JP2002190142A - 光情報媒体 - Google Patents
光情報媒体Info
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- JP2002190142A JP2002190142A JP2000387558A JP2000387558A JP2002190142A JP 2002190142 A JP2002190142 A JP 2002190142A JP 2000387558 A JP2000387558 A JP 2000387558A JP 2000387558 A JP2000387558 A JP 2000387558A JP 2002190142 A JP2002190142 A JP 2002190142A
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- JP
- Japan
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- optical information
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- track pitch
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- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 一般的に市販されている回折光装置で測定が
困難なトラックピッチを有する光情報媒体の生産をする
際、光情報媒体自体の性能に悪影響を与えること無く、
基板作成用スタンパおよび成形基板の溝形状を、既存の
回折光装置で測定・評価することのできる光情報媒体を
提供すること。 【解決手段】 予め案内溝または情報ピットが形成され
ている基板上に、必要に応じて光吸収記録層、反射層、
保護層を順次積層させた光情報媒体において、前記光情
報媒体に、ユーザーが使用する使用領域部と、前記使用
領域部以外のダミー領域部とを設け、かつ、前記使用領
域部の案内溝または情報ピットのトラックピッチが前記
ダミー領域部の案内溝または情報ピットのトラックピッ
チと異なることを特徴とする光情報媒体。
困難なトラックピッチを有する光情報媒体の生産をする
際、光情報媒体自体の性能に悪影響を与えること無く、
基板作成用スタンパおよび成形基板の溝形状を、既存の
回折光装置で測定・評価することのできる光情報媒体を
提供すること。 【解決手段】 予め案内溝または情報ピットが形成され
ている基板上に、必要に応じて光吸収記録層、反射層、
保護層を順次積層させた光情報媒体において、前記光情
報媒体に、ユーザーが使用する使用領域部と、前記使用
領域部以外のダミー領域部とを設け、かつ、前記使用領
域部の案内溝または情報ピットのトラックピッチが前記
ダミー領域部の案内溝または情報ピットのトラックピッ
チと異なることを特徴とする光情報媒体。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光情報媒体に関す
るものであり、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、
ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−
ＲＡＭ等に応用可能な光情報媒体に関するものである。
るものであり、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、
ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−
ＲＡＭ等に応用可能な光情報媒体に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光情報媒体は、ＣＤ（コンパクトディス
ク）に代表されるように広く世の中に普及している。ま
た、近年追記型ＣＤ（CD-Recordable)の開発が盛んに行
われ、急激な勢いで広まっている。これは、市販ライタ
ーおよび光情報媒体の低価格化や、市販ライターを用い
てユーザーが好きなデータを多量に書き込むことがで
き、また、記録した光情報媒体は、既に一般に広まって
いるＣＤプレーヤーで再生することが可能であるためで
ある。そこで光情報媒体は、ライター、ＣＤプレーヤー
に対して高い互換性を持たなければならず、そのため、
未記録および記録特性でＣＤ規格を全て満たす必要があ
る。光情報媒体の容量は、線速度、トラックピッチによ
って殆ど決定される。また、トラックピッチは光情報媒
体の特性を変える要素でもあり、光情報媒体は、用途お
よび特性によってトラックピッチを変えることがある。
ク）に代表されるように広く世の中に普及している。ま
た、近年追記型ＣＤ（CD-Recordable)の開発が盛んに行
われ、急激な勢いで広まっている。これは、市販ライタ
ーおよび光情報媒体の低価格化や、市販ライターを用い
てユーザーが好きなデータを多量に書き込むことがで
き、また、記録した光情報媒体は、既に一般に広まって
いるＣＤプレーヤーで再生することが可能であるためで
ある。そこで光情報媒体は、ライター、ＣＤプレーヤー
に対して高い互換性を持たなければならず、そのため、
未記録および記録特性でＣＤ規格を全て満たす必要があ
る。光情報媒体の容量は、線速度、トラックピッチによ
って殆ど決定される。また、トラックピッチは光情報媒
体の特性を変える要素でもあり、光情報媒体は、用途お
よび特性によってトラックピッチを変えることがある。
【０００３】光情報媒体を製作する際、重要な項目とな
るのが、スタンパおよび成形基板の溝形状である。この
溝形状は、ディスクの信号特性に大きな影響を与える。
成形基板を作成するためのスタンパおよび成形基板の溝
形状を検査する時に使用される検査機器には、通常、回
折光装置が用いられる。これは、検査が容易で短時間で
の測定ができ、測定対象物に対して非破壊で検査できる
ためである。回折光測定装置は、検査対象物に光を入射
させて、その回折光である０次、１次、２次光を検出し
て、算出することで溝形状を測定する。
るのが、スタンパおよび成形基板の溝形状である。この
溝形状は、ディスクの信号特性に大きな影響を与える。
成形基板を作成するためのスタンパおよび成形基板の溝
形状を検査する時に使用される検査機器には、通常、回
折光装置が用いられる。これは、検査が容易で短時間で
の測定ができ、測定対象物に対して非破壊で検査できる
ためである。回折光測定装置は、検査対象物に光を入射
させて、その回折光である０次、１次、２次光を検出し
て、算出することで溝形状を測定する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、回折光
で導き出される溝形状は、案内溝または情報ピットのト
ラックピッチに依存してしまうという問題点がある。さ
らに、トラックピッチの大きさが例えば規格外に変更さ
れた場合、一般的に市販されている回折光装置では、回
折される光を受け取れなくなり、正確に溝形状を測定す
ることができないという問題点がある。したがって本発
明の目的は、一般的に市販されている回折光装置で測定
が困難なトラックピッチを有する光情報媒体の生産をす
る際、基板作成用スタンパおよび成形基板の溝形状を、
既存の回折光装置で測定・評価することのできる光情報
媒体を提供することにある。また本発明の別の目的は、
生産された光情報媒体に問題部分が発生したときに、そ
の部分に対応する基板作成用スタンパまたは成形基板の
問題部分の位置・方向を容易に特定可能となる光情報媒
体を提供することにある。
で導き出される溝形状は、案内溝または情報ピットのト
ラックピッチに依存してしまうという問題点がある。さ
らに、トラックピッチの大きさが例えば規格外に変更さ
れた場合、一般的に市販されている回折光装置では、回
折される光を受け取れなくなり、正確に溝形状を測定す
ることができないという問題点がある。したがって本発
明の目的は、一般的に市販されている回折光装置で測定
が困難なトラックピッチを有する光情報媒体の生産をす
る際、基板作成用スタンパおよび成形基板の溝形状を、
既存の回折光装置で測定・評価することのできる光情報
媒体を提供することにある。また本発明の別の目的は、
生産された光情報媒体に問題部分が発生したときに、そ
の部分に対応する基板作成用スタンパまたは成形基板の
問題部分の位置・方向を容易に特定可能となる光情報媒
体を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明は、予め
案内溝または情報ピットが形成されている基板上に、必
要に応じて光吸収記録層、反射層、保護層を順次積層さ
せた光情報媒体において、前記光情報媒体に、ユーザー
が使用する使用領域部と、前記使用領域部以外のダミー
領域部とを設け、かつ、前記使用領域部の案内溝または
情報ピットのトラックピッチが前記ダミー領域部の案内
溝または情報ピットのトラックピッチと異なることを特
徴とする光情報媒体である。請求項２の発明は、前記使
用領域部の案内溝または情報ピットのトラックピッチ
（Ａ）と前記ダミー領域部の案内溝または情報ピットの
トラックピッチ（Ｂ）との関係が、下記数式を満たすこ
とを特徴とする請求項１に記載の光情報媒体である。 ０．９＜（Ａ／Ｂ）＜１．１ 請求項３の発明は、前記ダミー領域部を、円盤状の光情
報媒体の最内周部と最外周部の２個所に設けることを特
徴とする請求項１に記載の光情報媒体である。請求項４
の発明は、前記光情報媒体の最内周部と最外周部の２個
所に設けたダミー領域部の半径方向の大きさが、１ｍｍ
以上３ｍｍ以下であることを特徴とする請求項３に記載
の光情報媒体である。請求項５の発明は、前記ダミー領
域部の一部に凹部または凸部を設けたことを特徴とする
請求項１ないし４のいずれか１項に記載の光情報媒体で
ある。請求項６の発明は、前記凹部または凸部の面積
が、１０μｍ２以上３ｍｍ２以下であることを特徴とす
る請求項５に記載の光情報媒体である。
案内溝または情報ピットが形成されている基板上に、必
要に応じて光吸収記録層、反射層、保護層を順次積層さ
せた光情報媒体において、前記光情報媒体に、ユーザー
が使用する使用領域部と、前記使用領域部以外のダミー
領域部とを設け、かつ、前記使用領域部の案内溝または
情報ピットのトラックピッチが前記ダミー領域部の案内
溝または情報ピットのトラックピッチと異なることを特
徴とする光情報媒体である。請求項２の発明は、前記使
用領域部の案内溝または情報ピットのトラックピッチ
（Ａ）と前記ダミー領域部の案内溝または情報ピットの
トラックピッチ（Ｂ）との関係が、下記数式を満たすこ
とを特徴とする請求項１に記載の光情報媒体である。 ０．９＜（Ａ／Ｂ）＜１．１ 請求項３の発明は、前記ダミー領域部を、円盤状の光情
報媒体の最内周部と最外周部の２個所に設けることを特
徴とする請求項１に記載の光情報媒体である。請求項４
の発明は、前記光情報媒体の最内周部と最外周部の２個
所に設けたダミー領域部の半径方向の大きさが、１ｍｍ
以上３ｍｍ以下であることを特徴とする請求項３に記載
の光情報媒体である。請求項５の発明は、前記ダミー領
域部の一部に凹部または凸部を設けたことを特徴とする
請求項１ないし４のいずれか１項に記載の光情報媒体で
ある。請求項６の発明は、前記凹部または凸部の面積
が、１０μｍ２以上３ｍｍ２以下であることを特徴とす
る請求項５に記載の光情報媒体である。
【０００６】
【発明の実施の形態】基板作成用スタンパおよび成形基
板を管理する時、重要な項目となるのが、案内溝または
情報ピットの溝形状である。一般に、その評価を行なう
装置に使われるのが回折光装置である。この評価装置
は、測定対象物に光を入射して回折された光を検出し
て、算出により溝形状を導き出す。しかしながら、前述
したように、回折光装置による分析では、トラックピッ
チが変わると、同じ溝形状だとしても異なる結果が得ら
れてしまうという問題点がある。とくに、同じ光情報媒
体内でトラックピッチが異なる場合には、問題となる。
また、スタンパを作成する方法は、まず、フォトレジス
トをガラス板に均一に塗布し、レーザー光を照射するこ
とによって、フォトレジストが感光し、案内溝または情
報ピットをもった原盤が作成され、その原盤より、電鋳
プロセスを経てスタンパが作成される。その際、溝形状
は、フォトレジストの厚さと露光する時のレーザーパワ
ーで決まる。つまり、同じレーザーパワーで露光して形
成される溝形状は、トラックピッチには影響を受けな
い。
板を管理する時、重要な項目となるのが、案内溝または
情報ピットの溝形状である。一般に、その評価を行なう
装置に使われるのが回折光装置である。この評価装置
は、測定対象物に光を入射して回折された光を検出し
て、算出により溝形状を導き出す。しかしながら、前述
したように、回折光装置による分析では、トラックピッ
チが変わると、同じ溝形状だとしても異なる結果が得ら
れてしまうという問題点がある。とくに、同じ光情報媒
体内でトラックピッチが異なる場合には、問題となる。
また、スタンパを作成する方法は、まず、フォトレジス
トをガラス板に均一に塗布し、レーザー光を照射するこ
とによって、フォトレジストが感光し、案内溝または情
報ピットをもった原盤が作成され、その原盤より、電鋳
プロセスを経てスタンパが作成される。その際、溝形状
は、フォトレジストの厚さと露光する時のレーザーパワ
ーで決まる。つまり、同じレーザーパワーで露光して形
成される溝形状は、トラックピッチには影響を受けな
い。
【０００７】従って、光情報媒体に、ユーザーが使用す
る使用領域部と、前記使用領域部以外のダミー領域部と
が設けられるように作成された基板作成用スタンパまた
は成形基板は、使用領域部の案内溝または情報ピットの
トラックピッチが大きく変更されたとしても、ダミー領
域部の案内溝または情報ピットのトラックピッチを一般
的な回折光装置で測定可能な範囲に設定しておけば、こ
のダミー領域部の溝形状を測定し品質評価することによ
り、使用領域部の溝形状も品質評価できることになる。
る使用領域部と、前記使用領域部以外のダミー領域部と
が設けられるように作成された基板作成用スタンパまた
は成形基板は、使用領域部の案内溝または情報ピットの
トラックピッチが大きく変更されたとしても、ダミー領
域部の案内溝または情報ピットのトラックピッチを一般
的な回折光装置で測定可能な範囲に設定しておけば、こ
のダミー領域部の溝形状を測定し品質評価することによ
り、使用領域部の溝形状も品質評価できることになる。
【０００８】なお、使用領域部の案内溝または情報ピッ
トのトラックピッチ（Ａ）と前記ダミー領域部の案内溝
または情報ピットのトラックピッチ（Ｂ）との関係は、
下記数式を満たすことが望ましい。 ０． ９＜（Ａ／Ｂ）＜１．１ ダミー領域部のトラックピッチを変更すると、使用領域
部に悪影響を及ぼす恐れがあるが、この数式を満たせ
ば、前記悪影響が生じることがない。
トのトラックピッチ（Ａ）と前記ダミー領域部の案内溝
または情報ピットのトラックピッチ（Ｂ）との関係は、
下記数式を満たすことが望ましい。 ０． ９＜（Ａ／Ｂ）＜１．１ ダミー領域部のトラックピッチを変更すると、使用領域
部に悪影響を及ぼす恐れがあるが、この数式を満たせ
ば、前記悪影響が生じることがない。
【０００９】また、本発明の光情報媒体が円盤状である
場合、ダミー領域部を、円盤状の光情報媒体の最内周部
と最外周部の２個所に設けることが好ましい。ダミー領
域部を最内周部および最外周部に設定することで、光情
報媒体特性で大切な要素である内外差の管理をすること
ができ、さらに、最内周部および最外周部は、通常使用
していない領域であり、光情報媒体へ悪影響を与えるこ
となくダミー領域部の作成が可能となる（使用領域部の
内部にダミー領域部を設けると、トラックピッチが急に
変更されることになり、光情報媒体特性上悪影響となる
恐れがある）。また、成形基板を射出成形法により作成
した場合、成形基板の溝形状、とくに深さが最内周部お
よび最外周部で相違することがあり（内外差）、また最
外周部に向かうほど溝形状を転写するのが困難になるた
め、成形基板の品質を管理する上で、最内周部および最
外周部にダミー領域部を設けることは有利である。この
場合、光情報媒体の最内周部と最外周部の２個所に設け
たダミー領域部の半径方向の大きさが、１ｍｍ以上３ｍ
ｍ以下であるのがよい。１ｍｍ未満であると回折光のス
ポットサイズよりも小さく、回折光装置による測定が困
難となる。逆に３ｍｍを超えると、使用領域部が小さく
なり機能上問題となる。
場合、ダミー領域部を、円盤状の光情報媒体の最内周部
と最外周部の２個所に設けることが好ましい。ダミー領
域部を最内周部および最外周部に設定することで、光情
報媒体特性で大切な要素である内外差の管理をすること
ができ、さらに、最内周部および最外周部は、通常使用
していない領域であり、光情報媒体へ悪影響を与えるこ
となくダミー領域部の作成が可能となる（使用領域部の
内部にダミー領域部を設けると、トラックピッチが急に
変更されることになり、光情報媒体特性上悪影響となる
恐れがある）。また、成形基板を射出成形法により作成
した場合、成形基板の溝形状、とくに深さが最内周部お
よび最外周部で相違することがあり（内外差）、また最
外周部に向かうほど溝形状を転写するのが困難になるた
め、成形基板の品質を管理する上で、最内周部および最
外周部にダミー領域部を設けることは有利である。この
場合、光情報媒体の最内周部と最外周部の２個所に設け
たダミー領域部の半径方向の大きさが、１ｍｍ以上３ｍ
ｍ以下であるのがよい。１ｍｍ未満であると回折光のス
ポットサイズよりも小さく、回折光装置による測定が困
難となる。逆に３ｍｍを超えると、使用領域部が小さく
なり機能上問題となる。
【００１０】また、ダミー領域部の一部に凹部または凸
部を設ければ、生産された光情報媒体に問題部分が発生
したときに、その部分に対応する基板作成用スタンパま
たは成形基板の問題部分の位置・方向を容易に特定する
ことができる。具体的には、ダミー領域部の凹部または
凸部と、光情報媒体の問題部分（不具合が起こった場
所）との位置関係を把握すれば、基板成形用スタンパや
成形機の金型のどの位置で不具合が発生したかを特定す
ることができる。この場合、凹部または凸部の面積は、
１０μｍ２以上３ｍｍ２以下であるのが好ましい。この
面積によれば、一般的な検査機が容易に検出可能であ
り、かつ、凹部または凸部が使用領域部に悪影響を与え
ることがない。なお、凹部の深さあるいは凸部の高さ
は、例えば１０００〜２０００Åである。
部を設ければ、生産された光情報媒体に問題部分が発生
したときに、その部分に対応する基板作成用スタンパま
たは成形基板の問題部分の位置・方向を容易に特定する
ことができる。具体的には、ダミー領域部の凹部または
凸部と、光情報媒体の問題部分（不具合が起こった場
所）との位置関係を把握すれば、基板成形用スタンパや
成形機の金型のどの位置で不具合が発生したかを特定す
ることができる。この場合、凹部または凸部の面積は、
１０μｍ２以上３ｍｍ２以下であるのが好ましい。この
面積によれば、一般的な検査機が容易に検出可能であ
り、かつ、凹部または凸部が使用領域部に悪影響を与え
ることがない。なお、凹部の深さあるいは凸部の高さ
は、例えば１０００〜２０００Åである。
【００１１】また、本発明の光情報媒体は、基板上に、
必要に応じて光吸収記録層、反射層、保護層を順次積層
させたものであることができる。この場合の光吸収記録
層、反射層、保護層の材質や膜厚等の条件は、とくに制
限されず、公知の構成を採用することができる。
必要に応じて光吸収記録層、反射層、保護層を順次積層
させたものであることができる。この場合の光吸収記録
層、反射層、保護層の材質や膜厚等の条件は、とくに制
限されず、公知の構成を採用することができる。
【００１２】
【実施例】以下、実施例により本発明をさらに説明す
る。 （実施例１）下記表１は、本発明品として、ＣＤ−Ｒの
構成を説明するものである。円盤状のＣＤ−Ｒの最内周
部および最外周部にダミー領域部を表１に示す位置（中
心からの半径位置）に設けた。ダミー領域部以外の部分
は、使用領域部とした。また、ダミー領域部のトラック
ピッチは１．５８μｍ、使用領域部のトラックピッチを
１．５０μｍに設定した。なお、１．５８μｍのトラッ
クピッチにおける溝形状は一般的な回折光装置で測定可
能であるが、１．５０μｍのトラックピッチにおける溝
形状は測定困難である。なお、前記のＣＤ−Ｒを作成す
るための基板作成用スタンパの製造条件は、露光時のレ
ーザーパワーをダミー領域部および使用領域部それぞれ
で同じとし、塗布したフォトレジスト膜厚も全面にわた
って一定とした。すなわち、ダミー領域部および使用領
域部の溝形状は実際にはほぼ同じである。
る。 （実施例１）下記表１は、本発明品として、ＣＤ−Ｒの
構成を説明するものである。円盤状のＣＤ−Ｒの最内周
部および最外周部にダミー領域部を表１に示す位置（中
心からの半径位置）に設けた。ダミー領域部以外の部分
は、使用領域部とした。また、ダミー領域部のトラック
ピッチは１．５８μｍ、使用領域部のトラックピッチを
１．５０μｍに設定した。なお、１．５８μｍのトラッ
クピッチにおける溝形状は一般的な回折光装置で測定可
能であるが、１．５０μｍのトラックピッチにおける溝
形状は測定困難である。なお、前記のＣＤ−Ｒを作成す
るための基板作成用スタンパの製造条件は、露光時のレ
ーザーパワーをダミー領域部および使用領域部それぞれ
で同じとし、塗布したフォトレジスト膜厚も全面にわた
って一定とした。すなわち、ダミー領域部および使用領
域部の溝形状は実際にはほぼ同じである。
【００１３】前記のスタンパ（スタンパＡ）のダミー領
域部および使用領域部に対応する任意場所の溝形状を市
販されている回折光装置によって調べた。また、スタン
パＡと同じ製造条件で、ダミー領域部を設けないトラッ
クピッチ１．５８μｍのスタンパ（スタンパＢ）を作成
し、スタンパＡの使用領域部に相当する場所の溝形状を
調べ、本発明品のダミー領域部と同じ溝形状の測定結果
が出るかどうか確認した。結果を表２に示す。なお、Ａ
ＦＭを用いた測定結果も併せて表２に示す。回折光装置
を用いる測定が巨視的な評価であるのに対して、ＡＦＭ
は微視的な評価が可能である。ＡＦＭはトラックピッチ
に対する依存性がないので、実際の溝形状の測定が可能
である。なお付言すれば、ＡＦＭ測定は、非破壊測定が
できず、測定に時間がかかる等のため、実際の製造ライ
ンでのスタンパの検査には向かない。
域部および使用領域部に対応する任意場所の溝形状を市
販されている回折光装置によって調べた。また、スタン
パＡと同じ製造条件で、ダミー領域部を設けないトラッ
クピッチ１．５８μｍのスタンパ（スタンパＢ）を作成
し、スタンパＡの使用領域部に相当する場所の溝形状を
調べ、本発明品のダミー領域部と同じ溝形状の測定結果
が出るかどうか確認した。結果を表２に示す。なお、Ａ
ＦＭを用いた測定結果も併せて表２に示す。回折光装置
を用いる測定が巨視的な評価であるのに対して、ＡＦＭ
は微視的な評価が可能である。ＡＦＭはトラックピッチ
に対する依存性がないので、実際の溝形状の測定が可能
である。なお付言すれば、ＡＦＭ測定は、非破壊測定が
できず、測定に時間がかかる等のため、実際の製造ライ
ンでのスタンパの検査には向かない。
【００１４】
【表１】
【００１５】
【表２】
【００１６】表２のＡＦＭの測定結果から、ダミー領域
部と使用領域部とでトラックピッチが異なっているが、
ほぼ同じ溝形状（溝幅および溝深さ）が得られているこ
とが分かる。これは、基板作成用スタンパが同じ製造条
件であるので、トラックピッチに関係なく案内溝の溝形
状はほぼ同じ値になるからである。また、スタンパＢで
も溝形状はスタンパＡとほぼ同じである。しかしなが
ら、回折光装置を用いた測定（回折光測定）では、トラ
ックピッチが異なるとＡＦＭの結果と異なってしまう。
すなわち、表２のスタンパＡのダミー領域部１と使用領
域部２とを比べると、とくに溝幅において、大きく異な
った結果となっている。これは、回折光測定がトラック
ピッチに依存してしまうことと、使用領域部のトラック
ピッチが大きく変化しているからである。なお、回折光
測定においてもスタンパＢの溝形状はスタンパＡとほぼ
同じである結果が出ている。したがって本発明によれ
ば、ダミー領域部を回折光測定が可能なトラックピッチ
に設定しているために、このダミー領域部を測定するこ
とにより、使用領域部のトラックピッチに関係なく、既
存の回折光装置でもって使用領域部の溝形状を把握する
ことができる。
部と使用領域部とでトラックピッチが異なっているが、
ほぼ同じ溝形状（溝幅および溝深さ）が得られているこ
とが分かる。これは、基板作成用スタンパが同じ製造条
件であるので、トラックピッチに関係なく案内溝の溝形
状はほぼ同じ値になるからである。また、スタンパＢで
も溝形状はスタンパＡとほぼ同じである。しかしなが
ら、回折光装置を用いた測定（回折光測定）では、トラ
ックピッチが異なるとＡＦＭの結果と異なってしまう。
すなわち、表２のスタンパＡのダミー領域部１と使用領
域部２とを比べると、とくに溝幅において、大きく異な
った結果となっている。これは、回折光測定がトラック
ピッチに依存してしまうことと、使用領域部のトラック
ピッチが大きく変化しているからである。なお、回折光
測定においてもスタンパＢの溝形状はスタンパＡとほぼ
同じである結果が出ている。したがって本発明によれ
ば、ダミー領域部を回折光測定が可能なトラックピッチ
に設定しているために、このダミー領域部を測定するこ
とにより、使用領域部のトラックピッチに関係なく、既
存の回折光装置でもって使用領域部の溝形状を把握する
ことができる。
【００１７】（実施例２）実施例１のスタンパＡの最外
周部（ダミー領域部）に目印として、面積３０μｍ２、
深さ１５００Åの丸型の凹部を付けた。このスタンパを
用いて成形を行ない基板を作成した。なお、成形基板に
は、この目印は凸部となる。このスタンパおよび成形基
板を回折光測定を行なった結果、スタンパ、成形基板と
もこの目印を検出することができた。また、成形基板を
複屈折測定器で測定しても、この目印を検出することが
できた。この結果から、ダミー領域部の凹部または凸部
と、光情報媒体の問題部分（不具合が起こった場所）と
の位置関係を把握すれば、基板成形用スタンパや成形機
の金型のどの位置で不具合が発生したかを特定すること
ができることが分かった。また、本実施例２において使
用領域部の欠陥検査を行ったところ、ダミー領域部に目
印を付けたことによる使用領域部への悪影響は見られな
かった。
周部（ダミー領域部）に目印として、面積３０μｍ２、
深さ１５００Åの丸型の凹部を付けた。このスタンパを
用いて成形を行ない基板を作成した。なお、成形基板に
は、この目印は凸部となる。このスタンパおよび成形基
板を回折光測定を行なった結果、スタンパ、成形基板と
もこの目印を検出することができた。また、成形基板を
複屈折測定器で測定しても、この目印を検出することが
できた。この結果から、ダミー領域部の凹部または凸部
と、光情報媒体の問題部分（不具合が起こった場所）と
の位置関係を把握すれば、基板成形用スタンパや成形機
の金型のどの位置で不具合が発生したかを特定すること
ができることが分かった。また、本実施例２において使
用領域部の欠陥検査を行ったところ、ダミー領域部に目
印を付けたことによる使用領域部への悪影響は見られな
かった。
【００１８】
【発明の効果】請求項１の発明は、予め案内溝または情
報ピットが形成されている基板上に、必要に応じて光吸
収記録層、反射層、保護層を順次積層させた光情報媒体
において、前記光情報媒体に、ユーザーが使用する使用
領域部と、前記使用領域部以外のダミー領域部とを設
け、かつ、前記使用領域部の案内溝または情報ピットの
トラックピッチが前記ダミー領域部の案内溝または情報
ピットのトラックピッチと異なることを特徴としている
ので、一般的に市販されている回折光装置で測定が困難
なトラックピッチを有する光情報媒体の生産をする際、
光情報媒体自体の性能に悪影響を与えること無く、基板
作成用スタンパおよび成形基板の溝形状を、既存の回折
光装置で測定・評価することのできる光情報媒体が提供
される。
報ピットが形成されている基板上に、必要に応じて光吸
収記録層、反射層、保護層を順次積層させた光情報媒体
において、前記光情報媒体に、ユーザーが使用する使用
領域部と、前記使用領域部以外のダミー領域部とを設
け、かつ、前記使用領域部の案内溝または情報ピットの
トラックピッチが前記ダミー領域部の案内溝または情報
ピットのトラックピッチと異なることを特徴としている
ので、一般的に市販されている回折光装置で測定が困難
なトラックピッチを有する光情報媒体の生産をする際、
光情報媒体自体の性能に悪影響を与えること無く、基板
作成用スタンパおよび成形基板の溝形状を、既存の回折
光装置で測定・評価することのできる光情報媒体が提供
される。
【００１９】請求項２の発明は、前記使用領域部の案内
溝または情報ピットのトラックピッチ（Ａ）と前記ダミ
ー領域部の案内溝または情報ピットのトラックピッチ
（Ｂ）との関係が、数式０．９＜（Ａ／Ｂ）＜１．１を
満たすことを特徴とする請求項１に記載の光情報媒体で
あるので、ダミー領域部のトラックピッチを変更するこ
とによる使用領域部への悪影響が防止される。
溝または情報ピットのトラックピッチ（Ａ）と前記ダミ
ー領域部の案内溝または情報ピットのトラックピッチ
（Ｂ）との関係が、数式０．９＜（Ａ／Ｂ）＜１．１を
満たすことを特徴とする請求項１に記載の光情報媒体で
あるので、ダミー領域部のトラックピッチを変更するこ
とによる使用領域部への悪影響が防止される。
【００２０】請求項３の発明は、前記ダミー領域部を、
円盤状の光情報媒体の最内周部と最外周部の２個所に設
けることを特徴とする請求項１に記載の光情報媒体であ
るので、光情報媒体特性で大切な要素である内外差の管
理をすることができ、さらに、最内周部および最外周部
は、通常使用していない領域であり、光情報媒体へ悪影
響を与えることなくダミー領域部の作成が可能となる。
また、成形基板を射出成形法により作成した場合、成形
基板の溝形状、とくに深さが最内周部および最外周部で
相違することがあり（内外差）、また最外周部に向かう
ほど溝形状を転写するのが困難になるため、成形基板の
品質を管理する上で、最内周部および最外周部にダミー
領域部を設けることは有利である。
円盤状の光情報媒体の最内周部と最外周部の２個所に設
けることを特徴とする請求項１に記載の光情報媒体であ
るので、光情報媒体特性で大切な要素である内外差の管
理をすることができ、さらに、最内周部および最外周部
は、通常使用していない領域であり、光情報媒体へ悪影
響を与えることなくダミー領域部の作成が可能となる。
また、成形基板を射出成形法により作成した場合、成形
基板の溝形状、とくに深さが最内周部および最外周部で
相違することがあり（内外差）、また最外周部に向かう
ほど溝形状を転写するのが困難になるため、成形基板の
品質を管理する上で、最内周部および最外周部にダミー
領域部を設けることは有利である。
【００２１】請求項４の発明は、前記光情報媒体の最内
周部と最外周部の２個所に設けたダミー領域部の半径方
向の大きさが、１ｍｍ以上３ｍｍ以下であることを特徴
とする請求項３に記載の光情報媒体であるので、使用領
域部に悪影響を及ぼすこと無く、良好な回折光測定が可
能となる。
周部と最外周部の２個所に設けたダミー領域部の半径方
向の大きさが、１ｍｍ以上３ｍｍ以下であることを特徴
とする請求項３に記載の光情報媒体であるので、使用領
域部に悪影響を及ぼすこと無く、良好な回折光測定が可
能となる。
【００２２】請求項５の発明は、前記ダミー領域部の一
部に凹部または凸部を設けたことを特徴とする請求項１
ないし４のいずれか１項に記載の光情報媒体であるの
で、生産された光情報媒体に問題部分が発生したとき
に、その部分に対応する基板作成用スタンパまたは成形
基板の問題部分の位置・方向を容易に特定することがで
きる。
部に凹部または凸部を設けたことを特徴とする請求項１
ないし４のいずれか１項に記載の光情報媒体であるの
で、生産された光情報媒体に問題部分が発生したとき
に、その部分に対応する基板作成用スタンパまたは成形
基板の問題部分の位置・方向を容易に特定することがで
きる。
【００２３】請求項６の発明は、前記凹部または凸部の
面積が、１０μｍ２以上３ｍｍ２以下であることを特徴
とする請求項５に記載の光情報媒体であるので、一般的
な検査機で容易に凹部または凸部が検出可能となり、か
つ、凹部または凸部が使用領域部に悪影響を与えること
がない。
面積が、１０μｍ２以上３ｍｍ２以下であることを特徴
とする請求項５に記載の光情報媒体であるので、一般的
な検査機で容易に凹部または凸部が検出可能となり、か
つ、凹部または凸部が使用領域部に悪影響を与えること
がない。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ１１Ｂ 7/26 ５２１ Ｇ１１Ｂ 7/26 ５２１
Claims (6)
- 【請求項１】 予め案内溝または情報ピットが形成され
ている基板上に、必要に応じて光吸収記録層、反射層、
保護層を順次積層させた光情報媒体において、前記光情
報媒体に、ユーザーが使用する使用領域部と、前記使用
領域部以外のダミー領域部とを設け、かつ、前記使用領
域部の案内溝または情報ピットのトラックピッチが前記
ダミー領域部の案内溝または情報ピットのトラックピッ
チと異なることを特徴とする光情報媒体。 - 【請求項２】 前記使用領域部の案内溝または情報ピッ
トのトラックピッチ（Ａ）と前記ダミー領域部の案内溝
または情報ピットのトラックピッチ（Ｂ）との関係が、
下記数式を満たすことを特徴とする請求項１に記載の光
情報媒体。 ０．９＜（Ａ／Ｂ）＜１．１ - 【請求項３】 前記ダミー領域部を、円盤状の光情報媒
体の最内周部と最外周部の２個所に設けることを特徴と
する請求項１に記載の光情報媒体。 - 【請求項４】 前記光情報媒体の最内周部と最外周部の
２個所に設けたダミー領域部の半径方向の大きさが、１
ｍｍ以上３ｍｍ以下であることを特徴とする請求項３に
記載の光情報媒体。 - 【請求項５】 前記ダミー領域部の一部に凹部または凸
部を設けたことを特徴とする請求項１ないし４のいずれ
か１項に記載の光情報媒体。 - 【請求項６】 前記凹部または凸部の面積が、１０μｍ
２以上３ｍｍ２以下であることを特徴とする請求項５に
記載の光情報媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000387558A JP2002190142A (ja) | 2000-12-20 | 2000-12-20 | 光情報媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000387558A JP2002190142A (ja) | 2000-12-20 | 2000-12-20 | 光情報媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002190142A true JP2002190142A (ja) | 2002-07-05 |
Family
ID=18854464
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000387558A Pending JP2002190142A (ja) | 2000-12-20 | 2000-12-20 | 光情報媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002190142A (ja) |
-
2000
- 2000-12-20 JP JP2000387558A patent/JP2002190142A/ja active Pending
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