JP2002090307A - Surface defect inspection device and inspected result display method for surface defect inspection device - Google Patents

Surface defect inspection device and inspected result display method for surface defect inspection device

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JP2002090307A
JP2002090307A JP2000284240A JP2000284240A JP2002090307A JP 2002090307 A JP2002090307 A JP 2002090307A JP 2000284240 A JP2000284240 A JP 2000284240A JP 2000284240 A JP2000284240 A JP 2000284240A JP 2002090307 A JP2002090307 A JP 2002090307A
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JP
Japan
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defect
inspection
inspected
surface defect
unit
Prior art date
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Pending
Application number
JP2000284240A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasuo Kushida
靖夫 櫛田
Akira Kazama
彰 風間
Tsuneo Suyama
恒夫 陶山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JFE Engineering Corp
Original Assignee
NKK Corp
Nippon Kokan Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the movement of visual point when a visual inspector refers to the inspection information of a surface defect inspection device. SOLUTION: This surface defect inspection device is provided with a moving signal generator 105 for detecting the moving quantity of a continuously conveyed band body to be inspected; a surface inspection part image processing part 201 for inspecting a defect existing on the surface of the inspected body and detecting the position of the defect detected on the basis of a signal from the moving signal generator 105; a monitor 121 for displaying to the effect that there is the defect, in the vicinity of or on the surface of the inspected object; a screen projector 122; and a result output part 207 for commanding the display output of the presence of the defect to the display part on the basis of the position information of the defect detected by the image processing part 201 and moving quantity information from the moving quantity sensor.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば鋼板やアル
ミニウム等の連続的に搬送される帯状の被検査体表面の
検査を行う表面欠陥検査装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a surface defect inspection apparatus for inspecting the surface of a continuously transported belt-like inspection object such as a steel plate or aluminum.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば鋼板やアルミニウム等の帯状体を
製造するラインにおいて被検査体表面の欠陥を検出する
ために、表面欠陥装置が設置されている。
2. Description of the Related Art A surface defect device is installed in a line for producing a strip such as a steel plate or aluminum to detect a defect on the surface of a test object.

【0003】帯状の被検査体の表面検査装置としては、
レーザー光などの点状光源を回転多面鏡などにより被検
査体の搬送方向と垂直な方向(以下、幅方向と記す)に
移動させながら被検査体の表面を走査し、その反射光を
レンズなどで集光した後に光電子増倍管などの光電素子
で受光して、得られた信号を各種の信号処理により疵の
種別やその程度を判定する装置が知られている。
[0003] As a surface inspection apparatus for a band-shaped inspection object,
The surface of the object is scanned while a point light source such as a laser beam is moved in a direction perpendicular to the transport direction of the object (hereinafter, referred to as the width direction) by a rotating polygon mirror or the like, and the reflected light is used as a lens. There is known an apparatus that receives light by a photoelectric element such as a photomultiplier tube after condensing light by using a photomultiplier tube and determines the type and degree of a flaw by performing various kinds of signal processing on the obtained signal.

【0004】このような表面欠陥検査装置においては被
検査体の移動量を計測するため移動信号発生器が取り付
けられており、この信号を表面欠陥検査装置が取り込む
ことによって該表面欠陥検査装置の検査結果を被検査体
の移動に伴いトラッキングするとともに目視検査場に設
置されたCRTなどのモニタ装置などに検査結果などを
表示するか、あるいは検査結果をグループ分けして表示
盤(図示せず)にランプなどを使用して表示することが
一般的であった。
In such a surface defect inspection apparatus, a movement signal generator is attached for measuring the amount of movement of the object to be inspected, and this signal is taken in by the surface defect inspection apparatus so that the inspection of the surface defect inspection apparatus is performed. The results are tracked along with the movement of the object to be inspected, and the inspection results are displayed on a monitor device such as a CRT installed at a visual inspection site, or the inspection results are grouped and displayed on a display panel (not shown). It was common to display using a lamp or the like.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上記のような方法で検
査結果を表示した場合、検査員が被検査体を目視検査す
る場合と、検査装置のモニタ装置を監視する場合で検査
員の視線が異なってしまう。したがって被検査体を目視
検査しようとするとモニタ装置を見ることができず、逆
にモニタ装置により表面欠陥検査装置の検査結果を確認
しようとすると被検査体の目視検査が十分できなくなっ
てしまう。
When the inspection result is displayed by the above-described method, the gaze of the inspector is visually checked by the inspector and when the monitor of the inspection device is monitored. Will be different. Therefore, when the visual inspection of the inspection object is performed, the monitor device cannot be seen. Conversely, when the inspection result of the surface defect inspection device is checked by the monitoring device, the visual inspection of the inspection object cannot be sufficiently performed.

【0006】このような問題を解決する手段のひとつと
して特開平5−142164号公報にはスリット光像に
より井桁状に囲むようにした欠陥の位置表示装置が提案
されている。しかしこの技術では、疵の位置は表示され
ても具体的な検出情報がないため例えば所定の欠陥に対
して自動マーキングなどのアクションがなされる場合、
その疵が自動マーキングの対象として検出しているのか
どうかなどの情報を参照する必要があり、結局上記と同
様検査結果を表示したモニタを参照する必要が生じる。
As one means for solving such a problem, Japanese Patent Laid-Open Publication No. 5-142164 proposes a defect position display device in which a slit light image surrounds a grid. However, in this technology, when the position of the flaw is displayed but there is no specific detection information, for example, when an action such as automatic marking is performed on a predetermined defect,
It is necessary to refer to information such as whether or not the flaw is detected as an object of automatic marking, and eventually it is necessary to refer to the monitor displaying the inspection result in the same manner as described above.

【0007】本発明の目的は、目視検査員が表面欠陥検
査装置の検査情報を参照する場合に視点の移動を少なく
し得る表面欠陥検査装置の表示方法及び表面欠陥検査装
置を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a display method of a surface defect inspection apparatus and a surface defect inspection apparatus which can reduce the movement of a viewpoint when a visual inspector refers to inspection information of the surface defect inspection apparatus. .

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】[構成]本発明は、上記
目的を達成するために以下のように構成されている。
Means for Solving the Problems [Configuration] The present invention is configured as follows to achieve the above object.

【0009】(1)本発明(請求項1)の表面欠陥検査
装置の検査結果表示方法は、連続的に搬送される帯状の
被検査体表面の検査結果を表示する表面欠陥検査装置の
検査結果表示方法において、前記被検査体表面の欠陥を
検知するステップと、前記被検査体の近傍或いは近傍に
欠陥がある旨の表示を行う表示部の近傍を、前記検知さ
れた欠陥が通過した際に、該表示部に欠陥がある旨を表
示するステップとを含む。
(1) The inspection result display method of the surface defect inspection apparatus according to the present invention (claim 1) provides an inspection result of the surface defect inspection apparatus that displays the inspection result of the surface of the belt-like inspected object that is continuously conveyed. In the display method, when the detected defect passes through a step of detecting a defect on the surface of the object to be inspected, and a vicinity of a display unit that indicates that there is a defect near or near the object to be inspected, Displaying a defect on the display unit.

【0010】本発明は、表面欠陥検査装置が欠陥等の特
異点を検出する場合、該検査結果を被検査体上に表示す
る場合において、前記特異点が存在する幅位置には検査
結果を表示しないことが好ましい。
According to the present invention, when the surface defect inspection apparatus detects a singular point such as a defect, and displays the inspection result on the inspection object, the inspection result is displayed at a width position where the singular point exists. Preferably not.

【0011】(2)本発明(請求項2)の表面欠陥検査
装置は、連続的に搬送される帯状の被検査体の移動量を
検出する移動量センサと、前記被検査体の表面に存在す
る欠陥を検査すると共に、前記移動量センサからの移動
量情報に基づいて検出された欠陥の位置を検出する表面
検査部と、前記被検査体の近傍或いは表面に欠陥がある
旨の表示を行う表示部と、前記表面検査部により検出さ
れた欠陥の位置情報、及び前記移動量センサからの移動
量情報に基づいて、前記表示部に対して前記欠陥がある
旨の表示出力を指令する結果出力部とを具備してなる。
(2) A surface defect inspection apparatus according to the present invention (claim 2) includes a movement amount sensor for detecting a movement amount of a belt-like inspected object that is continuously conveyed, And a surface inspection unit for detecting the position of the defect detected based on the movement amount information from the movement amount sensor, and displaying that there is a defect near or on the surface of the inspection object. A display unit, based on position information of the defect detected by the surface inspection unit, and movement amount information from the movement amount sensor, a result output for instructing the display unit to output a display indicating that the defect is present; Unit.

【0012】[作用]本発明は、上記構成によって以下
の作用・効果を有する。
[Operation] The present invention has the following operation and effects by the above configuration.

【0013】被検査体の近傍或いは表面に欠陥がある旨
の表示を行う表示部の近傍に、検出された欠陥が通過す
る際に、前記表示部に対して前記欠陥がある旨の表示を
させることによって、視点の移動を少なくすることがで
き、目視検査を行う場合に疵の見逃し等を防ぐことが可
能となる。
When a detected defect passes near the inspection object or near a display unit for displaying that there is a defect on the surface, the display unit displays an indication that the defect is present. Thereby, the movement of the viewpoint can be reduced, and it is possible to prevent a flaw from being overlooked when performing a visual inspection.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を以下に図面
を参照して説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0015】図1は、本発明の一実施形態に係わる鋼板
などの薄板を製造する連続製造ラインの概略構成を示す
図である。図1に示すように、上工程から送られてきた
各コイル(被検査体)100が図示されない払出機によ
り連続的に払い出される。コイル100は、連続的にラ
インを通過させるため溶接機などの図示されない接合機
により接合される。その後洗浄、焼鈍、各種表面処理あ
るいは圧延処理などにより所定の性状を有する製品とす
るための各種プロセス処理部103を通過した後、表面
欠陥検査装置110により表面の検査が行われる。検査
後、切断機108により所定の長さあるいは重量毎に切
断され、巻取機109によってコイル状に巻取られる。
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a continuous production line for producing a thin plate such as a steel plate according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, each coil (test object) 100 sent from the upper process is continuously paid out by a payout machine (not shown). The coil 100 is joined by a joining machine (not shown) such as a welding machine in order to continuously pass through the line. Thereafter, after passing through various processing units 103 for obtaining products having predetermined properties by washing, annealing, various surface treatments, rolling treatments, or the like, the surface is inspected by a surface defect inspection device 110. After the inspection, the sheet is cut into predetermined lengths or weights by a cutting machine 108 and wound into a coil by a winding machine 109.

【0016】なお表面欠陥検査装置110は、通常、ラ
イン内で発生する異常を検査するためラインの最終工程
近傍に設置される。表面欠陥検査装置においてはコイル
100の移動量を計測するため移動信号発生器105が
取り付けられている。演算器111は、移動信号発生器
105からの信号に同期して表画像入力部112a及び
裏画像入力部112bによりコイル100の表面を撮像
し、得られた撮像データを演算器111で処理して検査
を行う。そして、演算器111は、検査結果を移動信号
に応じてモニタ出力信号を出力する。モニタ出力信号
は、目視検査場120に設置されたモニタ121或いは
画面投射器122に入力される。なお、モニタ121
は、CRT等からなる。また、画面投射器122は、モ
ニタ表示信号を取り込み、目視検査場120に設置され
たスクリーン等に投射する。なお、画面投射器122
は、被検査体上または被検査体に隣接する場所に表示で
きる構成とする。
The surface defect inspection apparatus 110 is usually installed near the last step of the line for inspecting an abnormality occurring in the line. In the surface defect inspection apparatus, a movement signal generator 105 is attached to measure a movement amount of the coil 100. The arithmetic unit 111 images the surface of the coil 100 with the front image input unit 112a and the back image input unit 112b in synchronization with the signal from the movement signal generator 105, and processes the obtained image data with the arithmetic unit 111. Perform an inspection. Then, the calculator 111 outputs a monitor output signal in accordance with the movement signal of the inspection result. The monitor output signal is input to the monitor 121 or the screen projector 122 installed in the visual inspection place 120. The monitor 121
Is composed of a CRT or the like. Further, the screen projector 122 captures the monitor display signal and projects it on a screen or the like installed in the visual inspection place 120. Note that the screen projector 122
Can be displayed on the inspection object or at a place adjacent to the inspection object.

【0017】次に、表面欠陥検査装置の構成及び動作に
ついて図2を用いて説明する。図2は、本発明の一実施
形態に係わる表面欠陥検査装置の概略構成を示す構成図
である。
Next, the configuration and operation of the surface defect inspection apparatus will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a configuration diagram showing a schematic configuration of a surface defect inspection apparatus according to one embodiment of the present invention.

【0018】画像入力部112(112a,112b)
で得られた被検査体の表面像(アナログ信号)は、表面
像から疵候補を選ぶ画像処理部201に対して出力され
る。画像入力部112は、CCDカメラやフォトマル
(光電子増倍管)などの画像撮像手段と、これらの画像
撮像手段に被検査体表面からの光を導くためのレンズ、
ミラーや光学的な補正を行うためのフィルタなどから構
成される。また、画像処理部201は、アナログ信号を
ディジタル信号に変換するA/D変換器などの入力部、
入力された信号に対して地合の影響を除くためのシェー
ディング補正など各種補正処理や空間フィルタなどの前
処理部分、得られた画像から2値以上にクラス分けする
n値化や所定の閾値により疵候補を抽出する。被検査体
のエッジ部を含めて検査を行う場合、通常エッジ部は不
均一面であるため、エッジ部をマスクしたり、処理を替
えたりする必要がある。このため、被検査体のエッジ位
置を検出する必要があるが、このエッジ位置検出もこの
画像処理部201で行われる。画像処理部201は、抽
出された疵候補の位置及び情報を記憶部202に格納す
る。
Image input unit 112 (112a, 112b)
The surface image (analog signal) of the object to be inspected obtained in is output to the image processing unit 201 that selects a flaw candidate from the surface image. The image input unit 112 includes image capturing means such as a CCD camera and a photomultiplier (photomultiplier tube), and a lens for guiding light from the surface of the test object to these image capturing means.
It is composed of a mirror and a filter for performing optical correction. The image processing unit 201 includes an input unit such as an A / D converter that converts an analog signal into a digital signal,
Various correction processes such as shading correction to remove the influence of formation on the input signal, pre-processing parts such as a spatial filter, n-value classification into two or more values from the obtained image, and a predetermined threshold Flaw candidates are extracted. When an inspection is performed including the edge portion of the object to be inspected, since the edge portion is usually an uneven surface, it is necessary to mask the edge portion or change the processing. For this reason, it is necessary to detect the edge position of the object to be inspected. This edge position detection is also performed by the image processing unit 201. The image processing unit 201 stores the positions and information of the extracted flaw candidates in the storage unit 202.

【0019】特徴量演算部203は、記憶部202に格
納された疵候補のデータを読み出し、読み出した疵候補
データから画像処理部で得られた疵候補の長さや幅、面
積などを演算する。演算された各疵候補の長さや幅、面
積などは、各疵候補のデータに追加して記憶部202に
格納する。
The feature calculation unit 203 reads the data of the flaw candidates stored in the storage unit 202, and calculates the length, width, area, etc. of the flaw candidates obtained by the image processing unit from the read flaw candidate data. The calculated length, width, area, and the like of each flaw candidate are stored in the storage unit 202 in addition to the data of each flaw candidate.

【0020】疵種判定部204は、記憶部202に格納
された疵候補データを読み出し、読み出された疵候補の
長さや幅、面積情報から所定のアルゴリズムによって疵
種別を判定する。疵程度判定部205は、記憶部202
に格納された疵候補データを読み出し、読み出された特
徴量演算部203で得られた特徴量や疵種判定部で得ら
れた疵種別から疵の程度を判定する。疵種判定部204
及び疵程度判定部205は、判定された疵種及び疵程度
を疵の位置情報と共に出力部207に出力する。出力部
207は、移動信号発生器105からの信号により、検
査結果の位置情報を移動信号発生器105からの移動量
情報に基づきトラッキングし、移動情報に基づいて検査
結果が所定の位置に達したとき該検査結果あるいは疵検
出画像などを含むモニタ出力信号をモニタ121及び画
面投射器122に対して出力する。なお、モニタ121
画面投射器122以外にも、検査場120付近に設けら
れたプリンタ、ランプ,ブザーなどのアナンシェータに
出力しても良い。このような検査結果表示方法とするこ
とによって、検査員に疵の接近がわかるため、検出され
た疵の目視判断を行う場合において見逃しの危険性を小
さくすることができる。
The flaw type determination unit 204 reads the flaw candidate data stored in the storage unit 202 and determines the flaw type by a predetermined algorithm from the read length, width, and area information of the flaw candidates. The flaw degree determination unit 205 includes a storage unit 202
Is read, and the degree of the flaw is determined from the read characteristic amount obtained by the read characteristic amount calculation unit 203 and the flaw type obtained by the flaw type determination unit. Flaw type determination unit 204
The flaw degree determining unit 205 outputs the determined flaw type and flaw degree to the output unit 207 together with the flaw position information. The output unit 207 tracks the position information of the inspection result based on the movement amount information from the movement signal generator 105 based on the signal from the movement signal generator 105, and the inspection result reaches a predetermined position based on the movement information. At this time, a monitor output signal including the inspection result or the flaw detection image is output to the monitor 121 and the screen projector 122. The monitor 121
In addition to the screen projector 122, the image may be output to an annunciator such as a printer, a lamp, or a buzzer provided near the inspection site 120. By adopting such an inspection result display method, the approach of the flaw can be known to the inspector, so that the risk of oversight can be reduced when the detected flaw is visually determined.

【0021】図3は、図1に示した目視検査場の概略を
説明する模式図である。図3において120は目視検査
場、302は被検査体、303は操業情報表示盤、30
4は画面投射器により被検査体に表示された画面表示エ
リアの例、305は被検査体に隣接して設けられたスク
リーンである。
FIG. 3 is a schematic diagram for explaining the outline of the visual inspection site shown in FIG. In FIG. 3, reference numeral 120 denotes a visual inspection site, 302 denotes an inspection object, 303 denotes an operation information display panel,
4 is an example of a screen display area displayed on the test object by the screen projector, and 305 is a screen provided adjacent to the test object.

【0022】図3に示すように、目視検査場120は、
周期性の欠陥などを検査するため、ある程度の広さを有
しているのが一般的である。また、目視検査場120に
は、操業中の被検査体の諸元を表示したりするために操
業情報表示盤303が設置されることが多い。このよう
な目視検査場120において、例えば被検査体302上
に表示する場合は、目視検査場120に隣接する部分に
画面投射器208からエリア304に表示する。あるい
はスペース的に余裕のある目視検査場120においては
被検査体に隣接する場所にスクリーン305を設け、ス
クリーン305に画面を表示することによって検査員の
視線の移動をほとんど解消することができる。
As shown in FIG. 3, the visual inspection site 120
In general, it has a certain size in order to inspect a periodic defect or the like. In addition, the visual inspection site 120 is often provided with an operation information display panel 303 for displaying the specifications of the inspected object during operation. In such a visual inspection place 120, for example, when the image is displayed on the inspection object 302, the image is displayed on the area 304 from the screen projector 208 in a portion adjacent to the visual inspection place 120. Alternatively, in the visual inspection site 120 having a sufficient space, a screen 305 is provided at a location adjacent to the object to be inspected, and by moving the screen on the screen 305, the movement of the line of sight of the inspector can be almost eliminated.

【0023】また移動信号発生器105からの信号によ
り、前記表面欠陥検査装置で検出した検査結果の位置情
報を前記移動量センサからの移動量情報に基づきトラッ
キングし、この情報に基づき前記表面欠陥検査装置の検
査結果が所定の位置に達したとき該検査結果あるいは疵
検出画像などを被検査体表面あるいは被検査体に隣接す
る場所に表示するような検査結果表示方法とすることに
よって、検査員に疵の接近がわかるため、検出された疵
の目視判断を行う場合において見逃しの危険性を小さく
することができる。
In accordance with a signal from the movement signal generator 105, position information of the inspection result detected by the surface defect inspection apparatus is tracked based on the movement amount information from the movement amount sensor, and based on the information, the surface defect inspection is performed. When the inspection result of the device reaches a predetermined position, the inspection result or a flaw detection image or the like is displayed on the surface of the inspection object or a place adjacent to the inspection object, so that the inspection result is displayed to the inspector. Since the approach of the flaw is known, the risk of oversight can be reduced when the detected flaw is visually determined.

【0024】また前記表面欠陥検査装置の検査結果画面
を被検査体上に表示する場合であって、検査対象が欠陥
などの特異点である場合、特異点の存在する幅位置には
検査結果を表示しないようにすることによって被検査体
Lの特異点を確認することが容易となる。
In the case where the inspection result screen of the surface defect inspection apparatus is displayed on the object to be inspected, and the inspection object is a singular point such as a defect, the inspection result is displayed at a width position where the singular point exists. By not displaying, it becomes easy to confirm the singular point of the test object L.

【0025】なお本実施例においては被検査体に隣接す
る場所に画面を表示する場合において、画面の視認性を
良くするためスクリーンを使用した場合で説明している
が、視認性に問題がなければスクリーン等を設けずその
まま表示しても良い。あるいは、検査員の安全のためガ
ラス窓等がある場合には、ガラス面に画面を表示しても
良い。検査結果をグループ分けして表示盤(図示せず)
にランプなどを使用して表示しても良い。
In this embodiment, the case where the screen is used to improve the visibility of the screen when displaying the screen at a place adjacent to the object to be inspected has been described, but there is no problem in the visibility. For example, it may be displayed as it is without providing a screen or the like. Alternatively, when there is a glass window or the like for the safety of the inspector, a screen may be displayed on the glass surface. Display panel (not shown) with inspection results grouped
May be displayed using a lamp or the like.

【0026】なお、本発明は、上記実施形態に限定され
るものではない。例えば、本技術はここで紹介した構成
の検査装置あるいはラインに限定されるものではなく、
磁気や渦電流を用いた探傷装置など、検査情報を表示す
べき全ての表面欠陥検査装置およびそれが設置された帯
状体の製造ラインに適用できるものである。
The present invention is not limited to the above embodiment. For example, the present technology is not limited to the inspection device or line having the configuration introduced here,
The present invention can be applied to all surface defect inspection apparatuses for which inspection information is to be displayed, such as a flaw detection apparatus using magnetism or eddy current, and to a production line for a strip on which the inspection information is installed.

【0027】その他、本発明は、その要旨を逸脱しない
範囲で、種々変形して実施することが可能である。
In addition, the present invention can be variously modified and implemented without departing from the gist thereof.

【0028】[0028]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、被
検査体の近傍或いは表面に欠陥がある旨の表示を行う表
示部の近傍に、検出された欠陥が通過する際に、前記表
示部に対して前記欠陥がある旨の表示をさせることによ
って、視点の移動を少なくすることができ、目視検査を
行う場合に疵の見逃し等を防ぐことが可能となる。
As described above, according to the present invention, when the detected defect passes through the vicinity of the object to be inspected or the vicinity of the display section for displaying that there is a defect on the surface, the display is performed. By displaying the defect to the part, it is possible to reduce the movement of the viewpoint, and it is possible to prevent a flaw from being overlooked when performing a visual inspection.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態に係わる鋼板などの薄板を
製造する連続製造ラインの概略構成を示す図。
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a continuous production line for producing a thin plate such as a steel plate according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施形態に係わる表面欠陥検査装置
の概略構成を示す構成図。
FIG. 2 is a configuration diagram showing a schematic configuration of a surface defect inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図3】図1に示した目視検査場の概略を説明する模式
図。
FIG. 3 is a schematic diagram for explaining the outline of a visual inspection site shown in FIG. 1;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100…コイル 103…各種プロセス処理部 105…移動信号発生器 108…切断機 109…巻取機 110…表面欠陥検査装置 111…演算器 112…画像入力部 112a…表画像入力部 112b…裏画像入力部 120…目視検査場 121…モニタ 122…画面投射器 201…画像処理部 202…記憶部 203…特徴量演算部 204…疵種判定部 205…疵程度判定部 207…出力部 208…画面投射器 302…被検査体 303…操業情報表示盤 304…エリア 305…スクリーン REFERENCE SIGNS LIST 100 coil 101 various processing units 105 moving signal generator 108 cutting machine 109 winding machine 110 surface defect inspection device 111 arithmetic unit 112 image input unit 112a front image input unit 112b reverse image input Unit 120 visual inspection station 121 monitor 122 screen projector 201 image processing unit 202 storage unit 203 feature calculation unit 204 flaw type determination unit 205 flaw degree determination unit 207 output unit 208 screen projector 302 ... inspected object 303 ... operation information display panel 304 ... area 305 ... screen

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 陶山 恒夫 東京都千代田区丸の内一丁目1番2号 日 本鋼管株式会社内 Fターム(参考) 2G051 AA37 AB01 AB02 AB07 AC01 CA03 CA04 CA07 DA01 DA06 EA11 EA12 EA14 EB01 EB02 EC01 EC05 ED03 FA10  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Tsuneo Suyama 1-2-1, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo F-term in Nihon Kokan Co., Ltd. (reference) 2G051 AA37 AB01 AB02 AB07 AC01 CA03 CA04 CA07 DA01 DA06 EA11 EA12 EA14 EB01 EB02 EC01 EC05 ED03 FA10

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】連続的に搬送される帯状の被検査体表面の
検査結果を表示する表面欠陥検査装置の検査結果表示方
法において、 前記被検査体表面の欠陥を検知するステップと、 前記被検査体の近傍或いは近傍に欠陥がある旨の表示を
行う表示部の近傍を、前記検知された欠陥が通過した際
に、該表示部に欠陥がある旨を表示するステップとを含
むことを特徴とする表面欠陥検査装置の検査結果表示方
法。
1. An inspection result display method of a surface defect inspection apparatus for displaying an inspection result of a continuously conveyed belt-like inspection object surface, the method comprising: detecting a defect on the inspection object surface; When the detected defect passes through the vicinity of a display unit that displays that there is a defect near or in the vicinity of the body, the step of displaying that the display unit has a defect is provided. Method of displaying inspection results of a surface defect inspection device.
【請求項2】前記表面欠陥検査装置が欠陥等の特異点を
検出する場合、該検査結果を被検査体上に表示する場合
において、前記特異点が存在する被検査体の幅位置には
検査結果を表示しないことを特徴とする請求項1記載の
表面欠陥検査装置の検査結果表示方法。
2. When the surface defect inspection apparatus detects a singular point such as a defect or the like, and displays the inspection result on the inspection object, the inspection is performed at a width position of the inspection object where the singular point exists. 2. The method according to claim 1, wherein the result is not displayed.
【請求項3】連続的に搬送される帯状の被検査体の移動
量を検出する移動量センサと、 前記被検査体の表面に存在する欠陥を検査すると共に、
前記移動量センサからの移動量情報に基づいて検出され
た欠陥の位置を検出する表面検査部と、 前記被検査体の近傍或いは表面に欠陥がある旨の表示を
行う表示部と、 前記表面検査部により検出された欠陥の位置情報、及び
前記移動量センサからの移動量情報に基づいて、前記表
示部に対して前記欠陥がある旨の表示出力を指令する結
果出力部とを具備してなることを特徴とする表面欠陥検
査装置。
3. A moving amount sensor for detecting a moving amount of a belt-like inspected object that is continuously conveyed, and inspecting a defect present on a surface of the inspected object,
A surface inspection unit that detects the position of a defect detected based on the movement amount information from the movement amount sensor; a display unit that displays that there is a defect near or on the surface of the object to be inspected; And a result output unit for instructing the display unit to output a display indicating that the defect is present, based on the position information of the defect detected by the unit and the movement amount information from the movement amount sensor. A surface defect inspection device characterized by the above-mentioned.
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