JP2002221938A - Light-emitting device and its driving method - Google Patents

Light-emitting device and its driving method

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JP2002221938A
JP2002221938A JP2001345811A JP2001345811A JP2002221938A JP 2002221938 A JP2002221938 A JP 2002221938A JP 2001345811 A JP2001345811 A JP 2001345811A JP 2001345811 A JP2001345811 A JP 2001345811A JP 2002221938 A JP2002221938 A JP 2002221938A
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Shunpei Yamazaki
舜平 山崎
Jun Koyama
潤 小山
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To propose a light-emitting device which facilitates the recognition of a physical object even when an image itself which a video signal inputted into the light-emitting device has as information is dark or indistinct as a whole. SOLUTION: In at least one display period within a single-frame period, the absolute value of the EL driving voltage applied between the pixel electrode and the counter electrode is made temporarily larger to increase the brightness of an EL device. That is, the difference between the power source electrical potential and the opposite electrical potential in all display periods is not always kept constant, but the absolute value of the difference between the power source electrical potential and the opposite electrical potential in a certain fixed period within at least one display period (strong emission period) is made larger than the difference of the potential of other periods to make the brightness of the EL element higher. In this configuration, the actually displayed image becomes brighter even if the image itself which the video signal inputted into the light- emitting device has as information is dark on the whole, and hence recognition of the physical object is facilitated.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、基板上に形成され
たEL素子を、該基板とカバー材の間に封入したELパ
ネルに関する。また、該ELパネルにICを実装したE
Lモジュールに関する。なお本明細書において、ELパ
ネル及びELモジュールを発光装置と総称する。本発明
はさらに、該駆動方法によって表示を行う発光装置を用
いた電子機器に関する。
The present invention relates to an EL panel in which an EL element formed on a substrate is sealed between the substrate and a cover material. In addition, E in which an IC is mounted on the EL panel
Regarding the L module. In this specification, the EL panel and the EL module are collectively referred to as a light emitting device. The invention further relates to an electronic device using a light-emitting device that performs display by the driving method.

【0002】[0002]

【従来の技術】EL素子は、自ら発光するため視認性が
高く、液晶表示装置(LCD)で必要なバックライトが
要らず薄型化に最適であると共に、視野角にも制限が無
い。そのため、近年、EL素子を用いた発光装置はCR
TやLCDに代わる表示装置として注目されている。
2. Description of the Related Art An EL element emits light by itself and thus has high visibility, does not require a backlight necessary for a liquid crystal display (LCD), is optimal for thinning, and has no restriction on a viewing angle. Therefore, in recent years, light emitting devices using EL
It is attracting attention as a display device replacing T and LCD.

【0003】EL素子は、電場を加えることで発生する
ルミネッセンス(Electro Luminescence)が得られる有
機化合物を含む層(以下、EL層と記す)と、陽極層
と、陰極層とを有する。有機化合物におけるルミネッセ
ンスには、一重項励起状態から基底状態に戻る際の発光
(蛍光)と三重項励起状態から基底状態に戻る際の発光
(リン光)とがあるが、本発明の発光装置では、どちら
の発光を用いていても良い。
An EL element has a layer containing an organic compound capable of obtaining luminescence (Electro Luminescence) generated by applying an electric field (hereinafter, referred to as an EL layer), an anode layer, and a cathode layer. The luminescence of the organic compound includes light emission (fluorescence) when returning from the singlet excited state to the ground state and light emission (phosphorescence) when returning from the triplet excited state to the ground state. In the light emitting device of the present invention, Either light emission may be used.

【0004】なお、本明細書では、陽極と陰極の間に形
成された全ての層をEL層と定義する。EL層には具体
的に、発光層、正孔注入層、電子注入層、正孔輸送層、
電子輸送層等が含まれる。基本的にEL素子は、陽極/
発光層/陰極が順に積層された構造を有しており、この
構造に加えて、陽極/正孔注入層/発光層/陰極や、陽
極/正孔注入層/発光層/電子輸送層/陰極等の順に積
層した構造を有していることもある。
[0004] In this specification, all layers formed between an anode and a cathode are defined as EL layers. Specifically, the EL layer includes a light emitting layer, a hole injection layer, an electron injection layer, a hole transport layer,
An electron transport layer and the like are included. Basically, the EL element has an anode /
It has a structure in which a light emitting layer / cathode is laminated in order. In addition to this structure, an anode / hole injection layer / light emitting layer / cathode or anode / hole injection layer / light emitting layer / electron transport layer / cathode Etc. in some cases.

【0005】本明細書中では、陽極、EL層及び陰極で
形成される発光素子をEL素子と呼ぶ。また本明細書に
おいて、EL素子が発光することを、EL素子が駆動す
ると呼ぶ。
[0005] In this specification, a light emitting element formed by an anode, an EL layer and a cathode is called an EL element. In this specification, emission of an EL element is referred to as driving of the EL element.

【0006】発光装置が有する画素部には、ソース信号
線S1〜Sx、ゲート信号線G1〜Gy、電源供給線V
1〜Vx及び複数の画素が設けられている。図14
(A)に、一般的な発光装置の画素9004の回路図を
示す。画素9004は、ソース信号線Si(S1〜Sx
のいずれか1つ)と、電源供給線Vi(V1〜Vxのい
ずれか1つ)と、ゲート信号線Gj(G1〜Gyのいず
れか1つ)とを有している。
The pixel portion of the light emitting device includes source signal lines S1 to Sx, gate signal lines G1 to Gy, and a power supply line V
1 to Vx and a plurality of pixels are provided. FIG.
FIG. 2A is a circuit diagram of a pixel 9004 of a general light-emitting device. The pixel 9004 includes a source signal line Si (S1 to Sx
, A power supply line Vi (any one of V1 to Vx), and a gate signal line Gj (any one of G1 to Gy).

【0007】また画素9004はスイッチング用TFT
9008とEL駆動用TFT9009とを有している。
スイッチング用TFT9008のゲート電極は、ゲート
信号線Gjに接続されている。スイッチング用TFT9
008のソース領域とドレイン領域は、一方がソース信
号線Siに、もう一方がEL駆動用TFT9009のゲ
ート電極にそれぞれ接続されている。
The pixel 9004 is a switching TFT.
9008 and an EL driving TFT 9009.
The gate electrode of the switching TFT 9008 is connected to the gate signal line Gj. Switching TFT 9
One of the source region and the drain region 008 is connected to the source signal line Si, and the other is connected to the gate electrode of the EL driving TFT 9009.

【0008】また、EL駆動用TFT9009のソース
領域は電源供給線Viに接続され、ドレイン領域はEL
素子9011に接続される。
The source region of the EL driving TFT 9009 is connected to the power supply line Vi, and the drain region is the EL region.
Connected to element 9011.

【0009】EL素子9011は陽極と陰極と、陽極と
陰極との間に設けられたEL層とからなる。陽極がEL
駆動用TFT9009のドレイン領域と接続している場
合、陽極が画素電極、陰極が対向電極となる。逆に陰極
がEL駆動用TFT9009のドレイン領域と接続して
いる場合、陰極が画素電極、陽極が対向電極となる。
The EL element 9011 includes an anode and a cathode, and an EL layer provided between the anode and the cathode. The anode is EL
When connected to the drain region of the driving TFT 9009, the anode serves as a pixel electrode and the cathode serves as a counter electrode. Conversely, when the cathode is connected to the drain region of the EL driving TFT 9009, the cathode serves as a pixel electrode and the anode serves as a counter electrode.

【0010】全ての電源供給線V1〜Vxには電源電位
が与えられている。また全ての画素が有するEL素子9
011の対向電極には対向電位が与えられている。電源
電位と対向電位は、表示装置の外付けのICに設けられ
た電源9005によって与えられる。
A power supply potential is applied to all power supply lines V1 to Vx. Also, the EL element 9 of all the pixels
The counter electrode 011 is provided with a counter potential. The power supply potential and the counter potential are provided by a power supply 9005 provided in an external IC of the display device.

【0011】次に、図15(A)に示した画素の動作に
ついて説明する。時分割階調表示を行う場合、発光装置
の動作は、書き込み期間と、表示期間とに分けて説明す
ることができる。
Next, the operation of the pixel shown in FIG. In the case of performing the time-division gray scale display, the operation of the light-emitting device can be separately described in a writing period and a display period.

【0012】書き込み期間において、ゲート信号線Gj
に入力された選択信号によって、スイッチング用TFT
9008がオンになり、ソース信号線Siに入力された
画像情報を有するデジタル信号(以下、デジタルビデオ
信号と呼ぶ)が、スイッチング用TFT9008を介し
てEL駆動用TFT9009のゲート電極に入力され
る。なお本明細書において、デジタルビデオ信号がスイ
ッチング用TFT9008を介してEL駆動用TFT9
009のゲート電極に入力されることを、画素にデジタ
ルビデオ信号が入力されるという。
In the writing period, the gate signal line Gj
Switching TFT by the selection signal input to
9008 is turned on, and a digital signal (hereinafter, referred to as a digital video signal) having image information input to the source signal line Si is input to the gate electrode of the EL driving TFT 9009 via the switching TFT 9008. Note that in this specification, a digital video signal is transmitted through a switching TFT 9008 to an EL driving TFT 9.
Inputting to the gate electrode of 009 is referred to as inputting a digital video signal to the pixel.

【0013】EL駆動用TFT9009のゲート電極に
入力されたデジタルビデオ信号が有する、1または0の
情報によって、EL駆動用TFT9009のスイッチン
グが制御される。
The switching of the EL driving TFT 9009 is controlled by information of 1 or 0 included in the digital video signal input to the gate electrode of the EL driving TFT 9009.

【0014】EL駆動用TFT9009がオフになる場
合、電源供給線Viの電位がEL素子9011の有する
画素電極に与えられない。また、EL駆動用TFT90
09がオンになる場合、電源供給線Viの電位がEL素
子9011の有する画素電極に与えられる。
When the EL driving TFT 9009 is turned off, the potential of the power supply line Vi is not applied to the pixel electrode of the EL element 9011. In addition, the EL driving TFT 90
When 09 is turned on, the potential of the power supply line Vi is applied to the pixel electrode of the EL element 9011.

【0015】そして全ての画素にデジタルビデオ信号が
入力されるまで、切り替えスイッチはオフになってお
り、対向電位は電源電位と同じ高さになっている。
Until the digital video signal is input to all the pixels, the changeover switch is off, and the opposing potential is at the same level as the power supply potential.

【0016】全ての画素にデジタルビデオ信号が入力さ
れると、書き込み期間が終了し、表示期間が開始され
る。表示期間において、切り替えスイッチはオンにな
り、電源9005によって、対向電位が電源電位と電位
差を有する高さになる。EL駆動用TFT9009がオ
ンの場合、この電位差はEL素子9011の画素電極と
対向電極の間にかかり、EL素子9011は発光する。
なおこのときの対向電位と電源電位の電位差は、EL素
子が発光する程度の大きさであることが必要である。
When the digital video signal is input to all the pixels, the writing period ends, and the display period starts. In the display period, the changeover switch is turned on, and the power supply 9005 causes the counter potential to have a height having a potential difference from the power supply potential. When the EL driving TFT 9009 is on, this potential difference is applied between the pixel electrode and the counter electrode of the EL element 9011, and the EL element 9011 emits light.
Note that the potential difference between the opposing potential and the power supply potential at this time needs to be large enough for the EL element to emit light.

【0017】逆にEL駆動用TFT9009がオフの場
合、EL素子9009の画素電極は対向電位と同じ高さ
に保たれるので、EL素子9011は発光しない。な
お、本明細書においては、EL素子9011の画素電極
と対向電極の間の電位差をEL駆動電圧と呼ぶ。
Conversely, when the EL driving TFT 9009 is off, the pixel electrode of the EL element 9009 is kept at the same height as the counter potential, so that the EL element 9011 does not emit light. Note that in this specification, a potential difference between a pixel electrode and a counter electrode of the EL element 9011 is referred to as an EL drive voltage.

【0018】書き込み期間と表示期間を合わせてサブフ
レーム期間と呼ぶ。1フレーム期間内に、デジタルビデ
オ信号の各ビットに対応した複数のサブフレーム期間が
設けられている。
The writing period and the display period are collectively called a sub-frame period. In one frame period, a plurality of sub-frame periods corresponding to each bit of the digital video signal are provided.

【0019】図14(B)に、5ビットのデジタルビデ
オ信号に対応するサブフレーム期間(SF1〜SF5)
の出現するタイミングを示す。横軸は時間を示してお
り、縦軸はEL駆動電圧を示している。なお説明を簡便
にするために、図14(B)では、各ビットのデジタル
ビデオ信号によってEL駆動用TFT9009が常にオ
ンになっている場合について示している。
FIG. 14B shows a sub-frame period (SF1 to SF5) corresponding to a 5-bit digital video signal.
Shows the timing at which. The horizontal axis indicates time, and the vertical axis indicates EL driving voltage. Note that for simplicity of description, FIG. 14B shows a case where the EL driving TFT 9009 is always on by a digital video signal of each bit.

【0020】各サブフレーム期間の書き込み期間におい
て、EL駆動電圧は0であるため、EL素子9011は
発光しない。各サブフレーム期間の表示期間において、
EL駆動電圧の絶対値が0よりも大きくなり、EL素子
9011は発光する。
In the writing period in each sub-frame period, the EL element 9011 does not emit light because the EL driving voltage is 0. In the display period of each sub-frame period,
The absolute value of the EL drive voltage becomes larger than 0, and the EL element 9011 emits light.

【0021】そして、においてEL駆動電圧は常に一定
である。切り替えスイッチ9006がオンのときのEL
駆動電圧は常に同じ大きさに保たれている。
In this case, the EL driving voltage is always constant. EL when changeover switch 9006 is on
The drive voltage is always kept the same.

【0022】EL素子9011が発光する期間の長さを
制御することで、所望の階調を表示することが可能にな
る。
By controlling the length of the period during which the EL element 9011 emits light, a desired gray scale can be displayed.

【0023】[0023]

【発明が解決しようとする課題】ところで、未知の対象
物の画像、例えば、防犯や立入禁止区域への不法侵入者
の検知のために設けられた監視カメラの画像、また個人
を照合するために撮影した顔や指紋の画像、医療分野に
おいて、放射線、荷電粒子、電磁波等により得られる生
体内の器官の画像等、を発光装置に表示することで対象
物を認識する場合、より鮮明な画像を表示することが求
められる。
By the way, an image of an unknown object, for example, an image of a surveillance camera provided for detecting a crime prevention or an illegal intruder into a restricted area, and an individual for collation. When recognizing an object by displaying an image of a captured face or fingerprint, in the medical field, an image of an organ in a living body obtained by radiation, charged particles, electromagnetic waves, or the like on a light emitting device, a clearer image is displayed. Display is required.

【0024】しかし、いくら発光装置の性能が向上し
て、より鮮明な画像を表示することが可能になっても、
発光装置に入力されるビデオ信号が情報として有する画
像自体が全体的に暗かったり、不鮮明であれば、鮮明な
画像を表示することができず、対象物の認識が難しくな
る。
However, no matter how much the performance of the light emitting device is improved and a clearer image can be displayed,
If an image itself as information of a video signal input to the light emitting device is entirely dark or unclear, a clear image cannot be displayed, and it becomes difficult to recognize a target.

【0025】上述した問題に鑑み、本発明は、発光装置
に入力されるビデオ信号が情報として有する画像自体が
全体的に暗かったり、不鮮明であっても、対象物の認識
を容易にすることができる発光装置の考案を課題とす
る。
In view of the above problems, the present invention makes it easy to recognize an object even if an image itself as information contained in a video signal input to a light emitting device is entirely dark or unclear. It is an object to devise a light emitting device that can be used.

【0026】[0026]

【課題を解決するための手段】本発明では、1フレーム
期間内の少なくとも1つの表示期間において、画素電極
と対向電極の間に印加されるEL駆動電圧の絶対値を、
一時的に大きくして、EL素子の輝度を高くした。つま
り、全ての表示期間における電源電位と対向電位の電位
差を常に一定に保つのではなく、少なくとも1つの表示
期間内のある一定の期間(強発光期間)において、電源
電位と対向電位の電位差の絶対値を他の期間に比べて大
きくし、EL素子の輝度が高くなるようにした。
According to the present invention, the absolute value of an EL drive voltage applied between a pixel electrode and a counter electrode in at least one display period within one frame period is calculated as follows.
The brightness was temporarily increased to increase the luminance of the EL element. That is, the potential difference between the power supply potential and the opposing potential in all display periods is not always kept constant, but the absolute difference between the power supply potential and the opposing potential in at least one certain period (strong light emission period) in one display period. The value was made larger than in other periods, so that the luminance of the EL element was increased.

【0027】上記構成によって、発光装置に入力される
ビデオ信号が情報として有する画像自体が全体的に暗く
ても、実際に表示される画像が明るくなるので、対象物
の認識を容易にすることができる。
With the above arrangement, even if the image itself as information contained in the video signal input to the light emitting device is entirely dark, the actually displayed image becomes bright, so that the object can be easily recognized. it can.

【0028】また、ある画素が表示する階調が、ある一
定の階調より明るいときに、該画素のEL素子に印加さ
れるEL駆動電圧の絶対値を大きくし、EL素子の輝度
を高くしても良い。上記構成により、明るい階調を表示
する画素はより明るくなり、画像のコントラストが大き
くなって、画像が鮮明になり、対象物の認識を容易にす
ることができる。
Further, when the gradation displayed by a certain pixel is brighter than a certain gradation, the absolute value of the EL drive voltage applied to the EL element of the pixel is increased to increase the luminance of the EL element. May be. According to the above configuration, the pixel displaying a bright gradation becomes brighter, the contrast of the image is increased, the image is sharpened, and the object can be easily recognized.

【0029】また、各画素に入力されるデジタルビデオ
信号から、隣接する画素に比べて階調が大きく異なる画
素を特定することにより、対象物の輪郭を検出し、画像
の輪郭の部分の画素においてのみコントラストを大きく
しても良い。上記構成によって、画像の輪郭が抽出さ
れ、画像が鮮明になり、対象物の認識を容易にすること
ができる。
Further, by identifying, from the digital video signal input to each pixel, a pixel whose gradation is greatly different from that of an adjacent pixel, the contour of the object is detected, and the pixel at the contour portion of the image is detected. Only the contrast may be increased. According to the above configuration, the outline of the image is extracted, the image is sharpened, and the object can be easily recognized.

【0030】以下に、本発明の構成を示す。The configuration of the present invention will be described below.

【0031】本発明によって、EL素子を有する複数の
画素が設けられた発光装置であって、1フレーム期間に
おいて、前記EL素子が発光している期間のうちの所定
の期間における前記EL素子の輝度が、前記EL素子が
発光している期間のうちの所定の期間以外の期間におけ
る前記複数のEL素子の輝度に比べて高いことを特徴と
する発光装置が提供される。
According to the present invention, there is provided a light emitting device provided with a plurality of pixels each having an EL element, wherein the luminance of the EL element in a predetermined period of the period in which the EL element emits light in one frame period However, there is provided a light emitting device characterized in that the luminance of the plurality of EL elements is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than a predetermined period of the period in which the EL elements emit light.

【0032】本発明によって、EL素子を有する複数の
画素が設けられた発光装置であって、1フレーム期間に
複数のサブフレーム期間が設けられており、前記複数の
サブフレーム期間の少なくとも1つのサブフレーム期間
において、前記EL素子が発光している期間のうちの所
定の期間における前記EL素子の輝度が、前記EL素子
が発光している期間のうちの所定の期間以外の期間にお
ける前記複数のEL素子の輝度に比べて高いことを特徴
とする発光装置が提供される。
According to the present invention, there is provided a light emitting device provided with a plurality of pixels having EL elements, wherein a plurality of subframe periods are provided in one frame period, and at least one of the plurality of subframe periods is provided. In the frame period, the luminance of the EL element in a predetermined period of the period in which the EL element emits light is the luminance of the plurality of ELs in a period other than the predetermined period of the period in which the EL element emits light. There is provided a light emitting device characterized by having a higher luminance than an element.

【0033】本発明によって、EL素子を有する複数の
画素が設けられた発光装置であって、前記EL素子は画
素電極と、対向電極と、前記画素電極と前記対向電極の
間に設けられたEL層とを有し、前記EL素子が発光し
ているときに前記画素電極に与えられる電位は常に一定
であり、前記EL素子が発光しているときに前記対向電
極に与えられる電位の高さを変えることで、1フレーム
期間において、所定の期間における前記EL素子の輝度
が、前記所定の期間以外の期間における前記複数のEL
素子の輝度に比べて高くすることを特徴とする発光装置
が提供される。
According to the present invention, there is provided a light emitting device provided with a plurality of pixels having EL elements, wherein the EL elements are a pixel electrode, a counter electrode, and an EL provided between the pixel electrode and the counter electrode. And the potential applied to the pixel electrode when the EL element emits light is always constant. The height of the potential applied to the counter electrode when the EL element emits light is In other words, in one frame period, the luminance of the EL element in a predetermined period is changed to a value corresponding to the plurality of EL elements in a period other than the predetermined period.
There is provided a light emitting device characterized in that the luminance is higher than the luminance of the element.

【0034】本発明によって、EL素子を有する複数の
画素が設けられた発光装置であって、1フレーム期間に
複数のサブフレーム期間が設けられており、前記EL素
子は画素電極と、対向電極と、前記画素電極と前記対向
電極の間に設けられたEL層とを有し、前記EL素子が
発光しているときに前記画素電極に与えられる電位は常
に一定であり、前記EL素子が発光しているときに前記
対向電極に与えられる電位の高さを変えることで、前記
複数のサブフレーム期間の少なくとも1つのサブフレー
ム期間において、所定の期間における前記EL素子の輝
度が、前記所定の期間以外の期間における前記複数のE
L素子の輝度に比べて高くすることを特徴とする発光装
置が提供される。
According to the present invention, there is provided a light emitting device provided with a plurality of pixels having an EL element, wherein a plurality of sub-frame periods are provided in one frame period, and the EL element includes a pixel electrode, a counter electrode, And an EL layer provided between the pixel electrode and the counter electrode. When the EL element emits light, the potential applied to the pixel electrode is always constant, and the EL element emits light. By changing the level of the potential applied to the counter electrode during the operation, the luminance of the EL element during a predetermined period in at least one of the plurality of sub-frame periods is different from the luminance during the period other than the predetermined period. The plurality of E in the period of
There is provided a light emitting device characterized in that the luminance is higher than the luminance of the L element.

【0035】本発明によって、EL素子を有する複数の
画素が設けられた発光装置であって、前記EL素子は画
素電極と、対向電極と、前記画素電極と前記対向電極の
間に設けられたEL層とを有し、前記EL素子が発光し
ているときに前記対向電極に与えられる電位は常に一定
であり、前記EL素子が発光しているときに前記画素電
極に与えられる電位の高さを変えることで、1フレーム
期間において、所定の期間における前記EL素子の輝度
が、前記所定の期間以外の期間における前記複数のEL
素子の輝度に比べて高くすることを特徴とする発光装置
が提供される。
According to the present invention, there is provided a light emitting device provided with a plurality of pixels having EL elements, wherein the EL elements are a pixel electrode, a counter electrode, and an EL provided between the pixel electrode and the counter electrode. And the potential applied to the counter electrode when the EL element emits light is always constant. The height of the potential applied to the pixel electrode when the EL element emits light is In other words, in one frame period, the luminance of the EL element in a predetermined period is changed to a value corresponding to the plurality of EL elements in a period other than the predetermined period.
There is provided a light emitting device characterized in that the luminance is higher than the luminance of the element.

【0036】本発明によって、EL素子を有する複数の
画素が設けられた発光装置であって、1フレーム期間に
複数のサブフレーム期間が設けられており、前記EL素
子は画素電極と、対向電極と、前記画素電極と前記対向
電極の間に設けられたEL層とを有し、前記EL素子が
発光しているときに前記対向電極に与えられる電位は常
に一定であり、前記EL素子が発光しているときに前記
画素電極に与えられる電位の高さを変えることで、前記
複数のサブフレーム期間の少なくとも1つのサブフレー
ム期間において、所定の期間における前記EL素子の輝
度が、前記所定の期間以外の期間における前記複数のE
L素子の輝度に比べて高くすることを特徴とする発光装
置が提供される。
According to the present invention, there is provided a light emitting device provided with a plurality of pixels having an EL element, wherein a plurality of sub-frame periods are provided in one frame period, and the EL element includes a pixel electrode, a counter electrode, An EL layer provided between the pixel electrode and the counter electrode, the potential applied to the counter electrode when the EL element emits light is always constant, and the EL element emits light. By changing the level of the potential applied to the pixel electrode during the operation, the luminance of the EL element in a predetermined period in at least one of the plurality of sub-frame periods is different from the luminance in the predetermined period. The plurality of E in the period of
There is provided a light emitting device characterized in that the luminance is higher than the luminance of the L element.

【0037】本発明によって、EL素子、第1EL駆動
用TFT及び第2EL駆動用TFTを有する複数の画素
と、第1の電源と、第2の電源とが設けられた発光装置
であって、前記EL素子は画素電極と、対向電極と、前
記画素電極と前記対向電極の間に設けられたEL層とを
有し、前記EL素子が発光しているときに前記対向電極
に与えられる電位は常に一定であり、前記EL素子が発
光しているときに、前記第1EL駆動用TFTを介して
前記第1の電源から前記画素電極に電位を与えるか、前
記第2EL駆動用TFTを介して前記第2の電源から前
記画素電極に電位を与えるかを選択して、前記画素電極
に与えられる電位の高さを変えることで、1フレーム期
間において、所定の期間における前記EL素子の輝度
が、前記所定の期間以外の期間における前記複数のEL
素子の輝度に比べて高くすることを特徴とする発光装置
が提供される。
According to the present invention, there is provided a light emitting device provided with a plurality of pixels having an EL element, a first EL driving TFT, and a second EL driving TFT, a first power supply, and a second power supply. The EL element has a pixel electrode, a counter electrode, and an EL layer provided between the pixel electrode and the counter electrode. When the EL element emits light, the potential applied to the counter electrode is always When the EL element is emitting light, a potential is applied to the pixel electrode from the first power supply via the first EL driving TFT, or the potential is applied to the pixel electrode via the second EL driving TFT. By selecting whether to apply a potential to the pixel electrode from the second power source and changing the level of the potential applied to the pixel electrode, the luminance of the EL element in a predetermined period in the one frame period can be adjusted to the predetermined level. Period of Said plurality of EL in the period of the external
There is provided a light emitting device characterized in that the luminance is higher than the luminance of the element.

【0038】本発明によって、EL素子、第1EL駆動
用TFT及び第2EL駆動用TFTを有する複数の画素
と、第1の電源と、第2の電源とが設けられた発光装置
であって、1フレーム期間に複数のサブフレーム期間が
設けられており、前記EL素子は画素電極と、対向電極
と、前記画素電極と前記対向電極の間に設けられたEL
層とを有し、前記EL素子が発光しているときに前記対
向電極に与えられる電位は常に一定であり、前記EL素
子が発光しているときに、前記第1EL駆動用TFTを
介して前記第1の電源から前記画素電極に電位を与える
か、前記第2EL駆動用TFTを介して前記第2の電源
から前記画素電極に電位を与えるかを選択して、前記画
素電極に与えられる電位の高さを変えることで、前記複
数のサブフレーム期間の少なくとも1つのサブフレーム
期間において、所定の期間における前記EL素子の輝度
が、前記所定の期間以外の期間における前記複数のEL
素子の輝度に比べて高くすることを特徴とする発光装置
が提供される。
According to the present invention, there is provided a light emitting device provided with a plurality of pixels having an EL element, a first EL driving TFT, and a second EL driving TFT, a first power supply, and a second power supply. A plurality of sub-frame periods are provided in a frame period, and the EL element includes a pixel electrode, a counter electrode, and an EL element provided between the pixel electrode and the counter electrode.
And the potential applied to the counter electrode when the EL element emits light is always constant. When the EL element emits light, the potential is applied to the counter electrode via the first EL driving TFT. By selecting whether to apply a potential to the pixel electrode from a first power supply or to apply a potential to the pixel electrode from the second power supply via the second EL driving TFT, the potential of the potential applied to the pixel electrode is selected. By changing the height, in at least one of the plurality of sub-frame periods, the luminance of the EL element during a predetermined period is reduced by the EL elements during a period other than the predetermined period.
There is provided a light emitting device characterized in that the luminance is higher than the luminance of the element.

【0039】本発明によって、EL素子を有する複数の
画素が設けられた発光装置であって、第1のモードまた
は第2のモードで動作しており、前記第1のモードで
は、前記EL素子が発光している期間において、前記E
L素子の輝度が常に一定に保たれており、前記第2のモ
ードでは、前記EL素子が発光している期間のうちの所
定の期間における前記EL素子の輝度が、前記EL素子
が発光している期間のうちの所定の期間以外の期間にお
ける前記複数のEL素子の輝度に比べて高くなっている
ことを特徴とする発光装置が提供される。
According to the present invention, there is provided a light emitting device provided with a plurality of pixels each having an EL element, which operates in a first mode or a second mode. During the light emitting period, the E
The luminance of the L element is always kept constant, and in the second mode, the luminance of the EL element during a predetermined period of the period during which the EL element emits light is such that the EL element emits light. The luminance of the plurality of EL elements is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than a predetermined period in the period.

【0040】本発明によって、EL素子を有する複数の
画素が設けられた発光装置であって、第1のモードまた
は第2のモードで動作しており、前記第1のモードで
は、前記EL素子が発光している期間において、前記E
L素子の輝度が常に一定に保たれており、前記第2のモ
ードでは、前記EL素子が発光している期間のうちの所
定の期間における前記EL素子の輝度が、前記EL素子
が発光している期間のうちの所定の期間以外の期間にお
ける前記複数のEL素子の輝度に比べて高くなってお
り、前記複数の画素のうち、表示する階調が一定の階調
より暗い画素では第1のモードで動作し、前記複数の画
素のうち、表示する階調が一定の階調より明るい画素で
は第2のモードで動作することを特徴とする発光装置が
提供される。
According to the present invention, there is provided a light emitting device provided with a plurality of pixels each having an EL element, operating in a first mode or a second mode, wherein the EL element is in the first mode. During the light emitting period, the E
The luminance of the L element is always kept constant, and in the second mode, the luminance of the EL element during a predetermined period of the period during which the EL element emits light is such that the EL element emits light. Of the plurality of EL elements in a period other than a predetermined period of the predetermined period, and among the plurality of pixels, a pixel whose displayed gray scale is darker than a certain gray scale is the first. A light-emitting device that operates in a second mode and operates in a second mode among pixels of which a gray level to be displayed is brighter than a certain gray level.

【0041】本発明によって、EL素子を有する複数の
画素が設けられた発光装置であって、第1のモードまた
は第2のモードで動作しており、前記第1のモードで
は、前記EL素子が発光している期間において、前記E
L素子の輝度が常に一定に保たれており、前記第2のモ
ードでは、前記EL素子が発光している期間のうちの所
定の期間における前記EL素子の輝度が、前記EL素子
が発光している期間のうちの所定の期間以外の期間にお
ける前記複数のEL素子の輝度に比べて高くなってお
り、前記複数の画素のうち、隣接する画素に比べて、表
示する階調が一定の値以上明るい画素のみ第2のモード
で動作し、前記複数の画素のうち、隣接する画素に比べ
て、表示する階調が一定の値以上明るい画素以外の画素
は第1のモードで動作することを特徴とする発光装置が
提供される。
According to the present invention, there is provided a light emitting device provided with a plurality of pixels each having an EL element, operating in a first mode or a second mode, wherein the EL element is in the first mode. During the light emitting period, the E
The luminance of the L element is always kept constant, and in the second mode, the luminance of the EL element during a predetermined period of the period during which the EL element emits light is such that the EL element emits light. Brightness of the plurality of EL elements in a period other than a predetermined period of the predetermined period, and a gray scale to be displayed is equal to or more than a certain value as compared with an adjacent pixel among the plurality of pixels. Only the bright pixels operate in the second mode, and, of the plurality of pixels, the pixels other than the pixels whose display gradation is brighter than a certain value or more than the adjacent pixels operate in the first mode. Is provided.

【0042】本発明によって、EL素子を有する複数の
画素が設けられた発光装置の駆動方法であって、1フレ
ーム期間において、前記EL素子が発光している期間の
うちの所定の期間における前記EL素子の輝度が、前記
EL素子が発光している期間のうちの所定の期間以外の
期間における前記複数のEL素子の輝度に比べて高いこ
とを特徴とする発光装置の駆動方法が提供される。
According to the present invention, there is provided a driving method of a light emitting device provided with a plurality of pixels having an EL element, wherein the EL element emits light in a predetermined period of a period during which the EL element emits light in one frame period. A method for driving a light emitting device is provided, wherein the luminance of the element is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than a predetermined period of the period in which the EL element emits light.

【0043】本発明によって、EL素子を有する複数の
画素が設けられた発光装置の駆動方法であって、1フレ
ーム期間に複数のサブフレーム期間が設けられており、
前記複数のサブフレーム期間の少なくとも1つのサブフ
レーム期間において、前記EL素子が発光している期間
のうちの所定の期間における前記EL素子の輝度が、前
記EL素子が発光している期間のうちの所定の期間以外
の期間における前記複数のEL素子の輝度に比べて高い
ことを特徴とする発光装置の駆動方法が提供される。
According to the present invention, there is provided a method of driving a light emitting device provided with a plurality of pixels having EL elements, wherein a plurality of sub-frame periods are provided in one frame period.
In at least one sub-frame period of the plurality of sub-frame periods, the luminance of the EL element in a predetermined period of the period in which the EL element emits light is the luminance of the period in which the EL element emits light. There is provided a method for driving a light-emitting device, wherein the luminance is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than a predetermined period.

【0044】本発明によって、EL素子を有する複数の
画素が設けられた発光装置の駆動方法であって、前記E
L素子は画素電極と、対向電極と、前記画素電極と前記
対向電極の間に設けられたEL層とを有し、前記EL素
子が発光しているときに前記画素電極に与えられる電位
は常に一定であり、前記EL素子が発光しているときに
前記対向電極に与えられる電位の高さを変えることで、
1フレーム期間において、所定の期間における前記EL
素子の輝度が、前記所定の期間以外の期間における前記
複数のEL素子の輝度に比べて高くすることを特徴とす
る発光装置の駆動方法が提供される。
According to the present invention, there is provided a method of driving a light emitting device provided with a plurality of pixels having EL elements,
The L element has a pixel electrode, a counter electrode, and an EL layer provided between the pixel electrode and the counter electrode. When the EL element emits light, the potential applied to the pixel electrode is always By changing the height of the potential applied to the counter electrode when the EL element is emitting light,
In one frame period, the EL in a predetermined period
A method for driving a light emitting device is provided, wherein the luminance of the element is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than the predetermined period.

【0045】本発明によって、EL素子を有する複数の
画素が設けられた発光装置の駆動方法であって、1フレ
ーム期間に複数のサブフレーム期間が設けられており、
前記EL素子は画素電極と、対向電極と、前記画素電極
と前記対向電極の間に設けられたEL層とを有し、前記
EL素子が発光しているときに前記画素電極に与えられ
る電位は常に一定であり、前記EL素子が発光している
ときに前記対向電極に与えられる電位の高さを変えるこ
とで、前記複数のサブフレーム期間の少なくとも1つの
サブフレーム期間において、所定の期間における前記E
L素子の輝度が、前記所定の期間以外の期間における前
記複数のEL素子の輝度に比べて高くすることを特徴と
する発光装置の駆動方法が提供される。
According to the present invention, there is provided a method of driving a light emitting device provided with a plurality of pixels having EL elements, wherein a plurality of sub-frame periods are provided in one frame period.
The EL element has a pixel electrode, a counter electrode, and an EL layer provided between the pixel electrode and the counter electrode. When the EL element emits light, a potential given to the pixel electrode is By constantly changing the level of the potential applied to the counter electrode when the EL element emits light, at least one of the plurality of sub-frame periods, E
There is provided a driving method of a light emitting device, wherein the luminance of the L element is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than the predetermined period.

【0046】本発明によって、EL素子を有する複数の
画素が設けられた発光装置の駆動方法であって、前記E
L素子は画素電極と、対向電極と、前記画素電極と前記
対向電極の間に設けられたEL層とを有し、前記EL素
子が発光しているときに前記対向電極に与えられる電位
は常に一定であり、前記EL素子が発光しているときに
前記画素電極に与えられる電位の高さを変えることで、
1フレーム期間において、所定の期間における前記EL
素子の輝度が、前記所定の期間以外の期間における前記
複数のEL素子の輝度に比べて高くすることを特徴とす
る発光装置の駆動方法が提供される。
According to the present invention, there is provided a method for driving a light emitting device provided with a plurality of pixels having EL elements,
The L element has a pixel electrode, a counter electrode, and an EL layer provided between the pixel electrode and the counter electrode. When the EL element emits light, the potential applied to the counter electrode is always By changing the height of the potential applied to the pixel electrode while the EL element is emitting light,
In one frame period, the EL in a predetermined period
A method for driving a light emitting device is provided, wherein the luminance of the element is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than the predetermined period.

【0047】本発明によって、EL素子を有する複数の
画素が設けられた発光装置の駆動方法であって、1フレ
ーム期間に複数のサブフレーム期間が設けられており、
前記EL素子は画素電極と、対向電極と、前記画素電極
と前記対向電極の間に設けられたEL層とを有し、前記
EL素子が発光しているときに前記対向電極に与えられ
る電位は常に一定であり、前記EL素子が発光している
ときに前記画素電極に与えられる電位の高さを変えるこ
とで、前記複数のサブフレーム期間の少なくとも1つの
サブフレーム期間において、所定の期間における前記E
L素子の輝度が、前記所定の期間以外の期間における前
記複数のEL素子の輝度に比べて高くすることを特徴と
する発光装置の駆動方法が提供される。
According to the present invention, there is provided a method of driving a light emitting device provided with a plurality of pixels having EL elements, wherein a plurality of sub-frame periods are provided in one frame period.
The EL element has a pixel electrode, a counter electrode, and an EL layer provided between the pixel electrode and the counter electrode. When the EL element emits light, a potential given to the counter electrode is By constantly changing the level of the potential applied to the pixel electrode when the EL element is emitting light, at least one of the plurality of subframe periods, E
There is provided a driving method of a light emitting device, wherein the luminance of the L element is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than the predetermined period.

【0048】本発明によって、EL素子、第1EL駆動
用TFT及び第2EL駆動用TFTを有する複数の画素
と、第1の電源と、第2の電源とが設けられた発光装置
の駆動方法であって、前記EL素子は画素電極と、対向
電極と、前記画素電極と前記対向電極の間に設けられた
EL層とを有し、前記EL素子が発光しているときに前
記対向電極に与えられる電位は常に一定であり、前記E
L素子が発光しているときに、前記第1EL駆動用TF
Tを介して前記第1の電源から前記画素電極に電位を与
えるか、前記第2EL駆動用TFTを介して前記第2の
電源から前記画素電極に電位を与えるかを選択して、前
記画素電極に与えられる電位の高さを変えることで、1
フレーム期間において、所定の期間における前記EL素
子の輝度が、前記所定の期間以外の期間における前記複
数のEL素子の輝度に比べて高くすることを特徴とする
発光装置の駆動方法が提供される。
According to the present invention, there is provided a driving method of a light emitting device provided with a plurality of pixels having an EL element, a first EL driving TFT, and a second EL driving TFT, a first power supply, and a second power supply. The EL element has a pixel electrode, a counter electrode, and an EL layer provided between the pixel electrode and the counter electrode, and is provided to the counter electrode when the EL element emits light. The potential is always constant.
When the L element emits light, the first EL driving TF
Selecting whether to apply a potential to the pixel electrode from the first power supply via T or applying a potential to the pixel electrode from the second power supply via the second EL driving TFT; By changing the level of the potential applied to
In a frame period, a driving method of a light-emitting device is provided, in which luminance of the EL element in a predetermined period is higher than luminance of the plurality of EL elements in a period other than the predetermined period.

【0049】本発明によって、EL素子、第1EL駆動
用TFT及び第2EL駆動用TFTを有する複数の画素
と、第1の電源と、第2の電源とが設けられた発光装置
の駆動方法であって、1フレーム期間に複数のサブフレ
ーム期間が設けられており、前記EL素子は画素電極
と、対向電極と、前記画素電極と前記対向電極の間に設
けられたEL層とを有し、前記EL素子が発光している
ときに前記対向電極に与えられる電位は常に一定であ
り、前記EL素子が発光しているときに、前記第1EL
駆動用TFTを介して前記第1の電源から前記画素電極
に電位を与えるか、前記第2EL駆動用TFTを介して
前記第2の電源から前記画素電極に電位を与えるかを選
択して、前記画素電極に与えられる電位の高さを変える
ことで、前記複数のサブフレーム期間の少なくとも1つ
のサブフレーム期間において、所定の期間における前記
EL素子の輝度が、前記所定の期間以外の期間における
前記複数のEL素子の輝度に比べて高くすることを特徴
とする発光装置の駆動方法が提供される。
According to the present invention, there is provided a method for driving a light emitting device provided with a plurality of pixels having an EL element, a first EL driving TFT and a second EL driving TFT, a first power supply, and a second power supply. A plurality of sub-frame periods provided in one frame period, wherein the EL element has a pixel electrode, a counter electrode, and an EL layer provided between the pixel electrode and the counter electrode; The potential applied to the counter electrode when the EL element emits light is always constant, and when the EL element emits light, the first EL
Selecting whether to apply a potential to the pixel electrode from the first power supply via a driving TFT or applying a potential to the pixel electrode from the second power supply via the second EL driving TFT; By changing the height of the potential applied to the pixel electrode, the luminance of the EL element in a predetermined period in at least one of the plurality of sub-frame periods is reduced in a period other than the predetermined period. And a method for driving the light emitting device, wherein the luminance is higher than the luminance of the EL element.

【0050】本発明によって、EL素子を有する複数の
画素が設けられた発光装置の駆動方法であって、第1の
モードまたは第2のモードで動作しており、前記第1の
モードでは、前記EL素子が発光している期間におい
て、前記EL素子の輝度が常に一定に保たれており、前
記第2のモードでは、前記EL素子が発光している期間
のうちの所定の期間における前記EL素子の輝度が、前
記EL素子が発光している期間のうちの所定の期間以外
の期間における前記複数のEL素子の輝度に比べて高く
なっていることを特徴とする発光装置の駆動方法が提供
される。
According to the present invention, there is provided a method for driving a light emitting device provided with a plurality of pixels having EL elements, wherein the method is operated in a first mode or a second mode. In the period in which the EL element emits light, the luminance of the EL element is always kept constant. In the second mode, the EL element emits light in a predetermined period of the period in which the EL element emits light. Wherein the luminance of the plurality of EL elements is higher than the luminance of the plurality of EL elements during a period other than a predetermined period of the period in which the EL elements emit light. You.

【0051】本発明によって、EL素子を有する複数の
画素が設けられた発光装置の駆動方法であって、第1の
モードまたは第2のモードで動作しており、前記第1の
モードでは、前記EL素子が発光している期間におい
て、前記EL素子の輝度が常に一定に保たれており、前
記第2のモードでは、前記EL素子が発光している期間
のうちの所定の期間における前記EL素子の輝度が、前
記EL素子が発光している期間のうちの所定の期間以外
の期間における前記複数のEL素子の輝度に比べて高く
なっており、前記複数の画素のうち、表示する階調が一
定の階調より暗い画素では第1のモードで動作し、前記
複数の画素のうち、表示する階調が一定の階調より明る
い画素では第2のモードで動作することを特徴とする発
光装置の駆動方法が提供される。
According to the present invention, there is provided a method for driving a light emitting device provided with a plurality of pixels having EL elements, wherein the method operates in a first mode or a second mode. In the period in which the EL element emits light, the luminance of the EL element is always kept constant. In the second mode, the EL element emits light in a predetermined period of the period in which the EL element emits light. Is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than a predetermined period of the period in which the EL element emits light. A light emitting device characterized by operating in a first mode for a pixel darker than a certain gray level, and operating in a second mode for a pixel of a plurality of pixels whose displayed gray level is brighter than a certain gray level. Drive method It is subjected.

【0052】本発明によって、EL素子を有する複数の
画素が設けられた発光装置の駆動方法であって、第1の
モードまたは第2のモードで動作しており、前記第1の
モードでは、前記EL素子が発光している期間におい
て、前記EL素子の輝度が常に一定に保たれており、前
記第2のモードでは、前記EL素子が発光している期間
のうちの所定の期間における前記EL素子の輝度が、前
記EL素子が発光している期間のうちの所定の期間以外
の期間における前記複数のEL素子の輝度に比べて高く
なっており、前記複数の画素のうち、隣接する画素に比
べて、表示する階調が一定の値以上明るい画素のみ第2
のモードで動作し、前記複数の画素のうち、隣接する画
素に比べて、表示する階調が一定の値以上明るい画素以
外の画素は第1のモードで動作することを特徴とする発
光装置の駆動方法が提供される。
According to the present invention, there is provided a method of driving a light emitting device provided with a plurality of pixels having EL elements, wherein the method operates in a first mode or a second mode. In the period in which the EL element emits light, the luminance of the EL element is always kept constant. In the second mode, the EL element emits light in a predetermined period of the period in which the EL element emits light. Is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than a predetermined period in the period in which the EL element emits light, and is higher than the luminance of an adjacent pixel among the plurality of pixels. Therefore, only pixels whose gradation to be displayed is brighter than a certain value
Wherein the pixels other than the pixels whose display gradation is brighter than a certain value by a certain value or more than the adjacent pixels among the plurality of pixels operate in the first mode. A driving method is provided.

【0053】[0053]

【発明の実施の形態】(実施の形態1)以下に、本発明
の構成について説明する。図1に本実施の形態の発光装
置のブロック図を示す。
(Embodiment 1) The configuration of the present invention will be described below. FIG. 1 shows a block diagram of a light emitting device of the present embodiment.

【0054】ELパネル100は、画素部101と、ソ
ース信号線駆動回路102と、ゲート信号線駆動回路1
03とを有している。画素部101にはソース信号線S
1〜Sxと、ゲート信号線G1〜Gyと、電源供給線V
1〜Vxと、対向電源線Ve1〜Veyとが設けられて
いる。なお、対向電源線の数は必ずしもゲート信号線と
同じ数であるとは限らず、また電源供給線の数も、必ず
しもソース信号線と同じ数であるとは限らない。
The EL panel 100 includes a pixel portion 101, a source signal line driving circuit 102, and a gate signal line driving circuit 1
03. The pixel portion 101 has a source signal line S
1 to Sx, gate signal lines G1 to Gy, and power supply line V
1 to Vx and opposing power supply lines Ve1 to Vey. Note that the number of opposing power supply lines is not always the same as the number of gate signal lines, and the number of power supply lines is not necessarily the same as the number of source signal lines.

【0055】ソース信号線S1〜Sxの少なくとも1つ
と、ゲート信号線G1〜Gyの少なくとも1つと、電源
供給線V1〜Vxの少なくとも1つと、対向電源線Ve
1〜Veyの少なくとも1つを有する領域が、画素10
4に相当する。よって、画素部101には複数の画素1
04がマトリクス上に設けられている。
At least one of the source signal lines S1 to Sx, at least one of the gate signal lines G1 to Gy, at least one of the power supply lines V1 to Vx, and the opposite power line Ve
A region having at least one of 1 to Vey is a pixel 10
Equivalent to 4. Therefore, a plurality of pixels 1
04 is provided on the matrix.

【0056】105は電源回路であり、電源A(第1の
電源)106と電源B(第2の電源)107の2つの電
源が設けられている。電源A106と電源B107によ
って、電源供給線V1〜Vxは常に一定の電位(電源電
位)に保たれている。
A power supply circuit 105 is provided with two power supplies, a power supply A (first power supply) 106 and a power supply B (second power supply) 107. The power supply lines V1 to Vx are always kept at a constant potential (power supply potential) by the power supply A106 and the power supply B107.

【0057】また電源回路105は選択スイッチA10
8と、選択スイッチB109と、切り替えスイッチ11
0とを有している。切り替えスイッチ110は対向電源
線Ve1〜Veyに電源A106または電源B107に
よって電位を与えるか否かを選択するスイッチである。
The power supply circuit 105 includes a selection switch A10.
8, selection switch B109, and changeover switch 11
0. The changeover switch 110 is a switch for selecting whether or not to apply a potential to the opposing power supply lines Ve1 to Vey by the power supply A106 or the power supply B107.

【0058】また選択スイッチA108と選択スイッチ
B109は、一方がオンのときにもう一方がオフにな
る。切り替えスイッチ110がオンで、なおかつ選択ス
イッチA108がオンのとき、選択スイッチA108及
び切り替えスイッチ110を介して、電源A106から
電位(非強調時電位)が対向電源線Ve1〜Veyに与
えられる。逆に、切り替えスイッチ110がオンで、な
おかつ選択スイッチB109がオンのとき、選択スイッ
チB109及び切り替えスイッチ110を介して、電源
B107から電位(強調時電位)が対向電源線Ve1〜
Veyに与えられる。
When one of the selection switch A 108 and the selection switch B 109 is on, the other is off. When the changeover switch 110 is on and the selection switch A108 is on, a potential (non-emphasized potential) is applied from the power supply A106 to the opposing power supply lines Ve1 to Vey via the selection switch A108 and the changeover switch 110. Conversely, when the changeover switch 110 is on and the selection switch B109 is on, the potential (emphasis potential) is supplied from the power supply B107 via the selection switch B109 and the changeover switch 110 to the opposite power supply line Ve1.
Vey.

【0059】なお、本実施の形態では、ソース信号線駆
動回路102とゲート信号線駆動回路103と、画素部
101とが同じ基板上に形成され、電源回路105がI
Cチップ上に形成され、互いにFPC等のコネクターを
介して接続されているが、本発明はこの構成に限定され
ない。ソース信号線駆動回路102と、ゲート信号線駆
動回路103とは、画素部101と同じ基板上に形成さ
れていなくとも良く、電源回路105と同じ基板上に形
成されていても良い。また、電源回路105が有する選
択スイッチA108と、選択スイッチB109と、切り
替えスイッチ110とは、必ずしもICチップ上に形成
する必要はなく、画素部101と同じ基板上に形成して
も良い。
In this embodiment mode, the source signal line driving circuit 102, the gate signal line driving circuit 103, and the pixel portion 101 are formed on the same substrate, and the power supply circuit 105
Although formed on a C chip and connected to each other via a connector such as an FPC, the present invention is not limited to this configuration. The source signal line driver circuit 102 and the gate signal line driver circuit 103 are not necessarily formed over the same substrate as the pixel portion 101, and may be formed over the same substrate as the power supply circuit 105. Further, the selection switch A 108, the selection switch B 109, and the changeover switch 110 included in the power supply circuit 105 are not necessarily formed on an IC chip, and may be formed on the same substrate as the pixel portion 101.

【0060】図2(A)に画素104の詳しい構成を示
す。画素104は、ソース信号線Si(S1〜Sxのい
ずれか1つ)と、電源供給線Vi(V1〜Vxのいずれ
か1つ)と、ゲート信号線Gj(G1〜Gyのいずれか
1つ)と、対向電源線Vej(Ve1〜Veyのいずれ
か1つ)とを有している。
FIG. 2A shows a detailed configuration of the pixel 104. The pixel 104 includes a source signal line Si (one of S1 to Sx), a power supply line Vi (one of V1 to Vx), and a gate signal line Gj (one of G1 to Gy). And an opposing power supply line Vej (any one of Ve1 to Vey).

【0061】また画素104はスイッチング用TFT1
11とEL駆動用TFT112とを有している。スイッ
チング用TFT111のゲート電極は、ゲート信号線G
jに接続されている。スイッチング用TFT111のソ
ース領域とドレイン領域は、一方がソース信号線Si
に、もう一方がEL駆動用TFT112のゲート電極に
それぞれ接続されている。
The pixel 104 is a switching TFT 1
11 and an EL driving TFT 112. The gate electrode of the switching TFT 111 is connected to the gate signal line G.
j. One of a source region and a drain region of the switching TFT 111 has a source signal line Si.
The other is connected to the gate electrode of the EL driving TFT 112.

【0062】また、EL駆動用TFT112のソース領
域とドレイン領域は、一方は電源供給線Viに接続さ
れ、もう一方はEL素子113に接続される。
One of a source region and a drain region of the EL driving TFT 112 is connected to the power supply line Vi, and the other is connected to the EL element 113.

【0063】EL素子113は陽極と陰極と、陽極と陰
極との間に設けられたEL層とからなる。陽極がEL駆
動用TFT112のソース領域またはドレイン領域と接
続している場合、陽極が画素電極、陰極が対向電極とな
る。逆に陰極がEL駆動用TFT112のソース領域ま
たはドレイン領域と接続している場合、陰極が画素電
極、陽極が対向電極となる。
The EL element 113 includes an anode and a cathode, and an EL layer provided between the anode and the cathode. When the anode is connected to the source region or the drain region of the EL driving TFT 112, the anode serves as a pixel electrode and the cathode serves as a counter electrode. Conversely, when the cathode is connected to the source region or the drain region of the EL driving TFT 112, the cathode serves as a pixel electrode and the anode serves as a counter electrode.

【0064】全ての電源供給線V1〜Vxには、電源A
106及び電源B107によって一定の電源電位が与え
られている。また全ての画素が有するEL素子113の
対向電極は、対向電源線Ve1〜Veyのいずれかに接
続されている。切り替えスイッチ110と、選択スイッ
チA108とがオンのとき、全ての対向電源線Ve1〜
Veyに、電源A106によって非強調時電位が与えら
れ、切り替えスイッチ110と、選択スイッチB109
とがオンのとき、全ての対向電源線Ve1〜Veyに、
電源B107によって強調時電位が与えられる。
All power supply lines V1 to Vx have power supply A
A constant power supply potential is given by the power supply 106 and the power supply B 107. In addition, a counter electrode of the EL element 113 included in all pixels is connected to one of the counter power supply lines Ve1 to Vey. When the changeover switch 110 and the selection switch A108 are on, all the opposing power supply lines Ve1 to Ve1
Vey is supplied with the non-emphasized potential by the power supply A106, and the changeover switch 110 and the selection switch B109
Are on, all the opposite power supply lines Ve1 to Vey
The emphasis potential is supplied by the power supply B107.

【0065】次に、図1及び図2(A)に示した本発明
の発光装置の動作について説明する。時分割階調表示を
行う場合、本発明の発光装置の動作は、書き込み期間
と、表示期間とに分けて説明することができる。
Next, the operation of the light emitting device of the present invention shown in FIGS. 1 and 2A will be described. When performing time-division gray scale display, the operation of the light-emitting device of the present invention can be described separately in a writing period and a display period.

【0066】書き込み期間において、ゲート信号線G1
〜Gyが順に選択信号によって選択され、ソース信号線
S1〜Sxに入力されたデジタルビデオ信号が各画素に
入力される。なお本明細書において信号線が選択される
とは、該信号線にゲート電極が接続された全てのTFT
がオンになることを意味する。また、本明細書において
画素にデジタルビデオ信号が入力されるというのは、デ
ジタルビデオ信号が該画素の有するスイッチング用TF
Tを介して、EL駆動用TFTのゲート電極に入力され
ることを意味する。
In the writing period, the gate signal line G1
To Gy are sequentially selected by the selection signal, and the digital video signals input to the source signal lines S1 to Sx are input to each pixel. In this specification, a signal line is selected when all the TFTs whose gate electrodes are connected to the signal line are selected.
Is turned on. In this specification, the input of a digital video signal to a pixel means that the digital video signal is a switching TF of the pixel.
This means that the signal is input to the gate electrode of the EL driving TFT via T.

【0067】ここで、画素の詳しい動作について、図2
(A)に示した画素を例にとって説明する。
The detailed operation of the pixel will now be described with reference to FIG.
A description will be given by taking the pixel shown in FIG.

【0068】ゲート信号線Gjに入力された選択信号に
よって、スイッチング用TFT111がオンになり、ソ
ース信号線Siに入力された画像情報を有するデジタル
信号(以下、デジタルビデオ信号と呼ぶ)が、スイッチ
ング用TFT111を介してEL駆動用TFT112の
ゲート電極に入力される。
The switching TFT 111 is turned on by the selection signal input to the gate signal line Gj, and a digital signal (hereinafter, referred to as a digital video signal) having image information input to the source signal line Si is used for switching. The signal is input to the gate electrode of the EL driving TFT 112 via the TFT 111.

【0069】EL駆動用TFT112のゲート電極に入
力されたデジタルビデオ信号が有する、1または0の情
報によって、EL駆動用TFT112のスイッチングが
制御される。
The switching of the EL driving TFT 112 is controlled by 1 or 0 information included in the digital video signal input to the gate electrode of the EL driving TFT 112.

【0070】EL駆動用TFT112がオフになる場
合、電源供給線Viの電源電位は、EL素子113の有
する画素電極に与えられない。また、EL駆動用TFT
112がオンになる場合、電源供給線Viの電源電位
は、EL素子113の有する画素電極に与えられる。
When the EL driving TFT 112 is turned off, the power supply potential of the power supply line Vi is not applied to the pixel electrode of the EL element 113. In addition, EL driving TFT
When 112 is turned on, the power supply potential of the power supply line Vi is given to the pixel electrode of the EL element 113.

【0071】そして全ての画素にデジタルビデオ信号が
入力されるまで切り替えスイッチはオフになっており、
EL素子113の画素電極と対向電極は、同じ高さの電
位に保たれている。
The switch is turned off until the digital video signal is input to all the pixels.
The pixel electrode and the counter electrode of the EL element 113 are kept at the same potential.

【0072】全ての画素にデジタルビデオ信号が入力さ
れると、書き込み期間が終了し、表示期間が開始され
る。表示期間において、切り替えスイッチ110はオン
になる。
When the digital video signal is input to all the pixels, the writing period ends, and the display period starts. During the display period, the changeover switch 110 is turned on.

【0073】そして、切り替えスイッチ110と、選択
スイッチA108または選択スイッチB109とを介し
て、強調時電位または非強調時電位が全ての対向電源線
Ve1〜Veyに与えられる。
Then, the emphasis potential or the non-emphasis potential is applied to all the opposing power supply lines Ve1 to Vey via the changeover switch 110 and the selection switch A108 or the selection switch B109.

【0074】電源電位と強調時電位、また電源電位と非
強調時電位は、それぞれ電位差を有している。
The power supply potential and the emphasis potential have a potential difference, and the power supply potential and the non-emphasis potential have a potential difference.

【0075】EL駆動用TFT112がオンの場合、こ
の電位差はEL素子113の画素電極と対向電極の間に
かかり、EL素子113は発光する。本実施の形態で
は、強調時電位が対向電極に与えられたときの、EL素
子113の画素電極と対向電極の間の電位差を強調時E
L駆動電圧Vaと呼ぶ。また、本実施の形態では、非強
調時電位が対向電極に与えられたときの、EL素子11
3の画素電極と対向電極の間の電位差を非強調時EL駆
動電圧Vbと呼ぶ。なお、本明細書では、強調時EL駆
動電圧と、非強調時EL駆動電圧とを総称してEL駆動
電圧と呼ぶ。
When the EL driving TFT 112 is on, this potential difference is applied between the pixel electrode and the counter electrode of the EL element 113, and the EL element 113 emits light. In this embodiment, the potential difference between the pixel electrode and the counter electrode of the EL element 113 when the potential at the time of emphasis is applied to the counter electrode is emphasized at the time of emphasis.
This is referred to as an L drive voltage Va. Further, in the present embodiment, when the non-emphasized potential is applied to the counter electrode, the EL element 11
The potential difference between the third pixel electrode and the counter electrode is referred to as the non-emphasized EL drive voltage Vb. In this specification, the emphasized EL drive voltage and the non-emphasized EL drive voltage are collectively referred to as an EL drive voltage.

【0076】強調時EL駆動電圧によってEL素子11
3が発光したときの輝度と、非強調時EL駆動電圧によ
ってEL素子113が発光したときの輝度では、前者の
ほうが高い。なお、以下本明細書において、強調時EL
駆動電圧によってEL素子が発光することを、EL素子
が強発光すると呼び、非強調時EL駆動電圧によってE
L素子が発光することを、EL素子が通常発光すると呼
ぶ。
The EL element 11 is driven by the EL driving voltage during emphasis.
The luminance when the EL element 113 emits light by the non-emphasized EL driving voltage and the luminance when the EL element 113 emits light are higher in the former. In the following, in this specification, the emphasis EL
When the EL element emits light by the drive voltage, it is called that the EL element emits strong light.
The light emission of the L element is referred to as the normal light emission of the EL element.

【0077】一方、EL駆動用TFT112がオフの場
合、EL素子113の画素電極は対向電極の電位と同じ
高さに保たれるので、EL素子113は発光しない。
On the other hand, when the EL driving TFT 112 is off, the pixel electrode of the EL element 113 is kept at the same height as the potential of the counter electrode, so that the EL element 113 does not emit light.

【0078】書き込み期間と表示期間を合わせてサブフ
レーム期間SFと呼ぶ。1フレーム期間内に、デジタル
ビデオ信号の各ビットに対応した複数のサブフレーム期
間が設けられている。
The writing period and the display period are collectively called a sub-frame period SF. In one frame period, a plurality of sub-frame periods corresponding to each bit of the digital video signal are provided.

【0079】図2(B)に、本発明の発光装置を5ビッ
トのデジタルビデオ信号で駆動させた場合において、サ
ブフレーム期間(SF1〜SF5)の出現するタイミン
グを示す。横軸は時間を示しており、縦軸はEL駆動電
圧を示している。なお説明を簡便にするために、図2
(B)では、各ビットのデジタルビデオ信号によってE
L駆動用TFT112が常にオンになっている場合につ
いて示している。また、図2(B)では5ビットのデジ
タルビデオ信号で駆動させた場合について説明している
が、本発明はこのビット数に限定されない。
FIG. 2B shows the timing at which the sub-frame periods (SF1 to SF5) appear when the light emitting device of the present invention is driven by a 5-bit digital video signal. The horizontal axis indicates time, and the vertical axis indicates EL driving voltage. For the sake of simplicity, FIG.
In (B), E is determined by the digital video signal of each bit.
The case where the L driving TFT 112 is always on is shown. Although FIG. 2B illustrates the case where the digital video signal is driven by a 5-bit digital video signal, the present invention is not limited to this number of bits.

【0080】SF1〜SF5の各サブフレーム期間の書
き込み期間において、EL駆動電圧は0であるため、E
L素子113は発光しない。SF1〜SF5の各サブフ
レーム期間の表示期間において、EL駆動電圧の絶対値
が0よりも大きくなり、EL素子113は発光する。
Since the EL drive voltage is 0 during the writing period of each of the subframe periods SF1 to SF5,
The L element 113 does not emit light. In the display period of each of the subframes SF1 to SF5, the absolute value of the EL drive voltage becomes larger than 0, and the EL element 113 emits light.

【0081】本実施の形態では、5ビット目のデジタル
ビデオ信号に対応するサブフレーム期間SF5の表示期
間の一部においてのみ、選択スイッチA108をオン、
選択スイッチB109をオフにして、電源A106によ
り強調時電位を対向電源線Ve1〜Veyに与えてい
る。強調時電位が対向電源線Ve1〜Veyに与えられ
ると、オンのEL駆動用TFT112を介して強調時電
位が画素電極に与えられる。その結果、EL素子113
に強調時EL駆動電圧が印加され、EL素子113が強
発光する。なお、EL素子が強発光している期間を、強
発光期間と呼ぶ。
In this embodiment, the selection switch A108 is turned on only during a part of the display period of the sub-frame period SF5 corresponding to the digital video signal of the fifth bit.
The selection switch B109 is turned off, and the emphasis potential is applied to the opposite power supply lines Ve1 to Vey by the power supply A106. When the potential at the time of emphasis is applied to the opposite power supply lines Ve1 to Vey, the potential at the time of emphasis is applied to the pixel electrode via the ON EL driving TFT 112. As a result, the EL element 113
At the time of emphasis, the EL element 113 emits strong light. Note that a period during which the EL element emits light is called a strong light emission period.

【0082】そして、サブフレーム期間SF5の表示期
間のうち、強発光期間以外の期間と、他のサブフレーム
期間SF1〜SF4が有する全ての表示期間において
は、選択スイッチA108がオフ、選択スイッチB10
9がオンになり、電源B107により非強調時電位が対
向電源線Ve1〜Veyに与えられる。非強調時電位が
対向電源線Ve1〜Veyに与えられると、オンのEL
駆動用TFT112を介して非強調時電位が画素電極に
与えられる。その結果、EL素子113に非強調時EL
駆動電圧が印加され、EL素子113が通常発光する。
In the display period of the sub-frame period SF5, in the periods other than the strong light emission period and in all the display periods of the other sub-frame periods SF1 to SF4, the selection switch A108 is turned off, and the selection switch B10 is turned off.
9 is turned on, and the non-emphasized potential is applied to the opposite power supply lines Ve1 to Vey by the power supply B107. When the non-emphasized potential is applied to the opposite power supply lines Ve1 to Vey, the ON EL
A non-emphasized potential is applied to the pixel electrode via the driving TFT 112. As a result, the non-emphasized EL element 113
A driving voltage is applied, and the EL element 113 normally emits light.

【0083】なお強発光期間は、本実施の形態で示した
ように、必ずしも最上位ビットに対応するサブフレーム
期間内に設ける必要はない。強発光期間は、どのサブフ
レーム期間にも設けることができる。また本実施の形態
では、1フレーム期間中において、1つのサブフレーム
期間にのみ強発光期間を設けたが、本発明はこの構成に
限定されない。1フレーム期間中において、複数のサブ
フレーム期間のそれぞれに強発光期間を設けても良い。
The strong light emission period does not necessarily need to be provided within the subframe period corresponding to the most significant bit, as described in this embodiment. The strong light emission period can be provided in any subframe period. In this embodiment mode, a strong light emission period is provided only in one subframe period in one frame period; however, the present invention is not limited to this structure. During one frame period, a strong light emission period may be provided in each of a plurality of subframe periods.

【0084】また強発光期間の長さは設計者が任意に設
定することができるが、最も短い表示期間と同じか、そ
れより短い方が好ましい。
The length of the intense light emission period can be arbitrarily set by the designer, but is preferably equal to or shorter than the shortest display period.

【0085】また、本発明の発光装置では、強発光期間
が設けられていないフレーム期間によって画像を表示す
る通常のモードと、強発光期間が設けらたフレーム期間
によって画像を表示する強発光のモードとを自由に選択
することが可能である。例えば、使用者が選択した場合
や、発光装置を有する電子機器によって自動的に選択さ
れた場合にのみ、強発光のモードが選択されるようにし
ても良い。
In the light emitting device of the present invention, a normal mode in which an image is displayed in a frame period in which no strong light emission period is provided, and a strong light emission mode in which an image is displayed in a frame period in which a strong light emission period is provided. And can be freely selected. For example, the strong light emission mode may be selected only when selected by the user or automatically selected by an electronic device having a light emitting device.

【0086】また本発明では、nビット(nは任意の自
然数)のデジタルビデオ信号を用いて表示を行う場合、
表示期間の長さ比が、デジタルビデオ信号の最下位ビッ
トに対応する表示期間から順に、20:21:22:…:
(n-2):2(n-1)となるようにすることが必要である。
この表示期間の組み合わせで2n階調のうち所望の階調
表示を行うことができる。またサブフレーム期間の出現
する順序は、本実施の形態に示した順序に限定されな
い。サブフレーム期間SF1〜SFnは、どのような順
序で出現させても良い。
According to the present invention, when display is performed using an n-bit (n is an arbitrary natural number) digital video signal,
In order from the display period length ratio of the display period, corresponding to the least significant bit of the digital video signal, 2 0: 2 1: 2 2: ...:
2 (n-2) : It is necessary to make 2 (n-1) .
A desired gradation display out of 2 n gradations can be performed by the combination of the display periods. The order in which the subframe periods appear is not limited to the order shown in this embodiment. The sub-frame periods SF1 to SFn may appear in any order.

【0087】本発明では、1フレーム期間内に強発光期
間を設けることによって、発光装置に入力されるビデオ
信号が情報として有する画像自体が全体的に暗くても、
実際に表示される画像が明るくなるので、対象物の認識
を容易にすることができる。
In the present invention, by providing a strong light emission period within one frame period, even if an image itself as information of a video signal input to the light emitting device is entirely dark,
Since the actually displayed image becomes brighter, it is possible to easily recognize the object.

【0088】(実施の形態2)本実施の形態では、画素
部が有する特定の画素のみに、強発光期間を設ける構成
について説明する。図3に本実施の形態の発光装置のブ
ロック図を示す。
(Embodiment Mode 2) In this embodiment mode, a structure in which a strong light emission period is provided only for a specific pixel included in a pixel portion will be described. FIG. 3 shows a block diagram of the light emitting device of the present embodiment.

【0089】ELパネル200は、画素部201と、第
1ソース信号線駆動回路202aと、第2ソース信号線
駆動回路202bと、ゲート信号線駆動回路203とを
有している。画素部201には第1ソース信号線Sa1
〜Saxと、第2ソース信号線Sb1〜Sbxと、ゲー
ト信号線G1〜Gyと、第1電源供給線Va1〜Vax
と、第2電源供給線Vb1〜Vbxと、対向電源線Ve
1〜Veyとが設けられている。なお、対向電源線の数
は必ずしもゲート信号線と同じ数であるとは限らず、ま
た第1または第2電源供給線の数も、必ずしも第1また
は第2ソース信号線と同じ数であるとは限らない。
The EL panel 200 has a pixel portion 201, a first source signal line driving circuit 202a, a second source signal line driving circuit 202b, and a gate signal line driving circuit 203. The pixel unit 201 has a first source signal line Sa1
To Sax, the second source signal lines Sb1 to Sbx, the gate signal lines G1 to Gy, and the first power supply lines Va1 to Vax.
, Second power supply lines Vb1 to Vbx, and opposing power supply line Ve
1 to Vey. Note that the number of opposing power supply lines is not necessarily the same as the number of gate signal lines, and the number of first or second power supply lines is not necessarily the same as the number of first or second source signal lines. Not necessarily.

【0090】第1ソース信号線Sa1〜Saxの少なく
とも1つと、第2ソース信号線Sb1〜Sbxの少なく
とも1つと、ゲート信号線G1〜Gyの少なくとも1つ
と、第1電源供給線Va1〜Vaxの少なくとも1つ
と、第2電源供給線Vb1〜Vbxの少なくとも1つ
と、対向電源線Ve1〜Veyの少なくとも1つを有す
る領域が、画素204に相当する。よって、画素部20
1には複数の画素204がマトリクス上に設けられてい
る。
At least one of the first source signal lines Sa1 to Sax, at least one of the second source signal lines Sb1 to Sbx, at least one of the gate signal lines G1 to Gy, and at least one of the first power supply lines Va1 to Vax One region, at least one of the second power supply lines Vb1 to Vbx, and at least one of the opposing power lines Ve1 to Vey correspond to the pixel 204. Therefore, the pixel portion 20
In one, a plurality of pixels 204 are provided on a matrix.

【0091】205は電源回路であり、電源A206と
電源B207の2つの電源が設けられている。電源A2
06によって、第1電源供給線Va1〜Vaxに一定の
電位(強調時電源電位)が与えられている。また、電源
B207によって、第2電源供給線Vb1〜Vbxに一
定の電位(非強調時電源電位)が与えられている。
A power supply circuit 205 is provided with two power supplies, a power supply A 206 and a power supply B 207. Power supply A2
06, a constant potential (power supply potential at the time of emphasis) is applied to the first power supply lines Va1 to Vax. The power supply B207 applies a constant potential (non-emphasized power supply potential) to the second power supply lines Vb1 to Vbx.

【0092】また電源回路205は切り替えスイッチ2
10を有している。切り替えスイッチ210は対向電源
線Ve1〜Veyに電源A206及び電源B207によ
って電位を与えるか否かを選択するスイッチである。
The power supply circuit 205 is provided with a switch 2
It has ten. The changeover switch 210 is a switch for selecting whether or not to apply a potential to the opposing power supply lines Ve1 to Vey by the power supply A206 and the power supply B207.

【0093】切り替えスイッチ210がオンになると、
切り替えスイッチ210を介して、電源A206及び電
源B207によって、一定の対向電位が対向電源線Ve
1〜Veyに与えられる。
When the changeover switch 210 is turned on,
Through the changeover switch 210, the power supply A 206 and the power supply B 207 generate a constant opposing potential to the opposing power supply line Ve.
1 to Vey.

【0094】なお、本実施の形態では、第1ソース信号
線駆動回路202aと、第2ソース信号線駆動回路20
2bと、ゲート信号線駆動回路203と、画素部201
とが同じ基板上に形成され、電源回路205がICチッ
プ上に形成され、互いにFPC等のコネクターを介して
接続されているが、本発明はこの構成に限定されない。
第1ソース信号線駆動回路202aと、第2ソース信号
線駆動回路202bと、ゲート信号線駆動回路203と
は、画素部201と同じ基板上に形成されていなくとも
良く、電源回路205と同じ基板上に形成されていても
良い。また、電源回路205が有する切り替えスイッチ
210は、必ずしもICチップ上に形成する必要はな
く、画素部201と同じ基板上に形成しても良い。
In this embodiment, the first source signal line driving circuit 202a and the second source signal line driving circuit 20a
2b, the gate signal line driving circuit 203, and the pixel portion 201
Are formed on the same substrate and the power supply circuit 205 is formed on an IC chip and connected to each other via a connector such as an FPC, but the present invention is not limited to this configuration.
The first source signal line driver circuit 202a, the second source signal line driver circuit 202b, and the gate signal line driver circuit 203 do not need to be formed over the same substrate as the pixel portion 201; It may be formed on top. Further, the changeover switch 210 included in the power supply circuit 205 is not necessarily formed on an IC chip, and may be formed on the same substrate as the pixel portion 201.

【0095】図4(A)に画素204の詳しい構成を示
す。画素204は、第1ソース信号線Sai(Sa1〜
Saxのいずれか1つ)と、第2ソース信号線Sbi
(Sb1〜Sbxのいずれか1つ)と、第1電源供給線
Vai(Va1〜Vaxのいずれか1つ)と、第2電源
供給線Vbi(Vb1〜Vbxのいずれか1つ)と、ゲ
ート信号線Gj(G1〜Gyのいずれか1つ)と、対向
電源線Vej(Ve1〜Veyのいずれか1つ)とを有
している。
FIG. 4A shows a detailed configuration of the pixel 204. The pixel 204 includes a first source signal line Sai (Sa1 to Sa1).
Sax) and the second source signal line Sbi.
(One of Sb1 to Sbx), first power supply line Vai (one of Va1 to Vax), second power supply line Vbi (one of Vb1 to Vbx), and gate signal It has a line Gj (any one of G1 to Gy) and a counter power supply line Vej (any one of Ve1 to Vey).

【0096】また画素204は、第1スイッチング用T
FT211aと、第2スイッチング用TFT211b
と、第1EL駆動用TFT212aと、第2EL駆動用
TFT212bとを有している。第1スイッチング用T
FT211aと、第2スイッチング用TFT211b
は、互いに極性が同じである。また、第1EL駆動用T
FT212aと、第2EL駆動用TFT212bは、互
いに極性が同じである。
The pixel 204 has a first switching T
FT211a and second switching TFT211b
And a first EL driving TFT 212a and a second EL driving TFT 212b. T for first switching
FT211a and second switching TFT211b
Have the same polarity as each other. Also, the first EL driving T
The FT 212a and the second EL driving TFT 212b have the same polarity.

【0097】第1及び第2スイッチング用TFT211
a、211bのゲート電極は、ゲート信号線Gjに接続
されている。第1スイッチング用TFT211aのソー
ス領域とドレイン領域は、一方が第1ソース信号線Sa
iに、もう一方が第1EL駆動用TFT212aのゲー
ト電極にそれぞれ接続されている。また、第2スイッチ
ング用TFT211bのソース領域とドレイン領域は、
一方が第2ソース信号線Sbiに、もう一方が第2EL
駆動用TFT212bのゲート電極にそれぞれ接続され
ている。
First and second switching TFT 211
Gate electrodes a and 211b are connected to a gate signal line Gj. One of the source region and the drain region of the first switching TFT 211a is the first source signal line Sa.
The other is connected to the gate electrode of the first EL driving TFT 212a. The source region and the drain region of the second switching TFT 211b are
One is on the second source signal line Sbi and the other is on the second EL
It is connected to the gate electrode of the driving TFT 212b.

【0098】また、第1EL駆動用TFT212aのソ
ース領域とドレイン領域は、一方は第1電源供給線Va
iに接続され、もう一方はEL素子213に接続され
る。また、第2EL駆動用TFT212bのソース領域
とドレイン領域は、一方は第2電源供給線Vbiに接続
され、もう一方はEL素子213に接続される。
One of the source region and the drain region of the first EL driving TFT 212a is the first power supply line Va.
i and the other is connected to the EL element 213. One of a source region and a drain region of the second EL driving TFT 212b is connected to the second power supply line Vbi, and the other is connected to the EL element 213.

【0099】EL素子213は陽極と陰極と、陽極と陰
極との間に設けられたEL層とからなる。陽極が第1E
L駆動用TFT212aのソース領域もしくはドレイン
領域と接続している場合、または、陽極が第2EL駆動
用TFT212bのソース領域もしくはドレイン領域と
接続している場合、陽極が画素電極、陰極が対向電極と
なる。逆に陰極が第1EL駆動用TFT212aのソー
ス領域もしくはドレイン領域と接続している場合、また
は、陰極が第2EL駆動用TFT212bのソース領域
もしくはドレイン領域と接続している場合、陰極が画素
電極、陽極が対向電極となる。
The EL element 213 includes an anode and a cathode, and an EL layer provided between the anode and the cathode. The anode is 1E
When connected to the source or drain region of the L driving TFT 212a, or when the anode is connected to the source or drain region of the second EL driving TFT 212b, the anode becomes a pixel electrode and the cathode becomes a counter electrode. . Conversely, when the cathode is connected to the source or drain region of the first EL driving TFT 212a, or when the cathode is connected to the source or drain region of the second EL driving TFT 212b, the cathode is a pixel electrode or an anode. Becomes the counter electrode.

【0100】全ての第1電源供給線Va1〜Vaxに
は、電源A206によって一定の強調時電源電位が与え
られている。また、全ての第2電源供給線Vb1〜Vb
xには、電源B207によって一定の非強調時電源電位
が与えられている。
A fixed emphasis power supply potential is applied to all the first power supply lines Va1 to Vax by the power supply A206. Also, all the second power supply lines Vb1 to Vb
x is given a constant non-emphasized power supply potential by the power supply B 207.

【0101】全ての画素が有するEL素子213の対向
電極は、対向電源線Ve1〜Veyのいずれかに接続さ
れている。切り替えスイッチ210がオンのとき、全て
の対向電源線Ve1〜Veyに、電源A206及び電源
B207によって対向電位が与えられる。
The opposing electrode of the EL element 213 of all the pixels is connected to one of the opposing power supply lines Ve1 to Vey. When the changeover switch 210 is turned on, a counter potential is applied to all the counter power lines Ve1 to Vey by the power source A206 and the power source B207.

【0102】次に、図3及び図4(A)に示した本発明
の発光装置の動作について説明する。時分割階調表示を
行う場合、本発明の発光装置の動作は、書き込み期間
と、表示期間とに分けて説明することができる。
Next, the operation of the light emitting device of the present invention shown in FIGS. 3 and 4A will be described. When performing time-division gray scale display, the operation of the light-emitting device of the present invention can be described separately in a writing period and a display period.

【0103】書き込み期間において、ゲート信号線G1
〜Gyが順に選択信号によって選択され、デジタルビデ
オ信号が各画素に入力される。
In the writing period, the gate signal line G1
Gy are sequentially selected by a selection signal, and a digital video signal is input to each pixel.

【0104】ここで、画素の詳しい動作について、図4
(A)に示した画素を例にとって説明する。
The detailed operation of the pixel will now be described with reference to FIG.
A description will be given by taking the pixel shown in FIG.

【0105】書き込み期間において、ゲート信号線Gj
に入力された選択信号によって、第1及び第2スイッチ
ング用TFT211a、211bがオンになる。
In the writing period, the gate signal line Gj
, The first and second switching TFTs 211a and 211b are turned on.

【0106】そして本実施の形態では、第1ソース信号
線Sa1〜Saxに第1デジタルビデオ信号が入力さ
れ、第2ソース信号線Sb1〜Sbxに第2デジタルビ
デオ信号が入力される。
In the present embodiment, the first digital video signal is input to the first source signal lines Sa1 to Sax, and the second digital video signal is input to the second source signal lines Sb1 to Sbx.

【0107】第1ソース信号線Saiに入力された第1
デジタルビデオ信号が、第1スイッチング用TFT21
1aを介して第1EL駆動用TFT212aのゲート電
極に入力される。同時に、第2ソース信号線Sbiに入
力された第2デジタルビデオ信号が、第2スイッチング
用TFT211bを介して第1EL駆動用TFT212
aのゲート電極に入力される。
The first signal input to the first source signal line Sai is
The digital video signal is transmitted to the first switching TFT 21.
The signal is input to the gate electrode of the first EL driving TFT 212a via 1a. At the same time, the second digital video signal input to the second source signal line Sbi is transmitted to the first EL driving TFT 212 via the second switching TFT 211b.
a is input to the gate electrode a.

【0108】なお、本実施の形態において、画素にデジ
タルビデオ信号が入力されるというのは、第1デジタル
ビデオ信号が該画素の有する第1スイッチング用TFT
を介して、第1EL駆動用TFTのゲート電極に入力さ
れ、なおかつ、第2デジタルビデオ信号が該画素の有す
る第2スイッチング用TFTを介して、第2EL駆動用
TFTのゲート電極に入力されることを意味する。
In the present embodiment, the input of the digital video signal to the pixel means that the first digital video signal corresponds to the first switching TFT of the pixel.
And the second digital video signal is input to the gate electrode of the second EL driving TFT via the second switching TFT of the pixel. Means

【0109】第1、第2EL駆動用TFT212a、2
12bは、ゲート電極に入力された第1、第2デジタル
ビデオ信号が有する、1または0の情報によって、その
スイッチングが制御される。
First and second EL driving TFTs 212a,
Switching of 12b is controlled by 1 or 0 information included in the first and second digital video signals input to the gate electrode.

【0110】第1EL駆動用TFT212aと第2EL
駆動用TFT212bは、一方がオンでもう一方がオフ
になるか、もしくは両方ともオフになる。
The first EL driving TFT 212a and the second EL
One of the driving TFTs 212b is on and the other is off, or both are off.

【0111】第1及び第2EL駆動用TFT212a、
212bが両方ともオフになる場合、第1電源供給線V
aiの強調時電源電位及び第2電源供給線Vbiの非強
調時電源電位は、EL素子213の有する画素電極に与
えられない。
The first and second EL driving TFTs 212a,
When both 212b are turned off, the first power supply line V
The emphasis power supply potential of ai and the non-emphasis power supply potential of the second power supply line Vbi are not applied to the pixel electrode of the EL element 213.

【0112】また、第1または第2EL駆動用TFT2
12a、212bのいずれか一方がオンになる場合、第
1電源供給線Vaiの強調時電源電位または第2電源供
給線Vbiの非強調時電源電位が、EL素子213の有
する画素電極に与えられる。
The first or second EL driving TFT 2
When one of 12a and 212b is turned on, the emphasized power supply potential of the first power supply line Vai or the non-emphasized power supply potential of the second power supply line Vbi is supplied to the pixel electrode of the EL element 213.

【0113】そして全ての画素にデジタルビデオ信号が
入力されるまで切り替えスイッチはオフになっており、
EL素子213の画素電極と対向電極は、同じ高さの電
位に保たれている。
The changeover switch is turned off until the digital video signal is input to all the pixels.
The pixel electrode and the counter electrode of the EL element 213 are kept at the same potential.

【0114】全ての画素にデジタルビデオ信号が入力さ
れると、書き込み期間が終了し、表示期間が開始され
る。表示期間において、切り替えスイッチ210はオン
になる。
When the digital video signal is input to all the pixels, the writing period ends, and the display period starts. During the display period, the changeover switch 210 is turned on.

【0115】そして、電源A206及び電源B207に
よって、切り替えスイッチ210を介して、対向電位が
全ての対向電源線Ve1〜Veyに与えられる。
Then, the opposing potential is applied to all the opposing power supply lines Ve1 to Vey by the power supply A206 and the power supply B207 via the changeover switch 210.

【0116】強調時電源電位と対向電位、また非強調時
電源電位と対向電位は、それぞれ電位差を有している。
The power supply potential at the time of emphasis and the opposing potential, and the power supply potential at the time of non-emphasis and the opposing potential have potential differences, respectively.

【0117】第1EL駆動用TFT212aがオンで第
2EL駆動用TFT212bがオフの場合、強調時電源
電位と対向電位の電位差はEL素子213の画素電極と
対向電極の間にかかり、EL素子213は発光する。本
実施の形態では、強調時電源電位が第1EL駆動用TF
T212aを介して画素電極に与えられたときの、EL
素子213の画素電極と対向電極の間の電位差を強調時
EL駆動電圧Vaと呼ぶ。
When the first EL driving TFT 212a is on and the second EL driving TFT 212b is off, the potential difference between the emphasis power supply potential and the counter potential is applied between the pixel electrode and the counter electrode of the EL element 213, and the EL element 213 emits light. I do. In the present embodiment, the emphasis power supply potential is set to the first EL driving TF.
EL when applied to the pixel electrode via T212a
The potential difference between the pixel electrode and the counter electrode of the element 213 is referred to as an emphasis EL drive voltage Va.

【0118】また、第1EL駆動用TFT212aがオ
フで第2EL駆動用TFT212bがオンの場合、非強
調時電源電位と対向電位の電位差はEL素子213の画
素電極と対向電極の間にかかり、EL素子213は発光
する。本実施の形態では、非強調時電位がEL駆動用T
FT212を介して画素電極に与えられたときの、EL
素子213の画素電極と対向電極の間の電位差を非強調
時EL駆動電圧Vbと呼ぶ。
When the first EL driving TFT 212a is off and the second EL driving TFT 212b is on, the potential difference between the non-emphasized power supply potential and the opposing potential is applied between the pixel electrode and the opposing electrode of the EL element 213. 213 emits light. In this embodiment, the non-emphasized potential is the EL driving T
EL when applied to the pixel electrode via FT212
The potential difference between the pixel electrode and the counter electrode of the element 213 is referred to as a non-emphasized EL drive voltage Vb.

【0119】なお、本明細書では、強調時EL駆動電圧
Vaと、非強調時EL駆動電圧Vbとを総称してEL駆
動電圧と呼ぶ。
In this specification, the emphasized EL drive voltage Va and the non-emphasized EL drive voltage Vb are collectively referred to as an EL drive voltage.

【0120】強調時EL駆動電圧によってEL素子21
3が発光したときの輝度と、非強調時EL駆動電圧によ
ってEL素子213が発光したときの輝度では、前者の
ほうが高い。
The EL element 21 is driven by the EL drive voltage during emphasis.
The luminance of the EL element 213 due to the non-emphasized EL driving voltage and the luminance of the EL element 213 when the EL element 213 emits light is higher in the former case.

【0121】一方、第1及び第2EL駆動用TFT21
2a、212bが共にオフの場合、EL素子213の画
素電極と対向電極の電位は同じ高さに保たれるので、E
L素子213は発光しない。
On the other hand, the first and second EL driving TFTs 21
When both 2a and 212b are off, the potential of the pixel electrode of the EL element 213 and the potential of the counter electrode are maintained at the same level.
The L element 213 does not emit light.

【0122】書き込み期間と表示期間を合わせてサブフ
レーム期間SFと呼ぶ。1フレーム期間内に、デジタル
ビデオ信号の各ビットに対応した複数のサブフレーム期
間が設けられている。
The writing period and the display period are collectively called a sub-frame period SF. In one frame period, a plurality of sub-frame periods corresponding to each bit of the digital video signal are provided.

【0123】図4(B)に、本発明の発光装置を5ビッ
トのデジタルビデオ信号で駆動させた場合において、サ
ブフレーム期間(SF1〜SF5)の出現するタイミン
グを示す。横軸は時間を示しており、縦軸はEL駆動電
圧を示している。なお説明を簡便にするために、図2
(B)では、各ビットのデジタルビデオ信号によって第
1EL駆動用TFT212aと第2EL駆動用TFT2
12bのいずれか一方がオンになっている場合について
示している。また、図2(B)では5ビットのデジタル
ビデオ信号で駆動させた場合について説明しているが、
本発明はこのビット数に限定されない。
FIG. 4B shows the timings at which the sub-frame periods (SF1 to SF5) appear when the light emitting device of the present invention is driven by a 5-bit digital video signal. The horizontal axis indicates time, and the vertical axis indicates EL driving voltage. For the sake of simplicity, FIG.
In (B), the first EL driving TFT 212a and the second EL driving TFT 2
12B shows a case where one of the switches 12b is turned on. FIG. 2B illustrates a case where the digital video signal is driven by a 5-bit digital video signal.
The present invention is not limited to this number of bits.

【0124】SF1〜SF5の各サブフレーム期間の書
き込み期間において、EL駆動電圧は0であるため、E
L素子213は発光しない。SF1〜SF5の各サブフ
レーム期間の表示期間において、EL駆動電圧の絶対値
が0よりも大きくなり、EL素子213は発光する。
Since the EL drive voltage is 0 in the writing period of each of the sub-frame periods SF1 to SF5, E
The L element 213 does not emit light. In the display period of each sub-frame period of SF1 to SF5, the absolute value of the EL drive voltage becomes larger than 0, and the EL element 213 emits light.

【0125】本実施の形態では、5ビット目のデジタル
ビデオ信号に対応するサブフレーム期間SF5の表示期
間の一部においてのみ、第1EL駆動用TFT212a
をオン、第2EL駆動用TFT212bをオフにして、
強調時電源電位をEL素子213の画素電極に与えてい
る。その結果、EL素子213に強調時EL駆動電圧が
印加され、EL素子213が強発光する。なお、EL素
子が強発光している期間を、強発光期間と呼ぶ。
In the present embodiment, the first EL driving TFT 212a is provided only in a part of the display period of the subframe period SF5 corresponding to the digital video signal of the fifth bit.
Is turned on, the second EL driving TFT 212b is turned off,
The power supply potential at the time of emphasis is given to the pixel electrode of the EL element 213. As a result, the emphasis EL driving voltage is applied to the EL element 213, and the EL element 213 emits strong light. Note that a period during which the EL element emits light is called a strong light emission period.

【0126】そして、サブフレーム期間SF5の表示期
間のうち、強発光期間以外の期間と、他のサブフレーム
期間SF1〜SF4が有する全ての表示期間において
は、第1EL駆動用TFT212aをオフ、第2EL駆
動用TFT212bをオンにして、非強調時電源電位を
EL素子213の画素電極に与えている。その結果、E
L素子213に非強調時EL駆動電圧が印加され、EL
素子213が通常発光する。
In the display period of the sub-frame period SF5, in the periods other than the strong light emission period and in all the display periods of the other sub-frame periods SF1 to SF4, the first EL driving TFT 212a is turned off and the second EL The driving TFT 212b is turned on, and the power supply potential at the time of non-emphasis is given to the pixel electrode of the EL element 213. As a result, E
The non-emphasized EL drive voltage is applied to the L element 213,
The element 213 normally emits light.

【0127】なお強発光期間は、本実施の形態で示した
ように、必ずしも最上位ビットに対応するサブフレーム
期間内に設ける必要はない。強発光期間は、どのサブフ
レーム期間にも設けることができる。また本実施の形態
では、1フレーム期間中において、1つのサブフレーム
期間にのみ強発光期間を設けたが、本発明はこの構成に
限定されない。1フレーム期間中において、複数のサブ
フレーム期間のそれぞれに強発光期間を設けても良い。
Note that the strong light emission period does not necessarily need to be provided in the subframe period corresponding to the most significant bit, as described in this embodiment. The strong light emission period can be provided in any subframe period. In this embodiment mode, a strong light emission period is provided only in one subframe period in one frame period; however, the present invention is not limited to this structure. During one frame period, a strong light emission period may be provided in each of a plurality of subframe periods.

【0128】また強発光期間の長さは設計者が任意に設
定することができるが、最も短い表示期間と同じか、そ
れより短い方が好ましい。
The length of the intense light emission period can be arbitrarily set by a designer, but is preferably equal to or shorter than the shortest display period.

【0129】また、本発明の発光装置では、強発光期間
が設けられていないフレーム期間によって画像を表示す
る通常のモードと、強発光期間が設けらたフレーム期間
によって画像を表示する強発光のモードとを自由に選択
することが可能である。例えば、使用者が選択した場合
や、発光装置を有する電子機器によって自動的に選択さ
れた場合にのみ、強発光のモードが選択されるようにし
ても良い。
In the light emitting device of the present invention, a normal mode in which an image is displayed in a frame period in which no strong light emission period is provided, and a strong light emission mode in which an image is displayed in a frame period in which a strong light emission period is provided. And can be freely selected. For example, the strong light emission mode may be selected only when selected by the user or automatically selected by an electronic device having a light emitting device.

【0130】また本発明では、nビットのデジタルビデ
オ信号を用いて表示を行う場合、表示期間の長さ比が、
デジタルビデオ信号の最下位ビットに対応する表示期間
から順に、20:21:22:…:2(n-2):2(n-1)とな
るようにすることが必要である。この表示期間の組み合
わせで2n階調のうち所望の階調表示を行うことができ
る。またサブフレーム期間の出現する順序は、本実施の
形態に示した順序に限定されない。サブフレーム期間S
F1〜SFnは、どのような順序で出現させても良い。
In the present invention, when display is performed using an n-bit digital video signal, the length ratio of the display period is as follows:
In order from the display period corresponding to the least significant bit of the digital video signal, 2 0: 2 1: 2 2: ...: 2 (n-2): it is necessary to be a 2 (n-1). A desired gradation display out of 2 n gradations can be performed by the combination of the display periods. The order in which the subframe periods appear is not limited to the order shown in this embodiment. Subframe period S
F1 to SFn may appear in any order.

【0131】本発明では、1フレーム期間内に強発光期
間を設けることによって、発光装置に入力されるビデオ
信号が情報として有する画像自体が全体的に暗くても、
実際に表示される画像が明るくなるので、対象物の認識
を容易にすることができる。
According to the present invention, by providing a strong light emission period within one frame period, even if an image itself as information of a video signal input to the light emitting device is entirely dark,
Since the actually displayed image becomes brighter, it is possible to easily recognize the object.

【0132】また、ある画素が表示する階調が、ある一
定の階調より明るいときに、該画素のEL素子に印加さ
れるEL駆動電圧の絶対値を大きくし、EL素子の輝度
を高くしても良い。上記構成により、明るい階調を表示
する画素はより明るくなり、画像のコントラストが大き
くなって、画像が鮮明になり、対象物の認識を容易にす
ることができる。
Further, when the gradation displayed by a certain pixel is brighter than a certain gradation, the absolute value of the EL drive voltage applied to the EL element of the pixel is increased to increase the luminance of the EL element. May be. According to the above configuration, the pixel displaying a bright gradation becomes brighter, the contrast of the image is increased, the image is sharpened, and the object can be easily recognized.

【0133】また、各画素に入力されるデジタルビデオ
信号から、隣接する画素に比べて階調が大きく異なる画
素を特定することにより、対象物の輪郭を検出し、画像
の輪郭の部分の画素においてのみコントラストを大きく
しても良い。上記構成によって、画像の輪郭が抽出さ
れ、画像が鮮明になり、対象物の認識を容易にすること
ができる。
Further, by identifying a pixel having a gradation greatly different from that of an adjacent pixel from a digital video signal inputted to each pixel, an outline of the object is detected, and a pixel at an outline portion of the image is detected. Only the contrast may be increased. According to the above configuration, the outline of the image is extracted, the image is sharpened, and the object can be easily recognized.

【0134】(実施の形態3)実施の形態1及び2で
は、切り替えスイッチを設けた構成について説明した
が、本発明はこの構成に限定されない。切り替えスイッ
チは必ずしも設ける必要はない。
(Embodiment 3) In Embodiments 1 and 2, the configuration provided with the changeover switch has been described, but the present invention is not limited to this configuration. It is not always necessary to provide a changeover switch.

【0135】ただしこの場合、書き込み期間において画
素にデジタルビデオ信号(第1及び第2のデジタルビデ
オ信号も含む)が入力されると同時に、EL素子が発光
または非発光の状態になり、画素が表示を行う。
However, in this case, at the same time as the digital video signal (including the first and second digital video signals) is input to the pixel during the writing period, the EL element emits or does not emit light, and the pixel is displayed. I do.

【0136】本実施の形態では、nビットのデジタルビ
デオ信号を用いて表示を行う場合、サブフレーム期間の
長さ比が、デジタルビデオ信号の最下位ビットに対応す
るサブフレーム期間から順に、20:21:22:…:2
(n-2):2(n-1)となるようにすることが必要である。こ
のサブフレーム期間の組み合わせで2n階調のうち所望
の階調表示を行うことができる。
In the present embodiment, when display is performed using an n-bit digital video signal, the length ratio of the sub-frame period is set to 20 0 in order from the sub-frame period corresponding to the least significant bit of the digital video signal. : 2 1 : 2 2 : ...: 2
(n-2) : 2 (n-1) . A desired gray scale display out of 2 n gray scales can be performed by the combination of the sub-frame periods.

【0137】またサブフレーム期間の出現する順序は、
本実施の形態に示した順序に限定されない。サブフレー
ム期間SF1〜SFnは、どのような順序で出現させて
も良い。
The order in which the sub-frame periods appear is as follows:
It is not limited to the order shown in the present embodiment. The sub-frame periods SF1 to SFn may appear in any order.

【0138】[0138]

【実施例】以下に、本発明の実施例について説明する。Embodiments of the present invention will be described below.

【0139】(実施例1)本実施例では、強発光のモー
ドにおける強発光期間の出現するタイミングが、実施の
形態1及び2とは異なる例について説明する。
(Embodiment 1) In this embodiment, an example will be described in which the timing at which the strong light emission period appears in the strong light emission mode is different from those in the first and second embodiments.

【0140】図5に、本発明の発光装置を5ビットのデ
ジタルビデオ信号で駆動させた場合において、サブフレ
ーム期間(SF1〜SF5)の出現するタイミングと、
強発光期間の出現するタイミングを示す。横軸は時間を
示しており、縦軸はEL駆動電圧を示している。なお説
明を簡便にするために、図5では、全ての表示期間にお
いてEL素子が強発光または通常発光している場合につ
いて示している。また、図5では5ビットのデジタルビ
デオ信号で駆動させた場合を例にとって説明している
が、本発明はこのビット数に限定されない。
FIG. 5 shows the appearance timings of the sub-frame periods (SF1 to SF5) when the light emitting device of the present invention is driven by a 5-bit digital video signal.
The timing at which the strong light emission period appears is shown. The horizontal axis indicates time, and the vertical axis indicates EL driving voltage. Note that for simplicity of description, FIG. 5 illustrates a case where the EL element emits strong light or normal light in all display periods. Although FIG. 5 shows an example in which the digital video signal is driven by a 5-bit digital video signal, the present invention is not limited to this number of bits.

【0141】図5(A)では、5ビットのデジタルビデ
オ信号の各ビットに対応している5つのサブフレーム期
間が、SF3、SF2、SF5、SF4、SF1の順序
で出現している。このように、1つのサブフレーム期間
内において、最も表示期間の長さが長いサブフレーム期
間(本実施例ではSF5)の前後に、他のサブフレーム
期間を出現させることで、中間階調を表示させたときに
動画擬似輪郭が発生するのを防ぐことができる。
In FIG. 5A, five subframe periods corresponding to each bit of the 5-bit digital video signal appear in the order of SF3, SF2, SF5, SF4, and SF1. As described above, in one sub-frame period, the intermediate gradation is displayed by causing another sub-frame period to appear before and after the sub-frame period (SF5 in this embodiment) having the longest display period. When this is done, it is possible to prevent the generation of a moving image false contour.

【0142】そして図5(A)では、強発光期間をサブ
フレーム期間SF5内に設けている。
In FIG. 5A, the strong light emission period is provided in the sub-frame period SF5.

【0143】図5(B)では、5ビットのデジタルビデ
オ信号の各ビットに対応している5つのサブフレーム期
間が、SF1、SF2、SF5、SF3、SF4の順序
で出現している。
In FIG. 5B, five subframe periods corresponding to each bit of the 5-bit digital video signal appear in the order of SF1, SF2, SF5, SF3, and SF4.

【0144】そして図5(A)では、強発光期間をサブ
フレーム期間SF1内に設けており、なおかつ強発光期
間とサブフレーム期間SF1が有する表示期間とが完全
に重なっている。つまり、サブフレーム期間SF1が有
する表示期間において、EL素子は常に強発光してい
る。
In FIG. 5A, a strong light emission period is provided in the subframe period SF1, and the strong light emission period and the display period of the subframe period SF1 completely overlap. That is, in the display period of the sub-frame period SF1, the EL element always emits strong light.

【0145】また強発光期間の長さは設計者が任意に設
定することができるが、最も短い表示期間と同じか、そ
れより短い方が好ましい。
The length of the intense light emission period can be arbitrarily set by a designer, but is preferably equal to or shorter than the shortest display period.

【0146】(実施例2)実施の形態2において、ある
画素の表示する階調がある一定の階調より明るいとき
に、該画素のEL素子に印加されるEL駆動電圧の絶対
値を大きくし、EL素子の輝度を高くする場合につい
て、図6を用いて詳しく説明する。
(Embodiment 2) In the second embodiment, when the gradation displayed by a pixel is brighter than a certain gradation, the absolute value of the EL drive voltage applied to the EL element of the pixel is increased. The case where the luminance of the EL element is increased will be described in detail with reference to FIG.

【0147】通常のモードの表示を行うためのデジタル
ビデオ信号が、切り替え回路220とレベル比較回路2
23とに入力される。レベル比較回路223において、
入力されたデジタルビデオ信号によって表示を行う画素
の階調が、所定の階調より明るいかどうかが判断され
る。
A digital video signal for displaying a normal mode is supplied to the switching circuit 220 and the level comparing circuit 2.
23. In the level comparison circuit 223,
It is determined whether or not the gradation of a pixel to be displayed is brighter than a predetermined gradation based on the input digital video signal.

【0148】その判断基準となるデータ(基準データ)
は不揮発性メモリ221に記憶されており、揮発性メモ
リ222によって読み込まれ、レベル比較回路223に
入力される。
Data serving as the criterion (reference data)
Are stored in the nonvolatile memory 221, read by the volatile memory 222, and input to the level comparison circuit 223.

【0149】レベル比較回路223において、基準デー
タとデジタルビデオ信号とが比較され、デジタルビデオ
信号によって表示を行う画素の階調が、所定の階調より
暗いと判断された場合、切り替え回路220に通常のモ
ードで動作するように信号を送る。逆に、デジタルビデ
オ信号によって表示を行う画素の階調が、所定の階調よ
り明るいと判断された場合、切り替え回路220に強発
光のモードで動作するように信号を送る。
In the level comparison circuit 223, the reference data and the digital video signal are compared, and when it is determined that the gradation of the pixel to be displayed by the digital video signal is darker than the predetermined gradation, the switching circuit 220 normally supplies Signal to operate in the mode. Conversely, when it is determined that the gradation of the pixel to be displayed by the digital video signal is brighter than the predetermined gradation, a signal is sent to the switching circuit 220 so as to operate in the strong light emission mode.

【0150】そして、切り替え回路220が通常のモー
ドで動作しているときは、入力されたデジタルビデオ信
号から、通常のモードの表示を行うための第1デジタル
ビデオ信号と、第2デジタルビデオ信号とを生成し、そ
れぞれ第1ソース信号線駆動回路202aと、第2ソー
ス信号線駆動回路202bに入力する。その結果、画素
が有するEL素子が通常発光を行う。
When the switching circuit 220 is operating in the normal mode, the first digital video signal for displaying the normal mode and the second digital video signal for displaying the normal mode are input from the input digital video signals. Are generated and input to the first source signal line driving circuit 202a and the second source signal line driving circuit 202b, respectively. As a result, the EL element of the pixel emits normal light.

【0151】逆に、切り替え回路220が強発光のモー
ドで動作しているときは、入力されたデジタルビデオ信
号から、強発光のモードの表示を行うための第1デジタ
ルビデオ信号と、第2デジタルビデオ信号とを生成し、
それぞれ第1ソース信号線駆動回路202aと、第2ソ
ース信号線駆動回路202bに入力する。その結果、画
素が有するEL素子が強発光を行う。
Conversely, when the switching circuit 220 is operating in the intense light emission mode, the first digital video signal for displaying the intense light emission mode and the second digital video signal are displayed from the input digital video signal. Generate a video signal and
The signals are input to the first source signal line driving circuit 202a and the second source signal line driving circuit 202b, respectively. As a result, the EL element included in the pixel emits strong light.

【0152】上記構成により、明るい階調を表示する画
素はより明るくなり、画像のコントラストが大きくなっ
て、画像が鮮明になり、対象物の認識を容易にすること
ができる。
According to the above configuration, the pixels displaying a bright gradation become brighter, the contrast of the image is increased, the image becomes clear, and the object can be easily recognized.

【0153】本実施例は、実施例1に示した構成と自由
に組み合わせて実施することが可能である。
This embodiment can be implemented by freely combining with the structure shown in the first embodiment.

【0154】(実施例3)実施の形態2において、各画
素に入力されるデジタルビデオ信号から、隣接する画素
に比べて階調が大きく異なる画素を特定することによ
り、対象物の輪郭を検出し、画像の輪郭の部分の画素に
おいてのみコントラストを大きくする場合について、図
7を用いて詳しく説明する。
(Embodiment 3) In the second embodiment, the contour of an object is detected by specifying a pixel whose gradation is greatly different from that of an adjacent pixel from a digital video signal input to each pixel. The case where the contrast is increased only in the pixels at the outline of the image will be described in detail with reference to FIG.

【0155】通常のモードの表示を行うためのデジタル
ビデオ信号が、選択時間補正回路230と、デジタルシ
グナルプロセッサ(DSP)232とに入力される。
A digital video signal for displaying a normal mode is input to a selection time correction circuit 230 and a digital signal processor (DSP) 232.

【0156】DSP232に入力されたデジタルビデオ
信号は、微分フィルタ233に入力される。微分フィル
タ233では入力されたデジタルビデオ信号から、画素
部が有する全ての画素について、隣接する画素どうしの
階調の差が数値化され、比較回路234にデータとして
送られる。
The digital video signal input to the DSP 232 is input to the differential filter 233. In the differential filter 233, for all the pixels included in the pixel portion, the gradation difference between adjacent pixels is digitized from the input digital video signal, and is sent to the comparison circuit 234 as data.

【0157】比較回路234は、数値化されたデータが
基準となる値(基準数値化データ)よりも大きい場合、
隣接する画素によって輪郭が形成されていると判断す
る。基準数値化データは基準値メモリ235に記憶され
ており、比較回路234に読み込まれている。
When the digitized data is larger than the reference value (reference digitized data),
It is determined that an outline is formed by adjacent pixels. The reference digitized data is stored in the reference value memory 235 and read by the comparison circuit 234.

【0158】レベル比較回路234において、隣接する
画素において輪郭が形成されていると判断された場合、
切り替え回路231に通常のモードで動作するように信
号を送る。逆に、隣接する画素において輪郭が形成され
ていないと判断された場合、切り替え回路231に強発
光のモードで動作するように信号を送る。
When the level comparison circuit 234 determines that an outline is formed in adjacent pixels,
A signal is sent to the switching circuit 231 so as to operate in the normal mode. Conversely, when it is determined that no contour is formed in the adjacent pixel, a signal is sent to the switching circuit 231 so as to operate in the strong light emission mode.

【0159】一方、選択時間補正回路230に入力され
たデジタルビデオ信号は、切り替え回路231にモード
を選択する信号が入力されるのに同期して、切り替え回
路231に入力される。
On the other hand, the digital video signal input to the selection time correction circuit 230 is input to the switching circuit 231 in synchronization with the input of the mode selection signal to the switching circuit 231.

【0160】そして、切り替え回路231が通常のモー
ドで動作しているときは、入力されたデジタルビデオ信
号から、通常のモードの表示を行うための第1デジタル
ビデオ信号と、第2デジタルビデオ信号とを生成し、そ
れぞれ第1ソース信号線駆動回路202aと、第2ソー
ス信号線駆動回路202bに入力する。その結果、隣接
する2つの画素が有するEL素子は、それぞれ通常発光
を行う。
When the switching circuit 231 is operating in the normal mode, the first digital video signal for displaying the normal mode and the second digital video signal for displaying the normal mode are input from the input digital video signal. Are generated and input to the first source signal line driving circuit 202a and the second source signal line driving circuit 202b, respectively. As a result, the EL elements of two adjacent pixels each emit normal light.

【0161】逆に、切り替え回路231が強発光のモー
ドで動作しているときは、入力されたデジタルビデオ信
号から、強発光のモードの表示を行うための第1デジタ
ルビデオ信号と、第2デジタルビデオ信号とを生成し、
それぞれ第1ソース信号線駆動回路202aと、第2ソ
ース信号線駆動回路202bに入力する。その結果、隣
接する2つの画素のうち、明るい階調を表示している画
素が有するEL素子が、強発光を行う。
Conversely, when the switching circuit 231 is operating in the intense light emission mode, the first digital video signal for displaying the intense light emission mode and the second digital video signal are displayed from the input digital video signal. Generate a video signal and
The signals are input to the first source signal line driving circuit 202a and the second source signal line driving circuit 202b, respectively. As a result, of the two adjacent pixels, the EL element included in the pixel displaying a bright gradation emits strong light.

【0162】上記構成によって、画像の輪郭が抽出さ
れ、画像が鮮明になり、対象物の認識を容易にすること
ができる。
According to the above configuration, the outline of the image is extracted, the image becomes clear, and the object can be easily recognized.

【0163】本実施例は、実施例1に示した構成と自由
に組み合わせて実施することが可能である。 (実施例4)本実施例では、本発明の発光装置の画素部
を駆動させるために用いる、ソース信号線駆動回路(第
1ソース信号線駆動回路及び第2ソース信号線駆動回路
を含む)、ゲート信号線駆動回路の詳しい構成について
説明する。
This embodiment can be implemented by freely combining with the structure shown in the first embodiment. Embodiment 4 In this embodiment, a source signal line driver circuit (including a first source signal line driver circuit and a second source signal line driver circuit) used for driving a pixel portion of a light emitting device of the present invention, A detailed configuration of the gate signal line driving circuit will be described.

【0164】図8に本実施例の発光装置の駆動回路のブ
ロック図を示す。図8(A)はソース信号線駆動回路6
01であり、シフトレジスタ602、ラッチ(A)60
3、ラッチ(B)604を有している。
FIG. 8 is a block diagram of a driving circuit of the light emitting device of this embodiment. FIG. 8A shows the source signal line driving circuit 6.
01, the shift register 602, the latch (A) 60
3. It has a latch (B) 604.

【0165】ソース信号線駆動回路601において、シ
フトレジスタ602にクロック信号(CLK)およびス
タートパルス(SP)が入力される。シフトレジスタ6
02は、これらのクロック信号(CLK)およびスター
トパルス(SP)に基づきタイミング信号を順に発生さ
せ、バッファ等(図示せず)を通して後段の回路へタイ
ミング信号を順次入力する。
In the source signal line driver circuit 601, a clock signal (CLK) and a start pulse (SP) are input to the shift register 602. Shift register 6
02 sequentially generates a timing signal based on the clock signal (CLK) and the start pulse (SP), and sequentially inputs the timing signal to a subsequent circuit through a buffer or the like (not shown).

【0166】シフトレジスタ602からのタイミング信
号は、バッファ等によって緩衝増幅される。タイミング
信号が入力される配線には、多くの回路あるいは素子が
接続されているために負荷容量(寄生容量)が大きい。
この負荷容量が大きいために生ずるタイミング信号の立
ち上がりまたは立ち下がりの”鈍り”を防ぐために、こ
のバッファが設けられる。なおバッファは必ずしも設け
る必要はない。
The timing signal from the shift register 602 is buffer-amplified by a buffer or the like. The wiring to which the timing signal is input has a large load capacitance (parasitic capacitance) because many circuits or elements are connected.
This buffer is provided to prevent "dulling" of the rise or fall of the timing signal caused by the large load capacitance. It is not always necessary to provide a buffer.

【0167】バッファによって緩衝増幅されたタイミン
グ信号は、ラッチ(A)603に入力される。ラッチ
(A)603は、nビットのデジタルビデオ信号(第1
デジタルビデオ信号またはだ2デジタルビデオ信号を含
む)を処理する複数のステージのラッチを有している。
ラッチ(A)603は、前記タイミング信号が入力され
ると、ソース信号線駆動回路601の外部から入力され
るnビットのデジタルビデオ信号を順次取り込み、保持
する。
The timing signal buffer-amplified by the buffer is input to the latch (A) 603. The latch (A) 603 is an n-bit digital video signal (first
(Including a digital video signal or a digital video signal).
When the timing signal is input, the latch (A) 603 sequentially captures and holds an n-bit digital video signal input from outside the source signal line driving circuit 601.

【0168】なお、ラッチ(A)603にデジタルビデ
オ信号を取り込む際に、ラッチ(A)603が有する複
数のステージのラッチに、順にデジタルビデオ信号を入
力しても良い。しかし本発明はこの構成に限定されな
い。ラッチ(A)603が有する複数のステージのラッ
チをいくつかのグループに分け、各グループごとに並行
して同時にデジタルビデオ信号を入力する、いわゆる分
割駆動を行っても良い。なおこのときのグループの数を
分割数と呼ぶ。例えば4つのステージごとにラッチをグ
ループに分けた場合、4分割で分割駆動すると言う。
When the digital video signal is taken into the latch (A) 603, the digital video signal may be sequentially input to the latches of a plurality of stages of the latch (A) 603. However, the present invention is not limited to this configuration. The latches of a plurality of stages included in the latch (A) 603 may be divided into several groups, and a so-called divided drive in which digital video signals are input simultaneously in parallel for each group may be performed. The number of groups at this time is called a division number. For example, when the latch is divided into groups for every four stages, it is referred to as divided drive in four divisions.

【0169】ラッチ(A)603の全てのステージのラ
ッチにデジタルビデオ信号の書き込みが一通り終了する
までの時間を、ライン期間と呼ぶ。実際には、上記ライ
ン期間に水平帰線期間が加えられた期間をライン期間に
含むことがある。
The time until the writing of the digital video signal to the latches of all the stages of the latch (A) 603 is completed is called a line period. Actually, the line period may include a period obtained by adding the horizontal retrace period to the line period.

【0170】1ライン期間が終了すると、ラッチ(B)
604にラッチシグナル(Latch Signal)が入力され
る。この瞬間、ラッチ(A)603に書き込まれ保持さ
れているデジタルビデオ信号は、ラッチ(B)604に
一斉に送出され、ラッチ(B)604の全ステージのラ
ッチに書き込まれ、保持される。
When one line period ends, the latch (B)
A latch signal (Latch Signal) is input to 604. At this moment, the digital video signal written and held in the latch (A) 603 is simultaneously sent to the latch (B) 604, and written and held in the latches of all the stages of the latch (B) 604.

【0171】デジタルビデオ信号をラッチ(B)604
に送出し終えたラッチ(A)603には、シフトレジス
タ602からのタイミング信号に基づき、デジタルビデ
オ信号の書き込みが順次行われる。
The digital video signal is latched (B) 604
The digital video signal is sequentially written into the latch (A) 603 which has been transmitted to the latch 603 based on the timing signal from the shift register 602.

【0172】この2順目の1ライン期間中には、ラッチ
(B)604に書き込まれ、保持されているデジタルビ
デオ信号がソース信号線(第1ソース信号線または第2
ソース信号線を含む)に入力される。
During the second one line period, the digital video signal written and held in the latch (B) 604 is supplied to the source signal line (the first source signal line or the second source signal line).
(Including source signal lines).

【0173】図8(B)はゲート信号線駆動回路の構成
を示すブロック図である。
FIG. 8B is a block diagram showing the structure of the gate signal line driving circuit.

【0174】ゲート信号線駆動回路605は、それぞれ
シフトレジスタ606、バッファ607を有している。
また場合によってはレベルシフトを有していても良い。
The gate signal line driving circuit 605 has a shift register 606 and a buffer 607, respectively.
In some cases, a level shift may be provided.

【0175】ゲート信号線駆動回路605において、シ
フトレジスタ606からのタイミング信号がバッファ6
07に入力され、対応するゲート信号線に入力される。
ゲート信号線には、1ライン分の画素の第1スイッチン
グ用TFT及び第2スイッチング用TFTのゲート電極
が接続されている。そして、1ライン分の画素の第1ス
イッチング用TFT及び第2スイッチング用TFTを一
斉にONにしなくてはならないので、バッファは大きな
電流を流すことが可能なものが用いられる。
In the gate signal line driving circuit 605, the timing signal from the shift register 606 is
07 and input to the corresponding gate signal line.
The gate electrodes of the first switching TFT and the second switching TFT of one line of pixels are connected to the gate signal line. Since the first switching TFT and the second switching TFT of the pixels for one line must be turned on at the same time, a buffer capable of flowing a large current is used.

【0176】本実施例は実施例1〜3と自由に組み合わ
せて実施することが可能である。
This embodiment can be implemented by freely combining with Embodiments 1 to 3.

【0177】(実施例5)本発明の発光装置の作成方法
の一例について、図9〜図11を用いて説明する。ここ
では、実施の形態1において示した発光装置の画素部の
スイッチング用TFTおよびEL駆動用TFTと、画素
部の周辺に設けられる駆動部のTFTを同時に作製する
方法について、工程に従って詳細に説明する。なお、本
実施例では実施の形態1で示した発光装置の作製方法に
ついて示したが、本実施例は実施の形態2に示した構成
を有する発光装置の作製方法に適用させることも可能で
ある。
Embodiment 5 An example of a method for manufacturing a light emitting device of the present invention will be described with reference to FIGS. Here, a method for simultaneously manufacturing a switching TFT and an EL driving TFT in a pixel portion of the light-emitting device described in Embodiment 1 and a TFT in a driving portion provided around the pixel portion will be described in detail according to steps. . Note that although the method for manufacturing the light-emitting device described in Embodiment 1 is described in this embodiment, the present embodiment can be applied to a method for manufacturing a light-emitting device having the structure described in Embodiment 2. .

【0178】まず、本実施例ではコーニング社の#70
59ガラスや#1737ガラスなどに代表されるバリウ
ムホウケイ酸ガラス、またはアルミノホウケイ酸ガラス
などのガラスからなる基板900を用いる。なお、基板
900としては、透光性を有する基板であれば限定され
ず、石英基板を用いても良い。また、本実施例の処理温
度に耐えうる耐熱性を有するプラスチック基板を用いて
もよい。
First, in this embodiment, Corning # 70
A substrate 900 made of glass such as barium borosilicate glass typified by 59 glass or # 1737 glass or aluminoborosilicate glass is used. Note that the substrate 900 is not limited as long as it is a light-transmitting substrate, and a quartz substrate may be used. Further, a plastic substrate having heat resistance enough to withstand the processing temperature of this embodiment may be used.

【0179】次いで、図9(A)に示すように、基板9
00上に酸化珪素膜、窒化珪素膜または酸化窒化珪素膜
などの絶縁膜から成る下地膜901を形成する。本実施
例では下地膜901として2層構造を用いるが、前記絶
縁膜の単層膜または2層以上積層させた構造を用いても
良い。下地膜901の一層目としては、プラズマCVD
法を用い、SiH4、NH3、及びN2Oを反応ガスとし
て成膜される酸化窒化珪素膜901aを10〜200n
m(好ましくは50〜100nm)形成する。本実施例
では、膜厚50nmの酸化窒化珪素膜901a(組成比
Si=32%、O=27%、N=24%、H=17%)
を形成した。次いで、下地膜901のニ層目としては、
プラズマCVD法を用い、SiH4、及びN2Oを反応ガ
スとして成膜される酸化窒化珪素膜901bを50〜2
00nm(好ましくは100〜150nm)の厚さに積
層形成する。本実施例では、膜厚100nmの酸化窒化
珪素膜901b(組成比Si=32%、O=59%、N
=7%、H=2%)を形成した。
Next, as shown in FIG.
A base film 901 made of an insulating film such as a silicon oxide film, a silicon nitride film, or a silicon oxynitride film is formed over the substrate. Although a two-layer structure is used as the base film 901 in this embodiment, a single-layer film of the insulating film or a structure in which two or more layers are stacked may be used. The first layer of the base film 901 is formed by plasma CVD.
The silicon oxynitride film 901a formed by using SiH 4 , NH 3 , and N 2 O as reaction gases is
m (preferably 50 to 100 nm). In this embodiment, a 50-nm-thick silicon oxynitride film 901a (composition ratio: Si = 32%, O = 27%, N = 24%, H = 17%)
Was formed. Next, as the second layer of the base film 901,
Using a plasma CVD method, a silicon oxynitride film 901b formed by using SiH 4 and N 2 O as reaction gases is reduced to 50 to 2
The layer is formed to a thickness of 00 nm (preferably 100 to 150 nm). In this embodiment, a 100 nm-thick silicon oxynitride film 901b (composition ratio Si = 32%, O = 59%, N
= 7%, H = 2%).

【0180】次いで、下地膜901上に半導体層902
〜905を形成する。半導体層902〜905は、非晶
質構造を有する半導体膜を公知の手段(スパッタ法、L
PCVD法、またはプラズマCVD法等)により成膜し
た後、公知の結晶化処理(レーザー結晶化法、熱結晶化
法、またはニッケルなどの触媒を用いた熱結晶化法等)
を行って得られた結晶質半導体膜を所望の形状にパター
ニングして形成する。この半導体層902〜905の厚
さは25〜80nm(好ましくは30〜60nm)の厚
さで形成する。結晶質半導体膜の材料に限定はないが、
好ましくは珪素(シリコン)またはシリコンゲルマニウ
ム(SiXGe1-X(X=0.0001〜0.02))合
金などで形成すると良い。本実施例では、プラズマCV
D法を用い、55nmの非晶質珪素膜を成膜した後、ニ
ッケルを含む溶液を非晶質珪素膜上に保持させた。この
非晶質珪素膜に脱水素化(500℃、1時間)を行った
後、熱結晶化(550℃、4時間)を行い、さらに結晶
化を改善するためのレーザーアニ―ル処理を行って結晶
質珪素膜を形成した。そして、この結晶質珪素膜をフォ
トリソグラフィ法を用いたパターニング処理によって、
半導体層902〜905を形成した。
Next, a semiconductor layer 902 is formed on the underlayer 901.
To 905 are formed. The semiconductor layers 902 to 905 are formed by forming a semiconductor film having an amorphous structure by a known means (sputtering method, L
After forming a film by a PCVD method or a plasma CVD method, a known crystallization treatment (a laser crystallization method, a thermal crystallization method, or a thermal crystallization method using a catalyst such as nickel).
Is performed and the crystalline semiconductor film obtained is patterned into a desired shape. The thickness of the semiconductor layers 902 to 905 is 25 to 80 nm (preferably 30 to 60 nm). Although there is no limitation on the material of the crystalline semiconductor film,
Preferably silicon (silicon) or silicon germanium (Si X Ge 1-X ( X = 0.0001~0.02)) may be formed such as an alloy. In this embodiment, the plasma CV
After a 55-nm amorphous silicon film was formed by method D, a solution containing nickel was held on the amorphous silicon film. After dehydrogenation (500 ° C., 1 hour) of this amorphous silicon film, thermal crystallization (550 ° C., 4 hours) is performed, and further, a laser annealing process for improving crystallization is performed. Thus, a crystalline silicon film was formed. Then, the crystalline silicon film is patterned by a photolithography method,
Semiconductor layers 902 to 905 were formed.

【0181】また、半導体層902〜905を形成した
後、TFTのしきい値を制御するために、半導体層90
2〜905に微量な不純物元素(ボロンまたはリン)を
ドーピングしてもよい。
After the formation of the semiconductor layers 902 to 905, the semiconductor layer 90 is controlled to control the threshold value of the TFT.
2 to 905 may be doped with a trace amount of an impurity element (boron or phosphorus).

【0182】また、レーザー結晶化法で結晶質半導体膜
を作製する場合には、パルス発振型または連続発光型の
エキシマレーザーやYAGレーザー、YVO4レーザー
を用いることができる。これらのレーザーを用いる場合
には、レーザー発振器から放射されたレーザー光を光学
系で線状に集光し半導体膜に照射する方法を用いると良
い。結晶化の条件は実施者が適宣選択するものである
が、エキシマレーザーを用いる場合はパルス発振周波数
300Hzとし、レーザーエネルギー密度を100〜4
00mJ/cm2(代表的には200〜300mJ/cm
2)とする。また、YAGレーザーを用いる場合にはその
第2高調波を用いパルス発振周波数30〜300kHz
とし、レーザーエネルギー密度を300〜600mJ/
cm2(代表的には350〜500mJ/cm2)とすると
良い。そして幅100〜1000μm、例えば400μ
mで線状に集光したレーザー光を基板全面に渡って照射
し、この時の線状レーザー光の重ね合わせ率(オーバー
ラップ率)を50〜90%として行えばよい。
When a crystalline semiconductor film is formed by a laser crystallization method, a pulse oscillation type or continuous emission type excimer laser, a YAG laser, or a YVO 4 laser can be used. In the case of using these lasers, it is preferable to use a method in which laser light emitted from a laser oscillator is linearly condensed by an optical system and irradiated on a semiconductor film. The crystallization conditions are appropriately selected by the practitioner. When an excimer laser is used, the pulse oscillation frequency is set to 300 Hz, and the laser energy density is set to 100 to 4.
00 mJ / cm 2 (typically 200 to 300 mJ / cm
2 ). When a YAG laser is used, its second harmonic is used and a pulse oscillation frequency of 30 to 300 kHz is used.
And a laser energy density of 300 to 600 mJ /
cm 2 (typically 350 to 500 mJ / cm 2 ). And a width of 100 to 1000 μm, for example 400 μ
The laser light condensed linearly at m may be irradiated over the entire surface of the substrate, and the superposition rate (overlap rate) of the linear laser light at this time may be set to 50 to 90%.

【0183】次いで、半導体層902〜905を覆うゲ
ート絶縁膜906を形成する。ゲート絶縁膜906はプ
ラズマCVD法またはスパッタ法を用い、厚さを40〜
150nmとして珪素を含む絶縁膜で形成する。本実施
例では、プラズマCVD法により110nmの厚さで酸
化窒化珪素膜(組成比Si=32%、O=59%、N=
7%、H=2%)で形成した。勿論、ゲート絶縁膜は酸
化窒化珪素膜に限定されるものでなく、他の珪素を含む
絶縁膜を単層または積層構造として用いても良い。
Next, a gate insulating film 906 covering the semiconductor layers 902 to 905 is formed. The gate insulating film 906 is formed by a plasma CVD method or a sputtering method and has a thickness of 40 to
The insulating film containing silicon is formed to have a thickness of 150 nm. In this embodiment, a silicon oxynitride film (composition ratio: Si = 32%, O = 59%, N =
7%, H = 2%). Needless to say, the gate insulating film is not limited to the silicon oxynitride film, and another insulating film containing silicon may be used as a single layer or a stacked structure.

【0184】また、酸化珪素膜を用いる場合には、プラ
ズマCVD法でTEOS(Tetraethyl Orthosilicat
e)とO2とを混合し、反応圧力40Pa、基板温度30
0〜400℃とし、高周波(13.56MHz)電力密
度0.5〜0.8W/cm2で放電させて形成すること
ができる。このようにして作製される酸化珪素膜は、そ
の後400〜500℃の熱アニールによりゲート絶縁膜
として良好な特性を得ることができる。
When a silicon oxide film is used, TEOS (Tetraethyl Orthosilicat
e) and O 2 were mixed, the reaction pressure was 40 Pa, and the substrate temperature was 30.
It can be formed by discharging at a high-frequency (13.56 MHz) power density of 0.5 to 0.8 W / cm 2 at 0 to 400 ° C. The silicon oxide film thus manufactured can obtain favorable characteristics as a gate insulating film by subsequent thermal annealing at 400 to 500 ° C.

【0185】そして、ゲート絶縁膜906上にゲート電
極を形成するための耐熱性導電層907を200〜40
0nm(好ましくは250〜350nm)の厚さで形成
する。耐熱性導電層907は単層で形成しても良いし、
必要に応じて二層あるいは三層といった複数の層から成
る積層構造としても良い。耐熱性導電層にはTa、T
i、Wから選ばれた元素、または前記元素を成分とする
合金か、前記元素を組み合わせた合金膜が含まれる。こ
れらの耐熱性導電層はスパッタ法やCVD法で形成され
るものであり、低抵抗化を図るために含有する不純物濃
度を低減させることが好ましく、特に酸素濃度に関して
は30ppm以下とすると良い。本実施例ではW膜を3
00nmの厚さで形成する。W膜はWをターゲットとし
てスパッタ法で形成しても良いし、6フッ化タングステ
ン(WF6)を用いて熱CVD法で形成することもでき
る。いずれにしてもゲート電極として使用するためには
低抵抗化を図る必要があり、W膜の抵抗率は20μΩc
m以下にすることが望ましい。W膜は結晶粒を大きくす
ることで低抵抗率化を図ることができるが、W中に酸素
などの不純物元素が多い場合には結晶化が阻害され高抵
抗化する。このことより、スパッタ法による場合、純度
99.9999%のWターゲットを用い、さらに成膜時
に気相中からの不純物の混入がないように十分配慮して
W膜を形成することにより、抵抗率9〜20μΩcmを
実現することができる。
Then, a heat-resistant conductive layer 907 for forming a gate electrode on the gate insulating film 906 is
It is formed with a thickness of 0 nm (preferably 250 to 350 nm). The heat-resistant conductive layer 907 may be formed as a single layer,
If necessary, a laminated structure including a plurality of layers such as two layers or three layers may be employed. Ta, T for the heat-resistant conductive layer
It includes an element selected from i and W, an alloy containing the above element, or an alloy film combining the above elements. These heat-resistant conductive layers are formed by a sputtering method or a CVD method, and it is preferable to reduce the impurity concentration to reduce the resistance, and it is particularly preferable that the oxygen concentration be 30 ppm or less. In this embodiment, the W film is 3
It is formed with a thickness of 00 nm. The W film may be formed by a sputtering method using W as a target, or may be formed by a thermal CVD method using tungsten hexafluoride (WF 6 ). In any case, it is necessary to lower the resistance in order to use it as a gate electrode, and the resistivity of the W film is 20 μΩc.
m or less. The resistivity of the W film can be reduced by enlarging the crystal grains. However, when there are many impurity elements such as oxygen in W, crystallization is inhibited and the resistance is increased. Thus, in the case of using the sputtering method, a W target having a purity of 99.9999% is used, and further, the W film is formed with sufficient care so as not to mix impurities from the gas phase during film formation. 9 to 20 μΩcm can be realized.

【0186】一方、耐熱性導電層907にTa膜を用い
る場合には、同様にスパッタ法で形成することが可能で
ある。Ta膜はスパッタガスにArを用いる。また、ス
パッタ時のガス中に適量のXeやKrを加えておくと、
形成する膜の内部応力を緩和して膜の剥離を防止するこ
とができる。α相のTa膜の抵抗率は20μΩcm程度
でありゲート電極に使用することができるが、β相のT
a膜の抵抗率は180μΩcm程度でありゲート電極と
するには不向きであった。TaN膜はα相に近い結晶構
造を持つので、Ta膜の下地にTaN膜を形成すればα
相のTa膜が容易に得られる。また、図示しないが、耐
熱性導電層907の下に2〜20nm程度の厚さでリン
(P)をドープしたシリコン膜を形成しておくことは有
効である。これにより、その上に形成される導電膜の密
着性向上と酸化防止を図ると同時に、耐熱性導電層90
7が微量に含有するアルカリ金属元素が第1の形状のゲ
ート絶縁膜906に拡散するのを防ぐことができる。い
ずれにしても、耐熱性導電層907は抵抗率を10〜5
0μΩcmの範囲ですることが好ましい。
On the other hand, when a Ta film is used for the heat-resistant conductive layer 907, it can be similarly formed by a sputtering method. The Ta film uses Ar as a sputtering gas. Also, if an appropriate amount of Xe or Kr is added to the gas during sputtering,
The internal stress of the film to be formed can be relaxed to prevent the film from peeling. The resistivity of the α-phase Ta film is about 20 μΩcm and can be used for the gate electrode.
The resistivity of the a-film was about 180 μΩcm, and was not suitable for use as a gate electrode. Since the TaN film has a crystal structure close to the α phase, if the TaN film is formed under the Ta film,
A phase Ta film is easily obtained. Although not shown, it is effective to form a silicon film doped with phosphorus (P) with a thickness of about 2 to 20 nm under the heat-resistant conductive layer 907. Thereby, the adhesion of the conductive film formed thereon is improved and oxidation is prevented, and at the same time, the heat-resistant conductive layer 90 is formed.
It is possible to prevent a small amount of an alkali metal element contained in 7 from diffusing into the gate insulating film 906 in the first shape. In any case, the heat-resistant conductive layer 907 has a resistivity of 10 to 5
It is preferable to set it in the range of 0 μΩcm.

【0187】次に、フォトリソグラフィーの技術を使用
してレジストによるマスク908を形成する。そして、
第1のエッチング処理を行う。本実施例ではICPエッ
チング装置を用い、エッチング用ガスにCl2とCF4
用い、1Paの圧力で3.2W/cm2のRF(13.5
6MHz)電力を投入してプラズマを形成して行う。基
板側(試料ステージ)にも224mW/cm2のRF
(13.56MHz)電力を投入し、これにより実質的
に負の自己バイアス電圧が印加される。この条件でW膜
のエッチング速度は約100nm/minである。第1
のエッチング処理はこのエッチング速度を基にW膜がち
ょうどエッチングされる時間を推定し、それよりもエッ
チング時間を20%増加させた時間をエッチング時間と
した。
Next, a resist mask 908 is formed by using a photolithography technique. And
A first etching process is performed. In this embodiment, an ICP etching apparatus is used, Cl 2 and CF 4 are used as etching gases, and RF (13.5) of 3.2 W / cm 2 at a pressure of 1 Pa.
(6 MHz) power is supplied to form plasma. 224 mW / cm 2 RF on substrate side (sample stage)
(13.56 MHz) power is applied, thereby applying a substantially negative self-bias voltage. Under these conditions, the etching rate of the W film is about 100 nm / min. First
In the etching process, the time for just etching the W film was estimated based on the etching rate, and the time obtained by increasing the etching time by 20% was set as the etching time.

【0188】第1のエッチング処理により第1のテーパ
ー形状を有する導電層909〜912が形成される。導
電層909〜912のテーパー部の角度は15〜30°
となるように形成される。残渣を残すことなくエッチン
グするためには、10〜20%程度の割合でエッチング
時間を増加させるオーバーエッチングを施すものとす
る。W膜に対する酸化窒化シリコン膜(ゲート絶縁膜9
06)の選択比は2〜4(代表的には3)であるので、
オーバーエッチング処理により、酸化窒化シリコン膜が
露出した面は20〜50nm程度エッチングされる。
(図9(B))
By the first etching process, conductive layers 909 to 912 having a first tapered shape are formed. The angle of the tapered portion of the conductive layers 909 to 912 is 15 to 30 °
It is formed so that In order to perform etching without leaving a residue, over-etching is performed to increase the etching time at a rate of about 10 to 20%. Silicon oxynitride film (gate insulating film 9) for W film
06) is 2-4 (typically 3),
By the overetching treatment, the exposed surface of the silicon oxynitride film is etched by about 20 to 50 nm.
(FIG. 9 (B))

【0189】そして、第1のドーピング処理を行い一導
電型の不純物元素を半導体層に添加する。ここでは、n
型を付与する不純物元素添加の工程を行う。第1の形状
の導電層を形成したマスク908をそのまま残し、第1
のテーパー形状を有する導電層909〜912をマスク
として自己整合的にn型を付与する不純物元素をイオン
ドープ法で添加する。n型を付与する不純物元素をゲー
ト電極の端部におけるテーパー部とゲート絶縁膜906
とを通して、その下に位置する半導体層に達するように
添加するためにドーズ量を1×1013〜5×1014at
oms/cm2 とし、加速電圧を80〜160keVと
して行う。n型を付与する不純物元素として15族に属
する元素、典型的にはリン(P)または砒素(As)を
用いるが、ここではリン(P)を用いた。このようなイ
オンドープ法により第1の不純物領域914〜917に
は1×1020〜1×1021atomic/cm3の濃度範囲
でn型を付与する不純物元素が添加される。(図9
(C))
Then, a first doping process is performed to
An electric impurity element is added to the semiconductor layer. Here, n
A step of adding an impurity element for giving a mold is performed. First shape
The mask 908 having the conductive layer formed thereon is left as it is,
Conductive layers 909 to 912 having a tapered shape are masked
As an impurity element that imparts n-type in a self-aligned manner
It is added by a doping method. The impurity element imparting n-type
And the gate insulating film 906 at the end of the gate electrode
Through to reach the underlying semiconductor layer
Dosage is 1 × 10 to add13~ 5 × 1014at
oms / cmTwo And the acceleration voltage is 80 to 160 keV.
Do it. belongs to Group 15 as an impurity element imparting n-type
Element, typically phosphorus (P) or arsenic (As)
In this case, phosphorus (P) was used. Such a
In the first impurity regions 914 to 917 by the on-doping method
Is 1 × 1020~ 1 × 10twenty oneatomic / cmThreeConcentration range
, An impurity element imparting n-type is added. (FIG. 9
(C))

【0190】この工程において、ドーピングの条件によ
っては、不純物が第1の形状の導電層909〜912の
下に回りこみ、第1の不純物領域914〜917が第1
の形状の導電層909〜912と重なることも起こりう
る。
In this step, depending on the doping conditions, the impurities flow under the first shape conductive layers 909 to 912, and the first impurity regions 914 to 917 are removed from the first shape.
May overlap with the conductive layers 909 to 912 having the shape shown in FIG.

【0191】次に、図9(D)に示すように第2のエッ
チング処理を行う。エッチング処理も同様にICPエッ
チング装置により行い、エッチングガスにCF4とCl2
の混合ガスを用い、RF電力3.2W/cm2(13.5
6MHz)、バイアス電力45mW/cm2(13.56M
Hz)、圧力1.0Paでエッチングを行う。この条件
で形成される第2の形状を有する導電層918〜921
が形成される。その端部にはテーパー部が形成され、該
端部から内側にむかって徐々に厚さが増加するテーパー
形状となる。第1のエッチング処理と比較して基板側に
印加するバイアス電力を低くした分等方性エッチングの
割合が多くなり、テーパー部の角度は30〜60°とな
る。マスク908はエッチングされて端部が削れ、マス
ク922となる。また、図9(D)の工程において、ゲ
ート絶縁膜906の表面が40nm程度エッチングされ
る。
Next, a second etching process is performed as shown in FIG. The etching process is also performed by an ICP etching apparatus, and CF 4 and Cl 2 are used as etching gases.
RF power of 3.2 W / cm 2 (13.5
6 MHz), bias power 45 mW / cm 2 (13.56 M
(Hz) at a pressure of 1.0 Pa. Conductive layers 918 to 921 having the second shape formed under these conditions
Is formed. A tapered portion is formed at the end, and the tapered shape gradually increases inward from the end. As compared with the first etching process, the ratio of isotropic etching is increased by the amount of the lower bias power applied to the substrate side, and the angle of the tapered portion is 30 to 60 °. The mask 908 is etched and its edge is shaved, and becomes a mask 922. In the step of FIG. 9D, the surface of the gate insulating film 906 is etched by about 40 nm.

【0192】そして、第1のドーピング処理よりもドー
ズ量を下げ高加速電圧の条件でn型を付与する不純物元
素をドーピングする。例えば、加速電圧を70〜120
keVとし、1×1013/cm2のドーズ量で行い、不
純物濃度が大きくなった第1の不純物領域924〜92
7と、前記第1の不純物領域924〜927に接する第
2の不純物領域928〜931とを形成する。この工程
において、ドーピングの条件によっては、不純物が第2
の形状の導電層918〜921の下に回りこみ、第2の
不純物領域928〜931が第2の形状の導電層918
〜921と重なることも起こりうる。第2の不純物領域
における不純物濃度は、1×1016〜1×1018ato
ms/cm3となるようにする。(図10(A))
Then, an impurity element for imparting n-type is doped under a condition of a higher acceleration voltage with a lower dose than in the first doping process. For example, when the accelerating voltage is 70 to 120
keV, a dose of 1 × 10 13 / cm 2 , and the first impurity regions 924 to 92 having an increased impurity concentration.
7 and second impurity regions 928 to 931 in contact with the first impurity regions 924 to 927 are formed. In this step, depending on the doping conditions, the impurity
The second impurity regions 928 to 931 extend below the conductive layers 918 to 921 of the second shape.
921 may also occur. The impurity concentration in the second impurity region is 1 × 10 16 to 1 × 10 18 at.
ms / cm 3 . (FIG. 10A)

【0193】そして、(図10(B))に示すように、
pチャネル型TFTを形成する半導体層902、905
に一導電型とは逆の導電型の不純物領域933(933
a、933b)及び934(934a、934b)を形
成する。この場合も第2の形状の導電層918、921
をマスクとしてp型を付与する不純物元素を添加し、自
己整合的に不純物領域を形成する。このとき、nチャネ
ル型TFTを形成する半導体層903、904は、レジ
ストのマスク932を形成し全面を被覆しておく。ここ
で形成される不純物領域933、934はジボラン(B
26)を用いたイオンドープ法で形成する。不純物領域
933、934のp型を付与する不純物元素の濃度は、
2×1020〜2×1021atoms/cm3となるよう
にする。
Then, as shown in FIG. 10 (B),
Semiconductor layers 902 and 905 forming a p-channel TFT
The impurity region 933 having a conductivity type opposite to the one conductivity type (933)
a, 933b) and 934 (934a, 934b). Also in this case, the second shape conductive layers 918 and 921 are used.
Is used as a mask to add an impurity element imparting a p-type, and an impurity region is formed in a self-aligned manner. At this time, a resist mask 932 is formed on the semiconductor layers 903 and 904 forming the n-channel TFT, and the entire surface is covered. The impurity regions 933 and 934 formed here are formed of diborane (B
It is formed by an ion doping method using 2 H 6 ). The concentration of the impurity element imparting p-type in the impurity regions 933 and 934 is
The density is set to 2 × 10 20 to 2 × 10 21 atoms / cm 3 .

【0194】しかしながら、この不純物領域933、9
34は詳細にはn型を付与する不純物元素を含有する2
つの領域に分けて見ることができる。第3の不純物領域
933a、934aは1×1020〜1×1021atom
s/cm3の濃度でn型を付与する不純物元素を含み、
第4の不純物領域933b、934bは1×1017〜1
×1020atoms/cm3の濃度でn型を付与する不
純物元素を含んでいる。しかし、これらの不純物領域9
33b、934bのp型を付与する不純物元素の濃度を
1×1019atoms/cm3以上となるようにし、第
3の不純物領域933a、934aにおいては、p型を
付与する不純物元素の濃度をn型を付与する不純物元素
の濃度の1.5から3倍となるようにすることにより、
第3の不純物領域でpチャネル型TFTのソース領域お
よびドレイン領域として機能するために何ら問題は生じ
ない。
However, these impurity regions 933, 9
34 specifically contains an impurity element imparting n-type.
It can be divided into two areas. The third impurity regions 933a and 934a have a size of 1 × 10 20 to 1 × 10 21 atoms.
an impurity element imparting n-type at a concentration of s / cm 3 ,
The fourth impurity regions 933b and 934b are 1 × 10 17 to 1
Contains an impurity element imparting n-type at a concentration of × 10 20 atoms / cm 3 . However, these impurity regions 9
The concentration of the p-type imparting impurity element of 33b and 934b is set to 1 × 10 19 atoms / cm 3 or more, and the concentration of the p-type imparting impurity element is set to n in the third impurity regions 933a and 934a. By making the concentration of the impurity element giving the mold 1.5 to 3 times,
Since the third impurity region functions as a source region and a drain region of the p-channel TFT, no problem occurs.

【0195】その後、図10(C)に示すように、第2
の形状を有する導電層918〜921およびゲート絶縁
膜906上に第1の層間絶縁膜937を形成する。第1
の層間絶縁膜937は酸化シリコン膜、酸化窒化シリコ
ン膜、窒化シリコン膜、またはこれらを組み合わせた積
層膜で形成すれば良い。いずれにしても第1の層間絶縁
膜937は無機絶縁物材料から形成する。第1の層間絶
縁膜937の膜厚は100〜200nmとする。第1の
層間絶縁膜937として酸化シリコン膜を用いる場合に
は、プラズマCVD法でTEOSとO2とを混合し、反
応圧力40Pa、基板温度300〜400℃とし、高周
波(13.56MHz)電力密度0.5〜0.8W/cm2で放
電させて形成することができる。また、第1の層間絶縁
膜937として酸化窒化シリコン膜を用いる場合には、
プラズマCVD法でSiH4、N2O、NH3から作製さ
れる酸化窒化シリコン膜、またはSiH4、N2Oから作
製される酸化窒化シリコン膜で形成すれば良い。この場
合の作製条件は反応圧力20〜200Pa、基板温度3
00〜400℃とし、高周波(60MHz)電力密度0.
1〜1.0W/cm2で形成することができる。また、第1
の層間絶縁膜937としてSiH4、N2O、H2から作
製される酸化窒化水素化シリコン膜を適用しても良い。
窒化シリコン膜も同様にプラズマCVD法でSiH4
NH3から作製することが可能である。
Thereafter, as shown in FIG.
A first interlayer insulating film 937 is formed over the conductive layers 918 to 921 having the above-mentioned shape and the gate insulating film 906. First
The interlayer insulating film 937 may be formed using a silicon oxide film, a silicon oxynitride film, a silicon nitride film, or a stacked film in which these are combined. In any case, the first interlayer insulating film 937 is formed from an inorganic insulating material. The thickness of the first interlayer insulating film 937 is 100 to 200 nm. In the case where a silicon oxide film is used as the first interlayer insulating film 937, TEOS and O 2 are mixed by plasma CVD, the reaction pressure is 40 Pa, the substrate temperature is 300 to 400 ° C., and the high-frequency (13.56 MHz) power density is used. It can be formed by discharging at 0.5 to 0.8 W / cm 2 . In the case where a silicon oxynitride film is used as the first interlayer insulating film 937,
The insulating film may be formed using a silicon oxynitride film formed from SiH 4 , N 2 O, and NH 3 by a plasma CVD method, or a silicon oxynitride film formed from SiH 4 and N 2 O. The manufacturing conditions in this case are a reaction pressure of 20 to 200 Pa, a substrate temperature of 3
00 to 400 ° C. and a high frequency (60 MHz) power density of 0.
It can be formed at 1 to 1.0 W / cm 2 . Also, the first
As the interlayer insulating film 937, a silicon oxynitride hydride film formed from SiH 4 , N 2 O, and H 2 may be used.
Similarly, the silicon nitride film is made of SiH 4 ,
It can be made from NH 3 .

【0196】そして、それぞれの濃度で添加されたn型
またはp型を付与する不純物元素を活性化する工程を行
う。この工程はファーネスアニール炉を用いる熱アニー
ル法で行う。その他に、レーザーアニール法、またはラ
ピッドサーマルアニール法(RTA法)を適用すること
ができる。熱アニール法では酸素濃度が1ppm以下、
好ましくは0.1ppm以下の窒素雰囲気中で400〜
700℃、代表的には500〜600℃で行うものであ
り、本実施例では550℃で4時間の熱処理を行った。
また、基板501に耐熱温度が低いプラスチック基板を
用いる場合にはレーザーアニール法を適用することが好
ましい。
Then, a step of activating the impurity elements imparting n-type or p-type added at the respective concentrations is performed. This step is performed by a thermal annealing method using a furnace annealing furnace. In addition, a laser annealing method or a rapid thermal annealing method (RTA method) can be applied. In the thermal annealing method, the oxygen concentration is 1 ppm or less,
Preferably in a nitrogen atmosphere of 0.1 ppm or less 400 ~
The heat treatment is performed at 700 ° C., typically 500 to 600 ° C. In this embodiment, the heat treatment is performed at 550 ° C. for 4 hours.
When a plastic substrate having a low heat-resistant temperature is used as the substrate 501, a laser annealing method is preferably used.

【0197】活性化の工程に続いて、雰囲気ガスを変化
させ、3〜100%の水素を含む雰囲気中で、300〜
450℃で1〜12時間の熱処理を行い、半導体層を水
素化する工程を行う。この工程は熱的に励起された水素
により半導体層にある1016 〜1018/cm3のダングリン
グボンドを終端する工程である。水素化の他の手段とし
て、プラズマ水素化(プラズマにより励起された水素を
用いる)を行っても良い。いずれにしても、半導体層9
02〜905中の欠陥密度を1016/cm3以下とすること
が望ましく、そのために水素を0.01〜0.1atomic
%程度付与すれば良い。
After the activation step, the atmosphere gas is changed.
And in an atmosphere containing 3 to 100% hydrogen,
A heat treatment is performed at 450 ° C. for 1 to 12 hours, and the semiconductor layer is
Perform a quenching step. This process involves thermally excited hydrogen
10 in the semiconductor layer16 -1018/cmThreeDanglin
This is the step of terminating the bonding. As another means of hydrogenation
Plasma hydrogenation (hydrogen excited by plasma
Use). In any case, the semiconductor layer 9
The defect density in 02 to 905 was 1016/cmThreeThe following
Is desirable, for which hydrogen is added at 0.01 to 0.1 atomic
% May be provided.

【0198】そして、有機絶縁物材料からなる第2の層
間絶縁膜939を1.0〜2.0μmの平均膜厚で形成
する。有機樹脂材料としては、ポリイミド、アクリル、
ポリアミド、ポリイミドアミド、BCB(ベンゾシクロ
ブテン)等を使用することができる。例えば、基板に塗
布後、熱重合するタイプのポリイミドを用いる場合に
は、クリーンオーブンで300℃で焼成して形成する。
また、アクリルを用いる場合には、2液性のものを用
い、主材と硬化剤を混合した後、スピナーを用いて基板
全面に塗布した後、ホットプレートで80℃で60秒の
予備加熱を行い、さらにクリーンオーブンで250℃で
60分焼成して形成することができる。
Then, a second interlayer insulating film 939 made of an organic insulating material is formed with an average thickness of 1.0 to 2.0 μm. As organic resin materials, polyimide, acrylic,
Polyamide, polyimide amide, BCB (benzocyclobutene) and the like can be used. For example, in the case of using a polyimide of a type that is thermally polymerized after being applied to a substrate, it is formed by firing at 300 ° C. in a clean oven.
In the case of using acrylic, a two-component type is used, and after mixing the main material and the curing agent, the whole surface is applied using a spinner and then pre-heated at 80 ° C. for 60 seconds on a hot plate. Then, it can be formed by firing in a clean oven at 250 ° C. for 60 minutes.

【0199】このように、第2の層間絶縁膜939を有
機絶縁物材料で形成することにより、表面を良好に平坦
化させることができる。また、有機樹脂材料は一般に誘
電率が低いので、寄生容量を低減できる。しかし、吸湿
性があり保護膜としては適さないので、本実施例のよう
に、第1の層間絶縁膜937として形成した酸化シリコ
ン膜、酸化窒化シリコン膜、窒化シリコン膜などと組み
合わせて用いると良い。
As described above, by forming the second interlayer insulating film 939 with an organic insulating material, the surface can be satisfactorily planarized. In addition, since organic resin materials generally have a low dielectric constant, parasitic capacitance can be reduced. However, since it is hygroscopic and not suitable as a protective film, it is preferable to use it in combination with a silicon oxide film, a silicon oxynitride film, a silicon nitride film, or the like formed as the first interlayer insulating film 937 as in this embodiment. .

【0200】その後、所定のパターンのレジストマスク
を形成し、それぞれの半導体層に形成されソース領域ま
たはドレイン領域とする不純物領域に達するコンタクト
ホールを形成する。コンタクトホールはドライエッチン
グ法で形成する。この場合、エッチングガスにCF4
2、Heの混合ガスを用い有機樹脂材料から成る第2
の層間絶縁膜939をまずエッチングし、その後、続い
てエッチングガスをCF4、O2として第1の層間絶縁膜
937をエッチングする。さらに、半導体層との選択比
を高めるために、エッチングガスをCHF3に切り替え
て第3の形状のゲート絶縁膜570をエッチングするこ
とによりコンタクトホールを形成することができる。
Thereafter, a resist mask having a predetermined pattern is formed, and a contact hole formed in each semiconductor layer and reaching an impurity region serving as a source region or a drain region is formed. The contact hole is formed by a dry etching method. In this case, CF 4 ,
A second material made of an organic resin material using a mixed gas of O 2 and He
The first interlayer insulating film 939 is etched first, and then the first interlayer insulating film 937 is etched using CF 4 and O 2 as etching gases. Further, in order to increase the selectivity with respect to the semiconductor layer, a contact hole can be formed by switching the etching gas to CHF 3 and etching the third shape gate insulating film 570.

【0201】そして、導電性の金属膜をスパッタ法や真
空蒸着法で形成し、マスクでパターニングし、その後エ
ッチングすることで、ソース配線940〜943とドレ
イン配線944〜946を形成する。図示していない
が、本実施例ではこの配線を、そして、膜厚50nmの
Ti膜と、膜厚500nmの合金膜(AlとTiとの合
金膜)との積層膜で形成した。
Then, a conductive metal film is formed by a sputtering method or a vacuum evaporation method, patterned by a mask, and then etched to form source wirings 940 to 943 and drain wirings 944 to 946. Although not shown, in this embodiment, this wiring is formed of a laminated film of a 50 nm-thick Ti film and a 500 nm-thick alloy film (an alloy film of Al and Ti).

【0202】次いで、その上に透明導電膜を80〜12
0nmの厚さで形成し、パターニングすることによって
画素電極947を形成する(図11(A))。なお、本
実施例では、透明電極として酸化インジウム・スズ(I
TO)膜や酸化インジウムに2〜20[%]の酸化亜鉛
(ZnO)を混合した透明導電膜を用いる。
Next, a transparent conductive film is formed on the
The pixel electrode 947 is formed by patterning with a thickness of 0 nm and patterning (FIG. 11A). In this embodiment, indium tin oxide (I
A transparent conductive film in which 2 to 20% of zinc oxide (ZnO) is mixed with a TO) film or indium oxide is used.

【0203】また、画素電極947は、ドレイン配線9
46と接して重ねて形成することによってEL駆動用T
FTのドレイン領域と電気的な接続が形成される。
The pixel electrode 947 is connected to the drain wiring 9
The EL driving T
An electrical connection is formed with the drain region of the FT.

【0204】次に、図11(B)に示すように、画素電
極947に対応する位置に開口部を有する第3の層間絶
縁膜949を形成する。第3の層間絶縁膜949は絶縁
性を有していて、バンクとして機能し、隣接する画素の
EL層を分離する役割を有している。本実施例ではレジ
ストを用いて第3の層間絶縁膜949を形成する。
Next, as shown in FIG. 11B, a third interlayer insulating film 949 having an opening at a position corresponding to the pixel electrode 947 is formed. The third interlayer insulating film 949 has insulating properties, functions as a bank, and has a role of separating an EL layer of an adjacent pixel. In this embodiment, a third interlayer insulating film 949 is formed using a resist.

【0205】本実施例では、第3の層間絶縁膜949の
厚さを1μm程度とし、開口部は画素電極947に近く
なればなるほど広くなる、所謂逆テーパー状になるよう
に形成する。これはレジストを成膜した後、開口部を形
成しようとする部分以外をマスクで覆い、UV光を照射
して露光し、露光された部分を現像液で除去することに
よって形成される。
In this embodiment, the thickness of the third interlayer insulating film 949 is set to about 1 μm, and the opening is formed so as to become wider as it approaches the pixel electrode 947, that is, to form a so-called reverse taper. This is formed by forming a resist, covering a portion other than a portion where an opening is to be formed with a mask, irradiating with UV light, and removing the exposed portion with a developing solution.

【0206】本実施例のように、第3の層間絶縁膜94
9を逆テーパー状にすることで、後の工程においてEL
層を成膜した時に、隣り合う画素同士でEL層が分断さ
れるため、EL層と、第3の層間絶縁膜949の熱膨張
係数が異なっていても、EL層がひび割れたり、剥離し
たりするのを抑えることができる。
As in the present embodiment, the third interlayer insulating film 94
9 is formed into an inversely tapered shape, so that EL
When the layer is formed, the EL layer is divided between adjacent pixels. Therefore, even if the EL layer and the third interlayer insulating film 949 have different coefficients of thermal expansion, the EL layer may be cracked or peeled off. Can be suppressed.

【0207】なお、本実施例においては、第3の層間絶
縁膜としてレジストでなる膜を用いているが、場合によ
っては、ポリイミド、ポリアミド、アクリル、BCB
(ベンゾシクロブテン)、酸化珪素膜等を用いることも
できる。第3の層間絶縁膜949は絶縁性を有する物質
であれば、有機物と無機物のどちらでも良い。
In this embodiment, a resist film is used as the third interlayer insulating film. However, depending on the case, polyimide, polyamide, acrylic, BCB may be used.
(Benzocyclobutene), a silicon oxide film, or the like can also be used. The third interlayer insulating film 949 may be an organic substance or an inorganic substance as long as the substance has an insulating property.

【0208】次に、EL層950を蒸着法により形成
し、更に蒸着法により陰極(MgAg電極)951およ
び保護電極952を形成する。このときEL層950及
び陰極951を形成するに先立って画素電極947に対
して熱処理を施し、水分を完全に除去しておくことが望
ましい。なお、本実施例ではEL素子の陰極としてMg
Ag電極を用いるが、公知の他の材料であっても良い。
Next, an EL layer 950 is formed by an evaporation method, and a cathode (MgAg electrode) 951 and a protection electrode 952 are formed by an evaporation method. At this time, it is preferable that a heat treatment be performed on the pixel electrode 947 before the EL layer 950 and the cathode 951 are formed to completely remove moisture. In this embodiment, Mg is used as the cathode of the EL element.
Although an Ag electrode is used, other known materials may be used.

【0209】なお、EL層950としては、公知の材料
を用いることができる。本実施例では正孔輸送層(Hole
transporting layer)及び発光層(Emitting layer)
でなる2層構造をEL層とするが、正孔注入層、電子注
入層若しくは電子輸送層のいずれかを設ける場合もあ
る。このように組み合わせは既に様々な例が報告されて
おり、そのいずれの構成を用いても構わない。
[0209] As the EL layer 950, a known material can be used. In this embodiment, the hole transport layer (Hole
transporting layer) and emitting layer (Emitting layer)
The EL layer has a two-layer structure of, but any of a hole injection layer, an electron injection layer, and an electron transport layer may be provided. As described above, various examples of the combination have already been reported, and any of the configurations may be used.

【0210】本実施例では正孔輸送層としてポリフェニ
レンビニレンを蒸着法により形成する。また、発光層と
しては、ポリビニルカルバゾールに1,3,4−オキサ
ジアゾール誘導体のPBDを30〜40%分子分散させ
たものを蒸着法により形成し、緑色の発光中心としてク
マリン6を約1%添加している。
In this embodiment, polyphenylene vinylene is formed as a hole transport layer by a vapor deposition method. The light emitting layer is formed by vapor deposition of a 30% to 40% molecular dispersion of PBD of a 1,3,4-oxadiazole derivative in polyvinyl carbazole, and about 1% of coumarin 6 is used as a green light emitting center. Has been added.

【0211】また、保護電極952でもEL層950を
水分や酸素から保護することは可能であるが、さらに好
ましくは保護膜953を設けると良い。本実施例では保
護膜953として300nm厚の窒化珪素膜を設ける。
この保護膜も保護電極952の後に大気解放しないで連
続的に形成しても構わない。
Although the protection layer 952 can protect the EL layer 950 from moisture and oxygen, a protection film 953 is more preferably provided. In this embodiment, a 300-nm-thick silicon nitride film is provided as the protective film 953.
This protective film may be formed continuously without opening to the atmosphere after the protective electrode 952.

【0212】また、保護電極952は陰極951の劣化
を防ぐために設けられ、アルミニウムを主成分とする金
属膜が代表的である。勿論、他の材料でも良い。また、
EL層950、陰極951は非常に水分に弱いので、保
護電極952までを大気解放しないで連続的に形成し、
外気からEL層を保護することが望ましい。
The protective electrode 952 is provided to prevent the deterioration of the cathode 951, and is typically a metal film containing aluminum as a main component. Of course, other materials may be used. Also,
Since the EL layer 950 and the cathode 951 are very weak to moisture, the protection electrode 952 is formed continuously without opening to the atmosphere,
It is desirable to protect the EL layer from outside air.

【0213】なお、EL層950の膜厚は10〜400
[nm](典型的には60〜150[nm])、陰極951
の厚さは80〜200[nm](典型的には100〜15
0[nm])とすれば良い。
The thickness of the EL layer 950 is 10 to 400.
[nm] (typically 60 to 150 [nm]), cathode 951
Has a thickness of 80 to 200 [nm] (typically 100 to 15 nm).
0 [nm]).

【0214】こうして図11(B)に示すような構造の
発光装置が完成する。なお、画素電極947、EL層9
50、陰極951の重なっている部分954がEL素子
に相当する。
Thus, a light emitting device having a structure as shown in FIG. 11B is completed. Note that the pixel electrode 947 and the EL layer 9
The overlapping portion 954 of the cathode 50 and the cathode 951 corresponds to the EL element.

【0215】pチャネル型TFT960及びnチャネル
型TFT961は駆動回路が有するTFTであり、CM
OSを形成している。スイッチング用TFT962及び
EL駆動用TFT963は画素部が有するTFTであ
り、駆動回路のTFTと画素部のTFTとは同一基板上
に形成することができる。
A p-channel TFT 960 and an n-channel TFT 961 are TFTs included in a driving circuit,
OS is formed. The switching TFT 962 and the EL driving TFT 963 are TFTs included in the pixel portion, and the driver circuit TFT and the pixel portion TFT can be formed over the same substrate.

【0216】なお、EL素子を用いた発光装置の場合、
駆動回路の電源の電圧が5〜6V程度、最大でも10V
程度で十分なので、TFTにおいてホットエレクトロン
による劣化があまり問題にならない。また駆動回路を高
速で動作させる必要があるので、TFTのゲート容量は
小さいほうが好ましい。よって、本実施例のように、E
L素子を用いた発光装置の駆動回路では、TFTの半導
体層が有する第2の不純物領域929と、第4の不純物
領域933bとが、それぞれゲート電極918、919
と重ならない構成にするのが好ましい。
In the case of a light emitting device using an EL element,
The voltage of the power supply of the drive circuit is about 5-6V, and the maximum is 10V
Since the degree is sufficient, deterioration due to hot electrons in the TFT does not cause much problem. Since the driving circuit needs to operate at high speed, it is preferable that the gate capacitance of the TFT is small. Therefore, as in this embodiment, E
In a driver circuit of a light-emitting device using an L element, a second impurity region 929 and a fourth impurity region 933b included in a semiconductor layer of a TFT are formed with gate electrodes 918 and 919, respectively.
It is preferable to adopt a configuration that does not overlap with.

【0217】本発明の発光装置の作製方法は、本実施例
において説明した作製方法に限定されない。本発明の発
光装置は公知の方法を用いて作成することが可能であ
る。
[0217] The method for manufacturing the light emitting device of the present invention is not limited to the manufacturing method described in this embodiment. The light emitting device of the present invention can be manufactured using a known method.

【0218】なお本実施例は、実施例1〜4と自由に組
み合わせて実施することが可能である。
This embodiment can be implemented by freely combining with Embodiments 1 to 4.

【0219】(実施例6)本実施例では、実施例5とは
異なる発光装置の作製方法について説明する。
[Embodiment 6] In this embodiment, a method for manufacturing a light emitting device which is different from that of Embodiment 5 will be described.

【0220】第2の層間絶縁膜939を形成するまでの
工程は、実施例5と同じである。図12(A)に示すよ
うに、第2の層間絶縁膜939を形成した後、第2の層
間絶縁膜939に接するように、パッシベーション膜9
39を形成する。
The steps up to the formation of the second interlayer insulating film 939 are the same as in the fifth embodiment. As shown in FIG. 12A, after forming a second interlayer insulating film 939, the passivation film 9 is in contact with the second interlayer insulating film 939.
Form 39.

【0221】パッシベーション膜939は、第2の層間
絶縁膜939に含まれる水分が、画素電極947や、第
3の層間絶縁膜982を介して、EL層950に入るの
を防ぐのに効果的である。第2の層間絶縁膜939が有
機樹脂材料を有している場合、有機樹脂材料は水分を多
く含むため、パッシベーション膜939を設けることは
特に有効である。
The passivation film 939 is effective for preventing moisture contained in the second interlayer insulating film 939 from entering the EL layer 950 via the pixel electrode 947 and the third interlayer insulating film 982. is there. When the second interlayer insulating film 939 includes an organic resin material, the provision of the passivation film 939 is particularly effective because the organic resin material contains a large amount of moisture.

【0222】本実施例では、パッシベーション膜939
として、窒化珪素膜を用いた。
In this embodiment, the passivation film 939 is used.
A silicon nitride film was used.

【0223】その後、所定のパターンのレジストマスク
を形成し、それぞれの半導体層に形成されソース領域ま
たはドレイン領域とする不純物領域に達するコンタクト
ホールを形成する。コンタクトホールはドライエッチン
グ法で形成する。この場合、エッチングガスにCF4
2、Heの混合ガスを用い有機樹脂材料から成る第2
の層間絶縁膜939をまずエッチングし、その後、続い
てエッチングガスをCF4、O2として第1の層間絶縁膜
937をエッチングする。さらに、半導体層との選択比
を高めるために、エッチングガスをCHF3に切り替え
て第3の形状のゲート絶縁膜570をエッチングするこ
とによりコンタクトホールを形成することができる。
Thereafter, a resist mask having a predetermined pattern is formed, and a contact hole formed in each semiconductor layer and reaching an impurity region serving as a source region or a drain region is formed. The contact hole is formed by a dry etching method. In this case, CF 4 ,
A second material made of an organic resin material using a mixed gas of O 2 and He
The first interlayer insulating film 939 is etched first, and then the first interlayer insulating film 937 is etched using CF 4 and O 2 as etching gases. Further, in order to increase the selectivity with respect to the semiconductor layer, a contact hole can be formed by switching the etching gas to CHF 3 and etching the third shape gate insulating film 570.

【0224】そして、導電性の金属膜をスパッタ法や真
空蒸着法で形成し、マスクでパターニングし、その後エ
ッチングすることで、ソース配線940〜943とドレ
イン配線944〜946を形成する。図示していない
が、本実施例ではこの配線を、そして、膜厚50nmの
Ti膜と、膜厚500nmの合金膜(AlとTiとの合
金膜)との積層膜で形成した。
Then, a conductive metal film is formed by a sputtering method or a vacuum evaporation method, patterned by a mask, and then etched to form source wirings 940 to 943 and drain wirings 944 to 946. Although not shown, in this embodiment, this wiring is formed of a laminated film of a 50 nm-thick Ti film and a 500 nm-thick alloy film (an alloy film of Al and Ti).

【0225】次いで、その上に透明導電膜を80〜12
0nmの厚さで形成し、パターニングすることによって
画素電極947を形成する(図12(A))。なお、本
実施例では、透明電極として酸化インジウム・スズ(I
TO)膜や酸化インジウムに2〜20[%]の酸化亜鉛
(ZnO)を混合した透明導電膜を用いる。
Next, a transparent conductive film is formed on the
A pixel electrode 947 is formed by patterning with a thickness of 0 nm and patterning (FIG. 12A). In this embodiment, indium tin oxide (I
A transparent conductive film in which 2 to 20% of zinc oxide (ZnO) is mixed with a TO) film or indium oxide is used.

【0226】また、画素電極947は、ドレイン配線9
46と接して重ねて形成することによってEL駆動用T
FTのドレイン領域と電気的な接続が形成される。
The pixel electrode 947 is connected to the drain wiring 9
The EL driving T
An electrical connection is formed with the drain region of the FT.

【0227】次に、図12(B)に示すように、画素電
極947に対応する位置に開口部を有する第3の層間絶
縁膜982を形成する。本実施例では、開口部を形成す
る際、ウエットエッチング法を用いることでテーパー形
状の側壁とした。実施例5に示した場合と異なり、第3
の層間絶縁膜982上に形成されるEL層は分断されな
いため、開口部の側壁が十分になだらかでないと段差に
起因するEL層の劣化が顕著な問題となってしまうた
め、注意が必要である。
Next, as shown in FIG. 12B, a third interlayer insulating film 982 having an opening at a position corresponding to the pixel electrode 947 is formed. In this embodiment, when the opening is formed, the side wall is tapered by using a wet etching method. Unlike the case shown in the fifth embodiment, the third
Since the EL layer formed on the interlayer insulating film 982 is not divided, if the side wall of the opening is not sufficiently smooth, the deterioration of the EL layer due to the step becomes a remarkable problem. .

【0228】なお、本実施例においては、第3の層間絶
縁膜982として酸化珪素でなる膜を用いているが、場
合によっては、ポリイミド、ポリアミド、アクリル、B
CB(ベンゾシクロブテン)といった有機樹脂膜を用い
ることもできる。
Although a film made of silicon oxide is used as the third interlayer insulating film 982 in this embodiment, depending on the case, polyimide, polyamide, acryl, B
An organic resin film such as CB (benzocyclobutene) can also be used.

【0229】そして、第3の層間絶縁膜982上にEL
層950を形成する前に、第3の層間絶縁膜982の表
面にアルゴンを用いたプラズマ処理を施し、第3の層間
絶縁膜982の表面を緻密化しておくのが好ましい。上
記構成によって、第3の層間絶縁膜982からEL層9
50に水分が入るのを防ぐことができる。
Then, the EL is formed on the third interlayer insulating film 982.
Before the layer 950 is formed, it is preferable that the surface of the third interlayer insulating film 982 be subjected to plasma treatment using argon to make the surface of the third interlayer insulating film 982 dense. With the above structure, the third interlayer insulating film 982 to the EL layer 9
It is possible to prevent moisture from entering the 50.

【0230】次に、EL層950を蒸着法により形成
し、更に蒸着法により陰極(MgAg電極)951およ
び保護電極952を形成する。このときEL層950及
び陰極951を形成するに先立って画素電極947に対
して熱処理を施し、水分を完全に除去しておくことが望
ましい。なお、本実施例ではEL素子の陰極としてMg
Ag電極を用いるが、公知の他の材料であっても良い。
Next, an EL layer 950 is formed by an evaporation method, and a cathode (MgAg electrode) 951 and a protection electrode 952 are formed by an evaporation method. At this time, it is preferable that a heat treatment be performed on the pixel electrode 947 before the EL layer 950 and the cathode 951 are formed to completely remove moisture. In this embodiment, Mg is used as the cathode of the EL element.
Although an Ag electrode is used, other known materials may be used.

【0231】なお、EL層950としては、公知の材料
を用いることができる。本実施例では正孔輸送層(Hole
transporting layer)及び発光層(Emitting layer)
でなる2層構造をEL層とするが、正孔注入層、電子注
入層若しくは電子輸送層のいずれかを設ける場合もあ
る。このように組み合わせは既に様々な例が報告されて
おり、そのいずれの構成を用いても構わない。
Note that a known material can be used for the EL layer 950. In this embodiment, the hole transport layer (Hole
transporting layer) and emitting layer (Emitting layer)
The EL layer has a two-layer structure of, but any of a hole injection layer, an electron injection layer, and an electron transport layer may be provided. As described above, various examples of the combination have already been reported, and any of the configurations may be used.

【0232】本実施例では正孔輸送層としてポリフェニ
レンビニレンを蒸着法により形成する。また、発光層と
しては、ポリビニルカルバゾールに1,3,4−オキサ
ジアゾール誘導体のPBDを30〜40%分子分散させ
たものを蒸着法により形成し、緑色の発光中心としてク
マリン6を約1%添加している。
In this embodiment, polyphenylene vinylene is formed as a hole transport layer by an evaporation method. The light emitting layer is formed by vapor deposition of a 30% to 40% molecular dispersion of PBD of a 1,3,4-oxadiazole derivative in polyvinyl carbazole, and about 1% of coumarin 6 is used as a green light emitting center. Has been added.

【0233】また、保護電極952でもEL層950を
水分や酸素から保護することは可能であるが、さらに好
ましくは保護膜953を設けると良い。本実施例では保
護膜953として300nm厚の窒化珪素膜を設ける。
この保護膜も保護電極952の後に大気解放しないで連
続的に形成しても構わない。
Although the protection layer 952 can protect the EL layer 950 from moisture and oxygen, it is more preferable to provide a protection film 953. In this embodiment, a 300-nm-thick silicon nitride film is provided as the protective film 953.
This protective film may be formed continuously without opening to the atmosphere after the protective electrode 952.

【0234】また、保護電極952は陰極951の劣化
を防ぐために設けられ、アルミニウムを主成分とする金
属膜が代表的である。勿論、他の材料でも良い。また、
EL層950、陰極951は非常に水分に弱いので、保
護電極952までを大気解放しないで連続的に形成し、
外気からEL層を保護することが望ましい。
The protection electrode 952 is provided to prevent the deterioration of the cathode 951, and is typically a metal film containing aluminum as a main component. Of course, other materials may be used. Also,
Since the EL layer 950 and the cathode 951 are very weak to moisture, the protection electrode 952 is formed continuously without opening to the atmosphere,
It is desirable to protect the EL layer from outside air.

【0235】なお、EL層950の膜厚は10〜400
[nm](典型的には60〜150[nm])、陰極951
の厚さは80〜200[nm](典型的には100〜15
0[nm])とすれば良い。
The thickness of the EL layer 950 is 10 to 400.
[nm] (typically 60 to 150 [nm]), cathode 951
Has a thickness of 80 to 200 [nm] (typically 100 to 15 nm).
0 [nm]).

【0236】こうして図12(B)に示すような構造の
発光装置が完成する。なお、画素電極947、EL層9
50、陰極951の重なっている部分954がEL素子
に相当する。
Thus, a light emitting device having a structure as shown in FIG. 12B is completed. Note that the pixel electrode 947 and the EL layer 9
The overlapping portion 954 of the cathode 50 and the cathode 951 corresponds to the EL element.

【0237】pチャネル型TFT960及びnチャネル
型TFT961は駆動回路が有するTFTであり、CM
OSを形成している。スイッチング用TFT962及び
EL駆動用TFT963は画素部が有するTFTであ
り、駆動回路のTFTと画素部のTFTとは同一基板上
に形成することができる。
A p-channel TFT 960 and an n-channel TFT 961 are TFTs included in a driving circuit, and include a CM
OS is formed. The switching TFT 962 and the EL driving TFT 963 are TFTs included in the pixel portion, and the driver circuit TFT and the pixel portion TFT can be formed over the same substrate.

【0238】本発明の発光装置の作製方法は、本実施例
において説明した作製方法に限定されない。本発明の発
光装置は公知の方法を用いて作成することが可能であ
る。
[0238] The method for manufacturing the light emitting device of the present invention is not limited to the manufacturing method described in this embodiment. The light emitting device of the present invention can be manufactured using a known method.

【0239】なお本実施例は、実施例1〜4と自由に組
み合わせて実施することが可能である。
This embodiment can be implemented by freely combining with Embodiments 1 to 4.

【0240】(実施例8)本実施例では、実施の形態1
で示した本発明の発光装置の構成について、図13を用
いて説明する。
(Embodiment 8) In this embodiment, the first embodiment will be described.
The structure of the light emitting device of the present invention shown in FIG. 1 will be described with reference to FIG.

【0241】図13(A)は、本発明の発光装置が有す
るELパネルの上面図であり、図13(B)は、図13
(A)のA−A’における断面図、図13(C)は図1
3(A)のB−B’における断面図である。
FIG. 13A is a top view of an EL panel included in the light emitting device of the present invention, and FIG.
FIG. 13C is a cross-sectional view taken along line AA ′ of FIG.
It is sectional drawing in BB 'of 3 (A).

【0242】基板4001上に設けられた画素部400
2と、ソース信号線駆動回路4003と、第1及び第2
のゲート信号線駆動回路4004a、bとを囲むように
して、シール材4009が設けられている。また画素部
4002と、ソース信号線駆動回路4003と、第1及
び第2のゲート信号線駆動回路4004a、bとの上に
シーリング材4008が設けられている。よって画素部
4002と、ソース信号線駆動回路4003と、第1及
び第2のゲート信号線駆動回路4004a、bとは、基
板4001とシール材4009とシーリング材4008
とによって、充填材4210で密封されている。
A pixel portion 400 provided over a substrate 4001
2, the source signal line driving circuit 4003, and the first and second
A sealing material 4009 is provided so as to surround the gate signal line driving circuits 4004a and 4004b. A sealing material 4008 is provided over the pixel portion 4002, the source signal line driver circuit 4003, and the first and second gate signal line driver circuits 4004a and 4004b. Therefore, the pixel portion 4002, the source signal line driver circuit 4003, and the first and second gate signal line driver circuits 4004a and 4004b are each composed of a substrate 4001, a sealant 4009, and a sealant 4008.
, And is sealed with the filler 4210.

【0243】また基板4001上に設けられた画素部4
002と、ソース信号線駆動回路4003と、第1及び
第2のゲート信号線駆動回路4004a、bとは、複数
のTFTを有している。図13(B)では代表的に、下
地膜4010上に形成された、ソース信号線駆動回路4
003に含まれる駆動TFT(但し、ここではnチャネ
ル型TFTとpチャネル型TFTを図示する)4201
及び画素部4002に含まれるEL駆動用TFT(EL
素子への電流を制御するTFT)4202を図示した。
The pixel portion 4 provided on the substrate 4001
002, the source signal line driver circuit 4003, and the first and second gate signal line driver circuits 4004a and 4004b have a plurality of TFTs. In FIG. 13B, typically, the source signal line driving circuit 4 formed on the base film 4010 is formed.
The drive TFT 4201 included in 003 (here, an n-channel TFT and a p-channel TFT are illustrated)
And an EL driving TFT (EL included in the pixel portion 4002)
(TFT) 4202 for controlling the current to the device.

【0244】本実施例では、駆動TFT4201には公
知の方法で作製されたpチャネル型TFTまたはnチャ
ネル型TFTが用いられ、EL駆動用TFT4202に
は公知の方法で作製されたpチャネル型TFTが用いら
れる。また、画素部4002にはEL駆動用TFT42
02のゲートに接続された保持容量(図示せず)が設け
られる。
In this embodiment, a p-channel TFT or an n-channel TFT manufactured by a known method is used as the driving TFT 4201, and a p-channel TFT manufactured by a known method is used as the EL driving TFT 4202. Used. The pixel portion 4002 includes an EL driving TFT 42.
A storage capacitor (not shown) connected to the gate 02 is provided.

【0245】駆動TFT4201及びEL駆動用TFT
4202上には層間絶縁膜(平坦化膜)4301が形成
され、その上にEL駆動用TFT4202のドレインと
電気的に接続する画素電極(陽極)4203が形成され
る。画素電極4203としては仕事関数の大きい透明導
電膜が用いられる。透明導電膜としては、酸化インジウ
ムと酸化スズとの化合物、酸化インジウムと酸化亜鉛と
の化合物、酸化亜鉛、酸化スズまたは酸化インジウムを
用いることができる。また、前記透明導電膜にガリウム
を添加したものを用いても良い。
Driving TFT 4201 and EL Driving TFT
An interlayer insulating film (flattening film) 4301 is formed over the surface 4202, and a pixel electrode (anode) 4203 electrically connected to the drain of the EL driving TFT 4202 is formed thereon. As the pixel electrode 4203, a transparent conductive film having a large work function is used. As the transparent conductive film, a compound of indium oxide and tin oxide, a compound of indium oxide and zinc oxide, zinc oxide, tin oxide, or indium oxide can be used. Further, a material obtained by adding gallium to the transparent conductive film may be used.

【0246】そして、画素電極4203の上には絶縁膜
4302が形成され、絶縁膜4302は画素電極420
3の上に開口部が形成されている。この開口部におい
て、画素電極4203の上にはEL(エレクトロルミネ
ッセンス)層4204が形成される。EL層4204は
公知の有機EL材料または無機EL材料を用いることが
できる。また、有機EL材料には低分子系(モノマー
系)材料と高分子系(ポリマー系)材料があるがどちら
を用いても良い。
[0246] An insulating film 4302 is formed on the pixel electrode 4203, and the insulating film 4302 is formed on the pixel electrode 4203.
An opening is formed on 3. In this opening, an EL (electroluminescence) layer 4204 is formed on the pixel electrode 4203. For the EL layer 4204, a known organic EL material or inorganic EL material can be used. As the organic EL material, there are a low-molecular (monomer) material and a high-molecular (polymer) material, and either may be used.

【0247】EL層4204の形成方法は公知の蒸着技
術もしくは塗布法技術を用いれば良い。また、EL層の
構造は正孔注入層、正孔輸送層、発光層、電子輸送層ま
たは電子注入層を自由に組み合わせて積層構造または単
層構造とすれば良い。
[0247] As a method for forming the EL layer 4204, a known vapor deposition technique or coating technique may be used. The EL layer may have a stacked structure or a single-layer structure by freely combining a hole injection layer, a hole transport layer, a light-emitting layer, an electron transport layer, or an electron injection layer.

【0248】EL層4204の上には遮光性を有する導
電膜(代表的にはアルミニウム、銅もしくは銀を主成分
とする導電膜またはそれらと他の導電膜との積層膜)か
らなる陰極4205が形成される。また、陰極4205
とEL層4204の界面に存在する水分や酸素は極力排
除しておくことが望ましい。従って、EL層4204を
窒素または希ガス雰囲気で形成し、酸素や水分に触れさ
せないまま陰極4205を形成するといった工夫が必要
である。本実施例ではマルチチャンバー方式(クラスタ
ーツール方式)の成膜装置を用いることで上述のような
成膜を可能とする。そして陰極4205は所定の電圧が
与えられている。
On the EL layer 4204, a cathode 4205 made of a light-shielding conductive film (typically, a conductive film containing aluminum, copper, or silver as a main component or a laminated film of these and another conductive film) is provided. It is formed. In addition, the cathode 4205
It is desirable that moisture and oxygen existing at the interface between the EL layer and the EL layer 4204 be eliminated as much as possible. Therefore, it is necessary to devise a method in which the EL layer 4204 is formed in a nitrogen or rare gas atmosphere and the cathode 4205 is formed without being exposed to oxygen or moisture. In this embodiment, the above-described film formation is made possible by using a multi-chamber type (cluster tool type) film formation apparatus. The cathode 4205 is given a predetermined voltage.

【0249】以上のようにして、画素電極(陽極)42
03、EL層4204及び陰極4205からなるEL素
子4303が形成される。そしてEL素子4303を覆
うように、絶縁膜4302上に保護膜4303が形成さ
れている。保護膜4303は、EL素子4303に酸素
や水分等が入り込むのを防ぐのに効果的である。
As described above, the pixel electrode (anode) 42
03, an EL element 4303 comprising an EL layer 4204 and a cathode 4205 is formed. Then, a protective film 4303 is formed over the insulating film 4302 so as to cover the EL element 4303. The protective film 4303 is effective in preventing oxygen, moisture, and the like from entering the EL element 4303.

【0250】4005aは電源供給線または対向電源線
に接続された引き回し配線であり、EL駆動用TFT4
202のソース領域に電気的に接続されている。引き回
し配線4005aはシール材4009と基板4001と
の間を通り、異方導電性フィルム4300を介してFP
C4006が有するFPC用配線4301に電気的に接
続される。電源供給線または対向電源線は、引き回し配
線4005a及びFPC4006を介して、ELパネル
の外部に設けられた電源回路に接続されている。
A wiring 4005a is connected to a power supply line or a counter power supply line.
202 is electrically connected to the source region. The lead wiring 4005a passes between the sealing material 4009 and the substrate 4001 and passes through the FP through the anisotropic conductive film 4300.
The wiring is electrically connected to the FPC wiring 4301 included in the C4006. The power supply line or the opposing power supply line is connected to a power supply circuit provided outside the EL panel through the lead wiring 4005a and the FPC 4006.

【0251】シーリング材4008としては、ガラス
材、金属材(代表的にはステンレス材)、セラミックス
材、プラスチック材(プラスチックフィルムも含む)を
用いることができる。プラスチック材としては、FRP
(Fiberglass−Reinforced Pl
astics)板、PVF(ポリビニルフルオライド)
フィルム、マイラーフィルム、ポリエステルフィルムま
たはアクリル樹脂フィルムを用いることができる。ま
た、アルミニウムホイルをPVFフィルムやマイラーフ
ィルムで挟んだ構造のシートを用いることもできる。
As the sealing material 4008, a glass material, a metal material (typically, a stainless steel material), a ceramic material, and a plastic material (including a plastic film) can be used. FRP as plastic material
(Fiberglass-Reinforced Pl
aics) plate, PVF (polyvinyl fluoride)
A film, a mylar film, a polyester film, or an acrylic resin film can be used. Further, a sheet having a structure in which an aluminum foil is sandwiched between PVF films or mylar films can also be used.

【0252】但し、EL素子からの光の放射方向がカバ
ー材側に向かう場合にはカバー材は透明でなければなら
ない。その場合には、ガラス板、プラスチック板、ポリ
エステルフィルムまたはアクリルフィルムのような透明
物質を用いる。
However, when the direction of light emission from the EL element is directed toward the cover material, the cover material must be transparent. In that case, a transparent material such as a glass plate, a plastic plate, a polyester film or an acrylic film is used.

【0253】また、充填材4103としては窒素やアル
ゴンなどの不活性な気体の他に、紫外線硬化樹脂または
熱硬化樹脂を用いることができ、PVC(ポリビニルク
ロライド)、アクリル、ポリイミド、エポキシ樹脂、シ
リコーン樹脂、PVB(ポリビニルブチラル)またはE
VA(エチレンビニルアセテート)を用いることができ
る。本実施例では充填材として窒素を用いた。
As the filler 4103, besides an inert gas such as nitrogen or argon, an ultraviolet curable resin or a thermosetting resin can be used, such as PVC (polyvinyl chloride), acrylic, polyimide, epoxy resin, or silicone. Resin, PVB (polyvinyl butyral) or E
VA (ethylene vinyl acetate) can be used. In this embodiment, nitrogen was used as the filler.

【0254】また充填材4103を吸湿性物質(好まし
くは酸化バリウム)もしくは酸素を吸着しうる物質にさ
らしておくために、シーリング材4008の基板400
1側の面に凹部4007を設けて吸湿性物質または酸素
を吸着しうる物質4207を配置する。そして、吸湿性
物質または酸素を吸着しうる物質4207が飛び散らな
いように、凹部カバー材4208によって吸湿性物質ま
たは酸素を吸着しうる物質4207は凹部4007に保
持されている。なお凹部カバー材4208は目の細かい
メッシュ状になっており、空気や水分は通し、吸湿性物
質または酸素を吸着しうる物質4207は通さない構成
になっている。吸湿性物質または酸素を吸着しうる物質
4207を設けることで、EL素子4303の劣化を抑
制できる。
In order to expose the filler 4103 to a hygroscopic substance (preferably barium oxide) or a substance capable of adsorbing oxygen, the substrate 400
A concave portion 4007 is provided on the one surface, and a hygroscopic substance or a substance 4207 capable of adsorbing oxygen is arranged. Then, the hygroscopic substance or the substance 4207 capable of adsorbing oxygen is held in the concave part 4007 by the concave part cover material 4208 so that the hygroscopic substance or the substance 4207 capable of adsorbing oxygen is not scattered. Note that the concave portion cover member 4208 has a fine mesh shape and is configured to allow air and moisture to pass therethrough and not allow a hygroscopic substance or a substance 4207 capable of adsorbing oxygen to pass therethrough. By providing the hygroscopic substance or the substance 4207 which can adsorb oxygen, deterioration of the EL element 4303 can be suppressed.

【0255】図13(C)に示すように、画素電極42
03が形成されると同時に、引き回し配線4005a上
に接するように導電性膜4203aが形成される。
As shown in FIG. 13C, the pixel electrode 42
Simultaneously with the formation of 03, a conductive film 4203a is formed so as to be in contact with the lead wiring 4005a.

【0256】また、異方導電性フィルム4300は導電
性フィラー4300aを有している。基板4001とF
PC4006とを熱圧着することで、基板4001上の
導電性膜4203aとFPC4006上のFPC用配線
4301とが、導電性フィラー4300aによって電気
的に接続される。
The anisotropic conductive film 4300 has a conductive filler 4300a. Substrate 4001 and F
By thermocompression bonding with the PC 4006, the conductive film 4203a on the substrate 4001 and the FPC wiring 4301 on the FPC 4006 are electrically connected by the conductive filler 4300a.

【0257】本実施例は、実施例1〜7の構成と、自由
に組み合わせて実施することが可能である。
This embodiment can be implemented by freely combining with the configurations of Embodiments 1 to 7.

【0258】(実施例9)本発明において、三重項励起
子からの燐光を発光に利用できるEL材料を用いること
で、外部発光量子効率を飛躍的に向上させることができ
る。これにより、EL素子の低消費電力化、長寿命化、
および軽量化が可能になる。
(Embodiment 9) In the present invention, by using an EL material capable of utilizing phosphorescence from triplet excitons for emission, external light emission quantum efficiency can be remarkably improved. As a result, the power consumption and the life of the EL element can be reduced,
And weight reduction becomes possible.

【0259】ここで、三重項励起子を利用し、外部発光
量子効率を向上させた報告を示す。(T.Tsutsui, C.Adac
hi, S.Saito, Photochemical Processes in Organized
Molecular Systems, ed.K.Honda, (Elsevier Sci.Pub.,
Tokyo,1991) p.437.)
Here, a report is shown in which triplet excitons are used to improve the external emission quantum efficiency. (T.Tsutsui, C.Adac
hi, S. Saito, Photochemical Processes in Organized
Molecular Systems, ed.K. Honda, (Elsevier Sci. Pub.,
Tokyo, 1991) p.437.)

【0260】上記の論文により報告されたEL材料(ク
マリン色素)の分子式を以下に示す。
The molecular formula of the EL material (coumarin dye) reported in the above article is shown below.

【0261】[0261]

【化1】 Embedded image

【0262】(M.A.Baldo, D.F.O'Brien, Y.You, A.Shou
stikov, S.Sibley, M.E.Thompson,S.R.Forrest, Nature
395 (1998) p.151.)
(MABaldo, DFO'Brien, Y. You, A. Shou
stikov, S. Sibley, METhompson, SRForrest, Nature
395 (1998) p.151.)

【0263】上記の論文により報告されたEL材料(P
t錯体)の分子式を以下に示す。
The EL materials (P
The molecular formula of (t complex) is shown below.

【0264】[0264]

【化2】 Embedded image

【0265】(M.A.Baldo, S.Lamansky, P.E.Burrrows,
M.E.Thompson, S.R.Forrest, Appl.Phys.Lett.,75 (199
9) p.4.) (T.Tsutsui, M.-J.Yang, M.Yahiro, K.Nakamu
ra,T.Watanabe, T.tsuji, Y.Fukuda, T.Wakimoto, S.Ma
yaguchi, Jpn.Appl.Phys.,38 (12B) (1999) L1502.)
(MABaldo, S. Lamansky, PEBurrrows,
METhompson, SRForrest, Appl.Phys.Lett., 75 (199
9) p.4.) (T.Tsutsui, M.-J.Yang, M.Yahiro, K.Nakamu
ra, T.Watanabe, T.tsuji, Y.Fukuda, T.Wakimoto, S.Ma
yaguchi, Jpn.Appl.Phys., 38 (12B) (1999) L1502.)

【0266】上記の論文により報告されたEL材料(I
r錯体)の分子式を以下に示す。
The EL materials (I
The molecular formula of (r complex) is shown below.

【0267】[0267]

【化3】 Embedded image

【0268】以上のように三重項励起子からの燐光発光
を利用できれば原理的には一重項励起子からの蛍光発光
を用いる場合より3〜4倍の高い外部発光量子効率の実
現が可能となる。
As described above, if the phosphorescence emission from the triplet exciton can be used, an external emission quantum efficiency three to four times higher than the case of using the fluorescence emission from the singlet exciton can be realized in principle. .

【0269】なお、本実施例の構成は、実施例1〜実施
例8のいずれの構成とも自由に組み合わせて実施するこ
とが可能である。
The structure of this embodiment can be implemented by freely combining with any structure of Embodiments 1 to 8.

【0270】(実施例10)EL素子を用いた発光装置
は自発光型であるため、液晶表示装置に比べ、明るい場
所での視認性に優れ、視野角が広い。従って、様々な電
子機器の表示部に用いることができる。
Embodiment 10 Since a light emitting device using an EL element is of a self-luminous type, it has better visibility in a bright place and a wider viewing angle than a liquid crystal display device. Therefore, it can be used for display portions of various electronic devices.

【0271】本発明の発光装置を用いた電子機器とし
て、ビデオカメラ、デジタルカメラ、ゴーグル型ディス
プレイ(ヘッドマウントディスプレイ)、ナビゲーショ
ンシステム、音響再生装置(カーオーディオ、オーディ
オコンポ等)、ノート型パーソナルコンピュータ、ゲー
ム機器、携帯情報端末(モバイルコンピュータ、携帯電
話、携帯型ゲーム機または電子書籍等)、記録媒体を備
えた画像再生装置(具体的にはDVD:Digital Versat
ile Disc等の記録媒体を再生し、その画像を表示しうる
ディスプレイを備えた装置)などが挙げられる。特に、
斜め方向から画面を見る機会が多い携帯情報端末は、視
野角の広さが重要視されるため、発光装置を用いること
が望ましい。それら電子機器の具体例を図15に示す。
Electronic equipment using the light emitting device of the present invention include a video camera, a digital camera, a goggle type display (head mounted display), a navigation system, a sound reproducing device (car audio, audio component, etc.), a notebook personal computer, Game devices, portable information terminals (mobile computers, mobile phones, portable game machines, electronic books, etc.), and image reproducing devices provided with recording media (specifically, DVD: Digital Versat)
device that reproduces a recording medium such as an ile Disc and displays the image of the recording medium). In particular,
It is desirable to use a light-emitting device for a portable information terminal that frequently views a screen from an oblique direction, since a wide viewing angle is regarded as important. FIG. 15 shows specific examples of these electronic devices.

【0272】図15(A)はEL表示装置であり、筐体
2001、支持台2002、表示部2003、スピーカ
ー部2004、ビデオ入力端子2005等を含む。本発
明の発光装置は表示部2003に用いることができる。
発光装置は自発光型であるためバックライトが必要な
く、液晶表示装置よりも薄い表示部とすることができ
る。なお、EL表示装置は、パソコン用、TV放送受信
用、広告表示用などの全ての情報表示用表示装置が含ま
れる。
FIG. 15A shows an EL display device which includes a housing 2001, a support base 2002, a display portion 2003, a speaker portion 2004, a video input terminal 2005, and the like. The light emitting device of the present invention can be used for the display portion 2003.
Since the light-emitting device is a self-luminous type, it does not require a backlight and can have a thinner display portion than a liquid crystal display device. Note that the EL display device includes all information display devices for personal computers, TV broadcast reception, advertisement display, and the like.

【0273】図15(B)はデジタルスチルカメラであ
り、本体2101、表示部2102、受像部2103、
操作キー2104、外部接続ポート2105、シャッタ
ー2106等を含む。本発明の発光装置は表示部210
2に用いることができる。
FIG. 15B shows a digital still camera, which includes a main body 2101, a display portion 2102, an image receiving portion 2103,
An operation key 2104, an external connection port 2105, a shutter 2106, and the like are included. The light emitting device of the present invention has a display portion 210
2 can be used.

【0274】図15(C)はノート型パーソナルコンピ
ュータであり、本体2201、筐体2202、表示部2
203、キーボード2204、外部接続ポート220
5、ポインティングマウス2206等を含む。本発明の
発光装置は表示部2203に用いることができる。
[0274] FIG. 15C illustrates a notebook personal computer, which includes a main body 2201, a housing 2202, and a display portion 2.
203, keyboard 2204, external connection port 220
5, including a pointing mouse 2206 and the like. The light emitting device of the present invention can be used for the display portion 2203.

【0275】図15(D)はモバイルコンピュータであ
り、本体2301、表示部2302、スイッチ230
3、操作キー2304、赤外線ポート2305等を含
む。本発明の発光装置は表示部2302に用いることが
できる。
FIG. 15D shows a mobile computer, which includes a main body 2301, a display portion 2302, and a switch 230.
3, an operation key 2304, an infrared port 2305, and the like. The light emitting device of the present invention can be used for the display portion 2302.

【0276】図15(E)は記録媒体を備えた携帯型の
画像再生装置(具体的にはDVD再生装置)であり、本
体2401、筐体2402、表示部A2403、表示部
B2404、記録媒体(DVD等)読み込み部240
5、操作キー2406、スピーカー部2407等を含
む。表示部A2403は主として画像情報を表示し、表
示部B2404は主として文字情報を表示するが、本発
明の発光装置はこれら表示部A、B2403、2404
に用いることができる。なお、記録媒体を備えた画像再
生装置には家庭用ゲーム機器なども含まれる。
FIG. 15E shows a portable image reproducing apparatus (specifically, a DVD reproducing apparatus) provided with a recording medium, and includes a main body 2401, a housing 2402, a display portion A 2403, a display portion B 2404, and a recording medium ( DVD, etc.) reading unit 240
5, operation keys 2406, a speaker unit 2407, and the like. The display portion A 2403 mainly displays image information, and the display portion B 2404 mainly displays character information.
Can be used. Note that the image reproducing device provided with the recording medium includes a home game machine and the like.

【0277】図15(F)はゴーグル型ディスプレイ
(ヘッドマウントディスプレイ)であり、本体250
1、表示部2502、アーム部2503を含む。本発明
の発光装置は表示部2502に用いることができる。
FIG. 15F shows a goggle-type display (head-mounted display).
1, including a display unit 2502 and an arm unit 2503. The light emitting device of the present invention can be used for the display portion 2502.

【0278】図15(G)はビデオカメラであり、本体
2601、表示部2602、筐体2603、外部接続ポ
ート2604、リモコン受信部2605、受像部260
6、バッテリー2607、音声入力部2608、操作キ
ー2609等を含む。本発明の発光装置は表示部260
2に用いることができる。
FIG. 15G shows a video camera, which includes a main body 2601, a display portion 2602, a housing 2603, an external connection port 2604, a remote control receiving portion 2605, and an image receiving portion 260.
6, a battery 2607, a voice input unit 2608, operation keys 2609, and the like. The light emitting device of the present invention has a display portion 260
2 can be used.

【0279】ここで図15(H)は携帯電話であり、本
体2701、筐体2702、表示部2703、音声入力
部2704、音声出力部2705、操作キー2706、
外部接続ポート2707、アンテナ2708等を含む。
本発明の発光装置は表示部2703に用いることができ
る。なお、表示部2703は黒色の背景に白色の文字を
表示することで携帯電話の消費電力を抑えることができ
る。
[0279] Here, FIG. 15H illustrates a mobile phone, which includes a main body 2701, a housing 2702, a display portion 2703, a voice input portion 2704, a voice output portion 2705, operation keys 2706,
An external connection port 2707, an antenna 2708, and the like are included.
The light emitting device of the present invention can be used for the display portion 2703. Note that the display portion 2703 displays white characters on a black background, so that power consumption of the mobile phone can be suppressed.

【0280】なお、将来的にEL材料の発光輝度が高く
なれば、出力した画像情報を含む光をレンズ等で拡大投
影してフロント型若しくはリア型のプロジェクターに用
いることも可能となる。
If the emission luminance of the EL material becomes higher in the future, it becomes possible to use the front or rear projector by enlarging and projecting the light containing the output image information with a lens or the like.

【0281】また、上記電子機器はインターネットやC
ATV(ケーブルテレビ)などの電子通信回線を通じて
配信された情報を表示することが多くなり、特に動画情
報を表示する機会が増してきている。EL材料の応答速
度は非常に高いため、発光装置は動画表示に好ましい。
Also, the above electronic equipment can be connected to the Internet or C
Information distributed through an electronic communication line such as an ATV (cable television) is frequently displayed, and in particular, opportunities to display moving image information are increasing. Since the response speed of the EL material is extremely high, the light-emitting device is preferable for displaying moving images.

【0282】また、発光装置は発光している部分が電力
を消費するため、発光部分が極力少なくなるように情報
を表示することが望ましい。従って、携帯情報端末、特
に携帯電話や音響再生装置のような文字情報を主とする
表示部に発光装置を用いる場合には、非発光部分を背景
として文字情報を発光部分で形成するように駆動するこ
とが望ましい。
[0282] Since the light emitting device consumes power in a light emitting portion, it is desirable to display information so that the light emitting portion is reduced as much as possible. Therefore, when a light emitting device is used for a portable information terminal, particularly a display portion mainly for text information such as a mobile phone or a sound reproducing device, the light emitting portion is driven to form the text information with a non-light emitting portion as a background. It is desirable to do.

【0283】以上の様に、本発明の適用範囲は極めて広
く、あらゆる分野の電子機器に用いることが可能であ
る。また、本実施例の電子機器は実施例1〜9に示した
いずれの構成の発光装置を用いても良い。
As described above, the applicable range of the present invention is extremely wide, and the present invention can be used for electronic devices in various fields. Further, the electronic apparatus of this embodiment may use the light emitting device having any of the structures shown in Embodiments 1 to 9.

【0284】[0284]

【発明の効果】本発明は上記構成によって、発光装置に
入力されるビデオ信号が情報として有する画像自体が全
体的に暗くても、実際に表示される画像が明るくなるの
で、対象物の認識を容易にすることができる。
As described above, according to the present invention, even if an image itself as information contained in a video signal input to a light emitting device is entirely dark, an actually displayed image becomes bright. Can be easier.

【0285】また、ある画素が表示する階調が、ある一
定の階調より明るいときに、該画素のEL素子に印加さ
れるEL駆動電圧の絶対値を大きくし、EL素子の輝度
を高くしても良い。上記構成により、明るい階調を表示
する画素はより明るくなり、画像のコントラストが大き
くなって、画像が鮮明になり、対象物の認識を容易にす
ることができる。
When the gradation displayed by a certain pixel is brighter than a certain gradation, the absolute value of the EL drive voltage applied to the EL element of the pixel is increased to increase the luminance of the EL element. May be. According to the above configuration, the pixel displaying a bright gradation becomes brighter, the contrast of the image is increased, the image is sharpened, and the object can be easily recognized.

【0286】また、各画素に入力されるデジタルビデオ
信号から、隣接する画素に比べて階調が大きく異なる画
素を特定することにより、対象物の輪郭を検出し、画像
の輪郭の部分の画素においてのみコントラストを大きく
しても良い。上記構成によって、画像の輪郭が抽出さ
れ、画像が鮮明になり、対象物の認識を容易にすること
ができる。
[0286] Further, by specifying, from the digital video signal input to each pixel, a pixel whose gradation is significantly different from that of an adjacent pixel, the contour of the object is detected, and the pixel of the contour portion of the image is detected. Only the contrast may be increased. According to the above configuration, the outline of the image is extracted, the image is sharpened, and the object can be easily recognized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の発光装置のブロック図。FIG. 1 is a block diagram of a light emitting device of the present invention.

【図2】 本発明の発光装置の画素の回路図と、タイミ
ングチャート。
FIG. 2 is a circuit diagram of a pixel of a light emitting device of the present invention and a timing chart.

【図3】 本発明の発光装置のブロック図。FIG. 3 is a block diagram of a light emitting device of the present invention.

【図4】 本発明の発光装置の画素の回路図と、タイミ
ングチャート。
FIG. 4 is a circuit diagram and a timing chart of a pixel of the light emitting device of the present invention.

【図5】 本発明の発光装置のタイミングチャート。FIG. 5 is a timing chart of the light emitting device of the present invention.

【図6】 第1及び第2デジタルビデオ信号を生成する
回路群。
FIG. 6 is a circuit group for generating first and second digital video signals.

【図7】 第1及び第2デジタルビデオ信号を生成する
回路群。
FIG. 7 is a circuit group for generating first and second digital video signals.

【図8】 駆動回路の構成を示す図。FIG. 8 illustrates a structure of a driving circuit.

【図9】 本発明の発光装置の作製方法を示す図。FIG. 9 illustrates a method for manufacturing a light-emitting device of the present invention.

【図10】 本発明の発光装置の作製方法を示す図。FIG. 10 illustrates a method for manufacturing a light-emitting device of the present invention.

【図11】 本発明の発光装置の作製方法を示す図。FIG. 11 illustrates a method for manufacturing a light-emitting device of the present invention.

【図12】 本発明の発光装置の作製方法を示す図。FIG. 12 illustrates a method for manufacturing a light-emitting device of the present invention.

【図13】 本発明の発光装置が有するELパネルの上
面図及び断面図。
13A and 13B are a top view and a cross-sectional view of an EL panel included in a light-emitting device of the present invention.

【図14】 一般的な発光装置の画素の回路図と、タイ
ミングチャート。
14A and 14B are a circuit diagram and a timing chart of a pixel of a general light-emitting device.

【図15】 本発明の発光装置を用いた電子機器。FIG. 15 illustrates an electronic device using the light-emitting device of the present invention.

フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05B 33/14 H05B 33/14 A Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat II (reference) H05B 33/14 H05B 33/14 A

Claims (22)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】EL素子を有する複数の画素が設けられた
発光装置であって、 1フレーム期間において、前記EL素子が発光している
期間のうちの所定の期間における前記EL素子の輝度
が、前記EL素子が発光している期間のうちの所定の期
間以外の期間における前記複数のEL素子の輝度に比べ
て高いことを特徴とする発光装置。
1. A light-emitting device provided with a plurality of pixels each having an EL element, wherein a luminance of the EL element in a predetermined period of a period during which the EL element emits light in one frame period is: A light-emitting device, wherein the luminance of the plurality of EL elements is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than a predetermined period in the period in which the EL element emits light.
【請求項2】EL素子を有する複数の画素が設けられた
発光装置であって、 1フレーム期間に複数のサブフレーム期間が設けられて
おり、 前記複数のサブフレーム期間の少なくとも1つのサブフ
レーム期間において、前記EL素子が発光している期間
のうちの所定の期間における前記EL素子の輝度が、前
記EL素子が発光している期間のうちの所定の期間以外
の期間における前記複数のEL素子の輝度に比べて高い
ことを特徴とする発光装置。
2. A light-emitting device provided with a plurality of pixels having EL elements, wherein a plurality of sub-frame periods are provided in one frame period, and at least one of the plurality of sub-frame periods is provided. The luminance of the EL element in a predetermined period of the period in which the EL element emits light, the luminance of the plurality of EL elements in a period other than the predetermined period of the period in which the EL element emits light; A light-emitting device characterized by being higher in luminance.
【請求項3】EL素子を有する複数の画素が設けられた
発光装置であって、 前記EL素子は画素電極と、対向電極と、前記画素電極
と前記対向電極の間に設けられたEL層とを有し、 前記EL素子が発光しているときに前記画素電極に与え
られる電位は常に一定であり、 前記EL素子が発光しているときに前記対向電極に与え
られる電位の高さを変えることで、1フレーム期間にお
いて、所定の期間における前記EL素子の輝度が、前記
所定の期間以外の期間における前記複数のEL素子の輝
度に比べて高くすることを特徴とする発光装置。
3. A light emitting device provided with a plurality of pixels having an EL element, wherein the EL element includes a pixel electrode, a counter electrode, and an EL layer provided between the pixel electrode and the counter electrode. The potential given to the pixel electrode when the EL element emits light is always constant; and changing the level of the potential given to the counter electrode when the EL element emits light. A light-emitting device wherein, in one frame period, the luminance of the EL element in a predetermined period is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than the predetermined period.
【請求項4】EL素子を有する複数の画素が設けられた
発光装置であって、 1フレーム期間に複数のサブフレーム期間が設けられて
おり、 前記EL素子は画素電極と、対向電極と、前記画素電極
と前記対向電極の間に設けられたEL層とを有し、 前記EL素子が発光しているときに前記画素電極に与え
られる電位は常に一定であり、 前記EL素子が発光しているときに前記対向電極に与え
られる電位の高さを変えることで、前記複数のサブフレ
ーム期間の少なくとも1つのサブフレーム期間におい
て、所定の期間における前記EL素子の輝度が、前記所
定の期間以外の期間における前記複数のEL素子の輝度
に比べて高くすることを特徴とする発光装置。
4. A light emitting device provided with a plurality of pixels having an EL element, wherein a plurality of subframe periods are provided in one frame period, wherein the EL element has a pixel electrode, a counter electrode, and An EL layer provided between the pixel electrode and the counter electrode; a potential applied to the pixel electrode is always constant when the EL element emits light; and the EL element emits light. Sometimes, by changing the level of the potential applied to the counter electrode, in at least one of the plurality of sub-frame periods, the luminance of the EL element in a predetermined period is increased during a period other than the predetermined period. Wherein the luminance of the plurality of EL elements is higher than the luminance of the plurality of EL elements.
【請求項5】EL素子を有する複数の画素が設けられた
発光装置であって、 前記EL素子は画素電極と、対向電極と、前記画素電極
と前記対向電極の間に設けられたEL層とを有し、 前記EL素子が発光しているときに前記対向電極に与え
られる電位は常に一定であり、 前記EL素子が発光しているときに前記画素電極に与え
られる電位の高さを変えることで、1フレーム期間にお
いて、所定の期間における前記EL素子の輝度が、前記
所定の期間以外の期間における前記複数のEL素子の輝
度に比べて高くすることを特徴とする発光装置。
5. A light-emitting device provided with a plurality of pixels having an EL element, wherein the EL element includes a pixel electrode, a counter electrode, and an EL layer provided between the pixel electrode and the counter electrode. The potential applied to the counter electrode when the EL element emits light is always constant, and the height of the potential applied to the pixel electrode when the EL element emits light is changed. A light-emitting device wherein, in one frame period, the luminance of the EL element in a predetermined period is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than the predetermined period.
【請求項6】EL素子を有する複数の画素が設けられた
発光装置であって、 1フレーム期間に複数のサブフレーム期間が設けられて
おり、 前記EL素子は画素電極と、対向電極と、前記画素電極
と前記対向電極の間に設けられたEL層とを有し、 前記EL素子が発光しているときに前記対向電極に与え
られる電位は常に一定であり、 前記EL素子が発光しているときに前記画素電極に与え
られる電位の高さを変えることで、前記複数のサブフレ
ーム期間の少なくとも1つのサブフレーム期間におい
て、所定の期間における前記EL素子の輝度が、前記所
定の期間以外の期間における前記複数のEL素子の輝度
に比べて高くすることを特徴とする発光装置。
6. A light emitting device provided with a plurality of pixels having an EL element, wherein a plurality of subframe periods are provided in one frame period, wherein the EL element has a pixel electrode, a counter electrode, and An EL layer provided between the pixel electrode and the counter electrode; a potential applied to the counter electrode when the EL element emits light is always constant; and the EL element emits light. Sometimes, by changing the level of the potential applied to the pixel electrode, in at least one of the plurality of sub-frame periods, the luminance of the EL element in a predetermined period becomes longer than a period other than the predetermined period. Wherein the luminance of the plurality of EL elements is higher than the luminance of the plurality of EL elements.
【請求項7】EL素子、第1EL駆動用TFT及び第2
EL駆動用TFTを有する複数の画素と、第1の電源
と、第2の電源とが設けられた発光装置であって、 前記EL素子は画素電極と、対向電極と、前記画素電極
と前記対向電極の間に設けられたEL層とを有し、 前記EL素子が発光しているときに前記対向電極に与え
られる電位は常に一定であり、 前記EL素子が発光しているときに、前記第1EL駆動
用TFTを介して前記第1の電源から前記画素電極に電
位を与えるか、前記第2EL駆動用TFTを介して前記
第2の電源から前記画素電極に電位を与えるかを選択し
て、前記画素電極に与えられる電位の高さを変えること
で、1フレーム期間において、所定の期間における前記
EL素子の輝度が、前記所定の期間以外の期間における
前記複数のEL素子の輝度に比べて高くすることを特徴
とする発光装置。
7. An EL device, a first EL driving TFT and a second EL driving TFT.
A light-emitting device provided with a plurality of pixels each having an EL driving TFT, a first power supply, and a second power supply, wherein the EL element includes a pixel electrode, a counter electrode, and the counter electrode. An EL layer provided between the electrodes, wherein the potential applied to the counter electrode when the EL element emits light is always constant, and when the EL element emits light, Selecting whether to apply a potential to the pixel electrode from the first power supply via a 1EL driving TFT or applying a potential to the pixel electrode from the second power supply via the second EL driving TFT; By changing the level of the potential applied to the pixel electrode, the luminance of the EL element in a predetermined period in one frame period is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than the predetermined period. To do A light-emitting device and butterflies.
【請求項8】EL素子、第1EL駆動用TFT及び第2
EL駆動用TFTを有する複数の画素と、第1の電源
と、第2の電源とが設けられた発光装置であって、 1フレーム期間に複数のサブフレーム期間が設けられて
おり、 前記EL素子は画素電極と、対向電極と、前記画素電極
と前記対向電極の間に設けられたEL層とを有し、 前記EL素子が発光しているときに前記対向電極に与え
られる電位は常に一定であり、 前記EL素子が発光しているときに、前記第1EL駆動
用TFTを介して前記第1の電源から前記画素電極に電
位を与えるか、前記第2EL駆動用TFTを介して前記
第2の電源から前記画素電極に電位を与えるかを選択し
て、前記画素電極に与えられる電位の高さを変えること
で、前記複数のサブフレーム期間の少なくとも1つのサ
ブフレーム期間において、所定の期間における前記EL
素子の輝度が、前記所定の期間以外の期間における前記
複数のEL素子の輝度に比べて高くすることを特徴とす
る発光装置。
8. An EL device, a first EL driving TFT and a second EL driving TFT.
A light emitting device provided with a plurality of pixels having an EL driving TFT, a first power supply, and a second power supply, wherein a plurality of subframe periods are provided in one frame period, and the EL element Has a pixel electrode, a counter electrode, and an EL layer provided between the pixel electrode and the counter electrode. When the EL element emits light, the potential applied to the counter electrode is always constant. When the EL element emits light, a potential is applied to the pixel electrode from the first power supply via the first EL driving TFT, or the second potential is supplied to the pixel electrode via the second EL driving TFT. By selecting whether to apply a potential to the pixel electrode from a power supply and changing the level of the potential applied to the pixel electrode, at least one of the plurality of sub-frame periods is a predetermined period in a predetermined period. The EL
A light-emitting device, wherein the luminance of the element is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than the predetermined period.
【請求項9】EL素子を有する複数の画素が設けられた
発光装置であって、 第1のモードまたは第2のモードで動作しており、 前記第1のモードでは、前記EL素子が発光している期
間において、前記EL素子の輝度が常に一定に保たれて
おり、 前記第2のモードでは、前記EL素子が発光している期
間のうちの所定の期間における前記EL素子の輝度が、
前記EL素子が発光している期間のうちの所定の期間以
外の期間における前記複数のEL素子の輝度に比べて高
くなっていることを特徴とする発光装置。
9. A light emitting device provided with a plurality of pixels having an EL element, operating in a first mode or a second mode, wherein the EL element emits light in the first mode. In the second mode, the luminance of the EL element is always kept constant. In the second mode, the luminance of the EL element in a predetermined period of the period in which the EL element emits light is:
A light-emitting device, wherein the luminance of the plurality of EL elements is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than a predetermined period in a period in which the EL element emits light.
【請求項10】EL素子を有する複数の画素が設けられ
た発光装置であって、 第1のモードまたは第2のモードで動作しており、 前記第1のモードでは、前記EL素子が発光している期
間において、前記EL素子の輝度が常に一定に保たれて
おり、 前記第2のモードでは、前記EL素子が発光している期
間のうちの所定の期間における前記EL素子の輝度が、
前記EL素子が発光している期間のうちの所定の期間以
外の期間における前記複数のEL素子の輝度に比べて高
くなっており、 前記複数の画素のうち、表示する階調が一定の階調より
暗い画素では第1のモードで動作し、 前記複数の画素のうち、表示する階調が一定の階調より
明るい画素では第2のモードで動作することを特徴とす
る発光装置。
10. A light-emitting device provided with a plurality of pixels having an EL element, operating in a first mode or a second mode, wherein in the first mode, the EL element emits light. In the second mode, the luminance of the EL element is always kept constant. In the second mode, the luminance of the EL element in a predetermined period of the period in which the EL element emits light is:
The luminance of the plurality of EL elements is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than a predetermined period of the period in which the EL element emits light, and a gradation to be displayed is constant among the plurality of pixels. A light-emitting device which operates in a first mode for darker pixels, and operates in a second mode for pixels of the plurality of pixels whose display gradations are brighter than a certain gradation.
【請求項11】EL素子を有する複数の画素が設けられ
た発光装置であって、 第1のモードまたは第2のモードで動作しており、 前記第1のモードでは、前記EL素子が発光している期
間において、前記EL素子の輝度が常に一定に保たれて
おり、 前記第2のモードでは、前記EL素子が発光している期
間のうちの所定の期間における前記EL素子の輝度が、
前記EL素子が発光している期間のうちの所定の期間以
外の期間における前記複数のEL素子の輝度に比べて高
くなっており、 前記複数の画素のうち、隣接する画素に比べて、表示す
る階調が一定の値以上明るい画素のみ第2のモードで動
作し、 前記複数の画素のうち、隣接する画素に比べて、表示す
る階調が一定の値以上明るい画素以外の画素は第1のモ
ードで動作することを特徴とする発光装置。
11. A light-emitting device provided with a plurality of pixels each having an EL element, operating in a first mode or a second mode, wherein in the first mode, the EL element emits light. In the second mode, the luminance of the EL element is always kept constant. In the second mode, the luminance of the EL element in a predetermined period of the period in which the EL element emits light is:
The luminance of the plurality of EL elements is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than a predetermined period of the period in which the EL element emits light, and display is performed in comparison with an adjacent pixel among the plurality of pixels. Only the pixels whose gradations are brighter than a certain value operate in the second mode, and among the plurality of pixels, the pixels other than the pixels whose gradations to be displayed are brighter than a certain value are compared with the first pixels. A light-emitting device which operates in a mode.
【請求項12】EL素子を有する複数の画素が設けられ
た発光装置の駆動方法であって、 1フレーム期間において、前記EL素子が発光している
期間のうちの所定の期間における前記EL素子の輝度
が、前記EL素子が発光している期間のうちの所定の期
間以外の期間における前記複数のEL素子の輝度に比べ
て高いことを特徴とする発光装置の駆動方法。
12. A method for driving a light emitting device provided with a plurality of pixels having an EL element, wherein the EL element emits light in a predetermined period of a period during which the EL element emits light in one frame period. A driving method of a light-emitting device, wherein luminance is higher than luminance of the plurality of EL elements in a period other than a predetermined period of a period during which the EL element emits light.
【請求項13】EL素子を有する複数の画素が設けられ
た発光装置の駆動方法であって、 1フレーム期間に複数のサブフレーム期間が設けられて
おり、 前記複数のサブフレーム期間の少なくとも1つのサブフ
レーム期間において、前記EL素子が発光している期間
のうちの所定の期間における前記EL素子の輝度が、前
記EL素子が発光している期間のうちの所定の期間以外
の期間における前記複数のEL素子の輝度に比べて高い
ことを特徴とする発光装置の駆動方法。
13. A driving method of a light-emitting device provided with a plurality of pixels having EL elements, wherein a plurality of sub-frame periods are provided in one frame period, and at least one of the plurality of sub-frame periods is provided. In the sub-frame period, the luminance of the EL element in a predetermined period of the period in which the EL element emits light is the luminance of the plurality of EL elements in a period other than the predetermined period of the period in which the EL element emits light. A method for driving a light-emitting device, which is higher in luminance than an EL element.
【請求項14】EL素子を有する複数の画素が設けられ
た発光装置の駆動方法であって、 前記EL素子は画素電極と、対向電極と、前記画素電極
と前記対向電極の間に設けられたEL層とを有し、 前記EL素子が発光しているときに前記画素電極に与え
られる電位は常に一定であり、 前記EL素子が発光しているときに前記対向電極に与え
られる電位の高さを変えることで、1フレーム期間にお
いて、所定の期間における前記EL素子の輝度が、前記
所定の期間以外の期間における前記複数のEL素子の輝
度に比べて高くすることを特徴とする発光装置の駆動方
法。
14. A driving method of a light emitting device provided with a plurality of pixels having an EL element, wherein the EL element is provided between a pixel electrode, a counter electrode, and the pixel electrode and the counter electrode. An EL layer, wherein the potential applied to the pixel electrode when the EL element emits light is always constant; and the height of the potential applied to the counter electrode when the EL element emits light. The driving of the light emitting device is characterized in that, in one frame period, the luminance of the EL element in a predetermined period is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than the predetermined period in one frame period. Method.
【請求項15】EL素子を有する複数の画素が設けられ
た発光装置の駆動方法であって、 1フレーム期間に複数のサブフレーム期間が設けられて
おり、 前記EL素子は画素電極と、対向電極と、前記画素電極
と前記対向電極の間に設けられたEL層とを有し、 前記EL素子が発光しているときに前記画素電極に与え
られる電位は常に一定であり、 前記EL素子が発光しているときに前記対向電極に与え
られる電位の高さを変えることで、前記複数のサブフレ
ーム期間の少なくとも1つのサブフレーム期間におい
て、所定の期間における前記EL素子の輝度が、前記所
定の期間以外の期間における前記複数のEL素子の輝度
に比べて高くすることを特徴とする発光装置の駆動方
法。
15. A driving method of a light emitting device provided with a plurality of pixels having an EL element, wherein a plurality of sub-frame periods are provided in one frame period, wherein the EL element includes a pixel electrode and a counter electrode. And an EL layer provided between the pixel electrode and the counter electrode. When the EL element emits light, the potential applied to the pixel electrode is always constant, and the EL element emits light. By changing the level of the potential applied to the counter electrode during the operation, the luminance of the EL element in a predetermined period in at least one of the plurality of subframe periods is reduced by the predetermined period. A method of driving the light emitting device, wherein the luminance of the plurality of EL elements is set higher than periods other than the period.
【請求項16】EL素子を有する複数の画素が設けられ
た発光装置の駆動方法であって、 前記EL素子は画素電極と、対向電極と、前記画素電極
と前記対向電極の間に設けられたEL層とを有し、 前記EL素子が発光しているときに前記対向電極に与え
られる電位は常に一定であり、 前記EL素子が発光しているときに前記画素電極に与え
られる電位の高さを変えることで、1フレーム期間にお
いて、所定の期間における前記EL素子の輝度が、前記
所定の期間以外の期間における前記複数のEL素子の輝
度に比べて高くすることを特徴とする発光装置の駆動方
法。
16. A driving method of a light emitting device provided with a plurality of pixels having an EL element, wherein the EL element is provided between a pixel electrode, a counter electrode, and the pixel electrode and the counter electrode. An EL layer, wherein the potential applied to the counter electrode when the EL element emits light is always constant; and the height of the potential applied to the pixel electrode when the EL element emits light. The driving of the light emitting device is characterized in that, in one frame period, the luminance of the EL element in a predetermined period is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than the predetermined period in one frame period. Method.
【請求項17】EL素子を有する複数の画素が設けられ
た発光装置の駆動方法であって、 1フレーム期間に複数のサブフレーム期間が設けられて
おり、 前記EL素子は画素電極と、対向電極と、前記画素電極
と前記対向電極の間に設けられたEL層とを有し、 前記EL素子が発光しているときに前記対向電極に与え
られる電位は常に一定であり、 前記EL素子が発光しているときに前記画素電極に与え
られる電位の高さを変えることで、前記複数のサブフレ
ーム期間の少なくとも1つのサブフレーム期間におい
て、所定の期間における前記EL素子の輝度が、前記所
定の期間以外の期間における前記複数のEL素子の輝度
に比べて高くすることを特徴とする発光装置の駆動方
法。
17. A driving method of a light-emitting device provided with a plurality of pixels having an EL element, wherein a plurality of sub-frame periods are provided in one frame period, wherein the EL element includes a pixel electrode and a counter electrode. And an EL layer provided between the pixel electrode and the counter electrode. When the EL element emits light, the potential applied to the counter electrode is always constant, and the EL element emits light. By changing the level of the potential applied to the pixel electrode during the operation, the luminance of the EL element in a predetermined period in at least one of the plurality of sub-frame periods is reduced by the predetermined period. A method of driving the light emitting device, wherein the luminance of the plurality of EL elements is set higher than periods other than the period.
【請求項18】EL素子、第1EL駆動用TFT及び第
2EL駆動用TFTを有する複数の画素と、第1の電源
と、第2の電源とが設けられた発光装置の駆動方法であ
って、 前記EL素子は画素電極と、対向電極と、前記画素電極
と前記対向電極の間に設けられたEL層とを有し、 前記EL素子が発光しているときに前記対向電極に与え
られる電位は常に一定であり、 前記EL素子が発光しているときに、前記第1EL駆動
用TFTを介して前記第1の電源から前記画素電極に電
位を与えるか、前記第2EL駆動用TFTを介して前記
第2の電源から前記画素電極に電位を与えるかを選択し
て、前記画素電極に与えられる電位の高さを変えること
で、1フレーム期間において、所定の期間における前記
EL素子の輝度が、前記所定の期間以外の期間における
前記複数のEL素子の輝度に比べて高くすることを特徴
とする発光装置の駆動方法。
18. A method for driving a light-emitting device provided with an EL element, a plurality of pixels having a first EL driving TFT and a second EL driving TFT, a first power supply, and a second power supply, The EL element includes a pixel electrode, a counter electrode, and an EL layer provided between the pixel electrode and the counter electrode. When the EL element emits light, a potential applied to the counter electrode is When the EL element is emitting light, a potential is applied from the first power supply to the pixel electrode via the first EL driving TFT, or the potential is applied to the pixel electrode via the second EL driving TFT. By selecting whether to apply a potential to the pixel electrode from the second power source and changing the level of the potential applied to the pixel electrode, the luminance of the EL element in a predetermined period in one frame period can be increased. After a predetermined period The driving method of the light emitting device characterized by higher than the luminance of the plurality of EL elements in the period.
【請求項19】EL素子、第1EL駆動用TFT及び第
2EL駆動用TFTを有する複数の画素と、第1の電源
と、第2の電源とが設けられた発光装置の駆動方法であ
って、 1フレーム期間に複数のサブフレーム期間が設けられて
おり、 前記EL素子は画素電極と、対向電極と、前記画素電極
と前記対向電極の間に設けられたEL層とを有し、 前記EL素子が発光しているときに前記対向電極に与え
られる電位は常に一定であり、 前記EL素子が発光しているときに、前記第1EL駆動
用TFTを介して前記第1の電源から前記画素電極に電
位を与えるか、前記第2EL駆動用TFTを介して前記
第2の電源から前記画素電極に電位を与えるかを選択し
て、前記画素電極に与えられる電位の高さを変えること
で、前記複数のサブフレーム期間の少なくとも1つのサ
ブフレーム期間において、所定の期間における前記EL
素子の輝度が、前記所定の期間以外の期間における前記
複数のEL素子の輝度に比べて高くすることを特徴とす
る発光装置の駆動方法。
19. A method for driving a light emitting device provided with an EL element, a plurality of pixels having a first EL driving TFT and a second EL driving TFT, a first power supply, and a second power supply, A plurality of sub-frame periods are provided in one frame period; the EL element includes a pixel electrode, a counter electrode, and an EL layer provided between the pixel electrode and the counter electrode; When the EL element emits light, the potential applied to the counter electrode is always constant. When the EL element emits light, the first power supply is applied to the pixel electrode from the first power supply TFT via the first EL driving TFT. By selecting whether to apply a potential or applying a potential to the pixel electrode from the second power supply through the second EL driving TFT, and changing the height of the potential applied to the pixel electrode, Subframe period The EL in a predetermined period in at least one sub-frame period between
A method for driving a light-emitting device, wherein the luminance of an element is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than the predetermined period.
【請求項20】EL素子を有する複数の画素が設けられ
た発光装置の駆動方法であって、 第1のモードまたは第2のモードで動作しており、 前記第1のモードでは、前記EL素子が発光している期
間において、前記EL素子の輝度が常に一定に保たれて
おり、 前記第2のモードでは、前記EL素子が発光している期
間のうちの所定の期間における前記EL素子の輝度が、
前記EL素子が発光している期間のうちの所定の期間以
外の期間における前記複数のEL素子の輝度に比べて高
くなっていることを特徴とする発光装置の駆動方法。
20. A method for driving a light-emitting device provided with a plurality of pixels having an EL element, wherein the method operates in a first mode or a second mode, and in the first mode, the EL element In the second mode, the luminance of the EL element is kept constant during a period in which the EL element emits light, and in the second mode, the luminance of the EL element in a predetermined period of the period in which the EL element emits light But,
A driving method of a light emitting device, wherein the luminance of the plurality of EL elements is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than a predetermined period in a period in which the EL element emits light.
【請求項21】EL素子を有する複数の画素が設けられ
た発光装置の駆動方法であって、 第1のモードまたは第2のモードで動作しており、 前記第1のモードでは、前記EL素子が発光している期
間において、前記EL素子の輝度が常に一定に保たれて
おり、 前記第2のモードでは、前記EL素子が発光している期
間のうちの所定の期間における前記EL素子の輝度が、
前記EL素子が発光している期間のうちの所定の期間以
外の期間における前記複数のEL素子の輝度に比べて高
くなっており、 前記複数の画素のうち、表示する階調が一定の階調より
暗い画素では第1のモードで動作し、 前記複数の画素のうち、表示する階調が一定の階調より
明るい画素では第2のモードで動作することを特徴とす
る発光装置の駆動方法。
21. A driving method of a light-emitting device provided with a plurality of pixels having an EL element, wherein the driving method operates in a first mode or a second mode, and in the first mode, the EL element In the second mode, the luminance of the EL element is kept constant during a period in which the EL element emits light, and in the second mode, the luminance of the EL element in a predetermined period of the period in which the EL element emits light But,
The luminance of the plurality of EL elements is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than a predetermined period of the period in which the EL element emits light, and a gradation to be displayed is constant among the plurality of pixels. A method for driving a light-emitting device, comprising: operating in a first mode for darker pixels; and operating in a second mode for pixels of a plurality of pixels whose displayed gray scales are brighter than a certain gray scale.
【請求項22】EL素子を有する複数の画素が設けられ
た発光装置の駆動方法であって、 第1のモードまたは第2のモードで動作しており、 前記第1のモードでは、前記EL素子が発光している期
間において、前記EL素子の輝度が常に一定に保たれて
おり、 前記第2のモードでは、前記EL素子が発光している期
間のうちの所定の期間における前記EL素子の輝度が、
前記EL素子が発光している期間のうちの所定の期間以
外の期間における前記複数のEL素子の輝度に比べて高
くなっており、 前記複数の画素のうち、隣接する画素に比べて、表示す
る階調が一定の値以上明るい画素のみ第2のモードで動
作し、 前記複数の画素のうち、隣接する画素に比べて、表示す
る階調が一定の値以上明るい画素以外の画素は第1のモ
ードで動作することを特徴とする発光装置の駆動方法。
22. A driving method of a light-emitting device provided with a plurality of pixels having an EL element, wherein the driving method operates in a first mode or a second mode, and in the first mode, the EL element In the second mode, the luminance of the EL element is kept constant during a period in which the EL element emits light, and in the second mode, the luminance of the EL element in a predetermined period of the period in which the EL element emits light But,
The luminance of the plurality of EL elements is higher than the luminance of the plurality of EL elements in a period other than a predetermined period of the period in which the EL element emits light, and display is performed in comparison with an adjacent pixel among the plurality of pixels. Only the pixels whose gradations are brighter than a certain value operate in the second mode, and among the plurality of pixels, the pixels other than the pixels whose gradations to be displayed are brighter than a certain value are compared with the first pixels. A method for driving a light-emitting device, which operates in a mode.
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