JP2002141400A - Wafer carrier - Google Patents

Wafer carrier

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JP2002141400A
JP2002141400A JP2000323003A JP2000323003A JP2002141400A JP 2002141400 A JP2002141400 A JP 2002141400A JP 2000323003 A JP2000323003 A JP 2000323003A JP 2000323003 A JP2000323003 A JP 2000323003A JP 2002141400 A JP2002141400 A JP 2002141400A
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JP
Japan
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base
ceramic member
wafer
wafer carrier
metal ring
Prior art date
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Pending
Application number
JP2000323003A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shunketsu Rin
俊傑 林
Teikoku Chin
廷國 陳
Bunshin Kaku
文進 郭
Kintoku O
金▲徳▼ 王
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Winbond Electronics Corp
Original Assignee
Winbond Electronics Corp
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Publication date
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  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent breakage of a ceramic member. SOLUTION: A wafer carrier 80 moving a wafer held to an abrasive pad and processing planarization comprises a first base 3, a shaft 5 set up to the first base 3 in flexibly rotatable manner, a second base 4 rotated by the shaft 5 and having an absorbing face for absorbing the wafer, a ceramic member 6 fixed to a face 41 opposite to the absorbing face 42 of the second base 4, a metal ring 7 superposed to a face 61 opposite to the face 62 fixed to the second base 4 of the ceramic member 6, and a plurality of fixing members 8 fixing the metal ring 7 by clipping the ceramic member 6.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はウエハキャリアに関
する。より詳しくは、本発明は半導体ウエハの平坦化処
理等を行う研磨装置等のウエハキャリアに関するもので
ある。
[0001] The present invention relates to a wafer carrier. More specifically, the present invention relates to a wafer carrier such as a polishing apparatus for performing a flattening process or the like of a semiconductor wafer.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体の製造過程では半導体ウエハ(以
下、単にウエハという)の平坦化処理を行う。ウエハの
平坦化処理設備では、ウエハキャリアによってウエハを
吸引保持し、研磨パッドが貼られたターンテーブルを回
転させることでウエハを研磨パッドに対して相対移動さ
せて研磨を行う。ウエハを吸引保持するウエハキャリア
のチャックは、その主体部分がセラミック部材によって
構成されており、回転の安定度が高められている。セラ
ミック部材は複数のねじによって固定されている。各ね
じは、それぞれ別々のパッドを介してセラミック部材を
締め付けている。
2. Description of the Related Art In a semiconductor manufacturing process, a semiconductor wafer (hereinafter, simply referred to as a wafer) is subjected to a flattening process. In the wafer flattening processing equipment, a wafer carrier sucks and holds a wafer, and rotates a turntable on which a polishing pad is attached, thereby moving the wafer relative to the polishing pad to perform polishing. The main part of the chuck of the wafer carrier that holds the wafer by suction is made of a ceramic member, and the rotation stability is improved. The ceramic member is fixed by a plurality of screws. Each screw fastens the ceramic member via a separate pad.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、セラミ
ックは非常に脆い材料である。各ねじがそれぞれ別々の
パッドを介してセラミック部材を締め付けると、その締
め付け力がセラミック部材の特定位置に集中して伝わる
ことなり、セラミック部材が破損することがある。
However, ceramic is a very brittle material. When each screw fastens the ceramic member through a separate pad, the tightening force is concentrated and transmitted to a specific position of the ceramic member, and the ceramic member may be damaged.

【0004】本発明は、セラミック部材を破損させずに
確実に固定することが可能なウエハキャリアを提供する
ことを目的とする。
An object of the present invention is to provide a wafer carrier capable of securely fixing a ceramic member without damaging it.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めに請求項1記載の発明は、保持したウエハを研磨パッ
ドに対して移動させて平坦化処理を行うウエハキャリア
であって、第1ベースと、第1ベースに回転自在に設け
られた軸部と、軸部によって回転され、ウエハを吸着す
る吸着面を有する第2ベースと、第2ベースの吸着面の
反対側の面に取り付けられるセラミック部材と、セラミ
ック部材の第2ベースに取り付けられる面の反対側の面
に重ね合わされる金属リングと、セラミック部材を挟ん
だ状態で金属リングを第2ベースに固定する複数の固定
部材を備えるものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a wafer carrier for performing a flattening process by moving a held wafer with respect to a polishing pad. A shaft portion rotatably provided on the first base, a second base rotated by the shaft portion and having a suction surface for sucking a wafer, and a ceramic attached to a surface opposite to the suction surface of the second base. A member, a metal ring superimposed on a surface of the ceramic member opposite to a surface attached to the second base, and a plurality of fixing members for fixing the metal ring to the second base while sandwiching the ceramic member. is there.

【0006】したがって、セラミック部材は、金属リン
グと第2ベースとの間に挟まれた状態で第2ベースに取
り付けられる。固定部材は金属リングを介してセラミッ
ク部材を押し付けるので、固定部材の強い押し付け力が
セラミック部材の特定部分に集中して伝わることがな
い。即ち、金属リングが広い面積でセラミック部材を押
し付けて第2ベースに固定する。
Therefore, the ceramic member is attached to the second base while being sandwiched between the metal ring and the second base. Since the fixing member presses the ceramic member via the metal ring, the strong pressing force of the fixing member does not concentrate on a specific portion of the ceramic member. That is, the metal member presses the ceramic member over a wide area and fixes it to the second base.

【0007】また、請求項2記載のウエハキャリアは、
固定部材がねじである。したがって、ねじの締め付け力
がセラミック部材の特定部分に集中して伝わることがな
い。
Further, the wafer carrier according to claim 2 is
The fixing member is a screw. Therefore, the tightening force of the screw is not transmitted intensively to a specific portion of the ceramic member.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】以下、本発明の構成を図面に示す
最良の形態に基づいて詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The configuration of the present invention will be described below in detail based on the best mode shown in the drawings.

【0009】図1から図4に本発明を適用したウエハキ
ャリアの実施形態の一例を示す。平坦化処理設備81
は、回転台1、研磨パッド2及びウエハキャリア80を
備えて構成されている。研磨パッド2は回転台1の上面
に固着されている。したがって、回転台1を軸心a−a
を中心に回転させると、研磨パッド2に対してウエハW
が相対的に移動することになる。また、ウエハキャリア
80はウエハWを回転させている。このように、ウエハ
キャリア80はウエハWを回転させながら研磨パッド2
に対して相対移動させてウエハWを研磨し、平坦化処理
を行う。
FIGS. 1 to 4 show an example of an embodiment of a wafer carrier to which the present invention is applied. Flattening equipment 81
Is provided with a turntable 1, a polishing pad 2, and a wafer carrier 80. The polishing pad 2 is fixed to the upper surface of the turntable 1. Therefore, the turntable 1 is moved to the axis a-a.
Is rotated about the wafer W, the wafer W
Will move relatively. The wafer carrier 80 rotates the wafer W. Thus, the wafer carrier 80 rotates the wafer W while polishing the polishing pad 2.
The wafer W is polished by being relatively moved with respect to the wafer W, and a flattening process is performed.

【0010】ウエハキャリア80は第1ベース3、第2
ベース4、軸部5、セラミック部材6、金属リング7及
び複数の固定部材8を備えて構成されている。軸部5は
第1ベース3に回転自在に支持されている。また、第1
ベース3内には図示しないモータ及び動力伝達装置が収
納されており、モータの回転は動力伝達装置によって軸
部5に伝達される。軸部5の外には中間部材30が設け
られている。中間部材30は、軸部5を配置する第1ホ
ール300と、第1ホール300の周囲に分布する複数
の第2ホール301を備えて構成されている。
The wafer carrier 80 includes a first base 3, a second
It comprises a base 4, a shaft 5, a ceramic member 6, a metal ring 7, and a plurality of fixing members 8. The shaft 5 is rotatably supported by the first base 3. Also, the first
A motor and a power transmission device (not shown) are housed in the base 3, and rotation of the motor is transmitted to the shaft 5 by the power transmission device. An intermediate member 30 is provided outside the shaft 5. The intermediate member 30 includes a first hole 300 in which the shaft portion 5 is arranged, and a plurality of second holes 301 distributed around the first hole 300.

【0011】図2、図3はそれぞれ本発明のウエハキャ
リアにおける軸部との結合前、結合後の斜視図である。
第1ベース3は固定ベースであり、軸部5は第1ベース
3に回転自在に配置されている。第1ベース3は盤状体
31を備えており、盤状体31には、図示しない真空・
送気装置に接続された2つの通気孔座32,34が設け
られている。真空・送気装置は、ウエハWを吸着する負
圧源となり、あるいは気体送風の工程では送風源とな
る。
FIGS. 2 and 3 are perspective views of the wafer carrier according to the present invention before and after coupling with the shaft portion, respectively.
The first base 3 is a fixed base, and the shaft 5 is rotatably disposed on the first base 3. The first base 3 includes a plate-shaped body 31.
Two vent seats 32, 34 connected to the air supply device are provided. The vacuum / air supply device serves as a negative pressure source for adsorbing the wafer W, or serves as an air supply source in a gas blowing process.

【0012】第2ベース4は回転自在なベースであり、
中間部材30を介して間接的に軸部5の先端に取り付け
られている。したがって、軸部5の回転は第2ベース4
に伝達される。第2ベース4の吸着面42とは反対側の
面41には、同一円周上に並んだ複数の連結部401及
び位置決め孔が形成されている。連結部401は中間部
材30の第2ホール301の中にそれぞれ配置されると
ともに、複数のねじ9で固定されることにより、第2ベ
ース4を中間部材30に連結する。この面41にセラミ
ック部材6が重ねられる。また、第2ベース4の吸着面
42には、図示しない多孔性薄膜が取り付けられてい
る。この多孔性薄膜に形成された多数の孔は通気孔座3
2,34内の空気通路に通じており、ウエハWを吸着す
ることができる。
The second base 4 is a rotatable base,
It is indirectly attached to the tip of the shaft 5 via the intermediate member 30. Therefore, the rotation of the shaft 5 is controlled by the second base 4
Is transmitted to On the surface 41 of the second base 4 opposite to the suction surface 42, a plurality of connecting portions 401 and positioning holes arranged on the same circumference are formed. The connecting portions 401 are respectively arranged in the second holes 301 of the intermediate member 30, and are fixed by a plurality of screws 9 to connect the second base 4 to the intermediate member 30. The ceramic member 6 is overlaid on this surface 41. A porous thin film (not shown) is attached to the suction surface 42 of the second base 4. A large number of holes formed in the porous thin film correspond to the vent hole seat 3.
The wafer W is connected to an air passage in each of the wafers 2 and 34 and can be sucked.

【0013】セラミック部材6は中央に軸部5を貫通さ
せる孔が形成されたプレートで、下側面62を第2ベー
ス4の一側面41に重ね合わせるようにして第2ベース
4に取り付けられる。セラミック部材6の外周面63に
は、複数のガイド63Hが等間隔で形成されている。ガ
イド63Hは、第2ベース4の位置決め孔に対応する位
置に上側面61から下側面62にわたって形成されてい
る。
The ceramic member 6 is a plate having a hole formed in the center thereof through which the shaft portion 5 penetrates. A plurality of guides 63H are formed on the outer peripheral surface 63 of the ceramic member 6 at equal intervals. The guide 63H is formed at a position corresponding to the positioning hole of the second base 4 from the upper side surface 61 to the lower side surface 62.

【0014】金属リング7には、複数の貫通孔70Hが
等間隔で形成されている。貫通孔70Hは、セラミック
部材6のガイド63Hに対応する位置に形成されてい
る。
In the metal ring 7, a plurality of through holes 70H are formed at equal intervals. The through hole 70H is formed at a position corresponding to the guide 63H of the ceramic member 6.

【0015】金属リング7及びセラミック部材6は、複
数の固定部材8によって第2ベース4に取り付けられて
いる。本実施形態では、固定部材8としてねじを使用す
る。金属リング7の貫通孔70Hと、セラミック部材6
のガイド63Hと、第2ベース4の位置決め孔を一直線
上に揃えた状態で、貫通孔70Hとガイド63Hに固定
部材8を通し第2ベース4の位置決め孔にねじ込む。こ
れによって、セラミック部材6を挟み込んだ状態で金属
リング7が第2ベース4に取り付けられる。ねじである
固定部材8は金属リング7を部分的に締め付けるが、金
属リング7はセラミック部材6に比べて破損しにくく、
しかも広い面積でセラミック部材6を押し付ける。この
ため、固定部材8の締め付け力がセラミック部材6の特
定位置に集中して作用することがなく、セラミック部材
6を破損させることがない。
The metal ring 7 and the ceramic member 6 are attached to the second base 4 by a plurality of fixing members 8. In this embodiment, a screw is used as the fixing member 8. The through hole 70H of the metal ring 7 and the ceramic member 6
With the guide 63H and the positioning hole of the second base 4 aligned in a straight line, the fixing member 8 is passed through the through hole 70H and the guide 63H and screwed into the positioning hole of the second base 4. As a result, the metal ring 7 is attached to the second base 4 with the ceramic member 6 sandwiched therebetween. The fixing member 8, which is a screw, partially tightens the metal ring 7, but the metal ring 7 is harder to break than the ceramic member 6,
Moreover, the ceramic member 6 is pressed over a large area. For this reason, the tightening force of the fixing member 8 does not concentrate on a specific position of the ceramic member 6 and does not damage the ceramic member 6.

【0016】なお、上述の形態は本発明の好適な形態の
一例ではあるがこれに限定されるものではなく本発明の
要旨を逸脱しない範囲において種々変形実施可能であ
る。
The above-described embodiment is an example of a preferred embodiment of the present invention, but is not limited thereto, and various modifications can be made without departing from the gist of the present invention.

【0017】[0017]

【発明の効果】以上説明したように、請求項1記載のウ
エハキャリアでは、第1ベースと、第1ベースに回転自
在に設けられた軸部と、軸部によって回転され、ウエハ
を吸着する吸着面を有する第2ベースと、第2ベースの
吸着面の反対側の面に取り付けられるセラミック部材
と、セラミック部材の第2ベースに取り付けられる面の
反対側の面に重ね合わされる金属リングと、セラミック
部材を挟んだ状態で金属リングを第2ベースに固定する
複数の固定部材を備えているので、固定部材の強い押し
付け力がセラミック部材の特定箇所に集中して作用する
のを防止することができる。このため、セラミック部材
の破損を防止することができる。
As described above, in the wafer carrier according to the first aspect, the first base, the shaft rotatably provided on the first base, and the suction that is rotated by the shaft and suctions the wafer. A second base having a surface, a ceramic member attached to a surface of the second base opposite to the suction surface, a metal ring overlapped on a surface of the ceramic member opposite to the surface attached to the second base, Since a plurality of fixing members for fixing the metal ring to the second base with the member interposed therebetween are provided, it is possible to prevent a strong pressing force of the fixing member from being concentrated on a specific portion of the ceramic member. . For this reason, breakage of the ceramic member can be prevented.

【0018】また、請求項2記載のウエハキャリアのよ
うに、固定部材がねじであっても良い。この場合には、
ねじの強い締め付け力がセラミック部材の特定部分に集
中して作用するのを防止することができる。
Further, the fixing member may be a screw as in the wafer carrier according to the second aspect. In this case,
The strong tightening force of the screw can be prevented from being concentrated on a specific portion of the ceramic member.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明を適用したウエハキャリアを備える平坦
化処理設備を示す概略図である。
FIG. 1 is a schematic view showing a flattening processing equipment provided with a wafer carrier to which the present invention is applied.

【図2】本発明を適用したウエハキャリア(軸部との結
合前)の実施形態の一例を示す斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing an example of an embodiment of a wafer carrier (before coupling with a shaft portion) to which the present invention is applied.

【図3】同ウエハキャリアの斜視図である。FIG. 3 is a perspective view of the wafer carrier.

【図4】同ウエハキャリアを示し、金属リングを取り外
した状態の斜視図である。
FIG. 4 is a perspective view showing the wafer carrier, with a metal ring removed.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 研磨パッド 3 第1ベース 4 第2ベース 41 吸着面の反対側の面 42 吸着面 5 軸部 6 セラミック部材 61 第2ベースに取り付けられる面の反対側の面 7 金属リング 8 固定部材 80 ウエハキャリア W ウエハ Reference Signs List 2 polishing pad 3 first base 4 second base 41 surface opposite suction surface 42 suction surface 5 shaft 6 ceramic member 61 surface opposite to surface attached to second base 7 metal ring 8 fixing member 80 wafer carrier W wafer

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 3C058 AA07 AB04 CB06 DA06 DA17 5F031 CA02 HA13 HA60 MA22  ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page F-term (reference) 3C058 AA07 AB04 CB06 DA06 DA17 5F031 CA02 HA13 HA60 MA22

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 保持したウエハを研磨パッドに対して移
動させて平坦化処理を行うウエハキャリアであって、第
1ベースと、前記第1ベースに回転自在に設けられた軸
部と、前記軸部によって回転され、前記ウエハを吸着す
る吸着面を有する第2ベースと、前記第2ベースの吸着
面の反対側の面に取り付けられるセラミック部材と、前
記セラミック部材の前記第2ベースに取り付けられる面
の反対側の面に重ね合わされる金属リングと、前記セラ
ミック部材を挟んだ状態で前記金属リングを前記第2ベ
ースに固定する複数の固定部材を備えることを特徴とす
るウエハキャリア。
1. A wafer carrier for performing a planarization process by moving a held wafer with respect to a polishing pad, comprising: a first base; a shaft rotatably provided on the first base; A second base rotated by the unit and having a suction surface for suctioning the wafer, a ceramic member mounted on a surface of the second base opposite to the suction surface, and a surface of the ceramic member mounted on the second base; And a plurality of fixing members for fixing the metal ring to the second base with the ceramic member interposed therebetween.
【請求項2】 前記固定部材はねじであることを特徴と
する請求項1記載のウエハキャリア。
2. The wafer carrier according to claim 1, wherein said fixing member is a screw.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012023250A (en) * 2010-07-15 2012-02-02 Naoetsu Electronics Co Ltd Polishing device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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