JP2002025453A - ドーパントガス分圧制御機能を有するプラズマアドレス表示装置 - Google Patents

ドーパントガス分圧制御機能を有するプラズマアドレス表示装置

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JP2002025453A JP2000179955A JP2000179955A JP2002025453A JP 2002025453 A JP2002025453 A JP 2002025453A JP 2000179955 A JP2000179955 A JP 2000179955A JP 2000179955 A JP2000179955 A JP 2000179955A JP 2002025453 A JP2002025453 A JP 2002025453A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 チャネル内ドーパントガスの分圧制御のため
蓄積材により放出又は吸収される当該ガス量を表示装置
の実際の動作/環境状態に適応させる。 【構成】 長手状チャネル室部30が設けられたチャネ
ル基板2と、チャネル室部上面側で各室部の封止をなし
封止チャネル室部を形成する被覆シート4と、チャネル
室部内ガスの選択的イオン化用の電極3a,3cと、封
止チャネル室部内の主要なイオン化可能ガスと混合され
るドーパントガスを可逆的に吸収及び放出する蓄積材5
3を有するソースと、蓄積材を熱するヒータ5Hとを有
するプラズマアドレス表示装置。本装置はまた、封止チ
ャネル室部内ドーパントガスの分圧制御をなすフィード
バックループを有する。このループは、チャネル室部の
プラズマのオフ動作からのチャネル室部の少なくとも1
つにおける導電性の減衰時間の値を測定する測定手段1
0Aと、減衰時間が所定範囲内に収まるよう測定値に基
づきヒータにより蓄積材の温度を制御する制御手段10
Bとを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、広く電気光学的
部分を有するプラズマアドレスディスプレイ(PAD:
Plasma Addressed Display)装置に関する。本発明は特
に、かかる電気光学的部分として使用された液晶層をア
ドレス指定するためのチャネルであって主たるイオン化
可能ガスとそのドーパントガスとの混合物が充填される
プラズマチャネルを有するプラズマアドレス液晶(PA
LC)表示装置に関する。
【0002】
【従来の技術】この種のPALCディスプレイは、欧州
特許公報第EP 0 816 898 A2号や第EP 0
833 363 A2号などからよく知られている。
【0003】前者は、反応性ガスの集積ソースを備えた
PALC表示装置を記述している。この集積ソースは、
プラズマチャネルにおける主たるイオン化可能ガスに混
合されるべきドーパントガスを蓄積することが可能でか
つそのドーパントガスを可逆的に吸収し放出する蓄積材
料の本体を有する。この表示装置においては、当該ソー
スを利用することにより、当該蓄積材料本体におけるド
ーパントガスの濃度とプラズマチャネルにおけるドーパ
ントガスの分圧との間で平衡状態を確立することができ
る。これによって、プラズマチャネルにおいてそのドー
パントガスの分圧が一定に維持される。かかるドーパン
トガスには代表的に水素(H)が用いられ、上記主たる
イオン化可能ガスとしては代表的にヘリウム(He)が
用いられる。
【0004】また、後者も、上述したソースと同様のド
ーパントガスのソースを有するPALC表示パネルを記
述しているが、このパネルは当該ソースの性能を改善す
るよう電気抵抗ヒータをさらに有している。このヒータ
は、ソースの蓄積材料を加熱し、当該パネルにおける水
素の分圧を上昇させ、当該蓄積材料における水素の濃度
と当該パネルにおける水素の分圧とで平衡が保たれるよ
うにしている。この態様によれば、その蓄積材料の持つ
水素の濃度が初期時に低めであったとしても、パネルに
おける水素の所望分圧を達成しかつ持続することが可能
である。これとは別に、或いはこれに加えて、かかるヒ
ータの使用によりパネルの有効寿命を長くすることがで
きる。なぜなら、当該蓄積材料の温度を上げることによ
り、その蓄積材料の本来的な能力の限界のためにパネル
における水素の分圧が所望値を下回ってしまう時期を遅
らせることが可能となるからである。
【0005】しかしながら、この第EP 0 833 3
63 A2号の従来技術は、蓄積材料の加熱の仕方を示
唆しておらず、特に、蓄積材料及びヒータを精確に動作
させるものではない。チャネル内の水素は、あまり知ら
れていない様々なパラメータにより、当該ディスプレイ
の通常動作中だけでなく当該ディスプレイ装置のオフ時
においても、つまり寿命期間全体に亘って消費されてし
まうものである。したがって、蓄積材料により放出され
又は吸収される水素の量を、当該ディスプレイ装置の変
動する実際の動作/環境状態に適応させることは極めて
重要である。かかる状態に適応されるべき水素の量が少
なすぎた場合は、低めの水素分圧がチャネルに掛かるこ
となり、チャネルの減衰時間を過度に長くしてしまい、
もってライン画素のアドレッシング(線順次アドレス指
定動作)を悪化させてしまう。
【0006】減衰時間とは、1のチャネルにおけるプラ
ズマのオフ切り換え動作から始まる導電性遷移期間を指
し、この期間において当該プラズマにより生じたプラズ
マ導電性が例えばゼロへと戻る、すなわち実質的にゼロ
へと遷移する期間を指している。この減衰時間はまた、
当該チャネルの充填ガスのオン状態から完全なオフ状態
へのスイッチング速度に依存する、と言い換えられる。
HDTVディスプレイやコンピュータモニタの如き多数
の走査ラインを有するディスプレイに対しては特に、長
すぎる減衰時間は避けなければならない。これは、この
ようなタイプのディスプレイにおいては1つの走査ライ
ンに対して割り当てられる周期が短いからである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】したがって、本発明の
目的は、チャネル内のドーパントガスの分圧を制御する
ために、蓄積材料により放出され又は吸収されるドーパ
ントガスの量を当該ディスプレイ装置の変動する実際の
動作/環境状態に適応させることのできるプラズマアド
レス表示装置を提供することである。
【0008】本発明の他の目的は、プラズマチャネルに
供給されるスイッチング速度の速いガスによって動作す
ることのできるプラズマアドレス表示装置を提供するこ
とである。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明によるプラズマアドレス表示装置は、相互接
続された長手状チャネル室部のアレイが設けられたチャ
ネル基板と、前記チャネル室部上にわたって延在し前記
チャネル室部の上面側で前記チャネル室部の封止をなす
ことにより前記チャネル基板とともに封止チャネル室部
を形成する被覆シートと、前記チャネル室部内のガスを
選択的にイオン化するために各封止チャネル室部中に配
された一対の電極と、前記封止チャネル室部における主
要なイオン化可能ガスと混合させるべきドーパントガス
を可逆的に吸収及び放出する蓄積材料を有するドーパン
ト源と、前記蓄積材料を熱するヒータとを有するプラズ
マアドレス表示装置であって、前記封止チャネル室部内
の前記ドーパントガスの分圧の制御をなすためのフィー
ドバックループが設けられ、このフィードバックループ
は、当該チャネル室部のプラズマのオフ動作からの前記
チャネル室部の少なくとも1つにおける導電性の減衰時
間に対応する値を測定するための測定手段と、前記減衰
時間が所定の範囲内に収まるように、その測定された値
に基づいて前記ヒータにより前記蓄積材料の温度を制御
するための制御手段と、を有する、ことを特徴としてい
る。
【0010】このような構成を有するプラズマアドレス
表示装置によれば、蓄積材料から放出されるドーパント
ガスの量を、サーボシステムのように当該蓄積材料の温
度の制御によって実際のチャネル導電率の減衰時間の変
動に応じて調整しかつ最適化することができる。すなわ
ち、ディスプレイの状態の如何に拘わらず、チャネル室
部におけるドーパントガスの所望の分圧を厳密に維持す
るフィードバック制御を行うことができる。したがっ
て、本発明による装置は、寿命が来るまでの間、適正な
表示動作、特に適正な線順次走査を維持することができ
る、という効果を奏する。また、スイッチング速度の速
いガスをチャネル室部に充填させることができるので、
ライン毎のアドレス動作に必要な時間が短くて済み、H
DTVディスプレイやコンピュータモニタの如き割り当
てられるライン当たりの走査時間の短いディスプレイに
も適合させ易くなる、という効果を奏する。
【0011】この表示装置において、前記測定手段は、
当該チャネル室部においてプラズマ放電が終了して所定
時間後に、前記チャネル室部の少なくとも1つに残存す
る空間電荷の量を検知することにより測定を行うように
してもよい。
【0012】ここで、前記測定手段は、第1及び第2出
力部を有しこれらの間で前記電極の一方の電流経路を変
えるスイッチング回路と、前記第1出力部に接続された
キャパシタとを有し、前記第2出力部は、前記室部にお
けるプラズマ放電のための基準電位に結合され、前記ス
イッチング回路は、前記電極の他方に供給されるプラズ
マ点弧パルスの終了に応答して前記第2出力部から第1
出力部へ前記電流経路を切り換えてもよい。
【0013】また、前記測定手段は、前記キャパシタの
電圧を測定しこの測定した電圧に応じて当該減衰時間長
を示す減衰時間信号を発生する手段をさらに有するよう
にすることができる。
【0014】さらに前記制御手段は、前記減衰時間信号
を所定の基準値と比較してその比較結果に応じた制御信
号を発生する比較器と、前記制御信号に応じて駆動信号
を発生し前記ヒータに供給するドライバとを有するもの
としてもよい。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明による上記態様及び
他の態様を、添付図面を参照して詳細に説明する。
【0016】図1は、本発明による一実施例のPALC
表示パネルの一部の断面を概略的に示している。このP
ALC表示パネルは、この図の下から順に、第1の偏光
板1と、チャネル基板2と、チャネル室部層3と、誘電
材料によるマイクロシート4と、電気光学的物質層とし
ての液晶(LC)層5と、平行な透明データ電極6(こ
の図ではそのうちの1つしか示していない)と、カラー
フィルタ層7と、データ電極6及びカラーフィルタ層7
を担持する上側基板8と、第2の偏光板9とを有する。
底部偏光板1に対向して、周知のプレート状背面光(バ
ックライト)システム(この図では示されていない)を
配置することができる。この背面光システムは、背面光
を発射する光源と、この発射光から偏光板1に入射すべ
き均等な光を生成するための拡散層とを含む。
【0017】チャネル基板2は、例えばガラスから作製
され、その上側主面の側に複数の長手状チャネル室部3
0が設けられる。これら室部30は、基板2に積み重ね
られたリブ3r及びアノード電極3aのリブ構造により
区切られる。マイクロシート4は、かかるリブ構造を全
体的に覆い封止チャネル室部を形成する。チャネル室部
30には、主要イオン化可能ガス例えばヘリウム(H
e)とそのドーパントガス例えば水素(H)との混合体
が充填される。室部30は、表示領域において水平にか
つ互いに平行に延在する。室部30の各々には、当該チ
ャネル室部に沿って互いに平行に延びかつ所定の距離を
おいて配されているアノード電極3a及びカソード電極
3cが設けられる。アノード電極3aは、接地される電
極として共通使用されるのに対し、カソード電極3c
は、ストローブ電極として個々に使用される。チャネル
室部30は、当該表示領域において垂直方向に延びるデ
ータ電極6に直交した配列(アレイ)の形態を呈してい
る。
【0018】この表示パネルの画面を鉛直に見たとき、
データ電極6の1つがチャネル室部30の1つと交差す
る領域を、個別の画素要素(副画素又はサブピクセル)
21の各々が占めている(図2参照)。画素要素21
は、3つの原色すなわち赤(R)、緑(G)及び青
(B)にそれぞれ対応するものとすることができる。隣
接するR,G及びB画素要素21は、単一のフルカラー
画素(ピクセル)22を構成し、本例の場合、フルカラ
ー画素毎にチャネル室部30の長手方向に配列される。
かかるR,G及びB画素要素21は、それぞれR,G及
びBのカラーフィルタと対応づけられ、これにより当該
カラー画素の各々についてのフルカラー表示を実現して
いる。なお、図1は、カラーフィルタ7のこうしたRG
B構造を示していない。
【0019】チャネル室部30の1つにおける両側のア
ノード3aとカソード3cとの間に適正な電圧(例えば
約450V)が印加されると、そのチャネル室部内のガ
スはプラズマを形成する。このプラズマは、マイクロシ
ート4の底面においてアノード3aへの当該対応ライン
の導電性パスを呈する。すなわち、当該室部に対応する
マイクロシート4のライン状部分は、実質的にアノード
3aに接続され、接地電位となりうる。プラズマが消失
した直後、データ電極6の1つが接地電位となると、当
該1のデータ電極と当該チャネル室部30との間におけ
る液晶層6の部分に電界が殆ど存在しなくなる。したが
って、この液晶部分に対応する画素要素21はオフとみ
なされる。これに対し、データ電極6の1つがアノード
電位(これは接地電位としうる)とは十分に異なる電位
である場合には、その異なる電位に応じて当該液晶部分
に電界が印加される。したがって、この液晶部分に対応
する画素要素21は、オンとみなされる。
【0020】第1偏光板1は、直線偏光板とすることが
でき、またその偏光面を基準面に対して0゜として任意
に設計することができる。この第1の偏光板1ととも
に、第2の偏光板9を90゜の偏光面を有する直線偏光
板とすることができ、液晶層5を、当該液晶材料に印加
される電界の関数たる角度だけそこに入射される直線偏
光光の偏光面を回転するツイストネマチック液晶材料を
有するものとしうる。画素要素21のオフ制御下におい
て、かかる回転角は90゜であり、画素要素21のオン
制御下においては、ゼロである。
【0021】上述の背面光システムは、その構成要素た
る拡散層に、偏光されていない光を発する光源を有す
る。この拡散層は、当該表示パネルの表示面又はスクリ
ーンにわたり均一な照射をなすための散乱表面を有す
る。この拡散層を介したこの光源からの光は、第1の偏
光板1により0゜の直線偏光が施された後、各層2〜8
を通じ偏光板9に向かっている視聴者へと透過する。
【0022】極明状態の場合、直線偏光光の偏光面は液
晶層5により90゜回転する。したがって、第2の偏光
板9に入射する光の偏光面は、90゜となるので、当該
入射光は前方偏光板9により透過し、対応する画素要素
21の領域を照明することになる。
【0023】極暗状態の場合、直線偏光光の偏光面は、
液晶層5により回転しない。したがって、第2偏光板9
に入射する光の偏光面は、0゜であり、かかる光は前方
偏光板9により遮断され対応の画素要素21の領域を暗
くする。
【0024】液晶層5に掛かる電界強度が当該明状態の
値と当該暗状態の値との中間にある場合、その電界強度
に応じて第2偏光板9を光が透過する。これにより、中
間調画像が表示可能となる。
【0025】図2は、上記チャネル室部、データ電極及
び画素の他、このPALC表示パネルに設けられるディ
スペンサシステムの構成を示している。プラズマチャネ
ル30は、相互接続されるよう連結管チャネル室部3M
と連通しており、これにより当該ガスが室部30から連
結管チャネル室部3Mへ流れること及びその逆に流れる
ことが可能となる。連結管チャネル3Mはまた、排気管
(図示せず)に連通しており、この排気管は容器52と
繋がっている。容器52と当該排気管は、互いに気密に
結合されている。
【0026】容器52は、上述したような水素蓄積材料
のタブレット53を収納している。この水素蓄積材料
は、それ自身の分子構造に水素を組み込むことにより水
素を蓄積している。このような水素蓄積材料は、水素ゲ
ッターとして周知かつ商業的に入手可能である。このこ
とは先述した公報にも記述されている。
【0027】加熱システム5Hは、容器52の回りに設
けられ、その容器ボディ壁部を通じてその蓄積材料を熱
することができる。水素蓄積材料は、本来的にそれ自体
の温度により水素を放出するが、加熱システム5Hは、
当該材料からの水素の放出を増進させることができる。
放出された水素ガスは、当該排気管及び連結チャネル3
Mを通り各チャネル室部30に流入され、その水素がヘ
リウムガスと混合されることになる。
【0028】図3は、上記減衰時間の値を測定するため
の回路100を示している。この回路は、スイッチ回路
71と、キャパシタ72と、抵抗73及び直流電源74
の直接構成部とを有する。スイッチ回路71は、1つの
入力と2つの出力を有しており、当該入力はアノード3
aと接続され、当該出力は接地点とキャパシタ72とに
それぞれ接続される。キャパシタ72の一端とスイッチ
回路71の一方の出力は、抵抗73の一端に共通接続さ
れている。この抵抗73は、スイッチ回路71の内部抵
抗を含んでおり、これは相当に大きな値を有するもので
ある。抵抗73の他端は、電源74の負極端子に接続さ
れ、電源74の正極端子は、接地点に接続されている。
電源74は、例えば20Vの電圧を有するものとするこ
とができ、キャパシタ72は、比較的小さいキャパシタ
ンスを持つものとすることができる。
【0029】キャパシタ72の一対の端部は、チャネル
導電性の減衰時間を表す信号としての電圧信号vを供給
するための出力として導出される。注記するに、通常の
PALC表示装置の各アノードは、本質的に接地点に直
接接続されるものであるのに対し、この実施例の少なく
とも1つのアノードは、スイッチ回路71に接続され、
このスイッチ回路が電流経路を接地点側からキャパシタ
側へ、或いはキャパシタ側から接地点側へと切り換える
ことを可能としている。
【0030】一方、カソード3cもスイッチ回路81に
接続される。このスイッチ回路81は、2入力1出力タ
イプのものであり、当該出力はカソード3cに接続さ
れ、当該入力は直流電源82とスイッチ回路81の内部
抵抗83とにそれぞれ接続される。電源82は、その負
極端子においてスイッチ回路81の一方の入力と接続さ
れ、正極端子において接地点と接続される。この抵抗8
3は、一端においてスイッチ回路81の他方の入力と接
続され、他端において接地点と接続される。電源82
は、放電点弧のための比較的高い電圧(例えば450
V)を有する。スイッチ回路81は、信号Zにより制御
され、カソード3cの電流経路を電源82側から抵抗8
3側へ及びその逆に切り替えることができる。このよう
な切り替えにより、当該チャネル室部においてプラズマ
放電をなすために負極性パルスがカソード3cへ向けて
発生される。これら機能ブロック81ないし83は、通
常のPALC表示装置のものと本質的には同等である。
【0031】図4は、上述したようなPALC表示パネ
ルの各部における電圧波形を示している。この図におけ
るタイムチャートは、主として当該表示の1走査ライン
動作をカバーするものである。
【0032】先ず、放電をなすために、新たに活性化す
べき画素ライン(以下、アクティブラインと呼ぶ)に対
応するチャネル室部30の1つにおけるカソード3c
に、負極性電圧ストローブパルスが印加される。このス
トローブパルスに応答して当該チャネル室部30にプラ
ズマが起き、その室部におけるカソード3cとアノード
3aとの間で放電する。ストローブパルスが印加されて
いる最中のプラズマにより、そのチャネルに多量の空間
電荷が生じるので、マイクロシート4の底面に仮想電極
が形成されこれがアノード3aと実質的に電気的接続さ
れる。ストローブパルスが無くなると(時点t1)、プ
ラズマは消失し、空間電荷が減少に向かうこととなる。
【0033】ストローブパルスが無くなって直ぐに、デ
ータ電極6は、ビデオ信号のフレーム/フィールドのア
クティブラインの各サンプル値に基づく電圧レベルに、
それぞれ(同時に)駆動される。当該アクティブライン
の室部30に対応する画素要素21の各々について、当
該画素要素の状態を定める電界がデータ電極6とマイク
ロシート4の底面との間に形成される。このような電界
によって、液晶層5とマイクロシート4は帯電させられ
る。
【0034】かかるプラズマが消失したとしても、当該
室部30がビデオ信号の次のフレーム/フィールドにお
いて再びアドレス指定されるまで当該画素要素の液晶部
分の光学的状態を持続するよう、その帯電状態は、液晶
層5及びマイクロシート4の画素要素部分において保ち
続けなければならない。そのためにデータ電極6のデー
タ電圧は、空間電荷が消えるまで不変のまま維持される
べきである。
【0035】データ電極6を駆動している間、かかるア
クティブラインのマイクロシート4の各部分は、それぞ
れデータ電極6に供給された電圧により帯電される。理
想的には、データ電極6の駆動終了後に、かかるマイク
ロシート4の部分は、そのチャネルにおけるガスが次の
フレームで再び活性化されるまで電荷を一定に保持する
べきである。しかしながら、マイクロシート4の底面に
形成された仮想電極は、図4における点線により示され
るように、データ電圧がオフに切り替わると電荷(及び
電圧)を失う可能性を持っている。この電荷の減少は、
放電領域すなわちチャネル室部内の準安定原子(又は分
子若しくはイオン)により依然として存在し又は生成さ
れている空間(自由)電荷により生じるものである。換
言すれば、データ電圧がオフとなったときに当該室部内
に相当の空間電荷が残存していると(図4の点線参
照)、マイクロシート4がその保持電荷を減らすように
作用するのである。アドレス指定動作の終了時において
当該室部に空間電荷がより多く残っているほど、マイク
ロシート4の電荷がより多く減少することになる。さら
に、チャネルの導電性はこの残存した空間電荷の量に依
存する、と言うことができる。また、そのチャネルのプ
ラズマ放電が終了してから所定時間T後における残存空
間電荷量は、チャネル導電性の減衰時間の長さを表す、
とみなせる。この所定時間は、5ないし50マイクロ秒
の範囲内にあるのが好ましい。
【0036】そこで本発明は、このチャネル導電性の減
衰時間をこのような考察の認識に基づいて測定しようと
したものである。
【0037】この実施例においては、上記ブロック71
〜74は、この減衰時間を測定するために、カソード3
cにおけるストローブパルスがオフに切り替わった後の
当該残存空間電荷の量を検出することに貢献する。図4
に示されるように、ストローブパルスの立ち上がりエッ
ジの後は、スイッチ回路71がオンに制御され、すなわ
ちその接続が接地点からキャパシタ72側に変わる。こ
の制御の下で、キャパシタ72は、当該室部30内の残
存空間電荷をアノード3aを通じて引き込む。実際に
は、図4に示されるように、キャパシタ72の電圧vが
その空間電荷に応じて減少する。この電圧の減少は当該
減衰時間の尺度又はチャネル室部内ガスのスイッチング
速度の尺度となる。かかる電圧の減少を測定するため
に、電圧測定回路が用いられ、この回路はキャパシタ7
2の両端間電圧vを受け取る。
【0038】図5は、電圧測定回路101を含むフィー
ドバック回路を概略的に示している。このフィードバッ
ク回路において、回路100及び101は、チャネル導
電性の減衰時間を測定する手段10Aとして機能する。
このフィードバック回路は、この手段10Aにより測定
された値に応じて上記ヒータシステム5Hを制御する手
段10Bをさらに有する。
【0039】電圧測定回路101は、スイッチ回路71
用の制御信号Xを受信する端子を有するものとすること
ができる。この電圧測定回路は、制御信号Xを用いるこ
とにより、上記電圧vの減少すなわち下降分を適正に測
定することができる。すなわち、信号Xのオン状態の開
始時点で、電圧測定回路101はキャパシタ72の初期
電位(これは電源74による事前の充電による)を取り
込むことができ、信号Xのオン状態の終了時点で、電圧
測定回路101はその初期電位を基準電圧として用いる
ことにより当該減衰時間を表すキャパシタ電圧を得るこ
とができる。例を挙げると、回路101は、図4に示さ
れるように、適正な減衰時間の場合に電圧vを測定す
ることができ、長めの減衰時間の場合には電圧vを測
定することができる。回路101は、信号Xの次のオン
状態まで当該測定電圧の値を保持する機能を有するのが
好ましい。
【0040】回路101からの測定電圧(換言すれば減
衰時間信号)は、比較器102に供給される。この比較
器102は、その一方の入力端子において当該減衰時間
信号を受信する。比較器102の他方の入力端子には、
減衰時間が長すぎるか否かについての判断基準となり得
る基準電圧が供給される。この減衰時間信号の値がその
基準電圧値以下の場合には、比較器102は、低レベル
信号を出力する。これに対して減衰時間信号の値が当該
基準電圧値を上回る場合は高レベル信号を出力する。こ
の基準電圧の値をセッティングすることにより、所望の
減衰時間の範囲を規定することができる。
【0041】ドライバ103は、比較器102の出力信
号に応じて上記ヒータシステム5Hに駆動電流を供給す
る。例えば、ドライバ103は、比較器102の出力信
号が高レベルにある場合にのみ、ある決まった期間にお
いてヒータシステム5Hに所定レベルの駆動電流Yを供
給する。これにより、ヒータシステム5Hは、その駆動
電流Yの量に対応するパワーにより容器52におけるタ
ブレット53の蓄積材料の温度を上昇させることができ
る。この態様において、チャネル導電性の実際の減衰時
間に基づいてヒータシステム5Hを制御し、当該蓄積材
料の温度を自動的に調整することができるので、放出さ
れる水素の量は最適化され、チャネル室部内の水素分圧
も最適化されるとともに、当該減衰時間も十分に短いも
のとなるのである。
【0042】なお、このようなフィードバックループの
メカニズム全体はそれ程機敏な動作を必要とするもので
はない。何故なら、加熱及び拡散のメカニズム全体も緩
慢なものであるからである。
【0043】上述したような測定メカニズムはまた、パ
ネルのプラズマチャネルが正しく機能しているかどうか
を確認するために当該表示装置の製造プロセスにおいて
使用することも可能である。
【0044】なお、本発明において他に色々な改変例が
可能なことは言うまでもない。例えば、回路100は、
複数のチャネルに対して設けることもできる。この場
合、制御手段10Bはヒータを制御するのに複数の測定
値を用いることができる。したがってここに記述された
好適実施例は例示的なものであり限定的なものではな
い。本発明の範囲は添付の請求項により示されており、
かかる請求項の意味の中に入る全ての変形例は本発明に
含まれるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施例に適用されたPALC表示
パネルを示す断面図。
【図2】 図1に示した表示パネルにおけるチャネル、
データ電極、ディスペンサシステム及び画素等の構成を
示す平面図。
【図3】 本発明の実施例による表示パネルにおける測
定回路の概略図。
【図4】 本発明の実施例による表示パネルの各部の電
圧波形を示すタイムチャート。
【図5】 本発明の実施例による表示パネルにおけるフ
ィードバック回路の大まかな構成を示す概念的ブロック
図。
【符号の説明】
1…第1の偏光板 2…チャネル基板 21…画素要素 22…フルカラー画素 3…チャネル室部層 30…チャネル室部 3r…リブ 3a…アノード電極 3c…カソード電極 3M…連結管チャネル室部 4…マイクロシート 5…液晶層 6…データ電極 7…カラーフィルタ層 8…上側基板 9…第2の偏光板 5H…加熱システム 52…容器 53…蓄積材料 100…減衰時間測定回路 71…スイッチ回路 72…キャパシタ 73…抵抗 74…直流電源 81…スイッチ回路 82…直流電源 83…抵抗 101…電圧測定回路 102…比較器 103…駆動回路 10A…減衰時間測定手段 10B…ヒータ制御手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 590000248 Groenewoudseweg 1, 5621 BA Eindhoven, Th e Netherlands Fターム(参考) 2H089 HA36 RA05 TA07 TA12 TA15 TA18 5C006 AF54 AF62 AF64 BB18 BF41 FA14 FA19 5C040 FA02 FA09 GB03 GB12 GJ08 MA10 MA17

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 相互接続された長手状チャネル室部のア
    レイが設けられたチャネル基板と、前記チャネル室部上
    にわたって延在し前記チャネル室部の上面側で前記チャ
    ネル室部の封止をなすことにより前記チャネル基板とと
    もに封止チャネル室部を形成する被覆シートと、前記チ
    ャネル室部内のガスを選択的にイオン化するために各封
    止チャネル室部中に配された一対の電極と、前記封止チ
    ャネル室部における主要なイオン化可能ガスと混合させ
    るべきドーパントガスを可逆的に吸収及び放出する蓄積
    材料を有するドーパント源と、前記蓄積材料を熱するヒ
    ータとを有するプラズマアドレス表示装置であって、 前記封止チャネル室部内の前記ドーパントガスの分圧の
    制御をなすためのフィードバックループが設けられ、こ
    のフィードバックループは、 当該チャネル室部のプラズマのオフ動作からの前記チャ
    ネル室部の少なくとも1つにおける導電性の減衰時間に
    対応する値を測定するための測定手段と、 前記減衰時間が所定の範囲内に収まるように、その測定
    された値に基づいて前記ヒータにより前記蓄積材料の温
    度を制御するための制御手段と、を有する、ことを特徴
    とするプラズマアドレス表示装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の表示装置であって、前
    記測定手段は、当該チャネル室部においてプラズマ放電
    が終了して所定時間後に、前記チャネル室部の少なくと
    も1つに残存する空間電荷の量を検知することにより測
    定を行うことを特徴とする表示装置。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載の表示装置であって、前
    記測定手段は、第1及び第2出力部を有しこれらの間で
    前記電極の一方の電流経路を変えるスイッチング回路
    と、前記第1出力部に接続されたキャパシタとを有し、
    前記第2出力部は、前記室部におけるプラズマ放電のた
    めの基準電位に結合され、前記スイッチング回路は、前
    記電極の他方に供給されるプラズマ点弧パルスの終了に
    応答して前記第2出力部から第1出力部へ前記電流経路
    を切り換える、ことを特徴とする表示装置。
  4. 【請求項4】 請求項3に記載の表示装置であって、前
    記測定手段は、前記キャパシタの電圧を測定しこの測定
    した電圧に応じて当該減衰時間長を示す減衰時間信号を
    発生する手段をさらに有する、ことを特徴とする表示装
    置。
  5. 【請求項5】 請求項4に記載の表示装置であって、前
    記制御手段は、前記減衰時間信号を所定の基準値と比較
    してその比較結果に応じた制御信号を発生する比較器
    と、前記制御信号に応じて駆動信号を発生し前記ヒータ
    に供給するドライバとを有する、ことを特徴とする表示
    装置。
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