JP2002243429A - 導波管測定装置 - Google Patents
導波管測定装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 導波管の内径の真円度を精度よく測定するた
めの導波管測定装置およびその方法を提供する。 【解決手段】 コンバータ１０を回転台２の上に載せ、
導波管７にベクトルネットワークアナライザのポート１
と接続した同軸−導波管変換器３をあてて電磁波を入力
する。導波管７の一方は金属による反射材５で閉塞され
ているので、電磁波はアタッチメント４を介して導波管
７を通り、反射板５で反射され、再び導波管７、アタッ
チメント４、同軸−導波管変換器３を経由してベクトル
ネットワークアナライザのポート１へ戻る。これによっ
て、ベクトルネットワークアナライザ９のＳ１１（反
射）モードの位相特性を測定する。次に、上記で測定し
た電界方向と直交する方向の電磁波を入力するため、回
転台２を９０°回転させ、同様に反射の位相特性を測定
する。
めの導波管測定装置およびその方法を提供する。 【解決手段】 コンバータ１０を回転台２の上に載せ、
導波管７にベクトルネットワークアナライザのポート１
と接続した同軸−導波管変換器３をあてて電磁波を入力
する。導波管７の一方は金属による反射材５で閉塞され
ているので、電磁波はアタッチメント４を介して導波管
７を通り、反射板５で反射され、再び導波管７、アタッ
チメント４、同軸−導波管変換器３を経由してベクトル
ネットワークアナライザのポート１へ戻る。これによっ
て、ベクトルネットワークアナライザ９のＳ１１（反
射）モードの位相特性を測定する。次に、上記で測定し
た電界方向と直交する方向の電磁波を入力するため、回
転台２を９０°回転させ、同様に反射の位相特性を測定
する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、衛星放送および衛
星通信受信用のアンテナなどに使用される導波管の寸法
精度を測定する導波管測定装置およびその方法に関す
る。
星通信受信用のアンテナなどに使用される導波管の寸法
精度を測定する導波管測定装置およびその方法に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】衛星放送および衛星通信受信用アンテナ
には、パラボラアンテナが多く使用されている。パラボ
ラアンテナは、反射鏡と、反射鏡によって収束された電
波を受ける一次放射器と、一次放射器で受けた電波を増
幅および周波数変換するコンバータとで構成されている
が、小形のパラボラアンテナでは、一次放射器とコンバ
ータとは一体化されたものが多く用いられる。
には、パラボラアンテナが多く使用されている。パラボ
ラアンテナは、反射鏡と、反射鏡によって収束された電
波を受ける一次放射器と、一次放射器で受けた電波を増
幅および周波数変換するコンバータとで構成されている
が、小形のパラボラアンテナでは、一次放射器とコンバ
ータとは一体化されたものが多く用いられる。
【０００３】衛星から送信される信号は、直線偏波ある
いは円偏波が使用されるが、その多くは電波資源の有効
活用の点から、同一の周波数帯においてそれぞれ互いに
直交する関係にある２つの偏波が使用される。すなわ
ち、直線偏波の場合は水平偏波と垂直偏波とが使用さ
れ、円偏波の場合は右施円偏波と左施円偏波とが使用さ
れる。
いは円偏波が使用されるが、その多くは電波資源の有効
活用の点から、同一の周波数帯においてそれぞれ互いに
直交する関係にある２つの偏波が使用される。すなわ
ち、直線偏波の場合は水平偏波と垂直偏波とが使用さ
れ、円偏波の場合は右施円偏波と左施円偏波とが使用さ
れる。
【０００４】前記の直交関係にある２つの偏波は、周波
数は同一であっても異なる信号が送られているため、で
きるだけ干渉しないことが望ましい。すなわち交差偏波
特性はできるだけ良好であることが必要である。
数は同一であっても異なる信号が送られているため、で
きるだけ干渉しないことが望ましい。すなわち交差偏波
特性はできるだけ良好であることが必要である。
【０００５】一次放射器が一体化されたコンバータで
は、コンバータのシャーシに入力部である導波管があ
り、導波管の先端に一次放射器が設けられている。コン
バータのシャーシは、アルミや亜鉛などのダイカスト
で、導波管と一次放射器とともに一体成型品として作ら
れる。導波管は、円形導波管が使用されることが多く、
後で述べるように導波管内径寸法の真円度によって、コ
ンバータの交差偏波特性が影響を受けるために、寸法精
度のよい仕上がりが求められる。
は、コンバータのシャーシに入力部である導波管があ
り、導波管の先端に一次放射器が設けられている。コン
バータのシャーシは、アルミや亜鉛などのダイカスト
で、導波管と一次放射器とともに一体成型品として作ら
れる。導波管は、円形導波管が使用されることが多く、
後で述べるように導波管内径寸法の真円度によって、コ
ンバータの交差偏波特性が影響を受けるために、寸法精
度のよい仕上がりが求められる。
【０００６】交差偏波特性の要求性能が２０ｄＢ程度
の、通常のコンバータの場合は、導波管の部分はダイカ
ストの鋳造成型したままの状態で生産しても交差偏波特
性にはほとんど問題がない。ただし、定期的に生産品の
抜き取りを行い、導波管部分の内径寸法をチェックする
必要がある。
の、通常のコンバータの場合は、導波管の部分はダイカ
ストの鋳造成型したままの状態で生産しても交差偏波特
性にはほとんど問題がない。ただし、定期的に生産品の
抜き取りを行い、導波管部分の内径寸法をチェックする
必要がある。
【０００７】しかし交差偏波特性の要求性能が２５ｄＢ
以上になると、ダイカストの成型条件のばらつきなどに
よる導波管内径の真円度ばらつきが問題になってくるた
め、ダイカスト成型のままの導波管では、性能的に安定
したコンバータ生産ができなくなり、ダイカスト成型
後、導波管内径部分の機械加工を行う場合もある。
以上になると、ダイカストの成型条件のばらつきなどに
よる導波管内径の真円度ばらつきが問題になってくるた
め、ダイカスト成型のままの導波管では、性能的に安定
したコンバータ生産ができなくなり、ダイカスト成型
後、導波管内径部分の機械加工を行う場合もある。
【０００８】しかし、機械加工を全数行う方法は、コス
ト的に高くなるため、コストアップを抑える方法とし
て、部品の段階で入力導波管の内径寸法を測定して良否
をチェックする方法が行われている。
ト的に高くなるため、コストアップを抑える方法とし
て、部品の段階で入力導波管の内径寸法を測定して良否
をチェックする方法が行われている。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】ここで交差偏波特性に
対する導波管内径寸法の真円度の影響について説明す
る。導波管内径寸法の真円度が低い場合、交差偏波特性
が悪化するのは以下に述べる理由による。
対する導波管内径寸法の真円度の影響について説明す
る。導波管内径寸法の真円度が低い場合、交差偏波特性
が悪化するのは以下に述べる理由による。
【００１０】導波管内の波長λｇは次の式で表され、導
波管内の波長λｇは導波管の内径によって変化する。
波管内の波長λｇは導波管の内径によって変化する。
【００１１】
【数１】
【００１２】図３は、導波管の直径に対する導波管内の
波長λｇ変化の計算結果を示すグラフである。周波数１
２ＧＨｚの信号の自由空間での波長は、約２５ｍｍであ
るが、図からわかるように周波数１２ＧＨｚの信号は、
内径１７ｍｍから１８ｍｍの導波管の中では、波長が約
４９．３ｍｍから４３ｍｍに変化する。また導波管の内
径が変化することによって、導波管に入力した電磁波の
波長が変わるため、導波管を通過すると移相がずれるこ
とになる。
波長λｇ変化の計算結果を示すグラフである。周波数１
２ＧＨｚの信号の自由空間での波長は、約２５ｍｍであ
るが、図からわかるように周波数１２ＧＨｚの信号は、
内径１７ｍｍから１８ｍｍの導波管の中では、波長が約
４９．３ｍｍから４３ｍｍに変化する。また導波管の内
径が変化することによって、導波管に入力した電磁波の
波長が変わるため、導波管を通過すると移相がずれるこ
とになる。
【００１３】図４は、導波管の直径に対する位相の変化
を示すグラフである。導波管の長さは５０ｍｍ、直径は
１７．５ｍｍを基準として、±０．５ｍｍ変化させる。
直径が１７．５ｍｍから１８ｍｍとなった場合、位相は
約２２．４°進み、直径が１７ｍｍとなった場合、位相
は約２６．２°遅れることを表している。
を示すグラフである。導波管の長さは５０ｍｍ、直径は
１７．５ｍｍを基準として、±０．５ｍｍ変化させる。
直径が１７．５ｍｍから１８ｍｍとなった場合、位相は
約２２．４°進み、直径が１７ｍｍとなった場合、位相
は約２６．２°遅れることを表している。
【００１４】次に、導波管内に垂直方向の直線偏波Ｅｖ
が入力する場合を考える。図５は、導波管の断面方向か
ら見た入力電磁波の電界を示す図である。図５（ａ）に
示すように直線偏波Ｅｖは、直交する直線偏波Ｅａと直
線偏波Ｅｂの合成されたものとして考えられ、直線偏波
Ｅｖがａ方向とｂ方向で直径が異なる導波管を通過する
と、上記の理由により、ＥａとＥｂの間に位相差が生じ
る。
が入力する場合を考える。図５は、導波管の断面方向か
ら見た入力電磁波の電界を示す図である。図５（ａ）に
示すように直線偏波Ｅｖは、直交する直線偏波Ｅａと直
線偏波Ｅｂの合成されたものとして考えられ、直線偏波
Ｅｖがａ方向とｂ方向で直径が異なる導波管を通過する
と、上記の理由により、ＥａとＥｂの間に位相差が生じ
る。
【００１５】直交するＥａとＥｂの間に位相差が生じる
ということは、直線偏波Ｅｖが楕円偏波に変わったとい
うことを表している。楕円偏波Ｅｅは図５（ｂ）に示す
ように、直線偏波Ｅｖの成分と直交する直線偏波Ｅｈの
成分が合成されたものであり、すなわち交差偏波成分Ｅ
ｈを含んでいるため、交差偏波特性が悪化することにな
る。
ということは、直線偏波Ｅｖが楕円偏波に変わったとい
うことを表している。楕円偏波Ｅｅは図５（ｂ）に示す
ように、直線偏波Ｅｖの成分と直交する直線偏波Ｅｈの
成分が合成されたものであり、すなわち交差偏波成分Ｅ
ｈを含んでいるため、交差偏波特性が悪化することにな
る。
【００１６】以上のように導波管の内径の真円度によっ
て交差偏波特性が影響を受けるため、導波管の内径寸法
は重要である。実開平６−８１１２０号公報に記載のフ
ィードホーン一体型コンバータの測定治具のようにコン
バータの電気特性を正確に測定するための治具はある
が、コンバータの入力導波管の真円度は、ノギスまたは
マイクロメータなどの寸法測定器を使用して内径寸法を
測定して評価している。ダイカストの鋳造成型品は、成
形時に金型から成形品を外しやすくするための抜き勾配
が付けられており、導波管の内径寸法測定は、導波管の
全長にわたり数箇所の測定を行って平均値を求めなけれ
ばならないうえ、細長い管の内側の寸法測定する必要が
あるため測定精度が悪くなってしまうという問題があ
る。本発明の目的は、導波管の内径の真円度を精度よく
測定するための導波管測定装置およびその方法を提供す
ることである。
て交差偏波特性が影響を受けるため、導波管の内径寸法
は重要である。実開平６−８１１２０号公報に記載のフ
ィードホーン一体型コンバータの測定治具のようにコン
バータの電気特性を正確に測定するための治具はある
が、コンバータの入力導波管の真円度は、ノギスまたは
マイクロメータなどの寸法測定器を使用して内径寸法を
測定して評価している。ダイカストの鋳造成型品は、成
形時に金型から成形品を外しやすくするための抜き勾配
が付けられており、導波管の内径寸法測定は、導波管の
全長にわたり数箇所の測定を行って平均値を求めなけれ
ばならないうえ、細長い管の内側の寸法測定する必要が
あるため測定精度が悪くなってしまうという問題があ
る。本発明の目的は、導波管の内径の真円度を精度よく
測定するための導波管測定装置およびその方法を提供す
ることである。
【００１７】
【課題を解決するための手段】本発明は、導波管を保持
する保持手段と、導波管の開口部から、所定の電界方向
を有する電磁波を入力する入力手段と、入力手段と導波
管とを導波管の軸線まわりに相対的に回転可能とする回
転手段と、電磁波を入力手段から導波管へ入力し、導波
管から出力される電磁波を検出して導波管の位相特性を
測定する測定手段とを有することを特徴とする導波管測
定装置である。
する保持手段と、導波管の開口部から、所定の電界方向
を有する電磁波を入力する入力手段と、入力手段と導波
管とを導波管の軸線まわりに相対的に回転可能とする回
転手段と、電磁波を入力手段から導波管へ入力し、導波
管から出力される電磁波を検出して導波管の位相特性を
測定する測定手段とを有することを特徴とする導波管測
定装置である。
【００１８】本発明に従えば、所定の電界方向を有する
電磁波を入力する入力手段と、入力手段と導波管とを導
波管の軸線まわりに相対的に回転可能とする回転手段と
を有するので、電界方向が少なくとも２方向以上の電磁
波を入力手段から入力することができる。これによって
導波管の位相特性を測定するので、導波管の内径に抜き
勾配がついていても、非常に高い精度で内径の真円度を
測定することが可能となり、またきわめて短時間で大量
に測定することができるので大量生産の設備として使用
することができる。
電磁波を入力する入力手段と、入力手段と導波管とを導
波管の軸線まわりに相対的に回転可能とする回転手段と
を有するので、電界方向が少なくとも２方向以上の電磁
波を入力手段から入力することができる。これによって
導波管の位相特性を測定するので、導波管の内径に抜き
勾配がついていても、非常に高い精度で内径の真円度を
測定することが可能となり、またきわめて短時間で大量
に測定することができるので大量生産の設備として使用
することができる。
【００１９】また本発明は、前記入力手段は、前記導波
管と同軸に設けられ、電気信号を電磁波に変換する入力
用導波管を備えることを特徴とする。
管と同軸に設けられ、電気信号を電磁波に変換する入力
用導波管を備えることを特徴とする。
【００２０】本発明に従えば、入力手段は電気信号を電
磁波に変換する入力用導波管を導波管と同軸に備えるの
で、より高い精度で導波管の内径の真円度を測定するこ
とができる。
磁波に変換する入力用導波管を導波管と同軸に備えるの
で、より高い精度で導波管の内径の真円度を測定するこ
とができる。
【００２１】また本発明は、電磁波が入力される導波管
の開口部とは反対側の開口部を反射板で閉塞することを
特徴とする。
の開口部とは反対側の開口部を反射板で閉塞することを
特徴とする。
【００２２】本発明に従えば、電磁波が入力される導波
管の開口部とは反対側の開口部を反射板で閉塞するの
で、反射モードで測定することができる。
管の開口部とは反対側の開口部を反射板で閉塞するの
で、反射モードで測定することができる。
【００２３】また本発明は、電磁波が入力される導波管
の開口部とは反対側の開口部に、電磁波を電気信号に変
換する出力用導波管を備えることを特徴とする。
の開口部とは反対側の開口部に、電磁波を電気信号に変
換する出力用導波管を備えることを特徴とする。
【００２４】本発明に従えば、電磁波が入力される導波
管の開口部とは反対側の開口部に電磁波を電気信号に変
換する出力用導波管を備えるので、透過モードで測定す
ることができる。
管の開口部とは反対側の開口部に電磁波を電気信号に変
換する出力用導波管を備えるので、透過モードで測定す
ることができる。
【００２５】また本発明は、電界方向が少なくとも２方
向以上の電磁波を導波管に入力し、前記導波管から出力
される電磁波の位相差に基づいて導波管の位相特性を測
定することを特徴とする導波管測定方法である。
向以上の電磁波を導波管に入力し、前記導波管から出力
される電磁波の位相差に基づいて導波管の位相特性を測
定することを特徴とする導波管測定方法である。
【００２６】本発明に従えば、電界方向が少なくとも２
方向以上の電磁波を導波管に入力し、前記導波管から出
力される電磁波の位相差に基づいて導波管の位相特性を
測定するので、導波管の内径に抜き勾配がついていて
も、非常に高い精度で真円度を測定することが可能とな
り、またきわめて短時間で大量に測定することができ
る。
方向以上の電磁波を導波管に入力し、前記導波管から出
力される電磁波の位相差に基づいて導波管の位相特性を
測定するので、導波管の内径に抜き勾配がついていて
も、非常に高い精度で真円度を測定することが可能とな
り、またきわめて短時間で大量に測定することができ
る。
【００２７】
【発明の実施の形態】図１は、本発明の実施の一形態で
ある導波管測定装置１の構成を示す図である。導波管測
定装置１は、回転台２、同軸−導波管変換器３、アタッ
チメント４、反射板５およびベクトルネットワークアナ
ライザ９から構成される。回転台２は、シャーシ６、導
波管７および一次放射器８を含むコンバータ１０を保持
する保持手段であり、同軸−導波管変換器３と導波管７
とを導波管７の軸線まわりに相対的に回転させる回転手
段である。同軸−導波管変換器３は、同軸ケーブルの電
気信号を、入力用導波管を通して電磁波に変換するもの
で、導波管や導波管コンポーネントの電気的性能を測定
したり、衛星放送受信用コンバータのノイズフィギュア
（ＮＦ）やゲインをはじめ、様々な電気的性能を測定す
る際にも用いられる入力手段である。アタッチメント４
は、導波管７と連接するために同軸−導波管変換器３の
端部に形成されている。反射板５は図１（ｂ）の断面図
に示すように、導波管７の同軸−導波管変換器３による
入力とは反対側の開口部を閉塞するように設置される。
ベクトルネットワークアナライザ９は、同軸−導波管変
換器３と接続し、導波管７の位相特性を測定する測定手
段である。
ある導波管測定装置１の構成を示す図である。導波管測
定装置１は、回転台２、同軸−導波管変換器３、アタッ
チメント４、反射板５およびベクトルネットワークアナ
ライザ９から構成される。回転台２は、シャーシ６、導
波管７および一次放射器８を含むコンバータ１０を保持
する保持手段であり、同軸−導波管変換器３と導波管７
とを導波管７の軸線まわりに相対的に回転させる回転手
段である。同軸−導波管変換器３は、同軸ケーブルの電
気信号を、入力用導波管を通して電磁波に変換するもの
で、導波管や導波管コンポーネントの電気的性能を測定
したり、衛星放送受信用コンバータのノイズフィギュア
（ＮＦ）やゲインをはじめ、様々な電気的性能を測定す
る際にも用いられる入力手段である。アタッチメント４
は、導波管７と連接するために同軸−導波管変換器３の
端部に形成されている。反射板５は図１（ｂ）の断面図
に示すように、導波管７の同軸−導波管変換器３による
入力とは反対側の開口部を閉塞するように設置される。
ベクトルネットワークアナライザ９は、同軸−導波管変
換器３と接続し、導波管７の位相特性を測定する測定手
段である。
【００２８】まずコンバータ１０を、導波管７の軸線Ｌ
と回転台２の回転軸線とが一致するように回転台２の上
に載せる。次に導波管７にベクトルネットワークアナラ
イザのポート１と接続した同軸−導波管変換器３を、導
波管７の軸線Ｌと同軸となるように連接して電磁波を入
力する。導波管７の一方は金属による反射材５で閉塞さ
れているので、電磁波はアタッチメント４を介して導波
管７を通り、反射板５で反射され、再び導波管７、アタ
ッチメント４、同軸−導波管変換器３を経由してベクト
ルネットワークアナライザのポート１へ戻る。これによ
って、ベクトルネットワークアナライザ９のＳ１１（反
射）モードの位相特性を測定する。
と回転台２の回転軸線とが一致するように回転台２の上
に載せる。次に導波管７にベクトルネットワークアナラ
イザのポート１と接続した同軸−導波管変換器３を、導
波管７の軸線Ｌと同軸となるように連接して電磁波を入
力する。導波管７の一方は金属による反射材５で閉塞さ
れているので、電磁波はアタッチメント４を介して導波
管７を通り、反射板５で反射され、再び導波管７、アタ
ッチメント４、同軸−導波管変換器３を経由してベクト
ルネットワークアナライザのポート１へ戻る。これによ
って、ベクトルネットワークアナライザ９のＳ１１（反
射）モードの位相特性を測定する。
【００２９】次に、上記で測定した電界方向と直交する
方向の電磁波を入力するため、回転台２を９０°回転さ
せて、コンバータ１０を軸線Ｌまわりに回転させ、同様
に反射の位相特性を測定する。この導波管７への、２方
向の電磁波の位相差を測定することによって、２方向の
電界方向に応じた導波管７の内径の差を評価することが
できる。位相差が０であれば、２方向の導波管内径の差
はなく高い真円度で形成されていることがわかる。位相
差があれば、２方向の導波管の内径に差があり、真円度
が低いことがわかる。その内径の差は、前述の計算式に
よって求めることができる。なお、電磁波は導波管７を
往復しているため、実際の位相差は１／２として計算す
る必要がある。
方向の電磁波を入力するため、回転台２を９０°回転さ
せて、コンバータ１０を軸線Ｌまわりに回転させ、同様
に反射の位相特性を測定する。この導波管７への、２方
向の電磁波の位相差を測定することによって、２方向の
電界方向に応じた導波管７の内径の差を評価することが
できる。位相差が０であれば、２方向の導波管内径の差
はなく高い真円度で形成されていることがわかる。位相
差があれば、２方向の導波管の内径に差があり、真円度
が低いことがわかる。その内径の差は、前述の計算式に
よって求めることができる。なお、電磁波は導波管７を
往復しているため、実際の位相差は１／２として計算す
る必要がある。
【００３０】図２は、本発明の他の実施形態である導波
管測定装置１の構成を示す図である。本実施形態は、図
１に示す実施形態の構成に同軸−導波管変換器１１を加
えた構成となっている。同軸−導波管変換器１１は、導
波管７からの電磁波を出力用導波管を通して電気信号に
変換して同軸ケーブルに入力する。図２（ｂ）の断面図
に示すように同軸−導波管変換器１１は、回転台２を貫
通して設置され、導波管７の開口部とベクトルネットワ
ークアナライザ９のポート２に接続している。したがっ
て、入力された電磁波は、導波管７をとおり、同軸−導
波管変換器９にて電磁波から電気信号に変換され、ベク
トルネットワークアナライザ９のポート２へ戻る。これ
によって、ベクトルネットワークアナライザ９のＳ２１
（透過）モードの位相特性を測定する。
管測定装置１の構成を示す図である。本実施形態は、図
１に示す実施形態の構成に同軸−導波管変換器１１を加
えた構成となっている。同軸−導波管変換器１１は、導
波管７からの電磁波を出力用導波管を通して電気信号に
変換して同軸ケーブルに入力する。図２（ｂ）の断面図
に示すように同軸−導波管変換器１１は、回転台２を貫
通して設置され、導波管７の開口部とベクトルネットワ
ークアナライザ９のポート２に接続している。したがっ
て、入力された電磁波は、導波管７をとおり、同軸−導
波管変換器９にて電磁波から電気信号に変換され、ベク
トルネットワークアナライザ９のポート２へ戻る。これ
によって、ベクトルネットワークアナライザ９のＳ２１
（透過）モードの位相特性を測定する。
【００３１】次に、上記で測定した電界方向と直交する
方向の電磁波を入力するため、回転台２を軸線Ｌまわり
に９０°回転させ、同様に透過の位相特性を測定する。
この導波管７への、２方向の電磁波の位相差を測定する
ことによって、２方向の電界方向に応じた導波管７の内
径の差を評価することができる。評価は前述の反射モー
ドと同様に位相差が０であれば真円度が高く、位相差が
あれば真円度が低いことがわかる。
方向の電磁波を入力するため、回転台２を軸線Ｌまわり
に９０°回転させ、同様に透過の位相特性を測定する。
この導波管７への、２方向の電磁波の位相差を測定する
ことによって、２方向の電界方向に応じた導波管７の内
径の差を評価することができる。評価は前述の反射モー
ドと同様に位相差が０であれば真円度が高く、位相差が
あれば真円度が低いことがわかる。
【００３２】以上のように、実際にコンバータとして受
信される周波数と同程度の高い周波数の電波信号を導波
管内に入力して、反射または透過させ、位相の変化から
導波管の内径の真円度を精度よく測定することができ
る。
信される周波数と同程度の高い周波数の電波信号を導波
管内に入力して、反射または透過させ、位相の変化から
導波管の内径の真円度を精度よく測定することができ
る。
【００３３】なお、本発明の測定装置は、円偏波を直線
偏波に変換する円偏波変換器を有したコンバータ用のシ
ャーシ、直線偏波を円偏波に変換する円偏波発生器およ
び偏波の向きを変えるポーラライザなどの高周波部品の
測定および検査にも応用が可能である。
偏波に変換する円偏波変換器を有したコンバータ用のシ
ャーシ、直線偏波を円偏波に変換する円偏波発生器およ
び偏波の向きを変えるポーラライザなどの高周波部品の
測定および検査にも応用が可能である。
【００３４】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、導波管の
内径に抜き勾配がついていても、非常に高い精度で内径
の真円度を測定することが可能となり、またきわめて短
時間で大量に測定することができるので大量生産の設備
として使用することができる。本発明によれば、反射モ
ードおよび透過モードで測定することができる。
内径に抜き勾配がついていても、非常に高い精度で内径
の真円度を測定することが可能となり、またきわめて短
時間で大量に測定することができるので大量生産の設備
として使用することができる。本発明によれば、反射モ
ードおよび透過モードで測定することができる。
【図１】本発明の実施の一形態である導波管測定装置１
の構成を示す図である。
の構成を示す図である。
【図２】本発明の他の実施形態である導波管測定装置１
の構成を示す図である。
の構成を示す図である。
【図３】導波管の直径に対する導波管内の波長λｇ変化
の計算結果を示すグラフである。
の計算結果を示すグラフである。
【図４】導波管の直径に対する位相の変化を示すグラフ
である。
である。
【図５】導波管の断面方向から見た入力電磁波の電界を
示す図である。
示す図である。
１ 導波管測定装置 ２ 回転台 ３,１１ 同軸−導波管変換器 ４ アタッチメント ５ 反射板 ６ シャーシ ７ 導波管 ８ 一次放射器 ９ ベクトルネットワークアナライザ １０ コンバータ
Claims (5)
- 【請求項１】 導波管を保持する保持手段と、 導波管の開口部から、所定の電界方向を有する電磁波を
入力する入力手段と、 入力手段と導波管とを導波管の軸線まわりに相対的に回
転可能とする回転手段と、 電磁波を入力手段から導波管へ入力し、導波管から出力
される電磁波を検出して導波管の位相特性を測定する測
定手段とを有することを特徴とする導波管測定装置。 - 【請求項２】 前記入力手段は、前記導波管と同軸に設
けられ、電気信号を電磁波に変換する入力用導波管を備
えることを特徴とする請求項１記載の導波管測定装置。 - 【請求項３】 電磁波が入力される導波管の開口部とは
反対側の開口部を反射板で閉塞することを特徴とする請
求項１記載の導波管測定装置。 - 【請求項４】 電磁波が入力される導波管の開口部とは
反対側の開口部に、電磁波を電気信号に変換する出力用
導波管を備えることを特徴とする請求項１記載の導波管
測定装置。 - 【請求項５】 電界方向が少なくとも２方向以上の電磁
波を導波管に入力し、前記導波管から出力される電磁波
の位相差に基づいて導波管の位相特性を測定することを
特徴とする導波管測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001037014A JP2002243429A (ja) | 2001-02-14 | 2001-02-14 | 導波管測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001037014A JP2002243429A (ja) | 2001-02-14 | 2001-02-14 | 導波管測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002243429A true JP2002243429A (ja) | 2002-08-28 |
Family
ID=18900201
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001037014A Pending JP2002243429A (ja) | 2001-02-14 | 2001-02-14 | 導波管測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002243429A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006133134A (ja) * | 2004-11-08 | 2006-05-25 | Sharp Corp | 高周波部品の検査装置 |
| JP2008224666A (ja) * | 2007-03-08 | 2008-09-25 | Tohoku Univ | マイクロ波配管減肉計測システム |
| JP2010256036A (ja) * | 2009-04-21 | 2010-11-11 | Yazaki Corp | 内径計測装置 |
| WO2012042552A1 (en) * | 2010-09-29 | 2012-04-05 | Not Only Waves Srl | System and method for determining the generalized scattering matrix of a waveguide device |
-
2001
- 2001-02-14 JP JP2001037014A patent/JP2002243429A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006133134A (ja) * | 2004-11-08 | 2006-05-25 | Sharp Corp | 高周波部品の検査装置 |
| JP4578208B2 (ja) * | 2004-11-08 | 2010-11-10 | シャープ株式会社 | 高周波部品の検査装置 |
| JP2008224666A (ja) * | 2007-03-08 | 2008-09-25 | Tohoku Univ | マイクロ波配管減肉計測システム |
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| WO2012042552A1 (en) * | 2010-09-29 | 2012-04-05 | Not Only Waves Srl | System and method for determining the generalized scattering matrix of a waveguide device |
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