JP2002211032A - Imaging apparatus - Google Patents

Imaging apparatus

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JP2002211032A
JP2002211032A JP2001010751A JP2001010751A JP2002211032A JP 2002211032 A JP2002211032 A JP 2002211032A JP 2001010751 A JP2001010751 A JP 2001010751A JP 2001010751 A JP2001010751 A JP 2001010751A JP 2002211032 A JP2002211032 A JP 2002211032A
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JP
Japan
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time
potential
hold
capacitor
hold capacitor
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Application number
JP2001010751A
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Japanese (ja)
Inventor
Hidetoshi Kanai
英俊 金井
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an imaging apparatus which can automatically control a quantity of light of a semiconductor laser appropriately by a simple constitution. SOLUTION: The imaging apparatus for imaging latent images to a photoreceptor by scanning a laser light automatically controls the quantity of light of the semiconductor laser (LD1) by sampling a monitor current by a light quantity-detecting element (PD) set to the vicinity of the semiconductor laser as a charging potential of a hold capacitor. A rise time of the potential of the hold capacitor at the sampling time and discharge characteristics of the hold capacitor at a hold mode time are detected by detecting a voltage V4 by an A/D converter (10), so that a capacity of the hold capacitor is selected from C1 and C2, and a control time for the automatic light quantity control is selected from APCTIME1 and APCTIME2. The imaging apparatus features the other two claims.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、レーザー光をポリ
ゴンスキャナで走査して感光体を帯電させることにより
画像形成を行う画像形成装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image forming apparatus for forming an image by scanning a laser beam with a polygon scanner to charge a photosensitive member.

【0002】[0002]

【従来の技術】本件発明の従来技術として、特開平8−
88429号公報が挙げられる。該公報には、半導体レ
ーザー(例えばレーザーダイオード,以下、LDと称
す)のパッケージに組み込まれたフォトダイオード(以
下、PDと称す)電流によりAPC(自動光量制御)を
行う技術が開示されている。LDの光出力特性が周囲温
度や自己発熱に敏感であるので、LDの光出力(光量)
をPD電流の値として常時検出し、光出力を一定に保つ
ように制御するのである。なお、ここでは、PD電流が
抵抗を介してコンデンサを充放電するようにして、その
コンデンサの両端電圧が所定値以上である時間を所定周
波数のクロックで計測することにより、PD電流を測定
している。このように、PD電流により、APCを行う
方式は、既に公知である。
2. Description of the Related Art As a prior art of the present invention, Japanese Patent Laid-Open No.
No. 88429. This publication discloses a technique for performing APC (Automatic Light Amount Control) using a photodiode (hereinafter, referred to as PD) current incorporated in a package of a semiconductor laser (eg, a laser diode, hereinafter, referred to as LD). LD optical output characteristics are sensitive to ambient temperature and self-heating, so LD optical output (light intensity)
Is constantly detected as the value of the PD current, and control is performed so as to keep the optical output constant. Note that, here, the PD current is charged and discharged via a resistor, and the PD current is measured by measuring the time during which the voltage across the capacitor is equal to or higher than a predetermined value with a clock having a predetermined frequency. I have. As described above, a method of performing APC using a PD current is already known.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開平
8−88429号公報に示されたような、コンデンサの
チャ−ジ、デイスチャ−ジを行うことでAPCを行う方
式では、コンデンサの容量とAPC時間が適正でないと
LD光量が適正値まで上昇しないし、LD光量が時間と
ともに低下するという問題がある。本発明の目的は、前
記のような従来技術の問題を解決して、簡単な構成で、
LD光量を適正値まで上昇させることができ、従って適
切なLD光量制御を行なうことができる画像形成装置を
提供することにある。
However, in the method of performing APC by performing charging and discharging of a capacitor as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-88429, the capacity of the capacitor and the APC time are not considered. If the value is not appropriate, there is a problem that the LD light amount does not increase to an appropriate value and the LD light amount decreases with time. An object of the present invention is to solve the problems of the prior art as described above and to have a simple configuration.
An object of the present invention is to provide an image forming apparatus capable of increasing an LD light amount to an appropriate value and performing appropriate LD light amount control.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】前記課題を解決する為
に、請求項1記載の発明では、レ−ザ光を走査して、感
光体に潜像を形成する画像形成装置であって、半導体レ
ーザー近傍に設けた光量検出素子によったモニタ電流を
ホースドコンデンサの充電電位としてサンプリングして
前記半導体レーザーの自動光量制御を行う画像形成装置
において、サンプリング時のホ−ルドコンデンサ電位の
立ち上がり時間および/またはホ−ルドモ−ド時のホ−
ルドコンデンサの放電特性を検出して、ホ−ルドコンデ
ンサ容量を選択する構成にした。
According to a first aspect of the present invention, there is provided an image forming apparatus for forming a latent image on a photosensitive member by scanning a laser beam. In an image forming apparatus which performs automatic light amount control of the semiconductor laser by sampling a monitor current obtained by a light amount detection element provided near a laser as a charged potential of a hosed capacitor, a rise time of a hold capacitor potential at the time of sampling and // Hold in hold mode
The discharge characteristics of the hold capacitor are detected to select the hold capacitor capacity.

【0005】また、請求項2記載の発明では、レ−ザ光
を走査して、感光体に潜像を形成する画像形成装置であ
って、半導体レーザー近傍に設けた光量検出素子によっ
たモニタ電流をホールドコンデンサの充電電位としてサ
ンプリングして前記半導体レーザーの自動光量制御を行
う画像形成装置において、サンプリング時のホ−ルドコ
ンデンサ電位の立ち上がり時間、および/またはホ−ル
ドモ−ド時のホ−ルドコンデンサの放電特性を検出し
て、自動光量制御時間、またはホ−ルドコンデンサ容量
および自動光量制御時間を選択する構成にした。また、
請求項3記載の発明では、請求項1または請求項2記載
の画像形成装置において、画素密度に応じて光量を切り
替える構成にした。
According to a second aspect of the present invention, there is provided an image forming apparatus for forming a latent image on a photosensitive member by scanning with a laser beam, the monitor comprising a light amount detecting element provided near a semiconductor laser. In an image forming apparatus which performs automatic light intensity control of the semiconductor laser by sampling a current as a charge potential of a hold capacitor, a rise time of a hold capacitor potential at the time of sampling and / or a hold time of a hold mode. The discharge characteristic of the capacitor is detected, and the automatic light control time or the hold capacitor capacity and the automatic light control time are selected. Also,
According to a third aspect of the present invention, in the image forming apparatus according to the first or second aspect, the light amount is switched according to the pixel density.

【0006】[0006]

【発明の実施の形態】以下、図面に基づき本発明の実施
の形態を詳細に説明する。図1にLD走査光学系の構成
図を示す。図示したように、レーザーダイオード(L
D)1、そのLD1を制御するLD制御部2、コリメー
トレンズ3、ポリゴンスキャナ4、fθレンズ5、感光
体6、同期検知素子7などから成り、LD1から発せら
れたLD光は、コリメ−トレンズ3で平行光になり、ポ
リゴンスキャナ4で走査され、fθレンズ5を通って、
感光体6を感光させることにより潜像を形成する。ま
た、主走査方向(ライン方向)の端部に設けられた同期
検知素子(例えばフォトセンサ)7が潜像形成領域外に
走査されてきたレーザー光を検出することにより、スタ
ート位置(例えば各走査ラインの左端)を揃えるための
同期検知信号を発生させる。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 shows a configuration diagram of an LD scanning optical system. As shown, the laser diode (L
D) 1, an LD control unit 2 for controlling the LD 1, a collimating lens 3, a polygon scanner 4, an fθ lens 5, a photoconductor 6, a synchronization detecting element 7, etc., and the LD light emitted from the LD 1 is a collimating lens. 3, the light becomes parallel light, is scanned by the polygon scanner 4, passes through the fθ lens 5,
A latent image is formed by exposing the photoconductor 6 to light. Further, a synchronization detection element (for example, a photo sensor) 7 provided at an end portion in the main scanning direction (line direction) detects a laser beam that has been scanned outside the latent image forming area, and thereby a start position (for example, each scanning). A synchronization detection signal for aligning the left end of the line) is generated.

【0007】同期検知信号発生部の回路構成を図2に示
す。同期検知素子7がLD光を受光することにより、電
流Iが流れ、コンパレ−タ8の入力1に電圧V1が発生
する。V1がVrefより大きくなると、コンパレ−タ
8の出力にパルス出力(同期検知信号XDETP)が発
生する。
FIG. 2 shows a circuit configuration of the synchronization detection signal generator. When the synchronous detection element 7 receives the LD light, a current I flows, and a voltage V1 is generated at the input 1 of the comparator 8. When V1 becomes larger than Vref, a pulse output (synchronization detection signal XDETP) is generated at the output of the comparator 8.

【0008】図4に、同期検知信号(XDETP)を示
す。周期は1ライン周期T2と同じである。つまり、幅
T1の信号が1ラインごとに1回発生する。
FIG. 4 shows a synchronization detection signal (XDETP). The cycle is the same as one line cycle T2. That is, a signal having the width T1 is generated once for each line.

【0009】図3に、本発明の制御系のブロック図を示
す。以下、図3について説明する。LDパッケージ内P
Dのモニタ電流Imは、IN1信号により切り替えられ
て、VR1に繋がるラインか、VR2に繋がるラインに
流れる。VR1、VR2は光量設定用の可変抵抗であ
る。VR1に繋がるとV2の電位は、V2=Im*VR
1になり、VR2に繋がるとV2の電位は、V2=Im
*VR2になる。
FIG. 3 shows a block diagram of the control system of the present invention. Hereinafter, FIG. 3 will be described. P in LD package
The monitor current Im of D is switched by the IN1 signal and flows through a line connected to VR1 or a line connected to VR2. VR1 and VR2 are variable resistors for setting the amount of light. When connected to VR1, the potential of V2 becomes V2 = Im * VR
1 and connected to VR2, the potential of V2 becomes V2 = Im
* VR2.

【0010】コンパレ−タ8の基準電位Vref1、V
ref2は、SW2に作用するIN2により、切り替え
られる。Vref1,2を切り替えることにより、LD
光量を切り替えることができる。V2がV1より小さい
時は、V3がHIGHになり、SW4がONになり、コ
ンデンサC1またはC2に電流が供給されて、V4の電
位が上昇する。V2がV1より大きい時は、V3がLO
Wになり、SW5がONになり、コンデンサC1または
C2の電荷が放電されて、V4の電位が下降する。
Reference potentials Vref1, Vref of comparator 8
ref2 is switched by IN2 acting on SW2. By switching Vref1 and Vref2, LD
The amount of light can be switched. When V2 is smaller than V1, V3 becomes HIGH, SW4 is turned on, current is supplied to the capacitor C1 or C2, and the potential of V4 rises. When V2 is larger than V1, V3 becomes LO
It becomes W, SW5 is turned on, the electric charge of the capacitor C1 or C2 is discharged, and the potential of V4 falls.

【0011】また、SW3に作用するIN3信号により
C1とC2が切り替えられ、コントロ−ル回路は、S/
H信号によりサンプリングとホ−ルドが切り替えられ
る。S/H信号がLOWの時は、V3のHIGH、LO
Wに応じてSW4とSW5のどちらかがクロ−ズする
が、S/H信号がHIGHの時は、SW4、SW5とも
にオ−プンになりV4の電位はホ−ルドされる(S/H
がLでサンプリング、Hでホ−ルドモ−ド)。V4の電
位は、基準電位Vref3と誤差増幅されることによ
り、Tr1のコレクタ電流が増減し、それにより、LD
電流が増減して、LDの光量が設定値に保たれる。LD
光量が設定光量より少ない時は、LD電流が増加し、L
D光量が設定光量より多い時はLD電流が減少するので
ある。
Further, C1 and C2 are switched by the IN3 signal acting on SW3, and the control circuit is controlled by S /
Sampling and hold are switched by the H signal. When the S / H signal is LOW, HIGH and LO of V3
Either SW4 or SW5 is closed in response to W, but when the S / H signal is HIGH, both SW4 and SW5 are open and the potential of V4 is held (S / H).
Is sampling at L, hold mode at H). The potential of V4 is error-amplified with respect to the reference potential Vref3, so that the collector current of Tr1 increases and decreases.
The current increases or decreases, and the light amount of the LD is maintained at the set value. LD
When the light amount is smaller than the set light amount, the LD current increases and L
When the D light quantity is larger than the set light quantity, the LD current decreases.

【0012】LD1には、バイアス電流源により、バイ
アス電流IBが流れる。バイアス電流IBの値は、固定
抵抗R2の値を変えることにより、変更することができ
る。バイアス電流IBを流すことにより、LD変調の速
度を高速にすることができる。XDATAはビデオデ−
タであり、XDATAがLOWの時LD1にはISW
(tr1のコレクタ電流)+IBが流れる。XDATA
がHの時、LDの電流はIBのみとなり、オフセット発
光するのみである。
A bias current IB flows through LD1 from a bias current source. The value of the bias current IB can be changed by changing the value of the fixed resistor R2. By flowing the bias current IB, the speed of LD modulation can be increased. XDATA is video data
When XDATA is LOW, LD1
(Collector current of tr1) + IB flows. XDATA
Is H, the current of the LD is only IB and only emits offset light.

【0013】APCを行う時もLDの電流は、tr1の
コレクタ電流ISWとバイアス電流IBの和が電流にな
る。APC信号(S/H信号)がLの時がサンプリング
モ−ドで、Hの時がホ−ルドモ−ドである。同期検知信
号をAPC信号として用いることもできる。すなわち同
期検知信号がLの時サンプリングモ−ド、同期検知信号
がHの時ホ−ルドモ−ドとして、APCを行うことがで
きる。APC信号を他の構成で作成し、APC信号をセ
レクトすることもできる。
When the APC is performed, the current of the LD is the sum of the collector current ISW of tr1 and the bias current IB. When the APC signal (S / H signal) is L, it is in the sampling mode, and when it is H, it is in the hold mode. The synchronization detection signal can be used as an APC signal. That is, APC can be performed in the sampling mode when the synchronization detection signal is L, and in the hold mode when the synchronization detection signal is H. The APC signal can be created in another configuration, and the APC signal can be selected.

【0014】ホ−ルドコンデンサの値が大きすぎると、
サンプルモ−ド時に、コンデンサの充電に時間がかかる
ので、V4の電位が適正な値まで上昇しないので、LD
光量が適正な光量まで増加しない。本発明は、これを防
止するための発明である。
If the value of the hold capacitor is too large,
Since it takes time to charge the capacitor in the sample mode, the potential of V4 does not rise to an appropriate value.
The amount of light does not increase to an appropriate amount. The present invention is an invention for preventing this.

【0015】本発明では、これを防止するために、V4
の電位を検知して、電位をA/Dコンバ−タ10でCP
Uにデジタルデ−タで送る。所定のタイミングでV4の
電位V4aを測定し、タイマ−で一定時間経過後のV4
の電位V4bを測定して、その差から充電状況を判定す
るのである。ホ−ルドコンデンサの値が大きすぎる場合
は、コンデンサの充電に時間がかかるので、V4b−V
4aが設定電位に達しない。V4b−V4aが設定電位
以下になった場合、IN3信号を切り替えることによ
り、ホ−ルドコンデンサをC2に切り替える。同様に、
V4b−V4aの電位が設定電位以上の場合は、IN3
信号を切り替えることにより、ホ−ルドコンデンサをC
1に切り替える。
In the present invention, in order to prevent this, V4
And the potential is detected by the A / D converter 10 as CP.
Send to U as digital data. The potential V4a of V4 is measured at a predetermined timing, and V4 after a predetermined time elapses with a timer.
Is measured, and the state of charge is determined from the difference. If the value of the hold capacitor is too large, it takes time to charge the capacitor.
4a does not reach the set potential. When V4b-V4a falls below the set potential, the hold capacitor is switched to C2 by switching the IN3 signal. Similarly,
When the potential of V4b-V4a is equal to or higher than the set potential, IN3
By switching the signal, the hold capacitor becomes C
Switch to 1.

【0016】C1はC2より大きい容量である。V4の
電位の立ち上がりに時間がかかる場合は、小さな容量の
C2が選択されるので、サンプルモ−ド時に、早い時間
でLD光量が適正値に達する。V4の電位の立ち上がり
に時間がかからない場合は、大きな容量のC1がセレク
トされるので、ホ−ルドモ−ドの時の光量の低下を小さ
くすることができる(コンデンサの容量が大きいので、
ホ−ルドモ−ド時のコンデンサの放電をゆるやかにする
ことができる)。
C1 is larger than C2. When it takes time to raise the potential of V4, C2 having a small capacitance is selected, so that the LD light amount reaches an appropriate value quickly in the sample mode. If it does not take long time for the potential of V4 to rise, C1 having a large capacity is selected, so that a decrease in the amount of light in the hold mode can be reduced (because the capacity of the capacitor is large,
The discharge of the capacitor in the hold mode can be made slower).

【0017】ホ−ルドモ−ド時も、V4の電位V4aを
測定する。タイマ−で一定時間経過後のV4の電位V4
bを測定し、V4a−V4bが設定電位より大きい場合
は、ホ−ルド時のホ−ルドコンデンサの放電量が大きい
ので、IN4をLにして自動光量制御時間APCtim
e2をセレクトする。V4a−V4bが設定電位より小
さい場合は、ホ−ルド時のホ−ルドコンデンサの放電量
が小さいので、IN4をHにして、自動光量制御時間A
PCtime1をセレクトする。
In the hold mode, the potential V4a of V4 is measured. The potential V4 of V4 after a lapse of a predetermined time by a timer
b is measured, and when V4a-V4b is larger than the set potential, the amount of discharge of the hold capacitor at the time of holding is large, so that IN4 is set to L and the automatic light amount control time APCtim
e2 is selected. When V4a-V4b is smaller than the set potential, the discharge amount of the hold capacitor at the time of hold is small.
Select PCtime1.

【0018】APCtime2のサンプリング時間は、
APCtime1のサンプリング時間よりも大きく設定
される(図7参照)。ホ−ルドコンデンサの放電量が大
きい場合は、サンプリング時間を長く設定しないとサン
プリング時に、ホ−ルドコンデンサ電位が必要な電位ま
で上昇しないので、LDの電流値が必要な値まで増加せ
ず、LD光量が必要な値まで増加しない可能性が有る。
したがって、V4a−V4bが設定電位より大きい場合
は、ホ−ルド時のホ−ルドコンデンサの放電量が大きい
ので、IN4をLにして、APCtime2をセレクト
し、V4a−V4bが設定電位より小さい場合は、ホ−
ルド時のホ−ルドコンデンサの放電量が小さいので、I
N4をHにしてAPCtime1をセレクトし、APC
time2のAPC時間(サンプリング時間+ホ−ルド
時間)を、APCtime1のAPC時間(サンプリン
グ時間+ホ−ルド時間)より短くすることにより、AP
C制御を適正に行うという制御を行うのである。
The sampling time of APCtime2 is
It is set longer than the sampling time of APCtime1 (see FIG. 7). If the discharge amount of the hold capacitor is large, the hold capacitor potential does not rise to a required potential at the time of sampling unless the sampling time is set long, so that the current value of the LD does not increase to the required value. The light quantity may not increase to the required value.
Therefore, when V4a-V4b is larger than the set potential, the discharge amount of the hold capacitor at the time of holding is large. Therefore, IN4 is set to L, APCtime2 is selected, and when V4a-V4b is smaller than the set potential, ,
Since the discharge amount of the hold capacitor during holding is small,
NPC is set to H and APCtime1 is selected.
By making the APC time (sampling time + hold time) of time2 shorter than the APC time (sampling time + hold time) of APCtime1, the AP
The control to properly perform the C control is performed.

【0019】図5および図6に、この実施例の動作フロ
ーを示す。S/H信号がHの時は、SW4、SW5とも
にオ−プンになり、V4の電位がC1またはC2により
ホ−ルドされる。コントロ−ル回路がホ−ルドモ−ドの
時、誤差増幅器の入力電圧V4は、コンデンサC1また
はC2でホ−ルドされる。(SW4、SW5はともにオ
−プン)コンデンサの容量値が大きい時は、V4の電位
が長い時間一定にホ−ルドされ、容量値が小さい時は、
V4の電位は短い時間一定にホ−ルドされる。ただし容
量値が小さい時はV4の電位が設定値に充電される時間
が短くてすむという利点がある。なお、画素密度によ
り、例えば線速を半分にして、LD光量を半分にする方
式を行う場合があるが、そのようなときには、画素密度
に応じて、IN1信号により、SW1を切り替えて、光
量設定用のVR1、VR2を切り替えればよい。
FIGS. 5 and 6 show the operation flow of this embodiment. When the S / H signal is H, both SW4 and SW5 are open, and the potential of V4 is held by C1 or C2. When the control circuit is in the hold mode, the input voltage V4 of the error amplifier is held by the capacitor C1 or C2. (SW4 and SW5 are both open.) When the capacitance value of the capacitor is large, the potential of V4 is held constant for a long time, and when the capacitance value is small,
The potential of V4 is held constant for a short time. However, when the capacitance value is small, there is an advantage that the time required for the potential of V4 to be charged to the set value is short. Depending on the pixel density, for example, a method of halving the linear velocity and halving the LD light amount may be performed. In such a case, SW1 is switched by the IN1 signal in accordance with the pixel density to set the light amount. VR1 and VR2 may be switched.

【0020】VR1の値を、VR2の値の2倍にすれ
ば、たとえば画素密度1200dpi時のLD光量を画
素密度600dpi時の半分にする場合は、1200d
pi時に、IN1信号をHにして、LD光量設定用のV
Rに、VR2をセレクトすれば、LD光量が1/2にな
る。IN2信号を切り替えることにより、Vref1、
2を切り替えることによっても、LD光量を切り替える
ことができる。Vref1をVref2の1/2にすれ
ば、Vref1をセレクトすれば、LD光量を、Vre
f2をセレクトした時の、1/2の光量にすることがで
きるのである。
If the value of VR1 is twice as large as the value of VR2, for example, if the LD light quantity at a pixel density of 1200 dpi is reduced to half that at a pixel density of 600 dpi, 1200d
At pi, the IN1 signal is set to H, and the LD light amount setting V
If VR2 is selected for R, the amount of LD light becomes 1 /. By switching the IN2 signal, Vref1,
By switching 2, the LD light amount can also be switched. If Vref1 is set to の of Vref2, and if Vref1 is selected, the LD light amount is reduced to Vre1.
The amount of light can be reduced to half when f2 is selected.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
請求項1記載の発明では、半導体レーザーの光量をホー
スドコンデンサの充電電位としてサンプリングして前記
半導体レーザーの自動光量制御を行う場合に、サンプリ
ング時のホ−ルドコンデンサ電位の立ち上がり時間、お
よび/またはホ−ルドモ−ド時のホ−ルドコンデンサの
放電特性が検出され、それに応じてホ−ルドコンデンサ
容量が選択されるので、半導体レーザーの光量を少なく
検出してしまうということがなくなり、したがって、半
導体レーザーの光量低下が防止され、高品質な画像を得
ることができる。
As described above, according to the present invention,
According to the first aspect of the present invention, when the light amount of the semiconductor laser is sampled as the charged potential of the hosed capacitor to perform the automatic light amount control of the semiconductor laser, the rise time of the hold capacitor potential at the time of sampling, and / or Since the discharge characteristics of the hold capacitor in the hold mode are detected and the capacitance of the hold capacitor is selected in accordance with the detection, the light quantity of the semiconductor laser is not detected small, and therefore the semiconductor laser is not detected. A decrease in the amount of laser light is prevented, and a high-quality image can be obtained.

【0022】また、請求項2記載の発明では、半導体レ
ーザーの光量をホールドコンデンサの充電電位としてサ
ンプリングして前記半導体レーザーの自動光量制御を行
う場合に、サンプリング時のホ−ルドコンデンサ電位の
立ち上がり時間、および/またはホ−ルドモ−ド時のホ
−ルドコンデンサの放電特性が検出され、自動光量制御
時間、またはホ−ルドコンデンサ容量および自動光量制
御時間が選択されるので、請求項1記載の発明と同様の
効果、またはそれ以上の効果を得ることができる。ま
た、請求項3記載の発明では、請求項1または請求項2
記載の画像形成装置において、画素密度に応じて光量が
切り替えられるので、画素密度が異なっても高品質な画
像を得ることができる。
According to the second aspect of the present invention, when performing automatic light amount control of the semiconductor laser by sampling the light amount of the semiconductor laser as the charge potential of the hold capacitor, the rise time of the hold capacitor potential at the time of sampling. And / or the discharge characteristic of the hold capacitor in the hold mode is detected, and the automatic light control time or the hold capacitor capacity and the automatic light control time are selected. The same effect as described above, or a higher effect can be obtained. According to the third aspect of the present invention, in the first aspect or the second aspect,
In the image forming apparatus described above, since the light amount is switched according to the pixel density, a high-quality image can be obtained even if the pixel density differs.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例を示す画像形成装置要部の構
成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of a main part of an image forming apparatus showing an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例を示す画像形成装置制御系要
部の回路図である。
FIG. 2 is a circuit diagram of a main part of an image forming apparatus control system showing an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施例を示す画像形成装置制御系要
部のブロック図である。
FIG. 3 is a block diagram of a main part of an image forming apparatus control system according to an embodiment of the present invention.

【図4】本発明の一実施例を示す画像形成装置要部のタ
イミングチャートである。
FIG. 4 is a timing chart of a main part of the image forming apparatus showing one embodiment of the present invention.

【図5】本発明の一実施例を示す画像形成装置要部の動
作フロー図である。
FIG. 5 is an operation flowchart of the main part of the image forming apparatus showing one embodiment of the present invention.

【図6】本発明の一実施例を示す画像形成装置要部の他
の動作フロー図である。
FIG. 6 is another operation flowchart of the main part of the image forming apparatus showing one embodiment of the present invention.

【図7】本発明の一実施例を示す画像形成装置要部の他
のタイミングチャートである。
FIG. 7 is another timing chart of the main part of the image forming apparatus showing one embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体レーザー 4 ポリゴンスキャナ 6 感光体 7 同期検知素子 8 コンパレータ 10 A/Dコンバータ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Semiconductor laser 4 Polygon scanner 6 Photoconductor 7 Synchronous detection element 8 Comparator 10 A / D converter

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 レ−ザ光を走査して、感光体に潜像を形
成する画像形成装置であって、半導体レーザー近傍に設
けた光量検出素子によったモニタ電流をホースドコンデ
ンサの充電電位としてサンプリングして前記半導体レー
ザーの自動光量制御を行う画像形成装置において、サン
プリング時のホ−ルドコンデンサ電位の立ち上がり時
間、および/またはホ−ルドモ−ド時のホ−ルドコンデ
ンサの放電特性を検出して、ホ−ルドコンデンサ容量を
選択する構成にしたことを特徴とする画像形成装置。
1. An image forming apparatus for forming a latent image on a photosensitive member by scanning a laser beam, wherein a monitor current detected by a light amount detecting element provided near a semiconductor laser is charged to a charged potential of a hosed capacitor. In the image forming apparatus which performs automatic light amount control of the semiconductor laser by sampling as above, the rise time of the hold capacitor potential at the time of sampling and / or the discharge characteristic of the hold capacitor during the hold mode are detected. An image forming apparatus wherein the hold capacitor capacity is selected.
【請求項2】 レ−ザ光を走査して、感光体に潜像を形
成する画像形成装置であって、半導体レーザー近傍に設
けた光量検出素子によったモニタ電流をホールドコンデ
ンサの充電電位としてサンプリングして前記半導体レー
ザーの自動光量制御を行う画像形成装置において、サン
プリング時のホ−ルドコンデンサ電位の立ち上がり時間
および/またはホ−ルドモ−ド時のホ−ルドコンデンサ
の放電特性を検出して、自動光量制御時間、またはホ−
ルドコンデンサ容量および自動光量制御時間を選択する
構成にしたことを特徴とする画像形成装置。
2. An image forming apparatus for forming a latent image on a photosensitive member by scanning a laser beam, wherein a monitor current detected by a light amount detecting element provided near a semiconductor laser is used as a charge potential of a hold capacitor. In an image forming apparatus for performing automatic light amount control of the semiconductor laser by sampling, a rise time of a hold capacitor potential at the time of sampling and / or a discharge characteristic of the hold capacitor at a hold mode are detected. Automatic light control time or
An image forming apparatus configured to select a capacitor and an automatic light amount control time.
【請求項3】 請求項1または請求項2記載の画像形成
装置において、画素密度に応じて光量を切り替える構成
にしたことを特徴とする画像形成装置。
3. The image forming apparatus according to claim 1, wherein a light amount is switched according to a pixel density.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010067833A (en) * 2008-09-11 2010-03-25 Ricoh Co Ltd Electrophotographic device

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