JP2002159713A - Game machine - Google Patents

Game machine

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JP2002159713A
JP2002159713A JP2000362399A JP2000362399A JP2002159713A JP 2002159713 A JP2002159713 A JP 2002159713A JP 2000362399 A JP2000362399 A JP 2000362399A JP 2000362399 A JP2000362399 A JP 2000362399A JP 2002159713 A JP2002159713 A JP 2002159713A
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JP
Japan
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test
gaming machine
control board
command
control circuit
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Pending
Application number
JP2000362399A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kishio Sugijima
紀志男 杉島
Katsuhiro Ikeda
勝弘 池田
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Sansei R&D Co Ltd
Original Assignee
Sansei R&D Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a game machine capable of easily confirming the operations of respective game devices. SOLUTION: This game machine is provided with the game devices for performing the operations in relation to a game and a control board for controlling the operations of the game devices. A test command output means for transmitting a series of operation commands for tests to the control board is provided. The control board is provided with test operation means (A15 and A16) for making the game devices perform test operations in a predetermined form corresponding to the series of the operation commands for the tests transmitted from the test command output means respectively in the case of shifting to a test mode.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、遊技機の各遊技装
置の動作状態を製造メーカや遊技店等においてテストす
るためのテスト動作手段を備える遊技機に関するもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a game machine having test operation means for testing the operation state of each game machine of the game machine at a manufacturer, a game store, or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、遊技機の各遊技装置の動作状態、
例えば、遊技関連ランプの点滅状態、音声の発生状態、
表示装置の表示状態等を製造メーカや遊技店においてテ
ストを行い、その動作を確認する場合がある。即ち、製
造メーカにおいては、遊技動作の不具合の有無を調べる
ために、例えば、遊技機の製造の最終段階において各遊
技装置を動作させてその状態を確認したり、遊技店にお
いては状況に応じて各遊技装置を動作させてその状態を
確認したりしている。その際の確認方法としては、各遊
技装置が動作するような遊技状態をつくりあげ、例え
ば、表示装置で図柄を変動表示させたければ、始動入賞
口に遊技球を入球させることにより、動作状態を確認し
ているのが一般的である。しかしながら、このような遊
技機においては、遊技装置を確認するのに多大なる手間
と時間を費やすこととなる。
2. Description of the Related Art Conventionally, the operating state of each gaming machine of a gaming machine,
For example, the blinking state of a game-related lamp, the state of sound generation,
In some cases, the display state of the display device is tested by a manufacturer or a game arcade to confirm the operation. In other words, in order to check whether there is a malfunction in the gaming operation, for example, in a manufacturer, each gaming machine is operated at the final stage of manufacturing a gaming machine to check its state, and in a gaming shop, depending on the situation. Each gaming device is operated to check its state. As a confirmation method at that time, create a game state in which each gaming device operates, for example, if you want to change the display on the display device, by entering the game ball into the starting winning opening, the operation state is changed It is common to confirm. However, in such a gaming machine, a great deal of labor and time is required to check the gaming device.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、各遊
技装置の動作を容易に確認できる遊技機を提供すること
にある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a gaming machine which allows the user to easily confirm the operation of each gaming machine.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載の遊技機
は、遊技に関連して動作を行う遊技装置と、該遊技装置
の動作を制御するための制御基板とを有する遊技機にお
いて、前記制御基板に対して一連のテスト用動作コマン
ドを送信するテストコマンド出力手段を設けると共に、
前記制御基板に、テストモードに移行した場合に、前記
テストコマンド出力手段から送信される一連のテスト用
動作コマンドの各々に対応して予め定められた態様で前
記遊技装置にテスト動作を行わせるテスト動作手段を設
けたことを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a gaming machine having a gaming machine for performing an operation related to a game, and a control board for controlling the operation of the gaming machine. A test command output means for transmitting a series of test operation commands to the control board is provided,
A test for causing the gaming machine to perform a test operation in a predetermined manner corresponding to each of a series of test operation commands transmitted from the test command output means when the control board shifts to a test mode. An operating means is provided.

【0005】請求項2に記載の遊技機は、請求項1に記
載のものにおいて、前記制御基板が、遊技の主たる制御
を行うメイン制御基板からの指令に従って前記遊技装置
の動作を制御するサブ制御基板であって、前記テストコ
マンド出力手段が前記サブ制御基板に対して一連のテス
ト用動作コマンドを送信するものであると共に、前記サ
ブ制御基板に前記テストモード動作手段を設けたことを
特徴とするものである。
According to a second aspect of the present invention, in the gaming machine according to the first aspect, the control board controls an operation of the gaming machine in accordance with a command from a main control board which performs a main control of a game. The test command output means transmits a series of test operation commands to the sub-control board, and the test mode operation means is provided on the sub-control board. Things.

【0006】請求項3に記載の遊技機は、請求項2に記
載のものにおいて、前記テストコマンド出力手段が、前
記メイン制御基板に含まれていることを特徴とするもの
である。
According to a third aspect of the present invention, in the gaming machine according to the second aspect, the test command output means is included in the main control board.

【0007】請求項4に記載の遊技機は、請求項1乃至
3のうちのいずれか1つに記載のものにおいて、前記一
連のテスト用動作コマンドが、前記制御基板の各信号線
毎に割り付けられた少なくとも信号線数分のビットデー
タからなり、前記テスト用動作コマンドの内容毎に前記
遊技装置の動作が異なることを特徴とするものである。
According to a fourth aspect of the present invention, in the gaming machine according to any one of the first to third aspects, the series of test operation commands are assigned to each signal line of the control board. The operation of the gaming machine is different for each content of the test operation command.

【0008】請求項5に記載の遊技機は、請求項1乃至
4うちのいずれか1つに記載のものにおいて、前記テス
ト動作手段が、前記テストモード以外においては前記テ
スト用動作コマンドを受け付けないことを特徴とするも
のである。
According to a fifth aspect of the present invention, in the gaming machine according to any one of the first to fourth aspects, the test operation means does not accept the test operation command except in the test mode. It is characterized by the following.

【0009】請求項6に記載の遊技機は、請求項1乃至
5うちのいずれか1つに記載のものにおいて、前記制御
基板が、所定期間のみ前記テストモードに移行可能に構
成されたことを特徴とするものである。
According to a sixth aspect of the present invention, in the gaming machine according to any one of the first to fifth aspects, the control board is configured to be able to shift to the test mode only for a predetermined period. It is a feature.

【0010】請求項7に記載の遊技機は、請求項6に記
載のものにおいて、前記所定期間が、電源投入時から所
定時間経過するまでの間であることを特徴とするもので
ある。
According to a seventh aspect of the present invention, in the gaming machine according to the sixth aspect, the predetermined period is a period from when the power is turned on until a predetermined time elapses.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。なお、本実施形態では、遊技機の
一形態としてパチンコ遊技機を用いて説明するが、本発
明はそれに限らず、例えば、コイン式遊技機等であって
もよく、遊技に関連して動作を行う遊技装置と、該遊技
装置の動作を制御するための制御基板を有する遊技機で
あれば全て対象となる。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In the present embodiment, a pachinko gaming machine will be described as an embodiment of a gaming machine. However, the present invention is not limited to this, and may be, for example, a coin-type gaming machine or the like. Any gaming machine having a gaming device to be performed and a control board for controlling the operation of the gaming device is all objects.

【0012】図1は、本実施形態のパチンコ遊技機に配
備された制御系統の要部ブロック図である。メイン制御
回路1は、遊技の主たる制御を行うものであって、メイ
ン制御基板(図示せず)に配設される。メイン制御回路
1は、ワンチップマイクロコンピュータ2と、入出力回
路3及び入出力回路4等により構成されている。ワンチ
ップマイクロコンピュータ2は、その内部にCPU5,
RAM6,ROM7を備えている。なお、本実施形態で
は、メイン制御回路1もしくはワンチップマイクロコン
ピュータ2が、一連のテスト用動作コマンドを送信する
テストコマンド出力手段を含んで構成している。
FIG. 1 is a block diagram of a main part of a control system provided in the pachinko gaming machine of the present embodiment. The main control circuit 1 performs a main control of the game and is provided on a main control board (not shown). The main control circuit 1 includes a one-chip microcomputer 2, an input / output circuit 3, an input / output circuit 4, and the like. The one-chip microcomputer 2 has a CPU 5 therein.
A RAM 6 and a ROM 7 are provided. In this embodiment, the main control circuit 1 or the one-chip microcomputer 2 includes a test command output unit for transmitting a series of test operation commands.

【0013】ワンチップマイクロコンピュータ2は、入
出力回路3を介して各種制御回路、各種駆動装置及び各
種スイッチ等に結ばれている。すなわち、入出力回路3
には、図示していない遊技盤面に配した始動入賞口に対
して設けられた始動口センサ8、遊技機裏面に設けられ
たテストスタートスイッチ9、その他入賞センサ類(例
えば、遊技盤の左右ゲートへの遊技球の通過を検出する
普通図柄始動スイッチ)が接続されている。
The one-chip microcomputer 2 is connected via an input / output circuit 3 to various control circuits, various driving devices, various switches, and the like. That is, the input / output circuit 3
A start port sensor 8 provided for a start winning port provided on a game board (not shown), a test start switch 9 provided on the back of the game machine, and other winning sensors (for example, left and right gates of the game board). (A normal symbol start switch for detecting the passage of the game ball to the player).

【0014】また、入出力回路3には中継回路10が接
続され、中継回路10には、大入賞口(図示せず)を開
放動作するためのソレノイド11、前記大入賞口へ入賞
した遊技球を検出するカウントセンサ12、前記大入賞
口内に設けられた特定領域への遊技球の通過を検出する
特定領域センサ13が接続されている。さらに、入出力
回路3には、遊技盤面に配備されている各LEDや各種
表示ランプ等を点灯制御するランプ制御回路14、スピ
ーカ16より各種の効果音を拡声させるための音声制御
を行う音声制御回路15及びその他ソレノイド類(例え
ば、普通電動役物を拡開動作させるソレノイド)が接続
されている。なお、ランプ制御回路14はランプ制御基
板(図示せず)に配設され、音声制御回路15は音声制
御基板(図示せず)に配設される。また、ランプ制御回
路14及び音声制御回路15についても図示はしていな
いが、CPU,ROM,RAMが含まれている。
A relay circuit 10 is connected to the input / output circuit 3. The relay circuit 10 has a solenoid 11 for opening a special winning opening (not shown), and a game ball winning the special winning opening. And a specific area sensor 13 for detecting the passage of a game ball to a specific area provided in the special winning opening. Further, the input / output circuit 3 includes a lamp control circuit 14 for controlling lighting of each LED, various display lamps, and the like provided on the game board surface, and a voice control for performing voice control for increasing various sound effects from the speaker 16. The circuit 15 and other solenoids (for example, a solenoid that normally expands the electric accessory) are connected. The lamp control circuit 14 is provided on a lamp control board (not shown), and the voice control circuit 15 is provided on a voice control board (not shown). Although not shown, the lamp control circuit 14 and the voice control circuit 15 include a CPU, a ROM, and a RAM.

【0015】また、入出力回路4には払出制御回路17
及び特別図柄表示装置21が接続されている。払出制御
回路17は、内部に制御用CPU(図示せず)、前記C
PUによる作業領域や各賞球コマンドに対応した賞品球
数等を保持記憶するための記憶エリアを備えたRAM及
び制御データ及び賞球払出しのための制御プログラム等
が記憶されたROMなどを備えている。
The input / output circuit 4 has a payout control circuit 17.
And the special symbol display device 21 is connected. The payout control circuit 17 includes a control CPU (not shown)
A RAM having a storage area for holding and storing a work area by the PU and the number of prize balls corresponding to each prize ball command, and a ROM storing control data, a control program for prize ball payout, and the like are provided. I have.

【0016】払出制御回路17は、メイン制御回路1か
ら指令される賞球コマンドに従って賞球払出装置18を
駆動制御し、賞品球の払出制御を行う。払出制御回路1
7には、前述のメイン制御回路1が通信接続されている
他、発射制御回路19を介して遊技盤面に向けてパチン
コ球を弾発するための打球発射装置20が接続されてお
り、打球発射装置20の動作停止/動作停止解除を制御
する。
The payout control circuit 17 controls the drive of the prize ball payout device 18 in accordance with the prize ball command instructed from the main control circuit 1 to control the prize ball payout. Dispensing control circuit 1
7 is connected to the above-mentioned main control circuit 1 through communication, and also connected to a hitting ball firing device 20 for firing a pachinko ball toward a game board via a firing control circuit 19. 20 is controlled to stop operation / cancel operation stop.

【0017】特別図柄表示装置21は、入出力回路4を
介してメイン制御回路1と接続された表示制御回路22
及び液晶表示盤23により構成されている。また、表示
制御回路22は、内部に表示制御用CPU(図示せ
ず)、画像データ及び前記CPUによる作業領域等を備
えたRAM及び各コマンドに対応した表示制御データ及
びキャラクタや図柄が記憶されたROMなどを備えてい
る。表示制御回路22は、表示制御基板(図示せず)に
配設される。
The special symbol display device 21 includes a display control circuit 22 connected to the main control circuit 1 via the input / output circuit 4.
And a liquid crystal display panel 23. The display control circuit 22 stores therein a display control CPU (not shown), a RAM having image data and a work area by the CPU, display control data corresponding to each command, and characters and designs. A ROM and the like are provided. The display control circuit 22 is provided on a display control board (not shown).

【0018】表示制御回路22はメイン制御回路1から
ストローブ信号が入力されると、前記CPUは前記スト
ローブ信号により表示制御用コマンドを認識する。前記
表示制御用コマンドに対応するデータエリアから表示制
御データ及びキャラクタや図柄が前記ROMから読み出
され、前記画像データを記憶するRAMに格納される。
前記格納された画像データは表示順がくるとRAMから
画像データが読み出され、液晶表示盤23に表示され
る。
When the display control circuit 22 receives a strobe signal from the main control circuit 1, the CPU recognizes a display control command based on the strobe signal. Display control data, characters and designs are read from the ROM from a data area corresponding to the display control command, and are stored in a RAM that stores the image data.
When the stored image data comes in the display order, the image data is read out from the RAM and displayed on the liquid crystal display panel 23.

【0019】図8は、特許請求の範囲の請求項1に記載
の要件に対応するブロック図である。本実施形態におい
て、請求項1に記載の遊技装置としては、遊技に関連し
て点灯あるいは点滅するランプ及びLED等の発光手
段、遊技に関連して各種音声を拡声するための音声拡声
手段、種々の図柄が表示可能である特別図柄表示装置2
1が相当する。また、請求項1に記載のテスト動作手段
を設けたサブ制御基板としては音声制御回路15、ラン
プ制御回路14、表示制御回路22が該当するが、これ
らに限られるものではなく、遊技装置の動作を制御する
制御基板であればよい。また、例えば、メイン制御回路
1で遊技装置を直接的に制御する構成、あるいはメイン
制御回路1以外の制御回路で直接的に遊技装置を制御す
る構成としてよい。さらに、実施形態おいては、メイン
制御回路1、サブ制御回路(ランプ制御回路14、音声
制御回路15、表示制御回路22)の各々はそれぞれ別
基板として遊技機裏面に設けられている。
FIG. 8 is a block diagram corresponding to the requirements set forth in claim 1. In the present embodiment, the gaming device according to claim 1 includes a light emitting unit such as a lamp and an LED that lights or blinks in connection with the game, a sound amplification unit for increasing various sounds related to the game, Special symbol display device 2 that can display symbols
1 corresponds. The sub-control board provided with the test operation means according to claim 1 corresponds to the audio control circuit 15, the lamp control circuit 14, and the display control circuit 22, but is not limited thereto. Any control board may be used as long as it controls the operation. Further, for example, a configuration in which the main control circuit 1 directly controls the gaming device, or a configuration in which the control device other than the main control circuit 1 directly controls the gaming device may be adopted. Further, in the embodiment, each of the main control circuit 1 and the sub control circuits (the lamp control circuit 14, the voice control circuit 15, and the display control circuit 22) is provided on the back surface of the gaming machine as separate substrates.

【0020】以上のように構成された実施形態のパチン
コ遊技機において、メイン制御回路1のCPU(以下、
メインCPU)が実行するテストコマンド出力処理及び
各サブ制御回路14,15,22(以下、単にサブ制御
回路という)のCPU(以下、サブCPU)が実行する
テスト用動作処理について説明する。図2は、メイン制
御回路1のメインCPUが実行する処理のメインルーチ
ンを示すフローチャートである。また、図3乃至図4
は、各サブ制御回路の各サブCPUが実行する処理のメ
インルーチンを示すフローチャートである。
In the pachinko gaming machine of the embodiment configured as described above, the CPU of the main control circuit 1 (hereinafter referred to as CPU)
A test command output process executed by the main CPU and a test operation process executed by a CPU (hereinafter, a sub CPU) of each of the sub control circuits 14, 15, 22 (hereinafter, simply referred to as a sub control circuit) will be described. FIG. 2 is a flowchart showing a main routine of a process executed by the main CPU of the main control circuit 1. 3 and 4
5 is a flowchart showing a main routine of a process executed by each sub CPU of each sub control circuit.

【0021】メイン制御回路1において、メインCPU
は所定タイミング(例えば、4ms)毎にメインルーチ
ンを実行する。メインルーチンでは遊技に関わる遊技関
連処理(通常処理)や図2のステップS04〜ステップ
S06に示すテストコマンド出力処理が実行される。な
お、遊技関連処理(ステップS03の通常処理)は本発
明の要旨に特に関わりがないので説明は省略する。
In the main control circuit 1, a main CPU
Executes a main routine every predetermined timing (for example, 4 ms). In the main routine, game-related processing (normal processing) relating to the game and test command output processing shown in steps S04 to S06 in FIG. 2 are executed. Note that the game-related processing (the normal processing in step S03) is not particularly related to the gist of the present invention, and thus the description is omitted.

【0022】また、各サブ制御回路においても、サブC
PUは所定タイミング毎にメインルーチンを実行する。
サブ制御回路のメインルーチンでは、各遊技装置(本実
施形態においては、ランプ/LED、特別図柄表示装置
21の液晶表示盤23、音声拡声のためのスピーカ1
6)の通常動作に関わる動作関連処理(通常処理)や図
4のステップA09〜ステップA17に示すテスト用動
作処理が実行される。これらのサブ制御回路における制
御はメイン制御回路に従属的に行われる。なお、各サブ
CPUが行う動作関連処理(通常処理)は本発明の要旨
に深く関わらないので説明は省略する。
In each of the sub control circuits, the sub C
The PU executes a main routine at a predetermined timing.
In the main routine of the sub control circuit, each game device (in this embodiment, a lamp / LED, a liquid crystal display panel 23 of a special symbol display device 21, a speaker 1 for sound amplification).
The operation-related processing (normal processing) relating to the normal operation 6) and the test operation processing shown in steps A09 to A17 in FIG. 4 are executed. Control in these sub-control circuits is performed subordinately to the main control circuit. Note that the operation-related processing (normal processing) performed by each sub CPU does not deeply relate to the gist of the present invention, and a description thereof will be omitted.

【0023】図2のフローチャートを参照しつつ、メイ
ン制御回路のメインCPUが実行するテストコマンド出
力処理を説明する。電源投入直後、メインCPUは初期
化処理を行い(ステップS01)、スタックの設定やR
AM領域の初期設定を行うことにより、以下の処理に必
要な各フラグ、各レジスタ及び各記憶エリアの初期化を
行う。メインCPUは、ステップS01の初期化処理を
終了すると、ステップS02に移行し、遊技機裏面に設
けられたテストスタートスイッチ9がオンであるか否か
を判別する。メインCPUは、テストスタートスイッチ
9がオンでなければ、ステップS02を偽と判別し、通
常処理を行い(ステップS03)、通常処理を終える
と、リセット信号の入力待ちとなる。
The test command output processing executed by the main CPU of the main control circuit will be described with reference to the flowchart of FIG. Immediately after the power is turned on, the main CPU performs an initialization process (step S01), and sets the stack and sets R
By initializing the AM area, each flag, each register, and each storage area required for the following processing are initialized. After ending the initialization processing in step S01, the main CPU proceeds to step S02, and determines whether or not the test start switch 9 provided on the back of the gaming machine is on. If the test start switch 9 is not turned on, the main CPU determines that step S02 is false, performs normal processing (step S03), and waits for input of a reset signal after finishing the normal processing.

【0024】なお、メインCPUは、リセット割込み
(例えば、4ms)毎にメインルーチン(メイン制御回
路1のROM7に記憶されている各プログラム)、即
ち、以下に説明するステップS02〜ステップS06或
いはステップS02及びステップS03の各処理を実行
する。メインCPUは、リセット信号が入力すると、ス
テップS02乃至ステップS03を再び行う。
The main CPU executes a main routine (each program stored in the ROM 7 of the main control circuit 1) every reset interrupt (for example, 4 ms), that is, step S02 to step S06 or step S02 described below. And the processing of step S03. When the reset signal is input, the main CPU performs steps S02 to S03 again.

【0025】テストを行う場合には、オペレータが電源
投入時に遊技機裏面に設けられたテストスタートスイッ
チ9を操作入力する。オペレータがテストスタートスイ
ッチ9を操作入力した場合には、テストスタートスイッ
チ9がオンとなる。メインCPUは、ステップS02を
真と判別し、ステップS04に移行する。
When performing a test, an operator operates and inputs a test start switch 9 provided on the back of the gaming machine when the power is turned on. When the operator operates and inputs the test start switch 9, the test start switch 9 is turned on. The main CPU determines that step S02 is true, and proceeds to step S04.

【0026】メインCPUは、テストモード移行コマン
ドをサブCPU(サブ制御基板)に送信する(ステップ
S04)。メインCPUは、テストモード移行コマンド
を送信したならば、次に、一連のテスト動作用コマンド
をサブCPUに順次送信し(ステップS05)、テスト
動作用コマンドの送信が終了すると、テストモード終了
コマンドをサブCPUに送信し(ステップS06)、テ
ストモード終了コマンドの送信を終えると、リセット信
号の入力待ちとなる。
The main CPU transmits a test mode shift command to the sub CPU (sub control board) (step S04). After transmitting the test mode shift command, the main CPU sequentially transmits a series of test operation commands to the sub CPU (step S05). When the transmission of the test operation command ends, the main CPU issues a test mode end command. After the transmission to the sub CPU (step S06), the transmission of the test mode end command is completed, and the input of the reset signal is waited.

【0027】ここで、テスト動作用コマンドについて説
明する。図5は、サブ制御基板の一部であるランプ制御
基板に配備されたランプ制御回路14に送信されるテス
ト動作用コマンドとその動作内容を表形式で示す図であ
り、図6は、サブ制御基板の一部である音声制御基板に
配備された音声制御回路15に送信されるテスト動作用
コマンドとその動作内容を表形式で示す図であり、図7
は、サブ制御基板の一部である表示制御基板に配備され
た表示制御回路22に送信されるテスト動作用コマンド
とその動作内容を表形式で示す図である。
Here, the test operation command will be described. FIG. 5 is a table showing test operation commands transmitted to the lamp control circuit 14 provided on the lamp control board, which is a part of the sub control board, and the contents of the operation. FIG. FIG. 7 is a table showing test operation commands transmitted to the audio control circuit 15 provided on the audio control board which is a part of the board and the contents of the operation in a table format.
FIG. 5 is a diagram showing, in a table form, test operation commands transmitted to a display control circuit 22 provided on a display control board which is a part of a sub-control board and the contents of the operation.

【0028】テスト動作用コマンドは、制御基板の各信
号線毎に割り付けられた少なくとも信号線数分のビット
データからなり、本実施形態では8ビットで構成されて
いる。図5乃至図7に示すように、$01(00000
001)から$80(10000000)の8つのテス
ト用動作コマンドが設けられており、8つのテスト用動
作コマンドのそれぞれに対して、各サブCPUの制御対
象となる各遊技装置の動作内容が予め定められると共
に、テスト用動作コマンドの内容毎に各遊技装置の動作
内容がそれぞれ異なっている。
The test operation command is composed of bit data of at least the number of signal lines assigned to each signal line of the control board, and is composed of 8 bits in this embodiment. As shown in FIGS. 5 to 7, $ 01 (00000
Eight test operation commands from 001) to $ 80 (10000000) are provided. For each of the eight test operation commands, the operation content of each gaming device to be controlled by each sub CPU is predetermined. At the same time, the operation content of each gaming machine is different for each content of the test operation command.

【0029】例えば、サブCPUがテスト動作用コマン
ド「$01」を受信した場合には、サブCPUがランプ
制御回路14の場合であれば、枠飾りランプ1を点灯す
るように、音声制御回路15の場合であれば、スピーカ
に対して「ド」の音声を発生するように、特別図柄表示
装置21の表示制御回路22の場合であれば、液晶表示
盤23に対しカラーバーを右から左にスクロール表示す
るように、各サブ制御回路のサブCPUが動作用データ
を出力し、制御対象を動作させる構成となっている。
For example, when the sub CPU receives the test operation command “$ 01”, if the sub CPU is the lamp control circuit 14, the audio control circuit 15 turns on the frame decoration lamp 1. In the case of the display control circuit 22 of the special symbol display device 21, the color bar is shifted from right to left with respect to the liquid crystal display panel 23 so as to generate the sound of “do” to the speaker in the case of The sub CPU of each sub control circuit outputs operation data to operate the control target so as to perform scroll display.

【0030】また、例えば、サブCPUがテスト動作用
コマンド「$02」を受信した場合には、サブCPUが
ランプ制御回路14の場合であれば、枠飾りランプ2を
点灯するように、音声制御回路15の場合であれば、ス
ピーカに対して「レ」の音声を発生するように、特別図
柄表示装置21の表示制御回路22の場合であれば、液
晶表示盤23に対しカラーバーを左から右にスクロール
表示するように、各サブ制御回路のサブCPUが動作用
データを出力し、制御対象を動作させる構成となってい
る。以上のように、テスト用動作コマンドの内容($0
1〜$80の8種類の別)毎に各遊技装置の動作内容が
それぞれ異なっている。
For example, when the sub CPU receives the test operation command “$ 02”, if the sub CPU is the lamp control circuit 14, the audio control is performed so that the frame decoration lamp 2 is turned on. In the case of the circuit 15, a color bar is displayed from the left with respect to the liquid crystal display panel 23 in the case of the display control circuit 22 of the special symbol display device 21 so as to generate the sound “レ” to the speaker. The sub CPU of each sub control circuit outputs operation data to operate the control target so as to scroll right. As described above, the contents of the test operation command ($ 0
The operation contents of each gaming machine are different for each of the eight types (1 to $ 80).

【0031】そして、例えば、テスト中にスピーカから
「ド」の音が発生しなければ、音声制御回路15に関わ
る信号線1(ビット1或いはデータバス1)で異常(例
えば、断線、ショート等)が発生していると容易に判断
できる。このように、ビットに関連付けたコマンドでテ
スト動作を行えば、どの箇所で異常が発生しているのか
が容易に判断できる。また、ランプの場合は、コマンド
数をランプの系統数まで増加させれば、ランプ中継基板
や接続ハーネスの不具合も発見可能に構成できる。他の
遊技装置に関しても、このように構成すれば中継基板や
接続ハーネスの不具合も発見することができる。
Then, for example, if the sound of “do” does not occur from the speaker during the test, the signal line 1 (bit 1 or data bus 1) related to the audio control circuit 15 is abnormal (for example, disconnection, short circuit, etc.). Can easily be determined to have occurred. As described above, if a test operation is performed using a command associated with a bit, it is possible to easily determine where an abnormality has occurred. Further, in the case of a lamp, if the number of commands is increased to the number of lamp systems, it is possible to configure so that a defect in the lamp relay board or the connection harness can be found. With respect to other gaming machines, if configured in this way, it is also possible to find defects in the relay board and the connection harness.

【0032】図3乃至図4のフローチャートを参照しつ
つ、サブ制御回路のサブCPUが実行するテスト用動作
処理を説明する。電源投入直後、サブCPUは初期化処
理を行い(ステップA01)、スタックの設定やRAM
領域の初期設定を行うことにより、以下の処理に必要な
各フラグ、各レジスタ及び各記憶エリアの初期化を行
う。
The test operation processing executed by the sub CPU of the sub control circuit will be described with reference to the flowcharts of FIGS. Immediately after the power is turned on, the sub CPU performs initialization processing (step A01), and sets the stack and RAM.
By initializing the area, each flag, each register, and each storage area required for the following processing are initialized.

【0033】サブCPUは、ステップA01の初期化処
理を終えると、電源投入監視タイマに電源投入時から監
視時間としての所定時間(例えば、60秒等)に相当す
る値をセットし(ステップA02)、コマンド受信ポー
トにコマンド送信があるか否かを判別する(ステップA
03)。
After completing the initialization processing in step A01, the sub CPU sets a value corresponding to a predetermined time (for example, 60 seconds) as a monitoring time from when the power is turned on to the power-on monitoring timer (step A02). It is determined whether or not a command has been transmitted to the command receiving port (step A).
03).

【0034】サブCPUは、メインCPUからのコマン
ド送信がなければ、ステップA03を偽と判別してステ
ップA04に移行し、テストモードフラグがリセットさ
れているか否かを判別する(ステップA04)。なお、
テストモードフラグは、ステップA01の初期化処理に
よりリセット(フラグの値が0に)されている結果、サ
ブCPUは、ステップA04を真と判別してステップA
05に移行し、電源投入監視タイマが0となっているか
否かを判別する(ステップA05)。この場合、電源投
入監視タイマには、電源投入時からの監視時間に相当す
る値がセットされているので、電源投入監視タイマの値
は0になっていない。サブCPUは、ステップA05を
偽と判別し、電源投入監視タイマを減算し(ステップA
06)、ステップA07の通常処理を実行し、通常処理
を終えるとステップA03に戻り、再び、コマンド受信
ポートにコマンド送信があるか否かを判別する。
If there is no command transmission from the main CPU, the sub CPU determines that step A03 is false, shifts to step A04, and determines whether or not the test mode flag is reset (step A04). In addition,
As a result of the test mode flag being reset (the value of the flag is set to 0) by the initialization processing of step A01, the sub CPU determines that step A04 is true and determines that step A04 is true.
The process proceeds to 05, and it is determined whether or not the power-on monitoring timer is 0 (step A05). In this case, the value corresponding to the monitoring time from when the power is turned on is set in the power-on monitoring timer, so that the value of the power-on monitoring timer is not zero. The sub CPU determines that step A05 is false and decrements the power-on monitoring timer (step A5).
06), the normal process of step A07 is executed, and when the normal process is completed, the process returns to step A03, and it is determined again whether or not a command is transmitted to the command receiving port.

【0035】以下、サブCPUは、コマンド受信ポート
にメインCPUからのコマンド送信がない場合、ステッ
プA03を偽、ステップA04を真、ステップA05を
偽と判別し、ステップA06の電源投入監視タイマの減
算、ステップA07の通常処理を繰り返し行う。これに
より、ステップA06の電源投入監視タイマの減算が繰
り返し行われる結果、電源投入監視タイマにセットされ
ている値が減じられていくことになる。
When no command is transmitted from the main CPU to the command receiving port, the sub CPU determines that step A03 is false, step A04 is true, and step A05 is false, and the power-on monitoring timer in step A06 is decremented. , The normal processing of step A07 is repeated. As a result, the value set in the power-on monitoring timer is reduced as a result of repeatedly performing the subtraction of the power-on monitoring timer in step A06.

【0036】電源投入時から上記監視時間としての所定
時間(例えば、60秒等)以内にテストスタートスイッ
チ9が操作入力された場合には、メインCPUがステッ
プS04を実行することにより、メインCPUからテス
トモード移行コマンドがサブCPUに対して送信され
る。この場合、電源投入監視タイマにセットされている
値がステップA06の処理により減じられて0となる前
に、サブCPUのコマンド受信ポートにメインCPUか
らのテストモード移行コマンドの送信があることにな
る。サブCPUは、ステップA03を真と判別し、送信
されたコマンドを受信し(ステップA08)、受信した
コマンドがテストモード移行コマンドであるか否かを判
別する(ステップA09)。
If the test start switch 9 is operated and input within a predetermined time (for example, 60 seconds, etc.) as the monitoring time from when the power is turned on, the main CPU executes step S04, and A test mode transition command is transmitted to the sub CPU. In this case, before the value set in the power-on monitoring timer is reduced to 0 by the processing in step A06, the test mode transition command is transmitted from the main CPU to the command receiving port of the sub CPU. . The sub CPU determines that step A03 is true, receives the transmitted command (step A08), and determines whether the received command is a test mode transition command (step A09).

【0037】この場合、サブCPUは、受信したコマン
ドがテストモード移行コマンドであると判別し、ステッ
プA10に移行して電源投入監視タイマが0であるか否
かを判別する。この場合、電源投入監視タイマの値が0
となっていない結果、サブCPUは、ステップA10を
偽と判別し、テストモードフラグをセットし(ステップ
A11)、電源投入監視タイマを0クリアし(ステップ
A12)、ステップA03に戻り、再び、コマンド受信
ポートにコマンド送信があるか否かを判別する。
In this case, the sub CPU determines that the received command is a test mode shift command, shifts to step A10, and determines whether the power-on monitoring timer is 0 or not. In this case, the value of the power-on monitoring timer is 0
As a result, the sub CPU determines that step A10 is false, sets the test mode flag (step A11), clears the power-on monitoring timer to 0 (step A12), returns to step A03, and again executes the command It is determined whether or not a command has been transmitted to the receiving port.

【0038】以下、サブCPUは、コマンド受信ポート
にメインCPUからのコマンド送信がない場合、テスト
モードフラグがセットされ、かつ電源投入監視タイマが
0クリアされている結果、サブCPUは、ステップA0
3を偽、ステップA04を偽と判別し、ステップA03
及びステップA04を繰り返し行う待機状態となる。
When no command is transmitted from the main CPU to the command receiving port, the sub CPU sets the test mode flag and clears the power-on monitoring timer to 0.
3 is determined to be false and step A04 is determined to be false.
And a standby state in which step A04 is repeated.

【0039】前述のように、メインCPUがテストモー
ド移行コマンドを送信した場合、次いで、一連のテスト
動作用コマンドがサブCPUに対して順次送信されるこ
となる。例えば、ランプ制御回路14の場合であれば、
図5に示すようにテスト動作用コマンド「$01」,
「$02」,「$04」,「$08」,「$10」,
「$20」,「$40」,「$80」が順次送信され、
ランプ制御回路14のサブCPUに受信される。本実施
形態においては、音声制御回路15及び表示制御回路2
2に対しても同様のテスト動作用コマンド「$01」,
「$02」,「$04」,「$08」,「$10」,
「$20」,「$40」,「$80」が順次送信され、
各サブCPUによって受信される。
As described above, when the main CPU transmits the test mode transition command, a series of test operation commands are sequentially transmitted to the sub CPU. For example, in the case of the lamp control circuit 14,
As shown in FIG. 5, the test operation command "$ 01",
“$ 02”, “$ 04”, “$ 08”, “$ 10”,
“$ 20”, “$ 40”, and “$ 80” are sequentially transmitted,
It is received by the sub CPU of the lamp control circuit 14. In the present embodiment, the audio control circuit 15 and the display control circuit 2
2, the same test operation command “$ 01”,
“$ 02”, “$ 04”, “$ 08”, “$ 10”,
“$ 20”, “$ 40”, and “$ 80” are sequentially transmitted,
It is received by each sub CPU.

【0040】サブCPUは、テスト動作用コマンドが送
信される毎に、ステップA03を真と判別し、ステップ
A08にて送信されたコマンドを受信し、この場合、受
信したコマンドがテスト動作用コマンドである結果、ス
テップA09の受信したコマンドがテストモード移行コ
マンドであるか否かの判別処理を偽、ステップA13の
受信したコマンドがテストモード終了コマンドであるか
否かの判別処理を偽と判別し、テストモードフラグがセ
ットされている結果、ステップA14を真と判別し、ス
テップA15の受信したコマンドがテスト用動作コマン
ドであるか否かの判別処理を真と判別し、テスト用動作
コマンドの内容毎に対応したテスト用データを制御対象
の遊技装置に対して出力する(ステップA16)。これ
により遊技装置のテスト動作が実行される。
The sub CPU determines step A03 to be true each time a test operation command is transmitted, and receives the command transmitted in step A08. In this case, the received command is a test operation command. As a result, it is determined that the process of determining whether the received command in Step A09 is a test mode transition command is false, and the process of determining whether the received command in Step A13 is a test mode end command is false, As a result of the test mode flag being set, step A14 is determined to be true, and the determination processing of step A15 as to whether the received command is a test operation command is determined to be true. Is output to the gaming device to be controlled (step A16). Thereby, a test operation of the gaming machine is executed.

【0041】なお、テスト動作用コマンドの内容毎に異
なる具体的なテスト動作の内容は、図5乃至図7に示し
てあるので、ここでの説明は省略する。サブCPUは、
ステップA16の処理を実行すると、ステップA03に
戻り、再び、ステップA03及びステップA04を繰り
返し、コマンド受信ポートにコマンド送信があるまで待
機する。
The specific contents of the test operation, which differs for each test operation command, are shown in FIGS. 5 to 7, and the description thereof is omitted here. The sub CPU is
When the process of step A16 is executed, the process returns to step A03, repeats steps A03 and A04 again, and waits until a command is transmitted to the command receiving port.

【0042】前述のように、メインCPUは、テスト動
作用コマンドの送信が終了すると、テストモード終了コ
マンドをサブCPUに送信する。よって、テストモード
終了コマンドがサブCPUに受信される。サブCPU
は、ステップA03を真と判別し、ステップA08にて
テストモード終了コマンドを受信し、ステップA09を
偽と判別し、ステップA13を真と判別する。そして、
テストモードフラグをリセットし(ステップA17)、
ステップA07の通常処理に移行し、通常処理を終える
と、ステップA03に戻る。
As described above, when the transmission of the test operation command is completed, the main CPU transmits a test mode end command to the sub CPU. Therefore, the test mode end command is received by the sub CPU. Sub CPU
Determines that step A03 is true, receives a test mode end command in step A08, determines step A09 to be false, and determines step A13 to be true. And
The test mode flag is reset (step A17),
The process proceeds to the normal process of step A07, and after the normal process is completed, the process returns to step A03.

【0043】なお、テストモードフラグがリセットされ
た結果、サブCPUによるテスト用動作処理が終了とな
る。以下、サブCPUは、テストモードフラグがリセッ
トされ、かつ電源投入監視タイマが0クリアされている
結果、ステップA03を偽と判別し、ステップA04を
真と判別し、ステップA05を真と判別し、ステップA
07の通常処理を繰り返し実行することになる。
Note that, as a result of resetting the test mode flag, the test operation processing by the sub CPU ends. Hereinafter, as a result of the test mode flag being reset and the power-on monitoring timer being cleared to 0, the sub CPU determines that step A03 is false, determines that step A04 is true, and determines that step A05 is true, Step A
07 is repeatedly executed.

【0044】また、サブCPUによるテスト用動作処理
が終了となった後において、テストスタートスイッチ9
が操作入力された場合では、テストスタートスイッチ9
が操作入力に基いて、メインCPUからテストモード移
行コマンドがサブCPUに送信されてくるが、サブ制御
回路では、テストモードフラグがリセットされ、かつ電
源投入監視タイマの値がステップA12の処理により0
クリアされている結果、サブCPUが、ステップA03
を真と判別し、ステップA08にてコマンド受信し、ス
テップA09にて受信したコマンドがテストモード移行
コマンドと判別するが、電源投入監視タイマの値が0と
なっている結果、ステップA07の通常処理に移行す
る。したがって、テストモードフラグはセットされず、
リセット状態が維持される。図4のフローチャートから
明らかなように、テストモードフラグがリセット状態の
場合には、テスト用動作コマンドを受け付けないので、
実質的にサブCPUによるテスト用動作処理は行われな
い。よって、サブCPUによるテスト用動作処理が終了
となった後において、テストスタートスイッチ9が操作
入力されても、テスト用動作処理は行われない。
After the test operation process by the sub CPU is completed, the test start switch 9
Is input, the test start switch 9
Is transmitted from the main CPU to the sub CPU based on the operation input. In the sub control circuit, the test mode flag is reset, and the value of the power-on monitoring timer is set to 0 by the processing in step A12.
As a result of being cleared, the sub CPU proceeds to step A03.
Is true, the command is received in step A08, and the command received in step A09 is determined to be a test mode transition command. As a result of the power-on monitoring timer being 0, the normal processing in step A07 Move to Therefore, the test mode flag is not set,
The reset state is maintained. As is clear from the flowchart of FIG. 4, when the test mode flag is in the reset state, the test operation command is not accepted, so that
The test operation processing is not substantially performed by the sub CPU. Therefore, even if the test start switch 9 is operated after the test operation process by the sub CPU is completed, the test operation process is not performed.

【0045】また、電源投入時から前記監視時間として
の所定時間(例えば、60秒等)が経過した後に、テス
トスタートスイッチ9が操作入力された場合にも、テス
ト用動作処理は行われない。すなわち、電源投入後、サ
ブCPUが、ステップA03を偽、ステップA04を
真、ステップA05を偽と判別し、ステップA06の電
源投入監視タイマの減算、ステップA07の通常処理を
繰り返し行うことにより、ステップA06の電源投入監
視タイマの減算が繰り返し行われる結果、電源投入監視
タイマにセットされている値が減じられていき、前記監
視時間としての所定時間(例えば、60秒等)が経過し
た時点で、電源投入監視タイマの値が0となる。したが
って、テストモードフラグがリセットされたままであ
り、かつ電源投入監視タイマの値が0である。以下、サ
ブCPUは、ステップA03を偽と判別し、ステップA
04を真と判別し、ステップA05を真と判別し、ステ
ップA07の通常処理を繰り返し実行することになる。
Further, even if the test start switch 9 is operated after a predetermined time (for example, 60 seconds) as the monitoring time has elapsed since the power was turned on, the test operation processing is not performed. That is, after the power is turned on, the sub CPU determines that the step A03 is false, the step A04 is true, and the step A05 is false, and repeats the subtraction of the power-on monitoring timer in step A06 and the normal processing in step A07. As a result of the repeated subtraction of the power-on monitoring timer of A06, the value set in the power-on monitoring timer is reduced, and when a predetermined time (for example, 60 seconds or the like) as the monitoring time has elapsed, The value of the power-on monitoring timer becomes 0. Therefore, the test mode flag remains reset, and the value of the power-on monitoring timer is 0. Hereinafter, the sub CPU determines that step A03 is false, and
04 is determined to be true, step A05 is determined to be true, and the normal processing of step A07 is repeatedly executed.

【0046】電源投入時から前記監視時間としての所定
時間(例えば、60秒等)が経過した後に、テストスタ
ートスイッチ9が操作入力されると、メインCPUから
テストモード移行コマンドがサブCPUに送信されてく
るが、サブ制御回路では、テストモードフラグがリセッ
トされ、かつ電源投入監視タイマの値が0となっている
結果、前述のテスト用動作処理を終えた場合と同様に、
サブCPUは、ステップA03を真と判別し、ステップ
A08にてコマンド受信し、ステップA09にて受信し
たコマンドがテストモード移行コマンドと判別するが、
ステップA07の通常処理に移行する結果、テストモー
ドフラグはセットされず、リセット状態が維持される。
前述のように、テストモードフラグがリセット状態の場
合には、テスト用動作コマンドを受け付けないので、実
質的にサブCPUによるテスト用動作処理は行われな
い。よって、電源投入時から前記監視時間としての所定
時間(例えば、60秒等)が経過した後に、テストスタ
ートスイッチ9が操作入力された場合にも、テスト用動
作処理は行われない。このように、所定期間(電源投入
時から所定時間経過するまでの間)のみテストモードに
移行可能に構成されている。
When the test start switch 9 is operated after a predetermined time (for example, 60 seconds) as the monitoring time has elapsed since the power was turned on, a test mode shift command is transmitted from the main CPU to the sub CPU. However, in the sub-control circuit, as a result of the test mode flag being reset and the value of the power-on monitoring timer being 0, as in the case where the above-described test operation processing is completed,
The sub CPU determines step A03 as true, receives the command in step A08, and determines that the command received in step A09 is the test mode transition command.
As a result of shifting to the normal processing in step A07, the test mode flag is not set and the reset state is maintained.
As described above, when the test mode flag is in the reset state, the test operation command is not accepted, so that the sub CPU does not substantially perform the test operation process. Therefore, even when the test start switch 9 is operated after a predetermined time (for example, 60 seconds) as the monitoring time has elapsed since the power was turned on, the test operation process is not performed. As described above, it is possible to shift to the test mode only for a predetermined period (from the time when the power is turned on until a predetermined time elapses).

【0047】なお、本実施形態においては、テスト用動
作コマンドをサブ制御回路に対して送信するテストコマ
ンド出力手段はメイン制御回路1(メイン制御基板)に
含まれているが、これに限定されるものではなく、テス
トコマンド出力手段を別装置として遊技機外部に配設す
る構成でもよい。その場合、テストコマンド出力手段と
メイン制御回路とを接続し、メイン制御回路を介してテ
スト動作を行えるように構成するか或いはテストコマン
ド出力手段を直接サブ制御回路と接続してテスト動作を
行えるように構成してもよい。
In this embodiment, the test command output means for transmitting the test operation command to the sub-control circuit is included in the main control circuit 1 (main control board), but is not limited to this. Instead, the configuration may be such that the test command output means is provided outside the gaming machine as a separate device. In this case, the test command output means and the main control circuit are connected to each other, and the test operation can be performed via the main control circuit, or the test command output means can be directly connected to the sub control circuit to perform the test operation. May be configured.

【0048】[0048]

【発明の効果】請求項1に記載の構成によれば、遊技装
置の動作を制御する制御基板は、テストモードに移行し
た場合には、テストコマンド出力手段から送信される一
連のテスト用動作コマンドの各々に対応して予め定めら
れた態様で遊技装置をテスト動作させることができるの
で、テスト動作の確認が容易に行える。
According to the first aspect of the present invention, the control board for controlling the operation of the gaming machine is provided with a series of test operation commands transmitted from the test command output means when the mode shifts to the test mode. The game device can be tested in a predetermined manner corresponding to each of the above, so that the test operation can be easily confirmed.

【0049】請求項2に記載の構成によれば、遊技装置
の動作を制御するサブ制御基板は、テストモードに移行
した場合に、テストコマンド出力手段から送信される一
連のテスト用動作コマンドの各々に対応して予め定めら
れた態様で遊技装置をテスト動作させることができるの
で、サブ制御基板によって制御回路される遊技装置のテ
スト動作の確認が容易に行える。
According to the second aspect of the present invention, the sub-control board for controlling the operation of the gaming machine includes a series of test operation commands transmitted from the test command output means when the test mode is entered. The test operation of the gaming machine can be performed in a predetermined manner corresponding to the above, so that the test operation of the gaming machine controlled by the sub-control board can be easily confirmed.

【0050】請求項3に記載の構成によれば、テストコ
マンド出力手段が、メイン制御基板に含まれているの
で、基板構成を単純にすることができる。
According to the third aspect of the present invention, the test command output means is included in the main control board, so that the board configuration can be simplified.

【0051】請求項4に記載の構成によれば、一連のテ
スト用動作コマンドが、制御基板の各信号線毎に割り付
けられた少なくとも信号線数分のビットデータからな
り、テスト用動作コマンドの内容毎に遊技装置の動作が
異なるので、各信号線の通信状態の異常(断線、ショー
ト等)を確認することができる。
According to the fourth aspect of the present invention, the series of test operation commands consist of at least the number of bit lines assigned to each signal line of the control board, and the contents of the test operation command Since the operation of the gaming machine differs from one game device to another, it is possible to confirm an abnormality (disconnection, short circuit, etc.) in the communication state of each signal line.

【0052】請求項5に記載の構成によれば、テスト動
作手段が、テストモード以外においてはテスト用動作コ
マンドを受け付けない構成であるから、例えば、通常時
にテスト用動作コマンドと同一のコマンド(テストモー
ド中でないときに同一コマンドが使用されている場合
等)が送信されたとしてもテスト動作が行われることが
ない。
According to the fifth aspect of the present invention, the test operation means does not accept the test operation command except in the test mode. Even if the same command is used when not in the mode, the test operation is not performed.

【0053】請求項6に記載の構成によれば、制御基板
は、所定期間のみテストモードに移行可能に構成されて
いるので、テストモードの移行期間を制限できる。
According to the configuration described in claim 6, the control board is configured to be able to shift to the test mode only for a predetermined period, so that the shift period of the test mode can be limited.

【0054】請求項7に記載の構成によれば、電源投入
時から所定時間経過するまでの間の所定期間のみ、テス
トモードに移行可能とされているので、電源投入時にテ
スト動作を行わせることができると共に、電源投入から
所定時間経過後の通常時(例えば、営業時)に、テスト
動作が行われるといった不具合が起らない。
According to the seventh aspect of the present invention, the test mode can be shifted to the test mode only during a predetermined period from when the power is turned on until a predetermined time elapses. In addition to the above, there is no problem that a test operation is performed at a normal time (for example, during business hours) after a predetermined time has elapsed since the power was turned on.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本実施形態のパチンコ遊技機に配備された制御
系統の要部ブロック図
FIG. 1 is a main block diagram of a control system provided in a pachinko gaming machine according to an embodiment.

【図2】同実施形態におけるメイン制御回路のメインC
PUが実行する処理のメインルーチンを示すフローチャ
ート
FIG. 2 is a diagram showing a main C of a main control circuit according to the embodiment;
Flowchart showing a main routine of processing executed by a PU

【図3】同上の各サブ制御回路の各サブCPUが実行す
る処理のメインルーチンの一部を示すフローチャート
FIG. 3 is a flowchart showing a part of a main routine of a process executed by each sub CPU of each sub control circuit of the above.

【図4】図3のフローチャートのつづきFIG. 4 is a continuation of the flowchart of FIG. 3;

【図5】サブ制御基板の一部であるランプ制御基板に配
備されたランプ制御回路に送信されるテスト動作用コマ
ンドとその動作内容を表形式で示す図
FIG. 5 is a table showing test operation commands transmitted to a lamp control circuit provided on a lamp control board, which is a part of a sub control board, and the contents of the operation.

【図6】サブ制御基板の一部である音声制御基板に配備
された音声制御回路に送信されるテスト動作用コマンド
とその動作内容を表形式で示す図
FIG. 6 is a diagram showing, in a table format, test operation commands transmitted to an audio control circuit provided on an audio control board that is a part of the sub control board and the contents of the operation.

【図7】サブ制御基板の一部である表示制御基板に配備
された表示制御回路に送信されるテスト動作用コマンド
とその動作内容を表形式で示す図
FIG. 7 is a diagram showing, in a table format, test operation commands transmitted to a display control circuit provided on a display control substrate that is a part of a sub-control substrate and their operation contents;

【図8】本発明の特許請求の範囲の請求項1に記載の要
件に対応するブロック図
FIG. 8 is a block diagram corresponding to the requirements described in claim 1 of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 メイン制御回路 2 ワンチップマイクロコンピュータ 3 入出力回路 4 入出力回路 5 CPU 6 RAM 7 ROM 8 始動口センサ 9 テストスタートスイッチ 10 中継回路 11 ソレノイド 12 カウントセンサ 13 特定領域センサ 14 ランプ制御回路 15 音声制御回路 16 スピーカ 17 払出制御回路 18 賞球払出装置 19 発射制御回路 20 打球発射装置 21 特別図柄表示装置 22 表示制御回路 23 液晶表示盤 Reference Signs List 1 main control circuit 2 one-chip microcomputer 3 input / output circuit 4 input / output circuit 5 CPU 6 RAM 7 ROM 8 starting port sensor 9 test start switch 10 relay circuit 11 solenoid 12 count sensor 13 specific area sensor 14 lamp control circuit 15 voice control Circuit 16 Speaker 17 Payout control circuit 18 Prize ball payout device 19 Launch control circuit 20 Ball launching device 21 Special symbol display device 22 Display control circuit 23 Liquid crystal display panel

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 遊技に関連して動作を行う遊技装置と、
該遊技装置の動作を制御するための制御基板とを有する
遊技機において、前記制御基板に対して一連のテスト用
動作コマンドを送信するテストコマンド出力手段を設け
ると共に、前記制御基板に、テストモードに移行した場
合に、前記テストコマンド出力手段から送信される一連
のテスト用動作コマンドの各々に対応して予め定められ
た態様で前記遊技装置にテスト動作を行わせるテスト動
作手段を設けたことを特徴とする遊技機。
1. A gaming device that performs an operation related to a game,
In a gaming machine having a control board for controlling the operation of the gaming machine, a test command output means for transmitting a series of test operation commands to the control board is provided, and the control board is set to a test mode. A test operation means for causing the gaming machine to perform a test operation in a predetermined manner corresponding to each of a series of test operation commands transmitted from the test command output means when the operation is shifted is provided. A gaming machine.
【請求項2】 前記制御基板は、遊技の主たる制御を行
うメイン制御基板からの指令に従って前記遊技装置の動
作を制御するサブ制御基板であって、前記テストコマン
ド出力手段が前記サブ制御基板に対して一連のテスト用
動作コマンドを送信するものであると共に、前記サブ制
御基板に前記テストモード動作手段を設けたことを特徴
とする請求項1に記載の遊技機。
2. The control board is a sub-control board that controls the operation of the gaming machine in accordance with a command from a main control board that performs a main control of a game, and wherein the test command output unit controls the sub-control board. 2. The gaming machine according to claim 1, wherein the sub-control board is provided with the test mode operating means for transmitting a series of test operation commands.
【請求項3】 前記テストコマンド出力手段が、前記メ
イン制御基板に含まれていることを特徴とする請求項2
に記載の遊技機。
3. The test command output means is included in the main control board.
A gaming machine according to claim 1.
【請求項4】 前記一連のテスト用動作コマンドは、前
記制御基板の各信号線毎に割り付けられた少なくとも信
号線数分のビットデータからなり、前記テスト用動作コ
マンドの内容毎に前記遊技装置の動作が異なることを特
徴とする請求項1乃至3のうちのいずれか1つに記載の
遊技機。
4. The series of test operation commands are composed of bit data of at least the number of signal lines allocated to each signal line of the control board, and the content of the test operation command of the gaming machine is The gaming machine according to any one of claims 1 to 3, wherein operation is different.
【請求項5】 前記テスト動作手段は、前記テストモー
ド以外においては前記テスト用動作コマンドを受け付け
ないことを特徴とする請求項1乃至4のうちのいずれか
1つに記載の遊技機。
5. The gaming machine according to claim 1, wherein the test operation unit does not receive the test operation command except in the test mode.
【請求項6】 前記制御基板は、所定期間のみ前記テス
トモードに移行可能に構成されたことを特徴とする請求
項1乃至5のうちのいずれか1つに記載の遊技機。
6. The gaming machine according to claim 1, wherein the control board is configured to be able to shift to the test mode only for a predetermined period.
【請求項7】 前記所定期間が、電源投入時から所定時
間経過するまでの間であることを特徴とする請求項6に
記載の遊技機。
7. The gaming machine according to claim 6, wherein the predetermined period is a period from when the power is turned on until a predetermined time elapses.
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