JP2002237228A - 接点入力回路の自己診断回路 - Google Patents
接点入力回路の自己診断回路Info
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- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims description 49
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- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 14
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- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 フォトカプラ4を利用した接点入力回路1の
自己診断回路に、フォトカプラ4の発光部4aの輝度低
下等の劣化を検出する機能を追加し、フォトカプラ4が
故障に到る前に接点入力回路1の基板を交換することを
可能にして、制御システムの稼働率を高め、信頼性を向
上する。 【解決手段】 フォトカプラ4に通電する外部接点3,
3,…と並列に、劣化したフォトカプラ4の受光出力
が、検出回路12のON判定レベルに達しないように制
限する電流制限抵抗20(26)を通して、診断電流を
流す劣化診断用通電回路18(又は故障・劣化診断用通
電回路24)を設け、この診断電流を流したときの検出
回路12,12,…の出力から入力用フォトカプラ4,
4,…の劣化を判定する。
自己診断回路に、フォトカプラ4の発光部4aの輝度低
下等の劣化を検出する機能を追加し、フォトカプラ4が
故障に到る前に接点入力回路1の基板を交換することを
可能にして、制御システムの稼働率を高め、信頼性を向
上する。 【解決手段】 フォトカプラ4に通電する外部接点3,
3,…と並列に、劣化したフォトカプラ4の受光出力
が、検出回路12のON判定レベルに達しないように制
限する電流制限抵抗20(26)を通して、診断電流を
流す劣化診断用通電回路18(又は故障・劣化診断用通
電回路24)を設け、この診断電流を流したときの検出
回路12,12,…の出力から入力用フォトカプラ4,
4,…の劣化を判定する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、フォトカプラを利
用した接点入力回路に関し、特にフォトカプラの劣化検
出を可能とするための自己診断回路の改良に関する。
用した接点入力回路に関し、特にフォトカプラの劣化検
出を可能とするための自己診断回路の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】PLC(プログラマブル ロジック コ
ントローラ)等に用いられる接点入力回路は、出力を行
う外部接点と、この外部接点から入力を受ける装置とを
電気的に絶縁するためにフォトカプラを利用する場合が
多い。
ントローラ)等に用いられる接点入力回路は、出力を行
う外部接点と、この外部接点から入力を受ける装置とを
電気的に絶縁するためにフォトカプラを利用する場合が
多い。
【0003】この接点入力回路1の従来の構成を、図4
に示し説明する。図において、2は複数の独立端子2a
と共通端子2bからなる接点入力回路1の入力端子、
3,3,…は、上記入力端子2の独立端子2aと共通端
子2b間に接続される外部接点である。この外部接点
3,3,…は、例えば監視対象のタンクに設けられる水
位センサの出力接点等である。
に示し説明する。図において、2は複数の独立端子2a
と共通端子2bからなる接点入力回路1の入力端子、
3,3,…は、上記入力端子2の独立端子2aと共通端
子2b間に接続される外部接点である。この外部接点
3,3,…は、例えば監視対象のタンクに設けられる水
位センサの出力接点等である。
【0004】4,4,…は入力用フォトカプラ、5は給
電用フォトカプラ、6は故障診断用フォトカプラで、例
えば、発光部である発光ダイオードと受光部であるフォ
トトランジスタを対向配置し、樹脂モールドしたフォト
モスリレーを使用する。
電用フォトカプラ、6は故障診断用フォトカプラで、例
えば、発光部である発光ダイオードと受光部であるフォ
トトランジスタを対向配置し、樹脂モールドしたフォト
モスリレーを使用する。
【0005】このようにフォトカプラを使用するのは、
外部接点側と入力を受ける装置側を電気的に切り離すた
めで、入力用フォトカプラ4の発光部4aへの通電は、
外部接点側の電圧(例えば+24V)を、給電用フォト
カプラ5の受光部5bと電流制限抵抗7と外部接点3,
3,…を通すことにより行う。この通電は、故障診断時
には、外部接点3,3,…に代わりダイオード8が直列
接続された故障診断用フォトカプラ6の受光部6bによ
って行われる。
外部接点側と入力を受ける装置側を電気的に切り離すた
めで、入力用フォトカプラ4の発光部4aへの通電は、
外部接点側の電圧(例えば+24V)を、給電用フォト
カプラ5の受光部5bと電流制限抵抗7と外部接点3,
3,…を通すことにより行う。この通電は、故障診断時
には、外部接点3,3,…に代わりダイオード8が直列
接続された故障診断用フォトカプラ6の受光部6bによ
って行われる。
【0006】また、入力用フォトカプラ4の受光部4
b,給電用フォトカプラ5の発光部5a、及び故障診断
用フォトカプラ6の発光部6aには、接点入力を受ける
装置側の電圧(例えば+5V)が供給される。この電圧
供給回路において、9はプルダウン抵抗,10,11は
電流制限抵抗である。
b,給電用フォトカプラ5の発光部5a、及び故障診断
用フォトカプラ6の発光部6aには、接点入力を受ける
装置側の電圧(例えば+5V)が供給される。この電圧
供給回路において、9はプルダウン抵抗,10,11は
電流制限抵抗である。
【0007】12,12,…は検出回路であるインバー
タバッファで、各入力用フォトカプラ4,4,…の受光
部4b,4b,…の出力電圧の大きさによって、外部接
点3,3,…のON・OFF検出を行って出力する。
タバッファで、各入力用フォトカプラ4,4,…の受光
部4b,4b,…の出力電圧の大きさによって、外部接
点3,3,…のON・OFF検出を行って出力する。
【0008】13は検出回路であるインバータバッファ
12,12,…を介して外部接点のON・OFF入力を
受ける装置(PLC等)のシステムバスである。
12,12,…を介して外部接点のON・OFF入力を
受ける装置(PLC等)のシステムバスである。
【0009】14は給電用フォトカプラ5と故障診断用
フォトカプラ6の導通制御と、入力用フォトカプラ4の
故障判定を行う制御判定回路である。給電用フォトカプ
ラ5の導通制御は、インバータバッファ15を通して給
電用フォトカプラの発光部5aに、導通信号を出力する
ことにより行い、故障診断用フォトカプラ6の導通制御
は、インバータバッファ16を通して診断用フォトカプ
ラ6の発光部6aに導通信号を出力することにより行
う。また、入力用フォトカプラ4,4,…の故障診断
は、故障診断用フォトカプラ6によって入力用フォトカ
プラ4の発光部4aに診断電流を流したとき、各検出回
路12,12,…の出力をデコーダ17を介して受ける
ことにより行われる。
フォトカプラ6の導通制御と、入力用フォトカプラ4の
故障判定を行う制御判定回路である。給電用フォトカプ
ラ5の導通制御は、インバータバッファ15を通して給
電用フォトカプラの発光部5aに、導通信号を出力する
ことにより行い、故障診断用フォトカプラ6の導通制御
は、インバータバッファ16を通して診断用フォトカプ
ラ6の発光部6aに導通信号を出力することにより行
う。また、入力用フォトカプラ4,4,…の故障診断
は、故障診断用フォトカプラ6によって入力用フォトカ
プラ4の発光部4aに診断電流を流したとき、各検出回
路12,12,…の出力をデコーダ17を介して受ける
ことにより行われる。
【0010】上記接点入力回路1は、通常使用時に、制
御判定回路14からインバータバッファ15に導通信号
を出力して給電用フォトカプラ5の発光部5aを導通状
態にして使用される(故障診断用フォトカプラ6の発光
部6aは非導通)。この状態で、外部接点3がONにな
ると、これに対応するチャンネルの入力用フォトカプラ
4の発光部4aが発光し、その受光部4bが導通するの
で、受光部出力の電圧上昇により、検出回路であるイン
バータバッファ12の出力が、Lレベル(外部接点ON
を示す)となって、システムバス13に供給される。
御判定回路14からインバータバッファ15に導通信号
を出力して給電用フォトカプラ5の発光部5aを導通状
態にして使用される(故障診断用フォトカプラ6の発光
部6aは非導通)。この状態で、外部接点3がONにな
ると、これに対応するチャンネルの入力用フォトカプラ
4の発光部4aが発光し、その受光部4bが導通するの
で、受光部出力の電圧上昇により、検出回路であるイン
バータバッファ12の出力が、Lレベル(外部接点ON
を示す)となって、システムバス13に供給される。
【0011】この接点入力回路1の故障診断は、制御判
定回路14から、インバータバッファ16に導通信号を
出力して診断用フォトカプラ6の受光部6bを通電さ
せ、外部接点3,3,…の全てがONしたのと等価の状
態を作り出して行う。この状態で制御判定回路14から
インバータバッファ15を通して給電用フォトカプラ5
を導通状態と非導通状態に切換えると、入力用フォトカ
プラ4,4,…が正常であれば、検出回路であるインバ
ータバッファ12,12,…の出力が、この制御論理に
対応したON・OFF出力を発生する。しかし、入力用
フォトカプラ4が故障していると、対応する検出回路1
2の出力が、上記制御論理と相違する。そこで、制御判
定回路14は、検出回路12の出力が相違した入力用フ
ォトカプラ4のチャンネルについて、故障の判定出力を
する。
定回路14から、インバータバッファ16に導通信号を
出力して診断用フォトカプラ6の受光部6bを通電さ
せ、外部接点3,3,…の全てがONしたのと等価の状
態を作り出して行う。この状態で制御判定回路14から
インバータバッファ15を通して給電用フォトカプラ5
を導通状態と非導通状態に切換えると、入力用フォトカ
プラ4,4,…が正常であれば、検出回路であるインバ
ータバッファ12,12,…の出力が、この制御論理に
対応したON・OFF出力を発生する。しかし、入力用
フォトカプラ4が故障していると、対応する検出回路1
2の出力が、上記制御論理と相違する。そこで、制御判
定回路14は、検出回路12の出力が相違した入力用フ
ォトカプラ4のチャンネルについて、故障の判定出力を
する。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】上記故障診断は、定格
電流相当の電流を流して、入力用フォトカプラ4,4,
…が故障しているか否かを調べている。
電流相当の電流を流して、入力用フォトカプラ4,4,
…が故障しているか否かを調べている。
【0013】一方、フォトカプラは、一般に使用時間の
経過と共に特性が劣化し、発光ダイオードの輝度低下等
で感度が低下していくものである。したがって、上記故
障診断の結果、正常と判定されていたとしても、劣化が
ある程度進行していた場合には、使用中に故障となる可
能性が高く、この接点入力を受ける制御システムの混乱
を招く。
経過と共に特性が劣化し、発光ダイオードの輝度低下等
で感度が低下していくものである。したがって、上記故
障診断の結果、正常と判定されていたとしても、劣化が
ある程度進行していた場合には、使用中に故障となる可
能性が高く、この接点入力を受ける制御システムの混乱
を招く。
【0014】そこで、本発明は、入力用フォトカプラが
劣化したとき、これが故障になる前に検出して、接点入
力回路の基板を交換する等の予防策を事前に取ることに
より制御システムの信頼性を向上することを目的とす
る。
劣化したとき、これが故障になる前に検出して、接点入
力回路の基板を交換する等の予防策を事前に取ることに
より制御システムの信頼性を向上することを目的とす
る。
【0015】
【課題を解決するための手段】(1) 本発明が提供す
る接点入力回路の自己診断回路は、外部接点を通して入
力用フォトカプラの発光部に通電する回路と、このフォ
トカプラの受光部の出力電圧によって、外部接点のON
・OFFを検出して出力する検出回路を備えた接点入力
回路において、
る接点入力回路の自己診断回路は、外部接点を通して入
力用フォトカプラの発光部に通電する回路と、このフォ
トカプラの受光部の出力電圧によって、外部接点のON
・OFFを検出して出力する検出回路を備えた接点入力
回路において、
【0016】上記外部接点と並列に接続され、入力用フ
ォトカプラが劣化しているとき、その受光部出力が、上
記検出回路の外部接点ONの検出レベルに達しないよう
に電流を制限する抵抗を通して入力用フォトカプラの発
光部に診断電流を流す劣化診断用の通電回路と、この診
断電流を流させると同時に上記検出回路の検出結果を読
取り、検出結果が外部接点ONの検出状態にないとき、
入力用フォトカプラの劣化と判定して出力する制御判定
回路とを具備したことを特徴とする。
ォトカプラが劣化しているとき、その受光部出力が、上
記検出回路の外部接点ONの検出レベルに達しないよう
に電流を制限する抵抗を通して入力用フォトカプラの発
光部に診断電流を流す劣化診断用の通電回路と、この診
断電流を流させると同時に上記検出回路の検出結果を読
取り、検出結果が外部接点ONの検出状態にないとき、
入力用フォトカプラの劣化と判定して出力する制御判定
回路とを具備したことを特徴とする。
【0017】上記自己診断回路は、入力用フォトカプラ
が故障になる前の劣化状態の検出を行なって、接点入力
回路の基板を、故障となる前に交換することができるの
で、使用中に故障となる場合の制御の混乱を未然防止し
て、制御システムの信頼性を向上できる。
が故障になる前の劣化状態の検出を行なって、接点入力
回路の基板を、故障となる前に交換することができるの
で、使用中に故障となる場合の制御の混乱を未然防止し
て、制御システムの信頼性を向上できる。
【0018】(2) 上記(1)の自己診断回路は、入
力用フォトカプラの故障診断回路とは別に、劣化診断専
用の回路を設けるので、部品点数を増加することにな
る。そこで、専用回路を設けることなく、ソフトウェア
処理により入力用フォトカプラの故障、劣化、正常の判
定が行なえる自己診断回路として、次の構成のものを提
供する。
力用フォトカプラの故障診断回路とは別に、劣化診断専
用の回路を設けるので、部品点数を増加することにな
る。そこで、専用回路を設けることなく、ソフトウェア
処理により入力用フォトカプラの故障、劣化、正常の判
定が行なえる自己診断回路として、次の構成のものを提
供する。
【0019】ソフトウェア処理を行う接点入力回路の自
己診断回路は、外部接点を通して入力用フォトカプラの
発光部に通電する回路と、このフォトカプラの受光部の
出力電圧によって、外部接点のON・OFFを検出して
出力する検出回路を備えた接点入力回路において、
己診断回路は、外部接点を通して入力用フォトカプラの
発光部に通電する回路と、このフォトカプラの受光部の
出力電圧によって、外部接点のON・OFFを検出して
出力する検出回路を備えた接点入力回路において、
【0020】上記外部接点と並列に接続され、所定の電
流制限抵抗を通し、入力用フォトカプラの発光部に定格
電流より小さい診断電流を流す故障・劣化診断兼用の通
電回路と、
流制限抵抗を通し、入力用フォトカプラの発光部に定格
電流より小さい診断電流を流す故障・劣化診断兼用の通
電回路と、
【0021】上記通電回路に診断電流を流させると同時
に上記検出回路の検出結果を読取ってカウント記録する
通電制御手段と、上記通電回数がn回に達したとき、カ
ウント回数を所定の基準値と比較することにより、入力
用フォトカプラの故障、劣化、又は正常の判定を行って
出力する判定出力手段を備えた制御判定回路とを具備し
たことを特徴とする。
に上記検出回路の検出結果を読取ってカウント記録する
通電制御手段と、上記通電回数がn回に達したとき、カ
ウント回数を所定の基準値と比較することにより、入力
用フォトカプラの故障、劣化、又は正常の判定を行って
出力する判定出力手段を備えた制御判定回路とを具備し
たことを特徴とする。
【0022】この入力用フォトカプラの故障、劣化、又
は正常の判定は、例えば、検出回数n回を、例えば10
回とした場合に、検出回路による外部接点のON検出が
1回もされなかった場合に故障とし、検出回数が1回か
ら8回未満の場合に劣化と判定し、8回以上の場合に正
常と判定するものである。このようにソフトウェア処理
すると、使用時間の経過に伴って徐々に劣化して行く接
点入力回路の基板に対して、劣化の判定基準(上述例で
は8回)を適当な値に設定することにより、その交換時
期を的確に判断することができる。
は正常の判定は、例えば、検出回数n回を、例えば10
回とした場合に、検出回路による外部接点のON検出が
1回もされなかった場合に故障とし、検出回数が1回か
ら8回未満の場合に劣化と判定し、8回以上の場合に正
常と判定するものである。このようにソフトウェア処理
すると、使用時間の経過に伴って徐々に劣化して行く接
点入力回路の基板に対して、劣化の判定基準(上述例で
は8回)を適当な値に設定することにより、その交換時
期を的確に判断することができる。
【0023】
【発明の実施の形態】本発明の第1の実施形態を図1に
示して説明する。図1の接点入力回路1Aは、入力用フ
ォトカプラ4の故障診断と共に、入力用フォトカプラ4
の劣化診断ができるようにしたものである。これは、図
4の回路に、劣化診断用の通電回路18を増設すると共
に、図4の制御判定回路14に代えて、劣化診断時の制
御判定機能を組み込んだ制御判定回路14Aが使用され
る。
示して説明する。図1の接点入力回路1Aは、入力用フ
ォトカプラ4の故障診断と共に、入力用フォトカプラ4
の劣化診断ができるようにしたものである。これは、図
4の回路に、劣化診断用の通電回路18を増設すると共
に、図4の制御判定回路14に代えて、劣化診断時の制
御判定機能を組み込んだ制御判定回路14Aが使用され
る。
【0024】図1の回路において、入力接点2、外部接
点3、入力用フォトカプラ4、給電用フォトカプラ5、
故障診断用フォトカプラ6、検出回路12であるインバ
ータバッファ、接点入力を受けるシステムバス13、デ
コーダ17は、図4と同等のものを用いる。
点3、入力用フォトカプラ4、給電用フォトカプラ5、
故障診断用フォトカプラ6、検出回路12であるインバ
ータバッファ、接点入力を受けるシステムバス13、デ
コーダ17は、図4と同等のものを用いる。
【0025】劣化診断用の通電回路18は、劣化診断用
フォトカプラ19の導通出力によって、各入力用フォト
カプラ4の発光部4a,4a,…を、電流制限抵抗2
0,20,…及びダイオード21,21,…を通して接
地するもので、この劣化診断用フォトカプラ19は、入
力用フォトカプラと同様に、発光部19aである発光ダ
イオードと受光部19bであるフォトトランジスタを対
向配置し、樹脂モールドしたフォトモスリレー等を使用
する。この劣化診断用フォトカプラ19の発光部19a
は、制御判定回路14Aからインバータバッファ22を
通して導通信号が出力されたとき、接点入力を受ける装
置側の電圧(例えば+5V)が電流制限抵抗23を通し
て通電されることにより発光し、その受光部19bを導
通させる。
フォトカプラ19の導通出力によって、各入力用フォト
カプラ4の発光部4a,4a,…を、電流制限抵抗2
0,20,…及びダイオード21,21,…を通して接
地するもので、この劣化診断用フォトカプラ19は、入
力用フォトカプラと同様に、発光部19aである発光ダ
イオードと受光部19bであるフォトトランジスタを対
向配置し、樹脂モールドしたフォトモスリレー等を使用
する。この劣化診断用フォトカプラ19の発光部19a
は、制御判定回路14Aからインバータバッファ22を
通して導通信号が出力されたとき、接点入力を受ける装
置側の電圧(例えば+5V)が電流制限抵抗23を通し
て通電されることにより発光し、その受光部19bを導
通させる。
【0026】上記電流制限抵抗23は、入力用フォトカ
プラ4が劣化しているとき、その受光部出力が、上記検
出回路12の外部接点ONの検出レベルに達しないよう
に診断電流を制限するものである。
プラ4が劣化しているとき、その受光部出力が、上記検
出回路12の外部接点ONの検出レベルに達しないよう
に診断電流を制限するものである。
【0027】図1の構成において、外部接点3,3,…
から接点入力する通常時の動作は、図4の従来例と同様
に行われる。すなわち、制御判定回路14Aによって給
電用フォトカプラ5を導通出力状態にしておき、検出回
路12,12,…のON・OFF出力をシステムバス1
3に入力させる。
から接点入力する通常時の動作は、図4の従来例と同様
に行われる。すなわち、制御判定回路14Aによって給
電用フォトカプラ5を導通出力状態にしておき、検出回
路12,12,…のON・OFF出力をシステムバス1
3に入力させる。
【0028】故障診断は、図4の従来例と同様に行われ
る。すなわち、制御判定回路14Aにより、故障診断用
フォトカプラ6を導通出力状態にしておき、給電用フォ
トカプラ5を導通出力と非導通出力に切換え、検出回路
12,12,…の出力を調べて行う。
る。すなわち、制御判定回路14Aにより、故障診断用
フォトカプラ6を導通出力状態にしておき、給電用フォ
トカプラ5を導通出力と非導通出力に切換え、検出回路
12,12,…の出力を調べて行う。
【0029】本発明の劣化診断は、劣化診断用フォトカ
プラ6を導通出力状態にしておき、給電用フォトカプラ
5を導通状態にしたとき、入力用フォトカプラ4,4,
…の受光部出力を受ける検出回路12が、外部接点ON
の検出をしなかったとき、フォトカプラの劣化と判定し
て出力するものである。
プラ6を導通出力状態にしておき、給電用フォトカプラ
5を導通状態にしたとき、入力用フォトカプラ4,4,
…の受光部出力を受ける検出回路12が、外部接点ON
の検出をしなかったとき、フォトカプラの劣化と判定し
て出力するものである。
【0030】劣化診断用フォトカプラ19を通して入力
用フォトカプラの発光部4aに流す診断電流は、入力用
フォトカプラ4が劣化しているときには、検出回路12
が外部接点ONの検出をしないように制限されているの
で、この診断によって入力用フォトカプラ4の劣化を検
出できる。上記図1の構成は、入力用フォトカプラ4の
故障検出モードと、劣化検出モードの双方の判定を行え
るので、入力回路基板の交換を、故障した場合に行う
か、故障になる前に行うかを選択でき、目的に応じた運
用が可能になる。
用フォトカプラの発光部4aに流す診断電流は、入力用
フォトカプラ4が劣化しているときには、検出回路12
が外部接点ONの検出をしないように制限されているの
で、この診断によって入力用フォトカプラ4の劣化を検
出できる。上記図1の構成は、入力用フォトカプラ4の
故障検出モードと、劣化検出モードの双方の判定を行え
るので、入力回路基板の交換を、故障した場合に行う
か、故障になる前に行うかを選択でき、目的に応じた運
用が可能になる。
【0031】図1の実施例は、故障診断と劣化診断に、
夫々専用のフォトカプラ6,19を設けていたが、ソフ
トウエアによる処理を行うことにより、診断用のフォト
カプラを1つで済ますことができる。
夫々専用のフォトカプラ6,19を設けていたが、ソフ
トウエアによる処理を行うことにより、診断用のフォト
カプラを1つで済ますことができる。
【0032】この場合の実施形態を図2に示す。図2の
接点入力回路1Bは、図4の故障診断用フォトカプラ6
を用いる故障診断用の通電回路に代えて、故障・劣化診
断兼用の通電回路24を組み込むと共に、図4の制御判
定回路14に代えて、ソフトウェア処理によって故障・
劣化・正常の判定を行う機能を組み込んだ制御判定回路
14Bを使用している。
接点入力回路1Bは、図4の故障診断用フォトカプラ6
を用いる故障診断用の通電回路に代えて、故障・劣化診
断兼用の通電回路24を組み込むと共に、図4の制御判
定回路14に代えて、ソフトウェア処理によって故障・
劣化・正常の判定を行う機能を組み込んだ制御判定回路
14Bを使用している。
【0033】図2の回路において、入力接点2、外部接
点3、入力用フォトカプラ4、給電用フォトカプラ5、
検出回路12であるインバータバッファ、接点入力を受
けるシステムバス13、デコーダ17は、図4と同等の
ものを用いる。
点3、入力用フォトカプラ4、給電用フォトカプラ5、
検出回路12であるインバータバッファ、接点入力を受
けるシステムバス13、デコーダ17は、図4と同等の
ものを用いる。
【0034】故障・劣化診断兼用の通電回路24は、故
障劣化診断用フォトカプラ25の導通出力によって、各
入力用フォトカプラ4の発光部4a,4a,…を、電流
制限抵抗26,26,…及びダイオード27,27,…
を通して接地するもので、この故障劣化診断用フォトカ
プラ25は、入力用フォトカプラ4と同様に、発光部2
5aである発光ダイオードと受光部25bであるフォト
トランジスタを対向配置し、樹脂モールドしたフォトモ
スリレー等を使用する。この故障劣化診断用フォトカプ
ラ25の発光部25aは、制御判定回路14Bからイン
バータバッファ28を通して導通信号が出力されたと
き、接点入力を受ける装置側の電圧(例えば+5V)を
電流制限抵抗29を通して通電することにより発光し、
その受光部25bを導通させる。
障劣化診断用フォトカプラ25の導通出力によって、各
入力用フォトカプラ4の発光部4a,4a,…を、電流
制限抵抗26,26,…及びダイオード27,27,…
を通して接地するもので、この故障劣化診断用フォトカ
プラ25は、入力用フォトカプラ4と同様に、発光部2
5aである発光ダイオードと受光部25bであるフォト
トランジスタを対向配置し、樹脂モールドしたフォトモ
スリレー等を使用する。この故障劣化診断用フォトカプ
ラ25の発光部25aは、制御判定回路14Bからイン
バータバッファ28を通して導通信号が出力されたと
き、接点入力を受ける装置側の電圧(例えば+5V)を
電流制限抵抗29を通して通電することにより発光し、
その受光部25bを導通させる。
【0035】この故障・劣化診断兼用の通電回路24の
電流制限抵抗26,26,…は、入力用フォトカプラの
発光部4a,4a,…の電流を制限し、入力用フォトカ
プラ4が劣化しているときは検出回路12がON出力を
しないようにするものであるが、具体的な抵抗値は、後
述するソフトウェア処理による故障・劣化診断の判定値
との関係で決定される。
電流制限抵抗26,26,…は、入力用フォトカプラの
発光部4a,4a,…の電流を制限し、入力用フォトカ
プラ4が劣化しているときは検出回路12がON出力を
しないようにするものであるが、具体的な抵抗値は、後
述するソフトウェア処理による故障・劣化診断の判定値
との関係で決定される。
【0036】図2の接点入力回路1Bにおける、外部接
点3,3,…から入力する通常時の動作は、図4及び図
1で説明したのと同様に行われる。
点3,3,…から入力する通常時の動作は、図4及び図
1で説明したのと同様に行われる。
【0037】図2の接点入力回路1Bにおける故障・劣
化診断は、制御判定回路14Bに、例えばソフトウェア
として組込まれた通電制御手段と判定出力手段によっ
て、図3に示すような手順で行われる。
化診断は、制御判定回路14Bに、例えばソフトウェア
として組込まれた通電制御手段と判定出力手段によっ
て、図3に示すような手順で行われる。
【0038】初めに、通電回数iの初期化を行う。次
に、故障劣化診断用フォトカプラ25を導通出力状態に
保って、給電用フォトカプラ5を導通出力と非導通出力
に切換え制御し、n回の通電を行う。各通電時毎に、デ
コーダ17を通して受けた検出回路12,12,…の検
出結果がON出力であるか調べ、ON出力であるチャン
ネル(各検出回路)については対応するレジスタに+1
のカウントをする。通電回数がn回(例えば10回)に
達すると、判定出力手段によって、故障、劣化、正常の
判定を行う。例えば、この判定基準は、通電回数nが1
0回のとき、ON検出回数が8カウント以上で正常、8
回未満1回以上のとき劣化、1回未満のとき故障と設定
されている。この判定結果は、図示しない表示用発光ダ
イオードの点灯出力又は電気信号等で出力される。
に、故障劣化診断用フォトカプラ25を導通出力状態に
保って、給電用フォトカプラ5を導通出力と非導通出力
に切換え制御し、n回の通電を行う。各通電時毎に、デ
コーダ17を通して受けた検出回路12,12,…の検
出結果がON出力であるか調べ、ON出力であるチャン
ネル(各検出回路)については対応するレジスタに+1
のカウントをする。通電回数がn回(例えば10回)に
達すると、判定出力手段によって、故障、劣化、正常の
判定を行う。例えば、この判定基準は、通電回数nが1
0回のとき、ON検出回数が8カウント以上で正常、8
回未満1回以上のとき劣化、1回未満のとき故障と設定
されている。この判定結果は、図示しない表示用発光ダ
イオードの点灯出力又は電気信号等で出力される。
【0039】このソフトウエアによる判定は、1つの故
障劣化診断用フォトカプラ25で故障診断と劣化診断を
同時に行うので、図4に示す従来装置に電流制限抵抗を
26,26,…追加するだけでハードウェアを製作で
き、図1の自己診断回路1Aに比べ低コストで製作でき
る利点がある。また、徐々に劣化が進行するフォトカプ
ラに対し、判定基準を任意に設定できる図2の自己診断
回路1Bは、回路基板の交換時期の決定を柔軟に行なえ
る利点がある。
障劣化診断用フォトカプラ25で故障診断と劣化診断を
同時に行うので、図4に示す従来装置に電流制限抵抗を
26,26,…追加するだけでハードウェアを製作で
き、図1の自己診断回路1Aに比べ低コストで製作でき
る利点がある。また、徐々に劣化が進行するフォトカプ
ラに対し、判定基準を任意に設定できる図2の自己診断
回路1Bは、回路基板の交換時期の決定を柔軟に行なえ
る利点がある。
【0040】
【発明の効果】本発明の請求項1に記載の発明は、接点
入力回路の入力用フォトカプラの劣化を検出できるか
ら、故障に到る前に接点入力回路基板を交換することに
より、制御システムの稼働率低下を防止し信頼性を向上
できる。この発明は、入力用フォトカプラの故障検出と
劣化検出を、夫々専用のフォトカプラによって独立して
判定できるので、入力回路基板の交換を、故障した場合
に行うか故障になる前に行うかを選択した運用が可能で
ある。
入力回路の入力用フォトカプラの劣化を検出できるか
ら、故障に到る前に接点入力回路基板を交換することに
より、制御システムの稼働率低下を防止し信頼性を向上
できる。この発明は、入力用フォトカプラの故障検出と
劣化検出を、夫々専用のフォトカプラによって独立して
判定できるので、入力回路基板の交換を、故障した場合
に行うか故障になる前に行うかを選択した運用が可能で
ある。
【0041】本発明の請求項2に記載の発明も、入力用
フォトカプラの劣化を検出し、接点入力回路基板の早期
交換により、制御システムの稼働率低下を防止できる。
特に、この発明はソフトウエア判定により1つのフォト
カプラで故障診断と劣化診断を同時に行うので、低コス
トに製作できると共に、徐々に劣化が進行するフォトカ
プラに対し、判定基準を任意に設定して、回路基板の交
換時期の決定を柔軟に行なうことができる。
フォトカプラの劣化を検出し、接点入力回路基板の早期
交換により、制御システムの稼働率低下を防止できる。
特に、この発明はソフトウエア判定により1つのフォト
カプラで故障診断と劣化診断を同時に行うので、低コス
トに製作できると共に、徐々に劣化が進行するフォトカ
プラに対し、判定基準を任意に設定して、回路基板の交
換時期の決定を柔軟に行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の接点入力回路の自己診断回路の第1
の実施態様を説明する図である。
の実施態様を説明する図である。
【図2】 本発明の接点入力回路の自己診断回路の第2
の実施態様を示す回路図である。
の実施態様を示す回路図である。
【図3】 図2の自己診断回路の制御判定回路の処理手
順を示すフローチャートである。
順を示すフローチャートである。
【図4】 自己診断回路を持つ従来の接点入力回路を示
す回路図
す回路図
1A,1B 接点入力回路 2 接点入力回路の入力端子 2a 独立端子 2b 共通端子 3 外部接点 4 自己診断の対象である入力用フォトカプラ 5 給電用フォトカプラ 6 故障診断用フォトカプラ 12 検出回路(インバータバッファ) 13 システムバス 14A,14B 制御判定回路 17 デコーダ 18 劣化診断用の通電回路 19 劣化診断用フォトカプラ 20,26 電流制限抵抗 24 故障・劣化診断兼用の通電回路 25 故障劣化診断用フォトカプラ
Claims (2)
- 【請求項1】 外部接点を通して入力用フォトカプラの
発光部に通電する回路と、このフォトカプラの受光部の
出力電圧によって、外部接点のON・OFFを検出して
出力する検出回路を備えた接点入力回路において、 入力用フォトカプラが劣化しているとき、その受光部出
力が、上記検出回路の外部接点ONの検出レベルに達し
ないように電流を制限する抵抗を通して入力用フォトカ
プラの発光部に診断電流を流す劣化診断用の通電回路
と、この診断電流を流させると同時に、上記検出回路の
検出結果を読取り、この検出結果が外部接点ONの検出
状態にないとき、入力用フォトカプラの劣化と判定して
出力する制御判定回路とを具備したことを特徴とする接
点入力回路の自己診断回路。 - 【請求項2】 外部接点を通して入力用フォトカプラの
発光部に通電する回路と、このフォトカプラの受光部の
出力電圧によって、外部接点のON・OFFを検出して
出力する検出回路を備えた接点入力回路において、 所定の電流制限抵抗を通し、入力用フォトカプラの発光
部に定格電流より小さい診断電流を流す故障・劣化診断
兼用の通電回路と、 上記通電回路に診断電流を流させると同時に上記検出回
路の検出結果を読取ってカウント記録する通電制御手段
と、上記通電回数がn回に達したとき、カウント回数を
所定の基準値と比較することにより、入力用フォトカプ
ラの故障、劣化、又は正常の判定を行って出力する判定
出力手段を備えた制御判定回路とを具備したことを特徴
とする接点入力回路の自己診断回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001031001A JP2002237228A (ja) | 2001-02-07 | 2001-02-07 | 接点入力回路の自己診断回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001031001A JP2002237228A (ja) | 2001-02-07 | 2001-02-07 | 接点入力回路の自己診断回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002237228A true JP2002237228A (ja) | 2002-08-23 |
Family
ID=18895143
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001031001A Withdrawn JP2002237228A (ja) | 2001-02-07 | 2001-02-07 | 接点入力回路の自己診断回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002237228A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009260495A (ja) * | 2008-04-14 | 2009-11-05 | Mitsubishi Electric Corp | ディジタル信号入力装置及び制御方法 |
KR100976328B1 (ko) * | 2008-02-05 | 2010-08-16 | 엘에스산전 주식회사 | 피엘시의 아날로그 입력회로 |
KR101480715B1 (ko) | 2014-01-14 | 2015-01-12 | 두산중공업 주식회사 | 플랜트 제어 시스템의 접점 입력 장치 및 그 제어방법 |
JP2016139956A (ja) * | 2015-01-28 | 2016-08-04 | 日新電機株式会社 | トリガ信号入出力回路 |
-
2001
- 2001-02-07 JP JP2001031001A patent/JP2002237228A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100976328B1 (ko) * | 2008-02-05 | 2010-08-16 | 엘에스산전 주식회사 | 피엘시의 아날로그 입력회로 |
JP2009260495A (ja) * | 2008-04-14 | 2009-11-05 | Mitsubishi Electric Corp | ディジタル信号入力装置及び制御方法 |
KR101480715B1 (ko) | 2014-01-14 | 2015-01-12 | 두산중공업 주식회사 | 플랜트 제어 시스템의 접점 입력 장치 및 그 제어방법 |
JP2016139956A (ja) * | 2015-01-28 | 2016-08-04 | 日新電機株式会社 | トリガ信号入出力回路 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20080513 |