサ位置移動装置４で所定の位置に移動させ
る。トリガ測定プローブ２はデジタル回路１の特定回路
部分に接続しており、デジタル回路１の特定信号をトリ
ガとしてデジタイザ５に送れるようになっている。中央
制御装置８によりデジタイザ５はトリガ信号をトリガと
して磁界信号をアナログ／デジタル変換し、データ記憶
装置６にデータを送る。次にデジタル・フィルター装置
７でデータ記憶装置６のデータのフィルタ処理を行う。
これはソフトウエア・バンドパス・フィルターとなって
いて、予め決められた周波数成分だけ通過させる。デー
タ記憶装置６はデジタル・フィルター装置７から送られ
た特定周波数のデジタル波形データを記憶する。

【００５０】中央制御装置８は、電界センサ１３をセン
サ位置移動装置４で所定の位置に移動させ、磁界センサ
３と同じ処理を行う。中央制御装置８はセンサ位置移動
装置４により磁界センサ３と電界センサ１３を所定の測
定箇所に移動して測定させ、それぞれの測定点での特定
周波数のデジタル波形データをデータ記憶装置６に記憶
させる。格子状の位置での磁界と電界を測定解析し終わ
ったら、中央制御装置８は、回転ステージ１２を９０度
回動させ、次の格子状の位置での磁界と電界を測定解析
する。４面の磁界と電界データを測定解析したら、中央
制御装置８は磁界データから仮想のある面電流を再構成
し、その面電流から遠方の電界強度を計算する。

【００５１】一般には、遠方電界の計算には面電流，面
磁流のデータが必要であるが、測定対象の特性インピー
ダンスが低ければ、放射電界強度は微弱で無視できる。
通常、面電流から発生する電界は面電流から電界計算地
点までの距離をｒとすれば、ｒの逆数の項と、ｒの二乗
の逆数の項と、ｒの三乗の逆数の項の和となるが、遠方
電界を計算するためｒの逆数の項だけで計算を行い、あ
る閾値を超える磁界強度分布と電界強度分布を、順次、
表示装置９で表示する。これにより低インピーダンスの
測定対象の磁界強度分布と電界強度分布の中で、遠方電
界との関連が強いものだけを表示することができる。

【００５２】図８は本発明の第８実施形態の構成を示す
ブロック図であり、１は測定対象物であるデジタル回
路、２はトリガ測定プローブ、３は磁界センサ、４はセ
ンサ位置移動装置、５はデジタイザ、６はデータ記憶装
置、７はデジタル・フィルター装置、８は中央制御装
置、９は表示装置、１２は回転ステージ、１３は電界セ
ンサである。

【００５３】図８において、中央制御装置８は磁界セン
サ３をセンサ位置移動装置４で所定の位置に移動させ
る。トリガ測定プローブ２はデジタル回路１の特定回路
部分に接続しており、デジタル回路１の特定信号をトリ
ガとしてデジタイザ５に送れるようになっている。中央
制御装置８によりデジタイザ５はトリガ信号をトリガと
して磁界信号をアナログ／デジタル変換し、データ記憶
装置６にデータを送る。次にデジタル・フィルター装置
７でデータ記憶装置６のデータのフィルタ処理を行う。
これはソフトウエア・バンドパス・フィルターとなって
いて、予め決められた周波数成分だけ通過させる。デー
タ記憶装置６はデジタル・フィルター装置７から送られ
た特定周波数のデジタル波形データを記憶する。

【００５４】中央制御装置８は、電界センサ１３をセン
サ位置移動装置４で所定の位置に移動させ、磁界センサ
３と同じ処理を行う。中央制御装置８はセンサ位置移動
装置４により磁界センサ３と電界センサ１３を所定の測
定箇所に移動して測定させ、それぞれの測定点での特定
周波数のデジタル波形データをデータ記憶装置に記憶さ
せる。格子状の位置での磁界と電界を測定解析し終わっ
たら、中央制御装置８は回転ステージ１２を９０度回動
させ、次の格子状の位置での磁界と電界を測定解析す
る。４面の磁界と電界データを測定解析したら、中央制
御装置８は磁界データから仮想のある面電流を再構成
し、また電界データから仮想のある面磁流を再構成す
る。そして、その面電流，面磁流から遠方の電界強度を
計算する。

【００５５】通常、面電流，面磁流から発生する電界
は、面電流，面磁流から電界計算地点までの距離をｒと
すればｒの逆数の項と、ｒの二乗の逆数の項と、ｒの三
乗の逆数の項の和となるが、遠方電界を計算するためｒ
の逆数の項だけで計算を行い、ある閾値を超える磁界強
度分布と電界強度分布を、順次、表示装置９で表示す
る。これにより測定対象の特性インピーダンスに関係な
く、磁界強度分布と電界強度分布の中で遠方電界との関
連が強いものだけを表示することができる。

【００５６】図９は本発明の第９実施形態の構成を示す
ブロック図であり、１は測定対象物であるデジタル回
路、２はトリガ測定プローブ、３は磁界センサ、４はセ
ンサ位置移動装置、５はデジタイザ、６はデータ記憶装
置、７はデジタル・フィルター装置、８は中央制御装
置、９は表示装置、１２は回転ステージ、１３は電界セ
ンサである。

【００５７】図９において、中央制御装置８は磁界セン
サ３をセンサ位置移動装置４で所定の位置に移動する。
トリガ測定プローブ２はデジタル回路１の特定回路部分
に接続しており、デジタル回路１の特定信号をトリガと
してデジタイザ５に送れるようになっている。中央制御
装置８によりデジタイザ５はトリガ信号をトリガとして
磁界信号をアナログ／デジタル変換し、データ記憶装置
６にデータを送る。次にデジタル・フィルター装置７で
データ記憶装置６のデータのフィルタ処理を行う、これ
はソフトウエア・バンドパス・フィルターとなってい
て、予め決められた周波数成分だけ通過させる。データ
記憶装置６はデジタル・フィルター装置７から送られた
特定周波数のデジタル波形データを記憶する。

【００５８】中央制御装置８は、電界センサ１３をセン
サ位置移動装置４で所定の位置に移動させ、磁界センサ
３と同じ処理を行う。中央制御装置８はセンサ位置移動
装置４により磁界センサ３と電界センサ１３を所定の測
定箇所に移動して測定させ、それぞれの測定点での特定
周波数のデジタル波形データをデータ記憶装置６に記憶
させる。格子状の位置での磁界と電界を測定解析し終わ
ったら、中央制御装置８は回転ステージ１２を９０度回
動させ、次の格子状の位置での磁界と電界を測定解析す
る。４面の磁界と電界データを測定解析したら、中央制
御装置８は磁界データから仮想のある面電流を再構成
し、また電界データから仮想のある面磁流を再構成す
る。そしてその面電流，面磁流から遠方の電界強度を計
算する。

【００５９】通常、面電流，面磁流から発生する電界
は、面電流，面磁流から電界計算地点までの距離をｒと
すればｒの逆数の項と、ｒの二乗の逆数の項と、ｒの三
乗の逆数の項の和となるが、遠方電界を計算するためｒ
の逆数の項だけで計算を行う。計算した遠方電界の推定
値はある特定周波数で振幅が一定しない波形であるが、
これに実際と同じ準尖頭値検波を行う。これは、ある時
定数での積分回路であるが、ソフトウエアでこれを実現
し、準尖頭値検波での値が、ある閾値を超えた磁界強度
分布と電界強度分布を、順次、表示装置９で表示する。
これにより、測定対象の特性インピーダンスに関係なく
磁界強度分布と電界強度分布の中で計算された遠方電界
が規制値の値を超えるものだけを表示することができ
る。

【００６０】図１０は本発明の第１０実施形態の構成を
示すブロック図であり、１は測定対象物であるデジタル
回路、２はトリガ測定プローブ、３は磁界センサ、４は
センサ位置移動装置、５はデジタイザ、６はデータ記憶
装置、７はデジタル・フィルター装置、８は中央制御装
置、９は表示装置、１２は回転ステージ、１３は電界セ
ンサである。

【００６１】図１０において、中央制御装置８は磁界セ
ンサ３をセンサ位置移動装置４で所定の位置に移動す
る。トリガ測定プローブ２はデジタル回路１の特定部分
に接続しており、デジタル回路１の特定信号をトリガと
してデジタイザ５に送れるようになっている。中央制御
装置８によりデジタイザ５はトリガ信号をトリガとして
磁界信号をアナログ／デジタル変換し、データ記憶装置
６にデータを送る。次にデジタル・フィルター装置７で
データ記憶装置６のデータのフィルター処理を行う。こ
れはソフトウエア・バンドパス・フィルターとなってい
て、予め決められた周波数成分だけ通過させる。データ
記憶装置６はデジタル・フィルター装置７から送られた
特定周波数のデジタル波形データを記憶する。

【００６２】中央制御装置８は、電界センサ１３をセン
サ位置移動装置４で所定の位置に移動させ、磁界センサ
３と同じ処理を行う。中央制御装置８はセンサ位置移動
装置４により磁界センサ３と電界センサ１３を所定の測
定箇所に移動させて測定させ、それぞれの測定点での特
定周波数のデジタル波形データをデータ記憶装置６に記
憶する。格子状の位置での磁界と電界を測定解析し終わ
ったら、中央制御装置８は回転ステージ１２を９０度回
動させ、次の格子状の位置での磁界と電界を測定解析す
る。

【００６３】４面の磁界と電界データを測定解析した
ら、中央制御装置８は磁界データから仮想のある面電流
を再構成し、また電界データから仮想のある面磁流を再
構成する。そしてその面電流，面磁流から遠方の電界強
度を計算する。通常、面電流，面磁流から発生する電界
は面電流，面磁流から電界計算地点までの距離をｒとす
ればｒの逆数の項と、ｒの二乗の逆数の項と、ｒの三乗
の逆数の項の和となるが、遠方電界を計算するためｒの
逆数の項だけで計算を行う。計算した遠方電界の推定値
はある特定周波数で振幅が一定しない波形であるが、こ
れに実際と同じ準尖頭値検波を行う。これはある時定数
での積分回路であるが、ソフトウエアでこれを実現す
る。

【００６４】そして中央制御装置８によってデータ記憶
装置６に記憶された準尖頭値検波での値が、ある閾値を
超える磁界強度分布と電界強度分布のパターンマッチン
グを行う。これは例えば、それぞれの２次元ベクトル図
を１次ベクトル列に変換し、それぞれを単位ベクトル列
に変換してから内積をとる。パターンの類似度が高いほ
ど内積は１になる。パターンマッチングで類似度が高い
ある閾値を超える磁界強度分布と電界強度分布を、順
次、表示装置９で表示する。これにより測定対象の特性
インピーダンスに関係なく、磁界強度分布と電界強度分
布の中で計算された遠方電界が規制値の値を超えるもの
を分類し表示することができる。

【００６５】図１１は本発明の第１１実施形態の構成を
示すブロック図であり、１は測定対象物であるデジタル
回路、２はトリガ測定プローブ、３は磁界センサ、４は
センサ位置移動装置、５はデジタイザ、６はデータ記憶
装置、７はデジタル・フィルター装置、８は中央制御装
置、９は表示装置、１４はノイズフィルターである。

【００６６】図１１において、中央制御装置８は磁界セ
ンサ３をセンサ位置移動装置４で所定の位置に移動させ
る。トリガ測定プローブ２はデジタル回路１の特定回路
部分にノイズフィルター１４を通して接続しており、デ
ジタル回路１の特定信号をトリガとしてデジタイザ５に
送れるようになっている。ノイズフィルター１４はロー
パスフィルターで回路の特定信号の高い周波数成分を除
去してデジタイザ５にトリガ信号を送る。中央制御装置
８によりデジタイザ５はトリガ信号をトリガとして磁界
信号をアナログ／デジタル変換し、データ記憶装置６に
データを送る。

【００６７】ここでデジタル・フィルター装置７でフィ
ルター処理を行う、これはソフトウエア・バンドパス・
フィルターとなっていて、予め決められた周波数成分だ
け通過させる。データ記憶装置６はデジタル・フィルタ
ー装置７から送られた特定周波数のデジタル波形データ
を記憶する。中央制御装置８はセンサ位置移動装置４に
より磁界センサ３を所定の測定箇所に移動させて測定さ
せ、それぞれの測定点での特定周波数のデジタル波形デ
ータをデータ記憶装置に記憶させる。中央制御装置８は
すべての測定点を測定したら表示装置９で特定周波数の
磁界強度分布を表示する。これにより電磁波ノイズの放
射が多いトリガ測定用プローブ２とデジタイザ５間のケ
ーブルからの放射を逓減することができる。

【００６８】図１２は本発明の第１２実施形態の構成を
示すブロック図であり、１は測定対象物であるデジタル
回路、２はトリガ測定プローブ、３は磁界センサ、４は
センサ位置移動装置、５はデジタイザ、６はデータ記憶
装置、７はデジタル・フィルター装置、８は中央制御装
置、９は表示装置である。

【００６９】図１２において、中央制御装置８は磁界セ
ンサ３をセンサ位置移動装置４で所定の位置に移動させ
る。トリガ測定プローブ２はデジタル回路１の特定回路
部分に接続しており、デジタル回路１の特定信号をトリ
ガとしてデジタイザ５に送れるようになっている。中央
制御装置８によりデジタイザ５はトリガ信号をトリガと
して磁界信号をアナログ／デジタル変換し、データ記憶
装置６にデータを送る。ここでデジタル回路１の特定信
号をトリガとしてデジタイザ５を介して複数回、データ
記憶装置６にデータを送る。そして中央制御装置８によ
りデータ記憶装置６に記憶されている複数データを取り
出して単位ベクトルに変換してから、それぞれの類似度
をベクトル内積で計算し、ある閾値以下のデータを消去
する。

【００７０】そして、中央制御装置８によりデータ記憶
装置６から内積評価である閾値以上のデータを取り出
し、デジタル・フィルター装置７でフィルター処理を行
う。これはソフトウエア・バンドパス・フィルターとな
っていて、予め決められた周波数成分だけ通過させる。
データ記憶装置６はデジタル・フィルター装置７から送
られた特定周波数のデジタル波形データを記憶する。中
央制御装置８はセンサ位置移動装置４により磁界センサ
３を所定の測定箇所に移動させて測定させ、それぞれの
測定点での特定周波数のデジタル波形データをデータ記
憶装置６に記憶させる。中央制御装置８はすべての測定
点を測定したら、順次、表示装置９で特定周波数の磁界
強度分布を表示する。これによりトリガ設定不良，外来
ノイズに影響されずに測定することができる。

【００７１】図１３は本発明の第１３実施形態の構成を
示すブロック図であり、１は測定対象物であるデジタル
回路、２はトリガ測定プローブ、３は磁界センサ、４は
センサ位置移動装置、５はデジタイザ、６はデータ記憶
装置、７はデジタル・フィルター装置、８は中央制御装
置、９は表示装置、１２は回転ステージである。

【００７２】図１３において、中央制御装置８は磁界セ
ンサ３をセンサ位置移動装置４で所定の位置に移動す
る。トリガ測定プローブ２はデジタル回路１の特定回路
部分に接続しており、中央制御装置８によりデジタイザ
５はトリガ信号をトリガとして磁界信号をアナログ／デ
ジタル変換し、データ記憶装置６にデータを送る。ここ
でデジタル・フィルター装置７でフィルター処理を行
う、これはソフトウエア・バンドパス・フィルターとな
っていて、予め決められた周波数成分だけ通過させる。
データ記憶装置６はデジタル・フィルター装置７から送
られた特定周波数のデジタル波形データを記憶する。次
に中央制御装置８はセンサ位置移動装置４により磁界セ
ンサ３を所定の測定箇所に移動して測定させ、それぞれ
の測定点での特定周波数のデジタル波形データをデータ
記憶装置６に記憶させる。

【００７３】ここで、本来、遠方電界推定では磁界測定
面を測定対象物を囲む６面で測定するのが理想である
が、実際には上面，下面を測定するのは困難である。そ
こで測定対象物の側面での磁界測定面を上下方向に大き
くとることで、上面，下面の情報を取り込む。格子状の
位置での磁界を測定解析し終わったら、中央制御装置８
は回転ステージ１２を９０度回動させ、次の格子状の位
置での磁界を測定解析する。４面の磁界データを測定解
析したら、中央制御装置８は磁界データから仮想のある
面電流を再構成し、その面電流から遠方の電界強度を計
算する。

【００７４】一般には遠方電界の計算には面電流，面磁
流のデータが必要であるが測定対象の特性インピーダン
スが低ければ、放射電界強度は微弱で無視できる。通
常、面電流から発生する電界は面電流から電界計算地点
までの距離をｒとすればｒの逆数の項と、ｒの二乗の逆
数の項と、ｒの三乗の逆数の項の和となるが、遠方電界
を計算するためｒの逆数の項だけで計算を行い、ある閾
値を超える磁界強度分布を順次、表示装置９で表示す
る。これにより測定対象物の側面の測定で測定対象の上
面・下面からの影響をも測定することができる。

【００７５】図１４は本発明の第１４実施形態の構成を
示すブロック図であり、１は測定対象物であるデジタル
回路、２はトリガ測定プローブ、３は磁界センサ、４は
センサ位置移動装置、５はデジタイザ、６はデータ記憶
装置、７はデジタル・フィルター装置、８は中央制御装
置、９は表示装置である。

【００７６】図１４において、中央制御装置８は磁界セ
ンサ３をセンサ位置移動装置４で所定の位置に移動させ
る。トリガ測定プローブ２はデジタル回路１の特定回路
部分に接続しており、中央制御装置８によりデジタイザ
５はトリガ信号をトリガとして磁界信号をアナログ／デ
ジタル変換し、データ記憶装置６にデータを送る。ここ
でデジタル・フィルター装置７でフィルター処理を行
う。これはソフトウエア・バンドパス・フィルターとな
っていて、予め決められた周波数成分だけ通過させる。
データ記憶装置６はデジタル・フィルター装置７から送
られた特定周波数のデジタル波形データを記憶する。次
に中央制御装置８はセンサ位置移動装置４により磁界セ
ンサ３を所定の測定箇所に移動して測定させ、それぞれ
の測定点での特定周波数のデジタル波形データを６のデ
ータ記憶装置に記憶する。

【００７７】一般にある電流源ベクトルＪについて、そ
れによって発生する磁界は（数１）のようにベクトルの
回転となる。そして（数２）に示すように、あるベクト
ルの回転の発散は必ずゼロとなる。

【００７８】

【数１】∇×Ｊ

【００７９】

【数２】∇・（∇×Ｊ） そこで、すべての測定点を測定したら、中央制御装置８
は、データ記憶装置６のデータについて発散の演算を行
い、ある閾値以上ならば、再度測定範囲を変えて測定す
る。これにより測定対象物の側面の測定で測定対象の上
面・下面からの影響をも測定する場合に、どの程度上面
・下面からの影響をも測定できたかを定量的に把握する
ことができる。

【００８０】なお、第１〜第１４実施形態の構成を適宜
組み合わせて実施することにより、効果的な測定が行わ
れる。

【００８１】図１５は本発明の第１５実施形態の構成を
示すブロック図、図１６は本実施形態の測定例の説明図
であり、２１はデジタル機器などの測定対象、２２〜２
６は測定用アンテナ、２７〜３１はデジタイザ、３２〜
３６はデジタル・フィルター装置、３７〜４１は記憶装
置、４２は表示装置、４３は中央制御装置である。

【００８２】まず、図１６に示したように、測定対象２
１を等距離で囲むように測定用アンテナ２２〜２６を設
置する。次に中央制御装置４３により測定用アンテナ２
２〜２６で受信した電磁波をデジタイザ２７〜３１によ
りアナログ・デジタル変換を行う。中央制御装置４３に
よりデジタイザ２７〜３１から出力されたデジタル信号
をデジタル・フィルター装置３２〜３６でソフトウエア
・バンドパス・フィルター処理を行う。これにより、特
定周波数での過渡的な波形データを抽出し、記憶装置３
７〜４１に記憶する。測定された電磁波が測定対象２１
からのものであれば、測定対象２１から等距離にある測
定用アンテナ２２〜２６で同時に測定されるはずであ
る。

【００８３】そこで、中央制御装置４３により、記憶装
置３７〜４１に記憶されたそれぞれの測定用アンテナか
らのある一定時間ごとの特定周波数成分データについて
同時刻で発生している特定周波数成分を抽出して表示装
置４２に表示させる。これにより電波暗室のような特別
な設備がなくても、測定室内での電磁波ノイズの反射を
除去して測定対象物からの直接波を測定することができ
る。

【００８４】図１７は本発明の第１６実施形態の構成を
示すブロック図、図１８は本実施形態の測定例の説明図
であり、２１は測定対象、２２〜２６は測定用アンテ
ナ、２７〜３１はデジタイザ、３２〜３６はデジタル・
フィルター装置、３７〜４１は記憶装置、４２は表示装
置、４３は中央制御装置である。

【００８５】図１７において、測定対象２１を等距離で
囲むように測定用アンテナ２２〜２６を設置する。次に
中央制御装置４３により測定用アンテナ２２〜２６で受
信した電磁波をデジタイザ２７〜３１によりアナログ・
デジタル変換を行う。中央制御装置４３によりデジタイ
ザ２７〜３１から出力されたデジタル信号をデジタル・
フィルター装置３２〜３６でソフトウエア・バンドパス
・フィルター処理を行う。これにより、特定周波数での
過渡的な波形データを抽出し、記憶装置３７〜４１に記
憶する。測定された電磁波が測定対象２１からのもので
あれば、測定対象２１から等距離にある測定用アンテナ
２２〜２６で同時に測定されるはずである。そこで中央
制御装置４３により、記憶装置３７〜４１に記憶された
それぞれの測定用アンテナ２２〜２６からの特定周波数
成分波形データから外来ノイズを抽出する。

【００８６】図１８は測定装置を上方から見たものであ
り、２２，２４，２５は測定用アンテナ、２１は測定対
象物、４４は外来ノイズとする。ここで２２，２４の測
定用アンテナについて考察すると、測定用アンテナ２４
で検出してから測定用アンテナ２２で検出する場合、一
番検出する時刻で違いが生じるのが測定用アンテナ２２
と２４を含む直線上から外来ノイズ４４が到来する場合
である。測定用アンテナ２２と測定用アンテナ２４との
距離をｄ［ｍ］，電磁波の伝播速度をｖ［ｍ／ｓ］とす
れば、検出する時刻の違いはｄ／ｖ［ｓ］となる。そこ
である外来ノイズを検出した場合、前後する時間でｄ／
ｖ［ｓ］の範囲で外来ノイズがあれば、その中で振幅が
最大のものを外来ノイズとして、表示装置４２に表示す
る。これにより外来ノイズを測定することができる。

【００８７】図１９は本発明の第１７実施形態の構成を
示すブロック図であり、２１は測定対象、２２〜２６は
測定用アンテナ、２７〜３１はデジタイザ、３２〜３６
はデジタル・フィルター装置、３７〜４１は記憶装置、
４２は表示装置、４３は中央制御装置、４５はＲＯＭエ
ミュレータ型ＩＣＥ、４６はＲＯＭエミュレータ型ＩＣ
Ｅ制御装置である。

【００８８】図１６に示したように、測定対象２１を等
距離で囲むように測定用アンテナ２２〜２６を設置す
る。ＲＯＭエミュレータ型ＩＣＥ４５は測定対象２１の
デジタル機器におけるＣＰＵのＲＯＭソケットに接続し
ており、予めＲＯＭエミュレータ型ＩＣＥ制御装置４６
によって解析スタートアドレスとエンドアドレスが設定
されている。測定対象２１のシーケンス処理が進んで、
解析スタートアドレスになった時点でトリガ信号がＲＯ
Ｍエミュレータ型ＩＣＥ４５，ＲＯＭエミュレータ型Ｉ
ＣＥ制御装置４６，中央制御装置４３へと伝わって、デ
ジタイザ２７〜３１にトリガ信号が伝わる。デジタイザ
２７〜３１はトリガ信号をトリガとして測定用アンテナ
２２〜２６は磁界信号をアナログ／デジタル変換し、デ
ジタル・フィルター装置３２〜３６でソフトウエア・バ
ンドパス・フィルター処理を行う。これにより、特定周
波数での過渡的な波形データを抽出し、記憶装置３７〜
４１に記憶する。

【００８９】そして、再度、中央制御装置４３によりＲ
ＯＭエミュレータ型ＩＣＥ制御装置４６を介して、測定
対象物２１のシーケンス処理が進んで、解析スタートア
ドレスになった時点でトリガ信号がＲＯＭエミュレータ
型ＩＣＥ４５，ＲＯＭエミュレータ型ＩＣＥ制御装置４
６，中央制御装置４３と伝わって、データを取り込み、
フィルター処理を行い、記憶装置３７〜４１に記憶す
る。設定された取り込み回数を超えたら記憶装置３７〜
４１に記憶された波形データについて加算平均を行い、
表示装置４２に表示する。これにより直接波の測定のＳ
／Ｎ比を上げることができる。

【００９０】図２０は本発明の第１８実施形態の構成を
示すブロック図、図２１は本実施形態の測定例の説明図
であり、２１は測定対象、２２〜２６は測定用アンテ
ナ、２７〜３１はデジタイザ、３２〜３６はデジタル・
フィルター装置、３７〜４１は記憶装置、４２は表示装
置、４３は中央制御装置、５０は回転ステージ、４７〜
４９はアンテナ昇降機である。

【００９１】まず、図２１に示したように、回転ステー
ジ５０の上に測定対象２１を置き、その周囲に測定用ア
ンテナ２２〜２６を設置する。２３と２６の測定用アン
テナは測定対象２１から等距離で比較的近傍に置く。２
２と２４と２５の測定用アンテナは測定対象２１から等
距離に置くが、その距離はＥＭＩ規定で規定されている
放射電界強度を測る距離である３ｍあるいは１０ｍとす
る。また２２，２４，２５の測定用アンテナはそれぞれ
アンテナ昇降機４７，４８，４９に取り付ける。次に中
央制御装置４３により測定用アンテナ２２〜２６で受信
した電磁波をデジタイザ２７〜３１によりアナログ・デ
ジタル変換を行う。

【００９２】そして中央制御装置４３によりデジタイザ
２７〜３１から出力されたデジタル信号をデジタル・フ
ィルター装置３２〜３６でソフトウエア・バンドパス・
フィルター処理を行う。これにより、特定周波数での過
渡的な波形データを抽出し、記憶装置３７〜４１に記憶
する。測定された電磁波が測定対象２１からのものであ
れば測定対象２１から等距離にある２３と２６の測定用
アンテナで同時に測定される。また、２２，２４，２５
の測定用アンテナは、２３と２６の測定用アンテナより
距離ｄ［ｍ］離れていて、電磁波の伝播速度がｖ［ｍ／
ｓ］であれば、２３と２６の測定用アンテナでの検出時
刻よりｄ／ｖ［ｓ］遅れて検出される。このタイミング
のものを直接波として抽出し、記憶装置３７〜４１に記
憶する。次にアンテナ昇降機４７〜４９により２２と２
４と２５の測定用アンテナを上げて同様な測定を行い。
ＥＭＩ規定で規定されている放射電界強度を測るアンテ
ナの上限の高さまで上げたら、回転ステージ５０を回動
して前記と同様な測定を行う。そして、記憶装置３７〜
４１に記憶している最大の値を表示装置４２に表示す
る。これにより電波暗室のような特別な設備がなくて
も、測定室内での電磁波ノイズの反射を除去して測定対
象物からのＥＭＩ規定にあった直接波を測定することが
できる。

【００９３】なお、第１５〜第１８実施形態の構成を適
宜組み合わせて実施することにより、効果的な測定が行
われる。

【００９４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
任意のデジタル回路で動的に周波数が変化する磁界の強
度分布を伝播方向も含めてより詳細に測定することがで
き、また電波暗室に比べ安価な設備で測定対象の直接波
だけを測定することができる等、測定対象物の状態によ
らず正確な電磁波ノイズの測定ができる電磁妨害波測定
装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１実施形態の構成を示すブロック図

【図２】本発明の第２実施形態の構成を示すブロック図

【図３】本発明の第３実施形態の構成を示すブロック図

【図４】本発明の第４実施形態の構成を示すブロック図

【図５】本発明の第５実施形態の構成を示すブロック図

【図６】本発明の第６実施形態の構成を示すブロック図

【図７】本発明の第７実施形態の構成を示すブロック図

【図８】本発明の第８実施形態の構成を示すブロック図

【図９】本発明の第９実施形態の構成を示すブロック図

【図１０】本発明の第１０実施形態の構成を示すブロッ
ク図

【図１１】本発明の第１１実施形態の構成を示すブロッ
ク図

【図１２】本発明の第１２実施形態の構成を示すブロッ
ク図

【図１３】本発明の第１３実施形態の構成を示すブロッ
ク図

【図１４】本発明の第１４実施形態の構成を示すブロッ
ク図

【図１５】本発明の第１５実施形態の構成を示すブロッ
ク図

【図１６】第１５実施形態における測定例の説明図

【図１７】本発明の第１６実施形態の構成を示すブロッ
ク図

【図１８】第１６実施形態における測定例の説明図

【図１９】本発明の第１７実施形態の構成を示すブロッ
ク図

【図２０】本発明の第１８実施形態の構成を示すブロッ
ク図

【図２１】第１８実施形態における測定例の説明図

【符号の説明】

１，２１ デジタル回路（測定対象） ２ トリガ測定プローブ ３ 磁界センサ ４ センサ位置移動装置 ５，２７，２８，２９，３０，３１ デジタイザ ６，３７，３８，３９，４０，４１ 記憶装置 ７，３２，３３，３４，３５，３６ デジタル・フィル
ター装置 ８，４３ 中央制御装置 ９，４２ 表示装置 １０ 周波数解析装置 １１ 入力装置 １２，５０ 回転ステージ １３ 電界センサ １４ ノイズフィルター ２２，２３，２４，２５，２６ 測定用アンテナ ４５ ＲＯＭエミュータ型ＩＣＥ ４６ ＲＯＭエミュータ型ＩＣＥ制御装置 ４７，４８，４９ アンテナ昇降機

Claims (18)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 トリガ測定プローブ，磁界センサ，セン
   サ位置移動装置，デジタイザ，デジタル・フィルター装
   置，データ記憶装置，中央制御装置，表示装置を備えた
   電磁妨害波測定装置であって、 前記トリガ測定プローブにより測定対象である製品の特
   定回路部分からの信号をトリガとして同期しながら電磁
   波ノイズを測定し、前記デジタル・フィルター装置によ
   るバンドパス・フィルター処理を行い、前記データ記憶
   装置に記憶し、すべての測定点の処理が終わってから、
   ある特定周波数での磁界強度を前記表示装置に順次表示
   することを特徴とする電磁妨害波測定装置。
2. 【請求項２】 周波数解析装置と入力装置とを付加し、
   測定したデータを前記周波数解析装置により周波数解析
   を行い、前記入力装置によって解析周波数の選択を行
   い、その解析周波数でデジタル・フィルター装置による
   バンドパス・フィルター処理を行うことを特徴とする請
   求項１記載の電磁妨害波測定装置。
3. 【請求項３】 前記バンドパス・フィルター処理が終わ
   ったデータについて、ある時間ステップ毎の磁界分布の
   ベクトルの大きさの合算値を求め、ある閾値を超えた時
   間ステップの磁界分布を表示することを特徴とする請求
   項１または２記載の電磁妨害波測定装置。
4. 【請求項４】 回転ステージを付加し、１面での磁界測
   定が完了した後、回転ステージで測定対象物を９０度回
   動して測定を行い、４面の測定が終わった後、４面での
   特定周波数の磁界強度分布を順次表示することを特徴と
   する請求項１〜３いずれか１項記載の電磁妨害波測定装
   置。
5. 【請求項５】 前記バンドパス・フィルター処理を行っ
   た４面磁界データから仮想のある面電流を再構成し、そ
   の面電流から遠方の電界を計算し、その遠方電界推定値
   がある閾値を超えた磁界強度分布を順次表示することを
   特徴とする請求項１〜４いずれか１項記載の電磁妨害波
   測定装置。
6. 【請求項６】 前記遠方電界推定値がある閾値を超えた
   磁界強度分布をパターンマッチングで分類を行い、その
   分類で表示することを特徴とする請求項５記載の電磁妨
   害波測定装置。
7. 【請求項７】 電界アンテナを付加し、磁界測定と同様
   に電界測定を行い、磁界強度分布の表示時に電界強度分
   布も表示することを特徴とする請求項１〜６いずれか１
   項記載の電磁妨害波測定装置。
8. 【請求項８】 ４面での磁界と電界データから仮想のあ
   る面電流と仮想のある面磁流を再構成し、その面電流と
   面磁流から遠方の電界を計算し、その遠方電界推定値が
   ある閾値を超えた磁界強度分布と電界強度分布を順次表
   示することを特徴とする請求項７記載の電磁妨害波測定
   装置。
9. 【請求項９】 前記遠方の電界に、ある時定数の積分回
   路で準尖頭値検波を行い、準尖頭値検波での値がある閾
   値を超えた磁界強度分布と電界強度分布を順次表示する
   ことを特徴とする請求項８記載の電磁妨害波測定装置。
10. 【請求項１０】 前記準尖頭値検波での値が、ある閾値
    を超えた磁界強度分布と電界強度分布をパターンマッチ
    ングで分類を行いその分類で表示することを特徴とする
    請求項９記載の電磁妨害波測定装置。
11. 【請求項１１】 前記トリガ測定用プローブと前記デジ
    タイザの間にノイズフィルターを設けたことを特徴とす
    る請求項１〜１０いずれか１項記載の電磁妨害波測定装
    置。
12. 【請求項１２】 それぞれの測定点で複数回データを取
    り込み、それぞれのデータをベクトル列として、単位ベ
    クトルに変換してからそれぞれの類似度をベクトル内積
    で計算し、ベクトル内積での評価値がある閾値以下のデ
    ータは前記データ記憶装置から消去することを特徴とす
    る請求項１〜１１いずれか１項記載の電磁妨害波測定装
    置。
13. 【請求項１３】 磁界あるいは電界の測定時、測定範囲
    を可能な範囲で上下方向に大きくとることを特徴とする
    請求項１〜１２いずれか１項記載の電磁妨害波測定装
    置。
14. 【請求項１４】 測定した磁界データについてベクトル
    演算の回転を行い、その値がある閾値以上の場合、再度
    測定範囲を変えて測定することを特徴とする請求項１〜
    １３いずれか１項記載の電磁妨害波測定装置。
15. 【請求項１５】 測定対象、測定対象から等距離に置い
    た５つの測定用アンテナ、デジタイザ，デジタル・フィ
    ルター装置，記憶装置，表示装置および中央制御装置か
    らなる電磁妨害波測定装置であって、 前記５つの測定用アンテナで検出する電磁波の検出時刻
    から測定対象からの直接波だけを推定することを特徴と
    する電磁妨害波測定装置。
16. 【請求項１６】 前記５つの測定用アンテナでアンテナ
    間の距離をｄ［ｍ］、自由空間場での電磁波の伝播速度
    をｖ［ｍ／ｓ］とすると、検出する電磁波の検出時刻の
    ずれが前記デジタイザのサンプリング時間よりも大き
    く、ｄ／ｖ［ｓ］以下の場合に外来ノイズとして推定す
    ることを特徴とする請求項１５記載の電磁妨害波測定装
    置。
17. 【請求項１７】 ＲＯＭエミュレータ型ＩＣＥとＲＯＭ
    エミュレータ型ＩＣＥ制御装置とを付加し、同じシーケ
    ンス処理を繰り返し、直接波を抽出することを特徴とす
    る請求項１５または１６記載の電磁妨害波測定装置。
18. 【請求項１８】 アンテナ昇降機と回転ステージとを付
    加し、測定対象物と測定用アンテナの距離をＥＭＩ規定
    に準拠し、アンテナ昇降機で測定用アンテナをＥＭＩ規
    定通りの上下動させることを特徴とする請求項１５〜１
    ７いずれか１項記載の電磁妨害波測定装置。