JP2002208622A - Vertical heat treatment equipment - Google Patents

Vertical heat treatment equipment

Info

Publication number
JP2002208622A
JP2002208622A JP2001004970A JP2001004970A JP2002208622A JP 2002208622 A JP2002208622 A JP 2002208622A JP 2001004970 A JP2001004970 A JP 2001004970A JP 2001004970 A JP2001004970 A JP 2001004970A JP 2002208622 A JP2002208622 A JP 2002208622A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
heat treatment
vertical heat
carrier
treatment apparatus
boat
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2001004970A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Motono
寛 本野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Priority to JP2001004970A priority Critical patent/JP2002208622A/en
Publication of JP2002208622A publication Critical patent/JP2002208622A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide vertical heat treatment equipment, wherein occurrence of accidents can be prevented and maintenance of the equipment can be made safely. SOLUTION: This vertical heat treatment equipment is provided with a carrying mechanism which moves an accommodating vessel in the horizontal direction and the vertical directions, a transfer mechanism which reciprocates a member to be treated between a holding tool for holding a plurality of the members to be treated and the accommodating vessel, and an elevating mechanism which is driven in the vertical directions and carries the holding tool in and from a heat treatment furnace. A lower moving space of at least one elevating body in the carrying mechanism, the transfer mechanism and the elevating mechanism is made a space for working in which maintenance is performed. In the lower part of the elevating body, a safety device is arranged which has a detecting means for detecting an interfering object present in the lower moving space of the elevating body.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、半導体ウ
エハに対して酸化、拡散、アニールあるいはCVDなど
の処理を行うために用いられる縦型熱処理装置に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a vertical heat treatment apparatus used for performing a process such as oxidation, diffusion, annealing or CVD on a semiconductor wafer.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置の製造においては、被処理体
である半導体ウエハに対して、例えば酸化、拡散、CV
D等の各種の処理が行われており、このような処理を行
う装置として、いわゆる縦型熱処理装置が広く利用され
ている。縦型熱処理装置としては、例えば、周囲にヒー
タを配置した熱処理炉内に反応管(プロセスチューブ)
が設けられ、この反応管内に、半導体ウエハが水平状態
で上下に適宜間隔で保持されたウエハボートが搬入さ
れ、複数枚の半導体ウエハが同時に熱処理される構成の
ものが知られており、処理能力の向上という観点から、
ウエハボートが2個使用され、一方のウエハボートにつ
いて熱処理が行われている間に、他方のウエハボートに
ついて半導体ウエハの移載が並行して行われる構成のも
のが利用されている。
2. Description of the Related Art In the manufacture of a semiconductor device, for example, oxidation, diffusion, CV,
Various processes such as D are performed, and as a device for performing such a process, a so-called vertical heat treatment device is widely used. As a vertical heat treatment apparatus, for example, a reaction tube (process tube) is placed in a heat treatment furnace in which a heater is disposed around.
There is known a configuration in which a wafer boat in which semiconductor wafers are horizontally and horizontally held at appropriate intervals is loaded into the reaction tube, and a plurality of semiconductor wafers are simultaneously heat-treated. From the perspective of improving
A configuration in which two wafer boats are used and semiconductor wafer transfer is performed in parallel on one wafer boat while heat treatment is performed on the other wafer boat is used.

【0003】具体的には、従来における縦型熱処理装置
は、例えば、隔壁により前後に区画されてキャリア搬送
エリアと、下方に開口を有する縦型の熱処理炉が設けら
れたローディングエリアとを形成する外匣を備えてお
り、キャリア搬送エリアに、上下に昇降可能および水平
面内で回動可能とされた、半導体ウエハが収容されたキ
ャリアの移載を行うキャリア移載機構が配置されている
と共に、ローディングエリアに、上下方向に駆動されて
熱処理炉にウエハボートを搬入搬出するボートエレベー
タ機構と、外匣の一側面部において前後に並ぶよう配置
された2つのボート載置部と、これらのボート載置部と
ボートエレベータ機構との間でウエハボートの移載を行
うボート移載機構と、上下に昇降可能および水平面内で
回動可能とされた、ボート載置部に載置されたウエハボ
ートについて半導体ウエハの移載を行うウエハ移載機構
とが配置されている。
[0003] Specifically, a conventional vertical heat treatment apparatus forms, for example, a carrier transfer area divided forward and backward by a partition wall, and a loading area provided with a vertical heat treatment furnace having an opening below. An outer casing is provided, and a carrier transfer mechanism for transferring a carrier containing a semiconductor wafer, which is movable up and down and rotatable in a horizontal plane, is arranged in the carrier transport area, In the loading area, a boat elevator mechanism driven up and down to load and unload a wafer boat into and out of the heat treatment furnace, and two boat mounting sections arranged side by side on one side of the outer casing; A boat transfer mechanism for transferring a wafer boat between the mounting part and the boat elevator mechanism, and a vertically movable and rotatable horizontal plane, A wafer transfer mechanism for transferring the semiconductor wafer is placed on the placed wafer boat over preparative mounting portion.

【0004】このような縦型熱処理装置においては、キ
ャリア移載機構、ボートエレベータ機構、およびウエハ
移載機構などの昇降装置の下方の移動空間がメンテナン
ス等を行うための作業用空間とされており、定期的にあ
るいは必要に応じて装置の内部に作業員が入り、例えば
熱処理炉における反応管の洗浄、交換あるいは自動制御
のためのセッティング等のメンテナンスを行うことが要
求される。
In such a vertical heat treatment apparatus, a moving space below a lifting / lowering device such as a carrier transfer mechanism, a boat elevator mechanism, and a wafer transfer mechanism is a working space for performing maintenance and the like. It is required that a worker enters the inside of the apparatus periodically or as needed, and performs maintenance such as cleaning and replacement of a reaction tube in a heat treatment furnace or setting for automatic control.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】而して、上記の縦型熱
処理装置において、メンテナンス作業は、例えば、手動
操作に切り替えた後、事故の発生を防止するために、装
置外部で操作する者と装置内部で作業する者とに分かれ
て行われるが、細心の注意を払っていても、装置の誤動
作や人為的なミスなど何らかの原因により、キャリア移
載機構等が期せずして下降してこれに作業員が挟まれる
事故が生ずるおそれがある。
However, in the above vertical heat treatment apparatus, the maintenance work is performed, for example, after switching to manual operation, in order to prevent an accident from occurring, a person operating outside the apparatus is required. It is carried out separately from those who work inside the device, but even if extreme care is taken, the carrier transfer mechanism etc. may drop unexpectedly due to some cause such as equipment malfunction or human error. This may cause an accident in which the worker is pinched.

【0006】本発明は、以上のような事情に基づいてな
されたものであって、その目的は、事故が発生すること
がなく、装置のメンテナンスを安全に行うことができる
縦型熱処理装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a vertical heat treatment apparatus capable of safely performing maintenance of the apparatus without causing an accident. Is to do.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明の縦型熱処理装置
は、被処理体を収納した収納容器を搬送する搬送エリア
と、被処理体の移し替えを行うローディングエリアとが
隔壁により区画され、搬送エリアには、収納容器を水平
方向および上下方向に移動する搬送機構が配置されると
共に、ローディングエリアには、複数の被処理体を保持
する保持具と収納容器との間で被処理体の移し替えを行
う移載機構と、上下方向に駆動されて保持具を熱処理炉
に搬入搬出する昇降機構とが配置されており、前記搬送
機構、移載機構および昇降機構における少なくとも一の
昇降体の下方の移動空間がメンテナンスを行うための作
業用空間とされた縦型熱処理装置において、当該昇降体
の下部に、当該昇降体の下方の移動空間にある干渉物を
検知する検知手段を有する安全装置が設けられているこ
とを特徴とする。
According to the vertical heat treatment apparatus of the present invention, a transport area for transporting a storage container storing an object to be processed and a loading area for transferring an object to be processed are partitioned by a partition wall. In the transport area, a transport mechanism for moving the storage container in the horizontal and vertical directions is arranged, and in the loading area, a plurality of workpieces are held between the holding tool for holding the plurality of workpieces and the storage container. A transfer mechanism that performs transfer, and an elevating mechanism that is driven in the vertical direction to carry the holder in and out of the heat treatment furnace are arranged, and at least one of the elevating members in the transport mechanism, the transfer mechanism, and the elevating mechanism is disposed. In a vertical heat treatment apparatus in which a lower moving space is a working space for performing maintenance, a detecting means for detecting an interference object in a lower moving space of the elevating body below the elevating body. Wherein the safety device is provided with.

【0008】本発明の縦型熱処理装置においては、検知
手段は、昇降体の下面を覆う状態で上下に変位可能に設
けられた板状部材と、この板状部材が上方に変位したこ
とを検知するスイッチとにより構成されていることが好
ましい。
In the vertical heat treatment apparatus according to the present invention, the detecting means detects the plate-shaped member provided so as to be vertically displaceable while covering the lower surface of the elevating body, and detects that the plate-shaped member is displaced upward. It is preferable that the switch is constituted by a switch that performs the operation.

【0009】また、本発明の縦型熱処理装置において
は、検知手段は、スイッチを複数個備えており、板状部
材のいずれかの位置が局所的に変位したときに、いずれ
か一のスイッチが投入されるものであることが好まし
い。
Further, in the vertical heat treatment apparatus of the present invention, the detecting means includes a plurality of switches, and when any of the positions of the plate member is locally displaced, one of the switches is activated. It is preferable that they are charged.

【0010】さらに、本発明の縦型熱処理装置において
は、安全装置は、上記に記載の検知手段の他に、さらに
光学センサにより昇降体の下方の移動空間にある干渉物
を検知する光学的検知手段を備えた構成とすることがで
きる。
Further, in the vertical heat treatment apparatus according to the present invention, in addition to the detection means described above, the safety device further includes an optical sensor for detecting an interference object in a moving space below the elevating body by an optical sensor. It is possible to adopt a configuration including means.

【0011】[0011]

【作用】本発明の縦型熱処理装置によれば、昇降体がそ
の下方の移動空間に干渉物があると、これが検知手段に
より検知されて安全装置が作動される結果、直ちに昇降
体が停止されるので、確実に事故の発生を未然に防止す
ることができ、装置のメンテナンスを安全に行うことが
できる。ここで、「干渉物」とは、昇降装置を構成する
以外のものであって、装置のメンテナンス作業を行う作
業員も含まれる。
According to the vertical heat treatment apparatus of the present invention, if there is an obstacle in the moving space below the lifting / lowering body, this is detected by the detecting means and the safety device is activated, so that the lifting / lowering body is immediately stopped. Therefore, occurrence of an accident can be reliably prevented beforehand, and maintenance of the device can be performed safely. Here, the term "interfering object" means something other than constituting the lifting / lowering device, and also includes a worker who performs maintenance work on the device.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明に
ついて詳細に説明する。図1は、本発明の縦型熱処理装
置の概略的な構成の一例を示す斜視図、図2は、図1に
示す縦型熱処理装置の平面図、図3は、図1に示す縦型
熱処理装置の縦断面図である。この熱処理装置10は、
隔壁12により前後に区画されて、被処理体である半導
体ウエハが収容される収納容器であるキャリア(カセッ
ト)の搬入搬出および保管等が行われるキャリア搬送エ
リアSaと、半導体ウエハの移載および熱処理が行われ
るローディングエリアSbとを形成する外匣11を備え
ており、この外匣11の前面部には、キャリア20を搬
入搬出するための搬入出口13が形成されていると共
に、この搬入出口13への入出ポートをなす搬入出ステ
ージ14が設けられている。そして、キャリア搬送エリ
アSaは大気雰囲気に維持されており、ローディングエ
リアSbは、大気雰囲気または例えば窒素ガスなどの不
活性ガス雰囲気に維持されている。図1および図3にお
いて、15は、キャリア20の蓋20Aを開けて半導体
ウエハの位置および枚数を検出するセンサ機構、16
は、複数個のキャリア20を保管しておくための棚状の
キャリア保管部、17は、結晶方向を揃えるために半導
体ウエハの周縁部に設けられたノッチ(切欠部)を一方
向に整列させるためのノッチ整列機構である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view showing an example of a schematic configuration of a vertical heat treatment apparatus of the present invention, FIG. 2 is a plan view of the vertical heat treatment apparatus shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a vertical heat treatment apparatus shown in FIG. It is a longitudinal section of a device. This heat treatment apparatus 10
A carrier transport area Sa, which is divided into front and rear by a partition wall 12 and in which a carrier (cassette), which is a storage container for accommodating a semiconductor wafer as an object to be processed, is loaded, unloaded, and stored, etc .; And a loading area Sb in which a carrier 20 is loaded and unloaded at the front portion of the outer casing 11. A loading / unloading stage 14 serving as an entry / exit port is provided. The carrier transport area Sa is maintained in an air atmosphere, and the loading area Sb is maintained in an air atmosphere or an inert gas atmosphere such as a nitrogen gas. 1 and 3, reference numeral 15 denotes a sensor mechanism for opening the cover 20A of the carrier 20 and detecting the position and the number of semiconductor wafers;
Is a shelf-shaped carrier storage unit for storing a plurality of carriers 20, and 17 aligns notches (notches) provided in a peripheral portion of a semiconductor wafer in one direction to align crystal directions. Notch alignment mechanism for

【0013】キャリア20は、所定の径、例えば直径3
00mmの半導体ウエハを水平状態で上下方向に所定の
間隔で多段に複数枚、例えば13〜25枚程度収容可能
とされたプラスチック製の容器からなり、その後面部に
開口するウエハ取出口(図示せず)を気密に塞ぐための
蓋20Aが着脱可能に設けられている。
The carrier 20 has a predetermined diameter, for example, a diameter 3
A plastic container capable of accommodating a plurality of, for example, about 13 to 25, semiconductor wafers of 00 mm in a horizontal direction at predetermined intervals in a vertical direction, is formed of a plastic container, and has a wafer outlet (not shown) opened at the rear surface thereof. ) Is removably provided with a lid 20A for hermetically closing the cover.

【0014】キャリア搬送エリアSaには、隔壁12に
近接して、キャリア20を載置するためのキャリア載置
部21が設けられており、図3に示すように、キャリア
載置部21は、処理能力(スループット)の向上を図る
ために、上下方向に複数個、例えば2つ設けられてお
り、これにより、一方のキャリア載置部21Aで半導体
ウエハの移載を行っている間に、他方のキャリア載置部
21Bでキャリア20の交換を行うことが可能とされて
いる。
In the carrier transport area Sa, a carrier mounting portion 21 for mounting the carrier 20 is provided close to the partition wall 12, and as shown in FIG. In order to improve the processing capacity (throughput), a plurality of, for example, two, are provided in the vertical direction. The carrier 20 can be exchanged at the carrier mounting portion 21B.

【0015】キャリア搬送エリアSaには、キャリア2
0を水平面内および上下方向に移動して、搬入出ステー
ジ14、キャリア保管部16、16およびキャリア載置
部21の3者の間でキャリア20の移し替えを行うため
の搬送機構であるキャリア搬送機構25が設けられてお
り、キャリア搬送機構25の下方の移動空間が、メンテ
ナンスを行うための作業用空間とされている。
A carrier 2 is provided in the carrier transport area Sa.
0 is moved in the horizontal plane and in the vertical direction, and the carrier transport is a transport mechanism for transferring the carrier 20 among the three members of the loading / unloading stage 14, the carrier storage sections 16, 16 and the carrier mounting section 21. A mechanism 25 is provided, and a moving space below the carrier transport mechanism 25 is a working space for performing maintenance.

【0016】キャリア搬送機構25は、外匣11の一側
面部に設けられた昇降ガイド25Aと、この昇降ガイド
25Aにより上下に昇降移動される昇降体である細長い
長方形の昇降アーム25Bと、この昇降アーム25Bに
水平面内において回動可能に設けられた搬送アーム25
Cとから構成されており、搬送アーム25Cは、図2に
示すように、第1アーム251と、この第1アーム25
1の先端部に水平面内で回動可能に設けられた第2アー
ム252とにより構成されている。
The carrier transport mechanism 25 includes an elevating guide 25A provided on one side surface of the outer casing 11, an elongated rectangular elevating arm 25B as an elevating body which is vertically moved by the elevating guide 25A, and an elevating arm 25B. A transfer arm 25 rotatably provided in the horizontal plane on the arm 25B
C, the transfer arm 25C includes a first arm 251 and the first arm 25, as shown in FIG.
And a second arm 252 provided at the front end of the first arm 252 so as to be rotatable in a horizontal plane.

【0017】隔壁12には、各々のキャリア載置部21
の高さ位置に対応して、キャリア搬送エリアSaとロー
ディングエリアSbとを連通させる開口部22が形成さ
れている。この開口部22は、キャリア20のウエハ取
出口とほぼ同口径とされている。また、隔壁12には、
ローディングエリアSb側から開口部22を閉鎖する扉
(図2における23)が設けられており、この扉23
は、ローディングエリアSbに設けられた扉開閉機構
(図示せず)により開閉される。更に、キャリア20の
蓋20Aを開閉する蓋開閉機構(図示せず)が設けられ
ており、これにより、扉23およびキャリア20の蓋2
0AがローディングエリアSb側に移動された上で、半
導体ウエハの移載の妨げにならないように上方または下
方へ退避される。
Each carrier mounting portion 21 is provided on the partition 12.
Corresponding to the height position, an opening 22 for communicating the carrier transport area Sa with the loading area Sb is formed. The opening 22 has substantially the same diameter as the wafer outlet of the carrier 20. In addition, the partition 12 has:
A door (23 in FIG. 2) for closing the opening 22 from the loading area Sb side is provided.
Is opened and closed by a door opening and closing mechanism (not shown) provided in the loading area Sb. Further, a lid opening / closing mechanism (not shown) for opening / closing the lid 20A of the carrier 20 is provided, whereby the door 23 and the lid 2 of the carrier 20 are provided.
After 0A is moved to the loading area Sb side, it is retracted upward or downward so as not to hinder transfer of the semiconductor wafer.

【0018】ローディングエリアSbの後部(図2にお
いて下部)には、上方に熱処理炉28が設けられている
と共に、上下方向に駆動されて、多数枚、例えば100
〜150枚程度の半導体ウエハを上下に所定間隔で多段
に保持する保持具である例えば石英製のウエハボート3
1A、31Bを熱処理炉28に搬入搬出するための昇降
機構であるボートエレベータ機構30がキャリア載置部
21に対向して設けられている。ボートエレベータ機構
30は、昇降ガイド32Aと、ウエハボート31A、3
1Bが載置されて昇降ガイド32Aにより上下に昇降移
動される昇降体である載置台32Bとにより構成されて
おり、載置台32Bは、ウエハボート31A、31Bと
共に熱処理炉28内に導入されて熱処理炉28の下端開
口28Aを塞ぐ蓋体として作用するものである。また、
熱処理炉28内に設けられた反応管(図示せず)の交換
等にも利用される。
At the rear of the loading area Sb (the lower part in FIG. 2), a heat treatment furnace 28 is provided above and is driven up and down to provide a large number of sheets, for example, 100 pieces.
A wafer boat 3 made of, for example, quartz, which is a holder for holding up to about 150 semiconductor wafers in predetermined stages at predetermined intervals.
A boat elevator mechanism 30, which is an elevating mechanism for loading and unloading 1 </ b> A and 31 </ b> B into and out of the heat treatment furnace 28, is provided to face the carrier mounting portion 21. The boat elevator mechanism 30 includes a lifting guide 32A, a wafer boat 31A,
1B is mounted on the mounting table 32B, which is an elevating body that is vertically moved by an elevating guide 32A. It functions as a lid closing the lower end opening 28A of the furnace 28. Also,
It is also used for exchanging a reaction tube (not shown) provided in the heat treatment furnace 28.

【0019】熱処理炉28の下端開口28Aの近傍に
は、熱処理後のウエハボートが熱処理炉28から搬出さ
れた際に下端開口28Aを遮蔽するシャッター33が設
けられており、このシャッター33は、シャッター駆動
機構34により上下に伸びる軸の周りに回動されて開閉
する構成とされている。
In the vicinity of the lower end opening 28A of the heat treatment furnace 28, a shutter 33 for shielding the lower end opening 28A when the wafer boat after the heat treatment is carried out of the heat treatment furnace 28 is provided. The drive mechanism 34 is configured to open and close by being rotated around an axis extending vertically.

【0020】ローディングエリアSbにおける外匣11
の一側面部には、半導体ウエハの移載等を行うためにウ
エハボート31A、31Bが載置されるボート載置部3
5が設けられており、このボート載置部35は、前後に
配置された第1載置部35Aと第2載置部35Bとを有
している。
Outer casing 11 in loading area Sb
On one side surface portion, a boat mounting portion 3 on which wafer boats 31A and 31B are mounted for transferring a semiconductor wafer or the like.
5 is provided, and the boat mounting portion 35 has a first mounting portion 35A and a second mounting portion 35B arranged in front and rear.

【0021】ローディングエリアSbには、ボート載置
部35の第1載置部35Aもしくは第2載置部35Bと
ボートエレベータ機構30における載置台32Bとの
間、および第1載置部35Aと第2載置部35Bとの間
でウエハボート31A、31Bの移載を行うボート移載
機構36が設けられている。
The loading area Sb is provided between the first mounting portion 35A or the second mounting portion 35B of the boat mounting portion 35 and the mounting table 32B of the boat elevator mechanism 30, and between the first mounting portion 35A and the first mounting portion 35A. A boat transfer mechanism 36 for transferring the wafer boats 31A and 31B to and from the two mounting portions 35B is provided.

【0022】ボート移載機構36は、水平面内において
回動可能および上下に昇降可能とされた第1アーム36
Aと、この第1アーム36Aの先端部に水平面内で回動
可能に設けられ、ウエハボート31A、31Bを垂直に
支持可能な平面略C字状の開口36Cを有する支持アー
ム36Bとにより構成されている。支持アーム36B
は、駆動されたときに開口36Cの中心が描く軌跡が、
第1アーム36Aの回動中心を含む状態で配置されてお
り、第1アーム36Aと支持アーム36Bとが同期して
回動されることにより、水平面内でウエハボート31
A、31Bの移載が行われる。
The boat transfer mechanism 36 has a first arm 36 rotatable in a horizontal plane and vertically movable up and down.
A and a support arm 36B provided at the distal end of the first arm 36A so as to be rotatable in a horizontal plane and having a substantially C-shaped opening 36C capable of vertically supporting the wafer boats 31A and 31B. ing. Support arm 36B
Is the locus drawn by the center of the opening 36C when driven,
The first arm 36A and the support arm 36B are arranged in a state including the center of rotation of the first arm 36A.
A and 31B are transferred.

【0023】最下位置にあるときのボート移載機構36
より上方のレベルには、ボート移載機構36の動作空間
領域と重複する動作空間領域を有し、キャリア載置部2
1上のキャリア20とボート載置部35上におけるウエ
ハボート31Bとの間で半導体ウエハの移載を行うため
の移載機構であるウエハ移載機構40が設けられてお
り、ウエハ移載機構40の下方の移動空間が作業用空間
とされている。
The boat transfer mechanism 36 at the lowest position
At an upper level, an operation space area overlapping with the operation space area of the boat transfer mechanism 36 is provided.
The wafer transfer mechanism 40 is a transfer mechanism for transferring semiconductor wafers between the carrier 20 on the carrier 1 and the wafer boat 31B on the boat mounting portion 35. The moving space below is a working space.

【0024】ウエハ移載機構40は、図2に示すよう
に、ボート移載機構36の動作空間領域の一部を介して
ボート載置部35の反対側の側面部に設けられた昇降ガ
イド41と、この昇降ガイド41により上下に昇降移動
されると共に、上下に伸びる回動中心軸421の周りに
回動可能とされた昇降体である旋回アーム42と、この
旋回アーム42の先端部に旋回アーム42の回動運動と
同期して水平面内で回転可能に設けられた細長い長方形
の移載ヘッド43と、この移載ヘッド43上にその長さ
方向に進退可能に設けられた、例えば2〜5枚の薄板フ
ォーク状の支持アーム44とにより構成されており、ウ
エハボート移載機構36によりウエハボートの移載が行
われるときには、互いに干渉することを防止するため
に、外匣11の他側面部における退避位置に退避可能と
されている。
As shown in FIG. 2, the wafer transfer mechanism 40 is provided with a lift guide 41 provided on a side surface of the boat transfer mechanism 36 opposite to the boat mounting portion 35 through a part of the operation space area of the boat transfer mechanism 36. And a pivoting arm 42 which is a lifting and lowering body which is vertically movable by the lifting and lowering guide 41 and is rotatable around a pivoting center axis 421 extending vertically, and pivots at the tip of the pivoting arm 42. An elongated rectangular transfer head 43 provided rotatably in a horizontal plane in synchronization with the rotational movement of the arm 42, and a transfer head 43 provided on the transfer head 43 so as to be able to advance and retreat in its length direction. When the transfer of the wafer boat is performed by the wafer boat transfer mechanism 36, the other side surface of the outer casing 11 is used to prevent the wafer boat from being interfered with each other. And it is retractable to the retracted position in the.

【0025】旋回アーム42には、例えばエアシリンダ
ーよりなる伸縮機構45が、一端が旋回アーム42の回
動中心軸421と異なる回転中心軸451に連結され、
他端が旋回アーム42の先端側部分における連結部46
に連結されて、その伸縮方向が旋回アーム42の長さ方
向に斜めに交差する状態で設けられており、この伸縮機
構45が伸縮することにより旋回アーム42が回動され
る。この伸縮機構45は、例えば195〜250mmの
範囲で伸縮するよう調整されており、これによりウエハ
移載機構40の動作空間領域が所定の範囲に設定される
と共に、旋回アーム42の方向制御あるいは角度状態の
制御を確実に行うことができる。
An extension mechanism 45, for example, an air cylinder, is connected to the pivot arm 42 at one end to a rotation center axis 451 different from the rotation center axis 421 of the pivot arm 42.
The other end is the connecting portion 46 at the tip side portion of the swing arm 42.
And the extending / contracting direction is obliquely intersected with the length direction of the turning arm 42, and the turning arm 42 is rotated by the expansion / contraction of the extending / contracting mechanism 45. The extension mechanism 45 is adjusted to extend and contract, for example, in the range of 195 to 250 mm, thereby setting the operation space area of the wafer transfer mechanism 40 to a predetermined range, and controlling the direction or the angle of the rotation arm 42. State control can be performed reliably.

【0026】上記の縦型熱処理装置10の動作は次のと
おりである。先ず、図示しない自動搬送ロボットあるい
はオペレータにより、外部からキャリア20が搬入出ス
テージ14に載置されると、キャリア20が搬入出口1
3から搬入され、センサ機構15によりキャリア20の
蓋が開けられてキャリア20内の半導体ウエハの位置お
よび枚数が検出された後、キャリア20は蓋20Aが閉
められた状態で、キャリア搬送機構25によりノッチ整
列機構に移載され、半導体ウエハの周縁部に設けられた
ノッチ(切欠部)が一方向に整列されてキャリア載置部
21に搬送される。また、熱処理の進行具合に応じて、
キャリア20はキャリア保管部16に一旦収納された
後、キャリア載置部21に搬送される。
The operation of the above vertical heat treatment apparatus 10 is as follows. First, when the carrier 20 is placed on the loading / unloading stage 14 from outside by an automatic transfer robot or an operator (not shown), the carrier 20 is moved into and out of the loading / unloading port 1.
3, the carrier 20 is opened by the sensor mechanism 15, and the position and the number of semiconductor wafers in the carrier 20 are detected. After that, the carrier 20 is moved by the carrier transport mechanism 25 with the lid 20A closed. The semiconductor wafer is transferred to the notch alignment mechanism, and the notch (notch) provided on the peripheral edge of the semiconductor wafer is aligned in one direction and transferred to the carrier mounting unit 21. Also, depending on the progress of the heat treatment,
After the carrier 20 is once stored in the carrier storage unit 16, it is transported to the carrier mounting unit 21.

【0027】キャリア載置部21上のキャリア20の蓋
20Aおよび隔壁12の開口部22の扉23が開放され
ると、ウエハ移載機構40により、具体的には、旋回ア
ーム42の回動動作、移載ヘッド43の回転動作および
支持アーム44の進退動作が制御された状態で行われる
ことにより、キャリア20内から半導体ウエハが取出さ
れ、ボート載置部35の第1載置部35A上で待機する
ウエハボート31Bに順次移載される。この間、ボート
移載機構36は、動作空間領域の下方位置に降下されて
退避しているため、ウエハ移載機構40がボート搬送機
構36と干渉することがない。
When the lid 20A of the carrier 20 on the carrier mounting part 21 and the door 23 of the opening 22 of the partition 12 are opened, the wafer transfer mechanism 40, specifically, the turning operation of the turning arm 42 The semiconductor wafer is taken out of the carrier 20 by performing the rotation operation of the transfer head 43 and the advance / retreat operation of the support arm 44 in a controlled manner, and the semiconductor wafer is taken out on the first mounting portion 35A of the boat mounting portion 35. The wafers are sequentially transferred to the waiting wafer boat 31B. During this time, since the boat transfer mechanism 36 is lowered to the position below the operation space area and retracted, the wafer transfer mechanism 40 does not interfere with the boat transfer mechanism 36.

【0028】キャリア載置部21上のキャリア20から
第1載置部35A上のウエハボート31Bへの半導体ウ
エハの移載が終了すると、ウエハ移載機構40は、その
動作空間領域から外匣11の他側面部における退避位置
に移行される。
When the transfer of the semiconductor wafer from the carrier 20 on the carrier receiver 21 to the wafer boat 31B on the first receiver 35A is completed, the wafer transfer mechanism 40 moves the outer casing 11 from its operation space area. To the retreat position on the other side.

【0029】この状態で、ボート載置部35の第1載置
部35A上の半導体ウエハを保持したウエハボートが、
ボート移載機構36によりボートエレベータ機構30に
おける載置台32B上に移載され、ボートエレベータ機
構30により載置台32Bと共に熱処理炉28内に導入
される。そして、ボート移載機構36は、その動作空間
領域の下方の退避位置に移動され、一方のウエハボート
が熱処理されるのと同時に、第1載置部35A上のウエ
ハボートについて半導体ウエハの移載が並行して行われ
る。熱処理終了後、載置台32Bの降下により熱処理後
のウエハボートが熱処理炉28内からローディングエリ
アSbに搬出され、熱処理炉28の下端開口28Aが、
シャッター33によって直ちに遮蔽される。
In this state, the wafer boat holding the semiconductor wafer on the first mounting portion 35A of the boat mounting portion 35 is
The boat is transferred onto the mounting table 32B of the boat elevator mechanism 30 by the boat transfer mechanism 36, and is introduced into the heat treatment furnace 28 together with the mounting table 32B by the boat elevator mechanism 30. Then, the boat transfer mechanism 36 is moved to the retreat position below the operation space area, and at the same time when one of the wafer boats is subjected to the heat treatment, the semiconductor wafer is transferred to the wafer boat on the first mounting portion 35A. Are performed in parallel. After the heat treatment, the wafer boat after the heat treatment is carried out from the inside of the heat treatment furnace 28 to the loading area Sb by lowering the mounting table 32B, and the lower end opening 28A of the heat treatment furnace 28 is
It is immediately shielded by the shutter 33.

【0030】熱処理後のウエハボートが搬出されると、
ボート移載機構36により先ず第1載置部35A上に待
機している熱処理前のウエハボート31Bが第2載置部
35Bに移載され、次に熱処理後のウエハボート31A
が載置台32B上から第1載置部35Aに移載され、最
後に第2載置部35B上のウエハボート31Bが載置台
32B上に移載される。そして、ウエハ移載機構40に
より熱処理後のウエハボート31Aから半導体ウエハが
取り出されてキャリア載置部21上のキャリア20に装
填され、キャリア搬送機構25により搬送されて搬入出
口13から搬出される。
When the wafer boat after the heat treatment is carried out,
First, the wafer boat 31B before the heat treatment waiting on the first mounting portion 35A is transferred to the second mounting portion 35B by the boat transfer mechanism 36, and then the wafer boat 31A after the heat treatment.
Is transferred from the mounting table 32B to the first mounting section 35A, and finally, the wafer boat 31B on the second mounting section 35B is transferred to the mounting table 32B. Then, the semiconductor wafer is taken out from the wafer boat 31A after the heat treatment by the wafer transfer mechanism 40, is loaded on the carrier 20 on the carrier mounting portion 21, is carried by the carrier carrying mechanism 25, and is carried out from the carry-in / out port 13.

【0031】そして、本発明の縦型熱処理装置10にお
いては、キャリア搬送機構25、エレベータ機構30お
よびウエハ移載機構40における少なくとも一の昇降体
に安全装置が設けられているが、実際上、キャリア搬送
機構25、エレベータ機構30およびウエハ移載機構4
0の各々に安全装置が設けられていることが好ましい。
キャリア搬送機構25においては、図4に示すように、
昇降アーム25Bの下部に、その下面全域を覆う状態で
上下方向に変位可能に設けられた板状部材(セフティー
アーム)51と、この板状部材51が上方に変位したと
きに投入されるスイッチ52とにより構成された検知手
段を有する安全装置50が設けられている。
In the vertical heat treatment apparatus 10 of the present invention, at least one elevating member in the carrier transport mechanism 25, the elevator mechanism 30, and the wafer transfer mechanism 40 is provided with a safety device. Transport mechanism 25, elevator mechanism 30, and wafer transfer mechanism 4
Preferably, a safety device is provided for each of the zeros.
In the carrier transport mechanism 25, as shown in FIG.
A plate-like member (safety arm) 51 provided below the lifting arm 25B so as to be vertically displaceable so as to cover the entire lower surface thereof, and a switch 52 which is turned on when the plate-like member 51 is displaced upward. And a safety device 50 having detection means constituted by the following.

【0032】具体的に説明すると、安全装置の板状部材
51は、その両側縁における立ち上がり部分51Aの各
々の両端に形成された長穴53が、昇降アーム25Bの
幅方向(紙面に対して垂直方向)に伸びる、長穴53よ
り若干小さい径のピン54により、上下方向以外の方向
に対して変位が規制されない緩い状態で、上下方向に変
位可能に軸支されている。板状部材51には、スイッチ
52に向かって上方に伸びる押圧手段55が設けられて
おり、これにより、板状部材51が上方に変位したとき
にスイッチ52が投入される。
More specifically, in the plate member 51 of the safety device, the elongated holes 53 formed at both ends of the rising portions 51A on both side edges thereof are formed in the width direction of the lifting arm 25B (perpendicular to the paper surface). The pin 54 has a diameter slightly smaller than the elongated hole 53 and extends in the vertical direction in a loose state in which the displacement is not restricted in directions other than the vertical direction. The plate member 51 is provided with a pressing means 55 extending upward toward the switch 52, whereby the switch 52 is turned on when the plate member 51 is displaced upward.

【0033】検知手段におけるスイッチ52は、複数個
設けられており、板状部材51のいずれかの位置が局所
的に変位したときに、いずれか一のスイッチ52が投入
される状態とされており、具体的には、昇降アーム25
Bの長さ方向における基端部と先端部とにそれぞれ1つ
ずつ合計2つのスイッチ52が設けられている。スイッ
チ52は、板状部材51が例えば2mm程度変位するこ
とにより投入されるものとされている。
A plurality of switches 52 in the detecting means are provided, and when any position of the plate member 51 is locally displaced, one of the switches 52 is turned on. Specifically, the lifting arm 25
A total of two switches 52 are provided, one at the base end and one at the tip in the length direction of B. The switch 52 is turned on when the plate member 51 is displaced by, for example, about 2 mm.

【0034】この安全装置50には、板状部材51の変
位を検知して安全装置50を作動させる検知手段の他
に、さらに、板状部材51の下面に、光照射部57と受
光部58とが互いに対向して設けられて構成された光学
センサよりなる光学的検知手段が設けられており、光照
射部57からの光が遮光されることにより昇降アーム2
5Bの下方の移動空間にある干渉物を検知して、これに
より安全装置50を作動させる構成とされている。
The safety device 50 has a light irradiating section 57 and a light receiving section 58 on the lower surface of the plate member 51, in addition to detecting means for detecting the displacement of the plate member 51 and operating the safety device 50. And an optical detecting means including an optical sensor configured to be opposed to each other.
An interference object in the moving space below 5B is detected, and the safety device 50 is thereby operated.

【0035】また、ボートエレベータ機構30には、図
5に示すように、載置台32Bの下部に安全装置50が
設けられていることが好ましい。安全装置50の基本的
な構成は、キャリア搬送機構25の昇降アーム25Bの
下部に設けられたものと同様とされており、例えば昇降
ガイド32A側の基端部と先端部とにそれぞれ1つずつ
合計2つのスイッチ52が設けられている。同図におい
て、51Bは、ピン54により支持される支持部分であ
る。また、ウエハ移載機構40においても、図6に示す
ように、旋回アーム42の下部に安全装置50が設けら
れていることが好ましく、例えば一側面部における基端
部と他側面部における先端部とにそれぞれ1つずつ合計
2つのスイッチ52が設けられている。
As shown in FIG. 5, the boat elevator mechanism 30 is preferably provided with a safety device 50 below the mounting table 32B. The basic configuration of the safety device 50 is the same as that provided under the lifting arm 25B of the carrier transport mechanism 25. For example, one at the base end and one at the tip end of the lifting guide 32A. A total of two switches 52 are provided. In the drawing, reference numeral 51B denotes a support portion supported by the pin 54. Also in the wafer transfer mechanism 40, as shown in FIG. 6, it is preferable that a safety device 50 is provided below the turning arm 42, for example, a base end on one side and a tip on the other side. And a total of two switches 52 are provided, one for each.

【0036】以上のような縦型熱処理装置10によれ
ば、装置のメンテナンスを行っているときに、装置の誤
作動あるいは人為的なミス等の発生などの何らかの原因
により、作業用空間に作業員がいるにもかかわらず、キ
ャリア搬送機構25における昇降アーム25B、ボート
エレベータ機構30における載置台32B、あるいはウ
エハ移載機構40における旋回アーム42などの上下方
向に昇降移動される昇降体が降下されてしまった場合で
あっても、作業員の身体の一部が下方から接触して板状
部材51が上方に変位することにより安全装置50が作
動されて、昇降体が直ちに停止される。具体的には、板
状部材51が上方に変位することによりスイッチ52が
投入されて、適宜の遮断スイッチにより装置の電源が遮
断されることにより、あるいは昇降用モータのスイッチ
が切れることにより、昇降体が停止される。その結果、
作業員がこれらの昇降体に挟まれる等の事故の発生を確
実に防止することができ、装置のメンテナンスを安全に
行うことができる。
According to the vertical heat treatment apparatus 10 as described above, during maintenance of the apparatus, the worker may not be able to enter the working space due to some cause such as malfunction of the apparatus or occurrence of human error. Despite this, the vertically movable body such as the lifting arm 25B in the carrier transport mechanism 25, the mounting table 32B in the boat elevator mechanism 30, or the turning arm 42 in the wafer transfer mechanism 40 is lowered. Even in the case of a failure, a part of the body of the worker comes in contact from below and the plate-shaped member 51 is displaced upward, whereby the safety device 50 is operated and the elevating body is immediately stopped. Specifically, the switch 52 is turned on when the plate member 51 is displaced upward, and the power of the apparatus is cut off by an appropriate cutoff switch, or the switch of the lift motor is turned off, so that The body is stopped. as a result,
It is possible to reliably prevent the occurrence of an accident such as a worker being pinched by these elevating bodies, and to perform maintenance of the apparatus safely.

【0037】また、安全装置50における検知手段が、
板状部材51とスイッチ52とにより構成されているこ
とにより、板状部材51の全体がスイッチ52により感
知可能な領域となるので、作業員に接触しうる昇降体の
下面領域を広範囲にわたって検知することができ、確実
に事故の発生を防止することができる。板状部材51
が、当該板状部材51における長穴53より若干小さい
径のピンにより軸支されているので、干渉物が板状部材
51の全面ではなく、局所的に接触したときでも、板状
部材51を傾いた状態で上方に変位させることができ、
安全装置50を確実に作動させることができる。
The detecting means in the safety device 50 is as follows:
Since the plate-shaped member 51 is constituted by the switch 52 and the whole of the plate-shaped member 51 becomes an area that can be detected by the switch 52, the lower surface area of the elevating body that can come into contact with the worker is detected over a wide range. It is possible to reliably prevent the occurrence of an accident. Plate member 51
Is supported by a pin having a diameter slightly smaller than the elongated hole 53 in the plate-shaped member 51, so that even when the interfering object is not in contact with the entire surface of the plate-shaped member 51 but is locally contacted, the plate-shaped member 51 It can be displaced upward in a tilted state,
The safety device 50 can be operated reliably.

【0038】また、スイッチ52が、板状部材51のい
ずれかの位置が局所的に変位したときに、スイッチ52
のいずれか一が作動する状態で複数個並列に設けられて
いることにより、一層確実に事故の発生を防止すること
ができる。
When any position of the plate member 51 is locally displaced, the switch 52
By providing a plurality in parallel in a state where any one of them operates, it is possible to more reliably prevent the occurrence of an accident.

【0039】また、板状部材51の変位を検知する検知
手段と光学的検知手段とによって、昇降体の下方の移動
空間にある干渉物について二重の検知を行うことができ
るので、一層確実に事故の発生を防止することができ
る。
Further, the detecting means for detecting the displacement of the plate-like member 51 and the optical detecting means can perform double detection of the interference in the moving space below the elevating body, so that the detection can be performed more reliably. Accidents can be prevented.

【0040】以上、本発明の実施の形態について説明し
たが、本発明は上記の態様に限定されるものではなく、
例えば以下に示すような種々の変更を加えることができ
る。 (1)安全装置における起動スイッチの数および配置位
置は、板状部材のいずれの位置が押圧されても、起動ス
イッチのいずれか一が作動されるように構成されていさ
えすれば、特に制限されるものではい。 (2)安全装置における板状部材の取り付け方法(支持
方法)は、上下方向に変位可能に設けられていれば、特
に限定されるものではなく、例えば、板状部材が吊り下
げられた状態で設けられていてもよい。 (3)板状部材は、昇降体の下部に分割された状態(例
えば海島構造)で設けられた構成としてもよいし、一部
分に設けられた構成であってもよいが、実際上は、昇降
体の下面全域を覆う状態で設けられていることが好まし
い。 (4)ボートエレベータ機構およびウエハ移載機構に設
けられる安全装置についても、光学的検知手段を備えた
ものとすることができる。
Although the embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above embodiment.
For example, various changes as described below can be made. (1) The number and arrangement positions of the start switches in the safety device are particularly limited as long as any one of the start switches is configured to be operated regardless of which position of the plate-shaped member is pressed. Not something. (2) The mounting method (supporting method) of the plate-shaped member in the safety device is not particularly limited as long as the plate-shaped member is provided so as to be vertically displaceable. For example, in a state where the plate-shaped member is suspended. It may be provided. (3) The plate-shaped member may be provided in a state of being divided (for example, a sea-island structure) below the elevating body, or may be provided in a part thereof. It is preferably provided so as to cover the entire lower surface of the body. (4) The safety devices provided in the boat elevator mechanism and the wafer transfer mechanism can also be provided with optical detection means.

【0041】[0041]

【発明の効果】本発明の縦型熱処理装置によれば、昇降
体がその下方空間にある障害物に接触して下方から押圧
されることにより、安全装置が作動して直ちに停止され
るので、事故の発生を確実に防止することができ、装置
のメンテナンスを安全に行うことができる。
According to the vertical heat treatment apparatus of the present invention, the safety device is actuated and stopped immediately because the elevating body comes into contact with the obstacle in the lower space and is pressed from below. An accident can be reliably prevented, and the maintenance of the device can be performed safely.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の縦型熱処理装置の概略的な構成の一例
を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing an example of a schematic configuration of a vertical heat treatment apparatus of the present invention.

【図2】図1に示す縦型熱処理装置の平面図である。FIG. 2 is a plan view of the vertical heat treatment apparatus shown in FIG.

【図3】図1に示す縦型熱処理装置の縦断面図である。FIG. 3 is a vertical sectional view of the vertical heat treatment apparatus shown in FIG.

【図4】キャリア搬送機構における昇降アームの概略的
な構成の一例を示す縦断面図である。
FIG. 4 is a longitudinal sectional view illustrating an example of a schematic configuration of a lifting arm in the carrier transport mechanism.

【図5】ボートエレベータ機構における載置台の概略的
な構成の一例を示す縦断面図である。
FIG. 5 is a longitudinal sectional view showing an example of a schematic configuration of a mounting table in the boat elevator mechanism.

【図6】ウエハ移載機構における旋回アームの概略的な
構成の一例を示す縦断面図である。
FIG. 6 is a longitudinal sectional view showing an example of a schematic configuration of a turning arm in the wafer transfer mechanism.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 熱処理装置 11 外匣 12 隔壁 13 搬入出口 14 搬入出ステージ 15 センサ機構 16 キャリア保管部 17 ノッチ整列機構 Sa キャリア搬送エリア Sb ローディングエリア 20 キャリア 20A 蓋 21 キャリア載置部 22 開口部 23 扉 25 キャリア搬送機構 25A 昇降ガイド 25B 昇降アーム 25C 搬送アーム 251 第1アーム 252 第2アーム 28 熱処理炉 28A 下端開口 30 ボートエレベータ機構 31A、31B ウエハボート 32A 昇降ガイド 32B 載置台 33 シャッター 34 シャッター駆動機構 35 ボート載置部 35A 第1載置部 35B 第2載置部 36 ボート移載機構 36A 第1アーム 36C 開口 36B 支持アーム 40 ウエハ移載機構 41 昇降ガイド 42 旋回アーム 421 旋回アームの回動中心軸 43 移載ヘッド 431 移載ヘッドの回動中心軸 44 支持アーム 45 伸縮機構 46 連結部 50 安全装置 51 板状部材(セフティアーム) 51A 折り返し部分 51B 支持部分 52 スイッチ 53 長穴 54 ピン 55 押圧手段 57 光照射部 58 受光部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Heat treatment apparatus 11 Outer casing 12 Partition wall 13 Loading / unloading 14 Loading / unloading stage 15 Sensor mechanism 16 Carrier storage part 17 Notch alignment mechanism Sa Carrier transport area Sb Loading area 20 Carrier 20A Cover 21 Carrier mounting part 22 Opening 23 Door 25 Carrier transport Mechanism 25A Lifting guide 25B Lifting arm 25C Transfer arm 251 First arm 252 Second arm 28 Heat treatment furnace 28A Lower end opening 30 Boat elevator mechanism 31A, 31B Wafer boat 32A Lifting guide 32B Mounting table 33 Shutter 34 Shutter drive mechanism 35 Boat mounting section 35A first mounting portion 35B second mounting portion 36 boat transfer mechanism 36A first arm 36C opening 36B support arm 40 wafer transfer mechanism 41 elevating guide 42 swivel arm 421 swivel arm Rotation axis of the arm 43 transfer head 431 rotation axis of the transfer head 44 support arm 45 extension mechanism 46 connecting part 50 safety device 51 plate member (safety arm) 51A folded part 51B support part 52 switch 53 length Hole 54 Pin 55 Pressing means 57 Light irradiation part 58 Light receiving part

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5F031 CA02 DA17 FA01 FA03 FA11 FA15 GA36 GA43 GA48 HA67 JA05 JA08 JA17 JA22 KA14 MA02 MA28 MA30 NA04 NA10 PA06 PA30 5F045 AA20 AB32 BB20 DP19 EB09 EM10 EN04 EN05 GB15  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 5F031 CA02 DA17 FA01 FA03 FA11 FA15 GA36 GA43 GA48 HA67 JA05 JA08 JA17 JA22 KA14 MA02 MA28 MA30 NA04 NA10 PA06 PA30 5F045 AA20 AB32 BB20 DP19 EB09 EM10 EN04 EN05 GB15

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被処理体を収納した収納容器を搬送する
搬送エリアと、被処理体の移し替えを行うローディング
エリアとが隔壁により区画され、搬送エリアには、収納
容器を水平方向および上下方向に移動する搬送機構が配
置されると共に、ローディングエリアには、複数の被処
理体を保持する保持具と収納容器との間で被処理体の移
し替えを行う移載機構と、上下方向に駆動されて保持具
を熱処理炉に搬入搬出する昇降機構とが配置されてお
り、前記搬送機構、移載機構および昇降機構における少
なくとも一の昇降体の下方の移動空間がメンテナンスを
行うための作業用空間とされた縦型熱処理装置におい
て、 当該昇降体の下部に、当該昇降体の下方の移動空間にあ
る干渉物を検知する検知手段を有する安全装置が設けら
れていることを特徴とする縦型熱処理装置。
1. A transport area for transporting a storage container storing an object to be processed and a loading area for transferring the object to be processed are partitioned by a partition wall. A transfer mechanism for moving the workpieces between a holder for holding a plurality of workpieces and a storage container is provided in the loading area. A lifting / lowering mechanism for loading / unloading the holding tool into / from the heat treatment furnace, and a moving space below at least one lifting / lowering body in the transfer mechanism, the transfer mechanism, and the lifting / lowering mechanism is a working space for performing maintenance. In the vertical heat treatment apparatus, a safety device having detection means for detecting an interfering object in a moving space below the elevating body is provided below the elevating body. Vertical heat treatment apparatus to be.
【請求項2】 検知手段は、昇降体の下面を覆う状態で
上下に変位可能に設けられた板状部材と、この板状部材
が上方に変位したことを検知するスイッチとにより構成
されていることを特徴とする請求項1に記載の縦型熱処
理装置。
2. The detecting means includes a plate-shaped member provided to be vertically displaceable while covering the lower surface of the elevating body, and a switch for detecting that the plate-shaped member has been displaced upward. The vertical heat treatment apparatus according to claim 1, wherein:
【請求項3】 検知手段は、スイッチを複数個備えてお
り、板状部材のいずれかの位置が局所的に変位したとき
に、いずれか一のスイッチが投入されるものであること
を特徴とする請求項1または請求項2に記載の縦型熱処
理装置。
3. The detecting means includes a plurality of switches, and when any one of the plate members is locally displaced, any one of the switches is turned on. The vertical heat treatment apparatus according to claim 1 or 2, wherein
【請求項4】 安全装置は、請求項2または請求項3に
記載の検知手段の他に、さらに光学センサにより昇降体
の下方の移動空間にある干渉物を検知する光学的検知手
段を備えたものであることを特徴とする請求項1乃至請
求項3のいずれかに記載の縦型熱処理装置。
4. The safety device further comprises, in addition to the detecting means according to claim 2 or 3, an optical detecting means for detecting an obstacle in a moving space below the elevating body by an optical sensor. The vertical heat treatment apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the apparatus is a vertical heat treatment apparatus.
JP2001004970A 2001-01-12 2001-01-12 Vertical heat treatment equipment Withdrawn JP2002208622A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001004970A JP2002208622A (en) 2001-01-12 2001-01-12 Vertical heat treatment equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001004970A JP2002208622A (en) 2001-01-12 2001-01-12 Vertical heat treatment equipment

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002208622A true JP2002208622A (en) 2002-07-26

Family

ID=18873076

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001004970A Withdrawn JP2002208622A (en) 2001-01-12 2001-01-12 Vertical heat treatment equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002208622A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007208182A (en) * 2006-02-06 2007-08-16 Tokyo Electron Ltd Exchanging method and program for processing apparatus in processor
JP2008160076A (en) * 2006-11-27 2008-07-10 Hitachi Kokusai Electric Inc Substrate processing apparatus and method of manufacturing semiconductor device
US8128333B2 (en) 2006-11-27 2012-03-06 Hitachi Kokusai Electric Inc. Substrate processing apparatus and manufacturing method for semiconductor devices

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007208182A (en) * 2006-02-06 2007-08-16 Tokyo Electron Ltd Exchanging method and program for processing apparatus in processor
JP4513102B2 (en) * 2006-02-06 2010-07-28 東京エレクトロン株式会社 Method and program for replacing processing equipment in processing apparatus
JP2008160076A (en) * 2006-11-27 2008-07-10 Hitachi Kokusai Electric Inc Substrate processing apparatus and method of manufacturing semiconductor device
US8128333B2 (en) 2006-11-27 2012-03-06 Hitachi Kokusai Electric Inc. Substrate processing apparatus and manufacturing method for semiconductor devices

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3664897B2 (en) Vertical heat treatment equipment
KR0139029B1 (en) Vertical heat treatment apparatus having boat transfer mechanism
KR100572910B1 (en) Port structure in semiconductor processing system
US5055036A (en) Method of loading and unloading wafer boat
JP4688637B2 (en) Substrate processing apparatus, batch knitting apparatus, batch knitting method, and batch knitting program
US6799586B2 (en) Substrate processing method
KR100980961B1 (en) Vertical heat treatment equipment and method for transferring object to be treated
WO2005093821A1 (en) Vertical heat treating apparatus and automatic teaching method for transfer mechanism
KR20070095208A (en) Vertical heat treating apparatus and control method for transfer mechanism of vertical heat treating apparatus
US4955775A (en) Semiconductor wafer treating apparatus
KR20070095209A (en) Vertical heat treating apparatus and control method for transfer mechanism of vertical heat treating apparatus
JP2002208622A (en) Vertical heat treatment equipment
JP4048074B2 (en) Processing equipment
JPH1187460A (en) Apparatus for feeding substrate-housing vessel
KR100947135B1 (en) Vertical heat treating apparatus and automatic teaching method for transfer mechanism
JPH1131729A (en) Substrate housing vessel supply device
JP3273694B2 (en) Processing device and processing method
JP2000340631A (en) Truck for wafer transfer
JPH07183359A (en) Substrate carrier
JP2002299421A (en) Notch alignment method and mechanism and semiconductor manufacturing apparatus
JP2003092330A (en) Heat treatment apparatus and method therefor
KR102553073B1 (en) Substrate cleaning device and substrate cleaning method
JP4670863B2 (en) Heat treatment apparatus, heat treatment method, and storage medium
JP4495825B2 (en) Semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor manufacturing method
KR0159528B1 (en) Method of loading and unloading wafer boat in vertical heat treatment apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20080401