JP2002124856A - Duty correction circuit - Google Patents

Duty correction circuit

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JP2002124856A
JP2002124856A JP2000313423A JP2000313423A JP2002124856A JP 2002124856 A JP2002124856 A JP 2002124856A JP 2000313423 A JP2000313423 A JP 2000313423A JP 2000313423 A JP2000313423 A JP 2000313423A JP 2002124856 A JP2002124856 A JP 2002124856A
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circuit
delay
output
signal
gate
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JP2000313423A
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Japanese (ja)
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Yoshinobu Oishi
義信 大石
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a circuit for correcting the duty of a signal precisely in an environment using an LSI chip. SOLUTION: A delay circuit 102 delays the output S101 of a frequency divider circuit 101 sequentially through delay gates connected in series. A counter 107 compares the output of each delay gate with a signal S101 and outputs the number of stages of delay gate having 50% phase lag. A selector 108 delivers the output of delay gates at stages corresponding to 1/4, 1/2 and 3/4 of the detected number of stages. From the outputs of the selectors 103 and 108, a signal S109 having a frequency four times as high as that of the signal S101 is generated and the frequency of that signal is divided by two to produce a signal SOUT subjected to duty correction.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明が属する技術分野】本発明は、半導体集積回路に
内蔵可能なデューティ補正回路に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a duty correction circuit that can be built in a semiconductor integrated circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のデューティ補正回路では、例えば
特開平4−364603号公報に記載されたように、セ
レクタや排他的論理(EXOR)ゲートを用いてデュー
ティ補正が行われていた。
2. Description of the Related Art In a conventional duty correction circuit, as described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-364603, duty correction is performed using a selector and an exclusive logic (EXOR) gate.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、LSI
の微細化が進み、ゲートに含まれる遅延量と配線に占め
る遅延量とのバランスが一定でなくなってきているた
め、全てのバラツキを満足するゲートの遅延量を設定す
ることが困難になってきている。また、LSIにおける
プロセスばらつきや温度、電源電圧変動等を考えると、
ゲートの立ち上がり、立ち下がりの遅延時間の差が設計
時の見積りと異なった場合には、正確なデューティが得
られないといった問題があった。
SUMMARY OF THE INVENTION However, LSI
With the progress of miniaturization, the balance between the delay amount included in the gate and the delay amount occupying the wiring has become unstable, and it has become difficult to set the delay amount of the gate that satisfies all the variations. I have. Considering the process variation, temperature, power supply voltage fluctuation, etc. in LSI,
If the difference between the delay time of the rise and the fall of the gate is different from the estimate at the time of design, there is a problem that an accurate duty cannot be obtained.

【0004】前記の問題に鑑み、本発明は、LSI化さ
れたチップを使用する環境下においても、信号のデュー
ティを精度良く補正可能なデューティ補正回路を提供す
ることを課題とする。
[0004] In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a duty correction circuit capable of accurately correcting the duty of a signal even in an environment using an LSI chip.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、請求項1の発明が講じた解決手段は、入力信号を
2分周する第1の分周回路と、実質的に同一の遅延を有
するk(kは正の整数)個の遅延ゲートが直列に接続さ
れてなり、前記第1の分周回路の出力を各遅延ゲートを
もって順次遅延させる遅延回路と、前記遅延回路の各遅
延ゲートの出力を前記分周回路の出力と比較することに
よって、前記第1の分周回路の出力から位相が50%遅
れた信号を出力する遅延ゲートの段数を検出する検出回
路と、前記検出回路により検出された遅延ゲートの段数
の1/4、1/2および3/4に相当する段の遅延ゲー
トの出力をそれぞれ出力するセレクタと、前記セレクタ
の各出力と、前記第1の分周回路の出力から位相が50
%遅れた遅延ゲートの出力とから、前記第1の分周回路
の出力の4倍の周波数をもつ信号を生成する波形整形回
路と、前記波形整形路回路の出力を2分周し、デューテ
ィ補正された信号として出力する第2の分周回路とを備
えたものである。
Means for Solving the Problems In order to solve the above-mentioned problem, a solution taken by the invention of claim 1 is substantially the same as a first frequency dividing circuit for dividing an input signal by two. A delay circuit in which k (k is a positive integer) delay gates having delays are connected in series, the output of the first frequency divider circuit being sequentially delayed by each delay gate, and each delay circuit of the delay circuit A detection circuit for detecting the number of stages of a delay gate that outputs a signal whose phase is delayed by 50% from the output of the first frequency divider by comparing the output of the gate with the output of the frequency divider; Selectors respectively outputting the outputs of the delay gates corresponding to 数, お よ び and / of the number of stages of the delay gate detected by the above, each output of the selector, and the first frequency dividing circuit From the output of
A waveform shaping circuit for generating a signal having a frequency four times as high as the output of the first frequency dividing circuit from the output of the delay gate delayed by%, and dividing the output of the waveform shaping circuit by 2 to perform duty correction And a second frequency dividing circuit that outputs the divided signal.

【0006】請求項1の発明によると、セレクタの各出
力は、第1の分周回路の出力から位相がそれぞれ12.
5、25,37.5%遅れた信号となる。これらの信号
および位相が50%遅れた信号から、波形整形回路によ
って、第1の分周回路の4倍の周波数を持つ信号が生成
される。そして、この信号を2分周することによってデ
ューティ補正された信号を生成するので、正確なデュー
ティを補正することができる。
According to the first aspect of the present invention, each output of the selector has a phase of 12.1 from the output of the first frequency dividing circuit.
The signal is delayed by 5, 25, 37.5%. From these signals and the signal whose phase is delayed by 50%, a signal having a frequency four times that of the first frequency dividing circuit is generated by the waveform shaping circuit. Then, a signal whose duty has been corrected is generated by dividing the frequency of the signal by two, so that an accurate duty can be corrected.

【0007】そして、請求項2の発明では、前記請求項
1のデューティ補正回路における各遅延ゲートの遅延量
は、前記入力信号の周期の1/4i(iは自然数)に相
当する値に設定されているものとする。
According to the invention of claim 2, the delay amount of each delay gate in the duty correction circuit of claim 1 is set to a value corresponding to 1 / 4i (i is a natural number) of the cycle of the input signal. It is assumed that

【0008】また、請求項3の発明では、前記請求項1
のデューティ補正回路は、前記遅延回路の各遅延ゲート
に供給される電源電圧を制御し、各遅延ゲートの遅延量
を安定させる遅延量制御回路を備えたものとする。
[0008] According to the third aspect of the present invention, the first aspect is provided.
Is provided with a delay amount control circuit that controls a power supply voltage supplied to each delay gate of the delay circuit and stabilizes the delay amount of each delay gate.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照しながら説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0010】(第1の実施形態)図1は本発明の第1の
実施形態に係るデューティ補正回路の構成を示す図であ
る。図1において、101はDフリップフロップ(以下
「D−FF」と記す)からなる第1の分周回路、102
は直列に接続された複数の遅延ゲートからなる遅延回
路、103,108は遅延回路102を構成する各遅延
ゲートの出力を入力とする第1および第2のセレクタ、
104はAND回路、105はインバータ、106はD
−FF、107は第1の分周回路101の出力S101
を計数するカウンタ、109は第2のセレクタ108か
らの出力信号S106,S107,S108と第1のセ
レクタ103からの出力信号S102を入力とする波形
整形回路(発振回路)、110はD−FFからなる第2
の分周回路である。第1のセレクタ103、AND回路
104、インバータ105、D−FF106およびカウ
ンタ107によって、検出回路10が構成されている。
(First Embodiment) FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a duty correction circuit according to a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 101 denotes a first frequency dividing circuit including a D flip-flop (hereinafter, referred to as “D-FF”);
Is a delay circuit composed of a plurality of delay gates connected in series, 103 and 108 are first and second selectors each having an output of each delay gate constituting the delay circuit 102 as an input,
104 is an AND circuit, 105 is an inverter, 106 is D
-FF 107 is an output S101 of the first frequency dividing circuit 101
, A waveform shaping circuit (oscillation circuit) that receives the output signals S106, S107, and S108 from the second selector 108 and the output signal S102 from the first selector 103 as inputs, and 110 a D-FF. The second
Is a frequency dividing circuit. The detection circuit 10 is configured by the first selector 103, the AND circuit 104, the inverter 105, the D-FF 106, and the counter 107.

【0011】第1の分周回路101は入力信号SINを
2分周する。第1の分周回路101の出力S101は遅
延回路102を構成する各遅延ゲートによって順次遅延
され、各遅延ゲートの出力は第1および第2のセレクタ
103,108に入力される。AND回路104は第1
のセレクタ103の出力S102と第1の分周回路10
1の出力S101とを入力し、その論理積を表す出力信
号S103をD−FF106のD入力に供給する。D−
FF106は第1の分周回路101の出力S101の反
転信号をクロック入力とする。これにより、D−FF1
06には、出力S101,S102の位相のずれが50
%以下のときは“1”がラッチされ、位相のずれが50
%以上のときは“0”がラッチされる。D−FF106
の出力S104はカウンタ107のイネーブル入力EN
に入力される。
The first frequency divider 101 divides the input signal SIN by two. The output S101 of the first frequency divider 101 is sequentially delayed by each delay gate forming the delay circuit 102, and the output of each delay gate is input to the first and second selectors 103 and 108. The AND circuit 104 has the first
S102 of the selector 103 and the first frequency divider 10
1 and an output S101, and an output signal S103 representing a logical product thereof is supplied to the D input of the D-FF. D-
The FF 106 receives the inverted signal of the output S101 of the first frequency dividing circuit 101 as a clock input. Thereby, the D-FF1
06, the phase shift of the outputs S101 and S102 is 50
%, The value "1" is latched and the phase shift is 50%.
When it is not less than%, "0" is latched. D-FF106
Is an enable input EN of the counter 107.
Is input to

【0012】カウンタ107は、イネーブルENが
“1”のときは第1の分周回路101の出力S101を
計数し、“0”のときは計数値を保持する。カウンタ1
07の出力S105は第1および第2のセレクタ10
3,108に制御信号として供給される。第2のセレク
タ108は、制御信号S105に応じて、第1のセレク
タ103の出力信号S102の1/4の遅延量を持った
信号S108と,1/2の遅延量を持った信号S107
と、3/4の遅延量を持った信号S106とを出力す
る。
The counter 107 counts the output S101 of the first frequency divider 101 when the enable EN is "1", and holds the count when it is "0". Counter 1
07 is output to the first and second selectors 10
3, 108 as a control signal. In response to the control signal S105, the second selector 108 generates a signal S108 having a delay amount of 1/4 of the output signal S102 of the first selector 103 and a signal S107 having a delay amount of 1/2.
And a signal S106 having a delay amount of /.

【0013】波形整形回路109は第2のセレクタ10
8からの出力信号S106,S107,S108と第1
のセレクタ103からの出力信号S102を入力し、入
力信号SINの4倍の周波数のクロックを生成する。波
形整形回路109の出力信号S109は、第2の分周回
路110によって2分周され、出力信号SOUTとして
出力される。
The waveform shaping circuit 109 includes a second selector 10
8 and the first and second output signals S106, S107 and S108.
The output signal S102 from the selector 103 is input, and a clock having a frequency four times the frequency of the input signal SIN is generated. The output signal S109 of the waveform shaping circuit 109 is divided by two by the second frequency dividing circuit 110 and output as the output signal SOUT.

【0014】ここで、遅延回路102を構成する各遅延
ゲートの遅延量は、4i倍(iは自然数)すると第1の
分周回路101の出力S101の周期の50%に相当す
るような値、すなわち、入力信号SINの周期の1/4
iに相当する値に設定されている。
Here, the delay amount of each of the delay gates constituting the delay circuit 102 is a value which, when multiplied by 4i (i is a natural number), corresponds to 50% of the period of the output S101 of the first frequency dividing circuit 101, That is, 1/4 of the cycle of the input signal SIN
It is set to a value corresponding to i.

【0015】図2は図1に示すデューティ補正回路の動
作を示すタイミングチャートである。図2を参照して、
図1に示すデューティ補正回路の動作を説明する。
FIG. 2 is a timing chart showing the operation of the duty correction circuit shown in FIG. Referring to FIG.
The operation of the duty correction circuit shown in FIG. 1 will be described.

【0016】第1のセレクタ103はカウンタ107の
出力S105に応じて、遅延回路102の各遅延ゲート
♯1,♯2,…,♯kの出力を順次選択する。この第1
のセレクタ103の選択出力S102は、AND回路1
04によって、第1の分周回路101の出力S101と
位相比較される。
The first selector 103 sequentially selects the outputs of the delay gates # 1, # 2,..., #K of the delay circuit 102 in accordance with the output S105 of the counter 107. This first
Selection output S102 of the selector 103 of the AND circuit 1
04, the phase is compared with the output S101 of the first frequency dividing circuit 101.

【0017】第1の分周回路101の出力S101と第
1のセレクタ103の選択出力S102との位相のずれ
が50%以下のときは、AND回路104の出力S10
3が“1”になり、カウンタ107のイネーブル入力S
104は“1”に固定される。これにより、カウンタ1
07は第1の分周回路102の出力S101をカウント
アップするとともに、第1のセレクタ103に、次段の
遅延ゲートの出力信号を選択出力S102として出力さ
せる。
When the phase shift between the output S101 of the first frequency divider 101 and the selected output S102 of the first selector 103 is 50% or less, the output S10 of the AND circuit 104 is output.
3 becomes “1” and the enable input S of the counter 107
104 is fixed to "1". Thereby, the counter 1
07 counts up the output S101 of the first frequency dividing circuit 102 and causes the first selector 103 to output the output signal of the next stage delay gate as the selected output S102.

【0018】一方、位相のずれが50%になったとき
は、AND回路104の出力S103は“0”になり、
カウンタ107はイネーブル入力S104が“0”にな
るため、その動作を止める。このとき、カウンタ107
の計数値はn(正の整数)になったものとする。ただ
し、上述したような、遅延回路102を構成する各遅延
ゲートの遅延量の設定から、nの値は4の倍数になる。
On the other hand, when the phase shift becomes 50%, the output S103 of the AND circuit 104 becomes "0",
Since the enable input S104 becomes "0", the counter 107 stops its operation. At this time, the counter 107
Is assumed to be n (positive integer). However, the value of n is a multiple of 4 from the setting of the delay amount of each delay gate configuring the delay circuit 102 as described above.

【0019】第2のセレクタ108はカウンタ107の
出力S105すなわち値nに応じて、n/4段の遅延ゲ
ート、n/2段の遅延ゲートおよび3n/4段の遅延ゲ
ートの出力信号を、それぞれ信号S106,S107,
S108として出力する。各信号S106,S107,
S108は、第1の分周回路101の出力信号S101
に対して12.5%、25%、37.5%位相の遅れた
信号となる。
The second selector 108 outputs the output signals of the n / 4-stage delay gate, the n / 2-stage delay gate and the 3n / 4-stage delay gate according to the output S105 of the counter 107, that is, the value n. The signals S106, S107,
Output as S108. Each signal S106, S107,
S108 is the output signal S101 of the first frequency dividing circuit 101
Are delayed by 12.5%, 25%, and 37.5%.

【0020】波形整形回路109は、第2のセレクタ1
08の選択出力S106,S107,S108と、位相
のずれが50%になったときの第1のセレクタ103の
選択出力S102、および第1の分周回路101の出力
信号S101から、出力信号S101の4倍の周波数の
信号S109を出力する。この出力信号S109を第2
の分周回路110によって2分周することによって、デ
ューティ50%の入力信号と同周期の信号SOUTを出
力することができる。
The waveform shaping circuit 109 includes a second selector 1
08, the selected output S102 of the first selector 103 when the phase shift becomes 50%, and the output signal S101 of the first frequency dividing circuit 101, the output signal S101 A signal S109 having a frequency four times as high is output. This output signal S109 is
By dividing the frequency by 2 by the frequency dividing circuit 110, a signal SOUT having the same cycle as the input signal having the duty of 50% can be output.

【0021】ここで、従来の構成のように、EXOR回
路をデューティ補正のために用いた場合には、EXOR
回路が一般に立ち上がり時間と立ち下がり時間とが大き
く異なるという特性を有することに起因して、デューテ
ィ補正の精度が十分には得られない可能性があった。こ
れに対して、本実施形態では、EXOR回路を用いない
で、原クロック信号を4分周し、4分周したクロック信
号をD−FFを用いた回路によって処理するので、従来
よりも精度の高いデューティ補正を実現することができ
る。
Here, when the EXOR circuit is used for duty correction as in the conventional configuration, the EXOR circuit
Due to the fact that the circuit generally has the characteristic that the rise time and the fall time are significantly different, there has been a possibility that the accuracy of the duty correction may not be sufficiently obtained. On the other hand, in the present embodiment, the original clock signal is divided by four without using the EXOR circuit, and the clock signal divided by four is processed by the circuit using the D-FF. High duty correction can be realized.

【0022】また、図1の構成では、検出パルス入力が
設けられており、検出パルスを入力することによって、
カウンタ107をリセットし、再度、遅延段数を計算さ
せてデューティ補正を実行させることができる。
In the configuration shown in FIG. 1, a detection pulse input is provided, and by inputting the detection pulse,
The counter 107 can be reset, the number of delay stages can be calculated again, and the duty correction can be executed.

【0023】例えば、別個に電圧変動検出回路を設け
て、電圧変動検出信号を検出パルスとして入力させるこ
とによって、電源電圧が変動したときに再度、デューテ
ィー補正を実施することが可能になる。または、別個に
温度変動検出回路を設けて、温度変動検出信号を検出パ
ルスとして入力させることによって、温度変動が生じた
ときに再度、デューティー補正を実施することが可能に
なる。あるいは、別個にデューティ変動検出回路を設け
て、デューティー補正されたデータを再度デューティー
検出し、デューティー補正が十分にされていなかったと
きに再度、デューティー補正を実施させることも可能で
ある。
For example, by providing a voltage fluctuation detection circuit separately and inputting a voltage fluctuation detection signal as a detection pulse, it becomes possible to perform duty correction again when the power supply voltage fluctuates. Alternatively, by separately providing a temperature fluctuation detection circuit and inputting a temperature fluctuation detection signal as a detection pulse, duty correction can be performed again when a temperature fluctuation occurs. Alternatively, it is also possible to provide a separate duty variation detection circuit, detect the duty-corrected data again, and execute the duty correction again when the duty correction is not sufficient.

【0024】また、図1の遅延回路102を構成する各
遅延ゲートの遅延量は、必ずしも安定しているとはいえ
ず、プロセスのばらつきや電源電圧および温度の変化に
よって、変動する。したがって、デューティ補正の精度
をより高めるためには、各遅延ゲートの遅延量を安定さ
せるような回路が必要になる。
The delay amount of each delay gate constituting the delay circuit 102 of FIG. 1 is not always stable, but varies due to process variations and changes in power supply voltage and temperature. Therefore, in order to further improve the accuracy of the duty correction, a circuit that stabilizes the delay amount of each delay gate is required.

【0025】図3は図1のデューティ補正回路にある遅
延ゲートの遅延量を制御するための回路の構成を示す図
である。図3において、102は図1で示された複数の
遅延ゲートからなる遅延回路であり、ここでは供給され
る電源電圧S511によってその遅延量が可変に構成さ
れている。また502はNAND回路、503,504
はAND回路、505はカウンタ、506はクロック生
成回路、507はD−FF、508はディジタル・アナ
ログ変換回路(以下「DAC」と略す)、509はD−
FF507の出力S507(nビット)を遅延回路10
2の遅延量を制御するための電源電圧制御用データS5
10に変換する変換回路である。遅延回路102以外の
構成要素によって、遅延量制御回路50が構成されてい
る。
FIG. 3 is a diagram showing a configuration of a circuit for controlling the delay amount of the delay gate in the duty correction circuit of FIG. In FIG. 3, reference numeral 102 denotes a delay circuit including a plurality of delay gates shown in FIG. 1, and the amount of delay is variably configured by a supplied power supply voltage S511. 502 is a NAND circuit, 503 and 504
Is an AND circuit, 505 is a counter, 506 is a clock generation circuit, 507 is a D-FF, 508 is a digital / analog conversion circuit (hereinafter abbreviated as "DAC"), and 509 is a D-
The output S507 (n bits) of the FF507 is supplied to the delay circuit 10
Power supply voltage control data S5 for controlling the delay amount
This is a conversion circuit for converting into 10. The components other than the delay circuit 102 constitute the delay amount control circuit 50.

【0026】図4は図3に示す回路の動作を示すタイミ
ングチャートである。図4を参照して、図3の回路の動
作について説明する。
FIG. 4 is a timing chart showing the operation of the circuit shown in FIG. The operation of the circuit of FIG. 3 will be described with reference to FIG.

【0027】信号S101は遅延回路102の各遅延ゲ
ートによって順次遅延される。各遅延ゲートの出力SI
1,SI2,…,SIk(kは遅延回路102を構成す
る遅延ゲートの個数)はクロック生成回路506に入力
される。クロック生成回路506は、各遅延ゲートの出
力SI1,SI2,・・・SIkから各々2個の信号を
用いて立上がり信号(図9の506)を生成し、この立
上がり信号の組み合わせからクロック信号S506を生
成する。このクロック信号S506はカウンタ505に
入力される。
The signal S101 is sequentially delayed by each delay gate of the delay circuit 102. Output SI of each delay gate
, SIk (k is the number of delay gates constituting the delay circuit 102) is input to the clock generation circuit 506. The clock generation circuit 506 generates a rising signal (506 in FIG. 9) from the outputs SI1, SI2,... SIk of the respective delay gates using two signals, and generates a clock signal S506 from the combination of the rising signals. Generate. This clock signal S506 is input to the counter 505.

【0028】また、信号S101および第1段遅延ゲー
トの出力SI1の反転信号は、NAND回路502に入
力される。NAND回路502の出力S502と基準信
号S500はAND回路504に入力され、このAND
回路504の出力はカウンタ505にリセット信号とし
て与えられる。カウンタ505の出力S505(nビッ
ト)はD−FF507に入力される。
The signal S101 and the inverted signal of the output SI1 of the first-stage delay gate are input to the NAND circuit 502. The output S502 of the NAND circuit 502 and the reference signal S500 are input to an AND circuit 504,
The output of the circuit 504 is provided to the counter 505 as a reset signal. The output S505 (n bits) of the counter 505 is input to the D-FF 507.

【0029】ここで、基準信号S500とは、通常時は
“H”固定となっており、電源電圧や温度の変動時や電
源投入時等のように環境が変化が生じた場合には、図3
の回路をリセットするために必要な所定期間だけ“L”
になるパルス信号である。基準信号S500が“L”に
なることによって、各遅延ゲートの遅延量が再度制御さ
れる。
Here, the reference signal S500 is normally fixed at "H", and when the environment changes such as when the power supply voltage or temperature fluctuates or when the power is turned on, the reference signal S500 is set as shown in FIG. 3
"L" for a predetermined period necessary to reset the circuit
Is a pulse signal. When the reference signal S500 becomes “L”, the delay amount of each delay gate is controlled again.

【0030】また、信号S101の反転信号および第1
段遅延ゲートの出力SI1は、AND回路503に入力
され、AND回路503の出力S503はD−FF50
7にクロックとして与えられる。このD−FF507か
らの出力(nビット)S507は、変換回路509によ
って遅延回路102の遅延量を制御するための電源電圧
制御用データS510に変換され、この変換回路509
の出力S510に応じたアナログ電圧S508がDAC
508から出力される。
The inverted signal of the signal S101 and the first signal
The output SI1 of the stage delay gate is input to the AND circuit 503, and the output S503 of the AND circuit 503 is the D-FF50.
7 as a clock. The output (n bits) S507 from the D-FF 507 is converted by the conversion circuit 509 into power supply voltage control data S510 for controlling the delay amount of the delay circuit 102, and the conversion circuit 509
The analog voltage S508 corresponding to the output S510 of the
508.

【0031】アナログ電圧S508が遅延回路102の
電源電圧S511として供給されることにより、遅延回
路102の遅延量が制御される。なお、DAC508に
供給される電源電圧S509は、遅延回路102に供給
される電源電圧S511とは別個に供給される。
The delay amount of the delay circuit 102 is controlled by supplying the analog voltage S508 as the power supply voltage S511 of the delay circuit 102. Note that the power supply voltage S509 supplied to the DAC 508 is supplied separately from the power supply voltage S511 supplied to the delay circuit 102.

【0032】いま、遅延ゲート1個当たりの遅延量をa
とし、信号S101の半周期の時間をbとしたとき、時
間bだけ遅延させるためには、遅延ゲートはm(=b/
a)個必要となる。
Now, the delay amount per delay gate is a
When the time of a half cycle of the signal S101 is represented by b, the delay gate is set to m (= b /
a) are required.

【0033】カウンタ505にクロックとして入力され
る信号S506の周期は2aであるから、信号S101
が半周期だけ遅延した箇所でのカウンタの値S505は
m/2となる。ところが、プロセスのばらつきや電源電
圧の変動によって遅延ゲートの遅延量が変動した場合に
は、ここでのカウンタ505の出力値S505はm/2
とは限らない。
Since the period of the signal S506 inputted as a clock to the counter 505 is 2a, the signal S101
Of the counter at the point where is delayed by a half cycle becomes m / 2. However, when the delay amount of the delay gate fluctuates due to process variations or fluctuations in the power supply voltage, the output value S505 of the counter 505 is m / 2.
Not necessarily.

【0034】そこで、信号S101の半周期後の信号S
503を用いて、カウンタ505の出力S505をD−
FF507によってラッチし、D−FF507の値S5
07が基準値m/2よりも小さいときは、遅延ゲート1
段当りの遅延量が大きいと判断されるため、変換回路5
09は遅延ゲートの電源電圧S511を上げるようなデ
ジタルデータS510をDAC508に出力する。これ
により、遅延回路102の各遅延ゲートの遅延量が小さ
くなる。
Therefore, the signal S after a half cycle of the signal S101
503, the output S505 of the counter 505 is
Latched by the FF 507, the value S5 of the D-FF 507
07 is smaller than the reference value m / 2, the delay gate 1
Since it is determined that the delay amount per stage is large, the conversion circuit 5
09 outputs to the DAC 508 digital data S510 that increases the power supply voltage S511 of the delay gate. As a result, the delay amount of each delay gate of the delay circuit 102 decreases.

【0035】一方、D−FF507の値が基準値m/2
よりも大きいときは、遅延ゲート1段当りの遅延量が小
さいと判断されるため、変換回路509は遅延ゲートの
電源電圧S511を下げるようなデジタルデータS51
0をDAC508に出力する。これにより、遅延回路1
02の各遅延ゲートの遅延量が大きくなる。
On the other hand, the value of the D-FF 507 is equal to the reference value m / 2.
If it is larger than the threshold value, it is determined that the delay amount per one stage of the delay gate is small.
0 is output to the DAC 508. Thereby, the delay circuit 1
02, the delay amount of each delay gate increases.

【0036】以上の動作により、遅延回路102の各遅
延ゲートの遅延量を、プロセスのばらつきや温度、電圧
変動に関係なく一定にすることができる。
With the above operation, the delay amount of each delay gate of the delay circuit 102 can be kept constant regardless of process variations, temperature and voltage variations.

【0037】なお、別個に電圧変動検出回路を設けて、
電圧変動検出信号を基準信号S500として入力させる
ことによって、電源電圧が変動したときに再度、遅延回
路の遅延量の調整を実施することができる。また同様
に、別個に温度変動検出回路を設けて、温度変動検出信
号を基準信号S500として入力させることによって、
使用温度が変動したときに再度、遅延回路の遅延量の調
整を実施することができる。
It is to be noted that a voltage fluctuation detecting circuit is separately provided,
By inputting the voltage change detection signal as the reference signal S500, it is possible to adjust the delay amount of the delay circuit again when the power supply voltage changes. Similarly, by separately providing a temperature fluctuation detection circuit and inputting a temperature fluctuation detection signal as a reference signal S500,
When the use temperature changes, the delay amount of the delay circuit can be adjusted again.

【0038】[0038]

【発明の効果】以上のように本発明によると、LSI化
された後に、電源電圧や温度の変動、あるいは製造ばら
つきがあっても、信号のデューティ補正を精度良く行う
ことができる。
As described above, according to the present invention, it is possible to accurately correct the signal duty even if the power supply voltage or temperature fluctuates or the production varies after the LSI is formed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施形態に係るデューティ補正
回路の構成を示す図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a duty correction circuit according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1に示すデューティ補正回路の動作を示すフ
ローチャートである。
FIG. 2 is a flowchart showing an operation of the duty correction circuit shown in FIG.

【図3】図1に示すデューティ補正回路において、各遅
延ゲートの遅延量を制御する回路の構成を示す図であ
る。
FIG. 3 is a diagram illustrating a configuration of a circuit that controls a delay amount of each delay gate in the duty correction circuit illustrated in FIG. 1;

【図4】図4に示す回路の動作を示すフローチャートで
ある。
FIG. 4 is a flowchart showing the operation of the circuit shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 検出回路 50 遅延量制御回路 101 第1の分周回路 102 遅延回路 108 セレクタ 109 波形整形回路 110 第2の分周回路 Reference Signs List 10 detection circuit 50 delay amount control circuit 101 first frequency dividing circuit 102 delay circuit 108 selector 109 waveform shaping circuit 110 second frequency dividing circuit

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 入力信号を2分周する第1の分周回路
と、 実質的に同一の遅延を有するk(kは正の整数)個の遅
延ゲートが直列に接続されてなり、前記第1の分周回路
の出力を各遅延ゲートをもって順次遅延させる遅延回路
と、 前記遅延回路の各遅延ゲートの出力を前記分周回路の出
力と比較することによって、前記第1の分周回路の出力
から位相が50%遅れた信号を出力する遅延ゲートの段
数を検出する検出回路と、 前記検出回路により検出された遅延ゲートの段数の1/
4、1/2および3/4に相当する段の遅延ゲートの出
力をそれぞれ出力するセレクタと、 前記セレクタの各出力と、前記第1の分周回路の出力か
ら位相が50%遅れた遅延ゲートの出力とから、前記第
1の分周回路の出力の4倍の周波数をもつ信号を生成す
る波形整形回路と、 前記波形整形路回路の出力を2分周し、デューティ補正
された信号として出力する第2の分周回路とを備えたこ
とを特徴とするデューティ補正回路。
1. A first frequency dividing circuit for dividing an input signal by two, and k (k is a positive integer) delay gates having substantially the same delay are connected in series. A delay circuit for sequentially delaying the output of the first frequency divider circuit with each delay gate, and comparing the output of each delay gate of the delay circuit with the output of the frequency divider circuit to obtain an output of the first frequency divider circuit. A detection circuit for detecting the number of stages of the delay gate that outputs a signal whose phase is delayed by 50% from the detection circuit;
A selector for outputting the outputs of the delay gates corresponding to 4, 1/2 and 3/4 respectively; a delay gate whose phase is delayed by 50% from the outputs of the selector and the output of the first frequency divider; And a waveform shaping circuit for generating a signal having a frequency four times that of the output of the first frequency dividing circuit from the output of the first frequency dividing circuit; dividing the output of the waveform shaping circuit by 2 and outputting as a duty-corrected signal And a second frequency dividing circuit for performing the duty correction.
【請求項2】 請求項1記載のデューティ補正回路にお
いて、 前記各遅延ゲートの遅延量は、前記入力信号の周期の1
/4i(iは自然数)に相当する値に設定されているこ
とを特徴とするデューティ補正回路。
2. The duty correction circuit according to claim 1, wherein the delay amount of each of the delay gates is one of a period of the input signal.
/ 4i (i is a natural number).
【請求項3】 請求項1記載のデューティ補正回路にお
いて、 前記遅延回路の各遅延ゲートに供給される電源電圧を制
御し、各遅延ゲートの遅延量を安定させる遅延量制御回
路を備えたことを特徴とするデューティ補正回路。
3. The duty correction circuit according to claim 1, further comprising a delay amount control circuit that controls a power supply voltage supplied to each delay gate of the delay circuit and stabilizes a delay amount of each delay gate. Characteristic duty correction circuit.
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Cited By (2)

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