JP2002078683A - 表面検査装置及び方法 - Google Patents
表面検査装置及び方法Info
- Publication number
- JP2002078683A JP2002078683A JP2001191761A JP2001191761A JP2002078683A JP 2002078683 A JP2002078683 A JP 2002078683A JP 2001191761 A JP2001191761 A JP 2001191761A JP 2001191761 A JP2001191761 A JP 2001191761A JP 2002078683 A JP2002078683 A JP 2002078683A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- analyzer
- reflected
- brightness
- light
- polarization
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B5/00—Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons
- A61B5/0059—Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons using light, e.g. diagnosis by transillumination, diascopy, fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/21—Polarisation-affecting properties
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/57—Measuring gloss
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B5/00—Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons
- A61B5/44—Detecting, measuring or recording for evaluating the integumentary system, e.g. skin, hair or nails
- A61B5/441—Skin evaluation, e.g. for skin disorder diagnosis
Abstract
(57)【要約】
【課題】 例えば皮膚のような表面の検査方法及び装置
を提供する。 【解決手段】 表面（9）を検査するよう設計された装
置は、表面（9）で反射された光ビーム（17）の経路中
に配置された偏光解析素子又は検光子（14）と、表面
（9）によって検光子（14）の下流側に反射されたビー
ム（17）の経路中に配置されたディジタル画像撮像手段
（13）と、少なくとも１つの画像の複数の画素から明る
さ及び光強度を計算できる処理ユニット（15）とを有し
ている。
を提供する。 【解決手段】 表面（9）を検査するよう設計された装
置は、表面（9）で反射された光ビーム（17）の経路中
に配置された偏光解析素子又は検光子（14）と、表面
（9）によって検光子（14）の下流側に反射されたビー
ム（17）の経路中に配置されたディジタル画像撮像手段
（13）と、少なくとも１つの画像の複数の画素から明る
さ及び光強度を計算できる処理ユニット（15）とを有し
ている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、表面の特性、特に
例えば皮膚又は一般に全ての角質性表面のブライトネス
（明るさ）を評価できるよう設計された装置及び方法に
関する。
例えば皮膚又は一般に全ての角質性表面のブライトネス
（明るさ）を評価できるよう設計された装置及び方法に
関する。
【０００２】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】この装
置は、検査されるべき表面に差し向けられる光源と、表
面で反射された光に敏感な光検出器手段と、表面からの
正反射及び拡散反射を測定する手段と、正反射及び拡散
反射の測定結果からブライトネスを求める手段とを有す
る形式のものである。この技術に関し、フランス国特許
出願公開第２，６５０，８９０号明細書を挙げることが
できる。行った検査の示すところによれば、かかる装置
は、満足の行く結果をもたらすか、感度及び弁別力が比
較的低い。
置は、検査されるべき表面に差し向けられる光源と、表
面で反射された光に敏感な光検出器手段と、表面からの
正反射及び拡散反射を測定する手段と、正反射及び拡散
反射の測定結果からブライトネスを求める手段とを有す
る形式のものである。この技術に関し、フランス国特許
出願公開第２，６５０，８９０号明細書を挙げることが
できる。行った検査の示すところによれば、かかる装置
は、満足の行く結果をもたらすか、感度及び弁別力が比
較的低い。
【０００３】欧州特許第４７５，８０３号明細書も又、
表面を検査するよう設計された装置を示しており、この
装置は、検査されるべき表面に入射するビームを放出す
ることができる光源と、偏光子から成る手段と、少なく
とも１つの検光子とを有し、かかる検光子は、偏光子の
方向と検光子の方向を互いに平行又は直角にした状態で
反射を測定することができ、偏光子は、光源と表面との
間に配置され、検光子は、反射ビームの経路中に配置さ
れ、更に、表面で反射された光に敏感な光検出器手段が
設けられている。光源は指向性があり、偏光された入射
ビームは、検査されるべき表面に、０°〜９０°（０°
と９０°は含まない）の入射角度で当たり、入射ビーム
の偏光方向は、入射平面に垂直である。この装置は、少
なくとも２つの互いに異なる反射方向に沿って反射を測
定するよう構成されており、反射方向の一つは、表面の
法線に関して入射方向と実質的に対称の関係をなしてい
る。この装置は、各反射方向について、平行偏光及び解
析方向の反射と、垂直偏光及び解析方向の反射とを区別
できる手段を有し、このようにして得られた差は、いわ
ゆる正反射ブライトネスの尺度及びいわゆる拡散反射ブ
ライトネスの尺度となる。
表面を検査するよう設計された装置を示しており、この
装置は、検査されるべき表面に入射するビームを放出す
ることができる光源と、偏光子から成る手段と、少なく
とも１つの検光子とを有し、かかる検光子は、偏光子の
方向と検光子の方向を互いに平行又は直角にした状態で
反射を測定することができ、偏光子は、光源と表面との
間に配置され、検光子は、反射ビームの経路中に配置さ
れ、更に、表面で反射された光に敏感な光検出器手段が
設けられている。光源は指向性があり、偏光された入射
ビームは、検査されるべき表面に、０°〜９０°（０°
と９０°は含まない）の入射角度で当たり、入射ビーム
の偏光方向は、入射平面に垂直である。この装置は、少
なくとも２つの互いに異なる反射方向に沿って反射を測
定するよう構成されており、反射方向の一つは、表面の
法線に関して入射方向と実質的に対称の関係をなしてい
る。この装置は、各反射方向について、平行偏光及び解
析方向の反射と、垂直偏光及び解析方向の反射とを区別
できる手段を有し、このようにして得られた差は、いわ
ゆる正反射ブライトネスの尺度及びいわゆる拡散反射ブ
ライトネスの尺度となる。
【０００４】かかる装置は正常に機能するが、単位表面
又は或る特定の時点における一箇所の検査を可能にする
に過ぎない。本発明の目的は、或る特定の時点において
表面の全ての箇所に関するブライトネスのデータを提供
することにある。本発明の目的は、改良型表面検査装置
を提供することにある。
又は或る特定の時点における一箇所の検査を可能にする
に過ぎない。本発明の目的は、或る特定の時点において
表面の全ての箇所に関するブライトネスのデータを提供
することにある。本発明の目的は、改良型表面検査装置
を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の一特徴によれ
ば、表面を検査するよう設計された装置が、この表面で
反射された光ビームの経路中に配置された偏光解析素子
又は検光子と、上記表面によって検光子の下流側に反射
されたビームの経路中に配置されたディジタル画像撮像
手段と、上記表面の少なくとも２つの画像の画素から表
面の複数の箇所のブライトネス及び強度を計算できる処
理ユニットと有する。検査を、皮膚から或る距離を置い
たところで実施できる。かくして、測定が望まれる特性
の変更の恐れが無くなる。上述した２つの画像は、種々
の偏光状態について撮像されることになる。
ば、表面を検査するよう設計された装置が、この表面で
反射された光ビームの経路中に配置された偏光解析素子
又は検光子と、上記表面によって検光子の下流側に反射
されたビームの経路中に配置されたディジタル画像撮像
手段と、上記表面の少なくとも２つの画像の画素から表
面の複数の箇所のブライトネス及び強度を計算できる処
理ユニットと有する。検査を、皮膚から或る距離を置い
たところで実施できる。かくして、測定が望まれる特性
の変更の恐れが無くなる。上述した２つの画像は、種々
の偏光状態について撮像されることになる。
【０００６】好ましくは、本装置は、検査されるべき表
面に入射するビームを放出できる偏光源を有する。好ま
しくは、偏光源から出た光は、実質的に等方性である。
本発明の一実施形態では、偏光源から出た光は、実質的
に白色である。本発明の一実施形態では、偏光源から出
た光のスペクトルは、太陽スペクトルと実質的に同一で
ある。本発明の一実施形態では、検光子は、直交偏光を
伝送する手段及び平行偏光を伝送する手段を有し、これ
ら伝送手段は、交互に活性状態になる。本発明の一実施
形態では、検光子は、回転式のものである。本発明の別
の実施形態では、検光子は、電気的切替え手段を有して
いる。ディジタル画像を撮像する手段は、色に敏感であ
るのがよい。有利には、処理ユニットは、マイクロプロ
セッサと、記憶手段と、記憶手段内に記憶されたソフト
ウエアとを有する。
面に入射するビームを放出できる偏光源を有する。好ま
しくは、偏光源から出た光は、実質的に等方性である。
本発明の一実施形態では、偏光源から出た光は、実質的
に白色である。本発明の一実施形態では、偏光源から出
た光のスペクトルは、太陽スペクトルと実質的に同一で
ある。本発明の一実施形態では、検光子は、直交偏光を
伝送する手段及び平行偏光を伝送する手段を有し、これ
ら伝送手段は、交互に活性状態になる。本発明の一実施
形態では、検光子は、回転式のものである。本発明の別
の実施形態では、検光子は、電気的切替え手段を有して
いる。ディジタル画像を撮像する手段は、色に敏感であ
るのがよい。有利には、処理ユニットは、マイクロプロ
セッサと、記憶手段と、記憶手段内に記憶されたソフト
ウエアとを有する。
【０００７】本発明は又、表面の遠隔検査方法であっ
て、この表面で反射された光ビームの偏光を解析し、前
記反射ビームの特定の偏光のディジタル画像を撮像し、
上記表面の複数の箇所のブライトネス及び強度を上記表
面の少なくとも２つの画像の画素から計算することを特
徴とする方法に関する。本発明の一実施形態では、上記
表面は、平らではない。本発明の一実施形態では、単色
のディジタル画像を撮像する。本発明の一実施形態で
は、多色のディジタル画像を撮像する。本発明は又、コ
ンピュータ上での実行時、上記装置の配備段階を実行す
るプログラムコード手段を有する。
て、この表面で反射された光ビームの偏光を解析し、前
記反射ビームの特定の偏光のディジタル画像を撮像し、
上記表面の複数の箇所のブライトネス及び強度を上記表
面の少なくとも２つの画像の画素から計算することを特
徴とする方法に関する。本発明の一実施形態では、上記
表面は、平らではない。本発明の一実施形態では、単色
のディジタル画像を撮像する。本発明の一実施形態で
は、多色のディジタル画像を撮像する。本発明は又、コ
ンピュータ上での実行時、上記装置の配備段階を実行す
るプログラムコード手段を有する。
【０００８】本発明は又、記憶されていて、コンピュー
タ上での実行時、上記装置の配備段階を実行することが
できるプログラムコード手段の読取り装置によって読み
取り可能な記憶媒体を提供する。本明細書において
「点」又は「箇所」とは、画像を撮像する手段によって
得られた画像の１画素に相当する寸法の検査対象表面の
単位部分を指している。換言すると、人の爪又は爪の一
部、顔面又は顔面の一部であるのがよい検査されるべき
表面を照明する。照明は、できるだけ等方性になるよう
に光源又は複数の光源によって行われる。照明手段から
出た光は、例えば固定偏光子によって偏光される。検査
されるべき表面で反射された光の偏光を解析して、偏光
が保存されている光の部分と偏光が変化した光の部分を
分離し、検査されるべき表面全体ついてこのようにす
る。
タ上での実行時、上記装置の配備段階を実行することが
できるプログラムコード手段の読取り装置によって読み
取り可能な記憶媒体を提供する。本明細書において
「点」又は「箇所」とは、画像を撮像する手段によって
得られた画像の１画素に相当する寸法の検査対象表面の
単位部分を指している。換言すると、人の爪又は爪の一
部、顔面又は顔面の一部であるのがよい検査されるべき
表面を照明する。照明は、できるだけ等方性になるよう
に光源又は複数の光源によって行われる。照明手段から
出た光は、例えば固定偏光子によって偏光される。検査
されるべき表面で反射された光の偏光を解析して、偏光
が保存されている光の部分と偏光が変化した光の部分を
分離し、検査されるべき表面全体ついてこのようにす
る。
【０００９】ディジタル画像を、例えばマトリックスカ
メラによって検光子の下流側で撮像する。その目的は、
各画像の画素の偏光の度合いを計算することにある。こ
れから、画像のブライトネスに関する情報をディジタル
処理によって推論する。この目的のため、特に回転中の
検光子及び平坦ではない表面について少なくとも２つ、
好ましくは３つの画像を撮像する。検査は非接触で行わ
ないで行われる。その目的は、一表面が検査される人の
快適さを増すこと、接触に起因する表面の凹又は凸形状
の交互配置に関連した不正確さ又は誤差の発生の恐れを
無くすこと、特に、接触により表面分布状態が変更する
場合のあるメーキャップ、染色又はケアタイプのトリー
トメント製品があらかじめ塗布されている表面につい
て、ブライトネスを変える恐れを無くし、したがって測
定誤差の発生の恐れを無くすことにある。本発明の内容
及び他の利点は、添付の図面に非限定例として示された
幾つかの実施形態に関する詳細な説明を読むと明らかに
なろう。
メラによって検光子の下流側で撮像する。その目的は、
各画像の画素の偏光の度合いを計算することにある。こ
れから、画像のブライトネスに関する情報をディジタル
処理によって推論する。この目的のため、特に回転中の
検光子及び平坦ではない表面について少なくとも２つ、
好ましくは３つの画像を撮像する。検査は非接触で行わ
ないで行われる。その目的は、一表面が検査される人の
快適さを増すこと、接触に起因する表面の凹又は凸形状
の交互配置に関連した不正確さ又は誤差の発生の恐れを
無くすこと、特に、接触により表面分布状態が変更する
場合のあるメーキャップ、染色又はケアタイプのトリー
トメント製品があらかじめ塗布されている表面につい
て、ブライトネスを変える恐れを無くし、したがって測
定誤差の発生の恐れを無くすことにある。本発明の内容
及び他の利点は、添付の図面に非限定例として示された
幾つかの実施形態に関する詳細な説明を読むと明らかに
なろう。
【００１０】
【発明の実施の形態】図１は、光によって照明される表
面２を備えた物体１を示しており、光の２つの入射光線
３，４が示されている。光線３は、表面２を通り、経路
５に沿って物体１に入り、次に、拡散反射光線６の形と
なって出る。この拡散又は「色」反射は、物体に入り、
この内側で反射され、再び外方へ放出される光に相当し
ている。反射光線６の特性は、物体１で決まる。入射光
線４は、反射光線７の形態で表面２上で反射される。こ
の種の反射は正反射と呼ばれ、ブライトネス（明るさ）
とも呼ばれる。ブライトレスに起因する光は、入射光の
正反射特性を有している。反射光線７の輝度線図の形態
は、表面２の粗さで決まる。
面２を備えた物体１を示しており、光の２つの入射光線
３，４が示されている。光線３は、表面２を通り、経路
５に沿って物体１に入り、次に、拡散反射光線６の形と
なって出る。この拡散又は「色」反射は、物体に入り、
この内側で反射され、再び外方へ放出される光に相当し
ている。反射光線６の特性は、物体１で決まる。入射光
線４は、反射光線７の形態で表面２上で反射される。こ
の種の反射は正反射と呼ばれ、ブライトネス（明るさ）
とも呼ばれる。ブライトレスに起因する光は、入射光の
正反射特性を有している。反射光線７の輝度線図の形態
は、表面２の粗さで決まる。
【００１１】図２で分かるように、人の顔面８、特に、
顔面８の表面９を検査することが望ましい。この目的の
ため、光源１１、固定偏光子１２、マトリックスカメラ
１３、検光子１４及び処理ユニット１５を有する検査装
置１０が提供される。光源１１は、表面９を照明するよ
うに配置されている。放出された光は、できるだけ等方
性である。というのは、測定は、表面９に当たった光線
の入射角度の影響を受ける場合のあることが判明してい
るからである。いずれの場合においても、光源１１は、
太陽スペクトルをできるだけ厳密に再現すること、すな
わち白色光を放出することが必要となろう。
顔面８の表面９を検査することが望ましい。この目的の
ため、光源１１、固定偏光子１２、マトリックスカメラ
１３、検光子１４及び処理ユニット１５を有する検査装
置１０が提供される。光源１１は、表面９を照明するよ
うに配置されている。放出された光は、できるだけ等方
性である。というのは、測定は、表面９に当たった光線
の入射角度の影響を受ける場合のあることが判明してい
るからである。いずれの場合においても、光源１１は、
太陽スペクトルをできるだけ厳密に再現すること、すな
わち白色光を放出することが必要となろう。
【００１２】具体的に説明すると、光源１１は、キセノ
ン又は蛍光管タイプの拡張スペクトルを備えたフラッシ
ュランプ又は連続ランプ、或いは多色発光ダイオードか
ら成る。光源１１は、光を表面９にマッチした所定の角
度で差し向けるために、レフレクタ又は反射鏡、ミラ
ー、対物レンズ、光コンデンサ及び光ファイバータイプ
の光学系１１ａを更に有している。固定偏光子１２は、
光源１１によって放出された入射光ビーム１６の経路中
に、換言すると、光源１１と表面９との間に配置され
る。光は、入射光ビーム１６の伝搬方向に固定偏光子１
２の下流側へ偏光される。マトリックスカメラ１３は、
ＣＣＤタイプのものであるのがよく、光源１１が働いて
いるときに表面９から出た反射光ビーム１７を受け取る
よう構成されている。マトリックスカメラ１３は、調節
可能な対物レンズ１８を備えるのがよい。
ン又は蛍光管タイプの拡張スペクトルを備えたフラッシ
ュランプ又は連続ランプ、或いは多色発光ダイオードか
ら成る。光源１１は、光を表面９にマッチした所定の角
度で差し向けるために、レフレクタ又は反射鏡、ミラ
ー、対物レンズ、光コンデンサ及び光ファイバータイプ
の光学系１１ａを更に有している。固定偏光子１２は、
光源１１によって放出された入射光ビーム１６の経路中
に、換言すると、光源１１と表面９との間に配置され
る。光は、入射光ビーム１６の伝搬方向に固定偏光子１
２の下流側へ偏光される。マトリックスカメラ１３は、
ＣＣＤタイプのものであるのがよく、光源１１が働いて
いるときに表面９から出た反射光ビーム１７を受け取る
よう構成されている。マトリックスカメラ１３は、調節
可能な対物レンズ１８を備えるのがよい。
【００１３】検光子１４は、反射ビーム１７の経路中
に、換言すると、表面９とマトリックスカメラ１３との
間に配置される。検光子１４は、例えば９０°の角度だ
けずれた少なくとも２つの位置の間で反射ビーム１７の
軸線に平行な軸線に関して配向させることができる。こ
のようにすると、正反射で出射した光ビーム１７の部分
と、拡散反射で出射した部分を分離することができ、こ
れら２つの位置のうち一方では、検光子１４は、固定偏
光子１２と同一の偏光結果をもたらすものである。もし
そうでない場合、後で行うディジタル処理により一定の
出力が得られる。検光子１４は、配向可能な偏光子であ
ってもよく、これは有利には、これを回転させることが
できるモータ１９を備えている。モータ１９は、正確な
偏光もたらすために、もし可能ならば解像度の高いステ
ッピングモータタイプのものであるのがよい。
に、換言すると、表面９とマトリックスカメラ１３との
間に配置される。検光子１４は、例えば９０°の角度だ
けずれた少なくとも２つの位置の間で反射ビーム１７の
軸線に平行な軸線に関して配向させることができる。こ
のようにすると、正反射で出射した光ビーム１７の部分
と、拡散反射で出射した部分を分離することができ、こ
れら２つの位置のうち一方では、検光子１４は、固定偏
光子１２と同一の偏光結果をもたらすものである。もし
そうでない場合、後で行うディジタル処理により一定の
出力が得られる。検光子１４は、配向可能な偏光子であ
ってもよく、これは有利には、これを回転させることが
できるモータ１９を備えている。モータ１９は、正確な
偏光もたらすために、もし可能ならば解像度の高いステ
ッピングモータタイプのものであるのがよい。
【００１４】光源１１、カメラ１３及び配向可能な偏光
子１４のモータ１９は、処理ユニット１５に接続されて
おり、この処理ユニット１５は、少なくとも１つの記憶
装置、少なくとも１つのマイクロプロセッサ及び記憶装
置内に記憶されていて、１又は複数のマイクロプロセッ
サで実行可能な少なくとも１つの制御プログラムを有す
る形式のものである。処理ユニット１５は、光源１１の
オンオフ、カメラ１３による画像の撮像及び所望ならば
対物レンズ１８及び検光子１４の適当な向きの調節を行
うことができる。処理ユニット１５を、検査装置１０の
外部に設けられた装置、例えば表面９又は行った検査の
結果、すなわち処理ユニット１５によって処理されたデ
ータを表すことができる画像の表示が可能なスクリーン
２１を備えたモニタ２０にも接続するのがよい。また、
処理ユニット１５を、オペレータが情報又はコマンドを
入力できるようにするキーボード２２に接続するのがよ
い。
子１４のモータ１９は、処理ユニット１５に接続されて
おり、この処理ユニット１５は、少なくとも１つの記憶
装置、少なくとも１つのマイクロプロセッサ及び記憶装
置内に記憶されていて、１又は複数のマイクロプロセッ
サで実行可能な少なくとも１つの制御プログラムを有す
る形式のものである。処理ユニット１５は、光源１１の
オンオフ、カメラ１３による画像の撮像及び所望ならば
対物レンズ１８及び検光子１４の適当な向きの調節を行
うことができる。処理ユニット１５を、検査装置１０の
外部に設けられた装置、例えば表面９又は行った検査の
結果、すなわち処理ユニット１５によって処理されたデ
ータを表すことができる画像の表示が可能なスクリーン
２１を備えたモニタ２０にも接続するのがよい。また、
処理ユニット１５を、オペレータが情報又はコマンドを
入力できるようにするキーボード２２に接続するのがよ
い。
【００１５】配向可能な偏光子は、電気光学的配向方
式、例えばディスプレイテック（Displaytech ）社の
「偏光回転子」又は例えばモータ及びモータによって駆
動される車輪に取り付けられた複数のフィルタを備えた
機械的配向方式を備えた型式のものであるのがよい。変
形例として、偏光スプリッターキューブ、例えばオリエ
ル（Oriel ）社の「ビームスプリッター」を提供するこ
ともできるが、これは、２つの測定カメラを用いる必要
がある。好ましくは、検光子１４は、リアルタイムで切
り替わり、制御ユニット１５に接続された外部チャンネ
ルによって同期可能な電気光学システムである。検光子
が、マトリックスカメラ１３の前に配置されている場
合、検光子１４により、表面９で正反射された光の成分
であるブライトネスと、表面９によって後方散乱された
光の成分である色とを互いに分離することができる。検
光子１４が、入射光ビーム１６と同一の偏光方向にある
場合、カメラ１３は、無偏光成分の半分と共に表面９に
よって反射された光をピックアップする。検光子１４
が、入射光ビーム１６に直角な偏光方向にある場合、カ
メラ１３は、無偏光成分の半分だけをピックアップす
る。処理ユニット１５は、ブライトネスに関連付けられ
た光成分を得るために代数的減算操作及び色に関連付け
られた光成分を得るために代数的乗算操作を行う。
式、例えばディスプレイテック（Displaytech ）社の
「偏光回転子」又は例えばモータ及びモータによって駆
動される車輪に取り付けられた複数のフィルタを備えた
機械的配向方式を備えた型式のものであるのがよい。変
形例として、偏光スプリッターキューブ、例えばオリエ
ル（Oriel ）社の「ビームスプリッター」を提供するこ
ともできるが、これは、２つの測定カメラを用いる必要
がある。好ましくは、検光子１４は、リアルタイムで切
り替わり、制御ユニット１５に接続された外部チャンネ
ルによって同期可能な電気光学システムである。検光子
が、マトリックスカメラ１３の前に配置されている場
合、検光子１４により、表面９で正反射された光の成分
であるブライトネスと、表面９によって後方散乱された
光の成分である色とを互いに分離することができる。検
光子１４が、入射光ビーム１６と同一の偏光方向にある
場合、カメラ１３は、無偏光成分の半分と共に表面９に
よって反射された光をピックアップする。検光子１４
が、入射光ビーム１６に直角な偏光方向にある場合、カ
メラ１３は、無偏光成分の半分だけをピックアップす
る。処理ユニット１５は、ブライトネスに関連付けられ
た光成分を得るために代数的減算操作及び色に関連付け
られた光成分を得るために代数的乗算操作を行う。
【００１６】好ましくは、そして良好な精度を得るた
め、検光子１４の任意の位置につき十分な数の画像が収
集される。処理ユニット１５によって実行される測定信
号のフーリエ解析により、反射光ビーム１７の偏光の度
合いを計算すると共にこれから表面９の色成分と一緒に
ブライトネス成分を抽出することができる。
め、検光子１４の任意の位置につき十分な数の画像が収
集される。処理ユニット１５によって実行される測定信
号のフーリエ解析により、反射光ビーム１７の偏光の度
合いを計算すると共にこれから表面９の色成分と一緒に
ブライトネス成分を抽出することができる。
【００１７】カメラ１３の対物レンズ１８により、反射
光ビームを、或る立体角度で感光性素子、例えばＣＣＤ
セルのマトリックス上に合焦させることができる。検光
子１４の各位置につき、処理ユニット１５又はカメラ１
３と関連した画像収集ボード、例えばイメージング・テ
クノロジー（Imaging Technology）社の「ＩＣ−ＰＣ
Ｉ」ボードを介して画像が収集される。画像は、検光子
が回転後に固定位置にあるときに収集される。平行偏光
及び直交偏光の２つの画像の収集は、数百ミリ秒で行わ
れる。ＣＣＤセルのマトリックスは、放射計の機能を実
行する。反射光ビーム１７の分光分布、例えば、正反射
成分についてブライトネスの分光濃度及び後方散乱成分
についての色の分光濃度が関心の対象である場合、分光
計を用いるのがよい。放射計の機能と分光計の機能を、
同一の装置、例えば分光放射計内に合わせ持たせること
ができる。
光ビームを、或る立体角度で感光性素子、例えばＣＣＤ
セルのマトリックス上に合焦させることができる。検光
子１４の各位置につき、処理ユニット１５又はカメラ１
３と関連した画像収集ボード、例えばイメージング・テ
クノロジー（Imaging Technology）社の「ＩＣ−ＰＣ
Ｉ」ボードを介して画像が収集される。画像は、検光子
が回転後に固定位置にあるときに収集される。平行偏光
及び直交偏光の２つの画像の収集は、数百ミリ秒で行わ
れる。ＣＣＤセルのマトリックスは、放射計の機能を実
行する。反射光ビーム１７の分光分布、例えば、正反射
成分についてブライトネスの分光濃度及び後方散乱成分
についての色の分光濃度が関心の対象である場合、分光
計を用いるのがよい。放射計の機能と分光計の機能を、
同一の装置、例えば分光放射計内に合わせ持たせること
ができる。
【００１８】図３は、Ｘ軸にとった検光子の角度の関数
としてＹ軸にとった画素強度の曲線を示している。この
ように、検査されるべき表面が、偏光状態の光ビームで
照明されると、色に相当する放射線の偏光が解消されて
いる間、ブライトネスに相当する放射線は、偏光状態の
ままである。検光子の回転により、画像の各点のところ
におけるブライトネスの貢献度及び色の貢献度を求める
ことができる。検光子を回転させると、所与の箇所のと
ころの画素の強度は、実質的に正弦波の状態で変化す
る。検査対象の表面から反射すると、ブライトネスに相
当する光ビームの反射部分の偏光の向きは、入射ビーム
とこの箇所で検査される表面の法線とのなす角度に関連
した量だけ回転する。
としてＹ軸にとった画素強度の曲線を示している。この
ように、検査されるべき表面が、偏光状態の光ビームで
照明されると、色に相当する放射線の偏光が解消されて
いる間、ブライトネスに相当する放射線は、偏光状態の
ままである。検光子の回転により、画像の各点のところ
におけるブライトネスの貢献度及び色の貢献度を求める
ことができる。検光子を回転させると、所与の箇所のと
ころの画素の強度は、実質的に正弦波の状態で変化す
る。検査対象の表面から反射すると、ブライトネスに相
当する光ビームの反射部分の偏光の向きは、入射ビーム
とこの箇所で検査される表面の法線とのなす角度に関連
した量だけ回転する。
【００１９】検査されるべき表面が平らであれば、偏光
回転角度は、各点について同一である。この場合、画像
の各点のところおける色に起因する部分及びブライトネ
スの部分を求めるためには、検光子の２つの互いに異な
る角度で２つの画像を得るだけで足り、一方の画像は図
３の曲線の最大値、他方の画像はその最小値に相当する
ものである。検光子の角度位置を自動的に容易に求める
ことができる。というのは、これらは、画像のだいたい
の最小値及び最大値に相当しているからである。検査さ
れるべき表面が平坦でなければ、位相シフトが画像の各
点で現れ、検光子の少なくとも３つの互いに異なる位置
を用いることが必要である。各点のところの強度は次式
のように表すことができる。
回転角度は、各点について同一である。この場合、画像
の各点のところおける色に起因する部分及びブライトネ
スの部分を求めるためには、検光子の２つの互いに異な
る角度で２つの画像を得るだけで足り、一方の画像は図
３の曲線の最大値、他方の画像はその最小値に相当する
ものである。検光子の角度位置を自動的に容易に求める
ことができる。というのは、これらは、画像のだいたい
の最小値及び最大値に相当しているからである。検査さ
れるべき表面が平坦でなければ、位相シフトが画像の各
点で現れ、検光子の少なくとも３つの互いに異なる位置
を用いることが必要である。各点のところの強度は次式
のように表すことができる。
【００２０】Ｉ＝Ｉa ＋Ｉb ｃｏｓ（２θ） ここでθは、検光子と垂直線との間の角度、Ｉa は、
信号Ｉの平均値、Ｉb は、信号Ｉの最大値と最小値と
の差の半分である。もし例えば４５°だけ一定の角度間
隔を置いた３つの位置を用いる場合、画像の各点のとこ
ろでは以下のことが得られる。表面９を検査する方法の
種々の段階が、図４に示されている。
信号Ｉの平均値、Ｉb は、信号Ｉの最大値と最小値と
の差の半分である。もし例えば４５°だけ一定の角度間
隔を置いた３つの位置を用いる場合、画像の各点のとこ
ろでは以下のことが得られる。表面９を検査する方法の
種々の段階が、図４に示されている。
【００２１】 Ｉ0＝Ｉa ＋Ｉbｃｏｓ（２θ0） Ｉ45＝Ｉa＋Ｉbｃｏｓ（２（θ0＋π／４）） ＝Ｉa＋Ｉbｃｏｓ（２θ0＋π／２）＝Ｉa−Ｉbｓｉｎ（２θ0） Ｉ90＝Ｉa＋Ｉbｃｏｓ（２（θ0＋π／２）） ＝Ｉa＋Ｉbｃｏｓ（２θ0＋π）＝Ｉa−Ｉbｃｏｓ（２θ0） 従って、 Ｉa＝（Ｉ0＋Ｉ90）／２ Ｉb＝〔（Ｉ90−Ｉa）2＋（Ｉ45−Ｉa）2〕1/2 ＝１／２〔（Ｉ90−Ｉ0）2＋（Ｉ45−Ｉ0−Ｉ90）2〕1/2 しかしながら、Ｉbrightness＝２Ｉb及びＩcolour＝２（Ｉa−Ｉb） 従って、 Ｉbrightness＝〔（Ｉ90−Ｉ0）2＋（Ｉ45−Ｉ0−Ｉ90）2〕1/2 Ｉcolour＝Ｉ0＋Ｉ90−〔（Ｉ90−Ｉ0）2＋（Ｉ45−Ｉ0−Ｉ90）2〕1/2
【００２２】段階３０では、オペレータ又はユーザは、
例えばキーボード２２を用いて検査の開始を制御する。
段階３１では、開始コマンドを受け取った処理ユニット
１５は、起動順序を光源１１に送り、光源１１は、入射
光ビーム１６の放出を開始する。段階３２では、カメラ
１３は、検光子１４の角度が０°の場合に画像を撮像す
る。段階３３では、カメラ１３は、検光子１４の角度が
４５°の場合に画像を撮像し、段階３４では、カメラ１
３は、検光子１４の角度が９０°の場合に画像を撮像す
る。オペレータは、検査されるべき表面９が平らである
と考えた場合、特に、これが非常に小さな表面である場
合、段階３３を省いてもよい。段階３５では、処理ユニ
ット１５は、反射光ビーム１７中のブライトネス成分と
色成分を分離し、換言するとブライトネス画像及び色画
像を得ることができる数値計算を行う。段階３６では、
処理の結果は、最も適当な形で現れる形態、例えば曲
線、グラフ、線図等の形態でスクリーン２１上に表示さ
れる。段階３５，３６の実施中、検光子１４は、別の表
面の検査をいつでも開始できるようにするために、０°
の角度に戻るよう設計されている。
例えばキーボード２２を用いて検査の開始を制御する。
段階３１では、開始コマンドを受け取った処理ユニット
１５は、起動順序を光源１１に送り、光源１１は、入射
光ビーム１６の放出を開始する。段階３２では、カメラ
１３は、検光子１４の角度が０°の場合に画像を撮像す
る。段階３３では、カメラ１３は、検光子１４の角度が
４５°の場合に画像を撮像し、段階３４では、カメラ１
３は、検光子１４の角度が９０°の場合に画像を撮像す
る。オペレータは、検査されるべき表面９が平らである
と考えた場合、特に、これが非常に小さな表面である場
合、段階３３を省いてもよい。段階３５では、処理ユニ
ット１５は、反射光ビーム１７中のブライトネス成分と
色成分を分離し、換言するとブライトネス画像及び色画
像を得ることができる数値計算を行う。段階３６では、
処理の結果は、最も適当な形で現れる形態、例えば曲
線、グラフ、線図等の形態でスクリーン２１上に表示さ
れる。段階３５，３６の実施中、検光子１４は、別の表
面の検査をいつでも開始できるようにするために、０°
の角度に戻るよう設計されている。
【００２３】本発明の別の実施形態では、検光子は、連
続回転を行い、この連続回転中、数個の画像をカメラ１
３で撮像する。検査されるべき所与の表面の場合、多く
の画像を撮像すればするほどそれだけ一層ブライトネス
の評価精度が高くなる。処理ユニット１５による処理段
階３５の実施中、人間の目が、ブライトネスだけよりも
ブライトネスと色のコントラストに敏感であるというこ
とを考慮に入れる。一例を挙げると、所与のレベルのブ
ライトネスの黒色は、ブライトネスのレベルが同一の場
合の白色よりも明るいように思われる。したがって、処
理ユニット１５は、一方において、ブライトネスをマッ
プできる計算を行うとともに他方において、色と比較し
たブライトネスの計算を行う。好ましくは、人間の目に
よって知覚された印象に関して最も妥当な色と比較した
ブライトネスに関する情報が表示されることになろう。
続回転を行い、この連続回転中、数個の画像をカメラ１
３で撮像する。検査されるべき所与の表面の場合、多く
の画像を撮像すればするほどそれだけ一層ブライトネス
の評価精度が高くなる。処理ユニット１５による処理段
階３５の実施中、人間の目が、ブライトネスだけよりも
ブライトネスと色のコントラストに敏感であるというこ
とを考慮に入れる。一例を挙げると、所与のレベルのブ
ライトネスの黒色は、ブライトネスのレベルが同一の場
合の白色よりも明るいように思われる。したがって、処
理ユニット１５は、一方において、ブライトネスをマッ
プできる計算を行うとともに他方において、色と比較し
たブライトネスの計算を行う。好ましくは、人間の目に
よって知覚された印象に関して最も妥当な色と比較した
ブライトネスに関する情報が表示されることになろう。
【００２４】かくして、表面検査装置により、あらゆる
タイプの表面、特に、角質性表面、例えば毛、唇、爪、
皮膚等のブライトネス及び相対ブライトネスを測定する
ことができる。これら種々の表面は、あらかじめ種々の
タイプのトリートメント製品、例えば毛や製品、染色、
メーキャップ製品等が塗布されたものであってもよい。
メーキャップの場合、表面検査装置により、メーキャッ
プが施された表面、特に皮膚の無光沢度を評価すること
ができる。
タイプの表面、特に、角質性表面、例えば毛、唇、爪、
皮膚等のブライトネス及び相対ブライトネスを測定する
ことができる。これら種々の表面は、あらかじめ種々の
タイプのトリートメント製品、例えば毛や製品、染色、
メーキャップ製品等が塗布されたものであってもよい。
メーキャップの場合、表面検査装置により、メーキャッ
プが施された表面、特に皮膚の無光沢度を評価すること
ができる。
【図１】２つの光線の反射状態の略図である。
【図２】本発明の一実施形態としての装置の略図であ
る。
る。
【図３】検光子の角度の関数としての画素の強度の変化
を示すグラフ図である。
を示すグラフ図である。
【図４】検査方法の種々の段階の流れ図である。
８ 顔面 ９ 表面 １０ 検査装置 １１ 光源 １２ 固定偏光子 １３ マトリックスカメラ １４ 検光子 １５ 処理ユニット １８ 対物レンズ １９ モータ
フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G045 AA40 CB09 FA15 FA19 GC30 JA07 4C038 VA04 VB22 VC02 VC05 5B057 AA07 BA02 BA11 CA01 CA08 CA12 CA16 CB18 CC03 DA20 DB06 DB09 DC30
Claims (14)
- 【請求項１】 表面（9 ）を検査するよう設計された装
置であって、前記表面で反射された光ビーム（17）の経
路中に配置された偏光解析素子又は検光子（14）と、前
記表面によって検光子の下流側に反射されたビームの経
路中に配置されたディジタル画像撮像手段（13）と、前
記表面の少なくとも２つの画像の画素から前記表面の複
数の箇所のブライトネス及び強度を計算できる処理ユニ
ット（15）と有することを特徴とする装置。 - 【請求項２】 検査されるべき前記表面に入射するビー
ム（16）を放出できる偏光源を有することを特徴とする
請求項１記載の装置。 - 【請求項３】 前記偏光源から出た光は、実質的に等方
性であることを特徴とする請求項２記載の装置。 - 【請求項４】 前記偏光源から出た光は、実質的に白色
であることを特徴とする請求項２又は３記載の装置。 - 【請求項５】 前記偏光源から出た光のスペクトルは、
太陽スペクトルと実質的に同一であることを特徴とする
請求項２又は３記載の装置。 - 【請求項６】 検光子は、直交偏光を伝送する手段及び
平行偏光を伝送する手段を有し、前記伝送手段は、交互
に働く状態になることを特徴とする請求項１〜５のうち
何れか一に記載の装置。 - 【請求項７】 検光子は、回転式のものであることを特
徴とする請求項６記載の装置。 - 【請求項８】 検光子は、電気的切替え手段を有してい
ることを特徴とする請求項６記載の装置。 - 【請求項９】 表面の遠隔検査方法であって、前記表面
で反射された光ビームの偏光を解析し、前記反射ビーム
の特定の偏光のディジタル画像を撮像し、前記表面の複
数の箇所のブライトネス及び強度を前記表面の少なくと
も２つの画像の画素から計算することを特徴とする方
法。 - 【請求項１０】 前記表面は、平らではないことを特徴
とする請求項９記載の方法。 - 【請求項１１】 単色のディジタル画像を撮像すること
を特徴とする請求項９又は１０記載の方法。 - 【請求項１２】 多色のディジタル画像を撮像すること
を特徴とする請求項９又は１０記載の方法。 - 【請求項１３】 コンピュータ上での実行時、請求項９
〜１２のうち何れか一に記載の方法の段階を実行するプ
ログラムコード手段を有するコンピュータプログラム。 - 【請求項１４】 記憶されていて、コンピュータ上での
実行時、請求項９〜１２のうち何れか一に記載の方法の
段階を実行することができるプログラムコード手段を読
み取る装置によって読み取り可能な記憶媒体。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR0008093 | 2000-06-23 | ||
| FR0008093A FR2810737B1 (fr) | 2000-06-23 | 2000-06-23 | Appareil et procede d'examen d'une surface |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002078683A true JP2002078683A (ja) | 2002-03-19 |
| JP4017363B2 JP4017363B2 (ja) | 2007-12-05 |
Family
ID=8851620
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001191761A Expired - Lifetime JP4017363B2 (ja) | 2000-06-23 | 2001-06-25 | 表面検査装置及び方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7127280B2 (ja) |
| EP (1) | EP1167950A1 (ja) |
| JP (1) | JP4017363B2 (ja) |
| FR (1) | FR2810737B1 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004110264A1 (ja) * | 2003-06-11 | 2004-12-23 | Kose Corporation | 肌の評価方法および画像のシミュレーション方法 |
| JP2005345191A (ja) * | 2004-06-01 | 2005-12-15 | Pola Chem Ind Inc | 角層細胞の非染色観察方法 |
| JP2008542707A (ja) * | 2005-05-25 | 2008-11-27 | アレヴァ エヌペ | 少なくとも一つの核分裂性物質を含む要素の異方性を測定する方法及び対応する装置 |
| JP2014020890A (ja) * | 2012-07-18 | 2014-02-03 | Iwasaki Electric Co Ltd | 偏光測定方法、偏光測定装置、及び偏光測定システム |
| JP2014033944A (ja) * | 2012-08-10 | 2014-02-24 | Kao Corp | 肌状態評価方法及び肌状態評価装置 |
Families Citing this family (34)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6692430B2 (en) | 2000-04-10 | 2004-02-17 | C2Cure Inc. | Intra vascular imaging apparatus |
| FR2829344B1 (fr) * | 2001-08-29 | 2004-10-01 | Oreal | Dispositif d'acquisition d'au moins une image d'au moins une partie du visage ou de la chevelure d'une personne |
| US7588535B2 (en) * | 2001-12-11 | 2009-09-15 | C2Cure Inc. | Apparatus, method and system for intravascular photographic imaging |
| US7024037B2 (en) | 2002-03-22 | 2006-04-04 | Unilever Home & Personal Care Usa, A Division Of Conopco, Inc. | Cross-polarized imaging method for measuring skin ashing |
| WO2003098913A2 (en) | 2002-05-16 | 2003-11-27 | Cbyond Inc. | Miniature camera head |
| FR2840686B1 (fr) * | 2002-06-10 | 2008-11-14 | Oreal | Procede pour determiner l'aptitude a diffuser et/ou a absorber la lumiere d'un produit cosmetique |
| DE10230955B4 (de) * | 2002-07-10 | 2004-09-09 | Medical Laser Rent | Verfahren zum differenzierten, zielstrukturabhängigen Beleuchten und Betrachten von Oberflächen und deren Substrukturen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
| ATE348324T1 (de) * | 2002-10-10 | 2007-01-15 | Illinois Tool Works | Mechanische materialprüfung |
| WO2006073450A2 (en) * | 2004-04-27 | 2006-07-13 | The Trustees Of The University Of Pennsylvania | Polarization and reflection based non-contact latent fingerprint imaging and lifting |
| US20060085274A1 (en) * | 2004-10-14 | 2006-04-20 | The Procter & Gamble Company | Methods and apparatus for selecting a color for use by a personal care product recommendation system |
| US7193712B2 (en) * | 2004-10-14 | 2007-03-20 | The Procter & Gamble Company | Methods and apparatus for measuring an electromagnetic radiation response property associated with a substrate |
| US7274453B2 (en) * | 2004-10-14 | 2007-09-25 | The Procter & Gamble Company | Methods and apparatus for calibrating an electromagnetic measurement device |
| US20060164510A1 (en) * | 2005-01-24 | 2006-07-27 | Doron Adler | Sensor with narrow mounting profile |
| US20060182323A1 (en) * | 2005-02-17 | 2006-08-17 | Nikiforos Kollias | Device and method for demonstrating and quantifying skin texture |
| US20060241495A1 (en) * | 2005-03-23 | 2006-10-26 | Eastman Kodak Company | Wound healing monitoring and treatment |
| FR2886404B1 (fr) * | 2005-05-25 | 2008-03-07 | Framatome Anp Sas | Procede de mesure de l'anisotropie dans un element comprenant au moins un materiau fissile et installation correspondante. |
| US8532736B1 (en) * | 2005-07-29 | 2013-09-10 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Apparatus and a method for quantifying properties of skin |
| WO2007043899A1 (en) | 2005-10-14 | 2007-04-19 | Applied Research Associates Nz Limited | A method of monitoring a surface feature and apparatus therefor |
| DE102005050807B4 (de) * | 2005-10-24 | 2010-04-08 | Dan Hossu | Vorrichtung zur Messung von Erhöhungen und/oder Vertiefungen einer Oberfläche |
| US9089503B2 (en) * | 2007-06-06 | 2015-07-28 | L'oreal | Comfortable transfer-resistant colored cosmetic compositions containing a silsesquioxane wax |
| US8883128B2 (en) * | 2007-06-06 | 2014-11-11 | L'oréal | Cosmetic compositions containing a propylphenylsilsesquioxane resin and a cosmetically-acceptable aromatic solvent |
| FR2917830B1 (fr) * | 2007-06-20 | 2009-10-02 | Oreal | Procede et systeme d'evaluation de la brillance percue par un observateur humain d'un film de produit cosmetique. |
| WO2011067162A1 (en) * | 2009-12-02 | 2011-06-09 | Unilever Plc | Apparatus for and method of measuring skin age |
| US9179844B2 (en) | 2011-11-28 | 2015-11-10 | Aranz Healthcare Limited | Handheld skin measuring or monitoring device |
| US9001326B2 (en) * | 2011-12-13 | 2015-04-07 | Welch Allyn, Inc. | Method and apparatus for observing subsurfaces of a target material |
| US20140125809A1 (en) | 2012-11-02 | 2014-05-08 | Syntronics, Llc | Digital ruvis camera |
| US9257763B2 (en) | 2013-07-02 | 2016-02-09 | Gyrus Acmi, Inc. | Hybrid interconnect |
| US9510739B2 (en) | 2013-07-12 | 2016-12-06 | Gyrus Acmi, Inc. | Endoscope small imaging system |
| WO2015174163A1 (ja) * | 2014-05-14 | 2015-11-19 | ソニー株式会社 | 撮像装置及び撮像方法 |
| JP6406606B2 (ja) * | 2014-10-06 | 2018-10-17 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 光沢判定装置および光沢判定方法 |
| US10013527B2 (en) | 2016-05-02 | 2018-07-03 | Aranz Healthcare Limited | Automatically assessing an anatomical surface feature and securely managing information related to the same |
| US11116407B2 (en) | 2016-11-17 | 2021-09-14 | Aranz Healthcare Limited | Anatomical surface assessment methods, devices and systems |
| EP4183328A1 (en) | 2017-04-04 | 2023-05-24 | Aranz Healthcare Limited | Anatomical surface assessment methods, devices and systems |
| WO2020112600A1 (en) | 2018-11-29 | 2020-06-04 | The Procter & Gamble Company | Absorbent articles |
Family Cites Families (22)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5818146A (ja) | 1981-07-27 | 1983-02-02 | Ulvac Corp | 測光型偏光解析装置 |
| US5247344A (en) * | 1988-10-03 | 1993-09-21 | Hughes Aircraft Company | Optical inspection system for solder joints and inspection method |
| JP2568653B2 (ja) | 1988-11-09 | 1997-01-08 | 株式会社島津製作所 | 偏光解析装置 |
| JP2757890B2 (ja) | 1989-05-19 | 1998-05-25 | 共同印刷株式会社 | 光学的検査における光量調整装置 |
| FR2650890B1 (fr) * | 1989-08-09 | 1993-02-19 | Oreal | Appareil destine a permettre l'evaluation de la brillance d'une surface, en particulier de la peau |
| FR2665959B1 (fr) * | 1990-08-16 | 1994-01-14 | Oreal | Appareil destine a permettre d'evaluer la brillance d'une surface, en particulier de la peau. |
| JP3047646B2 (ja) | 1991-10-31 | 2000-05-29 | 株式会社日立製作所 | 欠陥検出方法及びその装置 |
| US5557324A (en) * | 1992-10-29 | 1996-09-17 | The Johns Hopkins University | Polorization viewer |
| WO1995012120A1 (fr) * | 1993-10-26 | 1995-05-04 | Asahi Kasei Kogyo Kabushiki Kaisha | Procede et appareil de mesure de la non uniformite de la brillance et de l'epaisseur d'une image imprimee |
| US5408998A (en) * | 1994-03-10 | 1995-04-25 | Ethicon Endo-Surgery | Video based tissue oximetry |
| US5552890A (en) * | 1994-04-19 | 1996-09-03 | Tricor Systems, Inc. | Gloss measurement system |
| FR2719989B1 (fr) * | 1994-05-20 | 1996-07-05 | Oreal | Procédé pour la détermination de grandeurs caractéristiques du comportement d'une surface, notamment de la peau humaine, soumise à un rayonnnement lumineux, et appareil pour sa mise en Óoeuvre. |
| AT403654B (de) * | 1994-12-01 | 1998-04-27 | Binder Michael Dr | Einrichtung zur optischen untersuchung von human-haut sowie derselben zugeordnete auswertungs-einrichtung |
| US5850284A (en) * | 1995-06-13 | 1998-12-15 | Robotic Vision Systems, Inc. | Apparatus for detecting a polarization altering substance on a surface |
| US5719399A (en) * | 1995-12-18 | 1998-02-17 | The Research Foundation Of City College Of New York | Imaging and characterization of tissue based upon the preservation of polarized light transmitted therethrough |
| US6046811A (en) * | 1996-01-11 | 2000-04-04 | The Johns Hopkins University | Method and apparatus for determining electrical conductivity of a surface of an object |
| US6081612A (en) * | 1997-02-28 | 2000-06-27 | Electro Optical Sciences Inc. | Systems and methods for the multispectral imaging and characterization of skin tissue |
| US6011626A (en) * | 1997-03-20 | 2000-01-04 | The Regents Of The University Of California | Characterization of highly scattering media by measurement of diffusely backscattered polarized light |
| US6280386B1 (en) * | 1997-06-16 | 2001-08-28 | The Research Foundation Of The City University Of New York | Apparatus for enhancing the visibility of a luminous object inside tissue and methods for same |
| US6177984B1 (en) * | 1998-01-23 | 2001-01-23 | Providence Health System | Video imaging of superficial biological tissue layers using polarized light |
| US6024449A (en) * | 1998-07-13 | 2000-02-15 | Smith; Robert F. | High speed topography measurement of semi-diffuse objects |
| US6804003B1 (en) * | 1999-02-09 | 2004-10-12 | Kla-Tencor Corporation | System for analyzing surface characteristics with self-calibrating capability |
-
2000
- 2000-06-23 FR FR0008093A patent/FR2810737B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-06-07 EP EP01401472A patent/EP1167950A1/fr not_active Withdrawn
- 2001-06-22 US US09/886,395 patent/US7127280B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-06-25 JP JP2001191761A patent/JP4017363B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004110264A1 (ja) * | 2003-06-11 | 2004-12-23 | Kose Corporation | 肌の評価方法および画像のシミュレーション方法 |
| US7336810B2 (en) | 2003-06-11 | 2008-02-26 | KOSé CORPORATION | Skin evaluation method and image simulation method |
| JP2005345191A (ja) * | 2004-06-01 | 2005-12-15 | Pola Chem Ind Inc | 角層細胞の非染色観察方法 |
| JP2008542707A (ja) * | 2005-05-25 | 2008-11-27 | アレヴァ エヌペ | 少なくとも一つの核分裂性物質を含む要素の異方性を測定する方法及び対応する装置 |
| JP2014020890A (ja) * | 2012-07-18 | 2014-02-03 | Iwasaki Electric Co Ltd | 偏光測定方法、偏光測定装置、及び偏光測定システム |
| JP2014033944A (ja) * | 2012-08-10 | 2014-02-24 | Kao Corp | 肌状態評価方法及び肌状態評価装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4017363B2 (ja) | 2007-12-05 |
| FR2810737B1 (fr) | 2003-04-18 |
| EP1167950A1 (fr) | 2002-01-02 |
| FR2810737A1 (fr) | 2001-12-28 |
| US7127280B2 (en) | 2006-10-24 |
| US20020087085A1 (en) | 2002-07-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4017363B2 (ja) | 表面検査装置及び方法 | |
| US8315692B2 (en) | Multi-spectral imaging spectrometer for early detection of skin cancer | |
| KR100815283B1 (ko) | 대상물의 3차원 검사를 위한 다수의 위상 변위 패턴의동시 투사용 시스템 | |
| US6907138B1 (en) | Method and device for analyzing surface structure | |
| US8422007B2 (en) | Optical measurement device with reduced contact area | |
| US20090080726A1 (en) | Method and apparatus for measuring collagen thickness | |
| US20090043363A1 (en) | Method and apparatus for measuring skin texture | |
| JP7219323B2 (ja) | 涙液層厚み測定装置及び方法 | |
| US11246481B2 (en) | Methods and systems for quantitative ocular surface diagnostics | |
| JPH11211673A (ja) | 表面性状評価装置および表面性状評価方法 | |
| JPH04294224A (ja) | マルチチャネルスペクトロメータ | |
| JP2000009440A (ja) | 三次元物体の計測方法及び装置 | |
| JP5408527B2 (ja) | メラノーマ診断用画像の作成方法 | |
| KR100809553B1 (ko) | 컬러 이미지 센서 평가 장치 및 방법 | |
| JP4255586B2 (ja) | 試料検査装置 | |
| EP4141415A1 (en) | Device and method for polarimetric imaging | |
| JP2005296434A (ja) | 分光画像解析方法及び装置 | |
| JP7288273B2 (ja) | 検査装置、検査システム及び検査方法 | |
| CN114729879A (zh) | 使用显示屏后的传感器进行的光学特性测量 | |
| KR19980020029A (ko) | 타이어 회전체의 윤곽측정장치 | |
| KR20070004790A (ko) | 안과용 시력 평가 시스템에서의 에지 검출기 | |
| IE20100104U1 (en) | Method and apparatus for imaging tissue topography |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20031201 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20040301 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20040304 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040531 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040628 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20040928 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20041001 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051107 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20060207 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20060214 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060427 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070115 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070516 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070703 |
|
| A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20070803 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070827 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070918 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100928 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100928 Year of fee payment: 3 |
|
| RVTR | Cancellation due to determination of trial for invalidation | ||
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100928 Year of fee payment: 3 |