JP2002143127A - 磁気共鳴撮像のための補償方法及び装置 - Google Patents
磁気共鳴撮像のための補償方法及び装置Info
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- JP2002143127A JP2002143127A JP2001230720A JP2001230720A JP2002143127A JP 2002143127 A JP2002143127 A JP 2002143127A JP 2001230720 A JP2001230720 A JP 2001230720A JP 2001230720 A JP2001230720 A JP 2001230720A JP 2002143127 A JP2002143127 A JP 2002143127A
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- shim
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/28—Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
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- G—PHYSICS
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- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/54—Signal processing systems, e.g. using pulse sequences ; Generation or control of pulse sequences; Operator console
- G01R33/56—Image enhancement or correction, e.g. subtraction or averaging techniques, e.g. improvement of signal-to-noise ratio and resolution
- G01R33/565—Correction of image distortions, e.g. due to magnetic field inhomogeneities
- G01R33/56563—Correction of image distortions, e.g. due to magnetic field inhomogeneities caused by a distortion of the main magnetic field B0, e.g. temporal variation of the magnitude or spatial inhomogeneity of B0
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- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/58—Calibration of imaging systems, e.g. using test probes, Phantoms; Calibration objects or fiducial markers such as active or passive RF coils surrounding an MR active material
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 画像データの取得中の分極用磁場の変化を補
償するための手法を提供する。 【解決手段】 MRIシステムによる走査中にインタリ
ーブ態様で監視信号を取得する。監視信号を用いて、分
極用磁場B0 の変動によって生ずる周波数変化を測定し
て、これら測定された周波数変化を用いて、走査中に取
得される画像データを補償する。一組のシム・コイルに
電流を生じさせて、監視コイルの直近部で分極用磁場B
0 をシム調整する。
償するための手法を提供する。 【解決手段】 MRIシステムによる走査中にインタリ
ーブ態様で監視信号を取得する。監視信号を用いて、分
極用磁場B0 の変動によって生ずる周波数変化を測定し
て、これら測定された周波数変化を用いて、走査中に取
得される画像データを補償する。一組のシム・コイルに
電流を生じさせて、監視コイルの直近部で分極用磁場B
0 をシム調整する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明の分野は、核磁気共鳴
撮像(MRI)方法及びシステムである。より具体的に
は、本発明は、データの取得中の分極用磁場の変化によ
って生ずるMRI画像のアーティファクトの除去に関す
る。
撮像(MRI)方法及びシステムである。より具体的に
は、本発明は、データの取得中の分極用磁場の変化によ
って生ずるMRI画像のアーティファクトの除去に関す
る。
【0002】
【発明の背景】人体組織のような物質が一様の磁場(分
極用磁場B0 )にさらされると、組織内のスピンの個々
の磁気モーメントは、この分極用磁場B0 に沿って整列
しようとするが、その代わりに、スピンの磁気回転定数
γ及び分極用磁場B0 によって決定される固有のラーモ
ア周波数で乱雑な秩序で分極用磁場B0 の周りを歳差運
動する。物質すなわち組織が、xy平面内に存在すると
共にラーモア周波数に近い周波数を持つ磁場(励起磁場
B1 )にさらされると、整列した正味の磁気モーメント
Mz がxy平面に向かって回転すなわち「傾斜」して、
正味の横磁気モーメントMt を生成する。励起されたス
ピンによって信号が発生され、そして励起磁場B1 を停
止させた後に核磁気共鳴(NMR)信号を受信して処理
することにより画像を形成することができる。
極用磁場B0 )にさらされると、組織内のスピンの個々
の磁気モーメントは、この分極用磁場B0 に沿って整列
しようとするが、その代わりに、スピンの磁気回転定数
γ及び分極用磁場B0 によって決定される固有のラーモ
ア周波数で乱雑な秩序で分極用磁場B0 の周りを歳差運
動する。物質すなわち組織が、xy平面内に存在すると
共にラーモア周波数に近い周波数を持つ磁場(励起磁場
B1 )にさらされると、整列した正味の磁気モーメント
Mz がxy平面に向かって回転すなわち「傾斜」して、
正味の横磁気モーメントMt を生成する。励起されたス
ピンによって信号が発生され、そして励起磁場B1 を停
止させた後に核磁気共鳴(NMR)信号を受信して処理
することにより画像を形成することができる。
【0003】これらの信号を用いて画像を形成するとき
には、磁場勾配(Gx 、Gy 及びG z )が用いられる。
典型的には、撮像される領域は、採用されている特定の
局在化方法に応じてこれらの勾配が変化するような一連
の独立した測定サイクル(「ビュー」と呼ばれる)によ
って走査される。NMR受信信号の得られた組をディジ
タル化して処理し、多くの周知の再構成手法の一つを用
いて画像を再構成する。
には、磁場勾配(Gx 、Gy 及びG z )が用いられる。
典型的には、撮像される領域は、採用されている特定の
局在化方法に応じてこれらの勾配が変化するような一連
の独立した測定サイクル(「ビュー」と呼ばれる)によ
って走査される。NMR受信信号の得られた組をディジ
タル化して処理し、多くの周知の再構成手法の一つを用
いて画像を再構成する。
【0004】MRIシステムに関連する周知の問題点
は、分極用磁場B0 の強度に変動が生ずることである。
これらの変動は取得される画像に二つの方式で影響を及
ぼす。第一に、分極用磁場B0 の変化に対応して、取得
されるNMR信号の位相に変化が生ずる。これらの偽の
位相変化は、取得されるNMR信号すなわち「k空間デ
ータ」に現われて、フーリエ変換法を用いて再構成され
る画像にゴースト又はボケのアーティファクトを生ず
る。偽の位相シフトは、RF励起とデータ取得との間で
絶えず蓄積するので、これらのアーティファクトは長い
エコー時間TEを有するグラディエント・リコールド・
エコー方式のパルス・シーケンスの場合に特に問題とな
る。また、分極用磁場B0 の変化により、周波数エンコ
ード(すなわち読み出し)勾配方向に沿った見かけ上の
空間シフトも生じ得る。
は、分極用磁場B0 の強度に変動が生ずることである。
これらの変動は取得される画像に二つの方式で影響を及
ぼす。第一に、分極用磁場B0 の変化に対応して、取得
されるNMR信号の位相に変化が生ずる。これらの偽の
位相変化は、取得されるNMR信号すなわち「k空間デ
ータ」に現われて、フーリエ変換法を用いて再構成され
る画像にゴースト又はボケのアーティファクトを生ず
る。偽の位相シフトは、RF励起とデータ取得との間で
絶えず蓄積するので、これらのアーティファクトは長い
エコー時間TEを有するグラディエント・リコールド・
エコー方式のパルス・シーケンスの場合に特に問題とな
る。また、分極用磁場B0 の変化により、周波数エンコ
ード(すなわち読み出し)勾配方向に沿った見かけ上の
空間シフトも生じ得る。
【0005】分極用磁場B0 の変化による第二の悪影響
は、パルス・シーケンスにスライス選択手法が用いられ
ている場合に生ずる。分極用磁場B0 の変化により、ラ
ーモア周波数の変化を選択的RF励起パルスの帯域幅で
除算したものに等しい量だけ励起したスライスの位置が
ずれる。例えば、分極用磁場B0 によりラーモア周波数
が20Hzだけずれて、選択的RF励起パルスが100
0Hzの帯域幅を有する場合には、励起したスライス
は、スライス選択勾配軸に沿ったその所期の位置から2
%ずれる。これらのずれにより、取得されるデータに振
幅の変化が生じ得る。
は、パルス・シーケンスにスライス選択手法が用いられ
ている場合に生ずる。分極用磁場B0 の変化により、ラ
ーモア周波数の変化を選択的RF励起パルスの帯域幅で
除算したものに等しい量だけ励起したスライスの位置が
ずれる。例えば、分極用磁場B0 によりラーモア周波数
が20Hzだけずれて、選択的RF励起パルスが100
0Hzの帯域幅を有する場合には、励起したスライス
は、スライス選択勾配軸に沿ったその所期の位置から2
%ずれる。これらのずれにより、取得されるデータに振
幅の変化が生じ得る。
【0006】分極用磁場B0 を制御すると共に調節する
ために多くの方法が用いられている。これらの方法の殆
どが、スキャナ自体の内部の状態を変化させることを扱
っており、極めて実効的である。例えば、磁場勾配を変
化させることにより生ずる渦電流によって分極用磁場B
0 に及ぶ影響を補償する方法が、米国特許第4,69
8,591号、同第5,289,127号及び同第5,
770,943号に開示されている。
ために多くの方法が用いられている。これらの方法の殆
どが、スキャナ自体の内部の状態を変化させることを扱
っており、極めて実効的である。例えば、磁場勾配を変
化させることにより生ずる渦電流によって分極用磁場B
0 に及ぶ影響を補償する方法が、米国特許第4,69
8,591号、同第5,289,127号及び同第5,
770,943号に開示されている。
【0007】分極用磁場の強度B0 は、スキャナの付近
を大きな金属塊が移動する等の外部の事象による影響を
受ける可能性がある。自動車、トラック、列車及びエレ
ベータのような移動する物体により、分極用磁場B0 が
変化して画像アーティファクトが生ずることがしばしば
ある。
を大きな金属塊が移動する等の外部の事象による影響を
受ける可能性がある。自動車、トラック、列車及びエレ
ベータのような移動する物体により、分極用磁場B0 が
変化して画像アーティファクトが生ずることがしばしば
ある。
【0008】これらのような擾乱の影響を少なくするた
めに、二つの方法すなわち受動的方法及び能動的方法が
用いられている。受動的方法には、例えば米国特許第
4,646,046号に記載されているように、主磁石
の周囲に遮蔽材を用いるものがある。大量のケイ素鋼製
シートを磁石の周囲に設けるが、これにより、システム
の設置が高価で、大重量且つ困難になる。
めに、二つの方法すなわち受動的方法及び能動的方法が
用いられている。受動的方法には、例えば米国特許第
4,646,046号に記載されているように、主磁石
の周囲に遮蔽材を用いるものがある。大量のケイ素鋼製
シートを磁石の周囲に設けるが、これにより、システム
の設置が高価で、大重量且つ困難になる。
【0009】能動的補償システムは、スキャナの付近の
位置での磁束の変化を測定し、この情報を利用してシス
テムを補償するセンサを採用している。このような補償
は、相殺用の補正磁場を発生する電流をコイルに発生さ
せることを含み得る。これらの方法は、例えば米国特許
第5,952,734号に記載されているように磁束セ
ンサを採用しているか、又は米国特許第5,488,9
50号に開示されているようにESR機器を採用してい
る。しかしながら、これらの能動的方法は、磁場の擾乱
が多数の発生源又は大きさ若しくは位置が変化する発生
源によって生じている場合には良好に作用しない。
位置での磁束の変化を測定し、この情報を利用してシス
テムを補償するセンサを採用している。このような補償
は、相殺用の補正磁場を発生する電流をコイルに発生さ
せることを含み得る。これらの方法は、例えば米国特許
第5,952,734号に記載されているように磁束セ
ンサを採用しているか、又は米国特許第5,488,9
50号に開示されているようにESR機器を採用してい
る。しかしながら、これらの能動的方法は、磁場の擾乱
が多数の発生源又は大きさ若しくは位置が変化する発生
源によって生じている場合には良好に作用しない。
【0010】磁場の安定性を監視するためのNMR信号
の取得は、RFコイルとNMRサンプルとから成る専用
のプローブを用いて行なうことができ、このプローブ
を、磁場の一様性が確実である領域と一致するように配
置する。MRI磁石のシム調整対象空間内にプローブを
配置すると、占有しておくべき領域に干渉して操作者の
誤りが生じ易い。一方、MRI磁石のシム調整対象空間
の外部にプローブを配置すると、専用のNMRプローブ
からの信号の品質が低下する。従って、取得される監視
信号の有用性及び品質を高めるために、適当な磁場の一
様性を保持しつつ、磁石のシム調整対象空間の外部に専
用の監視プローブを配置することを可能にする装置及び
方法が必要とされている。
の取得は、RFコイルとNMRサンプルとから成る専用
のプローブを用いて行なうことができ、このプローブ
を、磁場の一様性が確実である領域と一致するように配
置する。MRI磁石のシム調整対象空間内にプローブを
配置すると、占有しておくべき領域に干渉して操作者の
誤りが生じ易い。一方、MRI磁石のシム調整対象空間
の外部にプローブを配置すると、専用のNMRプローブ
からの信号の品質が低下する。従って、取得される監視
信号の有用性及び品質を高めるために、適当な磁場の一
様性を保持しつつ、磁石のシム調整対象空間の外部に専
用の監視プローブを配置することを可能にする装置及び
方法が必要とされている。
【0011】
【発明の概要】前述の問題点及び短所に鑑みて、本発明
の方法は、そこから画像が再構成される画像データを取
得するために、MRIシステムによって撮像用パルス・
シーケンスを実行することにより、MRIシステムによ
って被検体から画像を取得する。次いで、本方法は、画
像データの取得中の分極用磁場B0 の変化を補償するた
めに被検体の付近に配置されているRF監視コイルから
データを取得するために、磁気共鳴イメージング・シス
テムによって複数の監視用パルス・シーケンスを実行す
る。結果として、監視用パルス・シーケンスが撮像用パ
ルス・シーケンスにインタリーブされる。最後に、本方
法は、各回の監視用パルス・シーケンスの最中にシム・
コイルに電流を生じさせることにより、RF監視コイル
の直近部で分極用磁場B0 をシム調整する。
の方法は、そこから画像が再構成される画像データを取
得するために、MRIシステムによって撮像用パルス・
シーケンスを実行することにより、MRIシステムによ
って被検体から画像を取得する。次いで、本方法は、画
像データの取得中の分極用磁場B0 の変化を補償するた
めに被検体の付近に配置されているRF監視コイルから
データを取得するために、磁気共鳴イメージング・シス
テムによって複数の監視用パルス・シーケンスを実行す
る。結果として、監視用パルス・シーケンスが撮像用パ
ルス・シーケンスにインタリーブされる。最後に、本方
法は、各回の監視用パルス・シーケンスの最中にシム・
コイルに電流を生じさせることにより、RF監視コイル
の直近部で分極用磁場B0 をシム調整する。
【0012】本発明のもう一つの観点は、NMRサンプ
ルと、該サンプルの周囲に配設されている監視コイル
と、該監視コイルに隣接して配設されている一組のシム
・コイルと、該一組のシム・コイルに電流を生じさせて
監視コイルの直近部で分極用磁場B0 をシム調整する一
組のシム増幅器とを備えた監視コイル・アセンブリを含
んでいる。
ルと、該サンプルの周囲に配設されている監視コイル
と、該監視コイルに隣接して配設されている一組のシム
・コイルと、該一組のシム・コイルに電流を生じさせて
監視コイルの直近部で分極用磁場B0 をシム調整する一
組のシム増幅器とを備えた監視コイル・アセンブリを含
んでいる。
【0013】
【好適実施形態の説明】先ず、図1を参照して述べる
と、本発明を組み入れるように修正された好ましいMR
Iシステムの主要な構成要素が示されている。MRIシ
ステムの動作は、キーボード(図示されていない)、制
御パネル102及び表示器104を含んでいる操作者コ
ンソール100によって制御される。操作者コンソール
100は好ましくは、シリアル・リンク116を介して
独立したコンピュータ・システム107と連絡してお
り、コンピュータ・システム107により、操作者は表
示器104上での画像の形成及び表示を制御することが
可能になる。独立したコンピュータ・システム107
は、バックプレーン105を介して互いに連絡する幾つ
かのモジュールを含んでいる。これらのモジュールに
は、画像プロセッサ・モジュール106と、CPUモジ
ュール108と、画像データ・アレイ(配列)を記憶す
るフレーム・バッファとして当業界で公知のメモリ・モ
ジュール113とが含まれている。コンピュータ・シス
テム107は、画像データ及びプログラムを記憶するた
めのディスク記憶装置111及びテープ・ドライブ11
2に結合されており、また、高速シリアル・リンク11
5を介して別個のシステム制御部122と連絡してい
る。
と、本発明を組み入れるように修正された好ましいMR
Iシステムの主要な構成要素が示されている。MRIシ
ステムの動作は、キーボード(図示されていない)、制
御パネル102及び表示器104を含んでいる操作者コ
ンソール100によって制御される。操作者コンソール
100は好ましくは、シリアル・リンク116を介して
独立したコンピュータ・システム107と連絡してお
り、コンピュータ・システム107により、操作者は表
示器104上での画像の形成及び表示を制御することが
可能になる。独立したコンピュータ・システム107
は、バックプレーン105を介して互いに連絡する幾つ
かのモジュールを含んでいる。これらのモジュールに
は、画像プロセッサ・モジュール106と、CPUモジ
ュール108と、画像データ・アレイ(配列)を記憶す
るフレーム・バッファとして当業界で公知のメモリ・モ
ジュール113とが含まれている。コンピュータ・シス
テム107は、画像データ及びプログラムを記憶するた
めのディスク記憶装置111及びテープ・ドライブ11
2に結合されており、また、高速シリアル・リンク11
5を介して別個のシステム制御部122と連絡してい
る。
【0014】システム制御部122は、バックプレーン
118によって互いに連絡する幾つかのモジュールを含
んでいる。これらのモジュールには、CPUモジュール
119とパルス発生器モジュール121とが含まれてお
り、パルス発生器モジュール121はシリアル・リンク
125を介して操作者コンソール100に接続されてい
る。シリアル・リンク125を介して、システム制御部
122は実行されるべき走査シーケンスを指示する命令
(コマンド)を操作者から受け取る。次いで、パルス発
生器モジュール121は、システムの構成要素を動作さ
せて、所望の走査シーケンスを実行させる。パルス発生
器モジュール121は、発生されるべきRFパルスのタ
イミング、強さ及び形状、並びにデータ取得ウィンドウ
のタイミング及び長さを指示するデータを生成する。パ
ルス発生器モジュール121は、走査時に発生される勾
配パルスのタイミング及び形状を指示するために勾配補
償システム129を介して一組の勾配増幅器127に接
続されている。パルス発生器モジュール121はまた、
様々な前置増幅器132及び153から患者及び磁石ア
センブリ141の状態に関連した信号を受け取るマルチ
プレクサ130に接続されている。マルチプレクサ13
0を介して、前置増幅器132及び153並びに複数の
送受信(T/R)スイッチ138及び154から戻って
きた信号がパルス発生器モジュール121で受信され
る。
118によって互いに連絡する幾つかのモジュールを含
んでいる。これらのモジュールには、CPUモジュール
119とパルス発生器モジュール121とが含まれてお
り、パルス発生器モジュール121はシリアル・リンク
125を介して操作者コンソール100に接続されてい
る。シリアル・リンク125を介して、システム制御部
122は実行されるべき走査シーケンスを指示する命令
(コマンド)を操作者から受け取る。次いで、パルス発
生器モジュール121は、システムの構成要素を動作さ
せて、所望の走査シーケンスを実行させる。パルス発生
器モジュール121は、発生されるべきRFパルスのタ
イミング、強さ及び形状、並びにデータ取得ウィンドウ
のタイミング及び長さを指示するデータを生成する。パ
ルス発生器モジュール121は、走査時に発生される勾
配パルスのタイミング及び形状を指示するために勾配補
償システム129を介して一組の勾配増幅器127に接
続されている。パルス発生器モジュール121はまた、
様々な前置増幅器132及び153から患者及び磁石ア
センブリ141の状態に関連した信号を受け取るマルチ
プレクサ130に接続されている。マルチプレクサ13
0を介して、前置増幅器132及び153並びに複数の
送受信(T/R)スイッチ138及び154から戻って
きた信号がパルス発生器モジュール121で受信され
る。
【0015】パルス発生器モジュール121によって発
生された勾配波形は、後に詳述するように勾配補償シス
テム129によって補償されて、複数の勾配増幅器12
7で構成されている勾配増幅器システムに印加される。
各々の勾配増幅器127が、磁石アセンブリ141の一
部を形成している対応する勾配コイル(図示されていな
い)を励起させる。当技術分野で周知のように、これら
の勾配コイルは、取得された信号を位置エンコードする
のに用いられる線形磁場勾配を発生する。磁石アセンブ
リ141はまた、分極用磁石と、図7に立面図で示す全
身型RF監視コイル404とを含んでいる。好適実施形
態では、分極用磁場B0 は、発明の名称「MRI装置の
ための磁石アセンブリ」の米国特許第5,652,51
7号に記載されているように、永久磁石と、磁場を整形
して方向を制御するのに用いられる付設された鉄心とに
よって発生される。
生された勾配波形は、後に詳述するように勾配補償シス
テム129によって補償されて、複数の勾配増幅器12
7で構成されている勾配増幅器システムに印加される。
各々の勾配増幅器127が、磁石アセンブリ141の一
部を形成している対応する勾配コイル(図示されていな
い)を励起させる。当技術分野で周知のように、これら
の勾配コイルは、取得された信号を位置エンコードする
のに用いられる線形磁場勾配を発生する。磁石アセンブ
リ141はまた、分極用磁石と、図7に立面図で示す全
身型RF監視コイル404とを含んでいる。好適実施形
態では、分極用磁場B0 は、発明の名称「MRI装置の
ための磁石アセンブリ」の米国特許第5,652,51
7号に記載されているように、永久磁石と、磁場を整形
して方向を制御するのに用いられる付設された鉄心とに
よって発生される。
【0016】システム制御部122内の送受信器モジュ
ール150がRFパルスを発生し、これらのRFパルス
はRF増幅器151によって増幅されて、送受信スイッ
チ154によって磁石アセンブリ141内のRFコイル
に結合される。この結果として、患者の体内の励起した
核によって発生された信号は、同じRFコイルによって
検知することができて、送受信スイッチ138及び15
4を介してそれぞれの前置増幅器132及び153に結
合される。増幅されたNMR信号は、送受信器モジュー
ル150の受信器部(図示されていない)において復調
され、フィルタ処理されて、ディジタル化される。具体
的には、送受信スイッチ154はパルス発生器モジュー
ル121からの信号によって制御されて、送信モード時
にはRF電力増幅器151をRFコイルに電気的に接続
し、受信モード時には前置増幅器153に接続する。送
受信スイッチ154はまた、後に詳述するように、送信
モード又は受信モードのいずれの場合にも用いられる本
発明の別個のRF較正コイルをイネーブルにする。同様
に、送受信スイッチ138はパルス発生器モジュール1
21からの信号によって制御されて、送信モード時には
送信器134をRFコイルに電気的に接続し、受信モー
ド時には前置増幅器132に接続する。プローブ・シム
調整及びデータ取得に好ましいタイミング系列を図3に
示す。
ール150がRFパルスを発生し、これらのRFパルス
はRF増幅器151によって増幅されて、送受信スイッ
チ154によって磁石アセンブリ141内のRFコイル
に結合される。この結果として、患者の体内の励起した
核によって発生された信号は、同じRFコイルによって
検知することができて、送受信スイッチ138及び15
4を介してそれぞれの前置増幅器132及び153に結
合される。増幅されたNMR信号は、送受信器モジュー
ル150の受信器部(図示されていない)において復調
され、フィルタ処理されて、ディジタル化される。具体
的には、送受信スイッチ154はパルス発生器モジュー
ル121からの信号によって制御されて、送信モード時
にはRF電力増幅器151をRFコイルに電気的に接続
し、受信モード時には前置増幅器153に接続する。送
受信スイッチ154はまた、後に詳述するように、送信
モード又は受信モードのいずれの場合にも用いられる本
発明の別個のRF較正コイルをイネーブルにする。同様
に、送受信スイッチ138はパルス発生器モジュール1
21からの信号によって制御されて、送信モード時には
送信器134をRFコイルに電気的に接続し、受信モー
ド時には前置増幅器132に接続する。プローブ・シム
調整及びデータ取得に好ましいタイミング系列を図3に
示す。
【0017】RFコイルによって検知されたNMR信号
は、送受信器モジュール150によってディジタル化さ
れてシステム制御部122内のメモリ・モジュール16
0へ転送される。走査が完了してデータ・アレイの全体
がメモリ・モジュール160内に取得されたら、アレイ
・プロセッサ161が動作して、このデータを画像デー
タ・アレイへ変換する。この画像データは、シリアル・
リンク115を介してコンピュータ・システム107へ
伝送されて、ここで、ディスク記憶装置111に記憶さ
れる。操作者コンソール100から受け取った命令に応
答して、この画像データを外部のテープ・ドライブ11
2に保管してもよいし、又は画像プロセッサ・モジュー
ル106によってさらに処理して操作者コンソール10
0へ伝送して、表示器104に表示してもよい。
は、送受信器モジュール150によってディジタル化さ
れてシステム制御部122内のメモリ・モジュール16
0へ転送される。走査が完了してデータ・アレイの全体
がメモリ・モジュール160内に取得されたら、アレイ
・プロセッサ161が動作して、このデータを画像デー
タ・アレイへ変換する。この画像データは、シリアル・
リンク115を介してコンピュータ・システム107へ
伝送されて、ここで、ディスク記憶装置111に記憶さ
れる。操作者コンソール100から受け取った命令に応
答して、この画像データを外部のテープ・ドライブ11
2に保管してもよいし、又は画像プロセッサ・モジュー
ル106によってさらに処理して操作者コンソール10
0へ伝送して、表示器104に表示してもよい。
【0018】図1及び図2について詳細に説明する。送
受信器モジュール150は、RF電力増幅器151を介
して第1のコイル152AにおいてRF励起磁場B1 を
発生すると共に、第2のコイル152Bに誘導された結
果のNMR信号を受信する。上述のように、コイル15
2A及びコイル152Bは、図2に示すような分離型で
あってもよいし、又は図7に示すような単体の全身型コ
イルであってもよい。RF励起磁場の基本周波数すなわ
ち搬送周波数は、CPUモジュール119及びパルス発
生器モジュール121から一組のディジタル信号を受信
している周波数合成器200の制御下で発生される。こ
れらのディジタル信号は、出力201において発生され
るRF搬送波信号の周波数及び位相を指示している。命
令に従って発生されたRF搬送波は変調器及びアップ・
コンバータ202に印加され、ここで、その振幅は、パ
ルス発生器モジュール121から受信された信号R
(t)に応答して変調される。信号R(t)は、発生さ
れるべきRF励起パルスの包絡線を画定しており、記憶
されている一連のディジタル値を相次いで読み出すこと
によりパルス発生器モジュール121内で発生されてい
る。これらの記憶されているディジタル値はまた、操作
者コンソール100から変更してもよく、所望の任意の
RFパルス包絡線を発生することを可能にしている。
受信器モジュール150は、RF電力増幅器151を介
して第1のコイル152AにおいてRF励起磁場B1 を
発生すると共に、第2のコイル152Bに誘導された結
果のNMR信号を受信する。上述のように、コイル15
2A及びコイル152Bは、図2に示すような分離型で
あってもよいし、又は図7に示すような単体の全身型コ
イルであってもよい。RF励起磁場の基本周波数すなわ
ち搬送周波数は、CPUモジュール119及びパルス発
生器モジュール121から一組のディジタル信号を受信
している周波数合成器200の制御下で発生される。こ
れらのディジタル信号は、出力201において発生され
るRF搬送波信号の周波数及び位相を指示している。命
令に従って発生されたRF搬送波は変調器及びアップ・
コンバータ202に印加され、ここで、その振幅は、パ
ルス発生器モジュール121から受信された信号R
(t)に応答して変調される。信号R(t)は、発生さ
れるべきRF励起パルスの包絡線を画定しており、記憶
されている一連のディジタル値を相次いで読み出すこと
によりパルス発生器モジュール121内で発生されてい
る。これらの記憶されているディジタル値はまた、操作
者コンソール100から変更してもよく、所望の任意の
RFパルス包絡線を発生することを可能にしている。
【0019】出力205において発生されたRF励起パ
ルスの振幅は、バックプレーン118からディジタル命
令TAを受信している励起用減衰器回路206によって
減衰される。減衰されたRF励起パルスは、RFコイル
152Aを駆動するRF電力増幅器151に印加され
る。送受信器モジュール150のこの部分については、
米国特許第4,952,877号にさらに詳細に記載さ
れている。本特許はここに参照されるべきものである。
ルスの振幅は、バックプレーン118からディジタル命
令TAを受信している励起用減衰器回路206によって
減衰される。減衰されたRF励起パルスは、RFコイル
152Aを駆動するRF電力増幅器151に印加され
る。送受信器モジュール150のこの部分については、
米国特許第4,952,877号にさらに詳細に記載さ
れている。本特許はここに参照されるべきものである。
【0020】図1及び図2の説明を続ける。被検体によ
って発生されたNMR信号は、受信用コイル152Bに
よって検知されて、前置増幅器153を介して受信器減
衰器207の入力に印加される。受信器減衰器207
は、バックプレーン118から受信されるディジタル減
衰信号RAによって決定されている量だけ信号をさらに
増幅する。
って発生されたNMR信号は、受信用コイル152Bに
よって検知されて、前置増幅器153を介して受信器減
衰器207の入力に印加される。受信器減衰器207
は、バックプレーン118から受信されるディジタル減
衰信号RAによって決定されている量だけ信号をさらに
増幅する。
【0021】受信される信号は、ラーモア周波数又はそ
れに近い周波数にあり、この高周波信号は、ダウン・コ
ンバータ208によって次の二段階の処理で下降変換
(ダウン・コンバート)される。すなわち、先ず、NM
R信号を線201の搬送波信号と混成し、次いで、得ら
れた差信号を線204の2.5MHzの基準信号と混成
する。前述のように、線201の搬送波信号の位相は、
パルス発生器モジュール121から受信された位相命令
に応答して周波数合成器200によって制御されてい
る。好適実施例を実施するためには、この位相命令を、
分極用磁場B0 の強度の変化を相殺すなわち補償するよ
うにデータの取得中に変化させる。
れに近い周波数にあり、この高周波信号は、ダウン・コ
ンバータ208によって次の二段階の処理で下降変換
(ダウン・コンバート)される。すなわち、先ず、NM
R信号を線201の搬送波信号と混成し、次いで、得ら
れた差信号を線204の2.5MHzの基準信号と混成
する。前述のように、線201の搬送波信号の位相は、
パルス発生器モジュール121から受信された位相命令
に応答して周波数合成器200によって制御されてい
る。好適実施例を実施するためには、この位相命令を、
分極用磁場B0 の強度の変化を相殺すなわち補償するよ
うにデータの取得中に変化させる。
【0022】下降変換されたNMR信号は、アナログ・
ディジタル(A/D)変換器209の入力に印加され、
A/D変換器209は、アナログ信号をサンプリングし
てディジタル化してディジタル検出器及び信号プロセッ
サ210に印加し、ディジタル検出器及び信号プロセッ
サ210は、受信信号に対応する16ビットの同相
(I)値及び16ビットの直角位相(Q)値を生成す
る。受信信号についてのディジタル化されたI値及びQ
値から成る得られたストリームは、バックプレーン11
8を介してメモリ・モジュール160へ出力され、ここ
で画像を再構成するのに用いられる。
ディジタル(A/D)変換器209の入力に印加され、
A/D変換器209は、アナログ信号をサンプリングし
てディジタル化してディジタル検出器及び信号プロセッ
サ210に印加し、ディジタル検出器及び信号プロセッ
サ210は、受信信号に対応する16ビットの同相
(I)値及び16ビットの直角位相(Q)値を生成す
る。受信信号についてのディジタル化されたI値及びQ
値から成る得られたストリームは、バックプレーン11
8を介してメモリ・モジュール160へ出力され、ここ
で画像を再構成するのに用いられる。
【0023】2.5MHzの基準信号、250kHzの
サンプリング信号、並びに5MHz、10MHz及び6
0MHzの基準信号は、共通の20MHzマスタ・クロ
ック信号から基準周波数発生器203によって発生され
ている。受信器については、米国特許第4,992,7
36号にさらに詳細に記載されている。本特許はここに
参照されるべきものである。
サンプリング信号、並びに5MHz、10MHz及び6
0MHzの基準信号は、共通の20MHzマスタ・クロ
ック信号から基準周波数発生器203によって発生され
ている。受信器については、米国特許第4,992,7
36号にさらに詳細に記載されている。本特許はここに
参照されるべきものである。
【0024】MRIシステムの付近を通過する移動する
金属(すなわち自動車、トラック、エレベータ、列車
等)により、分極用磁場B0 の強度が時間の関数B
0 (t)として変化する。時間の関数として、移動する
物体による分極用磁場B0 (t)の変動は、分極用磁場
B0 が0.5秒間乃至2.0秒間の経過にわたって滑ら
かに変化するような低周波の関数となる傾向にある。ベ
ースラインの分極用磁場B0からのピーク変位は、数H
z(自動車)から数十Hz又は場合によっては数百Hz
(トラック及びさらに大型のもの)にわたって変動し得
る。分極用磁場B0 のこの変動は、磁気振動から観測さ
れるゆらぎ(1Hz〜100Hz)よりも遥かに遅いの
で、監視エコーを用いて分極用磁場B0 を測定して、観
測された周波数変化を先行的に(送受信器の基準周波数
の周波数シフト)又は画像再構成時に遡及的に補償する
ことにより上述の相対的に遅い分極用磁場B0 のゆらぎ
を補償し得るという判断が導かれる。
金属(すなわち自動車、トラック、エレベータ、列車
等)により、分極用磁場B0 の強度が時間の関数B
0 (t)として変化する。時間の関数として、移動する
物体による分極用磁場B0 (t)の変動は、分極用磁場
B0 が0.5秒間乃至2.0秒間の経過にわたって滑ら
かに変化するような低周波の関数となる傾向にある。ベ
ースラインの分極用磁場B0からのピーク変位は、数H
z(自動車)から数十Hz又は場合によっては数百Hz
(トラック及びさらに大型のもの)にわたって変動し得
る。分極用磁場B0 のこの変動は、磁気振動から観測さ
れるゆらぎ(1Hz〜100Hz)よりも遥かに遅いの
で、監視エコーを用いて分極用磁場B0 を測定して、観
測された周波数変化を先行的に(送受信器の基準周波数
の周波数シフト)又は画像再構成時に遡及的に補償する
ことにより上述の相対的に遅い分極用磁場B0 のゆらぎ
を補償し得るという判断が導かれる。
【0025】移動する金属物体によって生ずる分極用磁
場の変化B0 (t)は、取得されるNMR信号S(t)
に位相シフトを生ずる。NMR信号S(t)は偽の位相
シフトを蓄積し、これらの位相シフトは生のk空間デー
タに出現して、再構成画像にゴースト又はボケのアーテ
ィファクトを生ずる。位相シフトΔφはB0 (t)の積
分すなわち Δφ=γ∫ΔB0(t)dt として蓄積す
る。これらの位相シフトは、RF励起パルスの印加に始
まりデータ取得まで延在するグラディエント・リコール
ド・エコー方式の撮像用パルス・シーケンスの実行中に
絶えず蓄積する。このように、グラディエント・エコー
走査は、長いエコー時間TEにおいては特に、移動する
金属に極めて敏感である。
場の変化B0 (t)は、取得されるNMR信号S(t)
に位相シフトを生ずる。NMR信号S(t)は偽の位相
シフトを蓄積し、これらの位相シフトは生のk空間デー
タに出現して、再構成画像にゴースト又はボケのアーテ
ィファクトを生ずる。位相シフトΔφはB0 (t)の積
分すなわち Δφ=γ∫ΔB0(t)dt として蓄積す
る。これらの位相シフトは、RF励起パルスの印加に始
まりデータ取得まで延在するグラディエント・リコール
ド・エコー方式の撮像用パルス・シーケンスの実行中に
絶えず蓄積する。このように、グラディエント・エコー
走査は、長いエコー時間TEにおいては特に、移動する
金属に極めて敏感である。
【0026】本発明の装置及び方法を用いて、監視用N
MR信号の周波数を走査中に周期的に測定し、次いで、
この情報を用いて、後続の較正段階として走査中に取得
されているNMRデータを補償することにより、移動す
る金属による分極用磁場B0の変動を補償することがで
きる。好適実施例では、これらの監視用NMR信号は、
図4に示す独立した監視用パルス・シーケンスによって
発生され、このパルス・シーケンスにおいて、図7に示
す監視コイル・アセンブリ400から監視信号が取得さ
れる。この監視用パルス・シーケンスは、NMR監視信
号が走査中に50ミリ秒乃至100ミリ秒毎に取得され
るように、撮像用パルス・シーケンスの間に挿入(イン
タリーブ)される。後述するように、取得されたNMR
監視信号を処理し、この信号を用いて送受信器モジュー
ル150において用いられる基準周波数を調節する。後
に詳述するように、監視コイル・アセンブリ400は好
ましくは、xy平面内に配設されて別個にシム調整され
る。このようなものとして、本発明は、別個のシム調整
という要件を設けることにより、撮像領域を従来の態様
でシム調整し、補助的なシム調整対象領域を後続の較正
段階でシム調整する。
MR信号の周波数を走査中に周期的に測定し、次いで、
この情報を用いて、後続の較正段階として走査中に取得
されているNMRデータを補償することにより、移動す
る金属による分極用磁場B0の変動を補償することがで
きる。好適実施例では、これらの監視用NMR信号は、
図4に示す独立した監視用パルス・シーケンスによって
発生され、このパルス・シーケンスにおいて、図7に示
す監視コイル・アセンブリ400から監視信号が取得さ
れる。この監視用パルス・シーケンスは、NMR監視信
号が走査中に50ミリ秒乃至100ミリ秒毎に取得され
るように、撮像用パルス・シーケンスの間に挿入(イン
タリーブ)される。後述するように、取得されたNMR
監視信号を処理し、この信号を用いて送受信器モジュー
ル150において用いられる基準周波数を調節する。後
に詳述するように、監視コイル・アセンブリ400は好
ましくは、xy平面内に配設されて別個にシム調整され
る。このようなものとして、本発明は、別個のシム調整
という要件を設けることにより、撮像領域を従来の態様
でシム調整し、補助的なシム調整対象領域を後続の較正
段階でシム調整する。
【0027】より明確に述べると、本発明は、撮像領域
及び小さいサンプリング領域の両方について磁場の非一
様性を補償する。従来の「静的」シム調整では、両方の
領域で良質のシム調整を行うという要件を達成すること
は、全く不可能ではないまでも極めて困難である。本発
明では、シム調整の要件を分離し、これにより、撮像領
域を従来の態様でシム調整し、後続のシステムの較正段
階として補助的なシム調整対象領域を設定する。本発明
によれば、電気的な磁場シム調整システムが、パルス式
シム調整を用いて、撮像と監視信号の取得との間を切り
換える。従って、図3に示すように、補助的シム調整が
撮像中には停止して画像領域におけるシム調整が補助的
シム調整の影響を受けないので、画像領域におけるシム
調整の品質が向上する。このように、本発明は、有用性
のある監視信号の取得を可能にするように適当な磁場を
保持しつつ、MRI磁石のシム調整対象空間の外部に専
用の監視用プローブを設ける。これらの信号により、移
動する金属物体によって生ずる磁場ドリフト及び磁場誤
差を補償する。
及び小さいサンプリング領域の両方について磁場の非一
様性を補償する。従来の「静的」シム調整では、両方の
領域で良質のシム調整を行うという要件を達成すること
は、全く不可能ではないまでも極めて困難である。本発
明では、シム調整の要件を分離し、これにより、撮像領
域を従来の態様でシム調整し、後続のシステムの較正段
階として補助的なシム調整対象領域を設定する。本発明
によれば、電気的な磁場シム調整システムが、パルス式
シム調整を用いて、撮像と監視信号の取得との間を切り
換える。従って、図3に示すように、補助的シム調整が
撮像中には停止して画像領域におけるシム調整が補助的
シム調整の影響を受けないので、画像領域におけるシム
調整の品質が向上する。このように、本発明は、有用性
のある監視信号の取得を可能にするように適当な磁場を
保持しつつ、MRI磁石のシム調整対象空間の外部に専
用の監視用プローブを設ける。これらの信号により、移
動する金属物体によって生ずる磁場ドリフト及び磁場誤
差を補償する。
【0028】図4について詳細に説明する。監視用パル
ス・シーケンスは、90°のフリップ角及び0.5ミリ
秒の持続時間を有する非選択的RF励起パルス10を含
んでいる。RF励起パルス10は、そこから監視信号が
取得されるスピンの周波数に対応するように設定された
周波数を有する。RF励起パルス10の停止の後に、シ
ステムは可能な限り高速(約200マイクロ秒)で受信
モードに切り換わり、NMR監視信号12が取得され
る。全部で256個のモニタ信号12のサンプルが、1
6マイクロ秒毎に1サンプルずつの割合で取得される。
前述のように、各々のサンプルのI値及びQ値をメモリ
・モジュール160に記憶させることができる。
ス・シーケンスは、90°のフリップ角及び0.5ミリ
秒の持続時間を有する非選択的RF励起パルス10を含
んでいる。RF励起パルス10は、そこから監視信号が
取得されるスピンの周波数に対応するように設定された
周波数を有する。RF励起パルス10の停止の後に、シ
ステムは可能な限り高速(約200マイクロ秒)で受信
モードに切り換わり、NMR監視信号12が取得され
る。全部で256個のモニタ信号12のサンプルが、1
6マイクロ秒毎に1サンプルずつの割合で取得される。
前述のように、各々のサンプルのI値及びQ値をメモリ
・モジュール160に記憶させることができる。
【0029】ここで、図5について説明する。本発明の
方法を実施する第一段階は、処理ブロック300に示す
ように、補償すべき画像データと共に監視信号データを
取得するものである。監視データは、処理ブロック30
2に示すように、先ず各々のサンプルの大きさを次式 M=(I2+Q2)1/2 によって算出することにより、速やかに処理される。次
いで、処理ブロック304に示すように、各々の監視信
号サンプルの位相を次式 φ=tan-1(I/Q) によって算出する。好適実施例では、この計算には「a
tan2]のCコード呼び出しを用いる。
方法を実施する第一段階は、処理ブロック300に示す
ように、補償すべき画像データと共に監視信号データを
取得するものである。監視データは、処理ブロック30
2に示すように、先ず各々のサンプルの大きさを次式 M=(I2+Q2)1/2 によって算出することにより、速やかに処理される。次
いで、処理ブロック304に示すように、各々の監視信
号サンプルの位相を次式 φ=tan-1(I/Q) によって算出する。好適実施例では、この計算には「a
tan2]のCコード呼び出しを用いる。
【0030】次いで、処理ブロック306に示すよう
に、256個の監視信号サンプルの各々について算出さ
れた位相値φを直線に当てはめる(フィットさせる)。
この工程を実行するためには加重付き最小自乗法フィッ
ト・サブルーチンが用いられ、このサブルーチンではス
テップ302において算出された大きさの値を用いて位
相値に加重する。次いで、処理ブロック308に示すよ
うに、測定された位相値にフィットさせられた直線の傾
きを用いて監視信号の周波数(f)が次式 f=Δφ/Δt によって算出される。このようにして、位相対時間値の
傾きを決定するフィルタ関数を用いて周波数(f)が決
定され、信号の位相が2πの位相の移行を経る場合には
いわゆる位相巻き戻し方法(phase unwrapping method)
を用いる。周波数(f)は、監視信号が取得された瞬間
での分極用磁場の値B0 において励起したスピンのラー
モア周波数となっている。次いで、処理ブロック310
に示すように、この周波数(f)を用いて、以下に記載
する手法の一つを用いて、取得された画像データを補償
する。
に、256個の監視信号サンプルの各々について算出さ
れた位相値φを直線に当てはめる(フィットさせる)。
この工程を実行するためには加重付き最小自乗法フィッ
ト・サブルーチンが用いられ、このサブルーチンではス
テップ302において算出された大きさの値を用いて位
相値に加重する。次いで、処理ブロック308に示すよ
うに、測定された位相値にフィットさせられた直線の傾
きを用いて監視信号の周波数(f)が次式 f=Δφ/Δt によって算出される。このようにして、位相対時間値の
傾きを決定するフィルタ関数を用いて周波数(f)が決
定され、信号の位相が2πの位相の移行を経る場合には
いわゆる位相巻き戻し方法(phase unwrapping method)
を用いる。周波数(f)は、監視信号が取得された瞬間
での分極用磁場の値B0 において励起したスピンのラー
モア周波数となっている。次いで、処理ブロック310
に示すように、この周波数(f)を用いて、以下に記載
する手法の一つを用いて、取得された画像データを補償
する。
【0031】一つの好適実施例では、測定されたラーモ
ア周波数(f)を後続の画像データの取得中に利用す
る。図2を参照して述べると、周波数(f)は、線20
1上のRF搬送波信号の周波数を制御するための送受信
器モジュール150内の周波数合成器200への命令と
して出力される。この搬送波信号は、後続の撮像用パル
ス・シーケンスによって発生されるRF励起パルスの中
心周波数を決定すると共に、後続のNMR信号を取得す
るのに用いられる復調周波数を決定する。この実時間の
補償手法により、NMR信号が取得される前に分極用磁
場B0 の変動が補正される。図4の独立した監視用パル
ス・シーケンスを用いる場合には、次の監視信号が取得
されて処理されるまでの走査中に50ミリ秒乃至100
ミリ秒の時間にわたって補正後の搬送波周波数(f)を
用いることが好ましい。このようにして走査中に分極用
磁場関数の変動B0 (t)が測定されて、搬送波周波数
(f)は、取得されるNMR画像データが影響を受けな
いような態様で変更される。分極用磁場B0 (t)が測
定される速度が速まるほど補償の精度が高まる。
ア周波数(f)を後続の画像データの取得中に利用す
る。図2を参照して述べると、周波数(f)は、線20
1上のRF搬送波信号の周波数を制御するための送受信
器モジュール150内の周波数合成器200への命令と
して出力される。この搬送波信号は、後続の撮像用パル
ス・シーケンスによって発生されるRF励起パルスの中
心周波数を決定すると共に、後続のNMR信号を取得す
るのに用いられる復調周波数を決定する。この実時間の
補償手法により、NMR信号が取得される前に分極用磁
場B0 の変動が補正される。図4の独立した監視用パル
ス・シーケンスを用いる場合には、次の監視信号が取得
されて処理されるまでの走査中に50ミリ秒乃至100
ミリ秒の時間にわたって補正後の搬送波周波数(f)を
用いることが好ましい。このようにして走査中に分極用
磁場関数の変動B0 (t)が測定されて、搬送波周波数
(f)は、取得されるNMR画像データが影響を受けな
いような態様で変更される。分極用磁場B0 (t)が測
定される速度が速まるほど補償の精度が高まる。
【0032】補償の精度を高めるために高速で監視信号
を取得する場合に、先行的な補償手法を具現化するのに
十分なだけ速く送受信器の搬送波周波数を変更するのは
無理な場合がある。このような応用では、好ましい補償
手法は、k空間画像データが取得された後にこの取得さ
れたデータを「遡及的」に補正するものとなる。
を取得する場合に、先行的な補償手法を具現化するのに
十分なだけ速く送受信器の搬送波周波数を変更するのは
無理な場合がある。このような応用では、好ましい補償
手法は、k空間画像データが取得された後にこの取得さ
れたデータを「遡及的」に補正するものとなる。
【0033】図6について詳細に説明する。遡及的な補
償手法は、k空間画像データが取得されて記憶された後
に、この取得されたk空間画像データの位相を変更す
る。処理ブロック312に示す第一段階は、分極用磁場
B0 の変化に起因する周波数誤差を算出するものであ
る。この処理は、分極用磁場B0 が摂動を受けていない
基準値にあるときに発生される基準ラーモア周波数(f
0 )を、同時取得されたNMR監視信号によって測定さ
れたラーモア周波数(f)から減算することにより実行
される。基準値は、時間にわたる平均値であるか、或い
は予め選択しておくこともできる。次いで、処理ブロッ
ク314に示すように、この周波数誤差Δfによって生
ずる位相誤差を算出する。処理ブロック316に示すよ
うに、NMR画像信号の各々の複素(I、Q)サンプル
に対して位相補正−Δφを施す。k空間画像データ集合
に含まれる取得された各々のNMR画像信号に対して、
関連するNMR監視信号から導出される周波数情報を用
いて同様の補正を施す。次いで、処理ブロック318に
示すように、補償されたk空間データを用いて画像が再
構成される。
償手法は、k空間画像データが取得されて記憶された後
に、この取得されたk空間画像データの位相を変更す
る。処理ブロック312に示す第一段階は、分極用磁場
B0 の変化に起因する周波数誤差を算出するものであ
る。この処理は、分極用磁場B0 が摂動を受けていない
基準値にあるときに発生される基準ラーモア周波数(f
0 )を、同時取得されたNMR監視信号によって測定さ
れたラーモア周波数(f)から減算することにより実行
される。基準値は、時間にわたる平均値であるか、或い
は予め選択しておくこともできる。次いで、処理ブロッ
ク314に示すように、この周波数誤差Δfによって生
ずる位相誤差を算出する。処理ブロック316に示すよ
うに、NMR画像信号の各々の複素(I、Q)サンプル
に対して位相補正−Δφを施す。k空間画像データ集合
に含まれる取得された各々のNMR画像信号に対して、
関連するNMR監視信号から導出される周波数情報を用
いて同様の補正を施す。次いで、処理ブロック318に
示すように、補償されたk空間データを用いて画像が再
構成される。
【0034】ここで図7の監視コイル・アセンブリ40
0を参照すると、監視コイル・アセンブリ400は、N
MRサンプル402と、NMRサンプル402の周囲に
配設されている監視コイル404と、監視コイル404
に隣接して配置されている一組のシム・コイル406
と、コイル406に電流を生じさせて監視コイル404
の直近部で分極用磁場B0 をシム調整するように、監視
データの取得中にMRIシステムによって動作させるこ
とができる一組のシム増幅器136(図1を参照)とを
含んでいる。
0を参照すると、監視コイル・アセンブリ400は、N
MRサンプル402と、NMRサンプル402の周囲に
配設されている監視コイル404と、監視コイル404
に隣接して配置されている一組のシム・コイル406
と、コイル406に電流を生じさせて監視コイル404
の直近部で分極用磁場B0 をシム調整するように、監視
データの取得中にMRIシステムによって動作させるこ
とができる一組のシム増幅器136(図1を参照)とを
含んでいる。
【0035】より明確に述べると、図1に示すように、
監視コイル・アセンブリ404は好ましくは、形状が円
筒形であり、シム・コイル406はNMRサンプル40
2の頂部及び底部でNMRサンプル402を包囲してい
る。一組のシム・コイル406は、NMRサンプル40
2及び監視コイル404がシム・コイル406に挟まれ
るようにして監視コイル404に隣接して配設されてい
る。複数のシム・コイル406はそれぞれ頂部層408
及び底部層410を含んでおり、各々の層が、x方向に
シム調整する最頂部コイル、y方向ににシム調整する第
二の層及びz方向にシム調整する第三の層を有してい
て、第二の層は第一の層と第三の層との間に介在してい
る。加えて、所謂Z2 方向にシム調整を行なうためにさ
らに高次のシム・コイルを設けてもよく、また、NMR
サンプル402は好ましくは、T1緩和時間及びT2 緩
和時間を約20ミリ秒とするような濃度のCuSO4 溶
液で充填されている。
監視コイル・アセンブリ404は好ましくは、形状が円
筒形であり、シム・コイル406はNMRサンプル40
2の頂部及び底部でNMRサンプル402を包囲してい
る。一組のシム・コイル406は、NMRサンプル40
2及び監視コイル404がシム・コイル406に挟まれ
るようにして監視コイル404に隣接して配設されてい
る。複数のシム・コイル406はそれぞれ頂部層408
及び底部層410を含んでおり、各々の層が、x方向に
シム調整する最頂部コイル、y方向ににシム調整する第
二の層及びz方向にシム調整する第三の層を有してい
て、第二の層は第一の層と第三の層との間に介在してい
る。加えて、所謂Z2 方向にシム調整を行なうためにさ
らに高次のシム・コイルを設けてもよく、また、NMR
サンプル402は好ましくは、T1緩和時間及びT2 緩
和時間を約20ミリ秒とするような濃度のCuSO4 溶
液で充填されている。
【0036】一組のシム・コイル406は、コイル巻型
の上に周知の手法を用いて構成することができる。例え
ば、コイル巻型は、コイル巻線を収容するように内部に
空間を機械加工した非導電性プラスチック材料又は複合
材料で構成されていてよい。但し、好適実施形態では、
シム・コイル406は、図8〜図10に示すプリント回
路基板上のパターンから成る。
の上に周知の手法を用いて構成することができる。例え
ば、コイル巻型は、コイル巻線を収容するように内部に
空間を機械加工した非導電性プラスチック材料又は複合
材料で構成されていてよい。但し、好適実施形態では、
シム・コイル406は、図8〜図10に示すプリント回
路基板上のパターンから成る。
【0037】従って、本発明の監視コイル・アセンブリ
400を用いて、分極用磁場B0 についてシム・コイル
406を整調する。図3〜図4に関連して前述したよう
に、監視コイル・アセンブリ400は、監視信号を取得
している間は作動(オン)に切り換わり、撮像信号を取
得している間は停止(オフ)に切り換わる。この切り換
え動作のタイミングは、パルス発生器モジュール121
によって発生される制御信号によって制御される。パル
ス発生器モジュール121はまた、監視信号及び撮像信
号の取得も制御する。
400を用いて、分極用磁場B0 についてシム・コイル
406を整調する。図3〜図4に関連して前述したよう
に、監視コイル・アセンブリ400は、監視信号を取得
している間は作動(オン)に切り換わり、撮像信号を取
得している間は停止(オフ)に切り換わる。この切り換
え動作のタイミングは、パルス発生器モジュール121
によって発生される制御信号によって制御される。パル
ス発生器モジュール121はまた、監視信号及び撮像信
号の取得も制御する。
【0038】好適実施形態では、前述の線形の磁場の非
一様性を補償するために、シム・コイル406は三つの
軸に線形勾配磁場を形成する。一般にZ2 コイル、Z3
コイル及びZ4 コイルと呼ばれているようなさらに高次
のシム・コイルを提案する代替的な実施形態をここに取
り入れてもよい。
一様性を補償するために、シム・コイル406は三つの
軸に線形勾配磁場を形成する。一般にZ2 コイル、Z3
コイル及びZ4 コイルと呼ばれているようなさらに高次
のシム・コイルを提案する代替的な実施形態をここに取
り入れてもよい。
【0039】図7の頂部層408は、それぞれGx 勾配
磁場、Gy 勾配磁場及びGz 勾配磁場に対応するxシム
・コイル、yシム・コイル及びzシム・コイルを含んで
いる。同様に、底部層410もまた、それぞれGx 勾配
磁場、Gy 勾配磁場及びGz勾配磁場に対応するxシム
・コイル、yシム・コイル及びzシム・コイルを含んで
いる。これらのシム・コイル406は、図1に示すシム
増幅器136によって駆動される。シム・コイル406
の内部でのこれらのシム・コイル406の巻線パターン
を図8〜図10に示し、以下に詳述する。
磁場、Gy 勾配磁場及びGz 勾配磁場に対応するxシム
・コイル、yシム・コイル及びzシム・コイルを含んで
いる。同様に、底部層410もまた、それぞれGx 勾配
磁場、Gy 勾配磁場及びGz勾配磁場に対応するxシム
・コイル、yシム・コイル及びzシム・コイルを含んで
いる。これらのシム・コイル406は、図1に示すシム
増幅器136によって駆動される。シム・コイル406
の内部でのこれらのシム・コイル406の巻線パターン
を図8〜図10に示し、以下に詳述する。
【0040】図8は、横断型(transverse)の線形シム・
コイル巻線パターンを示す。このパターンは、Gx 勾配
磁場及びGy 勾配磁場を形成するのに用いる。図示のコ
イル巻線パターンは、頂部層408及び底部層410で
同じであるが、Gx コイル及びGy コイルは互いに対し
て90°ずつ離隔するように回転している。電流は、頂
部層408及び底部層410で同じ方向に流れる。
コイル巻線パターンを示す。このパターンは、Gx 勾配
磁場及びGy 勾配磁場を形成するのに用いる。図示のコ
イル巻線パターンは、頂部層408及び底部層410で
同じであるが、Gx コイル及びGy コイルは互いに対し
て90°ずつ離隔するように回転している。電流は、頂
部層408及び底部層410で同じ方向に流れる。
【0041】図9は、Z線形シム・コイル巻線パターン
を示す。このパターンは、Gz 勾配磁場を形成するのに
用いる。このシム・コイル406の場合には、電流は、
頂部層408及び底部層410で反対の方向に流れる。
を示す。このパターンは、Gz 勾配磁場を形成するのに
用いる。このシム・コイル406の場合には、電流は、
頂部層408及び底部層410で反対の方向に流れる。
【0042】図10は、さらに高次のシム・コイル40
6、すなわちZ2コイル巻線パターンを示す。図示のコ
イル巻線パターンは頂部層408及び底部層410で同
じであり、電流は頂部層408及び底部層410で同方
向に流れる。
6、すなわちZ2コイル巻線パターンを示す。図示のコ
イル巻線パターンは頂部層408及び底部層410で同
じであり、電流は頂部層408及び底部層410で同方
向に流れる。
【0043】再び図1を参照して述べると、均一である
が患者の配置及び走査に干渉しないような領域に監視コ
イル・アセンブリ400を配置することが望ましい。従
って、好適実施形態では、このアセンブリは患者の下方
で且つRFコイルの平面内に配置され、例えばxy平面
内に配設される。
が患者の配置及び走査に干渉しないような領域に監視コ
イル・アセンブリ400を配置することが望ましい。従
って、好適実施形態では、このアセンブリは患者の下方
で且つRFコイルの平面内に配置され、例えばxy平面
内に配設される。
【図1】本発明を実施するように修正されている公知の
MRIシステムのブロック図である。
MRIシステムのブロック図である。
【図2】図1の送受信器モジュールの電気ブロック図で
ある。
ある。
【図3】プローブによるシム調整及びデータ取得のタイ
ミング系列図である。
ミング系列図である。
【図4】図1のMRIシステムに用いることのできる監
視信号用パルス・シーケンスの好適実施例のグラフ図で
ある。
視信号用パルス・シーケンスの好適実施例のグラフ図で
ある。
【図5】本発明の好適実施例を実施するのに用いられる
工程の流れ図である。
工程の流れ図である。
【図6】本発明のもう1つの好適実施例を実施するのに
用いられる追加の工程の流れ図である。
用いられる追加の工程の流れ図である。
【図7】様々な部分を取り除いて図1の監視コイル・ア
センブリを示す単純化した立面図である。
センブリを示す単純化した立面図である。
【図8】図7の監視コイル・アセンブリに用いられる線
形シム・コイル巻線パターンの図である。
形シム・コイル巻線パターンの図である。
【図9】図7の監視コイル・アセンブリに用いられるZ
線形シム・コイル巻線パターンの図である。
線形シム・コイル巻線パターンの図である。
【図10】図7の監視コイル・アセンブリに用いられる
Z2 シム・コイル巻線パターンの図である。
Z2 シム・コイル巻線パターンの図である。
10 非選択RF励起パルス 12 NMR監視信号 100 操作者コンソール 102 制御パネル 104 表示器 105、118 バックプレーン 111 ディスク記憶装置 112 テープ・ドライブ 115 高速シリアル・リンク 116、125 シリアル・リンク 141 磁石アセンブリ 152A、152B RFコイル 201、204、205 出力線 400 監視コイル・アセンブリ 402 NMRサンプル 404 監視コイル 406 シム・コイル 408 頂部層 410 底部層
フロントページの続き (72)発明者 リチャード・スコット・ヒンクス アメリカ合衆国、ウィスコンシン州、ワー ケシャー、タコマ・ドライブ、ダブリュー 226・エヌ174番 (72)発明者 ジョン・エドワード・ロルビエッキ アメリカ合衆国、ウィスコンシン州、ヒュ ーベルタス、バレー・ビュー・ドライブ、 1508番 Fターム(参考) 4C096 AA01 AB18 AD02 AD08 AD23 CA23 CA27 CA29 CC40 DA04
Claims (21)
- 【請求項1】 磁気共鳴イメージング・システムに用い
られる監視コイル・アセンブリ(400)であって、 信号を発生する核磁気共鳴サンプル(402)と、 該核磁気共鳴サンプルの周囲に配設されている無線周波
数コイル(404)と、 該監視コイル(404)に隣接して配設されている一組
のシム・コイル(406)と、 該一組のシム・コイル(406)に電流を生じさせて前
記監視コイルの直近部で分極用磁場をシム調整するよう
に、監視データの取得中に前記磁気共鳴イメージング・
システムにより動作させることができる一組のシム・コ
イル増幅器(136)と、を備えた監視コイル・アセン
ブリ。 - 【請求項2】 前記監視コイル(404)はxy平面に
配設されている請求項1に記載の監視コイル・アセンブ
リ。 - 【請求項3】 前記核磁気共鳴サンプル(402)はC
uSO4 溶液を含んでいる請求項1に記載の監視コイル
・アセンブリ。 - 【請求項4】 前記核磁気共鳴サンプル(402)は非
導電性材料に収容されている請求項1に記載の監視コイ
ル・アセンブリ。 - 【請求項5】 前記シム・コイル(406)はプリント
回路基板上のパターン(図8、9、10)を含んでいる
請求項1に記載の監視コイル・アセンブリ。 - 【請求項6】 前記プリント回路基板上の前記パターン
は線形シム・コイル巻線パターンを含んでいる請求項5
に記載の監視コイル・アセンブリ。 - 【請求項7】 前記プリント回路基板上の前記パターン
はZ線形シム・コイル巻線パターンを含んでいる請求項
5に記載の監視コイル・アセンブリ。 - 【請求項8】 前記プリント回路基板上の前記パターン
はZ2 シム・コイル巻線パターンを含んでいる請求項5
に記載の監視コイル・アセンブリ。 - 【請求項9】 前記プリント回路基板上の前記パターン
はZ3 シム・コイル巻線パターンを含んでいる請求項5
に記載の監視コイル・アセンブリ。 - 【請求項10】 磁気共鳴イメージング・システムによ
り被検体から画像を取得する方法であって、 そこから画像が再構成される画像データ(300)を取
得するように、前記磁気共鳴イメージング・システムに
より複数回にわたって撮像用パルス・シーケンスを実行
する工程と、 画像データの取得中の分極用磁場の変化を補償するため
に被検体の付近に配置されているRF監視コイル(40
4)からデータを取得するために、前記磁気共鳴イメー
ジング・システムにより複数の監視用パルス・シーケン
ス(図4)を実行し、これにより監視用パルス・シーケ
ンスを撮像用パルス・シーケンスにインタリーブさせ
る、監視用パルス・シーケンス実行工程と、 各回の監視用パルス・シーケンスの最中にシム・コイル
(406)に電流を生じさせることにより、前記RF監
視コイルの直近部で前記分極用磁場をシム調整する工程
と、を備えた方法。 - 【請求項11】 前記シム・コイル(406)は前記監
視用パルス・シーケンスの最中に作動する請求項10に
記載の方法。 - 【請求項12】 前記シム・コイル(406)は前記画
像パルス取得の最中に停止する請求項10に記載の方
法。 - 【請求項13】 前記監視コイル(404)は核磁気共
鳴サンプル(402)の周囲に配設されている請求項1
0に記載の方法。 - 【請求項14】 前記核磁気共鳴サンプル(402)は
非導電性材料に収容されている請求項13に記載の方
法。 - 【請求項15】 前記核磁気共鳴サンプル(402)は
CuSO4 溶液を含んでいる請求項13に記載の方法。 - 【請求項16】 前記シム・コイル(406)はプリン
ト回路基板上のパターン(図8、9、10)を含んでい
る請求項10に記載の方法。 - 【請求項17】 前記プリント回路基板上の前記パター
ンは線形シム・コイル巻線パターンを含んでいる請求項
16に記載の方法。 - 【請求項18】 前記プリント回路基板上の前記パター
ンはZ線形シム・コイル巻線パターンを含んでいる請求
項16に記載の方法。 - 【請求項19】 前記プリント回路基板上の前記パター
ンはZ2 線形シム・コイル巻線パターンを含んでいる請
求項16に記載の方法。 - 【請求項20】 監視データの取得中に前記磁気共鳴イ
メージング・システムにより動作させることができる一
組のシム・コイル増幅器(136)が、前記シム・コイ
ル(406)に電流を生じさせる請求項10に記載の方
法。 - 【請求項21】 前記シム・コイル(406)は前記監
視コイル(404)に隣接して配設されている請求項1
0に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/630,101 US6507190B1 (en) | 2000-08-01 | 2000-08-01 | Method and apparatus for compensating polarizing fields in magnetic resonance imaging |
US09/630101 | 2000-08-01 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002143127A true JP2002143127A (ja) | 2002-05-21 |
Family
ID=24525762
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001230720A Withdrawn JP2002143127A (ja) | 2000-08-01 | 2001-07-31 | 磁気共鳴撮像のための補償方法及び装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6507190B1 (ja) |
EP (1) | EP1178327A3 (ja) |
JP (1) | JP2002143127A (ja) |
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