JP2002094294A - Substrate carrier - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶パネル等を製
造するための部品実装装置に係り、とりわけ、実装対象
となる基板を搬送する基板搬送装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a component mounting apparatus for manufacturing a liquid crystal panel and the like, and more particularly, to a board transfer apparatus for transferring a board to be mounted.
【0002】[0002]
【従来の技術】一般に、液晶パネル等を製造するための
部品実装装置として、基板上に電子部品を実装する部品
実装装置が知られている。このような部品実装装置では
一般に、基板供給装置から供給された基板が基板搬送装
置によって電子部品圧着位置に位置付けられ、熱圧着ツ
ール等からなる電子部品圧着装置により、基板の電極上
に電子部品のリードがACF等の接着部材を介して圧着
されるようになっている。ここで、基板搬送装置は、基
板が載置されるステージと、ステージをX−Y平面内で
移動させるステージ駆動機構とを備え、ステージ上に載
置された基板を電子部品圧着位置や清掃位置、接着部材
貼付位置へ搬送することができるようになっている。な
お、このような基板搬送装置では、ステージと他の装置
(電子部品圧着装置や清掃装置、接着部材貼付装置等)
との間で機械的な干渉を引き起こすおそれがあるので、
その移動範囲をあらかじめ規制しておくことが一般的で
ある。2. Description of the Related Art Generally, as a component mounting apparatus for manufacturing a liquid crystal panel or the like, a component mounting apparatus for mounting electronic components on a substrate is known. In such a component mounting apparatus, generally, a substrate supplied from a substrate supply device is positioned at an electronic component crimping position by a substrate transport device, and the electronic component crimping device including a thermocompression tool or the like is used to mount the electronic component on an electrode of the substrate. The lead is pressure-bonded via an adhesive member such as an ACF. Here, the substrate transfer device includes a stage on which the substrate is mounted, and a stage driving mechanism for moving the stage in the XY plane. , Can be transported to the adhesive member attaching position. In such a substrate transfer device, a stage and other devices (such as an electronic component crimping device, a cleaning device, and an adhesive member attaching device) are used.
May cause mechanical interference with
In general, the movement range is regulated in advance.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の基板搬送装置では、ステージの移動許容範囲を
ステージのX−Y平面内での向きやサイズ等を考慮する
ことなく決定しているので、ステージのX−Y平面内で
の向きやサイズ等によって機械的な干渉が発生するおそ
れがある。However, in the conventional substrate transfer apparatus described above, the allowable range of the stage movement is determined without considering the orientation, size, etc. of the stage in the XY plane. Mechanical interference may occur depending on the orientation, size, and the like of the stage in the XY plane.
【0004】本発明はこのような点を考慮してなされた
ものであり、ステージのX−Y平面内での向きやサイズ
等にかかわらず、他の装置(電子部品圧着装置や清掃装
置)との干渉を確実に防止することができる基板搬送装
置を提供することを目的とする。[0004] The present invention has been made in view of such a point, and regardless of the orientation, size, and the like of the stage in the XY plane, it is compatible with other devices (electronic component crimping device and cleaning device). It is an object of the present invention to provide a substrate transfer device capable of reliably preventing interference between the substrates.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】本発明は、基板を保持す
る保持機構と、前記保持機構を基板保持面内で所定の目
標位置まで移動させる移動機構と、前記保持機構が所定
の移動範囲内で移動するよう前記移動機構を制御するコ
ントローラと、前記保持機構の移動範囲を規制するため
のリミット値を保持機構の前記基板保持面内での延在状
態に応じて複数記憶する記憶装置とを備え、前記コント
ローラは、前記記憶装置の記憶内容に基づいて、前記保
持機構の前記基板保持面内での延在状態に応じてリミッ
ト値を切り替え、この切り替えられたリミット値と前記
保持機構の目標位置とに基づいて前記移動機構を制御す
ることを特徴とする基板搬送装置を提供する。According to the present invention, there is provided a holding mechanism for holding a substrate, a moving mechanism for moving the holding mechanism to a predetermined target position within a substrate holding surface, and a method for moving the holding mechanism within a predetermined moving range. A controller that controls the moving mechanism so as to move the storage mechanism, and a storage device that stores a plurality of limit values for regulating a moving range of the holding mechanism in accordance with an extension state of the holding mechanism in the substrate holding surface. The controller switches a limit value in accordance with a state of extension of the holding mechanism in the substrate holding surface, based on a storage content of the storage device, and sets the switched limit value and a target of the holding mechanism. A substrate transfer device is provided, wherein the moving mechanism is controlled based on a position.
【0006】なお、本発明においては、前記保持機構の
前記基板保持面は水平面であり、前記保持機構はその向
きに応じて水平面内での縦横の長さが異なり、前記コン
トローラは、前記保持機構の水平面内での向きに応じて
リミット値を切り替え、この切り替えられたリミット値
と前記保持機構の目標位置とに基づいて前記移動機構を
制御することが好ましい。また、前記保持機構の前記基
板保持面は水平面であり、前記保持機構はその種類に応
じて水平面内でのサイズが異なり、前記コントローラ
は、前記保持機構の種類に応じてリミット値を切り替
え、この切り替えられたリミット値と前記保持機構の目
標位置とに基づいて前記移動機構を制御することが好ま
しい。さらに、前記保持機構は矩形状のステージである
ことが好ましい。In the present invention, the substrate holding surface of the holding mechanism is a horizontal plane, and the length of the holding mechanism in the horizontal plane varies depending on its orientation. It is preferable that the limit value is switched according to the direction of the holding mechanism in the horizontal plane, and the moving mechanism is controlled based on the switched limit value and the target position of the holding mechanism. Further, the substrate holding surface of the holding mechanism is a horizontal plane, the size of the holding mechanism in the horizontal plane varies depending on the type thereof, and the controller switches a limit value according to the type of the holding mechanism. Preferably, the moving mechanism is controlled based on the switched limit value and the target position of the holding mechanism. Further, it is preferable that the holding mechanism is a rectangular stage.
【0007】本発明によれば、保持機構の基板保持面内
での延在状態(保持機構の基板保持面内での向きやサイ
ズ等)に応じて、保持機構の移動範囲を規制するための
リミット値を切り替えているので、保持機構の基板保持
面内での延在状態にかかわらず、他の装置(電子部品圧
着装置や清掃装置、接着部材貼付装置等)との干渉を確
実に防止することができる。According to the present invention, the range of movement of the holding mechanism is regulated in accordance with the state of extension of the holding mechanism within the substrate holding surface (such as the orientation and size of the holding mechanism within the substrate holding surface). Since the limit value is switched, it is possible to reliably prevent interference with other devices (such as an electronic component crimping device, a cleaning device, and an adhesive member attaching device) regardless of the state of extension of the holding mechanism within the substrate holding surface. be able to.
【0008】[0008]
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態について説明する。図1乃至図5は本発明によ
る基板搬送装置の一実施の形態を説明するための図であ
る。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1 to 5 are views for explaining an embodiment of the substrate transfer device according to the present invention.
【0009】図1に示すように、本実施の形態に係る基
板搬送装置10は、基板上に電子部品を実装する部品実
装装置に組み込まれて用いられるものであり、矩形状の
ステージ(保持機構)11と、ステージ11を基板保持
面であるX−Y平面(水平面)内で電子部品圧着位置
(目標位置)まで移動させるステージ駆動機構(移動機
構)12とを備えている。なお、ステージ駆動機構12
は、ステージ11を基板保持面であるX−Y平面内で移
動させるためのX軸用サーボモータ(図示せず)および
Y軸用サーボモータ(図示せず)と、ステージ11をθ
軸回りに回転させるためのθ軸用サーボモータ(図示せ
ず)とを有している。なお、ステージ11は、図2に示
すように、基板20の外形に合わせてX−Y平面内での
縦横の長さ(L1、L2)が異なっている。また、ステ
ージ11はステージ駆動機構12に対して着脱自在に取
り付けられており、基板20のサイズに応じて、サイズ
が異なる複数種類のステージが取り付けられるようにな
っている。As shown in FIG. 1, a board transfer apparatus 10 according to the present embodiment is used by being incorporated in a component mounting apparatus for mounting electronic components on a board, and has a rectangular stage (holding mechanism). ) 11 and a stage drive mechanism (moving mechanism) 12 for moving the stage 11 to an electronic component crimping position (target position) in an XY plane (horizontal plane) which is a substrate holding surface. The stage drive mechanism 12
The X axis servo motor (not shown) and the Y axis servo motor (not shown) for moving the stage 11 in the XY plane which is the substrate holding surface,
And a θ-axis servomotor (not shown) for rotating around an axis. As shown in FIG. 2, the stage 11 has different vertical and horizontal lengths (L1, L2) in the XY plane according to the outer shape of the substrate 20. The stage 11 is removably attached to the stage drive mechanism 12, and a plurality of types of stages having different sizes are attached according to the size of the substrate 20.
【0010】ここで、ステージ駆動機構12にはコント
ローラ13が接続されており、ステージ11が所定の移
動範囲内で移動するようステージ駆動機構12を制御す
ることができるようになっている。なお、コントローラ
13には記憶装置14が接続されている。記憶装置14
には、ステージ11の移動範囲を規制するためのリミッ
ト値(移動範囲のX方向およびY方向に関する上下限
値)がステージ11のX−Y平面内での延在状態(ステ
ージ11のX−Y平面内での向き、および現在取り付け
られているステージ11のX−Y平面内でのサイズ)に
応じて複数記憶されており、そのうちの一つがコントロ
ーラ13内のレジスタ13aに読み込まれて設定される
ようになっている。Here, a controller 13 is connected to the stage driving mechanism 12, so that the stage driving mechanism 12 can be controlled so that the stage 11 moves within a predetermined moving range. Note that a storage device 14 is connected to the controller 13. Storage device 14
In the figure, the limit value for regulating the movement range of the stage 11 (the upper and lower limit values in the X direction and the Y direction of the movement range) is determined by the extension state of the stage 11 in the XY plane (XY of the stage 11). A plurality of data are stored according to the orientation in the plane and the size of the currently mounted stage 11 in the XY plane), and one of them is read and set in the register 13a in the controller 13. It has become.
【0011】また、コントローラ13にはステージ角度
検出部15およびステージサイズ検出部16が接続され
ており、その検出結果がコントローラ13に入力される
ようになっている。なお、ステージ角度検出部15とし
ては、ステージ駆動機構12のθ軸用サーボモータに組
み込まれたエンコーダ等を用いることができる。ステー
ジサイズ検出部16としては、例えば、X方向に所定の
間隔で配置された複数の光学式センサとY方向に所定の
間隔で配置された複数の光学式センサの組等を用いるこ
とができ、ステージ11をステージサイズ検出部16に
よる測定位置に位置付けたときの各光学式センサの出力
状態に基づいてステージ11のサイズ(縦横の長さL
1、L2)を測定する。A stage angle detector 15 and a stage size detector 16 are connected to the controller 13, and the detection results are input to the controller 13. In addition, as the stage angle detection unit 15, an encoder or the like incorporated in the θ-axis servo motor of the stage drive mechanism 12 can be used. As the stage size detection unit 16, for example, a set of a plurality of optical sensors arranged at predetermined intervals in the X direction and a plurality of optical sensors arranged at predetermined intervals in the Y direction can be used. Based on the output state of each optical sensor when the stage 11 is positioned at the measurement position by the stage size detection unit 16, the size of the stage 11 (length and width L
1, L2) is measured.
【0012】なお、コントローラ13においては、ステ
ージ角度検出部15およびステージサイズ検出部16に
よる検出結果と、記憶装置14の記憶内容とに基づい
て、ステージ11のX−Y平面内での延在状態(ステー
ジ11のX−Y平面内での向き、および現在取り付けら
れているステージ11のX−Y平面内でのサイズ)に応
じてリミット値を切り替えることができるようになって
おり、この切り替えられたリミット値とステージ11の
目標位置とに基づいてステージ駆動機構12を制御する
ことができるようになっている。In the controller 13, based on the detection results of the stage angle detector 15 and the stage size detector 16 and the contents stored in the storage device 14, the extension state of the stage 11 in the XY plane is determined. The limit value can be switched according to (the orientation of the stage 11 in the XY plane and the size of the currently mounted stage 11 in the XY plane). The stage driving mechanism 12 can be controlled based on the limit value and the target position of the stage 11.
【0013】次に、このような構成からなる本実施の形
態の作用について説明する。Next, the operation of the present embodiment having such a configuration will be described.
【0014】図1に示す基板搬送装置10において、搬
送対象となる基板がステージ11上に載置されると、コ
ントローラ13は、ステージ駆動機構12を制御して、
ステージ11上に載置された基板を電子部品圧着位置
(図4(a)(b)(c)および図5(a)(b)の符号30参照)ま
で移動させる。In the substrate transfer apparatus 10 shown in FIG. 1, when a substrate to be transferred is placed on the stage 11, the controller 13 controls the stage drive mechanism 12 to
The substrate placed on the stage 11 is moved to the electronic component crimping position (see reference numerals 30 in FIGS. 4A, 5B, and 5C and FIGS. 5A and 5B).
【0015】このとき、コントローラ13は、レジスタ
13aに設定されたリミット値とステージ11の目標位
置(電子部品圧着位置)の座標とを比較し、目標位置が
リミット値を越えていない場合にはステージ駆動機構1
2を制御し、そうでない場合にはステージ駆動機構12
の制御を中止する。At this time, the controller 13 compares the limit value set in the register 13a with the coordinates of a target position (electronic component crimping position) of the stage 11, and if the target position does not exceed the limit value, the stage 13 Drive mechanism 1
2; otherwise, the stage drive mechanism 12
The control of is stopped.
【0016】ここで、ステージ11は、その向きに応じ
てX−Y平面内での縦横の長さ(L1,L2)が異なっ
ているので、図4(a)(b)(c)に示すように、ステージ1
1の外形の移動許容範囲R0が一定であるとすると、ス
テージ11のX−Y平面内での向き(角度)に応じて移
動許容範囲R1,R2,R3(ステージ11の中心位置
Cを基準とするもの)が異なることとなる。このため、
例えば、横長状態の場合の移動許容範囲(図4(a)の符
号R1参照)を前提としてリミット値を設定している場
合には、ステージ11を縦長状態で用いたときには、電
子部品圧着位置30に位置する電子部品圧着装置にぶつ
かる可能性がでてくる。Here, since the stage 11 has different lengths (L1, L2) in the XY plane depending on its orientation, it is shown in FIGS. 4 (a), 4 (b) and 4 (c). So, stage 1
Assuming that the movement allowable range R0 of the outer shape 1 is constant, the movement allowable ranges R1, R2, and R3 (based on the center position C of the stage 11) in accordance with the direction (angle) of the stage 11 in the XY plane. That are different). For this reason,
For example, when the limit value is set on the premise of the allowable movement range in the horizontally long state (see reference numeral R1 in FIG. 4A), when the stage 11 is used in the vertically long state, the electronic component crimping position 30 is set. There is a possibility of hitting the electronic component crimping device located at
【0017】また、ステージ11としては、サイズが異
なる複数種類のステージが取り付けられるので、図5
(a)(b)に示すように、ステージ11の外形の移動許容範
囲R0が一定であるとすると、ステージ11のサイズに
応じて移動許容範囲R4,R5(ステージ11の中心位
置Cを基準とするもの)が異なることとなる。このた
め、例えば、小サイズのステージ11の場合の移動許容
範囲(図5(b)の符号R5参照)を前提としてリミット
値を設定している場合には、大サイズのステージ11を
用いたときには、電子部品圧着位置30に位置する電子
部品圧着装置にぶつかる可能性がでてくる。Since a plurality of types of stages having different sizes are mounted as the stage 11, FIG.
As shown in (a) and (b), assuming that the allowable movement range R0 of the outer shape of the stage 11 is constant, the allowable movement ranges R4 and R5 (based on the center position C of the stage 11) are determined according to the size of the stage 11. That are different). For this reason, for example, when the limit value is set on the premise of the allowable movement range of the small-sized stage 11 (see reference numeral R5 in FIG. 5B), when the large-sized stage 11 is used. Therefore, there is a possibility that an electronic component crimping device located at the electronic component crimping position 30 may be hit.
【0018】このため、コントローラ13においては、
ステージ角度検出部15およびステージサイズ検出部1
6による検出結果と、記憶装置14の記憶内容とに基づ
いて、ステージ11のX−Y平面内での延在状態(ステ
ージ11のX−Y平面内での向き、および現在取り付け
られているステージ11のX−Y平面内でのサイズ)に
応じてリミット値を切り替える。For this reason, in the controller 13,
Stage angle detector 15 and stage size detector 1
6 based on the detection result of the storage device 14 and the contents stored in the storage device 14, the extension state of the stage 11 in the XY plane (the orientation of the stage 11 in the XY plane, 11 in the XY plane).
【0019】図3は図1に示す基板搬送装置におけるリ
ミット値の設定方法を説明するためのフローチャートで
ある。なお、ここでは、ステージ11として、大サイズ
および小サイズの2種類のものが用いられる場合を例に
挙げて説明する。FIG. 3 is a flowchart for explaining a method of setting a limit value in the substrate transfer apparatus shown in FIG. Here, the case where two types of large size and small size are used as the stage 11 will be described as an example.
【0020】図3に示すように、まず、ステージサイズ
検出部16による検出結果に基づいてステージ11の種
類を判断し(ステップ101)、ステージ11が大サイ
ズのステージであると判断された場合には、ステップ1
02に進む。そして、ステップ102において、ステー
ジ角度検出部15による検出結果に基づいてステージ1
1のX−Y平面内での向き(横長状態、縦長状態、およ
びそれ以外)を判断し、それぞれの場合につき、記憶装
置14に記憶された、対応するリミット値を読み出して
レジスタ13aに設定する(ステップ104乃至10
6)。なお、電子部品圧着装置における実際の圧着動作
では、ステージ11の向きは、所定の誤差(±5度程
度)はあるものの基本的に横長状態または縦長状態のい
ずれかの向きとなる。このため、ここではステージの角
度ごとにリミット値を準備するのではなく、簡易的に次
のような3種類のリミット値を準備することとする。す
なわち、(1)横長状態で±5度傾いていても干渉しない
値(横長状態の場合のリミット値)、(2)縦長状態で±
5度傾いていても干渉しない値(縦長状態の場合のリミ
ット値)、(3)ステージがどの角度に傾いても干渉しな
い値(それ以外の場合のリミット値)。As shown in FIG. 3, first, the type of the stage 11 is determined on the basis of the detection result by the stage size detector 16 (step 101), and when it is determined that the stage 11 is a large-sized stage, Is Step 1
Go to 02. Then, in step 102, the stage 1 is detected based on the detection result by the stage angle detection unit 15.
1 is determined in the XY plane (horizontal state, vertical state, and other states), and in each case, the corresponding limit value stored in the storage device 14 is read and set in the register 13a. (Steps 104 to 10
6). In an actual crimping operation of the electronic component crimping apparatus, the direction of the stage 11 is basically in one of a horizontal state and a vertical state although there is a predetermined error (about ± 5 degrees). Therefore, here, the following three types of limit values are simply prepared instead of preparing limit values for each stage angle. That is, (1) a value that does not cause interference even when tilted ± 5 degrees in the horizontal state (limit value in the case of the horizontal state), (2)
A value that does not interfere even if the stage is tilted by 5 degrees (limit value in the case of the vertically long state), and (3) a value that does not interfere even if the stage is tilted at any angle (the limit value in other cases).
【0021】一方、ステップ101において、ステージ
11が小サイズのステージであると判断された場合に
は、ステップ103に進む。ステップ103において
も、ステップ102と同様に、ステージ角度検出部15
による検出結果に基づいてステージ11のX−Y平面内
での向き(横長状態、縦長状態、およびそれ以外)を判
断し、それぞれの場合につき、記憶装置14に記憶され
た、対応するリミット値を読み出してレジスタ13aに
設定する(ステップ107乃至109)。On the other hand, if it is determined in step 101 that the stage 11 is a small-sized stage, the process proceeds to step 103. In step 103, similarly to step 102, the stage angle detection unit 15
The orientation (horizontal state, vertical state, and other states) of the stage 11 in the XY plane is determined on the basis of the detection result by the above, and in each case, the corresponding limit value stored in the storage device 14 is determined. It is read and set in the register 13a (steps 107 to 109).
【0022】なお、このようにしてレジスタ13aにリ
ミット値が設定されると、コントローラ13は、このよ
うにして設定されたリミット値とステージ11の目標位
置とに基づいてステージ駆動機構12を制御する。これ
により、ステージ11上に載置された基板が電子部品圧
着位置30まで搬送される。そして、基板と電子部品と
の相対的な位置ずれがカメラ等を用いて検出され、そし
て検出された位置ずれが修正された後、電子部品圧着位
置30に位置する電子部品圧着装置により、基板の電極
上に電子部品のリードがACF等の接着部材を介して圧
着される。When the limit value is set in the register 13a in this manner, the controller 13 controls the stage driving mechanism 12 based on the limit value set in this way and the target position of the stage 11. . Thus, the substrate placed on the stage 11 is transported to the electronic component crimping position 30. Then, the relative displacement between the substrate and the electronic component is detected using a camera or the like, and after the detected displacement is corrected, the electronic component crimping device located at the electronic component crimping position 30 is used to fix the substrate. The lead of the electronic component is pressed on the electrode via an adhesive member such as ACF.
【0023】このように本実施の形態によれば、ステー
ジ11のX−Y平面内での延在状態(ステージ11のX
−Y平面内での向き、および現在取り付けられているス
テージ11のX−Y平面内でのサイズ)に応じてリミッ
ト値(ステージ11の移動許容範囲)を切り替えている
ので、ステージ11のX−Y平面内での向きやサイズ等
にかかわらず、他の装置(電子部品圧着装置等)との干
渉を確実に防止することができる。As described above, according to the present embodiment, the extended state of the stage 11 in the XY plane (the X
Since the limit value (movable allowable range of the stage 11) is switched according to the orientation in the Y plane and the size of the currently mounted stage 11 in the XY plane, the X- Irrespective of the orientation or size in the Y plane, interference with other devices (such as an electronic component crimping device) can be reliably prevented.
【0024】なお、上述した実施の形態においては、ス
テージ11上に載置された基板を電子部品圧着装置まで
搬送する場合を例に挙げて説明したが、これに限らず、
ステージ11上に載置された基板を他の装置(清掃装置
や接着部材圧着装置等)まで搬送する場合にも同様にし
て適用することが可能である。In the above-described embodiment, the case where the substrate placed on the stage 11 is transported to the electronic component crimping apparatus has been described as an example. However, the present invention is not limited to this.
The present invention can be similarly applied to a case where the substrate placed on the stage 11 is transported to another device (a cleaning device, a bonding member pressing device, or the like).
【0025】また、上述した実施の形態においては、ス
テージ角度検出部15およびステージサイズ検出部16
による検出結果に基づいてリミット値を設定している
が、これに限らず、操作盤等を介して入力された入力情
報に基づいてリミット値を設定するようにしてもよい。In the above-described embodiment, the stage angle detector 15 and the stage size detector 16
Although the limit value is set based on the detection result by the above, the present invention is not limited to this, and the limit value may be set based on input information input through an operation panel or the like.
【0026】さらに、上述した実施の形態においては、
保持機構として、基板を載置するステージ11を例に挙
げて説明したが、これに限らず、基板を吊り上げて保持
するアーム等を用いることも可能である。Further, in the above-described embodiment,
Although the stage 11 on which the substrate is placed has been described as an example of the holding mechanism, the present invention is not limited to this, and an arm or the like that lifts and holds the substrate may be used.
【0027】なお、上述した実施の形態においては、ス
テージ11として、大サイズおよび小サイズの2種類の
ものを用いた場合を例に挙げて説明したが、ステージ1
1のサイズは、3種類以上であってもよい。また、ステ
ージ11の向きに関するリミット値として、簡易的に3
種類のリミット値を設定する場合を例に挙げて説明した
が、所定の角度ごとにリミット値を設定するようにして
もよい。In the above-described embodiment, a case where two types of large and small sizes are used as the stage 11 has been described as an example.
One size may be three or more types. In addition, the limit value for the direction of the stage 11 is simply 3
Although the case of setting the type of limit value has been described as an example, the limit value may be set for each predetermined angle.
【0028】[0028]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、保
持機構の基板保持面内での延在状態(保持機構の基板保
持面内での向きやサイズ等)に応じて、保持機構の移動
範囲を規制するためのリミット値を切り替えているの
で、保持機構の基板保持面内での延在状態にかかわら
ず、他の装置(電子部品圧着装置や清掃装置、接着部材
貼付装置等)との干渉を確実に防止することができる。As described above, according to the present invention, the holding mechanism can be adjusted in accordance with the state of extension of the holding mechanism within the substrate holding surface (such as the orientation and size of the holding mechanism within the substrate holding surface). Since the limit value for restricting the movement range is switched, regardless of the state of extension of the holding mechanism within the substrate holding surface, it can be connected to other devices (such as an electronic component crimping device, a cleaning device, and an adhesive member attaching device). Interference can be reliably prevented.
【図1】本発明による基板搬送装置の一実施の形態を説
明するためのブロック図。FIG. 1 is a block diagram illustrating an embodiment of a substrate transfer device according to the present invention.
【図2】ステージとその上に載置される基板との関係を
説明するための図。FIG. 2 is a view for explaining a relationship between a stage and a substrate mounted thereon.
【図3】図1に示す基板搬送装置におけるリミット値の
設定方法を説明するためのフローチャート。FIG. 3 is a flowchart for explaining a method of setting a limit value in the substrate transfer device shown in FIG. 1;
【図4】ステージの向きと移動許容範囲との関係を説明
するための図。FIG. 4 is a diagram for explaining the relationship between the direction of the stage and the allowable movement range.
【図5】ステージのサイズと移動許容範囲との関係を説
明するための図。FIG. 5 is a diagram for explaining the relationship between the size of the stage and the allowable movement range.
10 基板搬送装置 11 ステージ(保持機構) 12 ステージ駆動機構(移動機構) 13 コントローラ 13a レジスタ 14 記憶装置 15 ステージ角度検出部 16 ステージサイズ検出部 20 基板 30 電子部品圧着位置 C ステージの中心位置 R0 ステージの外形の移動許容範囲 R1,R2,R3,R4,R5 ステージの中心位置の
移動許容範囲Reference Signs List 10 substrate transfer device 11 stage (holding mechanism) 12 stage driving mechanism (moving mechanism) 13 controller 13a register 14 storage device 15 stage angle detector 16 stage size detector 20 substrate 30 electronic component pressing position C center position of stage R0 stage Permissible range of movement of outer shape R1, R2, R3, R4, R5 Permissible range of center position of stage
Claims (4)
させる移動機構と、 前記保持機構が所定の移動範囲内で移動するよう前記移
動機構を制御するコントローラと、 前記保持機構の移動範囲を規制するためのリミット値を
保持機構の前記基板保持面内での延在状態に応じて複数
記憶する記憶装置とを備え、 前記コントローラは、前記記憶装置の記憶内容に基づい
て、前記保持機構の前記基板保持面内での延在状態に応
じてリミット値を切り替え、この切り替えられたリミッ
ト値と前記保持機構の目標位置とに基づいて前記移動機
構を制御することを特徴とする基板搬送装置。1. A holding mechanism for holding a substrate, a moving mechanism for moving the holding mechanism to a predetermined target position within a substrate holding surface, and a moving mechanism for moving the holding mechanism within a predetermined moving range. A controller for controlling, and a storage device for storing a plurality of limit values for regulating a moving range of the holding mechanism in accordance with an extension state of the holding mechanism within the substrate holding surface, wherein the controller A limit value is switched in accordance with a state of extension of the holding mechanism in the substrate holding surface based on the storage content of the device, and the moving mechanism is switched based on the switched limit value and a target position of the holding mechanism. A substrate transport device characterized by controlling the following.
あり、前記保持機構はその向きに応じて水平面内での縦
横の長さが異なり、 前記コントローラは、前記保持機構の水平面内での向き
に応じてリミット値を切り替え、この切り替えられたリ
ミット値と前記保持機構の目標位置とに基づいて前記移
動機構を制御することを特徴とする請求項1記載の基板
搬送装置。2. The substrate holding surface of the protection mechanism is a horizontal plane, and the holding mechanism has different vertical and horizontal lengths in the horizontal plane depending on the orientation thereof. 2. The substrate transfer apparatus according to claim 1, wherein a limit value is switched according to the direction, and the moving mechanism is controlled based on the switched limit value and a target position of the holding mechanism.
あり、前記保持機構はその種類に応じて水平面内でのサ
イズが異なり、 前記コントローラは、前記保持機構の種類に応じてリミ
ット値を切り替え、この切り替えられたリミット値と前
記保持機構の目標位置とに基づいて前記移動機構を制御
することを特徴とする請求項1記載の基板搬送装置。3. The substrate holding surface of the protection mechanism is a horizontal plane, the size of the holding mechanism in the horizontal plane differs according to the type of the protection mechanism, and the controller sets a limit value according to the type of the holding mechanism. 2. The substrate transfer apparatus according to claim 1, wherein the switching mechanism is controlled, and the moving mechanism is controlled based on the switched limit value and a target position of the holding mechanism.
とを特徴とする請求項1乃至3のいずれか記載の基板搬
送装置。4. The substrate transfer apparatus according to claim 1, wherein said holding mechanism is a rectangular stage.
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JP2016225329A (en) * | 2015-05-27 | 2016-12-28 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Component mounting device and determination method of fitting state of component support member |
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- 2000-09-18 JP JP2000281614A patent/JP4222715B2/en not_active Expired - Lifetime
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