JP2002251735A - 光ディスク記録装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 レーザパワーの温度依存性を考慮し、ＯＰＣ
実行エラーを発生させることがなく、安定した記録品質
を満足させることのできる光ディスク記録装置を提供す
ることを目的とする。 【解決手段】 記録ディスクへのデータの記録や記録デ
ィスクに記録されたデータの消去を行う際に使用する最
適レーザパワーを、記録ディスク内の試し書き領域を使
った試し書きの結果から得ることが可能な光ディスク記
録装置であって、周囲温度を検出する温度検出手段１２
と、前記試し書きの際に前記温度検出手段１２が検出し
た前記周囲温度が、予め設定した複数の温度区分のいず
れに属するかを判別する温度帯判別手段１３と、前記複
数の温度区分毎に予め設定した補正値により、レーザパ
ワーを補正する補正手段と、を備えた構成を有する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、追記型記録媒体の
ＣＤ−Ｒ（Compact Disc Recordable）、ならびに相変
化型記録媒体であるＣＤ−ＲＷ（Compact Disc Rewrita
ble）等に情報を記録・再生する光ディスク記録装置で
あって、特に記録ディスクに情報を記録する際のＬＤ
（Laser Diode、レーザダイオード）のレーザパワーを
制御する光ディスク記録装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、記録ディスクに記録する際のＬＤ
から出射するレーザパワーを制御し、記録時の最適レー
ザパワーを求めることが可能な光ディスク記録装置が用
いられている。

【０００３】以下、従来の光ディスク記録装置につい
て、図を用いて説明する。

【０００４】図５は従来の光ディスク記録装置のブロッ
ク図である。なお、図５はレーザパワーの制御に関する
ブロック図である。

【０００５】図５において、１は光ディスク記録装置の
ピックアップユニットに備えられたレーザパワーのセン
サー用フォトダイオード、２は光ディスク記録装置のピ
ックアップユニットに備えられたレーザダイオード、３
は入力された電圧を電流に変換しレーザダイオード２へ
出力するＶ−Ｉ変換手段、４はレーザ駆動信号をアナロ
グ信号に変換するＤＡ変換手段、５は入力された信号の
増幅を行う増幅手段、６は増幅手段５により増幅された
信号とレーザパワーに対応した信号を比較し、差動信号
を出力する比較手段、７はＣＰＵ、８はＲＯＭ、９はＣ
ＰＵ７に備えられ目標とするレーザパワーを設定するレ
ーザパワー設定手段、１０はＣＰＵ７に備えられＤＡ変
換手段４にレーザ駆動信号を出力するレーザパワー駆動
手段、１１はＣＰＵ７に備えられたレーザパワー検出手
段である。

【０００６】以上のように構成された従来の光ディスク
記録装置において、以下そのレーザパワーの制御方法に
ついて説明する。レーザパワーのセンサー用フォトダー
オード１はレーザダイオード２にて発光された光の一部
を受光し、受光した光量を電気的なアナログ信号へ光電
変換し、変換された信号は増幅手段５に入力される。こ
のとき、増幅手段５に入力された信号の信号レベルは同
じレーザパワーのレーザであっても、ピックアップユニ
ット毎に異なるため、光ディスク記録装置製造時に設定
されるゲイン（増幅率）により、目標とするレーザパワ
ーと出射されたレーザのレーザパワーが一致する場合
は、目標とするレーザパワーに対応する基準信号の信号
レベルと一致するように増幅される。この時設定される
ゲインをＬＤゲインと呼び、ＲＯＭ８に格納されてい
る。

【０００７】増幅手段５に入力された信号はＬＤゲイン
を用いて増幅され、比較手段６に出力される。増幅手段
５より出力された信号は、比較手段６に入力され、比較
手段６において、目標レーザパワーに応じてＣＰＵ７内
のレーザパワー設定手段９より出力された基準信号と比
較され、差動信号としてＣＰＵ７内のレーザパワー検出
手段１１へ入力される。ＣＰＵ７内のレーザパワー検出
手段１１において検出された結果を基にＣＰＵ７内のレ
ーザパワー駆動手段１０は、ＤＡ変換手段４へレーザ駆
動信号を出力する。ＤＡ変換手段４によってアナログ信
号へ変換されたレーザ駆動信号は、Ｖ−Ｉ変換手段３に
よって、実際にレーザを発光させるための電流へ変換さ
れる。

【０００８】このようにして、レーザパワー設定手段９
により設定された所定のレーザパワーに対し、一定のレ
ーザパワーで発光させる制御を行っている。また、ＣＤ
−Ｒ又はＣＤ−ＲＷに情報を記録・再生する光ディスク
記録装置においては、記録時のレーザパワーを決定する
ために予め記録ディスク上に用意されている試し書き領
域ＰＣＡ（Power Calibration Area）を使って試し書き
を行い、その結果から得られる最適レーザパワーの値を
用いてディスクのデータ領域に、求めた記録条件で記録
することが一般的である。この試し書き領域を使って最
適レーザパワーを求める一連の手法を、ＯＰＣと呼んで
いる。

【０００９】以下、データの記録を行う際に記録ディス
クに対する最適レーザパワーを決定する、ＯＰＣ（Opti
mum Power Control）処理について説明する。ＯＰＣ
は、ディスクのデータ領域よりも内周側に位置する試し
書き領域であるＰＣＡにおいて実行される。図６はＰＣ
Ａの構成図である。図６において、２１はＰＣＡ、２２
はテストエリア（Test Area）、２３はカウントエリア
（Count Area）である。

【００１０】ＰＣＡ２１は、テストエリア２２とカウン
トエリア２３の２つの領域で構成される。テストエリア
２２は、記録パワーを多段階に変化させて試し書きを行
う領域であり、カウントエリア２３は、試し書きを実行
した回数を記録する領域である。

【００１１】図７は１回のＯＰＣ実行で使用するＰＣＡ
の各フレームとレーザパワーとの関係を示す説明図であ
る。図７において、２２はテストエリアであり、これは
図６において説明したものと同様であるので、同一の符
号を付けて説明を省略する。なお、Ｇは各フレームに対
応するレーザパワーを示す。ＯＰＣ１回の実行により使
用を許されているテストエリア２２の領域は、１５フレ
ームであり、この１５フレームにランダムデータの記録
を行って、試し書きを実行する。ＯＰＣは大きく２つの
処理に分けられる。まず、レーザパワーの微調整処理が
行われる。レーザパワーの微調整処理は１５フレームの
後段５フレームを使用して行われる。レーザパワーを微
調整する理由は、ＣＰＵ７内のレーザパワー設定手段９
が設定した目標とする所定のレーザパワーに対して、厳
密な精度で対応するレーザパワーのレーザを光ピックア
ップより出射させるためである。レーザパワーの微調整
処理開始の際に使用されるレーザパワーは各々の記録デ
ィスクに対して予め設定された基準レーザパワーが用い
られる。

【００１２】レーザパワーの微調整処理は、ＯＰＣ１回
で許されている１５フレームの内１１フレーム目におい
て、ＣＰＵ７のレーザパワー駆動手段１０が、基準レー
ザパワーに対応した所定の基準信号をＤＡ変換手段４へ
出力し、その基準信号に対してレーザダイオード２から
出射するレーザのレーザパワーを、レーザパワーのセン
サー用フォトダイオード１がレーザパワーに対応する信
号として読み取り、増幅手段５により増幅され、比較手
段６に入力される。比較手段６において、ＣＰＵ７内の
レーザパワー設定手段９から入力される、基準レーザパ
ワーに対応した基準値と、増幅手段５から入力された、
レーザパワーに対応する信号の信号レベルが一致するま
で、ＣＰＵ７内のレーザパワー駆動手段１０は、ＤＡ変
換手段４へ出力する基準信号を任意の速度で可変させ、
レーザダイオード２から出射するレーザのレーザパワー
を可変させる。このようにして、ＣＰＵ７内のレーザパ
ワー設定手段９により設定される基準値に対して、ＣＰ
Ｕ７内のレーザパワー駆動手段１０がＤＡ変換手段４へ
出力すべき基準信号が厳密に設定される。

【００１３】次に、１５フレームの前段１０フレームに
おいて、レーザパワーを基準レーザパワーから所定量変
化させた１０ステップのレーザパワーに設定し、次々に
変化させながら、１フレームを１ステップとして各々の
レーザパワーで試し書きを実行する。

【００１４】図８はＲＦ信号の振幅レベルを示す説明図
である。図８において、縦軸はレーザパワーのセンサー
用フォトダイオード１において受光されたレーザに応じ
て、レーザパワーのセンサー用フォトダイオード１より
出力されるＲＦ信号の振幅レベルを示す。最適レーザパ
ワーの決定は、試し書きを実施した領域に記録されたデ
ータを再生し、検出されるＲＦ信号の上下非対称性を測
定し、上下非対称性と試し書きを実施した際のレーザパ
ワーとの組み合わせより２次の最小二乗法を用いて得ら
れた値と、光ディスク記録装置が各々の記録ディスクに
対して有する目標値とを比較することで行われる。

【００１５】図９は所定の周囲温度における設定レーザ
パワーと実際の出射レーザパワーとの関係を示す関係図
である。図９において、Ｈは周囲温度が常温である場合
の、設定パワーと実際の出射レーザパワーとの関係を示
し、Ｉは周囲温度が低温である場合の、設定レーザパワ
ーと実際の出射レーザパワーとの関係を示し、Ｊは周囲
温度が高温である場合の、設定レーザパワーと実際の出
射レーザパワーとの関係を示す。

【００１６】ここで、光ディスク記録装置の設定レーザ
パワーとはＣＰＵ７内のレーザパワー設定手段９が設定
する基準値に対応するレーザパワーのことであり、出射
レーザパワーとはピックアップユニット内のレーザダイ
オード２から実際に出射されるレーザパワーを意味す
る。また、周囲温度とは、光ディスク記録装置内の主要
ＩＣが実装された基板の周囲における温度であり、図９
はこれが一定である場合の設定レーザパワーと実際の出
射レーザパワーとの関係を示す。

【００１７】図９に示すように、常温状態では、ＣＰＵ
７内のレーザパワー設定手段９において設定されたレー
ザパワーの値Ｘと出射レーザパワーの値Ｘが一致する。
しかしながら高温状態では、レーザダイオード２及びレ
ーザパワーのセンサー用フォトダイオード１が温度特性
を持ち、光ディスク記録装置のレーザパワー設定手段９
がレーザパワーの値をＸと設定した場合、実際の出射レ
ーザパワーの値は数％低下したＣとなる。同様に低温状
態では、実際の出射レーザパワーの値は数％上昇したＡ
となる。

【００１８】従来の光ディスク記録装置においては、高
温状態においてＯＰＣを実行した場合、上記のように常
温と同じ出射レーザパワーの値Ｘを得るためには、より
高い設定レーザパワーの値が必要となる。また、高温状
態においては、レーザの長波長化が進み、常温状態と同
じＲＦ信号の非対称性を得る為、最適レーザパワーとな
るためには、より高い設定レーザパワーの値が必要とな
る。また、設定できる設定レーザパワーは有限であり、
これはＣＰＵ７内のレーザパワー設定手段９において上
限値で決定されている。ＯＰＣの際、１０ステップにレ
ーザパワーを可変しているが、この時出射されるレーザ
の出射レーザパワーは高温状態でＣＰＵ７内のレーザパ
ワー設定手段９が設定した設定レーザパワーに比べて低
下しており、ＯＰＣにおいて、レーザパワー設定手段９
の上限値である最大の設定レーザパワーに対応する出射
レーザパワーより最適レーザパワーが大きくなる状態が
発生した場合、光ディスク記録装置はＯＰＣ実行エラー
となる。

【００１９】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の光ディスク記録装置は、上記現象によりＯＰＣ実行
エラーとなるだけであれば、高温状態において低下した
出射レーザパワーを考慮し、ＯＰＣの際の基準レーザパ
ワーを上げればＯＰＣ実行エラーは回避されるように思
えるが、光ディスク記録装置のレーザパワー設定手段が
設定できる設定レーザパワーは有限であるため、高温状
態でピックアップユニットから出射される出射レーザパ
ワーが、設定レーザパワーに対して低下したことが原因
で光ディスク記録装置が設定できる設定レーザパワーの
上限値を超えるレーザパワーが最適レーザパワーとして
要求された場合、光ディスク記録装置はＯＰＣ実行エラ
ーを引き起こすという課題を有していた。

【００２０】本発明は、上記従来の課題を解決するもの
で、ピックアップユニットから出射されるレーザのレー
ザパワーの温度依存性を考慮して、いかなる温度におい
てもＯＰＣ実行エラーを発生させることがなく、かつ、
記録後の記録ディスクの安定した記録品質を満足させる
ことのできる光ディスク記録装置を提供することを目的
とする。

【００２１】

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、本発明の光ディスク記録装置は、記録ディスクへ
のデータの記録や記録ディスクに記録されたデータの消
去を行う際に使用する最適レーザパワーを、記録ディス
ク内の試し書き領域を使った試し書きの結果から得るこ
とが可能な光ディスク記録装置であって、周囲温度を検
出する温度検出手段と、前記試し書きの際に前記温度検
出手段が検出した前記周囲温度が、予め設定した複数の
温度区分のいずれに属するかを判別する温度帯判別手段
と、前記複数の温度区分毎に予め設定した補正値によ
り、レーザパワーを補正する補正手段と、を備えた構成
を有している。

【００２２】この構成により、ピックアップユニットか
ら出射されるレーザのレーザパワーの温度依存性を考慮
して、いかなる温度においてもＯＰＣ実行エラーを発生
させることがなく、かつ、記録後の記録ディスクの安定
した記録品質を満足させることのできる光ディスク記録
装置を提供することができる。

【００２３】

【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の光ディ
スク記録装置は、記録ディスクへのデータの記録や記録
ディスクに記録されたデータの消去を行う際に使用する
最適レーザパワーを、記録ディスク内の試し書き領域を
使った試し書きの結果から得ることが可能な光ディスク
記録装置であって、周囲温度を検出する温度検出手段
と、試し書きの際に温度検出手段が検出した周囲温度
が、予め設定した複数の温度区分のいずれに属するかを
判別する温度帯判別手段と、複数の温度区分毎に予め設
定した補正値により、レーザパワーを補正する補正手段
と、を備えた構成を有している。

【００２４】この構成により、周囲温度により変化する
レーザパワーを補正することにより、あらゆる周囲温度
に対応した最適レーザパワーを求めることができ、ＯＰ
Ｃ実行時において温度変化が原因で生じるＯＰＣエラー
を回避することができるという作用を有する。ここで、
周囲温度とは、光ディスク記録装置内の主要ＩＣが実装
された基板の周囲における温度である。

【００２５】本発明の請求項２に記載の発明は、請求項
１に記載の光ディスク記録装置であって、補正手段は、
補正値により光ディスク記録装置の製造時に設定された
ＬＤゲイン値を補正することでレーザパワーを補正する
構成を有している。

【００２６】この構成により、レーザダイオード及びレ
ーザパワーセンサー用フォトダイオードの温度特性によ
って変化したレーザパワーに対して、周囲温度に対応し
た補正値によりＬＤゲイン値を補正することにより、レ
ーザパワーの変化を補正することができるので、ＯＰＣ
実行時において、設定できないレーザパワーを最適レー
ザパワーとして得た場合に生じるＯＰＣエラーを回避す
ることができるという作用を有する。

【００２７】本発明の請求項３に記載の発明は、請求項
１又は２に記載の光ディスク記録装置であって、温度帯
判別手段が、周囲温度が１０℃より低い温度区分に属す
ると判断した場合は、補正手段によりレーザパワーを１
０％減少させ、温度帯判別手段が、周囲温度が１０℃乃
至４０℃の温度区分に属すると判断した場合は、レーザ
パワーの補正は行わず、温度帯判別手段が、周囲温度が
４０℃より高い温度区分に属すると判断した場合は、補
正手段によりレーザパワーを１０％増加させる構成を有
する。

【００２８】この構成により、温度帯判別手段において
周囲温度を４以上の複数の温度区分に分割した場合の構
造の複雑化や判別速度の低下を防ぐことができ、且つ正
確なレーザパワーの補正を行うことができるという作用
を有する。

【００２９】以下、本発明の一実施の形態について、図
面を用いて説明する。

【００３０】（実施の形態１）図１は本発明の実施の形
態１における光ディスク記録装置のブロック図である。
図１において、１はレーザパワーのセンサー用フォトダ
イオード、２はレーザダイオード、３はＶ−Ｉ変換手
段、４はＤＡ変換手段、５は増幅手段、６は比較手段、
７はＣＰＵ、８はＲＯＭ、９はＣＰＵ７内のレーザパワ
ー設定手段、１０はＣＰＵ７内のレーザパワー駆動手
段、１１はＣＰＵ７内のレーザパワー検出手段であり、
これらは図５において説明したものと同様であるので同
一の符号を付けて説明を省略する。１２は光ディスク記
録装置内の主要ＩＣが実装された基板のの周囲温度を検
出し、それに対応した電位レベルの信号を出力する温度
検出手段、１３はＣＰＵ７に備えられ、温度検出手段１
２により入力された信号に対応する周囲温度が予め設定
された温度区分のいずれに属するかを判別する温度帯判
別手段、１４はＲＯＭ８に記憶されたＬＤゲインを補正
するゲイン補正手段である。以上のように構成された本
発明の実施の形態１の光ディスク記録装置のレーザパワ
ーの制御方法は従来の技術において、図５を用いて説明
したものと同様であるので省略する。

【００３１】次に、本発明の実施の形態１における出射
レーザパワー補正動作を説明する。図２は図１の光ディ
スク記録装置のＬＤゲイン補正動作のフローチャートで
ある。まず、温度検出手段１２は周囲温度を検出し、検
出した温度に応じたＤＣ的な電位レベルをＣＰＵ７へ入
力する（Ｓ１）。次に、ＣＰＵ７内の温度帯判別手段１
３は、入力された電位レベルＴが、自らが有する閾値ｔ
１、ｔ２とを比較することにより、検出された周囲温度
が高温帯、常温帯、低温帯の３つの温度帯の内どの温度
帯に属するかを判断する（Ｓ２）。

【００３２】ＣＰＵ７内の温度帯判別手段１３におい
て、周囲温度が低温帯と判断された場合、ＣＰＵ７内の
ゲイン補正手段１４においてＲＯＭ８に記憶されたＬＤ
ゲイン値と、低温帯に対応する補正値を用いて演算を行
い、ＬＤゲイン値の補正を行う（Ｓ３）。更に、補正後
の新しいＬＤゲイン値を増幅手段５へ出力する（Ｓ
４）。レーザパワーのセンサー用フォトダイオード１よ
り増幅手段５に入力される信号は補正後の新しいＬＤゲ
インにより増幅され、比較手段６において基準信号と比
較されることにより、低温帯において増加した出射レー
ザパワーの補正が行われる。

【００３３】ＣＰＵ７内の温度帯判別手段１３におい
て、周囲温度が常温帯と判断された場合、ＣＰＵ７内の
ゲイン補正手段１４においてＲＯＭ８に記憶されたＬＤ
ゲイン値の補正は行わずに、そのままＬＤゲイン値を増
幅手段５へ出力する（Ｓ５）。レーザパワーのセンサー
用フォトダイオード１より増幅手段５に入力される信号
はＬＤゲインにより増幅される。

【００３４】ＣＰＵ７内の温度帯判別手段１３におい
て、周囲温度が高温帯と判断された場合、ＣＰＵ７内の
ゲイン補正手段１４においてＲＯＭ８に記憶されたＬＤ
ゲイン値と、高温帯に対応する補正値を用いて演算を行
い、ＬＤゲイン値の補正を行う（Ｓ６）。更に、補正後
の新しいＬＤゲイン値を増幅手段５へ出力する（Ｓ
７）。レーザパワーのセンサー用フォトダイオード１よ
り増幅手段５に入力される信号は補正後の新しいＬＤゲ
インにより増幅され、比較手段６において基準信号と比
較されることにより、高温帯において低下した出射レー
ザパワーの補正が行われる。

【００３５】ＬＤゲイン値の補正が行われ出射レーザパ
ワーが補正されると、次にＯＰＣが実行される。以下、
ＯＰＣについて説明する。まず、ＯＰＣで使用するレー
ザパワー微調整が行われる。周囲温度が高温帯や低温帯
に属する場合は、増幅手段５には周囲温度を考慮し、補
正されたＬＤゲインが設定されているため、レーザパワ
ーは常温帯と略同様に出射される。なお、レーザパワー
微調整は従来の技術で説明したものと同様の動作により
行われる。

【００３６】次に、１０ステップでのレーザパワー可変
動作がスタートする。このときは、基準パワーを基に、
基準パワーの上下１０ステップに設定されたレーザパワ
ーが出射され、１フレーム当り１ステップで試し書きを
行い、可変させた各々のレーザパワーで記録された１０
フレームを再生し、ＲＦ信号の上下非対称性を測定し、
試し書きを実施した記録パワーとの組み合わせより２次
の最小二乗法を用い、光ディスク記録装置が各ディスク
毎に有する目標値と比較することで記録のための最適レ
ーザが決定される。

【００３７】なお、周囲温度が低温帯に属すると判別さ
れた場合は、光ディスク記録装置が設定するパワーに対
して実際の出射パワーは高くなるため、それに応じたＬ
Ｄゲインを演算することによって、常温と同様に出射す
ることが可能となる。

【００３８】以上のように、本実施の形態１の光ディス
ク記録装置は構成されているので、周囲温度に対応した
補正値を用いて予め設定されているＬＤゲイン値を補正
し、レーザパワーのセンサー用フォトダイオード１がレ
ーザを受光することにより出力される信号の信号レベル
とＣＰＵ７内のレーザパワー設定手段９からの基準値と
を比較する前に、補正された新しいＬＤゲイン値を用い
て信号を増幅させることにより出射レーザパワーを補正
することで、周囲温度によって変化する出射レーザパワ
ーの影響が原因で、光ディスク記録装置が設定できない
設定レーザパワーをＯＰＣの結果として要求された場合
に生じる、ＯＰＣエラーを防ぐことができる。

【００３９】（実施の形態２）図３は周囲温度と周囲温
度に対応した信号の電位レベルとの関係を示す関係図で
ある。図３において、縦軸は周囲温度を示し、横軸はそ
の周囲温度が検出された際に温度検出手段１２により出
力される信号の電位レベルを示す。なお、本実施例１に
おいては、出力レベルｔ１、ｔ２をそれぞれ１．９５
Ｖ、２．５Ｖとし、温度検出手段１２において検出され
た周囲温度が１０℃の時、温度検出手段１２からＣＰＵ
へ出力される信号の電位レベルが１．９５Ｖとなり、周
囲温度が４０℃の時、温度検出手段１２からＣＰＵへ出
力される信号の電位レベルが２．５Ｖとなるように設定
されている。

【００４０】図３に示すように、温度検出手段１２によ
り検出された周囲温度が１０℃より小さい場合、ＣＰＵ
には１．９５Ｖより小さい電位レベルの信号が入力され
るためＣＰＵの温度帯判別手段１３は周囲温度が低温帯
に属すると判断する。周囲温度が１０℃乃至４０℃の場
合、ＣＰＵには１．９５Ｖ乃至２．５Ｖの電位レベルの
信号が入力されるためＣＰＵの温度帯判別手段１３は周
囲温度が常温帯に属すると判断する。周囲温度が４０℃
より高い場合、ＣＰＵには２．５Ｖより大きい電位レベ
ルの信号が入力されるためＣＰＵの温度帯判別手段１３
は周囲温度が高温帯に属すると判断する。

【００４１】ゲイン補正は、出射レーザパワーとそれぞ
れの温度帯に設定されたゲイン補正値とを用いて演算す
ることにより、温度帯判別手段１３が、周囲温度が低温
帯に属すると判断した場合は、出射レーザパワーを１０
％減少させ、周囲温度が常温帯に属すると判断した場合
は、出射レーザパワーは変化なく、周囲温度が高温帯に
属すると判断した場合は、出射レーザパワーを１０％増
加させるように出射レーザパワーの補正を行う。

【００４２】以上のようにゲイン補正を行うことで出射
レーザパワー補正を行った後の出射レーザパワーと設定
レーザパワーとの関係を示す。

【００４３】図４は出射レーザパワー補正後の出射レー
ザパワーと設定レーザパワーとの関係を示す関係図であ
る。図４において、Ｄは周囲温度が常温帯に属する場合
の出射レーザパワー補正後の出射レーザパワーと設定レ
ーザパワーとの関係を示し、Ｅは周囲温度が低温帯に属
する場合の出射レーザパワー補正後の出射レーザパワー
と設定レーザパワーとの関係を示し、Ｆは周囲温度が高
温帯に属する場合の出射レーザパワー補正後の出射レー
ザパワーと設定レーザパワーとの関係を示す。図４に示
すように、周囲温度が低温帯や高温帯に属する場合であ
っても、所定の設定レーザパワーに対して、周囲温度が
常温帯に属する場合と略同様の出射レーザパワーで出射
することができる。

【００４４】

【発明の効果】以上のように本発明の光ディスク記録装
置は、以下のような有利な効果が得られる。請求項１に
記載の発明によれば、周囲温度により変化するレーザパ
ワーを補正することにより、あらゆる周囲温度に対応し
た最適レーザパワーを求めることができ、ＯＰＣ実行時
において温度変化が原因で生じるＯＰＣエラーを回避す
ることができる光ディスク記録装置を提供することがで
きる。

【００４５】請求項２に記載の発明によれば、レーザダ
イオード及びレーザパワーセンサー用フォトダイオード
の温度特性によって変化したレーザパワーに対して、周
囲温度に対応した補正値によりＬＤゲイン値を補正する
ことにより、レーザパワーの変化を補正することができ
るので、ＯＰＣ実行時において、設定できないレーザパ
ワーを最適レーザパワーとして得た場合に生じるＯＰＣ
エラーを回避することができる光ディスク記録装置を提
供することができる。

【００４６】請求項３に記載の発明によれば、温度帯判
別手段において周囲温度を４以上の複数の温度区分に分
割した場合の構造の複雑化や判別速度の低下を防ぐこと
ができ、且つ正確なレーザパワーの補正を行うことがで
きる生産性に優れた光ディスク記録装置を提供すること
ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態１における光ディスク記録
装置のブロック図

【図２】図１の光ディスク記録装置のＬＤゲイン補正動
作のフローチャート

【図３】周囲温度と周囲温度に対応した信号の電位レベ
ルとの関係を示す関係図

【図４】出射レーザパワー補正後の出射レーザパワーと
設定レーザパワーとの関係を示す関係図

【図５】従来の光ディスク記録装置のブロック図

【図６】ＰＣＡの構成図

【図７】１回のＯＰＣ実行で使用するＰＣＡの各フレー
ムとレーザパワーとの関係を示す説明図

【図８】ＲＦ信号の振幅レベルを示す説明図

【図９】所定の周囲温度における設定レーザパワーと実
際の出射レーザパワーとの関係を示す関係図

【符号の説明】

１ センサー用フォトダイオード ２ レーザダイオード ３ Ｖ−Ｉ変換手段 ４ ＤＡ変換手段 ５ 増幅手段 ６ 比較手段 ７ ＣＰＵ ８ ＲＯＭ ９ レーザパワー設定手段 １０ レーザパワー駆動手段 １１ レーザパワー検出手段 １２ 温度検出手段 １３ 温度帯判別手段 １４ ゲイン補正手段 ２１ ＰＣＡ ２２ テストエリア ２３ カウントエリア

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 5D090 AA01 BB03 BB04 CC01 DD03 EE01 FF50 JJ07 5F073 BA06 EA27 GA02 GA12 GA14 GA19

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】記録ディスクへのデータの記録や記録ディ
   スクに記録されたデータの消去を行う際に使用する最適
   レーザパワーを、記録ディスク内の試し書き領域を使っ
   た試し書きの結果から得ることが可能な光ディスク記録
   装置であって、 周囲温度を検出する温度検出手段と、 前記試し書きの際に前記温度検出手段が検出した前記周
   囲温度が、予め設定した複数の温度区分のいずれに属す
   るかを判別する温度帯判別手段と、 前記複数の温度区分毎に予め設定した補正値により、レ
   ーザパワーを補正する補正手段と、を備えたことを特徴
   とする光ディスク記録装置。
2. 【請求項２】前記補正手段は、前記補正値により光ディ
   スク記録装置の製造時に設定されたＬＤゲイン値を補正
   することで前記レーザパワーを補正することを特徴とす
   る請求項１に記載の光ディスク記録装置。
3. 【請求項３】前記温度帯判別手段が、前記周囲温度が１
   ０℃より低い温度区分に属すると判断した場合は、前記
   補正手段により前記レーザパワーを１０％減少させ、前
   記温度帯判別手段が、前記周囲温度が１０℃乃至４０℃
   の温度区分に属すると判断した場合は、前記レーザパワ
   ーの補正は行わず、前記温度帯判別手段が、前記周囲温
   度が４０℃より高い温度区分に属すると判断した場合
   は、前記補正手段により前記レーザパワーを１０％増加
   させることを特徴とする請求項１又は２に記載の光ディ
   スク記録装置。