JP2002222742A - Method of manufacturing electrolytic capacitor - Google Patents

Method of manufacturing electrolytic capacitor

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JP2002222742A JP2001017223A JP2001017223A JP2002222742A JP 2002222742 A JP2002222742 A JP 2002222742A JP 2001017223 A JP2001017223 A JP 2001017223A JP 2001017223 A JP2001017223 A JP 2001017223A JP 2002222742 A JP2002222742 A JP 2002222742A
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dielectric layer
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porous conductor
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Shinji Nakamura
伸二 中村
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of manufacturing electrolytic capacitor by which dielectric layers can be formed advantageously in both cost and working efficiency. SOLUTION: In this method of manufacturing an electrolytic capacitor 1 in which the dielectric layers 3 are formed in the respective pores 20 of a porous conductor 2, sol-gel treatment which is performed for forming metal oxide layers by gelling a sol of a metal hydroxide by dehydrating the sol after the sol is impregnated in the conductor 2, and heat-treating the obtained gel is included in a step of forming the dielectric layers 3. Preferably, the dielectric layers 3 are formed by performing anodic oxidization on the conductor 2 after the sol-gel treatment. It is preferable to perform the dehydrating treatment and heat treatment in the same step by heating the porous conductor 2 impregnated with the sol for 0.5-2 hours at a temperature of 100-200 deg.C.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本願発明は、多孔質導体にお
ける各孔内に、誘電体層が形成された電解質コンデンサ
を製造する方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing an electrolytic capacitor in which a dielectric layer is formed in each hole of a porous conductor.

【0002】[0002]

【従来の技術】電解質コンデンサとしては、たとえば図
1に示したような固体電解質コンデンサがある。この図
に示した固体電解質コンデンサ1では、タンタルなどの
金属粉末の圧縮成形体を焼結して得られる多孔質焼結体
2の各孔20内に、たとえばTa25の誘電体層3およ
びMnO2の固体電解質層4が形成されている。多孔質
焼結体2に対しては、陽極としての金属ワイヤ5の一端
部が埋設されて一体化され、多孔質焼結体2の見かけ表
面にはバッファ層6および陰極としての金属層7が形成
されている。
2. Description of the Related Art As an electrolyte capacitor, for example, there is a solid electrolyte capacitor as shown in FIG. In the solid electrolyte capacitor 1 shown in this figure, a dielectric layer 3 of, for example, Ta 2 O 5 is provided in each hole 20 of a porous sintered body 2 obtained by sintering a compact of a metal powder such as tantalum. And a solid electrolyte layer 4 of MnO 2 . One end of a metal wire 5 as an anode is buried and integrated with the porous sintered body 2, and a buffer layer 6 and a metal layer 7 as a cathode are formed on the apparent surface of the porous sintered body 2. Is formed.

【0003】このようなコンデンサ1の誘電体層3は、
通常、多孔質焼結体2を陽極酸化(化成)することによ
り形成される。より具体的には、図2に示したように、
金属容器80内に保持されたリン酸溶液(0.01〜1
%)内に、SUSバー81を介して支持した状態で多孔
質焼結体2を浸漬し、多孔質焼結体2と金属容器80と
の間を通電して、多孔質焼結体2の各孔20の内表面に
酸化膜を形成することにより設けられている。
[0003] The dielectric layer 3 of such a capacitor 1 comprises:
Usually, the porous sintered body 2 is formed by anodizing (chemical formation). More specifically, as shown in FIG.
The phosphoric acid solution (0.01 to 1) held in the metal container 80
%), The porous sintered body 2 is immersed in a state where the porous sintered body 2 is supported via the SUS bar 81, and a current is passed between the porous sintered body 2 and the metal container 80. It is provided by forming an oxide film on the inner surface of each hole 20.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】多孔質焼結体2には、
図3に示したように電圧値が所定の値となるまでは一定
電流が流され、その後は一定電圧が印加される。そのた
め、誘電体層(酸化膜)3の成長に伴って抵抗値が大き
くなり、多孔質焼結体2に流れる電流が経時的に小さく
なっていく。したがって、陽極酸化(化成)により誘電
体層3を成長させる方法では、経時的に誘電体層3の成
長速度が小さくなるため、目的とする誘電率を有する誘
電体層3を得るのに長時間、たとえば10時間以上も要
してしまいかねず、コスト的にも作業効率的にも不利な
方法である。
The porous sintered body 2 includes:
As shown in FIG. 3, a constant current is applied until the voltage value reaches a predetermined value, and thereafter a constant voltage is applied. Therefore, the resistance value increases as the dielectric layer (oxide film) 3 grows, and the current flowing through the porous sintered body 2 decreases with time. Therefore, in the method of growing the dielectric layer 3 by anodic oxidation (chemical formation), the growth rate of the dielectric layer 3 decreases over time, so that it takes a long time to obtain the dielectric layer 3 having the desired dielectric constant. For example, it may take 10 hours or more, which is disadvantageous in terms of cost and work efficiency.

【0005】本願発明は、このような事情のもとに考え
だされたものであって、コスト的にも作業効率的に有利
に誘電体層を形成することができる電解質コンデンサの
製造方法を提供することをその課題としている。
The present invention has been conceived under such circumstances, and provides a method of manufacturing an electrolytic capacitor capable of forming a dielectric layer advantageously in terms of cost and work efficiency. Is the task.

【0006】[0006]

【発明の開示】本願発明では、上記した課題を解決すべ
く、次の技術的手段を講じている。すなわち、本願発明
により提供される電解質コンデンサの製造方法は、多孔
質導体における各孔内に、誘電体層が形成された電解質
コンデンサを製造する方法であって、上記誘電体層の形
成工程は、金属水酸化物のゾルを上記多孔質導体に含浸
した後に、脱水処理を行ってゲル化し、このゲルを加熱
処理して金属酸化物層を生成させるゾル−ゲル処理を含
んでいることを特徴としている。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention employs the following technical means to solve the above-mentioned problems. That is, the method for manufacturing an electrolyte capacitor provided by the present invention is a method for manufacturing an electrolyte capacitor in which a dielectric layer is formed in each hole in a porous conductor, and the step of forming the dielectric layer includes: After impregnating the porous conductor with a sol of a metal hydroxide, the porous conductor is subjected to a dehydration treatment to form a gel, and the gel is subjected to a heat treatment to form a metal oxide layer. I have.

【0007】ゾル−ゲル処理は、多孔質導体に対するゾ
ルの含浸、ゾルのゲル化、およびゲルの加熱の各処理か
らなる。これらの処理においては、陽極酸化のように多
孔質導体に通電する必要がないから、誘電体層の電気的
な抵抗が誘電体層の形成時間に影響を与えることはな
い。その一方、ゾルの含浸、ゾルのゲル化、およびゲル
の加熱の各処理の合計時間は、たかだか数時間程度であ
り、目的とする誘電率を達成すべく、ゾル−ゲル処理を
繰り返し行ったとしても、陽極酸化に比べて作業効率が
よい。
[0007] The sol-gel treatment comprises the treatment of impregnating the porous conductor with the sol, gelling the sol, and heating the gel. In these processes, it is not necessary to energize the porous conductor as in anodic oxidation, so that the electric resistance of the dielectric layer does not affect the formation time of the dielectric layer. On the other hand, the total time of each treatment of sol impregnation, gelation of the sol, and heating of the gel is at most about several hours, and in order to achieve the desired dielectric constant, it is assumed that the sol-gel treatment is repeated. Also, the working efficiency is better than that of anodic oxidation.

【0008】上記誘電体層は、ゾル−ゲル処理のみによ
り形成してもよいが、ゾル−ゲル処理を行った後にさら
に、多孔質導体の陽極酸化を行って形成してもよい。陽
極酸化では、誘電体層を成長させるのに長時間を要する
が、それを逆手にとれば膜厚の微細な制御が可能とな
る。つまり、誘電体層の形成工程における最終段階を陽
極酸化により行うようにすれば、ゾル−ゲル処理により
目的値に対して大まかに膜厚を近づけてから、陽極酸化
により膜厚を徐々に目的値に近づけることができ、誘電
率の緻密な制御が可能となる。
The dielectric layer may be formed only by the sol-gel processing, or may be formed by performing the sol-gel processing and then performing the anodic oxidation of the porous conductor. In anodic oxidation, it takes a long time to grow a dielectric layer, but if it is used in reverse, fine control of the film thickness becomes possible. In other words, if the final step in the process of forming the dielectric layer is performed by anodic oxidation, the film thickness is roughly brought closer to the target value by sol-gel treatment, and then the film thickness is gradually reduced to the target value by anodic oxidation. , And precise control of the dielectric constant becomes possible.

【0009】脱水処理および加熱処理は、それぞれ別工
程で行ってもよいが、これらの処理は同一工程で行うの
が好ましい。その場合には、ゾルを含浸した多孔質導体
を、たとえば100〜200℃で0.5〜2時間加熱す
ればよい。脱水処理と加熱処理とを同一工程において行
えば、誘電体層を形成するのに要する時間をさらに短縮
することができるようになる。
Although the dehydration treatment and the heat treatment may be performed in separate steps, these treatments are preferably performed in the same step. In that case, the porous conductor impregnated with the sol may be heated at, for example, 100 to 200 ° C. for 0.5 to 2 hours. If the dehydration treatment and the heat treatment are performed in the same step, the time required for forming the dielectric layer can be further reduced.

【0010】なお、金属水酸化物としては、たとえば弁
作用金属の水酸化物が使用され、また多孔質導体は、た
とえば弁作用金属の粉末を圧縮成形した後に、これを焼
結することにより形成される。弁作用金属としては、た
とえばタンタル、アルミニウム、およびニオブが挙げら
れる。
As the metal hydroxide, for example, a hydroxide of a valve metal is used, and the porous conductor is formed, for example, by compressing and molding a valve metal powder and then sintering the powder. Is done. Valve metal includes, for example, tantalum, aluminum, and niobium.

【0011】本願発明のその他の利点および特徴につい
ては、以下に行う発明の実施の形態の説明から、より明
らかとなるであろう。
[0011] Other advantages and features of the present invention will become more apparent from the following description of embodiments of the present invention.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、本願発明の好ましい実施の
形態について、図1を参照して具体的に説明する。図1
には、本願発明の適用対象となる固体電解質コンデンサ
の断面およびその要部(図中において丸で囲んだ部分)
を拡大したものを図示した。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the present invention will be specifically described below with reference to FIG. Figure 1
The cross-section of the solid electrolyte capacitor to which the present invention is applied and its main part (the part circled in the figure)
Is shown in an enlarged scale.

【0013】図1に示した固体電解質コンデンサ1で
は、多孔質導体2の各孔20内に、誘電体層3および固
体電解質層4が形成されている。多孔質導体2に対して
は、金属ワイヤ5の一端部が埋設されて一体化され、多
孔質導体2の見かけ表面にはバッファ層6および金属層
7が形成されている。
In the solid electrolyte capacitor 1 shown in FIG. 1, a dielectric layer 3 and a solid electrolyte layer 4 are formed in each hole 20 of the porous conductor 2. One end of the metal wire 5 is buried and integrated with the porous conductor 2, and a buffer layer 6 and a metal layer 7 are formed on the apparent surface of the porous conductor 2.

【0014】多孔質導体2は、たとえばタンタル、アル
ミニウムあるいはニオブなどの弁作用金属の粉末を直方
体状に圧縮成形し、これを高真空状態において焼結する
ことによって形成されている。
The porous conductor 2 is formed by compressing a valve metal powder such as tantalum, aluminum or niobium into a rectangular parallelepiped and sintering it in a high vacuum state.

【0015】誘電体層3は、文字通り、誘電体として機
能するものであり、固体電解質コンデンサ1の容量は、
この誘電体層3の総面積および厚みにより決定される。
The dielectric layer 3 literally functions as a dielectric, and the capacitance of the solid electrolyte capacitor 1 is
It is determined by the total area and thickness of the dielectric layer 3.

【0016】このような誘電体層3は、ゾル−ゲル処理
により形成することができる。より具体的には、誘電体
層3は、金属水酸化物のゾルを多孔質導体2に含浸した
後に脱水処理を行ってゲル化し、このゲルを加熱処理し
て金属酸化物層を生成させることにより形成される。
Such a dielectric layer 3 can be formed by a sol-gel process. More specifically, the dielectric layer 3 is formed by impregnating the porous conductor 2 with a sol of a metal hydroxide and then performing a dehydration treatment to form a gel, and then heating the gel to form a metal oxide layer. Formed by

【0017】金属水酸化物としては、たとえば多孔質導
体2を構成する金属と同種の金属の水酸化物を使用する
のが好ましく、たとえばタンタル、アルミニウム、ある
いはニオブなどの弁作用金属の水酸化物が使用される。
As the metal hydroxide, for example, it is preferable to use a hydroxide of the same kind of metal as the metal constituting the porous conductor 2. For example, a hydroxide of a valve metal such as tantalum, aluminum or niobium is preferably used. Is used.

【0018】脱水処理および加熱処理は、これらを同一
の工程で行うのが効率が良く、たとえばゾルを含浸した
多孔質導体2を100〜200℃に維持された電気炉内
において0.5〜2時間程度加熱することにより行われ
る。これにより、金属水酸化物が脱水されて金属酸化物
が得られ、それが多孔質導体2の各孔20の内表面に付
着される。
It is efficient that the dehydration treatment and the heat treatment are performed in the same step. For example, the porous conductor 2 impregnated with the sol may be placed in an electric furnace maintained at 100 to 200 ° C. for 0.5 to 2 hours. It is performed by heating for about an hour. As a result, the metal hydroxide is dehydrated to obtain a metal oxide, which is attached to the inner surface of each hole 20 of the porous conductor 2.

【0019】なお、ゾル−ゲル処理は、目的とする膜厚
が得られるまで複数回にわたって行ってもよく、またゾ
ル−ゲル処理を行って目的とする膜厚に対して大まかに
膜厚を近づけた後に、陽極酸化により目的とする膜厚に
調整してもよい。
The sol-gel treatment may be performed a plurality of times until the desired film thickness is obtained, or the sol-gel treatment may be performed to roughly bring the film thickness closer to the desired film thickness. After that, the target film thickness may be adjusted by anodic oxidation.

【0020】陽極酸化は、図2に示したように陰極とし
て機能する金属容器80内に、たとえばリン酸水溶液
(0.01〜1%)を保持し、この水溶液内に多孔質導
体2を浸漬した状態において、多孔質導体2と金属容器
80との間を通電することにより行われる。先にも述べ
たように、陽極酸化では、誘電体層3の形成が進むほど
抵抗値が増加して誘電体層3の形成速度が小さくなる。
したがって、ゾル−ゲル処理により、たとえば目的とす
る誘電率の90〜99%の誘電率を有する誘電体層3を
形成しておき、陽極酸化により目的とする膜厚を有する
誘電体層3を形成するようにすれば、ゾル−ゲル処理の
活用により誘電体の形成時間を短縮することができると
ともに、陽極酸化により目的とする膜厚に徐々に近づけ
ることにより、目的とする誘電率の誘電体層3をより確
実に形成することができるようになる。
In the anodic oxidation, for example, a phosphoric acid aqueous solution (0.01 to 1%) is held in a metal container 80 functioning as a cathode as shown in FIG. 2, and the porous conductor 2 is immersed in the aqueous solution. In this state, current is supplied between the porous conductor 2 and the metal container 80. As described above, in anodic oxidation, as the formation of the dielectric layer 3 proceeds, the resistance value increases, and the formation speed of the dielectric layer 3 decreases.
Therefore, a dielectric layer 3 having a dielectric constant of, for example, 90 to 99% of a target dielectric constant is formed by sol-gel processing, and a dielectric layer 3 having a target film thickness is formed by anodic oxidation. By using the sol-gel treatment, the time for forming the dielectric can be shortened, and the dielectric layer having the desired dielectric constant can be obtained by gradually approaching the target film thickness by anodic oxidation. 3 can be formed more reliably.

【0021】固体電解質層4は、誘電体層3を形成した
後においても残存する多孔質導体2の空洞部分に、たと
えばマンガンの酸化物層(MnO2)を形成することに
より設けられる。より具体的には、固体電解質層4は、
硝酸マンガン溶液を多孔質導体2に含浸した後に加熱処
理を行うことにより形成される。
The solid electrolyte layer 4 is provided by forming, for example, a manganese oxide layer (MnO 2 ) in the hollow portion of the porous conductor 2 that remains after the formation of the dielectric layer 3. More specifically, the solid electrolyte layer 4
It is formed by performing a heat treatment after impregnating the porous conductor 2 with a manganese nitrate solution.

【0022】なお、含浸処理および加熱処理は、多孔質
導体2における各孔20内が完全に埋まるまで行うのが
好ましく、そのためには、通常、含浸処理および加熱処
理は複数回行われる。
The impregnation and the heat treatment are preferably performed until each hole 20 in the porous conductor 2 is completely filled. For this purpose, the impregnation and the heat treatment are usually performed plural times.

【0023】金属ワイヤ5は、陽極として機能するもの
であり、たとえば多孔質導体2を構成する金属と同種の
金属により形成されている。このような金属ワイヤ5
は、たとえば多孔質導体2を圧縮成形する際にその一端
部を同時に埋設し、あるいは多孔質導体2を圧縮成形し
た後に多孔質導体2内にその一端部を埋設することによ
り多孔質導体2に一体化されている。
The metal wire 5 functions as an anode, and is formed of, for example, the same kind of metal as the metal constituting the porous conductor 2. Such a metal wire 5
For example, when the porous conductor 2 is compression-molded, one end thereof is buried at the same time, or after the porous conductor 2 is compression-molded, one end is buried in the porous conductor 2 so that the porous conductor 2 is buried. It is integrated.

【0024】バッファ層6は、グラファイトなどにより
構成されており、固体電解質層4と金属層7との間の接
触抵抗が大きい場合に、これらの間の抵抗を小さくする
目的で設けられる。たとえば、固体電解質層4がMnO
2により構成され、金属層7が銀などにより構成されて
いる場合などにバッファ層6が設けられる。そのため、
バッファ層6は必要に応じて設けられる任意のものであ
る。
The buffer layer 6 is made of graphite or the like, and is provided for the purpose of reducing the resistance between the solid electrolyte layer 4 and the metal layer 7 when the contact resistance between them is large. For example, when the solid electrolyte layer 4 is made of MnO
The buffer layer 6 is provided when the metal layer 7 is made of silver or the like. for that reason,
The buffer layer 6 is an optional one provided as needed.

【0025】金属層7は、陰極として機能するものであ
り、たとえばメッキ処理を施して銀などの導体層を形成
することにより設けられる。
The metal layer 7 functions as a cathode, and is provided by, for example, performing a plating process to form a conductor layer of silver or the like.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】固体電解質コンデンサの一例を示す断面図であ
る。
FIG. 1 is a sectional view showing an example of a solid electrolyte capacitor.

【図2】図1に示した固体電解質コンデンサの誘電体層
を形成する従来の方法(陽極酸化)を説明するための概
略図である。
FIG. 2 is a schematic diagram for explaining a conventional method (anodic oxidation) for forming a dielectric layer of the solid electrolyte capacitor shown in FIG.

【図3】図2を参照して説明した陽極酸化における印加
電圧、陽極(多孔質焼結体)電流のタイムチャートであ
る。
FIG. 3 is a time chart of an applied voltage and an anode (porous sintered body) current in the anodic oxidation described with reference to FIG. 2;

【符号の説明】 1 固体電解質コンデンサ 2 多孔質導体 20 孔(多孔質導体の) 3 誘電体層[Description of Signs] 1 solid electrolyte capacitor 2 porous conductor 20 holes (of porous conductor) 3 dielectric layer

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 多孔質導体における各孔内に、誘電体層
が形成された電解質コンデンサを製造する方法であっ
て、 上記誘電体層の形成工程は、金属水酸化物のゾルを上記
多孔質導体に含浸した後に、脱水処理を行ってゲル化
し、このゲルを加熱処理して金属酸化物層を生成させる
ゾル−ゲル処理を含んでいることを特徴とする、電解質
コンデンサの製造方法。
1. A method for manufacturing an electrolyte capacitor in which a dielectric layer is formed in each hole of a porous conductor, wherein the step of forming the dielectric layer comprises: A method for producing an electrolytic capacitor, comprising: a sol-gel treatment in which a conductor is impregnated, dehydrated to form a gel after being impregnated, and the gel is heated to form a metal oxide layer.
【請求項2】 上記誘電体層の形成工程では、上記ゾル
−ゲル処理を行った後に、上記多孔質導体の陽極酸化が
行われる、請求項1に記載の電解質コンデンサの製造方
法。
2. The method for producing an electrolytic capacitor according to claim 1, wherein in the step of forming the dielectric layer, the porous conductor is anodized after performing the sol-gel treatment.
【請求項3】 上記脱水処理および上記加熱処理は、上
記ゾルを含浸した多孔質導体を、100〜200℃で
0.5〜2時間加熱することにより同一工程において行
われる、請求項1または2に記載の電解質コンデンサの
製造方法。
3. The dehydration treatment and the heat treatment are performed in the same step by heating the porous conductor impregnated with the sol at 100 to 200 ° C. for 0.5 to 2 hours. 3. The method for producing an electrolyte capacitor according to claim 1.
【請求項4】 上記金属水酸化物は、弁作用金属の水酸
物である、請求項1ないし3のいずれかに記載の電解質
コンデンサの製造方法。
4. The method according to claim 1, wherein said metal hydroxide is a hydroxide of a valve metal.
【請求項5】 上記多孔質導体は、弁作用金属の粉末を
圧縮成形した後に、これを焼結することにより形成され
る、請求項1ないし4のいずれかに記載の電解質コンデ
ンサの製造方法。
5. The method for manufacturing an electrolytic capacitor according to claim 1, wherein said porous conductor is formed by sintering a valve metal powder after compression molding.
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