JP2002141622A - Electronic circuit board - Google Patents

Electronic circuit board

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JP2002141622A
JP2002141622A JP2000334458A JP2000334458A JP2002141622A JP 2002141622 A JP2002141622 A JP 2002141622A JP 2000334458 A JP2000334458 A JP 2000334458A JP 2000334458 A JP2000334458 A JP 2000334458A JP 2002141622 A JP2002141622 A JP 2002141622A
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JP
Japan
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circuit board
temperature
thermistor
heat conduction
temperature detecting
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Application number
JP2000334458A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Niwa
啓之 丹羽
Takeshi Nitta
武志 仁田
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To decrease the thermal conductivity between a temperature detection element and a circuit board, and to improve temperature measurement accuracy by the temperature detection element even if the temperature detection element having a general shape is used at it is without changing the structure of the temperature detection element itself. SOLUTION: A thermal conductivity inhibition means 6 inhibits the thermal conduction between a peripheral circuit and the temperature detection element 1, and is provided around the packaging section of the temperature detection element 1 for detecting temperature in atmosphere.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、電子機器に用い
られる電子回路基板の分野に属し、特に温度検知素子の
基板への実装技術に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention belongs to the field of electronic circuit boards used for electronic equipment, and more particularly to a technique for mounting a temperature detecting element on a board.

【0002】[0002]

【従来の技術】温度検知素子であるサーミスタ(Thermi
stor)は、温度によって内部抵抗値が変化し、流れる電
流量が変わる素子であり、この特性を利用して、素子周
辺雰囲気の温度検出等に用いられる。このサーミスタを
温度検知回路に実装して使用する場合、回路基板上の他
の電子部品或いは配線パターンから発生した熱が回路基
板を伝導してサーミスタまで伝わり、雰囲気温度以上に
高温になることによって、検知温度に誤差が生じる場合
がある。
2. Description of the Related Art A thermistor (Thermi) which is a temperature sensing element
The stor) is an element in which the internal resistance value changes according to the temperature and the amount of flowing current changes, and this characteristic is used for detecting the temperature of the atmosphere around the element. When this thermistor is used by mounting it on a temperature detection circuit, the heat generated from other electronic components or wiring patterns on the circuit board is transmitted to the thermistor through the circuit board and becomes higher than the ambient temperature. An error may occur in the detected temperature.

【0003】これを防止するためには、サーミスタと回
路基板との間の熱伝導性を低下させる必要があるが、こ
のような従来技術の例として、例えば実開昭62−19
3703号公報に示された「突入電流抑制素子」があ
る。この例では、サーミスタを流れる電流量が多くなり
自己発熱により素子自身の温度が上昇し、回路基板が焼
損或いは熱劣化することを防止する方法が示されてい
る。
In order to prevent this, it is necessary to reduce the thermal conductivity between the thermistor and the circuit board.
There is a "rush current suppressing element" disclosed in Japanese Patent No. 3703. In this example, there is described a method of preventing the amount of current flowing through the thermistor from increasing, the temperature of the element itself increasing due to self-heating, and preventing the circuit board from being burnt or thermally degraded.

【0004】図6はその構造図を示している。10はデ
ィスク形のサーミスタ素子、20はサーミスタ素子10
の両面に設けられた電極、30はリード線、40はリー
ド線30の一部に設けられた圧延および貫通穴の加工部
である。
FIG. 6 shows a structural diagram thereof. 10 is a disk-shaped thermistor element, 20 is a thermistor element 10
The electrode 30 provided on both sides of the lead wire 30 is a lead wire, and the reference numeral 40 is a rolled and through-hole processed portion provided on a part of the lead wire 30.

【0005】加工部40が回路基板(図示せず)の部品
挿入穴に引っかかり、サーミスタ素子10が回路基板に
直接接触するのを防止するとともに、加工部40に設け
た貫通穴により、リード線30を通しての回路基板への
熱伝導性を低下させることにより、結果として回路基板
の焼損或いは熱劣化を防止している。
The processing section 40 is caught in a component insertion hole of a circuit board (not shown), thereby preventing the thermistor element 10 from directly contacting the circuit board. As a result, burnout or thermal deterioration of the circuit board is prevented.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来の
温度検知素子では、サーミスタ素子10と回路基板との
間の熱伝導性を低下させるために、リード線30の一部
に加工部40を設ける等、素子構造に改造を加えてい
る。このため、リード線30の加工形状の複雑化等によ
り部品のコストが増大してしまうという問題があった。
また、加工部40の存在により部品サイズが大きくな
り、回路基板への部品実装面積が増大してしまうという
問題があった。
As described above, in the conventional temperature sensing element, the processing portion 40 is formed on a part of the lead wire 30 in order to reduce the thermal conductivity between the thermistor element 10 and the circuit board. For example, the device structure is modified. For this reason, there has been a problem that the cost of parts increases due to the complicated processing shape of the lead wire 30 and the like.
In addition, there is a problem that the size of the component is increased due to the presence of the processing unit 40, and the component mounting area on the circuit board is increased.

【0007】本発明は上記のような問題点を解消するた
めになされたもので、温度検知素子自身の構造を変える
ことなく、一般形状の温度検知素子をそのまま使用した
場合においても、温度検知素子と回路基板間の熱伝導性
を低下させて、温度検知素子による温度測定精度を向上
することを目的としている。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems. Even when a temperature detecting element having a general shape is used as it is without changing the structure of the temperature detecting element itself, the temperature detecting element can be used. It is an object of the present invention to reduce the thermal conductivity between the substrate and the circuit board to improve the accuracy of temperature measurement by the temperature detecting element.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】この発明に係る電子回路
基板においては、雰囲気の温度検知を行う温度検知素子
の実装部の周辺に、周辺回路と温度検知素子との熱伝導
を抑制する熱伝導抑制手段を備えるようにしたものであ
る。
In an electronic circuit board according to the present invention, heat conduction is suppressed around a mounting portion of a temperature detecting element for detecting the temperature of an atmosphere, which suppresses heat conduction between a peripheral circuit and the temperature detecting element. This is provided with a suppressing means.

【0009】また、この発明に係る電子回路基板におい
ては、熱伝導抑制手段は、温度検知素子の実装部周辺の
導電部材を部分的に削除した構造を有するようにしたも
のである。
Also, in the electronic circuit board according to the present invention, the heat conduction suppressing means has a structure in which a conductive member around a mounting portion of the temperature detecting element is partially deleted.

【0010】また、この発明に係る電子回路基板におい
ては、熱伝導抑制手段は、温度検知素子の実装部周辺の
基板部材を部分的に削除した構造を有するようにしたも
のである。
Further, in the electronic circuit board according to the present invention, the heat conduction suppressing means has a structure in which a board member around a mounting portion of the temperature detecting element is partially removed.

【0011】また、この発明に係る電子回路基板におい
ては、特定素子の実装部と特定素子の温度検知を行う温
度検知素子の実装部との間に、特定素子と温度検知素子
との熱伝導を促進する熱伝導促進手段を備えるようにし
たものである。
Further, in the electronic circuit board according to the present invention, heat conduction between the specific element and the temperature detecting element is conducted between the mounting section of the specific element and the mounting section of the temperature detecting element for detecting the temperature of the specific element. The heat conduction promoting means is provided.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】実施の形態1.図1は、本発明の
実施の形態1を示す電子回路基板の斜視図である。図1
において、1は雰囲気温度の検知を行う温度検知素子と
してのサーミスタ素子、2はサーミスタ素子1の両面に
設けられた電極、3はリード線、4aはサーミスタ素子
1に電流を流すための配線パターン部、5はサーミスタ
が実装される回路基板、6は回路基板5の各層の金属膜
を除去した熱伝導抑制手段としてのパターン加工部であ
る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 FIG. 1 is a perspective view of an electronic circuit board according to Embodiment 1 of the present invention. FIG.
In the drawings, 1 is a thermistor element as a temperature detecting element for detecting an ambient temperature, 2 is an electrode provided on both surfaces of the thermistor element 1, 3 is a lead wire, and 4a is a wiring pattern section for flowing a current to the thermistor element 1. Reference numeral 5 denotes a circuit board on which the thermistor is mounted, and reference numeral 6 denotes a pattern processing section as a heat conduction suppressing means by removing the metal film of each layer of the circuit board 5.

【0013】図2は、実施の形態1のパターン加工部6
の詳細を示す断面図である。パターン加工部6は、リー
ド線3の回路基板5への接触部から同心円状に広がった
形状であり、回路基板5の各層で配線パターンに用いら
れている銅箔等の金属膜を削除した構造となっている。
サーミスタ素子1に電流を流すための配線パターン部4
aは、比較的に細いパターンによって少なくとも1ヶ所
よりパターン加工部6周辺の回路基板5へと接続されて
いる。尚、この配線パターン部4aは、サーミスタ素子
1のセンシング出力を得るためのものであり、従来から
存在しているものである。
FIG. 2 shows a pattern processing section 6 according to the first embodiment.
It is sectional drawing which shows the detail of. The pattern processing portion 6 has a shape concentrically spread from a contact portion of the lead wire 3 to the circuit board 5, and has a structure in which a metal film such as a copper foil used for a wiring pattern in each layer of the circuit board 5 is deleted. It has become.
Wiring pattern part 4 for flowing current to thermistor element 1
“a” is connected to the circuit board 5 around the pattern processing section 6 from at least one place by a relatively thin pattern. Note that the wiring pattern portion 4a is for obtaining a sensing output of the thermistor element 1, and has conventionally existed.

【0014】このようなパターン加工部6や配線パター
ン部4aは、通常のプリント基板の配線パターンの製作
工程により作成することができるため、回路パターンの
設計段階でパターン加工部6や配線パターン部4aの配
置を考慮することにより、容易に作成することができ
る。
Since the pattern processing section 6 and the wiring pattern section 4a can be formed by a normal process of manufacturing a wiring pattern of a printed circuit board, the pattern processing section 6 and the wiring pattern section 4a are formed at the stage of designing a circuit pattern. Can be easily created by considering the arrangement of

【0015】次に、動作について説明する。回路動作時
には、パターン加工部6周辺の回路基板5において電子
部品或いは配線パターンからの発熱が生じる。パターン
加工部6は、エポキシ樹脂等の基板自身の材質からな
り、これよりも熱伝導性の高い銅箔等の金属膜からなる
配線パターンを削除しているため、周辺に比べて熱伝導
性が低くなっている。このため、周辺の回路基板5から
リード線3を通じてサーミスタ素子1まで熱が伝導しに
くい構造となっている。
Next, the operation will be described. During circuit operation, heat is generated from electronic components or wiring patterns on the circuit board 5 around the pattern processing section 6. The pattern processing portion 6 is made of a material of the substrate itself such as epoxy resin, and the wiring pattern made of a metal film such as a copper foil having a higher thermal conductivity is omitted. It is lower. Therefore, the structure is such that heat is hardly conducted from the peripheral circuit board 5 to the thermistor element 1 through the lead wire 3.

【0016】また、パターン加工部6はリード線3の回
路基板5への接触部から同心円状に広がった形状をとる
ことにより、周辺の回路基板5の特定領域からの偏った
熱伝導を抑制し、リード線3を通じたサーミスタ素子1
の温度上昇を最小限に抑制することができる。
Further, the pattern processing portion 6 has a shape concentrically spread from the contact portion of the lead wire 3 to the circuit board 5, thereby suppressing uneven heat conduction from a specific region of the peripheral circuit board 5. Thermistor element 1 through lead wire 3
Can be minimized.

【0017】また、サーミスタ素子1に電流を流す配線
パターン部4aを比較的に細いパターンで構成すること
によって、回路基板5から配線パターン4aを通じて伝
導してくる熱の影響を極力抑制している。
Further, by forming the wiring pattern portion 4a for flowing current through the thermistor element 1 with a relatively thin pattern, the effect of heat conducted from the circuit board 5 through the wiring pattern 4a is suppressed as much as possible.

【0018】このように、実施の形態1によれば、雰囲
気の温度検知を行うサーミスタ素子1の実装部の周辺
に、周辺回路とサーミスタ素子1との熱伝導を抑制する
熱伝導抑制手段としてのパターン加工部6を備えるよう
にしたので、サーミスタ素子1周辺部の熱伝導性を低く
することができ、回路基板5を伝導してくる熱によるサ
ーミスタ素子1の温度上昇を抑制し、サーミスタ素子1
による雰囲気温度の測定精度を向上することができる。
As described above, according to the first embodiment, the heat conduction suppressing means for suppressing heat conduction between the peripheral circuit and the thermistor element 1 is provided around the mounting part of the thermistor element 1 for detecting the temperature of the atmosphere. Since the pattern processing section 6 is provided, the thermal conductivity around the thermistor element 1 can be reduced, and the temperature rise of the thermistor element 1 due to heat conducted through the circuit board 5 can be suppressed.
, The accuracy of measuring the ambient temperature can be improved.

【0019】また、実施の形態1によれば、パターン加
工部6は、サーミスタ素子1の実装部周辺の回路基板5
の各層の金属膜を部分的に削除した構造を有するように
したので、熱伝導性の高い金属膜を伝導してくる熱によ
るサーミスタ素子1の温度上昇を簡単な構造で抑制する
ことができる。
Further, according to the first embodiment, the pattern processing section 6 includes the circuit board 5 around the mounting section of the thermistor element 1.
Since the metal film of each layer is partially removed, the temperature rise of the thermistor element 1 due to heat conducted through the metal film having high thermal conductivity can be suppressed with a simple structure.

【0020】実施の形態2.図3は、本発明の実施の形
態2を示す電子回路基板の斜視図である。実施の形態1
では、回路基板5の各層の金属膜を削除したパターン加
工部6をサーミスタ周辺に構成したが、実施の形態2で
は、図3に示すように、回路基板5のサーミスタの実装
部周辺に熱伝導抑制手段として溝構造部7を形成し、回
路基板5とサーミスタとの熱伝導を遮断する構造をとる
ことにより、さらに低い熱伝導性を実現している。
Embodiment 2 FIG. 3 is a perspective view of an electronic circuit board according to Embodiment 2 of the present invention. Embodiment 1
In the above, the pattern processing portion 6 in which the metal film of each layer of the circuit board 5 is removed is formed around the thermistor. However, in the second embodiment, as shown in FIG. By forming the groove structure 7 as a suppressing means and adopting a structure for interrupting heat conduction between the circuit board 5 and the thermistor, even lower thermal conductivity is realized.

【0021】図4は、実施の形態2の溝構造部7の詳細
を示す断面図である。サーミスタ周辺の回路基板5を溝
状に切り抜いて、少なくとも1ヶ所で溝構造部7周辺の
回路基板5と接続する構造となっている。サーミスタ素
子1に電流を流すための配線パターン部4aは、溝構造
部7周辺の回路基板5との接続部分を通って周辺回路へ
接続されている。
FIG. 4 is a sectional view showing details of the groove structure 7 of the second embodiment. The circuit board 5 around the thermistor is cut into a groove shape and connected to the circuit board 5 around the groove structure 7 at at least one location. The wiring pattern portion 4a for flowing a current to the thermistor element 1 is connected to a peripheral circuit through a connection portion of the periphery of the groove structure portion 7 with the circuit board 5.

【0022】このような溝構造部7は、通常のプリント
基板の穴あけの製作工程により作成することができるた
め、回路基板5の設計段階で溝構造部7の配置を考慮す
ることにより、容易に作成することができる。
Since such a groove structure 7 can be formed by a normal manufacturing process of drilling a printed circuit board, it is easy to consider the arrangement of the groove structure 7 in the design stage of the circuit board 5. Can be created.

【0023】溝構造部7により、サーミスタ実装部周辺
の回路基板5自身を部分的に削除することにより、溝構
造部7周辺の回路基板5からサーミスタ素子1へ伝導し
てくる熱をほとんど遮断することが可能となり、より低
い熱伝導性を実現することができる。このため、溝構造
部7をリード線3の近傍まで近づけても、リード線3を
通じてのサーミスタ素子1の温度上昇は最小限に抑制す
ることができる。したがって、溝構造部7の大きさを小
さくすることができ、実装面積を低減することができ
る。
By partially removing the circuit board 5 around the thermistor mounting portion by the groove structure portion 7, heat conducted from the circuit board 5 around the groove structure portion 7 to the thermistor element 1 is almost blocked. And lower thermal conductivity can be achieved. For this reason, even if the groove structure 7 is brought close to the vicinity of the lead wire 3, the temperature rise of the thermistor element 1 through the lead wire 3 can be suppressed to a minimum. Therefore, the size of the groove structure 7 can be reduced, and the mounting area can be reduced.

【0024】このように、実施の形態2によれば、周辺
回路とサーミスタ素子1との熱伝導を抑制する熱伝導抑
制手段として、サーミスタ素子1の実装部周辺の基板部
材を部分的に削除した溝構造部7を備えるようにしたの
で、サーミスタ素子1周辺部の熱伝導性をさらに低くす
ることができ、回路基板5を伝導してくる熱によるサー
ミスタ素子1の温度上昇を一層抑制し、サーミスタ素子
1による雰囲気温度の測定精度をさらに向上することが
できる。
As described above, according to the second embodiment, a substrate member around the mounting portion of the thermistor element 1 is partially deleted as a means for suppressing heat conduction between the peripheral circuit and the thermistor element 1. Since the groove structure 7 is provided, the thermal conductivity around the thermistor element 1 can be further reduced, and the temperature rise of the thermistor element 1 due to heat conducted through the circuit board 5 can be further suppressed. The accuracy of measuring the ambient temperature by the element 1 can be further improved.

【0025】実施の形態3.実施の形態1或いは2で
は、サーミスタでの雰囲気温度測定の場合について述べ
たが、サーミスタをその他の電子部品の温度測定に利用
することも可能である。このような場合、従来は温度測
定をする電子部品の近傍にサーミスタを配置し、電子部
品から雰囲気への輻射熱をサーミスタで検知する方法が
とられていたが、測定精度が充分でない等の問題があっ
た。
Embodiment 3 In the first or second embodiment, the case of measuring the ambient temperature with a thermistor has been described. However, the thermistor can be used for measuring the temperature of other electronic components. In such a case, conventionally, a method has been adopted in which a thermistor is arranged near the electronic component for which temperature is to be measured, and the radiant heat from the electronic component to the atmosphere is detected by the thermistor. there were.

【0026】実施の形態3では、サーミスタで遠隔の電
子部品の温度測定を高精度に測定する場合の例を示す。
図5は、本発明の実施の形態3を示す電子回路基板の斜
視図である。4bは熱伝導促進手段として配置された配
線パターン部であり、8はサーミスタで温度測定をする
被測定電子部品である。
In the third embodiment, an example in which the temperature of a remote electronic component is measured with high accuracy by a thermistor will be described.
FIG. 5 is a perspective view of an electronic circuit board according to Embodiment 3 of the present invention. Reference numeral 4b denotes a wiring pattern portion arranged as a heat conduction promoting means, and reference numeral 8 denotes a measured electronic component whose temperature is measured by a thermistor.

【0027】被測定電子部品8で発生した熱は、配線パ
ターン部4bを伝導し、リード線3を通じてサーミスタ
素子1に到達する。また、サーミスタの実装部周辺に
は、実施の形態1で示した熱伝導抑制手段としてのパタ
ーン加工部6が存在するため、周辺の回路基板5からの
熱伝導は抑制されている。すなわち、サーミスタ素子1
には被測定電子部品8からの熱のみが配線パターン部4
bを通して伝導するため、被測定電子部品8の温度を高
精度に測定することができる。
The heat generated in the electronic component 8 to be measured is conducted through the wiring pattern portion 4 b and reaches the thermistor element 1 through the lead wire 3. Further, since the pattern processing portion 6 as the heat conduction suppressing means described in the first embodiment exists around the thermistor mounting portion, heat conduction from the peripheral circuit board 5 is suppressed. That is, the thermistor element 1
Only the heat from the electronic component 8 to be measured
Since the electric current is conducted through b, the temperature of the measured electronic component 8 can be measured with high accuracy.

【0028】また、サーミスタ素子1から離れた遠隔の
被測定電子部品8の温度に関しても、配線パターン部4
bの配置により、高精度に測定することができるので、
部品実装の自由度が向上する。
Further, regarding the temperature of the electronic component 8 to be measured remote from the thermistor element 1, the wiring pattern 4
Since the measurement can be performed with high accuracy by the arrangement of b,
The degree of freedom of component mounting is improved.

【0029】尚、図5では配線パターン部4bが、実施
の形態1の図1或いは実施の形態2の図3におけるサー
ミスタ素子1のセンシング出力を得るための配線パター
ン部4aを兼ねている場合の例を示しているが、配線パ
ターン部4aと配線パターン部4bを別々に配置しても
よい。
In FIG. 5, the wiring pattern portion 4b also functions as the wiring pattern portion 4a for obtaining the sensing output of the thermistor element 1 in FIG. 1 of the first embodiment or FIG. 3 of the second embodiment. Although an example is shown, the wiring pattern portion 4a and the wiring pattern portion 4b may be separately arranged.

【0030】また、熱伝導促進手段としての配線パター
ン部4bを、通常の銅よりも熱伝導性の高い銀等の材料
で構成したり、或いは断面積を通常よりも大きく構成す
ることで、被測定電子部品8とサーミスタ素子1との熱
伝導をさらに促進することができ、被測定電子部品8の
温度をより高精度に測定することができる。
Further, the wiring pattern portion 4b as the heat conduction promoting means is made of a material such as silver having higher heat conductivity than ordinary copper, or has a larger sectional area than usual, so that it can be covered. Heat conduction between the measurement electronic component 8 and the thermistor element 1 can be further promoted, and the temperature of the electronic component 8 to be measured can be measured with higher accuracy.

【0031】このように、実施の形態3によれば、被測
定電子部品8の実装部と被測定電子部品8の温度検知を
行うサーミスタ素子1の実装部との間に、被測定電子部
品8とサーミスタ素子1との熱伝導を促進する熱伝導促
進手段として配置された配線パターン部4bを備えるよ
うにしたので、サーミスタ素子1から遠隔の被測定電子
部品8の温度を高精度に測定することが可能となり、回
路基板5上の部品実装の自由度が向上する。
As described above, according to the third embodiment, the electronic component 8 to be measured is placed between the mounting portion of the electronic component 8 to be measured and the mounting portion of the thermistor element 1 for detecting the temperature of the electronic component 8 to be measured. Since the wiring pattern portion 4b provided as a heat conduction promoting means for promoting heat conduction between the thermistor element 1 and the thermistor element 1 is provided, the temperature of the electronic component 8 to be measured remote from the thermistor element 1 can be measured with high accuracy. And the degree of freedom in mounting components on the circuit board 5 is improved.

【0032】尚、実施の形態1から3では、温度検知素
子としてサーミスタを実装する電子回路基板の場合の例
を示したが、他の測温抵抗素子(温度により抵抗値が変
化する素子)や熱電対(温度により起電力が変化する素
子)等の温度検知素子を実装する電子回路基板において
本発明を適用しても良く、この場合でも同様の効果を得
ることができる。
In the first to third embodiments, an example of an electronic circuit board on which a thermistor is mounted as a temperature detecting element has been described. However, other temperature measuring resistance elements (elements whose resistance value changes with temperature) and The present invention may be applied to an electronic circuit board on which a temperature detecting element such as a thermocouple (an element whose electromotive force changes with temperature) is mounted. In this case, the same effect can be obtained.

【0033】[0033]

【発明の効果】このように本発明は、以上説明したよう
に構成されているので、以下に示すような効果がある。
As described above, the present invention is configured as described above, and has the following effects.

【0034】この発明に係る電子回路基板によれば、雰
囲気の温度検知を行う温度検知素子の実装部の周辺に、
周辺回路と温度検知素子との熱伝導を抑制する熱伝導抑
制手段を備えるようにしたので、温度検知素子周辺部の
熱伝導性を低くすることができ、基板を伝導してくる熱
による温度検知素子の温度上昇を抑制し、温度検知素子
による雰囲気温度の測定精度を向上することができると
いう効果がある。
[0034] According to the electronic circuit board of the present invention, around the mounting portion of the temperature detecting element for detecting the temperature of the atmosphere,
A heat conduction suppressing means for suppressing heat conduction between the peripheral circuit and the temperature detecting element is provided, so that the thermal conductivity around the temperature detecting element can be reduced, and temperature detection by heat conducted through the substrate can be performed. There is an effect that the temperature rise of the element can be suppressed and the accuracy of measuring the ambient temperature by the temperature detecting element can be improved.

【0035】また、この発明に係る電子回路基板によれ
ば、熱伝導抑制手段は、温度検知素子の実装部周辺の導
電部材を部分的に削除した構造を有するようにしたの
で、熱伝導性の高い導電部材を伝導してくる熱による温
度検知素子の温度上昇を簡単な構造で抑制し、温度検知
素子による雰囲気温度の測定精度を向上することができ
るという効果がある。
Further, according to the electronic circuit board of the present invention, the heat conduction suppressing means has a structure in which the conductive member around the mounting portion of the temperature sensing element is partially deleted, so that the heat conduction suppressing means has a low thermal conductivity. There is an effect that the temperature rise of the temperature detecting element due to heat conducted through the high conductive member can be suppressed with a simple structure, and the accuracy of measuring the ambient temperature by the temperature detecting element can be improved.

【0036】また、この発明に係る電子回路基板によれ
ば、熱伝導抑制手段は、温度検知素子の実装部周辺の基
板部材を部分的に削除した構造を有するようにしたの
で、温度検知素子周辺部の熱伝導性をさらに低くするこ
とができ、基板を伝導してくる熱による温度検知素子の
温度上昇を一層抑制し、温度検知素子による雰囲気温度
の測定精度をさらに向上することができるという効果が
ある。
Further, according to the electronic circuit board of the present invention, the heat conduction suppressing means has a structure in which the board member around the mounting portion of the temperature detecting element is partially removed, so that the temperature detecting element peripheral portion is removed. The heat conductivity of the part can be further reduced, the temperature rise of the temperature sensing element due to the heat conducted to the substrate can be further suppressed, and the accuracy of measuring the ambient temperature by the temperature sensing element can be further improved. There is.

【0037】また、この発明に係る電子回路基板によれ
ば、特定素子の実装部と特定素子の温度検知を行う温度
検知素子の実装部との間に、特定素子と温度検知素子と
の熱伝導を促進する熱伝導促進手段を備えるようにした
ので、温度検知素子から遠隔の特定素子の温度を測定す
ることが可能となり、電子回路基板上の素子の実装の自
由度が向上するという効果がある。
According to the electronic circuit board of the present invention, the heat conduction between the specific element and the temperature detecting element is provided between the mounting section of the specific element and the mounting section of the temperature detecting element for detecting the temperature of the specific element. Is provided with a heat conduction promoting means for promoting the temperature, so that the temperature of a specific element remote from the temperature detecting element can be measured, and the degree of freedom in mounting the element on the electronic circuit board is improved. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の実施の形態1を示す電子回路基板の
斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view of an electronic circuit board according to Embodiment 1 of the present invention.

【図2】 本発明の実施の形態1のパターン加工部の詳
細を示す断面図である。
FIG. 2 is a sectional view showing details of a pattern processing section according to the first embodiment of the present invention.

【図3】 本発明の実施の形態2を示す電子回路基板の
斜視図である。
FIG. 3 is a perspective view of an electronic circuit board according to Embodiment 2 of the present invention.

【図4】 本発明の実施の形態2の溝構造部の詳細を示
す断面図である。
FIG. 4 is a sectional view showing details of a groove structure according to a second embodiment of the present invention.

【図5】 本発明の実施の形態3を示す電子回路基板の
斜視図である。
FIG. 5 is a perspective view of an electronic circuit board according to Embodiment 3 of the present invention.

【図6】 従来の温度検知素子の例を示す構造図であ
る。
FIG. 6 is a structural diagram showing an example of a conventional temperature sensing element.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 サーミスタ素子、2 電極、3 リード線、4a
配線パターン部、4b配線パターン部、5 回路基板、
6 パターン加工部、7 溝構造部、8 被測定電子部
品、10 サーミスタ素子、20 電極、30 リード
線、40 加工部
1 thermistor element, 2 electrodes, 3 lead wires, 4a
Wiring pattern section, 4b wiring pattern section, 5 circuit board,
6 pattern processing part, 7 groove structure part, 8 electronic component to be measured, 10 thermistor element, 20 electrodes, 30 lead wire, 40 processing part

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 雰囲気の温度検知を行う温度検知素子の
実装部の周辺に、周辺回路と前記温度検知素子との熱伝
導を抑制する熱伝導抑制手段を備えたことを特徴とする
電子回路基板。
An electronic circuit board, comprising: a heat conduction suppressing means for suppressing heat conduction between a peripheral circuit and the temperature detecting element around a mounting portion of a temperature detecting element for detecting a temperature of an atmosphere. .
【請求項2】 熱伝導抑制手段は、温度検知素子の実装
部周辺の導電部材を部分的に削除した構造を有すること
を特徴とする請求項1記載の電子回路基板。
2. The electronic circuit board according to claim 1, wherein the heat conduction suppressing means has a structure in which a conductive member around a mounting portion of the temperature detecting element is partially removed.
【請求項3】 熱伝導抑制手段は、温度検知素子の実装
部周辺の基板部材を部分的に削除した構造を有すること
を特徴とする請求項1記載の電子回路基板。
3. The electronic circuit board according to claim 1, wherein the heat conduction suppressing means has a structure in which a board member around a mounting portion of the temperature detecting element is partially removed.
【請求項4】 特定素子の実装部と前記特定素子の温度
検知を行う温度検知素子の実装部との間に、前記特定素
子と前記温度検知素子との熱伝導を促進する熱伝導促進
手段を備えたことを特徴とする電子回路基板。
4. A heat conduction promoting means for promoting heat conduction between the specific element and the temperature detecting element, between the mounting part of the specific element and the mounting part of the temperature detecting element for detecting the temperature of the specific element. An electronic circuit board, comprising:
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005278344A (en) * 2004-03-25 2005-10-06 Denso Corp Motor control device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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