JP2002170608A - Anisotropic conductive sheet, manufacturing method of the same, and applied product using the same - Google Patents

Anisotropic conductive sheet, manufacturing method of the same, and applied product using the same

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JP2002170608A
JP2002170608A JP2001285005A JP2001285005A JP2002170608A JP 2002170608 A JP2002170608 A JP 2002170608A JP 2001285005 A JP2001285005 A JP 2001285005A JP 2001285005 A JP2001285005 A JP 2001285005A JP 2002170608 A JP2002170608 A JP 2002170608A
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直史 安田
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an anisotropic conductive sheet keeping a necessary conductivity for long time, with durability and thermal durability for repeated usage and long life, even when repeatedly used for many times, or when used in an environment of high temperature, and to provide a manufacturing method of the same, and an applied product using the same. SOLUTION: The anisotropic conductive sheet is composed of an elastic polymer substance with the durometer hardness of 20-90 containing conductive particles with magnetic property in the state of orientating in the direction of thickness, and a lubricant or a release agent is applied on the surface of conductive particles. The manufacturing method of the anisotropic conduction sheet is constituted with the process of applying the lubricant or the release agent on the surface of the conductive particles with magnetic property, and the process of forming a sheet forming material layer made of a fluid elastic polymer substance including the conductive particles, which becomes the elastic polymer substance by heat treatment, and the process of applying a magnetic field in the direction of the thickness and applying a heat treatment.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば電子部品な
どの回路装置相互間の電気的接続や、プリント回路基
板、半導体集積回路などの回路装置の検査装置における
コネクターと好ましく用いられる異方導電性シートおよ
びその製造方法並びにその応用製品に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an anisotropic conductive material which is preferably used as an electrical connection between circuit devices such as electronic parts and a connector in an inspection device for circuit devices such as printed circuit boards and semiconductor integrated circuits. The present invention relates to a sheet, a production method thereof, and an application product thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】異方導電性シートは、厚み方向にのみ導
電性を示すもの、または厚み方向に加圧されたときに厚
み方向にのみ導電性を示す加圧導電性導電部を有するも
のであり、ハンダ付けあるいは機械的嵌合などの手段を
用いずにコンパクトな電気的接続を達成することが可能
であること、機械的な衝撃やひずみを吸収してソフトな
接続が可能であることなどの特長を有するため、このよ
うな特長を利用して、例えば電子計算機、電子式デジタ
ル時計、電子カメラ、コンピューターキーボードなどの
分野において、回路装置、例えばプリント回路基板とリ
ードレスチップキャリアー、液晶パネルなどとの相互間
の電気的な接続を達成するためのコネクターとして広く
用いられている。
2. Description of the Related Art An anisotropic conductive sheet is a sheet having conductivity only in a thickness direction or a sheet having a pressurized conductive portion which is conductive only in the thickness direction when pressed in the thickness direction. Yes, compact electrical connection can be achieved without using means such as soldering or mechanical fitting, and soft connection is possible by absorbing mechanical shock and strain. Utilizing such features, circuit devices such as printed circuit boards and leadless chip carriers, liquid crystal panels, etc. can be used in fields such as electronic calculators, electronic digital watches, electronic cameras, and computer keyboards. It is widely used as a connector for achieving an electrical connection between the two.

【0003】また、プリント回路基板や半導体集積回路
などの回路装置の電気的検査においては、検査対象であ
る回路装置の一面に形成された被検査電極と、検査用回
路基板の表面に形成された検査用電極との電気的な接続
を達成するために、回路装置の被検査電極領域と検査用
回路基板の検査用電極領域との間に異方導電性シートを
介在させることが行われている。
In an electrical inspection of a circuit device such as a printed circuit board or a semiconductor integrated circuit, an electrode to be inspected formed on one surface of a circuit device to be inspected and an electrode formed on the surface of the inspection circuit substrate. In order to achieve electrical connection with the test electrode, an anisotropic conductive sheet is interposed between the test electrode region of the circuit device and the test electrode region of the test circuit board. .

【0004】従来、このような異方導電性シートとして
は、種々の構造のものが知られており、例えば特開昭5
1−93393号公報等には、金属粒子をエラストマー
中に均一に分散して得られる異方導電性シートが開示さ
れ、また、特開昭53−147772号公報等には、導
電性磁性体粒子をエラストマー中に不均一に分布させる
ことにより、厚み方向に伸びる多数の導電路形成部と、
これらを相互に絶縁する絶縁部とが形成されてなる異方
導電性シートが開示され、更に、特開昭61−2509
06号公報等には、導電路形成部の表面と絶縁部との間
に段差が形成された異方導電性シートが開示されてい
る。これらの異方導電性シートにおいては、図17に示
すように、導電性粒子Pは、弾性高分子物質Eよりなる
基材中に厚み方向に並ぶよう配向して連鎖Cが形成され
た状態で、かつ、当該弾性高分子物質Eに一体的に密着
した状態で含有されている。
Conventionally, as such an anisotropic conductive sheet, those having various structures are known.
Japanese Patent Application Laid-Open No. 1-93393 discloses an anisotropic conductive sheet obtained by uniformly dispersing metal particles in an elastomer. By distributing unevenly in the elastomer, a number of conductive path forming portions extending in the thickness direction,
An anisotropic conductive sheet having an insulating portion for insulating them from each other is disclosed.
No. 06 discloses an anisotropic conductive sheet in which a step is formed between the surface of a conductive path forming portion and an insulating portion. In these anisotropic conductive sheets, as shown in FIG. 17, the conductive particles P are aligned in a thickness direction in a base material made of an elastic polymer substance E so that a chain C is formed. In addition, it is contained in a state of being integrally adhered to the elastic polymer substance E.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
異方導電性シートには、以下のような問題がある。回路
装置の電気的検査においては、図18に示すように、異
方導電性シートの一面例えば導電路形成部の一端面に、
検査対象である回路装置(以下、「被検査回路装置」と
もいう。)90の被検査電極91を接触させると共に、
当該異方導電性シートの他面例えば導電路形成部の他端
面に、検査用回路基板95の検査用電極96を接触さ
せ、更に当該異方導電性シートの厚み方向に加圧するこ
とにより、被検査回路装置90の被検査電極91と検査
用回路基板95の検査用電極96との電気的接続が達成
される。このとき、異方導電性シートにおいては、被検
査回路装置の被検査電極および検査用回路基板の検査用
電極によって挟圧されることにより、基材を構成する弾
性高分子物質Eが厚み方向に圧縮されて変形すると共
に、導電性粒子Pが移動してその連鎖Cが厚み方向に伸
びる直線状の形態から複雑な形態に変化し、更に、弾性
高分子物質Eと導電性粒子Pとが一体的に密着している
ため、弾性高分子物質Eにおける導電性粒子Pの周辺部
分が、導電性粒子Pの移動に伴って複雑な形態に変形す
る。
However, the conventional anisotropic conductive sheet has the following problems. In the electrical inspection of the circuit device, as shown in FIG. 18, one surface of the anisotropic conductive sheet, for example, one end surface of the conductive path forming portion,
An electrode 91 to be inspected of a circuit device to be inspected (hereinafter, also referred to as a “inspected circuit device”) 90 is brought into contact with the circuit device 90.
The inspection electrode 96 of the inspection circuit board 95 is brought into contact with the other surface of the anisotropic conductive sheet, for example, the other end surface of the conductive path forming portion, and is further pressed in the thickness direction of the anisotropic conductive sheet, thereby forming a cover. Electrical connection between the electrode 91 to be inspected of the inspection circuit device 90 and the inspection electrode 96 of the inspection circuit board 95 is achieved. At this time, in the anisotropic conductive sheet, the elastic polymer material E constituting the base material is pressed in the thickness direction by being sandwiched between the electrode to be inspected of the circuit device to be inspected and the inspection electrode of the inspection circuit board. While being compressed and deformed, the conductive particles P move and the chain C changes from a linear form extending in the thickness direction to a complicated form, and the elastic polymer substance E and the conductive particles P are integrated. Due to the close contact, the peripheral portion of the conductive particles P in the elastic polymer substance E is deformed into a complicated form as the conductive particles P move.

【0006】以上のように、従来の異方導電性シートに
おいては、その厚み方向に挟圧される毎に、基材を構成
する弾性高分子物質Eにおける導電性粒子Pの周辺部分
には、厚み方向の圧縮力のみならず、導電性粒子の移動
によって複雑でかつ相当に大きい応力が加わるため、繰
り返し使用した場合には、当該弾性高分子物質Eにおけ
る導電性粒子Pの周辺部分が劣化する結果、厚み方向の
電気抵抗値が増大して所要の導電性が維持されず、長い
使用寿命が得られない。
As described above, in the conventional anisotropic conductive sheet, every time the sheet is nipped in the thickness direction, the peripheral portion of the conductive particles P in the elastic polymer material E constituting the base material is Since not only the compressive force in the thickness direction but also a complicated and considerably large stress is applied by the movement of the conductive particles, when used repeatedly, the peripheral portion of the conductive particles P in the elastic polymer substance E deteriorates. As a result, the electrical resistance in the thickness direction increases, so that the required conductivity cannot be maintained, and a long service life cannot be obtained.

【0007】また、半導体集積回路やプリント回路基板
などの回路装置の電気的検査においては、当該回路装置
の潜在的欠陥を発現させるため、バーンイン試験やヒー
トサイクル試験などの高温環境下における試験が行われ
る。而して、異方導電性シートの基材を構成する弾性高
分子物質Eは、熱膨張係数が大きいものであり、高温環
境下に晒されると大きく膨張しようとする。そのため、
異方導電性シートが厚み方向に挟圧された状態、すなわ
ち基材を構成する弾性高分子物質Eにおける導電性粒子
Pの周辺部分が複雑な形態に変形した状態で、当該異方
導電性シートの周囲の温度を上昇させると、弾性高分子
物質Eにおける導電性粒子Pの周辺部分には、一層大き
い応力が加わるため、このような高温環境下における試
験が繰り返し行われた場合には、当該弾性高分子物質E
における導電性粒子Pの周辺部分が早期に劣化する結
果、所要の導電性が維持されず、更に使用寿命が短くな
る。
In electrical inspection of circuit devices such as a semiconductor integrated circuit and a printed circuit board, tests in a high-temperature environment such as a burn-in test and a heat cycle test are performed in order to develop a potential defect of the circuit device. Is Thus, the elastic polymer substance E constituting the base material of the anisotropic conductive sheet has a large thermal expansion coefficient, and tends to expand significantly when exposed to a high-temperature environment. for that reason,
In a state where the anisotropic conductive sheet is pressed in the thickness direction, that is, in a state where the peripheral portion of the conductive particles P in the elastic polymer material E constituting the base material is deformed into a complicated form, the anisotropic conductive sheet is pressed. When the temperature around is increased, a greater stress is applied to the peripheral portion of the conductive particles P in the elastic polymer substance E. Therefore, if the test under such a high temperature environment is repeatedly performed, Elastic polymer substance E
As a result, the peripheral portion of the conductive particles P deteriorates early, so that the required conductivity is not maintained, and the service life is further shortened.

【0008】本発明は、以上のような事情に基づいてな
されたものであって、その第1の目的は、多数回にわた
って繰り返し使用した場合にも、或いは、高温環境下に
おいて使用した場合でも、長期間にわたって所要の導電
性を維持することができ、従って、繰り返し使用におけ
る耐久性および熱的耐久性が高くて長い使用寿命が得ら
れる異方導電性シートを提供することにある。本発明の
第2の目的は、繰り返し使用における耐久性および熱的
耐久性が高くて長い使用寿命が得られる異方導電性シー
トを製造することができる方法を提供することにある。
本発明の第3の目的は、繰り返し使用における耐久性お
よび熱的耐久性が高くて長い使用寿命が得られる異方導
電性シートを具え、高い効率で回路装置の検査を実行す
ることができ、しかも、温度変化に対しても良好な電気
的接続状態が安定に維持される回路装置検査用アダプタ
ーを提供することにある。本発明の第4の目的は、繰り
返し使用における耐久性および熱的耐久性が高くて長い
使用寿命が得られる異方導電性シートを具え、高い効率
で回路装置の検査を実行することができる回路装置の検
査装置を提供することにある。本発明の第5の目的は、
長期間にわたって良好な電気的接続状態を安定に維持さ
れる電子部品実装構造体を提供することにある。
[0008] The present invention has been made in view of the above circumstances, and a first object of the present invention is to provide a semiconductor device which can be used repeatedly even if it is used many times or under a high temperature environment. An object of the present invention is to provide an anisotropic conductive sheet which can maintain required conductivity for a long period of time, and thus has high durability and thermal durability in repeated use and a long service life. A second object of the present invention is to provide a method capable of producing an anisotropic conductive sheet having high durability and thermal durability in repeated use and a long service life.
A third object of the present invention is to provide an anisotropic conductive sheet that has high durability and thermal durability in repeated use and a long service life, and can perform inspection of a circuit device with high efficiency. Moreover, an object of the present invention is to provide a circuit device inspection adapter in which a good electrical connection state is stably maintained even when a temperature changes. A fourth object of the present invention is to provide a circuit which has an anisotropic conductive sheet which has high durability and thermal durability in repeated use and can obtain a long service life, and which can execute a circuit device inspection with high efficiency. An object of the present invention is to provide a device inspection device. A fifth object of the present invention is to
An object of the present invention is to provide an electronic component mounting structure capable of stably maintaining a good electrical connection state for a long period of time.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明の異方導電性シー
トは、弾性高分子物質中に磁性を示す導電性粒子が厚み
方向に配向した状態で含有されてなる異方導電性シート
において、前記弾性高分子物質のデュロメータ硬さが2
0〜90であり、前記導電性粒子の表面には、潤滑剤ま
たは離型剤が塗布されていることを特徴とする。
Means for Solving the Problems The anisotropic conductive sheet of the present invention is an anisotropic conductive sheet in which conductive particles exhibiting magnetism are contained in an elastic polymer material in a state oriented in the thickness direction. The elastic polymer material has a durometer hardness of 2
0 to 90, wherein a lubricant or a release agent is applied to the surface of the conductive particles.

【0010】本発明の異方導電性シートにおいては、導
電性粒子の表面に塗布される潤滑剤または離型剤の塗布
量が、導電性粒子の数平均粒子径をDn(μm)とした
とき、当該導電性粒子100質量部に対して10/Dn
〜150/Dn質量部であることをが好ましい。また、
本発明の異方導電性シートにおいては、導電性粒子の表
面に塗布される潤滑剤または離型剤がシリコーンオイル
を含有してなるものであることが好ましい。上記の異方
導電性シートにおいては、シリコーンオイルがその分子
中にフッ素原子を有してなることが好ましい。また、本
発明の異方導電性シートにおいては、導電性粒子の表面
に塗布される潤滑剤または離型剤がフッ素系潤滑剤また
は離型剤であることが好ましい。また、本発明の異方導
電性シートは、導電性粒子が密に含有された、それぞれ
厚み方向に伸びる複数の導電路形成部と、これらの導電
路形成部を相互に絶縁する絶縁部とを有するものであっ
てもよい。
[0010] In the anisotropic conductive sheet of the present invention, the amount of the lubricant or release agent applied to the surface of the conductive particles is determined when the number average particle diameter of the conductive particles is Dn (μm). 10 / Dn with respect to 100 parts by mass of the conductive particles.
It is preferable that it is 150 / Dn mass parts. Also,
In the anisotropic conductive sheet of the present invention, the lubricant or the release agent applied to the surface of the conductive particles preferably contains silicone oil. In the above-described anisotropic conductive sheet, it is preferable that the silicone oil has a fluorine atom in its molecule. In the anisotropic conductive sheet of the present invention, it is preferable that the lubricant or the release agent applied to the surface of the conductive particles is a fluorine-based lubricant or a release agent. Further, the anisotropic conductive sheet of the present invention comprises a plurality of conductive path forming portions each containing a conductive particle densely and extending in the thickness direction, and an insulating portion for insulating these conductive path forming portions from each other. You may have.

【0011】本発明の異方導電性シートの製造方法は、
磁性を示す導電性粒子の表面に潤滑剤または離型剤を塗
布し、この潤滑剤または離型剤が塗布された導電性粒子
が、硬化処理によって弾性高分子物質となる液状の弾性
高分子物質用材料中に分散されてなるシート形成材料層
を形成し、 このシート形成材料層に対してその厚み方
向に磁場を作用させると共に、当該シート形成材料層を
硬化処理する工程を有することを特徴とする。
[0011] The method for producing an anisotropic conductive sheet of the present invention comprises:
A liquid elastic polymer substance in which a lubricant or a release agent is applied to the surface of the conductive particles exhibiting magnetism, and the conductive particles coated with the lubricant or the release agent become an elastic polymer substance by a curing treatment. Forming a sheet forming material layer dispersed in the material for use, applying a magnetic field to the sheet forming material layer in the thickness direction thereof, and curing the sheet forming material layer. I do.

【0012】本発明の回路装置検査用アダプターは、表
面に検査すべき回路装置の被検査電極に対応するパター
ンに従って複数の検査用電極が形成された検査用回路基
板と、この検査用回路基板の表面に一体的に設けられ
た、上記異方導電性シートとを具えてなることを特徴と
する。
A circuit device inspection adapter according to the present invention comprises: a circuit board for inspection on which a plurality of electrodes for inspection are formed on a surface of the circuit device to be inspected in accordance with a pattern corresponding to an electrode to be inspected; It is characterized by comprising the above-mentioned anisotropic conductive sheet integrally provided on the surface.

【0013】本発明の回路装置検査用アダプターにおい
ては、検査用回路基板における検査用電極の各々は、少
なくとも一部が磁性体により構成されていることが好ま
しい。
In the circuit device inspection adapter of the present invention, it is preferable that at least a part of each of the inspection electrodes on the inspection circuit board is made of a magnetic material.

【0014】本発明の回路装置の検査装置は、表面に検
査すべき回路装置の被検査電極に対応するパターンに従
って複数の検査用電極が形成された検査用回路基板と、
この検査用回路基板と前記回路装置との間に介在され
る、上記の異方導電性シートとを具えてなることを特徴
とする。
The inspection apparatus for a circuit device according to the present invention comprises: an inspection circuit board having a plurality of inspection electrodes formed on a surface of the circuit device to be inspected in accordance with a pattern corresponding to an electrode to be inspected;
It is characterized by comprising the above-described anisotropic conductive sheet interposed between the inspection circuit board and the circuit device.

【0015】本発明の電子部品実装構造体は、電子部品
が上記の異方導電性シートを介して回路基板に電気的に
接続されてなることを特徴とする。
An electronic component mounting structure according to the present invention is characterized in that the electronic component is electrically connected to a circuit board via the anisotropic conductive sheet.

【0016】[0016]

【作用】本発明の異方導電性シートによれば、導電性粒
子の表面に潤滑剤または離型剤が塗布されていることに
より、導電性粒子と基材を構成する弾性高分子物質との
間には潤滑剤または離型剤が介在するため、当該導電性
粒子と当該弾性高分子物質とが一体的に密着することが
なくて摺動可能な状態となる。従って、厚み方向に挟圧
されたときに、弾性高分子物質における導電性粒子の周
辺部分が、導電性粒子の移動に伴って複雑な形態に変形
することがなく、これにより、当該周辺部分に加わる応
力が緩和されるので、繰り返し使用した場合にも、或い
は高温環境下において使用した場合にも、長期間にわた
って所要の導電性が維持される。
According to the anisotropic conductive sheet of the present invention, the surface of the conductive particles is coated with a lubricant or a release agent, so that the conductive particles and the elastic polymer material constituting the base material can be separated. Since the lubricant or the release agent is interposed between the conductive particles and the elastic polymer substance, the conductive particles and the elastic polymer substance do not come into close contact with each other, and become slidable. Therefore, when being pressed in the thickness direction, the peripheral portion of the conductive particles in the elastic polymer material does not deform into a complicated form due to the movement of the conductive particles, and as a result, Since the applied stress is relieved, the required conductivity is maintained for a long period of time even when used repeatedly or when used in a high-temperature environment.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て詳細に説明する。 〈異方導電性シート〉図1は、本発明に係る異方導電性
シートの一例における構成を示す説明用断面図である。
この異方導電性シート10は、弾性高分子物質よりなる
基材中に導電性粒子Pが当該異方導電性シート10の厚
み方向に並ぶよう配向した状態で含有されてなるもので
あって、厚み方向に加圧されたときに導電性粒子Pの連
鎖によって導電路が形成される。図示の例では、導電性
粒子Pが密に充填された、それぞれ厚み方向に伸びる複
数の柱状の導電路形成部11と、これらの導電路形成部
11を相互に絶縁する、導電性粒子Pが全くあるいは殆
ど存在しない絶縁部12とにより構成されている。導電
路形成部11は、接続すべき電極例えば検査対象である
回路装置の被検査電極のパターンに対応するパターンに
従って面方向に沿って配置され、これらの導電路形成部
11の各々を取り囲むよう、絶縁部12が形成されてい
る。また、この例においては、導電路形成部11の各々
は、絶縁部12の表面から突出した状態に形成されてい
る。
Embodiments of the present invention will be described below in detail. <Anisotropic Conductive Sheet> FIG. 1 is a cross-sectional view for explaining the structure of an example of the anisotropic conductive sheet according to the present invention.
The anisotropic conductive sheet 10 is a material in which conductive particles P are contained in a base material made of an elastic polymer material in a state of being oriented so as to be arranged in the thickness direction of the anisotropic conductive sheet 10, When pressed in the thickness direction, a chain of conductive particles P forms a conductive path. In the illustrated example, a plurality of columnar conductive path forming portions 11 each densely filled with the conductive particles P and extending in the thickness direction, and the conductive particles P that insulate the conductive path forming portions 11 from each other are provided. It is constituted by an insulating part 12 which is completely or almost nonexistent. The conductive path forming portions 11 are arranged along the surface according to a pattern corresponding to an electrode to be connected, for example, a pattern of an electrode to be inspected of a circuit device to be inspected, and surround each of these conductive path forming portions 11. An insulating part 12 is formed. In this example, each of the conductive path forming portions 11 is formed so as to protrude from the surface of the insulating portion 12.

【0018】以上において、異方導電性シート10の絶
縁部12の厚みは、0.03〜2mm、特に0.04〜
1mmであることが好ましい。また、導電路形成部11
における絶縁部12の表面からの突出高さは、絶縁部1
2の厚みの0.5〜100%であることが好ましく、さ
らに好ましくは1〜80%、特に好ましくは5〜50%
である。具体的には、当該突出高さは0.01〜0.3
mmであることが好ましく、さらに好ましくは0.02
〜0.2mm、特に好ましくは0.03〜0.1mmで
ある。また、導電路形成部11の径は、0.05〜1m
m、特に0.1〜0.5mmであることが好ましい。
In the above description, the thickness of the insulating portion 12 of the anisotropic conductive sheet 10 is 0.03 to 2 mm, particularly 0.04 to 2 mm.
It is preferably 1 mm. Also, the conductive path forming part 11
Of the insulating part 12 from the surface of the insulating part 12
2 is preferably 0.5 to 100% of the thickness, more preferably 1 to 80%, particularly preferably 5 to 50%.
It is. Specifically, the protrusion height is 0.01 to 0.3.
mm, more preferably 0.02 mm.
-0.2 mm, particularly preferably 0.03-0.1 mm. The diameter of the conductive path forming portion 11 is 0.05 to 1 m.
m, particularly preferably 0.1 to 0.5 mm.

【0019】異方導電性シート10の基材を構成する弾
性高分子物質は、そのデュロメータ硬さが20〜90の
ものとされ、好ましくは30〜70のものとされる。本
発明において、「デュロメータ硬さ」とは、JIS K
6253のデュロメータ硬さ試験に基づいて、タイプA
デュロメータによって測定されたものをいう。弾性高分
子物質のデュロメータ硬さが20未満である場合には、
導電路形成部11が厚み方向に押圧されて変形したとき
に、弾性高分子物質が導電性粒子Pを保持することがで
きず、その結果、当該導電路形成部11には大きな永久
歪みが生じるため、良好な接続信頼性が得られない。一
方、弾性高分子物質のデュロメータ硬さが90を超える
場合には、導電路形成部11が厚み方向に押圧されたと
きに、当該導電路形成部11における厚み方向の変形量
が不十分なものとなるため、良好な接続信頼性が得られ
ず、接続不良が発生しやすくなる。
The elastic polymer material constituting the base material of the anisotropic conductive sheet 10 has a durometer hardness of 20 to 90, preferably 30 to 70. In the present invention, “durometer hardness” refers to JIS K
Type A based on durometer hardness test of 6253
It is measured by a durometer. When the durometer hardness of the elastic polymer material is less than 20,
When the conductive path forming portion 11 is deformed by being pressed in the thickness direction, the elastic polymer substance cannot hold the conductive particles P, and as a result, a large permanent strain is generated in the conductive path forming portion 11. Therefore, good connection reliability cannot be obtained. On the other hand, when the durometer hardness of the elastic polymer material exceeds 90, when the conductive path forming portion 11 is pressed in the thickness direction, the amount of deformation of the conductive path forming portion 11 in the thickness direction is insufficient. Therefore, good connection reliability cannot be obtained, and connection failure is likely to occur.

【0020】異方導電性シート10の基材を構成する弾
性高分子物質としては、架橋構造を有する高分子物質が
好ましい。架橋高分子物質を得るために用いることので
きる硬化性の高分子物質用材料としては、種々のものを
用いることができ、その具体例としては、ポリブタジエ
ンゴム、天然ゴム、ポリイソプレンゴム、スチレン−ブ
タジエン共重合体ゴム、アクリロニトリル−ブタジエン
共重合体ゴムなどの共役ジエン系ゴムおよびこれらの水
素添加物、スチレン−ブタジエン−ジエンブロック共重
合体ゴム、スチレン−イソプレンブロック共重合体など
のブロック共重合体ゴムおよびこれらの水素添加物、ク
ロロプレン、ウレタンゴム、ポリエステル系ゴム、エピ
クロルヒドリンゴム、シリコーンゴム、エチレン−プロ
ピレン共重合体ゴム、エチレン−プロピレン−ジエン共
重合体ゴムなどが挙げられる。以上において、得られる
異方導電性シート10に耐候性が要求される場合には、
共役ジエン系ゴム以外のものを用いることが好ましく、
特に、形成加工性および電気特性の観点から、シリコー
ンゴムを用いることが好ましい。
As the elastic polymer material constituting the base material of the anisotropic conductive sheet 10, a polymer material having a crosslinked structure is preferable. Various materials can be used as the curable polymer substance material that can be used to obtain the crosslinked polymer substance, and specific examples thereof include polybutadiene rubber, natural rubber, polyisoprene rubber, and styrene- Conjugated diene rubbers such as butadiene copolymer rubber and acrylonitrile-butadiene copolymer rubber and hydrogenated products thereof, and block copolymers such as styrene-butadiene-diene block copolymer rubber and styrene-isoprene block copolymer Rubber and hydrogenated products thereof, chloroprene, urethane rubber, polyester rubber, epichlorohydrin rubber, silicone rubber, ethylene-propylene copolymer rubber, ethylene-propylene-diene copolymer rubber, and the like can be given. In the above, when the obtained anisotropic conductive sheet 10 is required to have weather resistance,
It is preferable to use something other than a conjugated diene rubber,
In particular, it is preferable to use silicone rubber from the viewpoint of processability and electrical characteristics.

【0021】シリコーンゴムとしては、液状シリコーン
ゴムを架橋または縮合したものが好ましい。液状シリコ
ーンゴムは、その粘度が歪速度10-1secで105
アズ以下のものが好ましく、縮合型のもの、付加型のも
の、ビニル基やヒドロキシル基を含有するものなどのい
ずれであってもよい。具体的には、ジメチルシリコーン
生ゴム、メチルビニルシリコーン生ゴム、メチルフェニ
ルビニルシリコーン生ゴムなどを挙げることができる。
As the silicone rubber, those obtained by crosslinking or condensing a liquid silicone rubber are preferable. The liquid silicone rubber preferably has a viscosity of 10 5 poise or less at a strain rate of 10 −1 sec, and may be any of a condensation type, an addition type, a vinyl group or a hydroxyl group-containing one. Good. Specific examples include dimethyl silicone raw rubber, methyl vinyl silicone raw rubber, and methylphenyl vinyl silicone raw rubber.

【0022】これらの中で、ビニル基を含有する液状シ
リコーンゴム(ビニル基含有ポリジメチルシロキサン)
は、通常、ジメチルジクロロシランまたはジメチルジア
ルコキシシランを、ジメチルビニルクロロシランまたは
ジメチルビニルアルコキシシランの存在下において、加
水分解および縮合反応させ、例えば引続き溶解−沈殿の
繰り返しによる分別を行うことにより得られる。また、
ビニル基を両末端に含有する液状シリコーンゴムは、オ
クタメチルシクロテトラシロキサンのような環状シロキ
サンを触媒の存在下においてアニオン重合し、重合停止
剤として例えばジメチルジビニルシロキサンを用い、そ
の他の反応条件(例えば、環状シロキサンの量および重
合停止剤の量)を適宜選択することにより得られる。こ
こで、アニオン重合の触媒としては、水酸化テトラメチ
ルアンモニウムおよび水酸化n−ブチルホスホニウムな
どのアルカリまたはこれらのシラノレート溶液などを用
いることができ、反応温度は、例えば80〜130℃で
ある。
Among these, liquid group-containing silicone rubber (vinyl group-containing polydimethylsiloxane)
Is usually obtained by subjecting dimethyldichlorosilane or dimethyldialkoxysilane to hydrolysis and condensation in the presence of dimethylvinylchlorosilane or dimethylvinylalkoxysilane, for example, followed by fractionation by repeated dissolution-precipitation. Also,
The liquid silicone rubber containing a vinyl group at both ends is anionically polymerized with a cyclic siloxane such as octamethylcyclotetrasiloxane in the presence of a catalyst. , The amount of cyclic siloxane and the amount of polymerization terminator). Here, as a catalyst for the anionic polymerization, an alkali such as tetramethylammonium hydroxide and n-butylphosphonium hydroxide or a silanolate solution thereof can be used. The reaction temperature is, for example, 80 to 130 ° C.

【0023】一方、ヒドロキシル基を含有する液状シリ
コーンゴム(ヒドロキシル基含有ポリジメチルシロキサ
ン)は、通常、ジメチルジクロロシランまたはジメチル
ジアルコキシシランを、ジメチルヒドロクロロシランま
たはジメチルヒドロアルコキシシランの存在下におい
て、加水分解および縮合反応させ、例えば引続き溶解−
沈殿の繰り返しによる分別を行うことにより得られる。
また、環状シロキサンを触媒の存在下においてアニオン
重合し、重合停止剤として、例えばジメチルヒドロクロ
ロシラン、メチルジヒドロクロロシランまたはジメチル
ヒドロアルコキシシランなどを用い、その他の反応条件
(例えば、環状シロキサンの量および重合停止剤の量)
を適宜選択することによっても得られる。ここで、アニ
オン重合の触媒としては、水酸化テトラメチルアンモニ
ウムおよび水酸化n−ブチルホスホニウムなどのアルカ
リまたはこれらのシラノレート溶液などを用いることが
でき、反応温度は、例えば80〜130℃である。
On the other hand, a liquid silicone rubber containing hydroxyl groups (hydroxyl group-containing polydimethylsiloxane) is usually prepared by hydrolyzing dimethyldichlorosilane or dimethyldialkoxysilane in the presence of dimethylhydrochlorosilane or dimethylhydroalkoxysilane. And condensation reaction, for example,
It is obtained by performing fractionation by repeating precipitation.
The cyclic siloxane is anionically polymerized in the presence of a catalyst, and a polymerization terminator such as dimethylhydrochlorosilane, methyldihydrochlorosilane or dimethylhydroalkoxysilane is used, and other reaction conditions (for example, the amount of the cyclic siloxane and the polymerization termination) are used. Amount of agent)
Can also be obtained by appropriately selecting Here, as a catalyst for the anionic polymerization, an alkali such as tetramethylammonium hydroxide and n-butylphosphonium hydroxide or a silanolate solution thereof can be used. The reaction temperature is, for example, 80 to 130 ° C.

【0024】このような弾性高分子物質は、その分子量
Mw(標準ポリスチレン換算重量平均分子量をいう。)
が10000〜40000のものであることが好まし
い。また、得られる異方導電性シート10の耐熱性の観
点から、分子量分布指数(標準ポリスチレン換算重量平
均分子量Mwと標準ポリスチレン換算数平均分子量Mn
との比Mw/Mnの値をいう。)が2以下のものが好ま
しい。
Such an elastic polymer substance has a molecular weight Mw (refer to a weight average molecular weight in terms of standard polystyrene).
Is preferably 10,000 to 40,000. From the viewpoint of heat resistance of the obtained anisotropic conductive sheet 10, the molecular weight distribution index (weight average molecular weight Mw in terms of standard polystyrene and number average molecular weight Mn in terms of standard polystyrene) are used.
Means the value of the ratio Mw / Mn. ) Is preferably 2 or less.

【0025】以上において、異方導電性シート10を得
るためのシート形成材料中には、高分子物質用材料を硬
化させるための硬化触媒を含有させることができる。こ
のような硬化触媒としては、有機過酸化物、脂肪酸アゾ
化合物、ヒドロシリル化触媒などを用いることができ
る。硬化触媒として用いられる有機過酸化物の具体例と
しては、過酸化ベンゾイル、過酸化ビスジシクロベンゾ
イル、過酸化ジクミル、過酸化ジターシャリーブチルな
どが挙げられる。硬化触媒として用いられる脂肪酸アゾ
化合物の具体例としては、アゾビスイソブチロニトリル
などが挙げられる。ヒドロシリル化反応の触媒として使
用し得るものの具体例としては、塩化白金酸およびその
塩、白金−不飽和基含有シロキサンコンプレックス、ビ
ニルシロキサンと白金とのコンプレックス、白金と1,
3−ジビニルテトラメチルジシロキサンとのコンプレッ
クス、トリオルガノホスフィンあるいはトリオルガノホ
スファイトと白金とのコンプレックス、アセチルアセテ
ート白金キレート、環状ジエンと白金とのコンプレック
スなどの公知のものが挙げられる。硬化触媒の使用量
は、高分子物質用材料の種類、硬化触媒の種類、その他
の硬化処理条件を考慮して適宜選択されるが、通常、高
分子物質用材料100質量部に対して3〜15質量部で
ある。
In the above, the sheet-forming material for obtaining the anisotropic conductive sheet 10 may contain a curing catalyst for curing the material for a polymer substance. As such a curing catalyst, an organic peroxide, a fatty acid azo compound, a hydrosilylation catalyst, or the like can be used. Specific examples of the organic peroxide used as the curing catalyst include benzoyl peroxide, bisdicyclobenzoyl peroxide, dicumyl peroxide, and ditertiary butyl peroxide. Specific examples of the fatty acid azo compound used as the curing catalyst include azobisisobutyronitrile and the like. Specific examples of those which can be used as a catalyst for the hydrosilylation reaction include chloroplatinic acid and salts thereof, a platinum-unsaturated group-containing siloxane complex, a complex of vinylsiloxane and platinum, and platinum and 1,1.
Known examples include a complex with 3-divinyltetramethyldisiloxane, a complex of triorganophosphine or triorganophosphite with platinum, an acetylacetate platinum chelate, and a complex of cyclic diene and platinum. The amount of the curing catalyst used is appropriately selected in consideration of the type of the polymer material, the type of the curing catalyst, and other curing treatment conditions. 15 parts by mass.

【0026】また、シート形成材料中には、必要に応じ
て、通常のシリカ粉、コロイダルシリカ、エアロゲルシ
リカ、アルミナなどの無機充填材を含有させることがで
きる。このような無機充填材を含有させることにより、
当該シート形成材料のチクソトロピー性が確保され、そ
の粘度が高くなり、しかも、導電性粒子Pの分散安定性
が向上すると共に、得られる異方導電性シート10の強
度が高くなる。このような無機充填材の使用量は、特に
限定されるものではないが、多量に使用すると、磁場に
よる導電性粒子Pの配向を十分に達成することができな
くなるため、好ましくない。また、シート形成材料の粘
度は、温度25℃において100000〜100000
0cpの範囲内であることが好ましい。
The sheet-forming material may contain an inorganic filler such as ordinary silica powder, colloidal silica, airgel silica, and alumina, if necessary. By including such an inorganic filler,
The thixotropy of the sheet forming material is ensured, the viscosity is increased, and the dispersion stability of the conductive particles P is improved, and the strength of the obtained anisotropic conductive sheet 10 is increased. The use amount of such an inorganic filler is not particularly limited, but if it is used in a large amount, it is not preferable because the orientation of the conductive particles P cannot be sufficiently achieved by the magnetic field. The viscosity of the sheet forming material is 100,000 to 100,000 at a temperature of 25 ° C.
It is preferable that it is within the range of 0 cp.

【0027】基材中に含有される導電性粒子Pは、その
表面に潤滑剤または離型剤が塗布されたものである。こ
こで、潤滑剤または離型剤としては、基材を構成する弾
性高分子物質と導電性粒子Pとを潤滑させる作用を有す
るものであれば種々のものを用いることができ、その具
体例としては、シリコーンオイル、シリコーンオイルに
金属セッケン等の増稠剤が配合されてなるシリコーング
リース、シリコーンオイルにシリカ微粉末等が配合され
てなるシリコーンオイルコンパウンドなどのシリコーン
オイル組成物、フッ素系潤滑剤またはフッ素系離型剤、
窒化ホウ素、シリカ、ジルコニア、炭化珪素、黒鉛など
の無機材料を主剤とした潤滑剤、パラフィン系ワック
ス、金属セッケンなどを挙げることができる。これらの
中では、シリコーンオイル、シリコーングリース、シリ
コーンオイルコンパウンド等のシリコーンオイルを含有
してなるもの、フッ素系潤滑剤またはフッ素系離型剤が
好ましく、より好ましくはシリコーングリース、フッ素
系潤滑剤またはフッ素系離型剤であり、特に好ましくは
分子中にフッ素原子を有するシリコーンオイルを含有し
てなるシリコーングリースである。また、潤滑剤または
離型剤としてシリコーンオイルを用いる場合には、導電
性粒子の表面に十分に保持させることができる点で、2
5℃における動粘度が10000cSt以上の高粘度の
ものを用いることが好ましい。潤滑剤または離型剤とし
て例えば25℃における動粘度が100cSt未満の低
粘度のシリコーンオイルを用いる場合には、後述する製
造方法において、シート形成材料を調製する際に、或い
はシート形成材料を硬化する際に、導電性粒子の表面に
塗布されたシリコーンオイルが当該シート形成材料中に
分散しやすく、そのため、当該導電性粒子の表面にシリ
コーンオイルを十分に保持させることが困難となる。
The conductive particles P contained in the base material have a surface coated with a lubricant or a release agent. Here, as the lubricant or the release agent, various substances can be used as long as they have an action of lubricating the elastic polymer substance and the conductive particles P constituting the base material. Silicone oil compositions such as silicone oil, silicone grease in which a thickening agent such as metal soap is blended in silicone oil, silicone oil compounds such as silicone oil compound in which silica fine powder is blended in silicone oil, fluorine-based lubricant or Fluorinated release agent,
Examples of the lubricant include a lubricant mainly composed of an inorganic material such as boron nitride, silica, zirconia, silicon carbide, and graphite, a paraffin wax, and a metal soap. Among these, those containing silicone oil such as silicone oil, silicone grease, and silicone oil compound, fluorine-based lubricants or fluorine-based release agents are preferred, and silicone greases, fluorine-based lubricants or fluorine-based lubricants are more preferred. It is a system release agent, particularly preferably a silicone grease containing a silicone oil having a fluorine atom in the molecule. Further, when silicone oil is used as a lubricant or a release agent, the silicone oil can be sufficiently held on the surface of the conductive particles.
It is preferable to use one having a high kinematic viscosity at 5 ° C. of 10,000 cSt or more. In the case where a low-viscosity silicone oil having a kinematic viscosity at 25 ° C. of less than 100 cSt is used as a lubricant or a release agent, for example, when a sheet forming material is prepared or the sheet forming material is cured in a manufacturing method described later. At this time, the silicone oil applied to the surface of the conductive particles is easily dispersed in the sheet forming material, and therefore, it is difficult to sufficiently hold the silicone oil on the surface of the conductive particles.

【0028】導電性粒子の表面に塗布される潤滑剤また
は離型剤の塗布量は、導電性粒子の数平均粒子径をDn
(μm)としたとき、当該導電性粒子100質量部に対
して10/Dn〜150/Dn質量部であることが好ま
しく、より好ましくは15/Dn〜120/Dn質量
部、特に好ましくは20/Dn〜100/Dn質量部で
ある。本発明において、導電性粒子の数平均粒子径は、
レーザー回折散乱法によって測定されたものをいう。潤
滑剤または離型剤の塗布量が過小である場合には、導電
性粒子Pが基材を構成する弾性高分子物質に一体的に密
着しやすくなり、繰り返し使用における耐久性および熱
的耐久性が高い異方導電性シートを得ることが困難とな
ることがある。一方、この割合が過大である場合には、
得られる異方導電性シートは、その強度が低下したもの
となりやすく、良好な耐久性が得られないことがある。
The amount of the lubricant or mold release agent applied to the surface of the conductive particles is determined by setting the number average particle diameter of the conductive particles to Dn.
(Μm), it is preferably 10 / Dn to 150 / Dn parts by mass, more preferably 15 / Dn to 120 / Dn parts by mass, particularly preferably 20 / parts by mass with respect to 100 parts by mass of the conductive particles. Dn to 100 / Dn parts by mass. In the present invention, the number average particle diameter of the conductive particles,
It is measured by a laser diffraction scattering method. When the application amount of the lubricant or the release agent is too small, the conductive particles P easily adhere to the elastic polymer material constituting the base material integrally, and the durability and the thermal durability in repeated use In some cases, it may be difficult to obtain an anisotropic conductive sheet having a high density. On the other hand, if this percentage is too high,
The resulting anisotropic conductive sheet tends to have a reduced strength, and good durability may not be obtained.

【0029】導電性粒子Pとしては、磁場を作用させる
ことによって容易に異方導電性シート10の厚み方向に
並ぶよう配向させることができる観点から、磁性を示す
ものが用いられる。このような導電性粒子Pの具体例と
しては、ニッケル、鉄、コバルトなどの磁性を示す金属
の粒子若しくはこれらの合金の粒子またはこれらの金属
を含有する粒子、またはこれらの粒子を芯粒子とし、当
該芯粒子の表面に金、銀、パラジウム、ロジウムなどの
導電性の良好な金属のメッキを施したもの、あるいは非
磁性金属粒子若しくはガラスビーズなどの無機物質粒子
またはポリマー粒子を芯粒子とし、当該芯粒子の表面
に、ニッケル、コバルトなどの導電性磁性体のメッキを
施したもの、あるいは芯粒子に、導電性磁性体および導
電性の良好な金属の両方を被覆したものなどが挙げられ
る。これらの中では、強磁性体よりなる粒子例えばニッ
ケル粒子を芯粒子とし、その表面に導電性の良好な金
属、特に金のメッキを施したものを用いることが好まし
い。芯粒子の表面に導電性金属を被覆する手段として
は、特に限定されるものではないが、例えば化学メッキ
または電解メッキにより行うことができる。
As the conductive particles P, those exhibiting magnetism are used from the viewpoint that they can be easily aligned in the thickness direction of the anisotropic conductive sheet 10 by applying a magnetic field. Specific examples of such conductive particles P include particles of a metal exhibiting magnetism such as nickel, iron, and cobalt, or particles of an alloy thereof, or particles containing these metals, or these particles as core particles, The core particles are gold, silver, palladium, plated with a metal having good conductivity such as rhodium, or inorganic particles or polymer particles such as non-magnetic metal particles or glass beads as core particles. Examples thereof include those obtained by plating a surface of a core particle with a conductive magnetic material such as nickel and cobalt, and those obtained by coating a core particle with both a conductive magnetic material and a metal having good conductivity. Among these, it is preferable to use particles made of a ferromagnetic material, for example, nickel particles as core particles and the surface thereof is plated with a metal having good conductivity, particularly gold. Means for coating the surface of the core particles with the conductive metal is not particularly limited, but may be, for example, chemical plating or electrolytic plating.

【0030】導電性粒子Pとして、芯粒子の表面に導電
性金属が被覆されてなるものを用いる場合には、良好な
導電性が得られる観点から、粒子表面における導電性金
属の被覆率(芯粒子の表面積に対する導電性金属の被覆
面積の割合)が40%以上であることが好ましく、さら
に好ましくは45%以上、特に好ましくは47〜95%
である。また、導電性金属の被覆量は、芯粒子の0.5
〜50質量%であることが好ましく、より好ましくは1
〜30質量%、さらに好ましくは3〜25質量%、特に
好ましくは4〜20質量%である。被覆される導電性金
属が金である場合には、その被覆量は、芯粒子の2.5
〜30質量%であることが好ましく、より好ましくは3
〜20質量%、さらに好ましくは3.5〜17質量%で
ある。
When the conductive particles P are formed by coating the surface of a core particle with a conductive metal, the coverage of the conductive metal on the particle surface (from the viewpoint of obtaining good conductivity) is determined. (The ratio of the area covered by the conductive metal to the surface area of the particles) is preferably 40% or more, more preferably 45% or more, and particularly preferably 47 to 95%.
It is. Further, the coating amount of the conductive metal is 0.5% of the core particles.
To 50% by mass, more preferably 1 to 50% by mass.
To 30% by mass, more preferably 3 to 25% by mass, particularly preferably 4 to 20% by mass. When the conductive metal to be coated is gold, the coating amount is 2.5% of the core particle.
-30% by mass, more preferably 3% by mass.
To 20% by mass, more preferably 3.5 to 17% by mass.

【0031】また、導電性粒子Pの数平均粒子径Dn
は、1〜1000μmであることが好ましく、より好ま
しくは2〜500μm、さらに好ましくは5〜300μ
m、特に好ましくは10〜200μmである。また、導
電性粒子Pの粒子径分布すなわち重量平均粒子径と数平
均粒子径との比(Dw/Dn)は、1〜10であること
が好ましく、より好ましくは1.01〜7、さらに好ま
しくは1.05〜5、特に好ましくは1.1〜4であ
る。このような条件を満足する導電性粒子Pを用いるこ
とにより、得られる導電路形成部11は、加圧変形が容
易なものとなり、また、当該導電性粒子間に十分な電気
的接触が得られる。また、導電性粒子Pの形状は、特に
限定されるものではない。
The number average particle diameter Dn of the conductive particles P
Is preferably 1 to 1000 μm, more preferably 2 to 500 μm, and still more preferably 5 to 300 μm.
m, particularly preferably from 10 to 200 μm. Further, the particle size distribution of the conductive particles P, that is, the ratio (Dw / Dn) between the weight average particle size and the number average particle size is preferably 1 to 10, more preferably 1.01 to 7, and still more preferably. Is from 1.05 to 5, particularly preferably from 1.1 to 4. By using the conductive particles P satisfying such conditions, the obtained conductive path forming portion 11 can be easily deformed under pressure, and sufficient electric contact can be obtained between the conductive particles. . The shape of the conductive particles P is not particularly limited.

【0032】また、導電性粒子Pの含水率は、5%以下
であることが好ましく、より好ましくは3%以下、さら
に好ましくは2%以下、とくに好ましくは1%以下であ
る。このような条件を満足する導電性粒子Pを用いるこ
とにより、高分子物質形成材料を硬化処理する際に気泡
が生ずることが防止または抑制される。
The water content of the conductive particles P is preferably 5% or less, more preferably 3% or less, further preferably 2% or less, and particularly preferably 1% or less. The use of the conductive particles P satisfying such conditions prevents or suppresses the occurrence of bubbles during the curing treatment of the polymer substance forming material.

【0033】導電路形成部11には、導電性粒子が体積
分率で5〜60%、好ましくは8〜50%、特に好まし
くは10〜40%となる割合で含有されていることが好
ましい。この割合が5%未満の場合には、十分に電気抵
抗値の小さい導電路形成部11が得られないことがあ
る。一方、この割合が60%を超える場合には、得られ
る導電路形成部11は脆弱なものとなりやすく、導電路
形成部として必要な弾性が得られないことがある。ま
た、導電路形成部11の厚み方向における電気抵抗は、
当該導電路形成部11を厚み方向に10〜20gfの荷
重で加圧した状態において、100mΩ以下であること
が好ましい。
The conductive path forming portion 11 preferably contains conductive particles in a volume fraction of 5 to 60%, preferably 8 to 50%, particularly preferably 10 to 40%. If the ratio is less than 5%, the conductive path forming portion 11 having a sufficiently small electric resistance value may not be obtained. On the other hand, when this ratio exceeds 60%, the obtained conductive path forming portion 11 tends to be fragile, and the elasticity required for the conductive path forming portion may not be obtained. The electric resistance in the thickness direction of the conductive path forming portion 11 is:
In a state where the conductive path forming portion 11 is pressed with a load of 10 to 20 gf in the thickness direction, it is preferably 100 mΩ or less.

【0034】上記の異方導電性シート10によれば、導
電性粒子Pの表面に潤滑剤または離型剤が塗布されてい
ることにより、導電性粒子Pと基材を構成する弾性高分
子物質との間には潤滑剤または離型剤が介在するため、
当該導電性粒子Pと弾性高分子物質とが一体的に密着す
ることがなくて摺動可能な状態となる。従って、厚み方
向に挟圧されたときに、弾性高分子物質における導電性
粒子Pの周辺部分が、導電性粒子Pの移動に伴って複雑
な形態に変形することがなく、これにより、当該周辺部
分に加わる応力が緩和されるので、繰り返し使用した場
合にも、或いは高温環境下において使用した場合にも、
長期間にわたって所要の導電性を維持することができ、
従って、繰り返し使用における耐久性および熱的耐久性
が高くて長い使用寿命が得られる。
According to the anisotropic conductive sheet 10 described above, since the lubricant or the release agent is applied to the surface of the conductive particles P, the conductive particles P and the elastic polymer material forming the base material Because there is a lubricant or release agent between
The conductive particles P and the elastic polymer material do not come into close contact with each other, and become slidable. Therefore, when being pressed in the thickness direction, the peripheral portion of the conductive particles P in the elastic polymer material does not deform into a complicated form due to the movement of the conductive particles P. Because the stress applied to the part is relieved, even when used repeatedly or when used in a high temperature environment,
The required conductivity can be maintained for a long time,
Therefore, the durability and thermal durability in repeated use are high, and a long service life can be obtained.

【0035】〈異方導電性シートの製造方法〉図2は、
本発明の異方導電性シートの製造方法に用いることがで
きる金型の一例における構成を示す説明用断面図であ
る。この金型は、上型50およびこれと対となる下型5
5が、枠状のスペーサー54を介して互いに対向するよ
う配置されて構成され、上型50の下面と下型55の上
面との間にキャビティが形成されている。上型50にお
いては、強磁性体基板51の下面に、目的とする異方導
電性シート10の導電路形成部11の配置パターンに対
掌なパターンに従って強磁性体層部分52が形成され、
この強磁性体層部分52以外の個所には、当該強磁性体
層部分52の厚みより大きい厚みを有する非磁性体層部
分53が形成されている。一方、下型55においては、
強磁性体基板56の上面に、目的とする異方導電性シー
ト10の導電路形成部11の配置パターンと同一のパタ
ーンに従って強磁性体層部分57が形成され、この強磁
性体層部分57以外の個所には、当該強磁性体層部分5
7の厚みより大きい厚みを有する非磁性体層部分58が
形成されている。
<Method of Manufacturing Anisotropic Conductive Sheet> FIG.
It is explanatory sectional drawing which shows the structure in an example of the metal mold | die which can be used for the manufacturing method of the anisotropic conductive sheet of this invention. This mold includes an upper mold 50 and a lower mold 5 that is a pair with the upper mold 50.
5 are arranged so as to face each other via a frame-shaped spacer 54, and a cavity is formed between the lower surface of the upper die 50 and the upper surface of the lower die 55. In the upper die 50, a ferromagnetic layer portion 52 is formed on the lower surface of the ferromagnetic substrate 51 according to a pattern opposite to the arrangement pattern of the conductive path forming portions 11 of the target anisotropic conductive sheet 10,
A non-magnetic layer portion 53 having a thickness larger than the thickness of the ferromagnetic layer portion 52 is formed at a portion other than the ferromagnetic layer portion 52. On the other hand, in the lower mold 55,
A ferromagnetic layer portion 57 is formed on the upper surface of the ferromagnetic substrate 56 in accordance with the same pattern as the arrangement pattern of the intended conductive path forming portions 11 of the anisotropic conductive sheet 10. Are the ferromagnetic layer portions 5
A non-magnetic layer portion 58 having a thickness larger than the thickness of No. 7 is formed.

【0036】上型50および下型55の各々における強
磁性体基板51,56を構成する材料としては、鉄、鉄
−ニッケル合金、鉄−コバルト合金、ニッケル、コバル
トなどの強磁性金属を用いることができる。この強磁性
体基板51,56は、その厚みが0.1〜50mmであ
ることが好ましく、表面が平滑で、化学的に脱脂処理さ
れ、また、機械的に研磨処理されたものであることが好
ましい。
As the material forming the ferromagnetic substrates 51 and 56 in each of the upper mold 50 and the lower mold 55, a ferromagnetic metal such as iron, iron-nickel alloy, iron-cobalt alloy, nickel, or cobalt is used. Can be. The ferromagnetic substrates 51 and 56 preferably have a thickness of 0.1 to 50 mm, and have a smooth surface, are chemically degreased, and are mechanically polished. preferable.

【0037】また、上型50および下型55の各々にお
ける強磁性体層部分52,57を構成する材料として
は、鉄、鉄−ニッケル合金、鉄−コバルト合金、ニッケ
ル、コバルトなどの強磁性金属を用いることができる。
この強磁性体層部分52,57は、その厚みが10μm
以上であることが好ましい。この厚みが10μm未満で
ある場合には、金型内に形成されるシート形成材料層に
対して、十分な強度分布を有する磁場を作用させること
が困難となり、この結果、当該シート形成材料層におけ
る導電路形成部を形成すべき部分に導電性粒子を高密度
に集合させることが困難となるため、良好な異方導電性
を有するシートが得られないことがある。
The material forming the ferromagnetic layer portions 52 and 57 in each of the upper mold 50 and the lower mold 55 is a ferromagnetic metal such as iron, iron-nickel alloy, iron-cobalt alloy, nickel, and cobalt. Can be used.
The thickness of the ferromagnetic layer portions 52 and 57 is 10 μm.
It is preferable that it is above. If the thickness is less than 10 μm, it is difficult to apply a magnetic field having a sufficient intensity distribution to the sheet forming material layer formed in the mold, and as a result, the sheet forming material layer Since it is difficult to collect conductive particles at a high density in a portion where a conductive path forming portion is to be formed, a sheet having good anisotropic conductivity may not be obtained.

【0038】また、上型50および下型55の各々にお
ける非磁性体層部分53,58を構成する材料として
は、銅などの非磁性金属、耐熱性を有する高分子物質な
どを用いることができるが、フォトリソグラフィーの手
法により容易に非磁性体層部分53,58を形成するこ
とができる点で、放射線によって硬化された高分子物質
を用いることが好ましく、その材料としては、例えばア
クリル系のドライフィルムレジスト、エポキシ系の液状
レジスト、ポリイミド系の液状レジストなどのフォトレ
ジストを用いることができる。また、非磁性体層部分5
3,58の厚みは、強磁性体層部分52,57の厚み、
目的とする異方導電性シート10の導電路形成部11の
突出高さに応じて設定される。
As a material for forming the nonmagnetic layer portions 53 and 58 in each of the upper mold 50 and the lower mold 55, a nonmagnetic metal such as copper, a heat-resistant polymer material, or the like can be used. However, since the nonmagnetic layer portions 53 and 58 can be easily formed by a photolithography technique, it is preferable to use a polymer substance cured by radiation. A photoresist such as a film resist, an epoxy-based liquid resist, or a polyimide-based liquid resist can be used. In addition, the nonmagnetic layer portion 5
The thickness of the ferromagnetic layer portions 52 and 57 is
It is set in accordance with the projected height of the conductive path forming portion 11 of the desired anisotropic conductive sheet 10.

【0039】そして、上記の金型を用い、次のようにし
て異方導電性シート10が製造される。先ず、磁性を示
す導電性粒子の表面に潤滑剤または離型剤を塗布し、こ
の潤滑剤または離型剤が塗布された導電性粒子を、硬化
処理によって弾性高分子物質となる高分子物質用材料中
に分散させることにより、流動性のシート形成材料を調
製する。以上において、導電性粒子の表面に潤滑剤また
は離型剤を塗布する方法としては、スプレー法、導電性
粒子と潤滑剤または離型剤とを機械的に混合する方法な
どが挙げられる。これらの塗布方法においては、潤滑剤
または離型剤をアルコールなどの溶剤で希釈し、この希
釈液を導電性粒子の表面に塗布した後、溶剤を蒸発させ
る方法を適宜利用することができ、このような方法によ
れば、導電性粒子の表面に潤滑剤または離型剤を均一に
塗布することができる。また、シート形成材料は、必要
に応じて減圧による脱泡処理を行うことができる。
Then, the anisotropic conductive sheet 10 is manufactured using the above-described mold as follows. First, a lubricant or a release agent is applied to the surface of the conductive particles exhibiting magnetism, and the conductive particles to which the lubricant or the release agent is applied are applied to a polymer material which becomes an elastic polymer material by a curing treatment. A fluid, sheet-forming material is prepared by dispersion in the material. In the above, examples of the method of applying a lubricant or a release agent to the surface of the conductive particles include a spray method, a method of mechanically mixing the conductive particles with the lubricant or the release agent, and the like. In these application methods, a method of diluting a lubricant or a release agent with a solvent such as alcohol, applying the diluent to the surface of the conductive particles, and evaporating the solvent can be used as appropriate. According to such a method, a lubricant or a release agent can be uniformly applied to the surface of the conductive particles. In addition, the sheet forming material can be subjected to defoaming treatment under reduced pressure as needed.

【0040】このようにして調製されたシート形成材料
を、図3に示すように、金型のキャビティ内に注入して
シート形成材料層10Aを形成する。このシート形成材
料層10Aにおいては、導電性粒子Pが当該シート形成
材料層10A中に分散された状態である。次いで、上型
50における強磁性体基板51の上面および下型55に
おける強磁性体基板56の下面に、例えば一対の電磁石
を配置し、当該電磁石を作動させることにより、シート
形成材料層10Aに、強度分布を有する平行磁場、すな
わち上型50の強磁性体層部分52とこれに対応する下
型55の強磁性体層部分57との間に位置する導電路形
成部となるべき部分11Aにおいてそれ以外の部分より
大きい強度を有する平行磁場をシート形成材料層10A
の厚み方向に作用させる。その結果、シート形成材料層
10Aにおいては、図4に示すように、当該シート形成
材料層10A中に分散されている導電性粒子Pが、導電
路形成部となるべき部分11Aに集合すると共に、厚み
方向に並ぶよう配向する。
As shown in FIG. 3, the sheet forming material thus prepared is injected into a cavity of a mold to form a sheet forming material layer 10A. In the sheet forming material layer 10A, the conductive particles P are in a state of being dispersed in the sheet forming material layer 10A. Next, for example, a pair of electromagnets are arranged on the upper surface of the ferromagnetic substrate 51 in the upper die 50 and the lower surface of the ferromagnetic substrate 56 in the lower die 55, and the electromagnets are operated to form the sheet forming material layer 10A. A parallel magnetic field having an intensity distribution, that is, at a portion 11A to be a conductive path forming portion located between the ferromagnetic layer portion 52 of the upper die 50 and the corresponding ferromagnetic layer portion 57 of the lower die 55 A parallel magnetic field having an intensity greater than that of the other parts
In the thickness direction. As a result, in the sheet forming material layer 10A, as shown in FIG. 4, the conductive particles P dispersed in the sheet forming material layer 10A gather in the portion 11A to be the conductive path forming portion, Orient to align in the thickness direction.

【0041】そして、この状態において、シート形成材
料層10Aを硬化処理することにより上型50の強磁性
体層部分52とこれに対応する下型55の強磁性体層部
分57との間に配置された、弾性高分子物質中に導電性
粒子Pが厚み方向に並ぶよう配向した状態で密に充填さ
れた導電路形成部11と、導電性粒子Pが全くあるいは
殆ど存在しない弾性高分子物質よりなる絶縁部12とを
有する図1に示す異方導電性シート10が製造される。
Then, in this state, the sheet forming material layer 10A is cured so as to be disposed between the ferromagnetic layer portion 52 of the upper die 50 and the corresponding ferromagnetic layer portion 57 of the lower die 55. The conductive path forming portion 11 in which the conductive particles P are densely filled in the elastic polymer material in a state where the conductive particles P are aligned in the thickness direction, and the elastic polymer material in which the conductive particles P do not exist or hardly exist. The anisotropic conductive sheet 10 shown in FIG.

【0042】以上において、シート形成材料層10Aの
硬化処理は、平行磁場を作用させたままの状態で行うこ
ともできるが、平行磁場の作用を停止させた後に行うこ
ともできる。シート形成材料10Aに作用される平行磁
場の強度は、平均で0.02〜2Tとなる大きさが好ま
しい。また、シート形成材料層10Aに平行磁場を作用
させる手段としては、電磁石の代わりに永久磁石を用い
ることもできる。永久磁石としては、上記の範囲の平行
磁場の強度が得られる点で、アルニコ(Fe−Al−N
i−Co系合金)、フェライトなどよりなるものが好ま
しい。シート形成材料層10Aの硬化処理は、使用され
る材料によって適宜選定されるが、通常、加熱処理によ
って行われる。具体的な加熱温度および加熱時間は、シ
ート形成材料層10Aを構成する高分子物質用材料など
の種類、導電性粒子の移動に要する時間などを考慮して
適宜選定される。
In the above description, the curing treatment of the sheet forming material layer 10A can be performed with the parallel magnetic field applied, but can also be performed after the parallel magnetic field is stopped. The strength of the parallel magnetic field applied to the sheet forming material 10A is preferably 0.02 to 2T on average. As a means for applying a parallel magnetic field to the sheet forming material layer 10A, a permanent magnet can be used instead of an electromagnet. As a permanent magnet, alnico (Fe-Al-N
(i-Co alloy), ferrite and the like are preferable. The curing treatment of the sheet forming material layer 10A is appropriately selected depending on the material used, but is usually performed by a heat treatment. The specific heating temperature and heating time are appropriately selected in consideration of the type of the material for the polymer substance constituting the sheet forming material layer 10A, the time required for the movement of the conductive particles, and the like.

【0043】上記の異方導電性シートの製造方法によれ
ば、導電性粒子Pの表面に潤滑剤または離型剤を塗布す
るため、シート形成材料層10A中における導電性粒子
Pと高分子物質用材料との間には潤滑剤または離型剤が
介在する結果、この状態で高分子物質用材料の硬化処理
を行うことにより、得られる弾性高分子物質と導電性粒
子Pとが一体的に密着することがなくて摺動可能な状態
となる。そのため、得られる異方導電性シートにおいて
は、厚み方向に挟圧されたときに、弾性高分子物質にお
ける導電性粒子Pの周辺部分が、導電性粒子Pの移動に
伴って複雑な形態に変形することがなく、これにより、
当該周辺部分に加わる応力が緩和されるので、繰り返し
使用した場合にも、或いは高温環境下において使用した
場合にも、長期間にわたって所要の導電性を維持するこ
とができる。従って、繰り返し使用における耐久性およ
び熱的耐久性が高くて長い使用寿命が得られる異方導電
性シートを製造することができる。
According to the above-described method for producing an anisotropic conductive sheet, since the lubricant or the release agent is applied to the surface of the conductive particles P, the conductive particles P and the polymer substance in the sheet forming material layer 10A are As a result of the lubricant or the release agent being interposed between the elastic material and the conductive particles P, when the curing treatment of the polymer material is performed in this state, the obtained elastic polymer and the conductive particles P are integrally formed. It can be slid without contact. Therefore, in the obtained anisotropic conductive sheet, when pressed in the thickness direction, the peripheral portion of the conductive particles P in the elastic polymer material is deformed into a complicated shape as the conductive particles P move. Without doing this,
Since the stress applied to the peripheral portion is reduced, the required conductivity can be maintained for a long period of time even when used repeatedly or when used in a high-temperature environment. Therefore, it is possible to manufacture an anisotropic conductive sheet having high durability and thermal durability in repeated use and a long service life.

【0044】〈回路装置検査用アダプター〉図5は、本
発明に係る回路装置検査用アダプターの一例における構
成を示す説明用断面図である。この回路装置検査用アダ
プターは、多層配線板よりなる検査用回路基板20と、
この検査用回路基板20の表面に一体的に接着乃至密着
した状態で設けられた異方導電性シート30とにより構
成されている。
<Adapter for Inspection of Circuit Device> FIG. 5 is an explanatory sectional view showing the structure of an example of the adapter for inspection of circuit device according to the present invention. This circuit device inspection adapter includes an inspection circuit board 20 formed of a multilayer wiring board,
The inspection circuit board 20 is composed of an anisotropic conductive sheet 30 provided integrally and adhered to the surface of the circuit board 20 for inspection.

【0045】検査用回路基板20の表面(図において上
面)には、検査対象である回路装置の被検査電極に対応
するパターンに従って複数の検査用電極21が配置され
ている。検査用電極21の各々は、少なくともその一部
が磁性体により構成されている。具体的には、図6に示
すように、検査用電極21は、例えば銅、金、銀などよ
りなる基層部分21Aと、磁性体よりなる表層部分21
Bとの多層構造により構成されている。この検査用電極
21を構成するための磁性体としては、ニッケル、鉄、
コバルトおよびこれらの元素を含む合金などを用いるこ
とができる。また、磁性体よりなる部分(図示の例では
表層部分21B)の厚みは、例えば10〜500μmで
ある。検査用回路基板20の裏面には、例えばピッチが
0.2mm、0.3mm、0.45mm、0.5mm、
0.75mm、0.8mm、1.06mm、1.27m
m、1.5mm、1.8mmまたは2.54mmの格子
点位置に従って複数の端子電極22が配置され、端子電
極22の各々は、内部配線部23によって検査用電極2
1に電気的に接続されている。
On the surface (upper surface in the figure) of the inspection circuit board 20, a plurality of inspection electrodes 21 are arranged in accordance with the pattern corresponding to the electrode to be inspected of the circuit device to be inspected. At least a part of each of the inspection electrodes 21 is made of a magnetic material. Specifically, as shown in FIG. 6, the inspection electrode 21 includes a base layer portion 21A made of, for example, copper, gold, silver, or the like, and a surface layer portion 21 made of a magnetic material.
B and a multilayer structure. The magnetic material for constituting the inspection electrode 21 includes nickel, iron,
Cobalt and alloys containing these elements can be used. The thickness of the portion made of the magnetic material (the surface layer portion 21B in the illustrated example) is, for example, 10 to 500 μm. On the back surface of the inspection circuit board 20, for example, pitches of 0.2 mm, 0.3 mm, 0.45 mm, 0.5 mm,
0.75mm, 0.8mm, 1.06mm, 1.27m
A plurality of terminal electrodes 22 are arranged according to lattice point positions of m, 1.5 mm, 1.8 mm, or 2.54 mm.
1 electrically.

【0046】異方導電性シート30は、検査用回路基板
20の表面に接する面(図において下面)が、当該検査
用回路基板20の表面の形状に対応する形状とされてい
ること以外は、図1に示す異方導電性シート10と同様
の構成のものである。この異方導電性シート30の構造
を具体的に説明すると、それぞれ導電性粒子が密に充填
された、それぞれ厚み方向に伸びる複数の柱状の導電路
形成部31と、これらの導電路形成部31を相互に絶縁
する、導電性粒子が全くあるいは殆ど存在しない絶縁部
32とよりなり、導電路形成部31の各々は、検査用回
路基板20の検査用電極21上に位置するよう配置され
ている。また、導電路形成部31の各々は、絶縁部32
の表面(図において上面)から突出した状態に形成され
ている。そして、導電性粒子の表面には、潤滑剤または
離型剤が塗布されている。
The anisotropic conductive sheet 30 has the same configuration as that of the inspection circuit board 20 except that the surface (the lower surface in the figure) in contact with the surface of the inspection circuit board 20 has a shape corresponding to the shape of the surface of the inspection circuit board 20. It has the same configuration as the anisotropic conductive sheet 10 shown in FIG. The structure of the anisotropic conductive sheet 30 will be described in detail. A plurality of columnar conductive path forming portions 31 each densely filled with conductive particles and extending in the thickness direction are provided. And an insulating portion 32 containing no or almost no conductive particles, and each of the conductive path forming portions 31 is arranged so as to be located on the test electrode 21 of the test circuit board 20. . Further, each of the conductive path forming portions 31 includes an insulating portion 32.
Is formed so as to protrude from the surface (upper surface in the figure) of the first embodiment. The surface of the conductive particles is coated with a lubricant or a release agent.

【0047】このような回路装置検査用アダプターは、
例えば以下のようにして製造することができる。先ず、
図7に示すような例えば多層配線板よりなる検査用回路
基板20を用意する。この検査用回路基板20は、前述
したように、表面に検査対象である回路基板の被検査電
極に対応するパターンに従って配置された複数の検査用
電極21を有すると共に、裏面に格子点位置に従って配
置された複数の端子電極22を有し、検査用電極21の
各々の少なくとも一部が磁性体により構成され、検査用
電極21の各々が内部配線部23を介して端子電極22
の各々に電気的に接続されている。このような検査用回
路基板20を製造する方法としては、一般的な多層配線
板を製造する方法をそのまま適用することができる。ま
た、少なくとも一部が磁性体により構成された検査用電
極21を形成する方法としては、特に限定されるもので
はないが、図6に示すように、磁性体よりなる表層部分
21Bを有する多層構造の検査用電極21を形成する場
合には、多層配線板を形成する板状基体の表面に銅薄層
を形成した後、この銅薄層に対してフォトリソグラフィ
ーおよびエッチング処理を施すことにより、基層部分2
1Aを形成し、次いで、フォトリソグラフィーおよびニ
ッケルなどのメッキ処理を施すことにより、表層部分2
1Bを形成する方法を利用することができる。
Such a circuit device inspection adapter is
For example, it can be manufactured as follows. First,
An inspection circuit board 20 made of, for example, a multilayer wiring board as shown in FIG. 7 is prepared. As described above, the inspection circuit board 20 has a plurality of inspection electrodes 21 arranged on the front surface in accordance with a pattern corresponding to the electrode to be inspected of the circuit board to be inspected, and is arranged on the back surface in accordance with the lattice point positions. And at least a part of each of the inspection electrodes 21 is made of a magnetic material, and each of the inspection electrodes 21 is
Are electrically connected to each other. As a method for manufacturing such an inspection circuit board 20, a general method for manufacturing a multilayer wiring board can be applied as it is. The method for forming the inspection electrode 21 at least partly made of a magnetic material is not particularly limited, but as shown in FIG. 6, a multilayer structure having a surface part 21B made of a magnetic material is used. When the inspection electrode 21 is formed, a thin copper layer is formed on the surface of the plate-like base on which the multilayer wiring board is formed, and then the thin copper layer is subjected to photolithography and etching to obtain a base layer. Part 2
1A, and then subjected to photolithography and a plating process such as nickel to form a surface layer portion 2.
The method of forming 1B can be used.

【0048】また、図8に示すように、異方導電性シー
トを成形するための型板40を用意する。具体的に説明
すると、この型板40は強磁性体基板41を有し、この
強磁性体基板41の一面には、検査用回路基板20の検
査用電極21の配置パターンに対掌なパターンに従って
強磁性体層部分42が形成され、この強磁性体層部分4
2以外の個所には、当該強磁性体層部分42の厚みより
大きい厚みを有する非磁性体層部分43が形成されてい
る。型板40における強磁性体基板41、強磁性体層部
分42および非磁性体層部分43を構成する材料として
は、前述の上型50および下型55の各々における強磁
性体基板51,56、強磁性体層部分52,57および
非磁性体層部分53,58を構成する材料として例示し
たものを用いることができる。
As shown in FIG. 8, a template 40 for forming an anisotropic conductive sheet is prepared. More specifically, the template 40 has a ferromagnetic substrate 41, and one surface of the ferromagnetic substrate 41 is disposed on one surface of the ferromagnetic substrate 41 according to a pattern opposite to the arrangement pattern of the test electrodes 21 of the test circuit board 20. A ferromagnetic layer portion 42 is formed.
A non-magnetic layer portion 43 having a thickness larger than the thickness of the ferromagnetic layer portion 42 is formed at a portion other than the portion 2. The material forming the ferromagnetic substrate 41, the ferromagnetic layer portion 42, and the non-magnetic layer portion 43 in the template 40 includes the ferromagnetic substrates 51 and 56 in the upper die 50 and the lower die 55, respectively. The materials exemplified for the ferromagnetic layer portions 52 and 57 and the nonmagnetic layer portions 53 and 58 can be used.

【0049】そして、図9に示すように、型板40の表
面(図において上面)に絶縁性エラストマー層30Bを
形成する。ここで、型板40の表面に形成される絶縁性
エラストマー層30Bは、その露出する一面に接着性を
有するものとされる。このような絶縁性エラストマー層
30Bを形成する方法としては、両面に接着性を有する
絶縁性エラストマーシートを用意し、この絶縁性エラス
トマーシートを型板40の表面に接着する方法、硬化さ
れて弾性高分子物質となる液状の高分子物質用材料を、
型板40の表面に塗布して高分子物質用材料層を形成
し、この高分子物質用材料層をその露出する一面におけ
る接着性が失われない程度に硬化処理する方法、などを
利用することができる。
Then, as shown in FIG. 9, an insulating elastomer layer 30B is formed on the surface (upper surface in the figure) of the template 40. Here, the insulating elastomer layer 30B formed on the surface of the template 40 has adhesiveness on one exposed surface. As a method of forming such an insulating elastomer layer 30B, a method of preparing an insulating elastomer sheet having adhesive properties on both sides and bonding the insulating elastomer sheet to the surface of the template 40, and a method of hardening and elasticity A liquid polymer material that becomes a molecular substance,
A method of applying a material layer for a polymer substance to the surface of the template 40 to form a material layer for the polymer substance, and curing the material layer for the polymer substance to such an extent that adhesiveness on one exposed surface is not lost; Can be.

【0050】次いで、図10に示すように、絶縁性エラ
ストマー層30Bにおける検査用回路基板20の検査用
電極21が形成された領域に対応する部分、具体的には
絶縁性エラストマー層30Bにおける型板40の強磁性
体層部分42上およびその周辺領域上に位置する部分を
除去することによって、型板40の強磁性体層部分42
およびその周辺が露出するよう空間30Sを形成する。
ここで、絶縁性エラストマー層30Bに空間30Sを形
成する方法としては、レーザー加工による方法を好まし
く利用することができる。レーザー加工に用いられるレ
ーザー装置としては、炭酸ガスレーザー装置、YAGレ
ーザー装置、エキシマレーザー装置などが挙げられる。
Next, as shown in FIG. 10, a portion of the insulating elastomer layer 30B corresponding to the region where the test electrodes 21 of the test circuit board 20 are formed, specifically, a template in the insulating elastomer layer 30B. By removing the portion of the template 40 located on the ferromagnetic layer portion 42 and its peripheral region, the ferromagnetic layer portion 42 of the template 40 is removed.
And the space 30S is formed so that the periphery thereof is exposed.
Here, as a method of forming the space 30S in the insulating elastomer layer 30B, a method by laser processing can be preferably used. Examples of a laser device used for laser processing include a carbon dioxide laser device, a YAG laser device, and an excimer laser device.

【0051】一方、導電性粒子の表面に潤滑剤または離
型剤を塗布し、この導電性粒子を、硬化されて弾性高分
子物質となる高分子物質用材料中に分散させることによ
り、シート形成材料を調製する。そして、図11に示す
ように、絶縁性エラストマー層30Bに形成された空間
30S内にシート形成材料を充填することにより、当該
空間30S内にシート形成材料層30Aを形成する。次
いで、図12に示すように、検査用回路基板20の表面
に、シート形成材料層30Aおよび絶縁性エラストマー
層30Bが形成された型板40を、そのシート形成材料
層30Aおよび絶縁性エラストマー層30Bの表面に対
接し、かつ、その強磁性体層部分42の各々がこれに対
応する検査用回路基板20の検査用電極21の各々の上
方に位置するよう配置する。
On the other hand, a lubricant or a release agent is applied to the surface of the conductive particles, and the conductive particles are dispersed in a material for a polymer material which is cured to become an elastic polymer material, thereby forming a sheet. Prepare the material. Then, as shown in FIG. 11, a sheet forming material is filled in a space 30S formed in the insulating elastomer layer 30B, thereby forming a sheet forming material layer 30A in the space 30S. Next, as shown in FIG. 12, the template 40 having the sheet forming material layer 30A and the insulating elastomer layer 30B formed on the surface of the inspection circuit board 20 is placed on the sheet forming material layer 30A and the insulating elastomer layer 30B. And the respective ferromagnetic layer portions 42 are arranged above the corresponding test electrodes 21 of the test circuit board 20 corresponding thereto.

【0052】その後、型板40の裏面および検査用回路
基板20の裏面に電磁石または永久磁石を配置し、シー
ト形成材料層30Aの厚み方向に平行磁場を作用させ
る。このとき、型板40の強磁性体層部分42および検
査用回路基板20の検査用電極21は、磁性体により構
成されているために磁極として作用する。そのため、シ
ート形成材料層30Aにおける型板40の強磁性体層部
分42と検査用回路基板20の検査用電極21との間の
部分、すなわち導電路形成部となる部分には、それ以外
の部分より大きい強度の平行磁場が作用する。その結
果、シート形成材料層30Aにおいては、当該シート形
成材料層30A中に分散されていた磁性を示す導電性粒
子が導電部形成部となる分に集合し、更に厚み方向に並
ぶように配向する。そして、平行磁場を作用させたま
ま、あるいは平行磁場の作用を停止した後、シート形成
材料層30Aおよび絶縁性エラストマー層30Bの硬化
処理を行うことにより、厚み方向に伸びる複数の導電路
形成部31とこれらを相互に絶縁する絶縁部32とより
なる異方導電性シート30が検査用回路基板20の表面
に一体的に形成され、以て、図5に示す構成の回路装置
検査用アダプターが製造される。以上において、シート
形成材料層30Aに作用される平行磁場の強度およびシ
ート形成材料層30Aおよび絶縁性エラストマー層30
Bの硬化処理の条件は、前述の異方導電性シート10の
製造方法と同様の条件である。
Thereafter, an electromagnet or a permanent magnet is arranged on the back surface of the template 40 and the back surface of the inspection circuit board 20, and a parallel magnetic field is applied in the thickness direction of the sheet forming material layer 30A. At this time, since the ferromagnetic layer portion 42 of the template 40 and the inspection electrode 21 of the inspection circuit board 20 are made of a magnetic material, they function as magnetic poles. Therefore, in the portion between the ferromagnetic layer portion 42 of the template 40 and the test electrode 21 of the test circuit board 20 in the sheet forming material layer 30A, that is, the portion serving as the conductive path forming portion, A higher intensity parallel magnetic field acts. As a result, in the sheet-forming material layer 30A, the conductive particles exhibiting magnetism dispersed in the sheet-forming material layer 30A are aggregated in the conductive portion forming portion and further oriented so as to be arranged in the thickness direction. . Then, the sheet forming material layer 30A and the insulating elastomer layer 30B are cured while the parallel magnetic field is applied or after the operation of the parallel magnetic field is stopped, so that the plurality of conductive path forming portions 31 extending in the thickness direction are formed. An anisotropic conductive sheet 30 composed of an insulating member 32 for insulating the circuit board from each other is integrally formed on the surface of the circuit board 20 for inspection, so that the adapter for circuit device inspection having the configuration shown in FIG. 5 is manufactured. Is done. In the above, the intensity of the parallel magnetic field applied to the sheet forming material layer 30A, the sheet forming material layer 30A and the insulating elastomer layer 30
The conditions for the curing treatment of B are the same as those for the method of manufacturing the anisotropic conductive sheet 10 described above.

【0053】このような回路装置検査用アダプターによ
れば、異方導電性シート30が繰り返し使用における耐
久性および熱的耐久性が高くて長い使用寿命を有するも
のであるため、高い効率で回路装置の検査を実行するこ
とができると共に、検査コストの低減化を図ることがで
きる。
According to such a circuit device inspection adapter, since the anisotropic conductive sheet 30 has high durability in repeated use and high thermal durability and has a long service life, the circuit device inspection can be performed with high efficiency. Can be executed, and the inspection cost can be reduced.

【0054】また、検査用回路基板20における検査用
電極21の表層部分21Bが磁性体により構成されてお
り、当該検査用回路基板20の上面に異方導電性シート
30を形成する際に、シート形成材料層30Aに厚み方
向に平行磁場を作用させたときには、磁性体により構成
された検査用電極21の表層部分21Bが磁極として作
用するため、当該検査用電極21の上方位置には、それ
以外の位置より相当に大きい磁力線が集中して発生す
る。これにより、検査用電極21の配置ピッチが極めて
小さいものであっても、当該検査用電極21の上方位置
に導電性粒子が集合し、更に厚み方向に配向するので、
検査用電極21上に配置され、かつ互いに絶縁部22に
よって絶縁された複数の導電路形成部31を有する所期
の異方導電性シート30を形成することができる。従っ
て、被検査回路装置の被検査電極が、その配置ピッチが
微小であり、かつ微細で高密度の複雑なパターンのもの
である場合にも、当該被検査電極と検査用回路基板20
の検査用電極との所要の電気的接続を確実に達成するこ
とができる。
The surface layer portion 21 B of the test electrode 21 on the test circuit board 20 is made of a magnetic material. When the anisotropic conductive sheet 30 is formed on the upper surface of the test circuit board 20, When a parallel magnetic field is applied to the forming material layer 30A in the thickness direction, the surface layer portion 21B of the inspection electrode 21 made of a magnetic material acts as a magnetic pole. The lines of magnetic force considerably larger than the position are concentrated. Thereby, even if the arrangement pitch of the inspection electrodes 21 is extremely small, the conductive particles gather at the position above the inspection electrodes 21 and are further oriented in the thickness direction.
An intended anisotropic conductive sheet 30 having a plurality of conductive path forming portions 31 arranged on the inspection electrode 21 and insulated from each other by the insulating portion 22 can be formed. Accordingly, even when the electrodes to be inspected of the circuit device to be inspected have a minute arrangement pitch and a fine and high-density complicated pattern, the electrodes to be inspected and the inspection circuit board 20 are not required.
Required electrical connection with the test electrode can be reliably achieved.

【0055】また、異方導電性シート30が検査用回路
基板20上に一体的に設けられているため、当該回路装
置検査用アダプターが加熱されたときに、異方導電性シ
ート30の熱膨張が検査用回路基板20によって抑制さ
れる。従って、ヒートサイクル試験およびバーンイン試
験などの試験において、温度変化に対しても良好な電気
的接続状態が安定に維持される。
Further, since the anisotropic conductive sheet 30 is provided integrally on the inspection circuit board 20, the thermal expansion of the anisotropic conductive sheet 30 when the circuit device inspection adapter is heated. Is suppressed by the inspection circuit board 20. Therefore, in tests such as a heat cycle test and a burn-in test, a good electrical connection state is stably maintained even with a temperature change.

【0056】〈回路装置の検査装置〉図13は、本発明
の回路装置の検査装置の一例における要部の構成を示す
説明用断面である。この図において、20は検査用回路
基板であって、その表面(図において上面)には、被検
査回路装置1の被検査電極2に対応するパターンに従っ
て複数の検査用電極21が形成されている。この検査用
回路基板20の表面上には、図1に示す構成の異方導電
性シート10が配置され、適宜の手段(図示省略)によ
って固定されている。具体的には、異方導電性シート1
0は、被検査回路装置1の被検査電極2に対応するパタ
ーンに従って形成された複数の導電路形成部11を有
し、当該導電路形成部11の各々がこれに対応する検査
用回路基板20の検査用電極21上に位置するよう配置
されている。ここで、検査対象である被検査回路装置1
としては、ウエハ、半導体チップ、BGA、CSP等の
パッケージ、MCM等のモジュールなどの電子部品、片
面プエント回路基板、両面プリント回路基板、多層プリ
ント回路基板等のプリント回路基板などが挙げられる。
<Inspection Apparatus for Circuit Device> FIG. 13 is an explanatory cross-sectional view showing the configuration of the main part of an example of the inspection apparatus for circuit devices according to the present invention. In this figure, reference numeral 20 denotes a circuit board for inspection, and a plurality of inspection electrodes 21 are formed on its surface (the upper surface in the figure) in accordance with a pattern corresponding to the electrode 2 to be inspected of the circuit device 1 to be inspected. . An anisotropic conductive sheet 10 having the configuration shown in FIG. 1 is arranged on the surface of the inspection circuit board 20, and is fixed by appropriate means (not shown). Specifically, the anisotropic conductive sheet 1
0 has a plurality of conductive path forming portions 11 formed according to a pattern corresponding to the electrode 2 to be tested of the circuit device 1 to be tested, and each of the conductive path forming portions 11 corresponds to the corresponding one of the test circuit boards 20. Are arranged so as to be located on the inspection electrode 21. Here, the circuit device under test 1 to be tested is
Examples thereof include wafers, semiconductor chips, packages such as BGA and CSP, electronic components such as modules such as MCM, printed circuit boards such as single-sided printed circuit boards, double-sided printed circuit boards, and multilayer printed circuit boards.

【0057】このような検査装置においては、例えば検
査用回路基板20を被検査回路装置1に接近する方向に
移動させることにより、或いは被検査回路装置1を検査
用回路基板20に接近する方向に移動させることによ
り、異方導電性シート10が被検査回路装置1と検査用
回路基板20とにより加圧された状態となり、その結
果、異方導電性シート10の導電路形成部11を介して
被検査回路装置1の被検査電極2と検査用回路基板20
の検査用電極21との間の電気的接続が達成される。そ
して、この状態で、或いは被検査回路装置1における潜
在的欠陥を発現させるために環境温度を所定の温度例え
ば150℃に上昇させた状態で、当該被検査回路装置1
について所要の電気的検査が行われる。
In such an inspection apparatus, for example, the inspection circuit board 20 is moved in a direction approaching the inspection target circuit device 1 or the inspection target circuit device 1 is moved in a direction approaching the inspection circuit substrate 20. By being moved, the anisotropic conductive sheet 10 is pressed by the circuit device under test 1 and the circuit board 20 for inspection, and as a result, the conductive sheet 10 passes through the conductive path forming portion 11 of the anisotropic conductive sheet 10. Inspection electrode 2 of inspection target circuit device 1 and inspection circuit board 20
Electrical connection with the inspection electrode 21 is achieved. In this state, or in a state where the environmental temperature is raised to a predetermined temperature, for example, 150 ° C. in order to develop a potential defect in the circuit device 1 to be inspected,
The required electrical inspection is carried out for.

【0058】このような検査装置によれば、異方導電性
シート10が繰り返し使用における耐久性および熱的耐
久性が高くて長い使用寿命を有するものであるため、当
該異方導電性シート10を交換する頻度が少なくなり、
その結果、高い効率で回路装置の検査を実行することが
できる。
According to such an inspection apparatus, since the anisotropic conductive sheet 10 has high durability in repeated use and high thermal durability and has a long service life, the anisotropic conductive sheet 10 can be used. Replacement less frequently,
As a result, the inspection of the circuit device can be executed with high efficiency.

【0059】図14は、本発明に係る回路装置の検査装
置の他の例における構成を示す説明図である。この検査
装置は、両面に被検査電極6,7が形成された被検査回
路基板5の電気的検査を行うものであって、被検査回路
基板5を検査実行領域Rに保持するためのホルダー8を
有し、このホルダー8には、被検査回路基板5を検査実
行領域Rにおける適正な位置に配置するための位置決め
ピン9が設けられている。検査実行領域Rの上方には、
図5に示すような構成の上部側アダプター35aおよび
上部側検査ヘッド60aが下からこの順で配置され、更
に、上部側検査ヘッド60aの上方には、上部側支持板
66aが配置されており、上部側検査ヘッド60aは、
支柱64aによって支持板66aに固定されている。一
方、検査実行領域Rの下方には、図5に示すような構成
の下部側アダプター35bおよび下部側検査ヘッド60
bが上からこの順で配置され、更に、下部側検査ヘッド
60bの下方には、下部側支持板66bが配置されてお
り、下部側検査ヘッド60bは、支柱64bによって支
持板66bに固定されている。
FIG. 14 is an explanatory diagram showing the configuration of another example of the circuit device inspection apparatus according to the present invention. This inspection apparatus performs an electrical inspection of a circuit board 5 to be inspected having electrodes 6 and 7 formed on both sides, and a holder 8 for holding the circuit board 5 to be inspected in an inspection execution region R. The holder 8 is provided with positioning pins 9 for arranging the circuit substrate 5 to be inspected at an appropriate position in the inspection execution region R. Above the inspection execution region R,
An upper-side adapter 35a and an upper-side inspection head 60a having a configuration as shown in FIG. 5 are arranged in this order from below, and an upper-side support plate 66a is arranged above the upper-side inspection head 60a. The upper side inspection head 60a
The support 64a is fixed to the support plate 66a. On the other hand, below the inspection execution region R, a lower adapter 35b and a lower inspection head 60 having a configuration as shown in FIG.
b are arranged in this order from the top, and further below the lower inspection head 60b, a lower support plate 66b is arranged. The lower inspection head 60b is fixed to the support plate 66b by a support column 64b. I have.

【0060】上部側検査ヘッド60aは、板状の電極装
置61aと、この電極装置61aの下面に固定されて配
置された弾性を有する異方導電性シート65aとにより
構成されている。電極装置61aは、その下面に上部側
アダプター35aの端子電極22と同一のピッチの格子
点位置に配置された複数の接続用電極62aを有し、こ
れらの接続用電極62aの各々は、ワイヤー配線63a
によって、上部側支持板66aに設けられたコネクター
67aに電気的に接続され、更に、このコネクター67
aを介してテスターの検査回路(図示省略)に電気的に
接続されている。下部側検査ヘッド60bは、板状の電
極装置61bと、この電極装置61bの上面に固定され
て配置された弾性を有する異方導電性シート65bとに
より構成されている。電極装置61bは、その上面に下
部側アダプター35bの端子電極22と同一のピッチの
格子点位置に配置された複数の接続用電極62bを有
し、これらの接続用電極62bの各々は、ワイヤー配線
63bによって、下部側支持板66bに設けられたコネ
クター67bに電気的に接続され、更に、このコネクタ
ー67bを介してテスターの検査回路(図示省略)に電
気的に接続されている。
The upper inspection head 60a is composed of a plate-like electrode device 61a and an elastic anisotropic conductive sheet 65a fixed and arranged on the lower surface of the electrode device 61a. The electrode device 61a has on its lower surface a plurality of connection electrodes 62a arranged at lattice points at the same pitch as the terminal electrodes 22 of the upper adapter 35a, and each of these connection electrodes 62a is a wire wiring. 63a
Is electrically connected to a connector 67a provided on the upper support plate 66a.
It is electrically connected to a test circuit (not shown) of the tester via a. The lower inspection head 60b includes a plate-shaped electrode device 61b and an elastic anisotropic conductive sheet 65b fixed and disposed on the upper surface of the electrode device 61b. The electrode device 61b has on its upper surface a plurality of connection electrodes 62b arranged at lattice points at the same pitch as the terminal electrodes 22 of the lower adapter 35b, and each of these connection electrodes 62b is a wire wiring. The connector 63b is electrically connected to a connector 67b provided on the lower support plate 66b, and is further electrically connected to a test circuit (not shown) of the tester via the connector 67b.

【0061】上部側検査ヘッド60aおよび下部側検査
ヘッド60bにおける異方導電性シート65a,65b
は、いずれもその厚み方向にのみ導電路を形成する導電
路形成部が形成されてなるものである。このような異方
導電性シート65a,65bとしては、各導電路形成部
が少なくとも一面において厚み方向に突出するよう形成
されているものが、高い電気的な接触安定性を発揮する
点で好ましい。
The anisotropic conductive sheets 65a and 65b in the upper inspection head 60a and the lower inspection head 60b.
Are formed with a conductive path forming portion for forming a conductive path only in the thickness direction. As such anisotropic conductive sheets 65a and 65b, those in which each conductive path forming portion is formed so as to protrude in the thickness direction on at least one surface are preferable in terms of exhibiting high electrical contact stability.

【0062】このような回路装置の検査装置において
は、検査対象である被検査回路基板5がホルダー8によ
って検査実行領域Rに保持され、この状態で、上部側支
持板66aおよび下部側支持板66bの各々が被検査回
路基板5に接近する方向に移動することにより、当該被
検査回路基板5が上部側アダプター35aおよび下部側
アダプター35bによって挟圧される。この状態におい
ては、被検査回路基板5の上面における被検査電極6
は、上部側アダプター35aの検査用電極21に、当該
異方導電性シート30の導電路形成部31を介して電気
的に接続され、この上部側アダプター35aの端子電極
22は、異方導電性シート65aを介して電極装置61
aの接続用電極62aに電気的に接続されている。一
方、被検査回路基板5の下面における被検査電極7は、
下部側アダプター35bの検査用電極21に、当該異方
導電性シート30の導電路形成部31を介して電気的に
接続され、この下部側アダプター35bの端子電極22
は、異方導電性シート65bを介して電極装置61bの
接続用電極62bに電気的に接続されている。
In such a circuit device inspection apparatus, the circuit board 5 to be inspected is held in the inspection execution region R by the holder 8, and in this state, the upper support plate 66a and the lower support plate 66b Are moved in a direction approaching the circuit board 5 to be inspected, the circuit board 5 to be inspected is clamped by the upper adapter 35a and the lower adapter 35b. In this state, the electrode 6 to be inspected on the upper surface of the circuit board 5 to be inspected is
Is electrically connected to the inspection electrode 21 of the upper adapter 35a via the conductive path forming portion 31 of the anisotropic conductive sheet 30. The terminal electrode 22 of the upper adapter 35a is Electrode device 61 via sheet 65a
a is electrically connected to the connection electrode 62a. On the other hand, the electrode 7 to be inspected on the lower surface of the circuit board 5 to be inspected is
It is electrically connected to the inspection electrode 21 of the lower adapter 35b via the conductive path forming portion 31 of the anisotropic conductive sheet 30, and the terminal electrode 22 of the lower adapter 35b is
Is electrically connected to the connection electrode 62b of the electrode device 61b via the anisotropic conductive sheet 65b.

【0063】このようにして、被検査回路基板5の上面
および下面の両方の被検査電極6,7の各々が、上部側
検査ヘッド60aにおける電極装置61aの接続用電極
62aおよび下部側検査ヘッド60bにおける電極装置
61bの接続用電極62bの各々に電気的に接続される
ことにより、テスターの検査回路に電気的に接続された
状態が達成され、この状態で所要の電気的検査が行われ
る。
In this manner, each of the electrodes 6 and 7 on both the upper and lower surfaces of the circuit board 5 to be inspected is connected to the connection electrode 62a and the lower inspection head 60b of the electrode device 61a in the upper inspection head 60a. Is electrically connected to each of the connection electrodes 62b of the electrode device 61b, thereby achieving a state of being electrically connected to the test circuit of the tester. In this state, a required electrical test is performed.

【0064】上記の回路基板の検査装置によれば、繰り
返し使用における耐久性および熱的耐久性が高い異方導
電性シート30を有する上部側アダプター35aおよび
下部側アダプター35bが設けられているため、高い効
率で回路装置の検査を実行することができると共に、検
査コストの低減化を図ることができる。また、上部側ア
ダプター35aおよび下部側アダプター35bにおい
て、異方導電性シート30が検査用回路基板20上に一
体的に設けられているため、異方導電性シート30の熱
膨張が検査用回路基板20によって抑制される。従っ
て、温度変化に対しても良好な電気的接続状態が安定に
維持される。
According to the above-described circuit board inspection apparatus, the upper adapter 35a and the lower adapter 35b having the anisotropic conductive sheet 30 having high durability and thermal durability in repeated use are provided. Inspection of the circuit device can be executed with high efficiency, and the inspection cost can be reduced. Further, in the upper adapter 35a and the lower adapter 35b, the anisotropic conductive sheet 30 is provided integrally on the inspection circuit board 20, so that the thermal expansion of the anisotropic conductive sheet 30 reduces the thermal expansion of the inspection circuit board. 20. Therefore, a favorable electrical connection state is stably maintained even with a temperature change.

【0065】〈電子部品実装構造体〉図15は、本発明
に係る電子部品実装構造体の一例における構成を示す説
明図である。この電子部品実装構造体においては、電子
部品71が、図1に示す構成の異方導電性シート10を
介して回路基板73上に配置され、当該異方導電性シー
ト10が当該電子部品71および当該回路基板73に挟
圧された状態で固定部材75によって固定されており、
異方導電性シート10の導電路形成部(図示せず)によ
って電子部品71の電極72が回路基板73の電極74
に電気的に接続されている。
<Electronic Component Mounting Structure> FIG. 15 is an explanatory view showing the structure of an example of an electronic component mounting structure according to the present invention. In this electronic component mounting structure, the electronic component 71 is disposed on the circuit board 73 via the anisotropic conductive sheet 10 having the configuration shown in FIG. It is fixed by the fixing member 75 in a state of being pressed by the circuit board 73,
The electrodes 72 of the electronic component 71 are connected to the electrodes 74 of the circuit board 73 by the conductive path forming portions (not shown) of the anisotropic conductive sheet 10.
Is electrically connected to

【0066】電子部品71としては、特に限定されず種
々のものを用いることができ、例えば、トランジスタ、
ダイオード、リレー、スイッチ、ICチップ若しくはL
SIチップまたはそれらのパッケージ或いはMCM(M
ulti Chip Module)などの半導体装置
からなる能動部品、抵抗、コンデンサ、水晶振動子、ス
ピーカー、マイクロフォン、変成器(コイル)、インダ
クターなどの受動部品、TFT型液晶表示パネル、ST
N型液晶表示パネル、プラズマディスプレイパネル、エ
レクトロルミネッセンスパネルなどの表示パネルなどが
挙げられる。回路基板73としては、片面プリント回路
基板、両面プリント回路基板、多層プリント回路基板な
ど種々の構造のものを用いることができる。また、回路
基板73は、フレキシブル基板、リジッド基板、これら
を組み合わせたフレックス・リジッド基板のいずれであ
ってもよい。
The electronic component 71 is not particularly limited, and various electronic components can be used.
Diode, relay, switch, IC chip or L
SI chips or their packages or MCM (M
Active components including semiconductor devices such as multi-chip modules, passive components such as resistors, capacitors, crystal oscillators, speakers, microphones, transformers (coils), inductors, TFT-type liquid crystal display panels, and STs
Display panels such as an N-type liquid crystal display panel, a plasma display panel, and an electroluminescence panel are exemplified. As the circuit board 73, those having various structures such as a single-sided printed circuit board, a double-sided printed circuit board, and a multilayer printed circuit board can be used. Further, the circuit board 73 may be any of a flexible board, a rigid board, and a flex-rigid board combining these.

【0067】フレキシブル基板を構成する材料として
は、ポリイミド、ポリアミド、ポリエステル、ポリスル
ホン等を用いることができる。リジッド基板を構成する
材料としては、ガラス繊維補強型エポキシ樹脂、ガラス
繊維補強型フェノール樹脂、ガラス繊維補強型ポリイミ
ド樹脂、ガラス繊維補強型ビスマレイミドトリアジン樹
脂等の複合樹脂材料、二酸化珪素、アルミナ等のセラミ
ック材料を用いることができる。
As a material constituting the flexible substrate, polyimide, polyamide, polyester, polysulfone, or the like can be used. Examples of the material forming the rigid substrate include composite resin materials such as glass fiber reinforced epoxy resin, glass fiber reinforced phenol resin, glass fiber reinforced polyimide resin, and glass fiber reinforced bismaleimide triazine resin, silicon dioxide, and alumina. Ceramic materials can be used.

【0068】電子部品71の電極72および回路基板7
3の電極74の材質としては、例えば金、銀、銅、ニッ
ケル、パラジウム、カーボン、アルミニウム、ITO等
が挙げられる。また、電子部品71の電極72および回
路基板73の電極74の厚みは、それぞれ0.1〜10
0μmであることが好ましい。また、電子部品71の電
極72および回路基板73の電極74の幅は、1〜50
0μmであることが好ましい。
Electrode 72 of electronic component 71 and circuit board 7
Examples of the material of the third electrode 74 include gold, silver, copper, nickel, palladium, carbon, aluminum, ITO, and the like. The thickness of the electrode 72 of the electronic component 71 and the thickness of the electrode 74 of the circuit board 73 are 0.1 to 10 respectively.
It is preferably 0 μm. The width of the electrode 72 of the electronic component 71 and the width of the electrode 74 of the circuit board 73 are 1 to 50.
It is preferably 0 μm.

【0069】上記の電子部品実装構造体によれば、電子
部品71が、繰り返し使用における耐久性および熱的耐
久性が高い異方導電性シート10を介して回路基板73
に電気的に接続されているため、長期間にわたって良好
な電気的接続状態を安定に維持することができる。この
ような電子部品実装構造体は、電子計算機、電子式デジ
タル時計、電子カメラ、コンピューターキーボードなど
の分野において、プリント回路基板と電子部品との実装
構造に好適に適用することができる。
According to the electronic component mounting structure described above, the electronic component 71 is connected to the circuit board 73 via the anisotropic conductive sheet 10 having high durability and thermal durability in repeated use.
, It is possible to stably maintain a good electrical connection state for a long period of time. Such an electronic component mounting structure can be suitably applied to a mounting structure of a printed circuit board and an electronic component in fields such as an electronic calculator, an electronic digital clock, an electronic camera, and a computer keyboard.

【0070】本発明は、上記の実施の形態に限定されず
種々の変更を加えることが可能である。 (1)図16に示すように、枠板状の支持体15によっ
て周縁部が支持された支持体付き異方導電性シート10
を構成することができる。このような異方導電性シート
10は、異方導電性シートを製造するための金型とし
て、キャビティ内に支持体15を配置し得る支持体配置
用空間領域を有するものを用い、当該金型のキャビティ
内における支持体配置用空間領域に支持体15を配置
し、この状態で、前述したように、シート形成材料を注
入して硬化処理することにより、製造することができ
る。
The present invention is not limited to the above embodiment, and various changes can be made. (1) As shown in FIG. 16, an anisotropic conductive sheet 10 with a support whose peripheral edge is supported by a frame-plate-like support 15
Can be configured. Such an anisotropic conductive sheet 10 is a mold for manufacturing the anisotropic conductive sheet, which has a space region for supporting member placement in which a support member 15 can be arranged in a cavity, and is used as the mold. In this state, the support 15 is arranged in the support arrangement space region in the cavity, and in this state, as described above, the sheet forming material is injected and cured, whereby the substrate 15 can be manufactured.

【0071】(2)導電路形成部11が絶縁部12の表
面から突出した状態に形成されることは、本発明におい
て必須ではなく、異方導電性シート10の表面が平坦面
のものであってもよい。 (3)導電性粒子が面方向において均一に分布した状態
で基材中に含有されてなる、いわゆる分散型または非偏
在型の異方導電性シートを構成することができる。
(2) It is not essential in the present invention that the conductive path forming portion 11 is formed so as to protrude from the surface of the insulating portion 12, and the anisotropic conductive sheet 10 has a flat surface. You may. (3) A so-called dispersion type or non-uniform type anisotropic conductive sheet in which conductive particles are contained in a substrate in a state of being uniformly distributed in a plane direction can be formed.

【0072】[0072]

【実施例】以下、本発明の実施例について具体的に説明
するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものでは
ない。また、以下の実施例において、粒子の数平均粒子
径は、レーザー回折散乱法により測定し、硬化後のゴム
のデュロメータ硬さは、JIS K6253のデュロメ
ータ硬さ試験に基づいて、タイプAデュロメータを用い
て測定した。
EXAMPLES Examples of the present invention will be specifically described below, but the present invention is not limited to these examples. In the following examples, the number average particle diameter of the particles was measured by a laser diffraction scattering method, and the durometer hardness of the cured rubber was determined using a type A durometer based on a durometer hardness test of JIS K6253. Measured.

【0073】〈実施例1〉 〔シート形成材料の調製〕数平均粒子径が30μmのニ
ッケル粒子の表面に、その質量の8質量%となる量の金
メッキが施されてなる導電性粒子(数平均粒子径30μ
m)を調製し、この導電性粒子の表面に当該導電性粒子
100質量部に対して5質量部となる量の潤滑剤を塗布
した。ここで、潤滑剤としては、分子中にフッ素を有す
るシリコーンオイルを含有してなるシリコーングリース
「FG721」(信越化学工業株式会社製)を用いた。
次いで、潤滑剤が塗布された導電性粒子9質量部を、付
加型液状シリコーンゴム「KE2000−40」(信越
化学工業株式会社製,硬化後のゴムのデュロメータ硬さ
が40)100質量部に添加して混合し、その後、この
混合物に対して減圧による脱泡処理を行うことにより、
シート形成材料を調製した。
<Example 1> [Preparation of sheet-forming material] Conductive particles (number-average) in which nickel particles having a number-average particle diameter of 30 µm were plated with gold in an amount of 8% by mass based on the mass thereof. Particle size 30μ
m) was prepared, and a lubricant in an amount of 5 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the conductive particles was applied to the surface of the conductive particles. Here, as the lubricant, a silicone grease “FG721” (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) containing silicone oil having fluorine in the molecule was used.
Next, 9 parts by mass of the conductive particles coated with the lubricant were added to 100 parts by mass of the addition type liquid silicone rubber “KE2000-40” (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., and the durometer hardness of the cured rubber was 40). Then, by performing a defoaming treatment under reduced pressure on this mixture,
A sheet forming material was prepared.

【0074】〔異方導電性シート製造用金型の作製〕キ
ャビティ内に支持体配置用空間領域を有すること以外は
基本的に図2に示す構成に従って、下記の条件により、
異方導電性シート製造用金型を作製した。 強磁性体基板:材質;鉄,厚み;6mm, 強磁性体層部分:材質;ニッケル,厚み;0.15m
m,径;0.4mm,ピッチ(中心間距離);0.8m
m, 非磁性体層部分:材質;エポキシ樹脂,厚み;0.2m
m, スペーサの厚み;0.3mm
[Preparation of Mold for Manufacturing Anisotropic Conductive Sheet] Except for having a space region for arranging the support in the cavity, basically according to the configuration shown in FIG.
A mold for producing an anisotropic conductive sheet was prepared. Ferromagnetic substrate: material: iron, thickness: 6 mm, ferromagnetic layer portion: material: nickel, thickness: 0.15 m
m, diameter; 0.4 mm, pitch (center-to-center distance); 0.8 m
m, non-magnetic material layer part: material; epoxy resin, thickness; 0.2 m
m, spacer thickness; 0.3mm

【0075】〔異方導電性シートの製造〕上記の金型の
キャビティ内における支持体配置用空間領域に、厚みが
0.3mmのステンレスよりなる枠板状の異方導電性シ
ート用支持体を配置した。次いで、この金型のキャビテ
ィ内に、調製したシート形成材料を注入し、減圧による
脱泡処理を行うことにより、当該金型内にシート形成材
料層を形成した。そして、シート形成材料層に対して、
電磁石によって厚み方向に2Tの平行磁場を作用させな
がら、100℃、1時間の条件で当該シート形成材料層
の硬化処理を行い、更に、金型から離型した後に、15
0℃、1時間の条件でポストキュアを行うことにより、
それそれ厚み方向に伸びる複数の導電路形成部と、これ
らの導電路形成部を相互に絶縁する絶縁部とを有する支
持体付異方導電性シートを製造した。得られた異方導電
性シートは、外径が0.4mmの導電路形成部が、0.
8mmのピッチで、12行9列の格子点位置に配列され
てなるものであって、絶縁部の厚みは0.3mm、導電
路形成部の厚みは0.4mmであり、当該導電路形成部
が絶縁部の両面の各々から突出した状態(それぞれの突
出高さが0.05mm)に形成されてなるものである。
また、導電路形成部における導電性粒子の割合は、体積
分率で30%であった。
[Production of an anisotropic conductive sheet] A frame-plate-shaped anisotropic conductive sheet support made of stainless steel having a thickness of 0.3 mm is provided in the space region for disposing the support in the cavity of the mold. Placed. Next, the prepared sheet forming material was injected into the cavity of the mold, and a defoaming process was performed under reduced pressure to form a sheet forming material layer in the mold. And, for the sheet forming material layer,
While applying a parallel magnetic field of 2T in the thickness direction by an electromagnet, the sheet-forming material layer is cured at 100 ° C. for 1 hour, and after the mold is released from the mold, the sheet is cured.
By performing post cure at 0 ° C for 1 hour,
An anisotropic conductive sheet with a support having a plurality of conductive path forming portions extending in the thickness direction and insulating portions for insulating these conductive path forming portions from each other was manufactured. In the obtained anisotropic conductive sheet, the conductive path forming portion having an outer diameter of 0.4 mm has a diameter of 0.4 mm.
It is arranged at grid points of 12 rows and 9 columns at a pitch of 8 mm, the thickness of the insulating portion is 0.3 mm, the thickness of the conductive path forming section is 0.4 mm, and the conductive path forming section Are formed so as to protrude from both surfaces of the insulating portion (each protrusion height is 0.05 mm).
The ratio of the conductive particles in the conductive path forming portion was 30% by volume.

【0076】〈実施例2〉シリコーングリース「FG7
21」の代わりに、分子中にフッ素を有しないシリコー
ンオイルを含有してなるシリコーングリース「G50
1」(信越化学工業株式会社製)を潤滑剤として用い、
導電性粒子の表面に当該導電性粒子100質量部に対し
て2.5質量部となる量の潤滑剤を塗布したこと以外
は、実施例1と同様にして支持体付きの異方導電性シー
トを製造した。得られた異方導電性シートの導電路形成
部および絶縁部の寸法は、実施例1に係る異方導電性シ
ートと同一であり、導電路形成部における導電性粒子の
割合は、体積分率で30%であった。
Example 2 Silicone grease “FG7”
21 "instead of a silicone grease containing a silicone oil having no fluorine in the molecule" G50
1 "(manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) as a lubricant,
Anisotropically conductive sheet with a support in the same manner as in Example 1 except that a lubricant in an amount of 2.5 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the conductive particles was applied to the surface of the conductive particles. Was manufactured. The dimensions of the conductive path forming portion and the insulating portion of the obtained anisotropic conductive sheet are the same as those of the anisotropic conductive sheet according to Example 1. Was 30%.

【0077】〈実施例3〉シリコーングリース「FG7
21」の代わりに、フッ素系離型剤「ダイフリー」(ダ
イキン工業株式会社製)を離型剤として用い、導電性粒
子の表面に当該導電性粒子100質量部に対して2.5
質量部となる量の離型剤を塗布したこと以外は、実施例
1と同様にして支持体付きの異方導電性シートを製造し
た。得られた異方導電性シートの導電路形成部および絶
縁部の寸法は、実施例1に係る異方導電性シートと同一
であり、導電路形成部における導電性粒子の割合は、体
積分率で30%であった。
Example 3 Silicone grease "FG7"
21), a fluorine-based release agent “DAIFREE” (manufactured by Daikin Industries, Ltd.) is used as a release agent, and the surface of the conductive particles is 2.5 parts per 100 parts by mass of the conductive particles.
An anisotropic conductive sheet with a support was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the amount of the releasing agent to be used in parts by mass was applied. The dimensions of the conductive path forming portion and the insulating portion of the obtained anisotropic conductive sheet are the same as those of the anisotropic conductive sheet according to Example 1. Was 30%.

【0078】〈実施例4〉シリコーングリース「FG7
21」の代わりに、25℃の動粘度が300000cS
tのシリコーンオイル「KF96H」(信越化学工業株
式会社製)を潤滑剤として用い、導電性粒子の表面に当
該導電性粒子100質量部に対して2.5質量部となる
量の潤滑剤を塗布したこと以外は、実施例1と同様にし
て支持体付きの異方導電性シートを製造した。得られた
異方導電性シートの導電路形成部および絶縁部の寸法
は、実施例1に係る異方導電性シートと同一であり、導
電路形成部における導電性粒子の割合は、体積分率で3
0%であった。
Example 4 Silicone grease “FG7”
21 ”instead of 300,000 cS kinematic viscosity at 25 ° C
Using silicone oil “KF96H” (available from Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) as a lubricant, apply a lubricant in an amount of 2.5 parts by mass to 100 parts by mass of the conductive particles on the surface of the conductive particles. Except that, an anisotropic conductive sheet with a support was manufactured in the same manner as in Example 1. The dimensions of the conductive path forming portion and the insulating portion of the obtained anisotropic conductive sheet are the same as those of the anisotropic conductive sheet according to Example 1, and the ratio of the conductive particles in the conductive path forming portion is expressed as a volume fraction. 3 in
It was 0%.

【0079】〈比較例1〉導電性粒子の表面に潤滑剤を
塗布しなかったこと以外は、実施例1と同様にして支持
体付きの異方導電性シートを製造した。得られた異方導
電性シートの導電路形成部および絶縁部の寸法は、実施
例1に係る異方導電性シートと同一であり、導電路形成
部における導電性粒子の割合は、体積分率で30%であ
った。
Comparative Example 1 An anisotropic conductive sheet with a support was produced in the same manner as in Example 1 except that no lubricant was applied to the surface of the conductive particles. The dimensions of the conductive path forming portion and the insulating portion of the obtained anisotropic conductive sheet are the same as those of the anisotropic conductive sheet according to Example 1. Was 30%.

【0080】〈比較例2〉付加型液状シリコーンゴム
「KE2000−40」の代わりに、付加型液状シリコ
ーンゴム「KE2000−20」(信越化学工業株式会
社製,硬化後のゴムのデュロメータ硬さが18)を用い
たこと以外は、実施例1と同様にして支持体付きの異方
導電性シートを製造した。得られた異方導電性シートの
導電路形成部および絶縁部の寸法は、実施例1に係る異
方導電性シートと同一であり、導電路形成部における導
電性粒子の割合は、体積分率で30%であった。
<Comparative Example 2> Instead of the addition type liquid silicone rubber "KE2000-40", the addition type liquid silicone rubber "KE2000-20" (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., having a durometer hardness of 18 after curing). A) An anisotropic conductive sheet with a support was produced in the same manner as in Example 1 except that (1) was used. The dimensions of the conductive path forming portion and the insulating portion of the obtained anisotropic conductive sheet are the same as those of the anisotropic conductive sheet according to Example 1. Was 30%.

【0081】〈参考例1〉シリコーングリース「FG7
21」の代わりに、25℃の動粘度が2cStのシリコ
ーンオイル「KF96L」(信越化学工業株式会社製)
を用い、導電性粒子の表面に当該導電性粒子100質量
部に対して2.5質量部となる量の潤滑剤を塗布したこ
と以外は、実施例1と同様にして支持体付きの異方導電
性シートを製造した。得られた異方導電性シートの導電
路形成部および絶縁部の寸法は、実施例1に係る異方導
電性シートと同一であり、導電路形成部における導電性
粒子の割合は、体積分率で30%であった。
Reference Example 1 Silicone grease “FG7”
"KF96L" having a kinematic viscosity of 2 cSt at 25 ° C. instead of “21” (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.)
Anisotropic with support in the same manner as in Example 1 except that the lubricant was applied to the surface of the conductive particles in an amount of 2.5 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the conductive particles. A conductive sheet was manufactured. The dimensions of the conductive path forming portion and the insulating portion of the obtained anisotropic conductive sheet are the same as those of the anisotropic conductive sheet according to Example 1. Was 30%.

【0082】〈参考例2〉導電性粒子の表面に当該導電
性粒子100質量部に対して20質量部となる量の潤滑
剤を塗布したこと以外は、実施例1と同様にして支持体
付きの異方導電性シートを製造した。得られた異方導電
性シートの導電路形成部および絶縁部の寸法は、実施例
1に係る異方導電性シートと同一であり、導電路形成部
における導電性粒子の割合は、体積分率で30%であっ
た。
<Reference Example 2> A support was provided in the same manner as in Example 1 except that a lubricant was applied to the surface of the conductive particles in an amount of 20 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the conductive particles. Was manufactured. The dimensions of the conductive path forming portion and the insulating portion of the obtained anisotropic conductive sheet are the same as those of the anisotropic conductive sheet according to Example 1. Was 30%.

【0083】〔異方導電性シートの評価〕実施例1〜
4、比較例1〜2および参考例1〜2に係る異方導電性
シートについて、繰り返し使用における耐久性および熱
的耐久性を下記のようにして評価した。
[Evaluation of Anisotropic Conductive Sheet]
4. With respect to the anisotropic conductive sheets according to Comparative Examples 1 and 2 and Reference Examples 1 and 2, durability and thermal durability in repeated use were evaluated as follows.

【0084】(1)繰り返し使用における耐久性:厚み
が0.5mmのBTレジンよりなる絶縁性基板の一面上
に、ピッチが0.8mmの格子点位置に従って15行1
5列で配列された、高さが20μm、外径が0.25m
mの金よりなる突出電極を有し、当該絶縁性基板の一面
における周縁部分に、プリント配線によって突出電極の
各々に電気的に接続されたリード電極を有してなる一方
の評価用回路基板と、厚みが0.5mmのBTレジンよ
りなる絶縁性基板上に、ピッチが0.8mmの格子点位
置に従って20行20列で配列された、外径が0.3m
mの金よりなる平面電極を有し、当該絶縁性基板の一面
における周縁部分に、プリント配線によって平面電極の
各々に電気的に接続されたリード電極を有してなる他方
の評価用回路基板とを用意し、この一方の評価用回路基
板と他方の評価用回路基板との間に、異方導電性シート
をその導電路形成部が突出電極と平面電極との間に位置
するよう配置した。そして、130℃の温度環境下にお
いて、一方の評価用回路基板と他方の評価用回路基板と
によって、異方導電性シートを導電路形成部1個あたり
に加わる荷重が10gfとなるよう挟圧し、この状態
で、導電路形成部の各々についてその電気抵抗を4端子
法によって測定し、その後、導電路形成部に加わる荷重
を0gfとした。この操作を1サイクルとして繰り返
し、いずれかの導電路形成部の電気抵抗の値が1Ωを超
えるまでのサイクル数(これを「繰り返し耐久回数」と
いう。)を測定した。異方導電性シートにおける導電路
形成部の初期電気抵抗(1サイクル目に測定した電気抵
抗値)および繰り返し耐久回数を表1に示す。
(1) Durability in repeated use: 15 rows 1 on a surface of an insulating substrate made of BT resin having a thickness of 0.5 mm in accordance with grid point positions with a pitch of 0.8 mm.
Arranged in 5 rows, height 20μm, outer diameter 0.25m
One of the evaluation circuit boards having a protruding electrode made of m.m. , An outer diameter of 0.3 m is arranged on an insulating substrate made of BT resin having a thickness of 0.5 mm in a matrix of 20 rows and 20 columns in accordance with lattice point positions of 0.8 mm.
the other evaluation circuit board having a planar electrode made of gold of m, and having a lead electrode electrically connected to each of the planar electrodes by printed wiring on a peripheral portion of one surface of the insulating substrate; Was prepared, and an anisotropic conductive sheet was arranged between the one evaluation circuit board and the other evaluation circuit board so that the conductive path forming portion was located between the protruding electrode and the plane electrode. Then, under a temperature environment of 130 ° C., one of the evaluation circuit boards and the other evaluation circuit board squeeze the anisotropic conductive sheet so that the load applied per conductive path forming portion is 10 gf, In this state, the electric resistance of each of the conductive path forming portions was measured by the four-terminal method, and thereafter, the load applied to the conductive path forming portion was set to 0 gf. This operation was repeated as one cycle, and the number of cycles until the value of the electric resistance of any of the conductive path forming portions exceeded 1Ω (this is referred to as “the number of repeated durability”) was measured. Table 1 shows the initial electric resistance (electric resistance value measured at the first cycle) and the number of repetition endurance of the conductive path forming portion in the anisotropic conductive sheet.

【0085】(2)熱的耐久性:上記(1)で使用した
一方の評価用回路基板および他方の評価用回路基板を用
い、この一方の評価用回路基板と他方の評価用回路基板
との間に、異方導電性シートをその導電路形成部が突出
電極と平面電極との間に位置するよう配置し、当該異方
導電性シートを導電路形成部1個あたりに加わる荷重が
10gfとなるよう挟圧した。そして、この状態で、温
度制御プログラムによって制御された恒温槽中におい
て、25℃で1時間保持した後に、導電路形成部の各々
について25℃における初期電気抵抗を4端子法によっ
て測定し、次いで、150℃で2時間保持した後に、当
該導電路形成部の各々について150℃における初期電
気抵抗を4端子法によって測定した。その後、25℃で
1時間保持した後150℃で2時間保持する操作(これ
を1サイクルとする。)を繰り返すと共に、1サイクル
が終了する毎に、導電路形成部の各々の電気抵抗を測定
し、いずれかの導電路形成部の電気抵抗の値が1Ωを超
えるまでのサイクル数(これを「熱的耐久回数」とい
う。)を測定した。以上、結果を表1に示す。
(2) Thermal durability: using one of the evaluation circuit boards and the other evaluation circuit board used in (1) above, the one evaluation circuit board and the other evaluation circuit board were used. In between, the anisotropic conductive sheet is disposed such that the conductive path forming portion is located between the protruding electrode and the flat electrode, and the load applied to the anisotropic conductive sheet per conductive path forming portion is 10 gf. It was squeezed. Then, in this state, after holding at 25 ° C. for 1 hour in a constant temperature bath controlled by a temperature control program, the initial electric resistance at 25 ° C. of each of the conductive path forming portions is measured by a four-terminal method, After holding at 150 ° C. for 2 hours, the initial electric resistance at 150 ° C. of each of the conductive path forming portions was measured by a four-terminal method. Thereafter, an operation of holding at 25 ° C. for 1 hour and then holding at 150 ° C. for 2 hours (this is referred to as one cycle) is repeated, and each time one cycle is completed, the electric resistance of each conductive path forming portion is measured. Then, the number of cycles until the value of the electric resistance of any of the conductive path forming portions exceeded 1Ω (this is referred to as “the number of thermal endurance”) was measured. The results are shown in Table 1.

【0086】[0086]

【表1】 [Table 1]

【0087】表1の結果から明らかなように、実施例1
〜4に係る異方導電性シートによれば、常温環境下にお
いて繰り返し使用した場合および高温環境下において長
時間使用した場合のいずれにおいても、導電路形成部の
電気抵抗の増加が小さく、繰り返し使用における耐久性
および熱的耐久性が共に高くて長い使用寿命が得られる
ことが確認された。
As is clear from the results in Table 1, Example 1
According to the anisotropic conductive sheets according to Nos. 1 to 4, the increase in the electric resistance of the conductive path forming portion is small in both cases of repeated use in a normal temperature environment and long time use in a high temperature environment. It was confirmed that both the durability and the thermal durability were high and a long service life was obtained.

【0088】〈実施例5〉 〔検査用回路基板の作製〕図6および図7に示す構成に
従い、下記の検査用電極および端子電極を有する検査用
回路基板を作製した。 (1)検査用電極:電極径;150μm,ピッチ;50
0μm,基層部分の材質;銅,基層部分の厚み30μ
m,表層部分の材質;ニッケル,表層部分の厚み;70
μm,電極数;512個, (2)端子電極:電極径;500μm,ピッチ;800
μm,材質;銅,電極数;512個,
<Example 5> [Preparation of test circuit board] A test circuit board having the following test electrodes and terminal electrodes was prepared according to the structure shown in FIGS. (1) Test electrode: electrode diameter: 150 μm, pitch: 50
0 μm, base layer material; copper, base layer thickness 30 μ
m, material of surface portion; nickel, thickness of surface portion; 70
μm, number of electrodes: 512, (2) terminal electrode: electrode diameter; 500 μm, pitch: 800
μm, material: copper, number of electrodes: 512,

【0089】〔シート形成材料の調製〕数平均粒子径が
20μmのニッケル粒子の表面に、その質量の8質量%
となる量の金メッキが施されてなる導電性粒子(数平均
粒子径20μm)を調製し、この導電性粒子の表面に当
該導電性粒子100質量部に対して2.5質量部となる
量の潤滑剤を塗布した。ここで、潤滑剤としては、分子
中にフッ素を有するシリコーンオイルを含有してなるシ
リコーングリース「FG721」(信越化学工業株式会
社製)を用いた。次いで、潤滑剤が塗布された導電性粒
子8質量部を、付加型液状シリコーンゴム「KE200
0−40」(信越化学工業株式会社製,硬化後のゴムの
デュロメータ硬さが40)100質量部に添加して混合
し、その後、この混合物に対して減圧による脱泡処理を
行うことにより、シート形成材料を調製した。
[Preparation of Sheet-Forming Material] A nickel particle having a number average particle diameter of 20 μm was coated on the surface at 8% by mass of its mass.
The conductive particles (number-average particle diameter 20 μm) on which the gold plating is applied are prepared in an amount of 2.5 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the conductive particles on the surface of the conductive particles. Lubricant was applied. Here, as the lubricant, a silicone grease “FG721” (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) containing silicone oil having fluorine in the molecule was used. Next, 8 parts by mass of the conductive particles coated with the lubricant were added to the addition type liquid silicone rubber “KE200”.
0-40 "(manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., the durometer hardness of the cured rubber is 40), and mixed with 100 parts by mass. A sheet forming material was prepared.

【0090】〔異方導電性シート成形用型板の作製〕図
8に示す構成に従って、下記の条件により、異方導電性
シート成形用型板を作製した。 強磁性体基板:材質;鉄,厚み;6mm, 強磁性体層部分:材質;ニッケル,厚み;0.05m
m,径;0.15mm,ピッチ(中心間距離);0.5
mm, 非磁性体層部分:材質;エポキシ樹脂,厚み;0.11
mm,
[Preparation of Template for Forming Anisotropic Conductive Sheet] A template for forming an anisotropic conductive sheet was prepared according to the configuration shown in FIG. 8 under the following conditions. Ferromagnetic substrate: material: iron, thickness: 6 mm, ferromagnetic layer portion: material: nickel, thickness: 0.05 m
m, diameter; 0.15 mm, pitch (center-to-center distance); 0.5
mm, non-magnetic layer part: material; epoxy resin, thickness; 0.11
mm,

【0091】〔回路装置検査用アダプターの製造〕上記
の型板の表面に、両面に接着性を有する厚みが150μ
mの絶縁性エラストマーシートを接着して絶縁性エラス
トマー層を形成した。その後、この絶縁性エラストマー
層における型板の強磁性体層部分上およびその周辺領域
上に位置する部分を、炭酸ガスレーザー装置によって除
去することによって、当該絶縁性エラストマー層に、型
板の強磁性体層部分およびその周辺が露出するよう空間
を形成した。そして、絶縁性エラストマー層に形成され
た空間内に、調製したシート形成材料をスクリーン印刷
法により充填することにより、シート形成材料層を形成
した。次いで、検査用回路基板の表面に、シート形成材
料層および絶縁性エラストマー層が形成された型板を、
そのシート形成材料層および絶縁性エラストマー層の表
面に対接し、かつ、その強磁性体層部分の各々がこれに
対応する検査用回路基板の検査用電極の各々の上方に位
置するよう配置した。そして、シート形成材料層に対し
て、電磁石によって厚み方向に0.7Tの平行磁場を作
用させながら、100℃、1時間の条件で当該シート形
成材料層の硬化処理を行い、更に、型板から離型した後
に、150℃、1時間の条件でポストキュアを行うこと
により、検査用回路基板の表面に、それそれ厚み方向に
伸びる複数の導電路形成部と、これらの導電路形成部を
相互に絶縁する絶縁部とを有する異方導電性シートを一
体的に形成し、以て回路装置検査用アダプターを製造し
た。得られた回路装置検査用アダプター装置における異
方導電性シートは、導電路形成部の外径が0.15m
m、ピッチが0.5mm、絶縁部の表面からの突出高さ
が58μmであり、絶縁部の厚みが150μmであり、
導電路形成部における導電性粒子の割合は、体積分率で
30%であった。
[Manufacture of Adapter for Inspection of Circuit Device] On the surface of the above-mentioned template, a thickness of 150 μm having an adhesive property on both surfaces is provided.
m of the insulating elastomer sheet were adhered to form an insulating elastomer layer. Thereafter, a portion of the insulating elastomer layer located on the ferromagnetic layer portion of the template and on the peripheral region thereof is removed by a carbon dioxide laser device, so that the insulating elastomer layer is provided with the ferromagnetic material of the template. A space was formed so that the body layer portion and its periphery were exposed. Then, the prepared sheet-forming material was filled into the space formed in the insulating elastomer layer by a screen printing method to form a sheet-forming material layer. Next, on the surface of the circuit board for inspection, a template on which the sheet forming material layer and the insulating elastomer layer are formed,
The sheet forming material layer and the insulating elastomer layer were arranged so as to be in contact with the surfaces thereof and each of the ferromagnetic layer portions was positioned above each of the corresponding test electrodes of the test circuit board. Then, while applying a parallel magnetic field of 0.7 T in the thickness direction by an electromagnet to the sheet forming material layer, the sheet forming material layer is subjected to a curing treatment at 100 ° C. for 1 hour. After releasing the mold, post-curing is performed at 150 ° C. for one hour to form a plurality of conductive path forming portions extending in the thickness direction on the surface of the inspection circuit board. Then, an anisotropic conductive sheet having an insulating portion for insulation was integrally formed, thereby producing a circuit device inspection adapter. The outer diameter of the conductive path forming portion of the anisotropic conductive sheet in the obtained circuit device inspection adapter device is 0.15 m.
m, the pitch is 0.5 mm, the protrusion height from the surface of the insulating part is 58 μm, the thickness of the insulating part is 150 μm,
The ratio of the conductive particles in the conductive path forming portion was 30% by volume.

【0092】〈比較例3〉導電性粒子の表面に潤滑剤を
塗布しなかったこと以外は、実施例5と同様にして回路
装置検査用アダプターを製造した。得られた回路装置検
査用アダプターにおける異方導電性シートの導電路形成
部および絶縁部の寸法は、実施例5に係る回路装置検査
用アダプターと同一であり、導電路形成部における導電
性粒子の割合は、体積分率で30%であった。
Comparative Example 3 A circuit device inspection adapter was manufactured in the same manner as in Example 5, except that no lubricant was applied to the surface of the conductive particles. The dimensions of the conductive path forming part and the insulating part of the anisotropic conductive sheet in the obtained adapter for circuit device inspection are the same as those of the adapter for circuit device inspection according to Example 5, and the size of the conductive particles in the conductive path forming part. The ratio was 30% by volume.

【0093】〈比較例4〉導電性粒子の表面に潤滑剤を
塗布せず、シート形成材料中に付加型液状シリコーンゴ
ム100質量部に対して0.3質量部となる量のチタン
カップリング剤を添加したこと以外は、実施例5と同様
にして回路装置検査用アダプターを製造した。得られた
回路装置検査用アダプターにおける異方導電性シートの
導電路形成部および絶縁部の寸法は、実施例5に係る回
路装置検査用アダプターと同一であり、導電路形成部に
おける導電性粒子の割合は、体積分率で30%であっ
た。
Comparative Example 4 A titanium coupling agent was used in an amount of 0.3 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the additional liquid silicone rubber in the sheet forming material without applying a lubricant to the surface of the conductive particles. A circuit device inspection adapter was manufactured in the same manner as in Example 5, except that was added. The dimensions of the conductive path forming part and the insulating part of the anisotropic conductive sheet in the obtained adapter for circuit device inspection are the same as those of the adapter for circuit device inspection according to Example 5, and the size of the conductive particles in the conductive path forming part. The ratio was 30% by volume.

【0094】〈比較例5〉付加型液状シリコーンゴム
「KE2000−40」の代わりに、付加型液状シリコ
ーンゴム「KE2000−20」(信越化学工業株式会
社製,硬化後のゴムのデュロメータ硬さが18)を用い
たこと以外は、実施例5と同様にして回路装置検査用ア
ダプターを製造した。得られた回路装置検査用アダプタ
ーにおける異方導電性シートの導電路形成部および絶縁
部の寸法は、実施例5に係る回路装置検査用アダプター
と同一であり、導電路形成部における導電性粒子の割合
は、体積分率で30%であった。
Comparative Example 5 Instead of the addition type liquid silicone rubber "KE2000-40", the addition type liquid silicone rubber "KE2000-20" (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., having a durometer hardness of 18 after curing). ) Was manufactured in the same manner as in Example 5 except that (1) was used. The dimensions of the conductive path forming part and the insulating part of the anisotropic conductive sheet in the obtained adapter for circuit device inspection are the same as those of the adapter for circuit device inspection according to Example 5, and the size of the conductive particles in the conductive path forming part. The ratio was 30% by volume.

【0095】〈参考例3〉導電性粒子の表面に当該導電
性粒子100質量部に対して20質量部となる量の潤滑
剤を塗布したこと以外は、実施例5と同様にして回路装
置検査用アダプターを製造した。得られた回路装置検査
用アダプターにおける異方導電性シートの導電路形成部
および絶縁部の寸法は、実施例5に係る回路装置検査用
アダプターと同一であり、導電路形成部における導電性
粒子の割合は、体積分率で30%であった。
Reference Example 3 A circuit device inspection was performed in the same manner as in Example 5, except that a lubricant was applied to the surface of the conductive particles in an amount of 20 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the conductive particles. Adapters were manufactured. The dimensions of the conductive path forming part and the insulating part of the anisotropic conductive sheet in the obtained adapter for circuit device inspection are the same as those of the adapter for circuit device inspection according to Example 5, and the size of the conductive particles in the conductive path forming part. The ratio was 30% by volume.

【0096】〔回路装置検査用アダプターの評価}実施
例5、比較例3〜5および参考例3に係る回路装置検査
用アダプターを用い、図14に示す構成の検査装置を作
製した。一方、両面にそれぞれ512個の被検査電極を
有すると共に、厚みが38μmのソルダーレジストが形
成された被検査回路基板を用意した。ここで、被検査電
極の寸法は、径が200μmで、厚みが30μmで、ピ
ッチが500μmである。そして、この被検査回路基板
を上記の検査装置の検査実行領域に保持し、上部側アダ
プターおよび下部側アダプターによって、当該被検査回
路基板をその被検査電極1個あたりに加わる荷重が25
gfとなるよう挟圧し、この状態で、20mAの電流を
供給した状態で、テスターによって上部側アダプターの
検査用電極の各々と下部側検査アダプターの検査用電極
の各々との間の電気抵抗を測定し、その後、被検査電極
に加わる荷重を0gfとした。この操作を1サイクルと
して繰り返し、いずれかの検査用電極について電気抵抗
の値が300kΩを超えるまでのサイクル数を測定し
た。以上、結果を表2に示す。
[Evaluation of Circuit Device Inspection Adapter] Using the circuit device inspection adapters according to Example 5, Comparative Examples 3 to 5, and Reference Example 3, an inspection device having a configuration shown in FIG. 14 was manufactured. On the other hand, a circuit board to be inspected having 512 electrodes to be inspected on both sides and having a solder resist having a thickness of 38 μm was prepared. Here, the dimensions of the electrode to be inspected are 200 μm in diameter, 30 μm in thickness, and 500 μm in pitch. Then, the circuit board to be inspected is held in the inspection execution area of the above-described inspection apparatus, and the load applied to each of the electrodes to be inspected by the upper adapter and the lower adapter is 25%.
In this state, the electric resistance between each of the test electrodes of the upper adapter and each of the test electrodes of the lower test adapter is measured by a tester while a current of 20 mA is supplied. Thereafter, the load applied to the electrode to be inspected was set to 0 gf. This operation was repeated as one cycle, and the number of cycles until the value of the electric resistance exceeded 300 kΩ was measured for any of the test electrodes. The results are shown in Table 2 above.

【0097】[0097]

【表2】 [Table 2]

【0098】表2の結果から明らかなように、実施例5
に係る回路装置検査用アダプターによれば、繰り返し使
用した場合において、電気抵抗の増加が小さく、繰り返
し使用における耐久性が高くて長い使用寿命が得られる
ことが確認された。
As is clear from the results in Table 2, Example 5
According to the adapter for circuit device inspection according to the above, it was confirmed that when repeatedly used, the increase in electric resistance was small, the durability in repeated use was high, and a long service life was obtained.

【0099】[0099]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の異方導電
性シートによれば、多数回にわたって繰り返し使用した
場合にも、或いは、高温環境下において使用した場合で
も、長期間にわたって所要の導電性を維持することがで
き、従って、繰り返し使用における耐久性および熱的耐
久性が高くて長い使用寿命が得られる。本発明の製造方
法によれば、繰り返し使用における耐久性および熱的耐
久性が高くて長い使用寿命が得られる異方導電性シート
を製造することができる。
As described above, according to the anisotropic conductive sheet of the present invention, the required conductive property can be maintained for a long period of time even when it is repeatedly used many times or when it is used in a high temperature environment. Therefore, durability and thermal durability in repeated use are high, and a long service life is obtained. According to the production method of the present invention, it is possible to produce an anisotropic conductive sheet having high durability and thermal durability in repeated use and a long service life.

【0100】本発明の回路装置検査用アダプターによれ
ば、繰り返し使用における耐久性および熱的耐久性が高
くて長い使用寿命が得られる異方導電性シートを有する
ため、回路装置の検査において、当該回路装置検査用ア
ダプターを交換する頻度が少なくなり、その結果、高い
効率で回路装置の検査を実行することができ、しかも、
異方導電性シートが検査用回路基板に一体的に設けられ
ているため、温度変化に対しても良好な電気的接続状態
が安定に維持される。本発明の回路装置の検査装置によ
れは、繰り返し使用における耐久性および熱的耐久性が
高くて長い使用寿命が得られる異方導電性シートを有す
るため、当該異方導電性シートを交換する頻度が少なく
なり、その結果、高い効率で検査を実行することができ
る。本発明の電子部品実装構造体によれば、長期間にわ
たって良好な電気的接続状態を安定に維持される。
According to the adapter for inspecting a circuit device of the present invention, since the anisotropic conductive sheet having high durability in repeated use and high thermal durability and a long service life can be obtained, the inspection of the circuit device in the inspection is difficult. The frequency of replacing the circuit device inspection adapter is reduced, and as a result, the circuit device inspection can be performed with high efficiency.
Since the anisotropic conductive sheet is provided integrally with the inspection circuit board, a favorable electrical connection state is stably maintained even with a temperature change. According to the inspection apparatus for a circuit device of the present invention, since the anisotropic conductive sheet having high durability and thermal durability in repeated use and a long service life is obtained, the frequency of replacing the anisotropic conductive sheet is high. And the inspection can be performed with high efficiency. ADVANTAGE OF THE INVENTION According to the electronic component mounting structure of this invention, a favorable electrical connection state is stably maintained over a long period of time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の異方導電性シートの一例における構成
を示す説明用断面図である。
FIG. 1 is an explanatory sectional view showing a configuration of an example of an anisotropic conductive sheet of the present invention.

【図2】本発明の異方導電性シートを製造するために用
いられる金型の一例における構成を示す説明用断面図で
ある。
FIG. 2 is an explanatory cross-sectional view showing a configuration of an example of a mold used for manufacturing the anisotropic conductive sheet of the present invention.

【図3】図2に示す金型内に、シート形成材料層が形成
された状態を示す説明用断面図である。
FIG. 3 is an explanatory sectional view showing a state in which a sheet forming material layer is formed in the mold shown in FIG. 2;

【図4】シート形成材料層中の導電性粒子が当該シート
形成材料層における導電路形成部となる部分に集合した
状態を示す説明用断面図である。
FIG. 4 is an explanatory cross-sectional view showing a state where conductive particles in a sheet forming material layer are gathered in a portion to be a conductive path forming portion in the sheet forming material layer.

【図5】本発明の回路装置検査用アダプターの一例にお
ける構成を示す説明用断面図である。
FIG. 5 is an explanatory cross-sectional view showing a configuration of an example of the circuit device inspection adapter of the present invention.

【図6】検査用回路基板における検査用電極を拡大して
示す説明用断面図である。
FIG. 6 is an explanatory sectional view showing an inspection electrode on an inspection circuit board in an enlarged manner.

【図7】検査用回路基板を示す説明用断面図である。FIG. 7 is an explanatory sectional view showing a circuit board for inspection.

【図8】異方導電性シートを成形するために用いられる
型板の一例における構成を示す説明用断面図である。
FIG. 8 is an explanatory cross-sectional view illustrating a configuration of an example of a template used for forming an anisotropic conductive sheet.

【図9】型板の表面に絶縁性エラストマー層が形成され
た状態を示す説明用断面図である。
FIG. 9 is an explanatory sectional view showing a state in which an insulating elastomer layer is formed on the surface of a template.

【図10】絶縁性エラストマー層に空間が形成された状
態を示す説明用断面図である。
FIG. 10 is an explanatory sectional view showing a state in which a space is formed in the insulating elastomer layer.

【図11】絶縁性エラストマー層に形成された空間内に
シート形成材料層が形成された状態を示す説明用断面図
である。
FIG. 11 is an explanatory cross-sectional view showing a state in which a sheet forming material layer is formed in a space formed in the insulating elastomer layer.

【図12】絶縁性エラストマー層およびシート形成材料
層が形成された型板が、検査用回路基板の表面に配置さ
れた状態を示す説明用断面図である。
FIG. 12 is an explanatory cross-sectional view showing a state where a template on which an insulating elastomer layer and a sheet forming material layer are formed is arranged on the surface of a circuit board for inspection.

【図13】本発明の回路装置の検査装置の一例における
要部の構成を示す説明用断面図である。
FIG. 13 is an explanatory cross-sectional view showing a configuration of a main part in an example of the circuit device inspection device of the present invention.

【図14】本発明の回路装置の検査装置の他の例におけ
る構成を示す説明用断面図である。
FIG. 14 is an explanatory cross-sectional view showing the configuration of another example of the circuit device inspection device of the present invention.

【図15】本発明の電子部品実装構造体の一例における
構成を示す説明用断面図である。
FIG. 15 is an explanatory sectional view showing a configuration of an example of an electronic component mounting structure of the present invention.

【図16】支持体を具えた本発明に係る異方導電性シー
トの一例における構成を示す説明用断面図である。
FIG. 16 is an explanatory cross-sectional view showing a configuration of an example of an anisotropic conductive sheet according to the present invention having a support.

【図17】従来の異方導電性シートにおける導電性粒子
の状態を模式的に示す説明用断面図である。
FIG. 17 is an explanatory sectional view schematically showing a state of conductive particles in a conventional anisotropic conductive sheet.

【図18】図17に示す異方導電性シートが厚み方向に
加圧された場合における導電性粒子の状態を模式的に示
す説明用断面図である。
FIG. 18 is an explanatory cross-sectional view schematically showing a state of conductive particles when the anisotropic conductive sheet shown in FIG. 17 is pressed in the thickness direction.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 被検査回路装置 2 被検査電極 5 被検査回路基板 6,7 被検査電極 8 ホルダー 9 位置決めピン 10 異方導電性シート 10A シート形成材料層 11 導電路形成部 11A 導電路形成部となる
べき部分 12 絶縁部 15 支持体 20 検査用回路基板 21 検査用電極 21A 表層部分 21B 基層部分 22 端子電極 23 内部配線部 30 異方導電性シート 30A シート形成材料層 30B 絶縁性エラストマー層 30S 空間 31 導電路形成部 32 絶縁部 35a 上部側アダプター 35b 下部側アダプター 40 型板 41 強磁性体基板 42 強磁性体層部分 43 非磁性体層部分 50 上型 51 強磁性体基板 52 強磁性体層部分 53 非磁性体層部分 54 スペーサー 55 下型 56 強磁性体基板 57 強磁性体層部分 58 非磁性体層部分 60a 上部側検査ヘッド 60b 下部側検査ヘッド 61a,61b 電極装置 62a,62b 接続用電極 63a,63b ワイヤー配線 64a,64b 支柱 65a,65b 異方導電性シート 66a 上部側支持板 66b 下部側支持板 67a,67b コネクター 71 電子部品 72 電極 73 回路基板 74 電極 75 固定部材 90 回路装置 91 被検査電極 95 検査用回路基板 96 検査用電極 C 連鎖 E 弾性高分子物質 P 導電性粒子 R 検査実行領域
REFERENCE SIGNS LIST 1 circuit device to be inspected 2 electrode to be inspected 5 circuit substrate to be inspected 6, 7 electrode to be inspected 8 holder 9 positioning pin 10 anisotropic conductive sheet 10A sheet forming material layer 11 conductive path forming part 11A part to be a conductive path forming part DESCRIPTION OF SYMBOLS 12 Insulation part 15 Support body 20 Inspection circuit board 21 Inspection electrode 21A Surface part 21B Base layer part 22 Terminal electrode 23 Internal wiring part 30 Anisotropic conductive sheet 30A Sheet forming material layer 30B Insulating elastomer layer 30S Space 31 Conducting path formation Part 32 Insulating part 35a Upper adapter 35b Lower adapter 40 Template 41 Ferromagnetic substrate 42 Ferromagnetic layer 43 Nonmagnetic layer 50 Upper die 51 Ferromagnetic substrate 52 Ferromagnetic layer 53 Nonmagnetic Layer portion 54 Spacer 55 Lower mold 56 Ferromagnetic substrate 57 Ferromagnetic layer portion 58 Non-magnetic Layer portion 60a Upper inspection head 60b Lower inspection head 61a, 61b Electrode device 62a, 62b Connection electrode 63a, 63b Wire wiring 64a, 64b Post 65a, 65b Anisotropic conductive sheet 66a Upper support plate 66b Lower support plate 67a, 67b Connector 71 Electronic component 72 Electrode 73 Circuit board 74 Electrode 75 Fixing member 90 Circuit device 91 Inspection electrode 95 Inspection circuit board 96 Inspection electrode C Chain E Elastomeric polymer P Conductive particle R Inspection execution area

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 安田 直史 東京都中央区築地2丁目11番24号 ジェイ エスアール株式会社内 (72)発明者 山田 大典 埼玉県日高市猿田289番地1 株式会社ジ ェイ・エス・アールマイクロテック内 Fターム(参考) 5E051 CA03 5G307 HA02 HB03 HC02  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on the front page (72) Inventor Naofumi Yasuda 2-11-24 Tsukiji, Chuo-ku, Tokyo Inside JSR Co., Ltd. (72) Inventor Daisuke Yamada 289-1 Saruta, Hidaka-shi, Saitama FSR term in the SS Microtech (reference) 5E051 CA03 5G307 HA02 HB03 HC02

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 弾性高分子物質中に磁性を示す導電性粒
子が厚み方向に配向した状態で含有されてなる異方導電
性シートにおいて、 前記弾性高分子物質のデュロメータ硬さが20〜90で
あり、 前記導電性粒子の表面には、潤滑剤または離型剤が塗布
されていることを特徴とする異方導電性シート。
1. An anisotropic conductive sheet in which conductive particles exhibiting magnetism are contained in an elastic polymer substance in a state oriented in a thickness direction, wherein the elastic polymer substance has a durometer hardness of 20 to 90. An anisotropic conductive sheet, wherein a lubricant or a release agent is applied to a surface of the conductive particles.
【請求項2】 導電性粒子の表面に塗布される潤滑剤ま
たは離型剤の塗布量が、導電性粒子の数平均粒子径をD
n(μm)としたとき、当該導電性粒子100質量部に
対して10/Dn〜150/Dn質量部であることを特
徴とする請求項1に記載の異方導電性シート。
2. The coating amount of a lubricant or a release agent applied to the surface of the conductive particles is determined by setting the number average particle diameter of the conductive particles to D.
2. The anisotropic conductive sheet according to claim 1, wherein n (μm) is 10 / Dn to 150 / Dn parts by mass with respect to 100 parts by mass of the conductive particles.
【請求項3】 導電性粒子の表面に塗布される潤滑剤ま
たは離型剤がシリコーンオイルを含有してなるものであ
ることを特徴とする請求項1または請求項2記載の異方
導電性シート。
3. The anisotropically conductive sheet according to claim 1, wherein the lubricant or the release agent applied to the surface of the conductive particles contains silicone oil. .
【請求項4】 シリコーンオイルがその分子中にフッ素
原子を有してなることを特徴とする請求項3の異方導電
性シート。
4. The anisotropically conductive sheet according to claim 3, wherein the silicone oil has a fluorine atom in its molecule.
【請求項5】 導電性粒子の表面に塗布される潤滑剤ま
たは離型剤がフッ素系潤滑剤または離型剤であることを
特徴とする請求項1または請求項2に記載の異方導電性
シート。
5. The anisotropic conductive material according to claim 1, wherein the lubricant or the release agent applied to the surface of the conductive particles is a fluorine-based lubricant or a release agent. Sheet.
【請求項6】 導電性粒子が密に含有された、それぞれ
厚み方向に伸びる複数の導電路形成部と、これらの導電
路形成部を相互に絶縁する絶縁部とを有することを特徴
とする請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の異方導
電性シート。
6. A semiconductor device comprising: a plurality of conductive path forming portions each densely containing conductive particles and each extending in a thickness direction; and an insulating portion for insulating these conductive path forming portions from each other. An anisotropic conductive sheet according to any one of claims 1 to 5.
【請求項7】 磁性を示す導電性粒子の表面に潤滑剤ま
たは離型剤を塗布し、 この潤滑剤または離型剤が塗布された導電性粒子が、硬
化処理によって弾性高分子物質となる液状の弾性高分子
物質用材料中に分散されてなるシート形成材料層を形成
し、 このシート形成材料層に対してその厚み方向に磁場を作
用させると共に、当該シート形成材料層を硬化処理する
工程を有することを特徴とする異方導電性シートの製造
方法。
7. A lubricant or a release agent is applied to the surface of the conductive particles exhibiting magnetism, and the conductive particles to which the lubricant or the release agent is applied are converted into an elastic polymer substance by a curing treatment. Forming a sheet-forming material layer dispersed in the material for an elastic polymer substance, applying a magnetic field to the sheet-forming material layer in the thickness direction thereof, and curing the sheet-forming material layer. A method for producing an anisotropic conductive sheet, comprising:
【請求項8】 表面に検査すべき回路装置の被検査電極
に対応するパターンに従って複数の検査用電極が形成さ
れた検査用回路基板と、この検査用回路基板の表面に一
体的に設けられた、請求項1乃至請求項6のいずれかに
記載の異方導電性シートとを具えてなることを特徴とす
る回路装置検査用アダプター。
8. A circuit board for inspection on which a plurality of electrodes for inspection are formed in accordance with a pattern corresponding to an electrode to be inspected of a circuit device to be inspected on the surface, and a circuit board integrally provided on the surface of the circuit board for inspection. An adapter for inspecting a circuit device, comprising: the anisotropic conductive sheet according to claim 1.
【請求項9】 検査用回路基板における検査用電極の各
々は、少なくとも一部が磁性体により構成されているこ
とを特徴とする請求項8に記載の回路装置検査用アダプ
ター。
9. The circuit device inspection adapter according to claim 8, wherein each of the inspection electrodes on the inspection circuit board is at least partially formed of a magnetic material.
【請求項10】 表面に検査すべき回路装置の被検査電
極に対応するパターンに従って複数の検査用電極が形成
された検査用回路基板と、この検査用回路基板と前記回
路装置との間に介在される、請求項1乃至請求項6のい
ずれかに記載の異方導電性シートとを具えてなることを
特徴とする回路装置の検査装置。
10. A circuit board for inspection on which a plurality of electrodes for inspection are formed in accordance with a pattern corresponding to an electrode to be inspected of a circuit device to be inspected on a surface, and an inspection circuit board interposed between the circuit board for inspection and the circuit device. An inspection apparatus for a circuit device, comprising: an anisotropic conductive sheet according to any one of claims 1 to 6.
【請求項11】 電子部品が請求項1乃至請求項6のい
ずれかに記載の異方導電性シートを介して回路基板に電
気的に接続されてなることを特徴とする電子部品実装構
造体。
11. An electronic component mounting structure, wherein an electronic component is electrically connected to a circuit board via the anisotropic conductive sheet according to claim 1.
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