JP2002184803A - Attraction arrangement method and device of conductive ball - Google Patents

Attraction arrangement method and device of conductive ball

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JP2002184803A
JP2002184803A JP2000382722A JP2000382722A JP2002184803A JP 2002184803 A JP2002184803 A JP 2002184803A JP 2000382722 A JP2000382722 A JP 2000382722A JP 2000382722 A JP2000382722 A JP 2000382722A JP 2002184803 A JP2002184803 A JP 2002184803A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To replenish a place where attraction cannot be made with a conductive ball even if attraction fail occurs while the conductive ball is attracted to an attraction head for arrangement. SOLUTION: In this attraction arrangement device of the conductive ball, a plurality of conductive balls 102 put into a container 101 are attracted by the attraction head 100, and are collectively arranged on a plurality of electrodes to be arranged. Also, the attraction arrangement device has a means 103 for detecting a place where the conductive ball 102 on the electrode is missing, a head 104 for replenishing the place where the conductive ball is missing with the conductive ball 102, and a means for moving the head for replenishment based on the position information on the place where the conductive ball is missing.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、導電性ボールの吸
引配列方法及び吸引配列装置に関し、特に、ボール吸着
孔が複数個形成されている配列基板上に複数の微細ボー
ルを一括保持して、プリント基板及び半導体チップ等の
電子部品の電極上に一括配列させる方法及び装置に用い
て好適なものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and an apparatus for arranging conductive balls, and more particularly, to a method for holding a plurality of fine balls collectively on an array substrate having a plurality of ball suction holes formed therein. The present invention is suitable for use in a method and an apparatus for collectively arranging them on electrodes of electronic components such as a printed board and a semiconductor chip.

【0002】[0002]

【従来の技術】近時においては、半導体チップの電気的
接続に微小金属球を用いたボールバンプが用いられるよ
うになっている。ボールバンプを用いることにより、パ
ッケージの小型化、多ピン化等の数々のメリットを得る
ことができる。このような微小金属ボールを用いたバン
プ形成技術は、例えば、特開平7−153765号公報
に記載されている。
2. Description of the Related Art In recent years, ball bumps using minute metal spheres have been used for electrical connection of semiconductor chips. By using the ball bump, various advantages such as miniaturization of the package and increase in the number of pins can be obtained. A bump forming technique using such a minute metal ball is described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-153765.

【0003】上記公報にて提案されているバンプ形成方
法は、少なくとも半導体チップ1つ分の金属ボール群を
吸着保持するようにしている。そして、複数の金属ボー
ル群を吸着保持するために、半導体チップ上のバンプ形
成位置に対応した全ての位置に吸着孔が形成されている
ボール配列基板を用い、上記ボール配列基板に微小金属
球を吸着保持した後、上記ボール配列基板を接合用ステ
ージまで搬送して被接合部に接合するようにしている。
In the bump forming method proposed in the above publication, a metal ball group for at least one semiconductor chip is sucked and held. Then, in order to hold a plurality of metal ball groups by suction, a ball array substrate having suction holes formed at all positions corresponding to the bump formation positions on the semiconductor chip is used. After sucking and holding, the ball array substrate is transported to a bonding stage and bonded to a portion to be bonded.

【0004】従って、この場合は均一に形成された導電
性ボールをバンプ形成位置に一括接合することができる
ので、バラツキの少ない均一形状のボールバンプを容易
に、かつ効率的に形成することができる。
Therefore, in this case, the uniformly formed conductive balls can be collectively joined to the bump formation position, so that a uniform-shaped ball bump with little variation can be formed easily and efficiently. .

【0005】ところで、最近は、半導体装置の微細化が
益々進み、電極の配線ピッチは非常に小さくなってきて
いる。そのため、電極上にボールバンプを形成する場合
に用いられる金属ボールは、電極の配線ピッチの微細化
に応じて非常に微細になってきている。
In recent years, semiconductor devices have been increasingly miniaturized, and the wiring pitch of electrodes has become extremely small. For this reason, metal balls used for forming ball bumps on electrodes have become extremely fine as the wiring pitch of the electrodes has become finer.

【0006】このような状況において、半導体チップ1
つ分の配列を行うことは、繰り返し動作が多く、コスト
面、時間的にもデメリットが大きい。このため、ウエハ
を個々のチップ毎に切断する前、すなわちダイシング工
程を行う前に、ウエハ上の複数のチップに相当する全て
の電極上にボールを配置することが行われている。
In such a situation, the semiconductor chip 1
Performing one array involves many repetitive operations, and is disadvantageous in terms of cost and time. Therefore, before cutting the wafer into individual chips, that is, before performing a dicing process, balls are arranged on all the electrodes corresponding to a plurality of chips on the wafer.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、複数の
半導体チップが形成されたウエハ上の全ての電極上に一
括してボールを配置しようとした場合、電極は数十万個
程度に及ぶため、全ての電極上に確実にボールを配置す
ることは困難であり、吸着配列不良が発生してしまうと
いう問題が発生していた。
However, if balls are to be collectively arranged on all the electrodes on a wafer on which a plurality of semiconductor chips are formed, the number of electrodes is about several hundred thousand, It is difficult to reliably arrange the balls on the electrodes described above, and there has been a problem that a suction arrangement failure occurs.

【0008】吸着不良が発生した場合には、再度吸着の
やり直しが必要となる。従来の単一のチップ、又は数個
のチップに対応した個数のボールを吸着する場合には、
数回の再吸着を行えばすべてのボールを吸着することが
可能となるが、ウエハに対して数十万個のボールを一度
に吸着する場合には、再吸着の動作回数が増えるため、
工程が煩雑となり、これにより歩留りの低下、コストの
上昇が発生していた。
[0008] When a suction failure occurs, it is necessary to perform suction again. In the case of adsorbing the number of balls corresponding to the conventional single chip or several chips,
It is possible to adsorb all the balls by performing re-adsorption several times, but when adsorbing hundreds of thousands of balls to the wafer at once, the number of re-adsorption operations increases,
The process has become complicated, which has led to a decrease in yield and an increase in cost.

【0009】本発明はこのような問題を解決するために
成されたものであり、吸引ヘッドに導電性ボールを吸着
して配列する際に、吸着不良が発生した場合であって
も、吸着不良箇所に導電性ボールを補うことのできる導
電性ボールの吸引配列方法及び吸引配列装置を提供する
ことを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a problem. Even when a suction failure occurs when a conductive ball is sucked and arranged on a suction head, a suction failure occurs. It is an object of the present invention to provide a conductive ball suction arrangement method and a suction arrangement device which can supplement a conductive ball at a location.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明の導電性ボールの
吸引配列方法は、容器内に入れられた複数の導電性ボー
ルを吸引ヘッドを用いて吸引し、前記導電性ボールを被
配列対象物である複数の電極上に一括して配置するよう
にした導電性ボールの吸引配列方法であって、前記導電
性ボールを前記電極上に配置した後、前記電極上におけ
る前記導電性ボールの配置欠陥箇所を画像認識により検
出して、当該欠陥箇所の情報を記録し、前記配置欠陥が
搭載ボールの欠落である箇所には、正規に前記導電性ボ
ールを補充し、余剰である箇所には、前記余剰部分が含
まれる前記配置欠陥を除去した後、正規に前記導電性ボ
ールを補充することを特徴とする。
According to the present invention, there is provided a method for arranging conductive balls by suction, wherein a plurality of conductive balls placed in a container are sucked by using a suction head, and the conductive balls are arranged on an object to be arrayed. A method of attracting and arranging conductive balls, which is arranged at a time on a plurality of electrodes, wherein after arranging the conductive balls on the electrodes, an arrangement defect of the conductive balls on the electrodes. The location is detected by image recognition, and information of the defective location is recorded, and the location where the placement defect is a missing mounting ball is regularly supplemented with the conductive ball. The method is characterized in that the conductive balls are regularly refilled after removing the placement defect including the surplus portion.

【0011】また、本発明の導電性ボールの吸引配列装
置は、容器内に入れられた複数の導電性ボールを吸引ヘ
ッドを用いて吸引し、前記導電性ボールを被配列対象物
である複数の電極上に一括して配置するようにした導電
性ボールの吸引配列装置であって、前記導電性ボールを
前記電極上に配置した後、前記電極上における前記導電
性ボールの余剰配置箇所を画像認識により検出する手段
と、当該余剰配置箇所の情報を記録する手段と、前記配
置欠陥が搭載ボールの欠落である箇所には、正規に前記
導電性ボールを補充する手段と、余剰である箇所には、
前記余剰部分のボールを除去した後、正規に前記導電性
ボールを補充する手段と、を有することを特徴とする。
The conductive ball suction arrangement device of the present invention suctions a plurality of conductive balls contained in a container by using a suction head, and transfers the conductive balls to a plurality of objects to be arranged. What is claimed is: 1. A suction ball arrangement device for conductive balls, wherein said conductive balls are arranged on an electrode at a time. The means for detecting by means of, the means for recording the information of the surplus arrangement place, the place where the placement defect is a missing of the mounting ball, means for regularly replenishing the conductive ball, ,
Means for properly replenishing the conductive balls after removing the surplus portion of the balls.

【0012】また、本発明の導電性ボールの吸引配列方
法は、容器内に入れられた複数の導電性ボールを吸引ヘ
ッドを用いて吸引し、前記導電性ボールを被配列対象物
である複数の電極上に一括して配置するようにした導電
性ボールの吸引配列方法であって、前記導電性ボールを
前記吸引ヘッドに吸着保持した後、前記吸引ヘッドの配
列面における前記導電性ボールの吸着不良箇所を画像認
識により検出して、当該不良箇所の情報を記録し、その
情報を基に対応する前記電極上における前記導電性ボー
ルの搭載不良箇所を特定し、前記搭載不良箇所にのみに
前記導電性ボールを正規に補充することを特徴とする。
Further, in the method of arranging conductive balls according to the present invention, a plurality of conductive balls placed in a container are sucked by using a suction head, and the conductive balls are arranged in a plurality of objects to be arranged. What is claimed is: 1. A method of arranging conductive balls, wherein said conductive balls are arranged collectively on an electrode. The location is detected by image recognition, the information of the defective location is recorded, and the mounting failure location of the conductive ball on the corresponding electrode is specified based on the information. It is characterized by regularly refilling sex balls.

【0013】また、本発明の導電性ボールの吸引配列装
置は、容器内に入れられた複数の導電性ボールを吸引ヘ
ッドを用いて吸引し、前記導電性ボールを被配列対象物
である複数の電極上に一括して配置するようにした導電
性ボールの吸引配列装置であって、前記吸引ヘッドの配
列面における前記導電性ボールの吸着不良箇所を検出し
て、当該吸着不良箇所の位置情報を得るための吸着不良
箇所検出手段と、 前記吸着不良箇所の情報を基に対応
する前記電極上における前記導電性ボールの搭載不良箇
所を特定する搭載不良箇所特定手段と、前記搭載不良箇
所に前記導電性ボールを正規に補充するための補充手段
と、前記位置情報に基づいて前記補充手段を前記搭載不
良箇所へ移動させるための移動手段とを備えたことを特
徴とする。
Further, in the apparatus for arranging conductive balls according to the present invention, a plurality of conductive balls placed in a container are sucked by using a suction head, and the plurality of conductive balls are a plurality of objects to be arranged. What is claimed is: 1. An apparatus for arranging conductive balls which is arranged so as to be collectively arranged on an electrode, comprising detecting a defective suction position of said conductive ball on an arrangement surface of said suction head, and detecting positional information of said defective suction part. A defective suction location detecting means for obtaining; a defective mounting location specifying means for specifying a defective mounting location of the conductive ball on the electrode based on the information of the defective suction location; And a moving means for moving the replenishing means to the defective mounting position based on the position information.

【0014】また、本発明の導電性ボールの吸引配列方
法は、容器内に入れられた複数の導電性ボールを吸引ヘ
ッドを用いて吸引し、前記導電性ボールを被配列対象物
である複数の電極上に一括して配置するようにした導電
性ボールの吸引配列方法であって、前記導電性ボールを
前記電極上に配置した後、前記吸引ヘッドの配列面にお
ける前記導電性ボール残存箇所を画像認識により検出し
て、当該残存箇所の情報を記録し、その情報を基に対応
する前記電極上における前記導電性ボールの欠落箇所を
特定し、前記欠落箇所のみに前記導電性ボールを補充す
ることを特徴とする。
In the method of arranging conductive balls according to the present invention, a plurality of conductive balls placed in a container are suctioned by using a suction head, and the plurality of conductive balls are arranged in a plurality of objects to be arranged. A method of arranging conductive balls, wherein the conductive balls are arranged on the electrodes at a time, and after arranging the conductive balls on the electrodes, an image of the remaining conductive balls on the arrangement surface of the suction head is formed. Detecting by recognition, recording information of the remaining portion, identifying a missing portion of the conductive ball on the corresponding electrode based on the information, and replenishing the conductive ball only in the missing portion. It is characterized by.

【0015】また、本発明の導電性ボールの吸引配列装
置は、容器内に入れられた複数の導電性ボールを吸引ヘ
ッドを用いて吸引し、前記導電性ボールを被配列対象物
である複数の電極上に一括して配置するようにした導電
性ボールの吸引配列装置であって、前記吸引ヘッドの配
列面における前記導電性ボールの残存箇所を検出して、
当該残存箇所の位置情報を得るための残存箇所検出手段
と、前記残存箇所の情報を基に対応する前記電極上にお
ける前記導電性ボールの欠落箇所を特定する欠落箇所特
定手段と、前記欠落箇所に前記導電性ボールを補充する
ための補充手段と、前記位置情報に基づいて前記補充手
段を前記欠落箇所へ移動させるための移動手段とを備え
たことを特徴とする。
Further, the apparatus for arranging conductive balls according to the present invention suctions a plurality of conductive balls contained in a container using a suction head, and divides the conductive balls into a plurality of objects to be arrayed. An apparatus for arranging conductive balls that is arranged so as to be collectively arranged on an electrode, and detects a remaining portion of the conductive balls on an arrangement surface of the suction head,
A remaining portion detecting means for obtaining position information of the remaining portion, a missing portion specifying means for identifying a missing portion of the conductive ball on the electrode based on the information of the remaining portion, and It is characterized by comprising replenishing means for replenishing the conductive ball, and moving means for moving the replenishing means to the missing portion based on the position information.

【0016】また、本発明の導電性ボールの吸引配列方
法は、容器内に入れられた複数の導電性ボールを吸引ヘ
ッドを用いて吸引し、前記導電性ボールを被配列対象物
である複数の電極上に一括して配置するようにした導電
性ボールの吸引配列方法であって、前記導電性ボールを
前記吸引ヘッドに吸着保持した後、前記吸引ヘッドの配
列面における前記導電性ボールの吸着不良箇所を画像認
識により検出して、当該不良箇所の情報を記録し、その
情報を基に対応する前記電極上における前記導電性ボー
ルの搭載不良箇所を特定し、前記搭載不良箇所にのみに
前記導電性ボールを正規に補充するステップと、前記導
電性ボールを前記電極上に配置した後、前記吸引ヘッド
の配列面における前記導電性ボール残存箇所を画像認識
により検出して、当該残存箇所の情報を記録し、その情
報を基に対応する前記電極上における前記導電性ボール
の欠落箇所を特定し、前記欠落箇所のみに前記導電性ボ
ールを補充するステップとを有することを特徴とする。
In the method of arranging conductive balls according to the present invention, a plurality of conductive balls placed in a container are suctioned by using a suction head, and the plurality of conductive balls are arranged as a plurality of objects to be arranged. What is claimed is: 1. A method of arranging conductive balls, wherein said conductive balls are arranged collectively on an electrode. The location is detected by image recognition, the information of the defective location is recorded, and the mounting failure location of the conductive ball on the corresponding electrode is specified based on the information. Step of regularly replenishing the conductive ball, and after arranging the conductive ball on the electrode, detecting the conductive ball remaining portion on the arrangement surface of the suction head by image recognition, Recording the information of the remaining portion, identifying a missing portion of the conductive ball on the electrode based on the information, and refilling the conductive ball only in the missing portion. And

【0017】また、本発明の導電性ボールの吸引配列装
置は、容器内に入れられた複数の導電性ボールを吸引ヘ
ッドを用いて吸引し、前記導電性ボールを被配列対象物
である複数の電極上に一括して配置するようにした導電
性ボールの吸引配列装置であって、前記吸引ヘッドの配
列面における前記導電性ボールの吸着不良箇所を検出し
て、当該吸着不良箇所に該当する第1の位置情報を得る
ための吸着不良箇所検出手段と、前記吸着不良箇所の情
報を基に対応する前記電極上における前記導電性ボール
の搭載不良箇所を特定する第1の搭載不良箇所特定手段
と、前記吸引ヘッドの配列面における前記導電性ボール
の残存箇所を検出して、当該残存箇所に該当する第2の
位置情報を得るための残存箇所検出手段と、前記残存箇
所の情報を基に対応する前記電極上における前記導電性
ボールの搭載不良箇所を特定する第2の搭載不良箇所特
定手段と、前記第1及び第2の搭載不良箇所検出手段の
少なくとも1つから検出した前記搭載不良箇所に前記導
電性ボールを正規に補充するための補充手段と、前記第
1及び第2の位置情報の少なくとも1つに基づいて前記
補充手段を前記搭載不良箇所へ移動させる移動手段とを
備えたことを特徴とする。
Further, in the apparatus for arranging conductive balls according to the present invention, a plurality of conductive balls placed in a container are suctioned by using a suction head, and the conductive balls are arranged in a plurality of objects to be arrayed. What is claimed is: 1. A device for arranging suction of conductive balls, wherein said device is arranged so as to be collectively arranged on an electrode, wherein said device detects a suction failure portion of said conductive ball on an arrangement surface of said suction head, and corresponds to said suction failure portion. A first defective mounting portion identifying means for identifying a defective mounting position of the conductive ball on the electrode based on the information of the poor absorbing position; A remaining portion detecting means for detecting a remaining portion of the conductive ball on the arrangement surface of the suction head and obtaining second position information corresponding to the remaining portion; and a pair based on the information of the remaining portion. A second mounting failure location specifying means for specifying a mounting failure location of the conductive ball on the electrode, and a mounting failure location detected from at least one of the first and second mounting failure location detecting means. Replenishing means for regularly replenishing the conductive ball, and moving means for moving the replenishing means to the mounting failure location based on at least one of the first and second position information. Features.

【0018】また、本発明の導電性ボールの吸引配列方
法において、前記吸着不良が余剰である箇所には、前記
余剰部分のボールを除去した後、正規に前記導電性ボー
ルを補充することを特徴とする。また、本発明の導電性
ボールの吸引配列装置において、前記補充手段は、前記
吸着不良が余剰である箇所には、前記余剰部分のボール
を除去した後、正規に前記導電性ボールを補充すること
を特徴とする。
Further, in the method of arranging conductive balls according to the present invention, in a place where the suction failure is excessive, the conductive ball is refilled properly after removing the excess ball. And In addition, in the conductive ball suction arrangement device of the present invention, the replenishing unit may refill the conductive ball regularly after removing the excess portion of the ball in a portion where the suction failure is excessive. It is characterized by.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る導電性ボール
の吸引配列装置及び吸引配列方法の実施形態を図面を参
照しながら説明する。図1は、吸引ヘッド100に真空
室3を設け、真空室3に減圧/加圧系統4及びリーク調
整弁5を設けた吸引配列装置の一例を示している。そし
て、図1(a)は吸引ヘッド100にボール102を吸
着している工程を、図1(b)は吸着したボール102
をウエハ105上へ配列する工程を示している。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of a conductive ball suction arrangement apparatus and a suction arrangement method according to the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows an example of a suction arrangement device in which a vacuum chamber 3 is provided in a suction head 100 and a pressure reducing / pressurizing system 4 and a leak adjusting valve 5 are provided in the vacuum chamber 3. FIG. 1A shows a process of adsorbing the ball 102 to the suction head 100, and FIG.
Are arranged on the wafer 105.

【0020】図1(a)に示すように、本実施形態のボ
ール吸引配列装置は吸引ヘッド100と容器101とを
有して構成されている。容器101内には、複数のボー
ル102が入れられており、吸引ヘッド100を用いて
吸引することにより、容器101内のボール102を吸
引ヘッド100下部に保持された配列基板1に一括して
吸着する。配列基板1は、ボール102を吸引する系と
は別の吸引系で真空吸引されることにより、吸引ヘッド
100のヘッド本体2に保持されている。なお、配列基
板1は押さえ治具によって周辺をヘッド本体に固定して
も良いし、接着等の方法によりヘッド本体2と一体に構
成してもよい。配列基板1が薄板等で構成され、変形す
る可能性がある場合には、吸引ヘッド100のヘッド本
体2と配列基板1の間に、配列基板1の吸引孔1aを完
全にふさがない程度の開口部をもつ多孔質体7を設け、
この多孔質体7の剛性を利用して配列基板1を支持する
ことが望ましい。
As shown in FIG. 1A, the ball suction arrangement device of the present embodiment includes a suction head 100 and a container 101. A plurality of balls 102 are placed in the container 101, and the balls 102 in the container 101 are collectively adsorbed to the array substrate 1 held under the suction head 100 by suctioning using the suction head 100. I do. The array substrate 1 is held on the head main body 2 of the suction head 100 by being vacuum-suctioned by a suction system different from the system for sucking the balls 102. The periphery of the array substrate 1 may be fixed to the head main body by a holding jig, or may be integrally formed with the head main body 2 by a method such as bonding. When the arrangement substrate 1 is formed of a thin plate or the like and may be deformed, an opening between the head body 2 of the suction head 100 and the arrangement substrate 1 is provided such that the suction holes 1a of the arrangement substrate 1 are not completely blocked. Providing a porous body 7 having a portion,
It is desirable to support the array substrate 1 using the rigidity of the porous body 7.

【0021】次に、配列基板1に吸着されたボール10
2が正常に吸着されているか否かを検査する。図2に示
すように、ボール配列状態を配列検査カメラ(画像取込
カメラ)11によって検査する。配列検査カメラ11が
移動ガイド14に沿って移動しながら画像を取り込んで
いく。吸引ヘッド100は配列検査カメラ11の移動方
向と直交方向に移動する。これにより、配列検査カメラ
11はボール配列エリア全領域を検査することができ
る。
Next, the balls 10 adsorbed on the array substrate 1
It is checked whether 2 is adsorbed normally. As shown in FIG. 2, the ball arrangement state is inspected by an arrangement inspection camera (image capturing camera) 11. The array inspection camera 11 captures an image while moving along the movement guide 14. The suction head 100 moves in a direction orthogonal to the moving direction of the array inspection camera 11. Thereby, the array inspection camera 11 can inspect the entire ball array area.

【0022】吸引ヘッド100と移動ガイド14のそれ
ぞれに位置検出のためのエンコーダが設けられており、
配列基板1に対する配列検査カメラ11の位置(座標)
を検出することが可能である。配列検査カメラ11で取
り込まれた画像は画像処理手段12によって画像処理さ
れる。そして、処理した画像を不図示のモニタ等に表示
することにより画像認識が可能となる。
Each of the suction head 100 and the moving guide 14 is provided with an encoder for detecting a position.
Position (coordinates) of array inspection camera 11 with respect to array substrate 1
Can be detected. The image captured by the array inspection camera 11 is subjected to image processing by the image processing means 12. Then, by displaying the processed image on a monitor (not shown) or the like, image recognition becomes possible.

【0023】ボール吸着後の検査で吸着不良箇所を検出
した際、不良箇所が余剰ボールの場合は除去し、ボール
不足の場合は予め定められた基準により再吸着するか、
そのままウエハ105にボール102を搭載するかを判
断する。この基準は、不足ボールの個数や割合などによ
り個別に設定できる。例えば、不足ボールの基準を10
個とした場合には、ボール吸着後の検査で吸着不足が2
0個あれば再吸着を行い、再吸着後、再度ボールを検査
して吸着不足が6個であればそのまま搭載動作に移行す
る。再吸着せずにウエハ105にボール102を搭載す
る場合、配列検査カメラ11の位置検出を行うエンコー
ダにより配列基板1上の吸着不良箇所の位置情報を検出
し、検出された位置情報は位置記録手段13に記憶され
る。その位置情報をウエハ105上のボール搭載不良箇
所を修正するボール修正装置に反映することができる。
不良箇所の位置情報は、画像処理手段12によって処理
された画像を基に不良箇所を判定し処理画像の座標から
ボール修正装置へ修正位置座標を返しても良い。
When a defective suction portion is detected in the inspection after ball suction, if the defective portion is a surplus ball, it is removed, and if the ball is insufficient, the ball is re-adsorbed according to a predetermined standard.
It is determined whether the ball 102 is mounted on the wafer 105 as it is. This criterion can be set individually according to the number and ratio of the missing balls. For example, the criteria for missing balls is 10
In the case of individual pieces, the inspection after ball suction shows that
If the number is zero, re-adsorption is performed. After the re-adsorption, the ball is inspected again. When the ball 102 is mounted on the wafer 105 without being re-adsorbed, the position information of the defective suction spot on the array substrate 1 is detected by an encoder for detecting the position of the array inspection camera 11, and the detected position information is stored in a position recording unit. 13 is stored. The positional information can be reflected on a ball correcting device that corrects a defective ball mounting position on the wafer 105.
As the position information of the defective portion, the defective portion may be determined based on the image processed by the image processing means 12, and the corrected position coordinates may be returned to the ball correcting device from the coordinates of the processed image.

【0024】配列基板1へのボール吸着状態の検査後、
ボール102をウエハ105上に搭載する工程へ移る。
ヘッド本体2には真空室3が形成されている。減圧/加
圧系統4及びリーク調整弁5はヘッド本体2に対して設
けられており、これらを操作することにより真空室3の
圧力を所定の圧力に設定することが可能とされている。
After the inspection of the ball suction state on the array substrate 1,
The process moves to a step of mounting the ball 102 on the wafer 105.
A vacuum chamber 3 is formed in the head main body 2. The pressure reducing / pressurizing system 4 and the leak adjusting valve 5 are provided for the head main body 2, and by operating these, the pressure of the vacuum chamber 3 can be set to a predetermined pressure.

【0025】配列基板1の吸引孔1aにボール102を
吸着した後、図1(b)に示すように吸引ヘッド100
をウエハ105上に移動し、ウエハ105上の電極10
5aと配列基板1の吸引孔1aの位置を対応させる。そ
して、リーク調整弁5を操作することにより真空室3の
減圧状態を解除する。これにより、配列基板1に吸引さ
れていたボール102がウエハ105の電極105a上
に配列される。
After the balls 102 are sucked into the suction holes 1a of the array substrate 1, the suction head 100 is moved as shown in FIG.
Is moved onto the wafer 105, and the electrodes 10 on the wafer 105 are moved.
5a and the position of the suction hole 1a of the array substrate 1 are made to correspond. Then, the reduced pressure state of the vacuum chamber 3 is released by operating the leak adjustment valve 5. Thus, the balls 102 sucked by the array substrate 1 are arrayed on the electrodes 105a of the wafer 105.

【0026】ボール102の搭載後、図3に示すよう
に、再度、配列検査カメラ11によって配列基板1上に
残った残存ボールを検査する。吸引孔1aに食い込む等
してウエハ105の電極105a上に搭載されずに配列
基板1に残存したボール102の有無をここで検査す
る。残存ボール102の存在する箇所はウエハ105上
へボール搭載されていない箇所なので、検査結果をボー
ル補充装置104へ送り、電極105aへのボール10
2の補充を行う。
After the balls 102 are mounted, the remaining balls on the array substrate 1 are inspected again by the array inspection camera 11 as shown in FIG. The presence or absence of the ball 102 remaining on the array substrate 1 without being mounted on the electrode 105a of the wafer 105 by, for example, biting into the suction hole 1a is inspected here. Since the portion where the remaining ball 102 exists is a portion where the ball is not mounted on the wafer 105, the inspection result is sent to the ball replenishing device 104 and the ball 10 is transferred to the electrode 105a.
2. Refill 2.

【0027】次に、図4を参照しながら、ボール搭載不
良箇所が発生した場合にボール102の補充を行うボー
ル検査装置103及びボール補充装置104の構成につ
いて説明する。このボール検査装置103及びボール補
充装置104は、図1に示した吸引配列装置の構成に含
まれ、ボール102の配列、検査、補充を一連の工程で
行うものである。
Next, the configuration of the ball inspection device 103 and the ball replenishing device 104 for replenishing the ball 102 when a defective ball mounting portion occurs will be described with reference to FIG. The ball inspection device 103 and the ball replenishment device 104 are included in the configuration of the suction arrangement device shown in FIG. 1, and perform the arrangement, inspection, and replenishment of the balls 102 in a series of steps.

【0028】図4(a)は、ウエハ105上の搭載不良
箇所にボール102を補充するためのボール補充装置1
04を示している。ボール補充装置104は、ボール1
02を所定の個数だけ吸着する吸着手段21、吸着手段
21を移動するガイドである吸着手段移動ガイド22と
を有して構成されている。吸着手段21は吸着手段移動
ガイド22に沿って移動することが可能である。また、
吸着手段移動ガイド22は、長手方向と垂直方向にウエ
ハ105に対して平行に移動可能とされている。従っ
て、吸着手段21はウエハ105上の全領域に移動可能
とされている。図4(a)に示す例では、吸着手段21
はボールバンプ102を1つだけ吸着するように構成さ
れている。
FIG. 4A shows a ball replenishing apparatus 1 for replenishing a ball 102 at a defective mounting position on a wafer 105.
04 is shown. The ball replenishing device 104
The suction unit 21 is configured to include a suction unit 21 that suctions a predetermined number of 02 and a suction unit moving guide 22 that is a guide that moves the suction unit 21. The suction means 21 can move along the suction means moving guide 22. Also,
The suction means moving guide 22 is movable parallel to the wafer 105 in a direction perpendicular to the longitudinal direction. Therefore, the suction means 21 can be moved to the whole area on the wafer 105. In the example shown in FIG.
Is configured to adsorb only one ball bump 102.

【0029】吸着手段21と吸着手段移動ガイド22と
の間にも、やはり移動量を検出するためのエンコーダが
設けられている。また、吸着手段移動ガイド22の移動
量を検出するためにエンコーダが設けられている。エン
コーダとしては、光学センサ、磁気センサ等を用いた各
種の位置検出機構を用いることができる。これにより、
ウエハ105上で吸着手段21の位置(座標)が検出可
能とされている。そして、位置情報記憶手段13にて記
憶された吸着不良箇所の位置情報に基づいて、吸着手段
21の位置を検出しながら吸着手段21が吸着不良箇所
上に移動される。移動は、吸着手段21、吸着手段移動
ガイド22に接続されたモータ及び駆動機構から成る移
動手段によって行う。
An encoder for detecting the amount of movement is also provided between the suction means 21 and the suction means moving guide 22. Further, an encoder is provided for detecting the amount of movement of the suction means moving guide 22. Various position detection mechanisms using an optical sensor, a magnetic sensor, or the like can be used as the encoder. This allows
The position (coordinates) of the suction means 21 on the wafer 105 can be detected. Then, based on the position information of the suction failure location stored in the position information storage means 13, the suction means 21 is moved to the suction failure location while detecting the position of the suction means 21. The movement is performed by moving means including a motor and a driving mechanism connected to the suction means 21 and the suction means moving guide 22.

【0030】前述したように、吸着手段21は、1つの
ボール102を吸引して保持している。吸着手段21を
吸着不良箇所上に移動した後、吸引を解除することによ
り吸着不良箇所の電極105aにボール102が搭載さ
れる。
As described above, the suction means 21 sucks and holds one ball 102. After the suction means 21 is moved to the position where the suction is poor, the suction is released, whereby the ball 102 is mounted on the electrode 105a at the position where the suction is poor.

【0031】なお、吸着手段21は複数個のボール10
2を吸着可能としてもよく、この場合には、複数のボー
ル102が欠落した吸着不良箇所に複数のボール102
を一度に補充することが可能となる。
It should be noted that the suction means 21 is provided with a plurality of balls 10
2 may be adsorbable, and in this case, a plurality of balls 102
Can be replenished at once.

【0032】図4(b)は、ウエハ105上の搭載不良
箇所である余剰搭載個所を修正するためのボール修正装
置103aを示している。ボール修正装置103aは、
ボール102を所定の個数だけ除去する除去手段31、
除去手段31を移動するガイドである除去手段移動ガイ
ド32とを有して構成されている。除去手段31は除去
手段移動ガイド32に沿って移動することが可能であ
る。また、除去手段移動ガイド32は、長手方向と垂直
方向にウエハ105に対して平行に移動可能とされてい
る。従って、除去手段31はウエハ105上の全領域に
移動可能とされている。図4(b)に示す例では、除去
手段31は余剰導電性ボール102’と、ボール10
2’と近接した正規に搭載された導電性ボール102の
双方を除去するように構成されている。
FIG. 4B shows a ball correcting device 103a for correcting a surplus mounting portion, which is a mounting defective portion on the wafer 105. The ball correction device 103a
Removing means 31 for removing a predetermined number of balls 102;
It has a removing means moving guide 32 which is a guide for moving the removing means 31. The removing means 31 can move along the removing means moving guide 32. Further, the removing means moving guide 32 is movable in parallel to the wafer 105 in a direction perpendicular to the longitudinal direction. Therefore, the removing means 31 can be moved to the whole area on the wafer 105. In the example shown in FIG. 4B, the removing means 31 includes the surplus conductive balls 102 'and the balls 10'.
It is configured to remove both the normally mounted conductive ball 102 adjacent to 2 ′.

【0033】除去手段31と除去手段移動ガイド32と
の間にも、やはり移動量を検出するためのエンコーダが
設けられている。また、除去手段移動ガイド32の移動
量を検出するためにエンコーダが設けられている。エン
コーダとしては、光学センサ、磁気センサ等を用いた各
種の位置検出機構を用いることができる。これにより、
ウエハ105上で除去手段31の位置(座標)が検出可
能とされている。そして、位置情報記憶手段13にて記
憶された、吸着不良個所、もしくは搭載不良箇所の位置
情報に基づいて、除去手段31の位置を検出しながら除
去手段31が搭載不良箇所上に移動される。移動は除去
手段31、除去手段移動ガイド32に接続されたモータ
および駆動機構から成る手段によって行う。
An encoder is also provided between the removing means 31 and the removing means moving guide 32 for detecting the amount of movement. In addition, an encoder is provided for detecting the amount of movement of the removing means moving guide 32. Various position detection mechanisms using an optical sensor, a magnetic sensor, or the like can be used as the encoder. This allows
The position (coordinates) of the removing unit 31 on the wafer 105 can be detected. Then, based on the position information of the suction failure location or the mounting failure location stored in the position information storage means 13, the removal means 31 is moved to the mounting failure location while detecting the position of the removal means 31. The movement is performed by means including a motor and a driving mechanism connected to the removing means 31 and the removing means moving guide 32.

【0034】除去手段31は小エリアを除去可能であれ
ばどの方法でも良く、例えば機械的に挟むようなもの
や、突起物で突き刺すようなものでも良いし、吸引によ
って除去してもよい。
The removing means 31 may be any method as long as it can remove a small area, for example, may be a method of mechanically sandwiching, a method of piercing with a projection, or a method of removing by suction.

【0035】なお、除去手段31は、余剰ボール1個づ
つを除去しても良いし、隣接する正規のボールを含む複
数個を同時に除去しても良い。正規の位置に搭載された
ボールも除去した場合は、前述の補充手段21によって
更に修正する。
The removing means 31 may remove the surplus balls one by one, or may simultaneously remove a plurality of balls including adjacent regular balls. When the ball mounted at the regular position is also removed, the ball is further corrected by the replenishing means 21 described above.

【0036】また、本実施形態では、主として300m
mウエハ等の大口径ウエハへのボール102の配列を行
うようにしているため、半導体チップ1個分に相当する
数のボール102を吸着手段21で吸着して、ウエハ1
05上の半導体チップ1つ分に相当する吸引不良箇所に
ボール102を再載置するようにしてもよい。この場合
には、予め吸着不良箇所を含む半導体チップ1個分のボ
ール102を吸引等の方法によって除去して、半導体チ
ップ1個分のボール102を吸着した吸着手段21によ
って半導体チップ1個分のボール102の補充を行う。
Also, in this embodiment, 300 m
Since the balls 102 are arranged on a large-diameter wafer such as an m-wafer, the number of the balls 102 corresponding to one semiconductor chip is suctioned by the suction means 21 and the wafer 1
The ball 102 may be re-mounted on a defective suction position corresponding to one semiconductor chip on the semiconductor device 05. In this case, the ball 102 for one semiconductor chip including the defective suction portion is removed in advance by a method such as suction, and the suction means 21 that has suctioned the ball 102 for one semiconductor chip is used to suck the ball 102 for one semiconductor chip. The ball 102 is refilled.

【0037】以上説明したように本実施形態によれば、
特に300mmウエハ等の大面積の対象物に一括してボ
ール102を配置する場合において、吸着不良が発生し
た場合であっても、吸着手段21により不良箇所に補充
を行うことによって、ウエハ105上の全ての電極10
5a上にボール102を配列することが可能となる。従
って、ウエハ105の電極105a上へのボール102
の配列の信頼性を向上させることができる。
As described above, according to the present embodiment,
In particular, when the ball 102 is collectively arranged on a large-area object such as a 300 mm wafer, even if a suction failure occurs, the defective portion on the wafer 105 is replenished by the suction unit 21 by using the suction means 21. All electrodes 10
The balls 102 can be arranged on 5a. Therefore, the ball 102 is placed on the electrode 105a of the wafer 105.
Can improve the reliability of the array.

【0038】[0038]

【発明の効果】本発明によれば、吸引ヘッドに導電性ボ
ールを吸着して配列する際に、吸着不良が発生した場合
であっても、吸着不良箇所に導電性ボールを補充するこ
とが可能となる。従って、配列の信頼性を向上させた導
電性ボールの吸引配列方法及び吸引配列装置を提供する
ことができる。また、本発明によれば、吸引ヘッドのす
べての吸引孔にボールが吸着されていなくても搭載動作
に移行できるため、再吸着回数を減らし、又はなくすこ
とができるため、生産効率の向上が図れる。
According to the present invention, it is possible to replenish conductive balls at defective suction locations when suction failure occurs when the conductive balls are sucked and arranged on the suction head. Becomes Therefore, it is possible to provide a method and an apparatus for arranging and attracting conductive balls with improved arrangement reliability. Further, according to the present invention, the operation can be shifted to the mounting operation even if the ball is not sucked in all the suction holes of the suction head, so that the number of times of re-suction can be reduced or eliminated, thereby improving the production efficiency. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態に係る吸引配列装置により
ウエハ上へボールを配列する方法を示す模式図である。
FIG. 1 is a schematic view showing a method of arranging balls on a wafer by a suction arrangement apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】ボール配列状態を配列検査カメラによって検査
する状態を示す模式図である。
FIG. 2 is a schematic view showing a state where a ball arrangement state is inspected by an arrangement inspection camera.

【図3】配列基板上に残った残存ボールを検査する状態
を示す模式図である。
FIG. 3 is a schematic view showing a state of inspecting a remaining ball remaining on an array substrate.

【図4】本発明の一実施形態に係るボール補充装置及び
ボール修正装置を示す模式図である。
FIG. 4 is a schematic diagram showing a ball refilling device and a ball correcting device according to one embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 配列基板 1a 吸引孔 2 ヘッド本体 3 真空室 4 減圧/加圧系統 5 リーク調整弁 6 振動印加手段 7 多孔質体 11 画像取込カメラ 12 画像処理手段 13 位置記録手段 14 カメラ移動ガイド 21 吸着手段 22 吸着手段移動ガイド 31 除去手段 32 除去手段移動ガイド 100 吸引ヘッド 101 容器 102 ボール 103a ボール修正装置 104 ボール補充装置 105 ウエハ 105a 電極 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Array board 1a Suction hole 2 Head main body 3 Vacuum chamber 4 Decompression / pressurization system 5 Leak adjusting valve 6 Vibration applying means 7 Porous body 11 Image capture camera 12 Image processing means 13 Position recording means 14 Camera movement guide 21 Suction means 22 Suction means moving guide 31 Removing means 32 Removing means moving guide 100 Suction head 101 Container 102 Ball 103a Ball correcting device 104 Ball replenishing device 105 Wafer 105a Electrode

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 橋野 英児 富津市新富20−1 新日本製鐵株式会社技 術開発本部内 (72)発明者 新妻 和生 石川県金沢市大豆田本町甲58番地 澁谷工 業株式会社内 Fターム(参考) 5E319 AA03 AB05 AC01 AC16 BB04 CC22 CD04 CD26 GG15  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Hideji Hashino 20-1 Shintomi, Futtsu City Nippon Steel Corporation Technology Development Headquarters (72) Inventor Kazuo Niizuma 58-58 Soyoda Honmachi Kou, Kanazawa-shi, Ishikawa Shibuya F-term (reference) 5E319 AA03 AB05 AC01 AC16 BB04 CC22 CD04 CD26 GG15

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 容器内に入れられた複数の導電性ボール
を吸引ヘッドを用いて吸引し、前記導電性ボールを被配
列対象物である複数の電極上に一括して配置するように
した導電性ボールの吸引配列方法であって、 前記導電性ボールを前記電極上に配置した後、前記電極
上における前記導電性ボールの配置欠陥箇所を画像認識
により検出して、当該欠陥箇所の情報を記録し、前記配
置欠陥が搭載ボールの欠落である箇所には、正規に前記
導電性ボールを補充し、余剰である箇所には、前記余剰
部分が含まれる前記配置欠陥を除去した後、正規に前記
導電性ボールを補充することを特徴とする導電性ボール
の吸引配列方法。
1. A conductive device in which a plurality of conductive balls placed in a container are suctioned using a suction head, and the conductive balls are collectively arranged on a plurality of electrodes which are objects to be arranged. A method of arranging conductive balls, wherein after arranging the conductive balls on the electrodes, an arrangement defect of the conductive balls on the electrodes is detected by image recognition, and information on the defect is recorded. Then, in the place where the placement defect is a lack of the mounting ball, the conductive ball is regularly replenished, and in the place where there is a surplus, the placement defect including the surplus part is removed, and then the form defect is removed. A method for arranging conductive balls by replenishing conductive balls.
【請求項2】 容器内に入れられた複数の導電性ボール
を吸引ヘッドを用いて吸引し、前記導電性ボールを被配
列対象物である複数の電極上に一括して配置するように
した導電性ボールの吸引配列装置であって、 前記導電性ボールを前記電極上に配置した後、前記電極
上における前記導電性ボールの余剰配置箇所を画像認識
により検出する手段と、当該余剰配置箇所の情報を記録
する手段と、前記配置欠陥が搭載ボールの欠落である箇
所には、正規に前記導電性ボールを補充する手段と、余
剰である箇所には、前記余剰部分のボールを除去した
後、正規に前記導電性ボールを補充する手段と、を有す
ることを特徴とする導電性ボールの吸引配列装置。
2. A conductive device, wherein a plurality of conductive balls placed in a container are sucked using a suction head, and the conductive balls are collectively arranged on a plurality of electrodes to be arranged. A device for arranging the conductive balls on the electrodes, detecting a surplus arrangement position of the conductive balls on the electrodes by image recognition, and information on the surplus arrangement positions. Means for recording, and a means for regularly replenishing the conductive ball in a place where the placement defect is a missing mounting ball, and a method for removing the surplus part of the ball in a surplus part, Means for replenishing the conductive balls.
【請求項3】 容器内に入れられた複数の導電性ボール
を吸引ヘッドを用いて吸引し、前記導電性ボールを被配
列対象物である複数の電極上に一括して配置するように
した導電性ボールの吸引配列方法であって、 前記導電性ボールを前記吸引ヘッドに吸着保持した後、
前記吸引ヘッドの配列面における前記導電性ボールの吸
着不良箇所を画像認識により検出して、当該不良箇所の
情報を記録し、その情報を基に対応する前記電極上にお
ける前記導電性ボールの搭載不良箇所を特定し、前記搭
載不良箇所にのみに前記導電性ボールを正規に補充する
ことを特徴とする導電性ボールの吸引配列方法。
3. A conductive device in which a plurality of conductive balls placed in a container are suctioned using a suction head, and the conductive balls are collectively arranged on a plurality of electrodes which are objects to be arranged. A method for arranging conductive balls, comprising: holding the conductive balls by suction on the suction head;
A defective suction position of the conductive ball on the arrangement surface of the suction head is detected by image recognition, information of the defective position is recorded, and a mounting failure of the conductive ball on the electrode corresponding to the defective information is recorded based on the information. A method for arranging conductive balls, wherein a position is specified, and the conductive balls are regularly replenished only in the mounting failure position.
【請求項4】 容器内に入れられた複数の導電性ボール
を吸引ヘッドを用いて吸引し、前記導電性ボールを被配
列対象物である複数の電極上に一括して配置するように
した導電性ボールの吸引配列装置であって、 前記吸引ヘッドの配列面における前記導電性ボールの吸
着不良箇所を検出して、当該吸着不良箇所の位置情報を
得るための吸着不良箇所検出手段と、 前記吸着不良箇所の情報を基に対応する前記電極上にお
ける前記導電性ボールの搭載不良箇所を特定する搭載不
良箇所特定手段と、 前記搭載不良箇所に前記導電性ボールを正規に補充する
ための補充手段と、 前記位置情報に基づいて前記補充手段を前記搭載不良箇
所へ移動させるための移動手段とを備えたことを特徴と
する導電性ボールの吸引配列装置。
4. A conductive type in which a plurality of conductive balls placed in a container are suctioned using a suction head, and the conductive balls are collectively arranged on a plurality of electrodes which are objects to be arranged. A suction ball arranging device, comprising: a suction deficient portion detecting means for detecting a suction deficient portion of the conductive ball on an array surface of the suction head and obtaining positional information of the suction deficient portion; A mounting failure location specifying means for specifying a mounting failure location of the conductive ball on the electrode based on the information of the failure location; and a replenishing means for regularly replenishing the conductive ball to the mounting failure location. And a moving means for moving the replenishing means to the mounting failure portion based on the position information.
【請求項5】 容器内に入れられた複数の導電性ボール
を吸引ヘッドを用いて吸引し、前記導電性ボールを被配
列対象物である複数の電極上に一括して配置するように
した導電性ボールの吸引配列方法であって、 前記導電性ボールを前記電極上に配置した後、前記吸引
ヘッドの配列面における前記導電性ボール残存箇所を画
像認識により検出して、当該残存箇所の情報を記録し、
その情報を基に対応する前記電極上における前記導電性
ボールの欠落箇所を特定し、前記欠落箇所のみに前記導
電性ボールを補充することを特徴とする導電性ボールの
吸引配列方法。
5. A conductive material in which a plurality of conductive balls placed in a container are sucked using a suction head, and the conductive balls are collectively arranged on a plurality of electrodes to be arranged. A method for arranging conductive balls, wherein after arranging the conductive balls on the electrodes, the conductive ball remaining portions on the arrangement surface of the suction head are detected by image recognition, and information on the remaining portions is detected. Record
A method for arranging conductive balls, the method comprising: identifying a missing portion of the conductive ball on the electrode based on the information; and replenishing the conductive ball only in the missing portion.
【請求項6】 容器内に入れられた複数の導電性ボール
を吸引ヘッドを用いて吸引し、前記導電性ボールを被配
列対象物である複数の電極上に一括して配置するように
した導電性ボールの吸引配列装置であって、 前記吸引ヘッドの配列面における前記導電性ボールの残
存箇所を検出して、当該残存箇所の位置情報を得るため
の残存箇所検出手段と、 前記残存箇所の情報を基に対応する前記電極上における
前記導電性ボールの欠落箇所を特定する欠落箇所特定手
段と、 前記欠落箇所に前記導電性ボールを補充するための補充
手段と、 前記位置情報に基づいて前記補充手段を前記欠落箇所へ
移動させるための移動手段とを備えたことを特徴とする
導電性ボールの吸引配列装置。
6. A conductive material in which a plurality of conductive balls placed in a container are sucked using a suction head, and the conductive balls are collectively arranged on a plurality of electrodes to be arranged. And a remaining portion detecting means for detecting a remaining portion of the conductive ball on an arrangement surface of the suction head and obtaining positional information of the remaining portion, and information of the remaining portion. A missing portion identifying means for identifying a missing portion of the conductive ball on the electrode based on the following; a replenishing device for replenishing the conductive ball in the missing portion; and the replenishing based on the position information. And a moving means for moving the means to the missing portion.
【請求項7】 容器内に入れられた複数の導電性ボール
を吸引ヘッドを用いて吸引し、前記導電性ボールを被配
列対象物である複数の電極上に一括して配置するように
した導電性ボールの吸引配列方法であって、 前記導電性ボールを前記吸引ヘッドに吸着保持した後、
前記吸引ヘッドの配列面における前記導電性ボールの吸
着不良箇所を画像認識により検出して、当該不良箇所の
情報を記録し、その情報を基に対応する前記電極上にお
ける前記導電性ボールの搭載不良箇所を特定し、前記搭
載不良箇所にのみに前記導電性ボールを正規に補充する
ステップと、 前記導電性ボールを前記電極上に配置した後、前記吸引
ヘッドの配列面における前記導電性ボール残存箇所を画
像認識により検出して、当該残存箇所の情報を記録し、
その情報を基に対応する前記電極上における前記導電性
ボールの欠落箇所を特定し、前記欠落箇所のみに前記導
電性ボールを補充するステップとを有することを特徴と
する導電性ボールの吸引配列方法。
7. A conductive member in which a plurality of conductive balls placed in a container are sucked using a suction head, and the conductive balls are collectively arranged on a plurality of electrodes to be arranged. A method for arranging conductive balls, comprising: holding the conductive balls by suction on the suction head;
A defective suction position of the conductive ball on the arrangement surface of the suction head is detected by image recognition, information of the defective position is recorded, and a mounting failure of the conductive ball on the electrode corresponding to the defective information is recorded based on the information. Specifying a location and regularly refilling the conductive ball only in the mounting failure location; and, after arranging the conductive ball on the electrode, the conductive ball remaining location on the arrangement surface of the suction head. Is detected by image recognition, and information of the remaining portion is recorded,
Identifying a missing portion of the conductive ball on the electrode based on the information, and refilling the conductive ball only in the missing portion. .
【請求項8】 容器内に入れられた複数の導電性ボール
を吸引ヘッドを用いて吸引し、前記導電性ボールを被配
列対象物である複数の電極上に一括して配置するように
した導電性ボールの吸引配列装置であって、 前記吸引ヘッドの配列面における前記導電性ボールの吸
着不良箇所を検出して、当該吸着不良箇所に該当する第
1の位置情報を得るための吸着不良箇所検出手段と、 前記吸着不良箇所の情報を基に対応する前記電極上にお
ける前記導電性ボールの搭載不良箇所を特定する第1の
搭載不良箇所特定手段と、 前記吸引ヘッドの配列面における前記導電性ボールの残
存箇所を検出して、当該残存箇所に該当する第2の位置
情報を得るための残存箇所検出手段と、 前記残存箇所の情報を基に対応する前記電極上における
前記導電性ボールの搭載不良箇所を特定する第2の搭載
不良箇所特定手段と、 前記第1及び第2の搭載不良箇所検出手段の少なくとも
1つから検出した前記搭載不良箇所に前記導電性ボール
を正規に補充するための補充手段と、 前記第1及び第2の位置情報の少なくとも1つに基づい
て前記補充手段を前記搭載不良箇所へ移動させる移動手
段とを備えたことを特徴とする導電性ボールの吸引配列
装置。
8. A conductive material in which a plurality of conductive balls placed in a container are suctioned using a suction head, and the conductive balls are collectively arranged on a plurality of electrodes to be arranged. A suction ball arranging device for detecting the position of a suction failure of the conductive ball on the arrangement surface of the suction head, and detecting a position of the suction failure to obtain first position information corresponding to the position of the suction failure. Means, a first mounting failure location specifying means for specifying a mounting failure location of the conductive ball on the electrode based on the information of the suction failure location, and the conductive ball on an arrangement surface of the suction head Remaining position detecting means for detecting a remaining position of the remaining portion and obtaining second position information corresponding to the remaining portion, and the conductive ball on the electrode corresponding to the information of the remaining portion A second mounting failure location specifying means for specifying a mounting failure location; and a conductive ball is regularly replenished to the mounting failure location detected from at least one of the first and second mounting failure location detecting means. And a moving means for moving the refilling means to the mounting failure location based on at least one of the first and second position information. .
【請求項9】 請求項3または7に記載の方法におい
て、 前記吸着不良が余剰である箇所には、前記余剰部分のボ
ールを除去した後、正規に前記導電性ボールを補充する
ことを特徴とする導電性ボールの吸引配列方法。
9. The method according to claim 3, wherein the portion where the poor suction is excessive is removed by removing the excess ball, and then the conductive ball is regularly refilled. Method of arranging conductive balls to be drawn.
【請求項10】 請求項4または8に記載の装置におい
て、 前記補充手段は、前記吸着不良が余剰である箇所には、
前記余剰部分のボールを除去した後、正規に前記導電性
ボールを補充することを特徴とする導電性ボールの吸引
配列装置。
10. The apparatus according to claim 4, wherein the replenishing means includes a portion where the suction failure is excessive.
The conductive ball suction arrangement device, wherein the conductive ball is regularly refilled after removing the surplus portion of the ball.
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