JP2002110501A - Method and device for removing resist bead - Google Patents

Method and device for removing resist bead

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JP2002110501A
JP2002110501A JP2000292447A JP2000292447A JP2002110501A JP 2002110501 A JP2002110501 A JP 2002110501A JP 2000292447 A JP2000292447 A JP 2000292447A JP 2000292447 A JP2000292447 A JP 2000292447A JP 2002110501 A JP2002110501 A JP 2002110501A
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resist
photoresist
glass substrate
bead
resist bead
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JP2000292447A
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Japanese (ja)
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Katsuichi Nagano
勝一 長野
Tomoyuki Sukunami
友幸 宿南
Yasuaki Matsumoto
泰明 松本
Atsushi Mitsuida
淳 三井田
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Toppan Printing Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and a device for removing a resist bead that is generated in a peripheral part of a glass substrate, which prevents a rear end void caused from splash of developing solution onto the substrate without lengthening the line process time in a large scaled system nor increasing the amount for use of developing solution, rinse and the like. SOLUTION: A resist bead in the peripheral part of a glass substrate is removed by a high-pressure jet 16 of liquid that does not resolve photo resists, immediately after a photo resist is painted to be dried initially. This removing device of a resist bead is provided with a head 11 for high pressure, jetting.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置など
に用いられるカラーフィルタの製造に関するものであ
り、特に、ガラス基板上にフォトレジストの塗布膜を形
成する際のレジストビード除去に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to the manufacture of a color filter used for a liquid crystal display device and the like, and more particularly to the removal of a resist bead when forming a photoresist coating film on a glass substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】図4(a)は、液晶表示装置などに用い
られるカラーフィルタの一例を模式的に示した平面図で
ある。また、図4(b)は、図4(a)に示すカラーフ
ィルタのX−X’線における断面図である。図4(a)
及び(b)に示すように、液晶表示装置などに用いられ
るカラーフィルタは、ガラス基板(40)上にブラック
マトリックス(42)、及び着色画素(41)が形成さ
れたものである。
2. Description of the Related Art FIG. 4A is a plan view schematically showing an example of a color filter used in a liquid crystal display device or the like. FIG. 4B is a cross-sectional view taken along line XX ′ of the color filter shown in FIG. FIG. 4 (a)
As shown in (b) and (b), a color filter used in a liquid crystal display device or the like has a black matrix (42) and a colored pixel (41) formed on a glass substrate (40).

【0003】ブラックマトリックス(42)は、遮光性
を有するマトリックス状のものであり、着色画素(4
1)は、例えば、赤色、緑色、青色のフィルタ機能を有
するものである。ブラックマトリックスは、カラーフィ
ルタの着色画素の位置、大きさを均一なものとし、ま
た、表示装置に用いられた際に、好ましくない光を遮蔽
し、表示装置の画像をムラのない均一な、且つコントラ
ストを向上させた画像にする機能を有している。
[0003] The black matrix (42) is a matrix having a light-shielding property, and includes a colored pixel (4).
1) has, for example, a red, green and blue filter function. The black matrix makes the position and size of the colored pixels of the color filter uniform, and when used in a display device, shields undesired light, and makes the image of the display device uniform and uniform. It has a function to make an image with improved contrast.

【0004】液晶表示装置の多くに用いられている、上
記構造のブラックマトリックスを具備したカラーフィル
タの製造方法としては、先ず、ガラス基板上にブラック
マトリックスを形成してブラックマトリックス基板を製
造し、次に、このブラックマトリックス基板上のブラッ
クマトリックスのパターンに位置合わせして着色画素を
形成しカラーフィルタを製造するといった方法が広く用
いられている。
As a method of manufacturing a color filter having a black matrix having the above structure, which is used in many liquid crystal display devices, first, a black matrix is formed by forming a black matrix on a glass substrate. In addition, a method of manufacturing a color filter by forming a colored pixel by aligning with a pattern of a black matrix on the black matrix substrate is widely used.

【0005】このブラックマトリックス基板の製造に
は、ガラス基板上にブラックマトリックスの材料として
のクロム(Cr)、酸化クロム(CrOX )などの金
属、もしくは金属化合物を薄膜状に成膜し、成膜された
薄膜上に、例えば、ポジ型のフォトレジストを用いてエ
ッチングレジストパターンを形成し、次に、成膜された
金属薄膜の露出部分のエッチング及びエッチングレジス
トパターンの剥膜を行い、Cr、CrOX などの金属薄
膜からなるブラックマトリックスを形成するといった方
法がとられている。
To manufacture this black matrix substrate, a metal such as chromium (Cr) or chromium oxide (CrO x ) as a black matrix material or a metal compound is formed into a thin film on a glass substrate. On the formed thin film, for example, an etching resist pattern is formed using a positive type photoresist, and then, the exposed portion of the formed metal thin film is etched and the etching resist pattern is stripped. A method of forming a black matrix made of a thin metal film such as X has been adopted.

【0006】また、着色画素の形成は、このブラックマ
トリックス基板上に、例えば、色素を分散させたネガ型
のフォトレジストを用いて塗布膜を設け、この塗布膜へ
の露光、現像によって着色画素を形成するといった方法
がとられている。この際、ポジ型のフォトレジスト、或
いは、色素を分散させたネガ型のフォトレジストをガラ
ス基板上に塗布する方法としては、ロールコート法、デ
ィップ法、スプレイ法、スピンナー法などが用いられて
いる。
In addition, a colored pixel is formed by forming a coating film on the black matrix substrate using, for example, a negative photoresist in which a dye is dispersed, and exposing and developing the coating film to form the colored pixel. The method of forming is used. At this time, as a method of applying a positive photoresist or a negative photoresist in which a dye is dispersed on a glass substrate, a roll coating method, a dip method, a spray method, a spinner method, or the like is used. .

【0007】図6(イ)、(ロ)、(ハ)はスピンナー
法によりフォトレジストがガラス基板上に塗布された際
のフォトレジスト膜の状態を示す説明図である。図6
(イ)はガラス基板上に塗布されたフォトレジスト膜の
状態を示す平面図であり、図6(ロ)は図6(イ)のX
−X’線の断面図、図6(ハ)は図6(イ)のY−Y’
線の断面図である。
FIGS. 1A, 1B and 1C are explanatory views showing the state of a photoresist film when a photoresist is applied on a glass substrate by a spinner method. FIG.
FIG. 6A is a plan view showing a state of a photoresist film applied on a glass substrate, and FIG.
FIG. 6C is a cross-sectional view taken along the line X-Y ′, and FIG.
It is sectional drawing of a line.

【0008】図6(ロ)、(ハ)に示すように、スピン
ナー法によりフォトレジストがガラス基板(60)上に
塗布された際のフォトレジストの塗布膜(62)は、ガ
ラス基板(60)の周縁部(66)において、その膜厚
が周縁部以外の部分より厚くなるものである。また、基
板(60)の端面部(67)においても、フォトレジス
トが塗布されてしまうものである。図6(ロ)の(6
4)は、その塗布された状態を示したものである。
As shown in FIGS. 6 (b) and 6 (c), when a photoresist is applied on a glass substrate (60) by a spinner method, a photoresist coating film (62) is formed on the glass substrate (60). Is thicker at the peripheral portion (66) than at portions other than the peripheral portion. Also, the photoresist is applied to the end face (67) of the substrate (60). (6) of FIG.
4) shows the applied state.

【0009】上記、ガラス基板(60)の周縁部(6
6)におけるフォトレジストの膜厚の大きい状態の部分
をレジストビード(63)と称している。そして、この
ような周縁部(66)におけるレジストビード(63)
の発生は、フォトレジストをガラス基板上に塗布する前
記の各種方法の中では、スピンナー法による塗膜におい
て著しい傾向を示すものである。
The peripheral portion (6) of the glass substrate (60)
The portion where the thickness of the photoresist is large in 6) is called a resist bead (63). Then, a resist bead (63) at such a peripheral portion (66)
Is a remarkable tendency in a coating film formed by a spinner method among the above various methods of applying a photoresist on a glass substrate.

【0010】このようなレジストビード(63)は、こ
のままの状態では画像形成時における、例えば、露光用
フォトマスクとガラス基板を密着させる際に、密着が不
完全になる原因となることがある。また、このようなレ
ジストビード(63)は、非露光部であるので硬化せず
画像形成時における露光後の現像処理によって本来溶解
されるものではあるが、現像処理後においても、その一
部が残ってしまう。この残存したビードは、例えば、表
示装置用基板を作成する後工程において、レジストビー
ドの成分が溶出し表示装置用基板を作成する後工程に悪
影響を及ぼすことがある。また、このような現像処理後
においても、その一部が残ってしまうレジストビード
は、例えば、表示装置を作成する後工程において、表示
装置を構成しているガラス基板間の間隙を正確に設定す
ることができなくなる、といった問題を引き起こす原因
となることがある。
Such a resist bead (63) may cause incomplete adhesion when forming an image, for example, when an exposure photomask is brought into close contact with a glass substrate. In addition, since such a resist bead (63) is a non-exposed portion, it is not cured and is originally dissolved by a development process after exposure at the time of image formation. Will remain. For example, in the post-process for producing the display device substrate, the remaining beads may elute the components of the resist bead and adversely affect the post-process for producing the display device substrate. In addition, even after such a development process, a resist bead that partially remains is used to accurately set a gap between glass substrates forming a display device, for example, in a post-process of manufacturing a display device. It can cause problems such as being unable to do so.

【0011】従って、フォトレジストを用いてブラック
マトリックスのパターンを形成する際、或いは、着色画
素を形成するには、このようなレジストビードを除去す
るために、例えば、フォトレジストがガラス基板上に塗
布、初期乾燥された直後において、或いは、パターンが
露光され現像される直前において、ガラス基板の周縁部
のレジストビードを溶解して除去する方法が採用されて
いる。
Therefore, when forming a pattern of a black matrix using a photoresist or forming a colored pixel, for example, a photoresist is applied on a glass substrate to remove such a resist bead. Immediately after the initial drying or immediately before the pattern is exposed and developed, a method of dissolving and removing the resist bead on the peripheral portion of the glass substrate is adopted.

【0012】図5は、このようなレジストビードを除去
するレジストビード除去装置のヘッド部の一例を説明す
る断面図である。先ず、図5に示すように、このヘッド
部(51)にフォトレジストを溶解する液、例えばフォ
トレジストの現像液が、パイプ(52)から供給され斜
線部分に滞留される。フォトレジストが塗布されたガラ
ス基板(50)は、この斜線部分に挿入されフォトレジ
ストを溶解する現像液によりガラス基板(50)の周縁
部のレジストビード(53)、及び端面部のフォトレジ
ストが溶解されるようになっている。そして、パイプ
(54)、(55)からのエアーはフォトレジストを溶
解する現像液と共に排出される。矢印はエアー及び排出
されるフォトレジストを溶解した現像液を示している。
フォトレジストが溶解されるに要する一定時間の経過後
に現像液の供給は停止される。
FIG. 5 is a sectional view for explaining an example of a head portion of a resist bead removing apparatus for removing such a resist bead. First, as shown in FIG. 5, a solution for dissolving the photoresist in the head portion (51), for example, a developing solution for the photoresist is supplied from the pipe (52) and stays in the hatched portion. The glass substrate (50) on which the photoresist has been applied is dissolved in the resist bead (53) on the periphery of the glass substrate (50) and the photoresist on the end face by a developer that is inserted into the hatched portion and dissolves the photoresist. It is supposed to be. Then, the air from the pipes (54) and (55) is discharged together with the developer for dissolving the photoresist. The arrow indicates the developer in which the air and the discharged photoresist are dissolved.
After a certain period of time required for dissolving the photoresist, the supply of the developer is stopped.

【0013】次に、リンス液、例えば純水がパイプ(5
2)から供給され斜線部分に滞留される。このリンス液
は、フォトレジストが溶解された部分をリンスしエアー
共に排出される。図7(イ)は、このようなヘッド部
(51)が使用される状態を説明する平面図である。ヘ
ッド部(51)によって、先ずガラス基板(70)のa
辺、b辺のレジストビードが除去され、次にガラス基板
(70)のc辺、d辺のレジストビードが除去される。
図7(ロ)は、a辺、b辺のレジストビードが除去され
た状態のガラス基板であり、レジストビードが除去され
た部分を斜線で示したものである。
Next, a rinsing liquid, for example, pure water is piped (5).
It is supplied from 2) and stays in the shaded area. The rinsing liquid rinses the portion where the photoresist is dissolved, and is discharged together with air. FIG. 7A is a plan view illustrating a state in which such a head unit (51) is used. First, a of the glass substrate (70) is
The resist beads on the sides and b are removed, and then the resist beads on the sides c and d of the glass substrate (70) are removed.
FIG. 7B shows the glass substrate from which the resist beads on the side a and the side b have been removed, and the portions where the resist beads have been removed are indicated by oblique lines.

【0014】しかし、このようなヘッド部(51)によ
り周縁部のレジストビードを除去すると、パイプ(5
2)から供給され斜線部分に滞留される現像液と、パイ
プ(54)、(55)から供給されるエアーとの微妙な
バランスが崩れ、現像液の飛沫が基板上に跳ね、ブラッ
クマトリックスのパターンとして必要な部分、或いは、
着色画素として必要な部分のフォトレジストを溶解し、
結果としてパターン、或いは、着色画素に欠落(白抜
け)を発生させることがある。
However, when the resist bead at the peripheral edge is removed by such a head portion (51), the pipe (5) is removed.
The fine balance between the developer supplied from 2) and retained in the shaded portion and the air supplied from the pipes (54) and (55) is broken, and the droplets of the developer splash on the substrate, resulting in a black matrix pattern. Necessary part, or
Dissolve the necessary part of the photoresist as a colored pixel,
As a result, missing (white spots) may occur in the pattern or the colored pixels.

【0015】また、ガラス基板の大型化に伴い、或い
は、フォトレジストの膜厚を厚くした際などには、レジ
ストビード除去装置のタクトタイムは長くなり、製造ラ
インの生産能力に影響を及ぼすことになる。更には、ガ
ラス基板の大型化に伴い、フォトレジストを溶解する現
像液、例えば、ポジ型のフォトレジストにおける溶剤、
及び色素を分散したネガのフォトレジストにおけるアル
カリ水溶液、リンス液(例えば純水)などの使用量が増
大することになる。
In addition, when the size of the glass substrate is increased, or when the thickness of the photoresist is increased, the tact time of the resist bead removing device becomes longer, which affects the production capacity of the production line. Become. Furthermore, with the enlargement of the glass substrate, a developer for dissolving the photoresist, for example, a solvent for a positive photoresist,
In addition, the use amount of an alkaline aqueous solution, a rinsing liquid (for example, pure water) or the like in a negative photoresist in which a dye is dispersed increases.

【0016】[0016]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記問題を
解決するためになされたものあり、例えば、液晶表示装
置などに用いられるカラーフィルタを製造する場合の、
フォトレジストを用いてブラックマトリックスのパター
ンを形成する際、或いは、着色画素を形成する際のよう
に、ガラス基板上にフォトレジストの塗布膜を形成する
際に、ガラス基板の周縁部に発生するレジストビードを
除去するレジストビード除去において、レジストビード
を除去する現像液の飛沫が基板上に跳ねて、パターン、
或いは、着色画素に欠落(白抜け)を発生させることの
ない、また、ガラス基板の大型化しても、レジストビー
ド除去装置のタクトタイムが長くなることなく、更に
は、フォトレジストを溶解する現像液、リンス液などの
使用量が増大しないレジストビード除去方法、及びレジ
ストビード除去装置を提供することを課題とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems. For example, the present invention relates to a method for manufacturing a color filter used in a liquid crystal display device or the like.
When a black matrix pattern is formed using a photoresist, or when a photoresist coating film is formed on a glass substrate, such as when forming a colored pixel, a resist generated on the periphery of the glass substrate. In the removal of the resist bead to remove the bead, the droplets of the developer for removing the resist bead splash on the substrate, and the pattern,
Alternatively, a developing solution that does not cause missing (white spots) in the colored pixels, does not increase the takt time of the resist bead removing device even if the glass substrate is enlarged, and further dissolves the photoresist It is an object to provide a resist bead removing method and a resist bead removing apparatus which do not increase the amount of use of a rinsing liquid or the like.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】本発明は、ガラス基板上
にフォトレジストの塗布膜を形成する際に、フォトレジ
ストを塗布、初期乾燥した直後に、ガラス基板周縁部の
レジストビードを、フォトレジストを溶解しない液体の
高圧噴射によって除去することを特徴とするレジストビ
ード除去方法である。
According to the present invention, when a photoresist coating film is formed on a glass substrate, the photoresist bead is applied to the glass substrate, and immediately after initial drying, a resist bead at the periphery of the glass substrate is removed. A resist bead removing method, wherein the resist bead is removed by high-pressure injection of a liquid that does not dissolve.

【0018】また、本発明は、ガラス基板上にフォトレ
ジストの塗布膜を形成する際に、フォトレジストを塗
布、初期乾燥した直後の、ガラス基板周縁部のレジスト
ビードを除去するレジストビード除去装置において、フ
ォトレジストを溶解しない液体を高圧噴射するヘッド部
を具備することを特徴とするレジストビード除去装置で
ある。
Further, the present invention provides a resist bead removing apparatus for removing a resist bead on a peripheral portion of a glass substrate immediately after applying a photoresist and initial drying when forming a coating film of a photoresist on a glass substrate. A resist bead removing apparatus, comprising: a head unit for injecting a high pressure liquid that does not dissolve the photoresist.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】以下に本発明の実施の形態を詳細
に説明する。図1は、本発明によるレジストビード除去
装置のヘッド部の一実施例を示す断面図である。図1に
示すレジストビード除去装置のヘッド部(11)は、支
持部(12)、フォトレジストを溶解しない液体を高圧
噴射する上方ノズル(13A)及び下方ノズル(13
B)、上方ノズル(13A)及び下方ノズル(13B)
にフォトレジストを溶解しない液体を高圧で供給する上
方供給パイプ(14A)及び下方供給パイプ(14
B)、レジストビードを除去した後の該液体及び流入し
た空気を排出する排出パイプ(15)で構成されたもの
である。
Embodiments of the present invention will be described below in detail. FIG. 1 is a sectional view showing one embodiment of a head portion of a resist bead removing apparatus according to the present invention. The head part (11) of the resist bead removing device shown in FIG. 1 includes a support part (12), an upper nozzle (13A) for injecting a high pressure liquid that does not dissolve the photoresist, and a lower nozzle (13).
B), upper nozzle (13A) and lower nozzle (13B)
The upper supply pipe (14A) and the lower supply pipe (14A) for supplying a liquid that does not dissolve the photoresist at a high pressure
B), comprising a discharge pipe (15) for discharging the liquid after the resist bead has been removed and the inflowing air.

【0020】本発明においては、このレジストビード除
去装置でレジストビードの除去に用いる液体は、使用し
たフォトレジストを溶解する溶剤、現像液などではな
く、使用したフォトレジストを溶解しない液体(例え
ば、純水)であり、この液体の高圧噴射(16)である
ことを特徴とする。
In the present invention, the liquid used for removing the resist bead in the resist bead removing device is not a solvent or a developing solution that dissolves the used photoresist, but a liquid that does not dissolve the used photoresist (for example, pure water). Water), and is characterized by high-pressure injection (16) of this liquid.

【0021】図1に示すように、先ず、フォトレジスト
が塗布、初期乾燥されたガラス基板(10)は、上方ノ
ズル(13A)と下方ノズル(13B)の間に挿入され
る。実線矢印で示すように、高圧液体供給装置(図示せ
ず)から高圧で供給された上記フォトレジストを溶解し
ない液体は、上方供給パイプ(14A)及び下方供給パ
イプ(14B)を経て上方ノズル(13A)及び下方ノ
ズル(13B)から高圧で噴射し、ガラス基板(10)
周縁部のレジストビードを除去する。
As shown in FIG. 1, first, a glass substrate (10) coated with a photoresist and initially dried is inserted between an upper nozzle (13A) and a lower nozzle (13B). As indicated by the solid arrows, the liquid that does not dissolve the photoresist supplied from the high-pressure liquid supply device (not shown) at a high pressure passes through the upper supply pipe (14A) and the lower supply pipe (14B) to the upper nozzle (13A). ) And the lower nozzle (13B) to spray at high pressure, and the glass substrate (10)
The resist bead on the peripheral edge is removed.

【0022】そして、レジストビードを除去した後の該
液体、及び点線矢印で示す空気は、吸引装置(図示せ
ず)に連なる排出パイプ(15)から排出される。この
際、レジストビードを除去する一定時間の経過後に該液
体の供給は停止されるが、排出パイプの吸引は継続して
いる。
The liquid from which the resist beads have been removed and the air indicated by the dotted arrows are discharged from a discharge pipe (15) connected to a suction device (not shown). At this time, the supply of the liquid is stopped after a certain period of time for removing the resist beads, but the suction of the discharge pipe is continued.

【0023】次に、レジストビードが除去されたガラス
基板(10)の乾燥を行う。すなわち、この乾燥は排出
パイプの吸引による外気の流れ(点線矢印)によって行
われる。尚、排出パイプ(15)から排出された、レジ
ストビードを除去した後の該液体と流入した空気の混合
物は、該液体と空気に分離され該液体はフィルタリング
後に再利用されるようになっている。また、ガラス基板
(10)周縁部のレジストビードの除去部分(例えば、
図7に示す斜線部分に相当)の幅は、噴射の幅(D)以
内でガラス基板の位置を調節することにより行われる。
Next, the glass substrate (10) from which the resist beads have been removed is dried. That is, the drying is performed by the flow of the outside air (dotted arrow) due to the suction of the discharge pipe. The mixture of the liquid and the air that has been discharged from the discharge pipe (15) after removing the resist beads is separated into the liquid and the air, and the liquid is reused after filtering. . Further, a portion where the resist bead is removed from the peripheral portion of the glass substrate (10) (for example,
The width of (corresponding to the hatched portion shown in FIG. 7) is adjusted by adjusting the position of the glass substrate within the width (D) of the ejection.

【0024】本発明によるレジストビード除去装置のヘ
ッド部(11)は、上記のような構造、機能を有し、使
用したフォトレジストを溶解しない液体を用いてレジス
トビードを除去するので、該液体の飛沫が基板上に跳ね
ても、パターン或いは、着色画素に欠落(白抜け)を発
生させることはない。、また、該液体として純水を用い
ると、従来法におけるリンス処理は不要なものとなり、
且つタクトタイムは短縮される。
The head (11) of the resist bead removing apparatus according to the present invention has the above-described structure and function, and removes the resist bead using a liquid which does not dissolve the used photoresist. Even if the splash bounces on the substrate, no dropout (white spot) occurs in the pattern or the colored pixel. Also, if pure water is used as the liquid, the rinsing process in the conventional method becomes unnecessary,
And the tact time is shortened.

【0025】また、該液体の噴射圧は50MPa〜25
0MPa程度のものなので、レジストビードの除去に要
する処理時間は極めて短縮されたものとなる。従って、
ガラス基板が大型化しても、或いは、塗布膜の膜厚が厚
くなってもレジストビード除去装置のタクトタイムが長
くなることはない。また、フォトレジストを溶解させる
溶剤、現像液などは不要なものとなる。
The injection pressure of the liquid is 50 MPa to 25
Since the pressure is about 0 MPa, the processing time required for removing the resist bead is extremely reduced. Therefore,
The tact time of the resist bead removing device does not increase even if the glass substrate becomes large or the coating film becomes thick. Further, a solvent for dissolving the photoresist, a developing solution, and the like become unnecessary.

【0026】図2は、本発明によるレジストビード除去
装置におけるヘッド部の配列の一例を模式的に示す平面
図である。図2に示す一例は、いわば、ヘッド往復方式
である。図2に示すように、基板チャック(図示せず)
により固定されたガラス基板(10)の(a)、
(b)、(c)、(d)4辺の各々に対応し、ヘッド部
(11A)、(11B)、(11C)、(11D)を設
ける。各ヘッド部は、矢印で示すように、各辺を往復し
て各辺のレジストビードを除去するものである。尚、斜
線部分はレジストビードの除去範囲を示している。
FIG. 2 is a plan view schematically showing an example of the arrangement of the heads in the resist bead removing apparatus according to the present invention. The example shown in FIG. 2 is a so-called head reciprocating method. As shown in FIG. 2, a substrate chuck (not shown)
(A) of the glass substrate (10) fixed by
(B), (c), (d) Head portions (11A), (11B), (11C), and (11D) are provided corresponding to each of the four sides. Each head section reciprocates on each side as shown by arrows, and removes the resist beads on each side. The shaded area indicates the area where the resist bead is removed.

【0027】また、図3(イ)、(ロ)は、本発明によ
るレジストビード除去装置におけるヘッド部の配列の他
の例を模式的に示す平面図である。図3(イ)、(ロ)
に示す他の例は、いわば、基板往復方式である。先ず、
図3(イ)に示すように、左右に往復する基板チャック
(図示せず)により固定されたガラス基板(10)の
(c)、(d)2辺の各々に対応し、ヘッド部(11
C)、(11D)を設ける。各ヘッド部は固定したま
ま、ガラス基板(10)は矢印で示すように、各ヘッド
部を往復して各辺のレジストビードを除去するものであ
る。尚、斜線部分はレジストビードの除去範囲を示して
いる。
FIGS. 3A and 3B are plan views schematically showing another example of the arrangement of the heads in the resist bead removing apparatus according to the present invention. Fig. 3 (a), (b)
The other example shown in (1) is a so-called substrate reciprocating method. First,
As shown in FIG. 3 (a), the head portion (11) corresponds to each of two sides (c) and (d) of the glass substrate (10) fixed by a substrate chuck (not shown) reciprocating left and right.
C) and (11D) are provided. The glass substrate (10) is reciprocated in each head as shown by arrows to remove the resist beads on each side while each head is fixed. The shaded area indicates the area where the resist bead is removed.

【0028】次に、図3(ロ)に示すように、図におけ
る上下に往復する基板チャック(図示せず)により固定
されたガラス基板(10)の(a)、(b)2辺の各々
に対応し、ヘッド部(11A)、(11B)を設ける。
各ヘッド部は固定したまま、ガラス基板(10)は矢印
で示すように、各ヘッド部を往復して各辺のレジストビ
ードを除去するものである。尚、斜線部分はレジストビ
ードの除去範囲を示している。尚、図3(イ)、(ロ)
においては、各辺に対応したヘッド部は各1基である
が、複数基のヘッド部を各辺に対応させて設けてもよ
く、或いは、ガラス基板の辺方向にスリット状の長いノ
ズルを有するヘッド部を各辺に対応させて設けてもよ
い。
Next, as shown in FIG. 3B, each of the two sides (a) and (b) of the glass substrate (10) fixed by a substrate chuck (not shown) reciprocating up and down in the figure. Are provided, head portions (11A) and (11B) are provided.
The glass substrate (10) is reciprocated in each head as shown by arrows to remove the resist beads on each side while each head is fixed. The shaded area indicates the area where the resist bead is removed. In addition, FIG. 3 (a), (b)
In, there is one head portion corresponding to each side, but a plurality of head portions may be provided corresponding to each side, or a long slit-shaped nozzle is provided in the side direction of the glass substrate. A head portion may be provided corresponding to each side.

【0029】[0029]

【発明の効果】本発明は、ガラス基板上にフォトレジス
トの塗布膜を形成する際に、フォトレジストを塗布、初
期乾燥した直後に、ガラス基板周縁部のレジストビード
を、フォトレジストを溶解しない液体の高圧噴射によっ
て除去するので、レジストビードを除去する現像液の飛
沫が基板上に跳ねて、パターン、或いは、着色画素に欠
落(白抜け)を発生させることのない、また、ガラス基
板の大型化しても、レジストビード除去装置のタクトタ
イムが長くなることなく、更には、フォトレジストを溶
解する現像液は不要なものとなり、リンス液などの使用
量が増大しないレジストビード除去方法となる。
According to the present invention, when a photoresist coating film is formed on a glass substrate, immediately after the photoresist is applied and initially dried, a resist bead at the periphery of the glass substrate is removed by a liquid that does not dissolve the photoresist. The high-pressure jet removes the resist beads, so that the droplets of the developing solution do not splash on the substrate and do not cause a pattern (colored pixel) to be lost (white spots). However, the tact time of the resist bead removing device does not become long, and further, a developing solution for dissolving the photoresist becomes unnecessary, and the resist bead removing method does not increase the use amount of the rinsing liquid or the like.

【0030】また、本発明は、ガラス基板上にフォトレ
ジストの塗布膜を形成する際に、フォトレジストを塗
布、初期乾燥した直後の、ガラス基板周縁部のレジスト
ビードを除去するレジストビード除去装置において、フ
ォトレジストを溶解しない液体を高圧噴射するヘッド部
を具備するので、レジストビードを除去する現像液の飛
沫が基板上に跳ねて、パターン、或いは、着色画素に欠
落(白抜け)を発生させることのない、また、ガラス基
板の大型化しても、レジストビード除去装置のタクトタ
イムが長くなることなく、更には、フォトレジストを溶
解する現像液は不要なものとなり、リンス液などの使用
量が増大しないレジストビード除去装置となる。
Further, the present invention provides a resist bead removing apparatus for removing a resist bead on a peripheral portion of a glass substrate immediately after applying a photoresist and initial drying when forming a coating film of a photoresist on a glass substrate. Since a head for ejecting a liquid that does not dissolve the photoresist at a high pressure is provided, a droplet of a developing solution for removing a resist bead splashes on a substrate, and a pattern or a colored pixel is lost (white spots). In addition, even if the size of the glass substrate is increased, the takt time of the resist bead removing device is not increased, and the developing solution for dissolving the photoresist is not required, and the amount of the rinsing solution used is increased. The resist bead removal device is not used.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明によるレジストビード除去装置のヘッド
部の一実施例を示す断面図である。
FIG. 1 is a sectional view showing one embodiment of a head portion of a resist bead removing apparatus according to the present invention.

【図2】本発明によるレジストビード除去装置における
ヘッド部の配列の一例を模式的に示す平面図である。
FIG. 2 is a plan view schematically showing an example of an arrangement of head portions in the resist bead removing device according to the present invention.

【図3】(イ)、(ロ)は、本発明によるレジストビー
ド除去装置におけるヘッド部の配列の他の例を模式的に
示す平面図である。
FIGS. 3A and 3B are plan views schematically showing another example of the arrangement of the heads in the resist bead removing apparatus according to the present invention.

【図4】(a)は、液晶表示装置などに用いられるカラ
ーフィルタの一例を模式的に示した平面図である。
(b)は、図4(a)に示すカラーフィルタのX−X’
線における断面図である。
FIG. 4A is a plan view schematically illustrating an example of a color filter used in a liquid crystal display device or the like.
FIG. 4B is a cross-sectional view taken along line XX ′ of the color filter shown in FIG.
It is sectional drawing in a line.

【図5】レジストビード除去装置のヘッド部の一例を説
明する断面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating an example of a head portion of the resist bead removing device.

【図6】(イ)、(ロ)、(ハ)はスピンナー法により
フォトレジストがガラス基板上に塗布された際のフォト
レジスト膜の状態を示す説明図である。
FIGS. 6A, 6B, and 6C are explanatory views showing the state of a photoresist film when a photoresist is applied on a glass substrate by a spinner method.

【図7】(イ)は、ヘッド部が使用される状態を説明す
る平面図である。(ロ)は、a辺、b辺のレジストビー
ドが除去された部分の説明図である。
FIG. 7A is a plan view illustrating a state in which a head unit is used. (B) is an explanatory view of a portion where the resist beads on the side a and the side b are removed.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11、11A、11B、11C、11D…レジストビー
ド除去装置のヘッド部 12…支持部 13A、13B…上方ノズル、下方ノズル 14A、14B…上方供給パイプ、下方供給パイプ 15…排出パイプ 16…噴射 10、40、50、60、70…ガラス基板 41…着色画素 42…ブラックマトリックス 62…フォトレジストの塗布膜 53、63…レジストビード 64…端面部のフォトレジスト 66…周縁部 67…端面部 51…ヘッド部 52、54、55…パイプ
11, 11A, 11B, 11C, 11D: Head portion of resist bead removing device 12: Support portion 13A, 13B: Upper nozzle, lower nozzle 14A, 14B: Upper supply pipe, lower supply pipe 15: Discharge pipe 16: Injection 10, 40, 50, 60, 70: Glass substrate 41: Colored pixel 42: Black matrix 62: Photoresist coating film 53, 63 ... Resist bead 64: Photoresist at end face 66 ... Peripheral part 67 ... End face 51: Head part 52, 54, 55 ... pipe

フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G02F 1/13 101 G03F 7/16 G03F 7/16 H01L 21/30 577 (72)発明者 三井田 淳 東京都台東区台東1丁目5番1号 凸版印 刷株式会社内 Fターム(参考) 2H025 AA18 AB13 DA19 EA10 2H048 BA11 BB02 BB14 BB42 2H088 FA18 FA30 HA01 HA12 MA01 MA20 4D075 BB20Z BB24Z DA06 DB13 DC21 EA45 5F046 JA15 Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification FI FI Theme Court II (Reference) G02F 1/13 101 G03F 7/16 G03F 7/16 H01L 21/30 577 (72) Inventor Atsushi Mitsuda Atsushi Mitsuda Taito-ku, Tokyo Taito-ku, Tokyo 1-5-1 No. 1 Toppan Printing Co., Ltd. F-term (Reference) 2H025 AA18 AB13 DA19 EA10 2H048 BA11 BB02 BB14 BB42 2H088 FA18 FA30 HA01 HA12 MA01 MA20 4D075 BB20Z BB24Z DA06 DB13 DC21 EA45 5F046 JA15

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ガラス基板上にフォトレジストの塗布膜を
形成する際に、フォトレジストを塗布、初期乾燥した直
後に、ガラス基板周縁部のレジストビードを、フォトレ
ジストを溶解しない液体の高圧噴射によって除去するこ
とを特徴とするレジストビード除去方法。
When a photoresist coating film is formed on a glass substrate, immediately after the photoresist is applied and initially dried, a resist bead on the periphery of the glass substrate is removed by high-pressure injection of a liquid that does not dissolve the photoresist. A method for removing a resist bead, comprising removing the resist bead.
【請求項2】ガラス基板上にフォトレジストの塗布膜を
形成する際に、フォトレジストを塗布、初期乾燥した直
後の、ガラス基板周縁部のレジストビードを除去するレ
ジストビード除去装置において、フォトレジストを溶解
しない液体を高圧噴射するヘッド部を具備することを特
徴とするレジストビード除去装置。
2. A resist bead removing device for removing a resist bead on a peripheral portion of a glass substrate immediately after applying a photoresist and initial drying when forming a coating film of the photoresist on the glass substrate. A resist bead removing device comprising a head for jetting a liquid that does not dissolve at a high pressure.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008028156A (en) * 2006-07-21 2008-02-07 Toppan Printing Co Ltd Method for removing resist of end of glass substrate
JP2008211143A (en) * 2007-02-28 2008-09-11 Toppan Printing Co Ltd End face processor
JP2008277359A (en) * 2007-04-25 2008-11-13 Mtc:Kk Device for removing photo-resist on square-shaped body to be treated

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