JP2002176257A - Method of manufacturing connecting structure - Google Patents

Method of manufacturing connecting structure

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JP2002176257A
JP2002176257A JP2000371117A JP2000371117A JP2002176257A JP 2002176257 A JP2002176257 A JP 2002176257A JP 2000371117 A JP2000371117 A JP 2000371117A JP 2000371117 A JP2000371117 A JP 2000371117A JP 2002176257 A JP2002176257 A JP 2002176257A
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JP
Japan
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plating
layer
conductor layer
copper foil
nickel plating
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Withdrawn
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JP2000371117A
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Japanese (ja)
Inventor
Katsuo Kawaguchi
克雄 川口
Shinji Adachi
真治 安達
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Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of manufacturing a connecting structure for materializing an interlayer connection or the like which is high in density of integration or productivity and is extremely low in connection resistance. SOLUTION: Nickel plating 3 is applied to the whole face of one side of a copper foil 1 (main conductor layer), tin plating 2 with a pattern is applied to its opposite side, and copper plating 5 (substratum conductor layer) is made on the surface of the nickel plating 3. With the tin plating 2 as a mask, the copper foil 1 is etched to make it into separated protuberant bodies 10, and the nickel plating 3 is etched together with the nickel plating 2 with the protuberant bodies 10 as masks. As a result, connecting material is obtained where most of the conductive path at a connection place is constituted of solid metal (copper foil 1 or the like). Next, an adhesive layer 6 is made to pierce the protuberant body 10, and the top of the protuberant body 10 is light etched. Then, an object to be connected is placed on the top of the protuberant body 10 and is pressed to get a connecting structure.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、配線板における層
間の接続もしくは配線板と実装部品との接続を行うため
の接続構造の製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a connection structure for connecting between layers in a wiring board or connecting a wiring board to a mounted component.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、配線板においては導体層と導
体層との間の電気的接続をとる層間接続構造が随所に形
成される。配線板にはまた、実装部品との間の接続構造
も適宜形成される。これらの接続構造を、高密度かつ高
生産性をもって実現する手法として、「新層間接続法に
よる高密度プリント配線板の開発」(回路実装学会誌Vo
l.11、No.2、pp106-112(1996)) に記載されたものが挙
げられる。そこには、銅スルーホールめっき法による層
間接続技術に代わる接続方法として、印刷技術により導
電ペーストを用いて導電性バンプを形成する技術が紹介
されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a wiring board, an interlayer connection structure for making electrical connection between conductor layers is formed at various places. Also, a connection structure between the wiring board and the mounted component is appropriately formed. As a method to realize these connection structures with high density and high productivity, "Development of high-density printed wiring board by new interlayer connection method" (Circuit Packaging Society of Japan Vo
l.11, No. 2, pp. 106-112 (1996)). Here, a technique of forming a conductive bump using a conductive paste by a printing technique is introduced as a connection method instead of an interlayer connection technique by a copper through-hole plating method.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記し
た従来の技術により製造される接続構造には、次のよう
な問題点があった。すなわちこの技術では、基本的に導
電ペーストを用いて接続構造を形成するので、導電経路
をなすバンプの導電率がさほど高くなく、接続抵抗が無
視できなかった。このため、接続の信頼性に不安があ
り、また、大電流用途には使いにくかった。
However, the connection structure manufactured by the above-mentioned conventional technique has the following problems. That is, in this technique, since the connection structure is basically formed using a conductive paste, the conductivity of the bumps forming the conductive path is not so high, and the connection resistance cannot be ignored. For this reason, there was concern about the reliability of the connection, and it was difficult to use for high current applications.

【0004】本発明は、前記した従来の技術による接続
構造が有する問題点を解決するためになされたものであ
る。すなわちその課題とするところは、集積密度や生産
性が高くかつ接続抵抗がきわめて低い層間接続等を実現
するための接続構造の製造方法を提供することにある。
The present invention has been made to solve the above-mentioned problems of the conventional connection structure. That is, an object of the present invention is to provide a method of manufacturing a connection structure for realizing interlayer connection or the like having high integration density and high productivity and extremely low connection resistance.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】この課題の解決を目的と
してなされた本発明の接続構造の製造方法は、主導体層
の一面にパターン状に主導体層とは材質が異なる第1め
っき層を形成し、主導体層の他面全体に、主導体層とは
材質が異なる第2めっき層を形成し、第2めっき層の他
面全体に第2めっき層とは材質が異なる基層導体層を形
成し、第1めっき層をマスクとして主導体層をエッチン
グして離散的な凸状部をなさしめ、主導体層をマスクと
して第2めっき層をエッチングするとともに第1めっき
層を除去し、凸状部に樹脂層を貫通させてから凸状部の
頂部をエッチングした後に、第1めっき層があった側の
面に被接続物を配置して、凸状部の頂部が被接続物に接
触する状態とし、凸状部により被接続物と基層導体層と
を接続することにより、接続構造を得るものである。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve this problem, a method of manufacturing a connection structure according to the present invention comprises the steps of: forming a first plating layer having a material different from that of a main conductor layer in a pattern on one surface of the main conductor layer; Forming a second plating layer having a different material from the main conductor layer on the entire other surface of the main conductor layer, and forming a base conductor layer having a different material from the second plating layer on the entire other surface of the second plating layer. The main plating layer is etched using the first plating layer as a mask to form discrete convex portions. The second plating layer is etched using the main conductor layer as a mask, and the first plating layer is removed. After penetrating the resin layer through the convex portion and etching the top portion of the convex portion, the object to be connected is arranged on the surface on the side where the first plating layer was, and the top portion of the convex portion contacts the object to be connected. To connect the object to be connected and the base conductor layer by the convex portion. Ri, thereby obtaining a connection structure.

【0006】本発明の製造方法により得られる接続構造
では、「凸状部」が接続の導通経路を構成している。そ
して凸状部は、「主導体層」がエッチングされた残りで
ある。よって、主導体層を銅箔のような金属性の素材で
形成しておくことにより、ペースト等の絶縁成分を含む
ものと比較してはるかに低抵抗な接続構造が得られる。
また、フォトリソグラフィ等によるパターンマスク形成
が、第1めっき層形成時の1回だけで済むので、生産性
も高い。
In the connection structure obtained by the manufacturing method of the present invention, the “convex portion” constitutes a connection conduction path. The protruding portion is a residue obtained by etching the “main conductor layer”. Therefore, by forming the main conductor layer with a metallic material such as copper foil, a connection structure having a much lower resistance than that containing an insulating component such as a paste can be obtained.
Further, the pattern mask formation by photolithography or the like only needs to be performed once at the time of forming the first plating layer, so that the productivity is high.

【0007】さらに、本発明の製造方法では、凸状部に
樹脂層を貫通させた後に凸状部の頂部をエッチングして
いる。このため、樹脂層貫通後に凸状部の頂部に残留し
ている樹脂が除去される。従って、第1めっき層があっ
た側の面に被接続物を配置した際に、凸状部と被接続物
との間に樹脂が介在しない。すなわち、接続の導通経路
中には絶縁成分を含むものがほとんど存在しない。これ
により、非常に低い抵抗の接続構造が得られる。
Further, in the manufacturing method of the present invention, the top of the convex portion is etched after the resin layer penetrates the convex portion. For this reason, the resin remaining on the top of the convex portion after penetrating the resin layer is removed. Therefore, when the object to be connected is arranged on the surface on the side where the first plating layer was, no resin is interposed between the convex portion and the object to be connected. That is, there is almost no thing containing an insulating component in the conduction path of the connection. This results in a connection structure with a very low resistance.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】以下、本発明を具体化した実施の
形態について、添付図面を参照しつつ詳細に説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments embodying the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.

【0009】まず、本実施の形態に係る接続構造を製造
するための出発状態を説明する。本実施の形態に係る接
続構造は、100μm程度の厚さの銅箔を出発材料とし
て製造される(図1)。この銅箔1は、主導体層であ
る。最初に、銅箔1に対し、両面にニッケルめっきを施
す(図2)。その際、図中上側の面(以下、上面とい
う)のニッケルめっき2はパターンめっきとし、図中下
側の面(以下、下面という)のニッケルめっき3は全面
めっきとする。厚さはともに3μm程度とする。上側の
パターン付きのニッケルめっき2の形成は、一旦全面め
っきしてパターンエッチングする方法でもよいし、あら
かじめネガパターンのマスクレジストを形成しておい
て、マスクレジストのない箇所にのみめっきを形成する
方法でもよい。
First, a starting state for manufacturing the connection structure according to the present embodiment will be described. The connection structure according to the present embodiment is manufactured using a copper foil having a thickness of about 100 μm as a starting material (FIG. 1). This copper foil 1 is a main conductor layer. First, nickel plating is applied to both surfaces of the copper foil 1 (FIG. 2). At this time, the nickel plating 2 on the upper surface (hereinafter, referred to as an upper surface) in the drawing is a pattern plating, and the nickel plating 3 on the lower surface (hereinafter, referred to as a lower surface) in the drawing is a whole plating. The thickness is about 3 μm. The formation of the nickel plating 2 with a pattern on the upper side may be performed by once plating the entire surface and then performing pattern etching, or by forming a mask resist of a negative pattern in advance and forming plating only in a portion having no mask resist. May be.

【0010】次に、上面に全面マスクを形成する。この
状態で、下面全面に厚さ20μm程度の銅めっき5を形
成する(図3)。この銅めっき5は、基層導体層であ
る。この状態では、銅箔1(主導体層)と銅めっき5
(基層導体層)との間にニッケルめっき3が位置してい
る。
Next, an entire mask is formed on the upper surface. In this state, copper plating 5 having a thickness of about 20 μm is formed on the entire lower surface (FIG. 3). This copper plating 5 is a base conductor layer. In this state, the copper foil 1 (main conductor layer) and the copper plating 5
(Base conductor layer) and nickel plating 3 are located.

【0011】次に、上面のマスクレジストをすべて除去
し、下面に全面マスクを形成する。この状態で、アルカ
リエッチング液によりエッチングする。すると、主導体
層である銅箔1のみがエッチングされる。その際、ニッ
ケルめっき2がエッチングマスクとして作用する。よっ
て銅箔1は、ニッケルめっき2のない箇所のみがエッチ
ングされ、離散的な凸状体10となる(図4)。このと
き、エッチングマスクとして作用しているのが金属めっ
き(ニッケルめっき2)であるため、樹脂系のレジスト
マスクに比べて銅箔1に対する密着力が強い。このた
め、エッチング中の液圧(スプレー圧)で剥離すること
がない。よって、ニッケルめっき2のパターンに忠実な
パターンの凸状体10が確実に形成される。
Next, the mask resist on the upper surface is entirely removed, and a mask is formed on the entire lower surface. In this state, etching is performed using an alkaline etching solution. Then, only the copper foil 1 as the main conductor layer is etched. At this time, the nickel plating 2 acts as an etching mask. Therefore, only the portions of the copper foil 1 where there is no nickel plating 2 are etched to form discrete convex bodies 10 (FIG. 4). At this time, since the metal plating (nickel plating 2) acts as an etching mask, the adhesion to the copper foil 1 is stronger than that of a resin-based resist mask. For this reason, there is no separation due to the liquid pressure (spray pressure) during the etching. Therefore, the convex body 10 having a pattern faithful to the pattern of the nickel plating 2 is reliably formed.

【0012】続いて、硝酸系エッチング液(はんだ剥離
液等)によりエッチングする。すると、銅はエッチング
されずニッケルのみがエッチングされる。このとき、上
のニッケルめっき2は全部溶けるが、下のニッケルめっ
き3に対しては凸状体10がエッチングマスクとして作
用する。これにより、凸状体10のない箇所で銅めっき
5が上方に向けて露出した状態となる(図5)。この状
態では、ニッケルめっき3は凸状体10の下にのみ存在
している。また、この状態では、上方のニッケルめっき
2は消滅している。
Subsequently, etching is performed with a nitric acid-based etchant (such as a solder stripper). Then, only nickel is etched without etching copper. At this time, all of the upper nickel plating 2 is melted, but the convex body 10 acts as an etching mask for the lower nickel plating 3. As a result, the copper plating 5 is exposed upward at locations where there is no convex body 10 (FIG. 5). In this state, the nickel plating 3 exists only under the convex body 10. In this state, the upper nickel plating 2 has disappeared.

【0013】次に、接着層を組み合わせる。すなわち、
図5の状態のものの各凸状体10の上方から接着層を押
し付け、凸状体10が接着層6を貫通する状態とする
(図6)。ここで接着層6としては、ガラスクロスプリ
プレグ、不織布プリプレグ、樹脂シート等のいずれでも
使用可能である。あるいは、液状樹脂を塗布してもよ
い。図6の状態では、凸状体10の頂部が、接着層6の
上部に顔を出している。また、凸状体10の頂部上に接
着層6が残留している。そこで、図6の状態において凸
状体10の頂部に対してライトエッチングを行う。そう
すると、凸状体10の頂部表面がエッチングされること
により、凸状体10の頂部に残留していた接着層6が除
去される(図7)。なお、凸状体10の頂部に対するエ
ッチングは、凸状体10の頂部表面が溶ける程度のもの
でよい。凸状体10の上に残留した接着層6を除去する
ことができればよいからである。
Next, an adhesive layer is combined. That is,
The adhesive layer is pressed from above each convex body 10 in the state of FIG. 5 so that the convex body 10 penetrates the adhesive layer 6 (FIG. 6). Here, as the adhesive layer 6, any of glass cloth prepreg, non-woven fabric prepreg, resin sheet and the like can be used. Alternatively, a liquid resin may be applied. In the state of FIG. 6, the top of the convex body 10 is exposed above the adhesive layer 6. Further, the adhesive layer 6 remains on the top of the convex body 10. Therefore, light etching is performed on the top of the convex body 10 in the state of FIG. Then, the adhesive layer 6 remaining on the top of the convex body 10 is removed by etching the top surface of the convex body 10 (FIG. 7). The etching of the top of the convex body 10 may be performed to such an extent that the surface of the top of the convex body 10 is melted. This is because it is sufficient that the adhesive layer 6 remaining on the convex body 10 can be removed.

【0014】続いて、図7の状態のものの上に銅箔7を
組み合わせ、各凸状体10の頂部が銅箔7と接する状態
とする(図8)。そしてこれをプレスして、図9の状態
とする。その際のプレスは、通常のプレス圧より高めの
390N/cm2 程度とする。各凸状体10の頂部と銅
箔7とを強固に密着させるためである。図9の状態で
は、各凸状体10が、銅箔7と接触しており、かつ、ニ
ッケルめっき3を介して銅めっき5(基層導体層)と接
触している。すなわち各凸状体10は、銅めっき5(基
層導体層)と銅箔7(上層)との間の層間接続構造をな
している。その後、銅めっき5(基層導体層)と銅箔7
(上層)とにそれぞれ、適宜のパターニングを施せばよ
い。
Subsequently, the copper foil 7 is combined with the one shown in FIG. 7 so that the top of each convex body 10 is in contact with the copper foil 7 (FIG. 8). Then, this is pressed to obtain the state shown in FIG. The pressing at this time is set to about 390 N / cm 2 which is higher than the normal pressing pressure. This is because the top of each convex body 10 and the copper foil 7 are firmly adhered to each other. In the state of FIG. 9, each convex body 10 is in contact with the copper foil 7 and is in contact with the copper plating 5 (base conductor layer) via the nickel plating 3. That is, each convex body 10 has an interlayer connection structure between the copper plating 5 (base layer conductor layer) and the copper foil 7 (upper layer). Thereafter, copper plating 5 (base conductor layer) and copper foil 7
(Upper layer) may be appropriately patterned.

【0015】この構造では、層間接続箇所の導電経路が
下から、ニッケルめっき3、そして凸状体10により構
成されている。この導電経路には、導電ペーストにより
構成される部分は含まれていない。また、凸状体10と
銅箔7との間に接着層6が残留していない。すなわちそ
のほとんどがソリッドな金属により構成されている。し
たがって、そのビア抵抗は著しく低い。また、層間接続
の構成のためのパターニングは、図2の上側のニッケル
めっき2を形成するためのマスクレジスト1回のみで済
む。ビアホールめっきのような複雑な工程もない。よっ
て生産性にも優れる。このことは高い集積度の実現にも
寄与する。さらに、図5の状態のものまたは図9の状態
のもの(凸状体10の配置は標準的なものとする)をス
トックしておいて、受注次第でその後のプロセス(銅め
っき5(下層)および銅箔7(上層)のパターニングを
含む)に供することもできる。そこで、図5の状態のも
のを「接続材」と呼ぶことができる。
In this structure, the conductive path of the interlayer connection portion is constituted by the nickel plating 3 and the convex body 10 from below. The conductive path does not include a portion made of the conductive paste. Further, the adhesive layer 6 does not remain between the convex body 10 and the copper foil 7. That is, most of them are made of solid metal. Therefore, its via resistance is extremely low. In addition, patterning for the configuration of interlayer connection requires only one mask resist for forming the nickel plating 2 on the upper side in FIG. There is no complicated process such as via hole plating. Therefore, it is also excellent in productivity. This also contributes to achieving a high degree of integration. Further, the one in the state of FIG. 5 or the one in the state of FIG. 9 (the arrangement of the convex bodies 10 is standard) is stocked, and the subsequent process (copper plating 5 (lower layer)) is performed depending on the order. And patterning of the copper foil 7 (upper layer). Then, the thing of the state of FIG. 5 can be called a "connection material."

【0016】続いて、変形例を説明する。上記における
変形例として、配線板内の層間接続でなく、配線板とI
Cチップ等の実装部品との接続に応用する例が挙げられ
る。すなわち、図4に示すように、図6の状態のものの
上に実装部品9を組み合わせ、各凸状体10の頂部が実
装部品9のパッドと接する状態とする。そしてこれをプ
レスして、各凸状体10の頂部と実装部品9のパッドと
が密着する状態とする。その際のプレスは、上記と同
様、通常のプレス圧より高めの390N/cm2程度と
する。プレス後の状態では、各凸状体10が実装部品9
のパッドと強固に密着しており、かつ、ニッケルめっき
3を介して銅めっき5(基層導体層)と接触している。
すなわち各凸状体10は、銅めっき5(基層導体層)と
実装部品9との間の相互接続構造をなしている。その
後、銅めっき5(基層導体層)に適宜のパターニングを
施せばよい。
Next, a modification will be described. As a modification of the above, not the interlayer connection in the wiring board, but the wiring board and I
An example of application to connection with a mounting component such as a C chip is given. That is, as shown in FIG. 4, the mounting component 9 is combined with the mounting component 9 in the state of FIG. Then, this is pressed so that the top of each convex body 10 and the pad of the mounting component 9 are in close contact with each other. The press at that time is set to about 390 N / cm 2, which is higher than the normal press pressure, as described above. In a state after pressing, each convex body 10 is mounted on the mounting component 9.
And is in contact with the copper plating 5 (base conductor layer) via the nickel plating 3.
That is, each convex body 10 forms an interconnection structure between the copper plating 5 (base conductor layer) and the mounting component 9. Thereafter, the copper plating 5 (base conductor layer) may be appropriately patterned.

【0017】以上詳細に説明したように本実施の形態で
は、出発材料である銅箔1(主導体層)の片面全面にニ
ッケルめっき3を形成するとともにその反対側の面にパ
ターン付きのニッケルめっき2を形成し、ニッケルめっ
き3の表面に銅めっき5(基層導体層)を形成すること
としている。そして、ニッケルめっき2をエッチングマ
スクとして銅箔1をエッチングして離散的な凸状体10
となし、ニッケルめっき2をエッチングするとともに凸
状体10をエッチングマスクとしてニッケルめっき3を
エッチングすることとしている。これにより、接続箇所
の導電経路のほとんどがソリッドな金属(銅箔1など)
により構成された接続材を得ている。次いで、凸状体1
0に接着層6を貫通させ、凸状体10の頂部表面をライ
トエッチングすることとしている。そして、上層(銅箔
7)または実装部品9をプレスすることにより、接続構
造を得ている。このため、上層(銅箔7)または実装部
品9に直接接触する凸状体10の頂部上に、接着層6が
残留することがない。すなわち、導通経路中には絶縁成
分がほとんど含まれないのである。かくして、導通箇所
の抵抗が著しく低く、集積度や生産性にも優れた接続構
造の製造方法が実現されている。
As described above in detail, in the present embodiment, nickel plating 3 is formed on one entire surface of copper foil 1 (main conductor layer) as a starting material, and nickel plating 3 with a pattern is formed on the opposite surface. 2 and a copper plating 5 (base conductor layer) is formed on the surface of the nickel plating 3. Then, the copper foil 1 is etched using the nickel plating 2 as an etching mask to form discrete convex bodies 10.
Then, the nickel plating 2 is etched and the nickel plating 3 is etched using the convex body 10 as an etching mask. As a result, most of the conductive paths at the connection points are solid metals (such as copper foil 1)
Has been obtained. Next, the convex body 1
0, the adhesive layer 6 is penetrated, and the top surface of the convex body 10 is lightly etched. Then, the connection structure is obtained by pressing the upper layer (copper foil 7) or the mounted component 9. Therefore, the adhesive layer 6 does not remain on the top layer (copper foil 7) or on the top of the convex body 10 that directly contacts the mounting component 9. That is, the conduction path contains almost no insulating component. Thus, a method of manufacturing a connection structure having extremely low resistance at the conductive portion and having excellent integration and productivity has been realized.

【0018】なお、本実施の形態は単なる例示にすぎ
ず、本発明を何ら限定するものではない。したがって本
発明は当然に、その要旨を逸脱しない範囲内で種々の改
良、変形が可能である。例えば、全面ニッケルめっき3
をもっと厚く形成するとともに、銅めっき5をなくし、
図5のニッケルエッチングを、上のニッケルめっき2が
溶ける程度のクイックエッチングとしてもよい。この場
合には、ニッケルめっき3が主導体層を成すこととな
る。
The present embodiment is merely an example, and does not limit the present invention. Therefore, naturally, the present invention can be variously modified and modified without departing from the gist thereof. For example, nickel plating 3
Is formed thicker, and the copper plating 5 is eliminated.
The nickel etching in FIG. 5 may be a quick etching to the extent that the upper nickel plating 2 is melted. In this case, the nickel plating 3 forms the main conductor layer.

【0019】[0019]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように本発明に
よれば、集積密度や生産性が高くかつ接続抵抗がきわめ
て低い層間接続等を実現するための接続構造の製造方法
が提供されている。
As is apparent from the above description, according to the present invention, there is provided a method of manufacturing a connection structure for realizing an interlayer connection having a high integration density and a high productivity and a very low connection resistance. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施の形態に係る接続構造の製造の出発材であ
る銅箔を示す断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a copper foil as a starting material for manufacturing a connection structure according to an embodiment.

【図2】図1の銅箔にパターンニッケルめっきおよび全
面ニッケルめっきを施した状態を示す断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing a state where a pattern nickel plating and an entire surface nickel plating are applied to the copper foil of FIG. 1;

【図3】図2の状態の下面に全面銅めっきを施した状態
を示す断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a state where the entire lower surface in the state of FIG. 2 is plated with copper;

【図4】図3の状態に対し、銅箔をエッチングして離散
的な凸状体をなさしめた状態を示す断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a state in which copper foil is etched to form discrete convex bodies in the state of FIG. 3;

【図5】図4の状態におけるパターンニッケルおよび全
面ニッケルめっきのうち露出している部分をエッチング
した状態を示す断面図である。
5 is a sectional view showing a state where an exposed portion of the pattern nickel and the entire surface nickel plating in the state of FIG. 4 is etched.

【図6】図5の状態に対し、接着層を組み合わせた状態
を示す断面図である。
FIG. 6 is a sectional view showing a state where an adhesive layer is combined with the state of FIG. 5;

【図7】図6の状態における凸状体の頂部をエッチング
した状態を示す断面図である。
FIG. 7 is a cross-sectional view showing a state in which the top of the convex body in the state of FIG. 6 is etched.

【図8】図7の状態に対し銅箔を組み合わせた状態を示
す断面図である。
8 is a cross-sectional view showing a state where a copper foil is combined with the state shown in FIG. 7;

【図9】図8の状態のものをプレスして層間接続構造と
した状態を示す断面図である。
9 is a cross-sectional view showing a state in which the structure shown in FIG. 8 is pressed to form an interlayer connection structure.

【図10】図7の状態に対し実装部品を組み合わせる状
況を示す断面図である。
FIG. 10 is a cross-sectional view showing a situation where mounting components are combined with the state of FIG. 7;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 銅箔(主導体層) 2 スズめっき(第1めっき層) 3 ニッケルめっき(第2めっき層) 4 金めっき(第1めっき層) 5 銅めっき(基層導体層) 7 銅箔(被接続物) 9 実装部品(被接続物) 10 凸状体 Reference Signs List 1 copper foil (main conductor layer) 2 tin plating (first plating layer) 3 nickel plating (second plating layer) 4 gold plating (first plating layer) 5 copper plating (base conductor layer) 7 copper foil (connection object) 9) mounted component (connected object) 10 convex body

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4E351 AA01 BB01 BB23 BB24 BB30 BB33 BB35 BB49 CC06 DD04 DD06 DD19 GG01 GG09 5E317 AA24 BB01 BB11 BB12 BB15 CC31 CC52 CC60 CD25 GG11 GG14 GG16  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 4E351 AA01 BB01 BB23 BB24 BB30 BB33 BB35 BB49 CC06 DD04 DD06 DD19 GG01 GG09 5E317 AA24 BB01 BB11 BB12 BB15 CC31 CC52 CC60 CD25 GG11 GG14 GG16

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 主導体層の一面にパターン状に前記主導
体層とは材質が異なる第1めっき層を形成し、 前記主導体層の他面全体に、前記主導体層とは材質が異
なる第2めっき層を形成し、 前記第2めっき層の他面全体に前記第2めっき層とは材
質が異なる基層導体層を形成し、 前記第1めっき層をマスクとして前記主導体層をエッチ
ングして離散的な凸状部をなさしめ、 前記主導体層をマスクとして前記第2めっき層をエッチ
ングするとともに前記第1めっき層を除去し、 前記凸状部に樹脂層を貫通させてから前記凸状部の頂部
をエッチングした後に、 前記第1めっき層があった側の面に被接続物を配置し
て、前記凸状部の頂部が被接続物に接触する状態とし、
前記凸状部により被接続物と前記基層導体層とを接続し
ていることを特徴とする接続構造の製造方法。
1. A first plating layer having a material different from that of the main conductor layer is formed in a pattern on one surface of the main conductor layer, and a material different from the main conductor layer is formed on the entire other surface of the main conductor layer. Forming a second plating layer, forming a base conductor layer having a material different from that of the second plating layer on the entire other surface of the second plating layer, etching the main conductor layer using the first plating layer as a mask; Forming a discrete convex portion by using the main conductor layer as a mask, etching the second plating layer, removing the first plating layer, and allowing the resin layer to penetrate the convex portion and then forming the convex portion. After etching the top of the protruding portion, an object to be connected is arranged on the surface on the side where the first plating layer was, so that the top of the convex portion comes into contact with the object to be connected,
A method for manufacturing a connection structure, wherein the object to be connected and the base conductor layer are connected by the convex portion.
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