JP2002186593A - 磁気共鳴イメージング装置及びその傾斜磁場オフセット調整方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 計測精度を低下させずシーケンス実行回数を
減少し、シーケンス繰返時間を短縮可能な傾斜磁場オフ
セット調整方法を実現する。 【解決手段】 第１のエコー信号１３１と第２のエコー
信号１３３とが最大となり、これらエコー信号１３１，
１３３と、スピンエコー信号１３２との間の時間ΔＴ
1，ΔＴ2を求める。第１の傾斜磁場２２２の強度Ｇr1、
第２の傾斜磁場２２３の強度Ｇr2、第１の傾斜磁場２２
２と第１のエコー信号との時間差Ｔoff１、第２の傾斜
磁場２２３と第２のエコー信号２３３との時間差Ｔoff
２から、傾斜磁場オフセットＧroffを算出する。これに
より、一回のシーケンスの実行により、２つの傾斜磁場
オフセットＧroffを得て、加算平均により傾斜磁場オフ
セットＧroffの精度を向上することができ、計測回数を
減少することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、磁気共鳴イメージ
ング装置（ＭＲＩ装置）における傾斜磁場オフセット調
整方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の技術における傾斜磁場オフセット
調整方法にあっては、図３に示すようなグラジエントフ
ィールドエコー法を用い、位相軸に印加する傾斜磁場強
度をエコー信号の計測毎に変化させて十数回程度計測
し、位相軸方向の傾斜磁場印加量とオフセット傾斜磁場
とが相殺する場合にエコー信号が最大値となることを利
用して、そのときの傾斜磁場印加量から補正用オフセッ
ト傾斜磁場を求めていた。

【０００３】エコー信号が最大値となる場合において
は、図４に示すように、エコー時間ＴＥ、位相方向傾斜
磁場強度Ｇpx、位相方向傾斜磁場印加時間Ｔpx、位相方
向傾斜磁場オフセットＧpoffとの間には、次式（１）の
関係が成り立つ。 Ｇpoff＝Ｇpx×Ｔpx／ＴＥ −−−（１） このようにして求めた位相方向傾斜磁場オフセットを以
降の計測で用いれば、静磁場歪みを相殺することが可能
となり、歪みのない画像を得ることが可能となる。

【０００４】実際にはスライス軸、位相軸、リードアウ
ト軸を互いに直行するＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸にそれぞれ割当
てて計測し、その後、位相軸をスライス軸あるいはリー
ドアウト軸と換えて計測して計測を行ない、エコー信号
値が最大となる傾斜磁場印加強度を各軸について求め、
Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸それぞれの静磁場歪みの補正を行なう
ための傾斜磁場オフセット強度を求めることで、空間的
な静磁場歪みを補正する。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで、傾斜磁場オ
フセット強度の計測に要する時間は、計測実行時間Ｔsc
an、シーケンス繰返し時間ＴＲ、シーケンス実行回数Ｇ
ｎ、計測軸数Ａxisから次式（２）のようになる。 Ｔscan＝ＴＲ×Ｇｎ×Ａxis −−−（２） 傾斜磁場オフセット強度の計測精度は位相方向傾斜磁場
強度の計測毎の変化量に依存するので、計測精度の向上
のためには、位相方向傾斜磁場強度の変化量を小さくす
る必要があり、かつ計測範囲を保つためにはシーケンス
実行回数を増やす必要があるが、これは（２）式より明
らかなように、計測時間Ｔscanの延長をもたらす。

【０００６】しかし、傾斜磁場オフセット強度の計測
は、本計測の前に行われる前計測であり、この前計測時
間Ｔscanの長期化は、本計測の開始時間が遅延化するば
かりでなく、オフセット調整作業者の負担も増加するた
め、望ましいものではなく、この前計測の短時間化が望
まれている。

【０００７】本発明の目的は、計測精度の低下を招くこ
となく、シーケンス実行回数を減少し、シーケンス繰返
し時間を短縮可能な傾斜磁場オフセット調整方法を実現
することである。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は次のように構成される。

【０００９】（１）磁気共鳴イメージング装置における
傾斜磁場オフセット調整方法において、画像信号を計測
する本計測の前に行なう前計測で、ＳＥシーケンスを用
いた計測で、磁場歪みがキャンセルされるＳＥエコー信
号の生じる前の第１の時刻でリードアウト傾斜磁場を印
加して第１のエコー信号を計測し、ＳＥエコー信号の生
じた後の第２の時刻で正負が逆のリードアウト傾斜磁場
を印加して第２のエコー信号を計測し、第１のエコー信
号の発生時刻に基づき求められる傾斜磁場オフセット値
と、第２のエコー信号の発生時刻に基づき求められる傾
斜磁場オフセット値とに基づいて、傾斜磁場オフセット
を求める。

【００１０】（２）被検体の置かれた空間に静磁場を発
生する静磁場発生手段と、該空間にスライス方向、位相
方向、リードアウト方向の各傾斜磁場を印加する傾斜磁
場発生手段と、前記被検体に対し核磁気共鳴現象を起こ
すための高周波パルスを発生する高周波パルス発生手段
と、前記被検体からの核磁気共鳴信号を検出する検出手
段と、前記傾斜磁場、高周波パルスの発生を所定のシー
ケンスに従って実行させると共に、核磁気共鳴信号を再
構成する制御手段とを有する磁気共鳴イメージング装置
において、前記制御手段は本計測シーケンスに先立っ
て、スピンエコーシーケンス前計測を実行し、前計測シ
ーケンスのスピンエコー信号発生の前後において、極性
を反転させたリードアウト傾斜磁場を印加する。

【００１１】（３）前記制御手段は、スピンエコー信号
前に発生したエコー信号の発生時刻に基づいて第１の傾
斜磁場オフセット値を求め、スピンエコー信号後に発生
したエコー信号の発生時刻に基づいて第２の傾斜磁場オ
フセット値を求め、第１及び第２の傾斜磁場オフセット
値から傾斜磁場オフセットを求める。

【００１２】ＳＥシーケンスを用いてＳＥエコー信号の
発生時間の前後で信号計測を行なうことで大きな静磁場
歪みであっても計測を可能とし、計測信号のフーリエ変
換後に位相データを計測することで、信号計測時のサン
プリング時間に依存しない精度で傾斜磁場オフセットを
計測可能とし、１回のシーケンス実行により２回の計測
を実行することができることから、加算効果によって精
度を向上させ、傾斜磁場の印加回数の少ないシーケンス
を用いることで繰返し時間を短縮し計測時間を短縮する
ことができる。

【００１３】

【発明の実施の形態】本発明においては、計測精度の低
下を招くことなく、シーケンス実行回数を減少し、シー
ケンス繰返し時間を短縮可能な傾斜磁場オフセット調整
方法を実現すべく、ＳＥシーケンスを用いて、磁場歪み
がキャンセルされるＳＥエコー発生時刻の前後で２つの
エコーを計測する。

【００１４】以下、本発明の一実施形態を添付図面を参
照して説明する。図５は本発明が適用されるＭＲＩ装置
の概略構成図である。

【００１５】図５において、ＭＲＩ装置は、静磁場発生
用磁石４０と、傾斜磁場発生系４と、送信系３と、受信
系５と、信号処理系６と、シーケンサ２と、ＣＰＵ１と
を備えている。

【００１６】磁場発生用磁石４０は、被検体３０の周り
に均一な静磁場を発生させるものであり、永久磁石方
式、常伝導磁石方式又は超電導磁石方式の静磁場発生手
段が被検体３０の周りの空間に配置されている。

【００１７】傾斜磁場発生系４は、ＭＲＩ装置に設定さ
れたＸ軸，Ｙ軸，Ｚ軸の直交３軸方向に対向して巻かれ
た傾斜磁場コイルｌｌａ及び１１ｂ（以下、傾斜磁場コ
イル１１ａ，１１ｂを総称して傾斜磁場コイル１１と記
す）と、それを駆動する傾斜磁場電源１２とを備え、シ
ーケンサ２の命令に従って各軸の傾斜磁場を制御する。

【００１８】送信系３はシーケンサ２から送出される高
周波パルス信号により被検体３０の原子核に磁気共鳴現
象を起こさせるもので、発振器８と、変調器９と、増幅
器１０と、送信コイル７とを備える。この送信系３で
は、発振器８から出力された高周波パルス信号をシーケ
ンサ２の命令に従って、変調器９で振幅変調し、増幅器
１０で増幅した後、被検体３０に近接して配置された送
信コイル７に供給する。そして、送信コイル７から被検
体３０に電磁波が照射されるようになっている。

【００１９】また、受信系５は、被検体３０より放出さ
れるＭＲ信号を受信するものであり、受信コイル１４
と、増幅器１５と、検波回路１６と、ＡＤ変換器１７と
を備える。

【００２０】シーケンサ２が制御する送信系３及び傾斜
磁場発生系４によって発生した被検体３０からのＭＲ信
号は、受信コイル１４で計測され、増幅器１５で増幅さ
れて検波回路１６で検波された後、ＡＤ変換器１７に入
力される。そして、このＡＤ変換器１７において、ＭＲ
信号はシーケンサ２からの命令によるタイミングでデジ
タル量に変換されて、ＣＰＵ１に送られる。このＣＰＵ
１は、ＡＤ変換器１７からの信号を、信号処理系６で処
理させ、磁気ディスク２１に記録させる。なお、この信
号処理系６は、光磁気ディスク２２と、ＣＲＴ２３と、
キーボード２４と、マウス２５とを備える。

【００２１】また、送信系３の送信コイル７と、傾斜磁
場発生系４の傾斜磁場コイル１１と、受信系５の受信コ
イル１４とは、静磁場発生用磁石４０が発生する静磁場
空間内の被検体３０の周りに配置されている。

【００２２】次に、本発明の一実施形態が適用されたＭ
ＲＩ装置を用いた静磁場歪みの傾斜磁場による補正値計
測方法について説明する。まず、静磁場に歪みがないと
きの信号計測について図１を参照して説明する。

【００２３】図１において、９０度励起パルス１０１で
励起された被検体３０の核スピンは時間とともに拡散す
るが、１８０度励起パルス１０２によって反転され、１
８０度励起パルス１０２の発生タイミングから、９０度
励起パルス１０１と１８０度励起パルス１０２との間の
時間（ＴＥ／２）経過後、収束してスピンエコー信号１
３２を発生する。

【００２４】しかし、リードアウト軸の傾斜磁場１２１
により被検体３０の核スピンは拡散され、傾斜磁場１２
２により収束されるときにエコー信号１３１を生じる。
このエコー信号１３１の発生時刻と、スピンエコー（Ｓ
Ｅエコー）１３２が発生する時刻ＴＥとの時刻差をΔＴ
1とする。

【００２５】また、傾斜磁場１２２はスピン収束後も印
加されるのでスピンは再び拡散されるが、傾斜磁場１２
３により再度収束されてエコー信号１３３を生じる。こ
のエコー信号１３３の発生時刻と、ＳＥエコー１３２が
発生する時刻ＴＥとの時刻差をΔＴ2とする。

【００２６】時刻差ΔＴ1とΔＴ2とは、次式（３）に示
すように理論的に等しくなるようにシーケンスを作成す
る。 ΔＴ1＝ΔＴ2 −−−（３） また、傾斜磁場１２２の傾斜磁場強度Ｇr１と傾斜磁場
１２３の傾斜磁場強度Ｇr2とは次式（４）を満たすもの
とする。 Ｇr1＝−Ｇr2 −−−（４）

【００２７】次に、リードアウト軸方向に静磁場の１次
歪みにより傾斜磁場オフセットがある場合について、図
２を参照して説明する。図２において、リードアウト軸
方向の静磁場歪みによる傾斜磁場オフセットＧroffが存
在する場合、第１のエコー信号２３１はオフセットＧro
ffが存在しない場合に発生する時刻より、時間Ｔoff1ず
れる。同様に、第２のエコー信号２３３は、時間Ｔoff2
ずれることになる。

【００２８】なお、時間Ｔoff1及びＴoff2の値は、正方
向をそれぞれΔＴ1より後の時刻、ΔＴ2より後の時刻と
するとるとき、次式（５），（６）のようにして求めら
れる。 Ｔoff1＝Ｇroff×ΔＴ1／Ｇr1 −−−（５） Ｔoff2＝Ｇroff×ΔＴ2／Ｇr2 −−−（６）

【００２９】ここで、上記式（３），（４）及び（６）
より、次式（７）が得られる。 Ｔoff2＝−Ｇroff×ΔＴ1／Ｇr1 −−−（７） よって、リードアウト軸方向の静磁場歪みによる傾斜磁
場オフセットＧroffが存在する場合、その向きがリード
アウト傾斜磁場方向と等しいならば、第１のエコー信号
２３１の発生時刻は、次式（８）で表される値よりも式
（５）で示される時刻Ｔoff１だけ前の時刻となる。 （理論上の第１のエコー信号発生時刻）＝（TE−ΔT1） −−−（８）

【００３０】また、このとき第２のエコー信号２３３の
発生時刻は次式（９）で表される値よりも式（３）を参
照して式（７）で示される時刻Ｔoff2だけ前の時刻とな
る。 （理論上の第２のエコー信号発生時刻）＝（TE＋ΔT2） −−−（９）

【００３１】したがって、リードアウト軸方向の静磁場
歪みによる傾斜磁場オフセットＧroffを調べるために
は、図１に示したシーケンスで計測を行ない、第１と第
２のエコー信号１３１，１３３が最大値となる時刻ΔＴ
1，ΔＴ2を求め、式（５）及び式（７）からリードアウ
ト軸方向の静磁場歪みによる２つの傾斜磁場オフセット
Ｇroffを求めることができる。したがって、式（５）及
び式（７）から求めた２つの傾斜磁場オフセットＧroff
の値は、相加平均をとることで、より精度を向上するこ
とができる。

【００３２】実際に信号を計測する場合、受信系５で得
られたエコー信号はデジタル信号であり、標本化された
信号であるため、時間分解能は標本化の周期Ｔsmp1に依
存する。このため、標本化定理により、次式（１０）で
時間分解能Ｒtimeは定まる。 Ｒtime＝Ｔsmp1×2 −−−（１０） よって、時間分解能Ｒtimeよりも精度の高い時間分解能
を得るためには以下の方法をとる必要がある。

【００３３】受信系５で計測されたエコー信号Ｓecho
（t）はＣＰＵ１にて複素分離を行ない、実部信号Ｓrea
l（t）と虚部信号Ｓimg（t）とに分けられる。

【００３４】図８は、傾斜磁場オフセットＧroffを算出
するための動作フローチャートである。図８において、
まず、実部信号Ｓreal（t）と虚部信号Ｓimg（t）とか
らなる複素信号Ｓcpmlx（t）から絶対値信号Ｓabs（t）
を求め、信号が最大値となる時刻が式（８）及び式
（９）を満たすように、静磁場歪みによる傾斜磁場オフ
セットＧroffを相殺する補正傾斜磁場Ｇrcorを求め、補
正傾斜磁場Ｇrcorを印加して再度計測する（ステップ８
００〜８０２）。この操作（ステップ８００〜８０２）
を繰返し、式（８）及び式（９）を満たす補正傾斜磁場
Ｇrcorを求める。

【００３５】ここで、傾斜磁場オフセットＧroffと位相
信号データＦphs（x）との関係について述べる。Ｘ方向
の磁場歪みＧroff’(x）は位相信号データＦphs（x）を
用いて、次式（１１）のように表される。 Ｇroff'(x）＝Ｆphs（x）／（γ×ΔT） −−−（１１） なお、γは磁気回転比であり、ＳＥエコー信号の中心か
らのずれ時間ΔＴは、時間ΔＴ１及びΔＴ２が該当す
る。

【００３６】Ｘ方向の磁場歪みＧroff’(x）は、高次の
歪みを含んだ式で表されるが、次式（１２）で表される
１次式のＰfit（x）で近似し、その傾きＰgradientを用
いれば、傾斜磁場オフセットＧroffは、次式（１３）の
ように表される。 Pfit（x）＝Pgradient×x＋Poffset −−−（１２） Groff ＝Pgradient／（γ×ΔT） −−−（１３） したがって、位相信号データＦphs（x）から近似式Ｐfi
t（x）を用いれば、傾斜磁場オフセットＧroffを求める
ことができる。

【００３７】近似式Ｐfit（x）は以下のようにして求め
る。実部信号Ｓreal（t）と虚部信号Ｓimg（t）とをフ
ーリエ変換した実部信号データＦreal（x）と虚部信号
データＦimg（x）とを求め、その絶対値信号データＦab
s（x）から閾値処理により被検体の存在領域Ｅxist
（x）を求める（ステップ８０３，８０４）。

【００３８】また、実部信号データＦreal（x）と虚部
信号データＦimg（x）とから位相信号データＦphs（x）
を求める（ステップ８０５）。被検体の存在領域Ｅxist
（x）における位相信号の分布を式（１２）の１次関数
Ｐfit（x）で近似する（ステップ８０６）。

【００３９】近似方法としては最小２乗法が挙げられ
る。この場合には、次式（１４）で表されるｘに関する
総和Ｓが最小となるように式（１２）の近似関数Ｐfit
（x）を定める。 S＝Σ(Fphs(x)−Pfit(x)）×（Fphs(x)−Pfit(x)） −−−（１４） なお、位相信号データＦphs（ｘ）は式（８）及び式
（９）における補正傾斜磁場Ｇrcorの調整が静磁場歪み
が大きい場合、値が２πを超えて折返しを生じ、正しい
値を求められなくなることがある。

【００４０】その場合、ΔＴ1及びΔＴ2は可能な限り小
さくして位相変化を小さくすれば大きな静磁場歪みであ
っても計測可能となるので、式（８）及び式（９）にお
ける調整を再度実行する。

【００４１】このようにして、エコー信号から傾斜磁場
オフセットＧroffを求め（ステップ８０７）、その逆極
性の補正傾斜磁場Ｇrcorを求める。なお、これらの傾斜
磁場については、次式（１５）が成り立つ。 Grcor＝−Groff −−−（１５）

【００４２】次に、図７に示すように、Ｘ軸補正傾斜磁
場計測を行う。つまり、ステップ７００において、Ｘ軸
をリードアウト軸として計測する。次に、ステップ７０
１において、第１のエコー信号から補正傾斜磁場を求め
る。

【００４３】続いて、ステップ７０２において、第２エ
コー信号から補正傾斜磁場を求める。次に、ステップ７
０３において、第１のエコー信号の結果と第２のエコー
信号の結果の相加平均からＸ軸の補正傾斜磁場を求め
る。

【００４４】このようにして、上記の原理から第１のエ
コー信号についての傾斜磁場オフセットと第２のエコー
信号から求めた傾斜磁場オフセットの加算平均をとり、
Ｘ軸の補正傾斜磁場Ｇxcorを求める。上述と同様にし
て、Ｙ軸及びＺ軸についても補正傾斜磁場Ｇycor及びＧ
zcorを求める。

【００４５】図６は、Ｙ軸及びＺ軸ついての補正傾斜磁
場Ｇycor及びＧzcorを求めるための動作フローチャート
である。図６のステップ６００において、Ｘ軸をリード
アウトして計測し、Ｘ軸の補正傾斜磁場を求める。次
に、ステップ６０１において、Ｙ軸とＸ軸とを入れ換え
て計測し、Ｙ軸の補正傾斜磁場を求める。次に、ステッ
プ６０２において、Ｚ軸とＹ軸とを入れ換えて計測し、
Ｚ軸の補正傾斜磁場を求める。

【００４６】そして、上記ステップ６００，６０１，６
０２で求めたＸ軸，Ｙ軸及びＺ軸の補正傾斜磁場を、ス
テップ６０３において、磁気ディスク等に記録する。

【００４７】このようにして求めたＸ軸補正傾斜磁場Ｇ
xcor、Ｙ軸補正傾斜磁場Ｇycor、Ｚ軸補正傾斜磁場Ｇzc
orを印加し、本計測を実行することで静磁場歪みが補正
された画像を得ることができる。

【００４８】以上のように、本発明の一実施形態によれ
ば、第１のエコー信号１３１と第２のエコー信号１３３
とが最大となり、これらエコー信号１３１及び１３３の
それぞれと、スピンエコー信号１３２との間の時間ΔＴ
1、ΔＴ2を求め、第１の傾斜磁場２２２の強度Ｇr1、第
２の傾斜磁場２２３の強度Ｇr2、第１の傾斜磁場２２２
と第１のエコー信号との時間差Ｔoff1、第２の傾斜磁場
２２３と第２のエコー信号２３３との時間差Ｔoff2か
ら、傾斜磁場オフセットＧroffを上記式（５）及び
（７）により算出するように構成したので、一回のシー
ケンスの実行により、２つの傾斜磁場オフセットＧroff
を得て、加算平均により傾斜磁場オフセットＧroffの精
度を向上することができ、計測回数を減少することがで
きる。

【００４９】

【発明の効果】以上のように、本発明によれば、計測精
度の低下を招くことなく、シーケンス実行回数を減少
し、シーケンス繰返し時間を短縮可能な傾斜磁場オフセ
ット調整方法を実現することができる。

【００５０】つまり、ＳＥシーケンスを用いてＳＥエコ
ー信号の発生時間の前後で信号計測を行なうことで大き
な静磁場歪みであっても計測を可能とし、計測信号のフ
ーリエ変換後に位相データを計測することで、信号計測
時のサンプリング時間に依存しない精度で傾斜磁場オフ
セットを計測可能とし、１回のシーケンス実行により２
回の計測を実行することができることから、加算効果に
よって精度を向上させ、傾斜磁場の印加回数の少ないシ
ーケンスを用いることで繰返し時間を短縮し計測時間を
短縮することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態における計測シーケンスを
示す図である。

【図２】本発明の一実施形態における傾斜磁場オフセッ
トのある場合の計測シーケンスを示す図である。

【図３】グラジエントエコー法における計測シーケンス
を示す図である。

【図４】従来技術において、傾斜磁場オフセットを相殺
する場合を説明する図である。

【図５】本発明が適用されるＭＲＩ装置の概略構成図で
ある。

【図６】本発明の一実施形態における補正傾斜磁場計測
フローチャートである。

【図７】本発明の一実施形態におけるＸ軸補正傾斜磁場
計測フローチャートである。

【図８】本発明の一実施形態における補正傾斜磁場算出
フローチャートである。

【符号の説明】 １０１，２０１ ９０°ＲＦパルス １０２，２０２ １８０°ＲＦパルス １２２，２２２ 第１のリードアウト傾斜磁場 １２３，２２３ 第２のリードアウト傾斜磁場 １３１，２３１ 第１のエコー信号 １３３，２３３ 第２のエコー信号

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被検体の置かれた空間に静磁場を発生す
   る静磁場発生手段と、該空間にスライス方向、位相方
   向、リードアウト方向の各傾斜磁場を印加する傾斜磁場
   発生手段と、前記被検体に対し核磁気共鳴現象を起こす
   ための高周波パルスを発生する高周波パルス発生手段
   と、前記被検体からの核磁気共鳴信号を検出する検出手
   段と、前記傾斜磁場、高周波パルスの発生を所定のシー
   ケンスに従って実行させると共に、核磁気共鳴信号を再
   構成する制御手段とを有する磁気共鳴イメージング装置
   において、 前記制御手段は本計測シーケンスに先立って、スピンエ
   コーシーケンス前計測を実行し、前計測シーケンスのス
   ピンエコー信号発生の前後において、極性を反転させた
   リードアウト傾斜磁場を印加することを特徴とする磁気
   共鳴イメージング装置。
2. 【請求項２】 前記制御手段は、スピンエコー信号前に
   発生したエコー信号の発生時刻に基づいて第１の傾斜磁
   場オフセット値を求め、スピンエコー信号後に発生した
   エコー信号の発生時刻に基づいて第２の傾斜磁場オフセ
   ット値を求め、第１及び第２の傾斜磁場オフセット値か
   ら傾斜磁場オフセットを求めることを特徴とする請求項
   １記載の磁気共鳴イメージング装置。
3. 【請求項３】 磁気共鳴イメージング装置における傾斜
   磁場オフセット調整方法において、 画像信号を計測する本計測の前に行なう前計測で、ＳＥ
   シーケンスを用いた計測で、磁場歪みがキャンセルされ
   るＳＥエコー信号の生じる前の第１の時刻でリードアウ
   ト傾斜磁場を印加して第１のエコー信号を計測し、ＳＥ
   エコー信号の生じた後の第２の時刻で正負が逆のリード
   アウト傾斜磁場を印加して第２のエコー信号を計測し、
   第１のエコー信号の発生時刻に基づき求められる傾斜磁
   場オフセット値と、第２のエコー信号の発生時刻に基づ
   き求められる傾斜磁場オフセット値とに基づいて、傾斜
   磁場オフセットを求めることを特徴とする傾斜磁場オフ
   セット調整方法。