JP2002023089A - 走査式描画装置 - Google Patents

走査式描画装置

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JP2002023089A
JP2002023089A JP2000202366A JP2000202366A JP2002023089A JP 2002023089 A JP2002023089 A JP 2002023089A JP 2000202366 A JP2000202366 A JP 2000202366A JP 2000202366 A JP2000202366 A JP 2000202366A JP 2002023089 A JP2002023089 A JP 2002023089A
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Takayuki Iizuka
隆之 飯塚
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Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 装置のコストを増加させず、かつ、走査範囲
を著しく狭くすることなくレーンのつなぎ目を目立たせ
ずにパターンを描画することができる走査式描画装置を
提供すること。 【解決手段】 アルゴンレーザー発生器20から発した
レーザー光は、固定板30上に導かれ、その上に配置さ
れた2組の走査光学系により変調、偏向され、描画対象
上を走査してパターンを形成する。第1レーンL1、第
2レーンL2をそれぞれ走査する第1,第2の走査光学
系50,60の走査範囲は、他のレーンに接しない側の
端部の像高をh1、この像高h1における非点隔差をAS
(h1)とし、他のレーンに接する側の端部の像高をh2
この像高h2におけるにおける非点隔差をAS(h2)とし
て、 |AS(h1)|>|AS(h2)| …(1) |h1|>|h2| …(2) を満たすように定められている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、描画エリアを複数
のレーンに分割してパターンを描画する走査式描画装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】描画エリアが広い場合、走査光学系の走
査幅を大きくすると、光学系にかかるコストが大きくな
るため、従来から、描画エリアを複数のレーンに分割
し、各レーン毎にパターンを描画する走査式描画装置が
開発されている。
【0003】ただし、描画エリアを複数のレーンに分割
する場合、各レーンの境界部分で描画性能が乱れると、
つなぎ目が目立ち、境界を跨ぐパターンが滑らかに接続
されない。描画性能の乱れは、光学系の設計上の収差
や、組み立て時の機械的な誤差に起因し、一般的には走
査範囲の周辺部で大きくなる。特に、設計上の収差に関
しては、限られたレンズ枚数でより広い走査範囲にわた
って光学性能を所定レベルに維持するため、周辺部での
性能をある程度犠牲にして中心部及び中間像高での性能
が良好となるよう設計する場合が多い。
【0004】そこで、つなぎ目を目立たなくするには、
光学系の収差や機械的な誤差を低減し、あるいは、描画
性能の乱れが大きくなる周辺部を利用せずに中央部分の
みを利用することが考えられる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、収差を
低減するにはレンズ枚数が増加し、組み立て誤差を低減
するためには精密な機構が必要となり、いずれも装置の
コストを増加させるという問題がある。一方、性能が悪
くなる走査範囲の周辺部を利用しないようにすると、走
査範囲が著しく狭くなり、広い描画エリアをカバーする
ためにはレーンの数が増加し、描画時間が長くなるとい
った問題を生じる。
【0006】本発明は、上述した従来技術の問題点に鑑
みてなされたものであり、装置のコストを増加させず、
かつ、走査範囲を著しく狭くすることなくレーンのつな
ぎ目を目立たせずにパターンを描画することができる走
査式描画装置の提供を目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、描画性能の乱
れが描画されたパターンの中で目立つのは他のレーンと
の境界部分のみであり、他のレーンに接しない側の端部
では多少の描画性能の乱れは目立たないために許容され
る点に着目してなされたものであり、他のレーンに接し
ない側の端部の非点隔差が他のレーンに接する側の端部
の非点隔差より大きくなり、かつ、他のレーンに接しな
い側の像高が他のレーンに接する側の像高より大きくな
るよう走査範囲を定めたことを特徴とする。
【0008】すなわち、本発明の走査式描画装置は、描
画面上にオンオフ変調されたビームスポットを走査させ
ることによりパターンを形成する走査光学系を少なくと
も一組備え、描画エリアを主走査方向に複数のレーンに
分割し、各レーンを別個に走査する構成において、描画
エリアの両端に位置する各レーンの走査範囲は、他のレ
ーンに接しない側の端部の像高をh1、この像高h1にお
ける非点隔差をAS(h1)とし、他のレーンに接する側の
端部の像高をh2、この像高h2における非点隔差をAS
(h2)として、以下の条件(1)、(2)、 |AS(h1)|>|AS(h2)| …(1) |h1|>|h2| …(2) を満たすように定められていることを特徴とする。
【0009】上記の構成によれば、描画エリアの両端に
位置する各レーンの走査範囲は、光軸を中心として他の
レーンに接する側が短く、他のレーンに接しない側が長
くなり、境界部分での描画性能の乱れを抑えつつ、走査
範囲が極端に狭くなるのを防ぐことができる。
【0010】描画エリアが2つのレーンに分割される場
合には、各レーンの走査範囲が共に条件(1),(2)を満た
すよう定められる。また、描画エリアが3つ以上のレー
ンに分割される場合には、両側で他のレーンに接するレ
ーンの走査範囲は、両側の端部で非点隔差AS(h2)とな
るよう定めることが望ましい。
【0011】さらに、走査可能範囲の中間像高で非点隔
差が0になるよう設計された走査光学系を用いる場合、
他のレーンに接する側の端部における非点隔差AS(h2)
をほぼ0とすることがつなぎ目を目立たなくする上では
望ましい。また、描画対象面の凹凸等による描画パター
ンの変形を防ぐため、走査光学系は描画面側に対してテ
レセントリックであることが望ましい。
【0012】本発明の走査式描画装置は、走査光学系を
1組、あるいは、レーンの数と同数備えることができ
る。走査光学系を1組備える場合には、レーンの切り替
え時に走査光学系と描画面とを主走査方向に相対的に移
動させてレーンを切り替える。一方、走査光学系を複数
備える場合には、複数のレーンを対応する各走査光学系
により同時に走査することができる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明にかかる走査式描画
装置の実施形態を説明する。図1は、実施形態の走査式
描画装置の全体構成の概略を示す斜視図である。この走
査式描画装置は、床面に固定された基台10を備え、基
台10上に互いに平行に配置された2本のレール11,
11上にスライドテーブル12がスライド自在に取り付
けられている。スライドテーブル12には、回転微調整
テーブル13を介して描画テーブル14が配置されてい
る。描画テーブル14上には、パターンが描画されるフ
ォトマスク用感光フィルム、あるいはフォトレジスト層
を有する基板等の描画対象が配置される。
【0014】基台10の図中手前側の端部には、アルゴ
ンレーザー発生器20が設けられている。このアルゴン
レーザー発生器20から平行光として発したレーザー光
は、ビームベンダ21,22により描画テーブル14の
上方で基台10に固定された固定板30上に導かれ、固
定板30上に配置された2組の走査光学系により変調、
偏向され、描画対象上を走査して露光パターンを形成す
る。
【0015】固定板30上に導かれたレーザー光は、ビ
ームベンダ31,32により反射され、ビームセパレー
タ33に入射して8本の平行ビームに分割される。な
お、図1では8本のビーム中の3本について図示してい
る。分割されたビームは、ビームベンダ34で反射され
て集光レンズ35に入射し、それぞれ集光される。集光
された各ビームは、集光レンズ35の焦点位置に配置さ
れたマルチチャンネル音響光学素子(AOM)37に入射
する。マルチチャンネルAOM37は、8つのチャンネ
ルを有する変調器であり、描画信号に応じて8本のビー
ムを独立して変調する。
【0016】変調された各ビームは、コリメートレンズ
38により平行光とされて電気光学素子39に入射す
る。電気光学素子39は、印加電圧のオンオフにより直
線偏光として入射するビームの偏光方向を90度切り替
える。電気光学素子39を射出した各ビームは、偏光ビ
ームスプリッター40により第1,第2の走査光学系5
0,60に振り分けられる。
【0017】すなわち、電気光学素子39の電源オン時
には、各ビームは偏光ビームスプリッター40に対して
P偏光として入射し、偏光ビームスプリッター40を透
過して第1の走査光学系50に導かれる。電源オフ時に
は、各ビームは偏光ビームスプリッター40に対してS
偏光として入射し、偏光ビームスプリッター40により
反射されて第2の走査光学系60に導かれる。
【0018】第1の走査光学系50は、偏光ビームスプ
リッター40を透過したビームを反射させるビームベン
ダ51,52,53と、これらのビームベンダにより反
射されたビームを動的に偏向する第1のポリゴンミラー
54と、第1レンズ群55、第2レンズ群57から構成
される第1のfθレンズと、これらのレンズ群の間に配
置されて光路を描画テーブル14側に向ける第1のター
ニングミラー56とを備える。第1の走査光学系50
は、描画面上の第1のレーンL1にオンオフ変調された
ビームスポットを走査させることによりパターンを形成
する。
【0019】第2の走査光学系60は、偏光ビームスプ
リッター40で反射されたビームを反射させるビームベ
ンダ61,62と、これらのビームベンダにより反射さ
れたビームを動的に偏向する第2のポリゴンミラー63
と、第1レンズ群64、第2レンズ群66から構成され
る第2のfθレンズと、これらのレンズ群の間に配置さ
れて光路を描画テーブル14側に向ける第2のターニン
グミラー65とを備える。第2の走査光学系60は、描
画面上の第2のレーンL2にオンオフ変調されたビーム
スポットを走査させることによりパターンを形成する。
第1,第2の走査光学系は、いずれも描画面側にテレセ
ントリックである。これにより、描画対象面の凹凸等に
よりピントがずれた場合にも、形成されるビームスポッ
トの中心位置のずれを防ぐことができ、描画されるパタ
ーンの変形を防ぐことができる。
【0020】ここで、描画面上でビームが走査する方向
を主走査方向y、描画テーブル14が移動する方向を副
走査方向zとする。第1,第2のポリゴンミラー54,
63は、共に8面の反射面を備え、互いにπ/8だけず
れた位相で回転する。電気光学素子39は、第1のポリ
ゴンミラー54の1つの反射面により反射されたビーム
が走査範囲にある描画期間中は電源をオンしてビームを
第1の走査光学系50に入射させ、第1のポリゴンミラ
ー54により反射されるビームが走査終了位置を越えて
から次の反射面により反射されるビームが走査開始位置
に達するまでの切り替え期間中、電源をオフしてビーム
を第2の走査光学系60に入射させる。この例では、一
方の走査光学系の描画期間が、他方の走査光学系の切り
替え期間に一致するよう設定されているため、第1,第
2の走査光学系に対して描画時間が50%づつ振り分け
られる。
【0021】このようにして反射面の切り替えに応じて
変調ビームが振り分けられるため、各レーンL1、L2に
対して交互に8本づつの走査線が形成され、描画テーブ
ル14を副走査方向zに移動させることにより、描画面
上に二次元のパターンが形成される。実施形態の走査光
学装置では、描画エリアが主走査方向yに2つのレーン
L1,L2に分割されるため、いずれのレーンも描画エ
リアの両端に位置するレーンとして定義される。
【0022】そして、これらのレーンを走査する第1,
第2の走査光学系50,60の走査範囲は、第1のレー
ンL1と第2のレーンL2のそれぞれについて、他のレー
ンに接しない側の端部の非点隔差が他のレーンに接する
側の端部(境界部分)の非点隔差より大きくなり、かつ、
他のレーンに接しない側の像高が他のレーンに接する側
の像高より大きくなるよう定められている。以下、各走
査光学系の走査範囲の設定につき、具体的なレンズ設計
例に基づいて説明する。
【0023】図2は、第1,第2の走査光学系50,6
0に用いられているfθレンズのレンズ図である。共に
共通のfθレンズを用いているため、ここでは第1の走
査光学系50に使用される符号を付して説明する。
【0024】このfθレンズは、図中上側となるポリゴ
ンミラーの反射面54a側から順に、メニスカス負レン
ズである第1レンズ55a、メニスカス正レンズである
第2レンズ55b、そして、メニスカス正レンズである
第3レンズ55cの3枚のレンズで構成される第1レン
ズ群55と、凸平の単レンズで構成される第2レンズ群
57とが配列して構成される。fθレンズを構成する4
枚のレンズは、いずれも回転対称な球面レンズである。
これらの具体的数値構成を以下の表1に示す。表中の記
号rは各面の曲率半径、dは面間の光軸上の距離(第8
面については描画面までの距離)、nは各レンズの屈折
率である。
【0025】表中、第1面及び第2面が第1レンズ群5
5の第1レンズ55a、第3面及び第4面が第2レンズ
55b、第5面及び第6面が第3レンズ55c、第7面
及び第8面が第2レンズ群57を示す。
【0026】
【表1】
【0027】図3は、上記設計例のfθレンズの像面湾
曲を示すグラフである。図中、縦軸は像高y(単位:mm)
であり、横軸は収差量(単位:mm)、すなわち像高0にお
ける像平面を基準とした主走査、副走査各方向の収束位
置の光軸方向のズレを示す。破線が主走査方向、実線が
副走査方向の収差量を示す。各像高における主走査方向
の収束位置と、副走査方向の収束位置との差、すなわ
ち、主走査方向の像面湾曲量DMと副走査方向の像面湾
曲量DSとの差が、非点隔差ASとなる。代表的な像高
におけるDM,DS,ASの値を以下の表2に示す。
【0028】
【表2】
【0029】第1レーンL1、第2レーンL2をそれぞれ
走査する第1,第2の走査光学系50,60の走査範囲
は、他のレーンに接しない側の端部の像高をh1、この
像高h1における非点隔差をAS(h1)とし、他のレーンに
接する側の端部の像高をh2、この像高h2における非点
隔差をAS(h2)として、以下の条件(1)、(2)、 |AS(h1)|>|AS(h2)| …(1) |h1|>|h2| …(2) を満たすように定められている。
【0030】上記の条件を満たす配置を図4に基づいて
説明する。図4は、図2に示した設計例のfθレンズを
それぞれ含む第1,第2の走査光学系50,60を一点
差線で示される各光学系の光軸と主走査方向yとを含む
平面内で展開して示した上で、図3に示す像面湾曲のグ
ラフをスケーリングして像高に合わせて表示した説明図
である。図4では、各走査光学系の光軸を基準にして図
中左側をプラス像高、右側をマイナス像高としている。
【0031】第1,第2の走査光学系50,60の走査
範囲の端部の像高h1、h2は、以下の通りとなる。 第1の走査光学系50: h1=+300mm, h2=-250mm 第2の走査光学系60: h1=-300mm, h2=+250mm また、各走査光学系の各像高における非点隔差は、表2
を参照すると以下の通りとなる。 第1の走査光学系50:AS(h1)=AS(+300)=1.000, AS
(h2)=AS(-250)=-0.104 第2の走査光学系60:AS(h1)=AS(-300)=1.000, AS
(h2)=AS(+250)=-0.104 すなわち、いずれも上記の条件(1),(2)を満たしてい
る。
【0032】上記の構成によれば、いずれのレーンにお
いても境界部分での非点隔差を小さく抑えることによ
り、ビームスポットの形状を円形とし、描画性能の乱れ
を抑えることができ、レーンのつなぎ目が目立つことな
く、境界を跨ぐパターンも滑らかに接続することができ
る。一方、他のレーンと接する側の端部は光軸から250m
mであるが、他方側の端部は光軸から300mmをカバーでき
るため、走査範囲を光軸対称にした場合と比較すると、
走査範囲が極端に狭くなるのを防ぐことができる。
【0033】なお、条件(1),(2)を満たす解は多様であ
るが、上記の設計例のように走査可能範囲の中間像高で
非点隔差が0になるよう設計された走査光学系を用いる
場合には、他のレーンに接する側の端部における非点隔
差AS(h2)をほぼ0とすることがつなぎ目を目立たなく
する上では望ましい。
【0034】また、描画エリアが3つ以上のレーンに分
割される場合には、両側で他のレーンに接する中間のレ
ーンの走査範囲は、両側の端部で非点隔差AS(h2)とな
るよう定めれば、境界が目立つのを防ぐことができる。
【0035】さらに、実施形態ではレーンの数と同数の
2つの走査光学系を備えているが、これを1組とし、レ
ーンの切り替え時に走査光学系と描画面とを主走査方向
yに相対的に移動させてレーンを切り替えるようにして
もよい。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
装置のコストを増加させることなく、かつ、走査範囲を
著しく狭めることなく、レーンのつなぎ目を目立たせず
にパターンを描画することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施形態にかかる走査式描画装置の全体構成
を示す概略斜視図。
【図2】 図1の装置に使用されるfθレンズのレンズ
図。
【図3】 図2のfθレンズの像面湾曲を示すグラフ。
【図4】 図2のfθレンズを含む2組の走査光学系を
展開し、図3に示す像面湾曲のグラフをスケーリングし
て像高に合わせて表示した説明図。
【符号の説明】
10 基台 14 描画テーブル 20 アルゴンレーザー発生器 50 第1の走査光学系 54 ポリゴンミラー 55 fθレンズの第1レンズ群 57 fθレンズの第2レンズ群 60 第1の走査光学系 63 ポリゴンミラー 64 fθレンズの第1レンズ群 66 fθレンズの第2レンズ群 h1 他のレーンに接しない側の端部の像高 h2 他のレーンに接する側の端部の像高

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 描画面上にオンオフ変調されたビームス
    ポットを走査させることによりパターンを形成する走査
    光学系を少なくとも一組備え、描画エリアを主走査方向
    に複数のレーンに分割し、各レーンを別個に走査する走
    査式描画装置において、 前記描画エリアの両端に位置する各レーンの走査範囲
    は、他のレーンに接しない側の端部の像高をh1、この
    像高h1における非点隔差をAS(h1)とし、他のレーンに
    接する側の端部の像高をh2、この像高h2における非点
    隔差をAS(h2)として、以下の条件(1)、(2)、 |AS(h1)|>|AS(h2)| …(1) |h1|>|h2| …(2) を満たすように定められていることを特徴とする走査式
    描画装置。
  2. 【請求項2】 前記描画エリアが2つのレーンに分割さ
    れ、各レーンの走査範囲が共に前記条件(1),(2)を満た
    すよう定められていることを特徴とする請求項1に記載
    の走査式描画装置。
  3. 【請求項3】 前記描画エリアが3つ以上のレーンに分
    割され、両側で他のレーンに接するレーンの走査範囲
    は、両側の端部で非点隔差AS(h2)となるよう定められ
    ていることを特徴とする請求項1または2に記載の走査
    式描画装置。
  4. 【請求項4】 前記走査光学系を1組備え、レーンの切
    り替え時に前記走査光学系と前記描画面とを主走査方向
    に相対的に移動させることを特徴とする請求項1〜3の
    いずれかに記載の走査式描画装置。
  5. 【請求項5】 前記走査光学系をレーンの数と同数備
    え、複数のレーンを対応する各走査光学系により同時に
    走査することを特徴とする請求項1〜3に記載の走査式
    描画装置。
  6. 【請求項6】 他のレーンに接する側の端部における非
    点隔差AS(h2)が、ほぼ0であることを特徴とする請求
    項1〜5のいずれかに記載の走査式描画装置。
  7. 【請求項7】 前記走査光学系は、前記描画面側にテレ
    セントリックであることを特徴とする請求項1〜6のい
    ずれかに記載の走査式描画装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012022104A (ja) * 2010-07-14 2012-02-02 Sumitomo Heavy Ind Ltd レーザ加工装置
JP2020064306A (ja) * 2015-06-17 2020-04-23 株式会社ニコン パターン描画装置

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