JP2002177257A - X線コンピュータ断層撮影装置 - Google Patents
X線コンピュータ断層撮影装置Info
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Abstract
ることができる簡単な構成のX線CT装置を提供するこ
とを目的とする。 【構成】コーンビ−ムを用いてヘリカルスキャンを行な
い、X線投影データをヘリカルスキャンと並行して2次
元X線検出器で検出する。コーンビ−ムをスライス厚方
向に平行なビ−ムと見なして、投影データの中からある
スライス位置とその隣接位置の360度の投影デ−タを
選択し、選択データに基づいてヘリカルスキャンと並行
して通常のコンボリューション・バックプロジェクショ
ン方式の再構成を行い、スライスを再構成する。
Description
を行なうX線コンピュータ断層撮影装置(以下、X線C
T装置と称する)に関する。
る装置として医用のみならず産業用にも広く普及してい
る。特に、医用においては画像診断機器として重要な位
置を占めている。被検体は3次元であるが、X線CT装
置は断層像(スライス)を撮影(スキャン)するもので
あるので、被検体全部を撮影するためには多数枚のスラ
イスをスキャンする必要がある。最近のX線CT装置は
初期のものに比較すれば、スキャン速度が非常に早く、
全体の撮影時間も短くなっているが、さらに早く撮影を
行ないたいという要求がある。これは、(1)CT装置
が重要になるに従ってスキャンするスライス数が増加し
ていること、(2)ダイナミックスキャンと呼ばれる方
式の場合には、体内に注入した造影剤の動きを撮影する
ために、短時間の撮影が必要とされること等のためであ
る。撮影時間を短くするために、従来、2種類の方式が
提案、実用化されている。1つはヘリカルスキャン方式
であり、他はコ−ンビ−ムを用いる方式である。
示すように、1個のX線管10からコ−ンビ−ム(実際
は円錐でなく角錐であるが、一般的にコ−ンビ−ムと称
されている)12を被検体(図示せず)に投影して得ら
れた投影デ−タをイメ−ジ・インテンシファイア等の2
次元X線検出器14で収集する方式である。以下の説明
の便宜上、図14に示すように座標を決める。ここで
は、スライス面をX−Y座標平面により定義し、スライ
ス厚方向をZ軸と定義する。
におけるあるスライス位置(Z方向のある位置z)のあ
る投影角度(X−Y平面内のY軸を基準とした場合の回
転角度θ)において収集した投影デ−タをP(z,θ)
とする。通常のスキャン方式とは、スキャン位置を固定
して360度の投影デ−タを収集し、順次Z方向にスキ
ャン位置を移動して、次の360度の投影デ−タを収集
する方式である。従って、投影データP(z,θ)は図
16に(1)、(2)、…で示すように各投影位置毎に
0度から360度の順番で収集される。この場合、スキ
ャン位置とスライス位置は同じであり、同一投影位置で
ある縦1列の360度の投影デ−タを用いて、その位置
の画像を再構成する。
この方式において収集した投影デ−タをPH(z,θ)
とする。ヘリカルスキャンとは投影角度θの変化に同期
して、スキャン位置zを変化させるので、投影データP
H(z,θ)は図17に示すような順番で収集される。
あるスライス位置の画像を再構成するためには縦1列の
360度の投影デ−タが必要であるが、ヘリカルスキャ
ン方式では縦1列の360度の投影デ−タは存在しな
い。したがって、縦1列の投影デ−タPH(z,θ)を
仮想的に合成する必要がある。これは、同一の投影角度
θでスキャン位置zの異なる2つ以上のデ−タを補間す
る方法が一般的である。例えば、破線の丸で示す投影デ
ータIはその左右の投影データL,RをZ方向の位置に
応じて補間することにより求められる。
リカルスキャン方式は通常のスキャン方式に比較して全
体のスキャン時間が短い。しかしながら、投影デ−タを
スライス方向に補間するため、スライス厚方向のボケが
大きく、スライス方向の分解能が悪いという欠点があ
る。
ン方式を説明する。通常のスキャン方式、およびヘリカ
ルスキャン方式においては、全ての投影デ−タはZ軸に
垂直であるが、コ−ンビ−ムの場合は図18に示すよう
にZ軸方向に広がっている。そのため、投影データのス
キャン位置zはX,Y方向の位置により異なる。そこ
で、投影データのスキャン位置をZ軸上(x=y=0)
の位置で定義し、これをPC(z,θ)とする。図18
に示すように、コ−ンビ−ムを用いると多数の投影デ−
タを同時に収集できる。また、通常のスキャン方式と同
様に、360度の投影デ−タを収集する間はスキャン位
置を固定してある。したがって、投影データPC(z,
θ)は図19に示す順番で収集される。
デ−タを1個の丸で示しているが、Z軸方向に関する投
影角度は同じではない。図16、図17の場合は、全て
の投影デ−タがZ軸に垂直であるので、180度離れた
投影角度の投影デ−タは図20(a)に示すように、お
互いに対向する投影デ−タになる。一方、コ−ンビ−ム
の場合は、スライス位置の中心では図20(a)と同じ
であるが、中心から離れるにしたがって図20(b)に
示すように、投影デ−タが交差するようになる。この角
度は中心からのずれに比例して大きくなる。
T装置における再構成は数学的には非常に難しい問題に
なる。そのため、何等かの近似を行って再構成するが、
中心から離れたスライスでは精度が悪くなる。
成の最も簡単な方法は、X線管が非常に離れた位置にあ
ると見なして、コ−ンビ−ムの全ての投影デ−タがZ軸
に垂直であると近似することである。これにより、通常
のスキャンと同じく、コンボリューション・バックプロ
ジェクション方式により画像を再構成することができ
る。しかしながら、この近似では中心から離れたスライ
スにおける精度が十分でない。
Feldkamp, et. al: Practical conebeam algorithm, J.
Opr. Soc. Am. A, 6, pp. 612-619, 1980)に記載され
た方法がよく知られている。この方法は前述の方法に比
較すれば、精度がよいが、再構成が複雑であること、精
度がスライスにより異なること、これでも精度が十分で
ないこと等の問題がある。
を短くするために、従来提案されている2種類の方式は
いずれも一長一短があり、簡単な構成でしかも精度良
く、短時間に多数枚のスライスをスキャンすることがで
きるものは実現されていない。なお、これらの2方式を
組み合わせたシステムは、研究はされているが、実用化
はされていない。例えば、文献2(工藤博幸、斎藤恒雄
「ヘリカルスキャンによる円錐ビ−ム投影からの3次元
CT画像再構成」、MBE88−63,9−16)に記
載されている再構成方式は、被検体が小さいものを仮定
しているとともに、再構成も複雑で実用的でない。
たもので、その目的は多数枚のスライスを短時間に撮影
することができる簡単な構成のX線CT装置を提供する
ことである。
置は、X線を曝射するX線源及び被検体を透過したX線
を検出するX線検出器を有し、被検体に対してヘリカル
スキャンを行うヘリカルスキャン手段と、ヘリカルスキ
ャンと並行して、当該ヘリカルスキャンにより得られた
投影データを収集するデータ収集手段と、ヘリカルスキ
ャンと並行して、データ収集手段により収集された投影
データに基づいて画像再構成を行う再構成手段と、を具
備することを特徴とするものである。
所定の広がり幅を有するX線ビームを照射してもよい。
また、X線検出器は、X線を検出する複数の検出素子が
スライス方向に配列されてなるものでもよい。
スキャンと並行してデータを収集し、かつヘリカルスキ
ャンと並行して画像再構成を行うことにより、簡単な構
成で多スライスのスキャンを短時間に行なうことができ
る。
るX線CT装置の実施形態を説明する。先ず、図1を参
照して、本発明によるコーンビームを用いたヘリカルス
キャン方式を説明する。X線管10より被検体18に角
錐状のX線(コーンビーム)を照射し、被検体18を透
過したX線に基づく投影デ−タをイメージ・インテンシ
ファイア等の2次元X線検出器14で収集する。X線管
10と2次元検出器14は被検体18の体軸に沿ったZ
軸を中心に被検体18の回りを回転し、0度〜360度
の間の所定角度毎の各投影角度で投影デ−タを収集す
る。その際に、X線管10と2次元検出器14の回転に
同期して、被検体18を乗せた寝台16をZ軸方向に移
動させる。このスキャンにおいて、被検体18が固定し
ていると考えると、X線管10は図2に示すようにヘリ
カル(螺旋)状の軌跡を移動する。したがって、投影デ
−タもヘリカル状に収集される。このヘリカルスキャン
方式の場合、360度分の投影角度に対する寝台の送り
量を、Z軸方向のビ−ムの広がり幅(ここでは、2次元
検出器のZ軸方向の長さ)に合わせている。
である。2次元検出器14としてイメージ・インテンシ
ファイアを使用した場合は、図3に示した格子で囲まれ
た矩形領域毎にデ−タをサンプリングし収集する。図3
において縦方向は図15に示すファンビームの拡がり方
向であり、これは一般にチャンネル方向と呼ばれる。横
方向は一般にスライス方向と呼ばれる。したがって、図
3における縦方向のデータの集まりが1投影データを構
成する。チャンネル方向のサンプリングピッチは等角度
であり、ここでは1投影データが512チャンネル有す
る。中心付近の投影データはX線がほぼ真上から照射さ
れるので、通常のスキャン方式の投影データとほぼ同じ
になる。Z軸方向、すなわちスライス方向は等間隔にサ
ンプリングされるように、各矩形のZ方向の長さdは等
しく設定されている。
−タについて説明する。通常のコ−ンビ−ムを用いる場
合と同様に、この場合も投影データは図17に示すよう
にZ軸方向に広がりを持つ。そのため、投影データのス
キャン位置zはX,Y方向の位置により異なる。そこ
で、ここでは投影データのスキャン位置をZ軸上(x=
y=0)の位置で定義し、これをPCH(z,θ)とす
る。1つのPCH(z,θ)を図18の場合と同様に1
個の丸で示すと、投影データPCH(z,θ)は図4に
示す順番で収集される。
おけるスライスを再構成する場合を考える。このスライ
スを再構成するためには、この位置における360度
(あるいは、ハーフスキャンの場合は180度+ファン
角度)の投影デ−タが必要であるから、全投影デ−タの
中からzt の位置の投影デ−タ、すなわち図4の縦一列
の投影デ−タを集める。しかし、実際は縦一列の360
度の投影データは存在しないので、zt に隣接する位置
の投影データを集める。これらの投影データを図中黒丸
で示す。
方向の投影角度は同じではないので、180度離れた投
影角度の投影データは図5に示すようになる。従って、
この投影デ−タにおける再構成も数学的には非常に難し
い問題になるが、図5を従来のコーンビームを用いた方
式の場合の図20(b)と比較すると、以下のような特
徴がある。
(b)に示した従来例と比較して交差する角度が小さ
い。
置により異なるが、図5の場合は交差角度の分布がスラ
イス位置に依存しない。
離れていることを考慮すれば、全ての投影デ−タがZ軸
に垂直である、すなわちコーンビ−ムをスライス厚方向
に平行なビ−ムと仮定しても誤差は少ない。こうすれば
通常のスキャンと同じく、コンボリューション・バック
プロジェクション方式により画像を再構成することがで
きる。
ームを用いたヘリカルスキャン方式において、精度がよ
く、しかも、その精度がスライス位置に依存しないで、
再構成を行なうことができる。
影デ−タを収集する。
−タがZ軸を横切る位置と定義し、全投影デ−タの中か
らスライス位置と同一位置、および隣接する位置の投影
デ−タを、投影角度0〜360度について集める。
して、集めた各投影デ−タをコンボリューション・バッ
クプロジェクションする。
施形態を説明する。図6は本発明の実施形態におけるシ
ステム・ブロック図である。ここでは、いわゆる第3世
代のX線CT装置に適用した場合であり、360度の投
影デ−タを使用して画像を再構成する場合の実施形態に
ついて説明する。2次元検出器14の出力が記憶装置2
0に供給される。記憶装置20は、生データ記憶部20
a、編集後の生データ記憶部20b、再構成画像記憶部
20cを有する。記憶装置20のデータがバスライン2
2を介して再構成装置24に供給される。再構成装置2
4の出力は再構成画像記憶部20cに記憶され、画像表
示装置26で表示される。バスライン22には全体の制
御を行なう中央処理ユニット(CPU)28が接続され
る。CPU28には、操作者により適宜スキャン条件を
設定するための操作卓30が接続される。ここでは、操
作卓30は、コ−ンビ−ム・ヘリカルスキャンを指令す
るために、スキャン条件としては通常のX線CT装置で
設定するものに加えて、Z軸方向のビ−ム幅、およびス
キャンの総回数も指定する。ただし、通常のヘリカルス
キャンとは異なり、寝台の送り速度はZ軸方向のビ−ム
幅に連動するので指定する必要はない。
32と、寝台16と、2次元X線検出器14を制御して
コ−ンビ−ム・ヘリカルスキャンを行う。X線発生部3
2は被検体にコーンビームX線を照射しながら、2次元
X線検出器14と対になって被検体の体軸方向(Z軸)
を回転中心として回転する。2次元X線検出器14は被
検体を透過したX線の投影デ−タをディジタル値に変換
して記憶装置20の第1の生デ−タ記憶部20aに記憶
する。投影デ−タは、図3で前述したようにサンプリン
グされる。
出器14の回転に同期して、Z軸方向に移動する。移動
速度はX線発生部32と2次元X線検出器14の1回転
に対して、寝台16がZ軸方向のビ−ム幅分だけ移動さ
れるように設定される。
影デ−タが収集されたら、次のような手順で、生デ−タ
の編集(あるスライスの再構成に使う投影データの選
択)、および画像再構成を行う。
−ムのZ方向の幅(実施形態では2次元検出器のZ方向
の長さ)をL、投影デ−タのZ方向のサンプリング間隔
をd、N=L/dとする。また、図4に示すように、投
影デ−タの投影角度の間隔をh、1回転の投影回数をM
とすると、M=360/hである。スキャンの総回数を
SN(これは操作者が指定する)、投影の総回数をMM
とすると、MM=M×SNである。
は一般的にかなり大きな数であるので、ここでは3≦R
MNとする。また、ここでは、RMNは整数とする。し
かし、RMNが整数でない場合も、実施形態とほぼ同様
に実施することができる。
るので、縦一列の投影データが必要であるが、存在しな
い場合もあるので、黒丸で示すように隣接する位置の投
影データも選択する。
をGNとすると、図4から分かるように、GN=N×
(SN−1)である。また、最初のスライスの位置をZ
=0とする。
数をパラメータMCとする。MCは2次元X線検出器1
4が1投影のN個の投影デ−タを記憶部1に記憶するご
とに更新される。この更新は下記のフロチャ−トとは別
の部分で独立に行われる。
投影デ−タの番号を、左から1,2,…Nとする。投影
番号をm、投影デ−タ番号をnとすると、図4の各投影
データはPCH(m,n)と表すことができる。
装置20の編集デ−タ記憶部22bに記憶される。この
編集された生デ−タをGCH(Gi,Gm)で表す。こ
こでGiはスライス(画像)番号であり、Gi=1〜G
Nである。また、Gmは投影デ−タ番号であり、Gm=
1〜Mである。
すフローチャートである。先ず、ステップ#1000
で、必要なデータの初期化を行う。初期化するデータは
後述する。ステップ#2000で、生デ−タ記憶部20
a内の生デ−タPCH(m,n)から第Gi番目のスラ
イスを再構成するのに必要なM個の投影デ−タを選択的
に読出し、これらを編集後の生データGCH(Gi,G
m)として編集デ−タ記憶部22bに書き込む。この詳
細については、後述する。
より、第Gi番目のスライスを再構成する。再構成はコ
ンボリューション・バックプロジェクション方式により
行う。再構成に使用する投影デ−タはGCH(Gi,G
m)(ここで、Gm=1〜M)のM個である。
イスを記憶装置20の再構成画像記憶部20cに記憶す
る。この際、スライス位置zも記憶する。ステップ#5
000で、第Gi番目のスライスを画像表示装置26で
表示する。ステップ#6000で、スライス位置を更新
するために、z←z+dとする。ステップ#7000
で、スライス番号を更新するために、Gi←Gi+1と
する。
を修了したか否かを判定するために、Gi≦GNか否か
を判定する。イエスの場合は、ステップ#2000に戻
り、次のスライスの処理を行なう。ノーの場合、すなわ
ちGi>GNならば、全スライスの処理を終了したの
で、動作修了する。
初期化の詳細を示すフローチャートである。ステップ#
1100で、スライスの位置を初期化するために、z=
0とする。ステップ#1200で、スライス番号を初期
化するために、Gi=1とする。ステップ#1300
で、生データPCH(M+1,1)を編集データGCH
(1,1)として設定するために、mz=M+1とす
る。ステップ#1400で、nz=1とし、初期化が終
了する。
生デ−タの編集の詳細を示すフローチャートである。ス
テップ#2100で、このスライスの編集に必要な初期
化を行う。初期化するデータは後述する。ステップ#2
200で、必要な投影デ−タの収集が終わっているか否
かを判定するために、m≦MCか否かを判定する。イエ
スの場合は、すぐに次のステップ#2400を実行す
る。ノーの場合、すなわちm>MCならば、ステップ#
2300で一定時間待ってから次のステップ#2400
を実行する。これは、本実施形態は画像を早く見ること
ができるようにスキャンと平行して投影デ−タの編集、
画像再構成を行う方式を採用しているので、編集、画像
再構成がスキャン速度よりも早い場合は、投影デ−タの
収集が間に合わない場合があるので、ここで投影デ−タ
の収集を待つためである。なお、本実施形態はスキャン
終了後に投影デ−タの編集、画像再構成を行うように変
更してもよいが、その場合は、これらのステップ#22
00,#2300は不要である。
0aの投影デ−タPCH(m,n)を再構成用に編集し
た投影データGCH(Gi,Gm)として編集デ−タ記
憶部20bに書き込む。これにより、図4に示す黒丸の
投影データが選択される。ステップ#2500で、m,
nを更新する。この詳細については後述する。ステップ
#2600で、Gm←Gm+1とする。ステップ#27
00で、編集を続ける必要があるか否かを判定するため
に、Gm≦Mか否かを判定する。イエスの場合は、ステ
ップ#2200に戻る。ノーの場合は、ステップ#28
00で、mz,nzを更新し、生データの編集を修了す
る。この詳細についても後述する。
る初期化の詳細を示すフローチャートである。ステップ
#2110で、GCH(Gi,Gm)の投影デ−タ番号
Gmを初期化するために、Gm=1とする。ステップ#
2120で、m←mzとする。
ステップ#2140で、{(RMN+1)/2}の整数
部をrとし、初期化を終了する。
るm,nの更新の詳細を示すフローチャートである。ス
テップ#2510で、m←m+1とし、ステップ#25
20で、r←r+1とする。ステップ#2530で、r
≦RMNか否かを判定する。イエスの場合は、更新を修
了する。ノーの場合は、ステップ#2540で、r=1
とし、ステップ#2550で、n←n−1とし、ステッ
プ#2560で、n>0か否かを判定する。イエスの場
合は、更新を修了する。ノーの場合は、ステップ#25
70で、n=Nとし、ステップ#2580で、m←m−
Mとし、更新を終了する。これにより、図4に示す黒丸
の投影データが選択される。
るmz,nzの更新の詳細を示すフローチャートであ
る。ステップ#2810で、nz←nz+1とし、ステ
ップ#2820で、nz≦Nか否かを判定する。イエス
の場合は、更新を修了する。ノーの場合は、ステップ#
2830で、nz=1とし、ステップ#2840で、m
z←mz+Mとし、更新を終了する。
ば、コ−ンビ−ムを用いてヘリカルスキャンを行い、投
影デ−タを収集し、投影デ−タのZ方向の位置を、投影
デ−タがZ軸を横切る位置と定義し、全投影デ−タの中
からスライス位置と同一位置、および隣接する位置の投
影デ−タを、投影角度0〜360度について集め、投影
デ−タがZ軸に垂直であると仮定して、集めた各投影デ
−タをコンボリューション・バックプロジェクションす
ることにより、スライスを再構成する。このため、コー
ンビームを用いたヘリカルスキャン方式において、精度
がよく、しかも、その精度がスライス位置に依存しない
で、再構成を行なうことができる。従って、多数枚のス
ライスを短時間に撮影することができる簡単な構成のX
線CT装置が提供される。
れず、種々変形して実施可能である。以下に、変形例を
説明する。
空間で行なうことを想定したが、コンボルーションは周
波数空間で行ってもよい。
コンボリューションの前に、投影デ−タのZ軸に対する
角度に応じてあらかじめ補正を行ってもよい。補正はど
のような方法でもよいが、文献1に示された方法を採用
してもよい。
インテンシファイアでも良いし、多チャンネルのキセノ
ン検出器を複数並べたものでも良いし、固体検出器、半
導体検出器などを2次元に配置したものでもよい。
の間隔は、本実施形態のようにチャンネル方向が等角
度、スライス方向が等間隔であってもよいし、両方とも
等角度、あるいは両方とも等間隔であってもよい。
幅を2次元検出器のZ軸方向の長さに一致させたが、Z
軸方向のビ−ムの広がり幅を狭くすれば、より精度の良
い画像を得ることができる。その場合には、360度の
投影角度に対する寝台の送り量を、Z軸方向のビ−ムの
広がり幅に合わせて少なくする必要がある。また、Z軸
方向のビ−ムの幅を段階的に設定できるようにし、スキ
ャン時間と画質の要求に合わせて選択できるようにして
もよい。すなわち、スキャン時間の短さを重視する場合
にはビ−ムの幅を広く、画質を重視する場合にはビ−ム
の幅を狭く設定する。
説明したが、いわゆる第4世代CTにおいても、同様に
実施できる。
投影デ−タは360度であったが、180度+ファン角
度の投影デ−タを使用して、1画像を再構成してもよ
い。
意の所望する画像だけを再構成するようにしてもよい。
平行して行っているが、スキャン終了後に編集、再構成
を行うようにしても良いし、編集だけをスキャンと平行
して行い再構成はスキャン終了後に行うようにしても良
い。
し、それを編集するようにしているが、収集投影デ−タ
を最初から編集して、再構成投影デ−タとして直接記憶
するようにしてもよい。
リカルスキャンと並行してデータを収集し、かつヘリカ
ルスキャンと並行して画像再構成を行うことにより、簡
単な構成で多スライスのスキャンを短時間に行なうこと
ができるX線CT装置が提供される。
るコーンビームを用いたヘリカルスキャンの概要を示す
ブロック図。
す図。
す図。
を示す図。
図。
ト。
ト。
チャート。
ート。
ーチャート。
フローチャート。
ける投影データの収集順番を示す図。
における投影データの収集順番を示す図。
おける投影角度と投影位置の関係を示す図。
おける投影データの収集順番を示す図。
示す図。
18…被検体、20…記憶装置、24…再構成装置、2
6…表示装置、28…CPU、32…X線発生部。
Claims (2)
- 【請求項1】 X線を曝射するX線源及び被検体を透過
したX線を検出するX線検出器を有し、前記被検体に対
してヘリカルスキャンを行うヘリカルスキャン手段と、 前記ヘリカルスキャンと並行して、当該ヘリカルスキャ
ンにより得られた投影データを収集するデータ収集手段
と、 前記ヘリカルスキャンと並行して、前記データ収集手段
により収集された投影データに基づいて画像再構成を行
う再構成手段と、 を具備することを特徴とするX線コンピュータ断層撮影
装置。 - 【請求項2】 前記X線源は、前記被検体の体軸方向に
も所定の広がり幅を有するX線ビームを照射し、前記X
線検出器は、X線を検出する複数の検出素子がスライス
方向に配列されることを特徴とする請求項1に記載のX
線コンピュータ断層撮影装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2001329392A JP3376369B2 (ja) | 2001-10-26 | 2001-10-26 | X線コンピュータ断層撮影装置 |
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JP2001329392A JP3376369B2 (ja) | 2001-10-26 | 2001-10-26 | X線コンピュータ断層撮影装置 |
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JP2002177257A true JP2002177257A (ja) | 2002-06-25 |
JP3376369B2 JP3376369B2 (ja) | 2003-02-10 |
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JP2001329392A Expired - Lifetime JP3376369B2 (ja) | 2001-10-26 | 2001-10-26 | X線コンピュータ断層撮影装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008119381A (ja) * | 2006-11-15 | 2008-05-29 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | 放射線撮影装置 |
-
2001
- 2001-10-26 JP JP2001329392A patent/JP3376369B2/ja not_active Expired - Lifetime
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2008119381A (ja) * | 2006-11-15 | 2008-05-29 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | 放射線撮影装置 |
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