JP2002228695A - Resistance measuring apparatus - Google Patents

Resistance measuring apparatus

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JP2002228695A
JP2002228695A JP2001026442A JP2001026442A JP2002228695A JP 2002228695 A JP2002228695 A JP 2002228695A JP 2001026442 A JP2001026442 A JP 2001026442A JP 2001026442 A JP2001026442 A JP 2001026442A JP 2002228695 A JP2002228695 A JP 2002228695A
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current
circuit
resistance
value
voltage
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Shuji Yoshida
修二 芳田
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a resistance measuring capable of shortening the measurement time and attaining high accuracy in the case of measuring a low resistance value containing inductance like a current conductor of switches for electric power and reducing the size of the apparatus and the power consumption. SOLUTION: In the resistance measuring apparatus provided with a power source circuit for sending current to an object to be measured 100 including an inductance L2 part from between two terminals, a voltage measuring circuit for measuring the voltage between the two terminals of the object to be measured, a current measuring circuit for measuring current flowing in the object to be measured and a resistance calculation circuit for calculating the resistance value by dividing the voltage value measured with the voltage measuring circuit by the current value measured with the current measuring circuit, the power source circuit makes a current (i) of a waveform including a point where the current variation with time becomes 0, flow to the object to be measured 100, and the resistance calculation circuit calculates a resistance value R2 of the object to be measured 100, from the voltage and the current at the timing when the current variation becomes 0.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、電力用開閉機器
などの電流導体、および、電流導体の接触部などにおけ
る低抵抗値を測定するための抵抗測定装置に関するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a resistance measuring device for measuring a low resistance value at a current conductor of a power switchgear or the like, and at a contact portion of the current conductor.

【0002】[0002]

【従来の技術】電力用開閉機器などにおいては、電流導
体の接触部の異常、あるいは、電流導体そのものの異常
により、通電経路の抵抗値が増大すれば、大電流の通電
時に、接触部あるいは電流導体そのものが過熱して事故
に至る危険性がある。このことから、従来より電力用開
閉機器などの保守点検時において、接触部を含めた電流
導体の抵抗値を測定して、監視している。
2. Description of the Related Art In a power switchgear, if the resistance of an energizing path increases due to an abnormality in a contact portion of a current conductor or an abnormality in a current conductor itself, the contact portion or the current may be reduced when a large current is applied. There is a risk that the conductor itself will overheat and cause an accident. For this reason, the resistance value of the current conductor including the contact portion has been measured and monitored during maintenance and inspection of power switchgears and the like.

【0003】このような、電流導体および接触部の抵抗
値は非常に低抵抗であることから、一般的に、従来より
4端子法(4線式とも呼ぶ)による抵抗測定方法が用い
られている。図4は従来用いられている一般的な、4端
子法による抵抗測定装置の原理を説明するための図であ
る。図4において、1は導体および導体接触部等の被測
定物、2は直流電源、3は定電流制御器、4はスイッ
チ、5は被測定物1の両端に生じる電位差を測定する電
圧計である。
[0003] Since the resistance values of the current conductor and the contact portion are extremely low, a resistance measurement method using a four-terminal method (also referred to as a four-wire method) has conventionally been used. . FIG. 4 is a diagram for explaining the principle of a generally used conventional four-terminal resistance measuring apparatus. In FIG. 4, reference numeral 1 denotes an object to be measured such as a conductor and a conductor contact portion, 2 denotes a DC power supply, 3 denotes a constant current controller, 4 denotes a switch, and 5 denotes a voltmeter for measuring a potential difference generated between both ends of the object to be measured 1. is there.

【0004】上記のように構成された抵抗測定装置の抵
抗測定方法について説明する。まず、この回路において
スイッチ4を閉じて、被測定物1に定電流を通電する。
次に、電圧計5が被測定物1の両端に生じる電位差を測
定する。そして、被測定物1に流れる電流をI、被測定
物1に生じる電位差をVとすると、オームの法則から
被測定物2の抵抗値Rは、R=V/Iとなる。
[0004] A resistance measuring method of the resistance measuring apparatus configured as described above will be described. First, in this circuit, the switch 4 is closed, and a constant current is applied to the device under test 1.
Next, the voltmeter 5 measures a potential difference generated at both ends of the DUT 1. When the potential difference of the current flowing through the DUT 1 I, the DUT 1 and V R, the resistance value R of the object 2 from Ohm's law becomes R = V R / I.

【0005】ここで電流Iが一定であれば、電位差V
は被測定物1の抵抗値Rに比例する。従って、電流Iを
所定値に設定して、電位差Vを測定することにより、
被測定物1の抵抗値Rを求めることができる。しかしな
がら、上記の従来例では、被測定物1に応じて測定用電
流を所定値に設定した上で、抵抗値を測定する必要があ
るため、定電流制御器3により測定電流を読み取りなが
ら調整する必要がある。そしてその被測定物1としての
導体あるいは導体接触部の状態によっては、通電するこ
とにより抵抗値が変動するため、電流Iを調整しなが
ら、かつ、安定したことを確認した上で値を読み取る必
要があった。
[0005] If here in the current I is constant, the potential difference V R
Is proportional to the resistance value R of the device under test 1. Therefore, by setting the current I to a predetermined value, by measuring the potential difference V R,
The resistance value R of the device under test 1 can be determined. However, in the above-described conventional example, it is necessary to set the measuring current to a predetermined value according to the DUT 1 and then measure the resistance value. There is a need. Depending on the state of the conductor or the conductor contact portion as the DUT 1, the resistance value changes when energized, so it is necessary to read the value while adjusting the current I and confirming that it is stable. was there.

【0006】このように、上記の従来例では測定電流の
読み取り、および、その調整作業が必要であり、同一の
被測定物1であっても、測定者の癖などのよって、測定
された抵抗値にばらつきが生じたり、測定ミスなどの恐
れがあった。
As described above, in the above-described conventional example, it is necessary to read the measured current and to adjust the measured current. Even with the same DUT 1, the resistance measured by the habit of the measurer or the like is required. There was a risk that the values would fluctuate or measurement errors would occur.

【0007】他の従来例として図5に特開平08−11
4634号公報に示された抵抗測定装置を示す。これ
は、上記の技術例の測定作業を自動化して、個人差によ
る測定値のばらつき、および、測定ミスの問題を解消
し、導体接触部の抵抗値を高い信頼性で測定できるよう
にしたものである。
As another conventional example, FIG.
1 shows a resistance measuring device disclosed in Japanese Patent No. 4634. This is to automate the measurement work of the above technical example, eliminate the dispersion of measured values due to individual differences, and the problem of measurement errors, so that the resistance value of the conductor contact part can be measured with high reliability. It is.

【0008】図5において、6は抵抗測定装置であり、
被測定物1の両端を電流ケーブル11a、11bおよび
電圧リード12a、12bを介して接続されている。7
は定電流電源で、可変定電流回路を含み、通電リレー
9、電流ケーブル11a、被測定物1、電流ケーブル1
1bを介して、被測定物1に一定の測定電流を通電す
る。8はA/D変換器で、被測定物1の両端に生じるア
ナログ電圧を入力して、デジタル信号に変換しコントロ
ーラ10に出力する。
In FIG. 5, reference numeral 6 denotes a resistance measuring device.
Both ends of the DUT 1 are connected via current cables 11a and 11b and voltage leads 12a and 12b. 7
Is a constant current power supply, includes a variable constant current circuit, and includes an energizing relay 9, a current cable 11a, a device under test 1, and a current cable 1.
A constant measurement current is supplied to the device under test 1 via 1b. Reference numeral 8 denotes an A / D converter, which receives an analog voltage generated at both ends of the DUT 1, converts the analog voltage into a digital signal, and outputs the digital signal to the controller 10.

【0009】コントローラ10は、図示しないがRO
M、RAM等のメモリ、データ入出力用のI/Oポー
ト、操作用スイッチ部、データ表示部等で構成されてお
り、ROMに予め書き込んだプログラムにより、測定作
業を自動化するとともに、各種所定の処理を実行する。
Although not shown, the controller 10 includes an RO
M, a memory such as a RAM, an I / O port for data input / output, an operation switch section, a data display section, and the like. Execute the process.

【0010】次に上記のように構成された従来の抵抗測
定装置の抵抗測定方法について説明する。まず、コント
ローラ10は、被測定物1への通電を開始してから一定
時間経過後に、被測定物1の両端に生じる電圧を、A/
D変換器8により一定時間に複数回測定し、その平均電
圧値を求めることにより、測定データの安定化を図って
いる。さらに、複数回測定した電圧値から異常な電圧値
を適度に棄却するために、コントローラ10は電圧値よ
り特異値を除いてから平均電圧値を求める。そして、被
測定物1に通電された電流Iとにて、被測定物1の抵抗
が求められる。このように測定作業の自動化とともに、
個人差による測定値のばらつきや読み間違いを防いでい
た。
Next, a description will be given of a method of measuring the resistance of the conventional resistance measuring apparatus configured as described above. First, the controller 10 sets a voltage generated across the DUT 1 to A / A after a predetermined time has elapsed since the start of energization of the DUT 1.
Measurement is performed a plurality of times by the D converter 8 at a fixed time, and the average voltage value is obtained, thereby stabilizing the measurement data. Further, in order to appropriately reject an abnormal voltage value from the voltage values measured a plurality of times, the controller 10 calculates an average voltage value after removing a singular value from the voltage value. Then, the resistance of the DUT 1 is obtained from the current I that has been applied to the DUT 1. In this way, along with automation of measurement work,
It prevented variations in readings and reading errors due to individual differences.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】従来の抵抗測定装置は
上記のように構成され、前者の4端子法を用いた低抵抗
の測定では、測定電流の読み取り、および、その調整作
業が必要であり、同一の被測定物1であっても、測定者
の癖によって、測定された抵抗値にばらつきが生じた
り、測定ミスの恐れがあった。
The conventional resistance measuring apparatus is constructed as described above. In the former case of measuring the low resistance using the four-terminal method, it is necessary to read a measured current and adjust the same. Also, even with the same DUT 1, there is a risk that the measured resistance value may fluctuate or a measurement error may occur due to the habit of the measurer.

【0012】後者の従来の測定方法では、通電を開始し
てから一定時間経過後、さらに一定時間に複数回測定
し、その平均電圧値を求めており、測定において長時間
を要するという問題点があった。また、測定対象とし
て、電力用開閉機器等の電流導体の場合には、大電流を
流す必要からどうしても大型となり、測定回路、および
装置などについても大規模となるという問題点があっ
た。
In the latter conventional measuring method, after a certain period of time has elapsed from the start of energization, measurement is further performed a plurality of times during a certain period of time, and the average voltage value is obtained. there were. Further, in the case of a current conductor such as a power switchgear as a measurement target, there is a problem that a large current is inevitably increased due to the necessity of flowing a large current, and a measurement circuit and a device are also increased in scale.

【0013】しかし、大電流導体の場合、その抵抗値は
非常に小さくなることから、被測定物の両端に生じる電
圧は小さく、熱起電力等による誤差の影響を抑えるに
は、大電流の直流電源を用いなければ測定精度が悪くな
る。また、測定電流を徐々に上昇させなければ、大規模
な測定回路上に発生するインダクタンス電圧により測定
誤差が生じるとともに、測定時間がさらに長時間になる
という問題点があった。
However, in the case of a large current conductor, the resistance value is very small, so the voltage generated at both ends of the DUT is small. If no power supply is used, the measurement accuracy will deteriorate. Further, unless the measurement current is gradually increased, there is a problem that a measurement error occurs due to an inductance voltage generated on a large-scale measurement circuit, and a measurement time becomes longer.

【0014】この発明は、上記のような問題点を解消す
るためになされたもので、測定の自動化による測定作業
の簡素化のみならず、測定時間の短縮、かつ、高精度化
を図るとともに、装置の小型化、低消費電力化が可能な
抵抗測定装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and not only simplifies the measurement work by automating the measurement, but also shortens the measurement time and improves the accuracy. It is an object of the present invention to provide a resistance measuring device capable of reducing the size and power consumption of the device.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】この発明に係る請求項1
の抵抗測定装置は、インダクタンス分を含む被測定物に
被測定物の両端子間から電流を流すための電源回路と、
被測定物の両端子間の電圧を測定する電圧測定回路と、
被測定物に流入する電流を測定する電流測定回路と、電
圧測定回路にて測定した電圧値を電流測定回路にて測定
した電流値で除算して抵抗値を算出する抵抗算出回路と
を備えた抵抗測定装置において、電源回路は、時間に対
して電流変化が零となる点を含む波形の電流を被測定物
に通電させ、抵抗算出回路は、時間に対して電流変化が
零となるタイミングにおける電圧値および電流値から被
測定物の抵抗値を算出するものである。
Means for Solving the Problems Claim 1 according to the present invention.
A resistance measuring device, a power supply circuit for flowing current from both terminals of the device under test including an inductance component,
A voltage measuring circuit for measuring a voltage between both terminals of the device under test,
A current measurement circuit for measuring a current flowing into the device under test; and a resistance calculation circuit for calculating a resistance value by dividing a voltage value measured by the voltage measurement circuit by a current value measured by the current measurement circuit. In the resistance measuring device, the power supply circuit supplies a current having a waveform including a point at which the current change becomes zero with respect to time to the device under test. The resistance value of the device under test is calculated from the voltage value and the current value.

【0016】また、この発明に係る請求項2の抵抗測定
装置は、請求項1において、電源回路は、コンデンサ
と、コンデンサを充電する充電回路と、被測定物へ電流
を流すためのスイッチとから成り、電源回路は、スイッ
チを閉じて被測定物にコンデンサの電荷を放電させるこ
とにより、時間に対して電流変化が零となる点を含む波
形の電流を通電させるものである。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, the power supply circuit includes a capacitor, a charging circuit for charging the capacitor, and a switch for flowing a current to the device under test. The power supply circuit closes a switch and discharges an electric charge of a capacitor to a device under test, thereby supplying a current having a waveform including a point where a current change becomes zero with respect to time.

【0017】また、この発明に係る請求項3の抵抗測定
装置は、請求項1または請求項2において、電流測定回
路は、測定した電流値を微分して、時間に対して電流変
化が零となる点を求め、このタイミングにて電流値と電
圧値とを検出することを指示する測定指令信号を作成す
るものである。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a resistance measuring apparatus according to the first or second aspect, wherein the current measuring circuit differentiates the measured current value so that a current change with respect to time becomes zero. A certain point is obtained, and a measurement command signal for instructing detection of the current value and the voltage value at this timing is created.

【0018】また、この発明に係る請求項4の抵抗測定
装置は、請求項1ないし請求項3のいずれかにおいて、
電圧測定回路と、電流測定回路とは、それぞれアナログ
/デジタル変換器を備え、電圧信号と電流信号とはそれ
ぞれ同一のタイミングで連続的に変換しながら測定し、
抵抗算出回路は、時間に対して電流変化が零となるタイ
ミングにおける、デジタル信号に変換された電流値およ
びデジタル信号に変換された電圧値から抵抗値を算出す
るものである。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a resistance measuring apparatus according to any one of the first to third aspects.
The voltage measurement circuit and the current measurement circuit each include an analog / digital converter, and measure while continuously converting the voltage signal and the current signal at the same timing, respectively.
The resistance calculation circuit calculates a resistance value from a current value converted into a digital signal and a voltage value converted into a digital signal at a timing when a current change with respect to time becomes zero.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】実施の形態1.図1は、この発明
の実施の形態1である抵抗測定装置の構成を示すブロッ
ク図、図2は、図1に示した抵抗測定装置における、測
定原理としての等価回路を示した図、図3は、抵抗測定
時の電流波形および電圧波形を示すための波形模式図で
ある。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a resistance measuring device according to Embodiment 1 of the present invention. FIG. 2 is a diagram showing an equivalent circuit as a measuring principle in the resistance measuring device shown in FIG. FIG. 4 is a schematic waveform diagram showing a current waveform and a voltage waveform during resistance measurement.

【0020】図において、100は導体および導体接触
部等のインダクタンスL分を含む被測定物、19は抵
抗測定用の電源回路を構成するコンデンサ、18はこの
コンデンサ19の充電回路、23はこの充電回路18に
接続された直流電源で、充電回路18を経由して、コン
デンサ19に電荷を充電させるものである。20は電流
波形制御回路で、図2のスイッチ16、および通電電流
iを検出する電流測定回路の一部としての電流センサか
ら成る。なお、スイッチ16はオンオフ時のサージノイ
ズを防ぐため、半導体によるスイッチ素子を用いてい
る。
[0020] In Figure, 100 is the object to be measured comprising 2 minutes inductance L of such conductors and the conductor contact portion, the capacitor 19 constituting the power supply circuit for resistance measurements, the 18 charging circuit of the capacitor 19, the 23 the A DC power supply connected to the charging circuit 18 charges the capacitor 19 via the charging circuit 18. Reference numeral 20 denotes a current waveform control circuit, which includes the switch 16 shown in FIG. 2 and a current sensor as a part of a current measurement circuit for detecting a flowing current i. The switch 16 uses a semiconductor switch element in order to prevent surge noise at the time of on / off.

【0021】21は測定回路で、被測定物100の電圧
値を測定する電圧測定回路を備えている。また、2組の
A/D変換器とメモリ回路とで構成しており、電流波形
制御回路20で検出したアナログの電流信号をA/D変
換器によりデジタル信号に変換する。そして、被測定物
100から得られるアナログの電圧信号を他方のA/D
変換器によりデジタル信号に変換する。そして、電流波
形制御回路20で検出した電流信号のピーク値を求め、
そのピーク値の前後の電流デジタル信号および電圧デジ
タル信号をメモリ回路に記憶する。
A measuring circuit 21 has a voltage measuring circuit for measuring a voltage value of the device under test 100. Further, it is composed of two sets of A / D converters and a memory circuit, and converts an analog current signal detected by the current waveform control circuit 20 into a digital signal by the A / D converter. Then, the analog voltage signal obtained from the device under test 100 is converted to the other A / D signal.
The signal is converted into a digital signal by a converter. Then, the peak value of the current signal detected by the current waveform control circuit 20 is obtained,
The current digital signal and the voltage digital signal before and after the peak value are stored in the memory circuit.

【0022】22はコントローラであり、図示しない
が、測定のための各種シーケンス制御機能を持つととも
に、電流のピーク値演算とピーク値のタイミングとを求
める。さらに、そのタイミングの電圧値を電流値で除算
して抵抗値を算出する抵抗算出回路を備えている。ま
た、測定指示を行うための測定指示部と、測定結果を表
示するための表示部とで構成されている。なお、被測定
物100は電流ケーブル線により電流波形制御回路20
と、電圧リード線により測定回路21とに、それぞれ接
続されている。
Reference numeral 22 denotes a controller (not shown), which has various sequence control functions for measurement, and calculates the peak value of the current and the timing of the peak value. Further, a resistance calculation circuit is provided for calculating the resistance value by dividing the voltage value at the timing by the current value. Further, it comprises a measurement instructing unit for giving a measurement instruction and a display unit for displaying a measurement result. The device under test 100 is connected to the current waveform control circuit 20 by a current cable line.
And the measuring circuit 21 via a voltage lead.

【0023】次いで、上記のように構成された実施の形
態1の抵抗測定装置の抵抗測定方法について説明する。
先ず、コントローラ22の測定指示部の操作で測定開始
指令を与える。次に、コントローラ22から直流電源2
3に接続された充電回路18を制御し、コンデンサ19
に所定の電流が流れ出る電圧に充電する。
Next, a method of measuring the resistance of the resistance measuring apparatus according to the first embodiment configured as described above will be described.
First, a measurement start command is given by operating the measurement instruction section of the controller 22. Next, the DC power supply 2
Control the charging circuit 18 connected to the
To a voltage at which a predetermined current flows.

【0024】次に、コンデンサ19の充電が完了する
と、コントローラ22は電流波形制御回路20に設置さ
れているスイッチ16をオンにする。次に、スイッチ1
6がオンすると、コンデンサ19に充電されていた電荷
が、電流ケーブル線で接続されている被測定物100に
放電される。
Next, when the charging of the capacitor 19 is completed, the controller 22 turns on the switch 16 provided in the current waveform control circuit 20. Next, switch 1
When the switch 6 is turned on, the charge stored in the capacitor 19 is discharged to the device under test 100 connected by the current cable.

【0025】次に、放電された電流波形は図3の如くな
り、電流波形制御回路20に設置されている電流センサ
により、通電電流iを検出し、次段の測定回路21へ送
出する。また、電流波形制御回路20は、電流センサに
より通電電流iを検出し、この通電電流iが所定の電流
値に到達すると、データ取り込みのタイミング信号とし
て次段の測定回路21へ送出する。
Next, the waveform of the discharged current is as shown in FIG. 3, and the current sensor i provided in the current waveform control circuit 20 detects the supplied current i and sends it to the measurement circuit 21 at the next stage. In addition, the current waveform control circuit 20 detects the energizing current i by the current sensor, and when the energizing current i reaches a predetermined current value, sends the data as a data acquisition timing signal to the next-stage measurement circuit 21.

【0026】次に、測定した通電電流iのアナログ電流
信号と被測定物100の端子間のアナログ電圧信号と
は、測定回路21に設置されている2組のA/D変換器
により、電流波形制御回路20からのタイミング信号の
着信に同期して、同一タイミングでそれぞれデジタルデ
ータ信号に変換する。そして、測定回路21内のメモリ
回路に所定サンプル数を取り込み、所定サンプル数の取
り込みが完了すると、メモリ回路内の測定データは、測
定回路21からコントローラ22に送られる。
Next, the analog current signal of the measured conduction current i and the analog voltage signal between the terminals of the device under test 100 are converted into current waveforms by two sets of A / D converters installed in the measurement circuit 21. In synchronization with the arrival of the timing signal from the control circuit 20, the digital signal is converted into a digital data signal at the same timing. Then, a predetermined number of samples is fetched into the memory circuit in the measuring circuit 21, and when the fetching of the predetermined number of samples is completed, the measurement data in the memory circuit is sent from the measuring circuit 21 to the controller 22.

【0027】次に、コントローラ22は、電流値の測定
データ(図3(a))からピーク値(即ち、通電電流i
を連続的に微分して得られたデータから、時間に対して
電流変化が零となる点、ここではtの点となる)を求
める。次に、電圧値の測定データ(図3(b))からピ
ーク値の時間に関して、同一タイミング(即ち、t
ポイント)で取り込んだ電圧値を求め、抵抗値=電圧値
/電流値の計算から、被測定物100の抵抗値Rを求
めている。そして、抵抗値Rは、コントローラ22の
表示部に測定結果として表示される。
Next, the controller 22 calculates the peak value (ie, the current i) from the measured data of the current value (FIG. 3A).
From continuous differentiation on the data obtained, that the current change is zero with respect to time, where the point t 0) determined. Next, with respect to time of the peak values from the measured data (FIG. 3 (b)) of the voltage value, the same timing (i.e., t 0 point) determined the voltage value taken in the calculation of the resistance value = voltage / current from seeking the resistance R 2 of the object to be measured 100. Then, the resistance value R 2 is displayed as a measurement result on the display unit of the controller 22.

【0028】次に、上記に示した抵抗測定装置の測定原
理について図2、および、図3に基づいて説明する。図
2において、被測定物100は、インダクタンスL
含む直流抵抗Rとして示す。Cはコンデンサ19の容
量、iはスイッチ16を閉じてコンデンサ19を放電さ
せることにより発生される通電電流である。
Next, the measurement principle of the resistance measuring apparatus described above will be described with reference to FIGS. 2 and 3. 2, the object to be measured 100 are expressed as DC resistance R 2 which includes an inductance L 2. C is the capacitance of the capacitor 19, and i is the current flowing when the switch 16 is closed and the capacitor 19 is discharged.

【0029】インダクタンスLと抵抗Rとは、測定
回路上に分布するL、R成分と抵抗測定時に測定し易い
ピーク値を得るための電流波形制御回路20の電流波形
調整用のL、R成分とを含んで示している。原理として
は、上記にて示したように、予めコンデンサ19を充電
回路18により充電しておく。そして、スイッチ16を
閉じることにより、通電電流iが被測定物100と、イ
ンダクタンスLと、抵抗Rとを経由して流れる。
The inductance L 1 and the resistance R 1 is, L to be distributed on the measurement circuit, L for the current waveform adjustment of the current waveform control circuit 20 for obtaining the easy peak value measured at resistance measurement and R components, R And components. In principle, as described above, the capacitor 19 is charged by the charging circuit 18 in advance. Then, by closing the switch 16, electric current i is the measured object 100, flows through the inductance L 1, and a resistor R 1.

【0030】次いで、通電電流iは、閉回路上の被測定
物100のインダクタンスL、抵抗Rにおいて、ピ
ーク値を持つ電流が流れる。そして、通電電流iのピー
ク値を検出し、そのときの電流値と被測定物100のイ
ンダクタンスL、抵抗Rの電圧降下vを測定する。
次に、通電電流iから、被測定物100の直流の抵抗R
の値をR=v/i(後述の計算式)で求めるもので
ある。
Next, a current having a peak value flows in the inductance L 2 and the resistance R 2 of the DUT 100 on the closed circuit as the conduction current i. Then, the peak value of the conduction current i is detected, and the current value and the inductance L 2 of the device under test 100 and the voltage drop v of the resistor R 2 are measured.
Next, the DC resistance R of the device under test 100 is calculated from the supplied current i.
The value of 2 is obtained by R 2 = v / i (calculation formula described later).

【0031】図2より、以下の計算式が成立する。 L=L+L、 R=R+R とすると、 Ri+Ldi/dt+vc=0 ・・・(1) i−C(dvc/dt)=0 ・・・(2) Ldi/dt+Ri=v ・・・(3) コンデンサ19の容量Cはt=0でvc=Eに充電さ
れている。求める抵抗はRであり、通電電流iと電圧
降下vとを測定して求める。このとき、通電してからd
i/dt=0となる時間がtのとき、R=v/iと
なり、誤差が零となる。
From FIG. 2, the following formula is established. Assuming that L = L 1 + L 2 and R = R 1 + R 2 , Ri + Ldi / dt + vc = 0 (1) i−C (dvc / dt) = 0 (2) L 2 di / dt + R 2 i = v capacitance C of (3) the capacitor 19 is charged to vc = E 0 at t = 0. Obtaining resistance is R 2, determined by measuring the electric current i and the voltage drop v. At this time, d
When i / dt = 0 and becomes time is t 0, R 2 = v / i , and the error becomes zero.

【0032】具体的には、スイッチ16を閉じ、充電が
完了しているコンデンサ15の容量Cの電荷を被測定物
1に放電させると、図3に示すように測定回路上のC、
L、Rの定数による放電時定数を持った電流波形が得ら
れる。この電流波形上において、時間に対して被測定物
100に流れる電流変化が零のとき(即ち電流がピーク
値のとき)が、インダクタンスLによる誘起電圧の影響
がないポイントとなる。
More specifically, when the switch 16 is closed and the charge of the capacitance C of the capacitor 15 that has been charged is discharged to the device under test 1, C and C on the measurement circuit are changed as shown in FIG.
A current waveform having a discharge time constant according to the constants of L and R is obtained. On this current waveform, when the change in the current flowing through the device under test 100 with respect to time is zero (that is, when the current has a peak value), this is a point where the inductance L does not affect the induced voltage.

【0033】従って、di/dt=0を持つ電流波形
(インダクタンスLと抵抗Rとで最適値に調整)を
発生させることにより、被測定物100に流れる電流の
ピーク値と、そのときの電圧値とを求めれば抵抗値は誤
差なく測定できることになるとともに、極めて短時間で
低抵抗の測定を行うことが可能となる。また、コンデン
サを測定用電源としており、測定電流の通電時間が短い
ため、電流ケーブルを含め、装置の小型化に貢献してい
る。
[0033] Therefore, by generating the current waveform (adjusted to the optimum value in the inductance L 1 and a resistance R 1) having a di / dt = 0, and the peak value of the current flowing through the object to be measured 100, at that time If the voltage value is obtained, the resistance value can be measured without error, and the measurement of low resistance can be performed in a very short time. In addition, since a capacitor is used as a power supply for the measurement, and the current supply time of the measurement current is short, it contributes to miniaturization of the apparatus including the current cable.

【0034】以上のように、この発明の実施の形態1の
抵抗測定装置によれば、電力用開閉機器等の電流導体の
ように、インダクタンスを含んだ低抵抗の被測定物であ
っても、測定用の電源回路として、コンデンサとその充
電回路とを備え、さらに、被測定物へ電流を流すための
スイッチを構成して、コンデンサの放電時に、di/d
t=0を持つ電流波形(インダクタンスLと抵抗R
とで最適値に調整)を発生させ、被測定物に流れる電流
のピーク値と、そのときの電圧値とを求めることによ
り、被測定物の抵抗値の測定の高精度化が図れるととも
に、極めて短時間にて測定を行うことが可能となる。
As described above, according to the resistance measuring apparatus of the first embodiment of the present invention, even if the object to be measured has a low resistance including inductance, such as a current conductor of a power switchgear, etc. As a power supply circuit for measurement, a capacitor and a charging circuit for the capacitor are provided. Further, a switch for flowing a current to an object to be measured is formed, and when the capacitor is discharged, di / d
Current waveform having t = 0 (inductance L 1 and resistance R 1
By adjusting the peak value of the current flowing through the device under test and the voltage value at that time, the measurement of the resistance value of the device under test can be performed with high accuracy. Measurement can be performed in a short time.

【0035】また、前述したように、コンデンサを測定
用電源としており、測定電流の通電時間が短いため、大
容量の電源が不要で、電流ケーブルを含め、装置の小型
化、低消費電力化に貢献できる。また、抵抗値の測定を
自動化しており、測定の簡素化を図っていることはいう
までもない。
As described above, since the capacitor is used as the power supply for measurement, and the current supply time of the measurement current is short, a large-capacity power supply is not required, and the apparatus including the current cable can be reduced in size and power consumption can be reduced. Can contribute. Needless to say, the measurement of the resistance value is automated, and the measurement is simplified.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上のように、この発明の請求項1によ
れば、インダクタンス分を含む被測定物に被測定物の両
端子間から電流を流すための電源回路と、被測定物の両
端子間の電圧を測定する電圧測定回路と、被測定物に流
入する電流を測定する電流測定回路と、電圧測定回路に
て測定した電圧値を電流測定回路にて測定した電流値で
除算して抵抗値を算出する抵抗算出回路とを備えた抵抗
測定装置において、電源回路は、時間に対して電流変化
が零となる点を含む波形の電流を被測定物に通電させ、
抵抗算出回路は、時間に対して電流変化が零となるタイ
ミングにおける電圧値および電流値から被測定物の抵抗
値を算出するので、測定時間を短縮し、装置を小型化
し、消費電力を低減し、かつ、高精度にて被測定物の抵
抗を測定することができる抵抗測定装置を提供すること
が可能となる。
As described above, according to the first aspect of the present invention, a power supply circuit for flowing a current to a device under test including an inductance from both terminals of the device under test, and both ends of the device under test Divide the voltage value measured by the voltage measurement circuit by the voltage measurement circuit that measures the voltage between the terminals, the current measurement circuit that measures the current flowing into the device under test, and the current value measured by the current measurement circuit. In a resistance measurement device including a resistance calculation circuit that calculates a resistance value, the power supply circuit passes a current having a waveform including a point where a current change with respect to time becomes zero to the device under test,
The resistance calculation circuit calculates the resistance value of the device under test from the voltage value and the current value at the time when the current change with respect to time becomes zero, so that the measurement time is reduced, the device is reduced in size, and power consumption is reduced. In addition, it is possible to provide a resistance measuring device that can measure the resistance of the device under test with high accuracy.

【0037】また、この発明の請求項2によれば、請求
項1において、電源回路は、コンデンサと、コンデンサ
を充電する充電回路と、被測定物へ電流を流すためのス
イッチとから成り、電源回路は、スイッチを閉じて被測
定物にコンデンサの電荷を放電させることにより、時間
に対して電流変化が零となる点を含む波形の電流を通電
させるので、時間に対して電流変化が零と成る点を含む
波形の電流を被測定物に容易に通電されることができる
抵抗測定装置を提供することが可能となる。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, the power supply circuit comprises a capacitor, a charging circuit for charging the capacitor, and a switch for flowing a current to the device under test. The circuit closes the switch and discharges the charge of the capacitor to the device under test, so that a current having a waveform including a point where the current change becomes zero with respect to time is supplied. It is possible to provide a resistance measuring device capable of easily supplying a current having a waveform including a point to the device under test.

【0038】また、この発明の請求項3によれば、請求
項1または請求項2において、電流測定回路は、測定し
た電流値を微分して、時間に対して電流変化が零となる
点を求め、このタイミングにて電流値と電圧値とを検出
することを指示する測定指令信号を作成するので、確実
に時間に対して電流変化が零となる点を求めて測定する
ことができる抵抗測定装置を提供することが可能とな
る。
According to a third aspect of the present invention, in the first or second aspect, the current measuring circuit differentiates the measured current value to determine a point where the current change with respect to time becomes zero. Since a measurement command signal that instructs to detect the current value and the voltage value at this timing is created, a resistance measurement that can reliably determine and measure a point where the current change becomes zero with respect to time is obtained. A device can be provided.

【0039】また、この発明の請求項4によれば、請求
項1ないし請求項3のいずれかにおいて、電圧測定回路
と、電流測定回路とは、それぞれアナログ/デジタル変
換器を備え、電圧信号と電流信号とはそれぞれ同一のタ
イミングで連続的に変換しながら測定し、抵抗算出回路
は、時間に対して電流変化が零となるタイミングにおけ
る、デジタル信号に変換された電流値およびデジタル信
号に変換された電圧値から抵抗値を算出するので、抵抗
を高精度にて測定することができる抵抗測定装置を提供
することが可能となる。
According to a fourth aspect of the present invention, in any one of the first to third aspects, the voltage measurement circuit and the current measurement circuit each include an analog / digital converter, and include a voltage signal and a voltage signal. The current signal is measured while being continuously converted at the same timing, and the resistance calculation circuit converts the current value into a digital signal and the digital signal at the timing when the current change becomes zero with respect to time. Since the resistance value is calculated from the measured voltage value, it is possible to provide a resistance measuring device capable of measuring the resistance with high accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 実施の形態1の低抵抗測定装置の構成を示す
ブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a low-resistance measuring device according to a first embodiment.

【図2】 図1の測定原理としての等価回路を示す図で
ある。
FIG. 2 is a diagram showing an equivalent circuit as a measurement principle of FIG.

【図3】 図2における抵抗測定時の、電流波形および
電圧波形をそれぞれ示す模式図である。
FIG. 3 is a schematic diagram showing a current waveform and a voltage waveform at the time of resistance measurement in FIG. 2;

【図4】 4端子法による従来の実施例による抵抗測定
の原理図である。
FIG. 4 is a principle diagram of resistance measurement according to a conventional example using a four-terminal method.

【図5】 従来の実施例の抵抗測定装置を示すブロック
図である。
FIG. 5 is a block diagram showing a resistance measuring apparatus according to a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

16 スイッチ、18 充電回路、19 コンデンサ、
20 電流波形制御回路、21 測定回路、22 コン
トローラ、23 直流電源、100 被測定物。
16 switches, 18 charging circuits, 19 capacitors,
Reference Signs List 20 current waveform control circuit, 21 measurement circuit, 22 controller, 23 DC power supply, 100 DUT.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 インダクタンス分を含む被測定物に上記
被測定物の両端子間から電流を流すための電源回路と、
上記被測定物の両端子間の電圧を測定する電圧測定回路
と、上記被測定物に流入する電流を測定する電流測定回
路と、上記電圧測定回路にて測定した電圧値を上記電流
測定回路にて測定した電流値で除算して抵抗値を算出す
る抵抗算出回路とを備えた抵抗測定装置において、上記
電源回路は、時間に対して電流変化が零となる点を含む
波形の電流を上記被測定物に通電させ、上記抵抗算出回
路は、上記時間に対して電流変化が零となるタイミング
における電圧値および電流値から上記被測定物の抵抗値
を算出することを特徴とする抵抗測定装置。
A power supply circuit for flowing a current to an object to be measured including an inductance from both terminals of the object to be measured;
A voltage measurement circuit that measures a voltage between both terminals of the device under test, a current measurement circuit that measures a current flowing into the device under test, and a voltage value measured by the voltage measurement circuit to the current measurement circuit. And a resistance calculating circuit for calculating a resistance value by dividing the current value by the measured current value, wherein the power supply circuit receives the current having a waveform including a point at which the current change becomes zero with respect to time. A resistance measuring apparatus, wherein a current is supplied to a measured object, and the resistance calculating circuit calculates a resistance value of the measured object from a voltage value and a current value at a timing when a current change becomes zero with respect to the time.
【請求項2】 電源回路は、コンデンサと、上記コンデ
ンサを充電する充電回路と、被測定物へ電流を流すため
のスイッチとから成り、上記電源回路は、上記スイッチ
を閉じて上記被測定物に上記コンデンサの電荷を放電さ
せることにより、時間に対して電流変化が零となる点を
含む波形の電流を通電させることを特徴とする請求項1
に記載の抵抗測定装置。
2. The power supply circuit includes a capacitor, a charging circuit for charging the capacitor, and a switch for flowing a current to the device under test. The power supply circuit closes the switch to connect to the device under test. 2. A current having a waveform including a point at which a change in current with respect to time becomes zero is discharged by discharging the electric charge of the capacitor.
3. The resistance measuring device according to 1.
【請求項3】 電流測定回路は、測定した電流値を微分
して、時間に対して電流変化が零となる点を求め、この
タイミングにて電流値と電圧値とを検出することを指示
する測定指令信号を作成することを特徴とする請求項1
または請求項2に記載の抵抗測定装置。
3. The current measurement circuit differentiates the measured current value to find a point where the current change becomes zero with respect to time, and instructs to detect the current value and the voltage value at this timing. 2. A measurement command signal is generated.
Or the resistance measuring device according to claim 2.
【請求項4】 電圧測定回路と、電流測定回路とは、そ
れぞれアナログ/デジタル変換器を備え、電圧信号と電
流信号とはそれぞれ同一のタイミングで連続的に変換し
ながら測定し、抵抗算出回路は、時間に対して電流変化
が零となるタイミングにおける、デジタル信号に変換さ
れた電流値およびデジタル信号に変換された電圧値から
抵抗値を算出することを特徴とする請求項1ないし請求
項3のいずれかに記載の抵抗測定装置。
4. The voltage measuring circuit and the current measuring circuit each include an analog / digital converter, and measure while continuously converting the voltage signal and the current signal at the same timing, respectively. 4. A resistance value is calculated from a current value converted into a digital signal and a voltage value converted into a digital signal at a timing when a current change with respect to time becomes zero. The resistance measuring device according to any one of the above.
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