JP2002168933A - フォーメーション装置の較正方法 - Google Patents
フォーメーション装置の較正方法Info
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- Tests Of Electric Status Of Batteries (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 多数のチャンネルでも自動的に電池測定の較
正ができ、簡単、容易で作業者に煩雑さを与えない。 【解決手段】 基準器２を充電させて、アンプ４に基準
器２よりゼロ値電圧と基準電圧値とを与え、Ａ／Ｄ変換
器５より制御演算部６に取り込み、その差値を求め、差
値を基準電圧値で除算して変換係数を求め、基準器２を
充電させて制御演算部６より、Ｄ／Ａ変換器１３、１５
を介して放電制御部１６にそれぞれ異なる２つの電流指
令、電圧指令を与え、アンプ４、Ａ／Ｄ変換器５より基
準器２の電圧をアンプ９、Ａ／Ｄ変換器１０より電流を
流し込み、それぞれの指令値の差値と、それに対応する
取り込み値の差値より、出力係数、オフセットを求めて
記憶しておき、測定時に上記算出記憶している変換係
数、出力係数、オフセットより真値を求める。
正ができ、簡単、容易で作業者に煩雑さを与えない。 【解決手段】 基準器２を充電させて、アンプ４に基準
器２よりゼロ値電圧と基準電圧値とを与え、Ａ／Ｄ変換
器５より制御演算部６に取り込み、その差値を求め、差
値を基準電圧値で除算して変換係数を求め、基準器２を
充電させて制御演算部６より、Ｄ／Ａ変換器１３、１５
を介して放電制御部１６にそれぞれ異なる２つの電流指
令、電圧指令を与え、アンプ４、Ａ／Ｄ変換器５より基
準器２の電圧をアンプ９、Ａ／Ｄ変換器１０より電流を
流し込み、それぞれの指令値の差値と、それに対応する
取り込み値の差値より、出力係数、オフセットを求めて
記憶しておき、測定時に上記算出記憶している変換係
数、出力係数、オフセットより真値を求める。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、多数のバッテリ
の充放電特性を同時に計測するフォーメーション装置
（バッテリ特性検索装置）に関する。
の充放電特性を同時に計測するフォーメーション装置
（バッテリ特性検索装置）に関する。
【０００２】
【従来の技術】小型の電子機器に使用される小型バッテ
リは、製造段階においてバッテリ収納用の小エリアに区
画された容器に、多数（例：２５６個を行列に）収納
し、フォーメーション装置に搬入し、各個別のバッテリ
をそれぞれ個別の計測部、出力部に接続し、放電特性、
充電特性等を測定し、各バッテリの良否を判定してい
る。
リは、製造段階においてバッテリ収納用の小エリアに区
画された容器に、多数（例：２５６個を行列に）収納
し、フォーメーション装置に搬入し、各個別のバッテリ
をそれぞれ個別の計測部、出力部に接続し、放電特性、
充電特性等を測定し、各バッテリの良否を判定してい
る。
【０００３】このような多数のバッテリを同時に計測す
るフォーメーション装置では、バッテリの数に対応した
計測部、出力部を有する。これら計測部、出力部には、
アンプを備えるが、各アンプは個別品毎に抵抗の定数や
トランジスタの特性が相違し、したがって均一な計測を
行うにはゲイン、スパン調整を行う必要があり、従来は
ボリュウムやトリマを操作して調整したり、定数調整用
の抵抗等を断接している。
るフォーメーション装置では、バッテリの数に対応した
計測部、出力部を有する。これら計測部、出力部には、
アンプを備えるが、各アンプは個別品毎に抵抗の定数や
トランジスタの特性が相違し、したがって均一な計測を
行うにはゲイン、スパン調整を行う必要があり、従来は
ボリュウムやトリマを操作して調整したり、定数調整用
の抵抗等を断接している。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記した多数のバッテ
リを同時に検索し得るフォーメーション装置を実現する
ためには、計測部、出力部のゲイン、スパン等を調整し
なければならないが、従来のように、ボリュウム、トリ
マを操作して調整する方法や、抵抗値を断接して調整す
る方法では、バッテリ数、つまり測定チャンネル数が多
いと時間がかかり、作業者にも多大の労を与えるという
問題がある。収容器１個で仮に２５６チャンネルとする
と、非常な数であるのに、チャンネル数が更に大なる場
合、あるいはフォーメーション装置を複数台併設すると
なると、更に大変な調整作業となる。また装置がある程
度使用されると、部品が経年変化して再較正を行う必要
が生じてくる。この場合も、製造時と同様に大変な作業
となる。
リを同時に検索し得るフォーメーション装置を実現する
ためには、計測部、出力部のゲイン、スパン等を調整し
なければならないが、従来のように、ボリュウム、トリ
マを操作して調整する方法や、抵抗値を断接して調整す
る方法では、バッテリ数、つまり測定チャンネル数が多
いと時間がかかり、作業者にも多大の労を与えるという
問題がある。収容器１個で仮に２５６チャンネルとする
と、非常な数であるのに、チャンネル数が更に大なる場
合、あるいはフォーメーション装置を複数台併設すると
なると、更に大変な調整作業となる。また装置がある程
度使用されると、部品が経年変化して再較正を行う必要
が生じてくる。この場合も、製造時と同様に大変な作業
となる。
【０００５】この発明は上記問題点に着目してなされた
ものであって、多数のチャンネルであっても、自動的に
較正でき、簡単、容易で、作業者にも煩雑さを与えない
フォーメーション装置の較正方法を提供することを目的
としている。
ものであって、多数のチャンネルであっても、自動的に
較正でき、簡単、容易で、作業者にも煩雑さを与えない
フォーメーション装置の較正方法を提供することを目的
としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明のフォーメーシ
ョン装置の較正方法は、計測部を構成する回路部にゼロ
値信号を入力し、この回路部より第１の信号を得る過程
と、前記回路部に所定の基準値信号を入力し、この回路
部より第２の信号を得る過程と、前記第２の信号値から
第１の信号値を減算し、この差値を前記基準値信号の基
準値で除算し、変換係数を算出する過程と、出力部を構
成する回路部に所定の較正用の第１の出力値を与え、前
記計測部を構成する回路部より第３の信号を得る過程
と、前記出力部を構成する回路部に、所定の較正用の前
記第１の出力値とは異なる第２の出力値を与え、前記計
測部を構成する回路部より第４の信号を得る過程と、前
記第１の出力値と第２の出力値の差値及び前記第３の信
号値と第４の信号値の差値をそれぞれ求め、これら差値
の比より出力係数を算出する過程と、前記計測部の出力
値、前記第３の信号値及び前記出力係数から出力部を構
成する回路部のオフセットを求める過程とからなり、前
記変換係数、出力係数、オフセットにより較正を行うよ
うにしている。
ョン装置の較正方法は、計測部を構成する回路部にゼロ
値信号を入力し、この回路部より第１の信号を得る過程
と、前記回路部に所定の基準値信号を入力し、この回路
部より第２の信号を得る過程と、前記第２の信号値から
第１の信号値を減算し、この差値を前記基準値信号の基
準値で除算し、変換係数を算出する過程と、出力部を構
成する回路部に所定の較正用の第１の出力値を与え、前
記計測部を構成する回路部より第３の信号を得る過程
と、前記出力部を構成する回路部に、所定の較正用の前
記第１の出力値とは異なる第２の出力値を与え、前記計
測部を構成する回路部より第４の信号を得る過程と、前
記第１の出力値と第２の出力値の差値及び前記第３の信
号値と第４の信号値の差値をそれぞれ求め、これら差値
の比より出力係数を算出する過程と、前記計測部の出力
値、前記第３の信号値及び前記出力係数から出力部を構
成する回路部のオフセットを求める過程とからなり、前
記変換係数、出力係数、オフセットにより較正を行うよ
うにしている。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下、実施の形態により、この発
明をさらに詳細に説明する。図１は、この発明の一実施
形態フォーメーション装置のバッテリとの接続を示す回
路図である。この実施形態フォーメーション装置１は、
２５６個のバッテリ２-1、２-2、……、２-256が接続さ
れ、同時に２５６個のバッテリの特性を測定し得るよう
になっている。２５６個のバッテリ２-1、２-2、……、
２-256は、２５６個の小エリアを有する容器の各小エリ
アに入れられた状態で搬入され、フォーメーション装置
の各特性測定部に個別に独立接続されている。３-1、３
-2、……、３-256は、各バッテリ２-1、２-2、……、２
-256の接続を個別に断接するスイッチである。この実施
形態フォーメーション装置１は、自身の特性測定部を製
造時に、あるいは使用を開始してからの所定期間経過時
に行い得る較正機能を備えている。
明をさらに詳細に説明する。図１は、この発明の一実施
形態フォーメーション装置のバッテリとの接続を示す回
路図である。この実施形態フォーメーション装置１は、
２５６個のバッテリ２-1、２-2、……、２-256が接続さ
れ、同時に２５６個のバッテリの特性を測定し得るよう
になっている。２５６個のバッテリ２-1、２-2、……、
２-256は、２５６個の小エリアを有する容器の各小エリ
アに入れられた状態で搬入され、フォーメーション装置
の各特性測定部に個別に独立接続されている。３-1、３
-2、……、３-256は、各バッテリ２-1、２-2、……、２
-256の接続を個別に断接するスイッチである。この実施
形態フォーメーション装置１は、自身の特性測定部を製
造時に、あるいは使用を開始してからの所定期間経過時
に行い得る較正機能を備えている。
【０００８】図２は、実施形態フォーメーション装置の
放電特性測定部の較正を説明する回路図である。基準器
２は較正時に接続される基準となるバッテリである。こ
こではバッテリ１個に対する特性測定部及びその較正に
ついて説明するが、２５６個の特性測定部の較正は、１
個の特性測定部で行う較正と同様の処理を時分割的に順
次行う。
放電特性測定部の較正を説明する回路図である。基準器
２は較正時に接続される基準となるバッテリである。こ
こではバッテリ１個に対する特性測定部及びその較正に
ついて説明するが、２５６個の特性測定部の較正は、１
個の特性測定部で行う較正と同様の処理を時分割的に順
次行う。
【０００９】基準器２の放電時の電圧は、アンプ４を経
て、Ｖout としてＡ／Ｄ変換器５でデジタル信号に変換
されて、制御演算部６に取り込まれるようになってい
る。また、基準器２の放電電流は、放電制御部７ａ、電
流検出用抵抗８を介して流れ、電流検出用抵抗８の両端
電圧がアンプ９を経て、Ｉout として導出され、Ａ／Ｄ
変換器１０でデジタル信号に変換されて、制御演算部６
に取り込まれるようになっている。
て、Ｖout としてＡ／Ｄ変換器５でデジタル信号に変換
されて、制御演算部６に取り込まれるようになってい
る。また、基準器２の放電電流は、放電制御部７ａ、電
流検出用抵抗８を介して流れ、電流検出用抵抗８の両端
電圧がアンプ９を経て、Ｉout として導出され、Ａ／Ｄ
変換器１０でデジタル信号に変換されて、制御演算部６
に取り込まれるようになっている。
【００１０】制御演算部６は、ＣＰＵ１１、パラメータ
１２を含み、電流指令値を出力し、Ｄ／Ａ変換器１３を
経て、放電制御部７ａに入力する。放電制御部７ａで
は、アンプ１４を含み、Ｉout が電流指令値となるよう
に放電電流Ｉを制御する。この放電特性を測定する測定
部を構成するアンプ４、９、１４には、それぞれゲイン
及びオフセットを有する。これらは、具体的な回路（装
置及びチャンネル）毎に相違するので、これらを較正す
る必要がある。
１２を含み、電流指令値を出力し、Ｄ／Ａ変換器１３を
経て、放電制御部７ａに入力する。放電制御部７ａで
は、アンプ１４を含み、Ｉout が電流指令値となるよう
に放電電流Ｉを制御する。この放電特性を測定する測定
部を構成するアンプ４、９、１４には、それぞれゲイン
及びオフセットを有する。これらは、具体的な回路（装
置及びチャンネル）毎に相違するので、これらを較正す
る必要がある。
【００１１】次に、この実施形態フォーメーション装置
の計測部（放電特性測定部）の較正について説明する。
先ず、図３に示すように、Ａ／Ｄ変換器５の出力範囲を
最小値００００から、最大値ＦＦＦＦとする。そして、
基準器２よりの基準電圧をアンプ４、Ａ／Ｄ変換器５を
経て読み込んだものをＶ（ｓｐａｎ）〔例、４２００ｍ
ｖ〕とし、入力ゼロの時、アンプ４、Ａ／Ｄ変換器５を
経て読み込んだものをＶ（ｚｅｒｏ）〔オフセット値）
とする。この与えた電圧値０、４２００ｍｖと、読み込
んだデータＶ（ｓｐａｎ）、Ｖ（ｚｅｒｏ）から、次式
で変換係数を算出する。
の計測部（放電特性測定部）の較正について説明する。
先ず、図３に示すように、Ａ／Ｄ変換器５の出力範囲を
最小値００００から、最大値ＦＦＦＦとする。そして、
基準器２よりの基準電圧をアンプ４、Ａ／Ｄ変換器５を
経て読み込んだものをＶ（ｓｐａｎ）〔例、４２００ｍ
ｖ〕とし、入力ゼロの時、アンプ４、Ａ／Ｄ変換器５を
経て読み込んだものをＶ（ｚｅｒｏ）〔オフセット値）
とする。この与えた電圧値０、４２００ｍｖと、読み込
んだデータＶ（ｓｐａｎ）、Ｖ（ｚｅｒｏ）から、次式
で変換係数を算出する。
【００１２】〔Ｖ（ｓｐａｎ）−Ｖ（ｚｅｒｏ）〕／４
２００＝Ｋ（ｂｉｔ／ｍｖ） この関係を図示すると、図４に示すものとなる。この実
施形態フォーメーション装置において、ある電圧を計測
した値をＤとした時に、次式の換算を行えば、直値Ｔｒ
ｕｅを算出できる。
２００＝Ｋ（ｂｉｔ／ｍｖ） この関係を図示すると、図４に示すものとなる。この実
施形態フォーメーション装置において、ある電圧を計測
した値をＤとした時に、次式の換算を行えば、直値Ｔｒ
ｕｅを算出できる。
【００１３】〔Ｄ−Ｖ（ｚｅｒｏ）〕／Ｋ＝Ｔｒｕｅ したがって、個々の測定チャンネルにおいて、上記処理
により、パラメータとして正係数（ゲイン）Ｋ、オフセ
ット値〔Ｖ（ｚｅｒｏ）〕をパラメータメモリ１２に格
納しておけば、測定値Ｄを検出する都度、直値Ｔｒｕｅ
得ることができ、結果として自動較正を行うことができ
る。電流計測部の較正も基準器として異なるものを使用
すれば、較正動作は電圧計測部の場合と同様の処理で行
うことができる。パラメータはアンプ４のゲイン、オフ
セット、アンプ９のゲイン、オフセット及びアンプ１４
のゲイン、オフセットの計６個である。
により、パラメータとして正係数（ゲイン）Ｋ、オフセ
ット値〔Ｖ（ｚｅｒｏ）〕をパラメータメモリ１２に格
納しておけば、測定値Ｄを検出する都度、直値Ｔｒｕｅ
得ることができ、結果として自動較正を行うことができ
る。電流計測部の較正も基準器として異なるものを使用
すれば、較正動作は電圧計測部の場合と同様の処理で行
うことができる。パラメータはアンプ４のゲイン、オフ
セット、アンプ９のゲイン、オフセット及びアンプ１４
のゲイン、オフセットの計６個である。
【００１４】図５は、実施形態フォーメーション装置の
充電特性計測部（出力部）の較正を説明する回路図であ
る。ここでは充電電圧＋ＶをＰＴＣ回路１７を介して、
基準器２に与えて充電する。図２に示した計測部の較正
の場合に比し、電圧指令をＤ／Ａ変換器１５を介してア
ンプ１６にも与えている。そして、充電時における基準
器２の電圧Ｖ及び電流Ｉもアンプ１４、１６で導出し、
これを電流指令及び電圧指令が与えられるアンプ１４、
１６に加え、基準器２の充電電圧、充電電流が、それぞ
れ指令値となるように充電制御部７ｂで制御している。
充電特性計測部（出力部）の較正を説明する回路図であ
る。ここでは充電電圧＋ＶをＰＴＣ回路１７を介して、
基準器２に与えて充電する。図２に示した計測部の較正
の場合に比し、電圧指令をＤ／Ａ変換器１５を介してア
ンプ１６にも与えている。そして、充電時における基準
器２の電圧Ｖ及び電流Ｉもアンプ１４、１６で導出し、
これを電流指令及び電圧指令が与えられるアンプ１４、
１６に加え、基準器２の充電電圧、充電電流が、それぞ
れ指令値となるように充電制御部７ｂで制御している。
【００１５】出力回路の較正は、上記した測定部の較正
で測定値に真値が得られるから、この測定部を測定器と
見なし、出力値に対する真の出力の値を測定し、その出
力回路の較正を行う。回路設計の時の理想値にて出力を
行い、その値（真値）を測定し、その比から出力回路の
係数を求める。すなわち、図６に示すように、較正のた
めの出力Ｌ値、Ｓ値（理想値）をＤ／Ａ変換器１５より
アンプ１６に与え、これに対し、アンプ４から出力され
る測定値Ｖout からＬ値、Ｓ値に対応する真値ＶＬ（ｍ
ｖ）、Ｖｓ（ｍｖ）を得る。そして、 （Ｌ値−Ｓ値）／（ＶＬ−Ｖｓ）＝Ｋout の式から、出力計数Ｋout を求める。また、更に、Ｓ値
−（Ｖｓ＊Ｋout ）＝Ｚout を算出し、オフセットを算
出する。
で測定値に真値が得られるから、この測定部を測定器と
見なし、出力値に対する真の出力の値を測定し、その出
力回路の較正を行う。回路設計の時の理想値にて出力を
行い、その値（真値）を測定し、その比から出力回路の
係数を求める。すなわち、図６に示すように、較正のた
めの出力Ｌ値、Ｓ値（理想値）をＤ／Ａ変換器１５より
アンプ１６に与え、これに対し、アンプ４から出力され
る測定値Ｖout からＬ値、Ｓ値に対応する真値ＶＬ（ｍ
ｖ）、Ｖｓ（ｍｖ）を得る。そして、 （Ｌ値−Ｓ値）／（ＶＬ−Ｖｓ）＝Ｋout の式から、出力計数Ｋout を求める。また、更に、Ｓ値
−（Ｖｓ＊Ｋout ）＝Ｚout を算出し、オフセットを算
出する。
【００１６】以上より、指令値を出力値に補正変更する
には、指令値をＤ、出力値をＶoutとして、 Ｄ＊Ｋ＋Ｚout ＝Ｖout を算出すると良い。
には、指令値をＤ、出力値をＶoutとして、 Ｄ＊Ｋ＋Ｚout ＝Ｖout を算出すると良い。
【００１７】このように、出力部も測定部と同じく、ゲ
インと相当する係数と、ゼロ調整に相当するオフセット
を算出して、その値で補正を行うことで、結果として自
動的に較正を行うこととなる。多数チャンネルについて
は、各チャンネルにつき、時分割的に上記処理を行え
ば、各チャンネルを較正できる。アンプ４、９、１４、
１６のうち、アンプ４、９、１４は、計測部の較正で求
めたゲイン（係数）と同じものを使用できるので、アン
プ４、９、１４、１６のオフセット及びアンプ１６の係
数をパラメータとして記憶しておけば良い。したがっ
て、各チャンネルにそれぞれ１１項目のパラメータをメ
モリに格納しておくことになる。
インと相当する係数と、ゼロ調整に相当するオフセット
を算出して、その値で補正を行うことで、結果として自
動的に較正を行うこととなる。多数チャンネルについて
は、各チャンネルにつき、時分割的に上記処理を行え
ば、各チャンネルを較正できる。アンプ４、９、１４、
１６のうち、アンプ４、９、１４は、計測部の較正で求
めたゲイン（係数）と同じものを使用できるので、アン
プ４、９、１４、１６のオフセット及びアンプ１６の係
数をパラメータとして記憶しておけば良い。したがっ
て、各チャンネルにそれぞれ１１項目のパラメータをメ
モリに格納しておくことになる。
【００１８】出力部の較正は、自分の出力を較正された
自分の計測部にて測定することで行うので、基準器は不
要であり、ＪＩＧは疑似電池負荷である。
自分の計測部にて測定することで行うので、基準器は不
要であり、ＪＩＧは疑似電池負荷である。
【００１９】
【発明の効果】この発明によれば、多数チャンネルの計
測部及び出力部をボリュウム等に手動で操作することな
く、較正用のパラメータを得、これを用いて測定時に真
値を得ることができるので、多チャンネルのフォーメー
ション装置であっても製造出荷時、使用段階での較正を
短時間で面倒な作業を要することなく、行うことができ
る。
測部及び出力部をボリュウム等に手動で操作することな
く、較正用のパラメータを得、これを用いて測定時に真
値を得ることができるので、多チャンネルのフォーメー
ション装置であっても製造出荷時、使用段階での較正を
短時間で面倒な作業を要することなく、行うことができ
る。
【図１】この発明の一実施形態フォーメーション装置の
バッテリとの接続を示す回路図である。
バッテリとの接続を示す回路図である。
【図２】同実施形態フォーメーション装置の計測部の較
正動作を説明する回路図である。
正動作を説明する回路図である。
【図３】同実施形態フォーメーション装置の計測部にお
ける較正のための変換係数を求める処理を説明する図で
ある。
ける較正のための変換係数を求める処理を説明する図で
ある。
【図４】同変換係数特性より、ある値に対する真値を求
めることを説明する図である。
めることを説明する図である。
【図５】上記実施形態フォーメーション装置の出力部の
較正動作を説明する回路図である。
較正動作を説明する回路図である。
【図６】上記実施形態フォーメーション装置の出力部に
おける較正のための変換係数を求める処理を説明する図
である。
おける較正のための変換係数を求める処理を説明する図
である。
２ 基準器 ７ａ 充電制御部 ７ｂ 放電制御部 ４、９、１４、１６ アンプ ５、１０ Ａ／Ｄ変換器 ６ 制御演算部 ８ 電流検出抵抗 １１ ＣＰＵ １２ パラメータメモリ １３、１５ Ｄ／Ａ変換器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 今井 尊史 京都市中京区烏丸通二条上ル蒔絵屋町282 ダイマルヤ烏丸ビル６Ｆ 有限会社アイ ケイエス内 Ｆターム(参考） 2G016 CA00 CB02 CB03 CC01 CC02 CC04 CC05 CC07 CC12 CC16 CC27 CC28 5H030 AA00 AS00 FF44
Claims (3)
- 【請求項１】計測部を構成する回路部にゼロ値信号を入
力し、この回路部より第１の信号を得る過程と、 前記回路部に所定の基準値信号を入力し、この回路部よ
り第２の信号を得る過程と、 前記第２の信号値から第１の信号値を減算し、この差値
を前記基準値信号の基準値で除算し、変換係数を算出す
る過程と、 出力部を構成する回路部に所定の較正用の第１の出力値
を与え、前記計測部を構成する回路部より第３の信号を
得る過程と、 前記出力部を構成する回路部に、所定の較正用の前記第
１の出力値とは異なる第２の出力値を与え、前記計測部
を構成する回路部より第４の信号を得る過程と、 前記第１の出力値と第２の出力値の差値及び前記第３の
信号値と第４の信号値の差値をそれぞれ求め、これら差
値の比より出力係数を算出する過程と、 前記計測部の出力値、前記第３の信号値及び前記出力係
数から出力部を構成する回路部のオフセットを求める過
程とからなり、 前記変換係数、出力係数、オフセットにより較正を行う
ようにしたことを特徴とするフォーメーション装置の較
正方法。 - 【請求項２】前記変換係数、出力係数、オフセットは、
装置の使用前段階で、予め算出し、メモリに格納してお
き、使用時にこれらを用いて真値を算出するようにした
ことを特徴とする請求項１記載のフォーメーション装置
の較正方法。 - 【請求項３】前記計測部及び出力部は、複数チャンネル
分備えられており、前記変換係数、出力係数、オフセッ
トの算出処理は、各チャンネル毎に時間順次に時分割的
に行われることを特徴とする請求項１又は請求項２記載
のフォーメーション装置の較正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000362084A JP2002168933A (ja) | 2000-11-29 | 2000-11-29 | フォーメーション装置の較正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000362084A JP2002168933A (ja) | 2000-11-29 | 2000-11-29 | フォーメーション装置の較正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002168933A true JP2002168933A (ja) | 2002-06-14 |
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