JP2002208848A - Semiconductor switching circuit - Google Patents

Semiconductor switching circuit

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JP2002208848A
JP2002208848A JP2001002852A JP2001002852A JP2002208848A JP 2002208848 A JP2002208848 A JP 2002208848A JP 2001002852 A JP2001002852 A JP 2001002852A JP 2001002852 A JP2001002852 A JP 2001002852A JP 2002208848 A JP2002208848 A JP 2002208848A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To realize improvement in the on/off ratio and improvement in high- input resistance characteristic without accompanied increase in a circuit scale. SOLUTION: The source of a first FET 11 is connected to an input terminal IN to which a high frequency signal is inputted, the source of a second FET 12 is connected to the drain of the first FET 11, and an output terminal OUT is connected to the drain of the second FET 12. An inductance 13 is connected mutually between the gate of the first FET 11 and the gate of the FET 12. The inductance 13 forms a parallel resonance circuit, together with the parasitic capacitance of the first and second FETs 11 and 12.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明はFETを用いた半
導体スイッチ回路に係り、特に高周波信号の切り換えに
適した半導体スイッチ回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor switch circuit using an FET, and more particularly to a semiconductor switch circuit suitable for switching a high frequency signal.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えばアンテナによって受信された高周
波信号のオン/オフ制御を行う半導体スイッチ回路とし
て、GaAs等の化合物半導体を用いたショットキー型
MESFETが使用されている。
2. Description of the Related Art For example, a Schottky type MESFET using a compound semiconductor such as GaAs is used as a semiconductor switch circuit for controlling on / off of a high frequency signal received by an antenna.

【0003】図11は、1個のFETを用いた原始的な
高周波スイッチを示している。このスイッチは、FET
51のソースを入力端子INに、ドレインを出力端子O
UTにそれぞれ接続し、抵抗51を介してゲートを制御
端子CONTに接続して構成されている。なお、通常、
FETのソースとドレインは構造が同じなので、ソース
とドレインの接続を上記とは逆にしてもかまわない。
FIG. 11 shows a primitive high-frequency switch using one FET. This switch is a FET
51 is the input terminal IN and the drain is the output terminal O
Each of them is connected to a UT, and a gate is connected to a control terminal CONT via a resistor 51. Usually,
Since the source and the drain of the FET have the same structure, the connection between the source and the drain may be reversed.

【0004】このスイッチにおいて、制御端子CONT
に供給される制御信号の電位、つまりFET50のゲー
ト電位を、ソースまたはドレインの電位に対してFET
50のしきい値電圧の絶対値(GaAsMESFETの
しきい値電圧は通常は負極性)以上低い値にすると、オ
ン状態になり、入力端子INに供給される高周波信号が
出力端子OUTから出力される。
In this switch, a control terminal CONT
, The gate potential of the FET 50 with respect to the source or drain potential,
If the threshold voltage is set to a value lower than the absolute value of the threshold voltage of 50 (the threshold voltage of the GaAs MESFET is usually negative), it is turned on, and a high-frequency signal supplied to the input terminal IN is output from the output terminal OUT. .

【0005】他方、FET50のゲート電位をソースま
たはドレインの電位と同電位にすると、オフ状態とな
り、入力端子INに供給される高周波信号は出力端子O
UTから出力されなくなる。
On the other hand, when the gate potential of the FET 50 is set to the same potential as the source or drain potential, the FET 50 is turned off, and the high frequency signal supplied to the input terminal IN is output from the output terminal O.
No output from UT.

【0006】ところで、図11に示すようなスイッチは
以下に説明するような2つの問題点がある。
The switch shown in FIG. 11 has two problems as described below.

【0007】第1の問題点は、オフ状態のときに、寄生
容量を介して入力信号が出力端子OUTに漏れ出てしま
うことにより、オン状態のときの信号伝達量とオフ状態
のときの信号伝達量との比であるオン/オフ比が大きく
とれない点である。
The first problem is that the input signal leaks to the output terminal OUT via the parasitic capacitance in the off state, and the signal transmission amount in the on state and the signal amount in the off state The point is that the on / off ratio, which is the ratio with the transmission amount, cannot be made large.

【0008】つまり、FET50のゲート電位をソース
またはドレインの電位と同電位またはソース、ドレイン
の電位に対してしきい値電圧の絶対値以下の電位をゲー
トに供給した時、ソース・ドレイン間の直流抵抗Rdsは
ほぼ数MΩの値となる。
That is, when the gate potential of the FET 50 is supplied to the gate at the same potential as the source or drain potential or at a potential lower than the absolute value of the threshold voltage with respect to the source and drain potentials, the direct current between the source and drain is reduced. The resistance Rds has a value of approximately several MΩ.

【0009】しかし、FET50のソースとドレイン、
ゲートとソース及びゲートとドレインとの間には図示す
るような寄生容量Cds、Cgs、Cgdが存在しており、こ
れら寄生容量によるインピーダンス1/ωCds、1/ω
Cgs、1/ωCgd(ただしωは2πfであり、fは入力
端子INに入力される高周波信号の基本周波数)が上記
直流抵抗Rdsに比べて非常に小さくなるので、これらの
寄生容量Cds、Cgs、Cgdを介して、入力端子INに入
力される高周波信号が出力端子OUTに漏れ出てしま
う。このため、FET50がオン状態のときの信号伝達
量と、オフ状態のときの信号伝達量との比であるオン/
オフ比が大きくとれなくなる。
However, the source and drain of the FET 50,
Parasitic capacitances Cds, Cgs, and Cgd as shown exist between the gate and the source and between the gate and the drain, and impedances 1 / ωCds and 1 / ω due to these parasitic capacitances are present.
Since Cgs, 1 / ωCgd (where ω is 2πf, and f is the fundamental frequency of the high frequency signal input to the input terminal IN) is much smaller than the DC resistance Rds, these parasitic capacitances Cds, Cgs, A high-frequency signal input to the input terminal IN leaks to the output terminal OUT via Cgd. For this reason, ON / OFF, which is the ratio of the signal transmission amount when the FET 50 is in the ON state to the signal transmission amount when the FET 50 is in the OFF state, is used.
A large off ratio cannot be obtained.

【0010】第2の問題点は、ゲートにオフ状態となる
ような制御信号が入力されているのにも係わらず、入力
信号として高いピーク値を有する高周波信号が入力され
たときにオフ状態が維持できなくなる点である。すなわ
ち、FET50がオフ状態を維持する条件として、入力
信号の電圧振幅VpがVp<(Vc−|Vth|)×(C
gd+Cgs)/Cdsを満たす必要がある。ただし、Vcは
(FET50のソース・ドレインに至る経路の電位)−
(オフ状態の制御信号電圧)であり、VthはFET50
のしきい値電圧である。
A second problem is that when a high-frequency signal having a high peak value is input as an input signal, the off-state occurs even though a control signal for turning off the gate is input. It is a point that cannot be maintained. That is, as a condition for keeping the FET 50 in the off state, the voltage amplitude Vp of the input signal is Vp <(Vc− | Vth |) × (C
gd + Cgs) / Cds. Here, Vc is (potential of the path leading to the source / drain of FET 50) −
(The control signal voltage in the OFF state), and Vth is the FET 50
Threshold voltage.

【0011】(Vc−|Vth|)×(Cgd+Cgs)/C
dsの値を超えるような高電圧が入力端子INに入力され
た場合は、入力信号によってFET50の直流抵抗Rds
が数MΩよりも低い値となり、オン/オフ状態が切り替
わってしまう。すなわち、耐高入力特性が悪化すること
になる。
(Vc− | Vth |) × (Cgd + Cgs) / C
When a high voltage exceeding the value of ds is input to the input terminal IN, the input signal causes the DC resistance Rds of the FET 50 to change.
Becomes lower than several MΩ, and the on / off state is switched. That is, the high input resistance is deteriorated.

【0012】上記第1の問題点を解消するために、従来
では、図12に示すように、被制御信号の基本周波数で
FET50の寄生容量とで並列共振を起こすインダクタ
ンス52を、ソース・ドレイン間に並列に接続して寄生
容量をキャンセルし、入力信号の出力端子OUTへの漏
れを低減することが行われている。
In order to solve the first problem, conventionally, as shown in FIG. 12, an inductance 52 causing parallel resonance with the parasitic capacitance of the FET 50 at the fundamental frequency of the controlled signal is provided between the source and the drain. Are connected in parallel to each other to cancel the parasitic capacitance and reduce the leakage of the input signal to the output terminal OUT.

【0013】さらに、上記第1の問題点を解消するため
に、従来では、図13に示すように、入力信号の伝達経
路(この場合にはドレインが接続された出力端子OU
T)と接地電位GNDとの間に、入力信号スイッチ用の
FET50と相反するように動作する別のFET53を
接続し、出力端子OUTに漏れる信号をこのFET53
によって接地電位GNDに流すことにより、入力信号の
出力端子OUTへの漏れを低減することが行われてい
る。また、図12と図13を組み合わせた回路も用いら
れている。
Further, in order to solve the first problem, conventionally, as shown in FIG. 13, a transmission path of an input signal (in this case, an output terminal OU to which a drain is connected).
T) and another FET 53 which operates in opposition to the input signal switching FET 50 is connected between the input terminal T) and the ground potential GND.
As a result, leakage of the input signal to the output terminal OUT is reduced by flowing the signal to the ground potential GND. A circuit obtained by combining FIG. 12 and FIG. 13 is also used.

【0014】上記第2の問題点を解消するために、従来
では、図14に示すように、FET50を直列に多段接
続し(本例では2段)、上記電圧VcをFET50の段
数で分配して、FET一段当たりに加わる電圧を抑制す
ることが行われている。
In order to solve the second problem, conventionally, as shown in FIG. 14, FETs 50 are connected in multiple stages (two stages in this example), and the voltage Vc is distributed by the number of stages of the FETs 50. Thus, the voltage applied to one stage of the FET is suppressed.

【0015】さらに、上記第2の問題点を解消するため
に、従来では、図15に示すように、FET50を直列
に2段接続し、入力端子IN側に配置されたFET50
ではソース(入力端子IN)・ゲート間に容量54を付
加し、出力端子OUT側に配置されたFET50ではド
レイン(出力端子OUT)・ゲート間に容量54を付加
することによって、入力信号の分配比を変えて、FET
一段当たりに加わる電圧を抑制することが行われてい
る。
Further, in order to solve the above-mentioned second problem, conventionally, as shown in FIG. 15, two stages of FETs 50 are connected in series, and the FETs 50 arranged on the input terminal IN side are conventionally connected.
Then, the capacitance 54 is added between the source (input terminal IN) and the gate, and in the FET 50 arranged on the output terminal OUT side, the capacitance 54 is added between the drain (output terminal OUT) and the gate, so that the distribution ratio of the input signal is increased. Change the FET
It has been practiced to suppress the voltage applied per stage.

【0016】しかし、上記のように個々の問題点を独立
に捕らえて対策を図るようにした従来のものでは、両方
の問題点を共に解消しようとすると回路規模が増大し、
コスト増を招くという問題がある。
However, in the conventional device in which individual problems are independently captured and countermeasures are taken as described above, the circuit scale increases if both problems are to be solved.
There is a problem that the cost is increased.

【0017】[0017]

【発明が解決しようとする課題】この発明は上記のよう
な事情を考慮してなされたものであり、その目的は、オ
ン/オフ比が大きくかつ耐高入力特性に優れた半導体ス
イッチ回路を、回路規模をそれ程増大させることなく、
従ってコスト増を招くことなく提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a semiconductor switch circuit having a large on / off ratio and excellent high input resistance. Without significantly increasing the circuit size,
Accordingly, it is an object of the present invention to provide the apparatus without increasing costs.

【0018】[0018]

【課題を解決するための手段】この発明の半導体スイッ
チ回路は、被制御信号の入力端子及び出力端子と、上記
被制御信号の入力端子に電流通路の一端が接続された第
1のFETと、上記第1のFETの電流通路の他端に電
流通路の一端が接続され、上記被制御信号の出力端子に
電流通路の他端が接続された第2のFETと、上記第
1、第2のFETのゲート相互間に接続されたインダク
タンスと、上記インダクタンスの少なくとも一端に設け
られ、制御信号が供給される制御端子とを具備すること
を特徴とする。
According to the present invention, there is provided a semiconductor switch circuit comprising: an input terminal and an output terminal for a controlled signal; a first FET having one end of a current path connected to the input terminal for the controlled signal; A second FET having one end of the current path connected to the other end of the current path of the first FET, and the other end of the current path connected to the output terminal of the controlled signal; It is characterized by comprising an inductance connected between the gates of the FETs, and a control terminal provided at at least one end of the inductance and supplied with a control signal.

【0019】この発明の半導体スイッチ回路は、被制御
信号の入力端子及び第1、第2の出力端子と、上記被制
御信号の入力端子に電流通路の一端が接続された第1の
FETと、上記第1のFETの電流通路の他端に電流通
路の一端が接続され、上記被制御信号の第1の出力端子
に電流通路の他端が接続された第2のFETと、上記第
1、第2のFETのゲート相互間に接続された第1のイ
ンダクタンスと、上記第1のインダクタンスの一端に設
けられ、第1の制御信号が供給される第1の制御端子
と、上記被制御信号の入力端子に電流通路の一端が接続
された第3のFETと、上記第3のFETの電流通路の
他端に電流通路の一端が接続され、上記被制御信号の第
2の出力端子に電流通路の他端が接続された第4のFE
Tと、上記第3、第4のFETのゲート相互間に接続さ
れた第2のインダクタンスと、上記第2のインダクタン
スの一端に設けられ、第2の制御信号が供給される第2
の制御端子とを具備することを特徴とする。
A semiconductor switch circuit according to the present invention includes an input terminal for a controlled signal, first and second output terminals, a first FET having one end of a current path connected to the input terminal for the controlled signal, A second FET having one end of a current path connected to the other end of the current path of the first FET and the other end of the current path connected to a first output terminal of the controlled signal; A first inductance connected between the gates of the second FET, a first control terminal provided at one end of the first inductance, to which a first control signal is supplied, A third FET having one end connected to an input terminal of the current path, one end of a current path connected to the other end of the current path of the third FET, and a current path connected to a second output terminal of the controlled signal. FE to which the other end of is connected
T, a second inductance connected between the gates of the third and fourth FETs, and a second inductance provided at one end of the second inductance and supplied with a second control signal.
And a control terminal.

【0020】この発明の半導体スイッチ回路は、被制御
信号の入力端子及び第1、第2の出力端子と、上記被制
御信号の入力端子に電流通路の一端が接続された第1の
FETと、上記第1のFETの電流通路の他端に電流通
路の一端が接続され、上記第1の出力端子に電流通路の
他端が接続された第2のFETと、上記第1、第2のF
ETのゲート相互間に接続された第1のインダクタンス
と、上記第1のインダクタンスの一端に設けられ、第1
の制御信号が供給される第1の制御端子と、上記被制御
信号の入力端子に電流通路の一端が接続された第3のF
ETと、上記第3のFETの電流通路の他端に電流通路
の一端が接続され、上記第2の出力端子に電流通路の他
端が接続された第4のFETと、上記第3、第4のFE
Tのゲート相互間に接続された第2のインダクタンス
と、上記第2のインダクタンスの一端に設けられ、第2
の制御信号が供給される第2の制御端子と、上記第1の
出力端子に電流通路の一端が接続された第5のFET
と、上記第5のFETの電流通路の他端に電流通路の一
端が接続され、接地電位のノードに電流通路の他端が接
続された第6のFETと、上記第5、第6のFETのゲ
ート相互間に接続され、かつ一端が上記第2の制御端子
に接続された第3のインダクタンスと、上記第2の出力
端子に電流通路の一端が接続された第7のFETと、上
記第7のFETの電流通路の他端に電流通路の一端が接
続され、接地電位のノードに電流通路の他端が接続され
た第8のFETと、上記第7、第8のFETのゲート相
互間に接続され、かつ一端が上記第1の制御端子に接続
された第4のインダクタンスとを具備することを特徴と
する。
A semiconductor switch circuit according to the present invention includes an input terminal of a controlled signal, first and second output terminals, a first FET having one end of a current path connected to the input terminal of the controlled signal, A second FET having one end of the current path connected to the other end of the current path of the first FET, and the other end of the current path connected to the first output terminal;
A first inductance connected between the gates of the ET, and a first inductance provided at one end of the first inductance;
A first control terminal to which the control signal is supplied, and a third F terminal having one end of a current path connected to the input terminal of the controlled signal.
ET, a fourth FET having one end of the current path connected to the other end of the current path of the third FET, and the other end of the current path connected to the second output terminal; FE of 4
A second inductance connected between the gates of T, and a second inductance provided at one end of the second inductance;
A second control terminal to which the control signal is supplied, and a fifth FET having one end of a current path connected to the first output terminal.
A sixth FET having one end of the current path connected to the other end of the current path of the fifth FET and the other end of the current path connected to a node of the ground potential; and the fifth and sixth FETs. A third inductance having one end connected to the second control terminal, a seventh FET having one end of a current path connected to the second output terminal, and An eighth FET whose one end of the current path is connected to the other end of the current path of the seventh FET, and the other end of which is connected to the node of the ground potential; and a gate between the seventh and eighth FETs. And a fourth inductance having one end connected to the first control terminal.

【0021】この発明の半導体スイッチ回路は、第1、
第2の被制御信号が供給される第1、第2の入力端子
と、第1、第2の出力端子と、上記第1の入力端子に電
流通路の一端が接続された第1のFETと、上記第1の
FETの電流通路の他端に電流通路の一端が接続され、
上記第1の出力端子に電流通路の他端が接続された第2
のFETと、上記第1、第2のFETのゲート相互間に
接続された第1のインダクタンスと、上記第1のインダ
クタンスの一端に設けられ、第1の制御信号が供給され
る第1の制御端子と、上記第1の入力端子に電流通路の
一端が接続された第3のFETと、上記第3のFETの
電流通路の他端に電流通路の一端が接続され、上記第2
の出力端子に電流通路の他端が接続された第4のFET
と、上記第3、第4のFETのゲート相互間に接続され
た第2のインダクタンスと、上記第2のインダクタンス
の一端に設けられ、第2の制御信号が供給される第2の
制御端子と、上記第2の入力端子に電流通路の一端が接
続された第5のFETと、上記第5のFETの電流通路
の他端に電流通路の一端が接続され、上記第1の出力端
子に電流通路の他端が接続された第6のFETと、上記
第5、第6のFETのゲート相互間に接続され、一端が
上記第2の制御端子に接続された第3のインダクタンス
と、上記第2の入力端子に電流通路の一端が接続された
第7のFETと、上記第7のFETの電流通路の他端に
電流通路の一端が接続され、上記第2の出力端子に電流
通路の他端が接続された第8のFETと、上記第7、第
8のFETのゲート相互間に接続され、一端が上記第1
の制御端子に接続された第4のインダクタンスとを具備
することを特徴とする。
[0021] The semiconductor switch circuit of the present invention comprises:
First and second input terminals to which a second controlled signal is supplied, first and second output terminals, and a first FET having one end of a current path connected to the first input terminal; One end of the current path is connected to the other end of the current path of the first FET,
A second output terminal having the other end of the current path connected to the first output terminal;
And a first inductance connected between the gates of the first and second FETs, and a first control provided at one end of the first inductance and supplied with a first control signal. A third FET having one end of a current path connected to the first input terminal and one end of a current path connected to the other end of the current path of the third FET;
FET having the other end of the current path connected to the output terminal of the fourth FET
A second inductance connected between the gates of the third and fourth FETs, and a second control terminal provided at one end of the second inductance and supplied with a second control signal. A fifth FET having one end of a current path connected to the second input terminal, one end of a current path connected to the other end of the current path of the fifth FET, and a current connected to the first output terminal. A sixth FET connected to the other end of the passage, a third inductance connected between the gates of the fifth and sixth FETs, and one end connected to the second control terminal; A seventh FET having one end of a current path connected to an input terminal of the second FET, one end of a current path connected to the other end of the current path of the seventh FET, and another end of the current path connected to the second output terminal. An eighth FET whose end is connected, and a gate of the seventh and eighth FETs. Connected between each other, one end of the first
And a fourth inductance connected to the control terminal.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照してこの発明の
実施の形態を詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0023】図1は、この発明の半導体スイッチ回路の
第1の実施の形態による構成を示す回路図である。この
半導体スイッチ回路は、第1及び第2のFET11、1
2と、インダクタンス13及び抵抗14とから構成され
ている。上記第1及び第2のFET11、12として
は、ゲートにショットキー接合を有する例えばGaAs
などの化合物半導体からなるMESFETが使用され
る。このように、ゲートにショットキー接合を有するG
aAsMESFETからなる第1、第2のFET11、
12は、例えば−1.8V程度の負極性のしきい値電圧
を有している。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of a semiconductor switch circuit according to a first embodiment of the present invention. This semiconductor switch circuit includes first and second FETs 11, 1
2 and an inductance 13 and a resistor 14. As the first and second FETs 11 and 12, for example, GaAs having a Schottky junction at the gate is used.
A MESFET made of a compound semiconductor such as the above is used. Thus, G having a Schottky junction in the gate
a first and second FETs 11 comprising aAsMESFETs,
12 has a negative threshold voltage of about -1.8 V, for example.

【0024】第1のFET11のソースは、高周波信号
が入力される入力端子INに接続されている。上記第1
のFET11のドレインには第2のFET12のソース
が接続され、この第2のFET12のドレインは出力端
子OUTに接続されている。上記インダクタンス13は
上記第1、第2のFET11、12のゲート相互間に接
続されている。また上記インダクタンス13の一端、す
なわち第1のFET11のゲートは、制御信号が入力さ
れる制御端子CONTに、上記抵抗14を介して接続さ
れている。
The source of the first FET 11 is connected to an input terminal IN to which a high-frequency signal is input. The first
The source of the second FET 12 is connected to the drain of the FET 11, and the drain of the second FET 12 is connected to the output terminal OUT. The inductance 13 is connected between the gates of the first and second FETs 11 and 12. One end of the inductance 13, that is, the gate of the first FET 11 is connected to the control terminal CONT to which a control signal is input via the resistor 14.

【0025】なお、上記第1、第2のFET11、12
のソースとドレインは構造が同じなので、ソースとドレ
インの接続を上記とは逆にしてもかまわない。
The first and second FETs 11 and 12
Since the source and the drain have the same structure, the connection between the source and the drain may be reversed.

【0026】また、上記抵抗14は、入力端子INに供
給される高周波信号が制御端子CONTを介して他の回
路に伝わることを阻止するために設けられている。
The resistor 14 is provided to prevent a high-frequency signal supplied to the input terminal IN from being transmitted to another circuit via the control terminal CONT.

【0027】図2は、図1の半導体スイッチ回路の等価
回路を示している。図2において、Rds11、Rds12は第
1、第2のFET11、12のソース・ドレイン間の直
流抵抗、Cgs11、Cgs12は同じくソース・ゲート間の寄
生容量、Cdg11、Cdg12は同じくドレイン・ゲート間の
寄生容量、Cds11、Cds12は同じくソース・ドレイン間
の寄生容量であり、Lはインダクタンス14である。
FIG. 2 shows an equivalent circuit of the semiconductor switch circuit of FIG. In FIG. 2, Rds11 and Rds12 are the DC resistance between the source and the drain of the first and second FETs 11 and 12, Cgs11 and Cgs12 are the parasitic capacitance between the source and gate, and Cdg11 and Cdg12 are the parasitic between the drain and gate. The capacitances Cds11 and Cds12 are parasitic capacitances between the source and the drain, and L is the inductance 14.

【0028】ここで、上記インダクタンス13の値L
は、上記入力端子INに供給される入力信号に含まれる
基本波周波数の下で、第1のFET11のゲート・ドレ
イン間に存在する寄生容量Cdg11及び第2のFET12
のゲート・ソース間に存在する寄生容量Cgs12と共に並
列共振を起こすような値に設定されている。
Here, the value L of the inductance 13
Are the parasitic capacitance Cdg11 existing between the gate and the drain of the first FET 11 and the second FET 12 under the fundamental frequency included in the input signal supplied to the input terminal IN.
Is set to such a value as to cause parallel resonance together with the parasitic capacitance Cgs12 existing between the gate and the source.

【0029】図1の半導体スイッチ回路において、入力
端子INに入力される高周波信号の直流電位を基準とし
て、上記第1、第2のFET11、12のしきい値電圧
の絶対値以上低い電圧、例えば入力端子INに入力され
る高周波信号の直流電位に対して3V低い電位を制御信
号として制御端子CONTに入力した場合には、第1、
第2のFET11、12がそれぞれオンする。
In the semiconductor switch circuit of FIG. 1, a voltage lower than the absolute value of the threshold voltage of the first and second FETs 11 and 12 with respect to the DC potential of the high-frequency signal input to the input terminal IN, for example, When a potential 3 V lower than the DC potential of the high-frequency signal input to the input terminal IN is input to the control terminal CONT as a control signal, the first,
The second FETs 11 and 12 are turned on.

【0030】第1、第2のFET11、12がオン状態
のとき、第1、第2のFET11、12のソース・ドレ
イン間の直流抵抗Rds11、Rds12はそれぞれ数Ω程度の
低い値となる。この場合、入力端子INと出力端子OU
Tとの間のインピーダンスは、図3の等価回路に示すよ
うに、それぞれ値が数Ω程度の直流抵抗Rds11、Rds12
の直列抵抗値となり、入力端子INに入力された高周波
信号が出力端子OUTから出力される。
When the first and second FETs 11 and 12 are turned on, the DC resistances Rds11 and Rds12 between the source and drain of the first and second FETs 11 and 12 each have a low value of about several Ω. In this case, the input terminal IN and the output terminal OU
As shown in the equivalent circuit of FIG. 3, the impedance between the DC resistors Rds11 and Rds12 has a value of about several ohms.
And the high-frequency signal input to the input terminal IN is output from the output terminal OUT.

【0031】他方、入力端子INに入力される高周波信
号の直流電位を基準として、第1、第2のFET11、
12のしきい値電圧の絶対値より低くない電圧、例えば
入力端子INに入力される高周波信号の直流電位と同電
位の信号を制御信号として制御端子CONTに入力した
場合、第1、第2のFET11、12はそれぞれオフ状
態になる。
On the other hand, with reference to the DC potential of the high-frequency signal input to the input terminal IN, the first and second FETs 11 and
When a voltage that is not lower than the absolute value of the threshold voltage of No. 12, for example, a signal having the same potential as the DC potential of the high-frequency signal input to the input terminal IN is input to the control terminal CONT as a control signal, the first and second The FETs 11 and 12 are turned off.

【0032】この場合、インダクタンス13の値は、入
力端子INに供給される高周波信号に含まれる基本波周
波数の下で、寄生容量Cdg11及びCgs12と共に並列共振
を起こすような値に設定されており、インダクタンス1
3と寄生容量Cdg11及びCgs12からなる並列共振回路に
おける並列共振インピーダンスは、理論上は無限大とな
る。
In this case, the value of the inductance 13 is set to a value that causes parallel resonance with the parasitic capacitances Cdg11 and Cgs12 under the fundamental frequency included in the high-frequency signal supplied to the input terminal IN. Inductance 1
The parallel resonance impedance of the parallel resonance circuit including the parasitic capacitance 3 and the parasitic capacitances Cdg11 and Cgs12 is theoretically infinite.

【0033】ここで、第1のFET11のソース・ドレ
イン間の寄生容量Cds11に比べてソース・ゲート間の寄
生容量Cgs11によるインピーダンスが高く、かつ第2の
FET12のソース・ドレイン間の寄生容量Cds12に比
べてドレイン・ゲート間の寄生容量Cdg12によるインピ
ーダンスが高く、さらにソース・ドレイン間の直流抵抗
Rds11、Rds12はそれぞれ数十KΩ以上であるとする。
この結果、入力端子INと出力端子OUTとの間のイン
ピーダンスは、第1のFET11のソース・ゲート間の
寄生容量Cgs11によるインピーダンスと、上記並列共振
回路における並列共振インピーダンスと、第2のFET
12のドレイン・ゲート間の寄生容量Cdg12によるイン
ピーダンスとが直列接続されたものとなる。
Here, the parasitic capacitance Cds11 between the source and the gate is higher than the parasitic capacitance Cds11 between the source and the drain of the first FET 11, and the parasitic capacitance Cds12 between the source and the drain of the second FET 12 is higher. In comparison, it is assumed that the impedance due to the parasitic capacitance Cdg12 between the drain and the gate is higher and the DC resistances Rds11 and Rds12 between the source and the drain are each several tens of KΩ or more.
As a result, the impedance between the input terminal IN and the output terminal OUT depends on the impedance due to the parasitic capacitance Cgs11 between the source and the gate of the first FET 11, the parallel resonance impedance in the parallel resonance circuit, and the second FET.
12 and the impedance due to the parasitic capacitance Cdg12 between the drain and the gate is connected in series.

【0034】ここで、上記並列共振インピーダンスは理
論上は無限大となるので、第1、第2のFET11、1
2のオフ時における入力端子INから出力端子OUTへ
の漏れ電流を削減することができる。つまり、オフ時
に、入力信号が出力端子OUTに漏れ出る量を減らすこ
とができるので、オン状態のときの信号伝達量とオフ状
態のときの信号伝達量との比であるオン/オフ比を大き
くすることができる。
Here, since the parallel resonance impedance becomes theoretically infinite, the first and second FETs 11, 1
2, the leakage current from the input terminal IN to the output terminal OUT can be reduced. That is, the amount of the input signal leaking to the output terminal OUT can be reduced when the device is off, so that the on / off ratio, which is the ratio of the signal transmission amount in the on state to the signal transmission amount in the off state, is increased. can do.

【0035】ちなみに、図1の半導体スイッチ回路にお
いて、オフ時の入力端子INと出力端子OUTとの間の
インピーダンスZ1は以下の式で与えられる。
By the way, in the semiconductor switch circuit of FIG. 1, the impedance Z1 between the input terminal IN and the output terminal OUT when turned off is given by the following equation.

【0036】 Z1=1/ωCgs11+∞+1/ωCdg12……(1) 一方、第1、第2のFET11、12のゲート相互間に
インダクタンス13を接続しない場合の、オフ時の入力
端子INと出力端子OUTとの間のインピーダンスZ2
は以下の式で与えられる。
Z1 = 1 / ωCgs11 + ∞ + 1 / ωCdg12 (1) On the other hand, when the inductance 13 is not connected between the gates of the first and second FETs 11 and 12, the input terminal IN and the output terminal at the time of OFF are provided. OUT2 impedance Z2
Is given by the following equation.

【0037】 Z2=1/ωCgs11+1/ωCgd11+1/ωCdg12+1/ωCgd12……(2) ここで、上記(1)式と(2)式の比Z1/Z2を求め
ると以下の(3)式が得られる。
Z2 = 1 / ωCgs11 + 1 / ωCgd11 + 1 / ωCdg12 + 1 / ωCgd12 (2) Here, when the ratio Z1 / Z2 between the above equations (1) and (2) is obtained, the following equation (3) is obtained.

【0038】 Z1/Z2=(1/ωCgs11+∞+1/ωCdg12)/(1/ωCgs11 +1/ωCgd11+1/ωCdg12+1/ωCgd12) =∞ ……(3) つまり、第1、第2のFET11、12のゲート相互間
にインダクタンス13を接続した場合と接続しない場合
とにおける、オフ時の入出力間のインピーダンス比は
1:∞となる。
Z1 / Z2 = (1 / ωCgs11 + ∞ + 1 / ωCdg12) / (1 / ωCgs11 + 1 / ωCgd11 + 1 / ωCdg12 + 1 / ωCgd12) = ∞ (3) That is, the gates of the first and second FETs 11 and 12 are mutually connected. The impedance ratio between the input and output at the time of off when the inductance 13 is connected between them and when it is not connected is 1: ∞.

【0039】ただし、これは第一次近似の結果であり、
実際はインダクタンス13が持つ直流抵抗成分、第1、
第2のFET11、12のソース・ドレイン間の寄生容
量Cds11、Cds12の影響で、上記インダクタンス13及
び寄生容量Cdg11、Cgs12からなる並列共振回路のQの
値が低下するため、オフ時の入出力間のインピーダンス
は無限大とはならない。
However, this is the result of the first approximation,
Actually, the DC resistance component of the inductance 13,
The value of Q of the parallel resonance circuit including the inductance 13 and the parasitic capacitances Cdg11 and Cgs12 decreases due to the influence of the parasitic capacitances Cds11 and Cds12 between the source and the drain of the second FETs 11 and 12, so Does not become infinite.

【0040】ところで、先に説明した耐高入力特性は、
オフ状態の線形動作が得られる被制御信号の最大入力電
力に相当しており、入力端子INに入力される入力信号
の電圧振幅の負側で制限される。これは、入力信号の負
側の振幅(ピーク値)が大きくなると、先の寄生容量の
容量分割によるFETのドレイン電位と、制御端子CO
NTに入力される制御信号の電圧との差が、このFET
のしきい値電圧よりも浅くなり、オン状態に遷移するこ
とによるものである。
Incidentally, the high input resistance characteristic described above is as follows.
This corresponds to the maximum input power of the controlled signal that can provide a linear operation in the off state, and is limited on the negative side of the voltage amplitude of the input signal input to the input terminal IN. This is because, when the negative amplitude (peak value) of the input signal increases, the drain potential of the FET due to the capacitance division of the parasitic capacitance and the control terminal CO
The difference between the voltage of the control signal input to NT and the voltage of this FET is
The threshold voltage becomes shallower than the threshold voltage, and the state shifts to the ON state.

【0041】ここで、いま、第1、第2のFET11、
12として、しきい値電圧が−1.8V、1/ωCgs11
=1/ωCgd11=1/ωCgs12=1/ωCgd12=45
Ω、1/ωCds11=1/ωCds12=100Ω(ただし入
力信号の基本周波数fを5.8GHzとした)の値を持
つセンターゲート構造のGaAsMESFETを用い
て、制御信号の電圧Vcを−3V、被制御信号の負側の
電圧振幅VinL を−4Vとしたときの第1のFET11
のゲート・ドレイン間の電位差Vgd1 は次の(4)式で
与えられる。
Here, the first and second FETs 11,
12, the threshold voltage is -1.8 V and 1 / ωCgs11
= 1 / ωCgd11 = 1 / ωCgs12 = 1 / ωCgd12 = 45
Ω, 1 / ωCds11 = 1 / ωCds12 = 100Ω (however, the fundamental frequency f of the input signal is 5.8 GHz). A GaAs MESFET having a center gate structure is used. The first FET 11 when the voltage amplitude VinL on the negative side of the signal is -4 V
The potential difference Vgd1 between the gate and the drain is given by the following equation (4).

【0042】 Vgs1 =(1/ωCgd12+∞)/(1/ωCgs11+∞+1/ωCgd12) ×VinL −Vc =(45+∞)/(45+∞+45)×VinL−Vc ≒1×(−4V)−(−3V)=−1V……(4) 一方、第1、第2のFET11、12のゲート相互間に
インダクタンス13を接続しない場合の、第1のFET
11のゲート・ソース間の電位差Vgs2 は次の(5)式
で与えられる。
Vgs1 = (1 / ωCgd12 + ∞) / (1 / ωCgs11 + ∞ + 1 / ωCgd12) × VinL−Vc = (45 + ∞) / (45 + ∞ + 45) × VinL−Vc ≒ 1 × (−4V) − (− 3V) =-1V (4) On the other hand, the first FET when the inductance 13 is not connected between the gates of the first and second FETs 11 and 12
The 11 gate-source potential difference Vgs2 is given by the following equation (5).

【0043】 Vgs2 =(1/ωCgs11)/(1/ωCgs11+1/ωCgd11+ 1/ωCgs12+1/ωCgd12)×VinL −Vc =(1/4)×VinL −Vc=−1V−(−3V)=+2V……(5) つまり、図1の半導体スイッチ回路では、第1のFET
11のドレインからみてゲートの電位は+1Vであり、
第1のFET11のしきい値電圧である−1.8Vより
も十分に高いので第1のFET11はオフ状態を維持す
ることができる。
Vgs2 = (1 / ωCgs11) / (1 / ωCgs11 + 1 / ωCgd11 + 1 / ωCgs12 + 1 / ωCgd12) × VinL−Vc = (1/4) × VinL−Vc = −1V − (− 3V) = + 2V 5) That is, in the semiconductor switch circuit of FIG.
As viewed from the drain of No. 11, the potential of the gate is +1 V,
Since the voltage is sufficiently higher than the threshold voltage -1.8 V of the first FET 11, the first FET 11 can maintain the off state.

【0044】他方、インダクタンス13を接続しない場
合、第1のFET11のドレインからみてゲートの電位
は−2Vであり、この値は第1のFET11のしきい値
電圧−1.8Vよりも低いので、オン状態になってしま
う。
On the other hand, when the inductance 13 is not connected, the potential of the gate is -2 V when viewed from the drain of the first FET 11, and this value is lower than the threshold voltage of the first FET 11 -1.8V. It turns on.

【0045】つまり、図1の半導体スイッチ回路によれ
ば、第1、第2のFET11、12のゲート相互間にイ
ンダクタンス13を接続したことにより、接続しない場
合と比べ、入力端子INに入力される高周波信号の電圧
振幅の負側の値がより大きくなっても、オフ状態からオ
ン状態に切り替わることが防止される。つまり、耐高入
力特性を改善することができる。
That is, according to the semiconductor switch circuit shown in FIG. 1, since the inductance 13 is connected between the gates of the first and second FETs 11 and 12, the input is input to the input terminal IN as compared with the case where the inductance 13 is not connected. Even when the negative value of the voltage amplitude of the high-frequency signal becomes larger, switching from the off state to the on state is prevented. That is, the high input resistance characteristics can be improved.

【0046】次に、図1の半導体スイッチ回路のオン/
オフ比の改善効果をシミュレーションにより求めた結果
について説明する。
Next, the ON / OFF state of the semiconductor switch circuit of FIG.
A description will be given of the result obtained by obtaining the effect of improving the off ratio by simulation.

【0047】図4は、実際にシミュレーションを行った
半導体スイッチ回路の構成を示している。図1に示す構
成のスイッチ回路を2回路用意して端子T1とT2との
間に直列接続し、中間の端子T3には高周波信号を入力
し、端子T1とT3との間に接続された一方のスイッチ
回路の制御端子CONT1にはこのスイッチ回路がオフ
状態となるような制御信号を入力し、端子T2とT3と
の間に接続された他方のスイッチ回路の制御端子CON
T2にはこのスイッチ回路がオン状態となるような制御
信号を入力する。なお、各スイッチ回路を構成する2個
のFET11、12として、図5(a)の平面図及び同
図(b)の断面図に示すようにセンターゲート構造のG
aAsMESFETを用いた。
FIG. 4 shows the configuration of a semiconductor switch circuit that has been actually simulated. Two switch circuits having the configuration shown in FIG. 1 are prepared and connected in series between the terminals T1 and T2, a high-frequency signal is input to an intermediate terminal T3, and one of the switches connected between the terminals T1 and T3 A control signal for turning off this switch circuit is input to the control terminal CONT1 of the switch circuit of FIG. 1 and the control terminal CON of the other switch circuit connected between the terminals T2 and T3.
A control signal for turning on this switch circuit is input to T2. As shown in the plan view of FIG. 5A and the sectional view of FIG. 5B, two FETs 11 and 12 constituting each switch circuit have a center gate structure.
aAsMESFET was used.

【0048】図5(a)、(b)において、20はGa
As基板、21はソース、ドレイン及びチャネルを構成
する例えばN型GaAs層であり、22はゲート電極で
ある。また、図5(a)中に示すチャネル幅Wgは2.
4mmとした。
In FIGS. 5A and 5B, reference numeral 20 denotes Ga.
An As substrate 21 is, for example, an N-type GaAs layer constituting a source, a drain and a channel, and 22 is a gate electrode. The channel width Wg shown in FIG.
4 mm.

【0049】図6は、図4の半導体スイッチ回路におい
てインダンクタンス13の値を1.78nH(入力高周
波信号の周波数f=5.8GHzとしたときの前記並列
共振回路の共振周波数に相当)とした本発明回路と、図
4の半導体スイッチ回路からインダンクタンス13を取
り除き各2個のFET11、12のゲートを接続した従
来回路と、図4の半導体スイッチ回路からインダンクタ
ンス13を取り除き各2個のFET11、12のゲート
を接続すると共に各FET11、12のチャネル幅Wg
を半分の1.2mmにした参考回路における入力高周波
信号の基本周波数と端子T1とT3との間及び端子T2
とT3との間の利得を示している。
FIG. 6 shows that the value of the inductance 13 in the semiconductor switch circuit of FIG. 4 is 1.78 nH (corresponding to the resonance frequency of the parallel resonance circuit when the frequency f of the input high-frequency signal is 5.8 GHz). The circuit of the present invention, the conventional circuit in which the inductance 13 is removed from the semiconductor switch circuit of FIG. 4 and the gates of the two FETs 11 and 12 are connected, and the inductance 13 is removed from the semiconductor switch circuit of FIG. And the channel width Wg of each of the FETs 11 and 12.
Between the terminals T1 and T3 and the terminal T2 in the reference circuit in which
And the gain between T3 and T3.

【0050】図6において、特性a〜cはオフ状態の半
導体スイッチ回路の特性、特性d〜fはオン状態の半導
体スイッチ回路の特性であり、特性a、dは本発明回路
のものであり、特性b、eは従来回路のものであり、特
性c、fは参考回路のものである。
In FIG. 6, the characteristics a to c are the characteristics of the semiconductor switch circuit in the off state, the characteristics df are the characteristics of the semiconductor switch circuit in the on state, and the characteristics a and d are those of the circuit of the present invention. Characteristics b and e are for the conventional circuit, and characteristics c and f are for the reference circuit.

【0051】図から明らかなように、基本周波数fが
5.8GHzの付近において、端子T1とT3との間の
利得が従来回路の場合に−7dB(特性b)であったも
のが、本発明回路(特性a)では−23dBとなってお
り、オフ状態において15dB以上の改善が図られてい
る。
As is apparent from the figure, when the fundamental frequency f is around 5.8 GHz, the gain between the terminals T1 and T3 is -7 dB (characteristic b) in the case of the conventional circuit. In the circuit (characteristic a), it is -23 dB, and an improvement of 15 dB or more in the off state is achieved.

【0052】一方、オン状態では、基本周波数fが5.
8GHzの付近において、端子T2とT3との間の利得
は本発明回路(特性d)では0.5dBとなっており、
良好な導通特性が得られている。
On the other hand, in the ON state, the fundamental frequency f is 5.
In the vicinity of 8 GHz, the gain between the terminals T2 and T3 is 0.5 dB in the circuit of the present invention (characteristic d).
Good conduction characteristics are obtained.

【0053】このように、図1の半導体スイッチ回路
は、オン/オフ比が大きくできかつ耐高入力特性も優れ
たものとなる。
As described above, the semiconductor switch circuit of FIG. 1 can have a large on / off ratio and excellent high input resistance.

【0054】また、図14に示す従来回路と比べ、イン
ダクタンス13が追加されているだけなので、回路規模
はそれほど増大せず、コスト増につながる恐れもない。
Further, as compared with the conventional circuit shown in FIG. 14, since only the inductance 13 is added, the circuit scale does not increase so much, and there is no possibility that the cost will increase.

【0055】図7は、第1の実施の形態の変形例による
半導体スイッチ回路の構成を示している。図1の半導体
スイッチ回路では、インダクタンス13の一端、すなわ
ち第1のFET11のゲートのみに制御端子CONTを
設ける場合について説明したが、これは図7に示すよう
にインダクタンス13の両端、つまり第1、第2のFE
T11、12それぞれのゲートに制御端子CONT1、
CONT2を設け、両端子CONT1、CONT2に同
じ制御信号を入力して、第1、第2のFET11、12
を同期して動作させるようにしてもよい。
FIG. 7 shows a configuration of a semiconductor switch circuit according to a modification of the first embodiment. In the semiconductor switch circuit of FIG. 1, the case where the control terminal CONT is provided only at one end of the inductance 13, that is, only at the gate of the first FET 11, has been described. However, as shown in FIG. Second FE
The control terminals CONT1,
CONT2 is provided, and the same control signal is input to both terminals CONT1 and CONT2, and the first and second FETs 11 and 12 are provided.
May be operated synchronously.

【0056】この場合にも、高周波信号が制御端子CO
NT1、CONT2から漏れ出ることを防ぐために、第
1、第2のFET11、12のゲートと制御端子CON
T1、CONT2との間には抵抗14a、14bが接続
される。
Also in this case, the high-frequency signal is supplied to the control terminal CO.
In order to prevent leakage from NT1 and CONT2, the gates of the first and second FETs 11 and 12 and the control terminal CON
Resistors 14a and 14b are connected between T1 and CONT2.

【0057】この変形例による半導体スイッチ回路で
は、図1の半導体スイッチ回路に比較して、FETのゲ
ート逆方向リーク電流がインダクタンス13に流れるこ
とで第1、第2のFET11、12のゲート相互間に生
じる電位差を抑制できるという効果をさらに得ることが
できる。
In the semiconductor switch circuit according to this modification, compared to the semiconductor switch circuit of FIG. 1, a reverse gate leakage current of the FET flows through the inductance 13 so that the gates of the first and second FETs 11 and 12 are separated from each other. Can be further obtained.

【0058】図8は、この発明の第2の実施の形態によ
る半導体スイッチ回路の構成を示している。この第2の
実施の形態による半導体スイッチ回路では、図1に示す
ようにそれぞれ2個のFET11、12、インダクタン
ス13及び抵抗14からなる2個のスイッチ回路31、
32が設けられている。一方のスイッチ回路31は入力
端子INと第1の出力端子OUT1との間に接続され、
他方のスイッチ回路32は入力端子INと第2の出力端
子OUT2との間に接続されている。一方のスイッチ回
路31は一方の制御端子CONT1に入力される制御信
号により制御され、他方のスイッチ回路32は他方の制
御端子CONT2に入力される逆相の制御信号により制
御される。
FIG. 8 shows a configuration of a semiconductor switch circuit according to the second embodiment of the present invention. In the semiconductor switch circuit according to the second embodiment, as shown in FIG. 1, two switch circuits 31, each comprising two FETs 11, 12, an inductance 13, and a resistor 14,
32 are provided. One switch circuit 31 is connected between the input terminal IN and the first output terminal OUT1,
The other switch circuit 32 is connected between the input terminal IN and the second output terminal OUT2. One switch circuit 31 is controlled by a control signal input to one control terminal CONT1, and the other switch circuit 32 is controlled by an opposite-phase control signal input to the other control terminal CONT2.

【0059】すなわち、図8の半導体スイッチ回路は、
入力端子INに入力される入力信号を第1、第2の出力
端子OUT1、OUT2から切り換え出力するようにし
たものである。
That is, the semiconductor switch circuit of FIG.
An input signal input to the input terminal IN is switched and output from the first and second output terminals OUT1 and OUT2.

【0060】図9は、この発明の第3の実施の形態によ
る半導体スイッチ回路の構成を示している。この第3の
実施の形態による半導体スイッチ回路は、上記図8に示
す第2の実施の形態による半導体スイッチ回路と同様
に、2個のスイッチ回路31、32によって入力端子I
Nに入力される入力信号を第1、第2の出力端子OUT
1、OUT2に切り換え出力するようにしたものであ
る。
FIG. 9 shows a configuration of a semiconductor switch circuit according to the third embodiment of the present invention. In the semiconductor switch circuit according to the third embodiment, as in the semiconductor switch circuit according to the second embodiment shown in FIG.
N to the first and second output terminals OUT
1 and OUT2.

【0061】そして、この実施の形態の半導体スイッチ
回路では、さらにそれぞれ2個のFET11、12、イ
ンダクタンス13及び抵抗14からなる2個のスイッチ
回路33、34が設けられている。
In the semiconductor switch circuit of this embodiment, two switch circuits 33 and 34 each including two FETs 11 and 12, an inductance 13 and a resistor 14 are provided.

【0062】上記スイッチ回路33は第1の出力端子O
UT1と接地電位GNDとの間に接続され、スイッチ回
路34は第2の出力端子OUT2と接地電位GNDとの
間に接続されている。
The switch circuit 33 has a first output terminal O
The switch circuit 34 is connected between the UT1 and the ground potential GND, and the switch circuit 34 is connected between the second output terminal OUT2 and the ground potential GND.

【0063】この実施の形態の半導体スイッチ回路にお
いて、スイッチ回路31がオフ状態となるような制御信
号が制御端子CONT1に入力されるときに、この制御
端子CONT1に入力される制御信号に応じてスイッチ
回路33がオン状態にされ、第1の出力端子OUT1に
漏れ出る信号が接地電位に分流される。同様に、スイッ
チ回路32がオフ状態となるような制御信号が制御端子
CONT2に入力されるときに、この制御端子CONT
2に入力される制御信号に応じてスイッチ回路34がオ
ン状態にされ、第2の出力端子OUT2に漏れ出る信号
が接地電位に分流される。
In the semiconductor switch circuit of this embodiment, when a control signal for turning off the switch circuit 31 is input to the control terminal CONT1, the switch is switched according to the control signal input to the control terminal CONT1. The circuit 33 is turned on, and the signal leaking to the first output terminal OUT1 is shunted to the ground potential. Similarly, when a control signal for turning off the switch circuit 32 is input to the control terminal CONT2, the control terminal CONT2
The switch circuit 34 is turned on in response to the control signal input to the second terminal 2, and the signal leaking to the second output terminal OUT2 is shunted to the ground potential.

【0064】図10は、この発明の第4の実施の形態に
よる半導体スイッチ回路の構成を示している。この第4
の実施の形態による半導体スイッチ回路は、2系統のア
ンテナによる受信信号を2方向に切り換えるダイバーシ
ティーアンテナ用スイッチ回路に実施したものである。
FIG. 10 shows a configuration of a semiconductor switch circuit according to a fourth embodiment of the present invention. This fourth
The semiconductor switch circuit according to the embodiment is implemented in a switch circuit for a diversity antenna that switches a signal received by two antennas in two directions.

【0065】この第4の実施の形態による半導体スイッ
チ回路では、図1に示すようにそれぞれ2個のFET1
1、12、インダクタンス13及び抵抗14からなる4
個のスイッチ回路41〜43が設けられている。スイッ
チ回路41は第1の入力端子IN1と第1の出力端子O
UT1との間に接続されている。スイッチ回路42は第
1の入力端子IN1と第2の出力端子OUT2との間に
接続されている。スイッチ回路43は第2の入力端子I
N2と第1の出力端子OUT1との間に接続されてい
る。スイッチ回路44は第2の入力端子IN2と第2の
出力端子OUT2との間に接続されている。
In the semiconductor switch circuit according to the fourth embodiment, as shown in FIG.
4, consisting of 1, 12, an inductance 13 and a resistor 14
The switch circuits 41 to 43 are provided. The switch circuit 41 has a first input terminal IN1 and a first output terminal O
It is connected between UT1. The switch circuit 42 is connected between the first input terminal IN1 and the second output terminal OUT2. The switch circuit 43 has a second input terminal I
It is connected between N2 and the first output terminal OUT1. The switch circuit 44 is connected between the second input terminal IN2 and the second output terminal OUT2.

【0066】上記スイッチ回路41と44は、第1の制
御端子CONT1に入力される制御信号に応じてオン/
オフ制御される。上記スイッチ回路42と43は、第2
の制御端子CONT2に入力される制御信号に応じてオ
ン/オフ制御される。
The switch circuits 41 and 44 are turned on / off in response to a control signal input to the first control terminal CONT1.
Controlled off. The switch circuits 42 and 43 are connected to the second
Is turned on / off in accordance with a control signal input to the control terminal CONT2.

【0067】図10の半導体スイッチ回路において、ス
イッチ回路41がオン状態となるような制御信号が第1
の制御端子CONT1に入力されるときに、この制御端
子CONT1に入力される制御信号に応じてスイッチ回
路44もオン状態にされるので、第1、第2の入力端子
IN1、IN2から入力される2系統のアンテナ信号は
第1、第2の出力端子OUT1、OUT2から出力され
る。
In the semiconductor switch circuit of FIG. 10, the control signal for turning on the switch circuit 41 is the first control signal.
Is input to the control terminal CONT1, the switch circuit 44 is also turned on in response to the control signal input to the control terminal CONT1, and thus is input from the first and second input terminals IN1 and IN2. The two-system antenna signals are output from first and second output terminals OUT1 and OUT2.

【0068】他方、スイッチ回路42がオン状態となる
ような制御信号が第2の制御端子CONT2に入力され
るときに、この制御端子CONT2に入力される制御信
号に応じてスイッチ回路43もオン状態にされるので、
第1、第2の入力端子IN1、IN2から入力される2
系統のアンテナ信号は、上記とは反対に第2、第1の出
力端子OUT2、OUT1から出力される。
On the other hand, when a control signal for turning on the switch circuit 42 is input to the second control terminal CONT2, the switch circuit 43 is also turned on in response to the control signal input to the control terminal CONT2. So that
2 input from the first and second input terminals IN1 and IN2
The system antenna signal is output from the second and first output terminals OUT2 and OUT1, contrary to the above.

【0069】このような構成の半導体スイッチ回路にお
いても、各スイッチ回路41〜44の2個のFET1
1、12のゲート相互間にインダクタンス13が接続さ
れているので、個々のスイッチ回路41〜44における
オン/オフ比を大きくすることができかつ耐高入力特性
にも優れたものとなる。また、回路規模の増大を抑えて
コスト抑制を図ることができる。
In the semiconductor switch circuit having such a configuration, the two FETs 1 of each of the switch circuits 41 to 44 are also provided.
Since the inductance 13 is connected between the gates 1 and 12, the on / off ratio in each of the switch circuits 41 to 44 can be increased, and the input resistance is also excellent. In addition, cost can be suppressed by suppressing an increase in circuit scale.

【0070】なお、この発明は、上記各実施の形態に限
定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱し
ない範囲で種々に変形することが可能である。
The present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications can be made in the implementation stage without departing from the scope of the invention.

【0071】さらに、上記実施の形態には種々の段階の
発明が含まれており、開示される複数の構成要件におけ
る適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。
例えば、実施の形態に示される全構成要件から幾つかの
構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題
の欄で述べた課題の少なくとも1つが解決でき、発明の
効果の欄で述べられている効果の少なくとも1つが得ら
れる場合には、この構成要件が削除された構成が発明と
して抽出され得る。
Further, the above embodiments include inventions at various stages, and various inventions can be extracted by appropriately combining a plurality of disclosed constituent elements.
For example, even if some constituent elements are deleted from all the constituent elements shown in the embodiments, at least one of the problems described in the column of the problem to be solved by the invention can be solved and the effects described in the column of the effect of the invention can be solved. In a case where at least one of the effects described above is obtained, a configuration in which this component is deleted can be extracted as an invention.

【0072】[0072]

【発明の効果】以上説明したようにこの発明によれば、
オン/オフ比が大きくかつ耐高入力特性に優れた半導体
スイッチ回路を回路規模をそれ程増大させることなく、
従ってコスト増を招くことなく提供することができる。
As described above, according to the present invention,
A semiconductor switch circuit having a large on / off ratio and excellent high input resistance characteristics can be manufactured without significantly increasing the circuit scale.
Therefore, it can be provided without increasing the cost.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の第1の実施の形態に係る半導体スイ
ッチ回路の回路図。
FIG. 1 is a circuit diagram of a semiconductor switch circuit according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1の半導体スイッチ回路の等価回路図。FIG. 2 is an equivalent circuit diagram of the semiconductor switch circuit of FIG. 1;

【図3】オン状態のときの図1の半導体スイッチ回路の
等価回路図。
FIG. 3 is an equivalent circuit diagram of the semiconductor switch circuit of FIG. 1 in an ON state.

【図4】図1の半導体スイッチ回路のオン/オフ比の改
善効果をシミュレーションするために使用される半導体
スイッチ回路の回路図。
FIG. 4 is a circuit diagram of a semiconductor switch circuit used to simulate the effect of improving the on / off ratio of the semiconductor switch circuit of FIG. 1;

【図5】図4のスイッチ回路で使用されるFETの平面
図及び断面図。
FIG. 5 is a plan view and a cross-sectional view of an FET used in the switch circuit of FIG. 4;

【図6】図4の半導体スイッチ回路のシミュレーション
結果を示す特性図。
FIG. 6 is a characteristic diagram showing a simulation result of the semiconductor switch circuit of FIG. 4;

【図7】第1の実施の形態の変形例による半導体スイッ
チ回路の構成を示す回路図。
FIG. 7 is a circuit diagram showing a configuration of a semiconductor switch circuit according to a modified example of the first embodiment.

【図8】この発明の第2の実施の形態による半導体スイ
ッチ回路の構成を示す回路図。
FIG. 8 is a circuit diagram showing a configuration of a semiconductor switch circuit according to a second embodiment of the present invention.

【図9】この発明の第3の実施の形態による半導体スイ
ッチ回路の構成を示す回路図。
FIG. 9 is a circuit diagram showing a configuration of a semiconductor switch circuit according to a third embodiment of the present invention.

【図10】この発明の第4の実施の形態による半導体ス
イッチ回路の構成を示す回路図。
FIG. 10 is a circuit diagram showing a configuration of a semiconductor switch circuit according to a fourth embodiment of the present invention.

【図11】1個のFETを用いた原始的な高周波スイッ
チの回路図。
FIG. 11 is a circuit diagram of a primitive high-frequency switch using one FET.

【図12】オン/オフ比を改善した従来の半導体スイッ
チ回路の回路図。
FIG. 12 is a circuit diagram of a conventional semiconductor switch circuit with an improved on / off ratio.

【図13】オン/オフ比を改善した図12とは異なる従
来の半導体スイッチ回路の回路図。
FIG. 13 is a circuit diagram of a conventional semiconductor switch circuit different from FIG. 12 in which an on / off ratio is improved.

【図14】耐高入力特性を改善した従来の半導体スイッ
チ回路の回路図。
FIG. 14 is a circuit diagram of a conventional semiconductor switch circuit with improved high input resistance.

【図15】耐高入力特性を改善した図14とは異なる従
来の半導体スイッチ回路の回路図。
FIG. 15 is a circuit diagram of a conventional semiconductor switch circuit different from FIG. 14 in which high input resistance is improved.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11、12…FET、 13…インダクタンス、 14、14a、14b…抵抗、 31〜34、41〜44…スイッチ回路。 11, 12 ... FET, 13 ... inductance, 14, 14a, 14b ... resistance, 31 to 34, 41 to 44 ... switch circuit.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5J055 AX05 AX06 BX17 CX03 DX23 DX83 EX27 EY01 EY05 EY29 EZ14 FX08 FX12 GX01 GX06 GX07  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 5J055 AX05 AX06 BX17 CX03 DX23 DX83 EX27 EY01 EY05 EY29 EZ14 FX08 FX12 GX01 GX06 GX07

Claims (25)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被制御信号の入力端子及び出力端子と、 上記被制御信号の入力端子に電流通路の一端が接続され
た第1のFETと、 上記第1のFETの電流通路の他端に電流通路の一端が
接続され、上記被制御信号の出力端子に電流通路の他端
が接続された第2のFETと、 上記第1、第2のFETのゲート相互間に接続されたイ
ンダクタンスと、 上記インダクタンスの少なくとも一端に設けられ、制御
信号が供給される制御端子とを具備することを特徴とす
る半導体スイッチ回路。
An input terminal and an output terminal for a controlled signal, a first FET having one end of a current path connected to the input terminal of the controlled signal, and a first FET connected to the other end of a current path of the first FET. A second FET having one end connected to the current path and the other end of the current path connected to the output terminal of the controlled signal; an inductance connected between the gates of the first and second FETs; A control terminal provided at at least one end of the inductance and supplied with a control signal.
【請求項2】 前記制御端子が前記インダクタンスの両
端にそれぞれ設けられていることを特徴とする請求項1
記載の半導体スイッチ回路。
2. The control terminal according to claim 1, wherein the control terminals are provided at both ends of the inductance.
A semiconductor switch circuit as described in the above.
【請求項3】 前記インダクタンスと前記制御端子との
間に接続され、前記被制御信号に対して高インピーダン
スとなる素子をさらに具備したことを特徴とする請求項
1または2記載の半導体スイッチ回路。
3. The semiconductor switch circuit according to claim 1, further comprising an element connected between said inductance and said control terminal, said element having a high impedance with respect to said controlled signal.
【請求項4】 前記被制御信号の入力端子と出力端子と
の間の電流経路における直流電位を基準としてそれより
も前記第1、第2のFETのしきい値電圧の絶対値以上
低い第1の値と、しきい値電圧の絶対値より低くない第
2の値からなる2値をとる信号が前記制御信号として前
記制御端子に供給されることを特徴する請求項1乃至3
のいずれか1項記載の半導体スイッチ回路。
4. A method according to claim 1, wherein said first and second FETs are lower than an absolute value of a threshold voltage of said first and second FETs with respect to a DC potential in a current path between an input terminal and an output terminal of said controlled signal. And a signal having a binary value consisting of a second value not lower than the absolute value of the threshold voltage is supplied to the control terminal as the control signal.
The semiconductor switch circuit according to any one of the preceding claims.
【請求項5】 前記インダクタンスは、前記制御信号が
前記第1の値をとるときに、前記被制御信号に含まれる
基本波周波数の下で、前記第1のFETのゲートとこの
第1のFETの電流通路の他端との間及び前記第2のF
ETのゲートとこの第2のFETの電流通路の一端との
間に存在する寄生容量との間で並列共振を起こすような
値に設定されることを特徴する請求項1乃至4のいずれ
か1項記載の半導体スイッチ回路。
5. The gate of the first FET and the first FET under a fundamental frequency included in the controlled signal when the control signal takes the first value. Between the other end of the current path and the second F
5. The semiconductor device according to claim 1, wherein a value is set so as to cause parallel resonance between a parasitic capacitance existing between the gate of the ET and one end of the current path of the second FET. 9. The semiconductor switch circuit according to claim 1.
【請求項6】 前記第1及び第2のFETがそれぞれ、
MESFETで構成されていることを特徴する請求項1
乃至5のいずれか1項記載の半導体スイッチ回路。
6. The first and second FETs each include:
2. The method according to claim 1, wherein the MESFET is used.
6. The semiconductor switch circuit according to any one of claims 1 to 5.
【請求項7】 前記第1及び第2のFETがそれぞれ、
GaAsMESFETで構成されていることを特徴する
請求項1乃至5のいずれか1項記載の半導体スイッチ回
路。
7. The first and second FETs each include:
6. The semiconductor switch circuit according to claim 1, wherein the semiconductor switch circuit is made of a GaAs MESFET.
【請求項8】 被制御信号の入力端子及び第1、第2の
出力端子と、 上記被制御信号の入力端子に電流通路の一端が接続され
た第1のFETと、 上記第1のFETの電流通路の他端に電流通路の一端が
接続され、上記被制御信号の第1の出力端子に電流通路
の他端が接続された第2のFETと、 上記第1、第2のFETのゲート相互間に接続された第
1のインダクタンスと、 上記第1のインダクタンスの一端に設けられ、第1の制
御信号が供給される第1の制御端子と、 上記被制御信号の入力端子に電流通路の一端が接続され
た第3のFETと、 上記第3のFETの電流通路の他端に電流通路の一端が
接続され、上記被制御信号の第2の出力端子に電流通路
の他端が接続された第4のFETと、 上記第3、第4のFETのゲート相互間に接続された第
2のインダクタンスと、 上記第2のインダクタンスの一端に設けられ、第2の制
御信号が供給される第2の制御端子とを具備することを
特徴とする半導体スイッチ回路。
8. An input terminal of a controlled signal and first and second output terminals; a first FET having one end of a current path connected to the input terminal of the controlled signal; A second FET having one end of the current path connected to the other end of the current path and the other end of the current path connected to a first output terminal of the controlled signal; a gate of the first and second FETs; A first inductance connected between the first inductance, a first control terminal provided at one end of the first inductance and supplied with a first control signal, and a current path connected to an input terminal of the controlled signal. A third FET having one end connected thereto, one end of a current path connected to the other end of the current path of the third FET, and the other end of the current path connected to a second output terminal of the controlled signal; Between the fourth FET and the gates of the third and fourth FETs. A second inductance that is continued, provided at one end of the second inductance, the semiconductor switching circuit, wherein a second control signal to a second control terminal supplied.
【請求項9】 前記第1のインダクタンスと前記第1の
制御端子との間に接続され、前記被制御信号に対して高
インピーダンスとなる第1の素子と、 前記第2のインダクタンスと前記第2の制御端子との間
に接続され、前記被制御信号に対して高インピーダンス
となる第2の素子とをさらに具備したことを特徴とする
請求項8記載の半導体スイッチ回路。
9. A first element which is connected between the first inductance and the first control terminal and has a high impedance with respect to the controlled signal, the second element and the second element. 9. The semiconductor switch circuit according to claim 8, further comprising a second element connected between the control terminal and the second control terminal and having a high impedance with respect to the controlled signal.
【請求項10】 前記被制御信号の入力端子と第1また
は第2の出力端子との間の電流経路における直流電位を
基準としてそれよりも前記第1乃至第4のFETのしき
い値電圧の絶対値以上低い第1の値と、しきい値電圧の
絶対値より低くない第2の値からなる2値をとる信号が
前記第1、第2の制御信号として前記第1、第2の制御
端子に供給されることを特徴する請求項8または9記載
の半導体スイッチ回路。
10. A control circuit according to claim 6, wherein a reference is made to a DC potential in a current path between an input terminal of the controlled signal and a first or second output terminal. The first and second control signals are binary signals consisting of a first value lower than the absolute value and a second value not lower than the absolute value of the threshold voltage, as the first and second control signals. The semiconductor switch circuit according to claim 8, wherein the semiconductor switch circuit is supplied to a terminal.
【請求項11】 前記第1のインダクタンスは、前記第
1の制御信号が前記第1の値をとるときに、前記被制御
信号に含まれる基本波周波数の下で、前記第1のFET
のゲートとこの第1のFETの電流通路の他端との間及
び前記第2のFETのゲートとこの第2のFETの電流
通路の一端との間に存在する寄生容量との間で並列共振
を起こすような値に設定され、 かつ前記第2のインダクタンスは、前記第2の制御信号
が前記第1の値をとるときに、前記被制御信号に含まれ
る基本波周波数の下で、前記第3のFETのゲートとこ
の第3のFETの電流通路の他端との間及び前記第4の
FETのゲートとこの第4のFETの電流通路の一端と
の間に存在する寄生容量との間で並列共振を起こすよう
な値に設定されることを特徴する請求項8または9記載
の半導体スイッチ回路。
11. The first FET operates under a fundamental frequency included in the controlled signal when the first control signal takes the first value.
Between the gate of the first FET and the other end of the current path of the first FET and the parasitic capacitance between the gate of the second FET and one end of the current path of the second FET. And when the second control signal takes the first value, the second inductance is set below the fundamental frequency included in the controlled signal. Between the gate of the third FET and the other end of the current path of the third FET, and between the gate of the fourth FET and one end of the current path of the fourth FET. 10. The semiconductor switch circuit according to claim 8, wherein the value is set so as to cause parallel resonance.
【請求項12】 前記第1乃至第4のFETがそれぞ
れ、MESFETで構成されていることを特徴する請求
項8乃至11のいずれか1項記載の半導体スイッチ回
路。
12. The semiconductor switch circuit according to claim 8, wherein each of said first to fourth FETs is constituted by a MESFET.
【請求項13】 前記第1乃至第4のFETがそれぞ
れ、GaAsMESFETで構成されていることを特徴
する請求項8乃至11のいずれか1項記載の半導体スイ
ッチ回路。
13. The semiconductor switch circuit according to claim 8, wherein each of said first to fourth FETs comprises a GaAs MESFET.
【請求項14】 被制御信号の入力端子及び第1、第2
の出力端子と、 上記被制御信号の入力端子に電流通路の一端が接続され
た第1のFETと、 上記第1のFETの電流通路の他端に電流通路の一端が
接続され、上記第1の出力端子に電流通路の他端が接続
された第2のFETと、 上記第1、第2のFETのゲート相互間に接続された第
1のインダクタンスと、 上記第1のインダクタンスの一端に設けられ、第1の制
御信号が供給される第1の制御端子と、 上記被制御信号の入力端子に電流通路の一端が接続され
た第3のFETと、 上記第3のFETの電流通路の他端に電流通路の一端が
接続され、上記第2の出力端子に電流通路の他端が接続
された第4のFETと、 上記第3、第4のFETのゲート相互間に接続された第
2のインダクタンスと、 上記第2のインダクタンスの一端に設けられ、第2の制
御信号が供給される第2の制御端子と、 上記第1の出力端子に電流通路の一端が接続された第5
のFETと、 上記第5のFETの電流通路の他端に電流通路の一端が
接続され、接地電位のノードに電流通路の他端が接続さ
れた第6のFETと、 上記第5、第6のFETのゲート相互間に接続され、か
つ一端が上記第2の制御端子に接続された第3のインダ
クタンスと、 上記第2の出力端子に電流通路の一端が接続された第7
のFETと、 上記第7のFETの電流通路の他端に電流通路の一端が
接続され、接地電位のノードに電流通路の他端が接続さ
れた第8のFETと、 上記第7、第8のFETのゲート相互間に接続され、か
つ一端が上記第1の制御端子に接続された第4のインダ
クタンスとを具備することを特徴とする半導体スイッチ
回路。
14. A control signal input terminal and first and second input terminals.
A first FET having one end of a current path connected to the input terminal of the controlled signal, and one end of a current path connected to the other end of the current path of the first FET; A second FET having the other end of the current path connected to the output terminal of the first FET, a first inductance connected between the gates of the first and second FETs, and a first inductance provided at one end of the first inductance. A first control terminal to which a first control signal is supplied; a third FET having one end of a current path connected to an input terminal of the controlled signal; and a current path of the third FET. A fourth FET having one end connected to the other end of the current path and the other end connected to the second output terminal; and a second FET connected between the gates of the third and fourth FETs. And one end of the second inductance. It is, fifth and second control terminal a second control signal is supplied, one end of the current path to the first output terminal connected
A sixth FET having one end of the current path connected to the other end of the current path of the fifth FET, and the other end of the current path connected to a node of the ground potential; A third inductance having one end connected to the second control terminal and a seventh inductance having one end of a current path connected to the second output terminal.
An eighth FET in which one end of a current path is connected to the other end of the current path of the seventh FET, and the other end of the current path is connected to a node of the ground potential; A fourth inductance connected between the gates of the FETs and having one end connected to the first control terminal.
【請求項15】 前記第1のインダクタンスと前記第1
の制御端子との間に接続され、前記被制御信号に対して
高インピーダンスとなる第1の素子と、 前記第2のインダクタンスと前記第2の制御端子との間
に接続され、前記被制御信号に対して高インピーダンス
となる第2の素子と、 前記第3のインダクタンスと前記第2の制御端子との間
に接続され、前記被制御信号に対して高インピーダンス
となる第3の素子と、 前記第4のインダクタンスと前記第1の制御端子との間
に接続され、前記被制御信号に対して高インピーダンス
となる第4の素子 とをさらに具備したことを特徴とする請求項14記載の
半導体スイッチ回路。
15. The first inductance and the first inductance.
A first element connected between the second inductance and the second control terminal, the first element having a high impedance with respect to the controlled signal; A second element having a high impedance with respect to a third element connected between the third inductance and the second control terminal and having a high impedance with respect to the controlled signal; The semiconductor switch according to claim 14, further comprising: a fourth element connected between a fourth inductance and the first control terminal and having a high impedance with respect to the controlled signal. circuit.
【請求項16】 前記被制御信号の入力端子と第1また
は第2の出力端子との間の電流経路における直流電位を
基準としてそれよりも前記第1乃至第4のFETのしき
い値電圧の絶対値以上低い第1の値と、しきい値電圧の
絶対値より低くない第2の値からなる2値をとる信号が
前記第1、第2の制御信号として前記第1、第2の制御
端子に供給されることを特徴する請求項14または15
記載の半導体スイッチ回路。
16. The threshold voltage of the first to fourth FETs is higher than a DC potential in a current path between an input terminal of the controlled signal and a first or second output terminal. The first and second control signals are binary signals consisting of a first value lower than the absolute value and a second value not lower than the absolute value of the threshold voltage, as the first and second control signals. 16. A power supply for a terminal.
A semiconductor switch circuit as described in the above.
【請求項17】 前記第1のインダクタンスは、前記第
1の制御信号が前記第1の値をとるときに、前記被制御
信号に含まれる基本波周波数の下で、前記第1のFET
のゲートとこの第1のFETの電流通路の他端との間及
び前記第2のFETのゲートとこの第2のFETの電流
通路の一端との間に存在する寄生容量との間で並列共振
を起こすような値に設定され、 前記第2のインダクタンスは、前記第2の制御信号が前
記第1の値をとるときに、前記被制御信号に含まれる基
本波周波数の下で、前記第3のFETのゲートとこの第
3のFETの電流通路の他端との間及び前記第4のFE
Tのゲートとこの第4のFETの電流通路の一端との間
に存在する寄生容量との間で並列共振を起こすような値
に設定され、 前記第3のインダクタンスは、前記第2の制御信号が前
記第1の値をとるときに、前記被制御信号に含まれる基
本波周波数の下で、前記第5のFETのゲートとこの第
5のFETの電流通路の他端との間及び前記第6のFE
Tのゲートとこの第6のFETの電流通路の一端との間
に存在する寄生容量との間で並列共振を起こすような値
に設定され、 前記第4のインダクタンスは、前記第1の制御信号が前
記第1の値をとるときに、前記被制御信号に含まれる基
本波周波数の下で、前記第7のFETのゲートとこの第
7のFETの電流通路の他端との間及び前記第8のFE
Tのゲートとこの第8のFETの電流通路の一端との間
に存在する寄生容量との間で並列共振を起こすような値
に設定されることを特徴する請求項14乃至16のいず
れか1項記載の半導体スイッチ回路。
17. The semiconductor device according to claim 17, wherein the first inductance is configured such that, when the first control signal takes the first value, the first FET operates under a fundamental frequency included in the controlled signal.
Between the gate of the first FET and the other end of the current path of the first FET and the parasitic capacitance between the gate of the second FET and one end of the current path of the second FET. When the second control signal takes the first value, the second inductance is set below the fundamental frequency included in the controlled signal. Between the gate of the third FET and the other end of the current path of the third FET and the fourth FE
The third inductance is set to a value that causes a parallel resonance between a gate of T and a parasitic capacitance existing between one end of the current path of the fourth FET and the third control signal. Takes the first value between the gate of the fifth FET and the other end of the current path of the fifth FET under the fundamental frequency included in the controlled signal. 6 FE
The fourth inductance is set to a value that causes parallel resonance between a gate of T and a parasitic capacitance existing between one end of the current path of the sixth FET and the fourth control signal. Takes the first value, between the gate of the seventh FET and the other end of the current path of the seventh FET under the fundamental frequency included in the controlled signal, and 8 FE
17. The semiconductor device according to claim 14, wherein a value is set so as to cause parallel resonance between a parasitic capacitance existing between the gate of T and one end of the current path of the eighth FET. 9. The semiconductor switch circuit according to claim 1.
【請求項18】 前記第1乃至第8のFETがそれぞ
れ、MESFETで構成されていることを特徴する請求
項14乃至17のいずれか1項記載の半導体スイッチ回
路。
18. The semiconductor switch circuit according to claim 14, wherein each of said first to eighth FETs is constituted by a MESFET.
【請求項19】 前記第1乃至第8のFETがそれぞ
れ、GaAsMESFETで構成されていることを特徴
する請求項14乃至17のいずれか1項記載の半導体ス
イッチ回路。
19. The semiconductor switch circuit according to claim 14, wherein each of said first to eighth FETs comprises a GaAs MESFET.
【請求項20】 第1、第2の被制御信号が供給される
第1、第2の入力端子と、 第1、第2の出力端子と、 上記第1の入力端子に電流通路の一端が接続された第1
のFETと、 上記第1のFETの電流通路の他端に電流通路の一端が
接続され、上記第1の出力端子に電流通路の他端が接続
された第2のFETと、 上記第1、第2のFETのゲート相互間に接続された第
1のインダクタンスと、 上記第1のインダクタンスの一端に設けられ、第1の制
御信号が供給される第1の制御端子と、 上記第1の入力端子に電流通路の一端が接続された第3
のFETと、 上記第3のFETの電流通路の他端に電流通路の一端が
接続され、上記第2の出力端子に電流通路の他端が接続
された第4のFETと、 上記第3、第4のFETのゲート相互間に接続された第
2のインダクタンスと、 上記第2のインダクタンスの一端に設けられ、第2の制
御信号が供給される第2の制御端子と、 上記第2の入力端子に電流通路の一端が接続された第5
のFETと、 上記第5のFETの電流通路の他端に電流通路の一端が
接続され、上記第1の出力端子に電流通路の他端が接続
された第6のFETと、 上記第5、第6のFETのゲート相互間に接続され、一
端が上記第2の制御端子に接続された第3のインダクタ
ンスと、 上記第2の入力端子に電流通路の一端が接続された第7
のFETと、 上記第7のFETの電流通路の他端に電流通路の一端が
接続され、上記第2の出力端子に電流通路の他端が接続
された第8のFETと、 上記第7、第8のFETのゲート相互間に接続され、一
端が上記第1の制御端子に接続された第4のインダクタ
ンスとを具備することを特徴とする半導体スイッチ回
路。
20. First and second input terminals to which first and second controlled signals are supplied, first and second output terminals, and one end of a current path is connected to the first input terminal. Connected first
A second FET having one end of a current path connected to the other end of the current path of the first FET and the other end of the current path connected to the first output terminal; A first inductance connected between the gates of the second FET; a first control terminal provided at one end of the first inductance, to which a first control signal is supplied; A third terminal having one end of the current path connected to the terminal
A fourth FET having one end of a current path connected to the other end of the current path of the third FET and the other end of the current path connected to the second output terminal; A second inductance connected between the gates of the fourth FET; a second control terminal provided at one end of the second inductance, to which a second control signal is supplied; Fifth terminal whose one end of the current path is connected to the terminal
A sixth FET having one end of a current path connected to the other end of the current path of the fifth FET and the other end of the current path connected to the first output terminal; A third inductance connected between the gates of the sixth FET and having one end connected to the second control terminal; and a seventh inductance having one end of a current path connected to the second input terminal.
An eighth FET having one end of a current path connected to the other end of the current path of the seventh FET, and the other end of the current path connected to the second output terminal; A fourth inductance connected between the gates of an eighth FET and having one end connected to the first control terminal.
【請求項21】 前記第1のインダクタンスと前記第1
の制御端子との間に接続され、前記第1の被制御信号に
対して高インピーダンスとなる第1の素子と、 前記第2のインダクタンスと前記第2の制御端子との間
に接続され、前記第2の被制御信号に対して高インピー
ダンスとなる第2の素子と、 前記第3のインダクタンスと前記第2の制御端子との間
に接続され、前記第2の被制御信号に対して高インピー
ダンスとなる第3の素子と、 前記第4のインダクタンスと前記第1の制御端子との間
に接続され、前記第1の被制御信号に対して高インピー
ダンスとなる第4の素子とをさらに具備したことを特徴
とする請求項20記載の半導体スイッチ回路。
21. The first inductance and the first inductance.
A first element connected between the second inductance and the second control terminal, the first element having a high impedance with respect to the first controlled signal, and being connected between the second inductance and the second control terminal. A second element having a high impedance with respect to a second controlled signal; connected between the third inductance and the second control terminal; having a high impedance with respect to the second controlled signal; And a fourth element connected between the fourth inductance and the first control terminal and having a high impedance with respect to the first controlled signal. 21. The semiconductor switch circuit according to claim 20, wherein:
【請求項22】 前記第1、第2の入力端子と第1、第
2の出力端子との間の電流経路における直流電位を基準
としてそれよりも前記第1乃至第8のFETのしきい値
電圧の絶対値以上低い第1の値と、しきい値電圧の絶対
値より低くない第2の値からなる2値をとる信号が前記
第1、第2の制御信号として前記第1、第2の制御端子
に供給されることを特徴する請求項20または21記載
の半導体スイッチ回路。
22. A threshold value of each of the first to eighth FETs based on a DC potential in a current path between the first and second input terminals and the first and second output terminals. The two-valued signal consisting of a first value lower than the absolute value of the voltage and a second value not lower than the absolute value of the threshold voltage is the first and second control signals as the first and second control signals. 22. The semiconductor switch circuit according to claim 20, wherein the control signal is supplied to the control terminal.
【請求項23】 前記第1のインダクタンスは、前記第
1の制御信号が前記第1の値をとるときに、前記第1の
被制御信号に含まれる基本波周波数の下で、前記第1の
FETのゲートとこの第1のFETの電流通路の他端と
の間及び前記第2のFETのゲートとこの第2のFET
の電流通路の一端との間に存在する寄生容量との間で並
列共振を起こすような値に設定され、 前記第2のインダクタンスは、前記第2の制御信号が前
記第1の値をとるときに、前記第1の被制御信号に含ま
れる基本波周波数の下で、前記第3のFETのゲートと
この第3のFETの電流通路の他端との間及び前記第4
のFETのゲートとこの第4のFETの電流通路の一端
との間に存在する寄生容量との間で並列共振を起こすよ
うな値に設定され、 前記第3のインダクタンスは、前記第2の制御信号が前
記第1の値をとるときに、前記第2の被制御信号に含ま
れる基本波周波数の下で、前記第5のFETのゲートと
この第5のFETの電流通路の他端との間及び前記第6
のFETのゲートとこの第6のFETの電流通路の一端
との間に存在する寄生容量との間で並列共振を起こすよ
うな値に設定され、 前記第4のインダクタンスは、前記第1の制御信号が前
記第1の値をとるときに、前記第2の被制御信号に含ま
れる基本波周波数の下で、前記第7のFETのゲートと
この第7のFETの電流通路の他端との間及び前記第8
のFETのゲートとこの第8のFETの電流通路の一端
との間に存在する寄生容量との間で並列共振を起こすよ
うな値に設定されることを特徴する請求項20乃至22
のいずれか1項記載の半導体スイッチ回路。
23. The first inductance, when the first control signal takes the first value, generates the first inductance under a fundamental frequency included in the first controlled signal. Between the gate of the FET and the other end of the current path of the first FET and the gate of the second FET and the second FET
Is set to a value that causes parallel resonance with a parasitic capacitance existing between one end of the current path and the second inductance. When the second control signal takes the first value, The third FET, between the gate of the third FET and the other end of the current path of the third FET under the fundamental frequency included in the first controlled signal;
The third inductance is set to a value that causes parallel resonance between the parasitic capacitance existing between the gate of the FET and the one end of the current path of the fourth FET. When the signal takes the first value, the signal between the gate of the fifth FET and the other end of the current path of the fifth FET under the fundamental frequency included in the second controlled signal. Between and the sixth
Is set to a value that causes a parallel resonance between a parasitic capacitance existing between the gate of the first FET and one end of the current path of the sixth FET. The fourth inductance is controlled by the first control. When the signal takes the first value, the signal between the gate of the seventh FET and the other end of the current path of the seventh FET under the fundamental frequency included in the second controlled signal. Between and the eighth
23. A value which causes a parallel resonance between a parasitic capacitance existing between the gate of the first FET and one end of the current path of the eighth FET.
The semiconductor switch circuit according to any one of the preceding claims.
【請求項24】 前記第1乃至第8のFETがそれぞ
れ、MESFETで構成されていることを特徴する請求
項20乃至23のいずれか1項記載の半導体スイッチ回
路。
24. The semiconductor switch circuit according to claim 20, wherein each of said first to eighth FETs is constituted by a MESFET.
【請求項25】 前記第1乃至第8のFETがそれぞ
れ、GaAsMESFETで構成されていることを特徴
する請求項20乃至23のいずれか1項記載の半導体ス
イッチ回路。
25. The semiconductor switch circuit according to claim 20, wherein each of said first to eighth FETs comprises a GaAs MESFET.
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