JP2002177874A - Coating method - Google Patents

Coating method

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JP2002177874A
JP2002177874A JP2001303686A JP2001303686A JP2002177874A JP 2002177874 A JP2002177874 A JP 2002177874A JP 2001303686 A JP2001303686 A JP 2001303686A JP 2001303686 A JP2001303686 A JP 2001303686A JP 2002177874 A JP2002177874 A JP 2002177874A
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JP
Japan
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substrate
coating
coating liquid
cup
disk
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Pending
Application number
JP2001303686A
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Japanese (ja)
Inventor
Hirohito Sago
宏仁 佐合
Shigemi Fujiyama
重美 藤山
Futoshi Shimai
太 島井
Akira Uehara
晃 植原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
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Publication date
Application filed by Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd filed Critical Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a coating method capable of applying a coating liquid to the surface of a substrate thinly and uniformly in a short time. SOLUTION: A slit nozzle 6 faces one end of a glass substrate W from the upper side. While a coating liquid 10 is sprayed from the slit nozzle 6, the slit nozzle 6 is moved parallel to the glass substrate W, thereby roughly applying the coating liquid to almost whole surface of the glass substrate W. Subsequently, an inner cup 2 is rotated to rotate the glass substrate W concurrently, which uniformly disperses the coating liquid coated on the surface.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はガラス基板や半導体ウェ
ーハ等の基板表面にホトレジスト等の塗布液を塗布する
方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for applying a coating solution such as a photoresist to a substrate surface such as a glass substrate or a semiconductor wafer.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶表示装置のガラス基板にカラーフィ
ルター用のホトレジスト液を均一に塗布したり、半導体
ウェーハ表面に各種塗布液を均一に塗布する手段とし
て、基板の中心に塗布液を滴下した後、基板を高速で回
転させ、遠心力によって塗布液を基板表面全域に均一に
拡散せしめている。
2. Description of the Related Art As a means for uniformly applying a photoresist solution for a color filter to a glass substrate of a liquid crystal display device and uniformly applying various coating solutions to the surface of a semiconductor wafer, a coating solution is dropped on the center of the substrate. The substrate is rotated at a high speed, and the coating liquid is uniformly diffused over the entire surface of the substrate by centrifugal force.

【0003】上記のスピンナーにて基板を回転せしめる
方法では、中心に滴下した塗布液を周縁まで均一に拡散
させるため、基板から飛散する塗布液の量も多くなり、
結果として多量の塗布液を使用することになる。
In the method in which the substrate is rotated by the above-mentioned spinner, the amount of the coating liquid scattered from the substrate increases because the coating liquid dropped at the center is uniformly diffused to the periphery.
As a result, a large amount of coating liquid is used.

【0004】そこで、塗布液の使用量を抑えるためにス
リットノズルを用いた先行技術が特開昭63−1563
20号公報、特開平4−332116号公報、特開平6
−151296号公報に提案されている。
Therefore, a prior art using a slit nozzle in order to suppress the use amount of the coating liquid is disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 63-1563.
No. 20, JP-A-4-332116, JP-A-6-332116
No. 5-1296.

【0005】特開昭63−156320号公報及び特開
平4−332116号公報に開示される技術は、基板上
方に臨ませたスリットノズルを基板と平行に移動しつつ
塗布液を滴下して基板表面にある程度均一な厚さで塗布
液を塗布した後に、基板を回転させて塗布液の厚さを均
一にするようにしたものであり、特開平6−15129
6号公報に提案された技術は、スリットノズルの先端で
塗布液の厚さを均一にしようというものである。
The technique disclosed in JP-A-63-156320 and JP-A-4-332116 discloses a technique in which a coating liquid is dropped while moving a slit nozzle facing the substrate in parallel with the substrate. Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-15129 discloses a method in which a coating solution is applied to a uniform thickness to some extent, and then the substrate is rotated to make the thickness of the coating solution uniform.
The technique proposed in Japanese Patent Laid-Open Publication No. 6-2006 is to make the thickness of the coating liquid uniform at the tip of the slit nozzle.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】特開昭63−1563
20号公報及び特開平4−332116号公報に開示さ
れる方法にあっては、塗布液を基板表面に単に滴下して
いるだけであるので、滴下の際に塗布液自体に表面張力
が作用して、均一に塗布することができず、或いは均一
に塗布するには多量の塗布液を必要とする。
Problems to be Solved by the Invention
In the methods disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 20-320 and Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-332116, since the coating liquid is simply dropped onto the substrate surface, the surface tension acts on the coating liquid itself at the time of dropping. Therefore, it cannot be applied uniformly, or a large amount of coating liquid is required to apply it uniformly.

【0007】また上記先行技術にあっては、外気に開放
された雰囲気で基板を回転させているため、塗布液中の
溶媒の蒸発速度が速く、塗布液の粘度が急速に高くな
り、全面に均一に拡散せしめるのが困難である。
In the above prior art, since the substrate is rotated in an atmosphere open to the outside air, the solvent in the coating solution evaporates at a high rate, and the viscosity of the coating solution rapidly increases, and Difficult to diffuse evenly.

【0008】一方、特開平6−151296号公報に開
示される方法では、ノズル先端が塗布液に接触している
ので、ノズルが汚れやすく、また塗布後にノズルを塗布
液から離す際に膜厚が不均一になる。
On the other hand, in the method disclosed in JP-A-6-151296, since the tip of the nozzle is in contact with the coating liquid, the nozzle is easily stained, and when the nozzle is separated from the coating liquid after coating, the film thickness is reduced. Becomes uneven.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決すべく本
願発明は、カップ内に矩形状基板または円板状基板をセ
ットし、この矩形状基板または円板状基板の表面の略全
域に塗布液を粗く塗布した後、カップを回転させ遠心力
にて前記基板表面に塗布された塗布液を均一に拡散せし
めるようにした。ここで、カップを回転させる前にカッ
プ上面の開口を蓋体で閉塞しておくことが好ましい。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention sets a rectangular substrate or a disk-shaped substrate in a cup and applies the coating to substantially the entire surface of the surface of the rectangular substrate or the disk-shaped substrate. After the liquid was roughly applied, the cup was rotated and the coating liquid applied on the substrate surface was uniformly diffused by centrifugal force. Here, it is preferable to close the opening on the upper surface of the cup with a lid before rotating the cup.

【0010】更に本願の別発明は、前記発明と異なり、
矩形状基板または円板状基板の表面の略全域に塗布液を
粗く塗布し、この後直ちに矩形状基板または円板状基板
をカップ内にセットし、次いでカップを回転させ遠心力
にて前記基板表面に塗布された塗布液を均一に拡散せし
めるようにした。この場合も、カップを回転させる前に
カップ上面の開口を蓋体で閉塞しておくことが好まし
い。
Further, another invention of the present application is different from the above invention,
The coating liquid is roughly applied to substantially the entire surface of the rectangular substrate or the disk-shaped substrate, and immediately thereafter, the rectangular substrate or the disk-shaped substrate is set in the cup, and then the cup is rotated and the substrate is centrifugally applied. The coating liquid applied to the surface was uniformly diffused. Also in this case, it is preferable to close the opening on the upper surface of the cup with the lid before rotating the cup.

【0011】上記各発明において、矩形状基板または円
板状基板の表面の略全域に塗布液を粗く塗布する手段と
しては、スリットまたはノズルからの噴出法、ロールコ
ータ法、バーコーター法が好適である。
In each of the above-mentioned inventions, as a means for roughly applying the coating liquid over substantially the entire surface of the rectangular substrate or the disk-shaped substrate, a jetting method from a slit or a nozzle, a roll coater method, and a bar coater method are preferable. is there.

【0012】[0012]

【作用】カップ内に矩形状基板または円板状基板をセッ
トし、カップ上面の開口を蓋体で閉塞した状態でカップ
を回転させ、遠心力にて塗布液を均一に拡散せしめるこ
とで、乾燥しにくい雰囲気中での拡散が可能になる。
[Function] A rectangular substrate or a disk-shaped substrate is set in a cup, and the cup is rotated with the opening on the upper surface of the cup closed with a lid, and the coating liquid is uniformly diffused by centrifugal force, thereby drying. Diffusion in an atmosphere that is difficult to perform becomes possible.

【0013】[0013]

【実施例】以下に本発明の実施例を添付図面に基づいて
説明する。ここで、図1は本発明方法を実施するために
用いる塗布装置の斜視図、図2は同塗布装置の断面図、
図3はスリットノズル先端の断面図であり、塗布装置は
アウターカップ1内にスピンナーによって回転せしめら
れるインナーカップ2を配置している。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. Here, FIG. 1 is a perspective view of a coating apparatus used to carry out the method of the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view of the coating apparatus,
FIG. 3 is a cross-sectional view of the tip of the slit nozzle. In the coating apparatus, an inner cup 2 rotated by a spinner is disposed in an outer cup 1.

【0014】インナーカップ2の外周部からはドレイン
パイプ3が突出し、このドレインパイプ3の先端部はア
ウターカップ1内の回収通路4に臨み、またインナーカ
ップ2内にはチャック5が設けられ、このチャック5に
よってガラス基板Wを吸着保持する。
A drain pipe 3 protrudes from an outer peripheral portion of the inner cup 2, a tip end of the drain pipe 3 faces a recovery passage 4 in the outer cup 1, and a chuck 5 is provided in the inner cup 2. The glass substrate W is suction-held by the chuck 5.

【0015】一方、インナーカップ2の上方にはスリッ
トノズル6が配置されている。このスリットノズル6は
図示しないアームに取り付けられ、このアームの動作に
より図2に示すように上下動及びガラス基板Wの表面と
平行な水平動を行う。
On the other hand, a slit nozzle 6 is arranged above the inner cup 2. The slit nozzle 6 is attached to an arm (not shown), and performs vertical movement and horizontal movement parallel to the surface of the glass substrate W as shown in FIG.

【0016】スリットノズル6には加圧装置7を介して
塗布液が供給され、またスリットノズル6の構造として
は、図3に示すような1本のノズル孔8を有する構造に
限らず、図4に示すようにノズル孔8の前後にガス噴出
孔9,9を形成し、このガス噴出孔9,9からのガス噴
出力で塗布液10を引き出しつつ塗布するようにしても
よい。
The coating liquid is supplied to the slit nozzle 6 via a pressurizing device 7, and the structure of the slit nozzle 6 is not limited to the structure having one nozzle hole 8 as shown in FIG. As shown in FIG. 4, gas ejection holes 9, 9 may be formed before and after the nozzle hole 8, and the coating solution 10 may be drawn out with the gas ejection power from the gas ejection holes 9, 9 to apply the coating solution.

【0017】以上において、ガラス基板Wに塗布液を塗
布するには、図2に示すようにガラス基板Wの一端の上
方にスリットノズル6を臨ませ、このスリットノズル6
から塗布液10を噴出しつつガラス基板Wと平行にスリ
ットノズル6を移動させて、ガラス基板W表面の略全域
に塗布液を塗布する。この後、インナーカップ2を回転
させることでガラス基板Wを同時に回転させて表面に塗
布された塗布液を均一に拡散せしめる。同時に回転させ
ることにより、基板上での気流発生が抑制され、膜の均
一化に寄与できる。
In the above description, in order to apply the coating liquid to the glass substrate W, as shown in FIG.
The slit nozzle 6 is moved in parallel with the glass substrate W while ejecting the coating liquid 10 from the above to apply the coating liquid to substantially the entire surface of the surface of the glass substrate W. Thereafter, by rotating the inner cup 2, the glass substrate W is simultaneously rotated to uniformly diffuse the coating liquid applied to the surface. Simultaneous rotation suppresses the generation of airflow on the substrate, which can contribute to uniformity of the film.

【0018】尚、上記の塗布方法ではスリットノズル6
による塗布の開始位置と終了位置をガラス基板Wの端縁
の上方としたが、開始位置と終了位置をガラス基板Wの
端縁から外れた位置としてもよい。このようにした場合
には多少の塗布液の無駄は生じるが、ガラス基板Wの端
縁まで均一に塗布することができる。
In the above coating method, the slit nozzle 6
Although the start position and the end position of the application by the above are set above the edge of the glass substrate W, the start position and the end position may be set to positions deviated from the edge of the glass substrate W. In this case, the coating liquid can be applied even to the edge of the glass substrate W although some application liquid is wasted.

【0019】ところで、回転によって塗布液を均一に拡
散せしめる際に前工程のスリットノズル6による塗布工
程でできるだけ塗布液を薄く且つ均一に塗布しておくこ
とが好ましい。このためにはガラス基板表面に向けて塗
布液を噴出する際に、塗布液の表面張力を抑制しつつ行
うようにすればよい。
When the coating liquid is uniformly diffused by rotation, it is preferable to apply the coating liquid as thinly and uniformly as possible in the coating step using the slit nozzle 6 in the preceding step. For this purpose, when the coating liquid is jetted toward the surface of the glass substrate, it may be performed while suppressing the surface tension of the coating liquid.

【0020】塗布液の表面張力に関与するファクターと
しては、塗布液の粘度(cP)、塗布液にかける圧力
(kg/cm2)、スリットノズル下端と基板表面との間隔
(mm)、ノズルの移動速度、基板の表面粗度、温
度等が考えられる。
Factors relating to the surface tension of the coating solution include the viscosity (cP) of the coating solution, the pressure applied to the coating solution (kg / cm2), the distance between the lower end of the slit nozzle and the substrate surface (mm), and the movement of the nozzle. The speed, the surface roughness of the substrate, the temperature, and the like can be considered.

【0021】例えば、カラーフィルター用のホトレジス
トについて考察すると、通常の粘度は10cP以下である。
このような10cP以下の塗布液に対して、上記の条件〜
を固定した場合、塗布液にかける圧力Pは0.5(kg/cm
2)以上10(kg/cm2)以下、スリットノズル下端と基板表面
との間隔Dは10(mm)以下とするのが好ましい。
For example, when considering a photoresist for a color filter, the usual viscosity is 10 cP or less.
For such a coating solution of 10 cP or less, the above conditions ~
Is fixed, the pressure P applied to the coating solution is 0.5 (kg / cm
2) It is preferable that the distance D between the lower end of the slit nozzle and the surface of the substrate is 10 (mm) or less, and 10 (kg / cm2) or less.

【0022】図5は基板として半導体ウェーハWに塗布
している状態を示す断面図であり、この場合には、半導
体ウェーハWの上方にスリットノズル6を臨ませ、この
スリットノズル6から塗布液10を表面張力を抑制しつ
つ且つ半導体ウェーハWを低速で回転させて半導体ウェ
ーハW表面の略全域に塗布液を塗布した後、半導体ウェ
ーハWを高速で回転せしめて塗布液を均一に拡散せしめ
る。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a state in which a coating is applied to a semiconductor wafer W as a substrate. In this case, a slit nozzle 6 is exposed above the semiconductor wafer W, and the coating liquid 10 After applying the coating liquid to substantially the entire surface of the semiconductor wafer W by rotating the semiconductor wafer W at a low speed while suppressing the surface tension, the semiconductor wafer W is rotated at a high speed to diffuse the coating liquid uniformly.

【0023】以下の(表)は図4に示したノズルを用い
て粘度6.5cPのカラーフィルタ用ホトレジストを、ノズ
ルの移動速度を500mm/s、温度23℃、湿度50%、基板との
距離5mmの状態で、200mm×200mmのガラス基板に塗布し
た場合の、塗布液にかける圧力(kg/cm2)と滴下量
(g)を変化させて塗布後、700rpmで6秒間回転して得
られた結果を評価したものである。尚、従来のノズルを
使用したときには、1.0kg/cm2の圧力を必要とし、ガラ
ス基板全面に被覆するには3.00gのホトレジストを必要
とした。また、このときの平均膜厚は1.82μmであり、
均一性は±2.84%であった。
The following (Table) shows a photoresist for a color filter having a viscosity of 6.5 cP using the nozzle shown in FIG. 4 at a moving speed of the nozzle of 500 mm / s, a temperature of 23 ° C., a humidity of 50%, and a distance of 5 mm from the substrate. In the state of the above, when applying on a 200 mm x 200 mm glass substrate, the pressure (kg / cm2) applied to the coating solution and the amount of dropping (g) were changed, and the result was obtained by rotating at 700 rpm for 6 seconds. Was evaluated. When a conventional nozzle was used, a pressure of 1.0 kg / cm 2 was required, and 3.00 g of photoresist was required to cover the entire surface of the glass substrate. The average film thickness at this time is 1.82 μm,
The uniformity was ± 2.84%.

【0024】[0024]

【表1】 [Table 1]

【0025】更に回転カップ式の塗布装置としては、前
記したような上方を開放した構造のものに限らず、図6
に示すようにアウターカップ1及びインナーカップ2の
開口を閉塞する蓋体21,22を備えた所謂回転カップ
式の塗布装置でもよい。
Further, the rotating cup type coating apparatus is not limited to the above-described one having an open top, and FIG.
As shown in FIG. 5, a so-called rotary cup type coating apparatus having lids 21 and 22 for closing the openings of the outer cup 1 and the inner cup 2 may be used.

【0026】即ち、直線動、回転動、上下動或いはこれ
らを合成した動きが可能なアーム23先端の支持ブロッ
ク24にピン25を介してアウターカップ1用蓋体21
が上下摺動自在に取り付けられ、また支持ブロック24
に設けられた軸26にインナーカップ2用蓋体22が取
り付けられている。
That is, the cover 21 for the outer cup 1 is connected via the pin 25 to the support block 24 at the tip of the arm 23 which can move linearly, rotationally, vertically, or a combination thereof.
Are slidably mounted vertically, and the support block 24
The lid 22 for the inner cup 2 is attached to a shaft 26 provided at the bottom.

【0027】而して、アウターカップ1及びインナーカ
ップ2の上面開口を閉じる場合には、アーム23を移動
し塗布装置の上方に蓋体21,22を位置させ、次いで
アーム23を下降させる。すると、先ず蓋体21がアウ
ターカップ1の上面を閉塞し、次いで更にアーム23、
支持ブロック24及び蓋体22が下降し、蓋体22がイ
ンナーカップ2の上面開口を閉塞する。
When closing the upper openings of the outer cup 1 and the inner cup 2, the arm 23 is moved to position the lids 21 and 22 above the coating apparatus, and then the arm 23 is lowered. Then, first, the lid 21 closes the upper surface of the outer cup 1, and then the arm 23,
The support block 24 and the lid 22 descend, and the lid 22 closes the upper surface opening of the inner cup 2.

【0028】このように、蓋体21,22によってアウ
ターカップ1及びインナーカップ2の上面開口を閉じた
状態では、インナーカップ2内の溶媒濃度が高くなるの
で、塗布液からの溶媒の蒸発が抑制され、塗布液の粘度
上昇が抑えられるので、スムーズな拡散が可能になる。
また、インナーカップ蓋体の下部に整流板を基板Wと平
行に設けて、基板W上部の隙間を小さくすることによっ
て更に均一な塗布膜を得ることができる。
As described above, when the upper openings of the outer cup 1 and the inner cup 2 are closed by the lids 21 and 22, the concentration of the solvent in the inner cup 2 becomes high, so that the evaporation of the solvent from the coating solution is suppressed. As a result, a rise in the viscosity of the coating solution can be suppressed, so that smooth diffusion can be achieved.
In addition, a more uniform coating film can be obtained by providing a rectifying plate below the inner cup lid in parallel with the substrate W and reducing the gap above the substrate W.

【0029】図7は別実施例に係る塗布方法を説明した
図であり、前記した実施例にあっては、回転式の塗布装
置の内部で基板の略全域に塗布液を塗布するようにして
いるが、この実施例にあっては塗布装置の外部に別の塗
布ステーション30を配置し、この塗布ステーション3
0において、基板Wの表面の略全域に、例えばロールコ
ータ31を用いて塗布液10を粗く塗布した後、この基
板Wをインナーカップ2内にセットし、次いでアウター
カップ1及びインナーカップ2上面の開口を蓋体21,
22で閉塞し、インナーカップ2を回転させ遠心力にて
基板W表面に塗布された塗布液10を均一に拡散せしめ
る。
FIG. 7 is a view for explaining a coating method according to another embodiment. In the above-described embodiment, the coating liquid is applied to substantially the entire area of the substrate inside the rotary coating apparatus. However, in this embodiment, another coating station 30 is arranged outside the coating apparatus, and this coating station 3
At 0, the coating liquid 10 is roughly applied to almost the entire surface of the substrate W using, for example, a roll coater 31, and then the substrate W is set in the inner cup 2, and then the upper surface of the outer cup 1 and the inner cup 2 Opening the lid 21,
At 22, the inner cup 2 is rotated, and the coating liquid 10 applied to the surface of the substrate W is uniformly diffused by centrifugal force.

【0030】以上の実施例にあっては、基板Wの表面の
略全域に塗布液を粗く塗布する手段として、スリットノ
ズル及びロールコータを示したが、図8に示すように、
インクジェット32を用いて、基板Wの表面の略全域に
塗布液10をドット状に塗布し、この後基板Wを回転せ
しめることで均一に拡散せしめるようにしてもよい。
In the above embodiment, the slit nozzle and the roll coater are shown as means for roughly coating the coating liquid on substantially the entire surface of the substrate W. As shown in FIG.
The coating liquid 10 may be applied in a dot shape to substantially the entire surface of the substrate W using the ink jet 32, and thereafter, the substrate W may be rotated to be uniformly diffused.

【0031】尚、基板Wの表面の略全域に塗布液を粗く
塗布する手段としては、上記の他にロールコータ法、バ
ーコータ法を利用してもよい。
As a means for roughly coating the coating liquid over substantially the entire surface of the substrate W, a roll coater method or a bar coater method may be used in addition to the above.

【0032】[0032]

【発明の効果】以上に説明したように本発明によれば、
ガラス基板等の矩形状基板或いは半導体ウェーハ等の円
板状基板の表面にホトレジスト等の塗布液を塗布するに
あたり、ある程度の幅で同時に塗布できるスリットノズ
ルを用い、このスリットノズル下端と基板表面との間隔
を小さくし且つ塗布液に圧力をかけつつ塗布するように
したので、基板表面に接触したときの塗布液の表面張力
を制御でき、短時間で、薄く且つ均一に塗布液を基板表
面に塗布することができ、しかも塗布液の使用量を大幅
に抑えることができる。
According to the present invention as described above,
In applying a coating liquid such as photoresist to the surface of a rectangular substrate such as a glass substrate or a disk-shaped substrate such as a semiconductor wafer, a slit nozzle that can be simultaneously applied with a certain width is used. Since the coating is applied while applying pressure to the coating liquid with a small interval, the surface tension of the coating liquid when it comes into contact with the substrate surface can be controlled, and the coating liquid can be applied to the substrate surface thinly and uniformly in a short time. And the amount of the coating liquid used can be greatly reduced.

【0033】また、基板表面の略全域に塗布された塗布
液を均一に拡散せしめる装置として、アウターカップ内
側に回転可能なインナーカップを配置し、これらアウタ
ーカップ上面及びインナーカップ上面を蓋体で閉塞する
構造のものを用いると、拡散中にインナーカップ内にお
ける溶媒濃度が高く維持できるので、基板表面に塗布さ
れた塗布液の粘度上昇が抑えられ、更に塗膜の厚さの均
一性が向上する。
As a device for uniformly dispersing the coating liquid applied to substantially the entire surface of the substrate surface, a rotatable inner cup is disposed inside the outer cup, and the upper surface of the outer cup and the upper surface of the inner cup are closed with a lid. When a structure having a structure is used, the solvent concentration in the inner cup can be kept high during diffusion, so that the increase in the viscosity of the coating solution applied on the substrate surface is suppressed, and the uniformity of the thickness of the coating film is further improved. .

【0034】更に、インナーカップ内における溶媒濃度
が高く維持できれば、基板表面の略全域に塗布液を塗布
する位置と、塗布された塗布液を回転によって拡散せし
める位置とを別々にすることもでき、装置設計上有利と
なり、またスリットノズルの他に、ロールコータ、バー
コータ、フローコータ、スプレー、静電塗装、インクジ
ェット等を用いることができるようになる。
Further, if the solvent concentration in the inner cup can be maintained high, the position where the coating liquid is applied to substantially the entire surface of the substrate and the position where the applied coating liquid is diffused by rotation can be separated. This is advantageous in terms of apparatus design, and a roll coater, a bar coater, a flow coater, a spray, an electrostatic coating, an ink jet, or the like can be used in addition to the slit nozzle.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明方法を実施するために用いる塗布装置の
斜視図
FIG. 1 is a perspective view of a coating apparatus used to carry out a method of the present invention.

【図2】同塗布装置の断面図FIG. 2 is a sectional view of the coating apparatus.

【図3】スリットノズル先端の断面図FIG. 3 is a sectional view of the tip of a slit nozzle.

【図4】スリットノズルの別実施例を示す断面図FIG. 4 is a sectional view showing another embodiment of the slit nozzle.

【図5】半導体ウェーハに塗布している状態を示す断面
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a state in which a semiconductor wafer is being coated;

【図6】蓋体を備えた塗布装置で塗布液を拡散せしめて
いる状態を示す断面図
FIG. 6 is a cross-sectional view showing a state in which a coating liquid is diffused by a coating apparatus having a lid.

【図7】回転カップ式塗布装置の外部で基板に塗布液を
粗く塗布する方法を説明した図
FIG. 7 is a view for explaining a method of roughly applying a coating liquid to a substrate outside a rotating cup type coating apparatus.

【図8】インクジェットにてガラス基板の略全域に塗布
液を粗く塗布した状態を示す図
FIG. 8 is a diagram showing a state in which a coating liquid is roughly applied to substantially the entire area of a glass substrate by an ink jet;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…アウターカップ、2…インナーカップ、5…チャッ
ク、6…スリットノズル、7…加圧装置、8…ノズル
孔、9…ガス噴出孔、10…塗布液、21…アウターカ
ップ用蓋体、22…インナーカップ用蓋体、30…塗布
ステーション、31…ロールコータ、32…インクジェ
ット、W…基板。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Outer cup, 2 ... Inner cup, 5 ... Chuck, 6 ... Slit nozzle, 7 ... Pressurizing device, 8 ... Nozzle hole, 9 ... Gas ejection hole, 10 ... Application liquid, 21 ... Lid for outer cup, 22 ... Lid for inner cup, 30. Coating station, 31. Roll coater, 32. Ink jet, W.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 島井 太 神奈川県川崎市中原区中丸子150番地 東 京応化工業株式会社内 (72)発明者 植原 晃 神奈川県川崎市中原区中丸子150番地 東 京応化工業株式会社内 Fターム(参考) 2H025 AA18 EA05 4D075 AC02 AC06 AC21 AC22 AC64 AC73 AC79 AC84 AC91 CA48 DA06 DA08 DB13 DB14 DC22 DC24 EA07 EA45 5F046 JA02 JA05 JA10 JA16 JA19 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Futa Shimai 150 Nakamurako Nakahara-ku, Kawasaki City, Kanagawa Prefecture Inside Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. (72) Inventor Akira Uehara 150 Nakamaruko Nakahara-ku Kawasaki City, Kanagawa Prefecture Higashikyo Ohka Kogyo Incorporated F term (reference) 2H025 AA18 EA05 4D075 AC02 AC06 AC21 AC22 AC64 AC73 AC79 AC84 AC91 CA48 DA06 DA08 DB13 DB14 DC22 DC24 EA07 EA45 5F046 JA02 JA05 JA10 JA16 JA19

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 カップ内に矩形状基板または円板状基板
をセットし、この矩形状基板または円板状基板の表面の
略全域に塗布液を粗く塗布した後、前記カップを回転さ
せ遠心力にて前記基板表面に塗布された塗布液を均一に
拡散せしめるようにしたことを特徴とする塗布方法。
1. A rectangular substrate or a disk-shaped substrate is set in a cup, and the coating liquid is roughly applied to substantially the entire surface of the rectangular substrate or the disk-shaped substrate. Wherein the coating liquid applied to the substrate surface is uniformly diffused.
【請求項2】 矩形状基板または円板状基板の表面の略
全域に塗布液を粗く塗布し、この後直ちに矩形状基板ま
たは円板状基板をカップ内にセットし、次いでカップを
回転させ遠心力にて前記基板表面に塗布された塗布液を
均一に拡散せしめるようにしたことを特徴とする塗布方
法。
2. A rough coating of a coating solution over substantially the entire surface of a rectangular substrate or a disk-shaped substrate, and immediately thereafter, the rectangular substrate or a disk-shaped substrate is set in a cup, and then the cup is rotated and centrifuged. A coating method, wherein the coating liquid applied to the substrate surface is uniformly diffused by force.
【請求項3】 請求項1または請求項2に記載の塗布方
法において、前記矩形状基板または円板状基板の表面の
略全域に塗布液を粗く塗布する手段は、塗布液の表面張
力を抑制しつつ行うことを特徴とする塗布方法。
3. The coating method according to claim 1, wherein the means for roughly applying the coating liquid to substantially the entire surface of the rectangular substrate or the disk-shaped substrate suppresses the surface tension of the coating liquid. A coating method characterized in that the coating is performed while performing.
【請求項4】 請求項1または請求項2に記載の塗布方
法において、前記矩形状基板または円板状基板の表面の
略全域に塗布液を粗く塗布する手段は、スリットまたは
ノズルからの噴出法、ロールコータ法、バーコーター法
のいずれかであることを特徴とする塗布方法。
4. The coating method according to claim 1 or 2, wherein the means for roughly coating the coating liquid on substantially the entire surface of the rectangular substrate or the disk-shaped substrate comprises a method of jetting from a slit or a nozzle. A coating method, which is one of a roll coater method and a bar coater method.
【請求項5】 請求項1または請求項2に記載の塗布方
法において、カップを回転させる前に予めカップ上面の
開口を蓋体で閉塞して行うようにしたことを特徴とする
塗布方法。
5. The coating method according to claim 1, wherein the opening of the upper surface of the cup is closed with a lid before rotating the cup.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2018505043A (en) * 2015-01-15 2018-02-22 エーファウ・グループ・エー・タルナー・ゲーエムベーハー Method and apparatus for coating a substrate

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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